WO2004077041A1 - 核酸濃度定量分析チップ、核酸濃度定量分析装置および核酸濃度定量分析方法 - Google Patents

核酸濃度定量分析チップ、核酸濃度定量分析装置および核酸濃度定量分析方法 Download PDF

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Hideyuki Funaki
Sadato Hongo
Koji Hashimoto
Nobuhiro Gemma
Jun Okada
Masayoshi Takahashi
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Definitions

  • Nucleic acid concentration quantitative analysis chip Nucleic acid concentration quantitative analysis device, and nucleic acid concentration quantitative analysis method
  • the present invention relates to a nucleic acid concentration quantitative analysis chip, a nucleic acid concentration quantitative analysis device, and a nucleic acid concentration quantitative analysis method for quantitatively analyzing the concentration of a target nucleic acid contained in a sample.
  • the A chip did not provide sufficient qualitative and dynamic ranges.
  • An object of the present invention is to provide a nucleic acid concentration quantitative analysis chip, a nucleic acid concentration quantitative analysis device, and a nucleic acid concentration quantitative analysis method for measuring a nucleic acid concentration with high accuracy over a wide dynamic range.
  • a nucleic acid probe having a target nucleic acid and an S-phase nucleic acid is solidified, and a plurality of nucleic acid sensors each having a different sensor area, and a first detection of a ⁇ m nucleic acid sensor
  • a first normalization unit for normalizing a signal with respect to a sensor area, wherein the nucleic acid concentration direct analysis chip is provided.
  • a nucleic acid probe having a nucleic acid complementary to a target nucleic acid is immobilized, and a plurality of nucleic acid sensors each having a different sensor area are provided.
  • the nucleic acid probes are not immobilized, and each has a different sensor area, and the first detection signal of the nucleic acid sensor and the sensor of the nucleic acid sensor of In are added to the sensor volume.
  • a first voltage conversion section for converting the first output signal current of the second voltage into a voltage
  • a second current-voltage conversion section for converting the voltage of the second output signal of the second normalization section.
  • An A / D conversion unit that generates a second digital data by performing A / D conversion, and a subtraction unit that subtracts the second digital data from the first digital data.
  • a nucleic acid concentration quantitative analyzer characterized by comprising:
  • a nucleic acid probe having a nucleic acid complementary to a target nucleic acid is immobilized, and a plurality of nucleic acid sensors each having a different sensor area are provided.
  • a back ground level sensor in which one sensor is not fixed and each has a different sensor area, and a normalization of 1 in which the first detection signal of the IU nucleic acid sensor is normalized with respect to the sensor area And the knock signal and the second detection signal of the level sensor.
  • a second current-to-voltage converter that converts the output signal current of the second current-to-voltage into a voltage, and subtracts a second output voltage of the second current-to-voltage converter from the first output voltage of the first current-to-voltage converter.
  • a nucleic acid concentration quantification analyzer comprising: a subtraction unit; and an A / D conversion unit for A / D converting a third output voltage of the subtraction unit.
  • a nucleic acid probe having a nucleic acid complementary to a target nucleic acid is immobilized, and a plurality of nucleic acid sensors each having a different sensor area, and the nucleic acid probe is immobilized. And a back ground level sensor, each having a different sensor area, and a second detection signal of the back ground level sensor from a first detection signal of the nucleic acid sensor.
  • a nucleic acid concentration quantitative analysis chip comprising: a subtraction section for performing subtraction; and a normalization section for normalizing a subtraction output signal of the subtraction section with respect to a sensor area.
  • a plurality of nucleic acid sensors on each of which a nucleic acid probe having a nucleic acid complementary to a target nucleic acid is immobilized, and each of which has a different sensor area, and detection of the nucleic acid sensor A nucleic acid concentration quantitative analysis chip including: a first normalization unit that normalizes a signal with respect to a sensor area and outputs a normalized signal; and a nucleic acid concentration calculator that calculates a nucleic acid concentration based on the normalized signal.
  • a nucleic acid concentration quantitative analyzer characterized by the following.
  • a nucleic acid probe having a nucleic acid complementary to a target nucleic acid is immobilized, and detection signals of a plurality of nucleic acid sensors each having a different sensor area are provided for each sensor.
  • a nucleic acid concentration is calculated based on the normalized signal, and a nucleic acid concentration quantitative analysis method is provided.
  • FIG. 1 is a view showing the entire configuration of a nucleic acid concentration analyzer according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing a modified example of the external configuration of the nucleic acid detection tip according to the embodiment.
  • FIG. 3 is a block diagram of a measurement circuit of the nucleic acid detection chip according to the embodiment.
  • FIG. 4 is a diagram showing an example of a detailed configuration of the module according to the embodiment.
  • FIG. 5 is a diagram showing a detailed configuration of the improved module according to the embodiment.
  • FIG. 6 is a view showing an example of an element cross-sectional view of the chip for nucleic acid detection according to the embodiment.
  • FIG. 7 is a schematic view of the electrode area of the working electrode according to the same embodiment.
  • FIG. 8 is a diagram showing a detection result using the public sequence according to the embodiment.
  • FIG. 9 is a flowchart showing the operation of the nucleic acid concentration analyzer according to the embodiment.
  • FIG. 10 is a flowchart of an example of a specific calibration process according to the embodiment. Search chart.
  • FIG. 11 is a flowchart showing details of a current value acquisition process according to the embodiment.
  • FIG. 12 is a flowchart showing details of the measurement processing according to the embodiment.
  • FIG. 13 is a diagram showing a detailed configuration of a circuit for performing normalization according to the embodiment.
  • FIG. 14 is a conceptual diagram of a nucleic acid detection chip according to a modified example of the nucleic acid concentration quantitative analyzer according to the embodiment.
  • FIG. 15 is a diagram showing a detailed configuration example of a circuit including the subtraction circuit according to the same embodiment.
  • FIG. 16 is a view showing a modified example of the subtraction circuit according to the embodiment.
  • FIG. 17 is a diagram showing an analysis process using the chip with electrodes for measuring background according to the same embodiment.
  • FIG. 18 is a detailed flowchart of the current value acquisition operation according to the embodiment.
  • FIG. 19 is a conceptual diagram of a nucleic acid detection chip according to a further modification of the embodiment.
  • FIG. 20 is a flowchart of an analysis process using the tip with a saturation level calibration electrode according to the same embodiment.
  • FIG. 21 is a detailed flowchart of a current value and bit pattern acquisition operation according to the embodiment.
  • FIG. 22 is a detailed processing flowchart of a measurement process (s 2) using the tip with a saturation level calibration electrode according to the same embodiment.
  • Figure 23 shows changes in the electrode arrangement of the three-electrode system according to the embodiment.
  • FIG. 24 is a plan view of a further variation of the electrode arrangement according to the
  • FIG. 25 is a diagram illustrating an example of a configuration of a compensation circuit according to the
  • FIG. 26 is a diagram illustrating an example of a compensation circuit according to the
  • Figure 27 is an upper m diagram showing a modified example of the nucleic acid detection chip according to the
  • FIG. 28 is a perspective view of the
  • FIG. 29 is a diagram showing a flowchart of an example of a saturation level, knock ground level and threshold decision algorithm according to the embodiment.
  • FIG. 30 is a view showing a modified example of the module according to the embodiment.
  • Fig. 31 is a conceptual diagram of the ijl flow detection circuit and the normalization circuit according to the embodiment.
  • FIG. 32 is a diagram for explaining the problem of the background current according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 33 is a diagram showing an example of a circuit configuration for solving the problem according to the
  • FIG. 34 is a diagram showing an example of the current-voltage conversion circuit according to the IP] embodiment.
  • FIG. 35 is a diagram showing an example of the current-voltage conversion circuit according to the PJ embodiment.
  • FIG. 36 shows an example of the current-voltage conversion circuit according to the embodiment.
  • FIG. 37 shows an example of the current-voltage conversion circuit according to the embodiment.
  • 38 is a view showing an example of the configuration of a module according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 39 is a view showing an example of a configuration of a module according to a fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 40 is a diagram showing an example of a configuration of a module according to a fifth embodiment of the present invention.
  • FIG. 41 is a diagram showing an example of a configuration of a module according to a sixth embodiment of the present invention.
  • 4 2 is a diagram showing an example of configuration of the capacitor C b according to the embodiment
  • FIG. 43 is a diagram for explaining an overlap factor y according to the seventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 44 is a view showing a cross section of a main part of a nucleic acid concentration quantitative analysis chip according to an eighth embodiment of the present invention.
  • FIG. 45 is a schematic diagram showing another example of the nucleic acid concentration quantitative analysis chip according to the same embodiment.
  • FIG. 46 is a view for explaining a nucleic acid concentration range according to the embodiment.
  • FIG. 47 is a diagram showing the detection graph according to the embodiment in more detail.
  • FIG. 48 is a view showing a graph example in which the area of the nucleic acid probe-immobilized region according to the embodiment is changed.
  • FIGS. 49 to 81 show configuration examples of the chip according to the embodiment.
  • FIGS. 82 to 85 show examples of functional blocks of the nucleic acid concentration quantitative analysis device according to the embodiment.
  • FIG. 1 shows a nucleic acid concentration quantitative analyzer according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of FIG. As shown in Fig. 1, the nucleic acid concentration quantitative analyzer 1 has an analyzer housing 11 and a nucleic acid detection chip 1
  • This nucleic acid concentration quantitative analyzer 1 is an analyzer housing.
  • the analysis garment housing 11 includes a liquid sending Z temperature controller 111, a chip Z housing interface 111, an arithmetic processing unit 113, a control mechanism 114, ' ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ 1 1 rf
  • Liquid transfer / ik R3 ⁇ 4 device 1 1 1 consists of a liquid feeder and a temperature controller.
  • the liquid feeder sends a chemical solution such as a buffer and a filler for the nucleic acid detection chip 12 and wastes the chemical solution from the nucleic acid detection chip 12 5.
  • the temperature controller 3 ⁇ 4ff includes a heater and a cooler ⁇ for adjusting the temperature of each sensor 12 a of the nucleic acid detection chip 12.
  • the temperature control device detects the temperature sensor (not shown).
  • the chip / housing interface 111 is a nucleic acid detection chip
  • the chip / housing interface 1 1 2 that can be supplied to the electronic circuit in 1 2 is obtained from the chip 12 for nucleic acid detection. That the processing unit 1 1 3 for outputting various electrical signals to the processing location 1 1 3 brother e.g. Nono 0 over Sonanore n emissions Manipulator with Interview one wood printer off E Ichisu 1 1 ⁇ device 1 1 6 and It realizes the same function as one.
  • Arithmetic processing 1 13 is a CPU, etc.
  • the user interface 1 15 is an arithmetic processing unit consisting of keys, keyboards, mouses, and other input devices and displays.
  • the program stored in 113 is read out from the device 116 and executed.
  • the arithmetic processing unit 113 performs various analysis processes of the measured values and functions as an analysis unit.
  • the processing a such as fitting of the measured peak value can be performed.
  • the obtained analysis processing data is stored in FIG.
  • FIG. 2 is a diagram showing a modified example of the external configuration of the nucleic acid detection chip 12 capable of low-noise measurement in which the measurement circuit used in the present embodiment is integrated.
  • the sensor 12 a has an array shape.
  • the field ⁇ ⁇ ⁇ nucleic acid detection chip 12 of the modification of FIG. 2 has a linear chip shape.
  • a linear groove is provided on the surface of the chip body 121. This groove functions as a flow path 1 2 2 for accommodating and flowing chemicals, etc. This flow path 1 2
  • the chip body 1 2 1 functions as a cell for generating a gasochemical reaction such as a no reaction or an ionization reaction between the sample solution and the probe nucleic acid.
  • the chip body 1 2 1 ⁇ Both the flow path 1 2 2 have an elongated shape along the direction in which the chemical solution flows.
  • the length of the chip body 1 2 1 in the longitudinal direction is 25 to 50 mH, and is perpendicular to the longitudinal direction, that is, the width in the direction perpendicular to the direction in which the chemical solution or the air flows.
  • a plurality of electrolysis electrodes 123 are linearly arranged.
  • the four electrolysis electrodes 123 are arranged at approximately equal intervals, for example, at an interval of about 2 mm.
  • Each of the plurality of electrodes for electrolysis 123 functions as a sensor for detecting various electrochemical reactions.
  • the electrode for electrolysis 123 includes a set of a working electrode, a counter electrode, and a reference electrode as described later.
  • one counter electrode or one reference electrode may be arranged for multiple working electrodes, or one working electrode, one counter electrode and one reference electrode may be arranged corresponding to each other.
  • the chemical solution layer may flow backward from 22 b to the channel end 1 22 a, but in any case, the chemical solution or air flows from the first to the other end along the longitudinal direction.
  • each of the bonding pads 124 provided with the pads 124 is electrically connected to the electrolysis electrodes 123 in the chip main body 122 and laid.
  • the chip-to-casing interface 112 is electrically connected to the bonding pad 124 for measurement.
  • a DNA chip for detecting nucleic acids For example, a DNA chip for detecting nucleic acids
  • the operation of flowing the solution into and out of the electrode surface functioning as the sensor on the chip that is, the solution sending operation, must be performed. If the flow path for this liquid transfer is too large, the total amount of the sample will be large.
  • the sensors are arranged on the chip as a secondary 70-shaped array, the flow path is meandered. A wide channel must be provided i%. In the meandering narrow flow path, the fluid resistance applied to the chemical flowing from the upstream side to the downstream side becomes large, and the efficiency of the liquid sending is significantly impaired. Therefore, as shown in Fig. 2, the chip body
  • the solution outlet of the spotting glow pot used to drop the probe nucleic acid onto the chip is also one-dimensionally divided into four aggregates of the decomposition electrodes 1 2 3 in the flow path 1 2 2. Positioning This allows all the probe nucleic acids to be dropped in a single alignment. As a result, the step manufacturing process can be made more efficient.
  • two are parallel to the groove 120 a of the chip holding cassette 120 for holding the nucleic acid detection chip 12, for example, as shown in FIG. 28.
  • the tip 12 for nucleic acid detection is inserted and fixed in the substrate, and the chip surface is sealed with a glass plate or the like via rubber for solution sealing 1.
  • FIG. 3 is a schematic diagram of the measurement circuit of the nucleic acid detection chip 12. As shown in FIG. 3, the interface inside chip 12 is 04 002205
  • a D / A converter 1334 a D / A converter 1334, a plurality of modules 135, a selector 1336, and a ./D converter 1337 are integrated.
  • the interface 13 sends and receives electric signals to and from the outside of the chip.
  • the chip control circuit 13 2 is connected to the measurement signal generation circuit 13 3 and the selector 1 based on the measurement start command given from the outside of the chip 12 via the interface 13 1.
  • the measurement signal generation circuit 13 3 performs voltage sweep based on the command of the chip control circuit 13 2 More specifically, the measurement signal generation circuit 13 3 generates a digital voltage sweep signal.
  • DZA converter 1 DZA converter 1
  • the D / A converter 13 4 D / A converts the digital voltage sweep signal into an analog measurement signal and outputs it to a plurality of modules 13 5.
  • Various measurement circuits are integrated in the module 13.
  • This measurement circuit can be a three-electrode system such as a potentiometer / stat, a circuit that controls the voltage applied to the solution system, a circuit that copies the current output from the probe and converts it to a voltage, Circuit for round signal subtraction. ,
  • the configuration of the module 13 can be changed in various ways according to the measurement method and the purpose of the measurement.For example, processing equivalent to subtraction without including the background signal subtraction circuit Arithmetic processing unit 1
  • the sensor 13 may be assigned. That is, in this case, the sensor 13 includes a normal sensor, a sensor 12a including a knock ground level detection sensor, and a sensor 12a.
  • a normalizing circuit for normalizing the output of the normalizing circuit, and a current-to-voltage converting circuit for current-to-voltage conversion of the normalized output of the normalizing circuit are arranged.
  • the measurement data is output to the outside of the nucleic acid detection chip 12 via the DA / D counter 13 7 and the interface 13 1. It is output to the arithmetic processing unit 113 via the chip / body interface 111.
  • the arithmetic processing unit 113 receives the measurement data from the chip / casing interface 112 from the normal measurement counter from the normal sensor, and outputs the data from the normal sensor. Subtract the ground measurement signal from the sensor for detecting the level
  • the detection circuit detects the current resulting from the electrolysis of the intercalating agent.
  • the detection circuit performs current-to-voltage conversion, and detects the detection result as a detection signal.
  • Director 1 3
  • the selector 1336 is connected to the chip control circuit 132. PT / JP2004 / 002205
  • the 1337 A / D converts the measurement signal and outputs it as a digital detection signal to the outside of the chip via the interface 13 1.
  • the procedure for performing the electrolysis measurement inside the nucleic acid detection chip 12 and sending it out of the chip is shown in FIG. This is performed by the noble air inside the chip 1 2.
  • extraction of peaks from data taken out of the chip, comparison with a threshold value, and comparison with a bit number (a zero- turn acquisition number) and comparison with a function table are performed until the diffusion concentration contained in the sample is output, as shown in the figure. This is performed by software in the arithmetic processing unit 1 13 in the analyzer housing 1 1.
  • FIG. 4 is a diagram showing an example of the detailed configuration of the module 135. This module 13 5 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier as.
  • This potentiostat is introduced by changing the voltage at the counter electrode 142 so that the voltage at the reference electrode 144 with respect to the working electrode 141 is set to a predetermined characteristic.
  • the oxidation current of the agent is measured electrochemically.
  • a set of electrodes of the working electrode 14 1, the counter electrode 14 2, and the reference electrode 14 3 will be referred to as a three-electrode system 140.
  • the working electrode 141 is an electrode for a sensor on which a probe nucleic acid 100 having a target complementary nucleic acid complementary to the target nucleic acid can be immobilized, and is an electrode for detecting a reaction current in the cell.
  • the counter electrode 142 is an electrode that supplies a current to the sensor by applying a voltage between itself and the working electrode 141.
  • Reference electrode 1 4 3 is the same as reference electrode 1 4 3 and working electrode
  • the electrode potential is used to negatively feed back the electrode potential to the input of the sweep voltage.
  • the voltage sweep signal from the D / A converter 13 4 is applied via the wiring 15 2 b to the operational amplifier 15 5 for controlling the reference voltage of the reference electrode 14 3.
  • the resistor R s is connected to the wiring 15 2 b. Operational amplification
  • the non-inverting input terminal of 1 5 2 is grounded, and the output terminal is wired 1 4
  • the wiring 144 a is in contact with the counter electrode 142 on the nucleic acid detection chip 12.
  • wirings 142 a are connected in parallel to the respective counter electrodes 142, whereby a plurality of counter electrodes 142 are provided by one voltage pattern.
  • a voltage can sometimes be applied to the opposite electrode 14 2.
  • a set of feedback circuits consisting of operational amplifiers 15 2 and 15 3 is placed for one working electrode 14 1 for the sensor. . This place ⁇ A
  • the reference electrode 1 4 3 is connected to the operational amplifier 1 Connected to inverting input terminal.
  • the inverting input terminal of the operational amplifier 153 is short-circuited by the wiring 153b and the wiring 153a connected to the output terminal.
  • a resistor R f is provided on the wiring 15 3 b.
  • the wiring 15 3 b is connected between the resistance R s of the wiring 15 2 b and the inverting input terminal of the operational amplifier 15 2. This ensures that the voltage sweep signal V i n, to input the voltage of the reference electrode 1 4 3 was full I over Dobakku voltage to the operational amplifier 1 5 2.
  • the voltage between the reference electrode 144 and the working electrode 141 is controlled based on the output obtained by inverting and amplifying the input voltage.
  • the working electrode 141 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 151 via the wiring 141a.
  • the non-inverting input terminal of the operational amplifier 15 1 is grounded.
  • the wiring 15 1 c connected to the output terminal of the operational amplifier 15 1 and the wiring 14 1 a are connected by the wiring 15 1 a.
  • FIG. 5 is a diagram showing a detailed configuration of a module 150 obtained by improving the module 135 shown in FIG.
  • the same components as those in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
  • the circuit configuration on the voltage application side consisting of the counter electrode 144 and the reference electrode 144 is the same as in Fig. 4.
  • no resistor is used on the working electrode 141 side, and instead of the resistor R w provided on the working electrode 141 side, the operational amplifier 15 1 and 6 transistors are used.
  • a Ml to M6 force, a different circuit power, and a different current detection circuit are used.
  • M l is a PMOS transistor PT / JP2004 / 002205
  • Module 1 35 shown in Fig. 4 contains disadvantageous elements for efficient circuit integration.
  • the disadvantage is the resistance R w .
  • the trans-impedance amplifier circuit composed of the resistor R w and the operational amplifier 15 1 has an extremely general configuration. In other words, this transimpedance amplifier circuit realizes an operation of keeping the potential of the working electrode 141 constant irrespective of the surrounding conditions such as a solution and a circuit, and generates a current from the working electrode 141.
  • This is a circuit that allows the electrode to be taken out freely without changing the potential of the electrode 141, and is generally used for electrolysis measurement.
  • this resistor must be selected so that the element itself generates low noise. And its resistance must also be large.
  • FIG. 5 a current detection circuit that does not use a resistance element is provided.
  • the output terminal of the operational amplifier 15 1 is connected to the gates of the transistors M 1 and M 2.
  • the wiring 151a connected to the working electrode 1441 is connected to the source of the transistor Ml and the source of the transistor M2.
  • the transistors Ml and M2 The wire is entangled with the wiring 15 1 a and the transistor ⁇
  • the drain of 1 is connected to the drain and the drain of transistor M3.
  • the source of transistor M3 is connected to the negative power supply of 1 Vs, and the gate is connected to the drain of transistor M5 and the drain of transistor ⁇ 3. This short circuit causes the transistors 3 and
  • M5 has a current mirror structure
  • the source of transistor M5 is connected to the -V source, and the drain is connected to the drain of transistor M6.
  • the gate of transistor M6 is shorted to the gate and drain of transistor M4. Also, the h transistors ⁇ 4 and ⁇
  • the source of 6 is connected to the positive power supply of + V s, so that the transistor M 4 and the transistor M 6 have a power mirror structure.
  • the direction in which the current I flows in the direction of the arrow in FIG. 5, that is, the opening flowing from the working electrode 141 to the current detection circuit side, and the flow flowing to the transistor M5 are extracted to the output side. Conversely, when a current flows from the current detection circuit side to the working electrode 141 side in a direction opposite to the arrow in the figure, a current flowing through the transistor M6 is extracted. The current is measured with an ammeter 154
  • each of the transconductances from the ultra-transistor M1 to the ⁇ 6 is respectively] 3! , ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇
  • amplification includes not only amplification at a magnification of 1 ⁇ but also amplification at 1 ⁇ .
  • the operation of the circuit shown in Fig. 5 will be explained by taking the observation of the oxidation current as an example.
  • Transistor M 1 is turned on. As a result, a current flows through the h transistor M3. The potential of the wiring 15a is subjected to negative feedback and is fixed at the ground potential.
  • the current flowing through ⁇ 3 is copied to transistor M5.
  • the current flowing through the transistor M5 can be measured with the ammeter 154.
  • the current detection circuit on the working electrode 141 side has the opposite characteristic of the oxidation current in the positive and negative directions. That is, the potential of the wiring 1 tJ 1. Side is lower than the potential of the non-inverting terminal of the operational amplifier cloth 151 by the voltage drop caused by the current.
  • the transistor ⁇ 2 is turned on. As a result, a current flows through the transistor M4.
  • the current flowing through the transistor 4 is copied to the transistor M6.
  • the current flowing through the transistor M6 can be freely extracted by the current meter 154.
  • ⁇ ⁇ OS is used in the case of the N-type substrate process
  • ⁇ ⁇ OS is completely used in the case of the ⁇ -type substrate process.
  • the need to separate elements can be achieved by some processes, but it is not always necessary to completely separate them.
  • the poti of transistor ⁇ 1 is directly connected to the positive power supply.
  • Equivalent circuit functions are also realized with this circuit.
  • the same circuit function is realized even if the pod of h transistor ⁇ 2 is directly connected to the negative source.
  • it is desirable to realize the field e 3 ⁇ 4 ⁇ ⁇ as accurately as possible.
  • FIG. 6 shows an example of a cross-sectional view of the element of the nucleic acid detection chip 12 including the working electrode 14 1. As shown in FIG.
  • an I-type circuit has a standard C ⁇ o
  • a circuit composed of an insulating film, a semiconductor film, a metal film, and the like is formed on the Si substrate 161. Shen plate 1 6 1 inside
  • a phenol oxide film 16 3 for separating the individual elements is formed on the surface of the Si substrate 16 1 having the 62 formed thereon.
  • diffusion layers 1666a and 16Db which are shallower than the well 162, are formed.
  • a gate oxide film 165 is formed on the entire surface of the Si substrate 161 including the upper surface of the field oxide film 163.
  • a gate electrode 167 is formed between the diffusion layers 166a and 166b and on the gate oxide film 165.
  • An interlayer insulating film 168 is formed so as to cover the upper surface and side surfaces of 7.
  • a first contact plug 169i made of a metal such as A1 or Cu is electrically connected to the gate electrode 167.
  • a first layer wiring 169 2 is formed to extend over the interlayer insulating film 168.
  • first contour click Prakan grayed 1 6 9 and the first layer wiring 1 6 9 good, including 2 of the top surface and side surface etc.
  • a second contact plug 17 1 made of a metal such as A 1 or Cu is connected so as to be electrically connected to the first layer wiring 16 9 2 .
  • the second layer wiring 1 7 1 2 is formed by extending to the top of the interlayer insulating film 1 7 0.
  • the interlayer insulating film 1 7 2 including a second co pointer click preparative plug 1 7 1 ⁇ Pi second layer wiring 1 7 1 2 of the upper surface ⁇ Pi side, the interlayer insulating film 1 7 2 formed Being done.
  • the interlayer insulating film 1 7 2 in earthenware pots by electrically connected to the layer wiring 1 7 1 2, groove (hereinafter, referred to as small groove portion) is formed.
  • small groove portion one small groove is not divided by BX, but a plurality of grooves are actually provided with the number of electrodes and the number of electrodes being J-centered.
  • a nomination film 1991 is formed so as to cover the interlayer insulating film 172.
  • the groove formed by the insulating film 194 (hereinafter referred to as the large groove) is formed on the bottom surface of the small groove from the side surface and outside the small groove. So that it extends to the surface.
  • T i electrode 19 and Au electrode 193 are sequentially laminated and embedded and formed.- Probe nucleic acid 1 on Au electrode 193 of ⁇
  • a field oxide film 163 having a thickness of, for example, 800 nm is formed on a part of the Si substrate 161 using the LOCOS process.
  • a well 162 is formed on the surface of the Si substrate 161 through steps such as impurity ion implantation and diffusion.
  • a polysilicon film having a thickness of, for example, 5001 is formed on the good oxide film 165.
  • the polysilicon film on the device formation region is selectively removed to selectively leave the HV silicon film on the device formation region. It functions as the gate electrode 16 7.
  • the gate electrode 1667 selectively left on the element formation region is used as a mask, and through a process such as impurity ion implantation and diffusion, the diffusion layer 1666a is formed in the well 1662.
  • the diffusion layers 1D6a and 1666b and the gate electrode 1667 are used to form the diffusion layers 166a and 166b.
  • a transistor is formed.
  • an interlayer insulating film 168 such as BPSG having a thickness of, for example, 1550 ⁇ m is formed on the entire surface of the device. And the interlayer insulating film 168 such as BPSG having a thickness of, for example, 1550 ⁇ m is formed on the entire surface of the device. And the interlayer insulating film
  • a contact is formed so that it penetrates through the diffusion layer 166a in 168.
  • a metal film made of, for example, A 1 —S 1 —CU having a thickness of 800 nm is formed on the interlayer insulating film 168 so that the contact fills the metal film.
  • the diffusion layer by selectively removing
  • An interlayer insulating film 170 such as TEOS is formed.
  • the earthenware pots by penetrating the first layer wiring 1 6 9 2 in the interlayer insulating film 1 7 0 This forms a co pointer click and.
  • a metal film having a thickness of, for example, A 1 —Si 1 Cu, having a thickness of 100 nm is formed on the interlayer insulating film 170 so as to fill the contact.
  • a second contact plug 17 1 and a second layer wiring 17 12 electrically connected to the first layer wiring 16 9 2 are formed. Is done.
  • a contact is formed so as to penetrate the two-layer wiring 1 7 1 2 in 1 7 2 , and the bottom and side surfaces of this contact are covered. To extend to two surfaces, for example
  • a second layer covering the wiring 1 7 1 2, and the small groove portion bottom and side ⁇ is found in the the small groove outer Pas Tsu Shibeshi Yo emission film 1 9 to 1 surface e.g. 1 0 0 nm in thickness T of the i membrane and e.g. 20
  • the insulating film 194 is formed on the passive 1 to the thin 191 including the side and the side. Then, the insulating film 1994 is selectively removed by being patterned so that the Ti electrode 1992 and the Au electrode 193 are exposed. ⁇ A large groove is formed. In Fig. 6, the insulating film 1 was added to the A / Ti film outside the small groove.
  • Turning may be performed to determine the area of the sensor electrode in the remaining portion.
  • the Ti electrode 19 and the Au electrode 1993 may be formed in the large groove.
  • the shiribe functions as a cell. That is, the sample solution 200 is dropped into the large groove, and further, a buffer, air, a filler, and the like are introduced, so that the electrochemical reaction is performed on the Au electrode 1993. An anti-j heart arises
  • a region for introducing the sample solution 200 and the buffer / agent filler may be secured by using a packing ring or the like.
  • the chip for nucleic acid detection now has the working electrode 1 4 1
  • the counter electrode 14 2 and the reference electrode 14 4 are the same as the working electrode 14 1. And are arranged apart from each other in the same large groove. M 8 ⁇ of the opposite pole 1 4 2 and Yumeaki, pole 1 4 3,
  • Fig. 7 shows the working electrode 14 for performing the nucleic acid quantitative analysis of this embodiment.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an electrode area of FIG. As shown in Fig. 7, the electrode area of the working electrode 141 for measuring the current from the same nucleic acid or the knock ground current is larger than the area of A 0. Then, A 0 ⁇ ⁇ A 0 ', 2 Ao, hi 3 Ao,... ( ⁇ 1) and form a geometric series
  • the electrode area is reduced, the time spent for hybridization is increased, and the absolute value of a specific signal is increased.
  • the amount of the electrochemically active labeling substance used as an intercalating agent non-specifically binds to the surface of the electrode, particularly to the region where the nucleic acid is immobilized. . ⁇ >-Thereby, it is possible to increase the ratio of the signal obtained from the simultaneous IJ force that specifically binds to the nucleic acid duplex. In other words, it is possible to increase the signal level against the background and level levels.
  • each electrode area A of the working electrode 141 on which one kind of nucleic acid is immobilized forms one set of probe series according to a geometric progression.
  • This provides a dynamic range with a wide detection sensitivity.
  • a realizable nucleic acid analyzer is realized. It is sufficient that each of the electrode areas A has a relationship that substantially forms a geometric progression. That is, each of the electrode areas A may have a value in the range of ⁇ 10% from the geometric progression.
  • Figure 8 shows the results of detection using the probe series shown in Figure 7.
  • Figure 8 shows the signal intensity when the probe nucleic acid that hybridizes to the sample solution and the probe nucleic acid were immobilized and hybridized for a predetermined time, and the measurement was performed under the same conditions when no such probe nucleic acid was immobilized.
  • the signal strength is shown.
  • the signal strength on the vertical axis is normalized by the signal strength obtained when the hybridization occurred on all probes immobilized on the sensor (electrode) surface.
  • the normalized signal strength is referred to as a normalized signal strength.
  • the absolute value of the signal obtained from the sensor surface and not normalized by the unfilled electrode area is proportional to the electrode area. Therefore, if the electrode area of the sensor surface is reduced by a certain factor ⁇ ( ⁇ ⁇ 1), the absolute value of the signal will decrease accordingly. If this is to be done with a current detection type nucleic acid detection chip, a more sensitive potentiostat must be used. Therefore, it is desirable to integrate and arrange the measurement circuit on a part closer to the sensor on the same substrate as the sensor.
  • the calibration is a process for obtaining a bit pattern before analyzing the nucleic acid concentration contained in the sample solution to be measured.
  • the bit pattern is data indicating a condition for determining the concentration of the measurement target.
  • FIG. 10 is a flow chart of an example of the specific process of calibration (s1). As shown in Fig. 10, first, the sensor 12a on which the probe nucleic acid is not immobilized, or the probe nucleic acid is immobilized on the solution T containing no nucleic acid, or the solution T is hybridized. Soak the sensor 12a with immobilized probe nucleic acid immobilized (s11). Then, execute the current value acquisition processing.
  • the background level (current value) is determined based on the obtained current value.
  • the threshold value is set to a current value between the saturation current value I st and the back current value I bg (that is, (saturation current value I st )> (threshold value I th ) > (V V ground current value I bg ).
  • the saturation current value An ideal saturation current value is obtained when all the probe nucleic acids on the substrate form a double strand.
  • an experiment may be performed in which a signal is obtained from an electrode on which a double-stranded nucleic acid is immobilized in advance.
  • the nucleic acid be immobilized at a density equivalent to the areal density on the electrode on which the probe nucleic acid that does not form a double strand is immobilized.
  • a plurality of nucleic acid solutions S i are measured with sensors having different areas A j, and the obtained data is analyzed.
  • the saturation current value is proportional to the sensor area.
  • the current value obtained from each electrode is normalized by the area.When this normalized current value is compared between different areas, the normalization obtained from an electrode with an opening area smaller than a certain area is obtained. The current value is the normalized current of the pack If the value is sufficiently larger than the value and almost constant regardless of the area, it is possible to define this normalized current value as the saturation level at all the electrodes, that is, the normalized signal strength 1. .
  • the background level can be estimated by analyzing data obtained from solutions having different nucleic acid concentrations and data obtained from electrodes having different areas.
  • the obtained current value is normalized with respect to the area.
  • a plurality of normalized current values obtained from an electrode having an opening area larger than a certain area are sufficiently smaller than the saturation level, and Regardless of this, it is possible to define this normalized current value as the back ground level in all the electrodes if the value is almost constant.
  • the current peak value I p (i, j) is obtained by the operation shown in (s 13) to (s 16) ( s 8 1).
  • the acquisition of this peak value may be executed by a later-stage circuit / software. When peak value acquisition is performed at a later stage In this (s81), current values I at multiple times are acquired. It is good.
  • I n (0, 0) is the back ground current (s 8
  • the first normalization of (s82) is realized by adjusting the current-to-width ratio of the current mirror circuit in Fig. 13 described later.
  • the individual measured current values I For n (i, j) a second normalization process is performed using (saturation current value)-(background current value) for evaluation by the sigmoid function.
  • the second normalized current value IQ (i, j) is obtained from the following equation (s84).
  • I 0 (i, j) ⁇ I n (i, j) one I n (0, 0) ⁇ Z ⁇ I n (N- 1, M - 1) - I n (0, 0) ⁇
  • the data series for the set of electrodes obtained from each concentration measurement is fitted to a sigmoid function (s85).
  • a sigmoid function a predetermined value
  • the assumed value is changed to the saturation level
  • the command level is determined (S88). If the error exceeds a predetermined value, it is assumed that the current value for a different nucleic acid in which either i or j is changed is the saturation level I st and the knock ground level I bg ( s87 ) .
  • I 0 (i-J) I awkward(i, j) / In (N — 1, M-
  • B is ⁇ B (A 0), B (A. a 1 ), B (A oa 2 ),
  • bit data B (hereinafter, referred to as a bit pattern) is obtained for each nucleic acid concentration ci (s18).
  • the S bit pattern is replaced with each concentration C! Then, it is compared whether the bit patterns related to the density closest to each other match. If the two match, the threshold I t h a strange Ete again bit in concert, "seek the turn. Both cormorant good comparison and may o ⁇ that if return repeated the bit pattern calculated by the Naruma not match.
  • the processing can be performed by the arithmetic processing unit 113. Comparison between bit patterns of adjacent densities, reset of the threshold value I th of ⁇ at which the comparison result does not match, and comparison and reset of these bit patterns Repeat each process until the turns do not match.
  • the arithmetic processing unit 113 may read and execute this program. Ri by the this good to La and the child to change the threshold I th, to obtain a different bit Bokupa turn for each concentration, o to improve the accuracy of analysis of nucleic acid concentration
  • the threshold value I th may take any value as long as it is between the normalized saturation current value I st and the normalized knock ground current value I bg .
  • the threshold value I th is used for comparing the magnitude with the current value normalized by the pole area by the first normalization. Because it is, one threshold I t h for electrodes of the electrode area may be set.
  • the bit pattern is stored in association with the hybridization time t and the nucleic acid concentration Ci of the solution (s20). Also, threshold values I th , I th 2, ... As the basis of the determination are stored in association with this determination table. As described above, when MXN bit data is obtained for each electrode area A j and nucleic acid concentration C i for each high pre- duction time, the calibration process ends.
  • the obtained current value I is normalized by the electrode area (s 3
  • each of these current value measurement processes is not necessarily limited to the processes described here.
  • the arithmetic processing unit 113 including the normalization of the electrode area may be performed, or the peak value calculation processing may be performed in the module 135.
  • the peak value Ip may be calculated before the first normalization.
  • the solution of the sample to be measured is placed by the sensor 12a. 02205
  • the current value is obtained through the processes of (s31) to (s34) (s22).
  • the threshold value I th obtained in (s 20) and stored in the storage device 116 is read.
  • the arithmetic processing unit 113 compares this threshold value I th with the measured current value of (s 22), and obtains the bit data B (s 23).
  • This bi Tsu Todeta B is on the this be expressed by the bit where exceeded, for example, threshold I th same manner as (si 8) "1", the case does not exceed the threshold I th "0" More.
  • This bit data B is obtained for each electrode area A j to obtain a bit pattern.
  • Arithmetic processing unit 113 sets a bit, which matches this bit pattern. The turn is searched for in Table 1, and the nucleic acid concentration C i associated with the bit pattern is determined as the concentration of the sample (s24). Thus, the measurement process is completed.
  • FIG. 13 is a diagram showing a detailed configuration of a circuit for performing normalization in (s33) and (s82).
  • the same reference numerals are given to configurations common to other drawings such as FIG. 3 and FIG. 5, and detailed description is omitted.
  • each ⁇ . , ⁇ ; ⁇ . , Shed 2 A A module 1 35 having a three-electrode system 140 0, 140 0 and 140 2 having working electrodes 14 1 with different electrode areas of (a ⁇ 1). , 1 3 5 ⁇ , 1 3 5 2 of the signal output is connected to the Selector Address 1 3 6.
  • the output circuit is common to the configuration in Fig. 5.
  • the gate of the transistor M7 is connected to the current extraction side of the current mirror for positive / negative current via the switch SW.
  • the source is connected to the drain of the N-type MOSFET M8 and the selector 1336 of the deformation mode.
  • the source of transistor M8 is connected to the gate.
  • This is one of the circuit configurations called source followers. Of course, a source such as a source follower or a voltage follower constructed by another method may be used.
  • the switch-capacitor is provided comprising a sweep rate Tutsi SW 2 and capacitor C.
  • each module '1 35 The flow of 0 1 3 5 2 can be selectively output to selector 13 6.
  • switch on and switch S first.
  • the ratio of the (gate width) / (gate length) of the gates of the transistors M4i and M6i is the largest electrode A. Set to the inverse ratio of the electrode area to. The same applies to other M 3 i and M 5 i. A in the example of Figure 13. Has the largest electrode area. Therefore, M4. And M6. As well as M3. And M 5 (gate width) Z (gate length) of Q is 1: 1, capital and M 3 i and Micromax [delta], The one-wide) / (gate length) alpha: 1, Micromax 4 2 and Micromax 6 2 and Micromax 3 2 and Micromax 5 2 of (gate width) / (gate length) of alpha 2: Ru 1 der. Where 0! ⁇ 1.
  • FIG. 31 is a conceptual diagram of the circuit configuration shown in FIG.
  • the detected current is a normalization circuit 3 2 1 in a normalization circuit 3 2 1.
  • 3 2 1, 3 2 1 2 Is normalized with respect to the electrode area A j, and output to the selector 1336.
  • the conversion ratio of the current-voltage conversion circuit such as the A / D converter, can be shared.
  • FIG. 13 illustrates three modules as an example for convenience of description, the present invention is not limited to this.
  • Other electrode area ⁇ 3 A.
  • a 4 a the module having the above configuration has the same configuration as above.
  • FIGS. 14 to 18 relate to modifications of the nucleic acid concentration quantitative analysis device 1 shown in FIGS. 1 to 13.
  • FIG. 14 is a conceptual diagram of a nucleic acid detection chip 12 of this modified example.
  • reference numerals 20 and 12 indicate the voltage applied between the counter electrode 14 2 and the reference electrode 14 3 in FIGS. 4 and 5 and the voltage sweep signal generation means.
  • It is a side circuit. 1 6 0 Eoyopi 1 6 0 2 indicated from being in a current detection circuit and normalization circuit which is connected to the working electrode 1 4 1 side in FIG. 4 and FIG. 5.
  • the current detection section corresponds to the circuit consisting of the operational amplifier 15 1 and the resistor R w in the example of FIG. 4, and the transistors M 1 to M 6 and the operational amplifier 1 in the example of FIG. It corresponds to a circuit consisting of 5 1.
  • 140b is a three-electrode system for background signal measurement (for negative control), and 140d is a three-electrode system for probe (for sample measurement).
  • These three-electrode systems 140b and 140d consist of working electrode 141, counter electrode 142 and reference electrode 1443 shown in FIG. 4 and FIG. It is not fixed to the working electrode 141 belonging to the three-electrode system 140b for measuring the background signal.
  • a single-stranded probe is immobilized on the working electrode 141 belonging to the three-electrode system 140 d for the probe as in Figs.
  • the working electrode 1441 belonging to the three-electrode system 140b for background signal measurement, is complementary to the nucleic acid immobilized on the working electrode 1441, belonging to the three-electrode system 140d for the probe.
  • 50% or less of a nucleic acid may be immobilized as a probe.
  • the complementarity is the ratio of the number of bases having the same base at the corresponding position to the total number of bases in two nucleic acid fragments to be compared.
  • the rate at which the analyte nucleic acid binds to the negative control probe is sufficiently smaller than that of the probe immobilized on the three-electrode probe 140 d, so that the knock ground It is possible to monitor levels at the same time.
  • the subtraction circuit 202 subtracts the measurement signal from the three-electrode system 140 d for back ground signal measurement from the measurement signal from the three-electrode system 140 d for probe, and selects the selector 13 6 Output to
  • the background level varies depending on the area of the electrode, so electrodes with the same area are used as back ground monitors. Ik is paired for signal and signal measurement.
  • the detection signal power from the three-electrode system 140 d for the probe and the detection signal from the three-electrode system 140 b for the ground signal measurement are subtracted. This makes it possible to obtain a net signal obtained by subtracting the signal level from the signal originating from the profile. As a result, changes in packed ground drain due to fluctuations in experimental conditions are constantly monitored, improving measurement accuracy.
