WO2004073363A1 - プラズマ発生装置およびプラズマ発生方法ならびにリモートプラズマ処理装置 - Google Patents

プラズマ発生装置およびプラズマ発生方法ならびにリモートプラズマ処理装置 Download PDF

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05HPLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
    • H05H1/00Generating plasma; Handling plasma
    • H05H1/24Generating plasma
    • H05H1/46Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy

Definitions

  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing a schematic structure of the plasma generator 100.
  • the plasma generator 100 is roughly composed of a microwave generator 10, a coaxial waveguide 20 composed of an inner tube 20 a and an outer tube 20 b, and a distal end of the inner tube 20 a. It has a monopole antenna 21 attached thereto, a resonator 22 and a chamber 23.
  • the isolator 13 has a circulator and a dummy load (coaxial terminator).
  • the circulator guides the microwave going backward from the monopole antenna 21 to the amplifier 12 to the dummy load, and
  • the load converts the microphone mouth waves guided by the circulator into heat.
  • the thickness of the slag tuners 14a and 14b is determined by the wavelength of the microwave generated by the microwave generator 10a, and the relative dielectric constant of the material constituting the slag tuner 14a'14b.
  • Wavelength obtained by dividing the coefficient a by ⁇ r 1 wavelength and a by the square root of the relative permittivity ⁇ r ( ⁇ r ⁇ 1/2 ); I g ⁇ ( ⁇ a / ⁇ r 1 1 2 , that is, a slag tuner when 1 4 a ⁇ 1 4 wavelength of the microwave in the b) and, to be about 2 5% of the wavelength tut ⁇ 1 (1Z4 wavelength).
  • the monopole antenna 21 attached to one end of the inner tube 20a has a rod shape (pillar shape), and the monoball antenna 21 is buried and held in the resonator 22.
  • the resonator 22 is held by the force par 24, and closes the opening surface (upper surface) of the champ 23 when the cover 24 is attached to the chamber 23, as described later.
  • the microwave radiated from the monopole antenna 21 causes a standing wave to stand in the resonator 22. As a result, the microwaves are uniformly radiated to the chamber 23.
  • the wavelength of the microwave generated by the microwave generator 10 is ⁇ a
  • the relative permittivity of the resonator 22 is ⁇ r 2
  • the wavelength; I a is the square root of the relative permittivity ⁇ r 2 r 2 1/2
  • the length (height) H of the monopole antenna 21 is set to 25% (14 wavelengths) of the wavelength g 2 and the thickness of the resonator 22 (the thickness ( Let D 1) be this wavelength; 50% of lg 2 (1 2 wavelengths).
  • the quartz-based material, the single-crystal alumina material, the polycrystalline alumina material, and the aluminum nitride-based material used for the resonator 22 are non-magnetic materials, their relative magnetic permeability is almost 1.0, and the vacuum permeability is Same as magnetic susceptibility. Thereby, the microwave can be efficiently radiated to the chamber 23.
  • Process gas discharged from the gas discharge port 2 6 in the inner space of the chamber 2 3 is excited by the microwave radiated into the interior space of the chamber 2 3 through the resonator 2 2 from Monopo one Ruantena 2 1, plasma is generated I do.
  • the excitation gas generated in this way is discharged to the outside (for example, a processing chamber containing a substrate or the like) from an exhaust port 23a provided on the bottom wall of the chamber 23.
  • the microwave generator 10 In the plasma generator 100 having such a configuration, first, cooling water is caused to flow through the cover 24 and the chamber 23 so that the temperature of the resonator 22 and the chamber 23 does not excessively increase.
  • the microwave generator 10 is driven to generate a microwave pulse having a predetermined frequency by the microwave power supply 11, and then the amplifier 12 amplifies the microwave to a predetermined output.
  • the microwave adjusted to a predetermined output by the amplifier 12 is sent to the monopole antenna 21 through the isolator 13 and the coaxial waveguide 20.
  • the slug tuners 14a and 14b are driven and impedance matching is performed so that the reflected microwaves from the monopole antenna 21 are reduced. As a result, a standing wave is generated in the portion of the resonator 22.
  • the microwave is uniformly radiated from the resonator 22 to the inside of the chamber 23.
  • a processing gas is supplied to the chamber 23 in this state, the processing gas is excited by the microwave to generate plasma.
  • the excitation gas thus generated is sent from the exhaust port 23a to a champer (not shown) in which an object to be processed such as a substrate is accommodated.
  • Figure 2 C shows a case in which the approximately ⁇ g 2/2 the thickness D of the resonator 22.
  • the thickness of the resonator 22 is considered to be the most efficient when the thickness of Ig 2 // 2 is considered.
  • the thickness of the resonator 22 is reduced.
  • the efficiency is not high because there is about 58% reflection. Therefore, when the thickness of the resonator 22 is increased from FIG. 2B to FIG. 2A, the reflection is reduced when the thickness of the resonator 22 is 35.6 mm (in the case of FIG. 2B).
  • the thickness of the resonator 22 is 39.6 mm (in the case of Fig. 2A), the reflection is about 6%, and the efficiency increases.
  • a good result can be obtained by making the thickness of the resonator 22 larger than the theoretical value. .
  • FIG. 3 is a sectional view showing a schematic structure of the plasma generator 100a.
  • the difference between the plasma generator 100a and the plasma generator 100 described in FIG. 1 described above is that a spiral helical antenna 21a is attached to the tip of the inner tube 20a of the coaxial waveguide 20. The point is that the helical antenna 21 a is embedded in the resonator 22.
  • the total length of the helical antenna 21a must be 25% of wavelength ⁇ ⁇ 2 (1/4 wavelength).
  • an electric field having the maximum intensity is generated at the tip of the helical antenna 21a.
  • the thickness (D 2) of the resonator 22 from the tip of the helical antenna 21 a to the lower surface of the resonator 22 is set to 25% of the wavelength ⁇ ⁇ 2 (1/4 wavelength).
  • the electric field intensity becomes zero (0) at the boundary between the lower surface of the resonator 22 and the chamber 23, and even if the dielectric constant of the resonator 22 is different from that of a vacuum, microwave reflection does not occur.
  • the magnetic field strength becomes maximum at this boundary surface, but if the magnetic permeability of the resonator 22 is the same as the vacuum magnetic permeability, the reflection of the microphone mouth wave does not occur.
  • the linear length (height) h of the helical antenna 21a is shorter than the entire length. Accordingly, the overall thickness of the resonator 22 is h + about; g 2 Z4, and the thickness of the resonator 22 can be reduced as compared with the case where the monopole antenna 21 is used. Also in this case, the thickness of the resonator 22 at which high efficiency is obtained in an actual device is different from the theoretical value. This is because the resonator 22 is not an infinite parallel plate.
  • Optimal thickness of the resonator 22 may be verified by simulation, the length of the helical antenna 21 a is 23 to 26% of the wavelength L g 2, the thickness of the resonator 22 (D 2) is the wavelength; of L g 2 It is good to be 25-45%.
  • the slot antenna 21b has, for example, a structure in which an arc-shaped slot (hole) having a constant width is provided concentrically on a metal disk.
  • a slot antenna 21 b is (say a thickness of up to the lower surface of the resonator 22 from the lower surface of the slot antenna 21 b) the thickness of the resonator 22 D 3 wavelengths; 25% of I g 2 (1Z4 Wavelength).
