WO2004013886A1 - 画像表示装置の製造方法および製造装置 - Google Patents

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WO2004013886A1 PCT/JP2003/009685 JP0309685W WO2004013886A1 WO 2004013886 A1 WO2004013886 A1 WO 2004013886A1 JP 0309685 W JP0309685 W JP 0309685W WO 2004013886 A1 WO2004013886 A1 WO 2004013886A1
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front substrate
electric field
getter
substrate
image display
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PCT/JP2003/009685
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Masakuni Osoegawa
Satoshi Koide
Yuuji Kuwabara
Kazuyuki Seino
Hirotaka Murata
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Toshiba Corp
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    • H01J2217/38Cold-cathode tubes
    • H01J2217/49Display panels, e.g. not making use of alternating current

Definitions

  • the present invention relates to a method and an apparatus for manufacturing an image display device having a pair of substrates arranged opposite to each other.
  • FED 'short' display
  • a display device using a surface conduction electron-emitting device is also referred to as a surface conduction electron-emitting display (hereinafter, referred to as SED).
  • SED surface conduction electron-emitting display
  • the FED is a general term including SED. And the terms are used.
  • the FED generally has a front substrate and a rear substrate that are arranged to face each other with a predetermined gap therebetween, and these substrates are joined by joining their peripheral edges to each other via a rectangular frame-shaped side wall. It constitutes a vacuum envelope. The inside of the vacuum envelope, the vacuum is maintained in a high vacuum of about 1 0 one 4 P a. In order to support the atmospheric load applied to the rear substrate and the front substrate, a plurality of support members are arranged between these substrates.
  • a phosphor screen including red, blue, and green phosphor layers and a metal back are formed on the inner surface of the front substrate.
  • a number of electron-emitting devices are provided to emit electrons that excite light to emit light.
  • Many scanning lines and signal lines are formed in a matrix and connected to each electron-emitting device.
  • the area in which such an electron-emitting device is formed is referred to as an electron-emitting surface when viewed macroscopically.
  • An anode voltage is applied to the phosphor screen, and the electron beam emitted from the electron-emitting device is accelerated by the anode voltage and collides with the phosphor screen, so that the phosphor emits light and an image is displayed. Is displayed.
  • getter a metal with a gas adsorption characteristic called getter is vapor-deposited on the metal back (getter flash) to adsorb residual gas inside the envelope and gas released from each substrate. I have.
  • the gap between the front substrate and the rear substrate can be set to about 1 to 3 mm, and it is used as a display for current televisions and combi- ters.
  • a conventional cathode ray tube (CRT) it is possible to achieve a significant reduction in weight and thickness.
  • a phosphor for CRT having high luminous efficiency and good color purity is used in view of luminance, color reproducibility, phosphor degradation, and the like. It is necessary to form an aluminum thin film called metal back on the phosphor screen. It is desired that the anode voltage applied to the phosphor screen be at least several kV, preferably at least 10 kV.
  • the electron beam emits light by colliding with the phosphor, but at this time, a large amount of outgassing is generated, deteriorating the vacuum inside the FED, and the electron formed on the back substrate.
  • Emitting element Gives damage.
  • the electron emission characteristics of the electron-emitting device are degraded, resulting in a decrease in luminance, color reproducibility, and a shortened life. This is because, if the brightness of the display characteristics of the FED is to be increased, more electron beams from the electron-emitting devices are required, and this tendency is large. It is difficult to realize a display device.
  • the degassing effect was obtained by treating the front substrate and the rear substrate at high temperature before becoming a product.However, after the high temperature treatment, the time to move and hold the front substrate and rear substrate in the atmosphere As a result, gas re-adsorption occurred here, and sufficient effects were not obtained.
  • the method of absorbing the released gas inside the FED is to arrange a metal with high gas adsorption characteristics such as Ti and Ba on or near the phosphor screen of the front substrate to adsorb the released gas.
  • the vacuum inside the FED is maintained.
  • these materials have an allowable gas adsorption amount, and lose their effectiveness with respect to a gas amount exceeding a certain amount, making it difficult to maintain characteristics for a long time.
  • dust generated in the vapor deposition process when the getter film is formed, and missing getter film due to insufficient bonding strength between the metal back and the getter film have occurred.
  • the gap between the front substrate and the rear substrate cannot be made so large from the viewpoint of the characteristics of resolution and electron emission efficiency, and needs to be set to about 1 to 3 mm. Therefore, in the FED, a strong electric field is formed in a small gap between the front substrate and the rear substrate. Inevitably, discharge (dielectric breakdown) between the two substrates poses a problem. When the discharge occurs, a current of 100 A or more flows instantaneously, and the electron-emitting device and the phosphor screen are destroyed or deteriorated. Discharge may destroy the drive circuit for operating the FED. These are collectively referred to as damage due to discharge.
  • Damage due to discharge can be a catastrophic product failure, such as loss of information due to the occurrence of a non-display area, reduction in luminance and color reproducibility, and deterioration in display performance due to deterioration of electron-emitting devices. This will, of course, shorten the life of the image display device. Therefore, in order to make FED practical, it is necessary to prevent these damages from occurring over a long period of time. However, it is very difficult to completely suppress discharge.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-311642 discloses a technique in which a metal back provided on a phosphor screen is notched. A technology has been disclosed that forms a zigzag pattern or the like to increase the effective inductance of the phosphor screen.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-326583 discloses a technique for dividing a metal back
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-2151977 discloses a technique for dividing a metal back.
  • a technique of providing a coating of a conductive material on a divided portion has been disclosed.
  • discharge voltage the voltage at which discharge occurs
  • discharge may occur after long-term use of FED.
  • Suppressing the discharge means preventing the discharge from occurring at all when applying the anode voltage, or reducing the discharge probability to a practically acceptable level.
  • the applied potential difference between the anode and the cathode is called a withstand voltage.
  • this getter film is formed on a metal back as a vapor-deposited film by fixing a metal such as Ba, Ti having high gas adsorption characteristics to a metal serving as a getter base and heating the metal base. Formed. At this time, a part of the metal base and a part of the getter electrode may be melted in the vapor deposition process by heating the metal base and may fall on the front substrate and the rear substrate, and this becomes a discharge power. This is a major factor in expanding discharge.
  • a technique for improving the withstand voltage a technique called conditioning is well known. This technique is, for example, a discharge hand It is listed on page 302 of the book (Ohm, 1989). This is to improve the withstand voltage by applying a potential difference between the opposing surfaces.
  • spark conditioning that causes discharge (spark) is called conditioning, although discharge may or may not occur.
  • the mechanism by which the breakdown voltage is improved by spark conditioning is not known in detail, the discharge power of minute projections and foreign substances may be melted and removed by discharge, or may be removed. It is considered that the attached fine particles are removed by an electric field.
  • the present invention is intended to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide an image display device capable of manufacturing an image display device having high pressure resistance and excellent display performance and reliability.
  • An object of the present invention is to provide an apparatus manufacturing method and an apparatus.
  • an image display device manufacturing method provides an image display device comprising: a front substrate on which a phosphor screen is formed; and a rear substrate on which a plurality of electron-emitting devices are provided.
  • At least one of the front substrate and the rear substrate is opposed to the processing electrode, and an electric field is applied between the at least one substrate and the processing electrode to reduce the number of the processing electrodes. Also, one of the substrates is subjected to an electric field treatment, and after the electric field treatment, the front substrate and the rear substrate are sealed to each other while being maintained in a vacuum atmosphere.
  • a method of manufacturing an image display device comprising: In a method for manufacturing an image display device comprising a front substrate on which a light surface is formed, and a rear substrate on which a plurality of electron-emitting devices are provided, a processing electrode having the front substrate and an opening in a vacuum atmosphere And an electric field is applied between the front substrate and the processing electrode to subject the front substrate to electric field treatment. After the electric field treatment, the front substrate and the rear substrate are maintained in a vacuum atmosphere. Seal with each other.
  • An apparatus for manufacturing an image display device is a manufacturing apparatus for an image display device, comprising: a front substrate on which a phosphor screen is formed; and a back substrate on which a plurality of electron-emitting devices are provided.
  • a vacuum chamber capable of accommodating at least one of the front substrate and the rear substrate as well as at least one of the substrates in the vacuum chamber.
  • a processing electrode disposed in the vacuum chamber, an electric field application unit for applying an electric field between the at least one substrate and the processing electrode, and the at least one substrate provided in the vacuum chamber.
  • a getter device for forming a getter film on the substrate.
  • An apparatus for manufacturing an image display device is a manufacturing apparatus for an image display device, comprising: a front substrate on which a phosphor screen is formed; and a back substrate on which a plurality of electron-emitting devices are provided.
  • a vacuum chamber capable of accommodating the front substrate while maintaining the front substrate, a processing electrode disposed in the vacuum chamber so as to face the front substrate and having an opening,
  • An electric field applying unit for applying an electric field between the processing electrode and the processing electrode.
  • an electric field is applied to the processing electrode and the substrate arranged opposite to the substrate in a vacuum atmosphere to perform an electric field treatment, thereby removing foreign matter, protrusions, and the like remaining on the substrate.
  • the cause of the discharge can be eliminated. This makes it possible to manufacture an image display device having excellent withstand voltage characteristics and improved display performance and reliability.
  • FIG. 1 is a perspective view showing an example of an FED manufactured by the manufacturing method and the manufacturing apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the above FED along line 1 1 1 1 1 of FIG.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing a manufacturing method and a manufacturing apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view schematically showing a manufacturing method and a manufacturing apparatus according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view schematically showing a manufacturing method and a manufacturing apparatus according to a third embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a sectional view schematically showing a manufacturing method and a manufacturing apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a sectional view schematically showing a manufacturing method and a manufacturing apparatus according to a fifth embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a sectional view schematically showing a manufacturing method and a manufacturing apparatus according to a sixth embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a sectional view schematically showing a manufacturing method and a manufacturing apparatus according to a seventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 shows a manufacturing method according to an eighth embodiment of the present invention and Sectional drawing which shows a manufacturing apparatus schematically.
