TWI774847B - 導電性糊 - Google Patents

導電性糊 Download PDF

Info

Publication number
TWI774847B
TWI774847B TW107133698A TW107133698A TWI774847B TW I774847 B TWI774847 B TW I774847B TW 107133698 A TW107133698 A TW 107133698A TW 107133698 A TW107133698 A TW 107133698A TW I774847 B TWI774847 B TW I774847B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
conductive paste
mass
paste
powder
conductive
Prior art date
Application number
TW107133698A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201922957A (zh
Inventor
岡部一幸
Original Assignee
日商則武股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商則武股份有限公司 filed Critical 日商則武股份有限公司
Publication of TW201922957A publication Critical patent/TW201922957A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI774847B publication Critical patent/TWI774847B/zh

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/005—Electrodes
    • H01G4/008—Selection of materials
    • H01G4/0085—Fried electrodes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20—Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22—Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/005—Electrodes
    • H01G4/008—Selection of materials
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/018—Dielectrics
    • H01G4/06—Solid dielectrics
    • H01G4/08—Inorganic dielectrics
    • H01G4/12—Ceramic dielectrics
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/228—Terminals
    • H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/30—Stacked capacitors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

根據本發明，提供一種包含無機成分及有機成分的導電性糊。所述無機成分包括導電性粉末及介電質粉末。所述有機成分包括分散劑及媒液。所述分散劑包括具有酸值的分散劑。若設所述導電性糊的每單位質量的所述有機成分的總酸值為X（mgKOH），並設所述導電性糊的每單位質量的所述無機成分的總比表面積為Y（m2 ），則所述X與所述Y滿足以下的式：5.0×10-2 ≦（X/Y）≦6.0×10-1 。

