TWI663376B - 三維感測系統 - Google Patents

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Abstract

在三維感測系統中，光源模組包含一個或多個光源，而可轉動式反射板上設有一個或多個微機電系統掃描鏡，分別用來反射一個或多個光源所提供之光線。相機用來記錄一個或多個光源所提供之光線被反射到一目標物時在該目標物上產生的一個或多個光點。微控制器用來依據一個或多個光點中兩相鄰光點之間的一間距來求出目標物和可動式反射板之間的距離。

Description

三維感測系統
本發明相關於一種三維感測系統，尤指一種採用微機電系統技術之三維感測系統。
隨著科技發展，三維感測(3D Sensing)技術逐漸導入自駕車及先進駕駛輔助系統(advanced driver assistance systems,ADAS)、虛擬實境(virtual reality,VR)、擴增實境(augmented reality,AR)、無人商店和人臉辨識等新應用。目前3D感測採用的主流技術包括三角測距(triangulation)和時間延遲。三角測距的應用包含立體視覺法(stereoscopic)、結構光(structured light)和雷射三角量測(laser triangulation)。時間延遲的應用包含飛時測距(time-of-flight,ToF)和干涉量測(interferometry)。
三角測距系統需要辨認並計算光柵變形量，飛時測距系統需要紀錄並計算光線往返時間，後續演算相當複雜。因此，需要一種能簡化後續演算之三維感測系統。
本發明提供一種三維感測系統，其包含一光源模組，其包含一個或多個光源；一可轉動式反射板，其上設有一個或多個微機電系統掃描鏡，分別用來反射該一個或多個光源所提供之光線；一相機，用來記錄該一個或多個光源所提供之光線被反射到一目標物時在該目標物上產生的一個或多個光點；以及一微控制器，用來依據該一個或多個光點中兩相鄰光點之間的一間距來求出該目標物和該可轉動式反射板之間的距離。
10‧‧‧光源模組
20‧‧‧可轉動式反射板
23‧‧‧微型電子線圈
24‧‧‧反射鏡
25‧‧‧反射鏡撓曲懸吊
26‧‧‧萬向支架
27‧‧‧萬向支架撓曲懸吊
30‧‧‧相機
32‧‧‧初始畫面
34‧‧‧掃描區域
40‧‧‧微機電系統掃描鏡控制器
50‧‧‧光源調變控制器
60‧‧‧微控制器
70‧‧‧目標物
100‧‧‧三維感測系統
TX1~TXM‧‧‧光源
MEMS1~MEMSM‧‧‧微機電系統掃描鏡
D1~D3‧‧‧距離
P1~P3‧‧‧間距
PHOTO1~PHOTO3‧‧‧照片
θ 1~θ 3‧‧‧出光角度
第1圖為本發明實施例中一種三維感測系統之功能方塊圖。
第2圖和第3圖為本發明實施例中微機電系統掃描鏡作動時之示意圖。
第4圖至第6圖為本發明實施例中三維感測系統依據光點間距來求出距離時之示意圖。
第7圖至第10圖為本發明實施例中三維感測系統掃描方式之示意圖。
第11圖和第12圖為本發明實施例中三維感測系統選擇掃描範圍時之示意圖。
第1圖為本發明實施例中一種三維感測系統100之功能方塊圖。三維感測系統100包含一光源模組10、一可轉動式反射板20、一相機30、一微機電系統(micro electro mechanical system,MEMS)掃描鏡控制器40、一光源調變控制器50，以及一微控制器(microcontroller unit,MCU)60。光源模組10包含一個或多個光源TX1~TXM，而可轉動式反射 板20上設有一個或多個微機電系統掃描鏡MEMS1~MEMSM(M為正整數)，可分別反射光源模組10中相對應光源TX1~TXM所提供之光線。微機電系統掃描鏡控制器40可控制可動式反射板20之角度，光源調變控制器50可控制光源模組10之開啟和關閉，而微控制器60可控制相機30、微機電系統掃描鏡控制器40和光源調變控制器50以使光源模組10、可轉動式反射板20和相機30能同步運作，並依據相機30所拍攝之照片求出一目標物之距離。