  • an FED provided with a surface conduction electron-emitting device will be described as an example of an image display device manufactured by the present manufacturing method and manufacturing apparatus.
  • this FED has a front substrate 11 and a rear substrate 12 each of which is a rectangular glass plate having a thickness of about 1 to 3 mm as an insulating substrate. These substrates are opposed to each other with a gap of 1 to 2 mm. Front board 1 1 and the rear substrate 1 2 are through the side walls 1 3 of the rectangular frame is joined peripheral edge portions, the inside is 1 0 - 4 p a of about been flat rectangular shape maintained at a high vacuum The vacuum envelope 10 of FIG.
  • a plurality of spacers 14 are provided inside the vacuum envelope 10 to support the atmospheric load applied to the front substrate 11 and the rear substrate 12.
  • a plate-shaped or columnar spacer or the like can be used as the spacer 14.
  • a red, green, and blue strip-like phosphor layer 16 and a matrix-like black light absorption layer 17 were provided as phosphor screens.
  • Phosphor screen 15 is formed.
  • the phosphor layer 16 may be formed in a dot shape.
  • a metal back 20 made of an aluminum film or the like is formed on the phosphor screen 15, and a getter film 22 is formed so as to overlap the metal back.
  • a number of surface conduction electron-emitting devices 1 each emitting an electron beam are provided as an electron source for exciting the phosphor layer 16 of the phosphor screen 15. 8 are provided.
  • Each electron-emitting device 18 is arranged in a plurality of columns and a plurality of rows corresponding to each pixel.
  • Each electron-emitting device 18 includes an electron-emitting portion (not shown), a pair of device electrodes for applying a voltage to the electron-emitting portion, and the like.
  • an anode voltage is applied to the phosphor screen 15 and the metal back 20 and the electron beam emitted from the electron-emitting device 18 is converted to the anode voltage. It accelerates more and collides with the phosphor screen. As a result, the phosphor layer 16 of the phosphor screen 15 is excited and emits light, and a color image is displayed.
  • the manufacturing apparatus includes a vacuum chamber 30 constituted by a vacuum processing tank, and an exhaust pump 32 for evacuating the inside is connected to this vacuum chamber.
  • a first processing electrode 34, a second processing electrode 36, and a getter device 38 are provided in the vacuum chamber 30.
  • the first and second processing electrodes 34, 36 are each formed in a plate shape having dimensions substantially equal to the substrate to be processed.
  • Primary and secondary The processing electrodes 34 and 36 are provided substantially horizontally and side by side with a gap.
  • First and second processing electrode 3 4, 3 6 are connected to the ground potential, respectively.
  • a getter deposition position 40 is defined between the first and second processing electrodes 34 and 36, and a getter device 38 is disposed below the getter deposition position 40.
  • the getter device 38 includes a cover 42 opened toward the getter deposition position 40, a getter material 44 provided at the bottom of the cover, and a heating mechanism 45 for heating the getter material. I have.
  • the heating mechanism 45 a high-frequency heating method or a resistance heating method can be used.
  • the manufacturing apparatus includes a power source 46 for applying a voltage to the substrate to be processed, and a first electric field processing position facing the first processing electrode 34 and a getter vapor deposition position 4 in the vacuum chamber 30. 0, and a substrate transport mechanism (not shown) for transporting between the second electric field processing position facing the second processing electrode 36.
  • the inside of the vacuum chamber 30 is evacuated to a desired degree of vacuum by an exhaust pump 32, and the inside of the vacuum chamber is set to a vacuum atmosphere.
  • the front substrate 11 is loaded into the vacuum chamber 30 and installed at the first electric field processing position.
  • the front substrate 11 is arranged such that the entire surface on the metal back 20 side faces the first processing electrode 34 with a desired gap. Is placed.
  • a power supply 46 functioning as an electric field application unit is electrically connected to the metal back 20, and a voltage is applied from the power supply 46 to the metal back.
  • the voltage applied to the metal back 20 is set so that a positive or negative potential difference is generated between the metal back and the first processing electrode 34.
  • an electric field is generated between the front substrate 11 and the first processing electrode 34, and the front substrate 11 is subjected to the electric field processing.
  • foreign substances such as dust and dust remaining on the front substrate 11 are adsorbed to and removed from the first processing electrode 34, and are formed during the production process of the front substrate. Remove unnecessary protrusions.
  • the front substrate is moved to the gettering position while a potential difference is provided between the first processing electrode 34 and the front substrate 11 and the distance between the first processing electrode 34 and the first processing electrode 34 is maintained. Transport to 40. By maintaining the potential difference in this way, the foreign matter adsorbed on the first processing electrode 34 or the removed protrusion is held on the first processing electrode and adheres again to the front substrate 11 side.
  • the front substrate 11 faces the upper opening of the force bar 42 of the getter device 38 with the surface on the metal back 20 side facing down.
  • the getter material 44 provided on the bottom of the cover 42 is heated and evaporated by the heating mechanism 45 to perform getter flash.
  • a getter is deposited on the metal back 20 of the front substrate 11 to form a getter film 22.
  • getter flash is performed from the bottom to the top using the getter material 44 located below the front substrate 11. This prevents dust and the like generated due to the getter flash from adhering to the front substrate 11 side.
  • the front substrate 11 is transferred from the getter deposition position 40 to the second electric field processing position while maintaining the connection with the power supply 46.
  • the front substrate 11 is arranged so that the entire surface on the getter film 22 side is opposed to the second processing electrode 36 with a desired gap.
  • a voltage is applied from the power supply 46 to the metal back 20 and the getter film 22.
  • the applied voltage is set so that a positive or negative potential difference occurs between the front substrate 11 and the second processing electrode 36.
  • an electric field is generated between the front substrate 11 and the second processing electrode 36, and the front substrate 11 is subjected to the electric field processing again.
  • foreign matter such as dust generated in the getter vapor deposition process and dust and dust adhered to the front substrate such as floating substances in the vacuum chamber 30 is adsorbed to the second processing electrode 36 and removed.
  • unnecessary protrusions and the like formed on the front substrate in the getter deposition step are removed.
  • the front substrate is moved away from the second processing electrode while keeping the potential difference between the front substrate 11 and the second processing electrode 36 and maintaining the distance from the processing electrode 34.
  • the back substrate 12 on which the wiring 21 and the electron-emitting devices 18 are formed is subjected to an electric field treatment by the same process as described above except for getter vapor deposition.
  • the electric field treatment of the rear substrate 12 may be performed at least once.
  • foreign matter such as dust attached to the front substrate 11 and the rear substrate 12 before being put into the vacuum chamber, and the production of the front substrate and the rear substrate. Unnecessary protrusions formed in the process can be removed.
  • foreign substances such as dust generated in the getter vapor deposition step and dust and dust attached to the substrate such as floating substances in the vacuum chamber can be removed after putting these substrates into the vacuum chamber. As a result, it is possible to obtain a FED with improved withstand voltage characteristics by eliminating a factor that triggers the occurrence of discharge.
  • the anode potential can be set high, and a high brightness and high display performance FED can be obtained.
  • the processing electrode is connected to the getter device 38
  • the present invention can be implemented even with a single processing electrode.
  • the front substrate 11 is transported to the getter vapor deposition position 40 to perform getter vapor deposition.
  • the front substrate 11 is returned to a position facing the processing electrode 34 again, and electric field processing is performed.
  • only one processing electrode 34 is formed, and only after the getter film is formed, the front substrate 11 is moved to the electric field processing position facing the processing electrode 34. It may be configured to carry and carry out electric field treatment on the front substrate. Even in this case, by subjecting the getter film 22 that is finally exposed to the inside of the vacuum envelope and facing the rear substrate 12 to an electric field treatment, foreign matter such as dust adhering to the getter film can be obtained. In addition, unnecessary protrusions and the like formed in the manufacturing process can be removed. As a result, it is possible to sufficiently improve the breakdown voltage characteristics of the FED.
  • a configuration may be adopted in which only one processing electrode is used and the electric field processing is performed only before the getter film is deposited. In this case, the withstand voltage characteristics can be improved.
  • the getter flash is applied from the bottom to the upper side by using the getter material disposed below the substrate, thereby accommodating the getter flash.
  • the structure of the fourth embodiment shown in Fig. 6 has been adopted to reduce the adhesion of dust
  • the getter device 38 including the getter material 44 may be arranged above the substrate to be processed, and the getter flash may be performed from top to bottom.
  • the direction of getter flash is not limited to the vertical direction, but can be performed from other directions.
  • the substrate side is set to the ground potential, and the voltage is applied from the power supply 46 to the processing electrodes 34 and 36 itself. Is also good. According to this configuration, a high voltage can be applied, and the effect of the electric field treatment can be enhanced. For example, by applying a negative potential to the processing electrodes 34 and 36, a positive potential is applied to the front substrate 11 or the rear substrate 12 and the same effect as in the above-described embodiment is obtained. In addition to the advantages, there is an advantage that a high voltage can be applied. It goes without saying that the same effect can be obtained even if a positive potential is applied to the processing electrode.
  • the manufacturing apparatus includes a vacuum chamber 30 constituted by a vacuum processing tank, and an exhaust pump 32 for evacuating the inside is connected to the vacuum chamber.
  • a getter device 38 for forming a getter film is arranged in the vacuum chamber 30.
  • the getter device 3 8 has an opening 3 7 at the lower end. It has a substantially box-shaped cover 42 with a cover.
  • a getter member 44 is provided on the ceiling wall inside the cover 42, and faces the opening 37.
  • the getter device 38 is provided with a power heating mechanism 45 for heating the getter material 44.
  • the heating mechanism 45 a heating mechanism of a high-frequency heating method or a resistance heating method can be used.
  • the opening 37 of the cover 42 is formed to have dimensions substantially equal to the substrate to be processed.
