WO2002017483A1 - Surface acoustic wave filter device - Google Patents

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WO2002017483A1
WO2002017483A1 PCT/JP2001/007042 JP0107042W WO0217483A1 WO 2002017483 A1 WO2002017483 A1 WO 2002017483A1 JP 0107042 W JP0107042 W JP 0107042W WO 0217483 A1 WO0217483 A1 WO 0217483A1
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acoustic wave
surface acoustic
wave filter
parallel arm
electrode
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Norio Taniguchi
Toshiaki Takata
Mitsuo Takeda
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Murata Manufacturing Co Ltd
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    • H10W90/721Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
    • H10W90/724Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL

Definitions

  • the present invention relates to a surface acoustic wave filter device, and more particularly, to a surface acoustic wave filter device having a ladder circuit.
  • a plurality of one-port surface acoustic wave resonators are connected in series as a series arm resonator between an input terminal and an output terminal, thereby forming a series arm. Also, a plurality of one-port pair surface acoustic wave resonators are connected in parallel between the series arm and the ground as parallel arm resonators, forming a parallel arm.
  • a bandpass filter having a ladder-type circuit has a small insertion loss and a wide passband, and is widely used as a bandpass filter in a mobile phone.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-183380 discloses that a filter characteristic can be broadened by connecting an inductance component to the series arm resonator or the parallel arm resonator in series. .
  • FIG. 18 shows a circuit configuration of the surface acoustic wave filter device according to the prior art.
  • the series arm resonators S 1 and S 2 and the parallel arm resonators P 1 to P 3 are connected to form a ladder circuit.
  • an inductance L is inserted between the parallel arm resonators P1 to P3 and the ground potential. As a result, the passband is broadened and the attenuation near the passband is increased.
  • Japanese Patent Laying-Open No. 4-65509 discloses a structure in which a surface acoustic wave filter element is connected to a package by a face-down method.
  • a package containing a surface acoustic wave filter element an electrode of the package and an electrode of the surface acoustic wave filter element are connected by a bonding wire.
  • the size is reduced by adopting the twist-down method.
  • Fig. 19 schematically shows a cross section of a package of a surface acoustic wave filter element housed using this face-down method.
  • the surface acoustic wave filter element 603 is housed in the package 602.
  • the package 60 2 has a surface acoustic wave filter element 60 0 a on a c base substrate 60 2 a having a base substrate 60 2 a, side walls 60 2 b and a cap 60 2 c.
  • a latch portion 62 d having a plurality of electrode pads electrically connected to 3 is formed.
  • the surface acoustic wave filter element 603 has a piezoelectric substrate 603a, and electrodes and the like for constituting the surface acoustic wave filter element are formed on the lower surface of the piezoelectric substrate 603a.
  • the electrodes formed on the lower surface of the piezoelectric substrate 603 a are electrically connected to the electrode pads in the die attach portion 602 d by the bumps 604 and the bumps 604 As a result, the surface acoustic wave filter element 603 is mechanically fixed to the latch portion 602 d.
  • a surface acoustic wave filter device having a ladder-type circuit is disclosed.
  • the filter characteristics are improved.
  • the surface acoustic wave filter element and the electrode of the package are connected by a bonding wire, the inductance can be added by using the bonding wire.
  • the surface acoustic wave filter device 600 packaged by the face-down method described above does not have a bonding wire, an inductance component is added to the surface acoustic wave filter device 61 by a bonding wire. Can not. Although it is possible to obtain a small inductance component with the routing electrode that connects the external electrode provided on the package and the die attach part, a large inductance can be obtained with such a routing electrode. can not c Therefore, JP-4 - the surface acoustic wave filter device according to 6 5 9 0 9 publication is by the addition of the inductance, it is difficult to achieve an increase in attenuation in the widened and near the passband. '
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-69509 discloses that if an inductance component is added between an input / output signal terminal in a package and a ground terminal, the input / output impedance can be reduced without using an external element. It is stated that alignment can be achieved.
  • This description relates to a surface acoustic wave filter having a structure in which input and output impedances must be matched outside the surface acoustic wave filter. Therefore, in a surface acoustic wave filter having a ladder-type circuit that may not be essentially matched to 50 ⁇ , impedance matching between the input / output signal terminals in such a package and the ground terminal is attempted. No need.
  • an inductance component is formed in the die attach portion. Field coupling occurs and filter characteristics deteriorate. Also, in order to form an inductance component in the die attach portion, a surface acoustic wave filter element is required. It is necessary to adjust the position and the number of bumps for electrically connecting and mechanically fixing the package and the package. However, the position and number of bumps for forming the inductance component are not always sufficient for electrical connection and mechanical fixation, which reduces the reliability of the surface acoustic wave filter device. . Disclosure of the invention
  • An object of the present invention is to solve the above-mentioned drawbacks of the prior art, and in a surface acoustic wave filter device in which a surface acoustic wave filter element having a ladder-type circuit is housed in a package by a twist-down method, Inductance is added to the series arm resonator, and deterioration of filter characteristics due to electromagnetic field coupling between the electrode on the surface acoustic wave filter element and the inductance provided in the package hardly occurs. It is an object of the present invention to provide a surface acoustic wave filter device having a small number of filters and good filter characteristics.
  • a piezoelectric substrate and a plurality of one-port pair surface acoustic wave elements formed on the piezoelectric substrate, wherein the one-port pair surface acoustic wave elements are arranged in parallel in a ladder circuit.
  • a surface acoustic wave filter element connected to form an arm resonator and a series arm resonator; and a package containing the surface acoustic wave filter element, wherein the surface acoustic wave filter element includes a plurality of The micro-strip is housed in the package by a face-down method connected by bumps, is provided in the package, and is connected to at least one of the series arm resonator and the parallel arm resonator.
  • a surface acoustic wave filter device is provided, further comprising a line inductance component.
  • the package includes: a die attach portion having a plurality of electrode pads connected to any one of a signal terminal and a ground terminal of a surface acoustic wave filter element by a bump; Signal that is electrically connected to the C.
  • the electrode strip is connected to a signal terminal of the series arm resonator.
  • the external electrode connected to a signal line outside the surface acoustic wave device.
  • the micro strip line is connected to a ground terminal of at least one of the parallel arm resonators via a bump, and the external pad connected to a ground line. It is located between the electrodes.
  • At least two parallel arm resonators are provided, and ground terminals of all the parallel arm resonators are connected in common on the piezoelectric substrate.
  • the microstrip line is connected between a portion of the package to which a ground terminal of the child is commonly connected and an external electrode of the package.
  • At least two parallel arm resonators are provided, and the electrode pad on the package side connected to the ground terminal of all the parallel arm resonators is shared.
  • the microstrip line is provided in a path between the common electrode pad and the external electrode.
  • At least three or more parallel arm resonators are provided, formed on the piezoelectric substrate, and at least two parallel arm resonators are provided.
  • An electrode land to which a ground terminal is connected is further provided, and the microstrip line is provided in a path between the electrode land and an external electrode to which the electrode land is connected.
  • the parallel arm resonators other than the two parallel arm resonators are electrically separated from the at least two parallel arm resonators on the piezoelectric substrate, and the at least two parallel arm resonators It is electrically connected to external electrodes other than the external electrode on the package side to which it is connected.
  • At least 3 'said parallel arm resonators Wherein the plurality of electrode pads have a common electrode pad connected to a ground terminal of at least two of the parallel arm resonators, and the micro strip line is common.
  • a parallel arm resonator other than the at least two parallel arm resonators is provided in a path between the electrode pad and the external electrode to which the common electrode pad is connected.
  • the package In the die attach portion including the pole pad, the package is electrically separated from the at least two parallel arm resonators, and is connected to the at least two parallel arm resonators. It is electrically connected to external electrodes other than the electrodes.
  • the microstrip line is disposed in a package other than the die attach portion.
  • the package comprises: a base substrate on which the surface acoustic wave filter element is mounted; an annular side wall provided in the base substrate; and an upper end of the annular side wall. And a main part of the microstrip line is disposed between the side wall and the base substrate.
  • the package includes: a first case material on which the surface acoustic wave filter element is mounted; and an elastic material mounted on the first case material.
  • a second case material surrounding the surface acoustic wave filter element, and a main part of the microstrip line is provided inside the first case material.
  • the main part of the microstrip line refers to 50% or more of the entire length of the microstrip line.
  • a signal terminal at an input / output end of the surface acoustic wave filter element and at least one ground terminal are connected to input terminals of the plurality of external electrodes.
  • An external electrode connected to the signal line at the output end and an external electrode connected to at least one ground potential The positional relationship is such that the pole is rotated 90 degrees around a virtual line passing through the center of the piezoelectric substrate of the surface acoustic wave filter element and orthogonal to the piezoelectric substrate.
  • a communication device includes the surface acoustic wave filter device according to the present invention.
  • FIG. 1 is a schematic cross section of a surface acoustic wave filter device according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a plan view showing an electrode structure of a surface acoustic wave filter element used for the surface acoustic wave filter device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a plan view showing a latch portion including a plurality of electrode pads on the upper surface of the base substrate of the package of the surface acoustic wave filter device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a circuit diagram showing a surface acoustic wave filter device according to the first embodiment.
  • FIG. 5 is a plan view showing an electrode pattern on an upper surface of a base substrate of a package of a conventional surface acoustic wave device prepared for comparison.
  • FIG. 6 is a graph showing attenuation-frequency characteristics of the surface acoustic wave devices according to the first embodiment and the conventional example.
  • FIG. 7 is a circuit diagram showing a surface acoustic wave filter device according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a plan view showing an electrode structure on an upper surface of a base substrate of a package used in the surface acoustic wave filter device according to the second embodiment.
  • FIG. 9 is a graph showing the attenuation-frequency characteristics of the surface acoustic wave filter devices of the second embodiment and the conventional example.
  • FIG. 10 is a circuit diagram showing a surface acoustic wave filter device according to a third embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 shows the package of the surface acoustic wave filter device according to the third embodiment.
  • FIG. 3 is a plan view showing an electrode structure on an upper surface of a base substrate.
  • FIG. 12 is a graph showing the attenuation-frequency characteristics of the surface acoustic wave filter devices according to the third embodiment and the conventional example.
  • FIG. 13 is a circuit diagram showing a surface acoustic wave filter device according to a fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 14 is a schematic sectional view of a surface acoustic wave filter device according to a fourth embodiment. .
  • FIG. 15 is a plan view showing the electrode structure on the upper surface of the base substrate of the package in the surface acoustic wave filter device according to the fourth embodiment.
  • FIG. 16 is a plan view showing an electrode structure in a base substrate of a package used in the surface acoustic wave filter device according to the fourth embodiment.
  • FIG. 17 is a graph showing the attenuation-frequency characteristics of the fourth embodiment and the conventional surface acoustic wave filter device.
  • FIG. 18 is a circuit diagram showing an example of a conventional surface acoustic wave filter device having a ladder type circuit.
  • Figure 1 9 is the best mode for carrying out the c invention is a cross-sectional view showing another conventional surface acoustic wave filter device
  • the surface acoustic wave device 1 of the present embodiment includes a package 2 and a surface acoustic wave filter element 3 housed in the package 2 ( in FIG. 1, the surface acoustic wave filter element 3 is Only its outline is schematically shown.
  • the package 2 includes a rectangular plate-shaped base substrate 4, a rectangular frame-shaped side wall 5 joined on the base substrate 4, and a rectangular plate-shaped mounted to close an upper opening of the side wall 5. And a cap material 6.
  • the side wall 5 may have another annular structure such as an annular shape other than the rectangular plate shape.
  • the base substrate 4 and the side wall 5 are made of an insulating ceramic such as alumina. It can be composed of a tas or a synthetic resin. Even with the cap member 6 can be made of the same material, or the cap member 6 good c base substrate 4 be made of a metal or the like in order to impart an electromagnetic shielding property, the substrate 4 b ⁇ Pi 4 A ground electrode 50 for a microstrip line, which will be described later, is formed on almost the entire lower surface of the substrate 4b between the substrates 4a and 4b. ing. Substrates 4b and 4c are made of an insulating material and have a predetermined dielectric constant.
  • the surface acoustic wave filter element 3 has a rectangular plate-shaped piezoelectric substrate 7 as a piezoelectric substrate.
  • the piezoelectric substrate 7, in the present embodiment is constituted by 3 6 ° Y cut X propagation L i T a 0 3 substrate.
  • the piezoelectric substrate 7 may be made of another piezoelectric single crystal or a piezoelectric ceramic such as lead titanium zirconate-based ceramics. Further, a piezoelectric substrate in which a piezoelectric thin film made of ZnO or the like is formed on a piezoelectric substrate or an insulating substrate may be used.
  • an electrode pattern as shown is formed by photolithography and etching.
  • the metal material forming the electrode pattern is not particularly limited, but is made of A1 in the present embodiment.
  • the electrodes may be formed by photolithography and a lift-off method.
  • series arm resonators 8, 9 each composed of a terminal-pair surface acoustic wave element and parallel arm resonators 10 to 12 are provided. Are formed.
  • Each of the series arm resonators 8 and 9 and the parallel arm resonators 10 to 12 has one IDT and a pair of reflectors arranged on both sides of the IDT in the surface wave propagation direction.
