UA55762U - Устройство для измерения параметров омического контакта для полупроводника - Google Patents

Устройство для измерения параметров омического контакта для полупроводника

Info

Publication number
UA55762U
UA55762U UAU201006884U UAU201006884U UA55762U UA 55762 U UA55762 U UA 55762U UA U201006884 U UAU201006884 U UA U201006884U UA U201006884 U UAU201006884 U UA U201006884U UA 55762 U UA55762 U UA 55762U
Authority
UA
Ukraine
Prior art keywords
parameters
measurement
ohmic contact
semiconductor
probes
Prior art date
Application number
UAU201006884U
Other languages
English (en)
Ukrainian (uk)
Inventor
Александр Евгеньевич Беляев
Николай Силович Болтовец
Раиса Васильевна Конакова
Ярослав Ярославович Кудрик
Владимир Викторович Шинкаренко
Original Assignee
Институт Физики Полупроводников Им. В.Е. Лашкарева Национальной Академии Наук Украины
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Физики Полупроводников Им. В.Е. Лашкарева Национальной Академии Наук Украины filed Critical Институт Физики Полупроводников Им. В.Е. Лашкарева Национальной Академии Наук Украины
Priority to UAU201006884U priority Critical patent/UA55762U/ru
Publication of UA55762U publication Critical patent/UA55762U/ru

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

Устройство для измерения параметров омического контакта для полупроводника содержит измерительный блок, который состоит из генератора постоянного тока и не меньше чем четырех зондов, два из которых подсоединены к генератору, а остальные - к измерителю напряжения, и предметный столик для исследуемых образцов. Устройство дополнительно имеет термостат с управляемой температурой, в котором размещен предметный столик вместе с зондами.
UAU201006884U 2010-06-03 2010-06-03 Устройство для измерения параметров омического контакта для полупроводника UA55762U (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
UAU201006884U UA55762U (ru) 2010-06-03 2010-06-03 Устройство для измерения параметров омического контакта для полупроводника

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
UAU201006884U UA55762U (ru) 2010-06-03 2010-06-03 Устройство для измерения параметров омического контакта для полупроводника

Publications (1)

Publication Number Publication Date
UA55762U true UA55762U (ru) 2010-12-27

Family

ID=50738186

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
UAU201006884U UA55762U (ru) 2010-06-03 2010-06-03 Устройство для измерения параметров омического контакта для полупроводника

Country Status (1)

Country Link
UA (1) UA55762U (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
IN2015DN01707A (ru)
WO2013126612A3 (en) Electrical test device and method
MX390227B (es) Dispositivo y metodo mejorados para prueba de embarazo.
MX342862B (es) Metodo y aparato para probar dispositivos de potencia utilitaria.
GB201105400D0 (en) Apparatus for current measurement
BR112013026599A2 (pt) conjunto de bobinas contínuas, dispositivo de teste com conjunto de bobinas contínuas e método de teste
MX348553B (es) Restablecimiento adaptativo de fallas en funcion de la temperatura del transistor de potencia.
EA201591366A1 (ru) Непрерывное неинвазивное измерение температур ткани на основе измерений импеданса
IN2013MU02485A (ru)
MY187633A (en) Gas concentration detecting device
NL2021077A (en) Low power measurement of skin electrical properties
MY180868A (en) System and method for testing thermal properties of a container
MX354264B (es) Matrices de remisión de auto conmutación al determinar concentración de material de proceso.
EP4030172C0 (en) CONNECTION, DETECTION AND MEASUREMENT DEVICE INTENDED TO CONNECT TO AN ELECTRICAL NETWORK CONNECTION EQUIPMENT DEVICE
UA55762U (ru) Устройство для измерения параметров омического контакта для полупроводника
PH12016501257B1 (en) An apparatus and associated methods for temperature sensing
RU2013151570A (ru) Способ контроля температуры проводов линий электропередачи
UA54936U (ru) Термоэлектрическое устройство для измерения температуры
UA57012U (ru) Способ измерения термоэлектрических параметров
UA72229U (ru) Способ стабилизации электрической мощности нагревателя ячейки для измерения термоэлектрических параметров
FI12535U1 (fi) Laite sähkönjohtavuuden ja lämpötilan mittaamiseksi
UA67492U (ru) Способ коммутации электрических сигналов при измерении термоэлектрических параметров
UA86128U (ru) Способ оценки электрических параметров клеточных мембран биологических тканей при механических воздействиях
BOŠTJAN et al. IMPEDANCE-BASED METHODS FOR DETECTION OF VOLTAGE SAG SOURCES
PL123326U1 (pl) Urządzenie do pomiaru rozpływu prądów w elementach składowych odbieraków prądu, w szczególności odbieraków prądowych kolejowych pojazdów trakcyjnych