WO2003107471A1 - 光電変換素子及びその製造方法 - Google Patents

光電変換素子及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2003107471A1
WO2003107471A1 PCT/JP2003/007531 JP0307531W WO03107471A1 WO 2003107471 A1 WO2003107471 A1 WO 2003107471A1 JP 0307531 W JP0307531 W JP 0307531W WO 03107471 A1 WO03107471 A1 WO 03107471A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
film
semiconductor layer
electrode
titanium oxide
photoelectric conversion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2003/007531
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
児島 克典
宮田 照久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Maxell Ltd
Original Assignee
Hitachi Maxell Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Maxell Ltd filed Critical Hitachi Maxell Ltd
Priority to EP03733413A priority Critical patent/EP1437790B1/en
Priority to AU2003242373A priority patent/AU2003242373B9/en
Priority to US10/489,793 priority patent/US7224036B2/en
Priority to JP2004514176A priority patent/JP4086037B2/ja
Publication of WO2003107471A1 publication Critical patent/WO2003107471A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Priority to US11/787,805 priority patent/US7422923B2/en
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/20Light-sensitive devices
    • H01G9/2027Light-sensitive devices comprising an oxide semiconductor electrode
    • H01G9/2031Light-sensitive devices comprising an oxide semiconductor electrode comprising titanium oxide, e.g. TiO2
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M14/00Electrochemical current or voltage generators not provided for in groups H01M6/00 - H01M12/00; Manufacture thereof
    • H01M14/005Photoelectrochemical storage cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/542Dye sensitized solar cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02TCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
    • Y02T10/00Road transport of goods or passengers
    • Y02T10/60Other road transportation technologies with climate change mitigation effect
    • Y02T10/70Energy storage systems for electromobility, e.g. batteries