Description

導電性糊
本發明是有關於一種導電性糊。詳細而言，是有關於一種適合於積層陶瓷電子零件的內部電極層的形成的導電性糊。 另外，本申請案主張基於2017年10月10日提出申請的日本專利申請案特願2017-196770號的優先權，該申請案的全部內容作為參照而併入至本說明書中。
於積層陶瓷電容器（Multi-Layer Ceramic Capacitor，MLCC）等電子零件的製造中，廣泛使用於基材上賦予導電性糊以形成導體膜，並藉由對其進行煆燒來形成電極層的方法。
於MLCC的製造方法的一例中，首先，準備多枚包含陶瓷粉及黏合劑的未煆燒的陶瓷生片。其次，於多枚陶瓷生片之上藉由賦予導電性糊並進行乾燥而分別形成導體膜。其次，積層多枚帶導體膜的陶瓷生片並進行壓接。其次，對該些進行煆燒而使其一體燒結。然後，於煆燒後的複合體的兩端面形成外部電極。藉由如上所述的操作，製造具有包括陶瓷的介電質層與包括導電性糊的煆燒體的內部電極層交替積層多層的結構的MLCC。例如，專利文獻1中揭示了此種MLCC的內部電極層的形成中所使用的導電性糊。 [現有技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利申請案公開2016-33900號公報
但是，近年來，伴隨著各種電子設備的進一步的小型化或高性能化，對電子設備中所封裝的電子零件亦要求進一步的小型化或薄型化、高密度化。為了響應所述要求，例如於晶片型（chip type）的MLCC中，將介電質層及內部電極層的單層厚度薄層化至亞微米（submicron）～微米程度，積層數亦超過了1000層。於此種MLCC中，導體膜的表面的稍許的凹凸便會導致積層結構的形變，並可能引起短路不良等故障。因此，於此種積層陶瓷電子零件的製造中，要求形成表面平滑性高的導體膜。
本發明是鑒於所述方面而成，其目的在於提供一種可形成表面平滑性優異的導體膜的導電性糊。
本發明者自多個角度對表面平滑性不同的多個導體膜進行了研究。結果，新發現：於表面平滑性不足的導體膜中，無機成分與有機成分相分離。因此，本發明者考慮藉由對導電性糊中的有機成分的酸值及無機成分的性狀進行調整，來提高無機成分與有機成分的親和性，並抑制導體膜中的相分離。並且，進一步進行潛心研究，結果完成了本發明。
根據本發明，提供一種包含無機成分及有機成分，用於導體膜的形成的導電性糊。所述無機成分包括導電性粉末及介電質粉末。所述有機成分包括分散劑及媒液（vehicle）。所述分散劑包括具有酸值的分散劑。若設所述導電性糊的每單位質量的所述有機成分的總酸值為X（mgKOH），並設所述導電性糊的每單位質量的所述無機成分的總比表面積為Y（m2 ），則所述X與所述Y滿足以下的式：5.0×10-2 ≦（X/Y）≦6.0×10-1 。
根據所述構成，有機成分的酸性基的部分作用於無機成分的粒子的表面，從而無機成分與有機成分的親和性較佳地得到提高。結果，可提升導電性糊整體的穩定性或一體性。而且，根據所述構成，可抑制導電性糊的黏度變得過高，從而發揮良好的自調平（self‐levelling）性。根據以上效果，於使用所述導電性糊而成的導體膜中，相分離得到改善，從而可實現高的表面平滑性。
另外，「酸值」是指為了中和單位試樣（1g）中所含的遊離脂肪酸而所需的氫氧化鉀（KOH）的含量（mg）。單位為mgKOH/g。 而且，「有機成分的總酸值X（mgKOH）」可針對導電性糊的每單位質量（100g），利用以下的式（1）：X（mgKOH）=Σ〔各有機成分的酸值（mgKOH/g）×以導電性糊整體為基準的各有機成分的含有比例（質量%）〕來計算。作為所述各有機成分的酸值，可採用依據JIS K0070:1992年並利用電位滴定法測定出的值。
而且，「無機成分的總比表面積Y（m2 ）」可針對導電性糊的每單位質量（100g），利用以下的式（2）：Y（m2 ）=Σ〔各無機成分的比表面積（m2 /g）×以導電性糊整體為基準的各無機成分的含有比例（質量%）〕來計算。作為所述各無機成分的比表面積，可採用利用氮氣吸附法測定並利用BET法解析而得的BET比表面積。
於本文揭示的較佳的一形態中，所述無機成分的基於電子顯微鏡觀察的個數基準的平均粒徑均為0.3 μm以下。藉此，可較佳地實現導體膜的算術平均粗糙度Ra為5 nm以下（0.005 μm以下）具有非常優異的表面平滑性的導體膜。
於本文揭示的較佳一態樣中，若將所述導電性糊的整體設為100質量%，則所述分散劑為3質量%以下。藉由將分散劑的比例抑制得低，煆燒時分散劑變得容易完全燃燒。藉此，分散劑變得不易殘留於煆燒後的電極層中，從而可較佳地實現導電性優異的電極層。
於本文揭示的較佳的一形態中，所述導電性粉末為鎳、鉑、鈀、銀及銅中的至少一者。藉此，可較佳地實現導電性優異的電極層。
於本文揭示的較佳的一形態中，用於形成積層陶瓷電子零件的內部電極層。於積層陶瓷電子零件中，導體膜的稍許的凹凸便是致命的，並可能產生短路不良等故障。因此，於積層陶瓷電子零件的內部電極層的形成中，可較佳地使用所述導電性糊。
以下，對本發明的較佳的實施方式進行說明。另外，關於本說明書中特別提及的事項（例如導電性糊的組成）以外且實施本發明所必須的事態（例如導電性糊的製備方法或導體膜的形成方法等），可作為基於該領域的現有技術的本領域技術人員的設計事項而掌握。本發明可基於本說明書中所揭示的內容與該領域中的技術常識來實施。
另外，於以下的說明中，稱將導電性糊賦予至基材上，以導電性糊中所含的分散劑的沸點以下的溫度（例如100℃以下）進行了乾燥後的、煆燒前的膜狀體為「導體膜」。而且，於本說明書中表示範圍的「A～B」這一表述是指A以上、B以下。
《導電性糊》 本文揭示的導電性糊（以下有時簡稱為「糊」）用於導體膜的形成。本文揭示的導電性糊的成分大致分為無機成分與有機成分。所述無機成分至少包括導電性粉末（A）及介電質粉末（B）。所述有機成分至少包括分散劑（C）及媒液（D）。另外，本說明書中「糊」是包含組成物、油墨、漿（slurry）的用語。以下，依次對各成分進行說明。
＜（A）導電性粉末＞ 糊中所含的導電性粉末（A）為對煆燒後的電極層賦予導電性的成分。對導電性粉末（A）的種類並無特別限定，可根據用途等自通常所使用的各種導電性粉末之中適當使用一種或兩種以上。作為導電性粉末（A）的一較佳例，可列舉導電性金屬粉末。具體而言，可例示：鎳（Ni）、鉑（Pt）、鈀（Pd）、金（Au）、銀（Ag）、銅（Cu）、釕（Ru）、銠（Rh）、銥（Ir）、鋨（Os）、鋁（Al）等金屬的單體及該些的混合物或合金等。
雖並無特別限定，但例如於形成積層陶瓷電子零件的內部電極層的用途中，較佳為使用導電性粉末（A）的熔融溫度（例如熔點）充分高於介電質層中所含的陶瓷粉末的燒結溫度的金屬種類。作為所述金屬種類的一例，可列舉鎳、鉑、鈀、銀、銅。其中，就廉價且導電性與成本的平衡性優異的觀點而言，較佳為鎳或鎳合金。