  • a current-voltage conversion circuit can be appropriately arranged. For example, if you place the current-voltage conversion circuit at the subsequent stage of the subtraction circuit 2 0 2 2, the output signal current of the subtraction circuit 2 0 2 is current-voltage conversion circuit and outputs the voltage conversion in cell Lek motor 1 3 6 .
  • For the second subsequent stage may be arranged a current-voltage conversion circuit ⁇ current detection circuit 1 6 O 1 6 0 of the output signal current a current ⁇ conversion circuit to voltage conversion subtracting circuit 2 0 2
  • FIG. 15 shows a detailed configuration example of the circuit including the subtraction circuit 202.
  • the circuit example in Figure 15 processes current detection, current normalization, current-voltage conversion, subtraction, and A / ⁇ conversion in this order.
  • the Remind as in FIG. 1 5 is a row cormorants circuit, FIG 3 will by shown in Do operational amplifier 1 5 1 ⁇ Bok La Njisuta M 1 ⁇ M 6, sweep rate pitch preparative wire carrier Nono 0 Shitagaba click The same configuration is used on the ground side and the probe detection side.
  • the output of the sink capacitor is connected to the differential amplifier 204.
  • Differential amplifier 204 Differential amplifier
  • Reference numeral 204 denotes the subtraction circuit 202 of FIG.
  • the transistors Ml to M6 normalize the current. Its to the capacitor C and sweep rate pitch SW x and SW 2 Power et consisting sweep rate Tutsi-capacitor (current-voltage conversion circuit) operates the, bar click Grad ⁇ down de signal 3 electrode system for measuring
  • the differential amplifier 204 which outputs a voltage value proportional to the current obtained from the three-electrode system 140d to the dynamic amplification unit 04, outputs the difference between these voltage values to the selector 1336. Output.
  • circuit topology shown in Fig. 15 above is just one example, and the above and
  • FIG. 16 is a diagram showing a modified example of the subtraction circuit shown in FIG.
  • the configurations of the measurement circuit on the ground side and the measurement circuit on the port side are similar to those in Fig. 15 and
  • Output is a PMOS transistor MP3 and NMoS The back ground connected to the gate of the tow transistor MN1 and the working electrode of the three-electrode port 140b for signal measurement.
  • NM connected to the source of S transistor and transistor MN 1 and the source of PMOS transistor MP 3
  • OS transistor MN 1 The board pole and the source of MN 1 are short-circuited, and the drain is connected to the PMOS transistor MP 1 K 1 and the gate and the PM o S transistor.
  • the substrate electrode and the source of MP 1 are short-circuited, and the voltage is maintained at the positive power supply voltage + V s.
  • P MOS transistor M P 1 and P M O S transistor A connection of the gate of the transistor M P2 P M O S transistor
  • the source of M P 2 and the substrate electrode are entangled, and the voltage is a positive power supply.
  • the P MOS transistor MP 1 held at V s and
  • PM o S transistor which constitutes a power line and a lane by MP 2 D and lane of MP 2 are NMOS transistor M N 2 Drain and gate of M N 2 N ⁇ o S connected to the transistor MN
  • the substrate's electrode and source are grounded, and the gate is a 7 ⁇
  • the gate and drain of the PMOS transistor MP3 are the gates of the NMOS transistor MN3.
  • the K-lane is connected to the gate of the NMOS transistor MN4.
  • the substrate electrode and the source of No. 3 are connected to each other.
  • the source of the NMOS transistor MN 4 held at V s and the substrate electrode are short-circuited, and the voltage is held at the negative power supply voltage of 1 V s.
  • This NMOS transistor MN3 is more powerful than MN4.
  • the gate and drain of OS transistor MN 4 are the gate and drain of PMOS transistor MP 4 and the dynamic amplifier 2.
  • MP4, MN3 and ⁇ 4 operate when measuring the oxidation current
  • the measurement circuit for measuring the nook ground signal and the measurement signal for measuring the pull-up signal have the above-described h circuit configuration, and have the reference symbols for the pink ground and the signal measurement. 0 b, 15 1 b, MP
  • Each component indicated by N 4 is a code 1 for measuring a
  • the drain of OS transistor MP5 is connected to the non-inverting input terminal of differential amplifier 211. Also P M O S Transistor M
  • the gate of P7 is connected to the non-inverting input terminal of dynamic amplifier 2 1 2
  • the output of the differential amplifier 211 is connected to the drain of the OS transistor MN11.
  • the gate of the S-transistor MN11 is connected to the gate of the NMOS transistor N12, is taken out at the terminal sE, and is connected to the base of the NMOS transistor MN11.
  • the voltage between the plate electrode and the source is V
  • the differential amplifier 2 1 2 When an oxidation current is detected, the differential amplifier 2 1 2 is connected to the working electrode of the 3-electrode system 1 4 0 d side for the probe 1 4 1 d from the current detected from the 1 d side. Subtracts the current detected from the working electrode 144b side of the signal measurement 3-electrode system 140b side and outputs it to the NMOS transistor MNil. The voltage V applied to the NMOS transistor MNil by this current. t is the subtraction value.
  • the differential amplifier 2 1 1 In the case of reduction current measurement, the differential amplifier 2 1 1
  • the current value subtracted by the same operation as 12 is output to the NMOS transistor MN12.
  • the voltage V applied to the NMOS transistor MN12 by this current. , T 2 are the subtraction values.
  • the calibration process (si) consists of the processes (s41) to (s48) shown in FIG.
  • First, the measurement of the solution S 5 containing the nucleic acid as a (s 4 1), an electrode area A] of different nucleic acid solution S i of known concentration C i (j 0, 1 , ⁇ , ⁇ - 1) Is introduced into the cell having the sensor 12a (s42).
  • a current value acquisition operation described later is performed (s43).
  • For all N nucleic acid solutions S i (i 0, 1, 2,..., N—1), such as obtaining the current value of solution S; + (s 44)
  • current values are obtained for the sensors 12 a of all electrode areas A j.
  • the threshold value is calculated by the same method as in ( s17 ) ( s45 ).
  • the current values I p, I n , and I as the basis of the calculation.
  • a current value obtained by subtracting a back ground signal from a probe signal is calculated and used.
  • the arithmetic processing unit 1 1 3 compares (s 4 5) is normalized is obtained at each measurement of the obtained threshold I th and the nucleic acid solution si in the the current value I n, respectively.
  • the normalized current value I n is exceeds the threshold value I th is "1”, if not exceeded it is determined that "0".
  • a set of the determination results obtained by performing this determination processing on the entire electrode sequence is obtained as a bit pattern (s46).
  • the arithmetic processing unit 113 determines whether or not the obtained bit pattern and the density correspond one-to-one in the same manner as in (s19) (s47). If so, go to (s48).
  • the arithmetic processing unit 113 in the same manner as in (s20), sets the determination table in correspondence with the bit number, "turn" to the hybridization time t and the nucleic acid concentration C i of the solution. and to be stored in the even and the threshold I th. should correspond, returns to the process of setting again the threshold I th.
  • Figure 18 is a detailed flowchart of the current value acquisition operation shown in (s43) in Figure 17.
  • the hybridization is performed at a constant temperature and for a predetermined time in the manner described in (s11) and (s12) (s431).
  • an intercalating agent is applied to each electrode having a different area, and the current value of each of the X ⁇ ground level and the probe current is measured (s4332).
  • the obtained current values are, for example, the transistors Mli to M in FIG.
  • the electrode area A j is normalized by the current mirror circuit shown by i (s 4 3 3) ⁇
  • i ground current value
  • s4334 the peak value of the obtained subtraction value is obtained by the fitting process (s434).
  • the current component mixed in the signal current when the intercalating agent considered as a noise component is adsorbed to a portion other than the nucleic acid double strand is eliminated. be able to.
  • FIG. 19 is a conceptual diagram of a nucleic acid detection chip 12 according to this modification.
  • a 3-electrode system 140 s for saturation level calibration is provided.
  • the three-electrode system 140s for saturation level calibration uses electrodes with the same area as each other for signal measurement and background ground monitoring. Provide.
  • the saturation level is a force that depends on the area of the electrode, etc.
  • the background current signal is subtracted from the probe current signal as in Figure 14 and output to the selector 1336, whereas the subtraction circuit 203 at the saturation level
  • the knock ground current signal is subtracted from the current signal and output to the selector 1336.
  • the threshold value I th can always be adjusted to an appropriate value regardless of fluctuations in the experimental conditions.
  • a current-voltage conversion circuit can be appropriately arranged.
  • the subtraction circuit 2 0 2 outputs a second output signal current current-voltage conversion circuit is a cell Lek motor 1 3 6 and voltage conversion I do.
  • the subtraction circuit 2 0 2 2 of the preceding in may be arranged a current-voltage conversion circuit at the subsequent stage of the current detection circuits 1 6 0 ⁇ 1 6 0 2.
  • the current detection circuit 1 6 0, 1 6 0 2 of the output signal current a current-voltage conversion circuit outputs voltage conversion to the subtracting circuit 2 0 2 2.
  • Liquid si (1 0, 1, 2, ..., N - 1) the current value for the electrode area Alpha 5 of sensor 1 2 a of Te ⁇ obtain all available Te Nitsu Rere is Ru is obtained.
  • the arithmetic processing unit 113 stores the bit pattern as a determination table in a manner similar to (s 20), in which the bit pattern is associated with the hybridization time t and the nucleic acid concentration C i of the solution.
  • Figure 2 1 is Ni Let 's are shown in ⁇ Figure 2 1 is a detailed full Rochiya one DOO current value and bit Bokuha 0 turns acquisition operation in (s 5 4), Figure 1 1 (sll) and (s Perform a high-priority section at a fixed temperature and time as described in 1 2).
  • M 1 i ⁇ ] are normalized by the current mirror circuit represented by M 6 i (s 543), and further, for example, the subtraction circuit 20 shown in FIG.
  • Fig. 2 2 shows the measurement process using a saturated tip with a positive electrode.
  • the arithmetic processing unit 113 converts the bit pattern of the entire electrode series obtained for the sample solution into the calibration process (s
  • a three-electrode system that detects both the saturated level and the back ground and level is shown as an example. It is also possible to omit the three-electrode system for detecting the ground level and to omit only the set of the three-electrode system for saturation level calibration, 140 s, and the three-electrode system for probe, 140 d.
  • the configuration for the background level shown in Fig. 14 may be replaced with the configuration for the saturation level calibration, and the sign of the subtraction may be reversed.
  • the ratio between the probe measurement signal and the saturation level measurement signal is taken between the paired sensors, and the ratio is obtained from a pair that is not 100 ° / 0.
  • the concentration of the target nucleic acid contained in the sample may be determined from the intensity of the signal obtained.
  • FIG. 23 is a plan view showing an example of a detailed configuration of the electrode arrangement of the three-electrode system 140 in each embodiment of FIGS. 1 to 13, FIGS. 14 to 18, and FIGS. 19 to 22.
  • Counter 1 4 2 i and 1 4 2 the configuration of the reference electrode 1 4 3 and 1 4 3 2 common, the working electrode 1 4 1 and 1 4 1 2 the different areas.
  • Working electrodes 1 4 1 i and 1 4 1 2 are 3 electrode systems 1 4 0! , 1 4 0 is disposed at the center position of the second forming region, the shape of the working electrode 1 4 1 i and 1 4 1 counter electrode 1 in earthenware pots by surrounding the three directions 2 4 2 and 1 4 2 2 force S U Provided.
  • working electrodes l Ali and 1 4 1 2 force, reference electrodes 1 4 3 i and 1 4 3 2 are placed on the side where counter electrodes 1 4 2 i and 1 4 2 2 are not placed Have been.
  • one working electrode 14 1 and 14 1 2 are provided, one for each of the counter electrodes 14 2 and 14 so that the three electrodes can be arranged at almost constant positions at any distance.
  • 1 4 2 2 and reference poles 1 4 3 and 1 4 3 2 are arranged. Since the counter electrodes 14 2 and 14 2 2 and the reference electrodes 144 3 i and 144 2 have the same configuration, their positional relationship is equidistant.
  • 3 1 2, 3 1 2 2 , 3 1 1! , 3 1 1 2 are contacts for connecting to the lower wiring.
  • the peak height analysis after the subtraction is performed.
  • the peak position has shifted between the three-electrode system 140k for nook ground measurement, the four-electrode system 140d for the probe, and the three-electrode system 140s for the saturation level calibration.
  • the measurement accuracy of the analysis result may be adversely affected. This shift in peak position is often due to the presence of the solution resistance component.
  • Figure 24 is a plan view of a different electrode arrangement from Figure 23
  • each working electrode 5 4 1 1 to 5 4 1 4 force pole counter electrode 5 4 2 and reference electrode 5 4 3 is almost the same.
  • Each electrode is placed symmetrically when viewed from the center of the working electrode 5 4 1 i ⁇ 5 4 1 4, example if A u Kakaranaru.
  • Electrode area of 1 5 4 1 4 While shows the case of common in the example of FIG. 2 4, may be different from the electrode area.
  • 5 4 4 ⁇ to 5 4 4 ⁇ 5 4 5 and 5 4 6 are contacts for connecting to the lower wiring.
  • the structure in which the working electrode is surrounded by the illumination electrode and the counter electrode also has the effect of avoiding external electrostatic and electromagnetic disturbances to the working electrode, and is effective as a measure against noise in measurement.
  • the concentration of the electric field is less likely to be concentrated, it is effective in reducing the fluctuation of the measurement.
  • FIG. 24 shows the planar electrode arrangement structure, but the present invention is not limited to this.
  • each of the electrodes 14 1 to 14 3 can be made to have a three-dimensional three-dimensional structure.
  • FIG. 25 shows FIGS. 1 to 13 ⁇ FIGS. 14 to 18, and FIGS. 19 to 22.
  • FIG. 10 is a diagram showing an example of a configuration of a compensation circuit 600 to which a function of compensating for offset and linearity of a sweep voltage in each embodiment is added.
  • the same components as those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and detailed description is omitted.
  • the compensation circuit 600 has a problem in that, for example, the unevenness in the position of the semiconductor manufacturing process and the deviation of the element dimensions from the design value. This is a circuit that compensates for the offset ⁇ linearity of the swept voltage caused by.
  • the compensation circuit 600 is provided in the analyzer housing 11 of FIG. 1.
  • a nucleic acid detection chip 12 is attached to the analyzer housing 11 and the nucleic acid detection chip 12 and the solution are sent. Physically connect Z temperature controller 1 1 1 to.
  • the wiring 1 in each module 1 35 of the chip 12 for nucleic acid detection is automatically set.
  • Tutsi SW 4 is consists in earthenware pots by being electrically connected I have.
  • the signals from each wiring 14 2 a and wiring 14 3 a of each module 13 5 are selected by the selectors 15 56 and 15 55 and the switches are selected. It is outputted to SW 3 ⁇ Pi SW 4 side.
  • the output of the counter electrode 1 4 2 connected operational amplifier 1 5 2 2 5 by through the scan I Tutsi SW 3 resistors R 1 and key catcher Pashita C a is connected to the parallel-connected circuit. Further, the resistors R 1 ⁇ Pi capacitor C a is connected to one end of a resistor R 2. The other end of the resistor R 2 is connected to the noninverting input of the sweep rate pitch SW 4 and the operational amplifier 6 0 1. - these resistors R 1, key catcher Pashita c a ⁇ Pi resistor R 2 is 3 electrodes
  • the inverting input and output of the operational amplifier 601 are short-circuited and function as a voltage transformer.
  • the output of operational amplifier 6001 is A /
  • the compensation bookkeeping circuit 603 determines the offset ⁇ linearity of the sweep voltage generated by each module 135.
  • the compensation logic circuit 603 is a circuit having a function of compensating.It may be implemented by a combination of a node and a software, or may be implemented only by hardware.
  • the measured value obtained from the module 135 is stored in the memory 603 a.
  • the compensation logic circuit 603 performs the offset compensation and the linearity based on the stored measured value. Outputs a signal for compensation to voltage source 607.
  • Voltage source 607 applies the voltage specified by compensation logic circuit 603 to the non-inverting input terminal of operational amplifier 152.
  • the output of the selector 15 55 is provided on the switch SW 3 and the selector 1 is provided on the switch SW 4. 5 6 outputs are electrically connected.
  • the voltage source 607 supplies a predetermined voltage to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 152. Apply V '. As a result , the voltage Vtk is applied to the resistor R 1, the capacitor Ca, and the resistor R 2 simulating the solution system.
  • the selection of module 135 is made by selectors 155 and 156, but selectors 155 and 156 are selected.
  • the sequential selection operation by 56 is controlled by the circuit on the analyzer housing 11 side.
  • the compensation logic circuit 63 calculates, for example, an average value V tav of the output voltages V tk for all the modules 135 .
  • Their to compensation logic circuit 6 0 3 the difference between the average value V t av and the output voltage V tk this - determines whether the range (V tk V tav) is predetermined et al. If it is within the predetermined range, the compensation logic circuit 603 indicates that the product is “good” on the display unit.
  • the difference between the average value V tav of the output voltage V tk of each module 135 and the average value is offset V k .
  • Offset 1 V k of this memory 603 a during actual measurement.
  • the measurement error of the obtained measured value can be corrected.
  • the sweep power of each module 135 is corrected by the correction value corresponding to the average value V of the output voltage Vtk .
  • the pressure can also be corrected.
  • the offset V can be compensated for by applying an offset compensation voltage of 1 Vtav from the voltage source 607 at the time of actual measurement.
  • the deviation from the predetermined voltage that is, the offset of the output voltage with respect to the input voltage and the offset of the feedback circuit can be known from the inverted output voltage appearing at the illumination electrode 144.
  • offset can be eliminated by adjusting the voltage applied to the non-inverting input of the operational amplifier 152, and the accuracy of feedback can be improved.
  • the semiconductor circuit including 135 is arranged in the chip so as to satisfy the translation symmetry. This is a technique to ensure that when non-uniform conditions occur in the conductor manufacturing process, the effects of the non-uniformity appear equally on any element in the array. More specifically, the operational amplifiers 15 and 2 existing inside different modules are all arranged in the same direction, and the same applies to operational amplifiers 15 1 and 15 3. In addition, by reducing the difference that occurs between modules, it is possible to eliminate most of the offset simultaneously by simply applying a common voltage to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 152. And are possible.
  • FIG. 26 shows the embodiments of FIGS. 1 to 13, FIGS. 14 to 18, and FIGS. 19 to 22.
  • the linearity of the measurement circuit is proportional.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating an example of a compensation circuit 6100 that compensates for a deviation from a design value such as a coefficient.
  • the configurations shown in FIG. 5 and FIG. 13 are denoted by
  • This compensation circuit 610 is connected to the analyzer housing 11 in FIG. Then, the nucleic acid detection chip 12 is attached to the analyzer housing 11, and the nucleic acid detection chip 12 is physically connected to the liquid sending Z temperature controller 111.
  • the A / D converter 13 7 of the chip 12 for nucleic acid detection is automatically connected to the chip 13.
  • the compensation logic circuit 6 17 of the compensation circuit 6 10 is electrically connected via the interface 13 1.
  • the output of the selector 614 is each module 135.
  • 1 3 5 i are connected to the working electrode 1 4 1.
  • Module 1 3 5. , 135 are each ⁇ . , ⁇ ⁇ . , And their current amplification factors are 1: 1 and ⁇ : 1.
  • two modules 1 35 are used for convenience of explanation using Fig. 26. , 135, but it goes without saying that it is equally applicable to more than two modules.
  • the compensation circuit 610 is composed of a memory 612, a compensation logic circuit 617 having a display section 616, a current source 613, a voltage source 615 and a selection circuit. Data 6 14.
  • the output of the compensation logic 6 17 is connected to a current source 6 13 and a voltage source 6 15.
  • Current source 6 1 3 is connected to the cell Lek motor 6 1 4 inputs and via a sweep rate pitch SW 5.
  • the output of voltage source 6 15 is 1 3 5 for each module. , 135, connected to the non-inverting input of the operational amplifier 15 1.
  • Each module 1 3 5 connected from current source 6 1 3 to working electrode 1 4 1.
  • Switch SW 5 is turned on, and each module 13 5 is selectively supplied from current source 6 13 via selector 6 14.
  • a current is applied to the working poles 1 4 1 side of 1 and 3 5.
  • no voltage is applied from the voltage source 615.
  • This current is output to the compensation logic circuit 617 through the current detection circuit and the normalization circuit, the selector 136, and the A / D converter 137.
  • the compensation logic circuit 617 measures the linearity, the proportional coefficient, the offset, and the like from the signal from the AZD converter 137, and stores the measured value in the memory 612.
  • each module 13 5 to the input of the current source 6 13 is analyzed, and an appropriate voltage is input from the voltage source 6 15 to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 15 1 based on the result.
  • an appropriate voltage is input from the voltage source 6 15 to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 15 1 based on the result.
  • module 1 3 5 D, 1 3 5 the upper limit of the offset defined in the specification for the sensor each ⁇ delta I.
  • the sensor of the module that meets the specifications will meet the specifications.
  • the manufacturing process of the device can be adapted to the specification, by inputting an appropriate voltage to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 151, +
  • the arithmetic processing unit 113 determines that the chip is “defective” because the offset of the measurement circuit does not satisfy the specification.
  • FIG. 27 is a view showing a modification of the nucleic acid detection chip.
  • the nucleic acid detection chip 700 shown in FIG. 7 has a chip-on-glass structure in which a plurality of Si chips 720 and an array-like three-electrode system 140 are arranged on a glass substrate 706. Each three-electrode system 140 is connected to one of the Si chips 702 by wiring.
  • the detection signal in the three-electrode system 140 is processed by the S i chip 70 2 side.
  • the flow detection type core is used. Using the acid detection chip 12 to broaden the range of sensitivity to concentration and quantitatively analyze the concentration
  • the electrical complexity of the measurement time can be improved while maintaining the synchronization of the measurement time.
  • Simultaneity is important in current-measuring chips because of the aging of the kiss.
  • the two stranded nucleic acids and the target nucleic acid make up the kiss. Because the signal strength fluctuates due to the time accumulation of signals, it is desirable to increase the synchronism as much as possible, especially when measuring the signals to be compared.
  • the nucleic acid detection chip 12 in which a large number of probes are mounted in an array is used.
  • module 150 shown in Figure 5 is only one example. Absent.
  • a cascaded power controller in which power flow is connected in multiple stages may be used.
  • FIG. 30 the same reference numerals as in FIG. 5 denote the same components, and a detailed description thereof will be omitted. O As shown in FIG. 30, the same reference numerals as in FIG. 5 denote the same components, and a detailed description thereof will be omitted. O As shown in FIG. 30, the same reference numerals as in FIG. 5 denote the same components, and a detailed description thereof will be omitted. O As shown in FIG. 30, the same reference numerals as in FIG. 5 denote the same components, and a detailed description thereof will be omitted. O As shown in FIG.
  • the source of M3a is connected to the gate of transistor M3b, the gate of transistor M3b, and the gate of transistor M5b.
  • the body of M 3 a and the source of the transistor M 3 b are connected to the negative power supply voltage of 1 Vs. o
  • the source of the transistor M 5 a and the source of the transistor M 5 b And lane are twisted, and transistor M
  • the body of 5 a and the source of transistor M 5 b are connected to the negative power supply voltage _ V s o
  • the power of the stage consisting of the transistors M 3 a and M 5 a The current width ratio of the lent mirror and the two-stage current consisting of the transistors M 3 b and M 5 b- The current amplification factor of the grid is the same.
  • the transistors M4a, M4b, M6a and M6b are the same as the transistors M3a, M3b, M5a and M5b except that they have the opposite polarity. Make up the structure o
  • the degree of the current mirror may not increase due to the channel modulation effect of the transistor.
  • nucleic acid quantitative analyzer and analytical method Not limited to this.
  • the target of quantitative analysis is not only nucleic acid but also Novidization reaction. Therefore, the present invention is applicable to quantitative analysis of a base sequence and a method for quantitative analysis of a predetermined sequence. I do.
  • the nucleic acid detection chip 12 shown in FIG. 2 is not limited to nucleic acid detection, but can be widely replaced with a nucleotide sequence detection chip for detecting a base sequence to make the present invention applicable.
  • the chip configuration shown in FIG. 2 is merely an example, and the present invention is replaced with a chip for detecting nucleic acids, such as a chip, in which electrodes are not arranged linearly and arranged in a linear manner. Applicable ⁇
  • the module 1 having the three-electrode system 140 shown in FIG.
  • 35 can be used not only as a nucleic acid concentration quantitative analyzer but also as an electrolyzer ⁇
  • the function may be read from a recording medium device (not shown) connected to 13 and the arithmetic processing device 113 may execute the function.
  • This embodiment relates to an improvement of the first embodiment.
  • This embodiment is to reduce the shadow of the background current.
  • FIG. 32 is a diagram for explaining a problem due to the background flow.
  • the electrode diameters are 250, 100, 200, and 500.
  • the normalized currents are compared and shown for five examples of 0 ⁇ m.
  • the component proportional to the electrode area was / J, which was proportional to the component proportional to the electrode perimeter.
  • the signal current which tends to be proportional to the area of the electrode, becomes relatively small, and the accuracy of the measurement decreases.
  • Most of the dynamic range of the circuit that measures the signal is background light that is occupied by background components.
  • Figure 3 shows the circuit configuration of the module to solve the above problems.
  • Figure 3 shows. Area of the sensor area is identical i.e. working electrode the same 3-electrode system 1 4 0 a, 1 4 0 b ⁇ 1 4 0. Mojiyu Norre 3 3 0 0 having, 3 3 0 x., 3 3 0 2 signals output cell Rectifiers data 1 3
  • These modules are 330. , 3 3 0, 3 3 0 2 except for the configuration, since common with the configurations described in the first embodiment, the detailed description thereof is omitted.
  • Module 330 is also available. , 3 3 0! , 3 3 3 0 2 Oite each positive and negative current for power lens 1, the current up out Shi side mirror, respectively operational amplifier 3 3 1. , 3 3 1 1; 3 3 1 2 Inverting Input terminal is connected and its non-inverting input terminal is grounded. Also, the operational amplifier 3 3 1. , 3 3 1 1; 3 3 1 and the output 2 of the inverting input terminal, the circuit 3 3 2 0 for cormorants row current-voltage conversion or current amplification, 3 3 2! , 3 3 2 2 is connected, the output of which is connected to the Selector Address 1 3 6.
  • DOO La Njisu motor M 4 2 of gate is collected by La Njisu motor M 6 2 of gate one bets all Razz, the gate of the other module one Honoré 3 3 0 0 and preparative La Njisu motor M 8 1
  • the transistor M82 is connected in parallel to the gate of the transistor M82.
  • DOO La Njisu motor M 3 2 of gate includes a gate City La Njisu motor M 5 2 everyone regardless of gate, the 3 3 0 0 and other modules preparative La Njisu motor M 7 1, Mojiyu Nore 3 3 0! Connected in parallel to the gate of the transistor M72. Gate width of each MOSFET, preparative La Njisu motor M 3 2, M 4 2, M 7 2, M 8 2, M 7 1, M 8 1 and preparative La Njisu motor M 5 2, M 6 2 1: Set to B.
  • Module 330 At the same time three-electrode system 1 4 0 a to the signal current I s force S flows when in the module 3 3 signal current I s 2 force to 3 electrode system 1 4 0 b in 0 S, module 3 3 0 In its for two to 3 electrode system 1 4 0 c Ba click graph window down de current IB G pixel Re respective flows. Doo-out of this, mosquitoes Ren door Mi, which is formed in the capital La Njisu data M 3 2, M 4 2 and the capital La Njisu data M 7 1, door to La M 8 1 rabbi Njisu data M 7 2, M 8 2 Module 330 depending on the effect of the error. , The back ground current IBG flows from the transistor M81, and the current-voltage conversion circuit b. Has the current I BG —
  • nucleic current I S 1 forces et al., Motor-di-menu le 3 3 0 2 at by subtracting the detected bar click grayed La window down de current I B e and outputs, the module 3 3 0 e, 3 from nucleic current I s 2 of electrode system 1 4 0 B, subtracts the Roh click graph window down de current I B e detected by the Modulation Lumpur 3 3 0 2 Output. Then, the current-to-voltage conversion circuit b provided in the subsequent stage. Perform current-voltage conversion in steps b and b.
  • FIGS. 34 to 37 show the current-voltage conversion circuit b.
  • FIGS. 34 and 35 are suitable when the amplification factor B in FIG. 33 is 1, that is, when current amplification is not required.
  • FIG. 34 is a diagram showing an example of the current-voltage conversion circuit.
  • the current-voltage conversion circuit 340 shown in FIG. 34 is a current-voltage conversion circuit. It applies to ⁇ 13 2.
  • the inverting input terminal and the output terminal of the operational amplifier 33 1 are short-circuited by the resistor 34 1.
  • Voltage V at the output terminal of the operational amplifier 331. UT is proportional to the input current I N.
  • Current-voltage conversion circuit b. In the example of the operational amplifier 3 3 1.
  • u T i is the input current I s 2 - a value proportional to I B CJ.
  • is a value proportional to I BG,.
  • FIG. 35 is a diagram showing another example of the current-voltage conversion circuit.
  • the current-voltage conversion circuit 350 shown in FIG. 35 is a current-voltage conversion circuit b. It is applied to the ⁇ b 2.
  • the inverting input terminal of the operational amplifier 331 is provided with a switch capacitor composed of a switch 3443 and a capacitor 3442.
  • the switch capacitor With the switch capacitor, the charge flowing into the capacitor 342 from the previous stage is stored while the switch 343 is open, and the charge is released by closing the switch 343. This is what happens.
  • the principle of the current-voltage conversion using the above-mentioned switch capacitor is the same as the operation principle of the switch capacitor in FIG. 13 described above, and therefore the description is omitted.
  • the voltage V OUT at the output terminal of the operational amplifier 331 is proportional to the input current I ] N.
  • the current-to-voltage conversion circuit b to which the current-to-voltage conversion circuit 350 shown in FIG. 35 is applied. In the example of the operational amplifier 3 3 1.
  • the output voltage V OUT 1 of the output terminal of the operational amplifier 3 3 1 1 becomes the input current I S 2 —
  • the value is proportional to IBG.
  • the output voltage V OUT 2 at the output terminal of 3 3 1 2 is the input current BI
  • FIG. 36 and FIG. 37 are diagrams showing still another example of the current-voltage conversion circuit.
  • the current-voltage conversion circuit 360 shown in FIG. a current amplifier is provided.
  • the current-voltage conversion circuit 360 in FIG. 36 is the current-voltage conversion circuit b. And it is applied to a current-voltage conversion circuit 3 7 0 3 7 is applied to the current-voltage conversion circuit b 2. Note that the structure to which the circuitry shown in FIG. 3 7 to a current-voltage conversion circuit b 2, the need to provide an operational amplifier rather name operational amplifier 3 3 1 2 and circuit 3 3 2 2 force, Ranaru Figure 3 3 It made rather than the structure of the current-voltage conversion circuit b 2 of.
  • the current amplification function in Fig. 36 is realized by a positive / negative current mirror consisting of the transistors M1 to M6 in Fig. 36. The principle of the current amplification is shown in Fig. 13.
  • the gate of the transistor M7 is connected to the current extracting side of the current mirror for positive and negative currents via the switch SWi.
  • the source of this transistor M7 is connected to the drain of the N-type MOSFET IVI8 in the depletion mode and to the selector 1336.
  • the source of transistor M8 is connected to the gate. This is one of the circuit configurations called source followers. Of course, the source form composed by another method You may use a knocker such as a keynote or a note follower.
  • sweep rate Tutsi SW 2 and capacitor C et consisting sweep rate pitch Bok capacitor is provided between the current up out Shi side of mosquitoes Ren preparative mirror for positive and negative current Bok run-Soo motor M 7, the sweep rate pitch Bok calibration Pashita Ri by the force Ren door to the capacitor C with open Sui Tutsi s W 2, to accumulate the charge flowing through the error, vinegar I pitch S
  • This charge can be released by closing W 2 .
  • the method of controlling the opening and closing of the switches SW i and SW 2 and the current / voltage conversion operation by the method are the same as those described in FIG.
  • the area of the electrode is small.
  • a three-electrode system that detects the laser level.
  • the signal of is also output.
  • a current-to-voltage conversion circuit is arranged downstream of the subtraction circuit. This makes it possible to measure only the signal components that tend to be proportional to the pole area using the current-to-voltage conversion circuit and the entire dynamic range of the AZD converter.
  • the knock ground and the current are subtracted from the current-to-voltage converter.
  • the influence of the background current being relatively reduced as compared to the measurement flow, which is proportional to the electrode tsa product. Mismatch of values can be reduced and high / high quantitative analysis can be performed.
  • This embodiment relates to an improvement of the first embodiment.
  • the present embodiment relates to another configuration of the module including the current amplifier circuit.
  • the present embodiment relates to a simplified configuration of the current width circuit described in the first and second embodiments.
  • the current is peaked.
  • the transistor fixed to the fixed return circuit and the one-piece operation were actually implemented by using the transistor as a separate function block.
  • Sensor electrode power The transistors fixed inside the feedback circuit that fixes the current to the reference position are denoted by M 1 and M 2, and the transistors for the current copy are M 4 M 6 pairs and ⁇ 3 M 5 pairs. Is
  • FIG. 38 shows an example of the configuration of a module provided with the current amplification circuit according to the present embodiment.
  • FIG. 38 shows a module 380 in FIG. Are NM o S transistor M 1 and
  • the working electrode of the three-pole system 140 is connected to the drain of the transistor M 1 and the inverting input terminal of the operational amplifier 15 1.
  • the non-inverting input terminal of the operational amplifier 15 1 is grounded.
  • the source of the transistor M 1 is connected to the positive power supply of + V s, and the
  • the source of the transistor M 2 connected to the negative power supply of V s is connected to the positive power supply of + V s, and the transistor M 1 is connected to the negative power supply of 1 V s And the current width ratio of M 2 is 1:
  • Operational amplifier connected to the inverting input terminal of transistor width 3 8 1 and the input and output terminals of transistor 3 Is connected to the gate of transistor 3 and the gate of transistor PM4. ⁇ ⁇
  • the pod of the MOS transistor M4 is connected to the positive power supply + Vs.
  • Source is connected to a 1 V s negative power supply and the
  • the current amplification factor achieved by the transistors ⁇ 3 and ⁇ 4 connected to the voltage conversion circuit 382 is 1:10.
  • the current-to-voltage conversion circuit 3 8 2 is an operational amplifier 3 3 1
  • the polarity of the input current is limited to either a single polarity of the oxidation current or the reverse current, and the polarity of the input current is limited to the electrochemical reaction of the intercalating agent. If the polarity of the resulting current is known in advance, this circuit configuration can be used to reduce the offset current caused by the switching of the ⁇ ⁇ OS transistor and ⁇ MOS transistor. It is possible to prevent flowing
  • ammeter similar to that shown in FIG. 5 may be used for the sil voltage conversion circuit 382, but it is desirable that the input node of the silo voltage conversion circuit 382 performs virtual grounding realized by the operational amplifier 331.
  • the input node of the silo voltage conversion circuit 382 performs virtual grounding realized by the operational amplifier 331.
  • the current I i flowing through the transistor # 1 is amplified by a factor of 10 and the current I I flows through the transistor # 2. Also, the current flowing through the transistor M2 from the transistor M2 to the transistor # 3 is amplified by a factor of 1101 by the pair of the transistors # 3 and # 4, and the current is applied to the transistor # 4. As described above, by using the current amplifying circuit of the present embodiment, it is possible to prevent the flow of the offset current caused by the smear between the PMOS transistor and the NMOS transistor. Can
  • This embodiment relates to an improvement of the first embodiment.
  • This embodiment relates to an embodiment in which the current is normalized by using the current amplifier circuit shown in the third embodiment.
  • FIG. 39 is a diagram illustrating an example of a circuit configuration of the module according to the present embodiment.
  • Sensor area the ⁇ That area of the working electrode is the same 3-electrode system 1 4 O a, 1 4 0 b, 1 4 0 modular Yu Lumpur 3 9 0 with e. , SSC ⁇ -, 3 9 0 2 of the signal output the back Lek data
  • Module 3 9 0 2 is module 3 9
  • Mojiyunore 3 9 0 2 configurations are common with Mojiyunore 3 8 0 3 8, the operation is the same. The difference is that the current amplification factor realized by the transistors M10 and M20 is 1: B, and the current amplification factor of the transistors M30 and M40 is 1: 1. It is a point.
  • Module 390 In three working electrode of the electrode system 1 4 0 a is an operational amplifier 1 5 1. Connected to the drain of NMOS transistor Ml1. Operational amplifier 1 5 1. of The non-inverting input terminal is grounded.
  • the source of transistor Ml 1 is connected to a positive power supply of + V s, and the body is connected to a negative power supply of 1 V s.
  • the source of transistor ⁇ '/ ⁇ 21 is connected to the positive power supply of + V s, and the body is connected to the negative power supply of 1 V s.
  • the drain of transistor ⁇ 21 is operational amplifier 331.
  • the inverting input terminal of the circuit 3 3 2. Is connected to the drain of transistor # 31.
  • the source of transistor ⁇ 31 is connected to a negative power supply of 1 V s, and the body is connected to a positive power supply of + V s.
  • gate of preparative La Njisu motor M 3 1 is connected to the output terminal of the bus click graph window down de electrostatic diversion of the module 3 9 0 2 operational amplifier 3 8 1. This ensures that the current BI BG amplified to B times in the module 3 9 0 2 is output Ri preparative preparative La Njisu motor M 3 1.
  • the working electrode of the three-electrode system 140b is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 151 and the drain of the NMOS transistor M12.
  • the non-inverting input terminal of operational amplifier 15 is grounded.
  • the source of transistor M12 is connected to a positive power supply of + V s, and the body is connected to a negative power supply of 1 V s.
  • the source of the transistor M22 is connected to a positive power supply of + V s, and the body is connected to a negative power supply of 1 V S.
  • the drain of the transistor M22 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 331, the circuit 3332, and the drain of the transistor M32.
  • the source of transistor M32 is connected to a negative supply of 1 Vs, and the body is connected to a positive supply of + Vs.
  • gate of preparative La Njisuta M 3 2 is connected to the output terminal of the bus click graph window down de electrostatic diversion module 3 9 0 2 of the operational amplifier 3 8 1. This ensures that the output Ri preparative module 3 9 0 2 current is amplified to B times the BIB G minable La Njisu motor M 3 2.
  • 3 electrode system 1 4 O b current I S 2 that flows through the working electrode is amplified in B times by preparative La Njisu motor M 2 2 side becomes BI s 2. Therefore, the current flowing into the current-voltage conversion circuit b is B (I s
  • this module is 390. , 3 9 0, 3 9 0 but the second current amplification factor is B times, the Yo I Do Module 3 9 0. ,
  • This embodiment relates to a modification of the first embodiment.
  • This embodiment relates to an embodiment in which normalization according to the electrode area is performed using not only a current mirror but also a capacitance element.
  • FIG. 40 is a diagram showing an example of the configuration of the module according to the present embodiment. 4 0 mode di Interview - le 4 0 0 Q ⁇ 4 0 0 2 is 1
  • Table 2 shows a list of each parameter of the module given based on the method of determining these parameters.
  • the quantitative analysis of the nucleic acid concentration over a wide dynamic range can be performed. It becomes possible.
  • This embodiment relates to an improvement of the first embodiment.
  • the present embodiment relates to a configuration of a circuit that performs phase compensation of the circuit.
  • FIG. 41 shows an example of the configuration of the module 410 according to the present embodiment.
  • FIG. Configuration of the module 4 1 0 is substantially common with construction of modular Yule 3 3 0 2 3 3, reference numeral common to the configuration of the common, detailed description thereof will be omitted.
  • the large-capacity element required to perform phase compensation in a chemical analyzer using an integrated circuit is realized by a double-layer element generated in a solvent that actually performs gas decomposition.
  • the two metal layers 424 are used as electrodes, and are immersed in the solution for which the electrochemical measurement is actually performed.
  • the metal layer 424 is connected via the contact plug 423. Connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 151, and the metal layer 424 is connected to the output terminal of the operational amplifier 151 via another contact plug 423.
  • This embodiment relates to an improvement of the first embodiment.
  • This embodiment relates to an embodiment in which the range of measurable concentration of each electrode that differs depending on the electrode area is overlapped, and the analysis is optimized.
  • the minimum nucleic acid concentration that gives the condition for the nucleic acid detection sensor to output a signal at the saturation level is defined as the upper end of the range in which the sensor can measure, and the condition for outputting the signal at the packed ground level is also given;
  • the maximum nucleic acid concentration is defined as the lower end of the range where the sensor can measure.
  • the number of probes on the sensor surface of N i is N i, and the dyna
  • FIG. 43 is a diagram for explaining this overlap factor ⁇ .
  • the overlap factor ⁇ is desirably set to ⁇ ⁇ 0.85.
  • the dynamic range overwrap will be reduced. Conversely, if the change in area is too small, the dynamic range overlap will be too large, and many sensors will be required to increase the dynamic range of the entire sensor series. Therefore, the conditions of the area ratios shown here indicate the appropriate conditions for the trade-off of the equipment.
  • the dynamic range depending on each electrode area is made to overlap, thereby enabling an optimal quantitative analysis without measurement omission.
  • This embodiment relates to an improvement of the first embodiment.
  • This embodiment relates to an embodiment having a more detailed device configuration for quantitative analysis.
  • electrodes having different areas are mounted on the same substrate in order to quantitatively analyze the concentration of nucleic acid.
  • the target nucleic acid solution supplied to these electrodes is made of a wall or a wall to prevent diffusion between electrodes having different areas. It is desirable to be separated by vesicles. Furthermore, it is preferable that the volume of the separated solution is constant irrespective of the pole iti product, and the number of electrodes immersed in the separated solution is also constant irrespective of the pole area. .
  • the configuration of the apparatus in this manner is the gist of the present embodiment. This allows a smaller electrode to increase the absolute number of target nucleic acids with respect to the number of probes, increasing the sensitivity, but providing a sufficiently long reaction time. There is a need.
  • FIG. 44 is a diagram showing a cross section of a main part of a nucleic acid concentration quantitative analysis chip prepared based on the principle of the measuring device according to the present embodiment.
  • a plurality of electrodes (working electrodes) 4 4 2 a to 4 4 2 e and surfaces of these electrodes 4 4 2 a 4 4 2 e are placed on a single substrate 4 4 1.
  • a cell is formed by the combination of the electrode and the insulating film on which the hydrophobic suction films 4443a to 4443e are selectively exposed while leaving a part thereof.
  • the formed passivation film 4 ⁇ 3 a 4 4 3 e is the electrode 4 4 2 a ⁇ 4 4
  • the number of S3 ⁇ 4i poles immersed in 4444a to 4444e is also constant regardless of the electrode area.
  • FIG. 45 is a schematic diagram for explaining another implementation.
  • a substrate 450 is provided with vesicles 451a to 451h / HX of the same volume and separated from each other.
  • These vesicles 451 a to 451 h are connected to one target nucleic acid inlet 452 by flow channel 453, respectively.
  • 51 c and 45 1 h are shown enlarged.
  • Vesicles 4 5 1 h have a large area and multiple electrodes 4 5 3 h with the same area
  • nucleic acid concentration range for detection in a nucleic acid detection method using a nucleic acid probe immobilized on a substrate surface and performing hybridization with the nucleic acid to be detected is described below.
  • nucleic acid concentration range can be rephrased as the range of the number of nucleic acid molecules contained in a solution used for detection when the solution is a fixed amount. In the present embodiment, the nucleic acid concentration range is considered based on the number of nucleic acid molecules.
  • Fig. 46 is a diagram for explaining the nucleic acid concentration range of the nucleic acid of interest for detection, which can be detected.
  • the upper part shows the nucleic acid concentration, that is, the nucleic acid contained in a fixed volume of solution. The relationship between the number of molecules and the normalized signal normalized to a signal per unit area is shown.
  • the middle section schematically shows the reaction between the probe nucleic acid 462 immobilized on the electrode 461 and the target nucleic acid 463 at the large-area electrode 461.
  • the probe nucleic acid 46 2 and the target nucleic acid 46 6 immobilized on this electrode 466 at a small area electrode 466 are shown.
  • the upper graph 464 schematically showing the reaction with 3 shows the relationship between the target nucleic acid concentration and the normalized signal amount obtained at the middle large-area electrode 461.
  • the graph 465 shows the relationship between the concentration of the target nucleic acid applied to the small-sized electrode 466 in the lower stage and the normalized signal amount obtained.
  • the upper limit of the number of possible nucleic acid molecules is determined by the number of molecules of the nucleic acid probe immobilized in the nucleic acid probe immobilization region.
  • the state in which the nucleic acid probe has hybridized with the target nucleic acid molecule indicates the upper limit of quantification.
  • the number of nucleic acid probe molecules is determined by the area of the nucleic acid probe-immobilized region and the nucleic acid probe immobilization density.
  • the immobilization density can be set by a number of factors, but the probe concentration that can contribute to the hybrid V Normally set so that the number of children is ft larger. Densities too high or too low are undesirable.
  • the immobilization density of the nucleic acid probe is set to a certain value
  • the number of immobilized nucleic acid probes is determined by the area of the immobilized region of the nucleic acid probe. That is, the upper limit of the quantifiable nucleic acid concentration range is determined by the area of the nucleic acid probe fixed region.
  • the lower limit of the nucleic acid concentration range depends on the variation of the detection signal and the background signal, but it is 1/1/10, 1/1 It can usually be defined as something like 00, 1/1 000.
  • the range of the quantifiable nucleic acid concentration is proportional to the area of the nucleic acid probe-immobilized region at both the upper and lower limits.
  • Figure 47 shows the graph shown in the upper part of Figure 46 in more detail. It was a failure.
  • Graph 471 in FIG. 47 shows the range from the noise level 472 to the saturation level 473. ⁇
  • Graph 471 is saturated with the saturation level 473, The signal amount decreases in the quantifiable concentration range.
  • the signal becomes constant again in the range below the quantifiable concentration.
  • FIG. 48 is a diagram showing an example of a graph in which the area of the nucleic acid probe-immobilized region is changed. O Graphs 48 1 to
  • Both the upper and lower limits of the quantifiable nucleic acid concentration range are proportional to the area of the nucleic acid probe immobilization region. Utilizing this property, a device having a small-area nucleic acid probe-immobilized region is used. This reduces the quantifiable nucleic acid concentration, for example, reducing the area by two orders of magnitude reduces the concentration range by two orders of magnitude, and decreasing the area by four orders of magnitude reduces the concentration range by four orders of magnitude. Can be realized.
  • the lower limit of the quantifiable nucleic acid concentration range is 1/100 of the upper limit concentration. That is, it is assumed that the quantifiable nucleic acid concentration range is two digits.
  • the range of nucleic acid concentration that can be quantified is proportional to the area of the nucleic acid probe-immobilized region at both the upper and lower limits, if the area of the nucleic acid probe-immobilized region is reduced by two orders of magnitude, the quantifiable nucleic acid concentration The range is also reduced by two digits. Conversely, when the area increases by two digits, the concentration range also increases by two digits.
  • FIG. 49 and FIG. 50 are schematic diagrams of a configuration for widening the nucleic acid concentration range.
  • nucleic acid probe-immobilized regions 492a to 4992d having different areas are formed.
  • the area of each of the nucleic acid probe-immobilized regions 492-2a-492d varies continuously by two digits.
  • the nucleic acid probe-immobilized region is defined by electrodes for immobilizing the nucleic acid probe.
  • each of the nucleic acid probe-immobilized regions 492 a to 492 d is placed at a predetermined height from the substrate 491.
  • a sample holding frame 493 is arranged so as to be surrounded by a square. This sample holding frame 493 has a cell region 4
  • each of the nucleic acid probe-immobilized regions 4994a to 4994d each of which has a continuously different area of two digits at a time.
  • a device capable of reacting with the contained sample is formed. This allows quantification in a certain concentration range. Even when it is desired to quantify the sample of unknown concentration, it is necessary to conform to any one of the nucleic acid probe-immobilized region 4994a4994d and the quantifiable nucleic acid concentration range.
  • Fig. 78 A to 78 show another configuration for realizing quantitative analysis of nucleic acid concentration.
  • An elongated sample holding frame 783 is formed so as to surround the nucleic acid probe immobilizing region 782.
  • the sample holding frame 783 divides the region on the substrate into a plurality.
  • a plurality of cell regions having the same area and the same height, that is, the same volume, are connected to each other in a narrow region by connecting adjacent ones of the divided and partitioned regions with a narrow region.
  • Fig. 79 shows the upper surface of these cell areas 784a to 784f covered with sample holding frame lid 786.
  • the sample holding frame lid 786 functions as a lid for covering the upper surface of the sensor by being supported and fixed on the sample holding frame 783.
  • a sample inlet 791a and a sample outlet 791f are provided corresponding to the senor regions 784a and 784f at both ends.
  • a device is formed in which the nucleic acid probe-immobilized regions 782 having a concentration region sufficiently lower than the concentration of the target nucleic acid to be quantified as the nucleic acid concentration range that can be quantified are arranged.o 0 Then , as shown in FIG. 78A to FIG. 78D in sequence, a sample solution 785 containing the target nucleic acid is first injected from the sample injection P 791a, and the cell region is 784a, 784b, 784c, 784d
  • the movement of 8 5 is performed by, for example, injecting a sample using a pump or the like.
  • the movement of the solution in the cell is the same.
  • the target nucleic acid molecule undergoes a hybridization reaction and binds to the nucleic acid probe immobilized in the nucleic acid protocol immobilized region 782.
  • the nucleic acid probe-immobilized region 782 formed on the substrate 781 has a sufficiently low nucleic acid concentration range that can be measured in the sample solution 785 because the target nucleic acid concentration range is sufficiently low.
  • the number of nucleic acid molecules is determined by the immobilized nucleic acid probe.
  • the number of target nucleic acid molecules in the solution decreases by the number of hybridized molecules.
  • a similar phenomenon occurs in the second and subsequent nucleic acid probe-immobilized regions, and the number of target nucleic acid molecules in the solution gradually decreases.
  • a gradual decrease in the number of target nucleic acid molecules in the solution indicates a decrease in the concentration of the target nucleic acid in the sample solution.
  • a decrease in the concentration of the target nucleic acid in the sample solution indicates that the concentration of the formed nucleic acid probe immobilization region will eventually reach the range of the quantifiable nucleic acid concentration.
  • detection is performed.Firstly, the cell region in which the nucleic acid probe-immobilized regions 782 have been formed is counted. Quantitation can be performed by analyzing whether the signal has changed in the region.
  • the treated sample solution 785 can be discharged from the sample outlet 791 f.
  • FIGS. 80A to 8OD and FIG. 81 are diagrams showing examples of chip configurations used when it is not completely clear which concentration region the target nucleic acid concentration is.
  • FIGS. 80A to 8OD show a top view with the sample holding frame lid 786 removed
  • FIG. 81 shows a top view with the sample holding frame lid 786 attached.
  • the same components as those in FIGS. 78 to 780 and FIG. 79 are denoted by the same reference numerals, and detailed description is omitted.
  • the difference from FIGS. 78A to 78D and FIG. 79 is the configuration of the nucleic acid probe-immobilized regions 782b to 782e. In the examples of FIGS. 78A to 78D and FIG.
  • the nucleic acid probe-immobilized regions 782 have the same area.
  • the cell region 784b has immobilized nucleic acid probe regions of the same area. Region 7 8 2b is formed. Then, a plurality of nucleic acid probe-immobilized regions 782c having a larger area than the nucleic acid probe-immobilized region 782b and the same area are formed in the cell region 7884c.
  • nucleic acid probe-immobilized region 780 2d having a larger area than the nucleic acid probe-immobilized region 782c is formed in the cell region 7884d.
  • a plurality of nucleic acid probe-immobilized regions 782 e having a larger area than the nucleic acid probe-immobilized region 782 d and having the same area are formed in the cell region 784 e. In this way, nucleic acid probe immobilization regions with different areas are arranged for each senor
  • the target nucleic acid in the sample solution 785 and the nucleic acid probe undergo a hybridization reaction.
  • the hybridization reaction is performed in order from the smaller region of the nucleic acid probe-immobilized region to the larger region.
  • the concentration of the target nucleic acid in the sample solution 785 decreases little. As the area increases, the decrease in target nucleic acid concentration increases. Using this, quantification over a wider range is possible, though more broadly, than in the previous method.
  • Fig. 74, Fig. 75A, 75B, Fig. 76A, 76B 7 4 is a diagram showing an example of the chip configuration of the sample holding frame.
  • sample solution is changed. This enables quantitative analysis.
  • a nucleic acid immobilized region is formed in a matrix shape on a substrate 741, and the plurality of nucleic acid immobilized regions 742 are formed on the substrate 741. That is, for example, a sample holding frame 743 is formed so as to surround the circumference every six pieces. Multiple areas surrounded by the sample holding frame 7 4 3
  • the number of the nucleic acid probe-immobilized regions 742 contained in 744e is the same (six in FIGS. 75A and 75B). Cell area 7 4
  • the areas and volumes of 4a to 744e are different from each other, i.e., the cell area 744a force S is the smallest volume, and 4b, 74b
  • the volume becomes smaller as 4c, 7444d, and 7444e.
  • Each of these cell regions 744a to 744e is filled with the sample solution, and thus the sample solution volume changes depending on the volume of the sensor. If the amount of the sample solution is small, the number of nucleic acid molecules contained in the solution is small. Larger amount of sample solution, more nucleic acid molecules Substrate 7
  • the area of the nucleic acid probe-immobilized region 7 42 formed on 41 indicates the range of the number of detectable nucleic acid molecules. Therefore, it is possible to calculate the concentration of the target nucleic acid from the amount of the sample solution used for the reaction in the nucleic acid probe-immobilized region 742 in which the amount of the detected signal has changed.
  • FIG. 74, 75A ⁇ 75B, FIGS. 76A and 76B The quantitative analysis method using the chips of FIGS. 74, 75A ⁇ 75B, FIGS. 76A and 76B can be used in combination with the above-described methods. That is, the method of changing the cell volume is shown in FIG.
  • the method of changing the area of the probe immobilization region shown in FIGS. 9 and 50 or the method of moving the solution shown in FIGS. 78A to 78D can be used in combination.
  • the nucleic acid probe-immobilized region 772 a to 772 g is placed on the plate 770 1 by six HXs. Of the nucleic acid probe immobilization region 772 a to 772 g, a sample holding frame 773 surrounding the same area was formed, and the cell region 774 a
  • the cell region 774a to 774d has the same cell volume as the chip example shown in Fig. 50, but the nucleic acid probe immobilization region ⁇ 72a ⁇ s 772 b, 772 c, and 772 d become smaller in order. Meanwhile, until the cell region 7 7 4 d ⁇ 7 7 4 g, Fig 7 5 A, 7
  • the area of 7 2 e to 7 72 g is the same, its cross-sectional area and body force s are different. That is, the cell area 774 d has the smallest senor sectional area and volume, and the cell areas 774 e, 774 f, and 7 7
  • the probe-immobilized regions 772 a to 772 d are arranged in ascending order of large area, and the area is reduced to the smallest possible area.
  • the volume of the snore ie, the amount of the sample solution
  • the cell cross-sectional area and volume, i.e., sample solution, of the probe immobilization region 772 e to 772 g that has the same area as the probe immobilization region 772 d with the smallest area formed Gradually increase the volume.
  • the liquid volume must be increased, and the device size is large. U. Therefore, a similar method involving drying of the solution may be considered. Instead of gradually increasing the volume of the solution, repeat the steps of drying the initially injected solution and injecting the solution again. As a result, concentration of the target nucleic acid occurs, and the number of nucleic acid molecules in the liquid increases. A plurality of areas with one area for immobilizing the probe were formed. The number of repetitions of the injection is changed stepwise. The concentration of nucleic acid can be calculated from the number of repetitions in the probe immobilization region where the detected signal amount has changed.
  • FIGS. 51 to 53 show chips 5 10 of configuration example 1.
  • a nucleic acid probe-immobilized region 5 12 a 5 d was formed on 11.
  • the nucleic acid probe-immobilized region 5 12 a to 5 12 d is a perfect circle and has a diameter of 5 12 a and a force of S 500 ⁇ m, 5 12 b and a force of 200 ⁇ m and 5 1 2 c Force S 100 ⁇ m, 5 12 d Force S has four types of areas, each of which is formed by six. Nucleic acid probes having six different sequences can be immobilized on each area. Therefore, it is possible to quantitatively detect a sample in which target nucleic acids of six different sequences are mixed.
  • a sample holding frame 5 13 for holding the sample solution is formed on the substrate.
  • the sample holding frame 5 13 divides each of the nucleic acid probe-immobilized regions 5 12 a to 5 12 d into areas, and defines cell regions 5 14 a to 5 14 d. Further, a sample holding frame lid 515 is formed on the sample holding frame 513. In the sample holding frame lid 515, a target nucleic acid sample injection population 516a to 516d and a sample outlet 516e to 516h are formed.
  • FIGS. 54 to 63C show modified examples of the configurations of FIGS. 51 to 53. The same components as those of FIGS. 51 to 53 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
  • FIGS. 54 to 56 show examples of the configuration of a chip 550 in which nucleic acid probe-immobilized regions 5122a to 512d are not arranged in a single line.
  • the immobilization regions 512a are arranged two by two in the vertical and horizontal directions, respectively, and the same applies to the nucleic acid prop immobilization regions 512b to 512d.
  • the sample holding frame lids 5 16 a to 5 16 h are separated from each other on the diagonal line of the cell regions 5 14 a to 5 14 d.
  • FIGS. 57A and 57B and FIGS. 58A and 58B are configuration examples of the chip 570.
  • This is a configuration example in which a sample holding frame portion 581 is formed on the substrate 511 itself.
  • a sample holding groove 582 is provided by the sample holding frame portion 581, and defines cell areas 514a to 514d.
  • Other configurations are the same as in FIGS. 51 to 53.
  • FIGS. 59A and 59B and FIGS. 60A and 60B are configuration examples of a chip 590 in which a sample holding frame and a sample holding frame lid are integrated.
  • the sample holding frame 591 shown in FIG. 60B, holds the sample and functions as a lid of the frame for holding the sample.
  • Other configurations are the same as in FIGS. 51 to 53 o
  • Figures 61A to 61C, 62A to 62C, and Figures 63A to 63C are modifications of the sample holding frame lid.
  • FIGS. 61A and 61B show examples using the same sample holding frame 591 as in FIGS. 59 and 1_).
  • Sample holding frame 5 In 91 the side wall of the cell region 5114a5114d is formed perpendicular to the substrate 511 and is formed horizontally on the top surface S substrate 511.
  • the cross section may be semicircular as shown in Fig. 61C.
  • FIGS. 62A62C the sample holding frame 62 1 separates the nucleic acid probe immobilized region in each senor region.
  • FIG. 63A 63C is obtained.
  • a sample holding frame 622 having a semicircular cross section delimits the nucleic acid probe-immobilized region in each senor region.
  • FIGS. 54 to 63C are further applicable to the configurations of FIGS. 64 and 82 below.
  • FIGS. 64 to 66 show further modified examples of the chip.
  • Fig. 6 4 The basic configuration of tip 64 shown in Fig. 66 is shown in Figs.
  • the same components as those shown in FIG. 0 are denoted by the same reference numerals, and the detailed description is omitted.
  • the chip 64 in FIG. 64 the nucleic acid probe-immobilized region 49 shown in FIG. 49 and FIG. 50 is used.
  • a plurality (6 in the figure) is provided for each of the 2a4992d, and the nucleic acid probe-immobilized region 4992a4992d is separated by a sample holding frame 641 one by one.
  • a sample holding frame lid 642 is placed on this sample holding frame 641. Is placed.
  • the force S 494 a to 494 d is set for each of the nucleic acid probe-immobilized regions 49 2 a to 49 2 d. It can be used when there are many types of test solution samples and they are not mixed.
  • Fig. 67 to Fig. 69 are further modified examples of the chip.
  • the basic configuration of the chip 670 shown in FIGS. 67 to 69 is the same as the configuration shown in FIGS. 64 to 66, and the same components are denoted by the same reference numerals and detailed description is omitted. I do.
  • the nucleic acid probe-immobilized regions 492a to 492d are provided close to each other with the same area.
  • a meandering groove is formed in the sample holding frame 671.
  • the sample holding frame lid 674 provided in 71 defines a meandering single elongated and single cell region 673. At the positions corresponding to both ends of the senor region 673 of the sample holding frame lid 674, the sample inlet 672a and the sample outlet 6
  • the sample is distributed to all the nucleic acid probe-immobilized regions 492-2a to 4992d by a single sample injection.
  • FIGS. 70A to 70D are modifications of FIGS. 67 to 69.
  • 0A is the same top view as FIG. Figure 70B and 7 show the improvement of the bent part of the chip area 700 in the chip 700.
  • the cell regions 70 1 a and 70 1 b shown in 0 C are defined by the sample holding frames 70 2 a and 70 2 b. These senor areas 7 0 In 1a and 700b, the meandering flow path does not have a constant cross-sectional area. The cross-sectional areas of the cell regions 700a and 700b decrease in the meandering portion. That is, the flow path becomes narrower
  • the sample holding region is partitioned by the area of the nucleic acid probe-immobilized regions 492a to 492d. Then, the separated cell regions are connected to each other by a thin channel.
  • FIGS. 70B and C show the cell areas 70 1a and 7
  • the same sample holding frame 671 as in FIG. 68 may be used, and the flow path restricting member 704 may be arranged at the breakpoint to partially restrict the flow of the fluid. .
  • the chip 7 10 in FIGS. 71 to 73 is a further modified example.
  • the configuration is similar to that of FIGS. 80A to 80D and FIG. 81 described above, and common components are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted. The difference is that the sample exits from the sample inlet 791 side.
  • FIGS. 74, 75 A, 75 B, 76 A, and 76 B show the chip 740 of the configuration example 2.
  • the basic configuration has been described above and will not be described.
  • the cross-sectional areas of the cell regions 744a to 744e formed by the substrate 741, the sample holding frame 743, and the sample holding frame footer 745 are different from each other.
  • all the nucleic acid probe-immobilized regions 742 are in the shape of a perfect circle with a diameter of 50 ⁇ m.
  • Sectional area of the cell region 7 4 4 a ⁇ 7 4 4 e is 0.
  • the cross-sectional area of the cell region 744 a 74 4 e may be defined by one or both of the base force, the height, the width, or both. This cross-sectional area is, for example, in the example of FIG. 76B, the substrate 741, the sample holding frame 743, and the sample holding frame lid 7
  • Figures 77A to 77C show the configuration of chip 51 in Figures 51 to 53 and the configuration of chip 74 in Figures 74, 75A, 75B, and 76A 776B.
  • the basic configuration of Figs. 77A to 77C is omitted because it has been described above.
  • nucleic acid probe-immobilized region 772 a772 g As the area of the nucleic acid probe-immobilized region 772 a772 g is smaller, a region having a lower nucleic acid concentration is a detectable range as the area is smaller. Furthermore, the larger the amount of sample per area of the nucleic acid probe-immobilized region 7772a to 7772g, the lower the nucleic acid concentration and the range of the detectable range. By combining these, it is possible to analyze nucleic acids over a wider range with a small amount of sample.
  • Configuration example 3 a chip configuration example in the case of performing nucleic acid quantitative analysis using a device having a cell region in which a sample solution can be moved between nucleic acid probe-immobilized regions is shown.
  • FIGS. 78A to 78D and FIG. 79 are diagrams illustrating an example of the chip 780 of the third configuration example.
  • the basic configuration has been described above and will not be described.
  • this chip 780 all the nucleic acid probe-immobilized regions 782 are formed as perfect circles with a diameter of 20 m.
  • the sample solution is moved to the cell area 784 a and the cell area 784 b after a sufficient time for the nucleic acid probe and the target nucleic acid to undergo the hybridization reaction. Move to Move the sample sequentially and pass it through all the probe immobilization areas 782.
  • FIGS. 82 to 85 functional blocks such as sensors, normalization, subtraction, current / voltage conversion, and A / D conversion are arranged as shown in FIGS. 82 to 85 below. It is stopped.
  • Fig. 8 2 For simplicity of explanation, two sensors 8 2 2 8 2 3 with different electrode areas for measuring the ground current are different from the electrode areas for measuring the back ground current.
  • FIG. 82 is a diagram functionally showing the configuration shown in FIGS. 14 and 19 of the first embodiment. As shown in Figure 82, the nucleic acid detection sensor section 821, the background and level detection sensor section 82
  • the nucleic acid detection sensor section 821 with 4 has a sensor 822 having an electrode area A and an electrode area A. ( ⁇ 1) sensor 8 23 is provided.
  • the solid ground level detection sensor section 824 has a sensor 825 having an electrode area A and an electrode area HI. Equipped with 8 sensors
  • a normalizing unit 827 is arranged on the output side of the nucleic acid detection sensor unit 821.
  • the normalizing section 827 includes current width sections 828 and 829.
  • the current amplifying section 8 2 8 outputs the output current of the sensor 8 2 2
  • the current width section 8 2 9 which amplifies by 1 times and outputs it to the subtraction section 8 3 3 amplifies the output current of the sensor 8 2 3 by 1 / a times, and
  • a normalizer 830 is arranged on the output side of the back ground detector / detector 824.
  • the normalizing unit 8330 includes a current amplifier 831 and 832.
  • the current amplifier 8 3 1 is connected to the sensor
  • the output current from 8 25 is multiplied by 1 and output to the subtraction section 8 33.
  • the current amplifying section 832 receives the output current from the sensor 826. l Amplify by Za times and output to subtraction section 833.
  • the subtractor 833 subtracts the output current of the current amplifier 831 from the output current of the current amplifier 828 and outputs the result to the current-voltage converter 8334. Further, the subtraction unit 833 subtracts the output current of the current amplification unit 832 from the output current of the current amplification unit 829 and outputs the result to the current-voltage conversion unit 8334.
  • the current-to-voltage converter 834 includes two current-to-voltage converters 835 and 826.
  • the current-voltage converter 8 35 has an electrode area A.
  • the power calculated for the sensors 822 and 825 is converted to voltage and output to the selector 1336.
  • the current-voltage converter 836 has an electrode area A. Subtract output current to sensors 8 23 and 8 26 of this converter and convert the current to output to selector 13 36
  • the functions of the selector 1336 and the AZD connector 1337 are the same as those shown in the above embodiments.
  • FIG. 83 is a functional block diagram corresponding to the embodiment in which FIG. 36 is applied to FIG. 33.
  • the same reference numerals are given to the same components as those in FIG. 82, and the detailed description will be omitted.
  • Fig. 8 3 3 Sensor 8 2
  • the output it stream of 2, 8, 23, 825, 826 is output to the subtraction section 833.
  • the subtraction section 833 subtracts the output current of the sensor 8222 from the output current of the sensor 8225 and outputs the result to the current / width section 8842 of the normalization section 841.
  • the subtractor 833 subtracts the output current of the sensor 826 from the output current of the sensor 823, and
  • the current amplifying unit 842 amplifies the subtracted output current by a factor of 1 and outputs it to the CT voltage converting unit 835. 3 ⁇ 4 ⁇ ⁇ 4 4 4 04002205
  • the current is amplified by lZo; times and output to the current-voltage converter 836.
  • the functions subsequent to the current-voltage converter 8334 are the same as those in Fig.82.
  • FIG. 84 corresponds to an embodiment in which the subtraction is performed in the arithmetic processing unit 113 outside the nucleic acid detection chip 12 in the configuration of the first embodiment.
  • the current-to-voltage converters 852 to 855 convert the voltages of the respective outputs to output to the selector 1336.
  • Each output voltage is output to the arithmetic processing unit 113 outside the nucleic acid detection chip 122 via the selector 136 and the A / D converter 137.
  • Subtraction unit 1 1 3 a in arithmetic processing unit 1 1 3 is ⁇ sensor 8 2
  • the output data of sensor 825 is subtracted from the output data of sensor 2, and the output data of sensor 826 is subtracted from the output data of sensor 823.
  • FIG. 85 is a functional block diagram corresponding to the configurations shown in FIG. 14, FIG. 15, FIG. 16, and FIG. Figure 8 shows the configuration of the nucleic acid detection sensor section 821, the background level detection sensor section 824, the normalization sections 827 and 8330, and the current-voltage conversion section 851. Same as 4 example.
  • the subtraction unit 833 subtracts the output voltage of the current-voltage conversion unit 854 from the output voltage of the current-voltage conversion unit 852 and outputs the result to the selector 1336. Also, the subtraction section 8 33 3 converts the output voltage of the current-voltage conversion section 8 5 3 into a current-voltage conversion section 8 5 5 The output voltage of is subtracted and output to the selector 1336.
  • FIGS. 82 to 85 are merely examples, and the order of each configuration can be variously changed.
  • the nucleic acid concentration can be measured with high accuracy over a wide dynamic range.
  • the present invention is effective in the technical field of a nucleic acid concentration quantitative analysis chip, a nucleic acid concentration quantitative analysis device, and a nucleic acid concentration quantitative analysis method for quantitatively analyzing the concentration of a target nucleic acid contained in a sample. .

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Abstract

標的核酸と相補的な核酸を有する同一の核酸プローブが各々に固定化され、かつ各々が異なるセンサ面積を有する複数の作用極(141)と、作用極(141)で得られた検出信号を各々のセンサ面積について正規化する正規化回路とを備える。

Description

明 細 書
核酸濃度定量分析チップ、 核酸濃度定量分析装置および核 酸濃度定量分析方法
技術分野
本発明は , 検体中に含まれる標的核酸の濃度を定量的に分 析する核酸濃度定量分析チップ、 核酸濃度定量分析装置およ び核酸濃度定量分析方法に関する。
背景技術
従来から、 検体中に標的核酸が含まれるか否かを検出する 核酸検出のための D N Aチ ッ プが存在 していた (特許文献
1 : 特開平 1 0 — 1 4 6 1 8 3 号公報) 。
しかしなが ら、 遺伝子の発現解析を行う 際には , 検体中に 含まれる低濃度の標的核酸の濃度を, 広範囲のダィナミ ック レ ンジで高精度に測定する こ と が必須となるが 前述の D N
Aチップでは、 十分な定 性およびダイナミ ック レ ンジが得 られていた と はいえなかつた。
発明の開示
本発明の 目的は、 核酸濃度を広範囲のダィナ ック レンジ で高精度に測定する核酸濃度定量分析チップ、 核酸濃度定量 分析装置および核酸濃度定量分析方法を提供する こ と にある。
この発明の一の観点によれば 、 標的核酸と相 S的な核酸を 有する核酸プローブが固中化され、 かつ各々 が異なるセンサ 面積 有する複数の核酸センサと、 刖 m核酸センサの第 1 の 検出信号をセ ンサ面積について正規化する第 1 の正規化部と を具備してなる こ と を特徴とする核酸濃度 Λ£直分析チップが 提供される。
また、 本発明の別の観点によれば、 標的核酸と相補的な核 酸を有する核酸プ ブが固定化され、 つ各々 が異なるセ ンサ面積を有する複数の核酸セ ンサと 、 肓 U 5し核酸プ ブが 固定化されず 、 かつ各々が異なる言 U記セ ンサ面積を有る / 、ソ ク グラ ゥ ン ド レベノレセ ンサと In記核酸センサの第 1 の検出 信号をセンサ ¾積につレ、て正規化する第 1 の正規化部と 、 m 記バック グラ クン レベルセ ンサの第 2 の検出信号を 記セ ンサ面積について正規化する笛 2 の正規化部と、 ftu記第 1 の 正規化部の第 1 の出力信号電流を電圧変換する第 1 の電 im ¾ 圧変換部と、 刖記第 2 の正規化部の第 2 の出力信号 流を電 圧変換する第 2 の電流電圧変換部と、 刖記第 1 の電流 圧変 換部の第 1 の出力電圧を A / D変換して第 1 のデジタル丁 タ を生成 し、 刖記 2 の m流電圧変換部の第 2 の出力 圧を
Aノ D変換して第 2 の丁ジタル Tータ を生成する A / D変換 部と、 刖記第 1 のァジタル丁 一タ力 ら第 2 のデジタル了 一タ を減算する減算部と を具備してなる こ と を特徴とする核酸濃 度定量分析装置が提供される
また、 本発明の別の観点によれば、 標的核酸と相補的な核 酸を有する核酸プ 一ブが固定化され、 かつ各々 が異なるセ ンサ面積を有する複数の核酸セ ンサと、 記核酸プ 一プが 固定化されず かつ各々が異なる刖記セ ンサ面積を有するバ ック グラ ゥン レベルセ ンサと 、 IU記核酸センサの第 1 の検 出信号をセンサ面積について正規化する 1 の正規化部と、 刖記ノ ック グラ クン ド、レベルセ ンサの第 2 の検出信号を §己 センサ面積について正規化する第 2 の正規化部と 、 前記第 1 の正規化部の第 1 の出力信号電流を電圧変換する第 1 の電流 電圧変換部と、 前記第 2 の正規化部の第 2 の出力信号電流を 電圧変換する第 2 の電流電圧変換部と 、 前記第 1 の電流電圧 変換部の第 1 の出力電圧から前記第 2 の電流電圧変換部の第 2 の出力電圧を減算する減算部と 、 前記減算部の第 3 の出力 電圧を A / D変換する A / D変換部と を具備 してなる こ と を 特徴とする核酸濃度定量分析装置が提供される。
また、 本発明の別の観点によれば、 標的核酸と相補的な核 酸を有する核酸プローブが固定化され、 かつ各々 が異なるセ ンサ面積を有する複数の核酸センサと 、 前記核酸プローブが 固定化されず、 かつ各々 が異なる前記セ ンサ面積を有するバ ッ ク グラ ウン ドレベルセ ンサと 、 前記核酸セ ンサの第 1 の検 出信号から前記バッ ク ダラ ゥン ド レベルセ ンサの第 2 の検出 信号を減算する減算部と、 前記減算部の減算出力信号をセ ン サ面積について正規化する正規化部と を具備 してなる こ と を 特徴とする核酸濃度定量分析チップが提供される。
また、 本発明の別の観点によれば、 標的核酸と相補的な核 酸を有する核酸プローブが固定化され、 かつ各々 が異なるセ ンサ面積を有する複数の核酸センサと、 前記核酸センサの検 出信号をセ ンサ面積について正規化 し正規化信号を出力する 第 1 の正規化部と を備えた核酸濃度定量分析チップと 、 前記 正規化信号に基づき核酸濃度を算出する核酸濃度算出装置と を具備してなる こ と を特徴とする核酸濃度定量分析装置が提 供される。 また、 本発明の別の観点によれば 的核酸と相補的な核 酸を有する核酸プロ ブが固定化され かつ各々 が異なるセ ンサ面積を有する複数の核酸センサの検出信号を各々 のセ ン
サ面積について正規化 して正規化信号 出力 し 刖記正規化 信号に基づき核酸濃度を算出する -- と を特徴とする核酸濃度 定量分析方法が提供される
図面の簡単な説明
図 1 は本発明の第 1 実施形態に係る核酸濃 定 分析装置 の全体構成を示す図。
図 2 は同実施形態に係る核酸検出用チクプの外観構成の変 形例を示す図。
図 3 は同実施形態に係る核酸検出用チ プの測定回路のブ ロ ッ ク図。
図 4 は同実施形態に係るモジュ ルの詳細な構成の一例を 示す図。
図 5 は同実施形態に係る改良 したモジュ ルの詳細な構成 を示す図
図 6 は同実施形態に係る核酸検出用チクプの素子断面図の 一例を示す図。
図 7 は同実施形態に係る作用極の電極面積の概今図。
図 8 は同実施形態に係るプ口 ブ系列を用いた検出結果を 示す図。
図 9 は同実施形態に係る核酸濃度定 分析装置の動作のフ ローチャー 卜。
図 1 0 は同実施形態に係る校正の具体的な処理の一例のフ ロ ーチヤー ト。
図 1 1 は同実施形態に係る電流値取得処理の詳細を示すフ ローチヤ ー ト 。
図 1 2 は同実施形態に係る測定処理の詳細について のフ 口 一チ ヤ一 ト 。
図 1 3 は同実施形態に係る正規化を行 う ための回路の詳細 な構成を示す図。
図 1 4 は同実施形態に係る核酸濃度定量分析装置の変形例 に係る核酸検出用チップの概念図。
図 1 5 は同実施形態に係る減算回路を含む回路の詳細な構 成例を示す図。
図 1 6 は同実施形態に係る減算回路の変形例を示す図。 図 1 7 は同実施形態に係るバッ ク グラ ウン ド測定用電極付 チップを用いた分析処理フ 一を示す図。
図 1 8 は同実施形態に係る電流値取得操作の詳細なフ ロ ー チヤ一 卜。
図 1 9 は同実施形態に係る さ らなる変形例に係る核酸検出 用チップの概念図
図 2 0 は同実施形態に係る飽和レベル校正用電極付チップ を用いた分析処理フ 口一チャ一 ト。
図 2 1 は同実施形態に係る電流値およびビッ トパター ン取 得操作の詳細なフ ロ ーチャ一 卜 。
図 2 2 は同実施形態に係る飽和 レベル校正用電極付チップ を用 レヽた測定処理 ( s 2 ) の詳細な処理フ ロ ーチヤ一 ト。
図 2 3 は同実施形態に係る 3 電極系の電極配置に関する変 形例の平面図
図 2 4 は |pj実施形態に係る さ らに別の電極配置の変形例の 平面図
図 2 5 は |pj実施形態に係る補償回路の構成の一例を示す図。 図 2 6 は |Rj実施形態に係る補償回路の一例を示す図。
図 2 7 は |pj実施形態に係る核酸検出用チシ プの変形例を示 す上 m図
図 2 8 は |RJ実施形態に係るチ V プ保持用力セ ッ ト の斜視図。 図 2 9 は 実施形態に係る飽和 レベル、 ノ^ック グラ ウン ド レベルヽ 閾値決定アルゴリ ズムの一例のフ 一チヤー ト を示 す図
図 3 0 は同実施形態に係るモジユ ールの変形例を示す図。 図 3 1 は同実施形態に係る ijl流検出回路及び正規化回路の 概念図
図 3 2 は本発明の第 2実施形態に係るバクク グラ ウ ン ド電 流の問題点を説明するための図
図 3 3 は |pj実施形態に係る問題点を解決するための回路構 成の一例を示す図。
図 3 4 は IP]実施形態に係る電流電圧変換回路の —例を示す 図。
図 3 5 は |PJ実施形態に係る電流電圧変換回路の一例を示す 図。
図 3 6 は 実施形態に係る電流電圧変換回路の一例を示す 図 3 7 は 実施形態に係る電流電圧変換回路の一例を示す 3 8 は本発明の第 3実施形態に係るモ ジュ ールの構成の 一例を示す図。
図 3 9 は本発明の第 4実施形態に係るモジュールの構成の 一例を示す図。
図 4 0 は本発明の第 5実施形態に係るモ ジュ ールの構成の 一例を示す図。
図 4 1 は本発明の第 6実施形態に係るモ ジュ ールの構成の 一例を示す図。
図 4 2 は同実施形態に係る キャパシタ C bの構成の一例を 示す図
図 4 3 は本発明の第 7実施形態に係るオーバーラ ップファ ク タ一 y を説明するための図。
図 4 4 は本発明の第 8実施形態に係る核酸濃度定量分析チ ップの要部断面を示す図。
図 4 5 は同実施形態に係る核酸濃度定量分析チップの別の 一例を示す模式図。
図 4 6 は同実施形態に係る核酸濃度範囲を説明するための 図。
図 4 7 は同実施形態に係る検出グラ フをよ り 詳細に示 した 図。
図 4 8 は同実施形態に係る核酸プローブ固定化領域面積を 変化させたグラ フ例を示す図。
4 9 乃至 8 1 は同実施形態に係るチップの構成例を示す 図 8 2 乃至 8 5 は上記実施形態に係る核酸濃度定量分析装 匱の機能プロ ックの一例を示す図。
発明を実施するための最良の形態
以下、 図面を参照 しなが ら本発明の実施形態を説明する。
(第 1 実施形態)
図 1 は本 明の第 1 実施形態に係る核酸濃度定量分析装置
1 の全体構成を示す図である。 図 1 に示すよ う に、 核酸濃度 定量分析装置 1 は、 分析装置筐体 1 1 と核酸検出用チップ 1
2 力 らなる。 こ の核酸濃度定量分析装置 1 は 、 分析装置筐体
1 1 に核酸検出用チップ 1 2 を装着して核酸検出用チップ 1
2 にア レイ状に設け られたセンサ 1 2 a から検出される核酸 の濃度を定量分祈する。
分析衣置筐体 1 1 は、 送液 Z温調機器 1 1 1 と 、 チップ Z 筐体ィ ンタ フ エ一ス 1 1 2 と、 演算処理装置 1 1 3 と 、 制御 機構 1 1 4 と、 ュ ' ~ザイ ンタフ ―ス 1 1 5 と、 記 fe装 rf 1
1 6 からなる。 送液 / ik R¾機器 1 1 1 は 、 送液機 と温調機 器からなる。 送液機 は、 核酸検出用チップ 1 2 の緩衝剤 ゃ揷入剤な どの薬液の送液と、 核酸検出用チップ 1 2 力 らの 薬液の廃液を行 5 。 温調機 ¾ff は、 核酸検出用チップ 1 2 の各 センサ 1 2 a の温度調整を行う加熱機 や冷却機 ¾^な どから なる。 温調機器は、 図示しない温度センサの検出 曰
慨度に基づ き所望の温度に核酸検出用チップ 1 2 を調整する
チップ /筐体ィ ンタ フ エース 1 1 2 は 、 核酸検出用チップ
1 2 内の電子回路に電 ¾,的 ¾ eれる のチクプ /筐体 イ ンタ フ エース 1 1 2 は、 核酸検出用チップ 1 2 から得られ る各種電気信号を演算処理 置 1 1 3 に出力する 演算処理装置 1 1 3 は、 ュ一ザイ ンタ フ ェ一ス 1 1 ヽ 憶装置 1 1 6 と と あに例えばノヽ0ー ソナノレ n ン ピュ 一タ と 同等 の機能を実現 る 。 演算処理壯置 1 1 3 は C P Uな ど らな る。 ユーザィ ンタ フエース 1 1 5 はキー ヽ ■ ~ ド、ヽ マ ウ ス な ど の入力装置 、 デイ ス プ レイ などからなる の演算処理装置
1 1 3 に格納されたプ口 グラムが例えば し 、装置 1 1 6 力 ら 読み出され実行される。 れによ り 、 演算処理装置 1 1 3 が 測定値の各種分析処理を行 分析手段と して機能する。 その 結果、 測定ピーク値のフ ィ ッティ ング等の処 aを実行する こ とがでさ る 得られた分析処理データは し 1 1 6 に格 納される。
図 2 は本実施形態で用い られる測定回路を集積した低雑音 測定の可能な核酸検出用チップ 1 2 の外観構成の変形例を示 す図である 図 1 では、 センサ 1 2 a がァ レィ状に設け られ ている場合を示した 。 図 2 の変形例の場 π ヽ 核酸検出用チッ プ 1 2 は直線型のチップ形状を有する。 チップ本体 1 2 1 の 表面には直線状の溝部が設け られる。 この溝部が薬液な どを 収容 し流すための流路 1 2 2 と して機能する この流路 1 2
2 は、 検体溶液と プローブ核酸と のノ、ィプリ ダィゼーシ ヨ ン 反応な どの 気化学反応を生じさせるセルと して機能する。 チップ本体 1 2 1 ヽ 流路 1 2 2 と もに、 薬液 ェァの流れる 方向に沿つて細長の形状を有している。 チップ本体 1 2 1 の 長手方向の長さは 2 5 〜 5 0 m禾£度であ り 、 長手方向 と垂 直、 すなわち薬液やエアの流れる方向 と は垂直な方向の幅は 0220S
10
5 ni mよ り も小さい。 流路 1 2 2 内には、 複数の電気分解用 電極 1 2 3 が直線状に配列されている。 これら電気分解用電 極 1 2 3 は、 例えば 2 m m程度の間隔をも ってほぼ等間隔に 4つずつ配列されている。 これら複数の電気分解用電極 1 2 3 の各々 が各種電気化学反応を検出するセ ンサと して機能す る。 電気分解用電極 1 2 3 は、 後述する よ う に作用極、 対極、 参照極の組からなる。 代替的には、 例えば 1 つの対極あ るい は 1 つの参照極を、 複数の作用極に対して配置しても よい し、 作用極、 対極及び参照極を 1 つずつ対応させて配置 しても よ レ、。
こ の流路 1 2 2 の薬液やェァの最上流側を流路端 1 2 2 a とする と 、 流路端 1 2 2 a から流路端 1 2 2 b に向けて薬液 やエアが流れる。 ¾ちろん 、 測定手法によっては、 流路端 1
2 2 b から流路端 1 2 2 a に薬液ゃェァを逆流させても よい が、 いずれの場合も薬液やエアは一旦から他端に長手方向に 沿つて流れる
チ ップ本体 1 2 1 の端部 1 2 1 a 及び 1 2 1 b には 、 複数 のボンディ ング用ノ、。ッ ド 1 2 4 が設け られている のボン ディ ング用パッ ド 1 2 4 の各々 は、 電気分解用電極 1 2 3 に チップ本体 1 2 1 内で電気的に接続されてレヽる。 このポンデ ィ ング用パッ ド 1 2 4 にチップ一筐体ィ ンタ フエ一ス 1 1 2 を電気的に接続して測定を行う 。 これによ り 、 ボンディ ング 用パッ ド 1 2 4から電気分解用電極 1 2 3 で検出 される f¾i 5¾ 信号を取 り 出 し、 分析装置筐体 1 1 に出力する こ とができ る。
一般的に 、 核酸を検出するための例えば D N Aチップにお いては チ プ上のセンサと して機能する電極 面上に溶液 を流入流出する操作、 すなわち送液操作を行わなければな ら ない。 この送液を行 う 流路についてはその容量が々いと検体 の総量が多 < なって しま う チップ上にセンサを 2次 70状の ア レイ と して配置する場合 、 流路を蛇行させた り 幅広の流 路を設けなけ i%ばな らない 。 蛇行 した細い流路は 上流側か ら下流側 流れる薬液にかかる流体抵 が大さ < な り 送液 の効率を著しく 損ねる。 そこで、 図 2 のよ う に チ プ本体
1 2 1 流路 1 2 2 を直線型にする。 また の流路 1 2 2 に沿つて直線状にセ ンサを配置する こ と によ り 送液効率の 低下や測定値の局地的なばらつき を回避し得る
更に プ ーブ核酸をチップ上に滴下するのに使用するス ポッティ ングロ ポッ ト の溶液吐出 口 も 流路 1 2 2 内の ¾ 分解用電極 1 2 3 の 4 つの集合体毎に一次元的に配置する これによ 一回の位置合わせですべてのプ D ブ核酸を滴 下する と ができ る。 その結 テップ作製過程が効率化し 得る。
代替的には 、 こ の図 2 に示す直線状の核酸検 用チ Vプ 1
2 は、 例んば図 2 8 に示すよ う に 、 核酸検出用チップ 1 2 を 保持するチップ保持用カセ ッ 卜 1 2 0 の溝部 1 2 0 a に 、 そ れぞれ等間 に複数平行に核酸検出用チクプ 1 2 をはめ込み 固定する そ して、 チップ表面を溶液封止用の ゴム ングを 介してガラス板な どで封止 1 。
図 3 は核酸検出用チップ 1 2 の測定回路のブ シク図であ る。 図 3 に示すよ う に、 チップ 1 2 内には ィ ンタフェ一ス 04 002205
12
1 3 1 と、 チップ制御回路 1 3 2 と、 測定信号発生回路 1 3
3 と 、 D / Aコ ン 一タ 1 3 4 と、 複数のモジユーノレ 1 3 5 と、 セ レク タ 1 3 6 とヽ . / D コ ンバータ 1 3 7 が集積され ている。
イ ンタ フ エ一 ス 1 3 1 はヽ チップ外部と の電気信号の送受 を行う。 チップ制御回路 1 3 2 は、 チップ 1 2外部からィ ン タ フ エース 1 3 1 を介 して与 X.られた測定開始の指令に基づ き測定信号発生回路 1 3 3 とセ レク タ 1 3 6 を制御する。 測 定信号発生回路 1 3 3 は、 チ -yプ制御回路 1 3 2 の指令に基 づき電圧掃引を行う 具体的には、 測定信号発生回路 1 3 3 はデジタ ルの電圧掃引信号を発生させ、 D Z A コ ンバー タ 1
3 4 に出力する
D / A コ ンパ一タ 1 3 4 はヽ デジタル電圧掃引信号をアナ 口グ測定信号に D / A変換して複数のモジュ ール 1 3 5 に出 力する。 モジュ ― ノレ 1 3 5 には 、 様々 な測定回路が集積され ている。 こ の測定回路は、 例 ばポテ ンシ才 · ス タ ツ トなど の 3 電極系、 溶液系に与える電圧を制御する回路、 プローブ から出力 される電流をコ ピ し電圧に変換する回路、 バック グラ ウン ド信号減算用回路な ど 。、め る 。
モジユ ー ノレ 1 3 5 の構成はヽ 測定の手法や測定の目 的な ど に応 じて種々変更される 例えば、 バック グラ ウ ン ド信号減 算用回路を含めずにヽ 減算に相当する処理を演算処理装置 1
1 3 が担当する よ つ に しても よい。 すなわち、 こ の場合、 モ ジユ ーノレ 1 3 5 内には 、 通常のセンサ と、 ノ ック グラ ウン ド レベル検出用センサ と を含むセンサ 1 2 a と 、 センサ 1 2 a の出力を正規化する正規化回路と、 正規化回路の正規化出力 を電流電圧変換する電流電圧変換回路と を配置す そ して、 電流電圧変換回路の出 j J土をセ レク タ 1 3 D A / D コ ン タ 1 3 7 、 イ ンタ フ エ 一ス 1 3 1 を介 して核酸検出用チ ップ 1 2外に測定データ と して出力す Ό こ の測定丁ータは さ ら に チップ /箧体イ ンタ フェ一ス 1 1 2 を介 して演算処 理装置 1 1 3 に出力 される。 演算処理装置 1 1 3 は、 こ のチ ッ プ /筐体イ ンタ フ ヱ ース 1 1 2 らの測定了 タの う ち、 通常のセンサからの通常測定丁 タから、 ノ 、ソク グラ ゥ ン ド レベル検出用セ ンサか ら のバ V ク グラ ゥン ド測定丁一タ を減 算する
モ ジュ ール 1 3 5 を用いて 伝子の検出をする場合は、 以 下の手順を踏む。 まず初めに モジ ル 1 3 5 内部 Ik されたセ ンサ 1 2 a を検体に浸 させヽ ハィ プ ]) ダイ ーシ ョ ン反 J心を行う。 こ の反応を所定時間行つた後 挿入剤が添 加された緩衝液にセ ンサ 1 2 a を浸漬させ 分解を行 う。
S 分解を行う 際は、 セノレ内部に浸漬された所定の電極 (対 極) に D Z A コ ンパ一タ 1 3 4 からァナ口 グの電圧を入力す る。 電圧印加側の電極 (対極 参照極 ) と は別に 、 検出用回 路がプ ープ核酸の固定化されたセ ンサ用 の検出側電極 (作 用極 ) に接続されてい ~ ί記 圧入力の再に 所定の掃引
· - 電圧を入力するの と 同時に、 の検出用回路が 挿入剤の電 気分解に起因する電流を検出する の検出用回路は電流電 圧変換を行い、 検出信号と して検出結果を随時セ レク タ 1 3
6 に出力する。 セ レ ク タ 1 3 6 は チップ制御回路 1 3 2 の P T/JP2004/002205
14 制御に基づき複 のモシュ ル 1 3 5 のァ レィ をスキャ ンす る。 このス キヤンによ り得られた時分割多重化された検出信 号を A Z D コンバ一タ 1 3 7 に出力する。 A / D コ ンノく一タ
1 3 7 は、 測定信号を A / D変換してデジ ル検出信号と し てイ ンタ フエ一ス 1 3 1 を介してチップ外部に出力する。
こ の よ う に、 センサ表面が測定対象である検体溶液に浸漬 される と 、 核酸検出用チップ 1 2 内部では 、 電気分解測定を 行いチップ外部に送出する までの操作が図 3 に示す核酸検出 用チップ 1 2 内部のノヽ一 ゥエアで行われる 。 また、 チップ 外部に取り 出されたデ タから ピークの抽出 、 閾値と の比較 ビッ トノヽ0ターンの取得ヽ 数表と の照合によ る検体に含まれる 拡散濃度の出力までの作業は 、 図 1 の分析装置筐体 1 1 内の 演算処理装置 1 1 3 に いてソ フ ト ウエア的に行われる。
図 4 はモジュ一ル 1 3 5 の詳細な構成の一例を示す図であ る。 このモジュ一ル 1 3 5 は 、 端子 I に入力される掃引電圧 に対し、 演算増幅 as. 1 5 2 の反転入力端子に接続される抵抗
R s および R f を用いて参照極 1 4 3 の電圧を負帰還させる こ と によ り 、 セル内の電極や溶液などの各種条件の変動によ らずに溶液中に所望の電圧を印加する 3電極方式のポテ ンシ ォ · スタ ツ トである。
このポテンシォ . ス タ ツ ト は、 作用極 1 4 1 に対する参照 極 1 4 3 の電圧が所定の特性に設定される よ う に対極 1 4 2 の電圧を変化させる こ と によ り 、 揷入剤の酸化電流を電気化 学的に測定する。 以下、 作用極 1 4 1 , 対極 1 4 2 および参 照極 1 4 3 の電極の組を 3 電極系 1 4 0 と称する。 作用極 1 4 1 は、 標的核酸と は相補的な標的相補核酸を有 するプローブ核酸 1 0 0 が固定化され得るセンサ用の電極で あ り、 セル内の反応電流を検出する電極であ 。 対極 1 4 2 は 、 作用極 1 4 1 と の間に電圧を印加 してセンサに電流を供 給する電極である。 参照極 1 4 3 は、 参照極 1 4 3 と作用極
1 4 1 と の間の電圧を所定の電圧に制御すベ < 、 その電極電 位を掃引電圧の入力に負帰還させる電極である 。 この参照極
1 4 3 によ り 、 セル内の各種検出条件に左右されない精度の 高い酸化電流検出が行える
D / Aコ ンノ ータ 1 3 4 からの電圧掃引信号が配線 1 5 2 b を介 して参照極 1 4 3 の参昭電圧制御用の演算増幅器 1 5
2 の反転入力端子に入力される
配線 1 5 2 b には抵抗 R sが接続されている 。 演算増幅
1 5 2 の非反転入力端子は接地され、 出力端子には配線 1 4
2 a が接続されている。
配線 1 4 2 a は核酸検出用チップ 1 2 上の対極 1 4 2 に接 されている。 対極 1 4 2 が複数設け られている 口 には 、 各々 の対極 1 4 2 に対 して並列に配線 1 4 2 a が接続される これによ り 、 1 つの電圧パタ一ンによ り複数の対極 1 4 2 に 時に電圧を印加する こ と ができ る。 また、 極間電圧をよ り 正確に制御する場合は、 演算増幅器 1 5 2 ねよび 1 5 3 で 構成される一式の帰還回路をセンサ用の 1 つの作用極 1 4 1 に対 して配置する。 こ の場 ■ A
aヽ 複数の抵抗 R sが D / Aコ ン ー タ 1 3 4 の出力に対し並列に接続される
参照極 1 4 3 は配線 1 4 3 a によ り 演算増幅器 1 反転入力端子に接続されている。 演算増幅器 1 5 3 の反転入 力端子は、 その出力端子に接続された配線 1 5 3 b と配線 1 5 3 a によ り 短絡 している。 配線 1 5 3 b には抵抗 R f が設 け られている。 配線 1 5 3 b は配線 1 5 2 b の抵抗 R s と演 算増幅器 1 5 2 の反転入力端子の間に接続されている。 これ によ り 、 電圧掃引信号 V i nに、 参照極 1 4 3 の電圧をフ ィ ー ドバック させた電圧を演算増幅器 1 5 2 に入力させる。 こ の入力電圧を反転増幅した出力に基づき参照極 1 4 3 と作用 極 1 4 1 の間の電圧が制御される。
作用極 1 4 1 は配線 1 4 1 a によ り 演算増幅器 1 5 1 の反 転入力端子に接続されている。 演算増幅器 1 5 1 の非反転入 力端子は接地される。 演算増幅器 1 5 1 の出力端子に接続さ れた配線 1 5 1 c と配線 1 4 1 a と は配線 1 5 1 a によ り接 続されている。 配線 1 5 1 c には抵抗 R wが設け られている。 この演算増幅器 1 5 1 の出力側の端子 O の電圧を V w、 電流 を I wとする と 、 V w = I w ■ R wが成立する。 この端子 Oか ら得られる電気化学信号はセ レク タ 1 3 6 に出力 される。
図 5 は図 4 に示すモジュール 1 3 5 を改良 したモジユーノレ 1 5 0 の詳細な構成を示す図である。 図 4 と共通する構成に は同一符号を付 し、 その詳細な説明は省略する。 対極 1 4 2 及び参照極 1 4 3 からなる電圧印加側の回路構成は図 4 と共 通する。 集積度向上のため、 作用極 1 4 1側で抵抗器を使用 せず、 作用極 1 4 1 側に設け られた抵抗 R wに代えて演算増 幅器 1 5 1 と 6 つの ト ラ ンジス タ M l 〜M 6 力、 ら なる回路力、 らなる電流検出回路を用いている。 M l は P M O S ト ラ ンジ P T/JP2004/002205
17 ス タ、 M 2 は N M O S ト ラ ンジス タである。
図 4 に示 したモジュール 1 3 5 では、 回路の集積化を効率 的に行う のに不利な要素が含まれている。 この不利な要素と は、 抵抗 R wであ る。 抵抗 R w と 演算増幅器 1 5 1 で構成さ れる ト ラ ンスイ ンピーダンス増幅回路は、 極一般的な構成で ある。 すなわち、 こ の ト ラ ンスイ ン ピーダンス増幅回路は、 作用極 1 4 1 の電位を溶液、 回路等周囲の条件にかかわらず 一定に保つ動作を実現し、 かつ作用極 1 4 1 からの電流を作 用極 1 4 1 の電位を変化させる こ と な く 自 由に取 り 出すこ と を可能にする回路であ り 、 電気分解測定に一般的に用い られ る。 作用極 1 4 1 から取り 出される電流が微弱であ り 、 これ を高精度に測定しょ う とする場合、 この抵抗は、 素子自身が 発生する雑音が低いものを選ばなければな らな く 、 かつその 抵抗値も大き く なければな らない。 この要件を満たす抵抗を 集積回路上で実現しょ う とする と、 素子面積が大き く なる等 によ り 、 集積回路の特徴を生かした実現が困難と なる。 よつ て、 抵抗素子はチップ外部に単体素子で実装されている場合 が多い。 この場合、 装置全体が大き く な り 、 更に測定の同時 性が損なわれるな どの不都合が生じる。
そこで、 本実施形態の場合、 図 5 に示すよ う に、 抵抗素子 を用いない電流検出回路が提供される。 図 5 において、 演算 増幅器 1 5 1 の出力端子は ト ラ ンジス タ M 1 及び M 2 のグー ト に接続される。 また、 作用極 1 4 1 に接続された配線 1 5 1 a は、 ト ラ ンジス タ M l の ソース及び ト ラ ンジス タ M 2 の ソースに接続される。 また、 ト ラ ンジス タ M l 及び M 2 のボ ディ ーは と もに配線 1 5 1 a に 絡され 卜 ラ ンジス タ Μ
1 の ド レイ ンは ト ラ ンジス タ M 3 の ド、 レィ ンに接統 θ れる。 卜 ラ ン 、ノス タ M 3 の ソ一ス は一 V s の負電源に接続さ れ、 ゲ 一 ト は ト ラ ンジス タ M 5 のゲー h及ぴ ト ラ ンジス タ Μ 3 の ド レイ ンに短絡されてい これに よ り 、 ト ラ ンジスタ Μ 3 と
M 5 がカ レン 卜 ミ ラ一構造をな している
ト ラ ンジス タ M 5 の ソ一スは ― V の '貝 ¾源に接続され、 ド レイ ンは 卜 ラ ンジス タ M 6 の ド、 レィ ンに接続されている。 ト ラ ンジス タ M 6 のゲ一 ト は ト ラ ンジス タ M 4 のゲー ト およ び ド レイ ン と短絡されている。 また 、 h ラ ンジス タ Μ 4 と Μ
6 の ソースは 、 + V s の正電源に接 れる これに よ り 、 ト ラ ンジス タ M 4 と 卜 ラ ンジス タ M 6 が力 レ ン 卜 ミ ラ一構造 をな している
電流 I が図 5 中矢印の方向、 すなわち作用極 1 4 1 力 ら電 流検出回路側に流れる ¾ 口 、 卜 ラ ンジス タ M 5 に流れる 流 が出力側に取り 出 される。 逆に 、 図矢印 と 逆方向、 すなわ ち電流検出回路側か ら作用極 1 4 1 側に電流が流れる場合は、 ト ラ ンジス タ M 6 を流れる電流が取 り 出 される 。 その電流は 電流計 1 5 4 で計測される
こ のよ う な構成においてヽ 卜 ラ ンジス タ M 1 力 ら Μ 6 まで のそれぞれの ト ラ ンス コ ンダク タ ンス をそれぞれ ]3 ! , β 2 β β β . |3 6 と する と 、 良好な線形性を成立 させる た めには、 β , = β 2 , お よ び j3 3 = ]3 4, ]3 5 = j3 6 力 S成立 する こ と が必要であ る。 なお、 e 3 = β 5 , /3 4 = j3 6カ 成立 する場合は, 測定する も と の電流 と 出力 される電流 と の比が 1 : 1 と なる。 測定電流を増幅 したい場合には、 J3
= 1 : Β 、 β 4 : β 6 = 1 : Β と する。 これによ り 、 の増幅率が現される。 すなわち、 M O S F E Tのゲ
よびゲー ト幅を L , w と し、 ト ラ ンジスタ Μ 1 〜 Μ
S F E T ) のゲー ト長を L i L s ゲ一 ト幅を w 3
する と 、 ( w 3 / L 3 ) : ( w 5 / L 5 ) = 1 : B ,
L 4 ) : ( w 6 / L 6 ) = 1 : B と設計すればよい。
本明細書に いて、 増幅は、 1 倍を 口える倍率で増幅する のみな らず 、 1倍で増幅する場合も含まれる ものとす 0。 こ の図 5 に示す回路動作を酸化電流の観測を例にと り 説明 する。
作用極 1 4 1 で酸化が起こる と きヽ 酸化電流は作用極 1 4
1 から電流検出回路側に流れ込む。 の と き に生ずる電圧降 下によ り ヽ 配線 1 5 1 a側の電位が上昇する。 そ して、 演算 増幅器 1 5 1 の出力端子の電位は演算増幅器によ り 逆に大き
< 下げられヽ ト ラ ンジスタ M 1 がォン状態と なる。 これによ り 、 h ラ ンジス タ M 3 に電流が流れヽ 配線 1 5 1 a の電位は 負帰還がかかり 接地電位に固定される 。 一方、 ト ラ ンジスタ
Μ 3 を流れる電流は 卜 ラ ンジスタ M 5 にコ ピーされる。 この 卜 ラ ンジス タ M 5 を流れる電流は電流計 1 5 4で計測可能で ある o
遠元電流が観測される場合には、 酸化電流の場合と は正負 が逆の特性が作用極 1 4 1 側の電流検出回路で生じる。 すな わち、 配線 1 tJ 1 . 側の電位が電流によって生ずる電圧降下 によ つて、 演算増幅布 1 5 1 の非反転端子の電位に対して下 げられ ト ラ ンジスタ Μ 2 がオン状態になる。 れによ り 卜 ラ ンジスタ M 4 に電流が流れる。 この ト ラ ンジスタ Μ 4 に 流れる電流は ト ラ ンジスタ M 6 にコ ピーさ る この 卜 フ ン ジス タ M 6 を流れる ¾流は 流計 1 5 4 で自 由に取り 出 し可 能である
のよ う に、 還元 流観測の場合は、 酸化電流観測に け る h ラ ンジスタ M 1 Μ 3 よび Μ 5 の動作と逆特性で同 じ 動作が 卜 ラ ンジスタ M 2 M 4 および Μ 6 で行われる れ によ り 酸化および還兀 %流の双方の電流計測が可能と なる 。
なお f ト ラ ンジスタ Μ 1 と Μ 2 のボディ を短絡する場 には N型基板のプ セスの場合には Ρ Μ O S を Ρ型基板 のプ セ ス の場合には Ν Μ O S をそれぞれ完全に素子分離す る必要がめ る れはプ口セスによっては実現可能であるが、 必ずしも完全に分離する こ とが必要ではない。 た と えば N 型 板 P ゥエルプ セスの場合、 P M O S のボディ を 全 に分離する こ と は - 難しい。 の場合、 ト ラ ンジスタ Μ 1 のポ ティ は正電源に直結される 。 こ の回路でも同等の回路機能 が実現される。 さ らに h ラ ンジスタ Μ 2 のポディ をち負 源に直結しても同等の回路機能が実現される。 ただし ·>- の場 e 3 = β 4 β Θ を出来る 限 り 正確に実現する のが望ま しい。
図 6 は作用極 1 4 1 を含む核酸検出用チップ 1 2 の素子断 面図の 例を示す図でめる 図 6 に示すよ う に、 下地である
S i 基板 1 6 1 には I 化された回路が標準的な C Μ o
Sプ口セス を経て作製される S i 基板 1 6 1 には、 絶縁膜、 半導体膜、 金属膜な どから なる回路が形成されている。 S i 板 1 6 1 中にはゥェノレ 1
6 2 が形成されてい ' S i 基板 1 6 1 表面には 、 個々 の素 子間を分離する フィ ― ノレ ド酸化膜 1 6 3 が形成されている。 ゥエル 1 6 2 の各々 の中には、 ウ エノレ 1 6 2 よ り も浅い拡散 層 1 6 6 a 及び 1 6 D b が形成されている。 フィ一ル ド酸化 膜 1 6 3 の上面を含め、 S i 基板 1 6 1 上に全面にゲ一 ト酸 化膜 1 6 5 が形成されている。 拡散層 1 6 6 a 及び 1 6 6 b の間であってゲー 卜酸化膜 1 6 5 上にはグー ト電極 1 6 7 が 形成されている。
さ らにこのゲー 卜酸化膜 1 6 5 の上面及びグー ト電極 1 6
7 の上面及び側面を覆 う よ う に、 層間絶縁膜 1 6 8 が形成さ れている。 この層間絶縁膜 1 6 8 中には、 ゲ一 ト電極 1 6 7 に電気的に接続する よ う に、 A 1 や C u な どの金属からなる 第 1 コ ンタ ク ト プラ グ 1 6 9 i及び第 1 層配線 1 6 9 2が、 層間絶縁膜 1 6 8 上まで延在して形成されている。 層間絶縁 膜 1 6 8 の上には、 第 1 コンタ ク トプラ グ 1 6 9 及び第 1 層配線 1 6 9 2の上面及び側面を含めて T E O S な どによ り 層間絶縁膜 1 7 0 が形成されている。
この層間絶縁膜 1 7 0 中には、 第 1 層配線 1 6 9 2に電気 的に接続する よ う に、 A 1 や C u などの金属からなる第 2 コ ンタ ク ト プラ グ 1 7 1 i及び第 2 層配線 1 7 1 2が層間絶縁 膜 1 7 0 の上まで延在 して形成されている。 層間絶縁膜 1 7 0 の上には、 第 2 コ ンタ ク ト プラ グ 1 7 1 及ぴ第 2層配線 1 7 1 2の上面及ぴ側面を含めて、 層間絶縁膜 1 7 2 が形成 されてレヽる。
層間絶縁膜 1 7 2 には、 層配線 1 7 1 2に電気的に接 続する よ う に 、 溝部 (以下 、 小溝部と称する) が形成されて いる。 図 6 では小溝部は 1 つ し BXけ られていないが、 実際 には電極数や電極 の数に J心して複数設け られる。 こ の小溝 部底面以外の層間絶縁膜 1 7 2 の表 よび小溝部側面には、 ノ ッ シベーショ ン膜 1 9 1 が層間絶縁膜 1 7 2 を覆う よ う に 形成されている。 小溝部外のパッシベ一シ ヨ ン膜 1 9 1 の上 には、 小溝部から所定の距離離れて他の小溝部と仕切るため の酸化膜ゃフォ 卜 レジス ト膜な どからなる絶縁膜 1 9 4 が形 成されてレヽる の絶縁膜 1 9 4 によ り仕切 られた溝部 (以 下、 大溝部と称する ) には 、 小溝部底面から側面さ らには小 溝部外のノ、。ッシベ一ショ ン膜 1 9 1 表面まで延在する よ う に
T i 電極 1 9 および A u電極 1 9 3 が順次積層 して埋め込 み形成されている · - ο の A u電極 1 9 3 上にプローブ核酸 1
0 0 が固定化される o
次に 、 上 ¾!iした核酸検出用チップ 1 2 の製造方法を説明す る。
まず、 L O C O S プ ロ セ スを用いて S i 基板 1 6 1 の一部 に例えば 8 0 0 n mの膜厚のフィ ール ド酸化膜 1 6 3 を形成 する。 次いで、 こ の フ ィ ール ド酸化膜 1 6 3 をマ ス ク と して 不純物ィオン注入及び拡散な どの工程を経て S i 基板 1 6 1 の表面に ゥエル 1 6 2 を形成する。 次いで、 S i 基板 1 6 1 及ぴフィ 一ル ド酸化膜 1 6 3 の表面を酸化 して例えば 5 0 n mの膜厚のゲー ト酸化膜 1 6 5 を形成する。 その後、 さ らに このグー ト酸化膜 1 6 5 上に例えば 5 0 0 11 の膜厚のポリ シリ コ ン膜を形成する 。 次に、 素子形成領域上のポリ シリ コ ン膜を選択的に除去 して素子形成領域上にホ V シリ コ ン膜を 選択的に残存させる この選択的に残存したホ シリ コ ン膜 はゲー ト電極 1 6 7 と して機能する。 次に 素子形成領域上 に選択的に残存させたゲー ト電極 1 6 7 をマス ク と して不純 物ィ オン注入及び拡散な どの工程を経てクェル 1 6 2 中に拡 散層 1 6 6 a及び 1 6 6 b を形成する の拡散層 1 D 6 a 及び 1 6 6 b とグー 卜電極 1 6 7 によ り 拡散層 1 6 6 a 及 ぴ 1 6 6 b を ソ ―ス あるいは ド レイ ン とする 卜 ラ ンジス タが 形成される。
次に、 装置全面に例えば 1 5 5 0 η mの膜厚の B P S Gな どの層間絶縁膜 1 6 8 を形成する。 そ して の層間絶縁膜
1 6 8 中に拡散層 1 6 6 a に貫通する よ ラ に ンタク ト を形 成する。
次に、 このコ ンタ ク トが充填する よ Ό に層間絶縁膜 1 6 8 上に例えば 8 0 0 n mの膜厚の A 1 — S 1 ― C U などからな る金属膜を形成する この金属膜を選択的に除去する こ と に よ り 拡散層 与
1 6 6 a に 的に接続される第 1 ンタ ク トプ ラグ 1 6 9 及び第 1 層配線 1 6 9 2が形成される。
次に、 この第 1 コ ンタ ク ト プラ グ 1 6 9 及ぴ第 1 層配線 1 6 9 2の上面及び側面を含め、 層間絶縁膜 1 6 8 上に例え ば 1 0 5 0 n mの膜厚の T E O S な どの層間絶縁膜 1 7 0 を 形成する。 そ して、 こ の層間絶縁膜 1 7 0 中に第 1 層配線 1 6 9 2に貫通する よ う にコ ンタ ク ト を形成する。 そ して、 こ のコ ンタ ク トが充填する よ う に層間絶縁膜 1 7 0上に例えば 1 0 0 0 n mの膜厚の A 1 — S i 一 C uな ど力、らなる金属膜 を形成する。 この金属膜を選択的に除去する こ と によ り 第 1 層配線 1 6 9 2に電気的に接続される第 2 コ ンタ ク トプラ グ 1 7 1 及び第 2層配線 1 7 1 2が形成される。
次に、 こ の第 2 コ ンタ ク ト プラ グ 1 7 1 及び第 2層配線 1 7 1 2 の上面及び側面を含め、 層間絶縁膜 1 7 0 上に例え ば O A 1 P S Gなど力、らなる例えば 1 0 5 0 n mの膜 厚の層間絶縁膜 1 7 2 を形成する。 そ して、 この層間絶縁膜
1 7 2 中に笛 2層配線 1 7 1 2に貫通する よ う にコ ンタ ク ト を形成する そ して 、 このコンタ ク ト の底面おょぴ側面を覆 い、 また層間絶縁膜 1 7 2表面まで延在する よ う に、 例えば
1 0 0 n mの膜厚の O P S i N力、らなるパッシベーシ ョ ン膜
1 9 1 を形成する そ して、 このパッ シベーショ ン膜 1 9 1 の う ち、 小溝部底面に形成されたものを選択的に除去する。 これによ りヽ 2層配線 1 7 1 2表面が露出する。
次いで 、 の第 2層配線 1 7 1 2を覆い、 かつ小溝部底面 および側面ヽ さ らには小溝部外のパ ッ シベーシ ヨ ン膜 1 9 1 表面まで例えば 1 0 0 n mの膜厚の T i 膜および例えば 2 0
0 n mの膜 の A u膜を順次積層形成する。 そ して、 小溝部 外のパッシベ一シ ン膜 1 9 1 表面に形成された部分をパタ 一ユングする その結果、 小溝部底面および側面、 さ ら には
/ 、、/シベ シ ン膜 1 9 1 表面の一部まで延在した T i 電極
1 9 2 および A u 極 1 9 3 が形成される。
さ らに れら T i 電極 1 9 2 および A u電極 1 9 3 の上 面及ぴ側面を含めて、 パッシベ 1 ~シ ン 1 9 1 の上に絶縁 膜 1 9 4 を形成する。 そ して 、 こ の絶縁膜 1 9 4上を T i 電 極 1 9 2 および A u電極 1 9 3 が露出する よ う にパ夕 一二ン' グ して選択的に除去す - れ り ヽ 大溝部が形成される。 な , 図 6 においては小溝部外の A / T i 膜に絶縁膜 1
9 4 が :掛力 らなレヽょ う にパタ —ニ ングする例が示されている が、 の限 り ではない A u / T i 膜に掛かる よ う に絶縁膜
1 9 4 をハ。ターニ ング し、 残存部分でセンサ用 極の面積を 決定しても よい。
また 、 絶縁膜 1 9 4 の形成およびパタ一二ングを行つた後、 大溝部に T i 電極 1 9 および A u 極 1 9 3 を形成しても よい
絶縁膜 1 9 4 で仕切 られる大 ?冓部がセルと して機能する。 すなわち、 こ の大溝部に検体溶液 2 0 0 が滴下されヽ さ らに は緩衝剤、 エア、 揷入剤な どが導入される こ と によ り 、 A u 電極 1 9 3 上で電気化学反 j心が生じる
また 、 こ の絶縁膜 1 9 4 のほかにパクキンヽ o リ ングなど を用いて検体溶液 2 0 0 、 緩衝剤ヽ ェァ 揷入剤を導入する 領域を確保しても よい
のよ う に、 図 6 は作用極 1 4 1 を今む核酸検出用チップ
1 2 の断面構造を示 したがヽ 対極 1 4 2 よび参照極 1 4 3 についても同様の断面構造をなす の場 a ヽ 対極 1 4 2や 参照極 1 4 3 が作用極 1 4 1 と 同 じ大溝部に互いに離間 して 配置される構成をなす 。 対極 1 4 2や夢昭、極 1 4 3 の m八 π 、
A u電極 1 9 3 上にプ π 一ブ核酸 1 0 0 を固 化させる必要 は無い。 もちろんヽ 作用極 1 4 1 と して用いる場合であって も、 利用 目的に応じてプローブ核酸 1 0 0 を固定化させずに 利用 しても よい また 、 測定目的に応 じて、 各電極の面積を 種々変更する こ とがで 図 7 は本実施形態の核酸定量分析を行う ための作用極 1 4
1 の電極面積の概合図である。 図 7 に示すよ に、 同一の核 酸からの電流あるいはノ^ック グラ ゥン ド電流を測定するため の作用極 1 4 1 の電極面積は、 も つ と も大きい '面積を A 0 と する と A 0ヽ α A 0 ' 、 2 A o、 ひ 3 A o 、 … ( < 1 ) とレヽ ぅ よ つ に、 等比級数をなす
電流検出型の核酸検出用チップにおいて、 電極面積を小さ く し 、 その分ハ ブ リ ダィゼーショ ンに費やす時間を長く し て特異的な信号の絶対 を高く する。 これはヽ 挿入剤 と して 利用 される電気化学的に活性な標識物質が、 電極の表面、 特 に核酸が固定化さ ^ る領域に非特異に結合する量を少な く す るためである。 ·>- れによ り 、 核酸 2本鎖に特異的に結合する 揷入斉 IJ力 ら得られる信号の比率を高める こ と ができ る。 すな わち 、 バッ ク グラ ク ン ド、レべノレに対する信号レベノレを高める こ と が で き る の A
a 検 出 感 度 の 最 小 濃 度 c m i n(cop y/ml)は電極面積 A ( c m 2 )に対し、
1 n C m i n = 0 . 7 2 1 n A + 8
の関係を持つ。 こ の関係式によれば、 プローブ分子数の面 密度が一定の場合、 1 種類の核酸を固定した作用極 1 4 1 の 電極面積 Aの各々が等比数列に従 う 1 組のプローブ系列を用 いる。 これによ り 、'広い検出感度のダイナミ ック レ ンジを実 現可能な核酸分析装置が実現される。 なお、 電極面積 Aの 各々 は、 実質的に等比数列をなす関係にあればよい。 すなわ ち、 電極面積 Aの各々 は、 等比数列から ± 1 0 %の範囲の値 を と っていればよい。 核酸の定量分析では、 図 7 のよ う な電 極の系列を一組作り、 同一の濃度に調製した単一のプローブ を固定化 し、 ある濃度の検体を適当な時間ハィ ブリ ダィ ズす ればよい。 また、 同 じ電極系列に対して固定化されるプロ一 ブの分子数の面密度は共通する よ う に設定される。
図 7 に示すプローブ系列を用いた検出結果を図 8 に示す。 図 8 は、 検体溶液とハイプ リ ダイ ズするプローブ核酸を固定 化 して所定の時間ハイ プリ ダイズさせた場合の信号強度と、 そのよ う なプローブ核酸を固定化 しない場合に同様の条件で 測定した信号強度を示 している。 縦軸の信号強度は、 センサ (電極) 表面上に固定化したプローブすべてにハイプリ ダイ ゼーシヨ ンが起こった と き に得られる信号強度で正規化 して ある。 以下、 正規化された信号強度を正規化信号強度と称す る。
ある核酸濃度の検体をある一定の時間ハイ ブリ ダィ ズする と、 小さいセンサ面上では反応時間中にほとんどのプローブ 核酸にハイ プリ ダイゼーショ ンが起こ るため、 正規化信号強 度は 1 に限り な く 近い。 逆に、 大きいセンサ面上ではハイブ リ の起こ つたプローブ核酸の絶対数が少な く 、 バ ック グラ ゥ ン ド レベルと 同等な信号強度しか得られない。 この中間に位 置するセンサ面の面積が適正な電極上では、 バッ ク ダラ ゥン ドレベルと信号強度 1 の間の大き さの正規化信号強度が得ら れる。 適正な電極と はヽ 例えば図 8 において ひ 4 A。の電極 面積を持つ電極である こ こで、 複数の濃度既知の核酸を予 め測定し, バック グラ クン ドレペルと飽和 レベルすなわち正 規化信号強度 1 との間で信号の得りれる電極面積と核酸濃度 の関係を算出 してお < この関係 め知っていれば、 核酸 濃度を同定でき 核酸濃度を同定するため、 濃度未知の核 酸についても、 どの面積のセンサ面で正規化信号強度が飽和 レべノレと ノ ック グラ ゥン ドレべノレの間に現れたかを知ればよ い。 更には、 その信号強度の大き さ によって、 よ り 正確に濃 度を知る こ と が可能と なる。
センサ面上から得られ 、 未た電極 ¾積で正規化 していない 信号の絶対値は電極面積に比例する と考え られる。 したがつ て、 センサ面の電極面積をある因子 α ( α < 1 ) で小さ く す れば、 信号の絶 ·>- 対値も れに応じて低く なる。 電流検出型の 核酸検出用チップでこれを行お う とする場合、 よ り 高感度の ポテンシヨ スタ ツ ト を用いる こ と が必要である。 よって、 セ ンサと 同一基板上のよ り センサに近い部位に測定回路を集積 化 して配置する こ と が望ま しい
次に、 上述 した核酸濃度定量分析装置 1 の動作を図 9 〜図
1 2 のフ ロ ーチャ― ト に沿つて説明する
定量分析はヽ 図 9 に示すよ う に、 校正 ( s 1 ) を行った後、 測定 ( s 2 ) を経て終了する。 校正は 、 測定対象たる検体溶 液に含まれる核酸濃度を分析する前の ビッ 卜パターンを得る ための処理であ Ό ビ、 トパターンと は 、 測定対象の濃度の 判定条件を示すデータである。 5
29 図 1 0 は校正 ( s 1 ) の具体的な処理の一例のフローチヤ ー トである。 図 1 0 に示すよ う に、 まず核酸を含まない溶液 Tに、 プローブ核酸が固定化されていないセンサ 1 2 a 、 あ るいはプローブ核酸は固定化されているが溶液 T と はハイ プ リ ダイ ズしないプロープ核酸が固定化されたセンサ 1 2 a を 浸漬する ( s 1 1 ) 。 そ して、 電流値取得処理を実行する
( s 1 2 ) 。 得られた電流値に基づきバック グラ ウン ドレベ ル (電流値) が定め られる。
( s 1 2 ) に示す電流値取得処理の具体的な処理フ ローは 後述する図 1 1 のフ ローチャー ト に示される。
次に、 核酸を含む溶液 S の測定を行 う ( s 1 3 ) 。 具体的 には、 測定を行 う べき レンジをカバーする N種類の濃度 C 0, C ! , …, C N _! ( i = 0, 1 , …, N - 1 ) の核酸溶液 S 0, S ! , …, S N— を、 M種類の電極面積 Α 〗 ( j = 0, 1 , …, M - 1 ) について M X N個用意する。 そ して、 濃度 C i の核酸溶液 s i を、 同一の核酸プローブが固定化された M種類の異な る 電極面積 A j のセ ンサ 1 2 a 内に滴下する
( s i 4 ) 。 これによ り 、 センサ 1 2 a に固定化されたプロ ープ核酸と核酸溶液 S i 中の核酸がハイ プリ ダイ ズする。 そ して、 ( s i 2 ) と 同様の要領で電流値取得処理を実行する
( s 1 5 ) 。 こ の ( s 1 5 ) の電流値取得処理の測定条件は
( s 1 2 ) と 同一に定め られる。 濃度 C i の核酸溶液 S ; に ついて測定が終了する と、 i = i + 1 と され、 さ らに別濃度 の核酸溶液 S i についての測定が行われる ( s 1 6 ) 。 すべ ての濃度でかつすベての電極面積 A j 、 すべての核酸溶液 S i について M X N個の電流値 I p ( i ' られる と 閾値 I t hが設定される ( s 1 7 )
閾値の設定は、 飽和電流値 I s t と .バ ッ ク グラ ク ノ ト ¾i流 値 I b g と の間の電流値に設定される ( , すなわち (飽和 流値 I s t ) > (閾値 I t h ) > (バ V ク グラ ウ ン ド電流値 I b g ) と なる。
閾値を定めるためには、 飽和電流値を知る必要がめ る。 理 想的な飽和電流値は、 基板上のプロ ブ核酸が全て 2本鎖を 形成 している場合に得られる。 こ の飽和電流値を得る には 予め 2本鎖を形成した核酸を固定化した電極から信号を取得 する よ う な実験を行えばよい。 この場合、 2本鎖を形成 して いないプローブ核酸が固定化された電極上の面密度と 同等の 密度で核酸が固定化するのが望ま しい o
ハイプリ ダイ ズ済みの電極を予め作製する こ と が困難でめ れば、 充分濃い標的核酸濃度を持つた試料を充分な時間ハ ブリ ダィ ズさせる。 これによ り 、 実際的な飽和レベノレを定め る こ とが可能と なる。
代替的には、 複数の核酸溶液 S i について異なる面積 A j のセンサで測定を行い、 得られたデータ を分析する。 これに よ り 、 実際的な飽和 レベルの定義する こ と が可能と なる。 こ の場合、 飽和電流値はセ ンサ面積に比例する性質を利用 して 次のよ う に行 う 。 まず、 各電極から得られる電流値を面積に よって正規化しておく この正規化された電流値を異なる面 積間で比較 した場合、 ある面積よ り 小さな開 口面積の電極か ら得られる正規化電流値が、 パック ダラ ゥ ン ドの正規化電流 値よ り 充分大き く、 かつ面積にかかわらずほぼ一定の値であ れば、 この正規化電流値を全ての電極における飽和レベルす なわち正規化信号強度 1 と 定義する こ とが可能である。
また , バック グラ ウ ン ドレベノレを測る こ と について も同様 の こ とが言える。 すなわち、 異なる複数の核酸濃度の溶液に ついて得られるデータ、 および異なる面積の電極から得られ たデータ を分析する こ と によ り 、 バッ ク グラ ウン ドレベルを 推定する こ とが出来る。 この推定では、 まず、 得られた電流 値を面積について正規化する。 そ して、 得られた正規化電流 値を異なる面積間で比較したと き、 ある面積よ り 大きな開口 面積の電極から得られる複数の正規化電流値が飽和レベルよ り 充分小さ く 、 かつ面積にかかわらずほぼ一定の値であれば こ の正規化電流値を全ての電極におけるバック グラ ゥン ドレ ベルと定義する こ と が可能である。
具体的な閾値算出のための飽和レベル、 バック グラ ゥ ン ド レべ/レの決定ァノレゴ リ ズム の一例を図 2 9 の フ ロ ーチヤ一 ト に沿って説明する。
予め濃度が与え られた異なる N種類の濃度の核酸溶液 S i ( i = 0, 1, …, N - 1 ) について、 また 1 本鎖が固定化 された異なる面積 A j ( j = 0 , 1, …, Μ— 1 ) のセンサ 1 2 aすべてについて、 ( s 1 3 ) 〜 ( s 1 6 ) に示 したよ う な操作によ り 電流ピーク値 I p ( i , j ) を取得する ( s 8 1 ) 。 こ のピーク値の取得はよ り 後段の回路ゃソフ 卜 ゥェ ァによ り 実行されて も よい。 ピーク値取得を後段で行 う 場合 こ の ( s 8 1 ) では複数の時間における電流値 I を取得して おけばよい。
この ( s 8 1 ) で得られた電流ピーク値を、 それぞれ電極 面積 ( j = 0 , 1 , …, M - 1 ) によって第 1 の正規化
( s 8 2 ) を行い第 1 正規化電流値 I n ( i , j ) を得る。 これによ り 、 単位面積あた り の電流値が得られる。 次いで、 最も濃度の濃い核酸溶液 S N —ェ と最も小 さ な開 口 面積 A M-i のセンサ 1 2 a の組み合わせか ら得られた電流 I n ( N— 1 M - 1 ) を飽和電流 と仮定 し、 最も薄い核酸溶液 S 。 と 最も 大き な開 口面積 A。のセ ンサの組み合わせから得られた電流
I n ( 0 , 0 ) をバ ッ ク グラ ウ ン ド電流 と 仮定する ( s 8
3 ) 。
( s 8 2 ) の第 1 の正規化は、 後述する図 1 3 ではカ レン ト ミ ラー回路の電流增幅率を調整する こ と によ り 実現される , 次に、 個々 の測定電流値 I n ( i , j ) について、 シグモ ィ ド関数に よ る評価のための (飽和電流値) - (バック グラ ゥン ド電流値) によ り 第 2 の正規化処理を行 う。 具体的には 以下の式によ り 第 2正規化電流値 I Q ( i , j ) を得る ( s 8 4 ) 。
I 0 ( i , j ) = { I n ( i , j ) 一 I n ( 0 , 0 ) } Z { I n ( N— 1 , M - 1 ) - I n ( 0 , 0 ) }
次いで、 それぞれの濃度の測定から得られた電極一式につ いてのデータ 系列をシグモイ ド関数にフ ィ ッテ ィ ングする ( s 8 5 ) 。 次に、 フ ィ ッティ ング結果が所定の値以下か否 かを判定する ( s 8 6 ) 。 フィ ッティ ング結果が所定の誤差 の中に入っていれば、 仮定した値を飽和レベル、 バッ ク グラ ゥン ドレベルと決定する ( s 8 8 ) 。 所定の誤差を超える場 合には、 i 、 j のいずれかを変えた、 異なる核酸についての 電流値を飽和 レベル I s t、 ノ ッ ク グラ ウ ン ド レベル I b g と 仮定する ( s 8 7 ) 。
こ のよ う に、 ( s 8 8 ) で与え られた飽和レベル及びバッ ク グラ ゥ ン ド レベルに対 して、 (飽和電流値 I s t ) > (閾 値 I t h ) > (バ ック グラ ウン ド電流値 I b g ) を満たす閾値 I t hを設定すればよい。 なお、 こ こ で挙げた閾値設定処理 はほんの一例にすぎない。 例えば、 ( s 8 4 ) における面積 当た り の電流値に対する第 1 の正規化処理は、 シグモイ ド関 数以外の関数へのフィ ッティ ングを用いた評価を行う 場合、 飽和電流値 I s t に基づき正規化処理を行なっても よい。 こ の場合、 正規化電流値 I 。 ( i , j ) は以下の通 り になる。
I 0 ( i - J ) = I „ ( i , j ) / I n ( N — 1 , M -
1 )
このよ う に閾値 I t hを設定し、 またこの閾値 I t h とハイ ブリ ダィゼーシ ヨ ン時間の関係を設定すれば、 閾値 I t hを 超えた電極の数と、 濃度を予め測定した校正用の試料と の間 に 1 対 1 の関係を見出すこ と ができ る。 例えば閾値 I t hを 超えた場合を " 1 " 、 閾値 I t hを超えない場合を " 0 " と ビッ トで表現する と、 溶液の濃度が低い順に、 ビッ トデータ
B はそれぞれ { B ( A 0 ) 、 B ( A。 a 1 ) 、 B ( A o a 2 ) 、
B ( A o a 3 ) 、 ···、 B ( A。 a N - 、 } = { B ( A。) 、
B ( A ! ) 、 ···, B ( A N _ 3 ) 、 B ( A N2 ) 、 B ( A N _
! ) } = { 0 , 0 , …, 0, 0, 0 } 、 { 0, 0, …, 0 , 0 , 1 } 、 { 0 , 0 , …, 0 , 1 , 1 } 、 …、 { 1 , 1 , 1
1 , …, 1 } な どと示される。 こ の ビッ トデータ B の組 (以 下、 ビ ッ トパタ ーン と称する) を各核酸濃度 c i について取 得する ( s 1 8 ) 。
次に、 得られたビッ トパターンについて、 濃度と一対一に 対応 しているか否かを判定する ( s 1 9 ) 。
ある濃度と他の濃度のビッ トパターンが一致しないよ な 閾値を設定する のが望ま しい。 こ のためには、 具体的には S ビッ トパター ンを各濃度 C ! について求めた後、 互いに最 近い濃度に関する ビッ トパターン同士が一致しているか否か を比較する。 両者が一致している場合には、 閾値 I t hを変 えて再度ビッ トノ、"ターンを求める。 両者が一致しなく なるま で比較及びビッ トパターン算出を繰り 返せばよい o ~のよ う な処理は、 演算処理装置 1 1 3 が実行可能である 。 隣接する 濃度のビッ トパターン同士の比較、 比較結果が不一致の π の閾値 I t hの再設定、 これら比較および再設定を ビク 卜パ ターン同士が不一致と なるまで繰り 返す各処理を 己 'I 置 1
1 6 にプロ グラ ム と して記憶しておく 。 演算処理装置 1 1 3 は、 このプロ グラムを読み出 し実行すればよい。 このよ ラ に 閾値 I t h を変える こ と によ り 、 濃度ごと に異なる ビッ 卜パ ターンが得られ、 核酸濃度の分析精度が向上する o
なお、 閾値 I t hは、 正規化された飽和電流値 I s t と正規 化されたノ ッ ク グラ ウ ン ド電流値 I b g の間であればいかな る値を と つても よい'。 閾値 I t hは第 1 の正規化に よ り 極 面積で正規化された電流値との大小の比較に用い られる もの であるため、 複数の電極面積の電極について 1 つの閾値 I t hが設定されればよい。
極 Sの倍率 を小さ < してい < と 、 分析精度は向上す るがヽ ど 5 しても近い |RJ士のビ 卜ノヽ タ ンが一致して しま う π がめる この場 π ヽ 取ち近い濃度同士のビッ 卜パ タ一 ンが ―致する士具 でも ( S 1 8 ) に戻らず 、 s 2 0 ) に 迪むよ な処理に しても よい
、、
の ( S 1 9 ) の判定処理によ り ヽ 各濃度 と に異なる ビ ッ 卜ノヽ0タ一ンが得られる。 得られたビク 卜パタ ― ンは 、 例え ば以下のよ 5 な判定テ一プルと して記 装 1 1 6 に格納し ておく 。
表 1
Figure imgf000038_0001
表 1 に示すよ う に、 ビ ッ トパターンがハイ ブリ ダイゼーシ ョ ン時間 t および溶液の核酸濃度 C i に対応付けて格納され る ( s 2 0 ) 。 また、 この判定テーブルと と もに、 その判定 の基礎 と した閾値 I t h , I t h 2…が対応付けて格納され る。 このよ う に、 電極面積 A j 及び核酸濃度 C i ごと に、 M X N個のビッ トデータがハイ プリ ダィゼーショ ン時間ごと に 得られる と、 校正処理が終了する。
濃度測定のダイナミ ック レ ンジを変える には、 ハイ ブリ ダ ィゼーシヨ ン時間を変えればよい。 これによ り 、 同 じセンサ 系列で測定を行 う こ とが可能と なる。 ( s 1 2 ) や ( s 1 5 ) の電流値取得処理の詳細は図 1 1 のフ ローチャー ト に示す通 り である。 まず、 一定の温度およ ぴ時間でハイ プリ ダイゼーシヨ ンを行い ( s 3 1 ) 、 面積の 異な る電極で揷入剤を導入 して電流値 I を測定する ( s 3
2 ) 。 得られた電流値 I は、 電極面積で正規化される ( s 3
3 ) 。 この電流値の測定、 正規化は図 3 のモジュール 1 3 5 内で実行される。 正規化を行 う 回路の詳細構成については後 述する。 そ して、 モジュール 1 3 5 力 らセ レク タ 1 3 6 、 A / D コ ンバータ 1 3 7 を介 して正規化された電流値 I nが演 算処理装置 1 1 3 に出力される。 演算処理装置 1 1 3 は、 得 られた正規化電流値 I nの ピーク値 I n p をフ ィ ッテ ィ ング 処理によ り 算出する ( s 3 4 ) 。
なお、 これら電流値の測定の各処理は、 必ずしも こ こで説 明 した処理に限定されない。 例えば、 電極面積の正規化も含 め演算処理装置 1 1 3側で行う よ う に しても よい し、 ピーク 値算出処理をモジュール 1 3 5 内で行 う よ う に しても よい。 また、 図 2 9 の例に示 したよ う に、 ピーク値 I p算出を第 1 の正規化よ り も前に行っても よい。
次に、 図 9 の ( s 2 ) 測定処理の詳細について図 1 2 のフ ローチャー ト に沿って説明する。 この測定処理は、 図 1 0 に 示した校正処理の ( s 2 0 ) に示すよ う な判定テーブルが得 られた後に実行される。 なお、 予め判定テープルが得られて いれば、 測定処理 ( s 2 ) の前に校正処理 ( s 1 ) を行わな く ても よい。
まず、 測定の対象とする検体の溶液をセンサ 1 2 a が配置 02205
38 されたセル内に導入 し、 検体溶液にセ ンサ 1 2 a を浸漬させ る ( s 2 1 ) 。 次に、 図 1 1 に示すフ ロ ーに沿つて ( s 3 1 ) 〜 ( s 3 4 ) の過程を経て電流値を取得する ( s 2 2 ) 。 次に、 ( s 2 0 ) で得られ、 記憶装置 1 1 6 に格納された閾 値 I t hが読み出 される。 演算処理装置 1 1 3 は、 こ の閾値 I t h と ( s 2 2 ) の測定電流値と を比較 し、 ビ ッ トデー タ B を取得する ( s 2 3 ) 。 こ の ビ ッ トデータ B は、 ( s i 8 ) と 同様の要領で例えば閾値 I t hを超えた場合を " 1 " 、 閾値 I t hを超えない場合を " 0 " と ビッ ト で表現する こ と によ り 得られる。 この ビ ッ トデータ B を各電極面積 A j につ いて求め、 ビッ トパターンを取得する。 演算処理装置 1 1 3 は、 この ビ ッ ト パタ ーンに一致する ビ ッ ト ノ、。ターンを表 1 で 検索 し、 その ビ ッ トパターンに対応付け られた核酸濃度 C i を検体の濃度に決定する ( s 2 4 ) 。 以上によ り 測定処理が 終了する。
図 1 3 は ( s 3 3 ) や ( s 8 2 ) における正規化を行 う た めの回路の詳細な構成を示す図である。 図 1 3 において図 3 や図 5 な ど他の図面と共通する構成には同一符号を付し、 詳 細な説明は省略する。
図 1 3 に示すよ う に、 それぞれ Α。 、 ο; Α 。 、 ひ 2 A。 ( a < 1 ) の異なる電極面積の作用極 1 4 1 を持つ 3 電極系 1 4 0 0、 1 4 0 い 1 4 0 2を有するモジュール 1 3 5 。 、 1 3 5 α 、 1 3 5 2の信号出力がセ レ ク タ 1 3 6 に接続される。 6 つの ト ラ ンジス タ M l 。 〜 Μ 6 。 、 Μ 1 χ 〜 Μ 6 ! 、 Μ 1 2 〜Μ 6 2カゝ らなる正負電流用カ レ ン ト ミ ラーを備えた電流検 出回路は図 5 の構成と共通する 。 図 1 3 では、 3 電極系 1 4
0 1 4 0 ! 1 4 0 2 の対極 1 4 2 お よび参照極 1 4 3 側の構成については省略してある。 図 1 3 の例では、 れら モジュ ール 1 3 5 1 3 5 ! 1 3 5 2、 特に正負電流用 力 レン ト ミ ラーが、 センサで得られた検出電流をセンサ面積 について正規化する回路と して機能する。
正負電流用カ レ ン ト ミ ラ ーの電流取り 出 し側には、 ス ィ ッ チ S W を介 して ト ラ ンジス タ M 7 のゲー トが接続されてい る - の ト ラ ンジスタ M 7 のソースはデイ ブレツショ ンモ一 の N型 M O S F E T M 8 の ドレイ ンとセ レク タ 1 3 6 に 接 されている。 ト ラ ンジスタ M 8 の ソースはそのゲ一 卜 に 接糸冗されている。 これは、 ソースフ ォ ロア と 呼ばれる回路構 成の ―つである。 もちろん, 別の手法で構成する ソースフォ nァやボルテージフォ ロアな どの ッ フ ァ を用いても よい また 正負電流用力 レ ン ト ミ ラーの電流取り 出 し側と 卜 ラ ン ジスタ M 7 の間にはスィ ツチ S W 2およびキャパシタ Cから なるスイ ッチ ト キャパシタが設け られる。 こ のス イ ツチ 卜キ ャパシタの機能に よ り 、 スィ ッチ S W 2を開いた状態でキャ パシタ Cに力 レ ン ト ミ ラーを介して流れる電荷を蓄積し ス ィ クチ S W 2を閉 じる こ とでこ の電荷を逃がすこ と がでさ る スィ ツチ S W iおよび S W 2を以下の よ う な順序で開閉制 御する こ と によ り 、 各モ ジ ュ ール' 1 3 5 0 1 3 5 2 の 流 をセ レク タ 1 3 6 に選択的に出力する こ と ができ る。
具体的には、 まずスィ ツチ とオンに し、 ス ィ シチ S
W をオフに し、 時間 Δ t の流れる電流 i を積分しキャパシ タ Cの両端にチャージする。 これによ り 、 キヤ ノ シタ Cの両 端には電流の時間積分値に比例 した電圧 Δ t i / Cが生 じる。 そ して、 スィ ツチ S W 〗 および S W 2 と も にオフ にする。 ト ラ ンジスタ M 7及び IVI 8 では、 この電圧 Δ t i Z Cをセ レク タ 1 3 6 に出力する。 スィ ッチ S W i をオフ に し、 スィ ッチ s w 2をオンにする こ と で リ セ ッ トする こ と 力 sでき る。 この と き、 Δ t を電流の変化が十分少ない微小値と して定めれば、 出力電圧と電流の間に比例関係が成立する。 その結果、 電流 電圧変換が行われる。
ト ラ ンジス タ M 4 i と M 6 i のゲー ト の (ゲー ト 幅) / (ゲー ト長) の比、 すなわち入力側に対する出力側の電流増 幅率を、 最も大き な電極 A。に対する電極面積の逆比に設定 する。 他の M 3 i と M 5 i についても同様である。 図 1 3 の 例では、 A。の電極面積が最も大きい。 したがっ て、 M 4 。 と M 6 。並びに M 3 。 と M 5 Q の (ゲー ト 幅) Z (ゲー ト 長) は 1 : 1 、 と 並びに M 3 i と Μ δ の 、ザ一 ト幅) / (ゲー ト長) は α : 1 、 Μ 4 2 と Μ 6 2並びに Μ 3 2 と Μ 5 2 の (ゲー ト幅) / (ゲー ト長) は α 2 : 1 であ る。 こ こで、 0! < 1 である。
すなわち、 6 つの ト ラ ンジス タからなる電流検出回路の出 力側に正規化回路が付加された構成をなす。 図 3 1 は図 1 3 に示す回路構成の概念図である。 各 3 電極系 1 4 0 。 , 1 4 0 1 , 1 4 0 2力ゝ ら の電流は、 電流検出回路 3 2 0 。 , 3 2 0 ! , 3 2 0 2で検出 される。 検出電流は各々正規化回路 3 2 1 内の正規ィ匕回路 3 2 1 。 , 3 2 1 , 3 2 1 2に出力 さ れ、 電極面積 A j について正規化され、 セ レ ク タ 1 3 6 に出 力 される。
これによ り 、 モジュール 1 3 5 i における検出電流は 1 / α倍に、 モ ジュール 1 3 5 2における検出電流は 1 / α 2倍 に増幅される。 したがって、 最も大電流のモジュ ール 1 3 5 。の大き さ に正規化する こ と ができ、 電流電圧変換回路の変 换比ゃ A / D コ ンバータな どを共通化する こ とができ る。
なお、 図 1 3 では説明の便宜のため 3 つのモジュールを例 に説明 したが、 これに限定されない。 他の電極面積 α 3 A 。、 a 4 A。、 …を有するモ ジュ ール についても上記と 同様の構 成を有する こ と はも ちろんである。 もちろん、 電極面積は濃 度測定の精度に応じて種々設定でき る。 一般的には、 系の最 大の電極面積を A m a x とする と 、 の電極面積のカ レ ン ト ミ ラーでの増幅率 a = A m a x Z A 1で表される。
図 1 4 〜図 1 8 は図 1 〜図 1 3 に示す核酸濃度定量分析装 置 1 の変形例に係わる。
図 1 4 はこの変形例の核酸検出用チップ 1 2 の概念図であ る。 図 1 4 の 2 0 丄 ェ と 2 0 1 2で示される のは、 図 4や図 5 の対極 1 4 2 および参照極 1 4 3 と電圧掃引信号発生手段 と の間に設け られた電圧印加側回路である。 1 6 0 ェおよぴ 1 6 0 2で示されるのは、 図 4や図 5 の作用極 1 4 1 側に接 続された電流検出回路および正規化回路である。 電流検出部 分は、 図 4 の例では演算増幅器 1 5 1 および抵抗 R wか らな る回路に対応し、 図 5 の例では ト ラ ン ジス タ M 1 〜 M 6 およ び演算増幅器 1 5 1 からなる回路に対応する。 1 4 0 b はバック グラ ウ ン ド信号測定用 (ネガティ ブコ ン ト ロ ール用) 3 電極系、 1 4 0 d はプロ ーブ用 (検体測定 用) 3電極系である。 これら 3 電極系 1 4 0 bおよび 1 4 0 d は、 図 4や図 5 に示す作用極 1 4 1 、 対極 1 4 2および参 照極 1 4 3 カゝらなる。 バッ ク グラ ウン ド信号測定用 3 電極系 1 4 0 b に属する作用極 1 4 1 には固定化されていない。 プ ローブ用 3 電極系 1 4 0 d に属する作用極 1 4 1 には 1 本鎖 プローブが図 4や図 5 と 同様に固定化されている。 あるいは バック グラ ウン ド信号測定用 3 電極系 1 4 0 b に属する作用 極 1 4 1 には、 プローブ用 3 電極系 1 4 0 d に属する作用極 1 4 1 に固定化された核酸と相補性が例えば 5 0 %以下の核 酸をプローブと して固定化 しても よい。 こ こで相補性と は、 比較する 2 つの核酸断片に関 して、 対応する箇所の塩基が同 一である塩基数の全塩基数に対する割合である。 このネガテ イ ブコ ン ト ロール用のプローブに検体核酸が結合する率は、 プローブ用 3 電極系 1 4 0 d に固定化されるプローブに比較 して十分に小さいため、 ノ ック グラ ゥ ン ド レベルを同時にモ ニタする こ とが可能と ある。
電流検出回路おょぴ正規化回路 1 6 0 および 1 6 0 2の 測定信号は減算回路 2 0 2 に出力される。 減算回路 2 0 2 は、 プローブ用 3電極系 1 4 0 d からの測定信号からバック ダラ ゥン ド信号測定用 3 電極系 1 4 0 d からの測定信号を減算 し てセ レク タ 1 3 6 に出力する。
電極の面積によって、 バック グラ ウ ン ドレベルも異なつて く るため、 互いに同 じ面積の電極をバ ック グラ ウ ン ドモニタ 用 と信号測定用で対に Ikり る。
こ のよ う な構成によ り 、 プローブ用 3 電極系 1 4 0 d から の検出信号力、らパ ク グラ ウ ン ド信号測定用 3電極系 1 4 0 b 力 らの検出信号を減算する こ と ができ、 プロ一プ起因の信 号からノ 、ソク グラ ク ン ド レベルを差し引いた正味の信号を得 る こ と ができ る 。 その結果、 実験条件の揺ら ぎによるパック グラ ゥン ドレべノレの変化が常にモニタ され、 測定の精度が向 上する
なお 、 図 1 4 では言及していないが、 電流電圧変換回路を 適宜配置可能である 。 例えば、 減算回路 2 0 2 2 の後段に電 流電圧変換回路を配置した場合、 減算回路 2 0 2 の出力信 号電流を電流電圧変換回路が電圧変換してセ レク タ 1 3 6 に 出力する。 あるいは 、 減算回路 2 0 2 2の前段で電流検出回 路 1 6 0 ! : , 1 6 0 2の後段に電流電圧変換回路を配置 して も よい の場合ヽ 電流検出回路 1 6 O 1 6 0 の出力 信号電流を電流 ϋ変換回路が電圧変換して減算回路 2 0 2
2に出力する。
図 1 5 は減算回路 2 0 2 を含む回路の詳細な構成例である こ の図 1 5 の回路例は、 電流検出、 電流正規化、 電流電圧変 換、 減算、 A / Ό変換の順に処理を行 う 回路である 図 1 5 に示すよ う に、 図 1 3 に示すよ う な演算増幅器 1 5 1 ヽ 卜 ラ ンジスタ M 1 〜 M 6 、 スィ ッチ ト キヤ ノヽ0シタがバ ック グラ ゥ ン ド側と プローブ検出側で同 じ構成をなす。 ス ィ クチ 卜 キャ パシタの出力が差動増幅器 2 0 4 に接続される。 差動増幅器
2 0 4 が図 1 4 の減算回路 2 0 2 に相当する。 図 1 3 と 同様の要領によ り 、 ト ラ ンジス タ M l 〜M 6 が電 流の正規化を行 う。 そ して、 キャパシタ Cおよびスィ ッチ S W xおよび S W 2力 ら なる スィ ツチ ト キャパシタ (電流電圧 変換回路 ) を操作し 、 バ ック グラ ゥ ン ド信号測定用 3電極系
1 4 0 b から得られる 流に比例する電圧値と、 プロープ用
3 電極系 1 4 0 d から得られる電流に比例する電圧値と をそ レ れ 動増幅 厶 0 4 に出力する 差動増幅器 2 0 4 は、 これら電圧値の差分をセ レク タ 1 3 6 に出力する。
この図 1 5 の回路構成によれば、 流を演算に用いるのは カ レ ン 卜 、 、 ラ一の 2 次側で行う ためヽ 3電極系電気化学反応 などの動作に SO響を与えなレ、 この図 1 5 に示す回路の特徴
■ 、 >― は、 A / D ンノ^一タ 1 3 7 によ つてデータ変換を行 Ό 刖に 減算を行 う ため 、 A Z D コ ンノ 一タ 1 3 7 の精度で決定され る ダィナヽ、 ック レ ンジを有効に活用する こ と ができ る
· - なおヽ の図 1 5 に示した回路 トホ ロジはほんの一例にす ぎず、 上記と |BJ様の処理を様 な回路およぴ手法によ り 実現 可能である
図 1 6 は図 1 5 に示さ る減算回路の変形例を示す図であ
Ό o の図 1 6 も 、 図 1 5 と |pj様に ック グラ ウン ド側測定 回路とプ口一ブ側測定回路の構成が 通する。 すなわち、 こ の図 1 6 の回路例は 流検出 、 ¾ι流正規化、 電流電圧変換、 減算、 A / D変換の順に処理を行う 回路である。
図 1 6 に示すよ う に、 バック グラ ゥ ン ド信号測定用 3 電極 系 1 4 0 b と演算増幅器 1 5 1 b との接続関係は図 1 5 と共 通する 演算 幅器 1 5 1 b の出力は 、 P M O S ト ラ ンジス タ M P 3 お よび N M o S 卜 フ ンシスタ M N 1 のゲ 卜 に 続 される バ V ク グラ ゥ ン ド、信号測定用 3 電極ポ 1 4 0 b の作 用極 1 4 1 b には N M o S 卜 ラ ノ 、 ジス タ M N 1 の ソ一ス お よ び P M O S 卜 ラ ンジス タ M P 3 の ソ一ス に接 される N M
O S ト ラ ンシス タ M N 1 の基板 極と ソ ス は短絡され 、 そ の ド レィ ンは P M O S 卜 ラ ンジス タ M P 1 の K レ 4 ン よび ゲー ト に接 feeされる P M o S 卜 ラ ンジス タ M P 1 の基板電 極およびソ一ス は短絡され 、 電圧が正電源 ¾圧 + V s に保持 される 。 P M o S 卜 ラ ンジス タ M P 1 と P M O S 卜 ラ ンジス タ M P 2 のゲ一 卜 が接 されている P M O S 卜 ラ ンジス タ
M P 2 の ソ一ス と基板電極が 絡されヽ 圧が正電源 ¾圧 +
V s に保持される の P M o S 卜 ラ ンジス タ M P 1 よび
M P 2 に よ り 力 レ ン 卜 ヽ、ラ一構 をなす P M o S 卜 ラ ンジ ス タ M P 2 の ド、 レィ ンは N M o S 卜 ラ ンジス タ M N 2 の ド レ イ ンおよびゲ一 卜 に接 ί冗される N Μ o S 卜 ラ ンジス タ M N
2 の基板 ¾極と ソ一ス は接地されヽ そのゲ一 卜 は 7^動增幅器
2 1 1 の反転入力端子に接 iされる
P M O S 卜 ラ ンジス タ M P 3 の ド、レィ ンは N M o S 卜 ラ ン ジス タ M N 3 のゲ一 卜 ね よぴ K レ ンヽ N M O S 卜 ラ ンジス タ M N 4 のゲ一 卜 に接 iされる N Μ o S 卜 ラ ンジス タ M N
3 の基板亀極ね よびソ一ス は 絡されヽ 電圧が負電源 圧一
V s に保持される N M O S 卜 ラ ンジス タ M N 4 の ソ ―ス と 基板電極は短絡されヽ 圧が負電源 圧一 V s に保持される。 こ の N M O S 卜 フ ンジス タ M N 3 よぴ M N 4 に よ り 力 レ ン 卜 ミ ラ一構造をなす N Μ O S 卜 フ ンシスタ M N 4 の ド、 レィ ンは P M O S 卜 ラ ン ジス タ M P 4 のゲ一 卜および ド レィ ンさ らには 動増幅器 2
、 ^
1 2 の反転入力端子に接 ί れる Ρ M O S 卜 ラ ン ジス タ M
P 4 の基板 極と ソ一スは接地され
以上の う ちヽ 卜 ラ ンジス タ Μ Ρ 1 ヽ M P 2 、 M N 1 ねよび
M N 2 が還兀 の測定の際に動作しヽ 卜 ラ ンジスタ M P 3 、
M P 4 、 M N 3 およぴ Μ Ν 4 が酸化電流の測疋の際に動作す る
以上に示されるノ^クク グラ ウン 信号測定用の測定回路と プ 一プ信号測定用の測定回路は h通の回路構成をな し、 パ y ク グラ ゥ ン ド、信号測定用の符号 1 4 0 b 、 1 5 1 b 、 M P
1 ヽ Μ P 2 ヽ M N 1 、 Μ Ν 2 、 Μ P 3 、 M P 4 、 M N 3 、 M
N 4 で示される各構成要素が、 プ π一プ信号測定用の符号 1
4 0 d 、 1 5 1 d ヽ M Ρ 6 、 Μ Ρ 5 、 M N 6 、 M N 5 、 M P
8 ヽ M P 7 ヽ M N 8 ヽ Μ Ν 7 で示される各構成要素に対応す る
そ して、 N M O S 卜 ラ ンジスタ M N 5 のゲ 卜 よび P M
O S 卜 ラ ンジスタ M P 5 の ドレイ ンが差動増幅 2 1 1 の非 反転入力端子に接 される。 またヽ P M O S 卜 ラ ンジス タ M
P 7 のグー 卜 と N M o S ト ラ ンジスタ M N 7 の レィ ンが 動増幅 2 1 2 の非反転入力端子に接続される
差動増幅器 2 1 1 の出力は Ν Μ O S 卜 ラ ンジス タ M N 1 1 の ドレィ ンに接 される。 Ν Μ Ο S 卜 ラ ンジス タ M N 1 1 の ゲ一 卜は N M O S 卜 ラ ンジス タ Μ N 1 2 のゲ一 卜 と接 され 端子 s Eで取り 出され 、 N M O S 卜 ラ ンジスタ M N 1 1 の基 板電極と ソースの電圧は電圧 V
差動増幅 2 1 2 の出力は N M O S ト ラ ンジスタ M N 1 2 の ド レイ ンに接続される D N M O S ト ラ ンジスタ!^ N 1 2 の 基板電極と ソ一スの電圧は電圧 V。 u t 2 と して取 り 出される。
酸化電流が検出される場合には、 差動増幅器 2 1 2 がプロ ープ用 3 電極系 1 4 0 d側の作用極 1 4 1 d側から検出され る電流からノ^ クク グラ ゥン ド信号測定用 3 電極系 1 4 0 b側 の作用極 1 4 1 b側から検出される電流を差し引き N M O S ト ラ ンジス タ M N i l に出力する。 この電流によ り N M O S ト ラ ンジス タ M N i l に与え られる電圧 V。 t が減算値で ある。
還元電流測定の場合には差動増幅器 2 1 1 が差動増幅器 2
1 2 と 同様の動作によ り 減算 した電流値を N M O S ト ラ ンジ ス タ M N 1 2 に出力する。 この電流によ り N M O S ト ラ ンジ ス タ M N 1 2 に与 られる電圧 V。, t 2が減算値である。
次に、 図 1 7 および図 1 8 を用いてバック グラ ウン ド測定 用電極付チップを用いた分析処理フローを説明する
分析処理が校正 ( s 1 ) および測定 ( s 2 ) カゝらなる点は 図 9 と共通する。
校正処理 ( s i ) は、 図 1 7 に示す ( s 4 1 ) 〜 ( s 4 8 ) の処理か らなる。 まず、 核酸を含む溶液 S 5 の測定 ( s 4 1 ) と して、 既知の濃度 C i の核酸溶液 S i を異なる電極 面積 A 】 ( j = 0 , 1 , ··· , Ν— 1 ) のセ ンサ 1 2 a を有す るセル内に導入する ( s 4 2 ) 。 そ して、 後述する電流値取 得操作を行 う ( s 4 3 ) 。 そ して、 次は濃度 C i + 1 の核酸 溶液 S ; + の電流値取得 ( s 4 4 ) と い う よ う に、 N種類 のすベての核酸溶液 S i ( i = 0, 1 , 2 , ··· , N — 1 ) に ついて、 またすベての電極面積 A j のセ ンサ 1 2 a について 電流値が取得される。 次に、 ( s 1 7 ) と 同様の手法によ り 閾値算出を行う ( s 4 5 ) 。 なお、 この閾値算出の際に、 算 出の基礎 と する電流値 I p、 I n、 I 。は、 後述の図 1 8 の フローチヤ一 ト に示すよ う に、 それぞれプローブ信号からバ ック ダラ ゥ ン ド信号が減算された電流値が算出され用い られ る。
次に、 演算処理装置 1 1 3 は、 ( s 4 5 ) で得られた閾値 I t h と各核酸溶液 s i の各測定で取得された正規化さ れた 電流値 I n と をそれぞれ比較する。 正規化 した電流値 I nが 閾値 I t h を超え る場合には " 1 " と 、 超えない場合には " 0 " と判定する。 電極系列全体でこの判定処理を行い得ら れた判定結果の組を ビッ トパターン と して取得する ( s 4 6 ) 。 次に、 演算処理装置 1 1 3 は、 ( s 1 9 ) と 同様の要 領で、 得られたビッ トパターンと濃度が一対一に対応するか 否かを判定する ( s 4 7 ) 。 対応 していれば ( s 4 8 ) に進 む。 ( s 4 8 ) では、 演算処理装置 1 1 3 は、 ( s 2 0 ) と 同様の要領でビッ ト ノ、"ターンがハイブリ ダィゼーショ ン時間 t および溶液の核酸濃度 C i に対応付けて判定テーブルと し て閾値 I t h と と も に格納する。 対応 していなければ、 再度 閾値 I t hの設定処理に戻る。
図 1 8 は図 1 7 の ( s 4 3 ) に示す電流値取得操作の詳細 なフ ローチャー トである。 図 1 8 に示すよ う に、 まず図 1 1 の ( s 1 1 ) および ( s 1 2 ) の要領で、 一定の温度および 時間でハイプリ ダイゼー シ ヨ ンを行う ( s 4 3 1 ) 。 そ して、 面積の異なる各電極に挿入剤を与 X·飞 ッ ク グラ ウ ン ド レべ ル、 プロ ーブ電流それぞれの電流値を測定する ( s 4 3 2 ) 。 得られた電流値は、 例えば図 1 3 の ト ラ ンジス タ M l i 〜 M
6 i で示さ る カ レン ト ミ ラー回路に よ り 電極面積 A j につ いて正規化され ( s 4 3 3 ) ヽ 例えば図 1 4 の減算回 路 2 0 2 でプローブ電流ィ直からバ、、/ク グラ ウン ド電流値が減 算される ( s 4 3 4 ) 。 そ して 、 ( s 3 4 ) と 同様の要領で、 得られた減算値のピ一ク値をフイ ツティ ング処理によ り 求め る ( s 4 3 5 ) 。
以上のよ う に、 図 9 、 図 1 1 および図 1 7 、 図 1 8 に示す 処理フローを経てバ ク ク グラ ウン ドレベルを差し引いた正味 のプローブ信号を得る こ とができ る。
低濃度の核酸の検出においては, 測定において得られる真 の信号成分に対する様々 な雑音成分の排除が非常に重要であ る。 この図 1 4 〜図 1 8 に示される変形例によれば、 その雑 音成分と して考えられる挿入剤が核酸 2本鎖以外に吸着され る際に信号電流に混入する電流分を排除する こ と ができ る。
図 1 9 〜図 2 2 は、 図 1 〜図 1 3 に示す核酸濃度定量分析 装置 1 、 図 1 4 〜図 1 8 で説明されたバック グラ ウン ド計測 用電極付きチップを用いた分析装置 1 のさ らなる変形例に係 わる。 図 1 9 は、 この変形例に係る核酸検出用チップ 1 2 の 概念図である。
図 1 9 に示すよ う に、 図 1 4 に示すよ う なノ ッ ク グラ ウン ド信号測定用 3 電極系 1 4 0 b およびプロ一プ用 3 電極系 1
4 0 d に力 [Iえて、 飽和レベル校正用 3電極系 1 4 0 s が設け られる。 飽和レベル校正用 3 電極系 1 4 0 s についても、 3 電極系 1 4 0 b および 1 4 0 d と 同様に、 互いに同 じ面積の 電極を信号測定用やバック グラ ゥ ン ドモニタ用 と対に設ける。 飽和 レベルは電極の面積によって変わる力、らであ Ό
これら 3電極系 1 4 0 b、 1 4 0 dおよび 1 4 0 s の基本 的な構成は共通するが、 飽和レベル校正用 3 極系 1 4 0 s の作用極 1 4 1 s には、 既にハイ プリ ダイゼ ―シ ョ ンが生 じ た 2本鎖プローブが固定化されている。 図 1 4 と共通する構 成には同一符号を付し、 詳細な説明は省略する
飽和レベル校正用 3 電極系 1 4 0 s には、 電圧掃引信号が 電圧印加側回路 2 0 1 3を介 して入力される 飽和 レべノレ校 正用 3 電極系 1 4 0 s の出力は電流検出回路ねよぴ正規化回 路 1 6 0 3を介 して減算回路 3 0 2 に接続される 。 減算回路
2 0 2 では、 図 1 4 と 同様にプローブ電流信号からバック グ ラ ウ ン ド電流信号を減算 してセ レク タ 1 3 6 に出力するのに 対して、 減算回路 2 0 3 は、 飽和 レベル電流信号か ら ノ" ック グラ ウン ド電流信号を減算 してセ レ ク タ 1 3 6 に出力する。
このよ う に、 バッ ク グラ ウン ドレベルと飽和レベルの双方 が測定でき るため、 測定データ を電極面積と 、 飽和レベル力 らバック グラ ゥン ド レベルを差し引いた値の双方で正規化す る こ とができる。 このため、 実験条件の揺らぎにかかわらず、 閾値 I t hを適性な値に常に合わせる こ と ができ る。 適正値 と は、 例えば飽和レベルとノ ック グラ ゥン ドレベルの中間値、 すなわち (閾値 I t h ) = ( (飽和 レベル I s t ) — (バッ ク グラ ウ ン ド レベル I b g ) ) Z 2 である。 これに よ り 、 測定 精度がさ ら に向上する。 従って、 閾値 I t hを測定の都度設 定する必要が無く なる。
なお、 121 1 9 では言及していないが、 電流電圧変換回路を 適宜配置可能である。 例えば、 減算回路 2 0 2 2 の後段に電 流電圧変換回路を配置 した場合、 減算回路 2 0 2 2 の出力信 号電流を電流電圧変換回路が電圧変換してセ レク タ 1 3 6 に 出力する。 あるいは、 減算回路 2 0 2 2 の前段で電流検出回 路 1 6 0 ^ 1 6 0 2 の後段に電流電圧変換回路を配置 して も よい。 この場合、 電流検出回路 1 6 0 , 1 6 0 2の出力 信号電流を電流電圧変換回路が電圧変換して減算回路 2 0 2 2に出力する。
次に、 図 2 0 〜図 2 2 を用いて飽和レベル校正用電極付チ ップを用いた分析処理フ ロ ーを説明する。
分析処理が校正 ( s i ) および測定 ( s 2 ) カゝらなる点は 図 9 と共通する。
校正処理 ( s i ) は、 図 2 0 に示す ( s 5 1 ) 〜 ( s 5 5 ) の処理か らなる。 まず、 核酸を含む溶液 S ; の測定 ( s 5 1 ) と して、 既知の濃度 C i の核酸溶液 S i を異なる電極 面積 ( j = 0 , 1 , …, N - 1 ) のセ ンサ 1 2 a を有す るセル内に導入する ( s 5 2 ) 。 そ して、 後述する電流値お ょぴビッ トパター ン取得操作を行 う ( s 5 3 ) 。 そ して、 次 は濃度 C ; + i の核酸溶液 S i + i の電流値およびビ ッ トパタ ー ン取得 ( s 5 4 ) とい う よ う に、 N種類のすべての核酸溶 液 s i ( 1 = 0 , 1 , 2 , …, N - 1 ) につレヽてヽ またすベ ての電極面積 Α 5 のセ ンサ 1 2 a について電流値が取得され る。 次にヽ 演算処理装置 1 1 3 は、 ( s 2 0 ) と 同様の要領 で ビッ トパターンがハイブ リ ダイゼーショ ン時間 t お よび溶 液の核酸濃度 C i に対応付けて判定テーブルと して格納する
V s 5 5 ) o
図 2 1 は ( s 5 4 ) における電流値およびビッ 卜ハ0ターン 取得操作の詳細なフ ローチヤ一 トである ヽ 図 2 1 に示 すよ う に 、 図 1 1 の ( s l l ) および ( s 1 2 ) の要領で、 一定の温度および時間でハイプリ ダィゼーシヨ ンを行 ラ ( s
5 4 1 ) ο そ して、 面積 Α 3 の異なる各電極に揷入剤を与 ん てノ ック グラ ウン ドレベル、 プローブ電流、 飽和レベノレ各々 の電流値 I b g , I , I s tを測定する ( s 5 4 2 ) ο 得られ た電流値 I b g, I , I s tは、 例えば図 1 3 の ト ラ ンジスタ
M 1 i 〜 ] M 6 i で示 されるカ レ ン ト ミ ラ一回路に よ り 正規化 され ( s 5 4 3 ) 、 さ らに例えば図 1 9 に示す減 回路 2 0
2 で測定値 I 力 ら ノ ッ ク グラ ウ ン ドレベル I b gが減算 され、 かつ減算回路 3 0 2 で飽和 レベル I s t 力 らバ ッ ク グラ ウ ン ド レベル I b gが減算 される ( s 5 4 4 ) 。 そ して、 演算処 理装置 1 1 3 は、 ( s 3 4 ) と 同様の要領で、 得られた (測 定値 I ) 一 (ノ ッ ク グラ ウ ン ドレベル I b g ) の減算値およ ぴ (飽和 レベル I s t ) — (バック グラ ウン ドレベル I b g ) の各々 の ピーク値をフ ィ ッティ ング処理によ り 求める ( s 5 4 5 ) 。 { (飽和 レベル I s t ) — (バ ッ ク グラ ウ ン ド レべ ル I b g ) } Z 2 の値が閾値 I t hに設定される ( s 5 4 6 ) 。 次いで、 演算処理装置 1 1 3 は、 得られた閾値 I t h と 測定 値 I を比較する。 比較の結果、 (測定値 I ) > (閾値 I t h ) の場合には演算処理装置 1 1 3 は " 1 " と 、 (測定値 I ) ≤ (閾値 I t h ) の場合には " 0 " と判定し、 ビッ トデ ータ を取得する ( s 5 4 7 ) 。
図 2 2 は飽和レベノレ†父正用電極付チップを用いた測定処理
( s 2 ) の詳細な処理フ ローチャ一 卜 5あ 。 図 2 2 に示す よ う に、 まず測定の対象とする検体の溶液をセ ンサ 1 2 a が 配置されたセノレ内に導入し、 検体溶液にセ ンサ 1 2 a を浸漬 させる ( s 6 1 ) o 次に 、 図 2 1 の ( s 5 4 1 ) ( s 5 4
7 ) の要領で電流値およびビッ トパタ一ンを取得する ( s 6
2 ) 。 次に 、 演算処理装置 1 1 3 はヽ 検体溶液について得ら れた電極系列全体の ビッ トパタ ― ンを図 2 0 の校正処理 ( s
1 ) の ( s 5 5 ) において得られた判定テープルと !昭\v α 1レ 、 一致したビッ 卜パタ ― ンを溶液濃度 Cに決定する ( s 6 3 ) 以上によ り 測定が終了する。
なお、 図 1 9 〜図 2 2 に示す実施形態では、 飽和レべノレ と バ ック グラ ゥ ン ド、 レベノレの双方を検出する 3 電極系 ■ar ける 例を示したが、 バ 、ソク グラ ウン ドレベルを検出する 3 電極系 を設けず、 飽和レベル校正用 3 電極系 1 4 0 s と プローブ用 3電極系 1 4 0 d の組のみに省略する こ と もでき る。 こ の場 合、 図 1 4 に示すバ ッ ク グラ ウン ドレベル用の構成を飽和レ ベル校正用の構成に置換し、 減算の正負を逆にすればよい。 あるいは、 プローブ用測定信号と飽和 レべル測定信号の比を 対と なるセンサ間でと り 、 こ の比が 1 0 0 °/0でない対から得 られる信号の強度から検体中に含まれる標的核酸の濃度を決 定する よ う に しても よい。
図 2 3 は図 1 〜図 1 3 、 図 1 4 〜図 1 8 、 図 1 9 〜図 2 2 の各実施形態における 3 電極系 1 4 0 の電極配置の詳細な構 成の一例を示す平面図である。 図 2 3 では説明の便宜のため 2 つの隣接する 3 電極系 1 4 0 1および 1 4 0 2 について説 明するが、 複数の 3 電極系 1 4 0 ( i = 0 , 1 , …、 N— 1 ) についても同様の構成をなす。 3 電極系 1 4 0 , 1 4 0 2 と も に、 例えば 7 0 0 μ m X 7 0 0 mの正方形の領域 に設け られている。 対極 1 4 2 iおよび 1 4 2 2、 参照極 1 4 3 および 1 4 3 2 の構成は共通 し、 作用極 1 4 1 およ び 1 4 1 2はその面積が異なる。 作用極 1 4 1 iおよび 1 4 1 2は 3 電極系 1 4 0 ! , 1 4 0 2の形成領域の中心位置に 配置され、 これら作用極 1 4 1 iおよび 1 4 1 2 の 3 方向を 囲むよ う に対極 1 4 2 および 1 4 2 2力 Sコ の字形に設け ら れている。 また、 作用極 l A l iおよび 1 4 1 2力、ら見て対 極 1 4 2 iお よび 1 4 2 2が配置されていない側には参照極 1 4 3 iおよび 1 4 3 2が配置されている。
このよ う に、 3 電極のいずれの距離をもほぼ一定位置に配 置でき る よ う に、 1 つ の作用極 1 4 1 お よび 1 4 1 2 の 各々 に 1 つずつ対極 1 4 2 および 1 4 2 2および参照極 1 4 3 および 1 4 3 2 を配置 している。 対極 1 4 2 、 1 4 2 2、 参照極 1 4 3 i、 1 4 3 2 のはいずれも 同一構成であ るため、 その位置関係は等距離になる。
さ ら に、 こ の 3 電極系 1 4 および 1 4 0 2 の電圧印加 側のフ ィ ー ドノ ック 回路も 1 つの作用極 1 4 1 iおよび 1 4
1 2の各々 に 1 つずつ接続する。 3 1 2 , 3 1 2 2 , 3 1 1 ! , 3 1 1 2は下部配線に接続するためのコ ンタ ク ト であ る。
A / D コ ンバータ 1 3 7 の精度を十分生かすにはヽ 図 1 5 や図 1 6 に示した通 り 、 検出電流をアナ口 グ回路で減算する こ と が有効である。 この場合 、 図 1 8 等で示した通 り 、 減算 を した後でのピーク高さ解析を行 う こ と と な 。 ノ^ ク グラ ゥン ド測定用 3 電極系 1 4 0 b 、 プローブ用 3電極系 1 4 0 d 、 飽和レベル校正用 3 電極系 1 4 0 s の間でピ一ク位置が ずれて しまった場合、 解析結果の測定精度に悪影響を与える 可能性がある。 この ピーク位置のずれは、 溶液抵抗成分が存 在するためである場合が多い
図 2 3 のよ う に作用極 1 つずつに対極、 参照極を ける こ とで、 複数の作用極に対し対極や参照極を一つ設けた場合に 生ずる溶液抵抗のばらつき をな く すこ とができ る また、 フ ィ一 ドバ ックループを複数の作用極に対し —つ しか持つてい ない場合に比較 して、 わずかな測定条件の違いに応じて正確 に参照極と対照極の間の電圧を制御でき る
図 2 4 は図 2 3 と は別の電極配置の平面図である
図 2 4 において、 3 電極系 5 4 0 は 0 . 5 m m平方の領域 に 4 つの作用極 5 4 1 1〜 5 4 1 4力 S所定の間隔を いて配 置されている。 1 つの参照極 5 4 3 が、 この 4つの作用極 5
4 1 i〜 5 4 1 4を所定の間隔をおいて囲むよ う に配置され てる。 さ らに、 1 つの対極 5 4 2 力 Sこの参照極 5 4 3 力 ら所 定の間隔をおいて囲むよ う に配置されている。 こ の 3 電極系
5 4 0 は、 2 m m平方の領域におさま る よ う に配置されてい る。 各作用極 5 4 1 1 〜 5 4 1 4力ゝら対極 5 4 2 , 参照極 5 4 3 への距離はいずれもほぼ同 じである。 各電極は作用極 5 4 1 i 〜 5 4 1 4 の中心から見て対称の位置に配置され、 例 えば A uカゝらなる。
4 つ の作用極 5 4 1 〜
1 5 4 1 4 の電極面積は図 2 4 の例 では共通する場合を示 しているが、 異なる電極面積と しても よい。 5 4 4 丄 〜 5 4 4 ヽ 5 4 5 、 5 4 6 は下部配線に接 続するための コ ンタク 卜ヽ 5 4 7 〜 5 4 9 は電極下部に形成 された A 1 配線であ り ヽ 図 5 の断面構造の第 2層配線 1 7 1
2に対応する。
こ の よ う に、 複数の作用極に対して 1 つの参照極あるいは
1 つの対極を配置しても ぶレ、 。 このよ う な配置は、 回路の大 き さ の制約や, 基板上に滴下でき る溶液の液滴半径な どの制 約がある場合に有効である o
また、 作用極を 照極 よび対極で囲む構造は, 作用極に 対して外界の静電 的ヽ 電磁的な外乱を避ける効果も持って お り 、 測定の雑音対策に有効である。 また、 電界の分布に集 中が生じに く いとい う 点でち 、 測定の揺らぎを軽減するのに 有効である。
なお、 こ;^ら図 2 3 ねよぴ図 2 4 に示したのは、 平面的な 電極配置構造を示しているが 、 これに限定されない。 例えば 各電極 1 4 1 〜 1 4 3 を 3 次元立体構造とする こ と も でき る 図 2 5 は図 1 〜図 1 3 ヽ 図 1 4〜図 1 8 、 図 1 9 〜図 2 2 の各実施形態における掃引電圧のオフセ ッ ト及ぴ線形性を補 償する機能を付加した補償回路 6 0 0 の構成の一例を示す図 であ る。 図 5 と共通する構成には同一の符号を付 し、 詳細な 説明は省略する。 捕償回路 6 0 0 は、 例えばア レイ状にモ ジ ユール 1 3 5 が配置されている場合に、 半導体製造プロ セ ス の位置的な不均一性や、 素子寸法の設計値に対するずれな ど に起因する掃引電圧のオフセ ッ トゃ線形性を補償する回路で ある。
こ の補償回路 6 0 0 は、 図 1 の分析装置筐体 1 1 に設け ら れ、 分析装置筐体 1 1 に核酸検出用チップ 1 2 を装着 して核 酸検出用チップ 1 2 と送液 Z温調機器 1 1 1 と を物理的に接 続する。 また、 核酸検出用チップ 1 2 とチップ一筐体イ ンタ フ ェ ース 1 1 2 と を電気的に接続する と、 自動的に核酸検出 用チップ 1 2 の各モジュール 1 3 5 中の配線 1 4 2 a および 配線 1 4 3 a にセ レク タ 1 5 6及び 1 5 6 を介してスィ ッチ S W 3およぴス ィ ツチ S W 4が電気的に接続される よ う に構 成されている。 各モ ジュ ール 1 3 5 の各配線 1 4 2 a 及び配 線 1 4 3 a 力 らの信号は、 セ レ ク タ 1 5 6及ぴ 1 5 5 によ り 選択されてス ィ ッ チ S W 3及ぴ S W 4側に出力される。
図 2 5 に示す対極 1 4 2 に接続された演算増幅器 1 5 2 の 出力がス ィ ツチ S W 3を介 して抵抗 R 1 及びキ ャ パシタ C a が並列接続された回路に接続される。 また、 これら抵抗 R 1 及ぴキャパシタ C a には抵抗 R 2 の一端に接続される。 抵抗 R 2 の他端は、 スィ ッチ S W 4及び演算増幅器 6 0 1 の非反 転入力に接続される。 - れら抵抗 R 1 、 キ ャ パシタ c a及ぴ抵抗 R 2 は 、 3 電極
1 4 1 1 4 3 が備え られたセル内の溶液系を模擬した回路 でめ る 抵抗値 、 容量値は、 例えば R 1 = 1 M Ω 、 C a = 2
0 0 F 、 2 = 1 k Ωに設定される。
演算増幅器 6 0 1 の反転入力 と 出力は短絡され、 ボルテ一 ジフォ ヮ と して機能する。 演算増幅器 6 0 1 の出力は A /
D コ ンバ 一 タ 6 0 2 を介して補償論理回路 6 0 3 に接続され 補償口冊理回路 6 0 3 は、 各モ シュ ル 1 3 5 で生成される 掃引電圧のォフセッ トゃ線形性を補償する機能を備えた回路 であ り ヽ ノヽ 一 ドクエア及びソ フ 卜 クェァの組合せで実現され ても よい しヽ ハ ドウ アのみで実現されても よい 補償論 理回路 6 0 3 は 、 各モ ジュ 一ル 1 3 5 から得られる測定値を メ モ リ 6 0 3 a に格納す.る そ してヽ 補償論理回路 6 0 3 は、 格納された測定値に基づきォフセ ク 卜補償および線形性補償 のための信号を電圧源 6 0 7 に出力する 電圧源 6 0 7 は、 補償論理回路 6 0 3 力ゝら指示された電圧を演算増幅 1 5 2 の非反転入力端子に印加する
以下、 こ の補償回路 6 0 0 の動作を説明する。
分析装置筐体 1 1 に核酸検出用チップ 1 2 を装着する こ と によ り 、 スィ ッチ S W 3にはセ レク タ 1 5 5 の出力が、 スィ ツチ S W 4にはセ レ ク タ 1 5 6 の出力が電気的に接続される。 溶液測定の前に、 ス ィ ツチ S W 3及ぴ S W 4の双方をオンに する。 また、 補償論理回路 6 0 3 からの指令に基づき、 電圧 源 6 0 7 は演算増幅器 1 5 2 の非反転入力端子に所定の電圧 V 'を印加する。 これによ り 、 溶液系を模擬した抵抗 R 1 、 キ ャパシタ C a及び抵抗 R 2 に電圧 V t kが付与さ れる。 こ の 電圧 V t kは ( k = 1 , 2 , …, K ) 、 演算増幅器 6 0 1 、 A / D コ ンバータ 6 0 2 を介して補償論理回路 6 0 3 に出力 される。 補償論理回路 6 0 3 は、 こ の出力電圧 V t kを、 K 個のすべてのモジユーノレ 1 3 5 についてメ モ リ 6 0 3 a に順 次格納していく 。 なお、 モジュール 1 3 5 の選択はセ レク タ 1 5 5及び 1 5 6 によ り なされるが、 セ レク タ 1 5 5 及び 1
5 6 によ る順次選択操作は、 分析装置筐体 1 1側の回路が制 御する。 そ して、 補償論理回路 6 0 3 は、 例えばすベてのモ ジュール 1 3 5 についての出力電圧 V t kの平均値 V t a vを 算出する。 そ して、 補償論理回路 6 0 3 は、 こ の平均値 V t a v と各出力電圧 V t k の差 ( V t k — V t a v ) が予め定め ら れた範囲にあるか否かを判定する。 予め定め られた範囲にあ れば、 補償論理回路 6 0 3 は、 「良品」 である こ と を表示部
6 0 8 に表示 し、 予め定め られた範囲になければ、 「不良 品 J である こ と を表示部 6 0 8 に表示する。
「良品」 と判定された場合、 各モジュール 1 3 5 の出力電 圧 V t kの平均値 V t a v に対する差を平均値と と も にオフセ ッ ト V kf と してメ モ リ 6 0 3 a に格納 してお く 。 実測定 の際に、 こ の メ モ リ 6 0 3 a のオフセ ッ 1、 V kf に応 じた 捕正値によ り 、 各モジュール 1 3 5 から得られた実測値をそ れぞれ補正する こ と によ り 、 得られた実測値の測定誤差を補 正でき る。 また、 実測定の際に、 出力電圧 V t kの平均値 V に応 じた補正値に よ り 、 各モジュ ール 1 3 5 の掃引電 圧を補正する と もでき る。 具体的には、 実測定の際に電圧 源 6 0 7 か らオフセ ッ • ト補償電圧一 V t a v を印加する こ と によ り 、 ォフセ V トが補償でき る。
この よ う にヽ 照極 1 4 3 に現れる反転出力電圧よ り 、 所 定の電圧からのずれ、 すなわち帰還回路の才フセ ッ トや入力 電圧に対する出力電圧のずれを知る こ とが出来る。 特に 、 ォ フセ ッ ト に関 しては、 演算増幅器 1 5 2 の非反転入力に与え る電圧を調整する こ と によ り 除去する - とができ、 帰還の精 度を高める と ができ る。 ア レイ状に作製されるモジュ ―ル
1 3 5 を含む半導体回路は、 並進対称性を満たすよ う に チップ中に配置される 。 」れは、 導体製造工程での条件不 均一性が生じた場合に 、 その影響がァ レィ 中の どの要 にも 等し く 現れる よ う にする よ う な工夫である。 よ り 具体的には 異なるモジュ ル内部に存在する演算増幅器 1 5 2 は全て同 じ方位に配置され 演算増幅器 1 5 1 , 1 5 3 につレ、ても 同様である の工夫を行 う と、 モジュ一ル間で発生する差 異が少な く なる よ つ て、 演算増幅器 1 5 2 の非反転入力端 子に共通な電圧を加えるだけで、 オフセ ッ ト の大部分を同時 に解消する こ と が可能と なる。
図 2 6 は図 1 図 1 3 、 図 1 4 〜図 1 8 、 図 1 9 〜図 2 2 の各実施形態に いて 、 さ らにオフセ V ト のみな らずヽ 測定 回路の線形性ヽ 比例係数な どの設計値に対するずれを補償す る捕償回路 6 1 0 の一例を示す図である 。 図 5や図 1 3 通する構成には |pj ―の符号を付し、 詳細な説明は省略す
こ の補償回路 6 1 0 は、 図 1 の分析 置筐体 1 1 に Pスけら れ、 分析装置筐体 1 1 に核酸検出用チップ 1 2 を装着して核 酸検出用チ ップ 1 2 と送液 Z温調機器 1 1 1 と を物理的に接 続する。 また、 核酸検出用チップ 1 2 とチップ一筐体イ ンタ フ ェ ース 1 1 2 と を電気的に接続する と、 自動的に核酸検出 用チップ 1 2 の A / D コ ンバータ 1 3 7 と補償回路 6 1 0 の 補償論理回路 6 1 7 が電気的にイ ンタ フ ェ ース 1 3 1 を介し て接続される。 その結果、 かつセ レク タ 6 1 4 の出力が各モ ジュール 1 3 5 。、 1 3 5 i の作用極 1 4 1 に接続される よ う になつ ている。 モジュール 1 3 5 。、 1 3 5 の各々 の電 極面積は Α 。 、 α Α。、 各々 の電流増幅率は、 1 : 1 、 α : 1 である。 なお、 こ こでは説明の便宜のため図 2 6 を用いて 2 つのモジュール 1 3 5 。、 1 3 5 を取 り 上げて説明 して いるが、 3 つ以上のモジュールについても同様に適用可能で ある こ と はもちろんである。
図 2 6 に示すよ う に、 補償回路 6 1 0 は、 メモ リ 6 1 2 、 表示部 6 1 6 を有する補償論理回路 6 1 7 、 電流源 6 1 3 、 電圧源 6 1 5 およびセ レク タ 6 1 4 からなる。 補償論理回路 6 1 7 の出力は電流源 6 1 3及び電圧源 6 1 5 に接続される。 電流源 6 1 3 はスィ ッチ S W 5を介 してセ レク タ 6 1 4入力 に接続される。 電圧源 6 1 5 の出力は、 各モジュール 1 3 5 。、 1 3 5 ェの演算増幅器 1 5 1 の非反転入力に接続さ れる。 電流源 6 1 3 から作用極 1 4 1 に接続された各モジュール 1 3 5 。、 1 3 5 i の電流検出回路に電流を流すこ と によ り 、 実測定時に観測される電流をモ ジュ ール外部から擬似的に与 える こ と ができ る。 スィ ッチ S W 5 をオンに し、 電流源 6 1 3 力 らセ レク タ 6 1 4 を介 して選択的に各モジュール 1 3 5 。、 1 3 5 の作 用極 1 4 1 側に電流を流す。 こ の段階では、 電圧源 6 1 5 か らは電圧は印加されない。 この電流は、 電流検出回路及ぴ正 規化回路、 セ レク タ 1 3 6 、 A / D コ ンバータ 1 3 7 を経て 補償論理回路 6 1 7 に出力される。 補償論理回路 6 1 7 は、 A Z D コ ンバータ 1 3 7 からの信号から線形性、 比例係数や オフセ ッ ト な どを計測 し、 その計測値をメ モ リ 6 1 2 に格納 しておく 。
以上の事前測定が終了 した後、 図 9 に示すよ う に校正 ( s 1 ) および測定 ( s 2 ) を行い、 得られた測定結果に計測値 に基づく 修正を加える。
これによ り 、 カ レン ト ミ ラー回路を含めた測定回路の線形 性、 比例係数、 オフセ ッ ト などの設計値に対するずれを補正 した測定結果を得る こ とができ る。
また、 電流源 6 1 3 の入力に対する各モジュール 1 3 5 の 応答を分析 し、 その結果に基づき適切な電圧を電圧源 6 1 5 から演算増幅器 1 5 1 の非反転入力端子に入力する。 これに よ り 、 図 2 5 の場合と 同様なオフセ ッ ト補償を行 う こ と が可 能である。
具体的には、 モジュール 1 3 5 D、 1 3 5 丄 のセ ンサ各々 について仕様で定め られたオフセ ッ ト の上限値 Δ I 。, 厶 I i と 同等の大き さ で、 かつ符号の異なる電流土 Δ I 0 , 土厶 I をそれぞれのモジュ ール 1 3 5 Q 、 1 3 5 i にセ レ ク タ 6 1 4 を通 じて入力 し、 その応答を観測する。 + Δ Ι 。 , + 厶 I iが入力された場合の出力値が正のある値であ り 、 つ 一 Δ I 0 , — Δ I iが入力 された場合の出力値が負のめる値 と な ¾f 合、 注目 しているモジユ ーノレのセンサは仕様を満た すこ と と なる 。 ここで、 装置の作製過程が仕様に対し適当で めれば、 適切な電圧を演算増幅器 1 5 1 の非反転入力 子に 入力する こ と によ り 、 全てのモジュール 1 3 5 において 、 +
Δ I 0 , + Δ I が入力 された場合の出力値が正でかつ一 厶
I 0 , - Δ I iが入力 された場合の出力値が負 と なる よ う な 条件を見つける こ と が可能である o s ~ の条件が満たされたと き、 オフ セ ッ ト除去が最適に行われた と と な
また、 この と き 「良 P
PP J 、 不良 P J の判定も同時に行う こ と が可能と なる。 すなわち、 最適なォフセ V ト除去が可能 と なる電圧が存在しない Π ゝ 演算処理装置 1 1 3 は 、 測定 回路のオフセ ッ トが仕様を満たさ ないため、 チップを 「不良 品」 と判定する。
図 2 7 は核酸検出用チップの変形例を示す図である 。 図 2
7 に示す核酸検出用チクプ 7 0 0 は、 ガラス基板 7 0 6 の上 に S i チップ 7 0 2 ねよびァ レィ状の 3電極系 1 4 0 が複数 配置されるチップォングラス構造をなす 。 各 3 電極系 1 4 0 はいずれかの S i チップ 7 0 2 に配線によ り 接 c れてお り 、
3電極系 1 4 0 における検出信号が S i チップ 7 0 2側で信 号処理される よ う になつている o またヽ この S i チップ 7 0
2 がチップ—筐体ィ ンタ フェ ' ~ス 1 1 2 に接 され、 信号が 演算処理装置 1 1 3 に出力される
以上説明 したよ う に本実施形 によれば、 流検出型の核 酸検出用チップ 1 2 を用いて、 濃度に対する感度の レ ンジを 広 < と り 、 濃度を定量的に分析でさ る
また、 集積回路をプ 一ノ' ァ レ 4 と 一基板上に 積する と によ り 、 測定時間の同時性をレaゝちつつ電気的な雑立
曰 を抑 る こ と が可能になる
電流測定型チップに いて同時性が重要になるのは 、 キ ス 卜の経時変化のためヽ またプ口一ブ核酸と標的核酸が構成 する 2本鎖に対し キス 卜 の ■曰- 、Ρ π の時間的な累積によ り ヽ 信号強度が変動するためであ 特に比較すベさ信号を測定 する時刻は、 でき る限り 同時性を高める こ と が ま しい 図
1 に示すよ う にプ プをァ レィ状に多数実装する核酸検出 用チップ 1 2 ではヽ 測定用回路をプ ブと 同数集積して -
< とでこれが実現される 回路を集積化する - と によ り ヽ 電 的な外乱による雑立
曰 低減が望めるためヽ 同時に周辺回 路で発生する電気的な雑立
曰 を排除する と がでさ る
さ らに本実施形態によれば 、 プ口一ブで検出された信号と
|pj時刻に観測された クク グラ ゥ ン ド、 流をヽ プ 一ブから 検出 された電流から直接的に差し引さ 正味の信号 流を正 確に得る。 これによ り ヽ 信号レベルが ッ ク グラ クン レベ ルに対して相対的に小さい場合にヽ 減算回路の後段に位置す る例えば増幅回路や A D変換する回路のダィナ へ クク レン ジを有効に利用する ·> - と ができ る 特に退 、血 .子発現解析に いては有利な効果である
本発明は上記実施形 Heに限定される ものではない
図 5 に示したモジュ ル 1 5 0 の 成はほんの一例にすぎ ない。 例えば、 図 3 0 に示すよ に、 力 レ ン 卜 ゝ フ ーを多段 接続 したカ ス コ ド力 レ ン 卜 ラ を用いて ち よい。
図 3 0 において、 図 5 と Mす o構成には 一符号を付 し、 詳細な説明は省略する o 図 3 0 に示すよ つ に 、 ト ラ ンジス 夕
M 3 a の ソース は ト ラ ンジス タ M 3 b の レィ ン、 ゲー ト 及 び ト ラ ンジスタ M 5 b のゲ 卜 に接 1¾される o ト ラ ンジス タ
M 3 a のボディ 及ぴ 卜 ラ ンジス タ M 3 b の ソース は負電源 電圧一 V s に接 i &れる o 卜 ラ ンジス タ M 5 a の ノ、 ース及び ト ラ ンジス タ M 5 b の ド、 レィ ンが接糸冗され 卜 ラ ンジス タ M
5 a のボディ ー及び 卜 ラ ンジス タ M 5 b の ソ ス は負電源電 圧 _ V s に接続される o
卜 ラ ンジスタ M 3 a 及び M 5 a から なる 段 目 の力 レ ン ト ミ ラ ーの電流增幅率と 卜 ラ ンジス タ M 3 b 及び M 5 b か ら な る二段 の カ レン ト -、 . ラ一の電流増幅率は同 じに S At さ れる。
卜 ラ ンジス タ M 4 a 、 M 4 b 、 M 6 a M 6 b も 、 ト ラ ン ジス タ M 3 a 、 M 3 b M 5 a 、 M 5 b と正負逆特性を有す る以外は同一構造をなす o
図 5 に示 した回路では 卜 ラ ンジス タ のチャネル変調効果 に よ つてカ レ ン 卜 ミ ラ一の 度が上が らない場合がある。
の場合 図 3 0 に示 した よ な力 ス コ ド、力 レ ン ト ミ ラーを 用いる こ と によ り 、 電流検出の 度を向上させる こ と ができ 上記実施形態では 核酸の疋直分析を行 ラ 核酸定量分析装 置及び分析方法 不 したが れに限定されない。 定量分析 の対象は 、 核酸のみな らず ノヽ ブリ ダィゼ シ ヨ ン反応に よ り 存在の有無を測定可能なあ ら ゆる塩 配列を有する物貧 が対象と な o 従って 、 本発明は 、 所定の 配列の定量分 析を行う塩基配列定量分析装 及ぴ分析方法と して成立する。
従つて、 図 2 に示 した核酸検出用チップ 1 2 は 、 核酸検出 用に限らず広く 塩基配列を検出するための塩基配列検出用チ ップに置換して本発明を適用可能でめる σ また 、 図 2 に示し たチップ構成はほんの一例に過ぎず、 直線状に電極が配置さ れず、 了 レィ状に配置されたチクプな どヽ め らゆる核酸検出 用チップに 換して本発明を適用可能である ο
また 、 図 5 に示した 3電極系 1 4 0 を有するモジユ ール 1
3 5 は 、 核酸濃度定量分析 置のみな らずヽ 広 < 電気分解装 置と して用いる こ と ができ る o
また 、 演算処理装置 1 1 3 に本発明の機能を実行するため のプロ グラムを組み込み、 当該プ口 グラムによ り 本発明の機 能を実行させる場合を示したが 、 例えば れらプログラ ムを 記録したコ ン ピュータ tm取可能な記録媒体を演算処理装置 1
1 3 に接 された図示しない記録媒体 取 置から読み取り 、 演算処理装置 1 1 3 に当該機能を実行させても よい。
(第 2 実施形態)
本実施形態は第 1 実施形態の改良に係わる ο 本実施形態は、 バッ ク グラ ゥン ド電流の影 を低減する ちのである。
図 3 2 はバック グラ ゥン 流によ る問題点を説明するた めの図である。 飽和レベルとノ ッ ク グラ クン ド、レベルの電流 について、 電極直径が 2 0 5 0 , 1 0 0 , 2 0 0 及び 5 0
0 ^ mの 5 つの例につレヽて正規化電流を比較して示している。 バック グラ ゥン ド電流に含まれる電流成分の う ち、 電極面 積に比例する成分が電極の周囲長に比例する成分に対し相対 的に /J、さいこ と が確認 Cさ o o この場合、 電極の面積を縮小 する と、 電極の面積に比例する傾向の強い信号電流が相対的 に小さ く な り 、 測定の精度が下がる。 信号を測定する回路の ダイナミ ッ ク レンジのほと んどをバッ ク グラ ウン ド成分が占 めるカゝらであ
上記問題点を解決するためのモジュールの回路構成を図 3
3 に示す。 センサ面積が同一 すなわち作用極の面積が同一 の 3 電極系 1 4 0 a、 1 4 0 bヽ 1 4 0 。 を有するモジユー ノレ 3 3 0 0、 3 3 0 x . 、 3 3 0 2 の信号出力がセ レク タ 1 3
6 に接続される。 モジユーノレ 3 3 0 2はモジユーノレ 3 3 0 0 及び 3 3 0 のバ ック グラ ウン ド電流検出用モジュールであ る。 これ らモジユーノレ 3 3 0 。、 3 3 0 、 3 3 0 2以外の 構成は、 第 1 実施形態で説明 した構成と共通する ので、 詳細 な説明は省略する。
モジユーノレ 3 3 0 2において、 6 つの ト ラ ンジス タ M 1 2 〜M 6 2カゝ らなる正負電流用力 レン ト ミ ラーを備えた電流検 出回路は図 5や図 1 3 の構成と共通するが、 その電流増幅率 は 1 : B である。 図 3 3 では、 3 電極系 1 4 0 a、 1 4 0 b 1 4 0 cの対極 1 4 2 および参照極 1 4 3側の構成について は省略してある。
ま た、 モ ジュ ール 3 3 0 。 , 3 3 0 ! , 3 3 0 2 の各々 に おいて、 正負電流用力 レン 1、 ミ ラーの電流取り 出 し側には、 それぞれ演算増幅器 3 3 1 。, 3 3 1 1 ; 3 3 1 2の反転入 力端子が接続され、 その非反転入力端子は接地される。 また、 演算増幅器 3 3 1 。 , 3 3 1 1 ; 3 3 1 2 の反転入力端子 と 出力には、 電流電圧変換や電流増幅を行 う ための回路 3 3 2 0 , 3 3 2 ! , 3 3 2 2が接続さ れ、 その出力 はセ レ ク タ 1 3 6 に接続される。
ト ラ ンジス タ M 4 2 の ゲー ト は、 ト ラ ンジス タ M 6 2 のゲ 一 ト のみな らず、 他のモジュ一 ノレ 3 3 0 0及びの ト ラ ンジス タ M 8 1 のゲー ト と 、 モジュール · 3 3 0 ! の ト ラ ンジス タ M 8 2 のゲー ト に並列に接続さ れている。 ト ラ ンジス タ M 3 2 のゲー ト は、 ト ラ ンジス タ M 5 2のゲー ト のみな らず、 他の モジュール 3 3 0 0及びの ト ラ ンジス タ M 7 1 のゲー ト と 、 モジユ ーノレ 3 3 0 ! の ト ラ ンジス タ M 7 2 のゲー ト に並列に 接続されている。 各 M O S F E T のゲー ト幅は、 ト ラ ンジス タ M 3 2, M 4 2 , M 7 2 , M 8 2 , M 7 1 , M 8 1 と ト ラ ンジス タ M 5 2 , M 6 2が 1 : B に設定されている。
モジュ ール 3 3 0 。 において 3 電極系 1 4 0 a に信号電流 I s 力 S流れる と 同時に、 モジュール 3 3 0 においては 3 電極系 1 4 0 b に信号電流 I s 2力 S、 モジュール 3 3 0 2 にお いて は 3 電極系 1 4 0 c にバ ッ ク グラ ウ ン ド電流 I B Gがそ れぞれ流れる。 こ の と き 、 ト ラ ンジス タ M 3 2 , M 4 2 と ト ラ ンジス タ M 7 1 , M 8 1 な らびに ト ラ ンジス タ M 7 2 , M 8 2 で形成される カ レン ト ミ ラーの効果に よ り 、 モジュール 3 3 0 。においては ト ラ ンジス タ M 8 1 力、 らバ ッ ク グラ ウ ン ド電流 I B Gが流れ、 電流電圧変換回路 b 。 には電流 I B G
I s i が流れる 。 同様に、 モジュール 3 3 0 i においては ト ラ ンジスタ M 8 2 力 らバ ッ ク グラ ウ ン ド電流 I B Gが流れ、 電流電圧変換回路 b ェ には電流 I B G — I s 2が流れる。 モ ジ ユール 3 3 0 2 においては、 電流 B I B Gが電流電圧変換回 路 b 2に流れる。 こ の よ う に、 モ ジュ ール 3 3 0 。では、 3 電極系 1 4 0 a の核酸電流 I S 1 力 ら 、 モ ジ ュ ール 3 3 0 2 で 検出 されたバ ッ ク グ ラ ウ ン ド電流 I B eを減算 して出力 し、 モジュール 3 3 0 ェでは、 3 電極系 1 4 0 B の核酸電流 I s 2 から、 モ ジュ ール 3 3 0 2で検出 されたノ ック グラ ウ ン ド電 流 I B eを減算 して出力する。 そ して、 その後段に設け られ た電流電圧変換回路 b 。, b ェで、 電流電圧変換を行う 。
図 3 4 〜図 3 7 は電流電圧変換回路 b 。、 及び b 2 の 具体的な構成例を示す図である。 特に図 3 4 な らびに図 3 5 は図 3 3 における増幅率 Bが 1 、 すなわち電流の増幅を必要 と しない場合に適する。
図 3 4 は、 電流電圧変換回路の一例を示す図であ り 、 こ の 図 3 4 に示される電流電圧変換回路 3 4 0 が電流電圧変換回 路 。〜 13 2に適用 される。 図 3 4 に示すよ う に、 演算増幅 器 3 3 1 の反転入力端子と 出力端子が抵抗 3 4 1 で短絡され ている。 演算増幅器 3 3 1 の出力端子の電圧 V。 U Tは、 入 力電流 I Nに比例する。 電流電圧変換回路 b 。 の例では、 演算増幅器 3 3 1 。の出力端子の出力電圧 V O U T。は、 入力 電流 I s i — I B Gに比例 した値と なる。 電流電圧変換回路 b 丄の例では、 演算増幅器 3 3 の出力端子の出力電圧 V。 u T i は、 入力電流 I s 2 — I B CJに比例 した値と なる。 回路 b 2 の例では、 演算増幅器 3 3 1 2の出力端子の出力電圧 V O U T TJP2004/002205
70
2は、 , 入力電流 B I B Gに比例 した値、 すなわち B = 1 の場
Π は I B G ,に比例 した値と なる。
図 3 5 は、 電流電圧変換回路の別の一例を示す図であ り ヽ この図 3 5 に示される電流電圧変換回路 3 5 0 が電流電圧変 換回路 b 。〜 b 2に適用 される。 図 3 5 に示すよ う に、 演算 増幅 3 3 1 の反転入力端子には、 スィ ッチ 3 4 3 と キャパ シタ 3 4 2 カゝら なる スィ ツチ ト キャパシタ が設け られている。
のスィ ツチ ト キャパシタ によ り 、 スィ ッチ 3 4 3 を開いた 状態でキャパシタ 3 4 2 に前段から流入する電荷を蓄積し、 スィ チ 3 4 3 を閉 じる こ とでこの電荷を逃すこ とがでさ る。 な ヽ のスィ ツチ ト キャパシタ を用いた電流電圧変換の原 理は 、 刖述の図 1 3 における スィ ッチ ト キャパシタ における 動作原理と共通する ので説明は省略する。 演算増幅器 3 3 1 の出力端子の電圧 V O U Tは、 入力電流 I ] Nに比例する の図 3 5 に示す電流電圧変換回路 3 5 0 を適用 した電流電圧 変換回路 b 。 の例では、 演算増幅器 3 3 1 。の出力端子の出 力電圧 V o υ τ。は、 入力電流 I s i — I B Gに比例 した値と な る 電流電圧変換回路 b ェ の例では、 演算増幅器 3 3 1 1 の 出力端子の出力電圧 V O U T 1 は、 入力電流 I S 2 — I B Gに比 例 した値と なる。 電流電圧変換回路 b 2の例では、 演算増幅
3 3 1 2の出力端子の出力電圧 V O U T 2は、 入力電流 B I
B Gに比例 した値、 すなわち B = 1 の場合は I B Gに比例 した 値と なる。
図 3 6 及び図 3 7 は、 電流電圧変換回路のさ ら に別の一例 を示す図である。 図 3 6 に示す電流電圧変換回路 3 6 0 は、 さ らに電流増幅部を備えている。 こ のた め、 3電極系 1 4 0 a , 1 4 0 b , 1 4 0 eカゝ ら 出力 される電流それぞれを B倍 に増幅する場合に適する。 こ の図 3 6 を図 3 3 の構成に適用 する こ と によ り 、 センサ、 減算部、 正規化部、 電流電圧変換 部が順に配置された構成が実現される。
図 3 6 の電流電圧変換回路 3 6 0 は、 電流電圧変換回路 b 。及び に適用 され、 図 3 7 の電流電圧変換回路 3 7 0 は、 電流電圧変換回路 b 2に適用 される。 なお、 図 3 7 に示す回 路を電流電圧変換回路 b 2へ適用 した構成は、 演算増幅器を 設ける必要がな く 、 演算増幅器 3 3 1 2及び回路 3 3 2 2力、 らなる図 3 3 の電流電圧変換回路 b 2 の構成ではな く なる。 図 3 6 における電流増幅機能は、 図 3 6 の ト ラ ンジス タ M 1 〜M 6 からなる正負電流用カ レ ン ト ミ ラーによ り 実現され、 その電流増幅の原理は、 図 1 3 な どで説明 したもの と共通す るため、 その詳細な説明は省略する。 こ の正負電流用カ レ ン ト ミ ラーによ る電流増幅率を 1 : B とする と、 カ レ ン ト ミ ラ 一の出力端子には電流 B I i Nが流れる。 これに よ り 、 検出 電流の正規化が実現される。
正負電流用カ レ ン ト ミ ラーの電流取り 出 し側には、 スイ ツ チ S W i を介 して ト ラ ンジス タ M 7 のゲー トが接続されてい る。 こ の ト ラ ンジス タ M 7 の ソ ース はディ プ レ ツ シ ョ ンモー ドの N型 M O S F E T IVI 8 の ド レイ ン と セ レク タ 1 3 6 に 接続されている。 ト ラ ンジス タ M 8 の ソースはそのゲー 卜 に 接続されている。 これは、 ソースフォ ロア と呼ばれる回路構 成の一つである。 もちろん, 別の手法で構成する ソース フ ォ ァや ノレテ—シフォ ロ アな どのノ ッ フ ァ を用いても よい。 また、 正負電流用カ レン ト ミ ラーの電流取り 出 し側と 卜 ラ ン ジス タ M 7 の間にはスィ ツチ S W 2およびキャパシタ C ら なる スィ ッチ 卜 キャパシタ が設け られ、 このスィ ッチ 卜 キャ パシタ によ り 、 スイ ツチ s W 2を開いた状態でキャパシタ C に力 レン ト 、 ラーを介して流れる電荷を蓄積し、 ス ィ ッチ S
W 2を閉 じる こ と でこの電荷を逃がすこ と ができ る。
スィ ッチ S W iおよび S W 2の開閉制御の手法、 その手法 による電流 圧変換動作については、 図 1 3 で説明 したもの と共通するので詳細な説明は省略する。
図 3 7 に示すよ う に 、 回路 b 2に適用 される電流電圧変換 回路は 、 図 3 6 に示す回路から、 電流増幅機能を実現する力 レン ト ミ ラ一及び演算増幅器 3 3 1 を省略した構成である。 こ のスィ ッチ S W! , S W 2、 キ ヤノヽ。シタ C 、 ト ラ ンジス タ
M 7及び M 8 を用いた電流電圧変換動作は、 図 3 6や図 1 3 で説明 した動作原理と共通するため、 詳細な説明は省略する。
の図 3 7 では、 その前段に既にカ レン ト ミ ラーが配置され、 流増幅が笋現されるため、 改めて電流増幅回路を設ける必 要がない。 こ の図 3 7 の電流電圧変換回路の出力電圧 V。 u τは入力電流 I Νに比例 した値を と る。 こ の図 3 7 に示さ れる電流電圧変換回路を b 2に適用する こ と によ り 、 3 電極 系 1 4 O e の入力電流 I B Qに対 して、 その電流を B倍 した 値に比例 し、 この電流を電圧に変換した出力電圧 V 。 u τ 2を 得る こ と ができ る。
このよ う に、 図 3 3 の例では、 電極の面積が小さい領域で はヽ 図 3 4 〜図 3 7 のいずれを適用 した場合も、 電流電圧変 換を行 5前に、 減算回路を使用する。 この例では、 バッ ク グ
ラ ゥ ノ レベルを検出する 3 電極系 1 4 0 。からの信号を核 酸検出 レベルを検出する 3 電極系 1 4 0 a及び 1 4 0 bか ら の信号 ら減算 して出力され、 同時にも と のバ ッ ク グラ ウン' レベノレ検出セ ンサか らの信号を も出力される。 そ して、 こ の減算回路の後段に、 電流電圧変換回路を配置する。 これに よ り ヽ 極面積に比例する傾向が強い信号成分のみを電流- 電圧変換回路および A Z D コ ンバータのダイナミ ック レンジ 全域を用いて測定可能と なる。
な 、 破線で囲われた回路 a 。 〜 a 2の部分は、 素子間の
、 スマ Vチを低減するために、 互いに近距離に置く のが望ま しい
このよ う に本実施形態によれば 、 小さい電極面積を持つセ ンサを用いて定量分析を行う場 であつても、 電流電圧変換 刖にノ ック グラ ゥン ド、電流を減算する こ と によ り 、 バ クク グ ラ ゥン ド電流の影響を電極 tsa積に比例する測定すべさ 流に 比して相対的に低減した分析が可能と なる によ り ヽ 異 なる電極面積間の測定値の ミ スマ ッチを低減でき、 高 /スの 定量分析が可能と なる
(第 3 実施形態)
本実施形態は第 1 実施形態の改良に係わる。 本実施形態は 電流増幅回路を備えたモジュ ' ~ルの別の形態に係わる 第 1 実施形態や第 2 実施形態で記載した電流 幅回路を簡 化 し た構成に係わる 第 1 実施形態や 2 実施形態ではヽ 図 5 図 1 3や図 3 3 図 3 6 な どに示すよ フ に、 電流を ピ しあるレ、は增幅する 口 ヽ セ ンサ電極電位を基準電位に固定する帰返回路内部に 固定される 卜 ラ ンジス タ とヽ ピ一動作を実際に行 ト ラ ン ジス タを別の機能ブ ック と して実現していた 例えば図 5 の例の場合 、 セ ンサ電極電
Figure imgf000076_0001
を基準 位に固定する帰還回路 内部に固定される 卜 ラ ンジスタ は M 1 及ぴ M 2 でめ り 、 電流 コ ピ 用の 卜 ラ ンジスタは M 4 M 6 の対と 、 Μ 3 M 5 の 対である
本実施形態の電流増幅回路を備 たモジュ ルのネ冓成の一 例を図 3 8 に示す 図 3 8 のモジュ一ル 3 8 0 にねレ、て、 演 算增幅 1 5 1 の出力端子は N M o S 卜 ラ ンジスタ M 1 及び
M 2 のゲ ― 卜 に接 される
またヽ 3 極系 1 4 0 の作用極は 、 卜 ラ ンジスタ M 1 の ド レイ ンと演算増幅 1 5 1 の反転入力端子に接 される。 演 算増幅 1 5 1 の非反転入力端子は接地される 卜 ラ ンジス タ M 1 のソ一スは + V s の正電源に接 され 、 ポ丁ィ 一は一
V s の負電源に接 される た 卜 ラ ンジスタ M 2 の ソー スは + V s の正電源に接続されヽ ボ了ィ一は一 V s の負電源 に接 される 卜 ラ ンジス タ M 1 と M 2 の電流 幅率は 1 :
1 0 でめる
卜 ラ ンジスタ Μ 2 の レィ ンは ί寅算增幅 3 8 1 の反転入 力端子とヽ P Μ Ο S 卜 ラ ンジスタ Μ 3 の ド、 レィ ンに接続され る 演算増幅 •off 8 1 の出力端子は 卜 ラ ンジス夕 Μ 3 のゲー 卜 とヽ P M o S 卜 ラ ンジス タ M 4 のゲ 卜 に接続される。 Ρ ο
ο
M O S ト I ラ ンシスタ M 4 のポディ 一は正電源 + V s に
れ、 ソ —ス力は一 V s の負電源に接続されヽ レィ ンは ^流
圧変換回路 3 8 2 に接 Cされ 卜 ラ ンジス タ Μ 3 と Μ 4 に よ り 実現される電る流増幅率は 1 : 1 0 である
電流電圧変換回路 3 8 2 は、 演算増幅 3 3 1 及ぴ回路 3
3 2 の組合せからな り 、 具体的には、 図 3 4 乃 図 3 6 に記
、1^
載の電流電圧変換回路のいずれか 用 される
こ の図 3 8 の例の場合、 入力される電流の極性は酸化電流 あるい ίュ還兀電流の どち らか単一の極性に限られる しカゝし、 挿入剤の電気化学反応に起因する 流の極性が予め分かって いる場合は、 この回路構成にする こ と によつて Ρ Μ O S ト ラ ンジス タ と Ν M O S ト ラ ンジス タ の へ スマ ッチに起因する オフセ ッ ト電流が流れる こ と を防ぐこ とが可能である
また sil ¾¾ 圧変換回路 3 8 2 は、 図 5 と 同様の電流計を 用いても良いが 、 その入力ノー ドは演算増幅 3 3 1 によ り 実現される仮想接地を行う こ と が望ま しい この回路では、
N M O S ト ラ ンジス タ と P M O S 卜 ラ ンジス タ両方のペアで
1 0倍の増幅を行えば、 1 0 0倍の増幅を行う とが可能で める。
卜 ラ ンジスタ M l 及び M 2 の対に よ り 、 卜 ラ ンジスタ Μ 1 に流れる電流 I i 力 S 1 0倍に増幅されて 卜 ラ ンジス タ Μ 2 に 電流 1 0 I カ 流れる。 また、 ト ラ ンジスタ Μ 3及ぴ Μ 4 の 対に よ り 、 ト ラ ンジスタ M 2 力 ら 卜 ラ ンジスタ Μ 3 に流れた 電流 1 0 1 1 0倍に増幅されて ト フ ンジスタ Μ 4 に電流 このよ う に、 本実施形態の電流増幅回路を用いる こ と によ り 、 P M O S ト ラ ンジス タ と N M O S 卜 ラ ンジス タの へ スマ ツチに起因するオフセ ッ ト 流が流れる のを防ぐこ と ができ
(第 4 実施形態 )
本実施形態は第 1 実施形態の改良に係わる。 本実施形態は、 第 3 実施形態に示した電流増幅回路を用いて電流を正規化す る実施形態に係わる。
図 3 9 は本実施形態に係るモジュールの回路構成の —例を 示す図である。 センサ面積が同 ヽ すなわち作用極の面積が 同一の 3 電極系 1 4 O a 、 1 4 0 b 、 1 4 0 e を有するモジ ユ ール 3 9 0 。 、 S S C^ - 、 3 9 0 2 の信号出力がセ レク タ
1 3 6 に接続される。 モジュ一ル 3 9 0 2はモジユール 3 9
0 。及び 3 9 0 のバ ッ ク グラ ウ ン ド電流検出用モジュール であ る。 これらモジュール 3 9 0 。、 3 9 0 、 3 9 0 2以 外の構成は、 第 1 実施形態で説明 した構成と共通する ので、 詳細な説明は省略する。
モジユーノレ 3 9 0 2の構成は、 図 3 8 のモジユーノレ 3 8 0 と共通し、 その動作は同 じである。 異なるのは、 ト ラ ンジス タ M l 0 と M 2 0 によ り 実現される電流増幅率が 1 : Bで、 ト ラ ンジスタ M 3 0 と M 4 0 の電流増幅率が 1 : 1 である点 である。
モジュール 3 9 0 。において、 3 電極系 1 4 0 a の作用極 は、 演算増幅器 1 5 1 。の反転入力端子と N M O S ト ラ ンジ ス タ M l 1 の ド レイ ンに接続される。 演算増幅器 1 5 1 。の 非反転入力端子は接地される。 ト ラ ンジスタ M l 1 の ソース は + V s の正電源に接続され、 ボディ ーは一 V s の負電源に 接続される 。 また、 ト ラ ン ジスタ Ι'/ί 2 1 の ソ ースは + V s の 正電源に接続され、 ボディ ーは一 V s の負電源に接続される。
ト ラ ンジス タ Μ 2 1 の ド レイ ンは演算増幅器 3 3 1 。 の反 転入力端子と 、 回路 3 3 2 。 と 、 ト ラ ンジス タ Μ 3 1 の ド レ ィ ンに接続される。 ト ラ ンジス タ Μ 3 1 の ソース は一 V s の 負電源に接続され、 ボディ ーは + V s の正電源に接続される。 また、 ト ラ ンジス タ M 3 1 のゲー ト は、 バ ッ ク グラ ウ ン ド電 流用のモジュ ール 3 9 0 2の演算増幅器 3 8 1 の出力端子に 接続される。 これによ り 、 モジュール 3 9 0 2において B倍 に増幅された電流 B I B Gが ト ラ ンジス タ M 3 1 で取 り 出 さ れる。 3 電極系 1 4 0 a の作用極に流れる電流 I s i は、 ト ラ ンジス タ M 2 1 側で B倍に増幅されて B I s と なる。 し たがって、 電流電圧変換回路 b 。 に流れ込む電流は B ( I s ! - I B G ) と なる。 そ して、 電流電圧変換回路 b 。 の出力端 子では、 電流 B ( I s x - I B G ) に比例 した電圧が取 り 出 さ れる。
モジュール 3 9 0 において、 3 電極系 1 4 0 b の作用極 は、 演算増幅器 1 5 1 の反転入力端子と N M O S ト ラ ンジ ス タ M l 2 の ド レイ ンに接続される。 演算増幅器 1 5 の 非反転入力端子は接地される。 ト ラ ンジス タ M l 2 の ソース は + V s の正電源に接続され、 ボディ ーは一 V s の負電源に 接続される 。 また、 ト ラ ンジス タ M 2 2 の ソース は + V s の 正電源に接続され、 ボディ ーは一 V S の負電源に接続される。 ト ラ ンジス タ M 2 2 の ド レイ ンは演算増幅器 3 3 1 の反 転入力端子と 、 回路 3 3 2 と、 ト ラ ンジス タ M 3 2 の ドレ イ ンに接続される。 ト ラ ンジス タ M 3 2 の ソースは一 V s の 負電源に接続され、 ボディ ーは + V s の正電源に接続される。 また、 ト ラ ンジスタ M 3 2 のゲー ト は、 バ ッ ク グラ ウ ン ド電 流用のモジュール 3 9 0 2の演算増幅器 3 8 1 の出力端子に 接続される。 これによ り 、 モジュール 3 9 0 2において B倍 に増幅された電流 B I B Gカ ト ラ ンジス タ M 3 2 で取 り 出 さ れる。 3 電極系 1 4 O b の作用極に流れる電流 I S 2は、 ト ラ ンジス タ M 2 2側で B倍に増幅されて B I s 2 と なる。 し たがって、 電流電圧変換回路 b に流れ込む電流は B ( I s
2 - I B G ) と なる。 そ して、 電流電圧変換回路 の出力端 子では、 電流 B ( I s 2 - I B G ) に比例 した電圧が取 り 出さ れる。
なお、 上記電流電圧変換回路 b 。、 b ェ及び b 2 の具体的 な構成は、 図 3 4〜図 3 7 に示された回路が適用 される点は、 図 3 3 の例と 同様である。
なお、 このモジユ ー ノレ 3 9 0 。 、 3 9 0 、 3 9 0 2の電 流増幅率を B倍と したが、 このよ う なモジュール 3 9 0 。、
3 9 0 1 3 9 0 2 の組み合わせに対 して、 異なる電流増幅 率を電極面積に応じて複数割り 当てる こ と によ り 、 正規化が 可能と なる。 すなわち、 作用極の電極面積 A。のモジュール
3 9 0 。 、 3 9 0 ;^ 3 9 0 2の第 1 の組み合わせは電流増 幅率 B = 1倍、 作用極の電極面積 α A。のモジュール 3 9 0 。 、 S S O i 3 9 0 2の第 2 の組み合ゎせは 8 = 1 // 0;倍、 作用極の電極面積 α 2 Α。のモジュール 3 9 0 。 、 3 9 0
3 9 0 2の第 3 の組み合わせは B = 1 Z α 2倍、 … と い う よ う に設定する こ と によ り 、 算、 正規化、 電流電圧亦換を備 えたモジユーノレを実現でき る 。 なお、 こ の図 3 9 の例の ;¾ A vソ ¾; 口 電流増幅を先に行つた後に減算を行う 回路である。
このよ う に本実施形態によれば、 P M O S ト ラ ンジスタ と
N M O S ト ラ ンジス タ の ミ ス マ ッ チに起因する オフセ ッ ト 電 流が流れるのを防ぎつつ、 正規化、 電流増幅、 減算及び電流 電圧変換を行う モジユ ーノレが実現可能である。
(第 5 実施形態 )
本実施形態は第 1 実施形態の変形例に係わる。 本実施形態 は電極面積に応 じた正規化をカ レ ン ト ミ ラーのみな らず容量 素子を用いて行 う実施形態に係わる。
図 4 0 は本実施形態に係るモジユーノレの構成の一例を示す 図である。 図 4 0 のモ ジ ュ -ル 4 0 0 Q 〜 4 0 0 2は 、 図 1
3 のモジュール 1 3 5 0 〜 1 3 5 2の構成と ほぼ共通 してお り 、 共通する構成には同一符号を付し詳細な説明は省略する 図 4 0 の モ ジ ユ ーノレ 4 0 0 0 の キ ヤ ノヽ。シ タ C 0 、 モジ ール
4 0 0 Q の キ ャ パ シ タ C i ヽ モ ジ ユ ーノレ 4 0 0 2 の キ ャ パ シ タ C 2は、 それぞれ容量値が異なる。
正規化回路に含まれる力 レ ン ト ミ ラーの増幅度が、 素子寸 法の制約で十分と る こ とができない場合、 電流電圧変換回路 に実装されるキャパシタの容量値を小さ く する こ と によって これを補 う こ と ができ る。 作用極の電極面積 A 3: = α A。 の電極から出力される電極に、 B x倍の電流増幅率のカ レ ン ト ミ ラーが接続され、 容量値 C xの積分回路に接続される場 合、 次の等式が成立する よ う にパラ メ ータが決定される。
A x B x Z C x =定数
こ のパラ メ ー タ の決定方式に基づき与えられるモジュ ール の各パラ メ ータの一覧を表 2 に示す。
表 2
Figure imgf000082_0001
表 2 に示すよ う に、 倍ごと に面積を大き く させる回路を 作成する場合、 電流増幅率は、 a 2倍が設計制約上の限度 であった とする。 この場合、 容量値を 倍、 あるいは a 2倍 とする こ と で、 いずれのモジュールも、 A X B X / C X = A。 / C 。 と した正規化回路を備えたモジュールが実現でき る。 なお、 0 < ひ < 1 である。
このよ う に本実施形態によれば、 カ レン ト ミ ラーの増幅度 が素子寸法の制約上十分と る こ と ができない場合であっても、 ダイナミ ック レ ンジの広い核酸濃度の定量分析が可能と なる。
(第 6 実施形態)
本実施形態は第 1 実施形態の改良に係わる。 本実施形態は、 回路の位相補償を行う 回路の構成に係わる。
図 4 1 は本実施形態に係るモ ジュール 4 1 0 の構成の一例 を示す図である。 モジュール 4 1 0 の構成は、 図 3 3 のモジ ユール 3 3 0 2の構成と ほぼ共通 し、 その共通する構成には 共通する符号を付し、 詳細な説明は省略する。 すなわち、 モ ジュール 3 3 0 2 の 3 電極系 1 4 0 2、 演算増幅器 1 5 1 、 ト ラ ンジス タ M 1 2 〜 M 6 2力、ら なる正負電流用カ レン ト ミ ラー、 電流電圧変換回路 b 2の各構成は、 モジュール 4 1 0 の 3 電極系 1 4 0、 演算増幅器 1 5 1 、 ト ラ ンジス タ M l 〜 M 6 からなる正負電流用カ レン ト ミ ラー、 電流電圧変換回路 b に対応する。 異なるのは、 3 電極系 1 4 0 と演算増幅器 1 5 1 の反転入力端子と の間にキャパシタ C aが接続されてい る こ と、 演算増幅器 1 5 1 の出力端子と反転入力端子と の間 にキヤ ノ、"シタ C bが接続されてレヽる こ と である。 こ こで、 キ ャパシタ C a は分析を行お う とする溶液に起因 して生ずる等 価的な容量素子を示 しており 、 容量素子 C bが位相補償用の 容量素子と して機能する。
電気化学測定を行う本回路の場合、 このキャパシタ c aの 容量値が非常に大き く なる場合があるため、 位相補償を適切 に行 う ためには大き な容量素子 c bが必要になる場合が生ず る。 図 4 2 はこのキャパシタ C bの構成の一例を示す図であ る。 図 4 2 に示すよ う に、 基板 4 2 1 の上に絶縁層 4 2 2 が 形成されている。 この絶縁層 4 2 2 に設け られてレ、る コ ンタ ク ト ホ一ルには金属力 らなる 2 つのコ ンタ ク トプラグ 4 2 3 が埋め込み形成されてお り 、 絶縁層 4 2 2表面には 2 つの金 属層 4 2 4 力 S 2 つの コ ンタ ク トプラ グ 4 2 3 上を覆う よ う に 選択的に形成される。 この 2つの金属層 4 2 4 はコ ンタ ク ト プラ グ 4 2 3 によ り 板 4 2 1 に 気的に接 される 基板
4 2 1 には各種集積回路が形成されている 。 そ して、 2つの 金属層 4 2 4表面はヽ 溶液 4 2 5 中に浸漬される
このよ う に 、 集積回路 利用 した 化学ァナラィザ中で 位相補償を行う ために必要な大容 の容 素子を 、 実際に 気分解を行 う溶媒中に発生する 二重層素子で実現する 同図の 2つの金属層 4 2 4 を電極と して用い、 実際に電 化 学測定を行 う溶液に浸 mす すなわちヽ 金属層 4 2 4 の ― 方はコ ンタ ク ト プラ グ 4 2 3 を介 して演算増幅 1 5 1 の反 転入力端子に接 ¾¾され 、 金属層 4 2 4 のも つ 方は別の ン タ ク トプラ グ 4 2 3 を介して演算増幅器 1 5 1 の出力端子に
¾ れる これによ り ヽ センサ付近に生 じる大きな容 と 同等の容 · - 素子を簡単に実現する と ができ る
このよ に 、 本実施形態によれば 、 集積回路による容 素 子の実現が困難な場 であつても 、 セノレ内の構成を用いて容 量素子を簡便に実現する >- とがでさ ό
(第 7 実施形態 )
本実施形態は第 1 実施形態の改良に係わる 本実施形態は 電極面積によ り 異なる各電極の測定可能な濃度の レンジをォ ーノ ーラ ップさせて分析を最適化する実施形態に係わる
核酸検出センサが飽和レベルの信号を出力する条件を与え る最小の核酸濃度をセンサが測定可能なレンジの上端と 定義 し、 同様にパック グラ クン ドレベルの信号を出力する条件を 与; L。最大の核酸濃度をセンサが測定可能な レ ンジの下端と 定義する の と さヽ り 合う セ ンサの測定レンジは互レ、に Ο
オーバΗ ■ーラ ップしている こ と が望ま しい。
こ の条件を満たすよ う にセンサを設計する手法を以下に示 す。 i 番 目 に大き いセ ンサ(ただ し i = 1 , 2 , … , n - 1 )
Π
のセ ンサ面上に存在する プロ ープの本数が N i , そのダイ ナ
!Η - ミ ッ ク レンジ d i(dec) [ d i > 0 ] を測定レンジ下端の濃度に 対する測定レンジ上端の濃度の比 と 定義する。 また、 i 番 目 のセ ンサの測定レンジ と これよ り も 1 段階面積の大き なセン サ i 一 1 の測定レンジと のオーバーラ ップする領域の下端に 対する上端の比を d i — i i ( dec) と 定義 し、 さ ら に この d i i と d wの比 d i-1; i/ d J.! を設計者に任意のパラ メ タ と し て与え られる レンジオーバー ラ ッ プフ ァ ク タ ー y ( 0 < Ύ <
1 )と定義する と き、 セ ンサ間の関係が
を満たすセンサ系列を持つチ ッ プを用いる のが望ま しい。 図 4 3 はこのオーバーラ ップフ ァ ク ター γ を説明する ための 図である。 図 4 3 に示すよ う に、 センサ i — 1 、 i 、 i + 1 のダイ ナ ミ ッ ク レンジ力 d i — i 、 d i d i + 1 で示されてい る。 センサ i と セ ンサ i 一 1 の測定レンジがオーバ ラ ップ する のは、 y d i — であ る。 ま た、 セ ンサ i と セ ンサ i +
1 の測定レンジがオーバーラ ップする のは、 y d i であ る。 こ こで、 オーバーラ ップフ ァ ク ター γ は γ ≤ 0 . 8 5 でめる のが望ま しい。 ま た こ こ で、 d ! = d 2 = ··· - d η ― 1 : d n
=一定と 恣意的に設定 したセンサ系列を備えたチ ップを用い る のが望ま しい また、 センサ面上に存在するプロープの本数 N i が面積に 比例する条件で、 面積比が一定と なるチップを用いる のが望 ま しい。 すなわち 、 セ ンサ i の面積を S J と 定義する と c i + Z ° i ― ° i Ζ ° i ― .. = -一定と なる のが望ま しい さ ら に、 この面積比が、 特に 0 . 0 5 以上 0 . 5 以下で一定 と なるチップを用いるのが ま しい 。 すなわち、 0 . 0 5 ≤ i + i * 0 i / s i 一 ... < 0 . 5 と なる のが望ま し い。 センサ系列において、 面積の変化があま り に大きすぎる 場合にはダイナミ ック レンジのォ バーラ ップが少な く なつ て しま う。 また逆に面積の変化が少なすぎる と ダィナミ ック レンジのオ ラ ップが大き く な り すぎ、 センサ系列全体 でのダイナミ ック レンジを大さ く 取る にはセンサが多数必要 と なって しま う ため、 装置が大規模になって しま う こで 示された面積比の条件は、 の 卜 レ ドオフにおける適切な 条件を示すものでめ «
この よ う に本実施形態によれば、 各電極面積によ るダィナ ミ ッ ク レンジをォ バーラ yプさせる こ と によ り 、 測定漏れ のない最適な定量分析が可 と なる
(第 8 実施形態 )
本実施形態は第 1 実施形 の改良に係わる。 本実施形態は 定量分析の さ らに詳細な装置構成の実施形態に係わる。
第 1 実施形態に記載の構成によれば、 核酸の濃度を定量的 に分析するために 、 それぞれ異なる面積の電極を同一基板上 に実装する。 こ のと さ、 これらの電極に供給される標的核酸 溶液は、 面積の異なる電極間で拡散が起こ らないよ う に壁や 小胞で分離されてレヽる こ と が望ま しい。 更に、 分離された溶 液の体積は 、 極 iti積によ らず一定で、 かつその区切 られた 溶液に浸漬される電極の数も ^極面積にかかわらず一定であ る こ と が ま しい。 このよ に装置を構成する こ とが本実施 形態の骨子である。 これによ り 、 よ り 小さな電極では 、 プ口 ーブの本数に対する標的核酸の絶対数が大 く な り 、 感度を 上げる と が出来るからでめる ただ し、 反応時間を十分大 き く 取る必要がある。
この本実施形態の骨子を実現する構成と して、 図 4 4や図
4 5 が考え られる。
図 4 4 は本実施形態の測中装置の原理に基づき作成される 核酸濃度定量分析チップの要部断面を示す図である。 図 4 4 に示すよ つ に、 単 -の基板 4 4 1 上に、 , 複数の電極 (作用 極) 4 4 2 a 〜 4 4 2 e と 、 これら電極 4 4 2 a 4 4 2 e 表面をその一部を残して選択的に露出させる疎水性のぺ ッシ ベーシ ョ ン膜 4 4 3 a 〜 4 4 3 e が形成されている この電 極と絶縁膜と の組によ り 、 セルが形成される パ ク シベ ' ~シ ヨ ン膜 4 4 3 a 4 4 3 e は、 セノレ毎に電極 4 4 2 a 〜 4 4
2 e の表面をそれぞれ異なる面積だけ露出させてレ、る によ り 、 セノレ母に表面積の異なる作用極を - 実現する と がで さ る。 」のセノレはヽ それぞれ検体溶液 4 4 4 a 〜 4 4 4 e で 浸漬される たヽ 電極 4 4 2 a 〜 4 4 2 e 上にはプローブ 核酸 4 4 5 a 〜 4 4 5 e が固定化される れらプ口ーブ核 酸 4 4 5 a 4 5 e と、 検体溶液 4 4 4 a 〜 4 4 4 e 中の 標的核酸が反応する こ と によ り 、 標的核酸濃度の定 分析が 可能と なる。 検体溶液 4 4 4 a 〜 4 4 4 e は、 区切 り を十分 に置かずヽ 同一体積で自立してスポッ ト される。 これによ り 面積の異なる電極間で拡散が起こ らない構成が実現される。 セノレ毎に分離された検体溶液 4 4 4 a 〜 4 4 4 e の体積は、 電極面積によ らずほぼ一定で、 力 つその区切られた検体溶液
4 4 4 a 〜 4 4 4 e に浸漬される S¾i極の数も電極面積にかか わらず一定である。
図 4 5 は別の実装を説明するための模式図である。 図 4 5 に示すよ ラ に、 基板 4 5 0 に、 互いに区切 られた同一体積の 裨数の小胞 4 5 1 a 〜 4 5 1 h / HXけ られている。 これら小 胞 4 5 1 a 〜 4 5 1 h はそれぞれ流路 4 5 3 によ り 1 つの標 的核酸注入口 4 5 2 に接続されている o 一例と して、 図 4 5 では小胞 4 5 1 c 及び 4 5 1 h を拡大 して示してある 。 小胞
4 5 1 c には、 小さ な面積で、 互いに同一面積の複数の電極
4 5 3 c が SXけ つれ、 それぞれにプ 一ブ核酸 4 5 4 c が固 定化されている。 小胞 4 5 1 h にはヽ 大きな面積で、 互いに 同一面積の複数の電極 4 5 3 hが sru
BXけ られ、 それぞれにプロ ーブ核酸 4 5 4 hカ 固定化されている o
本実施形態の原理を 、 定量可能な核酸濃度の低濃度化及び 定量可能な核酸濃度範囲の広域化とレ、 観点力 ら よ り 詳細に 説明する。
基板表面に核酸プローブを固定化し、 検出 目的核酸と のハ イブリ ダィゼー シ ョ ンを行 う こ と を利用する核酸検出法にお ける、 検出可能な検出 目的核酸濃度範囲について以下に述ベ る。 核酸濃度範囲 と は、 検出に用いる溶液が一定量と した場合 その溶液中に含まれる核酸分子数範囲 と言い換える こ と がで き る。 本実施形態では、 この核酸分子数を基準に して核酸濃 度範囲を考ん る 。
図 4 6 は検出可能目 bな検出目的核酸の核酸濃度範囲を説明す ための図で 図 4 6 におレ、てヽ 上段には、 核酸濃度、 即 ち一定容量の溶液中に含まれる核酸分子数と、 単位面積当た り の信号に正規化した正規化信号の関係を示 している。 中段 には、 大面積の電極 4 6 1 での 、 の電極 4 6 1 に固定化さ れたプロ一ブ核酸 4 6 2 と標的核酸 4 6 3 と の反応を模式的 に示 している。 下段には 、 小面積の電極 4 6 6 での、 こ の電 極 4 6 6 に固定化されたプロ一プ核酸 4 6 2 と標的核酸 4 6
3 と の反応を模式的に示 している 上段のグラフ 4 6 4 は、 中段の大面積の電極 4 6 1 における標的核酸濃度と得られる 信号量を正規化 したものの関係を示してお り 、 グラフ 4 6 5 は、 下段の小面積の電極 4 6 6 にねける標的核酸濃度と得ら れる信号量を正規化 したものの関係を示 している。
こ の図 4 6 力 ら分かる よ う に 可能な核酸分子数の上 限は、 核酸プロ一ブ固定化領域に固定化されている核酸プロ ーブの分子数によつて決定される ο 全ての核酸プローブが標 的核酸分子とハイブリ ダィゼーシ 3 ン した状態が、 定量上限 を示す。 この核酸プ P一ブ分子数は 、 核酸プローブ固定化領 域の面積と核酸プ 一ブの固定化密度によ って決定される。 固定化密度は、 い < つかの要因によつて設定する こ と が可能 であるが、 ハィ ブ V ダイゼ一シ 3 ンに寄与でき るプローブ分 子数が ft大になる よ う に通常設定される。 密度が大さすぎて も小さすぎても望ま し く ない。 したがって、 核酸プ ーブの 固定ィ匕密度をある数値に g 疋 し 7こ 芴合、 固定化された核酸プ ロ ーブ数は 、 核酸プロ一ブ固定化領域面積によって決定され る。 即ち 、 定量可能な核酸濃度範囲の上限は核酸プ ーブ固 定化領域面積によって決疋 れる こ と になる。
一方 核酸濃度範囲の下限は 検出信号のバラ ッキゃノ ィ ズ、 バック グラ ウン ド信号によ って左右されるが、 定量可能 な上限の濃度に基づき、 その 1 / 1 0, 1 / 1 00 , 1 / 1 000 と いつた形 で通常は定義する こ と ができ る。
したがつて、 上記のよ う な設定では、 定量可能な核酸濃度 範囲は上限下限と も、 核酸プローブ固定化領域面積に比例す 図 4 7 は図 4 6 の上段に示すグラ フをよ り 詳細に不 したも のである。 図 4 7 のグラ フ 4 7 1 は、 ノィ ズ レベノレ 4 7 2 か ら飽和レべル 4 7 3 までの範囲を示している ο グラ フ 4 7 1 は、 飽和レベノレ 4 7 3 で飽和 し、 定量可能な濃度範囲で信号 量は減少す Ό o 一方 、 グラ フ 4 7 1 は 、 定量可能な濃度以下 の範囲では 、 信号は再び一定と なる 。
図 4 8 は 、 核酸プ口―ブ固定化領域囬積を変化させたグラ フ例を示す図である o 面積が大きい方 らヽ グラ フ 4 8 1 〜
4 8 4 とい う よ つ に 、 信号量の変化する領域ヽ すなわち濃度 を評価可能なレ ンジが変化するのが分かる ο
上記の性質を利用 して 、 ① Λ£重可能な核酸濃度の低濃度化 と、 ②定量可能な核酸濃度範囲の広域化とい つ 二つの 果 T JP2004/002205
89 ついて説明する。
①定量可能な核酸濃度の低濃度化
定量可能な核酸濃度範囲は上限下限と も、 核酸プローブ固 定化領域面積に比例する。 この性質を利用 し、 面積の小さな 核酸プローブ固定化領域を形成 したデバイ ス を利用する。 こ れによ り 、 例えば面積を 2 ケタ小さ く すれば濃度範囲は 2 ケ タ下がる、 4ケタ小さ く すれば濃度範囲は 4 ケタ下がる とい つたよ う に、 定量可能な核酸濃度の低濃度化を実現する こ と ができ る。
②定量可能な核酸濃度範囲の広域化について
定量可能な核酸濃度範囲の下限を仮に上限濃度の 1 / 1 00 と 仮定する。 即ち、 定量可能な核酸濃度範囲は 2 ケタである と 仮定する。 定量可能な核酸濃度範囲は上限下限と も、 核酸プ ロープ固定化領域面積に比例する こ と を利用する と、 核酸プ ローブ固定化領域面積が 2 ケタ小さ く なる と、 定量可能な核 酸濃度範囲も 2 ケタ下がる こ と になる。 逆に面積が 2 ケタ大 き く なる と 、 濃度範囲も 2 ケタ上がる こ と になる。
図 4 9及び図 5 0 はこの核酸濃度範囲を広域化する構成の 模式図である。 図 4 9 に示すよ う に、 基板 4 9 1 上に面積の 互いに異なる核酸プローブ固定化領域 4 9 2 a〜 4 9 2 d が 形成されている。 各核酸プローブ固定化領域 4 9 2 a〜 4 9 2 d の面積は、 2 ケタずつ連続的に異なる。 この核酸プロ一 ブ固定化領域は、 核酸プローブを固定化する電極な どで定め られる。 図 5 0 に示すよ う に、 これら核酸プローブ固定化領 域 4 9 2 a〜 4 9 2 d の各々 を基板 4 9 1 力 ら所定の高さま で囲むよ つ に、 サンプル保持枠 4 9 3 が配置される こ のサ ンプル保持枠 4 9 3 HXけ Oれたホ ^" ノレによ り 、 セル領域 4
9 4 a〜 4 9 4 d が定め ら る これ らセル領域 4 9 4 a〜
4 9 4 d は、 断面積が同 じでヽ 高さ力 S同一 、 すなわち容積が 同 じである。
図 4 9 及び図 5 0 に示すよ 'う に 面積が 2 ケタずつ連続的 に異なる核酸プ u一ブ固定化領域 4 9 4 a 〜 4 9 4 d の各々 に、 一定量ずつの検出 目的核酸含有サンプノレを反応させる こ との可能なデバィスを形成する これによ り 、 あ ら る濃度 範囲で定量が可能と なる。 濃度の不明なサンプノレを疋量 した い場合にも、 必ず核酸プロ一ブ固定化領域 4 9 4 a 4 9 4 d のいずれ カ 、 定量可能な核酸濃度範囲に適合する こ と に なる。
核酸濃度の定量分析を実現する別の構成を図 7 8 A 〜 7 8
Dに示す 。 細長形状の基板 7 8 1 上に、 一面積の核酸プロ ーブ固定化領域 7 8 2 が複数個ずつ (図 7 8 A〜 7 8 Dでは
4個ずつ ) ま と めて形成されている。 そ して、 これら核酸プ ロープ固定化領域 7 8 2 を囲むよ う に、 細長形状のサンプル 保持枠 7 8 3 が形成されている サンプル保持枠 7 8 3 は、 基板上の領域を複数に区切 りヽ かつ区切られた領域の隣接す る もの同士を細ぃ領域で接続する 」れによ り 、 同一面積、 同一高さ 、 すなわち同一容積の複数のセル領域 7 8 4 a〜 7
8 4 f と 、 これらセル領域 7 8 4 a〜 7 8 4 f 同士を接続す る流路を形成する こ と ができ る なお、 セル領域 7 8 4 a 及 び 7 8 4 f は試料導入あるいは排出のための室であつ つて、 核酸プローブ固定化領域 7 8 2 は設け られて ヽな ヽ 図 7 9 は、 これらセル領域 7 8 4 a 〜 7 8 4 f の上面がサンプル保 持枠フタ 7 8 6 で覆われた様子を示す図である。 このサンプ ル保持枠フタ 7 8 6 は 、 サンプル保持枠 7 8 3 上に支持され 固定される こ と でセノレ上面を覆 フタ と して機能する 。 図 7
9 に示すよ う に、 両端のセノレ領域 7 8 4 a 及ぴ 7 8 4 f にあ わせてサンプル注入口 7 9 1 a 及びサンプル出口 7 9 1 f が 設け られてい Ό
このよ う に 、 定量の 目的とする検体核酸の濃度よ り も十分 低い濃度領域を定量可能な核酸濃度範囲と して持つ核酸プロ ーブ固定化領域 7 8 2 を並べた装置が形成され o 0 そ して、 図 7 8 A力 ら 〜図 7 8 Dまでに順次示すよ つ に、 標的核酸を 含む検体溶液 7 8 5 を 、 まずサンプル注入 P 7 9 1 a から注 入 し、 セル領域 7 8 4 a 力 ら 7 8 4 b 、 7 8 4 c 、 7 8 4 d
7 8 4 e 及び 7 8 4 f へと順次移動させてレ、く 。 検体溶液 7
8 5 の移動は 、 例えばポンプ等を用いてサンプル注入 Π 7 9
1 a 力 らセノレ内を加圧 し、 あるいはサンプノレ注入口 8 9 1 f 力 らセ - ノレ内の流体を吸引する とで実現可能である 以下の 実施形態でも 、 セル内の溶液の移動は同様の原理で行われる セル領域 7 8 4 b で 、 標的核酸分子は、 核酸プロ一ノ 固疋 化領域 7 8 2 に固定化された核酸プローブとハイブリ ダィゼ ー シ ョ ン反応を起こ し結合する こ こで、 基板 7 8 1 上に形 成した核酸プローブ固定化領域 7 8 2 は、 —し の定量可能な核 酸濃度範囲が十分低い範囲にあるため、 検体溶液 7 8 5 中に 存在する標的核酸分子数は、 固定化されている核酸プローブ 数よ り も十分多い。 ただし、 溶液中の標的核酸分子数はハイ ブリ ダィ ズした分子数だけ減少する。 二つ 目以降の核酸プロ ーブ固定化領域でも 同様の現象が起こ り 、 溶液中の標的核酸 分子数は徐々 に減少 してい く 。 溶液中の標的核酸分子数は 徐々 に減少 していく と い う こ と は、 検体溶液の標的核酸濃度 が減少する とい う こ と を示している。 検体溶液の標的核酸濃 度が減少する と い う こ と は、 いずれ、 形成 した核酸プローブ 固定化領域面積の定量可能な核酸濃度の範囲に到達する こ と を示す。 全ての核酸プローブ固定化領域 7 8 2 を移動 し終わ つた後に検出を行い、 最初に核酸プローブ固定化領域 7 8 2 が形成されたセル領域 7 8 4 b カゝら数えてい く つめのセル領 域で信号が変化 したかを解析する こ と によ り 、 定量を行 う こ とができ る。 処理が終了 した検体溶液 7 8 5 は、 サンプル出 口 7 9 1 f 力、ら排出 し得る。
図 8 0 A〜 8 O D及び図 8 1 は標的核酸濃度が どの濃度領 域か全く 不明な場合に用い られるチップ構成例を示す図であ る。 図 8 0 A〜 8 O Dはサンプル保持枠フタ 7 8 6 を外した 上面図を、 図 8 1 はサ ンプル保持枠フ タ 7 8 6 を取り 付けた 上面図を示 している。 図 7 8 〜 7 8 0及び図 7 9 と共通す る構成には同一符号を付し、 詳細な説明は省略する。 図 7 8 A〜 7 8 D及ぴ図 7 9 と異なるのは核酸プローブ固定化領域 7 8 2 b 〜 7 8 2 e の構成である。 図 7 8 A〜 7 8 D及び図 7 9 の例では、 核酸プローブ固定化領域 7 8 2 はいずれも同 —面積をもっている。 図 8 O A〜 8 0 D及び図 8 1 の例の場 合、 セル領域 7 8 4 b には同一面積の核酸プローブ固定化領 域 7 8 2 b が複 形成される。 そ して、 これら核酸プローブ 固定化領域 7 8 2 b よ り も大き な ¾積で同一面積の核酸プロ ーブ固定化領域 7 8 2 c がセル領域 7 8 4 c に複数形成され
、―
る。 らにヽ れら核酸ノ ローブ固定化領域 7 8 2 c よ り も 大き な面積で ―面積の核酸プロ一ブ固定化領域 7 8 2 d が セル領域 7 8 4 d に複数形成され さ らに、 これら核酸プ ローブ固定化領域 7 8 2 d よ り あ大きな面積で同一面積の核 酸プローブ固定化領域 7 8 2 e がセル領域 7 8 4 e に複数形 成される。 のよ つ に、 セノレ毎に異なる面積の核酸プロープ 固定化領域が配置される
定量目的核酸濃度が どの領域か全く 不明な場合はヽ こ の よ う な図 8 0 A 〜 8 0 D及び図 8 1 Ϊし不す構成が望ま しい。 図
7 8 A 〜 7 8 D及び図 7 9 の例と 同様に、 セル領域 7 8 4 a 力、ら 7 8 4 b ヽ 7 8 4 c 、 7 8 4 e ヽ 7 8 4 f と いつた順に 検体溶液 7 8 5 を順次移動させる。 そ して、 各セル領域 7 8
4 b 〜 7 8 4 e の核酸プローブ固定化領域 7 8 2 b 〜 7 8 2 e で、 検体溶液 7 8 5 中の標的核酸と核酸プローブがハイブ リ ダィゼーシ ヨ ン反応する。 こ の順では、 核酸プローブ固定 化領域の小さな領域から大きな領域に順にハイ プリ ダィゼー シ ョ ン反応する こ と と なる。 面積の小さな核酸プローブ固定 化領域では検体溶液 7 8 5 中の標的核酸濃度の減少は少ない。 面積が大き く なるにつれて、 標的核酸濃度の減少は多く なる。 こ のこ と を利用 し、 前述手法と比較して、 よ り 大まかにはな るが、 広い範囲での定量が可能である。
図 7 4、 図 7 5 A 、 7 5 B、 図 7 6 A 、 7 6 B はさ ら に別 のチ ップ構成例を示す図である 7 4 は、 サンプル保持枠
7 4 3及ぴサンプル保持枠フ タ 7 4 5 を外した上面図を、 図
7 5 A ヽ 7 5 B はサ ンプル iレs、.持枠フ タ 7 4 5 を外した上面図 及び側面図を、 図 7 6 A、 7 6 Β はサンプル保持枠フタ 7 4
5 を取り 付けた上面図である 上述した図 7 8 A 〜 7 8 D、 図 7 9 ヽ 図 8 0 A〜 8 0 D 図 8 1 に示すチップ例では、 検 体溶液が一疋重と し tt'の手法でめつた の図 7 4 、 図
7 5 A ヽ 7 5 B 、 図 7 6 A 7 6 Β のチップ例ではヽ 逆に、 プロ一プ固定化領域の面積を一 し 』
定と 、 検体溶液 を変化さ - せる。 れによ り 定量解析が可能であ 。
図 7 4 に示すよ う に、 基板 7 4 1 上にマ 卜 V ク ス状に核酸 プロ一プ固定化領域を形成する そ して、 これら複数の核酸 プロ一プ固定化領域 7 4 2 のつ ちヽ 例えば 6個毎に周 り を取 り 囲むよ つ にサンプル保持枠 7 4 3 を形成 Tる。 のサンプ ル保持枠 7 4 3 によ り 取り 囲まれた複数の領域がヽ セル領域
7 4 4 a 〜 7 4 4 e と して機能する 。 各セル領域 7 4 4 a ~
7 4 4 e が収容する核酸プロ一ブ固定化領域 7 4 2 は 、 何れ も同数 (図 7 5 A、 7 5 Bでは 6 個 ) である。 セル領域 7 4
4 a 〜 7 4 4 e の面積及ぴ容積はそれぞれ異なる すなわち セル領域 7 4 4 a 力 S最も小さい容積であ り 、 4 4 b 、 7 4
4 c 、 7 4 4 d 、 7 4 4 e と なる につれ容積が大さ < なる。 これら各セル領域 7 4 4 a 〜 7 4 4 e には検体溶液が充填さ したがって、 セノレ容積に L て検体溶液量が変わる。 検体溶液量が少なければ、 溶液中に含まれる核酸分子数は 少ない。 検体溶液量が多ければ 、 核酸分子数は多い 基板 7 4 1 上に形成した核酸プローブ固定化領域 7 4 2 の面積から、 検出可能な核酸分子数範囲がわかる。 したがって、 検出信号 量が変化 した核酸プローブ固定化領域 7 4 2 で反応に用いた 検体溶液量から、 標的核酸の濃度を計算する こ と が可能であ る。
こ の図 7 4、 図 7 5 Aヽ 7 5 B、 図 7 6 A 、 7 6 Bのチッ プを用いた定量分析手法は 、 述の各手法と併用する こ と が でき る。 すなわち、 このセ ル容積を変化させる手法は 、 図 4
9や図 5 0 に示 したプ 一ブ固定化領域面積を変化させる手 法、 あるいは、 図 7 8 A 〜 7 8 D乃 図 8 1 に示 した溶液を 移動させる手法と併用 され得る。
図 4 9や図 5 0 に示したプローブ固定化領域面積を変化さ せる手法では、 よ り 小さな面積を形成する こ とで、 り 低濃 度まで検出する こ とが可能になる。 しかしなが ら、 小さ な面 積の電極を形成する こ と は技術的に困難な点が多い ο
そこで 、 図 7 7 A〜 7 7 Cに示すよ う なチップ構成例が適 用 され得る。 板 7 7 1 上に核酸プ P ーブ固定化領域 7 7 2 a ~ 7 7 2 g が 6個ずつ HXけられてレ、る.。 」の核酸プローブ 固定化領域 7 7 2 a〜 7 7 2 g の う ち 、 同一面積のあのを取 り 囲むサンプル保持枠 7 7 3が形成され、 セル領域 7 7 4 a
〜 7 7 4 g が定め られる o
セル領域 7 7 4 a〜 7 7 4 d までは 、 図 5 0 に示したチッ プ例 と 同様に、 同一のセル容積を持つが、 核酸プロ一ブ固定 化領域 Ί 7 2 a 一食大さ < s 7 7 2 b、 7 7 2 c 、 7 7 2 d と なる につれ順に小さ < なる。 一方、 セル領域 7 7 4 d 〜 7 7 4 g までは、 図 7 5 A 、 7
5 B に示したチップ例と 様に、 核酸プ πーブ固定化領域 7
7 2 e 〜 7 7 2 g の面積は同一であなが 、 そのセノレ断面積及 び容積力 s異なる。 すなわち 、 セル領域 7 7 4 d のセノレ断面積 及び容積がー番小さ く 、 セル領域 7 7 4 e 、 7 7 4 f 、 7 7
4 g と なる につれ容積力 S大き く なる。
このよ つ に 、 プローブ固定化領域 7 7 2 a 〜 7 7 2 d を大 きな面積カゝら順に、 可能な範囲で小さ な面積までを基板 7 7
1 上に形成する。 そこまではセノレ容積ヽ すなわち検体溶液量 が一定と なる 。 さ らに形成した一番小さな面積のプローブ固 定化領域 7 7 2 d と 同一の面積のプロ一プ固定化領域 7 7 2 e ~ 7 7 2 g について、 セル断面積及び容積、 すなわち検体 溶液量を段階的に増加させてい く 。 このよ う に二つの手法を 組み合わせる こ と によつて定量可能な範囲を低濃度側に広げ る こ とが可能である。 逆に 、 形成した一番大きな面積のプロ ープ固定化領域について 、 液量を徐々 に減少させていけば、 定量可能な範囲を高濃度側に広げる こ とが可能である。
ただし、 この図 7 7 A 〜 7 7 C の手法で低濃度側に定量可 能範囲を広げるためには 、 液量を増加させな く てはな らず、 デバィ スサイズが大さ < なつて しま う 。 そこで 、 類似の手法 と して溶液の乾燥を伴 手法も考えられる 。 液量を段階的に 増加させる代わ り にヽ 初めに注入した溶液を乾燥させ、 再び 溶液を注入する とい と を - 繰り 返す。 れによ り 、 標的核 酸の濃縮が起こ り 、 液中の核酸分子数が増加する。 一 面積 のプ ーブ固定化領域を複数個形成して し- ヽ この乾燥と再 注入の繰り 返し数を段階的に変化させる 検出された信号量 が変化したプロ一ブ固定化領域での繰り 返し数から、 核酸の 濃度を計算する こ と が可能であ
次に、 これらに記載した手法を 現化したチクプ構成例に ついて説明する。
(構成例 1 )
こ の構成例 1 では、 異なる面積の核酸プ プ固定化領域 を形成したデバィスを用いて核酸定量解析を行 口 の、 チ ップ構成例を示す
図 5 1 〜図 5 3 は構成例 1 のチクプ 5 1 0 である。 基板 5
1 1 上に核酸プロ一ブ固定化領域 5 1 2 a 5 1 2 d を形成 した。 核酸プロ一ブ固定化領域 5 1 2 a 〜 5 1 2 d は 、 正円 形で、 直径は 5 1 2 a 力 S 5 00 μ m, 5 1 2 b 力 S 200 μ m, 5 1 2 c 力 S 1 00 μ m, 5 1 2 d 力 S の 4種類の面積のものであ り 、 それぞれ 6 つずつ形成される。 各面積の領域に 6種類の異な る配列を持つ核酸プローブを固定化でき る。 したがって、 6 種類の異なる配列の標的核酸が混合されたサ ンプルを定量検 出でき る。 基板上に検体溶液を保持するためのサ ンプル保持 枠 5 1 3 が形成される。 こ のサ ンプル保持枠 5 1 3 によって、 核酸プローブ固定化領域 5 1 2 a〜 5 1 2 d の面積ごと に区 切られ、 セル領域 5 1 4 a〜 5 1 4 d が定め られる。 さ らに サンプル保持枠 5 1 3 上にサ ンプル保持枠フタ 5 1 5 が形成 される。 こ のサンプル保持枠フタ 5 1 5 には標的核酸サンプ ノレの注人口 5 1 6 a〜 5 1 6 d とサンプル出 口 5 1 6 e〜 5 1 6 hが形成されている。 図 5 4〜図 6 3 Cは図 5 1 〜図 5 3 の構成の変形例を示す 図 5 1 〜図 5 3 と同一の構成には同一の符号を付し 詳細な 説明は省略する。
図 5 4 〜図 5 6 は核酸プロ一ブ固定化領域 5 1 2 a 〜 5 1 2 d を一列に並べずに配置 したチップ 5 5 0 の構成例 "める こ の構成例では、 核酸プローブ固定化領域 5 1 2 a は 、 それ ぞれ縦及び横に 2個ずつ配置されてレヽる。 また、 核酸プロ一 プ固定化領域 5 1 2 b 〜 5 1 2 d についても同様であ < d " た、 サンプル保持枠フタ 5 1 6 a 〜 5 1 6 h は、 セル領域 5 1 4 a 〜 5 1 4 d の対角線上に離れて配置されている
図 5 7 A、 5 7 B及び図 5 8 A 、 5 8 B はチップ 5 7 0 の 構成例である。 基板 5 1 1 自体にサンプル保持枠部 5 8 1 を 形成 した構成例である。 こ のサンプル保持枠部 5 8 1 によ り サンプル保持溝 5 8 2 が設け られ 、 セル領域 5 1 4 a 〜 5 1 4 d を定めている。 それ以外の 成は図 5 1 〜図 5 3 と 同様 である。
図 5 9 A、 5 9 B及ぴ図 6 0 A 、 6 0 B はサンプル保持枠 とサンプル保持枠フタ を一体化させたチップ 5 9 0 の構成例 である。 図 6 0 Bに示すサンプル保持枠 5 9 1 によ り 、 サン プルを保持し、 かつサンプルを保持する枠のフタ と して機能 する。 その他の構成は図 5 1 〜図 5 3 と 同様である o
図 6 1 A〜 6 1 C 、 6 2 A〜 6 2 C、 図 6 3 A 〜 6 3 Cは サンプル保持枠フタの変形例であ o
図 6 1 A及び 6 1 B は、 図 5 9 、 1_) と同様のサンプ ル保持枠 5 9 1 を用いた例を示 している。 サンプル保持枠 5 9 1 は、 セル領域 5 1 4 a 5 1 4 d の側壁が 基板 5 1 1 に対して垂直に形成されヽ また上面力 S基板 5 1 1 に水平に形 成されている。 これに対して図 6 1 C の よ う に その断面を 半円形に しても い。
また、 図 5 4 図 5 6 に示す構成に、 図 6 0 A 6 0 B に 示すサンプル保持枠 5 9 1 の構成を適用 し j 、 図 6 2 A 6 2 Cに示すもの と なる 。 図 6 2 A 6 2 Cに示すよ う に、 サンプル保持枠 6 2 1 が各セノレ領域内の核酸プ π ブ固定化 領域を区切る。
また、 図 5 4 図 5 6 に示す構成に、 図 6 1 C に示すサン プル保持枠 6 1 1 の構成を適用 し 士县 A 図 6 3 A 6 3 C に示すもの と なる 。 図 6 3 B及び 6 3 Cに示すよ う に 、 断面 が半円形のサンプル保持枠 6 2 2 が各セノレ領域内の核酸プロ ーブ固定化領域を区切る。
図 5 4 〜図 6 3 C の構成は、 さ らに以下の図 6 4 図 8 2 の構成に適用でさ る。
図 6 4 〜図 6 6 はさ らなるチップ変形例である 。 図 6 4 図 6 6 に示すチクプ 6 4 0 の基本的な構成は図 4 9及び図 5
0 に示 した構成と共通 し、 共通する構成には同 ―符号を付し、 詳細な説明は省略する 。 図 6 4 図 6 6 のチップ 6 4 0 の場 合、 図 4 9 及び図 5 0 に示 した核酸プロ ブ固定化領域 4 9
2 a 4 9 2 d をそれぞれ複数個 (図では 6個 ) 設ける そ して、 核酸プロ ブ固定化領域 4 9 2 a 4 9 2 d は 1 つ ずつサ ンプル保持枠 6 4 1 によ て区切 られる さ らに、 こ のサ ンプル保持枠 6 4 1 上にサンプル保持枠フタ 6 4 2 が配 置される。 これによ り 、 核酸プローブ固定化領域 4 9 2 a ~ 4 9 2 d毎にセノレ領域 4 9 4 a 〜 4 9 4 d 力 S定め られる。 検 体溶液サンプルが多種類あ り 、 混合されていない場合に使用 でき る。
図 6 7 〜図 6 9 はさ らなるチップ変形例である。 図 6 7 〜 図 6 9 に示すチップ 6 7 0 の基本的な構成は図 6 4〜図 6 6 に示 した構成と共通 し、 共通する構成には同一符号を付し、 詳細な説明は省略する。 チップ 6 7 0 の場合、 核酸プローブ 固定化領域 4 9 2 a 〜 4 9 2 d は、 同一面積のものについて 互いに近接 して設け られている。 サンプル保持枠 6 7 1 は、 蛇行する溝が形成されている。 こ の溝とヽ サンプル保持枠 6
7 1 に設け られるサンプル保持枠フタ 6 7 4 によ り 、 蛇行す る 1 本の細長い形状の単一のセル領域 6 7 3 が定め られる。 このサンプル保持枠フタ 6 7 4 のセノレ領域 6 7 3 の両端に対 応する位 idには、 サンプル注入口 6 7 2 a とサンプル出口 6
7 2 b がそれぞれ形成されている。 したがつて 、 一度のサン プル注入で全ての核酸プローブ固定化領域 4 9 2 a 〜 4 9 2 d にサンプルが行き渡る。
図 7 0 A 〜 7 0 Dは図 6 7〜図 6 9 の変形例である。 図 7
0 Aは、 図 6 8 と同 じ上面図である。 チップ 7 0 0 のセノレ領 域 7 0 1 の折れ曲が り 部分を改良 したものが図 7 0 B及び 7
0 Cに示される。 図 6 8 のセル領域 6 7 3 は、 蛇行する流路 の断面積がほぼ一定である。 これに対して 、 図 7 0 B及び 7
0 C に示すセル領域 7 0 1 a 及ぴ 7 0 1 b は、 サンプル保持 枠 7 0 2 a 及ぴ 7 0 2 b で定め られる。 これらセノレ領域 7 0 1 a 及ぴ 7 0 1 b は、 蛇行する流路が 定の断面積ではない セル領域 7 0 1 a 及び 7 0 1 b の断面積が蛇行部分で小さ く なる。 すなわち 、 流路が細く なる
これに よ り 、 セノレ領域 7 O l a 及び 7 0 1 b は、 サンプル 保持領域がその核酸プロ一ブ固定化領域 4 9 2 a〜 4 9 2 d の面積毎に区切 れる。 そ して、 区切 られたセル領域同士が 互いに細い流路で結合され
図 7 0 B及ぴ Cは、 上面から見たセル領域 7 0 1 a 及び 7
0 1 b の形状が 、 区切 り位置で細く なる 代替的には、 図 7
0 Dに示すよ う に、 図 6 8 と同 じサンプル保持枠 6 7 1 を用 レヽヽ かつ流路制限部材 7 0 4 を区切り 位 に配置し 、 流体の 流れを一部制限しても よい。 この場合、 サンプル保持枠フタ
7 0 3 はサンプル保持枠 6 7 1 に固定されるが、 流路制限部 材 7 0 4 と の間には間隙が設け られ
図 7 1 〜図 7 3 のチップ 7 1 0 は、 さ らなる変形例である。 前述の図 8 0 A 〜 8 0 D及ぴ図 8 1 とその構成が類似 してお り 、 共通する構成には同一符号を付し、 詳細な説明は省略す る。 異なるのは 、 サンプル注入口 7 9 1 側からサンプル出
P 7 9 1 f にかけて 、 核酸プロ一ブ固定化領域 7 8 2 e〜 7
8 2 b が大さな面積から順に各セル領域 7 8 4 b〜 7 8 4 e に形成されている 、である。 その他の構成は 図 8 0 A〜 8
0 D及ぴ図 8 1 it通する。
(構成例 2 )
この構成例 2 では 、 検体溶液量を制御するセル領域を設け たデバィス を用いて核酸定量解析を行 う場 のチップ構成例 を示す。
図 7 4 、 7 5 A、 7 5 B 、 7 6 A、 7 6 B は本構成例 2 の チップ 7 4 0 である。 基本的な構成は前述 したので省略する。 基板 7 4 1 とサンプル保持枠 7 4 3 とサンプル保持枠フ タ 7 4 5 によって構成されるセル領域 7 4 4 a 〜 7 4 4 e の断面 積が、 それぞれ異なる。 こ のチップ 7 4 0 の場合、 核酸プロ ーブ固定化領域 7 4 2 は全て直径 5 0 μ mの正円形状である。 セル領域 7 4 4 a 〜 7 4 4 e の断面積が 0 . 0 0 2 m m 2 、 0 . 0 2 m m 2 、 0 . 2 m m 2 、 2 m m 2 、 2 0 m in 2の 5種 類を形成した。 セル領域 7 4 4 a 7 4 4 e の断面積は、 基 扳 7 4 1 力、らの高さ、 幅の どち らかヽ あるいは両方で規定さ れて構わない。 こ の断面積は 、 例えば図 7 6 B の例では、 基 板 7 4 1 、 サンプル保持枠 7 4 3及びサンプル保持枠フタ 7
4 5 で囲まれた領域で示される
図 7 7 A〜 7 7 Cは図 5 1 ~図 5 3 のチップ 5 1 0 の構成 と図 7 4 、 7 5 A、 7 5 B 、 7 6 Aヽ 7 6 B のチップ 7 4 0 の構成を組み合わせた例でめる 図 7 7 A〜 7 7 Cの基本的 な構成については前述 したので省略する
核酸プローブ固定化領域 7 7 2 a 7 7 2 g は、 面積が小 さいほど核酸濃度の低い領域が検出可能範囲 と なる。 さ らに、 核酸プローブ固定化領域 7 7 2 a 〜 7 7 2 g の面積あた り の サンプル量は多いほ ど核酸濃度の低レ、領域が検出可能範囲と なる。 これらを組み合わせる - と によ り 、 少ないサンプノレ量 でよ り 広い範囲での核酸定曰《解析が可能である。
(構成例 3 ) この構成例 3 では、 検体溶液を、 核酸プローブ固定化領域 間を移動させる こ と のでき るセル領域を形成 したデバィ スを 用いて核酸定量解析を行う場合のチップ構成例を示す。
図 7 8 A〜 7 8 D及び図 7 9 は本構成例 3 のチ ップ 7 8 0 の一例を示す図である。 基本的な構成は前述したので省略す る。 このチップ 7 8 0 では、 核酸プローブ固定化領域 7 8 2 は全て直径 2 0 mの正円で形成される。 検体溶液をセル領 域 7 8 4 a カゝら 7 8 4 b に移動 し、 核酸プローブと標的核酸 がハイプリ ダイゼーシ ョ ン反応を行う 時間を十分に経過 した 後、 次のセル領域 7 8 4 c に移動させる。 順次サンプルを移 動させ、 全てのプローブ固定化領域 7 8 2 を経由 させる。
図 8 O A〜 8 O D及ぴ図 8 1 のチップ 8 0 0 は図 7 8 A〜 7 8 D及び図 7 9 に示 したチップ 7 8 0 の変形例である。 基 本的な構成は前述したので省略する。 異なる面積の核酸プロ ーブ固定化領域 7 8 2 b 〜 7 8 2 e を形成する。 そ して、 小 さい面積のものから大きい面積のものへと検体溶液 7 8 5 を 移動させる。 これによ り 、 チップ 7 8 0 よ り も定量範囲を広 く する こ と が可能である。
こ の よ う に上記実施形態によれば、 電極面積毎に互いに検 体溶液を分離して定量分析する環境を整える こ と によ り 、 面 積の異なる電極間で核酸反応が生 じず、 分析精度が向上する。
(第 1 実施形態乃至第 8 実施形態について)
上記第 1 乃至第 8 実施形態の構成において、 セ ンサ、 正規 化、 減算、 電流電圧変換、 A / D変換な どの機能ブロ ッ ク は、 以下の図 8 2 〜図 8 5 のよ う にま と め られる。 なお、 図 8 2 〜 8 5 には、 説明の便宜のためヽ プ π一プ電流測定用の電極 面積の異なる 2つのセンサ 8 2 2 8 2 3 と、 バ ッ ク グラ ゥ ン ド電流測定用の電極面積の異なる 2つのセンサ 8 2 5 , 8
2 6 と を配置する例を示 したが 、 これに限定されないこ と は も ちろんである。 電極面積の異なる 3 つ以上のセンサを配置 しても ぶレ、
図 8 2 は 、 第 1 実施形態の図 1 4や図 1 9 に示 した構成を 機能的に示 した図である。 図 8 2 に示すよ う に、 核酸検出セ ンサ部 8 2 1 と、 バック グラ ウ ン ド、レベル検出センサ部 8 2
4 がある 核酸検出センサ部 8 2 1 は、 電極面積 A のセ ン サ 8 2 2 と 、 電極面積ひ A。 ( < 1 ) のセ ンサ 8 2 3 を備 える。 ノ^ク ク グラ ウン ドレべノレ検出センサ部 8 2 4 は 、 電極 面積 A のセ ンサ 8 2 5 と 、 電極面積 ひ A 。のセ ンサ 8 2 6 を備える
核酸検出センサ部 8 2 1 の出力側には正規化部 8 2 7 が配 置される。 正規化部 8 2 7 は、 電流增幅部 8 2 8 及び 8 2 9 からなる 。 電流増幅部 8 2 8 はヽ センサ 8 2 2 の出力電流を
1倍に増幅し、 減算部 8 3 3 に出力する 電流 幅部 8 2 9 は、 センサ 8 2 3 の出力電流を 1 / a倍に増幅し 、 減算部 8
3 3 に出力する。
バ ック グラ ウン ドレ ベノレ検出セ ンサ部 8 2 4 の出力側には 正規化部 8 3 0 が配置される。 正規化部 8 3 0 は 、 ¾流増幅 部 8 3 1 及び 8 3 2 からなる。 電流増幅部 8 3 1 は、 センサ
8 2 5 からの出力電流を 1 倍に增幅し 、 減算部 8 3 3 に出力 する。 電流増幅部 8 3 2 は 、 センサ 8 2 6 からの出力電流を l Z a倍に増幅し、 減算部 8 3 3 に出力する。
減算部 8 3 3 は、 電流増幅部 8 2 8 の出力電流から電流増 幅部 8 3 1 の出力電流を減算 して電流電圧変換部 8 3 4 に出 力する。 また、 減算部 8 3 3 は、 電流増幅部 8 2 9 の出力電 流から電流増幅部 8 3 2 の出力電流を減算 して電流電圧変換 部 8 3 4 に出力する。
電流電圧変換部 8 3 4 は、 2 つの電流電圧変換部 8 3 5及 び 8 2 6 からなる。 電流電圧変換部 8 3 5 は、 電極面積 A。 のセンサ 8 2 2 , 8 2 5 についての 算出カ電 を電圧変換 してセ レク タ 1 3 6 に出力する。 ¾流電圧変換部 8 3 6 は、 電極面積 A 。のセ ンサ 8 2 3 , 8 2 6 に レヽての減算出力 電流を電圧 換してセ レク タ 1 3 6 に出力する
セ レク タ 1 3 6 及び A Z D コ ンノ^ ―タ 1 3 7 の機能につい ては上記各実施形態で示したの と 通 Tる。
図 8 3 は 、 図 3 3 に図 3 6 を適用 した実施形態に対応する 機能プロ ック図である。 図 8 2 と 通する構成には同一符号 を付し、 詳細な説明は省略する。 図 8 3 の場合ヽ センサ 8 2
2 , 8 2 3 , 8 2 5 , 8 2 6 の出力 it流は減算部 8 3 3 に出 力される。 減算部 8 3 3 は、 セ ンサ 8 2 2 の出力電流力、らセ ンサ 8 2 5 の出力電流を減算 して正規化部 8 4 1 の電流增幅 部 8 4 2 に出力する 。 また、 減算部 8 3 3 は、 セ ンサ 8 2 3 の出力電流からセンサ 8 2 6 の出力電流を減算 して正規化部
8 4 1 の電流増幅部 8 4 3 に出力する
電流増幅部 8 4 2 は、 減算出力 流を 1 倍に増幅し C T 電圧変換部 8 3 5 に出力する。 ¾流 幅部 8 4 3 はヽ 減算出 04002205
106 力電流を l Z o;倍に増幅して電流電圧変換部 8 3 6 に出力す る。 電流電圧変換部 8 3 4 から後段の機能は図 8 2 と共通す る。
図 8 4 は、 上記第 1 実施形態の構成において、 減算を核酸 検出用チップ 1 2 外の演算処理装置 1 1 3 内で実行する実施 形態に対応する。 核酸検出センサ部 8 2 1 と、 バ ッ ク グラ ウ ン ドレべル検出センサ部 8 2 4 と、 正規化部 8 2 7及び 8 3
0 までの構成は図 8 2 の例と共通する。 電流増幅部 8 2 8 ,
8 2 9 , 8 3 1 及び 8 3 2 の各出力電流は電流 圧変換部 8
5 2 〜 8 5 5 に出力される 。 電流電圧変換部 8 5 2 〜 8 5 5 は、 各出力を電圧変換 してセ レク タ 1 3 6 に出力する。 各出 力電圧は 、 セ レク タ 1 3 6 、 A / D コ ンバータ 1 3 7 を介し て核酸検出用チップ 1 2外の演算処理装置 1 1 3 に出力され る。 演算処理装置 1 1 3 内の減算部 1 1 3 a はヽ センサ 8 2
2 の出力データからセ ンサ 8 2 5 の出力データ を減算 し、 セ ンサ 8 2 3 の出力データからセンサ 8 2 6 の出力データ を減 算する。
図 8 5 は、 図 1 4 , 図 1 5 , 図 1 6及び図 1 9 に示される 構成に対応する機能プロ ッ ク図である。 核酸検出センサ部 8 2 1 と、 バック グラ ウ ン ドレベル検出センサ部 8 2 4 と 、 正 規化部 8 2 7及ぴ 8 3 0 と、 電流電圧変換部 8 5 1 までの構 成は図 8 4 の例と共通する。 減算部 8 3 3 は、 電流電圧変換 部 8 5 2 の出力電圧カゝら電流電圧変換部 8 5 4 の出力電圧を 減算 してセ レク タ 1 3 6 に出力する。 また、 減算部 8 3 3 は、 電流電圧変換部 8 5 3 の出力電圧から電流電圧変換部 8 5 5 の出力電圧を減算 してセ レク タ 1 3 6 に出力する。
なお、 これら図 8 2 〜図 8 5 に示した構成は例示であ り 、 各構成の順序を種々変更する こ と ができ る。
こ のよ う に本実施形態によれば、 核酸濃度を広範囲のダイ ナミ ック レンジで高精度に測定する こ とができ る。
産業上の利用可能性
以上説明 したよ う に この発明は、 検体中に含まれる標的核 酸の濃度を定量的に分析する核酸濃度定量分析チップ、 核酸 濃度定量分析装置および核酸濃度定量分析方法の技術分野に 有効である。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 標的核酸と相補的な核酸を有する核酸プローブが固定化 され、 かつ各 が異なるセンサ面積を有する複数の核酸セン サと、
刖記核酸センサの第 1 の検出信号をセンサ面積について正 規化する第 1 の正規化部と
を具備してなる こ とを特徴とする核酸濃度定量分析チッ プ
2 . さ らに、 前記核酸プロ一プが固定化されず、 かつ各々が 異なる前記センサ面積を有するノ ッ クグラウン ド レベルセン サと、
m記ハ、ックグラゥン ド レベルセンサの第 2 の検出信号を前 記センサ面積について正規化する第 2 の正規化部と、
刖 己第 1 の正規化部の第 1 の出力信号から第 2 の正規化部 の第 2 の出力信号を減算する減算部と
¾ 備える こ とを特徴とする請求項 1 に記載の核酸濃度定量 分析チップ。
3 . さ らに、 前記核酸プローブが固定化されず、 かつ各々が 異なる前記センサ面積を有するパックグラウン ド レベルセン サと、
前記パッ ク グラウン ド レベルセンサの第 2 の検出信号を前 記センサ面積について正規化する第 2 の正規化部と、
前記第 1 の正規化部の第 1 の出力信号から第 2 の正規化部 の第 2 の出力信号を減算する減算部と、
前記減算部の出力信号電流を電圧変換する電流電圧変換部 を備える ことを特徴とする請求項 1 に記載の核酸濃度定量分 析チップ
4 . 刖 p己第 1 の正規化部は、 前記核酸センサの第 1 の検出信 号の 1 の電流値が正の に の笛 1 の電流値を複製及 び増幅す 1 のカ レン ト ミ ラーと 1 の電流値が負の -" 合に第 1 の電流値を複製及び増幅する第 2 の力 レン 卜 ラ とを備える y とを特徴とする請求項 1 に記載の核酸濃度 Λ 凰 分析チ Vプ。
5 . さ らに、 HU記核酸プローブが固定化されず 、 かつ各々が 異なる刖記センサ面積を有するバッ クグラゥン ド レベルセン サと
前記パッ クグラウン ド レベルセンサの第 2 の検出信号を m 記センサ面積について正規化する第 2 の正規化部と
前記第 1 の正規化部の第 1 の出力信号から第 2 の正規化部 の第 2 の出力信号を減算する減算部とを備え、
刖 e3第 1 の正規化部は、 前記核酸センサの第 1 の検出信号 の第 1 の電流値が正の場合に、 前記第 1 の電流値を複製及び 増幅する第 1 のカ レン ト ミ ラーと、 第 1 の電流値が負の場合 に、 前記第 1 の電流値を複製及び増幅する第 2 の力 レン 卜 ミ ラーとを備 、
前記第 2 の正規化部は、 前記バッ クグラウン ド レベルセン サの第 2 の検出信号の第 2 の電流値が正の場合に、 前記第 2 の電流値を複製及び増幅する第 3 のカ レン 卜 ミ ラーと、 前記 第 2 の電流値が負の場合に前記第 2 の電流値を複製及ぴ増幅 する第 4 のカレン トミ ラーとを備え、
前記減算部は、 第 1 のカ レン 卜 ミ ラーの第 1 の出力電流か ら 3 のカ レン トミ ラーの第 3 の出力電流を減算し、 第 2 の 力 レン 卜ミ ラーの第 2 の出力電流から第 4 のカ レン 卜 S ラ一 の 4 の出力電流を減算する こ とを特徴とする請求項 1 に 5し 載の核酸濃度定量分析チップ。
6 さ らに、 前記核酸センサの各々 を収容し、 前記核酸セン サのセンサ面積に応じて互いに分離して複数設けられたセル を備えてなる こ とを特徴とする請求項 1 に記載の核酸濃度定 里分析チップ。
7 - 前記核酸センサは第 1 のセンサと前記第 1 のセンサよ り 小さな電極面積を持つ第 2 のセンサとを備え、
第 1 のセンサの第 1 の測定レンジと第 2 のセンサの第 2 の 測定レンジがオーバーラップする こ とを特徴とする請求項 1 に記載の核酸濃度定量分析チップ。
8 - 記核酸センサは第 1 のセンサと前記第 1 のセンサよ Ό 小さな電極面積を持つ第 2 のセンサとを備え、
第 1 のセンサの第 1 の測定レンジと第 2 のセンサの第 2 の 測 レンジがオーバーラップし 、
第 1 のセンサのダイナミ ック レンジ d (dec)を m記第 1 の 測定レンジの第 1 の下端に対する第 1 の上端の第 1 の比と疋 義し 、 第 1 のセンサの第 1 の核 :酸プローブの本数が N 丄 第
2 のセンサの第 2 の核酸プロ一ブの本数が N 2 、 記第 1 の 測定レンジと前記第 2 の測定レンジがオー バ ーラ ップする核 酸濃 領域の第 2 の下端に対する第 2 の上端の第 2 の比が d
1 ,2 (de c) , この d i,2 と d i の比 d i ,2/ d! を Ύ ( 0 ≤ r < 1 ) と する と、 1 0 dl(l—Y) =
2 力 成立する こ とを特徴とする請求項 1 に記載の核酸 ft: 疋 里分析チッ プ。
9 . 前記核酸センサは第 1 のセンサと前記第 1 のセンサよ り も小さな電極面積を持つ第 2 のセンサとを備え、
第 1 のセンサの第 1 の測定レンジと第 2 のセンサの第 2 の 測定レンジがォー 一ラ ップし、
第 1 のセンサの第 1 のダイナミ ッ ク レンジ d (dec)を刖記 第 1 の測定レンジの第 1 の下端に対する第 1 の上端の比と定 義する とき、 第 1 のセンサの第 1 の核酸プローブの本数が N
,,、·-
1 , 第 2 のセンサの第 2 の核酸プローブの本数が N 2 、 刖記 第 1 の測定レンジと刖 己第 2 の測定レンジとがォーバ ―ラ ッ プする核酸濃度領域の第 2 の下端に対する第 2 の上端の第 2 の比が d 1 ; 2 (dec) , の d 1 ) 2 と d 1 の比 d 1 ; 2/ d i を ァ ( 0 ≤ r
< 1 ) とする と、
1 0 di(i— γ) =
N2 力 成 IIし、 刖記 r は、 7 ≤ 0 . 8 5 を満たすこ とを特徴と する請求項 1 に記載の核酸濃度定量分析チップ。
1 0 . 前記核酸センサは第 1 のセンサと前記第 1 のセンサよ り も小さな電極面積を持つ第 2 のセンサとを備え、
第 1 のセンサの第 1 の測定レンジと第 2 のセンサの の 測定レンジがォ一バ一ラップし、
第 1 のセンサの第 1 のダイナミ ッ ク レンジ d 丄 (dec)を刖記 第 1 の測定レンジの第 1 の下端に対する第 1 の上端の第 1 の 比と定義し、 第 2 のセンサの第 2 のダイ ナミ ッ ク レンジ d 2 (dec)を前記第 2 の測定レンジの第 2 の下端に対する第 2 の 上端の第 2 の比と定義し、 第 1 のセンサの第 1 の核酸プロ一 ブの本数が N l 5 第 2 のセンサの第 2 の核酸プローブの本数 が N 2、 前記第 1 の測定レンジ及び前記第 2 の測定レンジが オーバーラップする核酸濃度領域の第 3 の下端に対する第 3 の上端の第 3 の比が d i -, (dec) , この d 1 ; 2 と d i の比 d 1 ; 2/ d! を r ( 0 ≤ r < 1 ) とすると 、
1 0 did— Y) =
N2 が成立し、 前記第 1 及び第 2 のダイ ナミ ッ ク レンジ d 1 と d 2は、 d 1 - = d 2 を満たす 二 と を特徴とする請求項 1 に記 載の核酸濃度定量分析チップ o
1 1 . HU記核酸センサは第 1 のセンサと前記第 1 のセンサよ り も小さな電極面積を持つ第 2 のセンサとを備え、
第 1 のセンサの第 1 の測定レンジと第 2 のセンサの第 2 の 測定レンジがオーバ—ラ ップし、
、 記核酸プローブは電極面積に比例した分子数だけ刖記第
1 及び第 2 のセンサに固定化される場合に、 前記第 1及び第
2 のセンサの第 1 及び第 2 の電極面積をそれぞれ S !及び S
2 とする と、 0 . 0 5 ≤ S 2 , / S !≤ 0 . 5 である こ とを特 徵とする請求項 1 に記載の核酸濃度定量分析チップ。
1 2 . 前記核酸センサは第 1 のセンサと、 前記第 1 のセンサ よ り も小さな電極面積を持つ第 2 のセンサと、 前記第 2 のセ ンサょ り も小さな電極面積を持つ第 3 のセンサとを備え、 第 1 のセンサの第 1 の測定レンジ及び第 2 のセンサの第 2 の測定レンジがォーパーラップし
前記核酸プローブは電極面積に比例した分子数だけ前記第 1 乃至第 3 のセンサに固定化される場合に、 前記第 1 乃至第 3 のセンサの第 1 乃至第 3 の電極面積をそれぞれ S ! , S 2 及び S 3 とする と、 S 2 Z S 1 = S 3 / S 2である こ とを特徴 とする請求項 1 に記載の核酸濃度定量分析チップ。
1 3 . 前記核酸センサは第 1 のセンサと前記第 1 のセンサよ り も小さな電極面積を持つ第 2 のセンサとを備え、
第 1 のセンサの第 1 の測定レンジと第 2 のセンサの第 2 の 測定レンジがォ一バ一ラップし、
刖記核酸プロ一ブは電極面積に比例した分子数だけ前記第
1 及び第 2 のセンサに固定化される場合に、 前記第 1 及び第
2 のセンサの第 1 及び第 2 の電極面積をそれぞれ S i及び S
2 とすると、 0 . 0 5 ≤ S 2 / S 1≤ 0 . 5であ り、
記複数の核酸センサの各々のセンサ面積値が実質的に等 比数列をなすこ とを特徴とする請求項 1 に記載の核酸濃度定 量分析チップ。
1 4 • 前記核酸センサは第 1 のセンサと、 前記第 1 のセンサ よ り も小さな電極面積を持つ第 2 のセンサと、 前記第 2 のセ ンサよ り も小さな電極面積を持つ第 3 のセンサとを備え . 第 1 のセンサの第 1 の測定レンジと第 2 のセンサの第 2 の 測定レンジがォ一バ一ラ ップし、
前記核酸プローブは電極面積に比例した分子数だけ前記第 1 乃至第 3 のセンサに固定化される場合に、 前記第 1 乃至第 3 のセンサの第 1 乃至第 3 の電極面積をそれぞれ S i S 2 及び S 3 とする と 0 . 0 5 ≤ s 2 / s <: 0
5 でめ る とを特徴と Ό m求項 1 に記載の核酸濃度 里分 析チップ。
1 5 . 標的核酸と相補的な核酸を有する核酸プローブが固定 化され、 かつ各 が異なるセンサ面積を有する複数の核酸セ ンサと、
記核酸プ Π ブが固定化されず、 かつ各々が異なる前記 センサ面積を有するバックグラウン ド レベルセンサと
前記核酸センサの第 1 の検出信号をセンサ面積について正 規化する第 1 の正規化部と、
刖記バ ッ クグラゥン ド レべルセンサの第 2 の検出信号を刖 記センサ面禾貝について正規化する第 2 の正規化部と、
前 し 1 の正規化部の第 1 の出力信号電流を電圧変換する 第 1 の電流 圧変換部と、
前 し 2 の正規化部の第 2 の出力信号電流を電圧変換する 第 2 の電流 m圧亦換部と、
記第 1 の電流電圧変換部の第 1 の出力電圧を D変換 して第 1 のァン夕ル丁一夕を生成し、 刖記第 2 の電流電圧変 換口 15の第 2 の出力電圧を A Z D変換して第 2 のデジ夕ル了 夕を生成する A / D変換口5と
刖記第 1 の丁ジ ルデ 夕力、ら第 2 の Tジ夕 Jレデー を減 算する減算部と
を具備してなる < _とを特徴とする核酸濃度定量分析装置 <
1 6 . 標的核酸と相補的な核酸を有する核酸プローブが固定 化され、 かつ各 が異なるセンサ面積を有する複数の核酸セ ンサと、
刖記核酸プ口 ―プが固定化されず、 かつ各々が異なる刖目己 センサ面積を有するパッ クグラウン ド レベルセンサと、
前記核酸センサの第 1 の検出信号をセンサ面積について正 規化する笛 1 の正規化部と、
記バヅクグラゥン ドレべルセンサの第 2 の検出信号を 記センサ面積について正規化する第 2 の正規化部と、
m 1 の正規化部の第 1 の出力信号電流を電圧変換する 第 1 の電流電圧変換部と、
刖 2 の正規化部の第 2 の出力信号電流を電圧変換する 第 2 の電流電圧亦換 R¾と、
1 の電流電圧変換部の第 1 の出力電圧から前記第 2 の電流電圧変換部の第 2 の出力電圧を減算する減算部と 、 前記減算部の第 3 の出力電圧を A Z D変換する A Z D ί矢 部と
を具備してなる ことを特徴とする核酸濃度定量分析装 ¾。
1 7 的核酸と相補的な核酸を有する核酸プローブが固定 化され、 かつ各々が異なるセンサ面積を有する複数の核酸セ ンサと、
刖記核酸プ口一ブが固定化されず、 かつ各々が異なる刖 己 センサ面積を有するパックグラウン ド レベルセンサと、 刖記核 センサの第 1 の検出信号から前記バッ クグラゥン ド レベルセンサの第 2 の検出信号を減算する減算部と、 刖記減算部の減算出力信号をセンサ面 いて正 ¾化す る正規化部と
を ¾備してなる こ とを特徴とする核酸濃度疋虽分析チップ。
1 8 口
. さ らに、 刖 正規化部の出力信 A ί;ιΕを 圧変換す 電流電圧恋 i ©fe¾部ロ を備える とを特徴とする請求項 1 7 に記載 の核酸濃度疋里分析チッ ノ
1 9 . 標的核酸と相補的な核酸を有する核酸プ口 ブが固定 化され、 かつ各々が異なるセンサ面 を有する の核酸セ ンサと、
刖記核酸センサの検出信号をセンサ面積について正規化し 正規化信号を出力する第 1 の正規化部と
を備えた核酸濃度定量分析チップと
前記正規化信号に基づき核酸濃度を 出する核酸濃度算出 装置と
を具備してなる とを特徵とする核酸濃度定量分析装置。
2 0 . 刖記核酸濃度算出装置は、 前記正規化信号と予め定め られた閾値を比較し 各々のセンサ面積について 2 値のビッ 卜丁一夕を取得し
前 値のビッ 丁 夕を 予め 2値の判定ビッ トデ一夕 と刖記各々 のセンサ面積について前記核酸の濃度とを対応づ けた判定テープルと昭合する とによ り核酸濃度を決定する とを特徴とする ≤^求項 1 9 に記載の核酸濃度定量分析装 鼠
2 1 . 刖 核酸プ Π ブに刖 標的核酸が結合した核酸 2 本 鎖が固定化され かつ各々が なる前記センサ面積を有する 飽和レベル検出センサとをさ らに有する こ とを特徴とす 求項 1 9 に記載の核酸濃度定量分析装置。
2 2 . 標的核酸と相補的な核酸を有する核酸プ Π ―ブが固定 化され、 かつ各々が異なるセンサ面積を有する複数の核酸セ ンサの検出信号を各々のセンサ面積について正規化して正規 化信号を出力し、
HIJ gd正規化信号に基づさ核酸濃度を算出する
とを特徴とする核酸濃度定量分析方法。
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Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7745203B2 (en) * 2002-07-31 2010-06-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Base sequence detection apparatus and base sequence automatic analyzing apparatus
JP4528516B2 (ja) * 2003-11-07 2010-08-18 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 検出装置
JP3874772B2 (ja) * 2004-07-21 2007-01-31 株式会社日立製作所 生体関連物質測定装置及び測定方法
TWI235520B (en) * 2004-09-10 2005-07-01 Antig Tech Co Ltd Device for measuring fuel capacity in fuel cell system
CN101006338A (zh) * 2004-10-14 2007-07-25 株式会社东芝 基于fet的核酸探测传感器
JP2006133080A (ja) * 2004-11-05 2006-05-25 Toshiba Corp Dnaチップ及びそのdnaチップを用いた検査装置
JP4597711B2 (ja) * 2005-02-25 2010-12-15 京セラキンセキ株式会社 微少質量検出チップ
JP4597710B2 (ja) * 2005-02-25 2010-12-15 京セラキンセキ株式会社 微少質量検出チップ
US20090136926A1 (en) * 2005-05-30 2009-05-28 Ralf Himmelreich Device and method for standardizing nucleic acid concentrations
JP5017805B2 (ja) * 2005-06-17 2012-09-05 凸版印刷株式会社 マイクロ反応チップの製造方法
JP4353958B2 (ja) * 2005-09-15 2009-10-28 株式会社日立製作所 Dna計測装置、及びdna計測方法
US8855955B2 (en) * 2005-09-29 2014-10-07 Custom Array, Inc. Process and apparatus for measuring binding events on a microarray of electrodes
JP4907983B2 (ja) * 2005-12-26 2012-04-04 株式会社Kri 生体関連物質検出装置
US7774038B2 (en) 2005-12-30 2010-08-10 Medtronic Minimed, Inc. Real-time self-calibrating sensor system and method
JP2007248396A (ja) * 2006-03-17 2007-09-27 Toshiba Corp 核酸検出用デバイスおよび核酸検出装置
KR20080005269A (ko) * 2006-03-24 2008-01-10 가부시끼가이샤 도시바 핵산 검출 카세트 및 핵산 검출 장치
JP4664846B2 (ja) 2006-03-29 2011-04-06 株式会社東芝 核酸検出用デバイス
JP4883812B2 (ja) * 2006-07-13 2012-02-22 国立大学法人名古屋大学 物質検出装置
JP4779846B2 (ja) * 2006-07-18 2011-09-28 凸版印刷株式会社 ハイブリダイゼーション検出方法及び装置
JP4751302B2 (ja) 2006-11-21 2011-08-17 株式会社日立製作所 電位差式センサ及び分析用素子
KR101413659B1 (ko) 2007-12-06 2014-07-01 삼성전자주식회사 실시간 핵산 증폭 데이터로부터 시료 중의 표적 핵산의초기 농도를 결정하는 방법
DE102008047790A1 (de) * 2008-09-17 2010-04-15 Qiagen Gmbh Verfahren zur Normierung des Gehalts von Biomolekülen in einer Probe
JP5540252B2 (ja) * 2009-04-23 2014-07-02 独立行政法人産業技術総合研究所 電気化学測定装置
US9605307B2 (en) 2010-02-08 2017-03-28 Genia Technologies, Inc. Systems and methods for forming a nanopore in a lipid bilayer
US8324914B2 (en) 2010-02-08 2012-12-04 Genia Technologies, Inc. Systems and methods for characterizing a molecule
US9678055B2 (en) 2010-02-08 2017-06-13 Genia Technologies, Inc. Methods for forming a nanopore in a lipid bilayer
US20120052188A1 (en) 2010-02-08 2012-03-01 Genia Technologies, Inc. Systems and methods for assembling a lipid bilayer on a substantially planar solid surface
US8962242B2 (en) 2011-01-24 2015-02-24 Genia Technologies, Inc. System for detecting electrical properties of a molecular complex
JP6081071B2 (ja) * 2012-03-23 2017-02-15 東芝メディカルシステムズ株式会社 核酸検出用デバイス
US8986629B2 (en) * 2012-02-27 2015-03-24 Genia Technologies, Inc. Sensor circuit for controlling, detecting, and measuring a molecular complex
US9759711B2 (en) 2013-02-05 2017-09-12 Genia Technologies, Inc. Nanopore arrays
US9551697B2 (en) 2013-10-17 2017-01-24 Genia Technologies, Inc. Non-faradaic, capacitively coupled measurement in a nanopore cell array
US10113241B2 (en) * 2014-02-04 2018-10-30 Jeffrey Allen Kaiser Control board for controlling channel sequencing of positive and negative DC voltage and current
JP2016061769A (ja) * 2014-09-22 2016-04-25 株式会社東芝 塩基配列検出チップ
JP6931035B2 (ja) * 2014-09-22 2021-09-01 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 塩基配列検出チップ
EP3199615A4 (en) * 2014-09-22 2018-04-11 Toshiba Medical Systems Corporation Nucleic acid analysis device
US10852274B2 (en) 2017-03-09 2020-12-01 Auburn University Differential circuit for background correction in electrochemical measurements
US11505799B2 (en) 2017-07-07 2022-11-22 Innamed, Inc. Aptamers for measuring lipoprotein levels
US11560565B2 (en) 2018-06-13 2023-01-24 Auburn University Electrochemical detection nanostructure, systems, and uses thereof
CN110646609A (zh) * 2019-10-11 2020-01-03 深圳华迈兴微医疗科技有限公司 一种多标志物检测的磁微粒发光微流控芯片以及检测装置
KR20210112137A (ko) * 2020-03-04 2021-09-14 동우 화인켐 주식회사 전기화학센서 및 이의 제조방법
EP4281773A1 (en) * 2021-01-22 2023-11-29 Analog Devices International Unlimited Company Sensing assembly
JP2023000748A (ja) * 2021-06-18 2023-01-04 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 塩基配列検出チップ、塩基配列検出カートリッジおよびチップ製造方法
US20230067667A1 (en) * 2021-08-30 2023-03-02 Visera Technologies Company Limited Biosensor structure, biosensor system, and method for forming biosensor
CN113699223B (zh) * 2021-10-29 2022-02-15 成都齐碳科技有限公司 纳米孔测序电路、测序方法及装置
CN115186613B (zh) * 2022-07-01 2026-01-09 郑州轻工业大学 一种搭建半加半减分子开关电路的方法
JP2024086157A (ja) * 2022-12-16 2024-06-27 株式会社東芝 センサモジュールシステム

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10146183A (ja) * 1996-09-19 1998-06-02 Toshiba Corp 電極、検出装置およびセンサ
JP2002510791A (ja) * 1998-04-08 2002-04-09 カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー インターカレート性のレドックス活性部分を使用する電気化学的センサ
JP2002195997A (ja) * 2000-09-29 2002-07-10 Toshiba Corp 核酸検出用センサ
JP2002257730A (ja) * 2000-12-26 2002-09-11 Olympus Optical Co Ltd 蛍光輝度測定方法及び装置
JP2003250088A (ja) * 2001-11-29 2003-09-05 Toshiba Corp センサ装置
JP2003274945A (ja) * 2002-03-26 2003-09-30 Toshiba Corp ハイブリダイゼーション検出装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5004903A (en) * 1989-03-31 1991-04-02 Nippon Steel Corporation Contact type image sensor device with specific capacitance ratio
US5776672A (en) * 1990-09-28 1998-07-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Gene detection method
NL9002279A (nl) * 1990-10-19 1992-05-18 Philips Nv Meetinrichting met normeringscircuit.
US6331274B1 (en) * 1993-11-01 2001-12-18 Nanogen, Inc. Advanced active circuits and devices for molecular biological analysis and diagnostics
JP3577805B2 (ja) * 1995-09-05 2004-10-20 株式会社デンソー 酸素濃度検出素子の製造方法
JP3764779B2 (ja) * 1996-03-30 2006-04-12 株式会社東北テクノアーチ 凸状領域を用いた分析方法
WO1999067628A1 (en) * 1998-06-24 1999-12-29 Therasense, Inc. Multi-sensor array for electrochemical recognition of nucleotide sequences and methods
US7217573B1 (en) * 1999-10-05 2007-05-15 Hitachi, Ltd. Method of inspecting a DNA chip
CN1101474C (zh) * 1999-11-10 2003-02-12 重庆西南医院 微型石英谐振阵列基因传感器芯片
US6407395B1 (en) * 2000-02-29 2002-06-18 The University Of Chicago Portable biochip scanner device
EP2040068A3 (en) * 2000-09-29 2010-09-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Nucleic acid detection sensor
WO2003014722A1 (en) * 2001-08-08 2003-02-20 The Arizona Board Of Regents Nucleic acid field effect transistor
CN2495656Y (zh) * 2001-09-03 2002-06-19 赵雨杰 核酸扩增基因芯片杂交智能化并行检测仪

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10146183A (ja) * 1996-09-19 1998-06-02 Toshiba Corp 電極、検出装置およびセンサ
JP2002510791A (ja) * 1998-04-08 2002-04-09 カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー インターカレート性のレドックス活性部分を使用する電気化学的センサ
JP2002195997A (ja) * 2000-09-29 2002-07-10 Toshiba Corp 核酸検出用センサ
JP2002257730A (ja) * 2000-12-26 2002-09-11 Olympus Optical Co Ltd 蛍光輝度測定方法及び装置
JP2003250088A (ja) * 2001-11-29 2003-09-05 Toshiba Corp センサ装置
JP2003274945A (ja) * 2002-03-26 2003-09-30 Toshiba Corp ハイブリダイゼーション検出装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1530043A4 *

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