Definitions

  • the present invention relates to a photoelectric conversion element used for a dye-sensitized solar cell or the like.
  • the Gretz-L-cell can be assembled simply by applying a paste in which ultrafine particles of titanium oxide are dispersed to a transparent electrode, supporting a sensitizing dye, and filling an electrolyte between the counter electrode and the transparent electrode. Compared to conventional solar cells, it can be manufactured with simpler equipment and is attracting attention as one of the next generation solar cells.
  • the major feature of the Gretz-L-Cell is a porous semiconductor made by sintering ultrafine titanium oxide. Is to use a membrane.
  • the purpose of sintering titanium oxide is to combine the ultrafine particles of semiconductors with each other, The purpose is to secure a transmission path for the electromotive force.
  • the sintering temperature of titanium oxide for securing the transmission path of the photoexcited electrons is in the range of 450 to 550 ° C. Below this temperature range, the bonding between the semiconductor ultrafine particles is insufficient. Minutes. From this, it is practically impossible to use a material having a softening temperature higher than the sintering temperature as a base material of a transparent electrode for forming a porous titanium oxide film. However, many of the light-transmitting materials have a softening temperature lower than the sintering temperature of titanium oxide, and thus have a problem that it is difficult to use them as electrode substrates for Gretzelle cells.
  • a film is used as the substrate of the Gretz-L-Cell, for example, a roll-to-to-roll continuous production method described in WO 97/15959, a W-99 / 66 519 Because the manufacturing method suitable for mass production described in the gazette can be adopted and the solar cell can be manufactured at a lower cost than existing solar cells, film-type Gretz-L-cells can be applied to a very wide range of applications.
  • a porous titanium oxide film composed of ultrafine particles cannot cope with the flexibility of the film, and has a problem that cracks and peeling are likely to occur.
  • a nonionic surfactant "TR I TON X—100” is used for the purpose of reducing cracks in the coating film when applying the titanium oxide paste. Is added, but “TRITON X-100” is added as much as 40% by mass with respect to titanium oxide, which may hinder electron transfer in the titanium oxide film. .
  • WO 00/7 2 3 7 3 discloses, by applying a 1 0 0 ⁇ 1 0 0 0 k pressure GZC m 2 of titanium oxide film, without sintering the titanium oxide, the titanium oxide film Ensures mechanical strength and electron transmission path.
  • the feature is that the binder is not contained in the titanium oxide film in order to avoid the inhibition of electron transfer in the titanium oxide film by the binder.
  • the present inventors have confirmed that by applying a large pressure to the titanium oxide film, it is possible to obtain a titanium oxide film having a certain degree of mechanical strength. There was a problem that the adhesion was weak and the titanium oxide film was easily peeled off. Disclosure of the invention
  • the photoelectric conversion element of the present invention includes: a first electrode on which a semiconductor layer carrying a sensitizing dye is attached; a second electrode facing the semiconductor layer of the first electrode; and the first electrode.
  • a photoelectric conversion element comprising: an electrolyte layer disposed between the semiconductor layer and the second electrode; wherein the semiconductor layer includes semiconductor particles and a binder; and The degree is in the range of 40 to 80%.
  • the method for manufacturing a photoelectric conversion element of the present invention includes: a first electrode on which a semiconductor layer supporting a sensitizing dye is adhered; and a second electrode facing the semiconductor layer of the first electrode.
  • a method for manufacturing a photoelectric conversion element comprising: an electrolyte layer disposed between the semiconductor layer of the first electrode and the second electrode; The method is characterized in that the semiconductor layer is formed by applying a pressure of 20 to 200 MPa after applying to the first electrode and drying.
  • FIG. 1 is a schematic sectional view showing an example of the photoelectric conversion element of the present invention.
  • the present invention can solve the above-mentioned conventional problems, can secure a transmission path of photoexcited electrons without sintering at a high temperature, and can cope with the flexibility of a substrate.
  • An object of the present invention is to provide a photoelectric conversion element using a semiconductor layer having a strong adhesion and exhibiting excellent photoelectric conversion characteristics, and a method for manufacturing the same.
  • embodiments of the present invention will be described.
  • One example of the photoelectric conversion element of the present invention includes: a first electrode on which a semiconductor layer supporting a sensitizing dye is adhered; a second electrode facing the semiconductor layer of the first electrode; A photoelectric conversion element comprising: an electrolyte layer disposed between the semiconductor layer of the first electrode and the second electrode; wherein the semiconductor layer includes semiconductor particles and a binder; and The porosity of the layer is in the range of 40-80%.
  • the semiconductor layer contains the semiconductor particles and the binder, a semiconductor layer having a strong adhesive force capable of coping with the flexibility of the base material can be realized.
  • the porosity of the semiconductor layer is in the range of 40 to 80%, a transmission path of photoexcited electrons can be secured without sintering at a high temperature, and the conversion efficiency can be improved.
  • a ratio of the binder contained in the semiconductor layer is in a range of 0.2 to 10% by mass with respect to all components forming the semiconductor layer. This is because the conversion efficiency becomes higher within this range.
  • the binder may be a cellulose derivative, a rubber-like hydrophilic polymer, a homopolymer or copolymer of N-vinylacetamide, polyethylene oxide, sodium alginate, polyacrylic acid, Its salts, polybierphenol, polybier methyl ether, polyvinyl alcohol, polyvinylpyrrolidone, polyacrylamide, polyhydroxy (meth) acrylate, polyvinyl acetal, styrene-maleic acid copolymer, polyethylene glycol, starch oxide, phosphorylation Selected from the group consisting of starch, casein and polyolefin It is preferable to include at least one of them. This is because these have a strong adhesive force and a high flexibility, so that it is possible to realize a semiconductor layer that can flexibly respond to the flexibility of the base material.
  • the photoelectric conversion element of the present embodiment is preferably configured such that the first electrode is formed by attaching an electrode portion to a synthetic resin film. This is because mass production of the electrodes becomes easy, and the production cost can be reduced.
  • the synthetic resin film is a polyethylene terephthalate film, a polyethylene naphthalate film, a polyethersulfone film, a polyarylate film, a polyimide film, a cycloolefin polymer film, and a norpollenene film. It is preferably one type selected from the group consisting of resin films. This is because these films are particularly excellent in toughness and heat resistance.
  • an example of a method for manufacturing a photoelectric conversion element of the present invention includes a first electrode on which a semiconductor layer supporting a sensitizing dye is attached, and a second electrode facing the semiconductor layer of the first electrode.
  • a method for manufacturing a photoelectric conversion element comprising: an electrode; and an electrolyte layer disposed between the semiconductor layer of the first electrode and the second electrode, wherein the semiconductor layer includes semiconductor particles and a binder. Is applied to the first electrode, dried, and then pressed at a pressure of 20 to 200 MPa.
  • the semiconductor layer is formed by applying a solution containing semiconductor particles and a binder to the first electrode, drying the solution, and pressing the solution at a pressure of 20 to 200 MPa. Even without sintering at a high temperature, a transmission path for photoexcited electrons can be ensured, and a semiconductor layer having a strong adhesion that can cope with the flexibility of the substrate can be formed.
  • the material of the semiconductor particles contained in the semiconductor layer is titanium oxide; Before and after pressing at a pressure of 200 MPa, the half-width of the diffraction intensity peak attributed to the (101) plane of the anatase-type crystal structure of the titanium oxide measured by X-ray diffraction analysis was reduced. Preferably, the rate is in the range of 5-50%. If the material of the semiconductor particles contained in the semiconductor layer is titanium oxide, it is possible to avoid photodissolution in the electrolytic solution and obtain high photoelectric conversion characteristics.
  • the crystal particle diameter of the titanium oxide particles increases, and the titanium oxide particles adhere to each other, so that a path of the photo-excited electrons can be formed in the semiconductor layer,
  • the semiconductor layer having an appropriate porosity can be formed.
  • the ratio of the binder contained in the semiconductor layer is in the range of 0.2 to 10% by mass with respect to all components forming the semiconductor layer. Is preferred. This is because the conversion efficiency is higher within this range.
  • the binder may be a cellulose derivative, a rubbery polymer, a homopolymer or copolymer of N-vinylacetamide, polyethylene oxide, sodium alginate, Acrylic acid and its salts, polyvinylphenol, polyvinylmethylether, polyvinylalcohol, polyvinylpyrrolidone, polyacrylamide, polyhydroxy (meth) acrylate, polybiercetal, styrene-maleic acid copolymer, polyethylene glycol, starch oxide, It preferably contains at least one selected from the group consisting of phosphorylated starch, casein and polyolefin. This is because these have strong adhesiveness and high flexibility, so that a semiconductor layer that can respond flexibly to the flexibility of the base material can be manufactured.
  • the first electrode is formed by attaching an electrode portion to a synthetic resin film. This is because the mass production of the electrodes becomes easy and the manufacturing cost can be reduced.
  • the synthetic resin film may be a polyethylene terephthalate film, a polyethylene naphthalene film, a film, a polyester sulfone film, a polyarylate film, a polyimide film, a cycloimide film. It is preferably one type selected from the group consisting of a refin polymer film and a norpolene resin film. This is because these films are particularly excellent in toughness and heat resistance.
  • FIG. 1 is a schematic sectional view showing an example of the photoelectric conversion element of the present invention.
  • the photoelectric conversion element 1 of the present embodiment has an electrode 5 (first electrode) formed on one surface of a substrate 3. On one surface of the electrode 5, a semiconductor layer 7 carrying a sensitizing dye is formed. Further, a counter electrode 9 (second electrode) exists opposite the semiconductor layer 7 on which the sensitizing dye is carried. The counter electrode 9 is formed on one surface of another substrate 11. An electrolyte layer 13 exists between the semiconductor layer 7 and the counter electrode 9.
  • the present inventors have made intensive efforts to solve the conventional problem, and as a result, by forming the semiconductor layer 7 with semiconductor particles and a binder, the transmission path of photoexcited electrons can be achieved without sintering at high temperature. It has been found that a photoelectric conversion element having excellent photoelectric conversion characteristics can be realized using a semiconductor layer having a strong adhesion that can be secured and can cope with the flexibility of the substrate.
  • the effect of the addition of the binder (binder effect) in the present invention is an effect of reducing cracks generated in the semiconductor layer 7 and an effect of improving the adhesion between the semiconductor layer 7 and the flexible base material. is there.
  • the present inventors have selected a binder that can provide a sufficient binder effect with a small amount of addition, and apply pressure to the semiconductor layer 7 to which the binder has been added, so that sintering is unnecessary and the base material is not required. It was found that a porous semiconductor layer 7 having excellent adhesiveness could be formed, and the problem that had been feared by conventional knowledge could be solved.
  • examples of the binder capable of obtaining a sufficient binder effect by adding such a small amount include a cellulose derivative, a rubbery elastic polymer, a homopolymer or copolymer of N-vinylacetamide, polyethylene oxide, Sodium alginate, polyacrylic acid and its salts, polyvinyl phenol, polyvinyl methyl ether, polyvinyl alcohol, polyvinyl pyrrolidone, polyacrylamide, polyhydroxy (meth) acrylate, polyvinyl acetal, styrene-maleic acid copolymer, polyethylene glycol , Oxidized starch, phosphorylated starch, casein, polyolefin and the like can be used alone or in combination.
  • a cellulose derivative is more preferable because it can bind semiconductor particles with a small amount when compared with other binders having the same molecular weight.
  • the cellulose derivative include cellulose, methylcellulose, ethylcellulose, hydroxypropylcellulose, hydroxypropylmethylcellulose, hydroxyethylcellulose, hydroxymethylcellulose, carboxymethylcellulose, and diacetyl.
  • examples include cellulose.
  • the cellulose derivative may be in the form of a sodium salt or an ammonium salt.
  • the rubber-like elastic polymer is more preferable because the flexibility of the base material can reduce the strain generated in the semiconductor layer 7 and increase the adhesion between the base material and the semiconductor layer 7.
  • the rubber-like elastic polymer include natural rubber, isoprene rubber, butadiene rubber, butyl rubber, silicon rubber, fluorine rubber, polystyrene rubber, nitrile rubber, polystyrene butadiene rubber, chloroprene rubber, urethane rubber, polystyrene ethylene rubber, and ethylene.
  • Examples include propylene gemethylene copolymer, polyacetylene, and polyurethane rubber.
  • the rubbery elastic polymer may contain a polar group such as a propyloxyl group or an alkoxycarbonyl group.
  • thermosetting and solvent-insoluble resins include organic solvents which are components of the electrolyte layer 13 in the semiconductor layer 7. It is more preferable because it can impart resistance to the
  • polyvinyl acetal can be used as a thermosetting and solvent-insoluble resin by performing a crosslinking reaction with a phenol resin, an epoxy resin, a melamine resin, an isocyanate, a dialdehyde, and the like.
  • the porosity of the semiconductor layer 7 needs to be in the range of 40 to 80%.
  • the porosity in the present invention is defined as the total volume of the pores contained in the semiconductor layer 7 as the pore volume, and is expressed as a percentage of the pore volume with respect to the total volume including the pores of the semiconductor layer 7. .
  • the adsorption / desorption isotherm was measured using a pore distribution measuring device “ASAP 210” (manufactured by Micrometritics), and from the BJH desorption pore distribution plot, the pore diameter was 1 Calculate by integrating the volume of each pore within the range of 7 to 300 nm.
  • the total volume of the layer 7 including the pores is the sum of the pore volume and the volume of the solid component of the semiconductor layer 7, and the volume of the solid component of the semiconductor layer 7 is the density of the solid component using a hydrometer. Can be measured and determined.
  • the porosity of the semiconductor layer 7 is smaller than 40%, the contact area between the semiconductor layer 7 and the electrolyte solution is reduced, and the photoelectric conversion characteristics are reduced.
  • the porosity of the semiconductor layer 7 exceeds 80%, the semiconductor layer 7 becomes brittle, and the adhesion to a flexible substrate deteriorates.
  • the type of press for applying pressure to form the semiconductor layer 7 is not particularly limited, such as a flat plate press or a roll press.However, a roll press is a roll-to-roll type when a conductive film is used as a base material. This is preferable because it can be produced continuously.
  • release material when applying pressure to the semiconductor layer 7, it is preferable to sandwich a release material between the press and the semiconductor layer 7. Thereby, the case where the semiconductor layer 7 adheres to the press and peels off from the electrode 5 is eliminated.
  • the release materials used are polytetrafluoroethylene (PTF E), polychlorinated ethylene trifluoride (PCTFE), tetrafluoroethylene titanium hexafluoropropylene copolymer (FEP), and perfluoroalkoxy fluoride.
  • PVDF polyvinylidene fluoride
  • EDF E ethylene tetrafluoride ethylene copolymer
  • ECTFE ethylene black ethylene trifluoride copolymer
  • PVF polyvinyl fluoride
  • the present inventors confirmed with a scanning electron microscope that when titanium oxide particles were used as the semiconductor particles contained in the semiconductor layer 7, the particle size of the titanium oxide particles increased when pressure was applied to the semiconductor layer 7. are doing.
  • the increase in the particle size of the titanium oxide particles was due to the half width of the diffraction intensity peak attributed to the (101) plane of the anatase crystal structure of titanium oxide measured by X-ray diffraction analysis. It was found to correlate with the decrease. That is, when pressure is applied to the titanium oxide particles, adjacent titanium oxide particles are combined. It is speculated that the crystal growth proceeds and the particle size of the titanium oxide particles increases.
  • the half-value width of the diffraction intensity peak attributed to the (101) plane of the anatase crystal structure of titanium oxide was determined using an X-ray diffraction analyzer "RINT 250 V / PC" (manufactured by Rigaku Corporation). It can be determined by measuring the X-ray diffraction profile of the semiconductor layer 7 containing titanium oxide.
  • the reduction rate of the half-width in the present invention is a numerical value expressed as a percentage of the reduction in the half-width of the semiconductor layer 7 containing titanium oxide after pressing with respect to the half-width of the semiconductor layer 7 containing titanium oxide before pressing. It is.
