TWI852360B - 鏡片檢測設備 - Google Patents

鏡片檢測設備 Download PDF

Info

Publication number
TWI852360B
TWI852360B TW112106371A TW112106371A TWI852360B TW I852360 B TWI852360 B TW I852360B TW 112106371 A TW112106371 A TW 112106371A TW 112106371 A TW112106371 A TW 112106371A TW I852360 B TWI852360 B TW I852360B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
light
lens
inspection device
positioning portions
line segments
Prior art date
Application number
TW112106371A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202434871A (zh
Inventor
陳軍
Original Assignee
望隼科技股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 望隼科技股份有限公司 filed Critical 望隼科技股份有限公司
Priority to TW112106371A priority Critical patent/TWI852360B/zh
Priority to CN202310361215.5A priority patent/CN118533433A/zh
Priority to US18/233,894 priority patent/US12566104B2/en
Application granted granted Critical
Publication of TWI852360B publication Critical patent/TWI852360B/zh
Publication of TW202434871A publication Critical patent/TW202434871A/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
    • G01M11/0257—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Abstract

本發明提供一種鏡片檢測設備包括光源模組，光源模組包括導光遮罩和發光組件。導光遮罩包括透光板體以及遮光圖案層，遮光圖案層配置於透光板體上，遮光圖案層包括多個遮光線段，多個遮光線段之間形成透光區。發光組件適於提供光束通過導光遮罩的透光區。本發明的鏡片檢測設備讓鏡片檢測方式更為容易，且鏡片檢測設備的構造簡單易於生產且具有成本低的優點。