  • the series arm resonator 8 has an IDT 8a and reflectors 8b and 8c.
  • Electrode lands 13 to 17 are formed on the upper surface ⁇ a of the piezoelectric substrate 7. Have been.
  • the electrode lands 13 to 17 are portions for electrically connecting the surface acoustic wave filter element 3 to the outside, and are formed of a metal film having a certain area. Note that the circular portions drawn on the electrode lands 13 to 17 indicate the portions joined by the bumps.
  • the electrode land 13 is used as an input terminal of the surface acoustic wave filter element 3, and the electrode land 13 is connected to one end of the first series arm resonator 8 via the conductive path 18.
  • the conductive path 18 electrically connects the electrode land 13, one end of the serial arm resonator 8, and one end of the first parallel arm resonator 10.
  • the end of the parallel arm resonator 10 opposite to the side to which the conductive path 18 is connected is connected to the electrode land 14 via the conductive path 19.
  • the electrode lands 14 are electrode lands connected to the ground potential.
  • the end of the series arm resonator 8 opposite to the side to which the conductive path 18 is connected is connected to the conductive path 20.
  • the conductive path 20 is also connected to one end of the second series arm resonator 9 and one end of the second parallel arm resonator 11.
  • the end of the second parallel arm resonator 11 opposite to the side to which the conductive path 20 is connected is connected to the electrode land 15.
  • the electrode land 15 is an electrode land connected to the ground potential.
  • a conductive path 21 is connected to the other end of the second series arm resonator 9, and the conductive path 21 is connected to one end of the electrode land 17 and one end of the third parallel arm resonator 12. I have.
  • the electrode lands 17 are used as output terminals.
  • the end of the parallel arm resonator 12 opposite to the side connected to the conductive path 21 is connected to the electrode land 16 via the conductive path 22.
  • the electrode land 16 is an electrode land connected to the ground potential.
  • the first and second series arm resonators 8 and 9 and the first to third parallel arm resonators 10 to 12 are of a ladder type shown in FIG. They are connected to form a circuit.
  • the inductances L1 to L5 in FIG. 4 will be described later.
  • FIG. 3 shows an electrode structure formed on the upper surface of the base substrate 4 in the package 2 shown in FIG.
  • the surface acoustic wave filter element 3 is mounted at a portion indicated by a broken line X.
  • the above-described surface acoustic wave filter element 3 is joined by bumps such that the upper surface 7a of the piezoelectric substrate 7 faces downward. That is, the surface acoustic wave filter element 3 shown in FIG. 2 is overlaid on the upper surface 4 a of the base substrate 4 shown in FIG. 3 so that the upper surface 7 a of the piezoelectric substrate 7 faces the lower surface.
  • the surface acoustic wave filter element 3 is fixed.
  • the plurality of electrode pads 23 to 27 constitute a die attach portion.
  • the electrode pads 23 to 27 are formed separately from each other. Among them, the electrode pad 23 is electrically connected to the electrode land 13 shown in FIG. 2 and mechanically joined by the bump 28. Similarly, the electrode pads 24 to 26 are connected to the electrode lands 14 to: L6 shown in FIG. 2 by the amplifiers 29, 30, and 31, respectively. Further, the electrode pad 27 is electrically connected to the electrode land 17 shown in FIG.
  • the electrode pads 23 and 27 are electrode pads connected to an external signal line, and the electrode pads 24 to 26 are connected to an external ground line. It is an electrode pad.
  • External electrodes 41 to 44 are formed on the upper surface of the base substrate 4.
  • the external electrodes 41 to 44 are formed so as to reach not only the upper surface 4a of the base substrate 4 but also the side surface and the lower surface of the base substrate 4 in portions not shown in FIG. That is, the external electrodes 41 to 44 function as electrodes for electrically connecting the surface acoustic wave device 1 shown in FIG. 1 to the outside.
  • the external electrode 44 is connected to the electrode pad 23 via the microstrip line 45.
  • the external electrode 41 is connected to the electrode pad 27 via the microstrip line 46.
  • the external electrode 42 is connected to the electrode pad 2 via the micro strip line 47.
  • the external electrode 43 is electrically connected to both of the electrode pads 25 and 26 via microstrip lines 48:49.
  • the external electrodes 42 and 43 are external electrodes connected to an external ground line
  • the external electrodes 41 and 44 are external electrodes connected to a signal line.
  • the microstrip lines 45 to 49 face the ground electrode 50 via the substrate 4b as shown by the broken lines in FIG. 3, and the thin strip-shaped conductive pattern functions as a microstrip line. c In FIG. 3, the ground electrode 50 is formed over almost the entire surface of the substrate 4b, but it is sufficient that the ground electrode 50 is formed at a portion facing the microstrip lines 45 to 49. .
  • the microstrip lines 45 to 49 exist between the base substrate 4 and the side walls.
  • inductance is obtained by the microstrip lines 45 to 49. That is, the inductance L1 shown in FIG. 4 is given by the microstrip line 45, the inductance L2 is given to the microstrip line 46, and the inductances L3 to L5 are given by the microstrip lines 47 to 49. It is configured.
  • microstrip lines 47 to 49 serving as inductance components are connected between each parallel arm resonator having a ladder circuit and an external electrode connected to the ground line.
  • microstrip line inductance components 46 and 45 are connected between the series arm resonator and the external electrodes 41 and 44 connected to external signal lines, respectively.
  • the parallel arm resonator Inductance components are added to 10 to 12 independently by the microstrip lines 47 to 49, respectively. Therefore, it is possible to increase the bandwidth, and The amount of attenuation near the overband can be increased. This will be described based on more specific experimental examples.
  • the solid line in FIG. 6 shows the attenuation-frequency characteristic of the surface acoustic wave device of the present embodiment, and the broken line shows the attenuation-frequency characteristic of the conventional surface acoustic wave device prepared for comparison.
  • the conventional surface acoustic wave device shown by a broken line in FIG. 6 is the same as the above-described embodiment except that the electrode structure on the upper surface of the package base substrate is formed as shown in FIG. did. That is, the electrode pads 105 to 107 are formed on the upper surface 104a of the base substrate 104 shown in FIG. External electrodes 111 to 114 are formed at the four corners. The external electrodes 111 to 114 are formed so as to extend from the upper surface of the base substrate 104 to the lower surface through the side surfaces, and correspond to portions electrically connected to the outside. The external electrodes 112 and 113 are electrically connected to the electrode pads 105 and 106 by thick conductive paths 108 and 109, respectively.
  • the conductive paths 108 and 109 do not function as microstrip lines. .
  • the electrode pad 107 having a large area is directly connected to the external electrodes 111 and 114.
  • the electrode pads 107 are connected to the electrode lands 14 to 16 connected to the ground line of the surface acoustic wave filter element 3 by bumps, and the electrode pads 105 and 106 are respectively: This is a portion connected to the electrode lands 13 and 17 connected to the electrodes.
  • the microstrip line is connected between the parallel arm resonators 10 to 12 and the external electrodes 111 and 114 connected to the ground line. Are not formed independently, and the inductance component of the microstrip line is not inserted.
  • the micro-strip line is not connected, and therefore the inductance component due to the micro-strip line is not inserted.
  • the specifications of the surface acoustic wave filter element 3 used in the above embodiment and the conventional example are as follows.
  • Electrode finger cross width 17 m
  • number of electrode fingers in IDT 100
  • number of reflector electrode fingers 100
  • Electrode finger cross width 50 ⁇ m
  • IDT electrode finger pair 40 pairs
  • the conductance components of the microstrip lines 45 to 49 formed on the base substrate 4 are as follows.
  • Micro strip line 4 8 0.5 ⁇ ⁇
  • the width of the passband with an attenuation of 4 d ⁇ is 78 MHz in the conventional example, but is expanded to 86 MHz in the present example. You can see that.
  • the attenuation pole near the pass band is located at substantially the same frequency in the conventional example and the embodiment, but this is common since the electrode pads connected to the ground potential of the diaphragm are separated from each other. It is considered that there is no inductance component. That is, the inductance components are independently added to the first to third parallel arm resonators 10 to 12 by the microstrip lines 47 to 49, respectively. Furthermore, the micro-strip line 45 to 49 force S for adding the above-mentioned inductance component is present between the base substrate and the side wall.
  • the inductance component per unit length of the microstrip line is designed.
  • the inductance component required to improve the characteristics of the surface acoustic wave filter can be designed into the microstrip line inductance component and introduced into the surface acoustic wave filter.
  • the microstrip line is resistant to external influences, the inductance component of the microstrip line almost always changes even when the elastic surface wave filter element is attached to the base substrate by the face-down method. Therefore, a desired inductance component can be introduced into the surface acoustic wave filter as designed.
  • FIG. 7 is a circuit diagram showing a surface acoustic wave filter device according to a second embodiment of the present invention.
  • the same surface acoustic wave filter element 3 as in the first embodiment is used.
  • two series arm resonators 8 and 9 and three parallel arm resonators 10 to 12 are connected so as to have a ladder circuit configuration.
  • the ends of the three parallel arm resonators 10 to 12 connected to the ground potential are connected in common, and the portions connected in common are And the external ground line is connected to the external Inductances L6 and L7 are connected between the electrodes.
  • the ends of the three parallel arm resonators 10 to 12 connected to the ground potential may be commonly connected on the piezoelectric substrate.
  • the above inductances L6 and L7 are composed of microstrip lines formed in the package.
  • FIG. 8 is a plan view showing the electrode structure on the upper surface of the base substrate 54 of the package used in the second embodiment.
  • the second embodiment is configured in the same manner as the first embodiment except that the electrode structure on the upper surface of the base substrate 54 is different. Therefore, the description of the first embodiment is given to the structure of the surface acoustic wave filter element 3 and the other structure of the package 2.
  • the surface acoustic wave filter element 3 is placed in a region surrounded by a broken line X on the upper surface of the base substrate 54 such that the upper surface 4a (see FIG. 2) of the piezoelectric substrate 4 faces the lower surface. They are joined by bumps using the down method.
  • a die attach portion composed of electrode pads 55 to 57 is formed on the upper surface 54 a of the base substrate 54.
  • the electrode pads 55 and 56 are connected to the electrode lands 13 and 17 shown in FIG. 2 by bumps 55a and 56a, respectively.
  • the electrode pads 57 are joined to the electrode lands 14, 15, 16 connected to the ground potential shown in FIG. 2 and the bumps 57 a to 57 d.
  • the external electrodes 61 to 64 are provided on a part of the corner of the base substrate 54 as in the first embodiment, and the external electrodes 61 to 64 are only provided on the upper surface 54a of the base substrate 54. Instead, it is formed so as to reach the lower surface via the side surface.
  • the electrode pads 55, 56 are connected to external electrodes 64, 61 through microstrip lines 65, 66, respectively.
  • the electrode pad 57 is connected to external electrodes 62 and 63 via microstrip lines 67 and 68.
  • the electrode pad 57 of the latch portion of the package 2 The terminals connected to the ground potential of the three parallel arm resonators are connected in common, and the electrode pads K 57 are connected to the different external electrodes 62, 68 through microstrip lines 67, 68, respectively. 6 Connected to 3. Also, the electrode lands 13 and 17 serving as input / output signal terminals on the piezoelectric substrate 4 and the electrode lands 14 to 16 serving as ground terminals are connected to external electrodes 61 and 17 connected to signal lines outside the package. It is positioned so as to rotate 90 degrees around a vertical line passing through the center of the piezoelectric substrate 4 with respect to 64 and the external electrodes 62 and 63 connected to the ground line.
  • the microstrip lines 65, 66, 67, 68 face the ground electrode 50,.
  • Other configurations are the same as in the first embodiment. '
  • FIG. 9 shows the attenuation-frequency characteristics of the surface acoustic wave filter device according to the second embodiment by a solid line.
  • broken line frequency characteristics of the conventional surface acoustic wave filter device prepared as a comparative example of the first embodiment are shown.
  • the inductance component added by the microstrip lines 65 and 66 is 0.8 nH, respectively, and the inductance added by the microstrip lines 67 and 68 is respectively.
  • the components are each about 0.3 nH.
  • microstrip lines 67 and 68 connected to the external electrodes 62 and 63 connected to the external ground line are connected in parallel to the external ground line.
  • a common inductance component of about 0. I n H will be introduced.
  • the inductance component is added in the package 2 by the above-mentioned micro-trip lines 65 to 68, the attenuation in the vicinity of the pass band is increased.
  • the pass band width of the attenuation of 4 dB is 78 MHz in the conventional example, but is 80 MHz in the present embodiment, and the band is widened at the same time.
  • a microstrip line for adding inductance exists between the base substrate 4 and the annular side wall 5. Therefore, there is little electromagnetic coupling with the surface acoustic wave filter element. Therefore, good filter characteristics can be obtained. Also in the present embodiment, as in the first embodiment, there is no restriction on the position and number of bumps because there is no microstrip line in the latch portion. Therefore, the surface acoustic wave filter element 3 can be firmly joined to the base substrate 4.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating a circuit configuration of the surface acoustic wave device according to the third embodiment.
  • the surface acoustic wave filter element 3 is configured in the same manner as the first embodiment, and has two series arm resonators 8 and 9 and three parallel arm resonators. 10 to 12 are connected so as to realize a ladder-type circuit configuration.