  • an electric field having the maximum intensity is generated on the lower surface of the slot antenna 21b.
  • the total thickness of the slot antenna 21b and the resonator 22 can be made thinner than when using the monopole antenna 21 or the helical antenna 21a. it can.
  • the thickness of the resonator 22 is thicker than when the helical antenna 21a or the slot antenna 21b is used, but the structure is simple. It has advantages such as low cost and high plasma excitation efficiency.
  • the remote plasma processing apparatus equipped with the plasma generator 100 is required to have a microphone mouth wave output power of about 500 W or more.
  • an amplifier having a plurality of small amplifiers is used as the amplifier 12 shown in FIG. 1 and a high output is realized by combining the outputs of these small amplifiers. Therefore, a plurality of antennas are provided in correspondence with the number of small amplifiers, as in the plasma generators 100 to 100e shown in Figs. 5 to 7, and coaxial waveguides are provided from each small amplifier to each antenna.
  • the microphone may be used to transmit the mouth waves.
  • FIG. 6A is a schematic cross-sectional view of the plasma generator 100 d
  • FIG. 6B is a plan view showing a position where the helical antennas 18a to 18d are arranged in the resonator 22.
  • the plasma generator 100 d is composed of the monopole antennas 17 a to 17 d of the plasma generator 100 c shown in FIGS. 5A and 5B and the helical antennas 18 d to 18 d.
  • the configuration of the other parts is the same as that of the plasma generator 100c.
  • FIG. 7A is a schematic sectional view of the plasma generator 100 e
  • FIG. 7B is a plan view showing a divided form of the slot antenna 19.
  • the slot antenna 19 provided in the plasma generator 100e is divided into four blocks 19a to 19d by a metal plate, and coaxial waveguides are provided in each of the blocks 19a to 19d.
  • Feed points 38 a to 38 d for attaching tubes 40 a to 40 d are provided.
  • Is provided.
  • slots (holes) 39 are formed in a predetermined pattern corresponding to the positions where the power supply points 38a to 38d are provided.
  • the cost of the amplifier can be kept low, the plasma generation efficiency can be further increased, and the uniformity of the plasma can be improved.
  • a resonator 22 The processing gas is excited by the microwave radiated into the chamber 23 through the chamber 23, and after the plasma is generated, the microphone mouth wave is transmitted from all the antennas 17a to 17d into the chamber 23 through the resonator 22.
  • a plasma control device that controls the microphone mouth wave generator 10 so as to stabilize the plasma by radiating the laser beam.
  • a plasma control device 90 capable of controlling at least one of the number of distributors of the distributor 11a and the number of drives of the small amplifiers 12a to 12d.
  • the plasma controller 90 distributes the microwave output from the microwave power supply 11 into four in the distributor 11a and inputs the divided microwaves to the small amplifiers 12a to 12d, respectively. Only 2a is driven, and microwave amplification is not performed by other small amplifiers 12b to 12d. As a result, before the plasma ignition, the microphone mouth wave can be emitted substantially only from the antenna 17a. After the plasma is ignited, the plasma controller 90 drives all the small amplifiers 12a to 12d to emit microwaves from all the antennas 17a to 17d.
  • the plasma controller 90 inputs the microwave output from the microwave power supply 11 to the small amplifier 12a without distributing the microwave in the distributor 11a, and the microwave input to the small amplifier 12a.
  • the wave is amplified at a predetermined amplification factor and output. This allows microwaves to be radiated only from antenna 17a before plasma ignition.
  • the plasma controller 90 distributes the microwaves in the distributor 11a so that the microwaves are input to all the small amplifiers 12a to 12d.
  • all the small amplifiers 1 2 a to l 2 d are driven.
  • microwaves can be radiated from all the antennas 17a to 17d to stabilize the plasma.
  • the number of antennas that emit microwaves for plasma ignition is not limited to one, and two or more antennas can be used as long as the size of the circulator and dummy load constituting the isolator is allowed. It may be.
  • a plasma etching apparatus that performs an etching process on a semiconductor wafer will be described.
  • FIG. 9 is a sectional view showing a schematic structure of the plasma etching apparatus 1.
  • the plasma etching apparatus 1 connects the plasma generation apparatus 100, the wafer processing chamber 41 accommodating the wafer W, the chamber 23, and the wafer processing chamber 41, and generates the excited gas generated in the chamber 23.
  • a stage 43 for placing the wafer W is provided inside the wafer processing champer 41.
  • the wafer processing chamber 41 has an opening / closing opening (not shown) for loading / unloading the wafer W.
  • the wafer W is moved by the wafer transfer means (not shown).
  • the wafer W that has been subjected to the plasma etching process is carried out of the wafer processing chamber 41.
  • the excitation gas generated in the plasma generator 100 is supplied from the gas pipe 42 to the wafer processing chamber 41 to process the wafer W, and then from the exhaust port 41 a provided in the wafer processing chamber 41. Exhausted.
  • a coaxial line may be used instead of the coaxial waveguide 20.
  • the etching process has been described as a plasma process, the present invention can be used for other plasma processes such as a plasma CVD process (film forming process) and an asshing process.
  • the substrate to be subjected to the plasma processing is not limited to the semiconductor wafer, and may be an LCD substrate, a glass substrate, a ceramic substrate, or the like.
  • the present invention is suitable for various processing apparatuses using plasma, for example, an etching apparatus, a plasma CVD apparatus, and an asshing apparatus.

