WO2008010442A1 - Microstructure and its fabrication method, sensor device, and raman spectroscopy device - Google Patents

Microstructure and its fabrication method, sensor device, and raman spectroscopy device Download PDF

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    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]

Definitions

  • the present invention relates to a fine structure in which a plurality of metal particles are arranged on a concavo-convex metal substrate having a concavo-convex structure on the surface, a manufacturing method thereof, and a sensor device and a Raman spectroscopic device using the fine structure. Is.
  • Raman spectroscopy is a method for obtaining a spectrum of Raman scattered light (Raman spectrum) obtained by dispersing scattered light generated by irradiating a substance with single wavelength light.
  • Raman spectroscopy there is a Raman spectroscopy method that uses an electric field enhanced by localized plasmon resonance, called surface-enhanced Raman scattering (S ERS), to enhance weak Raman scattered light.
  • S ERS surface-enhanced Raman scattering
  • Localized plasmon resonance is strong in the vicinity of a convex portion when light is incident on a metal concave-convex surface having a nano-order concave-convex structure and free electrons vibrate in the convex portion in response to the electric field of light. It is a phenomenon that generates an electric field.
  • a fine structure in which a large number of particles having at least a surface made of metal are fixed to a substrate has been proposed.
  • Patent Document 1 a non-metallic substrate such as glass is regularly arranged with a number of non-metallic particles such as silica particles to form a particle layer, and the substrate on which the particle layer is formed is coated with a metal and a polymer.
  • a large number of non-metal / metal composite particles are formed on the substrate by immersing in the solution, removing the particle layer from the solution, drying, and firing the particle layer at a temperature at which the polymer can be incinerated.
  • a method for manufacturing a Raman spectroscopic device having a regularly arranged particle layer is disclosed.
  • Patent Document 1 JP 2004-170334 A Patent Document 2 : Japanese Patent Application No. 2005-035564
  • Patent Document 3 Japanese Patent Laid-Open No. 2005-200677
  • Patent Document 4 Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-38506
  • the present inventor conducted research on a method for easily obtaining a fine structure having a nano-order metal concavo-convex structure, and anodized the anodized metal body (A1 etc.) of (1).
  • a part of the metal oxide layer (Al 2 O, etc.), and the metal oxide layer to be anodized after the metal oxide layer is removed
  • a device for Raman spectroscopy comprising a non-anodized part, and (2) for Raman spectroscopy in which a metal different from the non-anodized part is fixed to the surface of the non-anodized part of the anodized metal body by vapor deposition or the like.
  • the device was invented and filed earlier (Patent Document 2, unpublished at the time of filing the present invention).
  • the Raman spectroscopy device (2) is particularly preferred because the Raman scattering intensity is effectively enhanced.
  • the non-anodized portion of the anodized metal body becomes a metal body having a nano-order uneven structure on the surface (see FIG. 2 (c) of Patent Document 2).
  • the Raman spectroscopic device can be easily produced simply by removing the anodized portion and then fixing the dissimilar metal by vapor deposition or the like, if necessary.
  • an approximately regular structure can be obtained by anodic oxidation, a Raman spectroscopic device having a highly regular metal concavo-convex structure can be easily produced.
  • the form of the metal fixed in the recess of the non-anodized portion of the anodized metal body is not particularly limited.
  • a metal layer is taken as an example. (See Fig. 1 (b) in Patent Document 2).
  • Patent Document 2 discloses anodized gold There is no specific method for fixing the metal particles in the recesses of the non-anodized portion of the genus.
  • Patent Document 3 a substrate composed of a non-anodized portion of a metal body to be anodized is obtained, and metal particles are selectively deposited in recesses on the surface of the substrate by a plating method, and finally the substrate is removed. A method for producing metal particles is described!
  • Patent Document 4 describes a method in which metal particles are fixed to a concavo-convex surface of a fine structure composed of a non-anodized portion and an anodized portion of a metal to be anodized using a metal colloid.
  • Patent Document 3 in which metal particles are deposited by a plating method, it is described that special measures such as the use of special additives are necessary! (See paragraph 0025 of Patent Document 3).
  • Patent Document 4 metal particles are fixed on the surface with the anodized portion remaining, and the pore widening that enlarges the fine pores of the anodized portion, which is a recess, in accordance with the size of the metal particles in the colloid. It is described that processing is performed (see paragraphs 0064 to 0070 of Patent Document 4).
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and a fine structure in which a plurality of metal particles are fixedly arranged in a concave portion of a concave-convex metal substrate on a concave-convex metal substrate having a concave-convex structure on the surface. It is an object of the present invention to provide a manufacturing method of a microstructure that can be easily manufactured, and a microstructure manufactured by the manufacturing method.
  • Another object of the present invention is to provide a sensor device and a Raman spectroscopic device using the microstructure.
  • a method for manufacturing a fine structure according to the present invention is the method for manufacturing a fine structure in which a plurality of metal particles are arranged on a metal substrate, wherein a concave-convex metal substrate having a concavo-convex structure on the surface is used as the metal substrate.
  • the “main component” is defined as a component having a content of 90% by mass or more.
  • the annealing treatment temperature is preferably set to be equal to or higher than the melting point of the metal film and lower than the melting point of the concavo-convex metal substrate.
  • the “melting point of the metal film” means the melting point of the film itself, not the melting point of the metal barta body constituting the metal film. The force described later in detail.
  • the melting point lowering phenomenon occurs, so that the melting point of the metal film is lower than the melting point of the metal barta body constituting the metal film.
  • the metal film is preferably formed with a film thickness equal to or greater than the depth of the concave portion of the concavo-convex structure.
  • film thickness is defined as the maximum film thickness.
  • the microstructure of the present invention is characterized by being manufactured by the above-described method for manufacturing a microstructure of the present invention.
  • the concavo-convex structure of the concavo-convex metal substrate is preferably a structure in which a plurality of concave portions having substantially the same shape in plan view are arranged in a regular order.
  • the average pitch of the recesses is preferably 400 nm or less, which is approximately equal to or less than the wavelength of light.
  • the phrase "the plurality of recesses are substantially regularly arranged” means that the plurality of recesses are regularly arranged at substantially the same pitch.
  • that the pitch is “substantially the same” is defined as that the pitch of the recesses is within the range of the average pitch P ⁇ 10%.
  • the concavo-convex metal substrate is obtained by anodizing a metal to be anodized to form a part of a metal oxide layer and removing the metal oxide layer. Examples of the non-anodized partial force of the anodized metal body to be left behind are mentioned.
  • a sample is brought into contact with the surface, measurement light is incident on the sample, and the measurement light is emitted as emitted light having different physical characteristics depending on the sample.
  • a sensor device for detecting the physical property of incident light is characterized by comprising the fine structure of the present invention.
  • the complex The force S is used to sense the sample using localized plasmon resonance on the surface of several metal particles.
  • the Raman spectroscopic device of the present invention is the Raman spectroscopic device in which the sample is brought into contact with the surface, the measurement light is incident on the sample, and the Raman scattered light of the measurement light is detected. It is characterized by comprising a structure.
  • a metal film is formed on a dielectric substrate having a concavo-convex structure on the surface, and then annealing is performed to agglomerate the constituent metals of the metal film.
  • a method of arranging the metal particles on the dielectric substrate see paragraph 0034 and the like. That is, it is known that a metal film can be formed into particles by forming a metal film on the non-metallic uneven substrate and performing annealing treatment.