  • glass or a film is used as the material of the substrate 3, but it is preferable to use a flexible film as the base material because pressure can be easily applied to the semiconductor layer 7. Further, since the substrate 3 functions as a light incident substrate, the film is preferably transparent.
  • Transparent films include regenerated cellulose film, diacetate cellulose film, triacetate cellulose film, tetraacetyl cellulose film, polyethylene film, polypropylene film, polyvinyl chloride film, polyvinylidene chloride film, polyvinyl alcohol film, Polyethylene terephthalate film, Polycarbonate film, Polyethylene naphthalate film, Polyethersulfone film, Polyetheretherketone film, Polysulfone film, Polyetherimide film, Polyimide film, Polyarylate film, Cyclone Refin polymer film, norpolene resin film, polystyrene film, rubber hydrochloride film, nylon film Lum, Poria Kurire one Tofuirumu, polyvinyl fluoride film, and the like poly tetrafluoroethylene modified Chile emission film.
  • polyethylene terephthalate Films polyethylene naphthalate films, polyethersulfone films, polyimide films, polyarylate films, cycloolefin polymer films, and norpolene resin films are preferred because of their toughness and excellent heat resistance.
  • a metal foil such as nickel, zinc, and titanium can be used as the film of the substrate 3.
  • the particle size of the semiconductor particles is preferably in the range of 5 to 100 nm. Within this range, the pore size of the semiconductor layer 7 becomes an appropriate pore size, and the electrolyte sufficiently penetrates into the semiconductor layer 7 so that excellent photoelectric conversion characteristics can be obtained.
  • a particularly preferred particle size range of the semiconductor particles is 10 to: L00 nm.
  • the thickness of the semiconductor layer 7 is preferably in the range of 0.1 to 100 xm. Within this range, a sufficient photoelectric conversion effect can be obtained, and the transparency to visible light and near-infrared light does not deteriorate.
  • a more preferred range of the film thickness of the semiconductor layer 7 is 1 to 50 m, a particularly preferred range is 5 to 30 m, and a most preferred range is 10 to 20 m.
  • the semiconductor layer 7 is formed by applying a solution containing semiconductor particles and a binder by, for example, a coating method using a doctor blade or a barco, a spray method, a dip coating method, a screen printing method, a spin coating method, or the like.
  • the semiconductor layer 7 can be formed by applying the solution on the surface of the electrode 5 and then applying pressure by the press.
  • Semiconductor materials include cd, Zn, In, Pb, Mo, W, Sb, Bi, Cu, Hg, Ti, Ag, Mn, Fe, V, Sn, Zr, Sr , G a, S i, oxides of metal elements such as C r, S r T i ⁇ 3, C a T i O 3 Bae such Ropusukai bets, or C d S, Z n S, I n 2 S 3 P b S, M o 2 S, WS 2, S b 2 S 3, B i 2 S 3, Z n C d S 2, sulfides such as C u 2 S, C d S e, I n 2 S e 3, WS e 2 , Hg S, P b S e , C dT e like metal chalcogenide de, other G a a s S i, S e, C d 2 P 3, Z n 2 P 3, I n P, a g B r
  • C d S / C d S e C d y Z n! _ y S such as C d S ZH g S ZC d S is Can be Among them, T I_ ⁇ 2, in Gurettsueru cell, preferred in terms of avoiding a high photoelectric conversion ⁇ of photodissolution the electrolytic solution.
  • the same material as the substrate 3 can be used for the substrate 11.
  • the transmissivity of the substrate 11 may be either transparent or opaque, but is preferably transparent because light can be incident from both substrates.
  • the substrate 11 is preferably made of the above-mentioned translucent material.
  • the electrode 5 formed on one surface of the substrate 3 functions as a negative electrode of the photoelectric conversion element 1 and is formed of metal itself or formed by laminating a conductive agent layer on a film.
  • Preferred conductive agents are metals, for example, platinum, gold, silver, copper, aluminum, rhodium, indium, etc., or carbon or conductive metal oxides, for example, doped with indium-tin-tin composite oxide, antimony. Tin oxide, fluorine-doped tin oxide, and the like.
  • the preferred range of the surface resistance is 50 ⁇ / square or less, and more preferably 30 ⁇ square or less. It is. There is no particular lower limit, but it is usually 0.1 ⁇ square.
  • the preferable range of the light transmittance is 50% or more, and more preferably 80% or more.
  • the thickness of the electrode 5 is preferably in the range of 0.1 to 10 m. Within this range, an electrode film having a uniform thickness can be formed, and sufficient light can be incident on the semiconductor layer 7 without reducing the light transmittance.
  • a transparent electrode 5 it is preferable that light be incident from the electrode 5 on the side on which the semiconductor layer 7 carrying the sensitizing dye is applied.
  • the counter electrode 9 functions as a positive electrode of the photoelectric conversion element 1, and can be formed in the same manner as the electrode 5 on the side on which the semiconductor layer 7 supporting the sensitizing dye is attached.
  • a material having a catalytic action of giving electrons to a reduced form of the electrolyte in order to efficiently act as a positive electrode of the photoelectric conversion element 1.
  • Such materials include, for example, metals such as platinum, gold, silver, copper, aluminum, rhodium, and indium, or graphite, carbon carrying platinum, or an oxide tin composite oxide, or an oxide doped with antimony.
  • the substrate 11 on which the counter electrode 9 is provided may have a transparent conductive film (not shown) on the surface on which the counter electrode 9 is to be attached.
  • This transparent conductive film can be formed, for example, from the same material as the electrode 5 described above.
  • the counter electrode 9 is also preferably transparent.
  • any dye commonly used in conventional dye-sensitized photoelectric conversion elements can be used.
  • Such dyes include, for example, RuL 2 (H 20 ) 2 type ruthenium-cis diaqua bipyridyl complex or ruthenium mutris (RuL 3 ), ruthenium-bis (RuL 2 ), osmium Transition of tris ( ⁇ s L 3 ) and osmium (bis L 2 ) types Transfer metal complexes (wherein L represents 4,4'-dicarpoxyl-2,2'-bipyridine), or zinc-tetra (4-caproloxyphenyl) porphyrin, iron-hexocyanide complex, phthalocyanine, etc. .
  • Organic dyes include 9-phenylxanthene dyes, coumarin dyes, acridine dyes, triphenylmethane dyes, tetraphenylmethane dyes, quinone dyes, azo dyes, indigo dyes, cyanine dyes, Examples include merocyanine dyes and xanthene dyes.
  • a ruthenium-bis (Ru L 2 ) derivative is particularly preferable because it has a broad absorption spectrum in a visible light region.
  • the method of supporting the sensitizing dye on the semiconductor layer 7 includes, for example, a method of immersing the substrate 3 provided with the electrode 5 on which the semiconductor layer 7 is applied in a solution in which the sensitizing dye is dissolved.
  • a solvent for this solution any solvent can be used as long as it can dissolve the sensitizing dye such as water, alcohol, toluene and dimethylformamide.
  • the immersion method when the substrate 3 provided with the electrode 5 on which the semiconductor layer 7 is applied is immersed in the sensitizing dye solution for a certain period of time, heat reflux or application of ultrasonic waves is performed. Can also. After the dye is loaded on the semiconductor layer 7, it is preferable to wash with alcohol or heat and reflux to remove the sensitizing dye remaining on the semiconductor layer 7 without being loaded.
  • the supported amount of the sensitizing dye to the semiconductor particles may be within the range of 1x1 0- 8 ⁇ lxl 0 one 6 mo 1 / cm 2, in particular 0. 1 x1 0- 7 ⁇ 9. Ox 1 0- 7 mo 1 / cm 2 is preferred. This is because within this range, the effect of improving the photoelectric conversion efficiency can be obtained economically and sufficiently.
  • the electrolyte used in the electrolyte layer 13 in the photoelectric conversion element 1 of the present embodiment is not particularly limited as long as a pair of redox-based constituent substances composed of an oxidant and a reductant is contained in a solvent.
  • An oxidation-reduction constituent material in which the oxidized form and the reduced form have the same charge is preferable.
  • Redox constituents in the present invention Quality means a pair of substances that are reversibly present in an oxidized and reduced form in a redox reaction.
  • Examples of the oxidation-reduction constituent materials that can be used in the present embodiment include: chlorine compound monochlorine, iodine compound monoiodine, bromine compound—bromine, thallium ion (III) —thallium ion (0, mercury ion ( ⁇ ) —mercury silver ion (1), ruthenium ion (III) -ruthenium ion (11), copper ion (II), copper ion (1), iron ion (III)-iron ion (11), vanadium ion (III)-vanadium Ion (11), manganate ion-permanganate ion, ferricyanide-ferrocyanide, quinone monohydroquinone, fumaric acid-succinic acid, etc.
  • Iodine compounds are preferably iodine, and the iodine compounds are lithium iodide, metal iodides such as lithium iodide, and tetraalkylammonium compounds.
  • Disilazide, ® ⁇ of quaternary Anmoniumu salt compounds such pyridinylbenzoyloxy ⁇ Muyo over disilazide, iodide Imidazoriumu compounds such as iodide dimethylpropylimidazolium Riu beam is particularly preferred.
  • the solvent used for dissolving the electrolyte is preferably a compound that dissolves a redox constituent material and has excellent ion conductivity.
  • the solvent any of an aqueous solvent and an organic solvent can be used, but an organic solvent is preferable in order to further stabilize the oxidation-reduction-type constituent material.
  • Ether compounds such as getyl ether, 1,2-dimethoxyethane, 1,3-dioxosilane, tetrahydrofuran, and 2-methyltetrahydrofuran; heterocyclic compounds such as 3-methyl-2-oxazodilinone and 2-methylpyrrolidone; acetonitrile; Ditolyl compounds such as methoxyacetonitrile and propionitrile, sulfolane, didimethylsulfoxide, Aprotic polar compounds such as methylformamide; Each of these can be used alone, or two or more can be used in combination.
  • carbonate compounds such as ethylene carbonate and propylene carbonate
  • heterocyclic compounds such as 3-methyl-2-oxazolidinone and 2-methylpyrrolidone
  • acetonitrile methoxyacetonitrile
  • propionitrile propionitrile
  • 3-methoxypropionitrile ditolyl compounds
  • CMC carboxymethylcellulose
  • This dispersion was applied to a polyethylene terephthalate (PET) film coated with indium-tin composite oxide (ITO) manufactured by Oji Tobi (thickness: 125 m, sheet resistance: 10 ⁇ square). I I ⁇ film), and coated with a brush, dried with warm air to form a titanium oxide film on the film.
  • the pressure shown in Table 1 was applied to the titanium oxide film with a press to form a titanium oxide film having a thickness of 8.
  • a Nitto Denko fluorinated resin processed sheet "Nitoflon” was sandwiched between the press and the titanium oxide film. This is to improve the releasability between the pressing machine and the titanium oxide film and to prevent the titanium oxide film from peeling off from the ITO PET film.
  • the pore volume of the obtained titanium oxide film was measured using the pore distribution analyzer "ASAP 2
  • the adsorption / desorption isotherm was measured with 0 10 "(Micromic ritics), and from the BJH desorption pore distribution plot, each pore whose pore diameter was in the range of 1.7 to 300 nm was obtained.
  • the density of the solid component of the obtained titanium oxide film was measured with a hydrometer to determine the volume of the solid component.
  • the porosity of the obtained titanium oxide film was calculated from the volume of the solid component, and the porosity of the obtained titanium oxide film was 64% at a pressure of 20 MPa and at a pressure of 100 MPa. It was 40% at a pressure of 48% and a pressure of 20 OMPa.
  • the IT ⁇ / PET film provided with this titanium oxide film was sensitized with [Ru (4,4 'dicarboxyl-2,2'-bipyridine) 2 (NCS) 2 ] bis-tetrabutylammonium.
  • the semiconductor electrode thus obtained and the counter electrode were brought into contact with an electrolyte solution to form a photoelectric conversion element.
  • an ITOZPET film manufactured by Oji Tobi Co. on which platinum was deposited to a thickness of 20 nm, was used as a counter electrode.
  • a “Byne 1” sheet (thickness: 30 m) manufactured by DuPont which is a hot melt resin, was attached as a spacer around the titanium oxide film. This "By ne 1" sheet also functions as a sealing material for the electrolyte solution.
  • a polybutylene terephthalate is placed between the titanium oxide film and the counter electrode. Evening rate (PBT) nonwoven fabric is sandwiched.
  • PBT Evening rate
  • electrolyte solution 0. 5 mo 1 and lithium iodide Zdm 3 0. 0 5mo l Zdm 3 of iodine, a 0.5 3-methoxamine Shipuropio nitrile containing 4 one tert- heptyl pyridine mo 1 ZDM 3 Using. Conversion efficiency of the photoelectric conversion device of this embodiment, pseudo-sunlight (AM I. 5, 1 OmW / cm 2) was measured by irradiating the sample cell (light receiving area 0. 64 cm 2). Table 1 shows the results.
  • a binder solution was prepared by dissolving ethyl cellulose "N300” manufactured by Honeycules in ethanol at the ratio shown in Table 2. 6 g of titanium oxide "P25” manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd. was added to 24 g of the binder solution, and the mixture was passed through a planetary pole mill to prepare a dispersion of titanium oxide. The content of titanium oxide in the dispersion was adjusted to be 20% by mass. This dispersion was applied to a polyethylene naphthalate (PEN) film (thickness: 125 mm2) coated with indium-tin-tin oxide (ITO) manufactured by Oji Tobi.
  • PEN polyethylene naphthalate
  • ITO indium-tin-tin oxide
  • the ratio of ethyl cellulose is the ratio of the mass of ethyl cellulose to the mass of the entire pinda solution
  • the binder addition ratio is the ratio of the mass of ethyl cellulose to the mass of the entire titanium oxide film. is there.
  • the presence or absence of film peeling was determined by pressing the titanium oxide film and then coating the titanium oxide film on the I TOZP EN film with 99% or more of the applied area (0.64 cm 2 ) (0.6% in area). (3 cm 2 or more) When there was, it was evaluated as “absent”, and when it was less than that, it was evaluated as “present”.
  • CMC carboxymethylcellulose
  • SBR polystyrene butadiene rubber
  • This dispersion is applied to Oto Tobi's I TOZPEN film (thickness: 125 im, sheet resistance: 10 ⁇ / square) with a brush, dried with warm air, and dried on a titanium oxide film.
  • a pressure of 100 MPa was applied by a press machine to form a titanium oxide film having a length of 20 mm, a width of 20 mm, and a thickness of 12 m.
  • the press surface of the press was coated with a fluororesin to improve the releasability between the titanium oxide film and the press surface.
  • the porosity of the obtained titanium oxide film was measured by the method described in Example 1, and was 48% when the SBR addition ratio was 0% by mass and 42% when the 381 addition ratio was 1.0%.
  • a cellophane tape having a width of 12 mm was attached to the titanium oxide film thus obtained, and a peeling test (90 ° peeling test) was performed in which the cellophane tape was pulled at an angle of 90 ° with respect to the adhered surface.
  • a peeling test 90 ° peeling test
  • the SBR addition ratio is the ratio of the mass of SBR to the total mass of the titanium oxide dispersion
  • the binder addition ratio is the ratio of ethyl cellulose and SBR to the total mass of the titanium oxide film. It is the ratio of the total mass.
  • This dispersion is applied to Oji Tobi's I TO PEN film (thickness: 125 m, sheet resistance: 10 ⁇ / square).
  • the film was coated with a brush and dried with warm air to form a titanium oxide film on the film.
  • the titanium oxide film on the ITO / PEN film was left in a drier set at 60 for 20 hours, and the polyvinyl butyral in the titanium oxide film was crosslinked with isocyanate.
  • a pressure of 100 MPa was applied to the titanium oxide film with a press machine to form a 15 / m-thick titanium oxide film.
  • the press surface of the press was coated with a fluororesin to improve the releasability between the titanium oxide film and the press surface.
  • the porosity of the obtained titanium oxide film was measured by the method described in Example 1, and was 58%.
  • the titanium oxide film thus obtained was subjected to a procedure similar to that of Example 3 to 90. A peel test was performed. The obtained titanium oxide film did not undergo interface destruction from the ITO / PEN film and did not undergo cohesive failure.
  • An ethanol solution was prepared by dissolving 0.5% by mass of ethyl cellulose "N300" manufactured by Honeycules. To 24 g of this ethanol solution was added 6 g of titanium oxide "P25” manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd., and the mixture was passed through a planetary pole mill to prepare a dispersion of titanium oxide. The content of titanium oxide in the dispersion was 20% by mass, and the content of ethyl cellulose was 2% by mass. This dispersion was applied to Oto Tobi's I TOZP EN film (thickness: 125 xm, sheet resistance: 10 ⁇ / square) by a brush, dried with warm air, and dried on a titanium oxide film. Was formed.
  • the pressure shown in Table 4 was applied to the titanium oxide film using a press to form a titanium oxide film.
  • the press surface of the press was coated with a fluororesin to improve the releasability between the titanium oxide film and the press surface.
  • the porosity of the obtained titanium oxide film was measured by the method described in Example 1, and the results are shown in Table 4.
  • the semiconductor electrode manufactured in this manner was assembled into a photoelectric conversion element in the same manner as in Example 1, and simulated sunlight (AM 1.5, 1 OmW / cm 2 ) was applied.
  • the sample was irradiated with a sample cell (light receiving area: 0.64 cm 2 ), and the conversion efficiency was measured. Table 4 shows the results.
  • a titanium oxide film was formed on an ITO / PEN film (thickness: 125 m, sheet resistance: 10 ⁇ / square) manufactured by Oji Tobi Co., Ltd.
  • a titanium oxide film was formed by applying the pressure shown in Table 5 to the titanium oxide film using a press.
  • the press surface of the press machine was coated with a fluororesin to improve the releasability between the titanium oxide film and the press surface.
  • the X-ray diffraction profile of the obtained titanium oxide film was measured with an X-ray diffraction analyzer "RINT 2500 V / PC" (manufactured by Rigaku Corporation).