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Abstract

プラズマ励起効率の高い小型のプラズマ発生装置を提供する。プラズマ発生装置100は、マイクロ波を発生するマイクロ波発生装置10と、内管20aと外管20bからなる同軸構造を有し、前記内管20aの一端にモノポールアンテナ21が取り付けられ、マイクロ波発生装置10で発生させたマイクロ波をモノポールアンテナ21へ導く同軸導波管20と、誘電体材料からなり、モノポールアンテナ21を保持する共振器22と、所定の処理ガスが供給されるプラズマ励起用のチャンバ23とを具備する。チャンバ23は開口面を有し、この開口面に共振器22が配置され、モノポールアンテナ21から共振器22を通してチャンバ23の内部に放射されるマイクロ波によって処理ガスを励起し、プラズマを発生させる。

Description

明 細 書 プラズマ発生装置およびプラズマ発生方法ならぴにリモートプラズマ処理装置 技 術 分 野
本発明は、 マイクロ波によって所定の処理ガスを励起するプラズマ発生装置お よぴプラズマ発生方法、 ならびに励起された処理ガスによつて被処理体を処理す るリモートプラズマ処理装置に関する。 背 景 技 術
半導体デバイスや液晶表示装置の製造工程においては、 半導体ウェハやガラス 基板等の被処理基板にェッチング処理や成膜処理等のプラズマ処理を施すために
、 プラズマエツチング装置やブラズマ C V D成膜装置等のブラズマ処理装置が用 いられている。
リモートプラズマ処理装置におけるプラズマの発生方法として、 内部に処理ガ スが流れる誘電体材料からなるブラズマチューブと、 このプラズマチューブと直 交するように配置された導波管と、 前記プラズマチューブのうち導波管の内部に あってマイクロ波に曝される部分 (以下 「ガス励起部」 という) にスパイラル状 に巻き付けられたクーラントチューブと、 を有するリモートプラズマアプリケー タが知られている (例えば、 曰本国特許出願公開公報特開平 9一 2 1 9 2 9 5号 参照) 。 このリモートプラズマアプリケータにおいては、 プラズマチューブのガ ス励起部が発熱するために、 クーラントチューブに冷媒 (クーラント) を循環さ せている。
しかし、 このようなリモートプラズマアプリケータにおいては、 処理ガスの励 起がプラズマチューブ内の一部でしか行われず、 しかも、 ガス励起部に取り付け るクーラントチューブがマイクロ波のプラズマチューブ内への導波を妨げるため に、 プラズマの励起効率を高めることが難しいという問題がある。 ここで、 ガス 励起部におけるクーラントチューブの卷き数を少なくすると、 プラズマの励起効 は高められるが、 ガス励起部を十分に冷却することができずにクーラントチュー プが破損する問題を生ずる。
また、 このようなリモートプラズマアプリケータは、 プラズマチューブと導波 管とを直交させる構造となっているために、 スペース効率が悪く、 装置全体が大 型化する問題がある。 発 明 の 開 示
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、 プラズマの励起効率が高い プラズマ発生装置を提供することを目的とする。 また本発明はスペース効率の高 い小型化されたプラズマ発生装置を提供することを目的とする。 さらに、 本発明 は、 このようなプラズマ発生装置を備えたリモートプラズマ処理装置を提供する ことを目的とする。
本発明によれば、 所定波長のマイクロ波を発生するマイクロ波発生装置と、 内 管と外管からなる同軸構造を有し、 前記内管の一端にアンテナが取り付けられ、 前記マイク口波発生装置で発生させたマイク口波を前記アンテナへ導く同軸導波 管と、 誘電体材料からなり、 前記アンテナを保持する共振器と、 所定の処理ガス が供給されるプラズマ励起用のチャンバと、 を具備し、 前記チャンバは開口面を 有し、 前記開口面に前記共振器が配置され、 前記アンテナから前記共振器を通し て前記チャンバの内部に放射されるマイクロ波によって前記処理ガスが励起され ることを特徴とするプラズマ発生装置、 が提供される。
同軸導波管におけるインピーダンス整合は、 同軸導波管の長さ方向にスライド 自在に設けられたスラグチューナによって行われる。 アンテナとしては、 モノポ 一ルアンテナ、 ヘリカルアンテナ、 スロッ トアンテナ等の各種のアンテナを用い ることができる。 ここで、 マイクロ波発生装置で発生するマイクロ波の波長を; a、 共振器の比誘電率を ε r、 波長; I aを比誘電率 ε rの平方根で除して得られ る共振器内のマイクロ波の波長を L g ( = λ a / ε r 1 / 2 ) とすると、 モノポー ルアンテナを用いる場合には、 その長さを波長; I gの約 2 5 %とし、 かつ、 共振 器の厚さを波長 λ gの約 5 0 %の厚さとすることが好ましい。 また、 ヘリカルァ ンテナを用いる場合には、 ヘリカルアンテナの先端から共振器のチャンバ側の表 面までの共振器の厚さを波長; gの約 2 5 %の厚さとすることが好ましい。 さら に、 スロッ トアンテナを用いる場合には、 共振器の厚さを波長; L gの約 2 5 %の 厚さとすることが好ましい。
アンテナが 1本の場合には、 マイクロ波発生装置として、 マイクロ波電源と、 このマイクロ波電源から出力されたマイク口波の出力を調整するアンプと、 アン プから出力された後にアンプへ戻ろうとする反射マイクロ波を吸収するアイソレ ータと、 を有するものが好適に用いられる。 これに対し、 プラズマ発生装置に同 軸導波管とアンテナを複数組設けてもよい。 この場合には、 マイクロ波発生装置 として、 マイクロ波電源と、 このマイクロ波電源で発生させたマイクロ波をこの 同軸導波管とアンテナの組数に分配する分配器と、 分配器から出力された各マイ ク口波の出力を調整する複数のアンプと、 これら複数のアンプから出力された各 マイクロ波のうち複数のアンプへ戻ろうとする反射マイクロ波を吸収する複数の アイソレータと、 を有しているものを用いることが好ましい。
共振器としては、 石英系材料、 単結晶アルミナ系材料、 多結晶アルミナ系材料 、 窒化アルミニウム系材料が好適に用いられる。 チャンバの内面には、 チャンパ の腐食を防止するために、 石英系材料または単結晶アルミナ系材料または多結晶 アルミナ系材料からなる腐食防止部材を装着することが好ましい。
チャンバは、 チヤンバを構成する部材の内部に冷媒を流すことによつて冷却可 能なジャケット構造とすることが好ましい。 これによりチャンバの冷却を容易に 行うことができる。 また、 チャンパとしては、 その一端面が前記開口面となって いる有底筒状部材が好適に用いられる。 この場合において、 有底筒状部材の底壁 にマイクロ波によって励起されたガスをチャンパから外部へ放出する排気口を形 成し、 有底筒状部材の側壁の開口面側近傍に処理ガスを内部空間に放出するガス 放出口を形成すると、 処理ガスを効率よくマイクロ波によって励起することがで きる。
ところで、 プラズマ発生装置においては、 プラズマが着火する前はインピーダ ンスが大きいためにマイクロ波の全反射が起こることがある。 このため、 複数の アンテナを備えたプラズマ発生装置の場合には、 全てのアンテナからマイクロ波 を放射させてプラズマを発生させようとすると、 複数のアンテナから放射された マイクロ波が合成された高出力のマイクロ波が個々のアンテナに戻ってくること となる。 そこで、 個々のアンテナにはこのような高出力マイクロ波からアンプを 保護するためにアイソレータを構成するサ一キュレータとダミーロードを大型化 する必要があるという新たな問題が生ずる。