  • the conventional common sense is that even if a metal film is formed on a metal substrate and annealing is performed, the substrate and the film are merely alloyed and cannot be formed into particles. It was.
  • the present inventor has found that a metal film formed on a metal concavo-convex substrate has a melting point drop phenomenon that agglomerates at a temperature much lower than the melting point of Baltha metal.
  • the inventors have found that even when the film to be formed is a metal / metal combination, the metal film can be made into particles without being alloyed, and the present invention has been achieved.
  • the method for producing a microstructure of the present invention includes a step (A) of preparing a concavo-convex metal substrate having a concavo-convex structure on the surface, and a gold different from the constituent metal of the concavo-convex metal substrate on the surface of the concavo-convex metal substrate.
  • the step (B) of forming a metal film mainly composed of a genus and the step (C) of aggregating the constituent metals of the metal film by annealing to form particles (C) are sequentially performed!
  • the metal of the metal film naturally aggregates and forms particles in the recesses of the concavo-convex metal substrate by annealing, so that only the metal film is formed and annealed.
  • the metal particles can be selectively fixed to the recesses of the concavo-convex metal substrate by a simple process.
  • the manufacturing method of the fine structure of the present invention is not limited to the step of forming a metal film on the concavo-convex metal substrate, and the final step of obtaining the fine structure in which the metal particles are fixed to the concave portions.
  • the manufacturing process is a process of batch processing the entire substrate. For this reason, even when the metal substrate has a large area, the number of processes does not change, and it is possible to obtain a fine structure by a very simple method. That is, according to the method for manufacturing a fine structure of the present invention, a large-area fine structure can be easily manufactured.
  • the microstructure of the present invention manufactured by the above manufacturing method, localized plasmon resonance effectively occurs on both surfaces of the concavo-convex metal substrate and the metal particles fixed to the concavo-convex metal substrate. These interactions can also be expected. Therefore, the microstructure of the present invention can preferably be used for IJ as a sensor device, a Raman spectroscopic device, or the like using localized plasmon resonance.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view in the thickness direction.
  • FIG. 2 is a process diagram showing the manufacturing method, FIGS. 2 (a) and 2 (b) are perspective views, and FIGS. 2 (c) to 2 (e) are cross-sectional views corresponding to FIG.
  • a microstructure 1 according to this embodiment as shown in FIG. 1 has a structure in which a plurality of metal particles 20 are arranged on an uneven metal substrate 11 having an uneven structure on the surface.
  • the concavo-convex metal substrate 11 is a substrate in which a large number of dimple-shaped recesses 12 having substantially the same shape in plan view are regularly arranged at substantially the same pitch P on the surface.
  • the concavo-convex metal substrate 11 has a surface structure in which concave portions 12 having a substantially regular hexagonal shape in plan view are arranged without gaps, and six concave portions 12 are arranged adjacent to one concave portion 12.
  • One metal particle 20 is fixed inside each concave portion 12 of the concavo-convex metal substrate 11.
  • the concavo-convex metal substrate 11 is mainly composed of aluminum (A1) as shown in FIGS. 2 (a) to 2 (c) and contains minute impurities! /, May! /, Anodized metal
  • the body 10 is anodized, a part of the anodized metal body 10 is made an alumina (Al 2 O 3) layer (metal oxide layer) 30, and the alumina layer 30 is removed.
  • This is a non-anodized portion of the metal body 10 to be anodized remaining after.
  • the generated alumina layer 30 is thin with respect to the non-anodized portion of the anodized metal 10, but in the drawing, the alumina layer 30 is greatly illustrated in order to make it visually visible.
  • the shape of the metal to be anodized 10 is not limited, and examples thereof include a plate shape. Further, it may be used in a form with a support, such as a layered film of the anodized metal body 10 on a support.
  • the anodized metal body 10 is used as an anode, carbon or aluminum or the like is used as a cathode (counter electrode), these are immersed in an anodizing electrolyte, and a voltage is applied between the anode and the cathode. It can be implemented by applying.
  • the electrolytic solution is not limited, and an acidic electrolytic solution containing one or more acids such as sulfuric acid, phosphoric acid, chromic acid, oxalic acid, sulfamic acid, benzenesulfonic acid and amidosulfonic acid is preferably used.
  • an oxidation reaction proceeds in a direction substantially perpendicular to the surface 10s (upper surface in the figure) force as shown in FIG. Is generated.
  • the alumina layer 30 produced by anodic oxidation has a structure in which fine columnar bodies 31 having a substantially regular hexagonal shape in plan view are arranged adjacent to each other. A minute hole 32 is formed in a substantially central portion of each minute columnar body 31 in the depth direction from the surface 10s. Further, the bottom surface of each fine columnar body 31 has a rounded shape as shown, and the dimple-shaped recess 12 is formed on the surface of the non-anodized portion of the anodized metal body 10 on the side of the anode layer 30. Is generated.
  • the structure of the alumina layer produced by anodization is shown by Hideki Masuda, “Preparation of mesoporous alumina by anodization and its application as a functional material”, Materials Technology Vol.15, No.10, 1997, p.34, etc. It is described in.
  • the pitch of the fine columnar bodies 31 forming the alumina layer 30 is directly the pitch of the concave portions 12, and the thickness of the rounded bottom portion of the fine columnar bodies 31 is equal to the depth of the concave portions 12.
  • E is the applied voltage when anodizing.
  • alumina layer 30 (mesoporous alumina) having fine pores 32
  • the oxidation reaction is allowed to proceed to some extent, so that the thickness depends on the application.
  • An alumina layer 30 needs to be formed.
  • the anodization is performed to form the recess 12 in the non-anodized portion of the metal body 10 to be anodized, and the alumina layer 30 generated by the anodization is removed. It is sufficient to form a minimum alumina layer 30 as long as the concave portion 12 is stably formed.
  • the anodization conditions may be appropriately designed within a range in which the non-anodized portion remains and the dimple-like recess 12 is stably generated on the surface of the non-anodized portion.
  • oxalic acid used as the electrolytic solution
  • suitable conditions for obtaining a substantially ordered structure include an electrolytic solution concentration of 0.5 M, a liquid temperature of 15 ° C., and an applied voltage of 40 V.
  • the electrolysis time By changing the electrolysis time, the alumina layer 30 having an arbitrary thickness can be produced. If the thickness of the anodized metal body 10 before anodization is set to be thicker than the alumina layer 30 to be produced, the non-anodized portion remains and the concavo-convex metal substrate 11 is obtained.
  • the method for selectively removing the alumina layer 30 while leaving the non-anodized portion of the metal body 10 to be anodized is not particularly limited.
  • an etching solution that selectively dissolves alumina for example, Examples thereof include wet etching using a chromic acid solution) and a method of applying a voltage in the opposite direction to the anodized metal body 10 and the counter electrode after anodic oxidation.
  • the microstructure 1 of the present embodiment prepares the concavo-convex metal substrate 11 as described above (step (A)), and then the concavo-convex metal substrate as shown in Figs. 2 (c) to (e).
  • a metal film 21 composed mainly of a metal different from the constituent metal of the concave-convex metal substrate 11 is formed on the concave-convex surface of the metal 11 (step (b)), and the constituent metals of the metal film 21 are aggregated by annealing treatment. And then made into particles (step (C)).