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Hybrid Cells (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

増感色素を担持した半導体層(7)が被着された電極(5)を備え、その半導体層(7)が半導体粒子とバインダーとを含み、且つ、半導体層(7)の多孔度が40~80%の範囲内にある光電変換素子とし、また、半導体粒子とバインダーとを含む溶液を電極(5)に塗布し、乾燥した後に、20~200MPaの圧力でプレスすることにより、半導体層(7)を形成する光電変換素子の製造方法とする。これにより、高温で焼結させなくても光励起電子の伝達経路が確保でき、且つ基材の可撓性に対応できる密着力の強い半導体層を用いた、優れた光電変換特性を示す光電変換素子を提供できる。

Description

明 細 書 光電変換素子及びその製造方法 技術分野
本発明は、 色素増感太陽電池等に用いる光電変換素子に関する。 背景技術
グレッツエルらが 1 9 9 1年に雑誌 " N a t u r e " に報告した新し いタイプの色素増感太陽電池は、 従来の色素増感太陽電池に比べ、 飛躍 的に高い変換効率 (7 %台) を示して注目を浴びた。 色素増感太陽電池 は、 光を捕集した色素が生成する励起電子を半導体に注入させることに よって光電変換を実現している。 したがって、 光捕集力を高めるために 増感色素を半導体に多量に担持させること、 さらに増感色素からできる だけ早く半導体へ電子を注入させることが重要である。 グレッツエル · セルとも言われるこの新しい色素増感太陽電池は、 超微粒子の酸化チタ ンからなる多孔質膜に増感色素であるルテニウム錯体を担持させること で、 この課題を解決している。
このグレッツエル ·セルは、 酸化チタンの超微粒子を分散したペース トを透明電極に塗布し、 増感色素を担持させ、 対電極との間に電解質を 充填するだけで組み立てることができる。 従来の太陽電池と比べ、 簡便 な装置で製造可能であり、 次世代太陽電池の一つとして注目されている グレッツエル ·セルの大きな特徴は、 超微粒子の酸化チタンを焼結さ せた多孔質半導体膜を使用することである。 酸化チタンを焼結する目的 は、 半導体の超微粒子同士が結合しあい、 増感色素から注入された光励 起電子の伝達経路を確保することである。 通常、 この光励起電子の伝達 経路を確保するための酸化チタンの焼結温度は、 45 0〜 5 5 0 °Cの範 囲内にあり、 この温度範囲以下では半導体の超微粒子同士の結合が不十 分となる。 このことより、 多孔質酸化チタン膜を形成する透明電極の基 材としては、 この焼結温度より高い軟化温度を有する材料を選択しなけ れば事実上使用できないことになる。 しかし、 透光性を有する材料の多 くは、 酸化チタンの焼結温度より低い軟化温度であるため、 グレツツエ ル ·セルの電極基材として用いることが困難であるという問題がある。 また、 グレッツエル ·セルの基材にフィルムを使用すると、 例えば、 WO 9 7/1 5 9 5 9号公報に記載のロール · トウ · ロール連続生産方 式や W〇 9 9 / 66 5 1 9号公報に記載の大量生産に適した製造方法を 採用でき、 既存の太陽電池よりも安価に製造することができるため、 フ イルムタイプのグレッツエル ·セルは非常に広汎な用途に展開すること ができる。 しかし、 フィルムを基材に使用すると、 超微粒子から成る多 孔質酸化チタン膜はフィルムの可撓性に対応できずに、 亀裂や剥離が起 こりやすくなるという問題がある。 また、 WO 9 3 / 20 5 6 9号公報 では、 酸化チタンペーストの塗布時に塗布膜のクラックを軽減させる目 的でノニオンタイプの界面活性剤 "TR I TON X— 1 0 0" を酸化 チタンペーストに添加する方法が記載されているが、 "TR I TON X - 1 0 0 " を酸化チタンに対して 40質量%も添加しており、 酸化チ タン膜中の電子伝達を阻害するおそれがある。
更に、 WO 00/7 2 3 7 3号公報では、 酸化チタン膜に 1 0 0〜 1 0 0 0 k gZc m2の圧力をかけることで、 酸化チタンを焼結すること なく、 酸化チタン膜の機械的強度と電子伝達経路を確保している。 ここ では、 バインダーによる酸化チタン膜中の電子伝達の阻害を回避するた めに、 酸化チタン膜にバインダ一が含まれていないことが特徴である。 一方、 本発明者らは、 酸化チタン膜に大きな圧力を加えることで、 あ る程度の機械的強度のある酸化チタン膜を得ることができることを確認 したが、 得られた膜は基材との密着力が弱く、 酸化チタン膜が剥れ易い という問題があった。 発明の開示
本発明の光電変換素子は、 増感色素を担持した半導体層が被着された 第 1の電極と、 前記第 1の電極の前記半導体層と対峙する第 2の電極と 、 前記第 1の電極の前記半導体層と前記第 2の電極との間に配置された 電解質層とを備えた光電変換素子であって、 前記半導体層が半導体粒子 とバインダ一とを含み、 且つ、 前記半導体層の多孔度が 4 0〜 8 0 %の 範囲内にあることを特徴とする。
また、 本発明の光電変換素子の製造方法は、 増感色素を担持した半導 体層が被着された第 1の電極と、 前記第 1の電極の前記半導体層と対峙 する第 2の電極と、 前記第 1の電極の前記半導体層と前記第 2の電極と の間に配置された電解質層とを備えた光電変換素子の製造方法であって 、 半導体粒子とバインダーとを含む溶液を前記第 1の電極に塗布し、 乾 燥した後に、 2 0〜 2 0 0 M P aの圧力でプレスすることにより、 前記 半導体層を形成することを特徴とする。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の光電変換素子の一例を示す概要断面図である。 発明の実施の形態
本発明は前記従来の問題を解決できるものであり、 高温で焼結させな くても光励起電子の伝達経路が確保でき、 且つ基材の可撓性に対応でき る密着力の強い半導体層を用いた、 優れた光電変換特性を示す光電変換 素子及びその製造方法を提供するものである。 以下、 本発明の実施の形 態を説明する。
本発明の光電変換素子の一例は、 増感色素を担持した半導体層が被着 された第 1の電極と、 前記第 1の電極の前記半導体層と対峙する第 2の 電極と、 前記第 1の電極の前記半導体層と前記第 2の電極との間に配置 された電解質層とを備えた光電変換素子であって、 前記半導体層が半導 体粒子とバインダーとを含み、 且つ、 前記半導体層の多孔度が 4 0〜8 0 %の範囲内にある。
前記半導体層が半導体粒子とバインダーとを含んでいるため、 基材の 可撓性に対応できる密着力の強い半導体層を実現できる。 また、 前記半 導体層の多孔度が 4 0〜 8 0 %の範囲内にあることにより、 高温で焼結 させなくても光励起電子の伝達経路を確保でき、 変換効率を向上できる また、 本実施形態の光電変換素子は、 前記半導体層の中に含まれる前 記バインダ一の割合が前記半導体層を形成する全成分に対して 0 . 2〜 1 0質量%の範囲内にあることが好ましい。 この範囲内であれば変換効 率がより高くなるからである。
また、 本実施形態の光電変換素子は、 前記バインダーが、 セルロース 誘導体、 ゴム状弹性ポリマー、 N—ビニルァセトアミドの単独重合体又 は共重合体、 ポリエチレンォキシド、 アルギン酸ナトリウム、 ポリアク リル酸及びその塩、 ポリビエルフエノール、 ポリビエルメチルエーテル 、 ポリビニルアルコール、 ポリビニルピロリ ドン、 ポリアクリルアミド 、 ポリヒドロキシ (メタ) ァクリレート、 ポリビニルァセタール、 スチ レン—マレイン酸共重合体、 ポリエチレングリコール、 酸化スターチ、 リン酸化スターチ、 カゼィン及びポリオレフィンからなる群から選択さ れた少なくとも 1種類を含んでいることが好ましい。 これらは密着力が 強く、 且つ柔軟性に富んでいるため、 基材の可撓性により柔軟に対応で きる半導体層を実現できるからである。
また、 本実施形態の光電変換素子は、 前記第 1の電極が合成樹脂フィ ルムに電極部が被着されて構成されていることが好ましい。 電極の大量 生産が容易となり、 製造コストの低減を図ることができるからである。 また、 本実施形態の光電変換素子は、 前記合成樹脂フィルムがポリエ チレンテレフタレートフイルム、 ポリエチレンナフ夕レートフイルム、 ポリエ一テルサルフォンフィルム、 ポリアリレートフイルム、 ポリイミ ドフィルム、 シクロォレフインポリマ一フィルム及びノルポルネン樹脂 フィルムからなる群から選択された 1種類であることが好ましい。 これ らは特に強靭性と耐熱性に優れたフィルムだからである。
更に、 本発明の光電変換素子の製造方法の一例は、 増感色素を担持し た半導体層が被着された第 1の電極と、 前記第 1の電極の前記半導体層 と対峙する第 2の電極と、 前記第 1の電極の前記半導体層と前記第 2の 電極との間に配置された電解質層とを備えた光電変換素子の製造方法で あって、 前記半導体層は、 半導体粒子とバインダーとを含む溶液を前記 第 1の電極に塗布し、 乾燥した後に、 2 0〜 2 0 0 M P aの圧力でプレ スすることにより形成される。
前記半導体層が、 半導体粒子とバインダーとを含む溶液を前記第 1の 電極に塗布し、 乾燥した後に、 2 0〜 2 0 0 M P aの圧力でプレスする ことにより形成されるものであるため、 高温で焼結させなくても光励起 電子の伝達経路を確保でき、 且つ基材の可撓性に対応できる密着力の強 い半導体層を形成できる。
また、 本実施形態の光電変換素子の製造方法は、 前記半導体層の中に 含まれる前記半導体粒子の素材が酸化チタンであり、 且つ、 前記 2 0〜 2 0 0 M P aの圧力でプレスする前後における、 X線回折分析法で測定 した前記酸化チタンのアナタ一ゼ型結晶構造の (1 0 1 ) 面に帰属され る回折強度ピークの半値幅の減少率が 5〜 5 0 %の範囲内であることが 好ましい。 前記半導体層の中に含まれる半導体粒子の素材が酸化チタン であれば、 電解液中への光溶解の回避と高い光電変換特性が得られる。 更に、 前記半値幅の減少率の範囲内であれば、 酸化チタン粒子の結晶粒 径が増大して酸化チタン粒子同士が密着し合い、 前記半導体層内で光励 起電子の経路を形成でき、 且つ、 適切な多孔度を有する前記半導体層を 形成することができる。
また、 本実施形態の光電変換素子の製造方法は、 前記半導体層の中に 含まれる前記バインダ一の割合が前記半導体層を形成する全成分に対し て 0 . 2〜 1 0質量%の範囲内にあることが好ましい。 この範囲内であ れば変換効率がより高くなるからである。
また、 本実施形態の光電変換素子の製造方法は、 前記バインダーが、 セルロース誘導体、 ゴム状弹性ポリマー、 N—ビニルァセトアミドの単 独重合体又は共重合体、 ポリエチレンォキシド、 アルギン酸ナトリウム 、 ポリアクリル酸及びその塩、 ポリビニルフエノール、 ポリビニルメチ ルエーテル、 ポリビニルアルコール、 ポリビニルピロリ ドン、 ポリアク リルアミド、 ポリヒドロキシ (メタ) ァクリレート、 ポリビエルァセタ ール、 スチレン一マレイン酸共重合体、 ポリエチレングリコ一ル、 酸化 スターチ、 リン酸化スターチ、 カゼイン及びポリオレフインからなる群 から選択された少なくとも 1種類を含んでいることが好ましい。 これら は密着力が強く、 且つ柔軟性に富んでいるため、 基材の可撓性により柔 軟に対応できる半導体層を作製できるからである。
また、 本実施形態の光電変換素子の製造方法は、 前記第 1の電極が合 成樹脂フィルムに電極部が被着されて構成されていることが好ましい。 電極の大量生産が容易となり、 製造コストの低減を図ることができるか らである。
また、 本実施形態の光電変換素子の製造方法は、 前記合成樹脂フィル ムが、 ポリエチレンテレフタレートフィルム、 ポリエチレンナフタレ一 1、フィルム、 ポリエ一テルサルフォンフィルム、 ポリアリレートフィル ム、 ポリイミ ドフィルム、 シクロォレフインポリマ一フィルム及びノル ポルネン樹脂フィルムからなる群から選択された 1種類であることが好 ましい。 これらは特に強靭性と耐熱性に優れたフィルムだからである。 次に、 本発明の実施の形態について図面に基づき説明する。 図 1は本 発明の光電変換素子の一例を示す概要断面図である。 図示されているよ うに、 本実施形態の光電変換素子 1は、 基板 3の一方の表面に形成され た電極 5 (第 1の電極) を有する。 この電極 5の一方の表面には増感色 素が担持された半導体層 7が形成されている。 更に、 この増感色素が担 持された半導体層 7に対峙して対電極 9 (第 2の電極) が存在する。 対 電極 9は別の基板 1 1の一方の表面に形成されている。 半導体層 7と対 電極 9との間には電解質層 1 3が存在する。
本発明者らは、 前記従来の問題を解決するために鋭意努力した結果、 半導体層 7を半導体粒子とバインダ一とで構成することにより、 高温で 焼結させなくても光励起電子の伝達経路が確保でき、 且つ基材の可撓性 に対応できる密着力の強い半導体層を用いた、 優れた光電変換特性を示 す光電変換素子を実現できることを見出した。 本発明におけるバインダ —の添加による効果 (バインダー効果) とは、 半導体層 7に生じる亀裂 を軽減させる効果であり、 また、 半導体層 7と可撓性の基材との密着力 を向上させる効果である。 従来の知見では、 不純物による電子伝達の阻 害を防止するために、 半導体層の中には半導体以外の不純物が存在しな い方が良いとされていた。 従って、 前記 W O 9 3 / 2 0 5 6 9号公報に 記載のように、 酸化チタンに対して 4 0質量%もの界面活性剤を添加す ることは、 酸化チタン膜のクラックを軽減することはできるものの、 十 分な光電流出力特性を得るには逆効果であった。 また、 前記 W O O 0 / 7 2 3 7 3号公報に記載のように、 酸化チタンにバインダーを添加しな くても、 大きな圧力をかけることで、 酸化チタン膜の機械的強度をある 程度強くできるものの、 基材の可撓性に対応できるほどの密着力を得る ことは難しかった。 そこで、 本発明者らは、 少量の添加で十分なバイン ダ一効果が得られるバインダ一を選択し、 バインダーを添加した半導体 層 7に圧力を加えることで、 焼結が不要で且つ基材との密着性に優れた 、 多孔質な半導体層 7を形成できることを見出し、 従来の知見で懸念さ れていた問題を解決することができた。
このような少量の添加で十分なバインダー効果が得られるバインダー としては前述のとおり、 例えば、 セルロース誘導体、 ゴム状弾性ポリマ ―、 N—ビニルァセトアミドの単独重合体又は共重合体、 ポリエチレン ォキシド、 アルギン酸ナトリウム、 ポリアクリル酸及びその塩、 ポリビ ニルフエノール、 ポリビニルメチルエーテル、 ポリビニルアルコール、 ポリビニルピロリ ドン、 ポリアクリルアミド、 ポリヒドロキシ (メタ) ァクリレート、 ポリビニルァセタール、 スチレン一マレイン酸共重合体 、 ポリエチレングリコ一ル、 酸化スターチ、 リン酸化スターチ、 カゼィ ン、 ポリオレフインなどを、 単独又は混合して使用できる。
この中でセルロース誘導体は、 同一分子量で他のバインダ一と比較し た場合、 少量で半導体粒子同士を結着させることができるので、 より好 ましい。 セルロース誘導体としては、 例えば、 セルロース、 メチルセル ロース、 ェチルセルロース、 ヒドロキシプロピルセルロース、 ヒドロキ シプロピルメチルセルロース、 ヒドロキシェチルセルロース、 ヒドロキ シェチルメチルセルロース、 カルポキシメチルセルロース、 ジァセチル セルロースなどがある。 ここで、 セルロース誘導体は、 ナトリウム塩や アンモニゥム塩などの形態のものであってもよい。