  • the side wall and the cap material of the package 2 are configured in the same manner as in the first embodiment.
  • the difference lies in the electrode structure provided on the base substrate 74, as shown in FIG. Therefore, the configuration other than the electrode structure on the base substrate 74 will be omitted by giving the description of the first embodiment.
  • a plurality of electrode pads 75, 76, 77, 78 are formed on the upper surface 74 a of the base substrate 74, and a die attach portion is formed by the plurality of electrode pads 75 to 78. It is configured.
  • the circles inside the electrode pads 75 to 78 indicate the positions of the bumps when the surface acoustic wave filter element 3 is joined by the face-down method.
  • External electrodes 81 to 84 are formed at the corners of the base substrate 74 in the same manner as in the first embodiment.
  • External electrodes 81 and 84 are external electrodes connected to the signal lines, and are connected to the electrode pads 76 and 75 via the microstrip lines 86 and 85. Further, the electrode pads 77 and 788 are connected to external electrodes 82 and 83 connected to the ground line via microstrip lines 87 and 88, respectively.
  • the electrode pad 75 is connected to the electrode land 13 shown in FIG. 2 by a bump 75a
  • the electrode pad 76 is connected to the electrode land 17 shown in FIG. 2 by a bump 76a. Is done.
  • the electrode pad 77 is connected to the electrode land 14 (FIG.
  • the electrode pad 78 is connected to the electrode land 15 and bumps 78a and 78b. It is connected to 16 (see Fig. 2).
  • the ground terminals of at least two parallel arm resonators may be connected to one electrode land. That is, the electrode lands connected to the ground potential, for example, the electrode lands 15 and 16 may be common.
  • the first parallel arm resonator 10 and the second and third parallel arm resonators 11 and 12 are separated from each other at the latch. Then, between the first parallel arm resonator 10 and the external electrode 82 connected to the external ground line, the inductance L 7 by the microstrip line 87 is formed by the second and third parallel arm resonators. An inductance L8 is formed between the microstrip line 88 and the external electrode 83 connected to the ground line.
  • FIG. 12 shows the attenuation-frequency characteristics of the surface acoustic wave filter according to the third embodiment as a solid line.
  • the broken line frequency characteristic of the conventional surface acoustic wave device prepared for comparison in the first embodiment is shown in FIG.
  • the inductance of the microstrip lines 85 and 86 was set to 0.8 nH, and the inductance of the microstrip lines 87 and 88 was set to 0.3 nH.
  • Other configurations are the same as in the first embodiment.
  • the inductance component of the microstrip lines 85 to 88 is formed in the package 2, and therefore, the attenuation near the pass band is smaller than that of the conventional example. It can be seen that it can be greatly expanded.
  • the pass band width of the attenuation of 4 dB is 85 MHz in the present embodiment, while it is 78 MHz in the conventional example. It can be seen that the bandwidth has been increased at the same time.
  • the frequency of the attenuation pole fr near the pass band is increased, and therefore, in the frequency range closer to the pass band.
  • the surface acoustic wave device according to the third embodiment is more effective than the surface acoustic wave device according to the second embodiment.
  • FIG. 13 is a diagram showing a circuit configuration of a surface acoustic wave device according to a fourth embodiment of the present invention. Also in this embodiment, the same surface acoustic wave filter element 3 as in the first embodiment is used, and the first and second series arm resonators 8 and 9 and the first to third parallel arm resonators are used. 10 to 12 are connected so as to have a ladder-type circuit configuration.
  • the package 2 has a base substrate 94 as a first case material. Further, a second case member composed of a side wall 95 and a cap 96 is configured in the same manner as in the first embodiment.
  • the base substrate 94 is composed of a multilayer ceramic substrate including the substrates 94 b, 94 c, and 94 d, and a micro substrate (described later) for adding an inductance to the base substrate 94.
  • Strip line is formed.
  • FIG. 15 is a plan view showing the upper surface of the base substrate 94 and the upper surface of the substrate 94 b.
  • FIG. 16 is a plan view showing the upper surface of the substrate 94 c on which the microstrip line is formed.
  • electrode pads 55 to 57 are formed on the upper surface of the base substrate 94, similarly to the base substrate of the second embodiment shown in FIG. However, in this embodiment, external electrodes and microstrip lines are not formed on the upper surface of the base substrate 94, and these are provided inside the base substrate 94.
  • the electrode pads 5 5-5 7, the substrate 9 4 b and the through hole electrode 9 5 a to 9 5 d reaching the back surface is ⁇ .
  • the lower ends of the through-hole electrodes 95a-95d are shown in Figure 16 As described above, it is connected to one end of microstrip lines 97a to 97d provided on the upper surface of the substrate 94c.
  • the other ends of the microstrip lines 97a to 97d are connected to external electrodes 98a to 98d on the upper surface of the substrate 94c.
  • the external electrodes 98a to 98d are formed so as to extend from a part of the core to the back surface of the base substrate 94 via the side surfaces of the substrates 94c and 94d (see FIG. 14).
  • a ground electrode 50 for the microstrip lines 97a to 97d is formed so as to cover almost the entire back surface of the substrate 94c.
  • microstrip lines 97a to 97d are embedded in a base substrate 94 as a first case material, and the microstrip lines 97a to 97d are used as shown in FIG.
  • the inductances L 9 and L 10 between the portion where the first to third parallel arm resonators are commonly connected and the external electrode connected to the external ground line, and the series arm resonator The inductances L1 and L2 between 8, 9 and the external electrodes connected to the external signal lines are configured.
  • the microstrip line for adding the inductance in the present invention can be configured at any position within the package.
  • the solid line in FIG. 17 shows the attenuation frequency characteristics of the surface acoustic wave device according to the fourth embodiment, and the broken line shows the attenuation of the conventional surface acoustic wave device prepared for comparison with the first embodiment. 4 shows a quantity frequency characteristic.
  • the inductance of the microstrip line added to the series arm resonator is set to 1.0 nH, and the parallel arm resonator and the ground are connected.
  • the inductances L 7 and L 8 connected to the line were 1. OnH.
  • the attenuation in the vicinity of the pass band can be increased by forming a microstrip line for adding an inductance component in the package 2.
  • low lap The attenuation on the wave side is significantly improved. This is because the inductance L8 and L9 connected in parallel are large, and the frequency of the attenuation pole fr is lowered.
  • the length of the micro strip line can be increased, Larger inductance can be obtained.
  • micro-strip lines are formed over multiple layers, and micro-strip lines are electrically connected to each other by through-horn electrodes and via-hole electrodes. The length of the strip line can be increased.
  • the surface acoustic wave filter device As described above, in the surface acoustic wave filter device according to the present invention, at least one of the series arm resonator and the parallel arm resonator constituting the ladder type circuit is connected to the inductance component by the micro trip line.
  • the microstrip line is provided in the package, the attenuation in the vicinity of the passband is expanded, and a broadband filter characteristic can be obtained.
  • the inductance component per unit length of the microstrip line is changed.
  • the inductance component necessary for improving the characteristics of the surface acoustic wave filter can be designed with the inductance component of the microstrip line and inserted into the elastic surface wave filter.
  • the microstrip line is strong against the influence of the outside world, the inductance component of the microstrip line hardly changes even when the surface acoustic wave filter element is attached to the base substrate by the face-down method. Can be introduced into the surface acoustic wave filter as designed.
  • the package is electrically connected to any one of the electrode pads and a latch portion having a plurality of electrode pads connected to any of the signal terminals and the ground terminal of the surface acoustic wave filter element by bumps.
  • the surface acoustic wave filter element is provided on the electrode pads by a plurality of bumps. Connection and mechanical bonding are achieved by the face-down method. Therefore, according to the present invention, it is possible to easily configure a filter device having a large attenuation outside the pass band and a wide band.
  • the microstrip line is connected between the electrode pad connected to the signal terminal of the series arm resonator and the external electrode connected to the signal line outside the surface acoustic wave filter device Since it is connected between the series arm resonator and the signal line, it is possible to reduce the reflection loss and widen the band.
  • the microstrip line is provided between an electrode pad connected to a ground terminal of at least one parallel arm resonator by a bump and an external electrode connected to a ground line outside the package. In such a case, it is possible to obtain an increase in the amount of attenuation near the passband and a wideband filter characteristic.
  • the electrode pad on the package side connected to the ground terminal of all parallel arm resonators is common, and a microstrip line is provided in the path between the common electrode pad and the external electrode.
  • the common wiring on the package side facilitates chip wiring At least provided with three or more parallel arm resonator, an electrode land ground terminal of at least 1 two parallel arm resonators are connected, the path between the external electrode to which the electrode lands are connected A microstrip line is provided, and the parallel arm resonators other than at least two parallel arm resonators are electrically separated from the at least two parallel arm resonators on the piezoelectric substrate. In this case, it is possible to obtain a filter characteristic in which the attenuation in a wider band and near the pass band is expanded.
  • At least three parallel arm resonators, a common electrode pad connected to a ground terminal of at least two parallel arm resonators of the parallel arm pendulum, and the micro strip line is provided. It is provided in the path between the common electrode pad and the external electrode to which the common electrode pad is connected, and other parallel arm resonators are provided in the die attach portion including the plurality of electrode pads.
  • the microstrip line When the microstrip line is arranged in the package other than the latch portion, electromagnetic interference with the surface acoustic wave filter element is prevented, and the filter characteristics are not deteriorated.
  • the package includes a base substrate, an annular side wall provided on the base substrate, and a cap material attached so as to close an upper end of the annular side wall.
  • a cap material attached so as to close an upper end of the annular side wall.
  • a package comprising: a first case member on which the surface acoustic wave filter element is mounted; and a second case member surrounding the arcuate surface wave filter element mounted on the first case member.
  • the signal terminal at the input / output end of the surface acoustic wave filter element and at least one ground terminal are connected to at least one of the external electrodes connected to the signal line at the input / output end of the multiple external electrodes. If the external electrode is arranged so as to pass through the center of the piezoelectric substrate of the surface acoustic wave filter element and rotate 90 degrees around an imaginary line perpendicular to the piezoelectric substrate, the side wall is used. When a microstrip line is formed between the substrate and the base substrate, a large inductance component can be added without forming an excessively bent portion. Industrial applicability
  • the surface acoustic wave filter device of the present invention can be applied to various communication devices and signal processing devices, and particularly to small communication devices such as mobile phones.

