明 細 書 プラズマ発生装置およびプラズマ発生方法ならぴにリモートプラズマ処理装置 技 術 分 野
本発明は、 マイクロ波によって所定の処理ガスを励起するプラズマ発生装置お よぴプラズマ発生方法、 ならびに励起された処理ガスによつて被処理体を処理す るリモートプラズマ処理装置に関する。 背 景 技 術
半導体デバイスや液晶表示装置の製造工程においては、 半導体ウェハやガラス 基板等の被処理基板にェッチング処理や成膜処理等のプラズマ処理を施すために
、 プラズマエツチング装置やブラズマ C V D成膜装置等のブラズマ処理装置が用 いられている。
リモートプラズマ処理装置におけるプラズマの発生方法として、 内部に処理ガ スが流れる誘電体材料からなるブラズマチューブと、 このプラズマチューブと直 交するように配置された導波管と、 前記プラズマチューブのうち導波管の内部に あってマイクロ波に曝される部分 (以下 「ガス励起部」 という) にスパイラル状 に巻き付けられたクーラントチューブと、 を有するリモートプラズマアプリケー タが知られている (例えば、 曰本国特許出願公開公報特開平 9一 2 1 9 2 9 5号 参照) 。 このリモートプラズマアプリケータにおいては、 プラズマチューブのガ ス励起部が発熱するために、 クーラントチューブに冷媒 (クーラント) を循環さ せている。
しかし、 このようなリモートプラズマアプリケータにおいては、 処理ガスの励 起がプラズマチューブ内の一部でしか行われず、 しかも、 ガス励起部に取り付け るクーラントチューブがマイクロ波のプラズマチューブ内への導波を妨げるため に、 プラズマの励起効率を高めることが難しいという問題がある。 ここで、 ガス 励起部におけるクーラントチューブの卷き数を少なくすると、 プラズマの励起効 は高められるが、 ガス励起部を十分に冷却することができずにクーラントチュー
プが破損する問題を生ずる。
また、 このようなリモートプラズマアプリケータは、 プラズマチューブと導波 管とを直交させる構造となっているために、 スペース効率が悪く、 装置全体が大 型化する問題がある。 発 明 の 開 示
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、 プラズマの励起効率が高い プラズマ発生装置を提供することを目的とする。 また本発明はスペース効率の高 い小型化されたプラズマ発生装置を提供することを目的とする。 さらに、 本発明 は、 このようなプラズマ発生装置を備えたリモートプラズマ処理装置を提供する ことを目的とする。
本発明によれば、 所定波長のマイクロ波を発生するマイクロ波発生装置と、 内 管と外管からなる同軸構造を有し、 前記内管の一端にアンテナが取り付けられ、 前記マイク口波発生装置で発生させたマイク口波を前記アンテナへ導く同軸導波 管と、 誘電体材料からなり、 前記アンテナを保持する共振器と、 所定の処理ガス が供給されるプラズマ励起用のチャンバと、 を具備し、 前記チャンバは開口面を 有し、 前記開口面に前記共振器が配置され、 前記アンテナから前記共振器を通し て前記チャンバの内部に放射されるマイクロ波によって前記処理ガスが励起され ることを特徴とするプラズマ発生装置、 が提供される。
同軸導波管におけるインピーダンス整合は、 同軸導波管の長さ方向にスライド 自在に設けられたスラグチューナによって行われる。 アンテナとしては、 モノポ 一ルアンテナ、 ヘリカルアンテナ、 スロッ トアンテナ等の各種のアンテナを用い ることができる。 ここで、 マイクロ波発生装置で発生するマイクロ波の波長を; a、 共振器の比誘電率を ε r、 波長; I aを比誘電率 ε rの平方根で除して得られ る共振器内のマイクロ波の波長を L g ( = λ a / ε r 1 / 2 ) とすると、 モノポー ルアンテナを用いる場合には、 その長さを波長; I gの約 2 5 %とし、 かつ、 共振 器の厚さを波長 λ gの約 5 0 %の厚さとすることが好ましい。 また、 ヘリカルァ ンテナを用いる場合には、 ヘリカルアンテナの先端から共振器のチャンバ側の表 面までの共振器の厚さを波長; gの約 2 5 %の厚さとすることが好ましい。 さら
に、 スロッ トアンテナを用いる場合には、 共振器の厚さを波長; L gの約 2 5 %の 厚さとすることが好ましい。