構成導電性粉末（A）的粒子的性狀，例如粒子的大小或形狀等只要收斂於電極層的剖面的最小尺寸（典型而言，為電極層的厚度及/或寬度），則並無特別限定。導電性粉末（A）的平均粒徑（基於電子顯微鏡觀察的個數基準的粒度分佈中，自粒徑小的一側起相當於累積50%的粒徑，以下相同）例如可根據糊的用途或電極層的尺寸（微細度）等來適當選擇。通常，宜為：導電性粉末（A）的平均粒徑為大致數nm～數十μm左右，例如10 nm～10 μm。
作為一例，於形成超小型MLCC的內部電極層的用途中，宜為：導電性粉末（A）的平均粒徑小於內部電極層的厚度（積層方向的長度），典型而言為0.5 μm以下，較佳為0.3 μm以下，更佳為0.25 μm以下例如0.2μm以下。若平均粒徑為規定值以下，則可穩定地形成薄膜狀的導體膜。而且，可將導體膜的算術平均粗糙度Ra較佳地抑制得顯著小，例如至5 nm以下的程度。導電性粉末（A）的平均粒徑宜為：大致0.01 μm以上、典型而言為0.05 μm以上，較佳為0.1 μm以上，例如0.12 μm以上。若平均粒徑為規定值以上，則粒子的表面能量得到抑制，從而糊中的凝聚得到抑制。因此，可更好地提升自調平性。而且，可提高導體膜的密度，從而較佳地實現導電性或緻密性高的電極層。
導電性粉末（A）的比表面積並無特別限定，宜為：大致10 m2 /g以下，較佳為1 m2 /g～8 m2 /g，例如2 m2 /g～6 m2 /g。藉此，糊中的凝聚得到較佳的抑制，從而可更好地提升糊的均質性或分散性、保存穩定性。而且，可更穩定地實現導電性優異的電極層。
導電性粉末（A）的形狀並無特別限定，但以正球狀或大致球狀為宜。換言之，導電性粉末（A）的平均縱橫比（基於電子顯微鏡觀察而算出的粒子的短徑相對於長徑的比的平均值）宜為：大致1～2，較佳為1～1.5。藉此，可將糊的黏度維持得稍低，從而提升糊的操作（handling）性或成膜時的作業性。而且，亦可提高糊的均質性。
導電性粉末（A）的含有比例並無特別限定，若將導電性糊的整體設為100質量%，則宜為：大致30質量%以上，典型而言為40質量%～95質量%，例如45質量%～60質量%。藉由滿足所述範圍，可較佳地實現導電性或緻密性高的電極層。而且，可提升糊的操作性或成膜時的作業性。
＜（B）介電質粉末＞ 糊中所含的介電質粉末（B）是於導體膜的煆燒時緩和導電性粉末（A）的熱收縮的成分。對介電質粉末（B）的種類並無特別限定，可根據用途等自通常所使用的各種無機材料粉末之中適當使用一種或兩種以上。作為介電質粉末（B）的一較佳例，可列舉：鈦酸鋇、鈦酸鍶、鈦酸鈣、鈦酸鎂、鋯酸鈣、鈦酸鉍、鈦酸鋯、鈦酸鋅等具有以ABO3 表示的鈣鈦礦結構（Perovskite structure）的陶瓷或氧化鈦、二氧化鈦等。例如，於形成MLCC的內部電極層的用途中，較佳為使用與介電質層中所含的陶瓷粉末相同種類的材料，典型而言為鈦酸鋇（BaTiO3 ）。 藉此，介電質層與內部電極層的一體性得到提高。
介電質粉末（B）的相對介電常數宜為：典型而言為100以上，較佳為1000以上，例如1000～20000左右。
構成介電質粉末（B）的粒子的性狀，例如粒子的大小或形狀等只要收斂於電極層的剖面的最小尺寸（典型而言，為電極層的厚度及/或寬度），則並無特別限定。介電質粉末（B）的平均粒徑例如可根據糊的用途或電極層的尺寸（微細度）等來適當選擇。通常，介電質粉末（B）的平均粒徑宜為大致數nm～數十μm左右，例如10 nm～10 μm，較佳為0.3 μm以下。就提高電極層的導電性或均質性、緻密性的觀點而言，介電質粉末（B）的平均粒徑較佳為小於導電性粉末（A）的平均粒徑，更佳為導電性粉末（A）的平均粒徑的1/20～1/2左右。
作為一例，於形成超小型MLCC的內部電極層的用途中，宜為：介電質粉末（B）的平均粒徑為大致數nm～數百nm左右，例如10 nm～100 nm。若平均粒徑為規定值以下，則可將導體膜的算術平均粗糙度Ra抑制得顯著小。而且，若平均粒徑為規定值以上，則粒子的表面能量得到抑制，糊中的凝聚得到抑制。因此，可更好地提升自調平性。
介電質粉末（B）的比表面積並無特別限定，宜為：典型而言大於導電性粉末（A）的比表面積，大致為100 m2 /g以下，較佳為5 m2 /g～80 m2 /g，例如10 m2 /g～70 m2 /g。藉此，粒子的凝聚得到較佳的抑制，從而可更好地提升糊的均質性或分散性、保存穩定性。而且，可更穩定地實現導電性優異的電極層。
介電質粉末（B）的含有比例並無特別限定，例如於形成MLCC的內部電極層的用途等中，若將導電性糊的整體設為100質量%，則宜為：大致1質量%～20質量%，例如2質量%～15質量%。而且，相對於導電性粉末（A）100質量份的介電質粉末（B）的含有比率並特別限定，但宜為：大致3質量份～30質量份，例如5質量份～25質量份。藉由滿足所述範圍，介電質粉末（B）的效果得到較佳的發揮，從而可更好地緩和導電性粉末（A）的熱收縮。而且，可較佳地實現導電性優異的電極層。
＜（C）分散劑＞ 糊中所含的分散劑（C）是將無機成分（典型而言，導電性粉末（A）及介電質粉末（B））分散至媒液（D）中，較佳地抑制無機成分的粒子的凝聚的成分。另外，本說明書中「分散劑」是指具有包含親水性部位及親油性部位的兩親性的所有化合物，是亦包含界面活性劑、濕潤分散劑、乳化劑的用語。
對分散劑（C）的種類並無特別限定，可根據用途等自通常所使用的各種分散劑之中適當使用一種或兩種以上（但是，除後述（D1）黏合劑的較佳例之外）。分散劑（C）較佳為於導體膜的煆燒時（典型而言，氧化環境中250℃以上的溫度下的加熱處理）完全燃燒。換言之，分散劑（C）的沸點較佳為低於導體膜的煆燒溫度。
分散劑（C）包括具有酸值（酸值超過檢測下限）的分散劑。另外，於以下的說明中，有時將具有酸值的分散劑稱為「有酸值分散劑」。有酸值分散劑典型而言具有一個或兩個以上的酸性基作為親水性基。作為有酸值分散劑的一例，可列舉具有一個或兩個以上的羧基（COO- 基）的羧酸系的分散劑、具有一個或兩個以上的膦酸基（PO3 - 基、PO3 2- 基）的磷酸系的分散劑、具有一個或兩個以上的磺酸基（SO3 - 基、SO3 2- 基）的磺酸系的分散劑等。其中，羧酸系的分散劑大體而言酸值高，所以以比較少的使用量便可穩定地發揮本文所揭示的技術的效果。作為羧酸系的分散劑，例如可列舉單羧酸系的分散劑、二羧酸系的分散劑、多羧酸系的分散劑、多羧酸部分烷基酯系的分散劑等。