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Description

明細書
弾性表面波フィルタ装置 技術分野
本発明は、 弾性表面波フィルタ装置に関し、 特に、 梯子型回路を有 する弾性表面波フィルタ装置に関する。 背景技術
複数の一端子対弾性表面波共振子が梯子状に接続された梯子型回路 を有するパンドパスフィルタが知られている (例えば特開平 5— 1 8
3 3 8 0号公報等)。
このバンドパスフィルタでは、 入力端子と出力端子の間に複数の一 端子対弾性表面波共振子が直列腕共振子として直列に接続されており、 直列腕を構成している。 また、 複数一端子対弾性表面波共振子が並列 腕共振子として直列腕とグランドとの間に並列に接続されており、 並 列腕を構成している。
梯子型回路を有するバンドパスフィルタは、 小さい挿入損失と広い 通過帯域を備えており、 携帯電話機におけるバンドパスフィルタなど に広く用いられている。
特開平 5— 1 8 3 3 8 0号公報には、 上記直列腕共振子または並列 腕共振子にィンダクタンス成分を直列に接続すれば、 フィルタ特性の 広帯域化が図られることが記載されている。
また、 特開平 1 0— 9 3 3 8 2号公報には、 梯子型回路を有する弾 性表面波フィルタ装置において、 並列腕共振子にインダクタンスを付 加した構造が開示されている。 図 1 8は、 この先行技術に記載の弾性 表面波フィルタ装置の構成回路を示している。 弾性表面波フィルタ装 置 5 0 1では、 直列腕共振子 S 1 , S 2と並列腕共振子 P 1〜P 3と が梯子型回路を構成をするように接続されている。 ここでは、 並列腕 共振子 P 1〜P 3とアース電位との間に、 ィンダクタンス Lが挿入さ れており、 これにより、 広通過帯域化及び通過帯域近傍における減衰 量の拡大が図られている。
他方、 特開平 4— 6 5 9 0 9号公報には、 弾性表面波フィルタ素子 をフェイスダウン工法によりパッケージに接続した構造が開示されて いる。 従来、 弾性表面波フィルタ素子を収納したパッケージでは、 パ ッケージの電極と弾性表面波フィルタ素子の電極とがボンディングヮ ィャにより接続されていた。 これに対して、 この先行技術に記載の弾 性表面波フィルタ装置では、'フヱイスダウン工法を採用することによ り小型化が図られている。 図 1 9は、. このフェイスダウン工法を用い て収納された弾性表面波フィルタ素子のパッケージの断面を模式的に 示している。
弾性表面波フィルタ装置 6 0 1では、 パッケージ 6 0 2内に弾性表 面波フィルタ素子 6 0 3が収納されている。 パッケージ 6 0 2は、 ベ ース基板 6 0 2 a , 側壁 6 0 2 b及ぴキヤップ 6 0 2 cを有している c ベース基板 6 0 2 a上には、 弾性表面波フィルタ素子 6 0 3に電気 的に接続される複数の電極パッ ドを有するダイァタツチ部 6 0 2 dが 形成されている。 弾性表面波フィルタ素子 6 0 3は、 圧電基板 6 0 3 aを有し、 圧電基板 6 0 3 aの下面に弾性表面波フィルタ素子を構成 するための電極等が形成されている。 そして、 圧電基板 6 0 3 aの下 面に形成されている電極がバンプ 6 0 4により、 ダイアタッチ部 6 0 2 d中の電極パッ ドに電気的に接続されると共に、 該バンプ 6 0 4に' より、 弾性表面波フィルタ素子 6 0 3がダイァタツチ部 6 0 2 dに機 械的に固定されている。
このようなフ イスダウン工法、 すなわち、 圧電基板の弾性表面波 フィルタ素子を構成する電極等が形成されている面をバンプ 6 0 4に よりパッケージに接合する方法では、 ボンディングワイヤを必要とし ないので、 小型の弾性表面波装置を作ることができる。
ところで、 特開平 5— 1 8 3 3 8 0号公報ゃ特開平 1 0— 9 3 3 8 2号公報に記載のように、 梯子型回路を有する弾性表面波フィルタ装 置において、 直列腕共振子または並列腕共振子にィンダクタンスを付 加した場合、 フィルタ特性が向上する。 また、 ボンディングワイヤに より弾性表面波フィルタ素子とパッケージの電極とを接続する場合に は、 該ボンディングワイヤを利用して上記ィンダクタンスを付加する ことができる。
しかしながら、 前述したフェイスダウン工法によりパッケージ化さ れている弾性表面波フィルタ装置 6 0 1では、 ボンディングワイヤを 有しないので、 ボンディングワイヤによりィンダクタンス成分を弾性 表面波フィルタ装置 6 0 1に付加することはできない。 パッケージに 設けられた外部電極と、 ダイアタッチ部とを接続している引回し電極 によりわずかなィンダクタンス成分を得ることが可能ではあるが、 こ のような引回し電極では大きなインダクタンスを得ることができない c 従って、 特開平 4 - 6 5 9 0 9号公報に記載の弾性表面波フィルタ 装置では、 インダクタンスの付加により、 広帯域化及び通過帯域近傍 における減衰量の増大を図ることが困難であった。 '
なお、 特開平 4 _ 6 5 9 0 9号公報には、 パッケージ内の入出力信 号端子とアース端子との間にィンダクタンス成分を付加すれば、 外部 素子を用いることなく入出力のィンピーダンス整合を図ることができ ると記載されている。 この記載は、 弾性表面波フィルタ外で入出力ィ ンピーダンスのマッチングを図らなければならない構造の弾性表面波 フィルタに関するものである。 従って、 本質的に 5 0 Ωに整合せずと もよい梯子型回路を有する弾性表面波フィルタでは、 このよ うなパッ ケージ内の入出力信号端子と、 アース端子との間でインピーダンス整 合を図る必要はない。
また、 特開平 4一 6 5 9 0 9号公報では、 ダイアタッチ部において インダクタンス成分が構成されているが、 この構造では、 弾性表面波 フィルタ素子の圧電基板上の配線等とダイァタツチ部との電磁界的な 結合が生じ、 フィルタ特性が低下する。 また、 ダイアタッチ部におい てィンダクタンス成分を形成するためには、 弾性表面波フィルタ素子 とパッケージとを電気的に接続し機械的に固定するためのバンプの位 置や個数を調整する必要がある。 しかし、 インダクタンス成分を形成 するためのバンプの位置や個数が、 必ずしも電気的接続及び機械的固 定も十分に果たし得るとは限らないため、 弾性表面波フィルタ装置の 信頼性を低下させることになる。 発明の開示
本発明の目的は、 上述した従来技術の欠点を解消し、 梯子型回路を 有する弾性表面波フィルタ素子がフヱイスダウン工法でパッケージに 収納されている弾性表面波フィルタ装置において、 並列腕共振子及び /または直列腕共振子にィンダクタンスが付加されており、 かつ弾性 表面波フィルタ素子上の電極とパッケージに設けられたィンダクタン スとの電磁界的な結合によるフィルタ特性の悪化が生じ難く、 バンプ の位置や個数の制限が少ない、 良好なフィルタ特性を有する弾性表面 波フィルタ装置を提供することにある。
本発明の広い局面によれば、 圧電性基板、 及び前記圧電性基板上に 形成された複数の一端子対弾性表面波素子を有し、 前記一端子対弾性 表面波素子が梯子型回路の並列腕共振子及び直列腕共振子を構成する ように接続されている弾性表面波フィルタ素子と、 前記弾性表面波フ ィルタ素子を収納しているパッケージとを備え、 前記弾性表面波フィ ルタ素子が複数のバンプにより接続されるフェイスダウン工法で前記 パッケージに収納されており、 前記パッケージの内に設けられており、 前記直列腕共振子及び並列腕共振子の少なく とも一方に接続されてい るマイク ロス トリップラインのィンダクタンス成分をさらに備えるこ とを特徴とする、 弾性表面波フィルタ装置が提供される。
本発明のある特定の局面では、 前記パッケージが、 弾性表面波フィ ルタ素子のいずれかの信号端子及びアース端子にバンプにより接続さ れる複数の電極パッドを有するダイアタッチ部と、 いずれかの電極パ ッ ドと電気的に接続されており、 かつ弾性表面波フィルタ装置外の信 号ラインまたはアースラインに接続される複数の外部電極とを備える c 本発明のより限定的な局面では、 前記マイクロス トリ ップラインが. 前記直列腕共振子の信号端子に接続されている前記電極パッ ドと、 前 記弾性表面波装置外の信号ラインに接続される前記外部電極との間に 接続されている。
本発明の他の限定的な局面では、 前記マイクロストリ ップラインが. 少なく とも 1つの前記並列腕共振子のアース端子にバンプにより接続 されている前記電極パッ ドと、 アースラインに接続される前記外部電 極との間に設けられている。
本発明の他の特定の局面では、 少なくとも 2個の前霄己並列腕共振子 を備え、 全ての並列腕共振子のアース端子が前記圧電性基板上で共通 接続されており、 前記並列腕共振子のアース端子が共通接続されてい る部分と、 前記パッケージの外部電極との間に、 前記マイクロストリ ップラインが接続されている。
本発明のさらに別の特定の局面では、 少なくとも 2個の前記並列腕 共振子を備え、 全ての並列腕共振子のアース端子に接続されるパッケ ージ側の前記電極パッ ドが共通とされており、 前記共通とされている 電極パッ ドと、 前記外部電極との間の経路に前記マイクロス トリップ ラインが設けられている。
本発明のさらに他の限定的な局面によれば、 少なく とも 3個以上の 前記並列腕共振子を備え、 前記圧電性基板上に形成されており、 少な く とも 2個の並列腕共振子のアース端子が接続される電極ランドをさ らに備え、 前記電極ランドと、 前記電極ランドが接続される外部電極 との間の経路に前記マイク ロス トリップラインが設けられており、 前 記少なく とも 2個の並列腕共振子以外の並列腕共振子が、 圧電性基板 上において、 前記少なく とも 2個の並列腕共振子と電気的に分離され ており、 前記少なく とも 2個の並列腕共振子に接続されているパッケ ージ側の外部電極以外の外部電極に電気的に接続されている。
本発明の他の特定の局面では、 少なく とも 3個'の前記並列腕共振子 を備え、 前記複数の電極パッ ドが、 前記並列腕共振子のうち少なく と も 2個の並列腕共振子のアース端子に接続される共通電極パッ ドを有 し、 前記マイクロス トリ ップラインが共通電極パッ ドと、 該共通電極 パッ ドが接続される'前記外部電極と間の経路に設けられており、 前記 少なく とも 2個の並列腕共振子以外の並列腕共振子が、 前記複数の電 極パッ ドを含むダイアタッチ部において、 前記少なく とも 2個の並列 腕共振子と電気的に分離されており、 前記少なく とも 2個の並列腕共 振子に接続されているパッケ一ジ側の外部電極以外の外部電極に電気 的に接続されている。
本発明のさらに他の限定的な局面では、 前記マイクロストリ ップラ インが、 パッケージ内において、 ダイアタッチ部以外に配置されてい る。
本発明の他の特定の局面では、 前記パッケージが、 前記弾性表面波 フィルタ素子が搭載されるベース基板と、 該ベース基板内に設けられ た環状の側壁と、 環状の側壁の上端を,閉成するように取り付けられた キャップ材とを備え、 前記マイクロストリップラインの主要部が、 前 記側壁と前記ベース基板との間に配置されている。
本発明に係る弾性表面波フィルタ装置のさらに別の特定の局面では- 前記パッケージが、 前記弾性表面波フィルタ素子が搭載される第 1の ケース材と、 第 1のケース材に搭載されている弾性表面波フィルタ素 子を囲繞する第 2のケース材とを備え、 前記第 1のケース材の内部に マイクロストリップラインの主要部が設けられている。
なお、 本明細書において 「マイクロス ト リ ップラインの主要部」 と は、 マイクロストリップラインの全長の 5 0パーセント以上をいうも のとする。
本発明に係る弾性表面波フィルタ装置の他の特定の局面では、 前記 弾性表面波フィルタ素子の入出力端の信号端子と少なく とも 1つのァ ース端子とが、 前記複数の外部電極のうち入出力端の信号ラインに接 続される外部電極と少なく とも 1つのアース電位に接続される外部電 極に対し、 前記弾性表面波フィルタ素子の圧電性基板の中心を通り、 圧電性基板に直交する仮想線の周りに 9 0度回転させたような位置関 係とされている。
本発明に係る通信機は、 本発明に係る弾性表面波フィルタ装置を有 することを特徴とする。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の第 1の実施例に係る弾性表面波フィルタ装置の模 式的断面である。
図 2は、 本発明の第 1の実施例に係る弾性表面波フィルタ装置に用 いられる弾性表面波フィルタ素子の電極構造を示す平面図である。 図 3は、 本発明の第 1の実施例に係る弾性表面波フィルタ装置のパ ッケージのベース基板上面の複数の電極パッ ドを含むダイァタツチ部 を示す平面図である。
図 4は、 第 1の実施例の弾性表面波フィルタ装置を示す回路図であ る。
図 5は、 比較のために用意した従来の弾性表面波装置のパッケージ のベース基板の上面の電極パターンを示す平面図である。
図 6は、 第 1の実施例及び従来例の弾性表面波装置の減衰量一周波 数特性を示すグラフである。
図 7は、 本発明の第 2の実施例に係る弾性表面波フィルタ装置を示 す回路図である。 ,
図 8は、 第 2の実施例の弾性表面波フィルタ装置で用いられるパッ ケージのベース基板の上面の電極構造を示す平面図である。
図 9は、 第 2の実施例及び従来例の弾性表面波フィルタ装置の減衰 量一周波数特性を示すグラフである。
図 1 0は、 本発明の第 3の実施例に係る弾性表面波フィルタ装置を 示す回路図である。
図 1 1は、 第 3の実施例の弾性表面波フィルタ装置のパッケージの ベース基板の上面の電極構造を示す平面図である。
図 1 2は、 第 3の実施例及ぴ従来例の弾性表面波フィルタ装置の減 衰量ー周波数特性を示すグラフである。
図 1 3は、 本発明の第 4の実施例の弾性表面波フィルタ装置を示す 回路図である。
図 1 4は、 第 4の実施例の弾性表面波フィルタ装置の模式的断面図 である。 ,
図 1 5は、 第 4の実施例の弾性表面波フィルタ装置におけるパッケ ージのベース基板上面の電極構造を示す平面図である。
図 1 6は、 第 4の実施例の弾性表面波フィルタ装置に用いられるパ ッケージのベース基板内の電極構造を示す平面図である。
図 1 7は、 第 4の実施例及び従来の弾性表面波フィルタ装置の減衰 量一周波数特性を示すグラフである。
図 1 8は、 従来の梯子型回路を有する弾性表面波フィルタ装置の一 例を示す回路図である。
図 1 9は、 従来の他の弾性表面波フィルタ装置を示す断面図である c 発明を実施するための最良の形態
以下、 図面を参照しつつ、 本発明に係る弾性表面波フィルタ装置の 詳細を説明する。