また、 ゴム状弾性ポリマーは、 基材の可撓性により半導体層 7に生じ るひずみを緩和して基材と半導体層 7との密着力を高めることができる ので、 より好ましい。 ゴム状弾性ポリマーとしては、 例えば、 天然ゴム 、 イソプレンゴム、 ブタジエンゴム、 ブチルゴム、 シリコンゴム、 フッ 素ゴム、 ポリスチレンゴム、 二トリルゴム、 ポリスチレンブタジエンゴ ム、 クロロプレンゴム、 ウレタンゴム、 ポリスチレンエチレンゴム、 ェ チレンプロピレンジェンメチレン共重合体、 ポリアセ夕一ル、 ポリウレ タンゴムなどがある。 ここで、 ゴム状弾性ポリマーは、 力ルポキシル基 、 アルコキシカルポニル基などの極性基を含有しているものであっても よい。
また、 前記バインダ一の中で、 当業者にとって公知である架橋剤と反 応させて熱硬化性、 溶剤不溶性の樹脂となるものは、 半導体層 7に電解 質層 1 3の成分である有機溶剤に対する耐性を付与することができるの で、 より好ましい。 例えば、 ポリビニルァセタールは、 フエノール樹脂 やエポキシ樹脂、 メラミン樹脂、 イソシァネート、 ジアルデヒドなどと 架橋反応させることで、 熱硬化性、 溶剤不溶性の樹脂として使用するこ とができる。
半導体層 7の多孔度は、 4 0〜 8 0 %の範囲内にあることが必要であ る。 本発明における多孔度とは、 半導体層 7に含まれる細孔の全容積を 細孔容積と定義し、 半導体層 7の細孔を含めての全容積に対する細孔容 積の百分率で表される。 細孔容積を求めるには、 細孔分布測定装置 " A S A P 2 0 1 0 " (M i c r o m e r i t i c s社製) にて吸着 ·脱着 等温線を測定し、 B J H脱着細孔分布プロットから、 細孔直径が 1 . 7 〜 3 0 0 n mの範囲内にある各細孔の容積を積算して算出する。 半導体 層 7の細孔を含めての全容積は、 細孔容積と半導体層 7の固形成分の容 積との和であり、 半導体層 7の固形成分の容積は、 比重計にて固形成分 の密度を測定して求めることができる。 半導体層 7の多孔度が 40 %よ り小さいと、 半導体層 7と電解質溶液との接触面積が小さくなり、 光電 変換特性が低下する。 また、 半導体層 7の多孔度が 80 %を超えると、 半導体層 7は脆くなり、 可撓性のある基板との密着性が悪くなる。
半導体層 7を形成するために圧力を加えるプレスの種類については、 平板プレス、 ロールプレスなど特に限定されるものではないが、 ロール プレスは導電フィルムを基材にした場合、 ロール ' トウ · ロールで連続 生産することができるので好ましい。
また、 半導体層 7に圧力を加えるときに、 プレス機と半導体層 7との 間に離型材を挾むことが好ましい。 これにより、 半導体層 7がプレス機 に付着して電極 5から剥れてしまう場合がなくなる。 離型材の材質とし て、 ポリ四フッ化工チレン (PTF E) 、 ポリクロ口三フッ化工チレン (P CTFE) 、 四フッ化工チレン六フッ化プロピレン共重合体 (FE P) 、 ペルフルォロアルコキシフッ化樹脂 (P FA) 、 ポリフッ化ビニ リデン (PVDF) 、 エチレン四フッ化工チレン共重合体 (ETF E) 、 エチレンクロ口三フッ化工チレン共重合体 (ECTFE) 、 ポリフッ 化ビニル (PVF) などのフッ素樹脂が好ましい。
本発明者らは、 半導体層 7に含まれる半導体粒子として酸化チタン粒 子を用いた場合、 半導体層 7に圧力を加えると、 酸化チタン粒子の粒径 が増大する現象を走査型電子顕微鏡により確認している。 これについて 鋭意検討した結果、 酸化チタン粒子の粒径の増大は、 X線回折分析法で 測定した酸化チタンのアナターゼ型結晶構造の ( 1 0 1) 面に帰属され る回折強度ピークの半値幅の減少と相関することを見出した。 すなわち 、 酸化チタン粒子に圧力を加えると、 隣接する酸化チタン粒子が結合し 合い、 結晶成長が進行して酸化チタン粒子の粒径が増大すると推察され る。 本知見は、 半導体層 7に 2 0〜 2 0 0 M P aの圧力を加えると、 高 温で焼結させなくても光励起電子の伝達経路を確保できることを裏付け る根拠となる。 酸化チタンのアナターゼ型結晶構造の (1 0 1 ) 面に帰 属される回折強度ピークの半値幅は、 X線回折分析装置 " R I N T 2 5 0 0 V / P C " (理学電機社製) を用いて酸化チタンを含む半導体層 7 の X線回折プロファイルの測定から求めることができる。 本発明におけ る半値幅の減少率とは、 プレス前の酸化チタンを含む半導体層 7の半値 幅に対する、 プレス後の酸化チタンを含む半導体層 7の半値幅の減少量 を百分率で表した数値である。
本実施形態において、 基板 3の材質としてはガラスやフィルムが使用 されるが、 可撓性のあるフィルムを基材にした方が、 半導体層 7に圧力 をかけやすいので、 好ましい。 また、 基板 3は光入射基板として機能す るので、 フィルムは透明であることが好ましい。 透明なフィルムとして は、 再生セルロースフィルム、 ジアセテートセル口一スフイルム、 トリ ァセテ一トセルロースフィルム、 テトラァセチルセルロースフィルム、 ポリエチレンフィルム、 ポリプロピレンフィルム、 ポリ塩化ビニルフィ ルム、 ポリ塩化ビニリデンフィルム、 ポリビニルアルコールフィルム、 ポリエチレンテレフタレ一トフイルム、 ポリ力一ポネートフィルム、 ポ リエチレンナフタレートフイルム、 ポリエーテルサルフォンフィルム、 ポリエーテルエ一テルケトンフィルム、 ポリスルフォンフィルム、 ポリ エーテルイミドフィルム、 ポリイミドフィルム、 ポリアリレートフィル ム、 シクロォレフインポリマ一フィルム、 ノルポルネン樹脂フィルム、 ポリスチレンフィルム、 塩酸ゴムフィルム、 ナイロンフィルム、 ポリア クリレ一トフイルム、 ポリフッ化ビニルフィルム、 ポリ四フッ化工チレ ンフィルムなどがある。 この中で、 特にポリエチレンテレフタレートフ イルムやポリエチレンナフタレートフィルム、 ポリエーテルサルフォン フィルム、 ポリイミドフィルム、 ポリアリレートフイルム、 シクロォレ フィンポリマ一フィルム、 ノルポルネン樹脂フィルムは、 強靭性で且つ 耐熱性に優れていて好ましい。 また、 基板 1 1を光入射基板として機能 させるのであれば、 基板 3のフィルムとしてニッケル、 亜鉛、 チタンな どの金属箔を使用することができる。
半導体粒子の粒径は、 一般的に 5〜 1 00 0 nmの範囲内であること が好ましい。 この範囲内であれば、 半導体層 7の細孔径が適切な孔径に なり、 電解質が半導体層 7の中に十分浸透して、 優れた光電変換特性を 得ることができるからである。 特に好ましい半導体粒子の粒径の範囲は 、 1 0〜: L 00 nmである。
半導体層 7の膜厚は、 0. 1〜 1 00 xmの範囲内であることが好ま しい。 この範囲内であれば、 十分な光電変換効果が得られ、 また、 可視 光及び近赤外光に対する透過性が悪化することもないからである。 半導 体層 7の膜厚の一層好ましい範囲は、 1〜 5 0 mであり、 特に好まし い範囲は 5〜 3 0 mであり、 最も好ましい範囲は 1 0〜 20 mであ る。
半導体層 7は、 半導体粒子とバインダ一とを含む溶液を、 例えば、 ド クタ一ブレードやバーコ一夕などを使う塗布方法、 スプレー法、 デイツ プコーティング法、 スクリーン印刷法、 スピンコート法などにより、 電 極 5の表面に塗布し、 その後、 前記プレス機で圧力を加えて半導体層 7 を形成することができる。
半導体材料としては、 cd、 Z n、 I n、 P b、 Mo、 W、 S b、 B i、 Cu、 Hg、 T i、 Ag、 Mn、 F e、 V、 S n、 Z r、 S r、 G a、 S i、 C rなどの金属元素の酸化物、 S r T i 〇3、 C a T i O 3 などのぺロプスカイ ト、 又は C d S、 Z n S、 I n 2 S 3 P b S、 M o 2S、 WS 2、 S b 2 S 3、 B i 2S 3、 Z n C d S 2、 C u 2 Sなどの硫 化物、 C d S e、 I n 2 S e 3、 WS e 2、 Hg S、 P b S e、 C dT e などの金属カルコゲナイ ド、 その他 G a A s S i、 S e、 C d 2 P 3 、 Z n 2 P 3、 I n P、 A g B r、 P b l 2、 H g l 2、 B i l 3など、 又は前記半導体材料から選ばれる少なくとも一種以上を含む複合体、 例 えば、 C d SZT i 02、 C d S/Ag I、 A g 2 S/A g I、 C d S /Z n O, C d S /H g S、 C d S/P b S Z nOZZ n S、 Z n〇 /Z n S e、 C d S/H g S、 C d S x / C d S e x _ x , C d S X/T e !_x, C d S e x / T e ! _ x Z n S/C d S e , Z n S e/C d S e、 C d S/Z n S、 T i〇2ZC d 3 P 2、 C d S/C d S e C dyZ n !_y S , C d S ZH g S ZC d Sなどが挙げられる。 中でも T i〇2 が、 グレッツエル ·セルでは、 電解液中への光溶解の回避と高い光電変 換特性の点で好ましい。
基板 1 1は、 基板 3と同じ材料を使用することができる。 基板 1 1の 透光性は透明、 不透明のいずれでもよいが、 両側の基板から光を入射さ せることができる点で、 透明であることが好ましい。 基板 3のフィルム として金属箔を使用した場合は、 基板 1 1は前記記載の透光性のある材 料を使用することが好ましい。
基板 3の一方の面に成膜される電極 5は、 光電変換素子 1の負極とし て機能し、 金属そのもので形成されるか、 又はフィルム上に導電剤層を 積層して形成される。 好ましい導電剤としては金属、 例えば、 白金、 金 、 銀、 銅、 アルミニウム、 ロジウム、 インジウム等、 又は炭素、 若しく は導電性の金属酸化物、 例えば、 インジウム一錫複合酸化物、 アンチモ ンをドープした酸化錫、 フッ素をドープした酸化錫等が挙げられる。 電極 5は、 表面抵抗が低い程よい。 好ましい表面抵抗の範囲としては 、 5 0 Ω/スクェア以下であり、 より好ましくは 3 0 ΩΖスクェア以下 である。 下限に特に制限はないが、 通常 0. 1 ΩΖスクェアである。
電極 5は、 光透過率が高い程よい。 好ましい光透過率の範囲としては 、 50 %以上であり、 より好ましくは 8 0 %以上である。 電極 5の膜厚 は、 0. 1〜 1 0 mの範囲内にあることが好ましい。 この範囲内であ れば、 均一な膜厚の電極膜を形成することができ、 また、 光透過性が低 下せず、 十分な光を半導体層 7に入射させることができるからである。 透明な電極 5を使用する場合、 光は増感色素が担持された半導体層 7が 被着される側の電極 5から入射させることが好ましい。
対電極 9は光電変換素子 1の正極として機能し、 前記増感色素が担持 された半導体層 7が被着される側の電極 5と同様に形成できる。 本実施 形態における光電変換素子 1の対電極 9としては、 光電変換素子 1の正 極として効率よく作用するために、 電解質の還元体に電子を与える触媒 作用を有する素材を使用することが好ましい。 このような素材は、 例え ば、 白金、 金、 銀、 銅、 アルミニウム、 ロジウム、 インジウム等の金属 、 又はグラフアイト、 白金を担持したカーボン、 若しくはィンジゥムー 錫複合酸化物、 アンチモンをド一プした酸化錫、 フッ素をド一プした酸 化錫等の導電性の金属酸化物などである。 これらのうち、 白金やグラフ アイトなどが特に好ましい。 対電極 9が配設される側の基板 1 1は、 対 電極 9の被着面側に透明導電膜 (図示されていない) を有することもで きる。 この透明導電膜は、 例えば前記の電極 5と同じ材料から成膜する ことができる。 この場合、 対電極 9も透明であることが好ましい。
増感色素としては、 従来の色素増感性光電変換素子で常用される色素 であれば全て使用できる。 このような色素は、 例えば、 Ru L 2 (H2 0) 2タイプのルテニウム一シスージアクアービピリジル錯体又はルテ ニゥムートリス (R u L 3) 、 ルテニウム一ビス (R u L2) 、 ォスニ ゥム一トリス (〇 s L 3) 、 ォスニゥム一ビス (O s L2) タイプの遷 移金属錯体 (以上において、 Lは、 4, 4 ' —ジカルポキシル— 2, 2 ' ービピリジンを示す。 ) 、 若しくは亜鉛ーテトラ (4—力ルポキシフ ェニル) ポルフィリン、 鉄—へキサシアニド錯体、 フタロシアニンなど が挙げられる。 有機色素としては、 9一フエニルキサンテン系色素、 ク マリン系色素、 ァクリジン系色素、 トリフエニルメタン系色素、 テトラ フエニルメタン系色素、 キノン系色素、 ァゾ系色素、 インジゴ系色素、 シァニン系色素、 メロシアニン系色素、 キサンテン系色素などが挙げら れる。 この中でもルテニウム一ビス (Ru L 2) 誘導体は、 可視光域で 広い吸収スペクトルを有するため、 特に好ましい。
半導体層 7へ増感色素を担持させる方法は、 例えば、 増感色素を溶か した溶液に、 半導体層 7を被着させた電極 5を備えた基板 3を浸潰させ る方法が挙げられる。 この溶液の溶媒としては、 水、 アルコール、 トル ェン、 ジメチルホルムアミドなど増感色素を溶解可能なものであれば全 て使用できる。 また、 浸漬方法として、 増感色素溶液に半導体層 7を被 着させた電極 5を備えた基板 3を一定時間浸漬させている時に、 加熱還 流をしたり、 超音波を印加したりすることもできる。 半導体層 7への色 素担持後、 担持せずに半導体層 7に残ってしまった増感色素を取り除く ために、 アルコールで洗浄あるいは加熱還流することが望ましい。
半導体粒子への増感色素の担持量としては、 1x1 0— 8〜 lxl 0一6 m o 1 / c m2の範囲内であればよく、 特に 0. 1 x1 0— 7〜9. Ox 1 0— 7mo 1 /cm2が好ましい。 この範囲内であれば、 経済的且つ十 分に光電変換効率向上の効果を得ることができるからである。
本実施形態の光電変換素子 1における電解質層 1 3で使用される電解 質としては、 酸化体と還元体からなる一対の酸化還元系構成物質が溶媒 中に含まれていれば特に限定されないが、 酸化体と還元体が同一電荷を 持つ酸化還元系構成物質が好ましい。 本発明における酸化還元系構成物 質とは、 酸化還元反応において可逆的に酸化体及び還元体の形で存在す る一対の物質を意味する。 本実施形態で使用できる酸化還元系構成物質 は、 例えば、 塩素化合物一塩素、 ヨウ素化合物一ヨウ素、 臭素化合物— 臭素、 タリウムイオン(I I I)一タリウムイオン(0、 水銀イオン(Π)—水 銀イオン(1)、 ルテニウムイオン(I I I)一ルテニウムイオン(1 1)、 銅ィォ ン(I I)一銅イオン(1)、 鉄イオン(I I I)—鉄イオン(11)、 バナジウムィォ ン(I I I)—バナジウムイオン(1 1)、 マンガン酸イオン—過マンガン酸ィ オン、 フェリシアン化物—フエロシアン化物、 キノン一ヒドロキノン、 フマル酸ーコハク酸などが挙げられる。 もちろん、 その他の酸化還元系 構成物質も使用できる。 中でも、 ヨウ素化合物一ヨウ素が好ましく、 ョ ゥ素化合物としてはヨウ化リチウム、 ヨウ化力リゥム等の金属ヨウ化物 、 テトラアルキルアンモニゥムョ一ジド、 ピリジニゥムョージド等のョ ゥ化 4級アンモニゥム塩化合物、 ヨウ化ジメチルプロピルイミダゾリゥ ム等のヨウ化イミダゾリゥム化合物が特に好ましい。