有酸值分散劑是用以調整有機成分的總酸值X的成分。有酸值分散劑的酸值宜為：大致10 mgKOH/g以上，較佳為30 mgKOH/g以上，例如50 mgKOH/g以上。藉此，能以少的添加量較佳地實現本案發明的效果。有酸值分散劑的酸值的上限並無特別限定，宜為：大致300 mgKOH/g以下，較佳為200 mgKOH/g以下，例如180 mgKOH/g以下。藉此，變得容易微調整有機成分的總酸值X。而且，可抑制與糊中的無機成分的親和性過度地過高。因此，可抑制糊的黏度上升從而提升糊的操作性或成膜時的作業性。進而，可提高糊的自調平性，從而實現具有更平滑的表面的導體膜。
分散劑（C）亦可包括不具有酸值的無酸值分散劑。所謂無酸值分散劑，是指酸值為檢測下限值以下（亦取決於測定精度，大致為0.1 mgKOH/g以下）的分散劑。作為無酸值分散劑的一例，可列舉具有一個或兩個以上的胺基作為親水性基的胺系的分散劑。
分散劑（C）的重量平均分子量Mw（藉由凝膠層析法（凝膠滲透層析法（Gel Permeation Chromatography，GPC））測定，並使用標準聚苯乙烯校準曲線換算所得的重量基準的平均分子量，以下相同）宜為：大致不足2萬，例如50～15000左右。若分子量為規定值以上，則無機成分的粒子間的斥力增加，抑制凝聚的效果得到更好的發揮。而且，若分子量為規定值以下，則可提升糊的自調平性，從而實現具有更平滑的表面的導體膜。
分散劑（C）的含有比例並無特別限定，若將導電性糊的整體設為100質量%，則宜為：大致0.01質量%以上，典型而言為0.05質量%以上，較佳為0.1質量%以上，例如0.12質量%以上。藉由使分散劑（C）的比例為規定值以上，可更好地發揮分散劑（C）添加的效果。而且，分散劑（C）的含有比例的上限並無特別限定，宜為：大致5質量%以下，較佳為3質量%以下，例如2質量%以下。藉由將分散劑（C）的比例抑制為規定值以下，煆燒時分散劑變得容易完全燃燒。藉此，電極層中變得不易殘存分散劑（C）。因此，可較佳地實現導電性優異的電極層。而且，例如於形成薄膜狀的導體膜的情況下，亦可抑制於煆燒後的電極層中產生氣孔（pore）或龜裂等不良。
相對於無機成分（例如導電性粉末（A）與介電質粉末（B）的合計）100質量份的分散劑（C）的含有比率並無特別限定，例如於形成超小型MLCC的內部電極層的用途等中，宜為：大致0.1質量份～10質量份，例如0.3質量份～6質量份。藉此，例如於包括平均粒徑0.3 μm以下般的微細的無機成分的情況下，亦可於抑制分散劑（C）的使用量的同時較佳地提升糊的均質性或分散性、保存穩定性。
＜（D）媒液＞ 媒液（D）是使無機成分、典型而言所述導電性粉末（A）及介電質粉末（B）分散的成分。而且，亦是對糊賦予恰當的黏性或流動性，提升糊的操作性或成膜時的作業性的成分。媒液（D）既可具有酸值，亦可不具有酸值。媒液（D）例如包括黏合劑（D1）及有機溶劑（D2）。
＜（D1）黏合劑＞ 黏合劑（D1）是對煆燒前的導體膜賦予黏著性，使無機成分彼此及無機成分與對導體膜進行支撐的基材密接的成分。黏合劑（D1）較佳為於導體膜的煆燒時（典型而言，氧化環境中250℃的溫度下的加熱處理）完全燃燒。換言之，黏合劑（D1）較佳為沸點低於導體膜的煆燒溫度。對黏合劑（D1）的種類並無特別限定，例如可根據用途等自通常所使用的各種有機聚合物（polymer）之中適當使用一種或兩種以上。
作為黏合劑（D1）的一較佳例，可列舉纖維素系樹脂、丁醛系樹脂、丙烯酸系樹脂、環氧系樹脂、酚系樹脂、醇酸系樹脂、松香系樹脂、乙烯系樹脂等有機高分子化合物。黏合劑（D1）典型而言具有重複構成單元。其中，就煆燒時的燃燒分解性優異的方面或為環境考慮的方面等而言，較佳為纖維素系樹脂。
作為纖維素系樹脂，例如可列舉：作為重複構成單元的纖維素的羥基中的氫原子的一部分或全部經甲基、乙基、丙基、異丙基、丁基等烷基；乙醯基、丙醯基、丁醯基等丙烯基；羥甲基、羥乙基、羧甲基、羧乙基等取代的纖維素有機酸酯（纖維素衍生物）。作為具體例，例如可列舉：甲基纖維素、乙基纖維素、羥基甲基纖維素、羥基乙基纖維素、羥基丙基纖維素、羥基丙基甲基纖維素、羧基甲基纖維素、羧基乙基纖維素、羧基乙基甲基纖維素、乙酸鄰苯二甲酸纖維素、硝化纖維素（nitrocellulose）等。
作為丁醛系樹脂，例如可列舉：以乙酸乙烯酯的均聚物（Homopolymer）或乙酸乙烯酯為主單體（佔單體整體的50質量%以上的成分，以下相同），並包含具有與該主單體的共聚性的副單體的共聚物（copolymer）。作為均聚物，可列舉聚乙烯丁醛（poly(vinyl butyral)）。作為共聚物的具體例，可列舉於主鏈骨架包含乙烯丁醛（丁醛基）、乙酸乙烯酯（乙醯基）及乙烯醇（羥基）作為重複構成單元的聚乙烯丁醛（poly vinyl butyral，PVB）等。
作為丙烯酸系樹脂，例如可列舉：以(甲基)丙烯酸烷基酯的均聚物或(甲基)丙烯酸烷基酯為主單體，並包含具有與該主單體的共聚性的副單體的共聚物。作為均聚物的具體例，例如可列舉：聚(甲基)丙烯酸甲酯、聚(甲基)丙烯酸乙酯、聚(甲基)丙烯酸丁酯等。作為共聚物的具體例，例如可列舉包含甲基丙烯酸酯的聚合物嵌段及丙烯酸酯的聚合物嵌段作為構成單元的嵌段共聚物等。另外，本說明書中「(甲基)丙烯酸酯」為表示丙烯酸酯及甲基丙烯酸酯的用語。
黏合劑（D1）的重量平均分子量Mw宜為：大致2萬以上，典型而言為2萬～100萬，例如5萬～50萬左右。若分子量為規定值以上，則黏合劑（D1）的黏著性提高，從而能夠以少的添加量來發揮黏著效果。而且，若黏合劑（D1）的分子量為規定值以下，則可將糊的黏度維持得稍低，從而提升糊的操作性或自調平性。因此，可將導體膜的表面的凹凸抑制得更小。
黏合劑（D1）的含有比例並無特別限定，若將導電性糊的整體設為100質量%，則宜為：大致0.1質量%～10質量%，典型而言為0.5質量%～5質量%，例如1質量%～3質量%。藉由滿足所述範圍，可提升糊的操作性或成膜時的作業性，從而高度抑制分層的產生。而且，可提高自調平性，從而實現具有更平滑的表面的導體膜。而且，相對於無機成分（例如導電性粉末（A）與介電質粉末（B）的合計）100質量份的黏合劑（D1）的含有比率並無特別限定，例如於形成超小型MLCC的內部電極層的用途中，宜為：大致1質量份～10質量份，例如2質量份～5質量份。藉此，例如於包括平均粒徑0.3 μm以下般的微細的無機成分的情況下，亦可於抑制使用量的同時較佳地發揮黏合劑（D1）的黏著效果。