この新たな問題を解決するために、 本発明によれば、 処理ガスが供給されるプ ラズマ励起用のチャンパへ所定出力のマイクロ波を放射する複数のアンテナを備 えたプラズマ発生装置におけるプラズマ発生方法であって、 前記複数のアンテナ の一部から前記チヤンバの内部にマイクロ波を放射して前記処理ガスを励起させ 、 プラズマを発生させる工程と、 プラズマ発生後に、 前記複数の全てのアンテナ から前記チャンパの內部にマイク口波を放射して、 プラズマを安定化させる工程 と、 を有することを特徴とするプラズマ発生方法、 が提供される。
複数のアンテナを備えたプラズマ発生装置において、 このようにしてプラズマ を発生させるためには、 複数のアンテナの一部から共振器を通してチャンパの內 部に放射されるマイクロ波によつて処理ガスを励起させ、 プラズマ発生後は複数 の全てのアンテナから共振器を通してチャンバの内部にマイクロ波が放射される ように、 マイクロ波発生装置を制御するプラズマ制御装置を用いればよい。 さらに本発明によれば、 上記プラズマ発生装置を備えたリモートプラズマ処理 装置が提供される。 すなわち、 所定の処理ガスをマイクロ波によって励起するプ ラズマ発生装置と、 基板を収容し、 前記プラズマ発生装置において前記処理ガス を励起させることにより発生させた励起ガスにより、 前記基板に所定の処理を施 す基板処理チャンバと、 を具備し、 前記プラズマ発生装置は、 所定波長のマイク 口波を発生するマイクロ波発生装置と、 内管と外管からなる同軸構造を有し、 前 記内管の一端にアンテナが取り付けられ、 前記マイクロ波発生装置で発生させた マイクロ波を前記アンテナへ導く同軸導波管と、 誘電体材料からなり、 前記アン テナを保持する共振器と、 所定の処理ガスが供給され、 前記アンテナから前記共 振器を通して放射されるマイクロ波によって前記処理ガスが励起されるプラズマ 励起用チャンバと、 を有することを特徴とするリモートプラズマ処理装置、 が提 供される。
本発明のプラズマ発生装置では、 マイクロ波の伝達効率と放射効率が高く、 共 振器から放射されたマイク口波は障害物を通過することなくチャンパの内部空間 の全体で処理ガスを励起することができるために、 処理ガスの励起効率を高める ことができる。 これにより、 プラズマ発生装置全体を小型化することができる。 また、 このような高効率化により、 使用する処理ガスの量を低減することができ るため、 ランニングコストを低下させることができる。 さらに、 アンテナと共振 器の寸法設定を適切に行うことによって共振器に定常波が立ちやすくなり、 これ によってマイクロ波を共振器からチャンバに均一に放射させて安定したプラズマ を発生させることができる。
また、 アンテナを複数具備する場合には、 アンプ等として小型のものを使用す ることができる利点があり、 一部のァンテナを用いてプラズマ着火を行うことに より、 反射マイクロ波によるアンプの損傷を小型のアイソレータで防止すること ができる。 さらに本発明のリモートプラズマ処理装置では、 プラズマ発生装置が 小型化されることによってリモー トプラズマ処理装置のスペースユーティリティ の自由度が高められるために、 リモートプラズマ処理装置全体を小さくすること ができる。 図面の簡単な説明
図 1は、 プラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。
図 2 Aは、 共振器の厚さ Dを図 2 Bに比してさらに厚くした場合のプラズマの 発生状態をシミュレーションした結果を示す説明図である。
図 2 Bは、 共振器の厚さ Dを図 2 Cに比してさらに厚く した場合のプラズマの 発生状態をシミュレーションした結果を示す説明図である。
図 2 Cは、 共振器の厚さ Dを約 λ g 2/ 2にした場合のプラズマの発生状態を シミュレーシヨンした結果を示す説明図である。
図 3は、 別のプラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。
図 4は、 さらに別のプラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。
図 5 Aは、 さらに別のプラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。 図 5 Bは、 図 5 Aに示すプラズマ発生装置の共振器へのモノポールァンテナの 配設位置を示す平面図である。
図 6 Aは、 さらに別のプラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。 図 6 Bは、 図 6 Aに示すプラズマ発生装置の共振器へのヘリカルアンテナの配 設位置を示す平面図である。
図 7 Aは、 さらに別のプラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。 図 7 Bは、 図 7 Aに示すスロットアンテナの分割形態を示す平面図である。 図 8は、 マイクロ波発生装置を制御するプラズマ制御装置の制御形態を示す説 明図である。
図 9は、 プラズマエッチング装置の概略構造を示す断面図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。 図 1 は、 プラズマ発生装置 1 0 0の概略構造を示す断面図である。 プラズマ発生装置 1 0 0は、 大略的に、 マイクロ波発生装置 1 0と、 内管 2 0 aと外管 2 0 bとか らなる同軸導波管 2 0と、 内管 2 0 aの先端に取り付けられたモノポールアンテ ナ 2 1と、 共振器 2 2と、 チャンバ 2 3とを有している。
マイクロ波発生装置 1 0は、 例えば、 周波数 2 . 4 5 G H Zのマイクロ波を発 生するマグネトロン等のマイクロ波電源 1 1と、 マイクロ波電源 1 1において発 生させたマイクロ波を所定の出力に調整するアンプ 1 2と、 アンプ 1 2力 ら出力 されたマイクロ波のうちアンプ 1 2へ戻ろうとする反射マイクロ波を吸収するァ イソレータ 1 3と、 同軸導波管 2 0に取り付けられたスラグチューナ 1 4 a · 1 4 bと、 を有している。 同軸導波管 2 0の一端はアイソレータ 1 3に取り付けら れている。
アイソレータ 1 3は、 サーキユレータとダミーロード (同軸終端器) とを有し ており、 サーキユレータは、 モノポールアンテナ 2 1からアンプ 1 2へ向けて逆 行しょうとするマイクロ波をダミーロードへ導き、 ダミーロードはサーキュレー タによつて導かれたマイク口波を熱に変換する。
同軸導波管 2 0の外管 2 0 bには長さ方向にスリット 3 1 a · 3 1 bが形成さ れている。 スラグチューナ 1 4 aはスリ ッ ト 3 1 aに嵌挿されたレバー 3 2 aと 接続され、 レバー 3 2 aはプーリー 3 3 aとモータ 3 4 aとの間に懸架されたべ ノレト 3 5 aの一部に固定されている。 同様に、 スラグチューナ 1 4 bはスリ ッ ト 3 1 bに嵌揷されたレバー 3 2 bと接続され、 レバー 3 2 bはプーリー 3 3 bと モータ 3 4 bとの間に懸架されたベルト 3 5 bの一部に固定されている。
モータ 3 4 aを駆動することによってスラグチューナ 1 4 aを同軸導波管 2 0 の長さ方向にスライドさせることができ、 モータ 3 4 bを駆動することによって スラグチューナ 1 4 bを同軸導波管 2 0の長さ方向にスライドさせることができ る。 このようにスラグチューナ 1 4 a · 1 4 bの位置を独立して調節することに よって、 モノポールアンテナ 2 1に対するインピーダンス整合を行うことができ 、 これによつてモノポールアンテナ 2 1で反射されるマイクロ波を少なくするこ とができる。 スリ ッ ト 3 1 a · 3 1 bからマイクロ波が漏れないように、 スリッ ト 3 1 a ■ 3 1 bは図示しないベルトシール機構等によってシールされている。 なお、 スラグチューナ 1 4 a · 1 4 bの厚さは、 マイクロ波発生装置 1 0で発 生するマイクロ波の波長をえ a、 スラグチューナ 1 4 a ' 1 4 bを構成する材料 の比誘電率を ε r 1 波長え aを比誘電率 ε r の平方根 ( ε r χ 1/2) で除して 得られる波長; I g χ (= λ a/ ε r 1 12、 つまりスラグチューナ 1 4 a ■ 1 4 b 内でのマイクロ波の波長) としたときに、 波長ぇ § 1の約2 5 % (1Z4波長) となるようにする。