電解質を溶解するために使用される溶媒は、 酸化還元系構成物質を溶 解してイオン伝導性に優れた化合物が好ましい。 溶媒としては水性溶媒 及び有機溶媒のいずれも使用できるが、 酸化還元系構成物質をより安定 化するため、 有機溶媒が好ましい。 例えば、 ジメチルカ一ポネート、 ジ ェチルカーポネート、 メチルェチルカ一ポネート、 エチレン力一ポネー ト、 プロピレンカーボネート等の力一ポネート化合物、 酢酸メチル、 プ 口ピオン酸メチル、 ァープチロラクトン等のエステル化合物、 ジェチル エーテル、 1, 2—ジメトキシェタン、 1 , 3—ジォキソシラン、 テト ラヒドロフラン、 2—メチルーテ卜ラヒドロフラン等のエーテル化合物 、 3—メチル— 2—ォキサゾジリノン、 2一メチルピロリ ドン等の複素 環化合物、 ァセトニトリル、 メトキシァセトニトリル、 プロピオ二トリ ル等の二卜リル化合物、 スルフォラン、 ジジメチルスルフォキシド、 ジ メチルホルムアミド等の非プロトン性極性化合物などが挙げられる。 こ れらはそれぞれ単独で用いることもできるし、 また、 2種類以上を混合 して併用することもできる。 中でも、 エチレンカーボネート、 プロピレ ンカーポネ一卜等のカーボネート化合物、 3—メチルー 2—ォキサゾジ リノン、 2—メチルピロリ ドン等の複素環化合物、 ァセトニトリル、 メ トキシァセトニトリル、 プロピオ二トリル、 3—メトキシプロピオニト リル、 吉草酸二卜リル等の二卜リル化合物が特に好ましい。
次に、 実施例に基づき本発明をより具体的に説明する。 ただし、 本発 明はそれらの実施例に限定されるものではない。
(実施例 1)
ダイセル化学工業社製のカルポキシメチルセルロース (CMC) " 1 1 8 0" 2. 5 gを水 49 7. 5 gに溶かして、 0. 5質量%の CMC 水溶液を調製した。 この CMC水溶液 25. 5 gに日本ァエロジル社製 の酸化チタン " P 2 5" 4. 5 gを投入し、 遊星型ポールミルにかけて 、 酸化チタンの分散液を調製した。 分散液中の酸化チタンの含有量は、 1 5質量%になるように調製した。 この分散液を王子トービ社製のイン ジゥム—錫複合酸化物 ( I TO) が被着されたポリエチレンテレフタレ ート (PET) フィルム (厚さ 1 2 5 m、 シート抵抗 1 0 ΩΖスクェ ァの I Τ〇ΖΡ ΕΤフィルム) に摺り切りで塗布し、 温風で乾燥してフ イルム上に酸化チタン膜を形成した。 次に、 プレス機で表 1に示す圧力 を酸化チタン膜に加えて、 厚さ 8 の酸化チタン膜を形成した。 圧力 を加えるとき、 プレス機と酸化チタン膜の間に日東電工社製のフッ素樹 脂加工シート "二トフロン" を挟んだ。 プレス機と酸化チタン膜との離 型性を良くし、 酸化チタン膜が I TOZP ETフィルムから剥離しない ようにするためである。
得られた酸化チタン膜の細孔容積は、 細孔分布測定装置 "ASAP 2 0 1 0" (M i c r ome r i t i c s社製) にて吸着 ·脱着等温線を 測定し、 B J H脱着細孔分布プロットから、 細孔直径が 1. 7〜 3 00 nmの範囲内にある各細孔の容積を積算して求めた。 また、 得られた酸 化チタン膜の固形成分の密度を比重計で測定して固形成分の容積を求め た。 これらの得られた酸化チタン膜の細孔容積と固形成分の容積から、 得られた酸化チタン膜の多孔度を算出した。 得られた酸化チタン膜の多 孔度は、 圧力 2 0 MP aのとき 64 %、 圧力 1 0 0 M P aのとき 48 % 、 圧力 20 OMP aのとき 40 %であった。
この酸化チタン膜を備えた I T〇/P ETフィルムを、 [Ru (4, 4 ' ージカルポキシル— 2 , 2 ' ービピリジン) 2 (NC S) 2] ビス ーテトラブチルアンモニゥムで表される増感色素を 3x1 0— 4mo 1 / dm3含むァセトニトリル /4 _ t e r t—ブタノ一ル混合溶液 (混合 体積比 = 50/ 50) に 1 0時間浸漬して色素担持処理を行なった。
このようにして得た半導体電極と、 その対電極とを電解質溶液に接触 させて光電変換素子を構成した。 この場合、 対電極としては、 白金を 2 0 nmの厚さで蒸着した王子ト一ビ社製の I TOZPETフィルムを用 いた。 両電極間の距離を一定に保っために、 スぺーサとしてホットメル ト樹脂であるデュポン社製の " B y n e 1 " シート (厚さ 3 0 m) を 酸化チタン膜の周囲に貼り付けた。 この "By n e 1 " シートは電解質 溶液の封止材としても機能する。 更に、 I T〇/P ETフィルムの可撓 性により酸化チタン膜が対電極の白金と接触して、 部分的に短絡するこ とを防ぐために、 酸化チタン膜と対電極との間にポリブチレンテレフ夕 レート (PBT) 製の不織布を挟んだ。 電解質溶液としては、 0. 5 m o 1 Zdm3のヨウ化リチウムと 0. 0 5mo l Zdm3のヨウ素、 0 . 5 mo 1 Zdm3の 4一 t e r t—プチルピリジンを含む 3—メトキ シプロピオ二トリルを用いた。 本実施形態の光電変換素子の変換効率は、 擬似太陽光 (AM I . 5、 1 OmW/cm2) をサンプルセル (受光面積 0. 64 cm2) に照射 して測定した。 表 1にその結果を示す。
(表 1)
Figure imgf000020_0001
表 1から明らかなように、 プレスの圧力が 2 0 MP aを下回ると変換 効率が低下した。 これは、 プレスの圧力が小さいため、 半導体層が脆く なり、 また、 基材との密着性が弱くなり、 半導体層の電子伝達の経路が 充分確保できなかったためと考えられる。 また、 プレスの圧力が 200 MP aを超えると変換効率が低下した。 これは、 プレスの圧力が大きす ぎて、 半導体層の多孔度が小さくなりすぎて、 半導体層と電解質溶液と の接触が不充分になったためと考えられる。
これに対し、 プレスの圧力が 2 0〜20 0MP aの範囲内にある場合 は、 酸化チタン膜中に CMCが 2. 8質量%含まれているにもかかわら ず、 充分な変換効率を得ることができた。
(実施例 2)
ハ一キュレス社製のェチルセルロース " N 3 00 " を表 2に示した割 合でエタノールに溶かしたバインダー溶液を調製した。 このバインダ一 溶液 24 gに日本ァエロジル社製の酸化チタン " P 2 5" 6 gを投入し 、 遊星型ポールミルにかけて、 酸化チタンの分散液を調製した。 分散液 中の酸化チタンの含有量は、 2 0質量%になるように調製した。 この分 散液を王子トービ社製のインジウム一錫複合酸化物 ( I TO) が被着さ れたポリエチレンナフタレート (P EN) フィルム (厚さ 1 2 5 ΠΊ、 シ一ト抵抗 1 0 Ω/スクェアの I TO/P ENフィルム) に摺り切りで 塗布し、 温風で乾燥してフィルム上に酸化チタン膜を形成した。 次に、 プレス機で酸化チタン膜に 1 0 0 MP aの圧力を加えて、 厚さ 1 5 m の酸化チタン膜を形成した。 圧力を加えるとき、 プレス機のプレス面に フッ素樹脂コートを施し、 酸化チタン膜とプレス面との離型性を良くし た。 得られた酸化チタン膜の多孔度は、 実施例 1に記載した方法で測定 し、 バインダ一添加率が 2質量%のとき 5 3 %であった。
このようにして作製した半導体電極を実施例 1と同じ方法で、 光電変 換素子に組み立て、 擬似太陽光 (AM I . 5、 1 OmW/cm2) をサ ンプルセル (受光面積 0. 64 cm2) に照射し、 変換効率を測定した 。 表 2にその結果を示す。
(表 2)
Figure imgf000021_0001
表 2において、 ェチルセルロースの割合とは、 パインダ一溶液全体の 質量に対するェチルセルロースの質量の割合であり、 バインダー添加率 とは、 酸化チタン膜全体の質量に対するェチルセルロースの質量の割合 である。 また、 膜剥離の有無の判断は、 酸化チタン膜をプレス成形した 後、 I TOZP ENフィルム上に酸化チタン膜が塗布面積 (0. 64 c m2) の 9 9 %以上 (面積にして 0. 6 3 c m2以上) ある場合を 「無 」 とし、 それを下回る場合を 「有」 とした。
バインダー添加率が 0. 04質量%以下の場合、 プレス形成後の酸化 チタン膜のエツジ部分に剥離が確認されたが、 変換効率は実用レベルを 維持できた。 バインダー添加率が 0. 2質量%以上では、 変換効率が向 上し、 膜剥離も起きなかった。 また、 バインダー添加率が 1 0質量%を 超えると変換効率が低下傾向に転じた。
(実施例 3)
ダイセル化学工業社製のカルポキシメチルセルロース (CMC) " 1 1 80" 2. 5 gを水 49 7. 5 gに溶かして、 0. 5質量%の CMC 水溶液を調製した。 この CMC水溶液 2 5. 5 gに日本ァエロジル社製 の酸化チタン " P 2 5 " 4. 5 gと、 J S R社製のポリスチレンブタジ ェンゴム (S BR) を表 3に示す割合で投入し、 遊星型ポールミルにか けて、 酸化チタンの分散液を調製した。 分散液中の酸化チタンの含有量 は、 1 5質量%になるように調製した。 この分散液を王子ト一ビ社製の I TOZPENフィルム (厚さ 1 2 5 im、 シート抵抗 1 0 Ω/スクェ ァ) に摺り切りで塗布し、 温風で乾燥してフィルム上に酸化チタン膜を 形成した。 次に、 プレス機で 1 0 0 MP aの圧力を加えて、 長さ 2 0m m、 幅 2 0 mm、 厚さ 1 2 mの酸化チタン膜を形成した。 圧力を加え るとき、 プレス機のプレス面にフッ素樹脂コートを施し、 酸化チタン膜 とプレス面との離型性を良くした。 得られた酸化チタン膜の多孔度は、 実施例 1に記載の方法で測定し、 S B R添加率が 0質量%のとき 48 % 、 381添加率が1. 0 %のとき 42 %であった。
このようにして得られた酸化チタン膜に幅 1 2mmのセロハンテープ を貼りつけ、 貼り付け面に対して 9 0 ° の角度でセロハンテープを引張 る剥離試験 (9 0 ° 剥離試験) を行い、 酸化チタン膜が I TOZP EN フィルムとの界面で界面剥離するのか、 酸化チタン膜が凝集破壊するの かを観察した。 表 3にその結果を示す。 (表 3)
Figure imgf000023_0001
表 3において、 S BR添加率とは、 酸化チタン分散液全体の質量に対 する S BRの質量の割合であり、 バインダー添加率とは、 酸化チタン膜 全体の質量に対するェチルセルロースと S B Rとの合計質量の割合であ る。 また、 9 0 ° 剥離試験結果の判断は、 試験後の酸化チタン膜が完全 に界面剥離した場合を 「不可」 、 一部界面剥離が見られる場合を 「一部 不可」 、 界面剥離が見られず、 凝集破壊のみの場合を 「可」 、 凝集破壊 も見られない場合を 「良」 とした。
酸化チタン膜中にバインダーを 2. 8質量%以上添加することで酸化 チタン膜と I ΤΟΖΡΕΝフィルムとの間で界面剥離することはなかつ た。 更に、 S BRを添加するとで、 酸化チタン膜の凝集破壊を抑えるこ とができた。
(実施例 4)
日本ァエロジル社製の酸化チタン " Ρ 2 5" 1 00質量部、 積水化学 社製のポリビニルプチラール "エスレック Β" 4質量部、 フタル酸ジブ チル 2質量部、 ァセチルアセトン 6質量部、 トルエン/ェチルメチルケ トン (混合体積比 = 50Ζ 5 0 ) 3 9 6質量部からなる混合物を遊星型 ポールミルにかけて、 酸化チタンの分散液を調製した。 この分散液中に 架橋剤として、 日本ポリウレタン工業社製のイソシァネートである "コ 口ネート" を 2質量部添加した。 この分散液を王子トービ社製の I TO PENフィルム (厚さ 1 2 5 m、 シート抵抗 1 0 Ω /スクェア) に 摺り切りで塗布し、 温風で乾燥してフィルム上に酸化チタン膜を形成し た。 次に、 I TO/P ENフィルム上の酸化チタン膜を 60 に設定し た乾燥機に 20時間放置し、 酸化チタン膜中のポリビニルプチラールを イソシァネートで架橋させた。 次に、 プレス機で酸化チタン膜に 1 0 0 MP aの圧力を加えて、 厚さ 1 5 /mの酸化チタン膜を形成した。 圧力 を加えるとき、 プレス機のプレス面にフッ素樹脂コートを施し、 酸化チ タン膜とプレス面との離型性を良くした。 得られた酸化チタン膜の多孔 度は、 実施例 1に記載した方法で測定し、 58 %であった。
このようにして得られた酸化チタン膜を実施例 3と同様の手順で 90 。 剥離試験を行った。 得られた酸化チタン膜は I TO/P ENフィルム から界面破壊することもなく、 凝集破壊することもなかった。
(実施例 5)
ハ一キュレス社製のェチルセルロース "N 30 0 " を 0. 5質量%溶 かしたエタノール溶液を調製した。 このエタノール溶液 24 gに日本ァ エロジル社製の酸化チタン " P 2 5 " を 6 g投入し、 遊星型ポールミル にかけて、 酸化チタンの分散液を調製した。 分散液中の酸化チタンの含 有量は 2 0質量%であり、 ェチルセルロースの含有量は 2質量%であつ た。 この分散液を王子ト一ビ社製の I TOZP ENフィルム (厚さ 1 2 5 xm、 シート抵抗 1 0 ΩΖスクェア) に摺り切りで塗布し、 温風で乾 燥してフィルム上に酸化チタン膜を形成した。 次に、 プレス機で酸化チ タン膜に表 4に示した圧力を加えて酸化チタン膜を形成した。 圧力を加 えるとき、 プレス機のプレス面にフッ素樹脂コートを施し、 酸化チタン 膜とプレス面との離型性を良くした。 得られた酸化チタン膜の多孔度は 、 実施例 1に記載した方法で測定し、 その結果を表 4に示す。
このようにして作製した半導体電極を実施例 1と同じ方法で、 光電変 換素子に組み立て、 擬似太陽光 (AM I . 5、 1 OmW/cm2) をサ ンプルセル (受光面積 0. 64 cm2) 照射し、 変換効率を測定した 。 表 4にその結果を示す。
(表 4)
Figure imgf000025_0001
表 4に示す 2 0〜200MP aの範囲内の圧力を酸化チタン膜に加え れば、 十分な変換効率が得られる多孔質な酸化チタン膜を作製すること ができた。 酸化チタン膜の多孔度が 8 0 %を超えるようになると、 I T 〇ZP ENフィルム上に密着性よく酸化チタン膜を作製することが困難 であった。 また、 酸化チタン膜の多孔度が 40 %より小さいと、 再現性 よく十分な変換効率を得ることができなかった。
(実施例 6)
実施例 5と同様にして王子ト一ビ社製の I TO/P ENフィルム (厚 さ 1 2 5 m、 シート抵抗 1 0 ΩΖスクェア) 上に酸化チタン膜を形成 した。 次に、 プレス機で酸化チタン膜に表 5に示した圧力を加えて酸化 チタン膜を形成した。 圧力を加えるとき、 プレス機のプレス面にフッ素 樹脂コートを施し、 酸化チタン膜とプレス面との離型性を良くした。 得 られた酸化チタン膜の X線回折プロファイルを X線回折分析装置 "R I NT 2 5 00 V/P C" (理学電機社製) にて測定し、 酸化チタンのァ ナターゼ型結晶構造の ( 1 0 1) 面に帰属される回折強度ピークの半値 幅を求めた。 圧力が 0 MP aのときの半値幅を基準として、 各圧力にお ける半値幅の減少率を表 5に示した。 半値幅の減少率は次式より算出し た。
半値幅の減少率 =[ (圧力が 0 MP aでの半値幅) 一 (各圧力での半値