＜（D2）有機溶劑＞ 對有機溶劑（D2）的種類並無特別限定，可根據用途等自通常所使用的各種有機溶劑之中適當使用一種或兩種以上。就成膜時的作業性或保存穩定性的觀點而言，宜為：以沸點為大致200℃以上，例如200℃～300℃的高沸點有機溶劑為主成分（佔50體積%以上的成分）。作為有機溶劑（D2）的一較佳例，可列舉：萜品醇（terpineol）、醇酯（texanol）、二氫萜品醇、苄醇等具有-OH基的醇系溶劑；乙二醇、二乙二醇等二醇系溶劑；二乙二醇單乙醚、丁基卡必醇（二乙二醇單丁醚）等二醇醚系溶劑；乙酸異冰片酯、乙基二甘醇乙酸酯、丁二醇乙酸酯、丁基二甘醇乙酸酯、丁基溶纖劑乙酸酯、丁基卡必醇乙酸酯（二乙二醇單丁醚乙酸酯）等具有酯鍵結基（R-C(=O)-O-R'）的酯系溶劑；甲苯、二甲苯等烴系溶劑；礦油精（mineral spirit）等。其中，可較佳地使用醇系溶劑。
有機溶劑（D2）的含有比例並無特別限定，若將導電性糊的整體設為100質量%，則宜為：大致70質量%以下，典型而言為5質量%～60質量%，例如30質量%～50質量%。藉由滿足所述範圍，可對糊賦予恰當的流動性，從而可提升成膜時的作業性。而且，可提高糊的自調平性，從而實現具有更平滑的表面的導體膜。
＜（E）其他成分＞ 本文揭示的糊既可僅包括所述（A）～（D）的成分，亦可除所述（A）～（D）的成分之外，視需要亦包含各種添加成分。作為添加成分，只要不會明顯影響本文所揭示的技術的效果，則可適當使用已知可用於通常的導電性糊中的添加成分。
添加成分大致分為無機添加劑（E1）及有機添加劑（E2）。作為無機添加劑（E1）的一例，可列舉燒結助劑或無機填料等。無機添加劑（E1）的平均粒徑為大致10 nm～10 μm左右，就將導體膜的算術平均粗糙度Ra抑制得小的觀點而言，較佳為例如0.3 μm以下。而且，作為有機添加劑（E2）的一例，可列舉調平劑、消泡劑、增稠劑、塑化劑、pH調整劑、穩定劑、抗氧化劑、防腐劑、著色劑（顏料、染料等）等。另外，有機添加劑（E2）既可具有酸值，亦可不具有酸值。添加成分的含有比例並無特別限定，若將導電性糊的整體設為100質量%，則宜為：大致20質量%以下，典型而言為10質量%以下，例如5質量%以下。
本文所揭示的糊，於設糊的每單位質量的有機成分的總酸值為X，並設糊的每單位質量的無機成分的總比表面積為Y時，有機成分的總酸價相對於無機成分的總比表面積的比（X/Y）滿足以下的式：5.0×10-2 ≦（X/Y）≦6.0×10-1 。藉由滿足所述比（X/Y），作為導電性糊的穩定性或一體性得到提高，從而可發揮良好的自調平性。另外，所述X的值是利用所述式（1）求出。即，針對各有機成分，利用酸值（mgKOH/g）×含有比例（質量%）求出酸值量，並對其進行合計而作為X。例如，針對分散劑（C）、媒液（D）以及視需要而使用的有機添加劑（E2），求出各自的酸值量，並對其進行合計而作為X。而且，所述Y的值是利用所述式（2）求出。即，針對各無機成分，利用比表面積（m2 /g）×含有比例（質量%）求比表面積量，並對其進行合計而作為Y。例如，針對導電性粉末（A）、介電質粉末（B）以及視需要而使用的無機添加劑（E1），求出各自的比表面積量，並對其進行合計而作為Y。
所述比（X/Y）可為大致5.2×10-2 以上，於一例中為6.5×10-2 以上，例如1.0×10-1 以上。所述比（X/Y）可為大致5.9×10-1 以下，於一例中為5.1×10-1 以下，例如4.5×10-1 以下，例如3.5×10-1 以下。根據所述比（X/Y）的範圍，可將導體膜的算術平均粗糙度Ra抑制得更小，例如可穩定地實現甚至於算術平均粗糙度Ra為2.5 nm以下的導體膜。
所述X的值並無特別限定，例如每100 g糊中，可為大致10 mgKOH以上，於一例中為20 mgKOH以上，例如30 mgKOH以上，且大致500 mgKOH以下，於一例中為300 mgKOH以下，例如200 mgKOH以下。而且，所述Y的值亦無特別限定，例如每100 g糊中可為大致100 m2 以上，於一例中為200 m2 以上，例如250 m2 以上，且大致700 m2 以下，於一例中為500 m2 以下，例如400 m2 以下。
此種糊可藉由以下方式製備：以成為規定的含有比例（質量比率）的方式秤量所述材料，並均質地攪拌混合。材料的攪拌混合可使用先前公知的各種攪拌混合裝置、例如輥磨機、磁力攪拌機、行星式混合機、分散器等來進行。而且，針對基材的糊的賦予例如可使用網版印刷、凹版印刷、平版印刷、噴墨印刷等印刷法、或者噴霧塗佈法等來進行。於形成積層陶瓷電子零件的內部電極層的用途中，較佳為使用能夠高速印刷的凹版印刷法。
根據本文所揭示的導電性糊，可於基材上形成表面平滑性高的導體膜。例如，可較佳地形成算術平均粗糙度Ra降低至10 nm以下，較佳為5 nm以下，進而2.5 nm以下的具有大致平坦的表面的導體膜。而且，根據本文所揭示的糊，與先前相比可提升導體膜的密度。例如，可較佳地形成導體膜密度緻密化至5.0 g/cm2 以上，較佳為5.3 g/cm2 以上例如5.0 g/cm2 ～6.0 g/cm2 的導體膜。因此，對所述導體膜進行煆燒而成的電極層可發揮優異的導電性。
＜糊的用途＞ 本文所揭示的糊可較佳地用於要求導體膜的表面平滑性的用途中。作為代表性的使用用途，可列舉積層陶瓷電子產品中內部電極層的形成。本文所揭示的糊例如可較佳地用於各邊為5 mm以下，例如1 mm以下的超小型MLCC的內部電極層的形成。另外，於本說明書中，「陶瓷電子產品」是指代具有非晶質的陶瓷基材（玻璃陶瓷基材）或晶質（即非玻璃）的陶瓷基材的所有電子產品的用語。例如，具有陶瓷製的基材的晶片電感器、高頻濾波器、陶瓷電容器、低溫煆燒積層陶瓷基材（Low Temperature Co-fired Ceramics Substrate，LTCC基材）、高溫煆燒積層陶瓷基材（High Temperature Co-fired Ceramics Substrate，HTCC基材）等為本文所提及的「陶瓷電子產品」中所包含的典型例。
作為構成陶瓷基材的陶瓷材料，例如可列舉：鈦酸鋇（BaTiO3 ）、氧化鋯（zirconia：ZrO2 ）、氧化鎂（magnesia：MgO）、氧化鋁（alumina：Al2 O3 ）、氧化矽（silica：SiO2 ）、氧化鋅（ZnO）、氧化鈦（titania：TiO2 ）、氧化鈰（ceria：CeO2 ）、氧化釔（yttria：Y2 O3 ）等氧化物系材料；堇青石（cordierite）（2MgO·2Al2 O3 ·5SiO2 ）、 富鋁紅柱石（Mullite）（3Al2 O3 ·2SiO2 ）、矽酸鎂石（forsterite）（2MgO·SiO2 ）、塊滑石（steatite）（MgO·SiO2 ）、矽鋁氮氧化物（Sialon）（Si3 N4 -AlN-Al2 O3 ）、鋯石（zircon）（ZrO2 ·SiO2 ）鐵氧體（ferrite）（M2 O·Fe2 O3 ）等複合氧化物系材料；氮化矽（Silicon nitride：Si3 N4 ）、氮化鋁（aluminum nitride：AlN）等氮化物系材料；碳化矽（silicon carbide：SiC）等碳化物系材料；羥磷灰石（hydroxyapatite）等氫氧化物系材料；碳（C）、矽（Si）等元素系材料；或者含有該些兩種以上的無機複合材料；等。