内管 2 0 aの一端に取り付けられたモノポールアンテナ 2 1は、 ロッド形状 ( 柱状) を有し、 このモノボールアンテナ 2 1は共振器 2 2に埋設されて保持され ている。 共振器 2 2は力パー 24に保持されており、 後述するように、 カバー 2 4をチャンバ 2 3に取り付けた際にチャンパ 2 3の開口面 (上面) を閉塞する。 モノポールアンテナ 2 1から放射されたマイクロ波によって共振器 2 2に定在 波を立たせる。 これにより、 チャンバ 2 3に均一にマイクロ波が放射されるよう になる。 同軸導波管 2 0の外管 2 0 bと接続され、 共振器 2 2の上面おょぴ側面 を覆うカバー 2 4は金属材料で構成されており、 共振器 2 2の上面およぴ側面か ら外部にマイクロ波が放射されることを防止する。 なお、 共振器 2 2は、 その内 部に定在波が立つことによって発熱する。 そこで共振器 2 2の温度上昇を抑える ために、 カバー 24には冷媒 (例えば、 冷却水) を循環させる冷媒流路 2 5が設 けられている。 なお、 冷媒は図示しない冷却循環装置を用いて循環させて使用す ることができる。 共振器 22には誘電体材料が用いられ、 チャンバ 23において生成する励起ガ スに対する耐食性に優れた材料が好適に用いられる。 例えば、 石英系材料 (石英 、 溶融石英、 石英ガラス等) 、 単結晶アルミナ系材料 (サファイア、 アルミナガ ラス等) 、 多結晶アルミナ系材料、 窒化アルミニウム系材料が挙げられる。 マイクロ波発生装置 10で発生するマイクロ波の波長を λ a、 共振器 22の比 誘電率を ε r 2、 波長; I aを比誘電率 ε r 2の平方根
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r 2 1/2) で除して得ら れる波長え g 2 (=λ a H r 2 1/2、 つまり共振器 22内でのマイクロ波の波長 ) としたときに、 共振器 22にマイクロ波の定在波が立ち易くなるように、 モノ ポールアンテナ 21の長さ (高さ) Hは、 波長え g2の 25% (1 4波長) と し、 かつ、 共振器 22の厚さ (D 1) をこの波長; l g2の 50% (1ノ 2波長) とする。
これは、 概略、 以下の理由による。 つまり、 モノポールアンテナ 21の長さが λ g2/4の場合にはモノポールアンテナ 21の先端に最大強度の電界が発生す る。 このとき共振器 22の厚さを; I g2Z2とすると、 共振器 22の下面 (チヤ ンバ 23側の面) とチャンバ 23との境界で電界強度がゼロ (0) となり、 共振 器 22の誘電率と真空の誘電率とが異なっていても、 マイクロ波の反射が起こら ない。 一方、 磁界強度がこの境界面において最大となるが、 共振器 22の透磁率 が真空の透磁率と同じであれば、 やはりマイクロ波の反射は起こらない。 ここで 、 共振器 22に用いられる石英系材料、 単結晶アルミナ材料、 多結晶アルミナ材 料、 窒化アルミニウム系材料は非磁性体であるので、 その比透磁率はほぼ 1. 0 となり、 真空の透磁率と同じである。 これによつて、 マイクロ波を効率よくチヤ ンバ 23に放射することができる。
チャンバ 23は有底円筒型の形状を有しており、 通常、 ステンレス、 アルミ- ゥム等の金属材料から構成される。 カバー 24をチャンバ 23の上面に取り付け ることによって、 チャンバ 23の上面開口部は共振器 22によって閉塞される。 なお、 図 1中の符号 29はシールリングである。 チャンバ 23の側壁の上面近傍 には、 図示しないガス供給装置から送られてくる所定の処理ガス (例えば、 N2 、 Ar、 NF3等) をチャンバ 23の内部空間に放出するためのガス放出口 26 が形成されている。 ガス放出口 2 6からチャンバ 2 3の内部空間に放出された処理ガスは、 モノポ 一ルアンテナ2 1から共振器2 2を通してチャンバ 2 3の内部空間に放射された マイクロ波によって励起され、 プラズマが発生する。 こうして発生した励起ガス は、 チャンバ 2 3の底壁に設けられた排気口 2 3 aから外部 (例えば、 基板が収 容された処理チャンパ等) へ放出される。
処理ガスがマイクロ波によって励起される際の発熱によってチャンパ 2 3の温 度が上昇することを抑制するために、 チャンバ 2 3はカバー 2 4と同様に、 内部 に冷媒を流す冷媒流路 2 8が形成され、 冷却可能なジャケット構造となっている 。 チャンバ 2 3の内面には、 励起ガスによる腐食を防止するために、 石英系材料 または単結晶アルミナ系材料または多結晶アルミナ系材料からなる腐食防止部材 2 7が装着されている。
このような構成を有するプラズマ発生装置 1 0 0では、 最初に、 カバー 2 4と チャンバ 2 3に冷却水を流して、 共振器 2 2やチャンバ 2 3が過度に温度上昇し ないようにする。 次に、 マイクロ波発生装置 1 0を駆動して、 所定の周波数のマ イク口波をマイクロ波電源 1 1で発生させた後に、 アンプ 1 2でこのマイクロ波 を所定の出力に増幅する。 アンプ 1 2によって所定の出力に調整されたマイクロ 波は、 アイソレータ 1 3と同軸導波管 2 0を通してモノポールアンテナ 2 1に送 られる。 このとき、 スラグチューナ 1 4 a · 1 4 bを駆動して、 モノポールアン テナ 2 1からの反射マイクロ波が少なくなるように、 インピーダンスの整合を行 モノポールアンテナ 2 1から放射されたマイクロ波によって共振器 2 2の內部 に定在波が立つ。 これによつて共振器 2 2からチャンバ 2 3の内部に均一にマイ クロ波が放射される。 この状態においてチャンバ 2 3に処理ガスを供給すると、 処理ガスがマイクロ波によって励起されてプラズマが生ずる。 こうして生成した 励起ガスは、 排気口 2 3 aから、 例えば基板等の被処理体が収容されたチャンパ (図示せず) に送られる。
図 2は、 共振器 2 2の厚さ (D ) とプラズマの発生状態との関係をシミュレ一 シヨンした結果を示す説明図である。 ここで、 マイクロ波発生装置 1 0において 発生させるマイクロ波の周波数は 2 . 4 5 G H z (つまり波長; L aは約 1 2 2 m m) としている。 また、 共振器 22として水晶からなるものを用いるものとする 。 水晶の比誘電率 ε rは約 3. 75であるから、 共振器 22内でのマイクロ波の 波長: g2は、 約 6 3. 00 mmとなる。 モノポールアンテナ 21の長さは約 λ g 2/4 (= 1 5. 75mm) とした。
図 2 Cは共振器 22の厚さ Dを約 λ g 2/ 2にした場合である。 無限の平行平 '板では共振器 22の厚さが; I g2//2のときに最も効率がよいと考えられるが、 現実的な大きさと形状を考えると、 共振器 22の厚さが; I g 2Z2の場合には、 約 58%の反射があるために効率は高くない。 そこで、 図 2 Bから図 2 Aへと共 振器 2 2の厚さを厚くしていくと、 共振器 22の厚さが 3 5. 6mmのとき (図 2 Bの場合) に反射が約 22 %となり、 共振器 2 2の厚さが 3 9. 6 mmのとき (図 2 Aの場合) に反射が約 6%となり、 効率が上がる。 このように実際のアン テナ設計においては共振器 22の厚さを理論値よりも厚くするとよい結果を得る ことができる。 .