  • a processing electrode 34 is provided so as to cover the opening 37 and is attached to the cover 42.
  • a large number of through holes for the getter to pass through are formed in the processing electrode 34 to form an opening.
  • the manufacturing apparatus includes a power source 46 for applying a voltage to a substrate to be processed, and a processing position facing the processing electrode 34 in the vacuum chamber 30, that is, an electric field processing position.
  • a substrate transport mechanism (not shown) that transports the wafer to the vapor deposition position is provided.
  • the distance between the getter material 44 and the processing electrode is set to be wider than the distance between the processing electrode and the processing substrate. Is set to.
  • the inside of the chamber 30 is evacuated to a desired degree of vacuum, and the inside of the vacuum chamber is evacuated. Subsequently, the front substrate 11 is loaded into the vacuum chamber 30 and placed at the illustrated processing position. In the processing position, the front substrate 11 is disposed so that the entire surface on the metal back 20 side faces the processing electrode 34 with a desired gap.
  • a power supply 46 functioning as an electric field application unit is electrically connected to the metal back 20, and a voltage is applied from the power supply 46 to the metal back.
  • the processing electrode 34 is connected to the ground potential.
  • the voltage applied to the metal clock 20 is set so that a positive or negative potential difference occurs between the metal back and the processing electrode 34.
  • an electric field is generated between the front substrate 11 and the processing electrode 34, and the front substrate 11 is subjected to electric field processing.
  • foreign substances such as dust remaining on the front substrate 11 are adsorbed to and removed from the processing electrode 34, and unnecessary waste formed in the production process of the front substrate is removed. Remove any protrusions.
  • the front substrate 11 is moved to a position not facing the processing electrode 34 while keeping a potential difference between the processing electrode 34 and the front substrate 11.
  • the foreign matter adsorbed on the processing electrode 34 or the removed protrusion is held on the processing electrode, and the foreign matter or the removed protrusion on the front substrate 11 is prevented from dropping and reattaching.
  • foreign matter or projections adsorbed or removed by the treatment electrode 34 are not located on the front substrate 11 but in the vacuum chamber 3. As a result, the foreign matter or the removed protrusion when the substrate is transported again can be prevented from falling onto the substrate.
  • the front substrate 11 is disposed such that the entire surface of the metal back 20 is opposed to the processing electrode 34 with a desired gap, and the getter provided on the ceiling wall of the cover 14 2
  • the material 44 is heated and evaporated by the heating mechanism 45 to perform getter flash.
  • a part of the getter is vapor-deposited on a region of the processing electrode 34 where no through-hole is formed to form a getter film 50.
  • the remaining portion of the getter passes through the through-hole of the processing electrode 34 and is deposited on the metal back 20 of the front substrate 11 to form a getter film 22.
  • the distance between the front substrate 11 and the processing electrode 34 is smaller than the distance between the processing electrode and the getter member 44 ⁇ set, and the distance between the front substrate 11 and the processing electrode 34 is set.
  • the conductance between the processing electrode and the getter material 44 is also small. Therefore, the gas released from the getter material 44 at the time of the getter flash passes through the processing electrode 34 first, and is adsorbed by the getter film 50 formed on this processing electrode. It does not reach the front substrate 11. Therefore, the getter film 22 formed on the front substrate 11 is not deteriorated by this gas.
  • a voltage is applied from the power supply 46 to the metal back 20 and the getter film 22.
  • the applied voltage is set such that a positive or negative potential difference is generated between the front substrate 11 and the processing electrode 34.
  • an electric field is generated between the front substrate 11 and the processing electrode 34, and the front substrate 11 is again subjected to the electric field treatment.
  • foreign matter such as dust generated in the getter vapor deposition process and floating substances in the vacuum chamber 30 adhered to the front substrate 11 such as dust and dust adhere to the processing electrode 34. Removal
  • unnecessary protrusions and the like formed on the front substrate in the getter vapor deposition step are removed.
  • the front substrate 11 is moved to a position where it does not face the electrode 34 while a potential difference is applied between the front substrate 11 and the processing electrode 34. As described above, the electric field processing of the front substrate 11 and the formation of the getter film are completed.
  • the back substrate 12 on which the wiring 21 and the electron-emitting devices 18 are formed is subjected to an electric field treatment by the same process as described above except for getter vapor deposition.
  • the electric field treatment of the rear substrate 12 may be performed at least once.
  • the electric field-treated front substrate 11 and rear substrate 12 are transported to a sealing position (not shown) while being maintained in a vacuum atmosphere without being exposed to the air, where they are sealed together to form a vacuum envelope.
  • Form 10. This completes the FED vacuum envelope.
  • the sealing of the substrate may be performed in the same vacuum chamber as the above-described vacuum chamber 30 for performing the electric field treatment, or in another vacuum chamber communicating with the vacuum chamber 30 in a vacuum state. You may go in.
  • foreign matter such as dust attached to the front substrate 11 and the rear substrate 12 before being put into the vacuum chamber, and the production of the front substrate and the rear substrate.
  • Unwanted protrusions formed during the process can be removed by electric field treatment.
  • foreign matter such as dust generated in the getter vapor deposition process and floating substances in the vacuum chambers adhered to the substrates and foreign substances such as dust are subjected to electric field treatment. It can be removed. As a result, it does not trigger a discharge.
  • the FED with improved withstand voltage characteristics can be obtained.
  • the vacuum envelope is formed without exposing these substrates to the atmosphere. Accordingly, there is no possibility that dust and the like in the air adhere to the substrate again, and the initial discharge and the discharge for a long period can be suppressed.
  • the anode potential can be set high, and a high-brightness and high-display-performance FED can be obtained. Further, it is possible to prevent deterioration of the gas adsorption characteristics of the getter film formed on the front substrate 11, and to maintain a high degree of vacuum for a long period of time to obtain a product having a long life.
  • the processing electrode with the opening, the electric field processing and the getter film deposition can be performed while the processing substrate is held at the same position. This makes it possible to simplify the processing steps and the manufacturing apparatus.
  • a getter film is also formed in a region where the opening of the processing electrode is not provided, and the gas generated during getter flash can be adsorbed by the getter film.
  • the getter film formed on the substrate can maintain high gas adsorption characteristics without deterioration.
  • the electric field processing is performed twice before and after the deposition of the getter film.
  • the electric field processing of the front substrate 11 is performed only after the getter film is formed. You may. this Even in this case, by subjecting the getter film 22 that is finally exposed to the inside of the vacuum envelope and faces the rear substrate 12 to an electric field treatment, foreign matter such as dust adhering to the getter film can be prevented. Unnecessary protrusions and the like formed during the manufacturing process can be removed. As a result, the breakdown voltage characteristics of the FED can be sufficiently improved, and the same operation and effect as those of the above-described embodiment can be obtained.
  • the electric field treatment may be performed only before the getter film is deposited. Even in this case, the withstand voltage characteristics can be improved.
  • the getter flash is performed from top to bottom using the getter material 44 disposed above the processing substrate.
  • the getter material 44 may be arranged below the processing substrate, and the getter flash may be performed upward from below. In this case, it is possible to more reliably reduce the adhesion of dust generated due to getter flash to the substrate.
  • the direction of getter flash is not limited to the vertical direction, but can be performed from other directions.
  • the processing electrode 34 is supported in a floating state with respect to the cover 42 by an insulating member such as an insulating insulator 60. .
  • a power supply 46 is electrically connected to the processing electrode 34, and a metal back of the front substrate 11 is connected to a ground potential.
  • a high voltage can be applied to the processing electrode 34 itself, and the effect of electric field processing can be enhanced.
  • a negative potential to the processing electrode 34
  • a positive potential is applied to the front substrate 11 or the rear substrate 12. Since this is applied, the same effect as in the above-described embodiment can be obtained.
  • there is an advantage that a high voltage can be applied. It goes without saying that the same effect can be obtained by applying a positive potential to the processing electrode 34.
  • the processing electrode is configured to have substantially the same dimensions as the substrate to be processed, but a processing electrode smaller in size than the substrate is used, and the processing electrode and the substrate are used.
  • a configuration may be adopted in which the entire surface of the substrate is subjected to an electric field treatment by relatively moving.
  • both the front substrate and the rear substrate are subjected to the electric field treatment in a vacuum atmosphere.
  • the electric field treatment of at least one of the substrates also improves the withstand voltage characteristics.
  • an improved image display device can be obtained.
  • the present invention is not limited to FED, but is applicable to other image display devices.
  • the present invention it is possible to provide a manufacturing method and a manufacturing apparatus capable of manufacturing a high-performance image display device having a long life, excellent withstand voltage characteristics, and improved reliability. .