Description

鏡片檢測設備
本發明是有關一種檢測設備，尤其是一種鏡片檢測設備。
配戴隱形眼鏡除了作為矯正視力之外，近年來更因應消費者的需求發展出印製有各式顏色與圖案的隱形眼鏡，可讓瞳孔外觀變大與增加美觀，其中為了避免隱形眼鏡中的油墨掉色脫落後直接接觸眼球，會於油墨上覆蓋一層透明層以提供保護。在透明層製造過程中，透明層會直接印在隱形眼鏡塑模上，由檢測人員於生產時定時檢測透明層品質，確認厚度、形狀、尺寸是否符合規範，以免影響隱形眼鏡的配戴舒適性與保護油墨的功能。
然而因習知檢測透明層需使用昂貴且體積龐大的光學投影儀，檢測人員需要在製程產線外進行檢測，且因光學投影儀的光源方向單一，對於立體弧狀的透明層而言，需視情況轉動調整角度才能觀察到透明層各處的成像，因此上述檢測方式複雜，並存在檢測人員手法重現性的差異。
本發明提供一種鏡片檢測設備，讓鏡片檢測方式更為容易，且鏡片檢測設備的構造簡單易於生產，並具有成本低的優點。
本發明所提供的鏡片檢測設備包括光源模組，光源模組包括導光遮罩和發光組件。導光遮罩包括透光板體以及遮光圖案層，遮光圖案層配置於透光板體上，遮光圖案層包括多個遮光線段，多個遮光線段之間形成透光區。發光組件適於提供光束通過導光遮罩的透光區。
在本發明的一實施例中，上述之多個遮光線段從中心向外延伸而呈放射狀。
在本發明的一實施例中，上述之相鄰的任二多個遮光線段之間的夾角介於5～15度，且每一多個遮光線段寬度為0.3～0.7 mm。
在本發明的一實施例中，上述之光源模組更包括箱體，箱體具有相對的底部與開口，導光遮罩設置於開口，發光組件設置於底部。
在本發明的一實施例中，上述之箱體內設有多個承載座，導光遮罩設置於多個承載座上。
在本發明的一實施例中，上述之每一多個承載座設有第一定位部，導光遮罩具有多個第二定位部，多個第二定位部對應多個承載座的多個第一定位部。
在本發明的一實施例中，上述之鏡片檢測設備更包括多個固定元件，其中多個第一定位部與多個第二定位部分別為定位孔，多個固定元件穿過多個第一定位部與多個第二定位部。
在本發明的一實施例中，上述之發光組件包括呈陣列排列的多個發光二極體。
在本發明的一實施例中，上述之鏡片檢測設備更包括載具，其中載具具有相對的底壁與頂壁，光源模組配置於底壁上，頂壁具有鏡片設置開口，鏡片設置開口與遮光圖案層相對。
在本發明的一實施例中，上述之鏡片檢測設備更包括觀測元件，配置於鏡片設置開口之遠離底壁的一側。
本發明提供的鏡片檢測設備因導光遮罩具有遮光圖案層，使光束投影至待檢測的鏡片時形成亮暗相間的圖紋，以提升視覺對比。如此，可使鏡片檢測方式更為容易，且鏡片檢測設備的構造簡單易於生產並具有成本低的優點。
為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。
圖1為本發明一實施例的鏡片檢測設備的示意圖。圖2為本發明一實施例的鏡片檢測設備的光源模組的立體分解示意圖。圖3為本發明一實施例的導光遮罩的俯視示意圖。請先參考圖1和圖3，本實施例的鏡片檢測設備1包括光源模組10，光源模組10包括導光遮罩100和發光組件200。導光遮罩100包括透光板體110以及遮光圖案層130，遮光圖案層130配置於透光板體110上，遮光圖案層130包括多個遮光線段132，多個遮光線段132之間形成透光區R。發光組件200適於提供光束L通過導光遮罩100的透光區R。
本實施例的導光遮罩100的透光板體110的材質可以是透光壓克力，亦可為玻璃板、聚對苯二甲酸乙二酯等可作為透明幻燈片的材質。本實施例的導光遮罩100例如使用不易透光的深色油墨將遮光圖案層130印刷於透光板體110上，但本發明不以此為限。本實施例的多個遮光線段132例如從中心C向外延伸而呈放射狀，其中相鄰的任二個遮光線段132之間的夾角θ例如介於5～15度，且每一個遮光線段132的寬度D例如為0.3～0.7 mm，但本發明不以此為限。在一實施例中，上述夾角θ例如為9度，寬度D例如為0.5 mm。本實施例中每一個遮光線段132例如為連續線段且與中心C相連，並從中心C向外沿一直線方向延伸，其中每一個遮光線段132的長度例如相同，使遮光圖案層130於圓形輪廓內。
本發明的遮光線段132的分布方式不以上述內容為限。在另一實施例中，每一個遮光線段132可以具有多個部分沿一直線方向排列，或是部分遮光線段132可以具有多個部分沿一直線方向排列，且不限制遮光線段132需與中心C相連接，亦不限制每一個遮光線段132的長度需為相等，以及延伸直線方向排列。此外，任二個遮光線段132之間的角度θ可以不同。
本實施例的鏡片檢測設備1檢測待檢測的鏡片，例如為隱形眼鏡的透明層31，其中透明層31例如承載於隱形眼鏡塑模3中。詳細而言，當要製作具有油墨層的隱形眼鏡時，例如會先於隱形眼鏡塑模3形成透明層31，之後再依序形成油墨層及鏡片層，以避免隱形眼鏡中的油墨層掉色脫落。在本實施例中，使用鏡片檢測設備1檢測透明層31時，因為透光板體110上設置的遮光圖案層130可以遮光，使傳遞至遮光圖案層130的光束L無法穿透透光板體110，而傳遞至透光區R的光束L可以穿透透光板體110，因此當光束L穿透導光遮罩100投影至透明層31時，能形成亮暗相間的圖紋。