圖1是示意性地表示積層陶瓷電容器（MLCC）10的剖面圖。MLCC 10是將介電質層20與內部電極層30交替積層多層而構成的陶瓷電容器。介電質層20例如包括陶瓷。內部電極層30包括本文所揭示的導電性糊的煆燒體。MLCC 10例如藉由以下的步驟來製造。
即，首先，準備作為基材的陶瓷生片。於一例中，對作為介電質材料的陶瓷材料、黏合劑及有機溶劑等進行攪拌混合來製備介電質層形成用的糊。其次，利用刮刀（doctor blade）法等將製備的糊塗至載體片上，形成多枚未煆燒的陶瓷生片。所述陶瓷生片為煆燒後成為介電質層的部分。 其次，準備本文所揭示的導電性糊。具體而言，至少準備導電性粉末（A）、介電質粉末（B）、分散劑（C）及媒液（D），以該些滿足所述比（X/Y）的方式進行攪拌混合，製備導電性糊。其次，將製備的糊以固定的圖案以成為期望的厚度（例如亞微米～微米程度）的方式賦予至多枚陶瓷生片之上，分別形成導體膜。所述導體膜是於煆燒後成為內部電極層的部分。 於藉由如上所述的操作，作成了多枚（例如數百枚～數千枚）未煆燒的帶導體膜的陶瓷生片之後，對該些進行積層、壓接。藉此，製作未煆燒的積層晶片。
其次，藉由恰當的加熱條件（例如，1000℃～1300℃左右的溫度）對所製作的未煆燒的積層晶片進行煆燒。藉此，對積層晶片進行同時煆燒（燒接）而使其一體燒結。藉由如上所述的操作，可獲得介電質層20與內部電極層30交替積層多層的複合體。然後最後，於煆燒後的複合體的剖面塗佈電極材料並進行燒接，形成外部電極40。藉由如上所述的操作，可製造MLCC 10。
以下，對與本發明有關的若干實施例加以說明，但並非意在將本發明限定於該實施例所示者。
首先，如表1所示，將導電性粒子、介電質粒子、分散劑及媒液混合，製備了導電性糊（例1～例11、比較例1～比較例5）。於本文所揭示的導電性糊中，無機成分為導電性粉末及介電質粉末。有機成分為分散劑及媒液（黏合劑及有機溶劑）。 另外，羧酸系的分散劑A的重量平均分子量Mw為500、胺系的分散劑B的重量平均分子量Mw為400、二羧酸系的分散劑C的重量平均分子量Mw為14000。而且，黏合劑（乙基纖維素）為重量平均分子量Mw不同的多種混合物，重量平均分子量Mw最低者為8萬，以質量基準計佔最多的比例者（主黏合劑）的重量平均分子量Mw為18萬。 而且，於表1中「Ni粉」是指鎳粉末。作為鎳粉末，使用平均粒徑（廠商的標稱值，基於電子顯微鏡觀察的個數基準的平均粒徑）為0.1 μm～0.3 μm者。而且，於表1中「BT粉」是指鈦酸鋇粉末。作為鈦酸鋇粉末，使用平均粒徑（廠商的標稱值，基於電子顯微鏡觀察的個數基準的平均粒徑）為10 nm～100 nm者。
其次，使用所述式（1）、式（2）算出所述比（X/Y）（a）。 而且，使用敷料器等將所述導電性糊塗敷至玻璃基板上，以100℃乾燥10分鐘，藉此形成約1 μm厚的導體膜，並進行了表面粗糙度的評價（b）及導體膜密度的評價（c）。
（a）比（X/Y）的算出 ·X值 首先，依據JIS K0070:1992利用電位滴定法分別測定了各有機成分即分散劑A～C、黏合劑及有機溶劑的酸值。將結果一併記於表1。另外，測定結果為測定下限值以下的情況下記載為「無酸值」。然後，針對各例，根據各成分的酸值（mgKOH/g）×含有比例（質量%）求出酸值量，對其進行合計算出了糊100 g中的有機成分的總酸值X。將結果示於表1中。另外，此處，因黏合劑與有機溶劑不具有酸值，所以分散劑的酸值量與糊100 g中的有機成分的總酸值X相同。 ·Y值 首先，利用氮氣吸附法（定容量方式）對各無機成分即Ni粉A～E及BT粉A～E的比表面積分別進行測定，並利用BET法進行了解析。將結果一併記於表1。其次，針對各例，根據Ni粉的比表面積（m2 /g）×Ni粉的含有比例（質量%）求出了糊100 g中的Ni粉的比表面積量（總（total）面積）。同樣地，根據BT粉的比表面積（m2 /g）×BT粉的含有比例（質量%）求出了糊100 g中的BT粉的比表面積量（總（total）面積）。然後，對糊100 g中的Ni粉的比表面積量與BT粉的比表面積量進行合計，算出了糊100 g中的無機成分的總比表面積Y。將結果示於表1中。 ·X/Y值 將糊100 g中的有機成分的總酸值X除以糊100g中的無機成分的總比表面積Y，算出了比（X/Y）。將結果示於表1中。
（b）表面粗糙度的評價 使用光干涉顯微鏡於以下條件下算出了導體膜的表面平滑性（算術平均粗糙度Ra）。將結果示於表1中。 裝置：超分解能非接觸三維表面形狀測量系統 BW-A501（尼康（Nikon）股份有限公司製造） 光學顯微鏡 LV-150（尼康股份有限公司製造） 倍率：100倍、操作幅度：±5 μm、測定範圍：50 μm×1000 μm
（c）導體膜密度的評價 對導體膜的重量及膜厚進行測定，根據以下的式（3）：導體膜密度（g/cm3 ）=導體膜的重量（g）/導體膜的表觀體積（cm3 ）算出了導體膜密度。將結果示於表1中。
[表1] 表1
Figure 107133698-A0304-0001
圖2是表示X/Y值與Ra值的關係的圖表。如表1及圖2所示，比較例1～比較例4中，算術平均粗糙度Ra為16 nm以上，導體膜的表面的凹凸大。其理由雖不明確，但認為：相對於無機成分的總比表面積Y，有機成分的總酸值X過於過剩，所以自調平性下降。 而且，比較例5亦為：算術平均粗糙度Ra為15.6 nm以上，導體膜的表面的凹凸大。其理由雖不明確，但認為：相對於無機成分的總比表面積Y，有機成分的總酸值X不足，所以無機成分與有機成分的親和性變低，導體膜中產生了相分離。
相對於該些比較例，於所述比（X/Y）滿足5.0×10-2 ～6.0×10-1 的例1～例11中，導體膜的算術平均粗糙度Ra被抑制得小，此處實現了Ra≦5 nm。其中，於例3、例4、例5～例8、例10中，導體膜的算術平均粗糙度Ra被顯著地抑制得小，實現了Ra≦2.5 nm。根據以上內容，根據本文所揭示的導電性糊，可形成表面平滑性高（例如，算術平均粗糙度Ra為5 nm以下）的導體膜。
以上對本發明進行了詳細說明，但該些說明僅為例示，本發明可於不偏離其主旨的範圍內加以各種變更。
10‧‧‧積層陶瓷電容器20‧‧‧陶瓷生片30‧‧‧內部電極層40‧‧‧外部電極
圖1是示意性地表示一實施方式的積層陶瓷電容器的剖面圖。 圖2是表示X/Y值與Ra值的關係的圖表。
10‧‧‧積層陶瓷電容器
20‧‧‧陶瓷生片
30‧‧‧內部電極層
40‧‧‧外部電極