このように、 実際の装置において高い効率が得られる共振器 22の厚さが理論 値と異なるのは、 共振器 22が無限の平行平板ではないからである。 共振器 22 の最適厚さはシミュレーションによって確認すればよく、 モノポールアンテナ 2 1の長さ (高さ) Hは波長 λ g2の 23〜26%、 共振器 22の厚さ (D 1) は 波長; g2の 50〜70%とするとよい。
このように、 プラズマ発生装置 100においては、 チャンバ 23の内部空間全 体においてプラズマを均一に発生させることができ、 処理ガスを効率よく励起さ せることができる。 また、 従来のプラズマ発生装置のように処理ガスの供給路と マイクロ波の導波路とを交差させる必要がないために、 プラズマ発生装置 100 自体を小型化することができる。
次に、 プラズマ発生装置の別の実施の形態について説明する。 図 3はプラズマ 発生装置 1 00 aの概略構造を示す断面図である。 プラズマ発生装置 1 00 aと 先に説明した図 1記載のプラズマ発生装置 100との相違点は、 同軸導波管 20 の内管 20 aの先端に螺旋状のへリカルアンテナ 2 1 aが取り付けられ、 このへ リカルアンテナ 21 aが共振器 22に埋設されている点である。
ヘリカルアンテナ 2 1 aを用いる場合には、 ヘリカルアンテナ 2 1 aの全長を 波長 λ § 2の 25% (1/4波長) とする。 これにより、 ヘリカルアンテナ 21 aの先端に最大強度の電界が発生する。 そして、 ヘリカルアンテナ 21 aの先端 から共振器 22の下面までの共振器 22の厚さ (D 2) は、 波長ぇ § 2の25% (1/4波長) とする。 これにより、 共振器 22の下面とチャンバ 23との境界 で電界強度がゼロ (0) となり、 共振器 22の誘電率と真空の誘電率とが異なつ ていても、 マイクロ波の反射が起こらない。 一方、 磁界強度がこの境界面におい て最大となるが、 共振器 22の透磁率が真空の透磁率と同じであれば、 やはりマ イク口波の反射は起こらない。
ヘリカルアンテナ 21 aを用いた場合には、 ヘリカルアンテナ 21 aの直線的 な長さ (高さ) hは、 その全長よりも短くなる。 したがって、 共振器 22の全体 の厚さは h+約; g2Z4となり、 モノポールアンテナ 21を用いた場合と比較 すると、 共振器 22の厚さを薄くすることができる。 なお、 この場合においても 、 実際の装置において高い効率が得られる共振器 22の厚さは理論値と異なる。 これは共振器 22が無限の平行平板ではないからである。 共振器 22の最適厚さ はシミュレーションによって確認すればよく、 ヘリカルアンテナ 21 aの長さは 波長 L g 2の 23〜26%、 共振器 22の厚さ (D 2) は波長; L g 2の 25〜4 5 %とするとよい。
図 4は、 プラズマ発生装置 100 bの概略構造を示す断面図である。 プラズマ 発生装置 100 bと先に説明した図 1記載のプラズマ発生装置 10.0との相違点 は、 同軸導波管 20の內管 20 aの先端にスロットアンテナ 21 bが取り付けら れ、 このスロットアンテナ 2 1 bが共振器 22に埋設されて保持されている点で ある。
スロットアンテナ 21 bは、 例えば、 金属円板に同心円状に一定幅の弧型のス ロット (孔) が設けられた構造を有する。 スロッ トアンテナ 21 bを用いる場合 には、 共振器 22の厚さ (スロットアンテナ 21 bの下面から共振器 22の下面 までの厚さをいう) D 3を波長; I g 2の 25 % (1Z4波長) とする。 スロット アンテナ 21 bを用いた場合には、 スロットアンテナ 21 bの下面で最大強度の 電界が発生する。 また、 共振器 22の下面とチャンバ 23との境界で電界強度が ゼロ (0) となり、 共振器 22の誘電率と真空の誘電率とが異なっていても、 マ イク口波の反射が起こらない。 一方、 磁界強度がこの境界面において最大となる が、 共振器 2 2の透磁率が真空の透磁率と同じであれば、 やはりマイクロ波の反 射は起こらない。 なお、 この場合においても、 実際の装置において高い効率が得 られる共振器 2 2の厚さは理論値と異なる。 これは共振器 2 2が無限の平行平板 ではないからである。 共振器 2 2の最適厚さはシミュレーションによって確認す ればよく、 スロッ トアンテナ 2 1 bを用いる場合には、 共振器 2 2の厚さ (D 3 ) は波長 I g 2の 2 5〜4 5 %とするとよい。
スロットアンテナ 2 1 bを薄く構成すれば、 スロットアンテナ 2 1 bと共振器 2 2の合計の厚さを、 モノポールアンテナ 2 1やヘリカルアンテナ 2 1 aを用い た場合よりも、 薄くすることができる。 なお、 モノポールアンテナ 2 1を用いた 場合には、 ヘリカルアンテナ 2 1 aやスロットアンテナ 2 1 bを用いる場合と比 較すると、 共振器 2 2の厚さは厚くなるが、 構造が簡単であり低コストであるこ とや、 プラズマの励起効率が高い等の利点がある。
以上においてはアンテナが 1本である場合について説明したが、 プラズマ発生 装置 1 0 0を備えたリモートブラズマ処理装置においては、 マイク口波の出力電 力が 5 0 0 W程度以上のものが要求されることがある。 この場合には、 図 1に示 されるアンプ 1 2として複数の小型アンプを備えたものを用い、 これら小型アン プの出力を合成することによって高出力を実現させる。 そこで図 5〜図 7に示す プラズマ発生装置 1 O O c〜1 0 0 eのように、 小型アンプの数に対応させてァ ンテナを複数本設け、 各小型アンプから各アンテナに同軸導波管を用いてマイク 口波を伝送してもよい。
図 5 Aはプラズマ発生装置 1 0 0 cの概略断面図であり、 図 5 Bは共振器 2 2 へのモノポールアンテナ 1 7 a〜 1 7 dの配設位置を示す平面図である。 マイク 口波電源 1 1から出力されたマイクロ波が分配器 1 1 aによって複数 (図 5 A, 5 Bでは 4分配した場合を示す) に分配される。 分配器 1 1 aから出力された各 マイクロ波は小型アンプ 1 2 a〜l 2 dに入力され、 そこで所定の電力に増幅さ れる。 各小型アンプ 1 2 a〜 1 2 dから出力されたマイクロ波は、 アイソレータ 1 3 a〜 1 3 d (アイソレータ 1 3 b . 1 3 dはそれぞれアイソレータ 1 3 a - 1 3 cの背面に位置しているために図示せず) と同軸導波管 4 0 a ~ 4 0 d (同 軸導波管 4 0 b · 4 0 dはそれぞれ同軸導波管 4 0 a - 0 cの背面に位置して いるために図示せず) を通して共振器 2 2に設けられたモノポールアンテナ 1 Ί a〜l 7 dに送られる。 各モノポールアンテナ 1 7 a〜l 7 dから放射されたマ イク口波によって共振器 2 2の内部に定在波が立ち、 共振器 2 2からチャンバ 2 3の内部にマイクロ波が放射される。 なお、 同軸導波管 4 0 a〜4 0 dはそれぞ れ同軸導波管 2 0と同等の構造を有する。