MEMS裝置是將立體的微細結構、電路、感測器和傳動器(actuator)等元件以微積化技術製作於矽晶圓上，並利用電磁、電致伸縮(electrostriction)、熱電、壓電、壓阻(piezoresistive)等效應來操作。第2圖和第3圖為本發明實施例中微機電系統掃描鏡作動時之示意圖。可轉動式反射板20上設置之每一微機電系統掃描鏡可包含一微型電子線圈23、一反射鏡24、一反射鏡撓曲懸吊(flexure suspension)25、一萬向支架(gimbal frame)26，以及一萬向支架撓曲懸吊27。藉由對微型電子線圈23提供電流，萬向支架26上會產生磁力矩，並沿著所希望的旋轉軸產生分量。萬向支架26所產生的其中一磁力矩分量之會讓萬向支架26繞著萬向支架撓曲懸吊27旋轉，亦即帶動反射鏡24沿著箭頭S1所示之方向旋轉，如第2圖所示。萬向支架26所產生的另一磁力矩分量可激發反射鏡24以諧振模式振動並繞著反射鏡撓曲懸吊25旋轉，亦即帶動反射鏡24沿著箭頭S2所示之方向旋轉，如第3圖所示。
當本發明實施例之三維感測系統100在運作時，微機電系統掃描鏡控制器40會控制反射板20的轉動角度。在反射板20的轉動過程 中，光源調變控制器50會控制光源模組10以發射光線至反射板20上之微機電系統掃描鏡MEMS1~MEMSM，進而將光源模組10中相對應光源TX1~TXM所提供之光線以特定角度反射在目標物上，再由相機30拍照以紀錄每一光點的位置。不同位置之目標物被光線照射的狀況會有所不同，當目標物離反射板20愈近，在一定點以特定角度發射之兩道光線在目標物上形成的兩光點之間的間距(pitch)愈小；目標物離反射板20愈遠，在一定點以特定角度發射之兩道光線在目標物上形成的兩光點之間的間距愈大。上述間距可用相機30拍照以記錄下來，並以事先計算完成的查找表搭配演算法即可計算出雷射光點和反射板20之間的距離。
第4圖至第6圖為本發明實施例中三維感測系統100依據光點間距來求出距離時之示意圖。為了說明目的，第4圖和第5圖顯示了M=2時之實施例，其中光源模組10包含兩光源TX1和TX2，而可轉動式反射板20上設有兩微機電系統掃描鏡MEMS1和MEMS2。微機電系統掃描鏡MEMS1和MEMS2可分別以特定角度反射光源TX1和TX2所提供之光線至目標物70，第4圖由上至下分別顯示了目標物70和反射板20之間的距離為D1~D3時的情形，其中D1<D2<D3。另一方面，相機30可拍攝照片以記錄下光線在抵達目標物70上所造成的光點，第5圖由上至下分別顯示了當目標物70和反射板20之間的距離為D1~D3時分別所拍攝到之照片PHOTO1~PHOTO3，其中微機電系統掃描鏡MEMS1和MEMS2反射光源TX1和TX2所提供之光線至目標物70時所造成的兩個光點由圓點代表，兩光點之間的間距P1~P3之值和目標物70與反射板20之間的距離成正比，亦即P1<P2<P3。
依據相機30拍攝照片所記錄光點之間的間距，微控制器60可求出此時目標物70和反射板20之間的距離。如第6圖所示，由於微機電系統掃描鏡MEMS1和MEMS2之出光角度θ 1~θ 3為已知，當紀錄到目標物70在不同距離D1~D3時之間距P1~P3時，微控制器60可依據三角函數來求出距離D1~D3之值，其中D1=cot θ 1/P1，D2=cot θ 2/P2，D3=cot θ 3/P3。
在本發明實施例中，可事先針對不同出光角度下求出不同間距所對應之距離，再將上述資料以查找表之方式存在微控制器60內，進而縮短演算時間。然而，依據不同間距來計算出距離之實施方式並不限定本發明之範疇。
第7圖至第10圖為本發明實施例中三維感測系統100掃描方式之示意圖。針對可轉動式反射板20之一特定掃描面，本發明用時間和序列定義出垂直軸和水平軸。箭號代表可轉動式反射板20之移動方式，其中實線箭號代表光源出光時之實際掃描線，虛線箭號代表可轉動式反射板20在轉動過程中並未進行掃描(光源未出光)。
第7圖顯示了以單一雷射光源TX1和單一微機電系統掃描鏡MEMS1進行單向掃描時的實施例，其中可轉動式反射板20在水平方向每掃描完一列掃描線的距離後，在移至下一列掃描線的起始點的期間並不會掃描(如虛線箭號所示)，直到移至下一列掃描線的起始點才會再開始掃描。第8圖顯示了以單一雷射光源TX1和單一微機電系統掃描 鏡MEMS1進行雙向掃描的實施例，可動式反射板20在水平方向每掃描完一列掃描線的距離後，在移至下一列掃描線的起始點的期間依舊會掃描(如實線箭號所示)。