アンテナが 1本の場合には、 マイクロ波発生装置として、 マイクロ波電源と、 このマイクロ波電源から出力されたマイク口波の出力を調整するアンプと、 アン プから出力された後にアンプへ戻ろうとする反射マイクロ波を吸収するアイソレ ータと、 を有するものが好適に用いられる。 これに対し、 プラズマ発生装置に同 軸導波管とアンテナを複数組設けてもよい。 この場合には、 マイクロ波発生装置 として、 マイクロ波電源と、 このマイクロ波電源で発生させたマイクロ波をこの 同軸導波管とアンテナの組数に分配する分配器と、 分配器から出力された各マイ ク口波の出力を調整する複数のアンプと、 これら複数のアンプから出力された各 マイクロ波のうち複数のアンプへ戻ろうとする反射マイクロ波を吸収する複数の アイソレータと、 を有しているものを用いることが好ましい。
共振器としては、 石英系材料、 単結晶アルミナ系材料、 多結晶アルミナ系材料 、 窒化アルミニウム系材料が好適に用いられる。 チャンバの内面には、 チャンパ の腐食を防止するために、 石英系材料または単結晶アルミナ系材料または多結晶 アルミナ系材料からなる腐食防止部材を装着することが好ましい。
チャンバは、 チヤンバを構成する部材の内部に冷媒を流すことによつて冷却可 能なジャケット構造とすることが好ましい。 これによりチャンバの冷却を容易に 行うことができる。 また、 チャンパとしては、 その一端面が前記開口面となって いる有底筒状部材が好適に用いられる。 この場合において、 有底筒状部材の底壁 にマイクロ波によって励起されたガスをチャンパから外部へ放出する排気口を形 成し、 有底筒状部材の側壁の開口面側近傍に処理ガスを内部空間に放出するガス 放出口を形成すると、 処理ガスを効率よくマイクロ波によって励起することがで きる。
ところで、 プラズマ発生装置においては、 プラズマが着火する前はインピーダ ンスが大きいためにマイクロ波の全反射が起こることがある。 このため、 複数の アンテナを備えたプラズマ発生装置の場合には、 全てのアンテナからマイクロ波 を放射させてプラズマを発生させようとすると、 複数のアンテナから放射された マイクロ波が合成された高出力のマイクロ波が個々のアンテナに戻ってくること
となる。 そこで、 個々のアンテナにはこのような高出力マイクロ波からアンプを 保護するためにアイソレータを構成するサ一キュレータとダミーロードを大型化 する必要があるという新たな問題が生ずる。
この新たな問題を解決するために、 本発明によれば、 処理ガスが供給されるプ ラズマ励起用のチャンパへ所定出力のマイクロ波を放射する複数のアンテナを備 えたプラズマ発生装置におけるプラズマ発生方法であって、 前記複数のアンテナ の一部から前記チヤンバの内部にマイクロ波を放射して前記処理ガスを励起させ 、 プラズマを発生させる工程と、 プラズマ発生後に、 前記複数の全てのアンテナ から前記チャンパの內部にマイク口波を放射して、 プラズマを安定化させる工程 と、 を有することを特徴とするプラズマ発生方法、 が提供される。
複数のアンテナを備えたプラズマ発生装置において、 このようにしてプラズマ を発生させるためには、 複数のアンテナの一部から共振器を通してチャンパの內 部に放射されるマイクロ波によつて処理ガスを励起させ、 プラズマ発生後は複数 の全てのアンテナから共振器を通してチャンバの内部にマイクロ波が放射される ように、 マイクロ波発生装置を制御するプラズマ制御装置を用いればよい。 さらに本発明によれば、 上記プラズマ発生装置を備えたリモートプラズマ処理 装置が提供される。 すなわち、 所定の処理ガスをマイクロ波によって励起するプ ラズマ発生装置と、 基板を収容し、 前記プラズマ発生装置において前記処理ガス を励起させることにより発生させた励起ガスにより、 前記基板に所定の処理を施 す基板処理チャンバと、 を具備し、 前記プラズマ発生装置は、 所定波長のマイク 口波を発生するマイクロ波発生装置と、 内管と外管からなる同軸構造を有し、 前 記内管の一端にアンテナが取り付けられ、 前記マイクロ波発生装置で発生させた マイクロ波を前記アンテナへ導く同軸導波管と、 誘電体材料からなり、 前記アン テナを保持する共振器と、 所定の処理ガスが供給され、 前記アンテナから前記共 振器を通して放射されるマイクロ波によって前記処理ガスが励起されるプラズマ 励起用チャンバと、 を有することを特徴とするリモートプラズマ処理装置、 が提 供される。
本発明のプラズマ発生装置では、 マイクロ波の伝達効率と放射効率が高く、 共 振器から放射されたマイク口波は障害物を通過することなくチャンパの内部空間
の全体で処理ガスを励起することができるために、 処理ガスの励起効率を高める ことができる。 これにより、 プラズマ発生装置全体を小型化することができる。 また、 このような高効率化により、 使用する処理ガスの量を低減することができ るため、 ランニングコストを低下させることができる。 さらに、 アンテナと共振 器の寸法設定を適切に行うことによって共振器に定常波が立ちやすくなり、 これ によってマイクロ波を共振器からチャンバに均一に放射させて安定したプラズマ を発生させることができる。
また、 アンテナを複数具備する場合には、 アンプ等として小型のものを使用す ることができる利点があり、 一部のァンテナを用いてプラズマ着火を行うことに より、 反射マイクロ波によるアンプの損傷を小型のアイソレータで防止すること ができる。 さらに本発明のリモートプラズマ処理装置では、 プラズマ発生装置が 小型化されることによってリモー トプラズマ処理装置のスペースユーティリティ の自由度が高められるために、 リモートプラズマ処理装置全体を小さくすること ができる。 図面の簡単な説明
図 1は、 プラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。
図 2 Aは、 共振器の厚さ Dを図 2 Bに比してさらに厚くした場合のプラズマの 発生状態をシミュレーションした結果を示す説明図である。
図 2 Bは、 共振器の厚さ Dを図 2 Cに比してさらに厚く した場合のプラズマの 発生状態をシミュレーションした結果を示す説明図である。
図 2 Cは、 共振器の厚さ Dを約 λ g 2/ 2にした場合のプラズマの発生状態を シミュレーシヨンした結果を示す説明図である。
図 3は、 別のプラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。
図 4は、 さらに別のプラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。
図 5 Aは、 さらに別のプラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。 図 5 Bは、 図 5 Aに示すプラズマ発生装置の共振器へのモノポールァンテナの 配設位置を示す平面図である。
図 6 Aは、 さらに別のプラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。
図 6 Bは、 図 6 Aに示すプラズマ発生装置の共振器へのヘリカルアンテナの配 設位置を示す平面図である。
図 7 Aは、 さらに別のプラズマ発生装置の概略構造を示す断面図である。 図 7 Bは、 図 7 Aに示すスロットアンテナの分割形態を示す平面図である。 図 8は、 マイクロ波発生装置を制御するプラズマ制御装置の制御形態を示す説 明図である。
図 9は、 プラズマエッチング装置の概略構造を示す断面図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。 図 1 は、 プラズマ発生装置 1 0 0の概略構造を示す断面図である。 プラズマ発生装置 1 0 0は、 大略的に、 マイクロ波発生装置 1 0と、 内管 2 0 aと外管 2 0 bとか らなる同軸導波管 2 0と、 内管 2 0 aの先端に取り付けられたモノポールアンテ ナ 2 1と、 共振器 2 2と、 チャンバ 2 3とを有している。
マイクロ波発生装置 1 0は、 例えば、 周波数 2 . 4 5 G H Zのマイクロ波を発 生するマグネトロン等のマイクロ波電源 1 1と、 マイクロ波電源 1 1において発 生させたマイクロ波を所定の出力に調整するアンプ 1 2と、 アンプ 1 2力 ら出力 されたマイクロ波のうちアンプ 1 2へ戻ろうとする反射マイクロ波を吸収するァ イソレータ 1 3と、 同軸導波管 2 0に取り付けられたスラグチューナ 1 4 a · 1 4 bと、 を有している。 同軸導波管 2 0の一端はアイソレータ 1 3に取り付けら れている。
アイソレータ 1 3は、 サーキユレータとダミーロード (同軸終端器) とを有し ており、 サーキユレータは、 モノポールアンテナ 2 1からアンプ 1 2へ向けて逆 行しょうとするマイクロ波をダミーロードへ導き、 ダミーロードはサーキュレー タによつて導かれたマイク口波を熱に変換する。
同軸導波管 2 0の外管 2 0 bには長さ方向にスリット 3 1 a · 3 1 bが形成さ れている。 スラグチューナ 1 4 aはスリ ッ ト 3 1 aに嵌挿されたレバー 3 2 aと 接続され、 レバー 3 2 aはプーリー 3 3 aとモータ 3 4 aとの間に懸架されたべ ノレト 3 5 aの一部に固定されている。 同様に、 スラグチューナ 1 4 bはスリ ッ ト
3 1 bに嵌揷されたレバー 3 2 bと接続され、 レバー 3 2 bはプーリー 3 3 bと モータ 3 4 bとの間に懸架されたベルト 3 5 bの一部に固定されている。
モータ 3 4 aを駆動することによってスラグチューナ 1 4 aを同軸導波管 2 0 の長さ方向にスライドさせることができ、 モータ 3 4 bを駆動することによって スラグチューナ 1 4 bを同軸導波管 2 0の長さ方向にスライドさせることができ る。 このようにスラグチューナ 1 4 a · 1 4 bの位置を独立して調節することに よって、 モノポールアンテナ 2 1に対するインピーダンス整合を行うことができ 、 これによつてモノポールアンテナ 2 1で反射されるマイクロ波を少なくするこ とができる。 スリ ッ ト 3 1 a · 3 1 bからマイクロ波が漏れないように、 スリッ ト 3 1 a ■ 3 1 bは図示しないベルトシール機構等によってシールされている。 なお、 スラグチューナ 1 4 a · 1 4 bの厚さは、 マイクロ波発生装置 1 0で発 生するマイクロ波の波長をえ a、 スラグチューナ 1 4 a ' 1 4 bを構成する材料 の比誘電率を ε r 1 波長え aを比誘電率 ε r の平方根 ( ε r χ 1/2) で除して 得られる波長; I g χ (= λ a/ ε r 1 1ノ 2、 つまりスラグチューナ 1 4 a ■ 1 4 b 内でのマイクロ波の波長) としたときに、 波長ぇ § 1の約2 5 % (1Z4波長) となるようにする。
内管 2 0 aの一端に取り付けられたモノポールアンテナ 2 1は、 ロッド形状 ( 柱状) を有し、 このモノボールアンテナ 2 1は共振器 2 2に埋設されて保持され ている。 共振器 2 2は力パー 24に保持されており、 後述するように、 カバー 2 4をチャンバ 2 3に取り付けた際にチャンパ 2 3の開口面 (上面) を閉塞する。 モノポールアンテナ 2 1から放射されたマイクロ波によって共振器 2 2に定在 波を立たせる。 これにより、 チャンバ 2 3に均一にマイクロ波が放射されるよう になる。 同軸導波管 2 0の外管 2 0 bと接続され、 共振器 2 2の上面おょぴ側面 を覆うカバー 2 4は金属材料で構成されており、 共振器 2 2の上面およぴ側面か ら外部にマイクロ波が放射されることを防止する。 なお、 共振器 2 2は、 その内 部に定在波が立つことによって発熱する。 そこで共振器 2 2の温度上昇を抑える ために、 カバー 24には冷媒 (例えば、 冷却水) を循環させる冷媒流路 2 5が設 けられている。 なお、 冷媒は図示しない冷却循環装置を用いて循環させて使用す ることができる。
共振器 22には誘電体材料が用いられ、 チャンバ 23において生成する励起ガ スに対する耐食性に優れた材料が好適に用いられる。 例えば、 石英系材料 (石英 、 溶融石英、 石英ガラス等) 、 単結晶アルミナ系材料 (サファイア、 アルミナガ ラス等) 、 多結晶アルミナ系材料、 窒化アルミニウム系材料が挙げられる。 マイクロ波発生装置 10で発生するマイクロ波の波長を λ a、 共振器 22の比 誘電率を
ε r 2、 波長; I
aを比誘電率
ε r
2の平方根
r
2 1/2) で除して得ら れる波長え g
2 (=λ a H r
2 1/2、 つまり共振器 22内でのマイクロ波の波長 ) としたときに、 共振器 22にマイクロ波の定在波が立ち易くなるように、 モノ ポールアンテナ 21の長さ (高さ) Hは、 波長え g
2の 25% (1 4波長) と し、 かつ、 共振器 22の厚さ (D 1) をこの波長; l g
2の 50% (1ノ 2波長) とする。
これは、 概略、 以下の理由による。 つまり、 モノポールアンテナ 21の長さが λ g2/4の場合にはモノポールアンテナ 21の先端に最大強度の電界が発生す る。 このとき共振器 22の厚さを; I g2Z2とすると、 共振器 22の下面 (チヤ ンバ 23側の面) とチャンバ 23との境界で電界強度がゼロ (0) となり、 共振 器 22の誘電率と真空の誘電率とが異なっていても、 マイクロ波の反射が起こら ない。 一方、 磁界強度がこの境界面において最大となるが、 共振器 22の透磁率 が真空の透磁率と同じであれば、 やはりマイクロ波の反射は起こらない。 ここで 、 共振器 22に用いられる石英系材料、 単結晶アルミナ材料、 多結晶アルミナ材 料、 窒化アルミニウム系材料は非磁性体であるので、 その比透磁率はほぼ 1. 0 となり、 真空の透磁率と同じである。 これによつて、 マイクロ波を効率よくチヤ ンバ 23に放射することができる。
チャンバ 23は有底円筒型の形状を有しており、 通常、 ステンレス、 アルミ- ゥム等の金属材料から構成される。 カバー 24をチャンバ 23の上面に取り付け ることによって、 チャンバ 23の上面開口部は共振器 22によって閉塞される。 なお、 図 1中の符号 29はシールリングである。 チャンバ 23の側壁の上面近傍 には、 図示しないガス供給装置から送られてくる所定の処理ガス (例えば、 N2 、 Ar、 NF3等) をチャンバ 23の内部空間に放出するためのガス放出口 26 が形成されている。
ガス放出口 2 6からチャンバ 2 3の内部空間に放出された処理ガスは、 モノポ 一ルアンテナ2 1から共振器2 2を通してチャンバ 2 3の内部空間に放射された マイクロ波によって励起され、 プラズマが発生する。 こうして発生した励起ガス は、 チャンバ 2 3の底壁に設けられた排気口 2 3 aから外部 (例えば、 基板が収 容された処理チャンパ等) へ放出される。
処理ガスがマイクロ波によって励起される際の発熱によってチャンパ 2 3の温 度が上昇することを抑制するために、 チャンバ 2 3はカバー 2 4と同様に、 内部 に冷媒を流す冷媒流路 2 8が形成され、 冷却可能なジャケット構造となっている 。 チャンバ 2 3の内面には、 励起ガスによる腐食を防止するために、 石英系材料 または単結晶アルミナ系材料または多結晶アルミナ系材料からなる腐食防止部材 2 7が装着されている。
このような構成を有するプラズマ発生装置 1 0 0では、 最初に、 カバー 2 4と チャンバ 2 3に冷却水を流して、 共振器 2 2やチャンバ 2 3が過度に温度上昇し ないようにする。 次に、 マイクロ波発生装置 1 0を駆動して、 所定の周波数のマ イク口波をマイクロ波電源 1 1で発生させた後に、 アンプ 1 2でこのマイクロ波 を所定の出力に増幅する。 アンプ 1 2によって所定の出力に調整されたマイクロ 波は、 アイソレータ 1 3と同軸導波管 2 0を通してモノポールアンテナ 2 1に送 られる。 このとき、 スラグチューナ 1 4 a · 1 4 bを駆動して、 モノポールアン テナ 2 1からの反射マイクロ波が少なくなるように、 インピーダンスの整合を行 モノポールアンテナ 2 1から放射されたマイクロ波によって共振器 2 2の內部 に定在波が立つ。 これによつて共振器 2 2からチャンバ 2 3の内部に均一にマイ クロ波が放射される。 この状態においてチャンバ 2 3に処理ガスを供給すると、 処理ガスがマイクロ波によって励起されてプラズマが生ずる。 こうして生成した 励起ガスは、 排気口 2 3 aから、 例えば基板等の被処理体が収容されたチャンパ (図示せず) に送られる。
図 2は、 共振器 2 2の厚さ (D ) とプラズマの発生状態との関係をシミュレ一 シヨンした結果を示す説明図である。 ここで、 マイクロ波発生装置 1 0において 発生させるマイクロ波の周波数は 2 . 4 5 G H z (つまり波長; L aは約 1 2 2 m
m) としている。 また、 共振器 22として水晶からなるものを用いるものとする 。 水晶の比誘電率 ε rは約 3. 75であるから、 共振器 22内でのマイクロ波の 波長: g2は、 約 6 3. 00 mmとなる。 モノポールアンテナ 21の長さは約 λ g 2/4 (= 1 5. 75mm) とした。
図 2 Cは共振器 22の厚さ Dを約 λ g 2/ 2にした場合である。 無限の平行平 '板では共振器 22の厚さが; I g2//2のときに最も効率がよいと考えられるが、 現実的な大きさと形状を考えると、 共振器 22の厚さが; I g 2Z2の場合には、 約 58%の反射があるために効率は高くない。 そこで、 図 2 Bから図 2 Aへと共 振器 2 2の厚さを厚くしていくと、 共振器 22の厚さが 3 5. 6mmのとき (図 2 Bの場合) に反射が約 22 %となり、 共振器 2 2の厚さが 3 9. 6 mmのとき (図 2 Aの場合) に反射が約 6%となり、 効率が上がる。 このように実際のアン テナ設計においては共振器 22の厚さを理論値よりも厚くするとよい結果を得る ことができる。 .
このように、 実際の装置において高い効率が得られる共振器 22の厚さが理論 値と異なるのは、 共振器 22が無限の平行平板ではないからである。 共振器 22 の最適厚さはシミュレーションによって確認すればよく、 モノポールアンテナ 2 1の長さ (高さ) Hは波長 λ g2の 23〜26%、 共振器 22の厚さ (D 1) は 波長; g2の 50〜70%とするとよい。
このように、 プラズマ発生装置 100においては、 チャンバ 23の内部空間全 体においてプラズマを均一に発生させることができ、 処理ガスを効率よく励起さ せることができる。 また、 従来のプラズマ発生装置のように処理ガスの供給路と マイクロ波の導波路とを交差させる必要がないために、 プラズマ発生装置 100 自体を小型化することができる。
次に、 プラズマ発生装置の別の実施の形態について説明する。 図 3はプラズマ 発生装置 1 00 aの概略構造を示す断面図である。 プラズマ発生装置 1 00 aと 先に説明した図 1記載のプラズマ発生装置 100との相違点は、 同軸導波管 20 の内管 20 aの先端に螺旋状のへリカルアンテナ 2 1 aが取り付けられ、 このへ リカルアンテナ 21 aが共振器 22に埋設されている点である。
ヘリカルアンテナ 2 1 aを用いる場合には、 ヘリカルアンテナ 2 1 aの全長を
波長 λ § 2の 25% (1/4波長) とする。 これにより、 ヘリカルアンテナ 21 aの先端に最大強度の電界が発生する。 そして、 ヘリカルアンテナ 21 aの先端 から共振器 22の下面までの共振器 22の厚さ (D 2) は、 波長ぇ § 2の25% (1/4波長) とする。 これにより、 共振器 22の下面とチャンバ 23との境界 で電界強度がゼロ (0) となり、 共振器 22の誘電率と真空の誘電率とが異なつ ていても、 マイクロ波の反射が起こらない。 一方、 磁界強度がこの境界面におい て最大となるが、 共振器 22の透磁率が真空の透磁率と同じであれば、 やはりマ イク口波の反射は起こらない。
ヘリカルアンテナ 21 aを用いた場合には、 ヘリカルアンテナ 21 aの直線的 な長さ (高さ) hは、 その全長よりも短くなる。 したがって、 共振器 22の全体 の厚さは h+約; g2Z4となり、 モノポールアンテナ 21を用いた場合と比較 すると、 共振器 22の厚さを薄くすることができる。 なお、 この場合においても 、 実際の装置において高い効率が得られる共振器 22の厚さは理論値と異なる。 これは共振器 22が無限の平行平板ではないからである。 共振器 22の最適厚さ はシミュレーションによって確認すればよく、 ヘリカルアンテナ 21 aの長さは 波長 L g 2の 23〜26%、 共振器 22の厚さ (D 2) は波長; L g 2の 25〜4 5 %とするとよい。
図 4は、 プラズマ発生装置 100 bの概略構造を示す断面図である。 プラズマ 発生装置 100 bと先に説明した図 1記載のプラズマ発生装置 10.0との相違点 は、 同軸導波管 20の內管 20 aの先端にスロットアンテナ 21 bが取り付けら れ、 このスロットアンテナ 2 1 bが共振器 22に埋設されて保持されている点で ある。
スロットアンテナ 21 bは、 例えば、 金属円板に同心円状に一定幅の弧型のス ロット (孔) が設けられた構造を有する。 スロッ トアンテナ 21 bを用いる場合 には、 共振器 22の厚さ (スロットアンテナ 21 bの下面から共振器 22の下面 までの厚さをいう) D 3を波長; I g 2の 25 % (1Z4波長) とする。 スロット アンテナ 21 bを用いた場合には、 スロットアンテナ 21 bの下面で最大強度の 電界が発生する。 また、 共振器 22の下面とチャンバ 23との境界で電界強度が ゼロ (0) となり、 共振器 22の誘電率と真空の誘電率とが異なっていても、 マ
イク口波の反射が起こらない。 一方、 磁界強度がこの境界面において最大となる が、 共振器 2 2の透磁率が真空の透磁率と同じであれば、 やはりマイクロ波の反 射は起こらない。 なお、 この場合においても、 実際の装置において高い効率が得 られる共振器 2 2の厚さは理論値と異なる。 これは共振器 2 2が無限の平行平板 ではないからである。 共振器 2 2の最適厚さはシミュレーションによって確認す ればよく、 スロッ トアンテナ 2 1 bを用いる場合には、 共振器 2 2の厚さ (D 3 ) は波長 I g 2の 2 5〜4 5 %とするとよい。
スロットアンテナ 2 1 bを薄く構成すれば、 スロットアンテナ 2 1 bと共振器 2 2の合計の厚さを、 モノポールアンテナ 2 1やヘリカルアンテナ 2 1 aを用い た場合よりも、 薄くすることができる。 なお、 モノポールアンテナ 2 1を用いた 場合には、 ヘリカルアンテナ 2 1 aやスロットアンテナ 2 1 bを用いる場合と比 較すると、 共振器 2 2の厚さは厚くなるが、 構造が簡単であり低コストであるこ とや、 プラズマの励起効率が高い等の利点がある。
以上においてはアンテナが 1本である場合について説明したが、 プラズマ発生 装置 1 0 0を備えたリモートブラズマ処理装置においては、 マイク口波の出力電 力が 5 0 0 W程度以上のものが要求されることがある。 この場合には、 図 1に示 されるアンプ 1 2として複数の小型アンプを備えたものを用い、 これら小型アン プの出力を合成することによって高出力を実現させる。 そこで図 5〜図 7に示す プラズマ発生装置 1 O O c〜1 0 0 eのように、 小型アンプの数に対応させてァ ンテナを複数本設け、 各小型アンプから各アンテナに同軸導波管を用いてマイク 口波を伝送してもよい。
図 5 Aはプラズマ発生装置 1 0 0 cの概略断面図であり、 図 5 Bは共振器 2 2 へのモノポールアンテナ 1 7 a〜 1 7 dの配設位置を示す平面図である。 マイク 口波電源 1 1から出力されたマイクロ波が分配器 1 1 aによって複数 (図 5 A, 5 Bでは 4分配した場合を示す) に分配される。 分配器 1 1 aから出力された各 マイクロ波は小型アンプ 1 2 a〜l 2 dに入力され、 そこで所定の電力に増幅さ れる。 各小型アンプ 1 2 a〜 1 2 dから出力されたマイクロ波は、 アイソレータ 1 3 a〜 1 3 d (アイソレータ 1 3 b . 1 3 dはそれぞれアイソレータ 1 3 a - 1 3 cの背面に位置しているために図示せず) と同軸導波管 4 0 a ~ 4 0 d (同
軸導波管 4 0 b · 4 0 dはそれぞれ同軸導波管 4 0 a - 0 cの背面に位置して いるために図示せず) を通して共振器 2 2に設けられたモノポールアンテナ 1 Ί a〜l 7 dに送られる。 各モノポールアンテナ 1 7 a〜l 7 dから放射されたマ イク口波によって共振器 2 2の内部に定在波が立ち、 共振器 2 2からチャンバ 2 3の内部にマイクロ波が放射される。 なお、 同軸導波管 4 0 a〜4 0 dはそれぞ れ同軸導波管 2 0と同等の構造を有する。
図 6 Aはプラズマ発生装置 1 0 0 dの概略断面図であり、 図 6 Bは共振器 2 2 へのへリカルアンテナ 1 8 a〜l 8 dの配設位置を示す平面図である。 プラズマ 発生装置 1 0 0 dは、 図 5 A, 5 Bに示したプラズマ発生装置 1 0 0 cが具備す るモノポールアンテナ 1 7 a〜 1 7 dをへリカルアンテナ 1 8 d〜 1 8 dに置き 換えたものであり、 その他の部分の構成はプラズマ発生装置 1 0 0 cと同じであ る。
図 7 Aはプラズマ発生装置 1 0 0 eの概略断面図であり、 図 7 Bはスロットァ ンテナ 1 9の分割形態を示す平面図である。 プラズマ発生装置 1 0 0 eが具備す るスロットアンテナ 1 9は金属板によって 4個のブロック 1 9 a〜1 9 dに分け られており、 ブロック 1 9 a〜1 9 dのそれぞれに同軸導波管 4 0 a〜4 0 d ( 同軸導波管 4 0 dは同軸導波管 4 0 aの背面に位置するために図示せず) を取り 付けるための給電ポイント 3 8 a〜3 8 dが設けられている。 各ブロック 1 9 a 〜1 9 dには各給電ポイント 3 8 a〜3 8 dが設けられている位置に対応して所 定のパターンでスロット (孔部) 3 9が形成されている。
このようなプラズマ発生装置 1 0 0 c〜l 0 0 eによれば、 アンプのコストを 低く抑えることができるとともに、 プラズマの発生効率がさらに高められ、 ブラ ズマの均一性を向上させることができる。
ところで、 上記プラズマ発生装置 1 0 0 ■ 1 0 0 a〜 1 0 0 eにおいては、 プ ラズマが着火する前はインピーダンスが大きく、 プラズマが着火した後にィンピ 一ダンスは小さくなつて安定する。 プラズマ着火前には、 高いインピーダンスに 起因して、 アンテナから放射されたマイクロ波の全反射が起こることがある。 プラズマ発生装置 1 0 0ではアンテナ 2 0は 1本だけであるから、 アイソレー タ 1 3としてアンテナ 2 0から放射することができるマイクロ波の出力に応じた
ものを用いればよく、 このことはプラズマ発生装置 1 00 a · 1 0 0 bについて も同様である。
しかしながら、 複数のアンテナを備えたプラズマ発生装置 1 0 0 cでは、 4本 の全てのアンテナ 1 7 a ~1 7 dからマイクロ波を放射させてプラズマを発生さ せようとすると、 これら 4本のアンテナ 1 7 a〜 l 7 dから放射されたマイクロ 波が合成された高出力のマイクロ波が小型アンプ 1 2 a〜l 2 dそれぞれに戻つ てくることとなる。 このため、 小型アンプ 1 2 a〜1 2 dをこのような高出力マ イク口波から保護するために、 アイソレータ 1 3 a〜l 3 dを構成するサーキュ レータとダミーロードを大型化したのでは、 装置コストゃ装置の小型化の観点か ら不利である。 この問題はプラズマ発生装置 1 0 O d ■ 1 0 0 eについても同様 である。
そこで、 アイソレータ 1 3 a ~ l 3 dを大型化することを抑制し、 小型アンプ 1 2 a〜l 2 dを保護する方法として、 アンテナ 1 7 a〜l 7 dの一部から共振 器 2 2を通してチャンバ 2 3の内部に放射されるマイクロ波によって処理ガスを 励起し、 プラズマ発生後は全てのアンテナ 1 7 a〜 1 7 dから共振器 2 2を通し てチヤンバ 2 3の内部にマイク口波を放射することによつてプラズマを安定させ るようにマイク口波発生装置 1 0を制御するプラズマ制御装置を用いる方法が挙 げられる。
具体的には、 図 8に示すように、 少なくとも分配器 1 1 aの分配数と小型アン プ 1 2 a〜1 2 dの駆動数の少なくとも一方を制御することができるプラズマ制 御装置 9 0が挙げられる。 例えば、 プラズマ制御装置 9 0は、 マイクロ波電源 1 1から出力されたマイクロ波を、 分配器 1 1 aにおいて 4分配して小型アンプ 1 2 a〜 1 2 dにそれぞれ入力させるが、 小型アンプ 1 2 aのみを駆動し、 その他 の小型アンプ 1 2 b〜 1 2 dではマイクロ波の増幅が行われないようにする。 こ れにより、 プラズマ着火前には実質的にアンテナ 1 7 aからのみマイク口波を放 射させることができる。 また、 プラズマが着火した後にはプラズマ制御装置 90 は、 全ての小型アンプ 1 2 a〜 1 2 dを駆動して全てのアンテナ 1 7 a〜1 7 d からマイクロ波を放射させる。 これにより、 プラズマを安定させることができる
また、 プラズマ制御装置 9 0は、 マイクロ波電源 1 1から出力されたマイクロ 波を分配器 1 1 aにおいて分配することなく小型アンプ 1 2 aに入力させ、 小型 アンプ 1 2 aに入力されたマイクロ波を所定の増幅率で増幅させて出力させる。 これにより、 プラズマ着火前にはアンテナ 1 7 aのみからマイクロ波を放射させ ることができる。 これによりプラズマが着火した後には、 プラズマ制御装置 9 0 は、 全ての小型アンプ 1 2 a〜1 2 dにマイクロ波が入力されるように、 分配器 1 1 aにおけるマイクロ波の分配を行い、 かつ、 全ての小型アンプ 1 2 a〜l 2 dを駆動させる。 これにより、 全てのアンテナ 1 7 a〜l 7 dからマイクロ波を 放射させて、 プラズマを安定させることができる。
なお、 プラズマ着火のためにマイクロ波を放射させるアンテナの数は 1個に限 定されるものではなく、 アイソレータを構成するサーキュレータとダミーロード の大型化が許容される範囲であれば、 2個以上であってもよい。
次に、 上述したプラズマ発生装置 1 0 0を備えた基板処理装置として、 半導体 ウェハに対してエッチング処理を行うプラズマエッチング装置について説明する
。 図 9はプラズマエッチング装置 1の概略構造を示す断面図である。 プラズマェ ツチング装置 1は、 プラズマ発生装置 1 0 0と、 ウェハ Wを収容するウェハ処理 チヤンバ 4 1と、 チヤンバ 2 3とウェハ処理チヤンパ 4 1とを接続し、 チャンバ 2 3で発生させた励起ガスをウェハ処理チャンバ 4 1へ送るガス管 4 2と、 を有 している。
ウェハ処理チャンパ 4 1の内部には、 ウェハ Wを载置するステージ 4 3が設け られている。 ウェハ処理チャンバ 4 1は、 ウェハ Wの搬入出を行うための開閉自 在な開口部 (図示せず) を有しており、.図示しないウェハ搬送手段によってゥェ ハ Wがウェハ処理チャンバ 4 1内に搬入され、 逆に、 プラズマエッチング処理が 終了したウェハ Wがウェハ処理チャンバ 4 1から搬出される。 プラズマ発生装置 1 0 0で生成した励起ガスは、 ガス管 4 2からウェハ処理チャンバ 4 1に供給さ れてウェハ Wを処理した後に、 ウェハ処理チャンバ 4 1に設けられた排気口 4 1 aから排気される。
このようなプラズマエッチング装置 1では、 プラズマ発生装置 1 0 0を小さく することができるために、 ウェハ処理チャンパ 4 1の上方のスペースユーティリ
ティが高められる。 これを有効に利用して、 各種の配管や配線、 制御装置等を配 置することができるため、 プラズマエッチング装置 1全体をコンパク トに構成す ることができる。
以上、 本発明の実施の形態について説明してきたが、 本発明はこのような実施 の形態に限定されるものではない。 例えば、 同軸導波管 2 0に変えて、 同軸線を 用いてもよい。 また、 プラズマ処理としてエッチング処理を取り上げたが、 本発 明は、 プラズマ C V D処理 (成膜処理) やアツシング処理等の他のプラズマ処理 にも用いることができる。 また、 プラズマ処理に供される被処理基板は半導体ゥ ェハに限定されず、 L C D基板、 ガラス基板、 セラミックス基板等であってもよ い。
産業上の利用可能性
本発明は、 プラズマを用いた種々の処理装置、 例えば、 エッチング装置、 プラ ズマ C V D装置、 アツシング装置等に好適である。