  • the average pitch P of the recesses 12 of the concavo-convex metal substrate 11 is not limited. For sensor devices and Raman spectroscopic devices, it is preferably smaller than the wavelength of measurement light in terms of sensitivity. Specifically, it is preferable that the average pitch P of the recesses 12 is 400 nm or less, which is approximately equal to or less than the wavelength of light.
  • the localized plasmon resonance phenomenon is a phenomenon in which a strong electric field is generated in the vicinity of a convex portion when the free electrons of the convex portion oscillate in resonance with the electric field of light, and can therefore occur in any metal. Therefore, the main component of the metal film 21 (metal particle 20) is not limited as long as it is a metal different from the constituent metal of the concavo-convex metal substrate 11, and gold (Au) in which the localized plasmon resonance phenomenon occurs more effectively, Silver (Ag), copper (Cu), platinum (Pt), nickel (Ni), titanium (Ti) and the like are preferable, and gold (Au), silver (Ag) and the like are particularly preferable.
  • the method for forming the metal film 21 is not limited.
  • a vapor deposition method such as a vacuum deposition method, a sputtering method, a CVD method, a laser deposition method, and a cluster ion beam method is preferable.
  • the metal film 21 can be formed on the surface thereof by an electrolytic plating method.
  • a metal colloid in which metal particles are dispersed on the surface of the concavo-convex metal substrate 11 a large number of metal particles are adhered, and a large number of metal particles are aggregated by heating to form a film.
  • the metal film 21 can be formed at any temperature, and the film formation temperature is not limited.
  • the film thickness dm of the metal film 21 is not particularly limited. If the film thickness dm of the metal film 21 is too small, it becomes difficult to stably form particles.
  • the depth d of the recess 12 is preferably 5 250 nm, for example.
  • the film thickness dm of the metal film 21 is preferably larger than the depth d of the recess 12.
  • the thickness dm of the metal film 21 is preferably not more than twice the depth d of the recess 12.
  • the annealing method of the metal film 21 is not limited, and examples thereof include laser annealing, electron beam annealing, flash lamp annealing, thermal radiation annealing using a heater, and electric furnace annealing.
  • the constituent metal of the metal film 21 is once melted by the annealing process, and the molten metal is naturally aggregated in the recess 12 of the concavo-convex metal substrate 11 in the temperature lowering process.
  • the concave portion 12 is a rounded dimple-shaped concave portion, substantially spherical metal particles 20 are generated along the shape of the concave portion 12.
  • the annealing temperature is not limited as long as the constituent metals of the metal film 21 can be aggregated, and is preferably a temperature not lower than the melting point of the metal film 21 and lower than the melting point of the concavo-convex metal substrate 11.
  • the constituent metal of the metal film 21 is not melted without melting the uneven metal substrate 11. Since it is necessary to agglomerate and form particles, it is necessary to set the annealing temperature in consideration of the melting points of the uneven metal substrate 11 and the metal film 21.
  • the melting point of Baltha metal is very high.
  • the melting point of the Au Balta body which is a preferable material of the metal film 21, is about 1064 ° C.
  • the melting point of the A1 Balta body constituting the concavo-convex metal substrate 11 of the present embodiment is about 660 ° C., which is lower than the melting point of the Au Balta body. That is, according to conventional common knowledge of metal properties, A1 melts before Au agglomerates, or Au and A1 are alloyed, making it impossible to form the microstructure of this embodiment. It is thought that.
  • the present inventor has found that the metal film 21 formed on the metal concave-convex substrate 11 has a melting point lowering phenomenon that melts at a temperature much lower than the melting point of Bartha metal. It has been found that, even when the substrate and the film to be deposited thereon are a metal / metal combination, the constituent metals of the metal film 21 that are not alloyed can be aggregated to form particles.
  • the melting point lowering phenomenon of the metal film 21 remarkably occurs when the film thickness dm of the metal film 21 is nano-order. For example, there is a report that the melting point of Au is nanosized down to 2nm, the melting point drops to around 300 ° C, and the physical properties change significantly (new development of nanoparticles / ultrafine particles published by Toray Research Center) ).
  • the melting point drop level varies depending on the main component of the metal film 21 and the film thickness dm.
  • the annealing temperature is preferably a temperature equal to or higher than the melting point of the metal film 21 and a temperature lower than the melting point of the concavo-convex metal substrate 11 (same as the melting point of the vanolec body).
  • the metal particles 20 can be fixed together in the plurality of recesses 12 of the concavo-convex metal substrate 11.
  • the size (particle diameter), shape, and fixing location of the metal particles 20 are determined according to the plurality of recesses 12 of the concavo-convex metal substrate 11.
  • the plurality of metal particles 20 formed on the concavo-convex metal substrate 11 having a concavo-convex structure in which a large number of dimple-like dents 12 having substantially the same shape in plan view are regularly arranged at substantially the same pitch P are high! /, Uniform and high! /, With regular alignment! /, Ru.
  • the microstructure 1 of the present embodiment is configured as described above. [0049] In the microstructure 1 of the present embodiment, a metal film 21 mainly composed of a metal different from the constituent metal of the concavo-convex metal substrate 11 is formed on the concavo-convex metal substrate 11, and then annealed. Thus, the metal film 21 is manufactured by agglomerating the constituent metals into particles.
  • the constituent metal of the metal film 21 is naturally aggregated and formed into particles in the concave portion 12 of the concavo-convex metal substrate 11 by the annealing treatment, so that the simple formation of the metal film 21 and the annealing treatment is simple.
  • the force S is used to selectively adhere the metal particles 20 to the recesses 12 of the concavo-convex metal substrate 11.
  • the process is a process of collectively processing the entire substrate. Therefore, even when the metal substrate 11 has a large area, it is possible to obtain the fine structure 1 by a very simple method without changing the number of steps. That is, in the fine structure 1 of the present embodiment, the area can be easily increased.
  • the microstructure 1 of the present embodiment localized plasmon resonance effectively occurs on both the surfaces of the concavo-convex metal substrate 11 and the metal particles 20 fixed to the concavo-convex metal substrate 11. The effect can also be expected. Therefore, the microstructure 1 of the present embodiment can be preferably used as a sensor device, a Raman spectroscopic device, or the like that uses localized plasmon resonance.
  • the metal particle 20 is more preferable than the metal layer described in Patent Document 2 because of the ability to cause localized plasmon resonance more effectively.
  • Localized plasmon resonance is expressed by the vibration of electrons in isolated metal particles, and the continuous metal film does not vibrate while free electrons are confined. This is considered to be an excellent structure for expressing localized plasmon resonance.
  • a fine structure is formed by using a concavo-convex metal substrate 11 manufactured by anodic oxidation and having a plurality of dimple-like recesses 12 having substantially the same shape in plan view regularly arranged at substantially the same pitch P on the surface. Since the body 1 is manufactured, the concave portion 12 of the concavo-convex metal substrate 11 and the metal particles 20 fixed thereto are! /, The deviation is high, the uniformity and high! /, And regular arrangement. !
  • any metal capable of anodic oxidation which only lists A1 as the main component of the anodized metal body 10, can be used.
  • metals that can be anodized other than A1 include Ti, Ta, Hf, and Zr.
  • the anodized metal body 10 may contain two or more types of metals that can be anodized! /.
  • a plurality of recesses are formed by lithography on the surface of the flat metal substrate.
  • a focused ion beam is formed on the surface of the flat metal substrate. Examples include microfabrication technology such as drawing a plurality of recesses by electronic drawing technology such as (FIB) and electron beam (EB).