第9圖顯示了以多雷射光源TX1~TXM和多微機電系統掃描鏡MEMS1~MEMSM進行單向掃描時的實施例，可轉動式反射板20在水平方向每掃描完相鄰M列掃描線的距離後，在移至下相鄰M列掃描線的起始點的期間並不會掃描(如虛線箭號所示)，直到移至下相鄰M列掃描線的起始點才會再開始掃描。第8圖顯示了以多雷射光源TX1~TXM和多微機電系統掃描鏡MEMS1~MEMSM進行雙向掃描的實施例，可轉動式反射板20在水平方向每掃描完相鄰M列掃描線的距離後，在移至下相鄰M列掃描線的起始點的期間依舊會掃描(如實線箭號所示)。為了說明目的，第9圖和第10圖顯示了M=2之實施例，然而M之值並不限定本發明之範疇。
在第7圖至第10圖所示之實施例中，圓點代表光源模組10提供之光線以特定角度反射在目標物時造成的光點，而決定間距之值需要得知兩光點之間的距離。在第7圖和第8圖所示以單一雷射光源TX1和單一微機電系統掃描鏡MEMS1進行掃描之實施例中，相機30每拍照一次僅能記錄單一光點的位置，因此MCU 60需要將在多個時間點所拍攝之照片進行影像合成，進而求出兩相鄰光點之間的間距。在第9圖和第10圖所示以多雷射光源和多微機電系統掃描鏡進行掃描之實施例中，相機30每拍照一次能記錄多個光點的位置，因此可直接從單一照片中求出兩相鄰光點之間的間距。因此，第7圖和第8圖所示之單一雷 射光源和單一多微機電系統掃描鏡架構可節省硬體成本，而第9圖和第10圖所示之多雷射光源和多微機電系統掃描鏡架構可提供高速和高解析度之掃描。
此外，在現實世界進行三維量測時，通常背景會有多個物件。因此，本發明實施例中三維感測系統100在進行掃描前，可利用相機30拍攝出一張初始畫面，MCU 60再依據初始畫面來決定實際進行三維量測時之掃瞄範圍。
在一實施例中，MCU 60可對初始畫面進行影像分析之結果求出背景中的所有物件，再將掃瞄範圍設定成能包含一個或多個主要物件之最小範圍，進而縮短三維掃描時間；在另一實施例中，使用者可在初始畫面上自行點選想要探測的一個或多個目標物，MCU 60再將掃瞄範圍設定成能包含一個或多個目標物之最小範圍，進而縮短三維掃描時間。
在設定掃瞄範圍之後，MCU 60可指示微機電系統掃描鏡控制器40來控制可轉動式反射板20之角度，進而對掃瞄範圍進行三維掃描，再由相機30拍照以紀錄三維掃描過程每一光點的位置。在一實施例中，相機30在三維掃描過程中所拍攝的照片和初始畫面具相同解析度；在另一實施例中，相機30在三維掃描過程中所拍攝的照片其解析度可高於初始畫面之解析度。
第11圖為本發明實施例中三維感測系統100選擇掃描範圍時 之示意圖。假設在相機30之原始解析度為1920*1080，MCU 60依據相機30所拍攝之初始畫面32決定一掃描區域34，如此三維感測系統100會針對掃描區域34進行解析度為1920*1080之三維掃描。
第12圖為本發明另一實施例中三維感測系統100選擇掃描範圍時之示意圖。假設在相機30之原始解析度為1920*1080，MCU 60依據相機30所拍攝之初始畫面32決定一掃描區域34，如此三維感測系統100會以較高解析度(例如2560*1440)針對掃描區域34進行掃描。
在本發明中，光源模組10所包含之光源TX1~TXM可為發光二極體(light emitting diode,LED)或垂直共振腔面射雷射(vertical cavity surface emitting laser,VCSEL)。然而，光源TX1~TXM之種類並不限定本發明之範疇。
綜上所述，本發明提供一種採用微機電系統技術之三維感測系統，其利用微機電系統掃描鏡來將光線反射至目標物上，並由相機拍照以紀錄光點，最後再依據兩光點之間的間距計算出目標物的距離。本發明可事先針對不同出光角度下求出不同間距所對應之距離，再將上述資料以查找表之方式存在三維感測系統之微控制器內，進而簡化後續演算步驟。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