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Description

明 細 書
画像表示装置の製造方法および製造装置
技術分野
本発明は、 対向配置された一対の基板を備えた画像表示装 置の製造方法および製造装置に関する。
背景技術
近年、 次世代の画像表示装置と して、 電子放出素子を多数 並べ、 蛍光面と対向配置させた平面型の画像表示装置が開発 され進めている。 電子放出素子には様々な種類があるが、 い ずれも基本的には電界放出を用いてお り 、 これらの電子放出 素子を用いた表示装置は、 一般に、 フ ィ ール ド ■ ェ ミ ツ シ ョ ン ' ディスプレイ (以下、 F E D と称する) と呼ばれている。
F E Dの内、 表面伝導型電子放出素子を用いた表示装置は、 表面伝導型電子放出ディ スプレイ (以下、 S E D と称する) と も呼ばれているが、 本願においては S E Dも含む総称と し て F E D と し、う用語を用いる。
F E Dは、 一般に、 所定の隙間を置いて対向配置された前 面基板および背面基板を有 し、 これらの基板は、 矩形枠状の 側壁を介して周縁部同士を互いに接合する こ とによ リ真空外 囲器を構成している。 真空外囲器の内部は、 真空度が 1 0 一 4 P a程度以下の高真空に維持されている。 背面基板および 前面基板に加わる大気圧荷重を支えるために、 これらの基板 の間には複数の支持部材が配設されている。
前面基板の内面には赤、 青、 緑の蛍光体層を含む蛍光面お よびメ タルバックが形成され、 背面基板の内面には、 蛍光体 を励起 して発光させる電子を放出する多数の電子放出素子が 設けられている。 多数の走査線および信号線がマ ト リ ック ス 状に形成され、 各電子放出素子に接続されている。 このよ う な電子放出素子が形成された領域のこ と をマク ロ に見て電子 放出面と 称する。 蛍光面にはアノ ー ド電圧が印加され、 電子 放出素子から出た電子ビームがァノ ー ド電圧によ リ 加速され て蛍光面に衝突する こ と によ り 、 蛍光体が発光 し映像が表示 される。
F E D では、 外囲器内部の残留ガス及び各基板の放出ガス を吸着するため、 ゲッ タ と呼ばれるガス吸着特性を持った金 属がメ タ ルバッ ク上に蒸着 (ゲッ タ フラ ッ シュ) されている。
このよ う な F E Dでは、 前面基板と背面基板と の隙間を 1 〜 3 m m程度に設定する こ と ができ、 現在のテ レ ビやコ ン ビ ユ ータ のディ スプレイ と して使用されている陰極線管 ( C R T ) と比較 して、 大幅な軽量化、 薄型化を達成する こ とがで き る。
上記 F E D において、 実用的な表示特性を得るためには、 輝度、 色再現性、 蛍光体劣化な どの点から、 発光効率が高 く 、 色純度の良好な C R T用の蛍光体を用い、 更に、 蛍光面の上 にメ タ ルバック と呼ばれるアル ミ薄膜を形成する こ とが必要 と なる。 蛍光面に印加するァノ ー ド電圧は最低でも数 k V 、 できれば 1 0 k V以上にする こ とが望まれる。
これらの F E Dでは電子 ビームが蛍光体に衝突する こ と で 発光 して いるが、 この時、 多 く の放出ガスが発生 し F E D内 部の真空度を劣化させ、 背基板上に形成された電子放出素子 にダメ ージを与える。 その結果、 電子放出素子の電子放出特 性の劣化を招き、 輝度の低下、 色再現性の劣化、 および寿命 の短命化が発生する こ とが知 られている。 これは F E Dの表 示特性の輝度を高 く しょ う と した場合、 電子放出素子からの 電子 ビームがよ り 多 く 必要と な り この傾向は大き く な リ 表示 性能に優れた長寿命の画像表示装置の実現が困難と なる。
この対策と しては、 製品と なった状態での F E D内部の放 出ガス量を少な く する こ とが必要である。 従来、 製品 と なる 前に前面基板および背面基板を高温処理する こ と によ リ脱ガ ス効果を得て いたが、 高温処理後、 前面基板および背面基板 を大気中での移動および保留する時間があるため、 こ こでの ガスの再吸着が発生 し十分な効果が得られていなかった。
また、 放出 ガスを F E D内部で吸収する方法と しては、 T i 、 B a などのガス吸着特性の大きい金属を前面基板の蛍光 面または周囲に配置 し放出ガスを吸着する こ と によ リ F E D 内部の真空度を維持させている。 しか しながら 、 これらの材 料のガス吸着量には許容量があ リ 、 ある一定量以上のガス量 に対 しては効力 を失って しまい長時間での特性維持は困難と なる。 また、 ゲッ タ膜形成時の蒸着工程で発生する発麈や、 メ タ ルバック と ゲッタ膜の付着強度不足によ るゲッ タ膜の欠 落等が発生 している。
一方、 前面基板と背面基板と の間の隙間は、 解像度や電子 放出効率の特性などの観点か ら あま り 大き く する こ とはでき ず、 1 ~ 3 m m程度に設定する必要がある。 従って、 F E D では、 前面基板と背面基板と の小さ い隙間に強電界が形成さ れる こ と を避け られず、 両基板間の放電 (絶縁破壊) が問題 と なる。 放電が起こ る と 、 瞬間的に 1 0 0 A以上の電流が流 れ、 電子放出素子や蛍光面の破壊ある いは劣化が起こ る。 放 電によ り 、 F E D を動作させるための駆動回路が破壊される こ と も ある。 これらをま とめて放電によ るダメ ージと呼ぶこ と にする。
放電によ る ダメ ージは致命的な製品不良、 例えば、 無表示 領域の発生によ る情報の欠落、 輝度及び色再現性の低下、 電 子放出素子の劣化によ り 表示性能の劣化を生 じ、 も ち ろん画 像表示装置の寿命をも短 く して しま う 。 そのため、 F E D を 実用化するためには、 これらのダメ ージが長期に渡 り起こ ら ないよ う に しなければな らない。 しか しながら、 放電を完全 に抑制するのは非常に難 しい。
一方、 放電が発生 しないよ う にするのではな く 、 放電が起 きても電子放出素子への影響を無視できる よ う 、 放電の規模 を抑制する と い う対策がある。 このよ う な考え方に関連する 技術と して、 例えば、 特開 2 0 0 0 — 3 1 1 6 4 2号公報に は、 蛍光面に設けられたメ タ ルバッ ク に切 り 欠きを入れて ジ グザグなどのパターンを形成 し、 蛍光面の実効的なイ ンダク タ ンス ■ 抵抗を高める技術が開示されている。 特開平 1 0 — 3 2 6 5 8 3 号公報には、 メ タ ルバッ ク を分割する技術、 さ ら に特開 2 0 0 0 — 2 5 1 7 9 7 号公報には、 分割部での沿 面放電を抑制するために、 分割部に導電性材料の被覆を設け る と いう技術が開示されている。
しか し、 このよ う な技術を用いる場合でも、 放電によ る ダ メ ージを完全に抑制する こ と は困難である。
一般に、 放電が生 じる電圧 (以後、 放電電圧と称する) に はばらつきがある。 また、 F E D を長期間使用 した後に放電 が起こ る こ と も ある。 放電を抑制する と いう こ と は、 ァノ ー ド電圧印加時に放電が全 く 起こ らないよ う にするか、 放電確 率を実用上許容できる程度まで小さ く する こ と を意味する。 印加 し う るァノ ー ド一カ ソー ド間の電位差を耐圧と称する こ と とする。
放電の要因にはいろいろなものがある。 第 1 は、 力 ソー ド 側の微小な突起や異物などからの電子放出が ト リ ガと なる も のである。 第 2 は、 力 ソー ドあるいはアノ ー ドに付着 した微 粒子、 ある いはそれらの一部がはがれたものが対向面に衝突 する こ とが ト リ ガと なる ものである。 と り わけ、 F E Dでは、 蛍光面に重ねてメ タ ルバッ ク と いう強度の弱い膜およびゲッ タ膜が形成されているため、 その一部がはがれる こ とが放電 の ト リ ガと な り う る。
更に、 このゲッ タ膜はゲッ タ の基盤となる金属にガス吸着 特性の大きい B a , T i などの金属を固定 し金属基盤を加熱 する こ と によ り 蒸着膜と してメ タ ルバック上に形成される。 この際、 金属基盤の加熱によ る蒸着工程で金属基盤の一部及 ぴゲッ タ 電極の一部が溶解 し、 前面基板および背面基板上に 落下する こ とがあ り 、 これが放電源と な り 放電を拡大する大 きな要因と なっている。
耐圧を向上させるための技術と して、 コ ンディ シ ョ ニング と いう 手法が周知である。 この手法は、 例えば、 放電ハン ド ブッ ク (オーム社、 1 9 9 8 ) の 3 0 2 ページに記載されて いる。 これは、 対向面間に電位差を印加 し、 耐圧を向上させ る ものである。 放電を起す場合と起さない場合があるが、 狭 義では、 放電 (スパーク ) を起すスパーク コ ンディ シ ョ ニン グをコ ンディ シ ョ ニングと称する こ と も ある。 スパーク コ ン ディ シ ョ ニングによ り 耐圧が向上するメ カ ニズムは詳細には わかっていないが、 微小突起や異物等の放電源が放電によ り 溶けて除去される こ と 、 ある いは、 付着 した微粒子が電界に よ り 除去される こ と によ る と考え られている。
例えば、 C R T では、 電子銃の電極間に動作時電圧の 4倍 程度のパルス電圧を印加 し、 千回程度放電を起すと いう処理 が広 く 行われている。 これはスパーク コ ンディ シ ョ ニングに 相当する。