為了便於固定隱形眼鏡塑模3，本實施例的鏡片檢測設備1例如更包括載具50，其中載具50例如具有相對的底壁530與頂壁520，光源模組10例如配置於底壁530上，頂壁520例如具有鏡片設置開口521，鏡片設置開口521例如與遮光圖案層130相對，其中鏡片設置開口521可供放置隱形眼鏡塑模3。隱形眼鏡塑模3放置於鏡片設置開口521時在靠近光源模組10的一側例如具有半球體，半球體內例如適於承載透明層31，透明層31例如為圓環形。需要說明的是，本實施例的光源模組10例如設置於載具50內，換言之，光束L僅能透過載具50的鏡片設置開口521傳遞至載具50外，避免來自光源模組10以外的光線照射到透明層31，如此可以讓光束L投影至透明層31時的視覺對比更為清楚，有助於檢測透明層31的品質，但本發明不對此做具體的限制。
此外，鏡片檢測設備1例如更包括觀測元件60，例如配置於鏡片設置開口521之遠離底壁530的一側。當光源模組10的光束L投影亮暗相間的圖紋於透明層31上，藉由觀測元件60將透明層31的影像擷取後，可藉由上述影像判斷透明層31的品質，如此有助於使透明層31檢測流程更為容易。本實施例中，觀測元件60例如是相機、投影儀或放大鏡等，有助於觀測透明層31。在另一實施例中，鏡片檢測設備1可以不包括觀測元件60，使檢測人員可以直接以肉眼觀測透明層31，但本發明不以此為限。
請再參考圖2，本實施例的光源模組10例如更包括箱體300，箱體300例如具有相對的底部330與開口310，導光遮罩100例如設置於開口310，發光組件200例如設置於底部330。箱體300內例如設有多個承載座320，導光遮罩100設置於多個承載座320上。具體而言，本實施例的箱體300的開口310與底部330的形狀與導光遮罩100的形狀例如對應、皆為正方形，箱體300例如具有4個承載座320設置於正方形的4個角落，使4個承載座320可以穩固承載導光遮罩100，本發明不限制箱體300的承載座320的數量與設置位置。此外，本實施例的發光組件200例如包括呈陣列排列的多個發光二極體201，在其他實施例中，發光二極體201亦可替換為其他種類的發光元件。發光二極體201不限制需為陣列排列。
上述每一個承載座320例如設有第一定位部322，導光遮罩100例如具有多個第二定位部122，多個第二定位部122例如對應多個承載座320的多個第一定位部322。鏡片檢測設備1例如更包括多個固定元件40，其中第一定位部322與第二定位部122例如分別為定位孔，固定元件40例如穿過第一定位部322與第二定位部122。本實施例中的每一個承載座320在遠離底部330的頂面321例如設有第一定位部322，導光遮罩100在4個角落例如具有第二定位部122，第二定位部122對應承載座的第一定位部322，其中每個第一定位部322與每個第二定位部122可以為定位孔，固定元件40例如分別穿過第二定位部122與對應的第一定位部322將導光遮罩100固定於箱體300上。固定元件40例如為螺絲，固定元件40與第一定位部322與第二定位部122的固定方式例如為鎖固，但本發明不具體限制第一定位部322與第二定位部122需為定位孔，也不限制固定元件40與第一定位部322與第二定位部122的固定方式。此外，本發明中亦不對一個承載座320設有第一定位部322的數量、導光遮罩100具有第二定位部122的數量做具體限制，惟需要說明的是第一定位部322、第二定位部122與固定元件40的數量與設置位置可以相互對應，使導光遮罩100可以穩固固定於箱體300上。在另一實施例中，第一定位部322與第二定位部122可以藉由彼此卡固方式固定（例如定位孔與定位柱的結合方式），如此可以不需要使用固定元件40。
在本實施例中，因為當光束L穿透導光遮罩100投影至待檢測的鏡片（例如為透明層31）時，能形成亮暗相間的圖紋。如此，能夠提高光束L在立體弧狀的透明層31成像時的視覺對比效果，讓檢測透明層31的品質時無須轉動調整角度即可檢測透明層31的品質，讓檢測更為便利，且因無須轉動調整角度可以使檢測結果重現。雖然本實施例中鏡片檢測設備1例如用於檢測隱形眼鏡的透明層31，但本發明不限制鏡片檢測設備1的檢測對象。此外，本發明提供的鏡片檢測設備1的生產成本相較於習知的檢測儀器光學投影儀低，且具有體積小的優點。
綜上所述，本發明提供的鏡片檢測設備的遮光圖案層可以將光束投影至待檢測的鏡片時形成亮暗相間的圖紋，以提升視覺對比，有助於檢測透明層的品質，且鏡片檢測設備的構造簡單易於生產且具有成本低的優點。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
1:鏡片檢測設備
3:隱形眼鏡塑模
31:透明層
10:光源模組
100:導光遮罩
110:透光板體
122:第二定位部
130:遮光圖案層
132:遮光線段
200:發光組件
201:發光二極體
300:箱體
310:開口
320:承載座
321:頂面
322:第一定位部
330:底部
40:固定元件
50:載具
520:頂壁
521:鏡片設置開口
530:底壁
60:觀測元件
C:中心
D:寬度
L:光束
R:透光區
θ:夾角
圖1為本發明一實施例的鏡片檢測設備的示意圖。 圖2為本發明一實施例的鏡片檢測設備的光源模組的立體分解示意圖。 圖3為本發明一實施例的導光遮罩的俯視示意圖。
10:光源模組
100:導光遮罩
110:透光板體
122:第二定位部
130:遮光圖案層
132:遮光線段
200:發光組件
201:發光二極體
300:箱體
310:開口
320:承載座
321:頂面
322:第一定位部
330:底部
40:固定元件
L:光束
R:透光區