図 1に示すように、 本実施例の弾性表面波装置 1は、 パッケージ 2 およびパッケージ 2内に収納された弾性表面波フィルタ素子 3を含む ( なお、 図 1では、 弾性表面波フィルタ素子 3は模式的にその外形のみ が示されている。
パッケージ 2は、 矩形板状のベース基板 4と、 ベース基板 4上に接 合された矩形枠状の側壁 5と、 側壁 5の上方開ロを閉成するように取 り付けられた矩形板状のキャップ材 6とを有する。 側壁 5は、 矩形板 状以外の円環状等の他の環状構造を有するものであってもよい。
ベース基板 4及び側壁 5は、 例えばアルミナなどの絶縁性セラミ ツ タスあるいは合成樹脂により構成することができる。 キャップ材 6に ついても同様の材料で構成することができ、 あるいはキャップ材 6は 電磁シールド性を付与するために金属等により構成されていてもよい c ベース基板 4は、 基板 4 b及ぴ 4 cを含む多層基板により構成され ており、 基板 4 a及ぴ 4 bの間には、 後述するマイクロストリップラ ィンのためのグランド電極 5 0が、 基板 4 bの下面のほぼ全面に形成 されている。 基板 4 b及び 4 cは絶縁性の材料からなり、 所定の誘電 率を有している。
図 2に示すように、 弾性表面波フィルタ素子 3は、 圧電性基板とし ての矩形板状の圧電基板 7を有する。 圧電基板 7は、 本実施例では 3 6 ° Y c u t X伝搬 L i T a 0 3 基板により構成されている。 圧電基 板 7は、 他の圧電単結晶、 あるいはチタンジルコン酸鉛系セラミック スのような圧電セラミックスにより構成されていてもよい。 また、 圧 電基板や絶縁基板上に Z n O等からなる圧電薄膜を形成してなる圧電 性基板を用いてもよい。
圧電基板 7の上面 7 aには、 金属膜を全面に形成した後、 フォ トリ ソグラフィ一およびェツチングにより、 図示の電極パターンが形成さ れている。 この電極パターンを形成する金属材料についても特に限定 されないが、 本実施例では A 1により構成されている。 なお、 電極形 成はフォ トリ ソグラフィーおよぴリフトオフ法で行ってもよい。
図 2を参照して上記電極構造を説明する。
圧電基板 7の上面 7 a上には、 梯子型回路を実現するために、 それ ぞれがー端子対弾性表面波素子からなる直列腕共振子 8, 9及び並列 腕共振子 1 0〜 1 2が形成されている。 直列腕共振子 8 , 9及び並列 腕共振子 1 0〜: 1 2は、 いずれも、 1つの I D Tと、 I D Tの表面波 伝搬方向両側に配置された一対の反射器とを有する。 直列腕共振子 8 を代表して説明すると、 直列腕共振子 8は、 I D T 8 a と、 反射器 8 b , 8 c とを有する。
また、 圧電基板 7の上面 Ί a上には、 電極ランド 1 3〜 1 7が形成 されている。 電極ランド 1 3〜 1 7は、 弾性表面波フィルタ素子 3を 外部と電気的に接続するための部分であり、 ある程度の面積を有する 金属膜により構成されている。 なお、 電極ランド 1 3〜 1 7上に描か れている円形の部分は、 バンプにより接合される部分を意味する。 電極ランド 1 3は、 弾性表面波フィルタ素子 3の入力端として用い られ、 該電極ランド 1 3が導電路 1 8により第 1の直列腕共振子 8の 一端に接続されている。 導電路 1 8は、 電極ランド 1 3と、 直列腕共 振子 8の一端と、 第 1の並列腕共振子 1 0の一端とを電気的に接続し ている。 並列腕共振子 1 0の導電路 1 8が接続されている側とは反対 側の端部は、 導電路 1 9を介して電極ランド 1 4に接続されている。 電極ランド 1 4は、 アース電位に接続される電極ランドである。
また、 直列腕共振子 8の導電路 1 8が接続されている側とば反対側 の端部は、 導電路 2 0に接続されている。 導電路 2 0は、 第 2の直列 腕共振子 9の一端及び第 2の並列腕共振子 1 1の一端にも接続されて いる。 第 2の並列腕共振子 1 1の導電路 2 0が接続されている側とは 反対側の端部は、 電極ランド 1 5に接続されている。 電極ランド 1 5 はアース電位に接続される電極ランドである。
第 2の直列腕共振子 9の他端には、 導電路 2 1が接続されており、 導電路 2 1は、 電極ランド 1 7及び第 3の並列腕共振子 1 2の一端に 接続されている。 電極ランド 1 7は、 出力端子として用いられる。 ま た、 並列腕共振子 1 2の導電路 2 1に接続されている側とは反対側の 端部は、 導電路 2 2を介して電極ランド 1 6に接続されている。 電極 ランド 1 6はアース電位に接続される電極ランドである。
従って、 弾性表面波フィルタ素子 3において、 上記第 1 , 第 2の直 列腕共振子 8 , 9及ぴ第 1〜第 3の並列腕共振子 1 0〜 1 2は、 図 4 に示す梯子型回路を構成するように接続されている。 図 4におけるィ ンダクタンス L 1〜 L 5については後述する。
図 3は、 図 1に示したパッケージ 2におけるベース基板 4の上面に 形成されている電極構造を示す。 ベース基板 4の上面 4 a上において、 破線 Xで示す部分に弾性表面 波フィルタ素子 3が搭載される。 この部分において、 前述した弾性表 面波フィルタ素子 3が圧電基板 7の上面 7 aが下方を向くようにして バンプにより接合される。 すなわち、 図 2に示した弾性表面波フィル タ素子 3が圧電基板 7の上面 7 aが下面を向くようにして、 図 3に示 すベース基板 4の上面 4 a上に重ねられ、 両者の間がバンプにより接 合され、 弾性表面波フィルタ素子 3が固定される。
ベース基板 4の上面 4 a上には、 電極ペーストを印刷 ·焼成して、 図示の電極が形成されている。 すなわち、 この複数の電極パッ ド 2 3 〜 2 7がダイアタッチ部を構成している。 電極パッ ド 2 3 〜 2 7が互 いに分離して形成されている。 このうち、 電極パッ ド 2 3は、 バンプ 2 8により、 図 2に示した電極ランド 1 3に電気的に接続されるとと もに、 機械的に接合される。 同様に、 電極パッド 2 4 〜 2 6は、 それ ぞれ、 図 2に示した電極ランド 1 4 〜 : L 6に、 ノ ンプ 2 9 , 3 0 , 3 1により接続される。 さらに電極パッ ド 2 7は、 ノ ンプ 3 2を介して. 図 2に示した電極ランド 1 7に電気的に接続される。
上記電極パッ ド 2 3 〜 2 7のうち、 電極パッド 2 3 , 2 7が、 外部 の信号ラインに接続される電極パッドであり、 電極パッド 2 4 〜 2 6 は外部のアースラインに接続される電極パッ ドである。
また、 ベース基板 4の上面には、 外部電極 4 1 〜 4 4が形成されて いる。 外部電極 4 1 〜 4 4は、 ベース基板 4の上面 4 aだけでなく、 図 1では図示されていない部分において、 ベース基板 4の側面及び下 面に至るように形成されている。 すなわち、 外部電極 4 1 〜 4 4は、 図 1に示した弾性表面波装置 1を外部と電気的に接続するための電極 として機能する。
外部電極 4 4は、 マイクロストリ ップライン 4 5を介して電極パッ ド 2 3に接続されている。 同様に、 外部電極 4 1は、 マイクロストリ ップライン 4 6を介して電極パッ ド 2 7に接続されている。 また、 外 部電極 4 2は、 マイクロス トリ ップライン 4 7を介して電極パッ ド 2 4に接続されており、 外部電極 4 3はマイクロストリ ップライン 4 8 : 4 9を介して、 電極パッド 2 5 , 2 6の双方に電気的に接続されてい る。
従って、 外部電極 4 2 , 4 3は、 外部のアースラインに接続される 外部電極であり、 外部電極 4 1 , 4 4が信号ラインに接続される外部 電極である。
上記マイクロストリ ップライン 4 5〜 4 9は、 図 3において破線で 示すように、 基板 4 bを介してグランド電極 5 0と対向しており、 細 い帯状の導電性パターンがマイクロストリ ップラインとして機能する c 図 3では、 グランド電極 5 0は基板 4 bのほぼ全面にわたって形成さ れているが、 マイクロストリ ップライン 4 5〜4 9に対向する部分に おいてグランド電極 5 0が形成されておればよい。 マイクロス トリ ツ プライン 4 5〜4 9はベース基板 4と側壁との間に存在している。 本実施例では、 上記マイクロストリップライン 4 5〜 4 9によりィ ンダクタンス分が得られる。 すなわち、 マイクロス トリ ップライン 4 5により、 図 4に示すィンダクタンス L 1が、 マイクロストリ ップラ イン 4 6 にインダクタンス L 2がマイクロス ト リ ップライン 4 7〜 4 9により、 インダクタンス L 3〜L 5が構成されている。
言い換えれば、 梯子型回路を有する各並列腕共振子とアースライン に接続される外部電極との間に、 インダクタンス成分として働くマイ クロストリ ップライン 4 7〜4 9が接続されている。 同様に、 直列腕 共振子と、 外部の信号ラインに接続される外部電極 4 1, 4 4との間 にも、 それぞれ、 マイクロス トリ ップラインのインダクタンス成分 4 6 , 4 5が接続されている。
本実施例では、 2個の直列腕共振子 8 , 9及び 3個の並列腕共振子 1 0〜 1 2からなる梯子型のフィルタ回路が実現されている弾性表面 波装置において、 並列腕共振子 1 0〜 1 2に、 それぞれ、 独立に、 上 記マイクロス トリ ップライン 4 7〜 4 9によりィンダクタンス成分が 付加されている。 従って、 広帯域化を図ることができるとともに、 通 過帯域近傍の減衰量を大きくすることができる。 これをより具体的な 実験例に基づき説明する。
図 6の実線は、 本実施例の弾性表面波装置の減衰量一周波数特性を 示し、 破線は比較のために用意した従来の弾性表面波装置の減衰量一 周波数特性を示す。
なお、 図 6において破線で示した従来例の弾性表面波装置は、 パッ ケージのベース基板の上面の電極構造を図 5に示したように形成した ことを除いては、 上記実施例と同様とした。 すなわち、 図 5に示すベ 一ス基板 1 04の上面 1 0 4 a上には、 電極パッド 1 0 5〜 1 0 7が 形成されている。 また、 四隅には、 外部電極 1 1 1〜 1 1 4が形成さ れている。 外部電極 1 1 1〜 1 1 4は、 ベース基板 1 0 4の上面から 側面を経て、 下面にも至るように形成されており、 外部と電気的に接 続する部分に相当する。 外部電極 1 1 2, 1 1 3は、 幅の太い導電路 1 0 8, 1 0 9により電極パッド 1 0 5, 1 0 6にそれぞれ電気的に 接続されている。
ベース基板 1 0 4の導電路 1 0 8, 1 0 9に対向する位置には、 グ ランド電極が形成されていないので、 導電路 1 0 8 , 1 0 9はマイク ロストリップラインとしては機能しない。 また、 面積の大きな電極パ ッ ド 1 0 7が、 外部電極 1 1 1 , 1 1 4に直接接続される。 電極パッ ド 1 0 7は、 弾性表面波フィルタ素子 3のアースラインに接続される 電極ランド 1 4〜 1 6にバンプにより接合され、 電極パッド 1 0 5, 1 0 6は、 それぞれ、:信号端子に接続される電極ランド 1 3 , 1 7に 接続される部分である。
従って、 比較のために用意した従来の弾性表面波装置では、 並列腕 共振子 1 0〜 1 2とアースラインに接続される外部電極 1 1 1, 1 1 4との間に、 マイクロス トリップラインが独立に形成されておらず、 マイクロストリップラインによるインダクタンス分は挿入されていな い。
同様に、 直列腕共振子 8 , 9と外部電極 1 1 2 , 1 1 3との間にも、 パッケージ側において、 マイクロス トリ ップラインは接続されておら ず、 従ってマイクロス トリ ップラインによるインダクタンス成分は挿 入されていない。
なお、 上記実施例及び従来例において用いた弾性表面波フィルタ素 子 3の仕様は以下の通りである。
直列腕共振子 8 , 9…電極指交差幅 = 1 7 m、 I D Tにおける電 極指の対数 = 1 0 0、 反射器の電極指の本数 = 1 0 0、 電極指ピッチ 0. 9 9 m (弾性表面波の波長 λ = 1 . 9 9 μ m)0
第 1, 第 3の並列腕共振子 1 0, 1 2…電極指交差幅 = 5 0 μ m、 I D Tの電極指の対数 = 4 0対、 反射器の電極指の本数 = 1 0 0、 電 極指ピッ,チ 1 . 0 4 μ m (弾性表面波の波長; L = 2. 0 7 μ m) 0 第 2の並列腕共振子 1 1…電極指交差幅 == 5 2 μ m、 I D Tの電極 指の対数 = 9 0対、 反射器の電極指の本数 = 1 0 0本、 電極指ピッチ = 1 . 0 4 μ πι (弾性表面波の波長; L = 2. 0 8 μ πι)。 ■
また、 実施例において、 ベース基板 4上に形成されているマイクロ ストリップライン 4 5〜 4 9によるィンダクタンス成分は以下の通り である。
マイクロス ト リ ップライン 4 5 , 4 6 ■·· 0 . 8 η Η
マイクロス ト リ ップライン 4 7, 4 9 ··· 0 . 8 η Η
マイクロス ト リ ップライン 4 8— 0. 5 η Η
図 6から明らかなように、 減衰量が 4 d Βである'通過帯域の幅は、 従来例では 7 8 MH zであるのに対し、 本実施例では 8 6 MH z と広 げられていることがわかる。 また、 通過帯域近傍における減衰極は従 来例と実施例とではほぼ同じ周波数に位置するが、 これは、 ダイァタ ツチ部のアース電位に接続される電極パッ ドがそれぞれ分離されてい るので、 共通インダクタンス成分が存在しないためと考えられる。 す なわち、 第 1〜第 3の並列腕共振子 1 0〜 1 2に独立にィンダクタン ス成分が、 上記マイクロス ト リ ップライン 4 7〜 4 9により付加され ていることによる。 さらに、 上記ィンダクタンス成分を付加するためのマイクロス ト リ ップライン 4 5〜 4 9力 S、 ベース基板と側壁との間に存在しているの で、 マイク ロス トリ ップライン 4 5〜 4 9 と弾性表面波フィルタ素子 3 との電磁界的な結合があまり生じず、 従って良好なフィルタ特性の られることがわかる。 さらに、 上記マイクロス トリ ップライン 4 5 〜 4 9は、 ダイアタッチ部には存在していないので、 バンプの位置や 個数に制限を与えることがない。 従って、 弹性表面波フィルタ素子 3 をベース基板 4に十分な接合強度で接合することができる。