図 6 Aはプラズマ発生装置 1 0 0 dの概略断面図であり、 図 6 Bは共振器 2 2 へのへリカルアンテナ 1 8 a〜l 8 dの配設位置を示す平面図である。 プラズマ 発生装置 1 0 0 dは、 図 5 A, 5 Bに示したプラズマ発生装置 1 0 0 cが具備す るモノポールアンテナ 1 7 a〜 1 7 dをへリカルアンテナ 1 8 d〜 1 8 dに置き 換えたものであり、 その他の部分の構成はプラズマ発生装置 1 0 0 cと同じであ る。
図 7 Aはプラズマ発生装置 1 0 0 eの概略断面図であり、 図 7 Bはスロットァ ンテナ 1 9の分割形態を示す平面図である。 プラズマ発生装置 1 0 0 eが具備す るスロットアンテナ 1 9は金属板によって 4個のブロック 1 9 a〜1 9 dに分け られており、 ブロック 1 9 a〜1 9 dのそれぞれに同軸導波管 4 0 a〜4 0 d ( 同軸導波管 4 0 dは同軸導波管 4 0 aの背面に位置するために図示せず) を取り 付けるための給電ポイント 3 8 a〜3 8 dが設けられている。 各ブロック 1 9 a 〜1 9 dには各給電ポイント 3 8 a〜3 8 dが設けられている位置に対応して所 定のパターンでスロット (孔部) 3 9が形成されている。
このようなプラズマ発生装置 1 0 0 c〜l 0 0 eによれば、 アンプのコストを 低く抑えることができるとともに、 プラズマの発生効率がさらに高められ、 ブラ ズマの均一性を向上させることができる。
ところで、 上記プラズマ発生装置 1 0 0 ■ 1 0 0 a〜 1 0 0 eにおいては、 プ ラズマが着火する前はインピーダンスが大きく、 プラズマが着火した後にィンピ 一ダンスは小さくなつて安定する。 プラズマ着火前には、 高いインピーダンスに 起因して、 アンテナから放射されたマイクロ波の全反射が起こることがある。 プラズマ発生装置 1 0 0ではアンテナ 2 0は 1本だけであるから、 アイソレー タ 1 3としてアンテナ 2 0から放射することができるマイクロ波の出力に応じた ものを用いればよく、 このことはプラズマ発生装置 1 00 a · 1 0 0 bについて も同様である。
しかしながら、 複数のアンテナを備えたプラズマ発生装置 1 0 0 cでは、 4本 の全てのアンテナ 1 7 a ~1 7 dからマイクロ波を放射させてプラズマを発生さ せようとすると、 これら 4本のアンテナ 1 7 a〜 l 7 dから放射されたマイクロ 波が合成された高出力のマイクロ波が小型アンプ 1 2 a〜l 2 dそれぞれに戻つ てくることとなる。 このため、 小型アンプ 1 2 a〜1 2 dをこのような高出力マ イク口波から保護するために、 アイソレータ 1 3 a〜l 3 dを構成するサーキュ レータとダミーロードを大型化したのでは、 装置コストゃ装置の小型化の観点か ら不利である。 この問題はプラズマ発生装置 1 0 O d ■ 1 0 0 eについても同様 である。
そこで、 アイソレータ 1 3 a ~ l 3 dを大型化することを抑制し、 小型アンプ 1 2 a〜l 2 dを保護する方法として、 アンテナ 1 7 a〜l 7 dの一部から共振 器 2 2を通してチャンバ 2 3の内部に放射されるマイクロ波によって処理ガスを 励起し、 プラズマ発生後は全てのアンテナ 1 7 a〜 1 7 dから共振器 2 2を通し てチヤンバ 2 3の内部にマイク口波を放射することによつてプラズマを安定させ るようにマイク口波発生装置 1 0を制御するプラズマ制御装置を用いる方法が挙 げられる。
具体的には、 図 8に示すように、 少なくとも分配器 1 1 aの分配数と小型アン プ 1 2 a〜1 2 dの駆動数の少なくとも一方を制御することができるプラズマ制 御装置 9 0が挙げられる。 例えば、 プラズマ制御装置 9 0は、 マイクロ波電源 1 1から出力されたマイクロ波を、 分配器 1 1 aにおいて 4分配して小型アンプ 1 2 a〜 1 2 dにそれぞれ入力させるが、 小型アンプ 1 2 aのみを駆動し、 その他 の小型アンプ 1 2 b〜 1 2 dではマイクロ波の増幅が行われないようにする。 こ れにより、 プラズマ着火前には実質的にアンテナ 1 7 aからのみマイク口波を放 射させることができる。 また、 プラズマが着火した後にはプラズマ制御装置 90 は、 全ての小型アンプ 1 2 a〜 1 2 dを駆動して全てのアンテナ 1 7 a〜1 7 d からマイクロ波を放射させる。 これにより、 プラズマを安定させることができる また、 プラズマ制御装置 9 0は、 マイクロ波電源 1 1から出力されたマイクロ 波を分配器 1 1 aにおいて分配することなく小型アンプ 1 2 aに入力させ、 小型 アンプ 1 2 aに入力されたマイクロ波を所定の増幅率で増幅させて出力させる。 これにより、 プラズマ着火前にはアンテナ 1 7 aのみからマイクロ波を放射させ ることができる。 これによりプラズマが着火した後には、 プラズマ制御装置 9 0 は、 全ての小型アンプ 1 2 a〜1 2 dにマイクロ波が入力されるように、 分配器 1 1 aにおけるマイクロ波の分配を行い、 かつ、 全ての小型アンプ 1 2 a〜l 2 dを駆動させる。 これにより、 全てのアンテナ 1 7 a〜l 7 dからマイクロ波を 放射させて、 プラズマを安定させることができる。
なお、 プラズマ着火のためにマイクロ波を放射させるアンテナの数は 1個に限 定されるものではなく、 アイソレータを構成するサーキュレータとダミーロード の大型化が許容される範囲であれば、 2個以上であってもよい。
次に、 上述したプラズマ発生装置 1 0 0を備えた基板処理装置として、 半導体 ウェハに対してエッチング処理を行うプラズマエッチング装置について説明する
。 図 9はプラズマエッチング装置 1の概略構造を示す断面図である。 プラズマェ ツチング装置 1は、 プラズマ発生装置 1 0 0と、 ウェハ Wを収容するウェハ処理 チヤンバ 4 1と、 チヤンバ 2 3とウェハ処理チヤンパ 4 1とを接続し、 チャンバ 2 3で発生させた励起ガスをウェハ処理チャンバ 4 1へ送るガス管 4 2と、 を有 している。
ウェハ処理チャンパ 4 1の内部には、 ウェハ Wを载置するステージ 4 3が設け られている。 ウェハ処理チャンバ 4 1は、 ウェハ Wの搬入出を行うための開閉自 在な開口部 (図示せず) を有しており、.図示しないウェハ搬送手段によってゥェ ハ Wがウェハ処理チャンバ 4 1内に搬入され、 逆に、 プラズマエッチング処理が 終了したウェハ Wがウェハ処理チャンバ 4 1から搬出される。 プラズマ発生装置 1 0 0で生成した励起ガスは、 ガス管 4 2からウェハ処理チャンバ 4 1に供給さ れてウェハ Wを処理した後に、 ウェハ処理チャンバ 4 1に設けられた排気口 4 1 aから排気される。
このようなプラズマエッチング装置 1では、 プラズマ発生装置 1 0 0を小さく することができるために、 ウェハ処理チャンパ 4 1の上方のスペースユーティリ ティが高められる。 これを有効に利用して、 各種の配管や配線、 制御装置等を配 置することができるため、 プラズマエッチング装置 1全体をコンパク トに構成す ることができる。
以上、 本発明の実施の形態について説明してきたが、 本発明はこのような実施 の形態に限定されるものではない。 例えば、 同軸導波管 2 0に変えて、 同軸線を 用いてもよい。 また、 プラズマ処理としてエッチング処理を取り上げたが、 本発 明は、 プラズマ C V D処理 (成膜処理) やアツシング処理等の他のプラズマ処理 にも用いることができる。 また、 プラズマ処理に供される被処理基板は半導体ゥ ェハに限定されず、 L C D基板、 ガラス基板、 セラミックス基板等であってもよ い。
産業上の利用可能性
本発明は、 プラズマを用いた種々の処理装置、 例えば、 エッチング装置、 プラ ズマ C V D装置、 アツシング装置等に好適である。

Claims

請 求 の 範 囲
1. 所定波長のマイクロ波を発生するマイク口波発生装置と、
内管と外管からなる同軸構造を有し、 前記内管の一端にアンテナが取り付けら れ、 前記マイクロ波発生装置で発生させたマイクロ波を前記アンテナへ導く同軸 導波管と、
誘電体材料からなり、 前記アンテナを保持する共振器と、
所定の処理ガスが供給されるプラズマ励起用のチャンバと、
を具備し、
前記チヤンバは開口面を有し、 前記開口面に前記共振器が配置され、 前記アンテナから前記共振器を通して前記チャンバの内部に放射されるマイク 口波によつて前記処理ガスが励起されることを特徴とするブラズマ発生装置。
2. 前記アンテナはモノポールアンテナであることを特徴とする請求項 1に 記載のプラズマ発生装置。
3. 前記マイクロ波発生装置で発生するマイクロ波の波長を a、 前記共振 器の比誘電率を ε r、 前記波長; I aを前記比誘電率 ε rの平方根で除して得られ る前記共振器内のマイクロ波の波長を; L g (= λ a/ ε r 1/2) としたときに、 前記モノポールアンテナは前記波長; L gの 2 3 %〜2 6 %の長さを有し、 かつ 、 前記共振器は前記波長; L gの 5 0%〜7 0 %の厚さを有することを特徴とする 請求項 2に記載のプラズマ発生装置。
4. 前記アンテナはヘリカルアンテナであることを特徴とする請求項 1に記 載のプラズマ発生装置。
5. 前記マイクロ波発生装置で発生するマイクロ波の波長を λ a、 前記共振 器の比誘電率を ε r、 前記波長; I aを前記比誘電率 £ rの平方根で除して得られ る前記共振器内のマイクロ波の波長を; L g (= λ a / ε r 1/2) としたときに、 前記へリカルアンテナの先端から前記共振器の前記チャンバ側の表面までの前 記共振器の厚さは、 前記波長; L gの 2 5 %〜 4 5 %であることを特徴とする請求 項 4に記載のプラズマ発生装置。
6. 前記アンテナはスロットアンテナであることを特徴とする請求項 1に記 載のプラズマ発生装置。
7 . 前記マイクロ波発生装置で発生するマイクロ波の波長を λ a、 前記共振 器の比誘電率を ε r、 前記波長; L aを前記比誘電率 ε rの平方根で除して得られ る前記共振器内のマイクロ波の波長を,; I g (= 1 a / £ r 1 / 2 ) としたときに、 前記共振器は前記波長 λ gの 2 5 %〜4 5 %の厚さを有することを特徴とする 請求項 6に記載のプラズマ発生装置。
8 . 前記マイクロ波発生装置は、 マイクロ波電源と、 前記マイクロ波電源か ら出力されたマイクロ波の出力を調整するアンプと、 前記アンプから出力された 後に前記アンプへ戻ろうとする反射マイクロ波を吸収するアイソレータと、 を有 することを特徴とする請求項 1に記載のプラズマ発生装置。
9 . 前記同軸導波管と前記アンテナを複数組具備し、
前記マイクロ波発生装置は、 マイクロ波電源と、 マイクロ波電源で発生させた マイクロ波を前記同軸導波管と前記アンテナの組数に分配する分配器と、 前記分 配器から出力された各マイクロ波の出力を調整する複数のアンプと、 前記複数の アンプから出力された後に前記複数のアンプへ戻ろうとする反射マイクロ波を吸 収する複数のアイソレータと、 を有することを特徴とする請求項 1に記載のプラ ズマ発生装置。
1 0 . 前記複数のアンテナの一部から前記共振器を通して前記チャンバの内 部に放射されるマイクロ波によって前記処理ガスを励起させ、 プラズマ発生後は 前記複数の全てのアンテナから前記共振器を通して前記チャンバの内部にマイク 口波が放射されるように、 前記マイクロ波発生装置を制御するプラズマ制御装置 をさらに具備することを特徴とする請求項 9に記載のブラズマ発生装置。
1 1 . 前記共振器は、 石英系材料、 単結晶アルミナ系材料、 多結晶アルミナ 系材料、 窒化アルミ二ゥム系材料のいずれかからなることを特徴とする請求項 1 に記載のプラズマ発生装置。
1 2 . 前記チャンパの内面に、 前記チャンバの腐食を防止するために、 石英 系材料または単結晶アルミナ系材料または多結晶アルミナ系材料からなる腐食防 止部材が装着されていることを特徴とする請求項 1に記載のプラズマ発生装置。
1 3 . 前記チャンバは、 前記チャンバを構成する部材の内部に冷媒を流すこ とによって冷却可能なジャケット構造を有することを特徴とする請求項 1に記載 のプラズマ発生装置。
1 4 . 前記チャンバは、 その一端面が前記開口面となっている有底筒状部材 であり、
前記有底筒状部材は、 その底壁にマイクロ波によって励起されたガスを前記チ ヤンバから外部へ放出する排気口を有し、 その側壁の前記開口面側近傍に前記処 理ガスを内部空間に放出するガス放出口を有することを特徴とする請求項 1に記 載のプラズマ発生装置。
1 5 . 前記同軸導波管に、 前記同軸導波管の長さ方向にスライ ド自在であり、 前記ァンテナに対するィンビーダンス整合を行ぅスラグチューナが取り付けられ ていることを特徴とする請求項 1に記載のプラズマ発生装置。
1 6 . 処理ガスが供給されるプラズマ励起用のチャンバへ所定出力のマイク 口波を^射する複数のァンテナを備えたプラズマ発生装置におけるブラズマ発生 方法であって、
前記複数のアンテナの一部から前記チャンバの内部にマイクロ波を放射して前 記処理ガスを励起させ、 プラズマを発生させる工程と、
プラズマ発生後に、 前記複数の全てのアンテナから前記チャンバの内部にマイ クロ波を放射して、 プラズマを安定化させる工程と、
を有することを特徴とするブラズマ発生方法。
1 7 . 所定の処理ガスをマイクロ波によって励起するプラズマ発生装置と、 基板を収容し、 前記プラズマ発生装置において前記処理ガスを励起させること により発生させた励起ガスにより、 前記基板に所定の処理を施す基板処理チャン バと、
を具備し、
前記プラズマ発生装置は、
所定波長のマイクロ波を発生するマイクロ波発生装置と、
内管と外管からなる同軸構造を有し、 前記内管の一端にアンテナが取り付けら れ、 前記マイク口波発生装置で発生させたマイクロ波を前記アンテナへ導く同軸 導波管と、 誘電体材料からなり、 前記アンテナを保持する共振器と、
所定の処理ガスが供給され、 前記アンテナから前記共振器を通して放射される マイクロ波によって前記処理ガスが励起されるプラズマ励起用チャンバと、 を有することを特徴とするリモートプラズマ処理装置。
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