Claims (5)

  1. 一種導電性糊，包含無機成分及有機成分，用於導體膜的形成，其中，所述無機成分包括導電性粉末及介電質粉末，所述有機成分包括分散劑及媒液，所述分散劑包括具有酸值的分散劑，若設所述導電性糊的每單位質量的所述有機成分的總酸值為X，並設所述導電性糊的每單位質量的所述無機成分的總比表面積為Y，則所述X與所述Y滿足以下的式：5.0×10-2≦(X/Y)≦6.0×10-1，所述總酸值X的單位為mgKOH，所述總比表面積Y的單位為m2。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的導電性糊，其中，所述無機成分的基於電子顯微鏡觀察的個數基準的平均粒徑均為0.3μm以下。
  3. 如申請專利範圍第1項或第2項所述的導電性糊，其中，若將所述導電性糊的整體設為100質量%，則所述分散劑為3質量%以下。
  4. 如申請專利範圍第1項或第2項所述的導電性糊，其中，所述導電性粉末為鎳、鉑、鈀、銀及銅中的至少一者。
  5. 如申請專利範圍第1項或第2項所述的導電性糊，其用於形成積層陶瓷電子零件的內部電極層。
TW107133698A 2017-10-10 2018-09-26 導電性糊 TWI774847B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017-196770 2017-10-10
JP2017196770A JP6511109B2 (ja) 2017-10-10 2017-10-10 導電性ペースト