Claims

幅) ]Z (圧力が 0 MP aでの半値幅) X I 00 (表 5) 表 5に示した圧力を酸化チタン膜に加えると、 半値幅の減少率は増加 した。 すなわち、 酸化チタン粒子に圧力を加えると、 隣接する酸化チタ ン粒子が結合し合い、 結晶成長が進行して酸化チタン粒子の粒径が増大 したものと推察できる。 半値幅の減少率が 5 %未満では、 酸化チタン粒 子の粒径の増大による粒子同士の結合が不十分で、 I TO/P ENフィ ルム上に密着性よく酸化チタン膜を作製することができなかった。 また 、 半値幅の減少率が 5 0 %を超えると、 表 4に示すように、 酸化チタン 膜の多孔度が減少し、 再現性よく十分な変換効率を得ることができなか つた。 産業上の利用の可能性 本発明の光電変換素子は、 携帯電子機器、 屋内電子機器、 屋外電子機 器、 乗り物、 玩具、 可搬型発電機、 住居用発電機などの電源として利用 することがきる。 請 求 の 範 囲
1 . 増感色素を担持した半導体層が被着された第 1の電極と、 前記第 1の電極の前記半導体層と対峙する第 2の電極と、 前記第 1の電極の前 記半導体層と前記第 2の電極との間に配置された電解質層とを備えた光 電変換素子であって、
前記半導体層が半導体粒子とバインダーとを含み、 且つ、 前記半導体 層の多孔度が 4 0〜 8 0 %の範囲内にあることを特徴とする光電変換素 子。
2 . 前記半導体層の中に含まれる前記バインダーの割合が、 前記半導 体層を形成する全成分に対して 0 . 2〜 1 0質量%の範囲内にある請求 項 1に記載の光電変換素子。
3 . 前記バインダ一が、 セルロース誘導体、 ゴム状弾性ポリマ一、 N —ビエルァセトアミドの単独重合体又は共重合体、 ポリエチレンォキシ ド、 アルギン酸ナトリウム、 ポリアクリル酸及びその塩、 ポリビエルフ エノ一ル、 ポリビニルメチルエーテル、 ポリビニルアルコール、 ポリビ ニルピロリ ドン、 ポリアクリルアミド、 ポリヒドロキシ (メタ) ァクリ レート、 ポリビエルァセタール、 スチレン—マレイン酸共重合体、 ポリ エチレングリコ一ル、 酸化スターチ、 リン酸化スターチ、 カゼイン及び ポリオレフィンからなる群から選択された少なくとも 1種類を含む請求 項 1に記載の光電変換素子。
4 . 前記第 1の電極が、 合成樹脂フィルムに電極部が被着されて構成 されている請求項 1に記載の光電変換素子。
5 . 前記合成樹脂フィルムが、 ポリエチレンテレフ夕レートフィルム 、 ポリエチレンナフタレ一トフイルム、 ポリエーテルサルフォンフィル ム、 ポリアリレートフイルム、 ポリイミドフィルム、 シクロォレフイン ポリマーフィルム及びノルポルネン樹脂フィルムからなる群から選択さ れた 1種類である請求項 4に記載の光電変換素子。
6 . 増感色素を担持した半導体層が被着された第 1の電極と、 前記第 1の電極の前記半導体層と対峙する第 2の電極と、 前記第 1の電極の前 記半導体層と前記第 2の電極との間に配置された電解質層とを備えた光 電変換素子の製造方法であって、
半導体粒子とバインダ一とを含む溶液を前記第 1の電極に塗布し、 乾 燥した後に、 2 0〜 2 0 0 M P aの圧力でプレスすることにより、 前記 半導体層を形成することを特徴とする光電変換素子の製造方法。
7 . 前記半導体粒子の素材が酸化チタンであり、 且つ、 前記 2 0〜 2 0 0 M P aの圧力でプレスする前後における、 X線回折分析法で測定し た前記酸化チタンのアナタ一ゼ型結晶構造の ( 1 0 1 ) 面に帰属される 回折強度ピークの半値幅の減少率が 5〜 5 0 %の範囲内である請求項 6 に記載の光電変換素子の製造方法。
8 . 前記半導体層の中に含まれる前記バインダーの割合が、 前記半導 体層を形成する全成分に対して 0 . 2〜 1 0質量%の範囲内にある請求 項 6に記載の光電変換素子の製造方法。
9 . 前記バインダーが、 セルロース誘導体、 ゴム状弹性ポリマー、 N 一ビエルァセトアミドの単独重合体又は共重合体、 ポリエチレンォキシ ド、 アルギン酸ナトリウム、 ポリアクリル酸及びその塩、 ポリビニルフ ェノール、 ポリビニルメチルエーテル、 ポリビニルアルコール、 ポリビ ニルピロリ ドン、 ポリアクリルアミド、 ポリヒドロキシ (メタ) ァクリ レート、 ポリビニルァセタール、 スチレン一マレイン酸共重合体、 ポリ エチレングリコール、 酸化スターチ、 リン酸化スターチ、 カゼイン及び ポリオレフィンからなる群から選択された少なくとも 1種類を含む請求 項 6に記載の光電変換素子の製造方法。
1 0 . 前記第 1の電極が、 合成樹脂フィルムに電極部が被着されて構 成されている請求項 6に記載の光電変換素子の製造方法。
1 1 . 前記合成樹脂フィルムが、 ポリエチレンテレフタレートフィル ム、 ポリエチレンナフタレートフィルム、 ポリエーテルサルフォンフィ ルム、 ポリアリレートフイルム、 ポリイミドフィルム、 シクロォレフィ ンポリマーフィルム及びノルポルネン樹脂フィルムからなる群から選択 された 1種類である請求項 1 0に記載の光電変換素子の製造方法。
PCT/JP2003/007531 2002-06-14 2003-06-13 光電変換素子及びその製造方法 Ceased WO2003107471A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP03733413A EP1437790B1 (en) 2002-06-14 2003-06-13 Photoelectric transducer and its manufacturing method
AU2003242373A AU2003242373B9 (en) 2002-06-14 2003-06-13 Photoelectric transducer and its manufacturing method
US10/489,793 US7224036B2 (en) 2002-06-14 2003-06-13 Photoelectric transducer and its manufacturing method
JP2004514176A JP4086037B2 (ja) 2002-06-14 2003-06-13 光電変換素子の製造方法
US11/787,805 US7422923B2 (en) 2002-06-14 2007-04-18 Photoelectric transducer and its manufacturing method

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002-174864 2002-06-14
JP2002174864 2002-06-14

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US10489793 A-371-Of-International 2003-06-13
US11/787,805 Division US7422923B2 (en) 2002-06-14 2007-04-18 Photoelectric transducer and its manufacturing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2003107471A1 true WO2003107471A1 (ja) 2003-12-24

Family

ID=29727996

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2003/007531 Ceased WO2003107471A1 (ja) 2002-06-14 2003-06-13 光電変換素子及びその製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (2) US7224036B2 (ja)
EP (1) EP1437790B1 (ja)
JP (1) JP4086037B2 (ja)
CN (1) CN1288794C (ja)
AU (1) AU2003242373B9 (ja)
WO (1) WO2003107471A1 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011142010A (ja) * 2010-01-07 2011-07-21 Nisshin Steel Co Ltd 色素増感型太陽電池用光電極の製造方法
JP2013069557A (ja) * 2011-09-22 2013-04-18 Osaka Gas Co Ltd 電解液及び光電変換素子
JP2013258127A (ja) * 2011-11-25 2013-12-26 Tokyo Univ Of Science 色素増感太陽電池用光電極とその製造方法および色素増感太陽電池
WO2014017535A1 (ja) * 2012-07-27 2014-01-30 株式会社ダイセル 光電変換層用組成物および光電変換素子
WO2014017536A1 (ja) * 2012-07-27 2014-01-30 株式会社ダイセル 光電変換層用組成物および光電変換素子
JP2018101786A (ja) * 2017-12-28 2018-06-28 京都エレックス株式会社 電子デバイス、および電子デバイス用無機粒子含有機能膜形成用組成物