  • the recesses may or may not be regularly arranged.
  • the above-described embodiment using anodization is particularly preferable because the entire surface can be collectively processed, the area can be increased, and an expensive apparatus is not required.
  • Example 1 The microstructure 1 of the above-described embodiment was manufactured by the following procedure.
  • An aluminum plate (A1 purity 99.99%, 10 mm thickness) is prepared as the metal body 10 to be anodized. This aluminum plate is used as an anode, aluminum is used as a cathode, and a part of the aluminum plate is an alumina layer 30. Anodization was performed. The liquid temperature was 15 ° C. Other reaction conditions were as follows.
  • Example 1 Electrolyte solution 0.3M sulfuric acid, applied voltage 25V, reaction time 8 hours,
  • Example 2 Electrolytic solution 0.5 M oxalic acid, applied voltage 40 V, reaction time 5 hours.
  • Example 1 has a depth of about 5 to 30 nm and Example 2 has a depth of about 5 to 50 nm.
  • Fig. 3 (a) and Fig. 4 (a) show SEM photographs of the surface of the concavo-convex metal substrate 11 obtained.
  • annealing was performed at 500 ° C. for 5 minutes in a pine furnace, and the furnace was naturally cooled to room temperature.
  • the microstructure of the present invention can be preferably used as a sensor device or a device for Raman spectroscopy used in a biosensor or the like.
  • FIG. 1 is a diagram showing the structure of a microstructure according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 (a) to (e) are diagrams showing a method of manufacturing the microstructure shown in FIG.
  • FIG. 3 (a) is a surface SEM photograph before annealing of Example 1, and (b) is a surface SEM photograph after annealing of Example 1.
  • FIG. 4 (a) is a surface SEM photograph before annealing of Example 2, and (b) is a surface SEM photograph after annealing of Example 2.

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Description

明 細 書
微細構造体及びその製造方法、センサデバイス及びラマン分光用デバイ ス
技術分野
[0001] 本発明は、表面に凹凸構造を有する凹凸金属基板上に複数の金属粒子が配列した 微細構造体及びその製造方法、そしてその微細構造体を用いたセンサデバイス及 びラマン分光用デバイスに関するものである。
背景技術
[0002] 金属表面における局在プラズモン共鳴現象を利用したセンサデバイスやラマン分光 用デバイスが知られている。ラマン分光法は、物質に単波長光を照射して生じる散乱 光を分光して得られるラマン散乱光のスペクトル (ラマンスペクトル)を得る方法である 。ラマン分光法には、微弱なラマン散乱光を増強するために、表面増強ラマン散乱 (S ERS)と呼ばれる、局在プラズモン共鳴によって増強された電場を利用したラマン分 光法がある。
[0003] 局在プラズモン共鳴は、光がナノオーダの凹凸構造を有する金属凹凸面に入射した ときに、その凸部において自由電子が光の電場に共鳴して振動することにより凸部周 辺に強い電場を生じる現象である。
[0004] 局在プラズモン共鳴現象を利用するセンサデバイスやラマン分光用デバイスとしては
、基板に、少なくとも表面が金属からなる多数の粒子を固着させた微細構造体が提 案されている。
[0005] 特許文献 1には、ガラス等の非金属基板上に、多数のシリカ粒子等の非金属粒子を 規則配列させて粒子層を形成し、この粒子層を形成した基板を金属及びポリマーを 含有する溶液中に浸漬させ、この溶液から粒子層を取り出して乾燥させ、さらに、ポリ マーを焼却できる温度で粒子層を焼成することにより、基板上に、多数の非金属/金 属複合粒子が規則配列した粒子層を備えたラマン分光用デバイスの製造方法が開 示されている。
特許文献 1:特開 2004— 170334号公報 特許文献 2 :特願 2005— 035564号公報
特許文献 3:特開 2005— 200677号公報
特許文献 4 :特開 2006— 38506号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0006] 特許文献 1に記載の方法では、はじめに基板上に粒子層を形成する段階では、非金 属粒子が基板に固定されないので、粒子層を形成した基板を、非金属粒子が基板 に固定されていない状態で金属及びポリマーを含有する溶液中に浸漬させ、かつ、 この溶液から取り出す必要がある。非金属粒子が基板に固定されていない状態で、 基板から非金属粒子が脱落しないように、しかも非金属粒子の規則配歹 IJを維持した まま、これらの工程を実施することは極めて難しい。
[0007] 本発明者は、ナノオーダの金属凹凸構造を有する微細構造体を簡易に得る方法に つ!/ヽて研究を行い、 (1)の被陽極酸化金属体 (A1等)を陽極酸化して一部を金属酸 化物層(Al O等)とし、この金属酸化物層を除去した後に残る被陽極酸化金属体の
2 3
非陽極酸化部分からなるラマン分光用デバイス、及び (2)被陽極酸化金属体の非陽 極酸化部分の表面に、さらに蒸着等により非陽極酸化部分とは異なる金属を固着さ せたラマン分光用デバイスを発明して、先に出願している(特許文献 2、本件発明の 出願時において未公開)。ラマン散乱強度が効果的に増強されることから、ラマン分 光用デバイス(2)が特に好ましい。
[0008] 被陽極酸化金属体の非陽極酸化部分は、表面にナノオーダの凹凸構造を有する金 属体となるので (特許文献 2の図 2 (c)を参照)、陽極酸化反応を実施した後、陽極酸 化部分を取り除き、その後必要に応じて、蒸着等により異種金属を固着させるだけで 、ラマン分光用デバイスを簡易に製造することができる。また、陽極酸化では、略規則 的な構造を得ることができるので、規則性の高い金属凹凸構造を有するラマン分光 用デバイスを簡易に製造することができる。
[0009] ラマン分光用デバイス(2)において、被陽極酸化金属体の非陽極酸化部分の凹部 内に固着された金属の形態としては特に制限されず、特許文献 2では金属層が例と して挙げられて!/、る(特許文献 2の図 1 (b)を参照)。特許文献 2には、被陽極酸化金 属体の非陽極酸化部分の凹部内に金属粒子を固着させる方法については特に挙げ られていない。
[0010] 特許文献 3には、被陽極酸化金属体の非陽極酸化部分からなる基体を得、メツキ法 により、この基体表面の凹部内に選択的に金属粒子を析出させ、最後に基体を除去 する金属粒子の製造方法が記載されて!/、る。
特許文献 4には、被陽極酸化金属体の非陽極酸化部分と陽極酸化部分とからなる 微細構造体の凹凸表面に、金属コロイドを用いて金属粒子を固着させる方法が記載 されている。
[0011] メツキ法や金属コロイドを用いた方法では、凹凸表面の凹部内に選択的に金属粒子 を固着させることが難しい。
メツキ法で金属粒子を析出させる特許文献 3では、特殊な添加剤を用いるなどのェ 夫が必要であることが記載されて!/、る(特許文献 3の段落 0025を参照)。
金属コロイドを用いた金属粒子の固着では、コロイド中の金属粒子のサイズは決まつ ているので、このサイズに合わせた凹部サイズにする必要がある。特許文献 4には、 陽極酸化部分を残した状態でその表面に金属粒子を固着させており、コロイド中の 金属粒子のサイズに合わせて、凹部である陽極酸化部分の微細孔を大きくするポア ワイド処理を行うことが記載されてレ、る (特許文献 4の段落 0064〜0070を参照)。
[0012] 本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、表面に凹凸構造を有する凹凸金属 基板上に、複数の金属粒子が凹凸金属基板の凹部内に固着して配列した微細構造 体を簡易に製造することが可能な微細構造体の製造方法、及び該製造方法により製 造された微細構造体を提供することを目的とするものである。
本発明はまた上記微細構造体を用いたセンサデバイス及びラマン分光用デバイスを 提供することを目的とするものである。
課題を解決するための手段
[0013] 本発明の微細構造体の製造方法は、金属基板上に複数の金属粒子が配列した微 細構造体の製造方法において、前記金属基板として、表面に凹凸構造を有する凹 凸金属基板を用意する工程 (A)と、前記凹凸金属基板の前記表面上に、該凹凸金 属基板の構成金属と異なる金属を主成分とする金属膜を成膜する工程 (B)と、ァニ ール処理により、該金属膜の構成金属を凝集させて粒子化させる工程 (C)とを順次 実施することを特徴とするものである。
本明細書において、「主成分」は、含量 90質量%以上の成分と定義する。
[0014] 工程(C)において、前記ァニール処理の温度を、前記金属膜の融点以上かつ前記 凹凸金属基板の融点未満とすることが好ましい。
本明細書において、「金属膜の融点」は、金属膜を構成する金属のバルタ体の融点 ではなぐ膜そのものの融点を意味する。詳細については後記する力 本発明では 融点降下現象が起こるので、金属膜の融点は金属膜を構成する金属のバルタ体の 融点よりも低い温度となる。
[0015] 工程 (B)において、前記金属膜を、前記凹凸構造の凹部の深さ以上の膜厚で成膜 することが好ましい。
本明細書において、「膜厚」は最大膜厚と定義する。
[0016] 本発明の微細構造体は、上記本発明の微細構造体の製造方法により製造されたも のであることを特徴とするものである。
本発明の微細構造体において、凹凸金属基板の凹凸構造は、平面視略同一形状の 複数の凹部が略規則配列した構造であることが好ましい。力、かる構成において、前 記凹部の平均的なピッチは、概ね光の波長程度以下である 400nm以下であることが 好ましい。
[0017] 「複数の凹部が略規則配列している」ということは、複数の凹部が略同一ピッチで規 則配列していることを意味する。本明細書において、ピッチが「略同一」であることは、 凹部のピッチが平均ピッチ P ± 10%の範囲内にあることと定義する。
ave
[0018] 本発明の微細構造体の好適な態様としては、前記凹凸金属基板が、被陽極酸化金 属体を陽極酸化して一部を金属酸化物層とし、該金属酸化物層を除去した後に残る 前記被陽極酸化金属体の非陽極酸化部分力 なるものが挙げられる。
[0019] 本発明のセンサデバイスは、表面に試料が接触され、該試料に測定光が入射される と共に、該測定光が前記試料によって異なる物理特性を有する出射光となって出射 され、該出射光の該物理特性が検出されるセンサデバイスにおいて、上記本発明の 微細構造体からなることを特徴とするものである。かかるセンサデバイスでは、前記複 数の金属粒子の表面における局在プラズモン共鳴を利用して試料のセンシングを行 うこと力 Sでさる。
[0020] 本発明のラマン分光用デバイスは、表面に試料が接触され、該試料に測定光が入射 され、該測定光のラマン散乱光が検出されるラマン分光用デバイスにおいて、上記 本発明の微細構造体からなることを特徴とするものである。
[0021] 特開平 10— 261244号公報には、表面に凹凸構造を有する誘電体基板上に、金属 膜を成膜し、その後ァニール処理を実施することにより、金属膜の構成金属を凝集さ せて粒子化させて、誘電体基板上に金属粒子を配列させる方法が記載されている( 段落 0034等を参照)。すなわち、非金属の凹凸基板では、その上に金属膜を成膜し ァニール処理を行うことにより、金属膜を粒子化できることは公知である。
[0022] し力、しながら、金属基板上に金属膜を成膜しァニール処理を行っても、基板と膜とが 合金化するだけで粒子化することはできないというのが従来の常識であった。
本発明者は、金属凹凸基板上に成膜された金属膜では、バルタ金属の融点よりもは るかに低い温度において凝集する融点降下現象が起こり、これを利用することにより 、基板とその上に成膜する膜が金属/金属の組み合わせでも、合金化することなぐ 金属膜を粒子化できることを見出し、本発明に到達したのである。
[0023] 金属粒子を凹部に固着していない凹凸金属基板自体の表面でも局在プラズモン共 鳴が生じるので、本発明では、凹凸金属基板と凹凸金属基板に固着された金属粒子 との双方の表面で局在プラズモン共鳴が効果的に起こり、これらの相互作用も期待 できる。かかる効果は、非金属の凹凸基板を用いる特開平 10— 261244号公報に 記載の発明では得られない。
発明の効果
[0024] 本発明の微細構造体の製造方法は、表面に凹凸構造を有する凹凸金属基板を用 意する工程 (A)と、凹凸金属基板の表面上に、凹凸金属基板の構成金属と異なる金 属を主成分とする金属膜を成膜する工程 (B)と、ァニール処理により、金属膜の構成 金属を凝集させて粒子化させる工程 (C)とを順次実施することを特徴として!/、る。 かかる構成では、ァニール処理によって金属膜の構成金属が凹凸金属基板の凹部 内に自然に凝集して粒子化するので、金属膜の成膜とァニール処理とを行うだけの 簡易なプロセスで、凹凸金属基板の凹部に選択的に金属粒子を固着させることがで きる。
[0025] また、本発明の微細構造体の製造方法は、凹凸金属基板に金属膜を成膜する工程 力、ら凹部に金属粒子が固着された微細構造体を得る最終工程に至るまで、すべての 製造工程が、基板全体を一括処理する工程である。そのため金属基板が大面積化 した場合においてもその工程数に変化はなぐ非常に簡易な方法により微細構造体 を得ること力 Sできる。すなわち、本発明の微細構造体の製造方法によれば、容易に大 面積微細構造体を製造することができる。
[0026] 上記製造方法により製造されたものである本発明の微細構造体では、凹凸金属基板 と凹凸金属基板に固着された金属粒子との双方の表面で局在プラズモン共鳴が効 果的に起こり、これらの相互作用も期待できる。したがって、本発明の微細構造体は 、局在プラズモン共鳴を利用するセンサデバイスやラマン分光用デバイス等として、 好ましく禾 IJ用すること力できる。
発明を実施するための最良の形態
[0027] 以下に、本発明について詳述する。
図面を参照し、本発明に係る一実施形態の微細構造体ついて説明する。図 1は厚み 方向断面図である。図 2は製造方法を示す工程図であり、図 2 (a) , (b)は斜視図、図 2 (c)〜(e)は図 1に対応する断面図である。
[0028] 図 1に示す如ぐ本実施形態の微細構造体 1は、表面に凹凸構造を有する凹凸金属 基板 11上に、複数の金属粒子 20が配列した構造を有するものである。
凹凸金属基板 11は、表面に平面視略同一形状の多数のディンプル状の凹部 12が 略同一ピッチ Pで規則配列した基板である。凹凸金属基板 11は、平面視略正六角 形状の凹部 12が隙間なく配列し、 1個の凹部 12に対して 6個の凹部 12が隣接して 配列した表面構造を有している。凹凸金属基板 11の各凹部 12の内部に、 1個の金 属粒子 20が固着されている。
[0029] 凹凸金属基板 11は、図 2 (a)〜(c)に示す如ぐアルミニウム (A1)を主成分とし、微 少不純物を含んで!/、てもよ!/、被陽極酸化金属体 10を陽極酸化して、被陽極酸化金 属体 10の一部をアルミナ (Al O )層(金属酸化物層) 30とし、アルミナ層 30を除去し た後に残る、被陽極酸化金属体 10の非陽極酸化部分である。通常、被陽極酸化金 属体 10の非陽極酸化部分に対して、生成されるアルミナ層 30は薄いが、図面では、 視認しゃすくするため、アルミナ層 30を大きく図示してある。
[0030] 被陽極酸化金属体 10の形状は制限されず、板状等が挙げられる。また、支持体の 上に被陽極酸化金属体 10が層状に成膜されたものなど、支持体付きの形態で用い ることも差し支えない。
[0031] 陽極酸化は、例えば、被陽極酸化金属体 10を陽極とし、カーボンやアルミニウム等 を陰極 (対向電極)として、これらを陽極酸化用電解液に浸漬させ、陽極と陰極の間 に電圧を印加することで実施できる。電解液としては制限されず、硫酸、リン酸、クロ ム酸、シユウ酸、スルファミン酸、ベンゼンスルホン酸、アミドスルホン酸等の酸を、 1種 又は 2種以上含む酸性電解液が好ましく用いられる。
[0032] 被陽極酸化金属体 10を陽極酸化すると、図 2 (b)に示す如ぐ表面 10s (図示上面) 力、ら該面に対して略垂直方向に酸化反応が進行し、アルミナ層 30が生成される。
[0033] 陽極酸化により生成されるアルミナ層 30は、平面視略正六角形状の微細柱状体 31 が隣接して配列した構造を有するものとなる。各微細柱状体 31の略中心部には、表 面 10sから深さ方向に微細孔 32が開孔される。また、各微細柱状体 31の底面は、図 示する如ぐ丸みを帯びた形状となり、被陽極酸化金属体 10の非陽極酸化部分のァ ノレミナ層 30側の面には、上記ディンプル状凹部 12が生成される。陽極酸化により生 成されるアルミナ層の構造は、益田秀樹、「陽極酸化法によるメソポーラスアルミナの 調製と機能材料としての応用」、材料技術 Vol.15,No.10、 1997年、 p.34等に記載され ている。
[0034] 凹凸金属基板 11では、アルミナ層 30をなす微細柱状体 31のピッチがそのまま、凹 部 12のピッチとなり、微細柱状体 31の丸みを帯びた底部部分の厚みが、凹部 12の 深さとなる。例えば、凹部 12の平均的なピッチ Pは P = 2 X 1. 2Enm程度であり、深さ dは d= l . 2Enm程度である(応用物理 第 72巻 第 10号(2003) )。ここで Eは陽極 酸化する際の印加電圧である。
[0035] 通常の陽極酸化では、微細孔 32を有するアルミナ層 30 (メソポーラスアルミナ)を形 成することが目的であるので、ある程度酸化反応を進行させて、用途に応じた厚みの アルミナ層 30を形成する必要がある。これに対して、本実施形態では、被陽極酸化 金属体 10の非陽極酸化部分に凹部 12を形成するために陽極酸化を実施し、陽極 酸化により生成されるアルミナ層 30は除去するので、ディンプル状の凹部 12が安定 的に生成しさえすれば、最小限のアルミナ層 30を形成すれば足る。
[0036] したがって、陽極酸化条件は、非陽極酸化部分が残り、かつ非陽極酸化部分の表面 にディンプル状凹部 12が安定的に生成される範囲内で、適宜設計すればよい。電 解液としてシユウ酸を用いる場合、略規則構造が得られる好適な条件例としては、電 解液濃度 0. 5M、液温 15°C、印加電圧 40Vが挙げられる。電解時間を変えることで 、任意の層厚のアルミナ層 30を生成できる。陽極酸化前の被陽極酸化金属体 10の 厚みを、生成されるアルミナ層 30よりも厚く設定しておけば、非陽極酸化部分が残り 、凹凸金属基板 11が得られる。
[0037] 被陽極酸化金属体 10の非陽極酸化部分を残して、アルミナ層 30を選択的に除去す る方法としては特に制限されず、例えば、アルミナを選択的に溶解するエッチング液 (例えば、クロム酸溶液)を用いたウエットエッチングや、陽極酸化終了後に、被陽極 酸化金属体 10と対向電極とに逆方向に電圧を印加する方法等が挙げられる。
[0038] 本実施形態の微細構造体 1は、以上のようにして凹凸金属基板 11を用意し(工程 (A ) )、その後、図 2 (c)〜(e)に示す如ぐ凹凸金属基板 11の凹凸表面に、凹凸金属基 板 11の構成金属と異なる金属を主成分とする金属膜 21を成膜し(工程 (b) )、ァニー ル処理により、金属膜 21の構成金属を凝集させて粒子化させて(工程 (C) )、製造さ れたものである。
[0039] 凹凸金属基板 11の凹部 12の平均的なピッチ Pは制限されず、センサデバイスやラマ ン分光デバイス用では、感度の点で、測定光の波長よりも小さいことが好ましい。具 体的には、凹部 12の平均的なピッチ Pは、概ね光の波長程度以下である 400nm以 下であることが好ましい。
[0040] 局在プラズモン共鳴現象は、凸部の自由電子が光の電場に共鳴して振動することで 凸部周辺に強い電場が生じる現象であるので、任意の金属で起こりうる。そのため、 金属膜 21 (金属粒子 20)の主成分としては、凹凸金属基板 11の構成金属と異なる 金属であれば制限されず、局在プラズモン共鳴現象がより効果的に起こる金 (Au)、 銀 (Ag)、銅 (Cu)、白金 (Pt)、ニッケル (Ni)、チタン (Ti)等が好ましく、金 (Au)、銀 (Ag)等が特に好ましい。
[0041] 金属膜 21の成膜方法としては制限されず、例えば、真空蒸着法、スパッタ法、 CVD 法、レーザ蒸着法、及びクラスタイオンビーム法等の気相成長法が好ましい。凹凸金 属基板 11は導電性を有するので、電解メツキ法によりその表面に金属膜 21を成膜 することもできる。また、凹凸金属基板 11の表面に金属粒子が分散された金属コロイ ドの塗布及び乾燥を実施して多数の金属粒子を付着させ、さらに加熱により多数の 金属粒子を凝集させて膜化させる方法によっても、金属膜 21を成膜することができる 金属膜 21は常温下で成膜しても加熱下で成膜してもよぐ成膜温度は制限されない
[0042] 金属膜 21の膜厚 dmは特に制限されない。金属膜 21の膜厚 dmが過小では安定的 に粒子化させることが難しくなる。凹部 12の深さ dは、例えば 5 250nmが好ましい。 金属膜 21の膜厚 dmは凹部 12の深さ dよりも大きいことが好ましい。
金属膜 21の膜厚 dmが過大では、粒子化させた後、隣接する金属粒子 20同士がく つっき、粒子化自体が難しくなるなどの恐れがある。隣接する金属粒子 20同士が凹 部 12に孤立して存在するためには、金属膜 21の膜厚 dmは、凹部 12の深さ dの 2倍 以下であることが好ましい。
[0043] 金属膜 21のァニール処理方法は制限なぐ例えば、レーザァニール、電子ビームァ ニール、フラッシュランプアニール、ヒータを用いた熱放射ァニール、及び電気炉ァ ニール等が挙げられる。
本実施形態では、ァニール処理によって金属膜 21の構成金属がいったん溶融し、 降温過程において、溶融した金属が凹凸金属基板 11の凹部 12内に自然に凝集し て粒子化すると考えられる。本実施形態では、凹部 12が丸みを帯びたディンプル状 の凹部であるので、凹部 12の形状に沿って、略球状の金属粒子 20が生成する。
[0044] ァニール温度は、金属膜 21の構成金属が凝集することができれば制限されず、金属 膜 21の融点以上かつ凹凸金属基板 11の融点未満の温度であることが好ましい。ァ ニール処理工程では、凹凸金属基板 11を溶融させずに、金属膜 21の構成金属を 凝集させて粒子化させる必要があるので、凹凸金属基板 11及び金属膜 21の融点を 考慮して、ァニール温度を設定する必要がある。
[0045] 一般にバルタ金属の融点は非常に高ぐ例えば金属膜 21の好ましい材質である Au のバルタ体の融点は 1064°C程度である。これに対して、本実施形態の凹凸金属基 板 11を構成する A1のバルタ体の融点は、 Auのバルタ体の融点よりも低い 660°C程 度である。すなわち、従来の金属物性の常識では、 Auが凝集する前に A1が溶融し てしまう、あるいは Auと A1が合金化してしまうことになり、本実施形態の微細構造体を 構成することは不可能であると考えられる。
[0046] し力、しながら、本発明者は、金属凹凸基板 11上に成膜された金属膜 21では、バルタ 金属の融点よりもはるかに低い温度において溶融する融点降下現象が起こり、これを 利用することにより、基板とその上に成膜する膜が金属/金属の組み合わせでも、合 金化することなぐ金属膜 21の構成金属を凝集させて粒子化できることを見出してい る。金属膜 21の融点降下現象は、金属膜 21の膜厚 dmがナノオーダである場合に、 顕著に起こる。例えば、 Auの融点は、 2nmまでナノサイズ化された場合、 300°C付 近まで融点が降下して、物性が大きく変化するという報告がある(ナノ粒子 ·超微粒子 の新展開 東レリサーチセンタ発行)。
[0047] 融点降下のレベルは、金属膜 21の主成分と膜厚 dmによって変わる。金属膜 21の主 成分と膜厚 dmとによって決まる金属膜 21の実際の融点と、凹凸金属基板 11の融点 とを考慮することで、より適したァニール温度の設定が可能となる。すなわち、了ニー ル温度は、金属膜 21の融点以上の温度であり、かつ凹凸金属基板 11の融点 (バノレ ク体の融点と同じ)未満の温度であることが好ましい。
[0048] 上記のようなァニール処理により、凹凸金属基板 11の複数の凹部 12の内部に金属 粒子 20を一括して固着させることができる。本実施形態においては、金属粒子 20の 大きさ(粒径)、形状、及び固着箇所は、凹凸金属基板 11の複数の凹部 12に応じた ものとなる。平面視略同一形状の多数のディンプル状凹部 12が略同一ピッチ Pで規 則配列した凹凸構造を有する凹凸金属基板 11に形成された複数の金属粒子 20は 、高!/、均一性と高!/、規則配列性を有して!/、る。
本実施形態の微細構造体 1は以上のように構成されている。 [0049] 本実施形態の微細構造体 1は、凹凸金属基板 1 1上に、凹凸金属基板 1 1の構成金 属と異なる金属を主成分とする金属膜 21を成膜した後、ァニール処理することにより 、金属膜 21の構成金属を凝集させて粒子化させて製造されたものである。
かかる構成では、ァニール処理によって金属膜 21の構成金属が凹凸金属基板 1 1の 凹部 12内に自然に凝集し粒子化するので、金属膜 21の成膜とァニール処理とを行 うだけの簡易なプロセスで、凹凸金属基板 1 1の凹部 12に選択的に金属粒子 20を固 着させること力 Sでさる。
[0050] また、本実施形態の微細構造体 1においては、凹凸金属基板 1 1の製造から凹部 12 に金属粒子 20が固着された微細構造体 1を得る最終工程に至るまで、すべての製 造工程が、基板全体を一括処理する工程である。そのため金属基板 1 1が大面積化 した場合においてもその工程数に変化はなぐ非常に簡易な方法により微細構造体 1を得ること力 Sできる。すなわち、本実施形態の微細構造体 1では、大面積化も容易 である。
[0051] 本実施形態の微細構造体 1では、凹凸金属基板 1 1と凹凸金属基板 1 1に固着された 金属粒子 20との双方の表面で局在プラズモン共鳴が効果的に起こり、これらの相互 作用も期待できる。したがって、本実施形態の微細構造体 1は、局在プラズモン共鳴 を利用するセンサデバイスやラマン分光用デバイス等として、好ましく利用することが できる。
[0052] 「背景技術」の項において、本発明者は、被陽極酸化金属体の非陽極酸化部分の表 面に、さらに蒸着等により非陽極酸化部分とは異なる金属を固着させたラマン分光用 デバイスを発明して先に出願していること(特許文献 2、本件発明の出願時において 未公開)、及び、被陽極酸化金属体の非陽極酸化部分の凹部内に固着された金属 の形態としては特に制限されず、特許文献 2では金属層が例として挙げられているこ とを述べた。
[0053] 凹部 12内に固着させる金属の形態としては、局在プラズモン共鳴がより効果的に起 こること力、ら、特許文献 2に記載の金属層よりも金属粒子 20の方が好ましい。局在プ ラズモン共鳴は孤立した金属粒子内の電子の振動によって発現されており、連続し た金属膜では自由電子が閉じ込められた状態で振動する事がないために、粒子の 方が局在プラズモン共鳴を発現するためには優れた構造であると考えられる。
[0054] 本実施形態では、陽極酸化を用いて製造された、表面に平面視略同一形状の多数 のディンプル状凹部 12が略同一ピッチ Pで規則配列した凹凸金属基板 11を用いて 、微細構造体 1を製造しているので、凹凸金属基板 11の凹部 12とそこに固着された 金属粒子 20が!/、ずれも高レ、均一性と高!/、規則配列性を有するものとなって!/、る。 かかる略規則構造では、微細構造体 1の面内均一性が高ぐ局在プラズモン共鳴が 面全体で安定的に起こるので、センサデバイスやラマン分光用デバイス等として利用 する場合に、センシングゃ分析を安定的に実施することができ、好ましい。
[0055] 陽極酸化を用いる場合には、条件によっては規則性の低い構造も得られる。規則性 の低い凹凸金属基板を用いて、本実施形態と同様の方法で得られる微細構造体も、 本発明に含まれる。
[0056] (設計変更例)
上記実施形態においては、被陽極酸化金属体 10の主成分として、 A1のみを挙げた 力 陽極酸化可能な任意の金属が使用できる。 A1以外の陽極酸化可能な金属として は、 Ti、 Ta、 Hf、 Zr等が挙げられる。また、被陽極酸化金属体 10は、陽極酸化可能 な金属を 2種以上含むものであってもよ!/、。
陽極酸化を用いる場合には、条件によっては規則性の低い構造も得られる。規則性 の低い凹凸金属基板を用いて、上記実施形態と同様の方法で得られる微細構造体 も、本発明に含まれる。
[0057] また、陽極酸化を利用する以外に、凹凸金属基板を得る方法としては、平坦な金属 基板の表面にリソグラフィ法により複数の凹部を形成する、平坦な金属基板の表面に 、集束イオンビーム(FIB)や電子ビーム(EB)等の電子描画技術により複数の凹部 を描画する等の微細加工技術が挙げられる。凹部は規則配列させてもよいし、させな くてもよい。ただし、表面全面を一括処理でき、大面積化に対応でき、高価な装置を 必要としないことから、陽極酸化を利用した上記実施形態が特に好ましい。
実施例
[0058] 本発明に係る実施例及び比較例につ!/、て説明する。
(実施例 1 , 2) 下記手順にて、上記第実施形態の微細構造体 1を製造した。
被陽極酸化金属体 10として、アルミニウム板 (A1純度 99. 99%、 10mm厚)を用意し 、このアルミニウム板を陽極とし、アルミニウムを陰極として、アルミニウム板の一部が アルミナ層 30となる条件で、陽極酸化を実施した。液温は 15°Cとした。その他の反 応条件は以下の通りとした。
実施例 1 :電解液 0. 3M硫酸、印加電圧 25V、反応時間 8時間、
実施例 2 :電解液 0. 5Mシユウ酸、印加電圧 40V、反応時間 5時間。
[0059] いずれの例についても、反応終了後にクロムりん酸溶液を用いたウエットエッチング を実施してアルミナ層 30を除去し、非陽極酸化部分からなる凹凸金属基板 11を得た
[0060] 得られた凹凸金属基板 11の表面を走査電子顕微鏡(SEM)により観察したところ、 平面視略正六角形状のディンプル状凹部 12が規則配列した表面構造であった。デ インプル状凹部 12のピッチ Pは、以下の通りであった。
実施例 1:ピッチ P = 63nm、実施例 2:ピッチ P = 100nm。
ディンプル状凹部 12の深さ dは測定していないが、実施例 1は概ね 5〜30nmの深さ 、実施例 2は概ね 5〜50nmの深さと推定される。
[0061] 次に、得られた凹凸金属基板 11の表面に、真空蒸着法により Auを蒸着して、金属 膜 21を成膜した。蒸着は、凹凸金属基板 11の表面全体が Auで覆われる条件で行 つた(図 2 (d)参照)。図 3 (a)及び図 4 (a)に得られた凹凸金属基板 11の表面 SEM 写真を示す。次いで、マツフル炉にて 500°Cで 5分間のァニール処理を施し、常温ま で自然炉冷した。 SEM観察を行ったところ、複数の凹部 12の内部に 1個ずつ Auナ ノ粒子が固着されており、 Auナノ粒子が略規則的に配列した微細構造体 1が得られ たことが確認された(図 2 (e) )。得られた微細構造体 1の表面 SEM写真を図 3 (b)及 び図 4 (b)に示す。
[0062] (評価)
実施例 1 , 2で得られた微細構造体 1をラマン分光用デバイスとして用い、表面に同じ 試料液を付着させて、堀場社製「HR800」を用いてそれぞれラマンスペクトルの測定 を行った。励起波長 532nm、出力 4. 3 Wのレーザを光源とした。試料液としては、 2. 6mMの R6G (6—カルボキシローダミン)溶液を用いた。 R6Gは 1360cm— 1付近 等にラマンスペクトルピークが現れることが知られている。得られたラマンスペクトルを 図 5及び図 6に示す(測定波長は 532nm)。
[0063] 図 5及び図 6に示すように、実施例 1 , 2のいずれのラマン分光デバイスにおいても、 1 SeOcnT1付近等、 R6Gに特有な波数にピークが見られ、ラマン信号をはっきりと検 出することができた。従って、微細構造体 1をラマン分光用デバイスとして用いた場合 、大きな表面増強ラマン効果が得られ、局在プラズモン共鳴が効果的に得られること が確認され、本発明の有効性が示された。
産業上の利用可能性
[0064] 本発明の微細構造体は、バイオセンサ等に用いられるセンサデバイスやラマン分光 用デバイスとして好ましく利用できる。
図面の簡単な説明
[0065] [図 1]本発明に係る一実施形態の微細構造体の構造を示す図
[図 2] (a)〜(e)は、図 1の微細構造体の製造方法を示す図
[図 3] (a)は、実施例 1のァニール処理前の表面 SEM写真、(b)は、実施例 1のァニ ール処理後の表面 SEM写真
[図 4] (a)は、実施例 2のァニール処理前の表面 SEM写真、(b)は、実施例 2のァニ ール処理後の表面 SEM写真
[図 5]実施例 1のラマンスペクトル
[図 6]実施例 2のラマンスペクトル
符号の説明
[0066] 1 微細構造体
10 被陽極酸化金属体
11 凹凸金属基板
12 凹部
30 金属酸化物層
20 金属粒子
21 金属膜 d 凹部の深さ dm 金属膜厚 P 凹部のピッチ

Claims

請求の範囲
[1] 金属基板上に複数の金属粒子が配列した微細構造体の製造方法において、
前記金属基板として、表面に凹凸構造を有する凹凸金属基板を用意する工程 (A)と 前記凹凸金属基板の前記表面上に、該凹凸金属基板の構成金属と異なる金属を主 成分とする金属膜を成膜する工程 (B)と、
ァニール処理により、該金属膜の構成金属を凝集させて粒子化させる工程 (C)とを 順次実施することを特徴とする微細構造体の製造方法。
[2] 工程 (C)において、前記ァニール処理の温度を、前記金属膜の融点以上かつ前記 凹凸金属基板の融点未満とすることを特徴とする請求項 1に記載の微細構造体の製 造方法。
[3] 工程 (B)において、前記金属膜を、前記凹凸構造の凹部の深さ以上の膜厚で成膜 することを特徴とする請求項 1または 2に記載の微細構造体の製造方法。
[4] 請求項 1〜3のいずれかに記載の微細構造体の製造方法により製造されたものであ ることを特徴とする微細構造体。
[5] 前記凹凸構造が、平面視略同一形状の複数の凹部が略規則配列した構造であるこ とを特徴とする請求項 4に記載の微細構造体。
[6] 前記凹部の平均的なピッチが 400nm以下であることを特徴とする請求項 4または 5 に記載の微細構造体。
[7] 前記凹凸金属基板が、被陽極酸化金属体を陽極酸化して一部を金属酸化物層とし 、該金属酸化物層を除去した後に残る前記被陽極酸化金属体の非陽極酸化部分か らなる基板であることを特徴とする請求項 4〜6のいずれかに記載の微細構造体。
[8] 表面に試料が接触され、該試料に測定光が入射されると共に、該測定光が前記試 料によって異なる物理特性を有する出射光となって出射され、該出射光の該物理特 性が検出されるセンサデバイスにおいて、
請求項 4〜7のいずれかに記載の微細構造体からなることを特徴とするセンサデバイ ス。
[9] 前記複数の金属粒子の表面における局在プラズモン共鳴現象を利用して、前記試 料のセンシングが行われるものであることを特徴とする請求項 8に記載のセンサデバ イス。
表面に試料が接触され、該試料に測定光が入射され、該測定光のラマン散乱光が 検出されるラマン分光用デバイスにおいて、
請求項 4〜7のいずれかに記載の微細構造体からなることを特徴とするラマン分光用 デバイス。
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