Claims (8)

  1. 一種鏡片檢測設備，包括：一光源模組，包括：一導光遮罩，包括一透光板體以及一遮光圖案層，該遮光圖案層配置於該透光板體上，該遮光圖案層包括多個遮光線段，該些遮光線段之間形成一透光區；以及一發光組件，適於提供一光束通過該導光遮罩的該透光區；其中該些遮光線段從一中心向外延伸而呈放射狀，相鄰的任二該些遮光線段之間的夾角介於5~15度，且每一該些遮光線段寬度為0.3~0.7mm。
  2. 如請求項1所述之鏡片檢測設備，其中該光源模組更包括一箱體，該箱體具有相對的一底部與一開口，該導光遮罩設置於該開口，該發光組/件設置於該底部。
  3. 如請求項2所述之鏡片檢測設備，其中該箱體內設有多個承載座，該導光遮罩設置於該些承載座上。
  4. 如請求項3所述之鏡片檢測設備，其中每一該些承載座設有一第一定位部，該導光遮罩具有多個第二定位部，該些第二定位部對應該些承載座的該些第一定位部。
  5. 如請求項4所述之鏡片檢測設備，更包括多個固定元件，其中該些第一定位部與該些第二定位部分別為一定位孔，該些固定元件穿過該些第一定位部與該些第二定位部。
  6. 如請求項1所述之鏡片檢測設備，其中該發光組件包括呈陣列排列的多個發光二極體。
  7. 如請求項1所述之鏡片檢測設備，更包括一載具，其中該載具具有相對的一底壁與一頂壁，該光源模組配置於該底壁上，該頂壁具有一鏡片設置開口，該鏡片設置開口與該遮光圖案層相對。
  8. 如請求項7所述之鏡片檢測設備，更包括一觀測元件，配置於該鏡片設置開口之遠離該底壁的一側。
TW112106371A 2023-02-22 2023-02-22 鏡片檢測設備 TWI852360B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW112106371A TWI852360B (zh) 2023-02-22 2023-02-22 鏡片檢測設備
CN202310361215.5A CN118533433A (zh) 2023-02-22 2023-04-06 镜片检测设备
US18/233,894 US12566104B2 (en) 2023-02-22 2023-08-15 Lens testing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW112106371A TWI852360B (zh) 2023-02-22 2023-02-22 鏡片檢測設備

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI852360B true TWI852360B (zh) 2024-08-11
TW202434871A TW202434871A (zh) 2024-09-01

Family

ID=92305271

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW112106371A TWI852360B (zh) 2023-02-22 2023-02-22 鏡片檢測設備

Country Status (3)

Country Link
US (1) US12566104B2 (zh)
CN (1) CN118533433A (zh)
TW (1) TWI852360B (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0961291A (ja) * 1995-08-29 1997-03-07 Asahi Optical Co Ltd 光学部材検査装置
TW200514977A (en) * 2003-10-20 2005-05-01 Himax Tech Inc Apparatus for inspecting leads and method thereof
US8976250B2 (en) * 2012-05-01 2015-03-10 Apple Inc. Lens inspection system
CN104870967A (zh) * 2012-12-21 2015-08-26 埃西勒国际通用光学公司 用于检查眼镜片的光学特性的符合性的方法以及相关设备
CN113203708A (zh) * 2021-04-22 2021-08-03 平方和(北京)科技有限公司 一种光学设备
CN216410606U (zh) * 2021-12-24 2022-04-29 北京同仁验光配镜有限责任公司 镜片检测灯箱