また、 マイク ロス トリ ップラインを形成する基板 4 bの誘電率、 マ イクロス トリ ップラインとグランド電極 5 0 との間隔などを変化させ ることにより、 マイクロス トリ ップラインの単位長あたりのインダク タンス成分を設計ることができる。 従って、 弾性表面波フィルタの特 性を改善するために必要なィンダクタンス成分を、 マイクロス ト リ ツ プラインのインダクタンス成分で設計して弾性表面波フィルタに揷入 することができる。 さらに、 マイクロス トリ ップラインは外界の影響 に強いため、 マイクロス トリ ップラインのイ ンダクタンス成分が、 弾 性 ¾面波フィルタ素子をフェースダウン工法によってベース基板に取 り付けられても変化することがほとんどないので、 所望のィンダクタ ンス成分を設計どおり弾性表面波フィルタに揷入することができる。
(第 2の実施例)
図 7は、 本発明の第 2の実施例に係る弾性表面波フィルタ装を示す 回路図である。
本実施例においても、 第 1の実施例と同様の弾性表面波フィルタ素 子 3が用いられている。 図 7に示すように、 2個の直列腕共振子 8 , 9と、 3個の並列腕共振子 1 0〜 1 2とが梯子型回路構成を有するよ うに接続されている。
もっとも、 図 7から明らかなように、 本実施例では、 3個の並列腕 共振子 1 0〜 1 2のアース電位に接続される端部が共通接続されてお り、 共通接続されている部分と外部のアースラインに接続される外部 電極との間に、 インダクタンス L 6, L 7が接続されている。 なお、 3個の並列腕共振子 1 0〜1 2のアース電位に接続される端部、 すな わちアース端子は、 圧電性基板上で共通接続されていてもよい。
上記ィンダクタンス L 6, L 7は、 パッケージ内で形成されたマイ クロス トリ ップラインにより構成されている。
図 8は、 第 2の実施例で用いられるパッケージのベース基板 5 4の 上面の電極構造を示す平面図である。
第 2の実施例は、 ベース基板 5 4の上面の電極構造が異なることを 除いては、 第 1 の実施例と同様に構成されている。 従って、 弾性表面 波フィルタ素子 3の構造及びパッケージ 2の他の構造については第 1 の実施例の説明を授用することとする。
本実施例においても、 ベース基板 5 4の上面の破線 Xで囲まれてい る領域に、 弾性表面波フィルタ素子 3が圧電基板 4の上面 4 a (図 2 参照) が下面を向くようにしてフェイスダウン工法でバンプにより接 合される。
ベース基板 5 4の上面 5 4 a上には、 電極パッ ド 5 5〜 5 7からな るダイアタッチ部が構成されている。 電極パッド 5 5, 5 6は、 それ ぞれ、 図 2に示した電極ランド 1 3, 1 7にバンプ 5 5 a , 5 6 aに よりそれぞれ接合されている。 また、 電極パッド 5 7は、 図 2に示し たアース電位に接続される電極ランド 1 4 , 1 5, 1 6とバンプ 5 7 a〜5 7 dにより接合される。
外部電極 6 1 ~ 6 4が第 1 の実施例と同様にベース基板 5 4のコー ナ一部分に設けられており、 外部電極 6 1〜 6 4は、 ベース基板 5 4 の上面 5 4 a上だけでなく、 側面を経て下面にも至るように形成され ている。 上記電極パッ ド 5 5, 5 6が、 それぞれ、 マイクロス トリ ツ プライン 6 5 , 6 6を介して外部電極 6 4 , 6 1に接続されている。 また、 電極パッ ド 5 7は、 マイクロス トリ ップライン 6 7 , 6 8を介 して外部電極 6 2 , 6 3に接続されている。
すなわち、 パッケージ 2のダイァタツチ部の電極パッ ド 5 7により 3個の並列腕共振子のアース電位に接続される端子が共通接続されて おり、 かつ電極パッ K 5 7が、 それぞれ、 マイクロス トリップライン 6 7, 6 8を介して異なる外部電極 6 2, 6 3に接続されている。 また、 圧電基板 4上の入出力信号端子となる電極ランド 1 3, 1 7 とアース端子となる電極ランド 1 4〜 1 6 とは、 パッケージの外部の 信号ラインに接続される外部電極 6 1, 6 4及びアースラインに接続 される外部電極 6 2, 6 3に対して、 圧電基板 4の中央を通る垂線の 周りに 9 0度回転するように位置されている。
第 1 の実施例と同様、 マイクロス ト リ ップライン 6 5 , 6 6, 6 7 , 6 8はグランド電極 5 0と対向している,。 その他の構成については、 第 1の実施例と同様である。'
第 2の実施例の弾性表面波フィルタ装置の減衰量周波数特性を図 9 に実線で示す。 比較のために、 第 1の実施例の比較例として用意した 従来例の弾性表面波フィルタ装置の減衰量周波数特性を破線で示す。 なお、 実施例において、 上記マイクロス トリ ップライン 6 5, 6 6 により付加されるインダクタンス成分は、 それぞれ、 0 . 8 n Hであ り、 マイクロス トリップライン 6 7, 6 8により付加されるインダク タンス成分は、 それぞれ、 0 . 3 n H程度である。
なお、 外部のアースラインに接続される外部電極 6 2 , 6 3に接続 されるマイクロス トリ ップライン 6 7 , 6 8は、 外部のアースライン に対して並列に接続されるため、 実際には、 0 . I n H程度の共通ィ ンダクタンス成分が揷入されることになる。
図 9から明らかなように、 本実施例では、 パッケージ 2内に上記マ ィクロス トリ ップライン 6 5〜 6 8によりィンダクタンス成分が付加 されているので、 通過帯域近傍の減衰量が高められる。 また、 4 d B の減衰量の通過帯域幅は、 従来例では 7 8 M H zに対し、 本実施例で は、 8 0 M H zであり、 広帯域化も同時に図られている。
また、 本実施例においても、 ィンダクタンスを付加するためのマイ クロストリ ップラインが、 ベース基板 4と環状の側壁 5との間に存在 しているので、 弾性表面波フィルタ素子との電磁界的な結合が少なく . 従って良好なフィルタ特性を得ることができる。 また、 第 1の実施例 と同様に本実施例においても、 ダイァタツチ部にマイクロス トリ ップ ラインが存在しないので、 バンプの位置や個数の制限がない。 従って. 弾性表面波フィルタ素子 3をベース基板 4に強固に接合することがで きる。
(第 3の実施例)
図 1 0は、 第 3の実施例に係る弾性表面波装置の回路構成を示す図 である。 第 3の実施例においても、 弾性表面波フィルタ素子 3は、 第 1の実施例と同様に構成されてお.り、 2個の直列腕共振子 8, 9と、 3個の並列腕共振子 1 0〜 1 2とが梯子型回路構成を実現するように 接続されている。
本実施例においても、 パッケージ 2の側壁及ぴキヤップ材は第 1の 実施例と同様に構成されている。 異なるところは、 図 1 1に示すよう に、 ベース基板 7 4上に設けられた電極構造にある。 従って、 ベース 基板 7 4上の電極構造以外の構成については、 第 1の実施例の説明を 授用することにより省略する。
ベース基板 7 4の上面 7 4 a上には、 複数の電極パッ ド 7 5 , 7 6 , 7 7 , 7 8が形成されており、 該複数の電極パッド 7 5〜 7 8により ダイアタッチ部が構成されている。 電極パッ ド 7 5〜 7 8の内部に円 で示されている部分は、 それぞれ、 弾性表面波フィルタ素子 3をフヱ イスダウン工法で接合する際のバンプの位置を示す。
ベース基板 7 4のコーナー部分には、 第 1 の実施例と同様にして、 外部電極 8 1〜 8 4が形成されている。 外部電極が 8 1, 8 4は、 信 号ラインに接続される外部電極であり、 電極パッ ド 7 6, 7 5に対し てマイクロストリップライン 8 6 , ' 8 5を介して接続されている。 ま た、 電極パッ ド 7 7 , 7 8は、 アースラインに接続される外部電極 8 2, 8 3にマイクロストリ ップライン 8 7, 8 8を介して接続されて いる。 また、 電極パッ ド 7 5は、 バンプ 7 5 aにより図 2に示した電極ラ ンド 1 3に接続され、 電極パッ ド 7 6はバンプ 7 6 aにより図 2に示 した電極ランド 1 7に接続される。 電極パッ ド 7 7は、 バンプ 7 7 a , 7 7 bにより電極ランド 1 4 (図 2 ) に接続され、 電極パッ ド 7 8は、 ノ ンプ 7 8 a , 7 8 bにより電極ランド 1 5, 1 6 (図 2参照 ) に接続されている。 なお、 少なく とも 2個の並列腕共振子のアース 端子が 1つの電極ランドに接続されていてもよい。 すなわち、 アース 電位に接続される電極ランド、 例えば電極ランド 1 5, 1 6が共通と されていてもよい。
従って、 図 1 0に示すように、 第 1 の並列腕共振子 1 0と第 2, 第 3の並列腕共振子 1 1, 1 2とがダイァタツチ部において分離されて いる。 そして、 第 1の並列腕共振子 1 0と外部のアースラインに接続 される外部電極 8 2との間にマイクロストリップライン 8 7によるィ ンダクタンス L 7が、 第 2 , 第 3の並列腕共振子 1 1, 1 2とアース ラインに接続される外部電極 8 3との間にマイクロストリップライン 8 8によるインダクタンス L 8が構成されている。
第 3の実施例の弾性表面波フィルタの減衰量周波数特性を図 1 2に 実線で示す。 また、 比較のために、 第 1の実施例で比較のために用意 した従来例の弾性表面波装置の減衰量周波数特性を図 1 2に破線で示 す。
なお、 この場合、 マイクロス トリ ップライン 8 5 , 8 6によるイン ダクタンス分は、 それぞれ、 0 . 8 n Hとし、 マイクロストリ ップラ イン 8 7, 8 8によるインダクタンス分は、 0 . 3 n Hとした。 その 他の構成については、 第 1の実施例と同様である。
図 1 2から明らかなように、 本実施例においても、 パッケージ 2内 に、 マイクロストリップライン 8 5〜 8 8によるインダクタンス分が 構成されており、 従って、 通過帯域近傍の減衰量を従来例に比べて大 幅に拡大し得ることがわかる。 また、 減衰量 4 d Bの通過帯域幅は、 従来例では 7 8 M H zであるのに対し、 本実施例では 8 5 M H zであ り、 広帯域化も同時に図られていることがわかる。
さらに、 第 2の実施例の周波数特性 (図 9 ) と比較すると、 本実施 例では、 通過帯域近傍の減衰極 f rの周波数が高められており、 従つ て、 通過帯域のより近い周波数域における減衰量の拡大が求められる 場合、'第 3の実施例の弾性表面波装置は、 第 2の実施例の弾性表面波 装置に比べて有効である。
(第 4の実施例)
図 1 3は、 本発明の第 4の実施例に係る弾性表面波装置の回路構成 を示す図である。 本実施例においても、 第 1の実施例と同じ弾性表面 波フィルタ素子 3が用いられており、 第 1, 第 2の直列腕共振子 8 , 9と、 第 1〜第 3の並列腕共振子 1 0〜 1 2とが梯子型回路構成を有 するように接続されている。
図 1 4に断面図で示すようにパッケージ 2は、 第 1のケース材とし てのベース基板 9 4を有する。 また、 側壁 9 5及びキヤップ 9 6から なる第 2のケース材が、 第 1 の実施例と同様に構成されている。
本実施例では、 ベース基板 9 4が基板 9 4 b , 9 4 c , 9 4 dを含 む積層セラミック基板により構成されており、 ベース基板 9 4内に、 インダクタンスを付加するための後述のマイクロストリ ップラインが 形成されている。
図 1 5は、 ベース基板 9 4の上面であり、 基板 9 4 bの上面である 平面図であり、 図 1 6は、 マイクロス トリ ップラインが形成されてい る基板 9 4 cの上面を示す平面図である。
図 1 5に示すように、 ベース基板 9 4の上面には、 図 8に示した第 2の実施例のベース基板と同様に、 電極パッド 5 5〜 5 7が形成され ている。 しかし、 本実施例では、 ベース基板 9 4の上面には、 外部電 極およびマイクロストリ ップラインは形成されず、 これらはベース基 板 9 4の内部に設けられている。 電極パッ ド 5 5〜 5 7には、 基板 9 4 bを貫通し裏面へ達するスルーホール電極 9 5 a〜 9 5 dが开成さ れている。 スルーホール電極 9 5 a〜 9 5 dの下端は、 図 1 6に示す ように、 基板 9 4 cの上面に設けられたマイクロス トリ ップライン 9 7 a〜 9 7 dの一端に接続されている。 マイクロストリ ップライン 9 7 a〜 9 7 dの他端は、 基板 9 4 c上面において、 外部電極 9 8 a〜 9 8 dに接続されている。 外部電極 9 8 a〜 9 8 dは、 コー ~ "一部分 から基板 9 4 cおよび 9 4 dの側面を介してベース基板 9 4の裏面に 至るように形成されている (図 1 4参照)。 また、 図 1 6において、 破線で示されるように、 マイクロストリップライン 9 7 a〜 9 7 dの ためのグランド電極 5 0が基板 9 4 cの裏面のほぼ全体を覆うように 形成されている。
本実施例では、 第 1のケース材としてのベース基板 9 4内にマイク ロストリップライン 9 7 a〜 9 7 dが埋設されており、 該マイクロス トリ ップライン 9 7 a〜 9 7 dにより、 図 1 3に示すように、 第 1〜 第 3の並列腕共振子を共通接続した部分と外部のアースラインに接続 される外部電極との間のインダクタンス L 9 , L 1 0と、 直列腕共振 子 8 , 9と外部の信号ラインに接続される外部電極との間のインダク タンス分 L 1, L 2とを構成している。
このように、 本発明におけるィンダクタンスを付加するためのマイ クロストリ ップラインは、 パッケージ内であれば、.任意の位置に構成 することができる。
図 1 7の実線は、 第 4の実施例に係る弾性表面波装置の減衰量周波 数特性を示し、 破線は第 1の実施例の比較のために用意した従来例の 弾性表面波装置の減衰量周波数特性を示す。 なお、 第 4の実施例の弾 性表面波装置を構成するに際しては、. 直列腕共振子に付加されるマイ クロス トリ ップラインによるインダクタンス分は 1 · 0 n Hとし、 並 列腕共振子とアースラインに接続されるィンダクタンス分 L 7 , L 8 は、 それぞれ、 1. O nHとした。
図 1 7から明らかなように、 本実施例においても、 パッケージ 2内 にィンダクタンス分を付加するためのマイクロス トリ ップラインを形 成することにより、 通過帯域近傍の減衰量が高められる。 特に、 低周 波側における減衰量の改善が著しい。 これは、 並列に接続されたイン ダクタンス L 8 , L 9が大きいため、 減衰極 f r の周波数が低くなつ たためである。