と こ ろが、 F E Dでは、 このよ う なス / 一ク コ ンディ シ ョ ニングを行う と 、 蛍光面や電子放出素子が破壊ない し劣化 し て しま う 。 そのため、 単純に この手法を F E D に用いる こ と ができない。
コ ンディ シ ョ ニング以外の耐圧向上策と しては、 材料、 構 造、 製造プロセスの最適化、 製造環境のク リ ーン化、 洗浄、 エア一ブロー等が考え られる。 しか し、 このよ う な対策だけ では耐圧を望ま し い値まで高める こ とが困難であ り 、 よ り 効 果の大きな耐圧改善策が強 く 望まれている。 また、 コス ト低 減の観点から も、 ク リ ーン度を非常に高 く した り 、 徹底的な 微粒子除去をする よ う な方向は望ま し く ない。
発明の開示 以上述べたよ う に、 F E D においては、 内部の高真空維持 と放電対策が重要な課題と なっている。 そ こで、 蛍光面等の 構造物の脱ガス を行う ために、 真空中で高温べ一キングを行 つているが、 充分な脱ガス効果を得る こ と が難 しい。 また、 放電が起きないよ う にする 目 的で、 動作電圧であるアノ ー ド 電圧を下げた り 、 前面基板と背面基板と のギャ ッ プを大き く した りする と 、 輝度や解像度などの性能を犠牲にせざる をえ ず、 製品 と して望まれる性能を満たすこ と が困難と なる。 F E Dは真空中で封着されるため、 前面基板および背面基板を 真空槽に投入する際に付着する異物ゃゲッ タ フ ラ ッ シュ時に 発生する発麈を除去する手段がない。
本発明は、 このよ う な課題を解決するためのものであ り 、 その目的は、 耐圧性が高 く 、 表示性能および信頼性に優れた 画像表示装置を製造する こ と が可能な画像表示装置の製造方 法および製造装置を提供する こ と にある。
上記目 的を達成するため、 この発明の形態に係る画像表示 装置の製造方法は、 蛍光面が形成された前面基板と 、 複数の 電子放出素子が設け られた背面基板と を備えた画像表示装置 の製造方法において、
真空雰囲気中で、 上記前面基板および背面基板の少な く と も一方の基板と処理電極と を対向 させ、 上記少な く と も一方 の基板と処理電極との間に電界を印加 して上記少な く と も一 方の基板を電界処理 し、 上記電界処理の後、 上記前面基板と 背面基板と を真空雰囲気中に維持 した状態で互いに封着する。
この発明の他の態様に係る画像表示装置の製造方法は、 蛍 光面が形成された前面基板と 、 複数の電子放出素子が設け ら れた背面基板と を備えた画像表示装置の製造方法において、 真空雰囲気中で、 上記前面基板と開孔部を有する処理電極 と を対向 させ、 上記前面基板と処理電極と の間に電界を印加 して上記前面基板を電界処理 し、 上記電界処理の後、 上記前 面基板と背面基板と を真空雰囲気中に維持 した状態で互いに 封着する。
この発明の態様に係る画像表示装置の製造装置は、 蛍光面 が形成された前面基板と 、 複数の電子放出素子が設けられた 背面基板と を備えた画像表示装置の製造装置において、 内部 が真空に維持されている と と も に上記前面基板および背面基 板の少な く と も一方の基板を収納可能な真空チャ ンバと 、 上 記真空チャ ンバ内に上記少な く と も一方の基板と対向 して配 置された処理電極と 、 上記少な く と も一方の基板と処理電極 との間に電界を印加する電界印加部と 、 上記真空チャ ンバ内 に設けられ上記少な く と も一方の基板にゲッ タ 膜を形成する ゲッ タ 装置と 、 を備えている。
この発明の態様に係る画像表示装置の製造装置は、 蛍光面 が形成された前面基板と、 複数の電子放出素子が設けられた 背面基板と を備えた画像表示装置の製造装置において、 内部 が真空に維持されている と と も に上記前面基板を収納可能な 真空チャ ンバと 、 上記真空チャ ンバ内に上記前面基板と対向 して配置され開孔部を有 した処理電極と 、 上記前面基板と処 理電極と の間に電界を印加する電界印加部と を備えている。
上記のよ う に構成された画像表示装置の製造方法および製 造装置によれば、 真空雰囲気中で基板と対向 して配置された 処理電極と基板とに電界を印加 して電界処理するこ とによ リ 、 基板に残留 した異物、 突起等を除去 し、 放電発生の要因を取 リ 除く こ とができる。 これによ り 、 耐圧特性に優れ、 表示性 能および信頼性の向上 した画像表示装置を製造する こ とがで きる o
図面の簡単な説明
図 1 は、 この発明の第 1 の実施形態に係る製造方法および 製造装置によ リ 製造される F E Dの一例を示す斜視図。
図 2 は、 図 1 の線 1 1一 1 1 に沿った上記 F E Dの断面図。 図 3 は、 本発明の第 1 の実施形態に係る製造方法および製 造装置を概略的に示す断面図。
図 4は、 本発明の第 2の実施形態に係る製造方法および製 造装置を概略的に示す断面図。
図 5 は、 本発明の第 3の実施形態に係る製造方法および製 造装置を概略的に示す断面図。
図 6 は、 本発明の第 4の実施形態に係る製造方法および製 造装置を概略的に示す断面図。
図 7 は、 本発明の第 5の実施形態に係る製造方法および製 造装置を概略的に示す断面図。
図 8 は、 本発明の第 6の実施形態に係る製造方法および製 造装置を概略的に示す断面図。
図 9 は、 本発明の第 7の実施形態に係る製造方法および製 造装置を概略的に示す断面図。
図 1 0 は、 本発明の第 8の実施形態に係る製造方法および 製造装置を概略的に示す断面図。
発明を実施するための最良の形態
以下図面を参照 しながら、 この発明の実施形態に係る画像 表示装置の製造方法および製造装置について詳細に説明する。
始めに、 本製造方法および製造装置によ り 製造される画像 表示装置と して、 表面伝導型の電子放出素子を備えた F E D を例にと って説明する。
図 1 および図 2 に示すよ う に、 この F E Dは、 絶縁基板と してそれぞれ板厚が 1 〜 3 m m程度の矩形状のガラス板か ら なる前面基板 1 1 、 および背面基板 1 2 を備え、 これらの基 板は 1 〜 2 m mの隙間を置いて対向配置されている。 前面基 板 1 1 および背面基板 1 2 は、 矩形枠状の側壁 1 3 を介 して 周縁部同士が接合され、 内部が 1 0 — 4 p a 程度の高真空に 維持された扁平な矩形状の真空外囲器 1 0 を構成 している。
真空外囲器 1 0 の内部には、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 に加わる大気圧荷重を支えるため、 複数のスぺーサ 1 4 が設けられている。 スぺーサ 1 4 と しては、 板状あるいは柱 状のスぺーサ等を用いる こ とができる。
前面基板 1 1 の内面上には、 蛍光面と して、 赤、 緑、 青の ス ト ライ プ状の蛍光体層 1 6 と マ ト リ ックス状の黒色光吸収 層 1 7 と を有 した蛍光体スク リ ーン 1 5 が形成されている。 蛍光体層 1 6 は ドッ ト状に形成されて も よ い。 蛍光体スク リ —ン 1 5 上には、 アルミ ニウム膜等からなるメ タ ルバッ ク 2 0 が形成され、 更に、 メ タ ルバッ ク に重ねてゲッ タ 膜 2 2 が 形成されている。 背面基板 1 2の内面上には、 蛍光体スク リ ーン 1 5 の蛍光 体層 1 6 を励起する電子源と して、 それぞれ電子ビームを放 出する多数の表面伝導型の電子放出素子 1 8 が設けられてい る。 これらの電子放出素子 1 8 は、 画素毎に対応 して複数列 および複数行に配列されている。 各電子放出素子 1 8 は、 図 示 しない電子放出部、 この電子放出部に電圧を印加する一対 の素子電極等で構成されている。 背面基板 1 2 の内面には、 電子放出素子 1 8 に電位を供給する多数本の配線 2 1 がマ 卜 リ ック状に設けられ、 その端部は真空外囲器 1 0の外部に引 出されている。
このよ うな F E Dでは、 画像を表示する場合、 蛍光体スク リーン 1 5 およびメ タルバック 2 0 にァノ一 ド電圧を印加 し、 電子放出素子 1 8から放出された電子ビームをアノ ー ド電圧 によ り加速して蛍光体スク リ ーンへ衝突させる。 これによ り 、 蛍光体スク リーン 1 5の蛍光体層 1 6が励起されて発光 し、 力ラー画像を表示する。
次に、 上記のよ う に構成された F E Dの製造装置および製 造方法について説明する。 図 3 に示すよう に、 製造装置は、 真空処理槽で構成された真空チャ ンバ 3 0 を備え、 この真空 チャ ンバには、 内部を真空排気する排気ポンプ 3 2 が接続さ れている。
真空チャ ンバ 3 0 内には、 第 1 処理電極 3 4 、 第 2処理電 極 3 6 、 およびゲッタ装置 3 8が設けられている。 第 1 およ び第 2処理電極 3 4 、 3 6 は、 それぞれ処理対象となる基板 とほぼ等 しい寸法の板状に形成されている。 第 1 および第 2 処理電極 3 4 、 3 6 は、 ほぼ水平に、 かつ、 隙間をおいて並 んで設けられている。 第 1 および第 2処理電極 3 4 、 3 6 は、 それぞれ接地電位に接続されている。
第 1 および第 2処理電極 3 4 、 3 6間にはゲッタ蒸着位置 4 0が規定され、 このゲッタ蒸着位置 4 0の下方にゲッタ装 置 3 8 が配置されている。 ゲッタ装置 3 8 は、 ゲッ タ蒸着位 置 4 0 に向かって開放したカバー 4 2、 カバ一内の底部に設 けられたゲッタ材 4 4 、 およびゲッタ材を加熱する加熱機構 4 5 を備えている。 加熱機構 4 5 と しては、 高周波加熱方式 あるいは抵抗加熱方式の加熱機構を用いる こ とができる。