Claims (11)

  1. 一種三維感測系統，其包含：一光源模組，其包含一個或多個光源；一可動式反射板，其上設有一個或多個微機電系統(micro electro mechanical system,MEMS)掃描鏡，分別用來反射該一個或多個光源所提供之光線；一相機，用來記錄該一個或多個光源所提供之光線被反射到一目標物時在該目標物上產生的一個或多個光點；以及一微控制器，用來依據該一個或多個光點中兩相鄰光點之間的一間距來求出該目標物和該可動式反射板之間的距離。
  2. 如請求項1所述之三維感測系統，其中：該光源模組包含一個光源；該可動式反射板上設有一個微機電系統掃描鏡，用來反射該一個光源所提供之光線；該相機用來在一第一時間點拍攝一第一照片以記錄該一個光源所提供之光線在該第一時間點被反射到該目標物時在該目標物上產生的一第一光點，以及在一第二時間點拍攝一第二照片以記錄該一個光源所提供之光線在該第二時間點被反射到該目標物時在該目標物上產生的一第二光點；且該微控制器另用來合成該第一照片和該第二照片以求出該第一光點和該第二光點之間的該間距。
  3. 如請求項2所述之三維感測系統，其另包含：一微機電系統掃描鏡控制器，用來控制該可動式反射板之角度，以使該一個微機電系統掃描鏡依序從一平面所包含之N個平行序列中每一序列之一起始點掃描至一終點，其中N為大於1之整數。
  4. 如請求項2所述之三維感測系統，其另包含：一微機電系統掃描鏡控制器，用來控制該可動式反射板之角度，以使該一個微機電系統掃描鏡依序從一平面所包含之N個平行序列中一第n個平行序列之起始點掃描至該第n個平行序列之終點，再從該第n個平行序列之終點掃描至該N個平行序列中一第(n+1)個平行序列之起始點，其中N為大於M之整數，且n為不大於N之正整數。
  5. 如請求項1所述之三維感測系統，其中：該光源模組包含第一至第M光源；該可動式反射板上設有第一至第M微機電系統掃描鏡，分別用來反射該第一至第M光源所提供之光線；該相機用來在一特定時間點拍攝一照片以記錄該第一至第M光源所提供之光線在該特定時間點被反射到該目標物時在該目標物上M個位置產生的第一至第M光點；該微控制器另用來依據該第一至第M光點中每兩相鄰光點之間的第一至第M間距來求出在該目標物上M個位置和該可動式反射板之間的第一至第M距離；且M為大於1之整數。
  6. 如請求項5所述之三維感測系統，其另包含：一微機電系統掃描鏡控制器，用來控制該可動式反射板之角度，以使該第一至第M微機電系統掃描鏡依序從一平面所包含之N個平行序列中每一序列之一起始點掃描至一終點，其中N為大於M之整數。
  7. 如請求項5所述之三維感測系統，其另包含：一微機電系統掃描鏡控制器，用來控制該可動式反射板之角度，以使該第一至第M微機電系統掃描鏡依序從一平面所包含之N個平行序列中一第n個平行序列之起始點掃描至該第n個平行序列之終點，再從該第n個平行序列之終點掃描至該N個平行序列中一第(n+1)個平行序列之起始點，其中N為大於M之整數，且n為不大於N之正整數。
  8. 如請求項5所述之三維感測系統，其另包含一光源調變控制器，用來控制該光源模組之開啟和關閉，其中該微控制器另用來同步該相機、該微機電系統掃描鏡控制器和該光源調變控制器之運作。