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201922957A TW201922957A (zh) 2019-06-16
TWI774847B true TWI774847B (zh) 2022-08-21

Family

ID=66100515

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107133698A TWI774847B (zh) 2017-10-10 2018-09-26 導電性糊

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20200234843A1 (zh)
JP (1) JP6511109B2 (zh)
KR (1) KR102554561B1 (zh)
CN (1) CN111201578B (zh)
MY (1) MY208666A (zh)
TW (1) TWI774847B (zh)
WO (1) WO2019073728A1 (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7255263B2 (ja) * 2019-03-22 2023-04-11 株式会社村田製作所 導電性ペーストおよびセラミック電子部品
TW202111020A (zh) * 2019-07-31 2021-03-16 日商住友金屬鑛山股份有限公司 凹版印刷用導電性漿料、電子零件、及積層陶瓷電容器
JP6810778B1 (ja) * 2019-09-25 2021-01-06 株式会社ノリタケカンパニーリミテド 導電性ペーストとこれを用いた電子部品の製造方法
JP7805787B2 (ja) * 2019-11-29 2026-01-26 住友金属鉱山株式会社 グラビア印刷用導電性ペースト、電子部品、及び積層セラミックコンデンサ
JP7264104B2 (ja) * 2020-04-28 2023-04-25 株式会社村田製作所 積層型セラミック電子部品の製造方法および消失性インク
WO2022092045A1 (ja) * 2020-10-27 2022-05-05 住友金属鉱山株式会社 グラビア印刷用導電性ペースト、電子部品、及び積層セラミックコンデンサ

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016033900A (ja) * 2014-07-31 2016-03-10 住友金属鉱山株式会社 導電性ペースト及びその製造方法、並びに導電性ペーストにより得られた導電膜

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4193591B2 (ja) * 2003-05-28 2008-12-10 ソニー株式会社 偏光分離素子
JP4540364B2 (ja) 2004-03-01 2010-09-08 東邦チタニウム株式会社 ニッケル粉末、並びにそれを用いた導電ペースト及び積層セラミックコンデンサ
KR100773534B1 (ko) * 2005-07-15 2007-11-05 삼성전기주식회사 혼합 분산제, 이를 이용한 페이스트 조성물 및 분산방법
JP4957172B2 (ja) * 2005-10-20 2012-06-20 住友金属鉱山株式会社 ニッケル粉末およびその製造方法
TWI421882B (zh) * 2009-06-08 2014-01-01 Daiken Chemical Co Ltd Barium titanate powder, nickel paste, preparation method and laminated ceramic capacitors
WO2016088832A1 (ja) * 2014-12-04 2016-06-09 積水化学工業株式会社 硬化性組成物、硬化性組成物の製造方法及び半導体装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016033900A (ja) * 2014-07-31 2016-03-10 住友金属鉱山株式会社 導電性ペースト及びその製造方法、並びに導電性ペーストにより得られた導電膜

Also Published As

Publication number Publication date
JP6511109B2 (ja) 2019-05-15
US20200234843A1 (en) 2020-07-23
JP2019071214A (ja) 2019-05-09
MY208666A (en) 2025-05-22
TW201922957A (zh) 2019-06-16
KR20200062309A (ko) 2020-06-03
WO2019073728A1 (ja) 2019-04-18
KR102554561B1 (ko) 2023-07-13
CN111201578B (zh) 2021-08-24
CN111201578A (zh) 2020-05-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI774847B (zh) 導電性糊
TWI479510B (zh) 利用高速燒成之膜狀導體之製造方法
CN107871543B (zh) 导电性糊剂
CN111868842B (zh) 经时粘度稳定的导电性糊剂
TWI819103B (zh) 導電性膠
TWI838578B (zh) 導電性糊及使用其的電子零件的製造方法
TWI805721B (zh) 導電性糊
TWI782096B (zh) 導電性糊劑及陶瓷電子部件的製造方法
TWI838464B (zh) 導電性糊

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent