WO2008019740A1 - Oszilloskop-tastkopf - Google Patents

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Definitions

  • the invention relates to a probe for an oscilloscope according to the preamble of the main claim.
  • the high-impedance probing probe tip is connected to an impedance converter amplifier whose output has a characteristic impedance of typically 50 ohms.
  • the measurement signal is fed from the output of this amplifier via an RF cable to the input of the oscilloscope, which terminates the cable with its characteristic impedance of, for example, 50 ohms, so as to avoid reflections.
  • Such amplifiers usually have a so-called DC offset error, ie an input voltage of 0 volts does not exactly correspond to an output voltage of 0 volts.
  • DC offset error ie an input voltage of 0 volts does not exactly correspond to an output voltage of 0 volts.
  • US Pat. No. 5,384,532 to use an amplifier as an impedance converter in a mass-oriented probe of large bandwidth, which is an anima nom as frimnoo H - - o -Vo ⁇ - ⁇ t- 2 * rtor Vie » ⁇ t- oh ⁇ nH
  • the high-frequency path for high frequencies of, for example, more than 10 MHz consists of a three-stage emitter follower with transistors of the npn type and is used as an alternating current coupled amplifier formed with a arranged between the measuring tip and amplifier input separation capacitor.
  • a DC-coupled transistor amplifier which is composed of bipolar transistors in emitter follower circuits, of field-effect transistors in source follower circuit or a combination of both.
  • the used Amplifier topology chosen so that the sum of the successive offset DC voltages of the individual amplifier elements cancel each other, so the total amplifier has an offset error of practically 0 volts.
  • Another possibility is to measure and compensate for the offset parallel to the amplifier, either by direct compensation by regulation in the amplifier itself or by the offset measured in the amplifier or first in the oscilloscope
  • FIG. 1-5 possible embodiments of a DC coupled amplifier according to the invention constructed of bipolar transistors in emitter follower circuit, even conductive field effect transistors in
  • Source follower circuit or as a mixture of these two circuit options optionally supplemented by diodes or resistors;
  • Fig. 8 shows a possibility for measuring the offset voltage in the oscilloscope and their
  • Fig. 1 shows a DC-coupled amplifier consisting of three emitter-operated bipolar transistors 1, 3 and 4 supplemented by a fourth diode-connected bipolar transistor 2 for voltage offset.
  • the input transistor 1, to which the input voltage V in is supplied from the probe tip, is of the npn type, the following transistor 3 is of the pnp type, and the output transistor 4 is again
  • the base-emitter voltage of the transistors 1 and 4 is in the example +0.8 volts, that of the transistor 3 and the
  • Fig. 3 shows a DC-coupled amplifier consisting of a p-channel type MOSFET transistor 8 having a gate-source voltage of about 1.6 volts, followed by two emitter-follower bipolar npn transistors 9 and 10, which together have a base-emitter voltage of -1.6 volts.
  • a further p-channel MOSFET 31 as a current source whose gate-source voltage is defined by two npn-base emitter paths 31, 32.
  • a JFET field-effect transistor 11 with two bipolar transistors 12 and 13 is connected together in each case of different conductivity type, also hi pr e * ⁇ rc ⁇ i V " ⁇ t" cci r ⁇ "in H OT * Cummo ⁇ ⁇ n Of f o ⁇ h na h-1711
  • Fig. 5 finally shows the combination of bipolar transistors 14 to 16 of the same (npn-)
  • the input voltage Vi n of the amplifier 28 compared with the output voltage V out and thus a possibly existing residual offset of the amplifier 28 is measured, which is then fed directly as a compensation voltage via a resistor 21 to the output of the amplifier 28 and so the residual Offset compensated.
  • a compensation current is generated from the measured offset of the amplifier 29, with which the current is directly controlled by the resistor 27 so that the residual offset of the amplifier 29 is compensated.
  • an input divider can still be arranged in the probe, which is connected between the measuring tip and amplifier input Vi n .
  • the measurement of the offset voltage for the compensation is then tapped in this case either before or after the input divider as input voltage.
  • Amplifiers, circuitry for offset measurement, input dividers, and the like may be constructed as Hyh-r-i.H on a substrate.
  • the divider can thus be constructed, for example, in thin-film or thick-film technology, the amplifier as a bipolar IC. It is also conceivable that
  • Integral input divider with the amplifier and the circuit for offset measurement on a chip monolithically integrated. 8 shows a possibility for measuring the offset by means of a remote-controlled electronic switch 22 from the oscilloscope, by means of which the input of the DC-coupled amplifier 24 can be switched to ground M when the input of the amplifier 24 is disconnected from the measuring tip via the electronic switch 23 so that in the oscilloscope 25 instead of the measuring voltage directly the offset of the amplifier 24 is measured. This value can then subsequently be taken into account in the subsequent evaluation of a measured value in the oscilloscope 25, wherein switch 23 is closed again and switch 22 is open.
  • This type of measurement of the offset has the additional advantage that even offsets of the amplifier circuits in the oscilloscope itself can be taken into account, depending on where the total effective between the probe and display device of the oscilloscope amplifier circuit is measured in the oscilloscope Offest.

