JPH11214196A - プラズマ発生装置 - Google Patents
プラズマ発生装置Info
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- JPH11214196A JPH11214196A JP10017226A JP1722698A JPH11214196A JP H11214196 A JPH11214196 A JP H11214196A JP 10017226 A JP10017226 A JP 10017226A JP 1722698 A JP1722698 A JP 1722698A JP H11214196 A JPH11214196 A JP H11214196A
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32192—Microwave generated discharge
- H01J37/32211—Means for coupling power to the plasma
- H01J37/3222—Antennas
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 プラズマ処理の均一性を向上し、基板の大口
径化にも対応できるプラズマ発生装置を提供する。 【解決手段】 導波管5からT分岐の分岐部20a,2
0b,20cを経て4本のロッドアンテナ9a,9b,
9c,9dに分配して放射されたマイクロ波が、4本の
誘電体管10a,10b,10c,10dを介して真空
容器1内に導入される。真空容器1内には、周囲に設置
された永久磁石11によりマルチカスプ磁界13と電子
サイクロトロン共鳴領域12が存在し、マイクロ波の振
動電界と磁界との相互作用により、基板等にプラズマ処
理を施す領域において均一性の高いプラズマ8が発生す
る。
径化にも対応できるプラズマ発生装置を提供する。 【解決手段】 導波管5からT分岐の分岐部20a,2
0b,20cを経て4本のロッドアンテナ9a,9b,
9c,9dに分配して放射されたマイクロ波が、4本の
誘電体管10a,10b,10c,10dを介して真空
容器1内に導入される。真空容器1内には、周囲に設置
された永久磁石11によりマルチカスプ磁界13と電子
サイクロトロン共鳴領域12が存在し、マイクロ波の振
動電界と磁界との相互作用により、基板等にプラズマ処
理を施す領域において均一性の高いプラズマ8が発生す
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマ発生装置
に関し、特に、発生したプラズマを用いて半導体基板、
液晶ガラス基板、有機材料、金属材料等の表面の改質、
エッチング、アッシング、クリーニング、薄膜形成等の
処理を行なうプラズマ発生装置に関するものである。
に関し、特に、発生したプラズマを用いて半導体基板、
液晶ガラス基板、有機材料、金属材料等の表面の改質、
エッチング、アッシング、クリーニング、薄膜形成等の
処理を行なうプラズマ発生装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、マイクロ波を用いたプラズマ発生
装置として、マイクロ波を真空容器内に導入するのに用
いられる誘電体の表面とプラズマとの境界に表面波を励
起、伝播させ、この表面波の電磁エネルギーによりプラ
ズマを発生させるプラズマ発生装置がある。以下、図2
1〜図24を用いて、従来のプラズマ発生装置について
説明する。
装置として、マイクロ波を真空容器内に導入するのに用
いられる誘電体の表面とプラズマとの境界に表面波を励
起、伝播させ、この表面波の電磁エネルギーによりプラ
ズマを発生させるプラズマ発生装置がある。以下、図2
1〜図24を用いて、従来のプラズマ発生装置について
説明する。
【0003】従来のプラズマ発生装置として主として用
いられている表面波プラズマ発生装置は、図21に示す
ように、真空容器101、マイクロ波発振器102、駆
動電源103、導波管105および誘電体窓120を備
えている。さらに真空容器101は、この真空容器10
1内部に、放電ガスを供給するためのガス供給口101
aと放電ガスを排気するためのガス排気口101bを有
している。また、この真空容器101の内部下側には、
種々の処理のための基板107が載置されている。ま
た、この真空容器101内部上側には、スリット106
とその真下に誘電体材料からなる誘電体窓120とが設
けられている。そして、この誘電体窓120は、導波管
105に接続されている。また、この導波管105は、
マイクロ波発振器102に接続されている。さらに、マ
イクロ波発振器102は、駆動電源103に接続されて
いる。
いられている表面波プラズマ発生装置は、図21に示す
ように、真空容器101、マイクロ波発振器102、駆
動電源103、導波管105および誘電体窓120を備
えている。さらに真空容器101は、この真空容器10
1内部に、放電ガスを供給するためのガス供給口101
aと放電ガスを排気するためのガス排気口101bを有
している。また、この真空容器101の内部下側には、
種々の処理のための基板107が載置されている。ま
た、この真空容器101内部上側には、スリット106
とその真下に誘電体材料からなる誘電体窓120とが設
けられている。そして、この誘電体窓120は、導波管
105に接続されている。また、この導波管105は、
マイクロ波発振器102に接続されている。さらに、マ
イクロ波発振器102は、駆動電源103に接続されて
いる。
【0004】上記のように構成される従来の表面波プラ
ズマ発生装置の動作について説明する。まず、排気孔1
01bに接続されているあらびきポンプおよびターボ分
子ポンプ等の高真空ポンプ(図示せず)で真空容器10
1内を高真空に排気し、ガス供給口101aを通じてア
ルゴン、水素、酸素、塩素、四弗化炭素、シラン等の放
電ガスを供給する。それにより、真空容器101内がこ
の放電ガスによって所定の圧力に達する。その後、駆動
電源103の駆動によりマイクロ波発振器102がマイ
クロ波を発振する。このマイクロ波は導波管105に導
波される。そして、マイクロ波は導波管105を経てス
リット106によってマイクロ波立体回路から放射され
る。放射されたマイクロ波は、真空容器101の上面に
設置された誘電体窓120を通過して真空容器101の
内部に導入される。それにより、プラズマ108が真空
容器101の内部に発生する。
ズマ発生装置の動作について説明する。まず、排気孔1
01bに接続されているあらびきポンプおよびターボ分
子ポンプ等の高真空ポンプ(図示せず)で真空容器10
1内を高真空に排気し、ガス供給口101aを通じてア
ルゴン、水素、酸素、塩素、四弗化炭素、シラン等の放
電ガスを供給する。それにより、真空容器101内がこ
の放電ガスによって所定の圧力に達する。その後、駆動
電源103の駆動によりマイクロ波発振器102がマイ
クロ波を発振する。このマイクロ波は導波管105に導
波される。そして、マイクロ波は導波管105を経てス
リット106によってマイクロ波立体回路から放射され
る。放射されたマイクロ波は、真空容器101の上面に
設置された誘電体窓120を通過して真空容器101の
内部に導入される。それにより、プラズマ108が真空
容器101の内部に発生する。
【0005】プラズマ108が発生した後、プラズマ1
08の密度が高くなると、マイクロ波は、プラズマ10
8内部に進入することができない。そのため、プラズマ
108の表面に発生する表面波となって導波される。こ
の表面波は、誘電体窓120とプラズマ108の境界に
沿って伝播する。また、マイクロ波は、伝播中のプラズ
マ108に吸収される。このため、誘電体窓120の表
面近傍は、この表面波の振動電界により電子が加速さ
れ、高エネルギー状態となる。こうして生成された高密
度のプラズマ108は拡散する。
08の密度が高くなると、マイクロ波は、プラズマ10
8内部に進入することができない。そのため、プラズマ
108の表面に発生する表面波となって導波される。こ
の表面波は、誘電体窓120とプラズマ108の境界に
沿って伝播する。また、マイクロ波は、伝播中のプラズ
マ108に吸収される。このため、誘電体窓120の表
面近傍は、この表面波の振動電界により電子が加速さ
れ、高エネルギー状態となる。こうして生成された高密
度のプラズマ108は拡散する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
プラズマ発生装置は、図21に示すように、真空容器1
01の上側のみに誘電体窓120が設置されているの
で、誘導体窓120に近い部分と遠い部分とで、マイク
ロ波の導入に格差が生じる。そのため、プラズマ108
が拡散するときに再結合をおこす。それにより、プラズ
マ108密度の分布は、真空容器101の内部で不均一
となる。その結果、基板107の処理が不均一になる。
また、基板107の大口径化に伴い、真空容器101を
大きくする場合においても、プラズマ108の再結合が
起こりやすくなり、均一なプラズマ108の分布の維持
ができず、基板107の処理が不均一となりやすい。そ
れにより、半導体装置の機能に不具合が生じる可能性が
ある。そのため、基板107の大口径化ができないとい
う問題がある。
プラズマ発生装置は、図21に示すように、真空容器1
01の上側のみに誘電体窓120が設置されているの
で、誘導体窓120に近い部分と遠い部分とで、マイク
ロ波の導入に格差が生じる。そのため、プラズマ108
が拡散するときに再結合をおこす。それにより、プラズ
マ108密度の分布は、真空容器101の内部で不均一
となる。その結果、基板107の処理が不均一になる。
また、基板107の大口径化に伴い、真空容器101を
大きくする場合においても、プラズマ108の再結合が
起こりやすくなり、均一なプラズマ108の分布の維持
ができず、基板107の処理が不均一となりやすい。そ
れにより、半導体装置の機能に不具合が生じる可能性が
ある。そのため、基板107の大口径化ができないとい
う問題がある。
【0007】このような問題点を解決する手段として、
本発明者らは、平成9年9月26日出願の特願平9−2
62047号において、図22および図23に示すよう
に、誘電体管110が真空容器101内部に挿入された
構造のプラズマ発生装置を既に提案した。このプラズマ
発生装置によれば、真空容器は円柱形であり、誘電体管
110が高さ方向に配置されている。それにより、高さ
方向のマイクロ波の導入は均一化される。このマイクロ
波と図24に示す磁石111から発生するマルチカスプ
磁界113によりプラズマの発生、維持が図られる。そ
の結果、円柱形の真空容器の高さ方向のプラズマ108
の分布については、十分に均一化を図ることが可能であ
る。
本発明者らは、平成9年9月26日出願の特願平9−2
62047号において、図22および図23に示すよう
に、誘電体管110が真空容器101内部に挿入された
構造のプラズマ発生装置を既に提案した。このプラズマ
発生装置によれば、真空容器は円柱形であり、誘電体管
110が高さ方向に配置されている。それにより、高さ
方向のマイクロ波の導入は均一化される。このマイクロ
波と図24に示す磁石111から発生するマルチカスプ
磁界113によりプラズマの発生、維持が図られる。そ
の結果、円柱形の真空容器の高さ方向のプラズマ108
の分布については、十分に均一化を図ることが可能であ
る。
【0008】しかしながら、図22に示す装置は、アン
テナ109および誘電体管110が各々1つしか有しな
いため、マイクロ波のエネルギーが真空容器101の壁
付近まで到達しにくい。そのため、真空容器101の壁
付近でプラズマ108が消滅しやすい。したがって、円
柱形の真空容器101の直径方向のプラズマ108の分
布が均一化が十分ではなく、完全に均一性の高いプラズ
マ108を発生することができない。
テナ109および誘電体管110が各々1つしか有しな
いため、マイクロ波のエネルギーが真空容器101の壁
付近まで到達しにくい。そのため、真空容器101の壁
付近でプラズマ108が消滅しやすい。したがって、円
柱形の真空容器101の直径方向のプラズマ108の分
布が均一化が十分ではなく、完全に均一性の高いプラズ
マ108を発生することができない。
【0009】本発明は、上記のような問題点を解決する
ために、上記の特願平9−262047号に記載の発明
を更に改良し、高さ方向および直径方向ともに均一性の
高いプラズマを発生させ、かつ、高密度なプラズマを広
い範囲のもとで、安定に供給、維持することを可能とす
るようなプラズマ発生装置を提供することを目的とす
る。
ために、上記の特願平9−262047号に記載の発明
を更に改良し、高さ方向および直径方向ともに均一性の
高いプラズマを発生させ、かつ、高密度なプラズマを広
い範囲のもとで、安定に供給、維持することを可能とす
るようなプラズマ発生装置を提供することを目的とす
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の請求項1に記載のプラズマ発生装置は、マイクロ波
を発生させるマイクロ波発生手段と、該マイクロ波発生
手段で発生したマイクロ波を導波するマイクロ波導波手
段と、該導波管に接続され、放電ガスを供給する手段お
よび真空排気手段を有する真空容器と、導波管から導波
されたマイクロ波を真空容器内に放射するマイクロ波放
射手段と、マイクロ波放射手段で放射されたマイクロ波
を前記真空容器の内部に導入させるマイクロ波導入手段
とを備え、真空容器内のプラズマ処理領域を含む所定の
領域にプラズマを発生させる装置であって、マイクロ波
放射手段は、真空容器の複数の位置に対してマイクロ波
を放射する手段を含み、マイクロ波導入手段は、マイク
ロ波放射手段から放射されたマイクロ波を、真空容器内
の前記プラズマ処理領域上の並列な複数の位置に導入す
る手段を含む。
明の請求項1に記載のプラズマ発生装置は、マイクロ波
を発生させるマイクロ波発生手段と、該マイクロ波発生
手段で発生したマイクロ波を導波するマイクロ波導波手
段と、該導波管に接続され、放電ガスを供給する手段お
よび真空排気手段を有する真空容器と、導波管から導波
されたマイクロ波を真空容器内に放射するマイクロ波放
射手段と、マイクロ波放射手段で放射されたマイクロ波
を前記真空容器の内部に導入させるマイクロ波導入手段
とを備え、真空容器内のプラズマ処理領域を含む所定の
領域にプラズマを発生させる装置であって、マイクロ波
放射手段は、真空容器の複数の位置に対してマイクロ波
を放射する手段を含み、マイクロ波導入手段は、マイク
ロ波放射手段から放射されたマイクロ波を、真空容器内
の前記プラズマ処理領域上の並列な複数の位置に導入す
る手段を含む。
【0011】このように構成することにより、本発明の
プラズマ発生装置によれば、マイクロ波放射手段が、真
空容器内のプラズマ処理領域に沿う方向に並ぶ複数の位
置においてマイクロ波を放射する手段を含むことによ
り、プラズマ処理領域上の複数の位置に対してマイクロ
波が放射され、それらの複数の位置においてプラズマを
発生させるため、上記従来の技術の場合のように1か所
のみに対してマイクロ波を放射させることに比べて、プ
ラズマ処理領域に沿う方向により均一な密度分布を有す
るプラズマを発生させることができる。その結果、プラ
ズマ処理領域内でのプラズマ処理の均一性が向上し、プ
ラズマ処理の対象としての基板の大口径化に対応できる
プラスマ発生装置を提供することができる。
プラズマ発生装置によれば、マイクロ波放射手段が、真
空容器内のプラズマ処理領域に沿う方向に並ぶ複数の位
置においてマイクロ波を放射する手段を含むことによ
り、プラズマ処理領域上の複数の位置に対してマイクロ
波が放射され、それらの複数の位置においてプラズマを
発生させるため、上記従来の技術の場合のように1か所
のみに対してマイクロ波を放射させることに比べて、プ
ラズマ処理領域に沿う方向により均一な密度分布を有す
るプラズマを発生させることができる。その結果、プラ
ズマ処理領域内でのプラズマ処理の均一性が向上し、プ
ラズマ処理の対象としての基板の大口径化に対応できる
プラスマ発生装置を提供することができる。
【0012】マイクロ波伝達手段としては、主として導
波管が用いられるが、マイクロ波パワーの程度によれ
ば、導波管の代わりに、同軸ケーブルやあるいはコルゲ
ート管等のフレキシブルな部材に置換えて、プラズマ発
生装置の構成を簡略化することも可能である。
波管が用いられるが、マイクロ波パワーの程度によれ
ば、導波管の代わりに、同軸ケーブルやあるいはコルゲ
ート管等のフレキシブルな部材に置換えて、プラズマ発
生装置の構成を簡略化することも可能である。
【0013】マイクロ波導入手段としては、たとえば請
求項2に記載のように、管状または棒状の誘電体部材を
複数個並列に配列するとともに、それらの各々の端部を
真空容器の内部に挿入することによって構成することが
できる。この構成によれば、管状あるいは棒状の誘電体
部材を複数個並列に配置して真空容器内に挿入し、マイ
クロ波発生手段からのマイクロ波パワーを分散して真空
容器に導入することになるため、各々の誘電体部材にか
かる負荷が低減される。
求項2に記載のように、管状または棒状の誘電体部材を
複数個並列に配列するとともに、それらの各々の端部を
真空容器の内部に挿入することによって構成することが
できる。この構成によれば、管状あるいは棒状の誘電体
部材を複数個並列に配置して真空容器内に挿入し、マイ
クロ波発生手段からのマイクロ波パワーを分散して真空
容器に導入することになるため、各々の誘電体部材にか
かる負荷が低減される。
【0014】マイクロ波放射手段としては、たとえば請
求項3に記載のように、一端が前記マイクロ波伝達手段
に結合されるとともに、他端が前記誘電体部材の各々に
挿入された複数のアンテナが用いられる。このようなア
ンテナを用いてその端部が真空容器内に奥深く挿入する
ことにより、マイクロ波の放射位置を、所望のプラズマ
処理領域の近くに配することができ、そのプラズマ処理
領域でのプラズマ密度を高め易いという利点がある。マ
イクロ波放射手段として、アンテナの代わりに、請求項
4に記載のように複数のスリットを設ける場合には、こ
のような利点は有しないが、一つのスリットを有する従
来のプラズマ発生装置に比べて、プラズマ処理領域にお
けるプラズマ密度分布の均一性を向上させる点において
は、同様の利点を有している。
求項3に記載のように、一端が前記マイクロ波伝達手段
に結合されるとともに、他端が前記誘電体部材の各々に
挿入された複数のアンテナが用いられる。このようなア
ンテナを用いてその端部が真空容器内に奥深く挿入する
ことにより、マイクロ波の放射位置を、所望のプラズマ
処理領域の近くに配することができ、そのプラズマ処理
領域でのプラズマ密度を高め易いという利点がある。マ
イクロ波放射手段として、アンテナの代わりに、請求項
4に記載のように複数のスリットを設ける場合には、こ
のような利点は有しないが、一つのスリットを有する従
来のプラズマ発生装置に比べて、プラズマ処理領域にお
けるプラズマ密度分布の均一性を向上させる点において
は、同様の利点を有している。
【0015】上記構成のプラズマ発生装置の好ましい実
施例においては、請求項5に記載のように、マイクロ波
放射手段の真空容器内にマイクロ波を放射する部分を真
空容器内において移動させる駆動手段をさらに備える。
このような構成によれば、単一の部材で構成されたアン
テナなどのマイクロ波放射手段を用いて、所望のプラズ
マ処理領域に沿う方向に並ぶ複数の位置においてマイク
ロ波を放射させることができ、より簡単な構成のマイク
ロ波放射手段によって、プラズマ処理領域におけるプラ
ズマ密度分布の均一性の向上を図ることができる。
施例においては、請求項5に記載のように、マイクロ波
放射手段の真空容器内にマイクロ波を放射する部分を真
空容器内において移動させる駆動手段をさらに備える。
このような構成によれば、単一の部材で構成されたアン
テナなどのマイクロ波放射手段を用いて、所望のプラズ
マ処理領域に沿う方向に並ぶ複数の位置においてマイク
ロ波を放射させることができ、より簡単な構成のマイク
ロ波放射手段によって、プラズマ処理領域におけるプラ
ズマ密度分布の均一性の向上を図ることができる。
【0016】上記構成のプラズマ発生装置の他の好まし
い実施例においては、請求項6に記載のように、真空容
器の内部に磁界を発生させる磁界発生手段をさらに備え
る。この磁界発生手段により、真空容器内部の無い壁面
近傍壁でマルチカスプ磁界が発生し、磁気ミラー効果に
より、プラズマはサイクロトロン現象を起こす。そのた
め、プラズマは真空容器の内壁に衝突することなく存在
する。それにより、発生したプラズマは、その状態を維
持しやすくなる。そのため、所望のプラズマ処理領域に
おけるプラズマ処理の均一性がさらに向上し、プラズマ
処理の対象としての基板の大口径化への対応の可能性も
拡大する。
い実施例においては、請求項6に記載のように、真空容
器の内部に磁界を発生させる磁界発生手段をさらに備え
る。この磁界発生手段により、真空容器内部の無い壁面
近傍壁でマルチカスプ磁界が発生し、磁気ミラー効果に
より、プラズマはサイクロトロン現象を起こす。そのた
め、プラズマは真空容器の内壁に衝突することなく存在
する。それにより、発生したプラズマは、その状態を維
持しやすくなる。そのため、所望のプラズマ処理領域に
おけるプラズマ処理の均一性がさらに向上し、プラズマ
処理の対象としての基板の大口径化への対応の可能性も
拡大する。
【0017】マイクロ波導入手段を構成する誘電体材料
としては、典型的には石英がもちいられるが、その他の
誘電体材料を適用することも可能であり、たとえば請求
項7に記載のように、石英、パイレックスガラス、テフ
ロン等の高分子材料、および、セラミックスからなる群
より選ばれた1または2以上の材料からなる誘電体材料
を適用することができる。
としては、典型的には石英がもちいられるが、その他の
誘電体材料を適用することも可能であり、たとえば請求
項7に記載のように、石英、パイレックスガラス、テフ
ロン等の高分子材料、および、セラミックスからなる群
より選ばれた1または2以上の材料からなる誘電体材料
を適用することができる。
【0018】本発明のプラズマ発生装置においては、請
求項8に記載のように、マイクロ波伝達手段が、マイク
ロ波発生手段から発生したマイクロ波を分配してマイク
ロ波放射手段に給電するマイクロ波分配手段を有するこ
とにより、プラズマ処理領域上の並列な複数の位置への
マイクロ波の導入を実現することができる。
求項8に記載のように、マイクロ波伝達手段が、マイク
ロ波発生手段から発生したマイクロ波を分配してマイク
ロ波放射手段に給電するマイクロ波分配手段を有するこ
とにより、プラズマ処理領域上の並列な複数の位置への
マイクロ波の導入を実現することができる。
【0019】本発明のプラズマ発生装置の他の好ましい
実施例においては、請求項9に記載のように、マイクロ
波放射手段は、前記複数の位置のうち、マイクロ波を放
射する位置を順次選択的に切換える手段を含む。このよ
うな切換え手段を含むことにより、マイクロ波放射手段
がマイクロ波を放射する複数の位置に対して時間分割し
て順次マイクロ波を放射することを可能にする。このよ
うにマイクロ波を放射することにより、分割されたある
時間においては、1つの電源により発生する限られた電
力のマイクロ波を1つの位置に集中的に放射することに
なり、その結果、その位置に発生するプラズマ密度を高
くすることができる。この場合、分割された各時間ごと
にみれば、各位置において新たに発生するプラズマ密度
に差が生じるが、一旦発生したプラズマはマイクロ波の
放射が途切れた間においても直ぐには減衰することなく
ある程度の密度を維持するため、所望のプラズマ処理領
域において、高密度かつ均一性の高いプラズマを発生さ
せることができる。
実施例においては、請求項9に記載のように、マイクロ
波放射手段は、前記複数の位置のうち、マイクロ波を放
射する位置を順次選択的に切換える手段を含む。このよ
うな切換え手段を含むことにより、マイクロ波放射手段
がマイクロ波を放射する複数の位置に対して時間分割し
て順次マイクロ波を放射することを可能にする。このよ
うにマイクロ波を放射することにより、分割されたある
時間においては、1つの電源により発生する限られた電
力のマイクロ波を1つの位置に集中的に放射することに
なり、その結果、その位置に発生するプラズマ密度を高
くすることができる。この場合、分割された各時間ごと
にみれば、各位置において新たに発生するプラズマ密度
に差が生じるが、一旦発生したプラズマはマイクロ波の
放射が途切れた間においても直ぐには減衰することなく
ある程度の密度を維持するため、所望のプラズマ処理領
域において、高密度かつ均一性の高いプラズマを発生さ
せることができる。
【0020】このようにマイクロ波を放射する位置を順
次選択的に切換える手段としては、たとえば請求項10
に記載のように、マイクロ波伝達手段が、マイクロ波発
生手段から発生したマイクロ波を分配して複数の前記マ
イクロ波放射手段に給電するマイクロ波分配手段を有
し、該マイクロ波分配手段が、複数のマイクロ波放射手
段のうちのマイクロ波が給電されるマイクロ波放射手段
を切り換えるスイッチング手段を含む構成を適用するこ
とができる。また、マイクロ波を放射する位置を順次選
択的に切換える手段の他の例として、請求項11に記載
のように、マイクロ波放射手段が、前記マイクロ波導入
手段の一端近傍において開口する複数のスリットと、該
複数のスリットを選択的に遮蔽することにより、前記複
数のスリットのうちのマイクロ波を放射するスリットを
切換えるシャッターとを含む構成を適用することも可能
である。
次選択的に切換える手段としては、たとえば請求項10
に記載のように、マイクロ波伝達手段が、マイクロ波発
生手段から発生したマイクロ波を分配して複数の前記マ
イクロ波放射手段に給電するマイクロ波分配手段を有
し、該マイクロ波分配手段が、複数のマイクロ波放射手
段のうちのマイクロ波が給電されるマイクロ波放射手段
を切り換えるスイッチング手段を含む構成を適用するこ
とができる。また、マイクロ波を放射する位置を順次選
択的に切換える手段の他の例として、請求項11に記載
のように、マイクロ波放射手段が、前記マイクロ波導入
手段の一端近傍において開口する複数のスリットと、該
複数のスリットを選択的に遮蔽することにより、前記複
数のスリットのうちのマイクロ波を放射するスリットを
切換えるシャッターとを含む構成を適用することも可能
である。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を、
図面を参照しながら説明する。
図面を参照しながら説明する。
【0022】(実施の形態1)まず、この発明の実施の
形態1を、図1〜図3に基づいて説明する。このプラズ
マ発生装は、図1および図2に示すように、真空容器
1、マイクロ波発振器2、駆動電源3および導波管5を
備えている。さらに、真空容器1は、この真空容器1内
部に放電ガスを供給するためのガス供給口1aと、真空
容器1内を真空排気するためのガス排気口1bとを有し
ている。また、この真空容器1の内部下側には、処理す
るための基板7が載置されている。また、この真空容器
1内部上側には、4本のロッドアンテナ9a,9b,9
c,9dとそのロッドアンテナ9a,b,9c,9dの
各々の一端が挿入されている4本の誘電体管10a,1
0b,10c,10dとが設けられている。そして、こ
の誘電体管10a,10b,10c,10dは、導波管
5に接続されている。また、この導波管5は、マイクロ
波発振器2に接続されている。さらに、マイクロ波発振
器2は、駆動電源3に接続されている。
形態1を、図1〜図3に基づいて説明する。このプラズ
マ発生装は、図1および図2に示すように、真空容器
1、マイクロ波発振器2、駆動電源3および導波管5を
備えている。さらに、真空容器1は、この真空容器1内
部に放電ガスを供給するためのガス供給口1aと、真空
容器1内を真空排気するためのガス排気口1bとを有し
ている。また、この真空容器1の内部下側には、処理す
るための基板7が載置されている。また、この真空容器
1内部上側には、4本のロッドアンテナ9a,9b,9
c,9dとそのロッドアンテナ9a,b,9c,9dの
各々の一端が挿入されている4本の誘電体管10a,1
0b,10c,10dとが設けられている。そして、こ
の誘電体管10a,10b,10c,10dは、導波管
5に接続されている。また、この導波管5は、マイクロ
波発振器2に接続されている。さらに、マイクロ波発振
器2は、駆動電源3に接続されている。
【0023】また、永久磁石11が、真空容器1の周囲
に設置されている。永久磁石11は、マイクロ波の周波
数と電子のサイクロトロン周波数が一致する磁界領域
で、たとえば周波数2.45GHzのマイクロ波に対し
ては、磁界強度が約875Gになるところであるサイク
ロトロン共鳴領域12を発生させる。また、永久磁石1
1は、永久磁石の複数のN極とS極との間に発生する磁
界である、いわゆるマルチカスプ磁界13を発生させ
る。そして、磁界の分布は、永久磁石11の等磁界強度
線14のようになる。また、マイクロ波を真空容器1内
に導入する上記ロッドアンテナ9a,9b,9c,9d
および誘電体管10a,10b,10c,10dは、真
空容器1の内部に設置されており、図3に示すように、
このマイクロ波導入部での磁界強度は100G以内であ
る。また、上記構成において上記真空容器1内にプラズ
マ8が生成される。
に設置されている。永久磁石11は、マイクロ波の周波
数と電子のサイクロトロン周波数が一致する磁界領域
で、たとえば周波数2.45GHzのマイクロ波に対し
ては、磁界強度が約875Gになるところであるサイク
ロトロン共鳴領域12を発生させる。また、永久磁石1
1は、永久磁石の複数のN極とS極との間に発生する磁
界である、いわゆるマルチカスプ磁界13を発生させ
る。そして、磁界の分布は、永久磁石11の等磁界強度
線14のようになる。また、マイクロ波を真空容器1内
に導入する上記ロッドアンテナ9a,9b,9c,9d
および誘電体管10a,10b,10c,10dは、真
空容器1の内部に設置されており、図3に示すように、
このマイクロ波導入部での磁界強度は100G以内であ
る。また、上記構成において上記真空容器1内にプラズ
マ8が生成される。
【0024】図2に示すように、分岐部20a,分岐部
20b,分岐部20cを有するT分岐が導波管5に接続
されており、導波管5からロッドアンテナ9a,b,9
c,9dへのマイクロ波の分配は、まず、導波管5に接
続された分岐部20aにマイクロ波が導波される。次
に、マイクロ波は、分岐部20aから分岐部20bおよ
び分岐部20c側への2方向に分岐される。さらに、マ
イクロ波は、分岐部20aの分岐された側の両端から分
岐部20bおよび分岐部20cへと分岐される。その
後、マイクロ波は、分岐部20bおよび分岐部20cの
各々の両端に結合されたロッドアンテナ9a,9b,9
c,9dへと導波される。そして、マイクロ波は、ロッ
ドアンテナ9a,9b,9c,9dから真空容器1内へ
と放射される。そして、誘電体管10a,10b,10
c,10dは、石英からなっており、大気と真空雰囲気
とを隔てるとともに、マイクロ波を真空容器1内に導入
するためのマイクロ波が通過可能である。
20b,分岐部20cを有するT分岐が導波管5に接続
されており、導波管5からロッドアンテナ9a,b,9
c,9dへのマイクロ波の分配は、まず、導波管5に接
続された分岐部20aにマイクロ波が導波される。次
に、マイクロ波は、分岐部20aから分岐部20bおよ
び分岐部20c側への2方向に分岐される。さらに、マ
イクロ波は、分岐部20aの分岐された側の両端から分
岐部20bおよび分岐部20cへと分岐される。その
後、マイクロ波は、分岐部20bおよび分岐部20cの
各々の両端に結合されたロッドアンテナ9a,9b,9
c,9dへと導波される。そして、マイクロ波は、ロッ
ドアンテナ9a,9b,9c,9dから真空容器1内へ
と放射される。そして、誘電体管10a,10b,10
c,10dは、石英からなっており、大気と真空雰囲気
とを隔てるとともに、マイクロ波を真空容器1内に導入
するためのマイクロ波が通過可能である。
【0025】次に、上記のように構成される本実施の形
態におけるプラズマ発生装置の動作について説明する。
態におけるプラズマ発生装置の動作について説明する。
【0026】まず、従来構成と同様に排気口1bに接続
されているあらびきポンプおよびターボ分子ポンプ等の
高真空ポンプ(図示せず)で真空容器1内を高真空に排
気し、ガス供給口1aを通じてアルゴン、水素、酸素、
塩素、四弗化炭素、シラン等の放電ガスを供給する。そ
れにより、真空容器1内がこの放電ガスによって所定の
圧力に達する。その後、駆動電源3の駆動によりマイク
ロ波発振器2がマイクロ波を発振させる。このマイクロ
波は、導波管5に導波される。そして、マイクロ波は、
導波管5を経て、分岐部20aおよび分岐部20b、分
岐部20cにより、4方向に分配される。さらに、導波
管5を導波するマイクロ波は、分岐部20bおよび分岐
部20cにそれぞれ結合されたロッドアンテナ9a,9
b,9c,9dによってマイクロ波立体回路から放射さ
れる。その後、放射されたマイクロ波は、真空容器1内
に挿入された誘電体管10a,10b,10c,10d
を通過して真空容器1内に導入される。このとき、永久
磁石11が発生させた電子サイクロトロン共鳴領域12
の近傍で、マイクロ波の周波数と電子サイクロトロン周
波数とが一致し、マイクロ波の振動電界により共鳴的に
電子が加速される電子サイクロトロン共鳴現象が起こ
る。それにより、10-4Torr台の低ガス圧力下でも
容易に電子サイクロトロン共鳴放電が起こり、プラズマ
8が真空容器1内に発生する。
されているあらびきポンプおよびターボ分子ポンプ等の
高真空ポンプ(図示せず)で真空容器1内を高真空に排
気し、ガス供給口1aを通じてアルゴン、水素、酸素、
塩素、四弗化炭素、シラン等の放電ガスを供給する。そ
れにより、真空容器1内がこの放電ガスによって所定の
圧力に達する。その後、駆動電源3の駆動によりマイク
ロ波発振器2がマイクロ波を発振させる。このマイクロ
波は、導波管5に導波される。そして、マイクロ波は、
導波管5を経て、分岐部20aおよび分岐部20b、分
岐部20cにより、4方向に分配される。さらに、導波
管5を導波するマイクロ波は、分岐部20bおよび分岐
部20cにそれぞれ結合されたロッドアンテナ9a,9
b,9c,9dによってマイクロ波立体回路から放射さ
れる。その後、放射されたマイクロ波は、真空容器1内
に挿入された誘電体管10a,10b,10c,10d
を通過して真空容器1内に導入される。このとき、永久
磁石11が発生させた電子サイクロトロン共鳴領域12
の近傍で、マイクロ波の周波数と電子サイクロトロン周
波数とが一致し、マイクロ波の振動電界により共鳴的に
電子が加速される電子サイクロトロン共鳴現象が起こ
る。それにより、10-4Torr台の低ガス圧力下でも
容易に電子サイクロトロン共鳴放電が起こり、プラズマ
8が真空容器1内に発生する。
【0027】プラズマ8が発生した後は、導入するマイ
クロ波電力が小さく、プラズマ8中の電子密度が、マイ
クロ波をプラズマ8中に導入できるか否かの境界とな
る、いわゆるマイクロ波のカットオフ密度(周波数2.
45GHzのマイクロ波の場合には約7×1010c
m-3)よりも低い場合には、誘電体管10a,10b,
10c,10dを介して真空容器1内へ導入されたマイ
クロ波は、プラズマ8中を伝播し、電子サイクロトロン
共鳴領域12にまで到達することができる。そのため、
電子サイクロトロン共鳴によりエネルギーを得た共鳴電
子は、原子あるいは分子上の中性ガス粒子を励起、解
離、電離させ、プラズマ8の生成を維持する。
クロ波電力が小さく、プラズマ8中の電子密度が、マイ
クロ波をプラズマ8中に導入できるか否かの境界とな
る、いわゆるマイクロ波のカットオフ密度(周波数2.
45GHzのマイクロ波の場合には約7×1010c
m-3)よりも低い場合には、誘電体管10a,10b,
10c,10dを介して真空容器1内へ導入されたマイ
クロ波は、プラズマ8中を伝播し、電子サイクロトロン
共鳴領域12にまで到達することができる。そのため、
電子サイクロトロン共鳴によりエネルギーを得た共鳴電
子は、原子あるいは分子上の中性ガス粒子を励起、解
離、電離させ、プラズマ8の生成を維持する。
【0028】また、導入するマイクロ波電力が大きく、
プラズマ8中の電子密度がカットオフ密度よりも高い場
合には、誘電体管10a,10b,10c,10dを介
して真空容器1内へ導入されたマイクロ波は、プラズマ
8中を伝播することができず、上記誘電体管10a,1
0b,10c,10dとプラズマ8との境界に沿っての
み伝播する表面波として存在することができる。この励
起された表面波は、プラズマ8中の電子密度がカットオ
フ密度を超える高密度なプラズマの場合でも、反射され
ることなく上記境界に沿って伝播し、伝播中にプラズマ
8にそのエネルギーが吸収される。そのため、誘電体管
10a,10b,10c,10dの表面近傍のプラズマ
8中の電子は、この表面波の振動電界により加速を受
け、高エネルギー状態になって、原子あるいは分子上の
中性ガス粒子を励起、解離、電離させ、プラズマ8の生
成を維持する。
プラズマ8中の電子密度がカットオフ密度よりも高い場
合には、誘電体管10a,10b,10c,10dを介
して真空容器1内へ導入されたマイクロ波は、プラズマ
8中を伝播することができず、上記誘電体管10a,1
0b,10c,10dとプラズマ8との境界に沿っての
み伝播する表面波として存在することができる。この励
起された表面波は、プラズマ8中の電子密度がカットオ
フ密度を超える高密度なプラズマの場合でも、反射され
ることなく上記境界に沿って伝播し、伝播中にプラズマ
8にそのエネルギーが吸収される。そのため、誘電体管
10a,10b,10c,10dの表面近傍のプラズマ
8中の電子は、この表面波の振動電界により加速を受
け、高エネルギー状態になって、原子あるいは分子上の
中性ガス粒子を励起、解離、電離させ、プラズマ8の生
成を維持する。
【0029】また、真空容器1の周囲に取付けられた永
久磁石11は、図3に示すように、真空容器1の壁面近
傍にマルチカスプ磁界13を形成している。マルチカス
プ磁界13は、いわゆる磁気ミラー効果を起こし、プラ
ズマ8中の電子やイオン真空容器1内に閉じ込める作用
をする。特に、このマルチカスプ磁界13は、真空容器
1の中心部の低磁界領域で発生した電子やイオンには、
磁気ミラー比を大きくすることができ、磁気閉じ込め効
果が著しく強く作用する。よって、このマルチカスプ磁
界13の効果により、真空容器1の壁表面での再結合過
程によるプラズマ8の損失を抑えて、発生したプラズマ
8の維持を容易に行なうことができる。
久磁石11は、図3に示すように、真空容器1の壁面近
傍にマルチカスプ磁界13を形成している。マルチカス
プ磁界13は、いわゆる磁気ミラー効果を起こし、プラ
ズマ8中の電子やイオン真空容器1内に閉じ込める作用
をする。特に、このマルチカスプ磁界13は、真空容器
1の中心部の低磁界領域で発生した電子やイオンには、
磁気ミラー比を大きくすることができ、磁気閉じ込め効
果が著しく強く作用する。よって、このマルチカスプ磁
界13の効果により、真空容器1の壁表面での再結合過
程によるプラズマ8の損失を抑えて、発生したプラズマ
8の維持を容易に行なうことができる。
【0030】また、真空容器1内にマイクロ波を導入す
るためのロッドアンテナ9a,9b,9c,9dおよび
誘電体管10a,10b,10c,10dを低磁界領域
に設置しているため、上記誘電体管10a,10b,1
0c,10dとプラズマ8との境界に励起、伝播する表
面波の電力により発生した電子やイオンに対して、磁気
ミラー比を大きくすることができ、これら荷電粒子の磁
気閉じ込め効果が著しく強く作用する。
るためのロッドアンテナ9a,9b,9c,9dおよび
誘電体管10a,10b,10c,10dを低磁界領域
に設置しているため、上記誘電体管10a,10b,1
0c,10dとプラズマ8との境界に励起、伝播する表
面波の電力により発生した電子やイオンに対して、磁気
ミラー比を大きくすることができ、これら荷電粒子の磁
気閉じ込め効果が著しく強く作用する。
【0031】つまり、このような低磁界領域での表面波
励起によるプラズマ8の発生とマルチカスプ磁界13に
よるプラズマ閉じ込めとの組合せにより、10-4Tor
r台の低ガス圧力下でも、効率よくカットオフ密度を超
える高密度なプラズマ8の生成を行なうことができる。
また、本実施の形態では、図22に示すように、従来1
箇所から真空容器101内へマイクロ波電力を導入する
ために設けられていたロッドアンテナ109および誘電
体管110に対し、4箇所からロッドアンテナ9a,9
b,9c,9dおよび誘電体管10a,10b,10
c,10dを真空容器1内の低磁場領域に導入してい
る。そのため、マイクロ波は1箇所のときよりも全体に
分散された4箇所の誘電体管10a,10b,10c,
10dから真空容器1内に供給される。それにより、高
さ方向および直径方向にマイクロ波が分散され均一に供
給される。そのため、プラズマ8の直径方向の拡散によ
る再結合によるプラズマ密度の均一性は改善される。そ
の結果、本実施の形態では、上記真空容器1内に設けら
れた基板7に対しても、均一性のよい処理が可能とな
る。基板7の上に半導体装置が設けられて、たとえばプ
ラズマCVD法による膜形成処理を行なうと、均一なプ
ラズマ分布でその処理することが可能となる。それによ
り、歩留りの改善が期待できる。
励起によるプラズマ8の発生とマルチカスプ磁界13に
よるプラズマ閉じ込めとの組合せにより、10-4Tor
r台の低ガス圧力下でも、効率よくカットオフ密度を超
える高密度なプラズマ8の生成を行なうことができる。
また、本実施の形態では、図22に示すように、従来1
箇所から真空容器101内へマイクロ波電力を導入する
ために設けられていたロッドアンテナ109および誘電
体管110に対し、4箇所からロッドアンテナ9a,9
b,9c,9dおよび誘電体管10a,10b,10
c,10dを真空容器1内の低磁場領域に導入してい
る。そのため、マイクロ波は1箇所のときよりも全体に
分散された4箇所の誘電体管10a,10b,10c,
10dから真空容器1内に供給される。それにより、高
さ方向および直径方向にマイクロ波が分散され均一に供
給される。そのため、プラズマ8の直径方向の拡散によ
る再結合によるプラズマ密度の均一性は改善される。そ
の結果、本実施の形態では、上記真空容器1内に設けら
れた基板7に対しても、均一性のよい処理が可能とな
る。基板7の上に半導体装置が設けられて、たとえばプ
ラズマCVD法による膜形成処理を行なうと、均一なプ
ラズマ分布でその処理することが可能となる。それによ
り、歩留りの改善が期待できる。
【0032】なお、本実施の形態では、誘電体材料とし
て石英を用いたが、他にパイレックスガラス、テフロン
等の高分子材料、および、セラミックスからなる群より
選ばれた1または2以上の材料等に置き換えても均一な
プラズマの発生は可能である。
て石英を用いたが、他にパイレックスガラス、テフロン
等の高分子材料、および、セラミックスからなる群より
選ばれた1または2以上の材料等に置き換えても均一な
プラズマの発生は可能である。
【0033】また、本実施の形態では、ロッドアンテナ
9a,9b,9c,9dを用いてマイクロ波立体回路か
らのマイクロ波の放射を行なっているが、図4に示すよ
うなスパイラルアンテナ、図5に示すようなヘリカルア
ンテナ、図6に示すようなリジターノコイル、ループア
ンテナ(図示せず)等のマイクロ波を放射することがで
きるアンテナ構造ならば、同様にプラズマの均一性が改
善されるという効果が得られる。また、上記各アンテナ
構造を適宜に組合せても、同様にプラズマの均一性が改
善されるという効果が得られる。
9a,9b,9c,9dを用いてマイクロ波立体回路か
らのマイクロ波の放射を行なっているが、図4に示すよ
うなスパイラルアンテナ、図5に示すようなヘリカルア
ンテナ、図6に示すようなリジターノコイル、ループア
ンテナ(図示せず)等のマイクロ波を放射することがで
きるアンテナ構造ならば、同様にプラズマの均一性が改
善されるという効果が得られる。また、上記各アンテナ
構造を適宜に組合せても、同様にプラズマの均一性が改
善されるという効果が得られる。
【0034】また、本実施の形態では、マイクロ波を導
入するロッドアンテナ9a,9b,9c,9dおよび誘
電体管10a,10b,10c,10dの数を4箇所と
して例記しているが、必ずしも4箇所である必要はな
く、少なくとも1箇所より多く導入すれば、同様にプラ
ズマの均一性が改善されるという効果が得られる。
入するロッドアンテナ9a,9b,9c,9dおよび誘
電体管10a,10b,10c,10dの数を4箇所と
して例記しているが、必ずしも4箇所である必要はな
く、少なくとも1箇所より多く導入すれば、同様にプラ
ズマの均一性が改善されるという効果が得られる。
【0035】また、本実施の形態では、誘電体管を用い
たが、図7に示すように、誘電体にアンテナ9a,9
b,9c,9dを埋め込む誘電体棒10a,10b,1
0c,10dを使用してもよい。また、マイクロ波放射
手段としてアンテナ9a,9b,9c,9dを用いず、
図8および図9に示すように、スリットの下に誘電体管
または誘電体棒10a,10b,10c,10dを設け
導波管と接続しても、同様にプラズマ8の均一性が改善
されるという効果が得られる。
たが、図7に示すように、誘電体にアンテナ9a,9
b,9c,9dを埋め込む誘電体棒10a,10b,1
0c,10dを使用してもよい。また、マイクロ波放射
手段としてアンテナ9a,9b,9c,9dを用いず、
図8および図9に示すように、スリットの下に誘電体管
または誘電体棒10a,10b,10c,10dを設け
導波管と接続しても、同様にプラズマ8の均一性が改善
されるという効果が得られる。
【0036】また、本実施の形態では、マルチカスプ磁
界13として、永久磁石11を用いて、図3に示すよう
な、ラインカスプ磁界を発生させているが、リングカス
プ磁界や複合カスプ磁界等のように、真空容器1の壁面
近傍に強力な磁界領域を形成し、かつ、マイクロ波を導
入する真空容器1の中心部で低磁界領域を形成するよう
な磁界強度分布ならば同様の作用効果の実現が可能とな
る。
界13として、永久磁石11を用いて、図3に示すよう
な、ラインカスプ磁界を発生させているが、リングカス
プ磁界や複合カスプ磁界等のように、真空容器1の壁面
近傍に強力な磁界領域を形成し、かつ、マイクロ波を導
入する真空容器1の中心部で低磁界領域を形成するよう
な磁界強度分布ならば同様の作用効果の実現が可能とな
る。
【0037】また、本実施の形態では、マイクロ波発振
器2から電力を供給する手段として、導波管5および分
岐部20a,分岐部20b,分岐部20cを設けている
が、それに代えて同軸ケーブルあるいはコルゲート管を
用いても同様の作用効果の実現が可能となる。
器2から電力を供給する手段として、導波管5および分
岐部20a,分岐部20b,分岐部20cを設けている
が、それに代えて同軸ケーブルあるいはコルゲート管を
用いても同様の作用効果の実現が可能となる。
【0038】さらに、導波管と同軸ケーブルおよびコル
ゲート管を適宜組合せることによっても同様の作用効果
を得る構成を実現することが可能となる。
ゲート管を適宜組合せることによっても同様の作用効果
を得る構成を実現することが可能となる。
【0039】(実施の形態2)次に、この発明の実施の
形態2を、図10〜図13に基づいて説明する。
形態2を、図10〜図13に基づいて説明する。
【0040】このプラズマ発生装置は、図10に示すよ
うに、真空容器1、マイクロ波発振器2、駆動電源3お
よび導波管5を備えている。さらに真空容器1は、この
真空容器1内部に、放電ガスを供給するためのガス供給
口1aと放電ガスを排気するためのガス排気口1bとを
有している。また、この真空容器1の内部下側には、処
理するための基板7が載置されている。また、この真空
容器1内部上側には、1本のロッドアンテナ9とそのロ
ッドアンテナ9の一端が挿入されている誘電体管10と
を真空容器1内で回転可能とする駆動装置25が設けら
れている。そして、この誘電体管10の上端は導波管5
の一端側に接続され、導波管5の他端は、駆動電源3か
ら電力が供給されるマイクロ波発振器2に接続されてい
る。
うに、真空容器1、マイクロ波発振器2、駆動電源3お
よび導波管5を備えている。さらに真空容器1は、この
真空容器1内部に、放電ガスを供給するためのガス供給
口1aと放電ガスを排気するためのガス排気口1bとを
有している。また、この真空容器1の内部下側には、処
理するための基板7が載置されている。また、この真空
容器1内部上側には、1本のロッドアンテナ9とそのロ
ッドアンテナ9の一端が挿入されている誘電体管10と
を真空容器1内で回転可能とする駆動装置25が設けら
れている。そして、この誘電体管10の上端は導波管5
の一端側に接続され、導波管5の他端は、駆動電源3か
ら電力が供給されるマイクロ波発振器2に接続されてい
る。
【0041】真空容器1の周囲には永久磁石11が設置
されており、永久磁石11は、マイクロ波の周波数と電
子のサイクロトロン周波数が一致する磁界領域で、たと
えば周波数2.45GHzのマイクロ波に対しては、磁
界強度が約875Gになるところであるサイクロトロン
共鳴領域12を発生させる。また、永久磁石11は、マ
ルチカスプ磁界13を発生させる。そして、永久磁石1
1は、等磁界強度線14を発生させる。また、マイクロ
波を真空容器1内に導入する上記ロッドアンテナ9およ
び誘電体管10は、真空容器1の内部に設置されてお
り、図3に示すように、このマイクロ波導入部での磁界
強度は100G以内である。また、上記構成において上
記真空容器1内にプラズマ8が生成される。ロッドアン
テナ9は、マイクロ波立体回路からマイクロ波を放射さ
せる。誘電体管10は、石英からなっており、大気と真
空雰囲気とを隔てるとともに、真空容器1内に導入する
ためのマイクロ波が通過可能である。
されており、永久磁石11は、マイクロ波の周波数と電
子のサイクロトロン周波数が一致する磁界領域で、たと
えば周波数2.45GHzのマイクロ波に対しては、磁
界強度が約875Gになるところであるサイクロトロン
共鳴領域12を発生させる。また、永久磁石11は、マ
ルチカスプ磁界13を発生させる。そして、永久磁石1
1は、等磁界強度線14を発生させる。また、マイクロ
波を真空容器1内に導入する上記ロッドアンテナ9およ
び誘電体管10は、真空容器1の内部に設置されてお
り、図3に示すように、このマイクロ波導入部での磁界
強度は100G以内である。また、上記構成において上
記真空容器1内にプラズマ8が生成される。ロッドアン
テナ9は、マイクロ波立体回路からマイクロ波を放射さ
せる。誘電体管10は、石英からなっており、大気と真
空雰囲気とを隔てるとともに、真空容器1内に導入する
ためのマイクロ波が通過可能である。
【0042】また、本実施の形態におけるプラズマ発生
装置の動作は、マイクロ波がロッドアンテナ9および誘
電体管10に導波されるまでは、上記実施の形態1のプ
ラズマ発生装置とほぼ同様であるので省略する。さら
に、ロッドアンテナ9および誘電体管10にマイクロ波
が導波された後は、実施の形態1と同様に誘電体管10
から真空容器1内にマイクロ波が導入されるが、この
時、図10および図11に示すように、誘電体間10は
駆動装置25により真空容器1内を回転している。その
ため、マイクロ波の導入箇所が真空容器1内を回転する
こととなり、プラズマの発生箇所もそれに伴って回転す
ることとなる。それにより、従来のプラズマ発生装置
は、図22に示すような固定された1箇所から真空容器
101内へマイクロ波電力を導入するために設けられて
いたロッドアンテナ109および誘電体管110に対
し、本実施の形態では、回転可能な1本のロッドアンテ
ナ9および誘電体管10を真空容器1内の低磁場領域に
導入している。そのため、マイクロ波の発生個所が時経
列的に移動する。それにより、高さ方向に加えて直径方
向にもマイクロ波が時間分割制御されて均一に供給され
る。そのため、プラズマ8の直径方向の拡散時における
再結合によるプラズマ密度の均一性は改善される。その
結果、本実施の形態では、真空容器1内のプラズマ8の
均一性が改善されるため、上記真空容器1内に設けられ
た基板7に対しても、均一性のよい処理が可能となる。
基板7の上に半導体装置が設けられて、たとえばプラズ
マCVD法による膜形成処理を行なうと、均一なプラズ
マ分布で処理することが可能となる。それにより、歩留
りの改善が期待できる。
装置の動作は、マイクロ波がロッドアンテナ9および誘
電体管10に導波されるまでは、上記実施の形態1のプ
ラズマ発生装置とほぼ同様であるので省略する。さら
に、ロッドアンテナ9および誘電体管10にマイクロ波
が導波された後は、実施の形態1と同様に誘電体管10
から真空容器1内にマイクロ波が導入されるが、この
時、図10および図11に示すように、誘電体間10は
駆動装置25により真空容器1内を回転している。その
ため、マイクロ波の導入箇所が真空容器1内を回転する
こととなり、プラズマの発生箇所もそれに伴って回転す
ることとなる。それにより、従来のプラズマ発生装置
は、図22に示すような固定された1箇所から真空容器
101内へマイクロ波電力を導入するために設けられて
いたロッドアンテナ109および誘電体管110に対
し、本実施の形態では、回転可能な1本のロッドアンテ
ナ9および誘電体管10を真空容器1内の低磁場領域に
導入している。そのため、マイクロ波の発生個所が時経
列的に移動する。それにより、高さ方向に加えて直径方
向にもマイクロ波が時間分割制御されて均一に供給され
る。そのため、プラズマ8の直径方向の拡散時における
再結合によるプラズマ密度の均一性は改善される。その
結果、本実施の形態では、真空容器1内のプラズマ8の
均一性が改善されるため、上記真空容器1内に設けられ
た基板7に対しても、均一性のよい処理が可能となる。
基板7の上に半導体装置が設けられて、たとえばプラズ
マCVD法による膜形成処理を行なうと、均一なプラズ
マ分布で処理することが可能となる。それにより、歩留
りの改善が期待できる。
【0043】(実施の形態3)以下、本発明の実施の形
態3を図12〜図20に基づいて説明する。
態3を図12〜図20に基づいて説明する。
【0044】本実施の形態におけるプラズマ発生装置の
マイクロ波給電の制御装置は、図12に示すように、分
岐器30を有しており、この分岐器30は導波管5に接
続され、かつ、マイクロ波電力を分配する手段を有す
る。分岐器30は、導波管5e,5fに接続され、ロッ
ドアンテナ9e,9fへマイクロ波電力を供給する。ロ
ッドアンテナ9e,9fは、上記導波管5e,5fに接
続され、マイクロ波立体回路からマイクロ波電力を放射
する。ロッドアンテナ9e,9fから放射されたマイク
ロ波電力は、誘電体管10e,10fを透過する。この
誘電体管10e,10fは、石英からなり、大気と真空
雰囲気を隔てるとともに、マイクロ波を真空容器1内に
導入するためのマイクロ波が通過可能である。
マイクロ波給電の制御装置は、図12に示すように、分
岐器30を有しており、この分岐器30は導波管5に接
続され、かつ、マイクロ波電力を分配する手段を有す
る。分岐器30は、導波管5e,5fに接続され、ロッ
ドアンテナ9e,9fへマイクロ波電力を供給する。ロ
ッドアンテナ9e,9fは、上記導波管5e,5fに接
続され、マイクロ波立体回路からマイクロ波電力を放射
する。ロッドアンテナ9e,9fから放射されたマイク
ロ波電力は、誘電体管10e,10fを透過する。この
誘電体管10e,10fは、石英からなり、大気と真空
雰囲気を隔てるとともに、マイクロ波を真空容器1内に
導入するためのマイクロ波が通過可能である。
【0045】図13および図14は、本実施の形態のマ
イクロ波給電方法に示されている分岐器30を模式的に
示している。分岐器30の内部には、切換スイッチ35
および切換スイッチ36が設けられており、この切換ス
イッチ35および切換スイッチ36はマイクロ波の給電
をON/OFFするための切換手段である。また、分配
器30に接続して制御コントローラ31が設けられてお
り、図15に示すようなスイッチング動作の波形で、分
配器30内に設けられた切換スイッチ35および切換ス
イッチ36のON/OFFを制御する。図16および図
17は、図13および図14における分岐器30の動作
と発生するプラズマの関係を示している。
イクロ波給電方法に示されている分岐器30を模式的に
示している。分岐器30の内部には、切換スイッチ35
および切換スイッチ36が設けられており、この切換ス
イッチ35および切換スイッチ36はマイクロ波の給電
をON/OFFするための切換手段である。また、分配
器30に接続して制御コントローラ31が設けられてお
り、図15に示すようなスイッチング動作の波形で、分
配器30内に設けられた切換スイッチ35および切換ス
イッチ36のON/OFFを制御する。図16および図
17は、図13および図14における分岐器30の動作
と発生するプラズマの関係を示している。
【0046】次に、上記のように構成される本実施の形
態におけるプラズマ発生装置の動作について説明する。
プラズマを発生および維持する方法については、上記実
施の形態1と同様なので説明を省略し、ここでは、真空
容器1へのマイクロ波給電方法について説明する。
態におけるプラズマ発生装置の動作について説明する。
プラズマを発生および維持する方法については、上記実
施の形態1と同様なので説明を省略し、ここでは、真空
容器1へのマイクロ波給電方法について説明する。
【0047】マイクロ波発振器2から導波管5を介して
マイクロ波電力は、分岐器30に入力する。分岐器30
に入力されたマイクロ波電力は、分岐器30内の切換ス
イッチ35および切換スイッチ36を、制御コントロー
ラ31によりONすることにより、マイクロ波電力を2
系統に分配する。2系統に分配されたマイクロ波電力は
分岐器30に接続された各々の導波管5e,5fを介し
て、導波管5e,5fに接続されたロッドアンテナ9
e,9fを介して真空容器1内に導入され、図18に示
したようなプラズマを発生させる。
マイクロ波電力は、分岐器30に入力する。分岐器30
に入力されたマイクロ波電力は、分岐器30内の切換ス
イッチ35および切換スイッチ36を、制御コントロー
ラ31によりONすることにより、マイクロ波電力を2
系統に分配する。2系統に分配されたマイクロ波電力は
分岐器30に接続された各々の導波管5e,5fを介し
て、導波管5e,5fに接続されたロッドアンテナ9
e,9fを介して真空容器1内に導入され、図18に示
したようなプラズマを発生させる。
【0048】本実施の形態では、分岐器30を2系統に
分配した図を示しているが、3系統や4系統の任意の数
の分配器を用いれば、分配する系統数を適宜変更するこ
とが可能である。
分配した図を示しているが、3系統や4系統の任意の数
の分配器を用いれば、分配する系統数を適宜変更するこ
とが可能である。
【0049】また、本実施の形態では、マイクロ波発振
器2から電力を供給する手段として、導波管5,5e,
5fを用いているが、同軸ケーブルあるいはコルゲート
管を用いてもマイクロ波を分配することができる。さら
に、導波管5と同軸ケーブルおよびコルゲート管を適宜
組合せてもマイクロ波を分配することができる。
器2から電力を供給する手段として、導波管5,5e,
5fを用いているが、同軸ケーブルあるいはコルゲート
管を用いてもマイクロ波を分配することができる。さら
に、導波管5と同軸ケーブルおよびコルゲート管を適宜
組合せてもマイクロ波を分配することができる。
【0050】また、本実施の形態では、分岐器30から
導波管5e,5fへのマイクロ波電力を同時に分配して
供給しているが、図15に示しているようなスイッチン
グ動作の波形で、図16〜図18に示しているように、
制御コントローラ31により分岐器30内の切換スイッ
チ35および切換スイッチ36を適宜制御することによ
り、マイクロ波電力の発振箇所を適宜切換えることがで
きる。さらに図13および図14に示すように、切換ス
イッチ35および切換スイッチ36を交互に切換えるこ
とにより、図16および図17に示すように、真空容器
1内に発生するプラズマ8はロッドアンテナ9e,9f
の周辺に交互に発生する。そのため、瞬時においては均
一ではないが、一定の単位時間内においては、均一なプ
ラズマ8が形成される。また、2本のロッドアンテナ9
e,9fを同時に放電させたときよりも1本当たりの電
力を大きくできる。その結果、電源の電力が同じならば
各アンテナを時間分割して相互に放電させた方が、1の
誘電体管当たりのマイクロ波の導入エネルギーを大きく
することができる。それにより、2本同時に弱いエネル
ギーのマイクロ波を導入させたときよりも、時間分割し
て相互に強いマイクロ波のエネルギーを1個所で発生さ
せた方が高密度なプラズマを発生させることができる。
導波管5e,5fへのマイクロ波電力を同時に分配して
供給しているが、図15に示しているようなスイッチン
グ動作の波形で、図16〜図18に示しているように、
制御コントローラ31により分岐器30内の切換スイッ
チ35および切換スイッチ36を適宜制御することによ
り、マイクロ波電力の発振箇所を適宜切換えることがで
きる。さらに図13および図14に示すように、切換ス
イッチ35および切換スイッチ36を交互に切換えるこ
とにより、図16および図17に示すように、真空容器
1内に発生するプラズマ8はロッドアンテナ9e,9f
の周辺に交互に発生する。そのため、瞬時においては均
一ではないが、一定の単位時間内においては、均一なプ
ラズマ8が形成される。また、2本のロッドアンテナ9
e,9fを同時に放電させたときよりも1本当たりの電
力を大きくできる。その結果、電源の電力が同じならば
各アンテナを時間分割して相互に放電させた方が、1の
誘電体管当たりのマイクロ波の導入エネルギーを大きく
することができる。それにより、2本同時に弱いエネル
ギーのマイクロ波を導入させたときよりも、時間分割し
て相互に強いマイクロ波のエネルギーを1個所で発生さ
せた方が高密度なプラズマを発生させることができる。
【0051】また、本実施の形態では、分岐器30の内
部に切換スイッチ35および切換スイッチ36としてリ
レータイプの有接点方式を示したが、スタブタイプ等の
無接点方式を用いても、時間分割して高密度なプラズマ
を発生させることができる。また、本実施の形態では、
1つのマイクロ波発振器2を分岐器30を用いて分配し
て供給したが、真空容器に接続されている複数の導波管
の各々に対し、マイクロ波発振器と導波管と接続しても
よい。
部に切換スイッチ35および切換スイッチ36としてリ
レータイプの有接点方式を示したが、スタブタイプ等の
無接点方式を用いても、時間分割して高密度なプラズマ
を発生させることができる。また、本実施の形態では、
1つのマイクロ波発振器2を分岐器30を用いて分配し
て供給したが、真空容器に接続されている複数の導波管
の各々に対し、マイクロ波発振器と導波管と接続しても
よい。
【0052】なお、本実施の形態では、T分岐とアンテ
ナとを用いてマイクロ波を分配したが、複数のスリット
とそれに対応する誘電体部材を固定し、時間分割して、
シャッターによりスリットを順次開口させるように制御
して、マイクロ波を分配することによっても、高密度な
プラズマを発生させることができる。このような変形例
として、たとえば、図19および図20に示すように、
各々の誘電体管10a,10b,10c,10dの上部
にスリット6a,6b,6c,6dを設け、真空容器1
の上面においてスリット6a,6b,6c,6dのうち
の一つのみを開口させて他を遮蔽するシャッタ26を配
し、このシャッタ26を図20に示す矢印A方向に回転
させて、スリット6a,6b,6c,6dを順次開口さ
せるような構造を用いることができる。
ナとを用いてマイクロ波を分配したが、複数のスリット
とそれに対応する誘電体部材を固定し、時間分割して、
シャッターによりスリットを順次開口させるように制御
して、マイクロ波を分配することによっても、高密度な
プラズマを発生させることができる。このような変形例
として、たとえば、図19および図20に示すように、
各々の誘電体管10a,10b,10c,10dの上部
にスリット6a,6b,6c,6dを設け、真空容器1
の上面においてスリット6a,6b,6c,6dのうち
の一つのみを開口させて他を遮蔽するシャッタ26を配
し、このシャッタ26を図20に示す矢印A方向に回転
させて、スリット6a,6b,6c,6dを順次開口さ
せるような構造を用いることができる。
【0053】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項1
に記載のプラズマ発生装置によれば、プラズマ処理領域
上の複数の位置に対してマイクロ波が導入され、それら
の複数の位置においてプラズマを発生させるため、上記
従来の技術の場合のように1か所のみに対してマイクロ
波を放射させることに比べて、プラズマ処理領域に沿う
方向により均一な密度分布を有するプラズマを発生させ
ることができる。その結果、プラズマ処理領域内でのプ
ラズマ処理の均一性が向上し、プラズマ処理の対象とし
ての基板の大口径化に対応できるプラスマ発生装置を提
供することができる。
に記載のプラズマ発生装置によれば、プラズマ処理領域
上の複数の位置に対してマイクロ波が導入され、それら
の複数の位置においてプラズマを発生させるため、上記
従来の技術の場合のように1か所のみに対してマイクロ
波を放射させることに比べて、プラズマ処理領域に沿う
方向により均一な密度分布を有するプラズマを発生させ
ることができる。その結果、プラズマ処理領域内でのプ
ラズマ処理の均一性が向上し、プラズマ処理の対象とし
ての基板の大口径化に対応できるプラスマ発生装置を提
供することができる。
【0054】請求項2に記載の発明によれば、マイクロ
波導入手段として、たとえば管状または棒状の誘電体部
材を複数個並列に配列するとともに、それらの各々の端
部を真空容器の内部に挿入することによって構成するこ
とにより、管状あるいは棒状の誘電体部材を複数個並列
に配置して真空容器内に挿入し、マイクロ波発生手段か
らのマイクロ波パワーを分散して真空容器に導入するこ
とになるため、各々の誘電体部材にかかる負荷が低減さ
れる。
波導入手段として、たとえば管状または棒状の誘電体部
材を複数個並列に配列するとともに、それらの各々の端
部を真空容器の内部に挿入することによって構成するこ
とにより、管状あるいは棒状の誘電体部材を複数個並列
に配置して真空容器内に挿入し、マイクロ波発生手段か
らのマイクロ波パワーを分散して真空容器に導入するこ
とになるため、各々の誘電体部材にかかる負荷が低減さ
れる。
【0055】請求項3に記載の発明のようなアンテナを
用いてその端部が真空容器内に奥深く挿入することによ
り、マイクロ波の放射位置を、所望のプラズマ処理領域
の近くに配することができ、そのプラズマ処理領域での
プラズマ密度を高め易いという利点がある。マイクロ波
放射手段として、アンテナの代わりに、請求項4に記載
のように複数のスリットを設ける場合にも、一つのスリ
ットを有する従来のプラズマ発生装置に比べて、プラズ
マ処理領域におけるプラズマ密度分布の均一性を向上さ
せる点において同様の利点を有している。
用いてその端部が真空容器内に奥深く挿入することによ
り、マイクロ波の放射位置を、所望のプラズマ処理領域
の近くに配することができ、そのプラズマ処理領域での
プラズマ密度を高め易いという利点がある。マイクロ波
放射手段として、アンテナの代わりに、請求項4に記載
のように複数のスリットを設ける場合にも、一つのスリ
ットを有する従来のプラズマ発生装置に比べて、プラズ
マ処理領域におけるプラズマ密度分布の均一性を向上さ
せる点において同様の利点を有している。
【0056】請求項5に記載の発明のように、マイクロ
波放射手段の真空容器内にマイクロ波を放射する部分を
真空容器内において移動させる駆動手段をさらに備える
ことにより、単一の部材で構成されたアンテナなどのマ
イクロ波放射手段を用いて、所望のプラズマ処理領域に
沿う方向に並ぶ複数の位置においてマイクロ波を放射さ
せることができ、より簡単な構成のマイクロ波放射手段
によって、プラズマ処理領域におけるプラズマ密度分布
の均一性の向上を図ることができる。
波放射手段の真空容器内にマイクロ波を放射する部分を
真空容器内において移動させる駆動手段をさらに備える
ことにより、単一の部材で構成されたアンテナなどのマ
イクロ波放射手段を用いて、所望のプラズマ処理領域に
沿う方向に並ぶ複数の位置においてマイクロ波を放射さ
せることができ、より簡単な構成のマイクロ波放射手段
によって、プラズマ処理領域におけるプラズマ密度分布
の均一性の向上を図ることができる。
【0057】請求項6に記載の発明のように、真空容器
の内部に磁界を発生させる磁界発生手段をさらに備える
ことにより、真空容器内部の無い壁面近傍壁でマルチカ
スプ磁界が発生し、磁気ミラー効果により、プラズマは
サイクロトロン現象を起こす。そのため、プラズマは真
空容器の内壁に衝突することなく存在する。それによ
り、発生したプラズマは、その状態を維持しやすくな
る。そのため、所望のプラズマ処理領域におけるプラズ
マ処理の均一性がさらに向上し、プラズマ処理の対象と
しての基板の大口径化への対応の可能性も拡大する。誘
電体部材として、請求項7に記載の種々の誘電体材料を
用いることができ、これらの材料のいずれを適用するこ
とによっても、上述の各作用効果を良好に実現すること
ができる。
の内部に磁界を発生させる磁界発生手段をさらに備える
ことにより、真空容器内部の無い壁面近傍壁でマルチカ
スプ磁界が発生し、磁気ミラー効果により、プラズマは
サイクロトロン現象を起こす。そのため、プラズマは真
空容器の内壁に衝突することなく存在する。それによ
り、発生したプラズマは、その状態を維持しやすくな
る。そのため、所望のプラズマ処理領域におけるプラズ
マ処理の均一性がさらに向上し、プラズマ処理の対象と
しての基板の大口径化への対応の可能性も拡大する。誘
電体部材として、請求項7に記載の種々の誘電体材料を
用いることができ、これらの材料のいずれを適用するこ
とによっても、上述の各作用効果を良好に実現すること
ができる。
【0058】本発明のプラズマ発生装置においては、た
とえば請求項8に記載のように、マイクロ波伝達手段
が、マイクロ波発生手段から発生したマイクロ波を分配
して複数のマイクロ波放射手段に給電するマイクロ波分
配手段を有することにより、複数の位置へのマイクロ波
の放射を実現することができる。
とえば請求項8に記載のように、マイクロ波伝達手段
が、マイクロ波発生手段から発生したマイクロ波を分配
して複数のマイクロ波放射手段に給電するマイクロ波分
配手段を有することにより、複数の位置へのマイクロ波
の放射を実現することができる。
【0059】本発明のプラズマ発生装置の他の好ましい
実施例においては、請求項9に記載のような切換え手段
を含むことにより、マイクロ波放射手段がマイクロ波を
放射する複数の位置に対して時間分割して順次マイクロ
波を放射することを可能にする。このようにマイクロ波
を放射することにより、分割されたある時間において
は、1つの電源により発生する限られた電力のマイクロ
波を1つの位置に集中的に放射することになり、その結
果、その位置に発生するプラズマ密度を高くすることが
できる。この場合、分割された各時間ごとにみれば、各
位置において新たに発生するプラズマ密度に差が生じる
が、一旦発生したプラズマはマイクロ波の放射が途切れ
た間においても直ぐには減衰することなくある程度の密
度を維持するため、所望のプラズマ処理領域において、
高密度かつ均一性の高いプラズマを発生させることがで
きる。
実施例においては、請求項9に記載のような切換え手段
を含むことにより、マイクロ波放射手段がマイクロ波を
放射する複数の位置に対して時間分割して順次マイクロ
波を放射することを可能にする。このようにマイクロ波
を放射することにより、分割されたある時間において
は、1つの電源により発生する限られた電力のマイクロ
波を1つの位置に集中的に放射することになり、その結
果、その位置に発生するプラズマ密度を高くすることが
できる。この場合、分割された各時間ごとにみれば、各
位置において新たに発生するプラズマ密度に差が生じる
が、一旦発生したプラズマはマイクロ波の放射が途切れ
た間においても直ぐには減衰することなくある程度の密
度を維持するため、所望のプラズマ処理領域において、
高密度かつ均一性の高いプラズマを発生させることがで
きる。
【0060】このようにマイクロ波を放射する位置を順
次選択的に切換える手段としては、たとえば請求項10
に記載のように、マイクロ波伝達手段が、マイクロ波発
生手段から発生したマイクロ波を分配して複数の前記マ
イクロ波放射手段に給電するマイクロ波分配手段を有
し、該マイクロ波分配手段が、複数のマイクロ波放射手
段のうちのマイクロ波が給電されるマイクロ波放射手段
を切り換えるスイッチング手段を含む構成を適用するこ
とができる。また、マイクロ波を放射する位置を順次選
択的に切換える手段の他の例として、請求項11に記載
のように、マイクロ波放射手段が、前記マイクロ波導入
手段の一端近傍において開口する複数のスリットと、該
複数のスリットを選択的に遮蔽することにより、前記複
数のスリットのうちのマイクロ波を放射するスリットを
切換えるシャッターとを含む構成を適用することも可能
である。
次選択的に切換える手段としては、たとえば請求項10
に記載のように、マイクロ波伝達手段が、マイクロ波発
生手段から発生したマイクロ波を分配して複数の前記マ
イクロ波放射手段に給電するマイクロ波分配手段を有
し、該マイクロ波分配手段が、複数のマイクロ波放射手
段のうちのマイクロ波が給電されるマイクロ波放射手段
を切り換えるスイッチング手段を含む構成を適用するこ
とができる。また、マイクロ波を放射する位置を順次選
択的に切換える手段の他の例として、請求項11に記載
のように、マイクロ波放射手段が、前記マイクロ波導入
手段の一端近傍において開口する複数のスリットと、該
複数のスリットを選択的に遮蔽することにより、前記複
数のスリットのうちのマイクロ波を放射するスリットを
切換えるシャッターとを含む構成を適用することも可能
である。
【図1】 本発明の実施の形態1におけるプラズマ発生
装置の概略構成を示す図である。
装置の概略構成を示す図である。
【図2】 図1に示したプラズマ発生装置の真空容器近
傍の平面図である。
傍の平面図である。
【図3】 本発明の実施の形態1における永久磁石の配
置および発生する磁界強度分布を示す図である。
置および発生する磁界強度分布を示す図である。
【図4】 本発明の実施の形態1におけるプラズマ発生
装置のアンテナの位置変形例を示す図である。
装置のアンテナの位置変形例を示す図である。
【図5】 本発明の実施の形態1におけるプラズマ発生
装置のアンテナの他の変形例を示す図である。
装置のアンテナの他の変形例を示す図である。
【図6】 本発明の実施の形態1におけるプラズマ発生
装置のアンテナのさらに他の変形例を示す図である。
装置のアンテナのさらに他の変形例を示す図である。
【図7】 本発明の実施の形態1におけるプラズマ発生
装置の一変形例の概略構成を示す図である。
装置の一変形例の概略構成を示す図である。
【図8】 本発明の実施の形態1におけるプラズマ発生
装置の他の変形例の概略構成を示す図である。
装置の他の変形例の概略構成を示す図である。
【図9】 本発明の実施の形態1におけるプラズマ発生
装置のさらに他の変形例の概略構成を示す図である。
装置のさらに他の変形例の概略構成を示す図である。
【図10】 本発明の実施の形態2におけるプラズマ発
生装置の概略構成を示す図である。
生装置の概略構成を示す図である。
【図11】 図10に示したプラズマ発生装置の、真空
容器近傍の平面図である。
容器近傍の平面図である。
【図12】 本発明の実施の形態3におけるプラズマ発
生装置の全体の概略構成を示す平面図である。
生装置の全体の概略構成を示す平面図である。
【図13】 本発明の実施の形態3における分配器30
の、切換スイッチ35がON、切換スイッチ36がOF
Fの状態を示す模式図である。
の、切換スイッチ35がON、切換スイッチ36がOF
Fの状態を示す模式図である。
【図14】 本発明の実施の形態3における分配器30
の、切換スイッチ35がOFF、切換スイッチ36がO
Nの状態を示す模式図である。
の、切換スイッチ35がOFF、切換スイッチ36がO
Nの状態を示す模式図である。
【図15】 本発明の実施の形態3における分配器30
の、切換スイッチ35,36を制御するためのパルスを
示す図である。
の、切換スイッチ35,36を制御するためのパルスを
示す図である。
【図16】 本発明の実施の形態3における分配器30
の切換スイッチ35がON、切換スイッチ36がOFF
の状態での、プラズマの発生状態を示す図である。
の切換スイッチ35がON、切換スイッチ36がOFF
の状態での、プラズマの発生状態を示す図である。
【図17】 本発明の実施の形態3における分配器30
の切換スイッチ35がON、切換スイッチ36がOFF
の状態での、プラズマの発生状態を示す図である。
の切換スイッチ35がON、切換スイッチ36がOFF
の状態での、プラズマの発生状態を示す図である。
【図18】 本発明の実施の形態3における分配器の切
換スイッチ35,36がともにONの状態でのプラズマ
の発生状態を示す図である。
換スイッチ35,36がともにONの状態でのプラズマ
の発生状態を示す図である。
【図19】 本発明の実施の形態3におけるプラズマ発
生装置の一変形例の概略構成を示す図である。
生装置の一変形例の概略構成を示す図である。
【図20】 図10に示したプラズマ発生装置の、真空
容器近傍の平面図である。
容器近傍の平面図である。
【図21】 従来のプラズマ発生装置の概略構成を示す
図である。
図である。
【図22】 特願平9−262047号において本発明
者らが提案したプラズマ発生装置の概略構成を示す図で
ある。
者らが提案したプラズマ発生装置の概略構成を示す図で
ある。
【図23】 図21に示したプラズマ発生装置の真空容
器の、真空容器近傍の平面図である。
器の、真空容器近傍の平面図である。
【図24】 図21に示したプラズマ発生装置における
永久磁石の配置および発生する磁界強度分布を示す図で
ある。
永久磁石の配置および発生する磁界強度分布を示す図で
ある。
1 真空容器、1a ガス供給口、1b ガス排気口、
2 マイクロ波発振器、3 駆動電源、5,5a,5
b,5c,5d,5e,5f 導波管、7 基板、8
プラズマ、9,9a,9b,9c,9d,9e,9f
ロッドアンテナ、10a,10b,10c,10d,1
0e,10,10f 誘電体管、11 永久磁石、12
電子サイクロトロン共鳴領域、13 マルチカスプ磁
界、14等磁界強度線、20a,20b,20c T分
岐、25 駆動装置。
2 マイクロ波発振器、3 駆動電源、5,5a,5
b,5c,5d,5e,5f 導波管、7 基板、8
プラズマ、9,9a,9b,9c,9d,9e,9f
ロッドアンテナ、10a,10b,10c,10d,1
0e,10,10f 誘電体管、11 永久磁石、12
電子サイクロトロン共鳴領域、13 マルチカスプ磁
界、14等磁界強度線、20a,20b,20c T分
岐、25 駆動装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // H01L 21/31 H01L 21/302 B (72)発明者 米村 俊雄 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 津田 睦 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 斧 高一 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 奥 康二 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 中隈 信治 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 三 菱電機エンジニアリング株式会社内
Claims (11)
- 【請求項1】 マイクロ波を発生させるマイクロ波発生
手段と、 前記マイクロ波発生手段で発生したマイクロ波を導波す
るマイクロ波伝達手段と、 前記マイクロ波伝達手段に接続され、放電ガスを供給す
る手段および真空排気手段を有する真空容器と、 前記マイクロ波伝達手段によって導波されたマイクロ波
を前記真空容器内に放射するマイクロ波放射手段と、 前記マイクロ波放射手段で放射されたマイクロ波を前記
真空容器の内部に導入させるマイクロ波導入手段とを備
え、 前記真空容器内のプラズマ処理領域を含む所定の領域に
プラズマを発生させる装置であって、 前記マイクロ波放射手段は、前記真空容器の複数の位置
に対してマイクロ波を放射する手段を含み、前記マイク
ロ波導入手段は、前記マイクロ波放射手段から放射され
たマイクロ波を、前記真空容器内の前記プラズマ処理領
域上の並列な複数の位置に導入する手段を含む、プラズ
マ発生装置。 - 【請求項2】 前記マイクロ波導入手段は、複数個並列
に配列されて前記真空容器の内部に挿入された、管状ま
たは棒状の誘電体部材を含む、請求項1記載のプラズマ
発生装置。 - 【請求項3】 前記マイクロ波放射手段は、一端が前記
マイクロ波伝達手段に結合されるとともに、他端が前記
誘電体部材の各々に挿入された複数のアンテナを有す
る、請求項2記載のプラズマ発生装置。 - 【請求項4】 前記マイクロ波放射手段が、前記誘電体
部材の前記一端近傍において開口するスリットを含む、
請求項2記載のプラズマ発生装置。 - 【請求項5】 前記マイクロ波放射手段の前記真空容器
内にマイクロ波を放射する部分および前記マイクロ波導
入手段を、前記真空容器内において移動させる駆動手段
をさらに備えた、請求項1〜4のいずれか1項に記載の
プラズマ発生装置。 - 【請求項6】 前記真空容器の内部に磁界を発生させる
磁界発生手段をさらに備える、請求項1〜5のいずれか
1項に記載のプラズマ発生装置。 - 【請求項7】 前記誘電体材料は、石英、パイレックス
ガラス、テフロン等の高分子材料、および、セラミック
スからなる群より選ばれた1または2以上の材料からな
る、請求項1〜6のいずれか1項に記載のプラズマ発生
装置。 - 【請求項8】 前記マイクロ波伝達手段は、前記マイク
ロ波発生手段から発生したマイクロ波を分配して前記マ
イクロ波放射手段に給電するマイクロ波分配手段を有す
る、請求項1〜7のいずれか1項に記載のプラズマ発生
装置。 - 【請求項9】 前記マイクロ波放射手段は、前記複数の
位置のうち、マイクロ波を放射する位置を順次選択的に
切換える手段を含む、請求項1記載のプラズマ発生装
置。 - 【請求項10】 前記マイクロ波伝達手段は、前記マイ
クロ波発生手段から発生したマイクロ波を分配して複数
の前記マイクロ波放射手段に給電するマイクロ波分配手
段を有し、該マイクロ波分配手段が、前記複数のマイク
ロ波放射手段のうちのマイクロ波が給電されるマイクロ
波放射手段を切り換えるスイッチング手段を含む、請求
項9記載のプラズマ発生装置。 - 【請求項11】 前記マイクロ波放射手段は、前記マイ
クロ波導入手段の一端近傍において開口する複数のスリ
ットと、該複数のスリットを選択的に遮蔽することによ
り、前記複数のスリットのうちのマイクロ波を放射する
スリットを切換えるシャッターとを含む、請求項9記載
のプラズマ発生装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP10017226A JPH11214196A (ja) | 1998-01-29 | 1998-01-29 | プラズマ発生装置 |
| US09/122,061 US6109208A (en) | 1998-01-29 | 1998-07-27 | Plasma generating apparatus with multiple microwave introducing means |
| TW087113776A TW425629B (en) | 1998-01-29 | 1998-08-21 | Plasma generator |
| DE19839612A DE19839612C2 (de) | 1998-01-29 | 1998-08-31 | Plasmaerzeugungsvorrichtung |
| KR1019980039703A KR100301601B1 (ko) | 1998-01-29 | 1998-09-24 | 플라즈마발생장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10017226A JPH11214196A (ja) | 1998-01-29 | 1998-01-29 | プラズマ発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11214196A true JPH11214196A (ja) | 1999-08-06 |
Family
ID=11938045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10017226A Pending JPH11214196A (ja) | 1998-01-29 | 1998-01-29 | プラズマ発生装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6109208A (ja) |
| JP (1) | JPH11214196A (ja) |
| KR (1) | KR100301601B1 (ja) |
| DE (1) | DE19839612C2 (ja) |
| TW (1) | TW425629B (ja) |
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| KR100761688B1 (ko) | 2006-05-10 | 2007-09-28 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 다중 배열된 방전실을 갖는 플라즈마 반응기 및 이를이용한 대기압 플라즈마 처리 시스템 |
| KR100772451B1 (ko) | 2006-05-10 | 2007-11-02 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 플라즈마 처리 챔버 및 플라즈마 처리 시스템 |
| KR100798352B1 (ko) | 2006-05-24 | 2008-01-28 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 다중 배열된 방전실을 갖는 플라즈마 반응기 및 이를이용한 플라즈마 처리 시스템 |
| KR100862685B1 (ko) | 2006-05-24 | 2008-10-10 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 다중 배열된 방전실을 갖는 플라즈마 반응기 및 이를이용한 플라즈마 처리 시스템 |
| KR100756084B1 (ko) | 2006-05-29 | 2007-09-05 | 위순임 | 다중 플라즈마 반응기 |
| WO2008153052A1 (ja) * | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Tokyo Electron Limited | プラズマ処理装置およびプラズマ処理装置の使用方法 |
| WO2008153053A1 (ja) * | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Tokyo Electron Limited | プラズマ処理装置、給電装置およびプラズマ処理装置の使用方法 |
| JPWO2008153052A1 (ja) * | 2007-06-11 | 2010-08-26 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理装置の使用方法 |
| JPWO2008153064A1 (ja) * | 2007-06-11 | 2010-08-26 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置および処理方法 |
| JPWO2008153053A1 (ja) * | 2007-06-11 | 2010-08-26 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置、給電装置およびプラズマ処理装置の使用方法 |
| WO2008153064A1 (ja) * | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Tokyo Electron Limited | プラズマ処理装置および処理方法 |
| US8733281B2 (en) | 2007-06-11 | 2014-05-27 | Tokyo Electron Limited | Plasma processing apparatus |
| JP2009188352A (ja) * | 2008-02-08 | 2009-08-20 | Ulvac Japan Ltd | 真空処理装置 |
| JP2010087431A (ja) * | 2008-10-02 | 2010-04-15 | Ulvac Japan Ltd | アッシング装置 |
| JP2010087432A (ja) * | 2008-10-02 | 2010-04-15 | Ulvac Japan Ltd | エッチング装置 |
| JP2010087430A (ja) * | 2008-10-02 | 2010-04-15 | Ulvac Japan Ltd | エッチング装置、マイクロマシーン製造方法 |
| JP2015196862A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-09 | ブラザー工業株式会社 | 成膜装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6109208A (en) | 2000-08-29 |
| KR19990066778A (ko) | 1999-08-16 |
| KR100301601B1 (ko) | 2001-10-19 |
| DE19839612C2 (de) | 2003-12-11 |
| DE19839612A1 (de) | 1999-08-12 |
| TW425629B (en) | 2001-03-11 |
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| A977 | Report on retrieval |
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|
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