製造装置は、 処理対象となる基板に電圧を印加する電源 4 6 、 並びに、 真空チャ ンバ 3 0 内において、 基板を第 1 処理 電極 3 4 と対向する第 1 電界処理位置、 ゲッ タ蒸着位置 4 0 、 および第 2処理電極 3 6 と対向する第 2電界処理位置の間で 搬送する図示しない基板搬送機構を備えている。
次に、 製造装置によ り基板を処理する方法について説明す る。 こ こでは、 蛍光体スク リーン 1 5 およびメ タ ルバック 2 0が形成された前面基板 1 1 を処理する場合について説明す る。
図 3 に示すよ う に、 まず、 排気ポンプ 3 2 によ り真空チヤ ンバ 3 0 内を所望の真空度まで真空排気し、 真空チャ ンバ内 を真空雰囲気とする。 続いて、 真空チャ ンバ 3 0 内に前面基 板 1 1 を搬入 し、 第 1 電界処理位置に設置する。 この第 1 電 界処理位置において、 前面基板 1 1 は、 メ タルバック 2 0側 の表面全体が第 1 処理電極 3 4 と所望の隙間を置いて対向配 置される。
次に、 電界印加部と して機能する電源 4 6 をメ タ ルバック 2 0 に電気的に接続 し、 電源 4 6から メ タ ルバッ ク に電圧を 印加する。 メ タ ルバック 2 0 に印加する電圧は、 メ タ ルバッ ク と第 1 処理電極 3 4 との間でプラスある いはマイナスの電 位差が生 じる よ う に設定する。 これによ り 、 前面基板 1 1 と 第 1 処理電極 3 4 との間に電界が発生 し、 前面基板 1 1 が電 界処理される。 この電界処理によ り 、 前面基板 1 1 上に残留 していた麈、 埃等の異物を第 1 処理電極 3 4 に吸着 し除去す る と と もに、 前面基板の生産過程で形成された不用な突起な どを除去する。
電界処理が完了 した後、 第 1 処理電極 3 4 と前面基板 1 1 との間に電位差を与えたまま、 かつ第 1 処理電極 3 4 との間 隔を保ちながら 、 前面基板をゲッ タ蒸着位置 4 0 に搬送する。 このよ う に電位差を維持する こ とによ り 、 第 1 処理電極 3 4 で吸着した異物あるいは除去された突起を第 1 処理電極上に 保持 し、 前面基板 1 1 側に再度付着する こ と を防止する。
ゲッタ蒸着位置 4 0 において、 前面基板 1 1 はそのメ タル バッ ク 2 0側の表面が下を向いた状態でゲッ タ 装置 3 8 の力 バー 4 2 の上部開口 と対向する。 この状態で、 カバー 4 2の 底部上に設け られたゲッ タ材 4 4 を加熱機構 4 5 によ り 加熱 して蒸発させ、 ゲッ タ フラ ッ シュを行う 。 これによ り 、 前面 基板 1 1 のメ タ ルバック 2 0上にゲッ タ を蒸着 しゲッタ膜 2 2 を形成する。 なお、 前面基板 1 1 の下方に位置 したゲッタ 材 4 4 を用いて、 下から上に向かってゲッ タ フ ラ ッ シュする こ と によ り 、 ゲッタ フラ ッシュに伴って発生する粉塵等が前 面基板 1 1 側に付着する こ とが防止される。
ゲッ タ膜 2 2 の成膜後、 電源 4 6 との接続を維持 した状態 で、 前面基板 1 1 をゲッ タ蒸着位置 4 0 から第 2 電界処理位 置に搬送する。 第 2 電界処理位置において、 前面基板 1 1 は、 ゲッ タ膜 2 2側の表面全体が第 2 処理電極 3 6 と所望の隙間 を置いて対向配置される。
続いて、 電源 4 6 から メ タ ルバッ ク 2 0 およびゲッタ 膜 2 2 に電圧を印加する。 印加する電圧は、 前面基板 1 1 と 第 2 処理電極 3 6 との間でプラスある いはマイナスの電位差が生 じる よ う に設定する。 これによ り 、 前面基板 1 1 と第 2 処理 電極 3 6 との間に電界を発生させ、 前面基板 1 1 を再び電界 処理する。 電界処理によ り 、 ゲッ タ 蒸着工程で発生 した塵や 真空チャ ンバ 3 0 内の浮遊物質等の前面基板に付着 した塵、 埃等の異物を第 2処理電極 3 6 に吸着 し除去する と と も に、 ゲッ タ蒸着工程で前面基板に形成された不用な突起などを除 去する。
その後、 前面基板 1 1 と第 2 処理電極 3 6 と の間に電位差 を与えたまま、 かつ、 処理電極 3 4 との間隔を保ちながら 、 前面基板を第 2 処理電極から遠ざける。 一方、 配線 2 1 お よび電子放出素子 1 8 等が形成された背面基板 1 2 は、 ゲッ タ蒸着を除いて上記と 同様の工程によ り 電界処理される。 た だ し、 背面基板 1 2 の電界処理は少な く と も 1 回行えばよ い。
電界処理された前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を大気に 晒すこ と な く 真空雰囲気中に維持 した状態で図示 しない封着 位置へ搬送し、 こ こで互いに封着 して真空外囲器 1 0 を形成 する。 これによ り 、 F E Dの真空外囲器が完成する。 なお、 基板の封着は、 上述した電界処理を行う真空チャ ンバ 3 0 と 同一の真空チャ ンバ内、 あるいは、 真空チャ ンバ 3 0 と真空 状態で連通した他の真空チャンバ内のいずれで行っても よい。
上記のよ う に構成された製造方法および製造装置によれば、 真空チャ ンバへ投入される前に前面基板 1 1 、 背面基板 1 2 に付着した粉塵などの異物および前面基板、 背面基板の生産 過程で形成された不用な突起などを除去する こ とができる。 また、 これらの基板を真空チャンバへ投入した後、 ゲッタ蒸 着工程で発生 した塵や真空チャンバ内の浮遊物質等の基板に 付着 した塵、 埃等の異物を除去する こ とができる。 これによ リ 、 放電発生の ト リ ガとなる要因を取り 除き、 耐圧特性の向 上 した F E D を得ることができる。 特に、 前面基板、 背面基 板の電界処理、 およびゲッタ蒸着処理を真空チャンバ内で行 つた後、 これらの基板を大気に晒すこ とな く 互いに封着 して 真空外囲器を形成するこ と によ り 、 大気中の粉塵などが基板 に再付着する恐れがなく 、 初期放電および長期に渡る放電の 抑制を実現する こ とができる。
その結果、 放電に伴う蛍光面や電子放出素子の破壊、 劣化、 更には、 駆動回路の破壊を防止し、 F E Dの信頼性向上およ び長寿命化を図る ことができる。 同時に、 アノー ド電位を高 く 設定する こ とが可能とな り 、 高輝度で表示性能の高い F E D を得る こ とができる。
上述した第 1 の実施形態では、 処理電極をゲッタ装置 3 8 の前後にそれぞれ設ける構成と したが、 図 4 に示す第 2 の実 施形態のよ う に、 処理電極を 1 個 と しても実施可能である。 この場合、 処理電極 3 4 によ り 前面基板 1 1 の電界処理を行 つた後、 前面基板をゲッ タ 蒸着位置 4 0 に搬送 しゲッ タ 蒸着 を行な う 。 その後、 前面基板 1 1 を再び処理電極 3 4 と対向 する位置に戻 し、 電界処理を行う 。
このよ う な構成によれば、 上述 した第 1 の実施形態と 同様 の作用効果が得られる と と も に、 製造装置の簡略化を図る こ とができる。
図 5 に示す第 3 の実施形態のよ う に、 処理電極 3 4 を 1 個 と し、 ゲッ タ膜を形成 した後にのみ、 前面基板 1 1 を処理電 極 3 4 と対向する電界処理位置に搬送 し、 前面基板の電界処 理を行う構成と しても よい。 この場合においても 、 最終的に 真空外囲器内に露出 して背面基板 1 2 と対向するゲッ タ膜 2 2 を電界処理するこ と によ り 、 ゲッ タ膜に付着 した粉塵な ど の異物および製造過程で形成された不用な突起などを除去す る こ と ができる。 その結果、 F E Dの耐圧特性を充分に向上 させる こ とが可能となる。
ある いは、 処理電極を 1 つ と し、 ゲッ タ膜蒸着前にのみ電 界処理を行う構成と しても よ く 、 この場合でも耐圧特性の向 上を図る こ とができる。
更に、 上述 した実施形態では、 基板の下方に配置されたゲ ッ タ 材を用いて、 下から上に向かってゲッ タ フ ラ ッ シュする こ と によ り 、 ゲッ タ フ ラ ッ シュに伴って発生する粉塵の基板 への付着を低減する構成と したが、 図 6 に示す第 4 の実施形 態のよ う に、 ゲッタ材 4 4 を含むゲッ タ 装置 3 8 を処理対象 と なる基板の上方に配置 し、 上から下に向かってゲッ タ フラ ッ シュ を行う構成とする こ と もできる。 ゲッ タ フ ラ ッ シュの 方向は、 上下方向に限らず、 他の方向か らでも実施可能であ る こ と は言う までもない。
図 7 に示す第 5の実施形態のよ う に、 電界処理を行う 際、 基板側を接地電位と し、 電源 4 6 から処理電極 3 4 、 3 6 自 体に電圧を印加する構成と して も よい。 この構成によれば、 高電圧印加が可能と な り 、 電界処理の効果を高める こ とがで きる。 例えば、 処理電極 3 4 、 3 6 にマイナスの電位を印加 する こ とで、 前面基板 1 1 または背面基板 1 2 に プラスの電 位を印加 した事にな り 、 前述 した実施形態と 同様の効果を得 られる と と もに、 高電圧が印加できるメ リ ッ トがある。 もち ろん、 処理電極にプラス電位を印加 しても同様の効果が得ら れる こ と は言う までもない。
なお、 上述 した第 2 ない し第 5 の実施の形態において、 他 の構成は前述 した第 1 の実施の形態と 同一であ り 、 同一の部 分には同一の参照符号を付 してその詳細な説明を省略する。