第 4の実施例では、 マイクロス トリ ップラインがベース基板内に埋 設されているので、 すなわち内部電極の形態で構成されているので、 マイクロス ト リ ップラインの長さを長くすることができ、 より大きな インダクタンスを得ることができる。 また、 さらに大きなィンダクタ ンスを得るには、 複数の層に渡りマイクロス トリ ップラインを形成し- スルーホーノレ電極やビアホール電極により複数のマイクロス トリ ップ ラインを相互に電気的に接続することにより、 マイクロス トリ ップラ インの長さを大きくすればよい。
上述したように、 本発明に係る弾性表面波フィルタ装置では、 梯子 型回路を構成している直列腕共振子及び並列腕共振子の少なく とも一 方にマイク ロス トリ ップラインによるインダクタンス成分が接続され ており、 かつ該マイクロス トリ ップラインがパッケージ内に設けられ ているので、 通過帯域近傍の減衰量が拡大され、 かつ広帯域のフィル タ特性を得ることができる。
また、 マイクロス トリ ップラインを形成する基板の誘電率、 マイク ロス トリ ップラインの線幅及びマイクロス トリ ップラインとグランド との間隔などを変化させることにより、 マイクロス トリ ップラインの 単位長あたりのィンダクタンス成分を設計することができる。 従って、 弾性表面波フィルタの特性を改善するために必要なィンダクタンス成 分を、 マイク ロス トリ ップラインのィンダクタンス成分で設計して弾 性表面波フィルタに挿入することができる。 さらに、 マイクロス トリ ップラインは外界の影響に強いため、 マイクロス トリ ップラインのィ ンダクタンス成分が、 弾性表面波フィルタ素子をフェースダウン工法 によってベース基板に取り付けられても変化することがほとんどない ので、 所望のィンダクタンス成分を設計どおり弾性表面波フィルタに 揷入することができる。 また、 パッケージが、 弾性表面波フィルタ素子のいずれかの信号端 子及びアース端子にバンプにより接続される複数の電極パッ ドを有す るダイァタツチ部と、 いずれかの電極パッドと電気的に接続されてお' りかつ弾性表面波フィルタ装置外の信号ラインまたはアースラインに 接続される複数の外部電極とを備える場合には、 上記複数の電極パッ ドに、 弾性表面波フィルタ素子を複数のバンプによりフェイスダウン 工法で接続及び機械的接合が果たされる。 従って、 本発明に従って、 通過帯域外の減衰量が大きく、 広帯域のフィルタ装置を容易に構成す ることができる。
マイク ロストリップライ.ンが、 直列腕共振子の信号端子に接続され ている電極パッドと、 弾性表面波フィルタ装置外の信号ラインに接続 される外部電極との間に接続されている場合には、 直列腕共振子と信 号ラインとの間に接続されているので、 反射損を低減し広帯域化を図 ることができる。
また、 上記マイクロストリ ップラインが、 少なく とも 1つの並列腕 共振子のアース端子にバンプにより接続されている電極パッ ドと、 パ ッケージ外のアースラインに接続される外部電極との間に設けられて いる場合には、 通過帯域近傍の減衰量の拡大及び広帯域のフィルタ特 性を得ることができる。 ,
少なく とも 2個の並列腕共振子を有し、 全ての並列腕共振子のァー ス端子が圧電性基板上で共通接続されており、 並列腕共振子のアース 端子が共通接続されている部分と,パッケージに設けられた外部電極と の間に上記マイクロストリ ップラインが接続されている場合には、 よ り低い周波数域において減衰量を拡大することができる。
同様に、 全ての並列腕共振子のアース端子に接続されるパッケージ 側の電極パッ ドが共通とされており、 共通とされている電極パッドと、 外部電極との間の経路にマイクロス トリップラインが設けられている 場合においても、 より低い周波数域で減衰量を拡大することができる さらに、 パッケージ側で共通とすることでチップの配線が容易となる 少なく とも 3個以上の並列腕共振子を備え、 少なく とも1 2個の並列 腕共振子のアース端子が接続される電極ランドと、 該電極ランドが接 続される外部電極との間の経路にマイクロス トリ ップラインが設けら れており、 少なく とも 2個の並列腕共振子以外の並列腕共振子が、 上 記少なく とも 2個の並列腕共振子と圧電性基板上において電気的に分 離されている場合には、 より一層広帯域かつ通過帯域近傍の減衰量が 拡大されたフィルタ特性を得るこ とができる。
少なく とも 3個の並列腕共振子を備え、 該並列腕^振子のうち少な く とも 2個の並列腕共振子のアース端子に接続される共通電極パッ ド を有し、 上記マイクロス トリ ップラインが共通電極パッ ドと、 共通電 極パッ ドが接続される外部電極との間の経路に設けられており、 それ 以外の並列腕共振子が、 複数の電極パッドを含むダイアタッチ部にお いて、 上記少なく とも 2個の並列腕共振子と電気的に分離されている 場合には、 より一層通過帯域近傍における減衰量が拡大され、 かつ広 帯域のフィルタ特性を得ることができる。
マイクロストリップラインがパッケージ内において、 ダイァタツチ 部以外に配置されている場合には、 表面波フィルタ素子との電磁界的 な干渉を防ぎ、 フィルタ特性の劣化を招くことがない。
パッケージが、 ベース基板と、 ベース基板上に設けられた環状の側 壁と、 該環状の側壁の上端を閉成するように取り付けられたキャップ 材とを備え、 マイクロス ト リ ップラインの主要部が、 側壁とベース基 板との間に配置されている場合には、 余分なスペースが要らないため に、 パッケージのサイズを変えることなくフィルタ特性を改善するこ とができる。
パッケージが、 弾性表面波フィルタ素子が搭載される第 1 のケース 材と、 第 1 のケース材に搭載されている弓 性表面波フィルタ素子を囲 繞する第 2のケース材とを備え、 第 1 のケース材の内部にマイクロス トリ ップラインの主要部が設けられている場合には、 大きなィンダク タンス成分を入れることが可能となり、 フィルタ特性の大幅な改善を 行うことができる。
弾性表面波フィルタ素子の入出力端の信号端子と少なく とも 1つの 'アース端子とが、 複数の外部電極のうち入出力端に信号ラインに接続 される外部電極と少なく とも 1つのアース電位に接続される外部電極 に対し、 弾性表面波フィルタ素子の圧電性基板の中心を通り、 該圧電 性基板に直交する仮想線の周りに 9 0度回転させたように配置されて いる場合には、 側壁とベース基板の間にマイクロス トリ ップラインを 構成する際に、 無理な曲げ部を作らずとも大きなィンダクタンス成分 を入れることが可能となる。 産業上の利用の可能性
本発明の弾性表面波フィルタ装置は、 さまざまな通信機器や信号 処理装置に応用が可能であり、 特に、 携帯電話などの小型の通信機器 に応用される。

Claims

請求の範囲
1 . 圧電性基板、 及び前記圧電性基板上に形成された複数の一端 子対弾性表面波素子を有し、 前記一端子対弾性表面波素子が梯子型回 路の並列腕共振子及び直列腕共振子を構成するように接続されている 弾性表面波フィルタ素子と、
前記弾性表面波フィルタ素子を収納しているパッケージとを備え、 前記弾性表面波フィルタ素子が複数のバンプにより接続されるフニ イスダウン工法で前記パッケージに収納されており、
前記パッケージ内に設けられており、 前記直列腕共振子及び並列腕 共振子の少なく とも一方に接続されているマイクロス トリップライン のインダクタンス成分をさらに備えることを特徴とする、 弾性表面波 フィルタ装置。
2 . 前記パッケージが、 弾性表面波フィルタ素子のいずれかの信号 端子及びアース端子に前記バンプにより接続される複数の電極パッド を有するダイアタッチ部と、 いずれかの前記電極パッ ドと電気的に接 続されており、 かつ弾性表面波フィルタ装置外の信号ラインまたはァ ースラインに接続される複数の外部電極とを備える、 請求項 1に記載 の弾性表面波フィルタ装置。
3 . 前記マイクロス トリップラインが、 前記直列腕共振子の信号端 子に接続されている前記電極パッ ドと、 前記弾性表面波フィルタ装置 外の信号ラインに接続される前記外部電極との間に接続されている、 請求項 2に記載の弾性表面波装置。
4 . 前記マイクロス トリ ップラインが、 少なく とも 1つの前記並 列腕共振子のアース端子に前記バンプにより接続されている前記電極 パッ ドと、 パッケージ外のアースラインに接続される前記外部電極と の間に設けられている請求項 2または 3に記載の弾性表面波フィルタ
5 . 少なく とも 2個の前記並列腕共振子を備え、
全ての前記並列腕共振子のアース端子が前記圧電性基板上で共通接 続されており、 前記並列腕共振子のアース端子が共通接続されている 部分と、 前記パッケージに設けられた外部電極との間に、 前記マイク ロストリ ップラインが接続されている、 請求項 2に記載の弾性表面波 フィルタ装置。
6 . 少なく とも 2個の前記並列腕共振子を備え、
全ての前記並列腕共振子のアース端子に接続されるパッケージ側の 前記電極パッ ドが共通とされており、
前記共通とされている電極パッドと、 前記外部電極との間の経路に 前記マイクロス トリップラインが設けられている請求項 2に記載の弾 性表面波フィルタ装置。
7 . 少なく とも 3個以上の前記並列腕共振子を備え、
前記圧電性基板上に形成されており、 少なく とも 2個の並列腕共振 子のアース端子が接続される電極ランドをさらに備え、
少なく とも 2個の並列腕共振子のアース端子に接続されている前記 電極ランドと、 該電極ランドが接続される前記外部電極との間の経路 に前記マイクロストリ ップラインが設けられており、
前記少なく とも 2個の並列腕共振子以外の並列腕共振子が、 圧電性 基板上において、 前記少なく とも 2個の並列腕共振子と電気的に分離 されており、 前記少なく とも 2個の並列腕共振子に接続されているパ ッケージ側の外部電極以外の外部電極に電気的に接続されている、 請 求項 2に記載の弾性表面波フィルタ装置。
8 . 少なく とも 3個の前記並列腕共振子を備え、 前記複数の電極パッ ドが、 前記並列腕共振子のうち少なく とも 2個 の並列腕共振子のアース端子に接続される共通電極パッドを有し、 前 記マイクロストリ ップラインが共通電極パッ ドと、 該共通電極パッ ド が接続される前記外部電極との間の経路に設けられており、
前記少なく とも 2個の並列腕共振子以外の並列腕共振子が、.前記複 数の電極パッ ドを含むダイァタツチ部において、 前記少なく とも 2個 の並列腕共振子と電気的に分離されており、 前記少なく とも 2個の並 列腕共振子に接続されているパッケージ側の外部電極以外の外部電極 に電気的に接続されている、 請求項 2に記載の弾性表面波フィルタ装
9 . 前記マイクロストリップラインが、 パッケージ内において、 前 記ダイァタツチ部以外に配置されている、 請求項 1〜 8のいずれかに 記載の弾性表面波フィルタ装置。
1 0 . 前記パッケージが、 前記弾性表面波フィルタ素子が搭載され るベース基板と、 該ベース基板上に設けられた環状の側壁と、 該環状 の側壁の上端を閉成するように取り付けられたキャップ材とを備え、 前記マイクロストリップラインの主要部が、 前記側壁と前記ベース 基板との間に配置されている、 請求項 1〜 9のいずれかに記載の弾性 表面波フィルタ装置。
1 1 . 前記パッケージが、 前記弾性表面波フィルタ素子が搭載され る第 1 のケース材と、 第 1のケース材に搭載されている弾性表面波フ ィルタ素子を囲繞する第 2のケース材とを備え、
前記第 1のケース材の内部に前記マイクロストリ ップラインの主要 部が設けられている、 請求項 1〜 9のいずれかに記載の弾性表面波フ ィルタ装置。
1 2 . 前記弾性表面波フィルタ素子の入出力端の信号端子と少なく とも 1つのアース端子とが、 前記複数の外部電極のうち入出力端の信 号ラインに接続される外部電極と少なく とも 1つのアース電位に接続 される外部電極に対し、 前記弾性表面波フィルタ素子の圧電性基板の 中心を通り、 圧電性基板に直交する仮想線の周りに 9 0度回転させた ように配置されている、 請求項 1〜 1 1のいずれかに記載の弾性表面 波フィルタ装置。
1 3 . 請求項 1〜 1 2のいずれかに記載の弾性表面波フィルタ装置 を有する通信機。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7274129B2 (en) 2003-04-08 2007-09-25 Fujitsu Media Devices Limited Surface acoustic wave device and method of fabricating the same
CN1503451B (zh) * 2002-11-22 2012-04-18 太阳诱电株式会社 滤波器元件以及包含它的滤波器器件、双工器和高频电路
CN1497845B (zh) * 2002-10-21 2012-04-18 太阳诱电株式会社 表面声波滤波器和滤波器器件
JPWO2016114358A1 (ja) * 2015-01-16 2017-08-17 株式会社村田製作所 基板、基板の製造方法及び弾性波装置

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI315607B (en) * 2001-10-29 2009-10-01 Panasonic Corp Surface acoustic wave filter element, surface acoustic wave filter and communication device using the same
JP2004120016A (ja) * 2002-09-20 2004-04-15 Fujitsu Media Device Kk フィルタ装置
US20060057866A1 (en) * 2002-11-27 2006-03-16 Uri Mirsky Microelectronic packaging and components
JP4144509B2 (ja) * 2003-01-16 2008-09-03 株式会社村田製作所 ラダー型フィルタ、分波器、通信装置
JP3843983B2 (ja) * 2003-03-20 2006-11-08 セイコーエプソン株式会社 圧電振動子
US8896397B2 (en) 2003-04-16 2014-11-25 Intellectual Ventures Fund 77 Llc Surface acoustic wave device and method of adjusting LC component of surface acoustic wave device