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4197637B2 (ja) * 2003-09-29 2008-12-17 株式会社東芝 光増感型太陽電池及びその製造方法
US8029893B2 (en) 2004-04-02 2011-10-04 Curwood, Inc. Myoglobin blooming agent, films, packages and methods for packaging
US7867531B2 (en) 2005-04-04 2011-01-11 Curwood, Inc. Myoglobin blooming agent containing shrink films, packages and methods for packaging
US8110259B2 (en) 2004-04-02 2012-02-07 Curwood, Inc. Packaging articles, films and methods that promote or preserve the desirable color of meat
US8545950B2 (en) 2004-04-02 2013-10-01 Curwood, Inc. Method for distributing a myoglobin-containing food product
US8470417B2 (en) 2004-04-02 2013-06-25 Curwood, Inc. Packaging inserts with myoglobin blooming agents, packages and methods for packaging
US8741402B2 (en) 2004-04-02 2014-06-03 Curwood, Inc. Webs with synergists that promote or preserve the desirable color of meat
EP1862504B1 (en) * 2005-03-18 2012-01-18 Mitsui Chemicals, Inc. Resin composition for solar cell package
US20060219294A1 (en) * 2005-03-30 2006-10-05 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Oxide semiconductor electrode, dye-sensitized solar cell, and, method of producing the same
KR100839371B1 (ko) * 2006-11-17 2008-06-19 삼성에스디아이 주식회사 염료감응 태양전지
JP5135774B2 (ja) * 2006-11-20 2013-02-06 コニカミノルタビジネステクノロジーズ株式会社 光電変換素子、及び太陽電池
JP5127330B2 (ja) * 2007-07-12 2013-01-23 日立造船株式会社 光電変換素子およびその製造方法
US8613973B2 (en) 2007-12-06 2013-12-24 International Business Machines Corporation Photovoltaic device with solution-processed chalcogenide absorber layer
US8197908B2 (en) * 2008-03-14 2012-06-12 Hestia Tec, Llc Method for preparing electrically conducting materials
MY155884A (en) * 2008-04-04 2015-12-15 Hitachi Chemical Co Ltd Two-layered laminate having metal foil cladded on its one surface, method for production of the laminate, single-sided printed wiring board, and method for production of the wiring board
EP2345051B1 (en) * 2008-10-02 2018-08-22 Swansea University A method of manufacturing a photovoltaic device, an intermediate manufacturing product and a photovoltaic device
TWI443892B (zh) 2009-10-29 2014-07-01 Ind Tech Res Inst 製備電極的方法
US8026124B2 (en) * 2010-01-29 2011-09-27 Jenn Feng New Energy Co., Ltd. Method for fabricating copper/indium/gallium/selenium solar cell by wet process under non-vacuum condition
KR20110133717A (ko) * 2010-06-07 2011-12-14 삼성전자주식회사 유기 태양 전지 및 그 제조 방법
TWI407579B (zh) 2010-09-08 2013-09-01 Ind Tech Res Inst 基板電極結構的製造方法
KR101188929B1 (ko) * 2010-11-12 2012-10-08 삼성에스디아이 주식회사 광전 변환 소자용 실링 부재, 이를 포함하는 광전 변환 소자 및 이의 제조 방법
US9048358B2 (en) * 2010-12-17 2015-06-02 Dow Global Technologies Llc Photovoltaic device
EP2850669B1 (en) 2012-05-18 2016-02-24 Isis Innovation Limited Photovoltaic device comprising perovskites
GB201208793D0 (en) 2012-05-18 2012-07-04 Isis Innovation Optoelectronic device
PL2850627T3 (pl) 2012-05-18 2016-10-31 Urządzenie optoelektroniczne zawierające porowaty materiał rusztowania oraz perowskity
AU2013319979B2 (en) 2012-09-18 2016-08-25 Oxford Photovoltaics Limited Optoelectronic device
KR101627161B1 (ko) * 2013-10-25 2016-06-07 성균관대학교산학협력단 고분자 지지층을 포함하는 염료감응 태양전지, 및 이의 제조 방법
KR101970813B1 (ko) * 2014-02-24 2019-04-19 주식회사 엘지화학 홀을 포함하고 있는 전지셀
CN104201362A (zh) * 2014-05-04 2014-12-10 昆明理工大学 碳掺杂氧化钛纳米管阵列锂电池阳极材料的制备方法
CN106033797A (zh) * 2015-03-13 2016-10-19 北京大学 一种具有有机骨架结构的钙钛矿太阳能电池及其制备方法
CN106206949A (zh) * 2015-05-07 2016-12-07 北京大学 一种柔性钙钛矿太阳能电池及其制备方法
KR101975988B1 (ko) * 2015-07-17 2019-05-07 주식회사 엘지화학 이차전지용 파우치 및 이를 포함하는 파우치형 이차전지

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1993020569A1 (en) 1992-03-27 1993-10-14 Sandoz Ltd. Photovoltaic cells
WO1997015959A1 (fr) 1995-10-24 1997-05-01 Isa Ag Arch Procede de fabrication d'une cellule electrochimique et cellule electrochimique obtenue selon ce procede
JPH11219734A (ja) * 1998-01-30 1999-08-10 Sekisui Chem Co Ltd 光電変換材料用半導体及びこの半導体を用いた積層体並びにこれらの製造方法及び光電池
WO1999066519A1 (en) 1998-06-18 1999-12-23 Stichting Energieonderzoek Centrum Nederland Method for manufacturing a photovoltaic element containing a liquid electrolyte and photovoltaic element according to this method
JP2000243466A (ja) * 1999-02-23 2000-09-08 Aisin Seiki Co Ltd 光電変換素子
WO2000072373A1 (en) 1999-05-25 2000-11-30 Forskarpatent I Uppsala Ab Method for manufacturing nanostructured thin film electrodes
JP2001043907A (ja) * 1999-05-27 2001-02-16 Catalysts & Chem Ind Co Ltd 光電気セルおよび金属酸化物半導体膜形成用塗布液、光電気セル用金属酸化物半導体膜の製造方法
JP2001102101A (ja) * 1999-09-29 2001-04-13 Catalysts & Chem Ind Co Ltd 光電気セル
JP2001160425A (ja) * 1999-12-02 2001-06-12 Japan Gore Tex Inc 光半導体電極及びその製造方法
JP2001185245A (ja) * 1999-12-28 2001-07-06 Catalysts & Chem Ind Co Ltd 光電気セルおよび該光電気セルの半導体膜形成用塗布液
WO2002067357A1 (fr) * 2001-02-21 2002-08-29 Showa Denko K.K. Dispersion d'oxyde metallique et electrode photoactive pour une pile solaire sensible a la couleur et pile solaire sensible a la couleur
JP2002313444A (ja) * 2001-04-18 2002-10-25 Hitachi Maxell Ltd 光電変換素子及びその製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11144773A (ja) * 1997-09-05 1999-05-28 Fuji Photo Film Co Ltd 光電変換素子および光再生型光電気化学電池
AU753205B2 (en) * 1998-05-29 2002-10-10 Catalysts & Chemicals Industries Co., Ltd. Method of manufacturing photoelectric cell and oxide semiconductor for photoelectric cell
US6580026B1 (en) 1999-06-30 2003-06-17 Catalysts & Chemicals Industries Co., Ltd. Photovoltaic cell
JP2001170496A (ja) * 1999-12-16 2001-06-26 Seiko Epson Corp 光触媒及びその製造方法
WO2001048833A1 (en) * 1999-12-27 2001-07-05 Seiko Epson Corporation Solar cell and solar cell unit
JP2001313444A (ja) 2000-03-22 2001-11-09 Hewlett Packard Co <Hp> フレキシブルプリント回路基板およびそのシールド方法
EP1180774B1 (en) * 2000-08-15 2006-10-11 Fuji Photo Film Co., Ltd. Photoelectric conversion device and method for producing same

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1993020569A1 (en) 1992-03-27 1993-10-14 Sandoz Ltd. Photovoltaic cells
WO1997015959A1 (fr) 1995-10-24 1997-05-01 Isa Ag Arch Procede de fabrication d'une cellule electrochimique et cellule electrochimique obtenue selon ce procede
JPH11219734A (ja) * 1998-01-30 1999-08-10 Sekisui Chem Co Ltd 光電変換材料用半導体及びこの半導体を用いた積層体並びにこれらの製造方法及び光電池
WO1999066519A1 (en) 1998-06-18 1999-12-23 Stichting Energieonderzoek Centrum Nederland Method for manufacturing a photovoltaic element containing a liquid electrolyte and photovoltaic element according to this method
JP2000243466A (ja) * 1999-02-23 2000-09-08 Aisin Seiki Co Ltd 光電変換素子
WO2000072373A1 (en) 1999-05-25 2000-11-30 Forskarpatent I Uppsala Ab Method for manufacturing nanostructured thin film electrodes
JP2001043907A (ja) * 1999-05-27 2001-02-16 Catalysts & Chem Ind Co Ltd 光電気セルおよび金属酸化物半導体膜形成用塗布液、光電気セル用金属酸化物半導体膜の製造方法
JP2001102101A (ja) * 1999-09-29 2001-04-13 Catalysts & Chem Ind Co Ltd 光電気セル
JP2001160425A (ja) * 1999-12-02 2001-06-12 Japan Gore Tex Inc 光半導体電極及びその製造方法
JP2001185245A (ja) * 1999-12-28 2001-07-06 Catalysts & Chem Ind Co Ltd 光電気セルおよび該光電気セルの半導体膜形成用塗布液
WO2002067357A1 (fr) * 2001-02-21 2002-08-29 Showa Denko K.K. Dispersion d'oxyde metallique et electrode photoactive pour une pile solaire sensible a la couleur et pile solaire sensible a la couleur
JP2002313444A (ja) * 2001-04-18 2002-10-25 Hitachi Maxell Ltd 光電変換素子及びその製造方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
GRAETZEL, NATURE, 1991
KATSUNORI KOJIMA ET AL.: "Film type shikiso zokan taiyo denchi no sakusei", THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY OF JAPAN DAI 69 KAI TAIKAI KOEN YOSHISHU, 25 March 2002 (2002-03-25), pages 252, XP002974173 *
See also references of EP1437790A4

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011142010A (ja) * 2010-01-07 2011-07-21 Nisshin Steel Co Ltd 色素増感型太陽電池用光電極の製造方法
JP2013069557A (ja) * 2011-09-22 2013-04-18 Osaka Gas Co Ltd 電解液及び光電変換素子
JP2013258127A (ja) * 2011-11-25 2013-12-26 Tokyo Univ Of Science 色素増感太陽電池用光電極とその製造方法および色素増感太陽電池
WO2014017535A1 (ja) * 2012-07-27 2014-01-30 株式会社ダイセル 光電変換層用組成物および光電変換素子
WO2014017536A1 (ja) * 2012-07-27 2014-01-30 株式会社ダイセル 光電変換層用組成物および光電変換素子
JPWO2014017535A1 (ja) * 2012-07-27 2016-07-11 株式会社ダイセル 光電変換層用組成物および光電変換素子
JPWO2014017536A1 (ja) * 2012-07-27 2016-07-11 株式会社ダイセル 光電変換層用組成物および光電変換素子
US10270050B2 (en) 2012-07-27 2019-04-23 Daicel Corporation Photoelectric conversion layer composition and photoelectric conversion element
US10395846B2 (en) 2012-07-27 2019-08-27 Daicel Corporation Photoelectric conversion layer composition and photoelectric conversion element
JP2018101786A (ja) * 2017-12-28 2018-06-28 京都エレックス株式会社 電子デバイス、および電子デバイス用無機粒子含有機能膜形成用組成物

Also Published As

Publication number Publication date
EP1437790A1 (en) 2004-07-14
EP1437790B1 (en) 2012-08-08
AU2003242373B2 (en) 2005-07-21
EP1437790A4 (en) 2010-05-12
JP4086037B2 (ja) 2008-05-14
CN1610987A (zh) 2005-04-27
CN1288794C (zh) 2006-12-06
US7422923B2 (en) 2008-09-09
US20040232506A1 (en) 2004-11-25
US20070194311A1 (en) 2007-08-23
US7224036B2 (en) 2007-05-29
AU2003242373A1 (en) 2003-12-31
JPWO2003107471A1 (ja) 2005-10-20
AU2003242373B9 (en) 2005-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2003107471A1 (ja) 光電変換素子及びその製造方法
JP5140588B2 (ja) 色素増感型太陽電池モジュールおよびその製造方法
EP1933387A2 (en) Dye-sensitized solar cell
KR20100075552A (ko) 색소 증감 태양전지 모듈
JP2004119306A (ja) 光電変換素子及びその製造方法
JP2002319689A (ja) 光電変換素子及びその製造方法
JP4277639B2 (ja) 光電変換素子モジュール
JP4411955B2 (ja) 光電変換素子モジュール
JP4639657B2 (ja) 光電変換素子及びその製造方法
JP2006032110A (ja) 光電変換素子モジュール
JP4951853B2 (ja) 色素増感型太陽電池用電極基板及びその製造方法並びに色素増感型太陽電池
CN1716641A (zh) 利用光电转换电极的染料敏化太阳电池及其制造方法
JP4759984B2 (ja) 色素増感型太陽電池用電極基板及びその製造方法並びに色素増感型太陽電池
JP2003187883A (ja) 光電変換素子
JP2004119082A (ja) 光電変換素子モジュール
JP4710291B2 (ja) 光電変換素子の容器、光電変換ユニット、および光電変換モジュール
JP5364999B2 (ja) 酸化物半導体電極用積層体、酸化物半導体電極、色素増感型太陽電池、および色素増感型太陽電池モジュール
JP4341197B2 (ja) 光電変換素子及びその製造方法
JP4092908B2 (ja) 光電変換素子及びその製造方法
JP2008027860A (ja) 光電変換素子
JP2005235644A (ja) 光電変換素子およびそれを備えた太陽電池
JP2009032502A (ja) 光電変換素子
JP4696485B2 (ja) 光電変換モジュールおよびその製造方法
JP5251149B2 (ja) 酸化物半導体電極用積層体、酸化物半導体電極、および色素増感型太陽電池モジュール
JP2008243623A (ja) 光電変換素子の製造方法および光電変換素子

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NI NO NZ OM PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LU MC NL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2004514176

Country of ref document: JP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2003242373

Country of ref document: AU

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2003733413

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 10489793

Country of ref document: US

DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 20038012448

Country of ref document: CN

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2003733413

Country of ref document: EP

WWG Wipo information: grant in national office

Ref document number: 2003242373

Country of ref document: AU