次に、 この発明の第 6 の実施形態に係る F E Dの製造装置 および製造方法について説明する。 図 8 に示すよ う に、 製造 装置は、 真空処理槽で構成された真空チャ ンバ 3 0 を備え、 この真空チャ ンバには、 内部を真空排気する排気ポンプ 3 2 が接続されている。
真空チャ ンバ 3 0 内には、 ゲッ タ膜を形成するゲッ タ 装置 3 8 が配置されている。 ゲッ タ 装置 3 8 は、 下端に開口 3 7 を有 したほぼ箱状のカバー 4 2 を備えている。 カバー 4 2 内 の天井壁にはゲッ タ 材 4 4 が設け られ、 開口 3 7 と対向 して いる。 更に、 ゲッ タ装置 3 8 は、 ゲッ タ材 4 4 を加熱する力□ 熱機構 4 5 を備えている。 加熱機構 4 5 と しては、 高周波加 熱方式あるいは抵抗加熱方式の加熱機構を用いる こ とができ る。
カバー 4 2 の開口 3 7 は、 処理対象と なる基板と ほぼ等 し い寸法に形成されている。 そ して、 この開口 3 7 を覆う よ う に して処理電極 3 4 が設けられ、 カバ一 4 2 に取 リ 付けられ ている。 処理電極 3 4 には、 ゲッ タが通過するための多数の 透孔が全体に渡って形成され、 開孔部を構成 している。
製造装置は、 処理対象と なる基板に電圧を印加する電源 4 6 、 並びに、 真空チャ ンバ 3 0 内において、 基板を処理電極 3 4 と対向する処理位置、 すなわち、 電界処理位置おょぴゲ ッ タ蒸着位置、 に搬送する図示 しない基板搬送機構を備えて いる。
なお、 処理基板を処理電極 3 4 と対向する処理位置に配置 した状態において、 ゲッ タ材 4 4 と処理電極との間隔は、 処 理電極と処理基板との間隔よ り も広 く なる よ う に設定されて いる。
次に、 上記製造装置によ り 基板を処理する方法について説 明する。 こ こでは、 蛍光体スク リ ーン 1 5 およびメ タ ルバッ ク 2 0が形成された前面基板 1 1 を処理する場合について説 明する。
図 8 に示すよ う に、 まず、 排気ポンプ 3 2 によ り 真空チヤ ンバ 3 0内を所望の真空度まで真空排気 し、 真空チャ ンバ内 を真空雰囲気とする。 続いて、 真空チャ ンバ 3 0 内に前面基 板 1 1 を搬入 し、 図示の処理位置に配置する。 処理位置にお いて、 前面基板 1 1 は、 メ タ ルバッ ク 2 0側の表面全体が処 理電極 3 4 と所望の隙間を置いて対向配置される。
次に、 電界印加部と して機能する電源 4 6 をメ タ ルバック 2 0 に電気的に接続 し、 電源 4 6 から メ タ ルバッ ク に電圧を 印加する。 この時、 処理電極 3 4 は接地電位に接続されてい る。 メ タ ルノくッ ク 2 0 に印加する電圧は、 メ タ ルバック と処 理電極 3 4 と の間でプラスあるいはマイナスの電位差が生 じ る よ う に設定する。 これによ り 、 前面基板 1 1 と処理電極 3 4 との間に電界が発生 し、 前面基板 1 1 が電界処理される。 この電界処理によ り 、 前面基板 1 1 上に残留 していた塵、 埃 等の異物を処理電極 3 4 に吸着 し除去する と と もに、 前面基 板の生産過程で形成された不用な突起な どを除去する。
電界処理が完了 した後、 処理電極 3 4 と前面基板 1 1 との 間に電位差を与えたまま、 前面基板 1 1 を処理電極 3 4 と対 向 しない位置まで移動させる。 これによ り 、 処理電極 3 4 で 吸着 した異物あるいは除去された突起を処理電極上に保持し、 前面基板 1 1 上への異物ある いは除去された突起の落下及び 再付着を防 ぐ。 また、 電界処理後に電位差が与え られていな い状態の時、 処理電極 3 4 によ って吸着ある いは除去された 異物、 突起等は、 前面基板 1 1 上ではな く 、 真空チャ ンバ 3 0 内へ落下する事にな り 、 再度基板が搬送された時の異物あ るいは除去された突起が基板上に落下するのを防止できる。 次に再度、 前面基板 1 1 は、 メ タ ルバッ ク 2 0側の表面全 体が処理電極 3 4 と所望の隙間を置いて対向配置され、 カバ 一 4 2 の天井壁に設け られたゲッ タ材 4 4 を加熱機構 4 5 に よ り加熱 して蒸発させ、 ゲッタ フラ ッ シュ を行う 。 これによ リ 、 ゲッ タ の一部は、 処理電極 3 4 の内、 透孔が形成されて いない領域上に蒸着されてゲッ タ 膜 5 0 を形成する。 ゲッ タ の残 り の部分は処理電極 3 4 の透孔を通過 して前面基板 1 1 のメ タ ルバッ ク 2 0上に蒸着され、 ゲッ タ 膜 2 2 を形成する。
この時、 前面基板 1 1 と処理電極 3 4 と の間の間隔は処理 電極とゲッ タ 材 4 4 との間の間隔よ り も小さ 〈 設定され、 前 面基板 1 1 と処理電極 3 4 との間のコ ンダク タ ンスは、 処理 電極とゲッ タ 材 4 4 との間のコ ンダク タ ンスょ リ も小さ い。 そのため、 ゲッ タ フラ ッ シュ時にゲッ タ材 4 4 か ら放出 され たガスは、 処理電極 3 4 を先に通 り 、 この処理電極上に形成 されたゲッ タ 膜 5 0 によ り吸着され、 前面基板 1 1 に達する こ とがない。 従って、 前面基板 1 1 上に形成されたゲッ タ 膜 2 2 がこのガスによ って劣化される こ と はない。
ゲッ タ 膜 2 2 の成膜後、 電源 4 6 から メ タ ルバック 2 0 お よびゲッ タ膜 2 2 に電圧を印加する。 印加する電圧は、 前面 基板 1 1 と処理電極 3 4 との間でプラスある いはマイナスの 電位差が生 じ る よ う に設定する。 これによ り 、 前面基板 1 1 と処理電極 3 4 との間に電界を発生させ、 前面基板 1 1 を再 び電界処理する。 そ して、 電界処理によ り 、 ゲッ タ蒸着工程 で発生 した塵や真空チャ ンバ 3 0 内の浮遊物質等の前面基板 1 1 に付着 した塵、 埃等の異物を処理電極 3 4 に吸着し除去 する と と もに、 ゲッタ蒸着工程で前面基板に形成された不用 な突起などを除去する。
その後、 前面基板 1 1 と処理電極 3 4 との間に電位差を与 えたまま、 前面基板 1 1 を電極 3 4 と対向 しない位置まで移 動させる。 以上によ り 、 前面基板 1 1 の電界処理およびゲッ タ膜形成が終了する。
—方、 配線 2 1 および電子放出素子 1 8 等が形成された背 面基板 1 2 は、 ゲッタ蒸着を除いて上記と 同様の工程によ り 電界処理する。 ただ し、 背面基板 1 2 の電界処理は少な く と も 1 回行えばよい。
電界処理された前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を大気に 晒す こ と な く 真空雰囲気中に維持 した状態で図示 しない封着 位置へ搬送 し、 こ こで互いに封着 して真空外囲器 1 0 を形成 する。 これによ り 、 F E Dの真空外囲器が完成する。 なお、 基板の封着は、 上述した電界処理を行う真空チャ ンバ 3 0 と 同一の真空チャ ンバ内、 ある いは、 真空チャ ンバ 3 0 と真空 状態で連通 した他の真空チャ ンバ内のいずれで行っても よい。
上記のよ う に構成された製造方法および製造装置によれば、 真空チャ ンバへ投入される前に前面基板 1 1 、 背面基板 1 2 に付着 した粉塵な どの異物および前面基板、 背面基板の生産 過程で形成された不用な突起な どを電界処理によ リ 除去する こ と ができる。 また、 これらの基板を真空チャ ンバへ投入 し た後、 ゲッ タ 蒸着工程で発生 した塵や真空チャ ンバ内の浮遊 物質等の基板に付着 した塵、 埃等の異物を電界処理によ って 除去する こ とができる。 これによ り 、 放電発生の ト リ ガと な る要因を取 り 除き、 耐圧特性の向上 した F E D を得る こ とが できる。 特に、 前面基板、 背面基板の電界処理、 およぴゲッ タ 蒸着処理を真空チャ ンバ内で行った後、 これらの基板を大 気に晒すこ と な く 真空外囲器を形成する こ と によ り 、 大気中 の粉塵などが基板に再付着する恐れがな く 、 初期放電および 長期に渡る放電の抑制を実現する こ とができる。
その結果、 放電に伴う 蛍光面や電子放出素子の破壊、 劣化、 更には、 駆動回路の破 を防止 し、 F E Dの信頼性向上およ び長寿命化を図る こ とができる。 同時に、 アノ ー ド電位を高 く 設定する こ とが可能と な り 、 高輝度で表示性能の高い F E D を得る こ と ができる。 更に、 前面基板 1 1 に形成されたゲ ッ タ膜のガス吸着特性の劣化を防止でき、 長期間に渡っ て高 い真空度を維持 し超寿命の製品を得る こ とができる。
また、 処理電極に開孔部を設ける こ と によ り 、 処理基板を 同一の位置に保持 した状態で、 電界処理およびゲッ タ 膜蒸着 を行う こ とができる。 これによ り 、 処理工程の簡略化および 製造装置の簡略化を図る こ とが可能と なる。 処理電極の開孔 部が設けられていない領域にもゲッ タ膜を形成 し、 ゲッ タ フ ラ ッ シュ時に発生するガスをこのゲッ タ膜によ り 吸着する こ とができ、 その結果、 前面基板上に形成されたゲッ タ膜は劣 化する こ と な く 高いガス吸着特性を維持する こ と が可能と な る。
上述 した第 6 の実施形態では、 ゲッ タ膜の蒸着前後で 2 回 の電界処理を行う構成と したが、 ゲッ タ膜を形成 した後のみ に、 前面基板 1 1 の電界処理を行う構成と して も よい。 この 場合においても、 最終的に真空外囲器内に露出 して背面基板 1 2 と対向するゲッ タ 膜 2 2 を電界処理する こ と によ り 、 ゲ ッ タ膜に付着 した粉塵などの異物および製造過程で形成され た不用な突起などを除去する こ とができる。 その結果、 F E Dの耐圧特性を充分に向上させる こ とができ、 上述 した実施 形態と 同様の作用効果を得る こ とができる。 あるいは、 ゲッ タ膜蒸着前にのみ電界処理を行う構成と して も よ く 、 この場 合でも耐圧特性の向上を図る こ とができる。
上述 した第 6 の実施形態では、 処理基板の上方に配置され たゲッ タ材 4 4 を用いて、 上から下に向かってゲッ タ フ ラ ッ シュする構成と したが、 図 9 に示す第 7 の実施形態のよ う に、 ゲッ タ材 4 4 を処理基板の下方に配置し、 下か ら上に向かつ てゲッ タ フラ ッ シュ を行う構成とする こ と もできる。 この場 合、 ゲッ タ フラ ッ シュに伴って発生する粉塵の基板への付着 を一層確実に低減する こ とが可能と なる。 ゲッ タ フ ラ ッ シュ の方向は、 上下方向に限らず、 他の方向からでも実施可能で ある こ と は言う までもない。
図 1 0 に示す第 8 の実施形態によれば、 処理電極 3 4 は絶 縁碍子 6 0等の絶縁部材によ リ 、 カバ一 4 2 に対 してフ ロー ティ ング状態に支持されている。 処理電極 3 4 には電源 4 6 が電気的に接続され、 前面基板 1 1 のメ タ ルバッ ク は接地電 位に接続されている。 この構成によれば、 処理電極 3 4 自体 に高電圧を印加可能と な り 、 電界処理の効果を高める こ とが できる。 例えば、 処理電極 3 4 にマイナスの電位を印加する こ と で、 前面基板 1 1 または背面基板 1 2 にプラスの電位を 印加 した事にな り 、 前述 した実施形態と 同様の効果を得られ る。 更に、 高電圧が印加できる と言ったメ リ ッ トがある。 も ち ろん、 処理電極 3 4 にプラス電位を印加 して も 同様の効果 が得られる こ と は言う までもない。
第 7 および第 8 の実施形態において、 他の構成は前述 した 第 6 の実施形態と 同一であ り 、 同一の部分には同一の参照符 号を付 してその詳細な説明を省略する。
この発明は上述 した複数の実施形態に限定される こ と な く 、 この発明の範囲内で種々変形可能である。 例えば、 上述 した 実施形態において、 処理電極は、 処理対象と なる基板と ほぼ 同一の寸法を有 した構成と したが、 基板よ り も寸法の小さ な 処理電極を用い、 この処理電極と基板と を相対的に移動させ る こ と によ り基板の全面を電界処理する構成と しても よい。
また、 上述 した実施形態では、 前面基板および背面基板の 両方を真空雰囲気中で電界処理する構成と してが、 少な く と も一方の基板を電界処理する こ と によ つても耐圧特性の向上 した画像表示装置を得る こ とができる。 この発明は、 F E D に限らず、 他の画像表示装置にも適用可能である。
産業上の利用可能性
以上詳述 したよ う に、 本発明によれば、 長寿命で耐圧特性 に優れ、 信頼性の向上 した高性能の画像表示装置を製造可能 な製造方法、 および製造装置を提供する こ とができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 蛍光面が形成された前面基板と 、 複数の電子放出素 子が設けられた背面基板と を備えた画像表示装置の製造方法 において、
真空雰囲気中で、 上記前面基板および背面基板の少な く と も一方の基板と処理電極と を対向させ、 上記少な く と も一方 の基板と処理電極との間に電界を印加 して上記少な く と も一 方の基板を電界処理 し、
上記電界処理の後、 上記前面基板と背面基板と を真空雰囲 気中に維持 した状態で互いに封着する画像表示装置の製造方 法。
2 . 真空雰囲気中で、 ゲッ タ フラ ッ シュによ り 上記前面 基板の蛍光面側にゲッ タ膜を形成した後、 上記電界処理を行 う請求項 1 に記載の画像表示装置の製造方法。
3 . 上記電界処理を行った後、 上記封着の前に、 真空雰 囲気中で、 ゲッ タ フラ ッ シュによ り 上記前面基板の蛍光面側 にゲッ タ膜を形成する請求項 1 に記載の画像表示装置の製造 方法
4 . 真空雰囲気中で、 上記電界処理を行った後、 上記前 面基板の蛍光面側にゲッ タ フ ラ ッ シュによ リ ゲッ タ膜を形成 し、 このゲッ タ 膜の形成された前面基板に対 し再び上記電界 処理を行う請求項 1 に記載の画像表示装置の製造方法
5 . 蛍光面が形成された前面基板と 、 複数の電子放出素 子が設けられた背面基板と を備えた画像表示装置の製造方法 において、 真空雰囲気中で、 上記前面基板の蛍光面側にゲッ タ フ ラ ッ シュによ り ゲッ タ膜を形成し、
上記前面基板のゲッ タ膜側と処理電極と を対向 させ、 上記 前面基板と処理電極との間に電界を印加 して上記前面基板を 電界処理 し、
上記電界処理された前面基板を真空雰囲気中に維持 した状 態で、 前記背面基板と封着する画像表示装置の製造方法。
6 . 蛍光面が形成された前面基板と 、 複数の電子放出素 子が設け られた背面基板と を備えた画像表示装置の製造方法 において、
真空雰囲気中で、 上記前面基板の蛍光面側と処理電極と を 対向させ、 上記前面基板と処理電極との間に電界を印加 して 前面基板を電界処理 した後、 上記電界処理された前面基板の 蛍光面側にゲッ タ フ ラ ッ シュによ り ゲッ タ膜を形成 し、 上記ゲッ タ 膜の形成された前面基板を真空雰囲気中に維持 した状態で、 前記背面基板と封着する画像表示装置の製造方 法。
7 . 真空雰囲気中で、 上記前面基板のゲッ タ 膜と処理電 極と を対向 させ、 上記前面基板と処理電極との間に電界を印 加 して前面基板を電界処理した後、 上記前面基板を真空雰囲 気中に維持 した状態で、 前記背面基板と封着する請求項 6 に 記載の画像表示装置の製造方法。
8 . 真空雰囲気中で、 上記前面基板の下方に配置された ゲッ タ材を蒸発させて上記ゲッ タ膜を形成する請求項 2 ない し 7 のいずれか 1 項に記載の画像表示装置の製造方法。
9 . 蛍光面が形成された前面基板と 、 複数の電子放出素 子が設け られた背面基板と を備えた画像表示装置の製造方法 において、
真空雰囲気中で、 上記前面基板と 開孔部を有 した処理電極 と を対向 させ、 上記前面基板と処理電極との間に電界を印加 して上記前面基板を電界処理 し、
上記電界処理の後、 上記前面基板と背面基板と を真空雰囲 気中に維持 した状態で互いに封着する画像表示装置の製造方 法。
1 0 . 真空雰囲気中で、 上記処理電極を通 してゲッ タ フ ラ ッ シュ を行い上記前面基板の蛍光面側にゲッ タ膜を形成し た後、 上記電界処理を行う請求項 9 に記載の画像表示装置の 製造方法。
1 1 . 上記電界処理を行った後、 上記封着の前に、 真空 雰囲気中で、 上記処理電極を通 してゲッ タ フ ラ ッ シュ を行い 上記前面基板の蛍光面側にゲッ タ 膜を形成する請求項 9 に記 載の画像表示装置の製造方法
1 2 . 真空雰囲気中で、 上記電界処理を行った後、 上記 処理電極を通 してゲッタ フラ ッ シュ を行い上記前面基板の蛍 光面側にゲッ タ 膜を形成し、 このゲッ タ膜の形成された前面 基板に対 し再び上記電界処理を行う請求項 9 に記載の画像表 示装置の製造方法
1 3 . 上記ゲッ タ フラ ッ シュによ り 上記処理電極上にゲ ッ タ膜を形成する請求項 1 0 ない し 1 2 のいずれか 1 項に記 載の画像表示装置の製造方法。
1 4 . 上記ゲッ タ フラ ッ シュに用いるゲッ タ材と上記処 理電極との間のコ ンダク タ ンスを、 上記処理電極と前面基板 との間のコ ンダク タ ンスよ り も大き く 設定 した状態で、 上記 ゲッ タ フ ラ ッ シュを行う請求項 1 0 ない し 1 2 のいずれか 1 項に記載の画像表示装置の製造方法。
1 5 . 蛍光面が形成された前面基板と 、 複数の電子放出 素子が設けられた背面基板と を備えた画像表示装置の製造装 置において、
内部が真空に維持されている と と もに上記前面基板および 背面基板の少な く と も一方の基板を収納可能な真空チャ ンバ 上記真空チャ ンバ内に上記少な く と も一方の基板と対向 し て配置された処理電極と 、
上記少な く と も一方の基板と処理電極との間に電界を印加 する電界印加部と、
上記真空チャ ンバ内に設け られ上記少な く と も一方の基板 にゲッ タ膜を形成するゲッ タ装置と 、 を備えた画像表示装置 の製造装置。
1 6 . 蛍光面が形成された前面基板と 、 複数の電子放出 素子が設け られた背面基板と を備えた画像表示装置の製造装 置において、
内部が真空に維持されている と と もに上記前面基板を収納 可能な真空チャ ンバと 、
上記真空チャ ンバ内に上記前面基板と対向 して配置され開 孔部を有 した処理電極と 、 上記前面基板と処理電極との間に電界を印加する電界印加 部と、
を備えた画像表示装置の製造装置。
1 7 . 上記真空チャ ンバ内において、 上記処理電極を間 に挟んで上記前面基板と対向 して配置され、 上記前面基板上 にゲッ タ膜を形成するゲッ タ 装置を備えている請求項 1 6 に 記載の画像表示装置の製造装置。
1 8 . 上記ゲッタ装置は、 上記処理電極を間に挟んで上 記前面基板と対向 して配置されたゲッ タ材を備え、 ゲッ タ材 と上記処理電極との間のコ ンダク タ ンスは、 上記処理電極と 前面基板との間のコ ンダク タ ンスよ り も大き く 設定されてい る請求項 1 7 に記載の画像表示装置の製造装置。
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