JP4381714B2 (ja) * 2003-04-16 2009-12-09 Okiセミコンダクタ株式会社 表面弾性波デバイス、表面弾性波装置、及び表面弾性波デバイスの製造方法
JP3778902B2 (ja) * 2003-04-28 2006-05-24 富士通メディアデバイス株式会社 分波器及び電子装置
JP4389521B2 (ja) * 2003-08-25 2009-12-24 パナソニック株式会社 弾性波フィルタ
US7479847B2 (en) * 2003-11-20 2009-01-20 Panasonic Corporation Filter using piezoelectric resonator
US7301420B2 (en) * 2003-11-20 2007-11-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Piezoelectric resonator filter
WO2005050840A2 (en) * 2003-11-20 2005-06-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Piezoelectric resonator filter
EP1533897A3 (en) * 2003-11-20 2010-06-30 Panasonic Corporation Filter using piezoelectric resonator
KR100552482B1 (ko) * 2003-11-28 2006-02-15 삼성전자주식회사 Rf 듀플렉서
JP2005203889A (ja) * 2004-01-13 2005-07-28 Fujitsu Media Device Kk 弾性表面波デバイス
EP1763133A4 (en) * 2004-06-30 2011-07-20 Murata Manufacturing Co ELASTIC WAVE FILTER OF THE COMPENSATION TYPE AND ELASTIC WAVE FILTER DEVICE
JP4518870B2 (ja) * 2004-08-24 2010-08-04 京セラ株式会社 弾性表面波装置および通信装置
WO2006067935A1 (ja) * 2004-12-24 2006-06-29 Murata Manufacturing Co., Ltd. 分波器
US20070126111A1 (en) * 2005-05-26 2007-06-07 Uri Mirsky Microelectronic packaging and components
JP4294632B2 (ja) 2005-10-26 2009-07-15 富士通メディアデバイス株式会社 弾性表面波装置
JP4585431B2 (ja) * 2005-11-15 2010-11-24 富士通メディアデバイス株式会社 分波器
WO2007088683A1 (ja) * 2006-02-02 2007-08-09 Murata Manufacturing Co., Ltd. フィルタ装置
CN102017408B (zh) 2008-05-07 2014-04-30 株式会社村田制作所 弹性波滤波装置
JP5355958B2 (ja) * 2008-07-31 2013-11-27 太陽誘電株式会社 フィルタ、分波器および通信機器
WO2010048725A1 (en) * 2008-10-31 2010-05-06 Nortel Networks Limited Self-matched band reject filter
JP5237138B2 (ja) * 2009-01-27 2013-07-17 太陽誘電株式会社 フィルタ、デュープレクサ、通信モジュール
DE102009034101B4 (de) * 2009-07-21 2017-02-02 Epcos Ag Filterschaltung mit verbesserter Filtercharakteristik
WO2011092879A1 (ja) 2010-01-28 2011-08-04 株式会社村田製作所 弾性表面波フィルタ装置
JP2011205625A (ja) * 2010-03-02 2011-10-13 Panasonic Corp ラダー型フィルタ
JP5333403B2 (ja) 2010-10-12 2013-11-06 株式会社村田製作所 弾性表面波フィルタ装置
DE102010055649B4 (de) * 2010-12-22 2015-07-16 Epcos Ag Duplexer und Verfahren zum Herstellen eines Duplexers
WO2012132093A1 (ja) * 2011-03-31 2012-10-04 株式会社村田製作所 弾性波装置
US8816567B2 (en) 2011-07-19 2014-08-26 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Piezoelectric laterally vibrating resonator structure geometries for spurious frequency suppression
CN103718469B (zh) * 2011-08-01 2016-06-08 株式会社村田制作所 高频模块
WO2014168162A1 (ja) * 2013-04-11 2014-10-16 株式会社村田製作所 高周波モジュール
WO2014168161A1 (ja) * 2013-04-11 2014-10-16 株式会社村田製作所 高周波モジュール
JP6183461B2 (ja) * 2013-08-06 2017-08-23 株式会社村田製作所 高周波モジュール
CN105453427B (zh) * 2013-08-06 2018-02-09 株式会社村田制作所 高频模块
CN104467734B (zh) * 2014-11-07 2017-10-20 深圳华远微电科技有限公司 Gps和bds用声表面波滤波器及其小型化封装工艺
JP6365436B2 (ja) * 2015-06-24 2018-08-01 株式会社村田製作所 弾性波装置
DE102015114751A1 (de) * 2015-09-03 2017-03-09 Epcos Ag SAW Filter
KR20180003868A (ko) 2016-07-01 2018-01-10 삼성전기주식회사 벌크 탄성파 필터
WO2018061950A1 (ja) * 2016-09-29 2018-04-05 株式会社村田製作所 弾性波フィルタ装置、マルチプレクサ、高周波フロントエンド回路及び通信装置
WO2018061949A1 (ja) * 2016-09-29 2018-04-05 株式会社村田製作所 弾性波フィルタ装置、マルチプレクサ、高周波フロントエンド回路及び通信装置
CN107342749B (zh) * 2017-06-05 2020-08-28 锐迪科微电子科技(上海)有限公司 一种带通滤波器
JP2020098969A (ja) 2018-12-17 2020-06-25 株式会社村田製作所 90゜ハイブリッドカプラを用いたフィルタ回路
JP7252770B2 (ja) * 2019-02-01 2023-04-05 太陽誘電株式会社 高周波デバイスおよびマルチプレクサ
JP7352855B2 (ja) * 2019-08-21 2023-09-29 株式会社村田製作所 分波器
CN112398457A (zh) * 2020-11-24 2021-02-23 广东广纳芯科技有限公司 声表面波滤波器及其制造方法
CN113839646B (zh) * 2021-09-29 2024-04-09 北京超材信息科技有限公司 声表面波装置阻抗匹配器

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0541284A1 (en) 1991-10-28 1993-05-12 Fujitsu Limited Surface acoustic wave filter
JPH1093382A (ja) 1996-09-17 1998-04-10 Oki Electric Ind Co Ltd 表面弾性波フィルタ回路パターンの構造
EP0853381A2 (en) 1997-01-10 1998-07-15 Murata Manufacturing Co., Ltd. Surface acoustic wave filter
EP0897218A2 (en) 1997-08-07 1999-02-17 Murata Manufacturing Co., Ltd. Surface acoustic wave filter
JP2000223989A (ja) 1999-01-29 2000-08-11 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JP2001160731A (ja) * 1999-12-01 2001-06-12 Kyocera Corp 弾性表面波装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63263809A (ja) * 1987-04-21 1988-10-31 Murata Mfg Co Ltd 表面波装置
JP2673993B2 (ja) 1990-07-02 1997-11-05 日本無線株式会社 表面弾性波装置
JP3152418B2 (ja) * 1991-10-28 2001-04-03 富士通株式会社 弾性表面波フィルタ
US5459368A (en) * 1993-08-06 1995-10-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Surface acoustic wave device mounted module
JP2905094B2 (ja) * 1994-07-01 1999-06-14 富士通株式会社 分波器パッケージ
GB2296614B (en) * 1994-12-23 1999-09-15 Advanced Saw Prod Sa Saw filter
JP3895397B2 (ja) * 1996-05-30 2007-03-22 日本無線株式会社 Sawフィルタの基板実装方法
JP3735418B2 (ja) * 1996-08-28 2006-01-18 日本無線株式会社 弾性表面波デバイスおよびこれを使用する通信装置
JP3380417B2 (ja) * 1997-02-12 2003-02-24 沖電気工業株式会社 有極型弾性表面波フィルタ
JP3982876B2 (ja) * 1997-06-30 2007-09-26 沖電気工業株式会社 弾性表面波装置
JPH11122072A (ja) * 1997-10-14 1999-04-30 Fujitsu Ltd 弾性表面波装置
JPH11163218A (ja) * 1997-11-21 1999-06-18 Japan Radio Co Ltd パッケージ構造
JPH11227429A (ja) 1998-02-16 1999-08-24 Kiichiro Ishibashi 2段式チェーン金具、並びに伸縮タイヤチェーン。
JP3206548B2 (ja) * 1998-05-14 2001-09-10 株式会社村田製作所 表面波フィルタ、共用器、通信機装置
JPH11340779A (ja) 1998-05-22 1999-12-10 Murata Mfg Co Ltd 弾性表面波フィルタ、デュプレクサおよび通信機装置
EP1050962A4 (en) * 1998-11-13 2003-05-14 Matsushita Electric Industrial Co Ltd ACOUSTIC SURFACE WAVE FILTER
JP3860364B2 (ja) * 1999-08-11 2006-12-20 富士通メディアデバイス株式会社 弾性表面波装置
JP3363870B2 (ja) * 2000-05-29 2003-01-08 沖電気工業株式会社 弾性表面波分波器

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0541284A1 (en) 1991-10-28 1993-05-12 Fujitsu Limited Surface acoustic wave filter
JPH05183380A (ja) * 1991-10-28 1993-07-23 Fujitsu Ltd 弾性表面波フィルタ
JPH1093382A (ja) 1996-09-17 1998-04-10 Oki Electric Ind Co Ltd 表面弾性波フィルタ回路パターンの構造
EP0853381A2 (en) 1997-01-10 1998-07-15 Murata Manufacturing Co., Ltd. Surface acoustic wave filter
EP0897218A2 (en) 1997-08-07 1999-02-17 Murata Manufacturing Co., Ltd. Surface acoustic wave filter
JP2000223989A (ja) 1999-01-29 2000-08-11 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JP2001160731A (ja) * 1999-12-01 2001-06-12 Kyocera Corp 弾性表面波装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1313218A4

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1497845B (zh) * 2002-10-21 2012-04-18 太阳诱电株式会社 表面声波滤波器和滤波器器件
CN1503451B (zh) * 2002-11-22 2012-04-18 太阳诱电株式会社 滤波器元件以及包含它的滤波器器件、双工器和高频电路
US7274129B2 (en) 2003-04-08 2007-09-25 Fujitsu Media Devices Limited Surface acoustic wave device and method of fabricating the same
JPWO2016114358A1 (ja) * 2015-01-16 2017-08-17 株式会社村田製作所 基板、基板の製造方法及び弾性波装置

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