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202005009847U1 (de) * 2005-03-23 2005-10-20 Oculus Optikgeräte GmbH Messeinrichtung zum Messen der Refraktionseigenschaften optischer Linsen
DE202005004934U1 (de) * 2005-03-23 2005-06-09 Oculus Optikgeräte GmbH Messeinrichtung zum Messen der Refraktionseigenschaften optischer Linsen
EP3414515B1 (en) * 2016-02-12 2021-07-28 Shamir Optical Industry Ltd. Methods and systems for testing of eyeglasses lens
EP3531067B1 (de) * 2018-02-21 2025-04-02 Schneider GmbH & Co. KG Vorrichtung und verfahren zum vermessen mindestens eines optisch wirksamen gegenstands
US10965102B2 (en) * 2018-04-12 2021-03-30 Samsung Electronics Co., Ltd. Structured light projector and electronic apparatus including the same
KR102546320B1 (ko) * 2018-06-18 2023-06-22 삼성전자주식회사 구조광 프로젝터 및 이를 포함하는 전자 장치
CN211374003U (zh) * 2019-09-30 2020-08-28 宁波舜宇车载光学技术有限公司 镜头测试装置
CN114429444B (zh) * 2020-10-14 2025-09-09 亿美视觉私人有限公司 接触透镜缺陷分析跟踪系统及方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0961291A (ja) * 1995-08-29 1997-03-07 Asahi Optical Co Ltd 光学部材検査装置
TW200514977A (en) * 2003-10-20 2005-05-01 Himax Tech Inc Apparatus for inspecting leads and method thereof
US8976250B2 (en) * 2012-05-01 2015-03-10 Apple Inc. Lens inspection system
CN104870967A (zh) * 2012-12-21 2015-08-26 埃西勒国际通用光学公司 用于检查眼镜片的光学特性的符合性的方法以及相关设备
CN113203708A (zh) * 2021-04-22 2021-08-03 平方和(北京)科技有限公司 一种光学设备
CN216410606U (zh) * 2021-12-24 2022-04-29 北京同仁验光配镜有限责任公司 镜片检测灯箱

Also Published As

Publication number Publication date
US20240280434A1 (en) 2024-08-22
TW202434871A (zh) 2024-09-01
CN118533433A (zh) 2024-08-23
US12566104B2 (en) 2026-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW402856B (en) LED illuminator
US6011620A (en) Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive planar objects
TWI812178B (zh) 一種光學設備
US9952090B2 (en) Detecting apparatus and detecting method thereof
TW201514471A (zh) 透明介質上之裝飾的檢查系統與方法
US5523836A (en) Method and apparatus for orienting a lens' refractive characteristics and lay-out properties
JP3417736B2 (ja) 光学部材検査装置
US4330712A (en) Inspection apparatus for defects on patterns
TW202434871A (zh) 鏡片檢測設備
TWM528423U (zh) 外觀檢查裝置及檢查系統
TW200526946A (en) Method of inspecting unevenness defect of pattern and device thereof
TWI673486B (zh) 光學檢測設備及其光源尋邊機構
TWI437263B (zh) 觀察光學系及雷射加工裝置
JP3625953B2 (ja) 外観検査用投光装置
JP2021165707A (ja) レンズアレイ検査装置
JPH11118668A (ja) 物体の欠陥の検査方法および検査装置
JP2010237029A (ja) 赤外線光学系の評価装置及びその評価方法
JP2013210294A (ja) 照明装置およびそれを用いた検査装置
JPH08166514A (ja) 斜光照明装置
JP2005233695A (ja) 透明板欠陥検査装置
JPH0868767A (ja) 壜胴部の欠陥検査装置
TWI912058B (zh) 透明體的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置
TWI873575B (zh) 多焦式光學檢測設備
JP2005003407A (ja) 投影器
JP2013113812A (ja) 透明膜検査装置及び検査方法