  9. 如請求項1所述之三維感測系統，其中該微控制器另用來：指示該相機拍攝一初始畫面；對該初始畫面進行影像分析以求出該初始畫面中的一個或多個物件；針對從該一個或多個物件中所選出之該目標物來決定一掃瞄範圍；以及指示該微機電系統掃描鏡控制該可動式反射板之角度，以使該一個或多個微機電系統掃描鏡對該掃瞄範圍進行三維掃描。
  10. 如請求項1所述之三維感測系統，其中該微控制器另用來：指示該相機拍攝一初始畫面；對該初始畫面進行影像分析以求出該初始畫面中的一個或多個物件；依據一使用者從該一個或多個物件中所選出之該目標物來決定一掃瞄範圍；以及指示該微機電系統掃描鏡控制該可動式反射板之角度，以使該一個或多個微機電系統掃描鏡對該掃瞄範圍進行三維掃描。
  11. 如請求項9或10所述之三維感測系統，其中該微控制器另用來：控制該相機以一第一解析度拍攝該初始畫面；以及控制該相機以一第二解析度在該一個或多個微機電系統掃描鏡對該掃瞄範圍進行三維掃描時拍照，且該第二解析度高於該第一解析度。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110102763A1 (en) * 2009-10-30 2011-05-05 Microvision, Inc. Three Dimensional Imaging Device, System and Method
US8482720B2 (en) * 2008-12-08 2013-07-09 Sick Ag Method and optical sensor for the detection of objects
CN107219532A (zh) * 2017-06-29 2017-09-29 西安知微传感技术有限公司 基于mems微扫描镜的三维激光雷达及测距方法
TWI618915B (zh) * 2013-04-25 2018-03-21 沃柯公司 用於檢測物件的三維結構的設備

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN206362922U (zh) * 2016-12-14 2017-07-28 北京国承万通信息科技有限公司 定位光信号发射系统及定位系统

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8482720B2 (en) * 2008-12-08 2013-07-09 Sick Ag Method and optical sensor for the detection of objects
US20110102763A1 (en) * 2009-10-30 2011-05-05 Microvision, Inc. Three Dimensional Imaging Device, System and Method
TWI618915B (zh) * 2013-04-25 2018-03-21 沃柯公司 用於檢測物件的三維結構的設備
CN107219532A (zh) * 2017-06-29 2017-09-29 西安知微传感技术有限公司 基于mems微扫描镜的三维激光雷达及测距方法

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