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Abstract

Bei einem Tastkopf für ein Oszilloskop mit einem als Impedanzwandler wirkenden mehrstufigen Transistor-Verstärker ist dieser Verstärker eine gleichstromgekoppelte, aus bipolaren Transistoren (1-4) aufgebaute Emitterfolgerschaltung oder eine gleichstromgekoppelte, aus Feldeffekt -Transistoren aufgebaute Sourcefolgerschaltung, deren aufeinander folgende Verstärkerelemente so dimensioniert und aufeinander abgestimmt sind, dass die resultierende Offset-Gleichspannung zwischen Eingang und Ausgang ein Minimum ist.

Description

Oszilloskop-Tastkopf
Die Erfindung betrifft einen Tastkopf für ein Oszilloskop laut Oberbegriff des Hauptanspruches .
Bei aktiven Tastköpfen für Oszilloskope, mit denen tnassebezogene Signale gemessen werden, ist die das zu messende Signal hochohmig abgreifende Messspitze mit einem als Impedanzwandler dienenden Verstärker verbunden, dessen Ausgang eine charakteristische Impedanz von meist 50 Ohm besitzt. Das Messsignal wird vom Ausgang dieses Verstärkers über ein HF-Kabel dem Eingang des Oszilloskops zugeführt, der das Kabel mit seiner charakteristischen Impedanz von beispielsweise 50 Ohm abschließt, um so Reflexionen zu vermeiden.
Solche Verstärker weisen für gewöhnlich einen sog. Gleichspannungs-Offset-Fehler auf, d.h. eine Eingangsspannung von 0 Volt entspricht nicht exakt einer Ausgangsspannung von 0 Volt. Um diesen Fehler möglichst gering zu halten, ist es bekannt, aufwendige Verstärkertopologien zu verwenden. So ist es beispielsweise aus der US-Patentschrift 5,384,532 bekannt, bei einem massebezogenen Tastkopf großer Bandbreite einen Verstärker als Impedanzwandler einzusetzen, der als frimnoo H ♦- o —VoΥ-αt- 2* rtor Vie»αt- ohβnH anα oinom
Figure imgf000003_0001
Pfad für hohe Frequenzen und einem Niederfrequenz-Pfad für tiefe Frequenzen und Gleichspannungen, aufgebaut ist. Der Verstärker im Niederfrequenz-Pfad ist hier ein
Operationsverstärker mit möglichst geringem Offset. Der Hochfrequenz-Pfad für hohe Frequenzen von beispielsweise über 10 MHz besteht aus einem dreistufigen Emitterfolger mit Transistoren vom npn-Typ und ist als Wechselstrom- gekoppelter Verstärker mit einem zwischen Messspitze und Verstärkereingang angeordneten Trennkondensator ausgebildet .
Auch diese bekannte Anordnung besitzt verschiedene
Nachteile. So sind beispielsweise Übernahmeverzerrungen bei Frequenzen zu befürchten, die über beide Pfade zum Ausgang gelangen. Bezüglich des Operationsverstärkers muss ein Kompromiss zwischen der Bandbreite des Niederfrequenz- Pfades, der Eingangskapazität und einem möglichst niedrigem Offset getroffen werden, was in der Praxis schwierig ist. Außerdem verschlechtern der Eingangswiderstand, die Eingangskapazität und der Eingangsstrom des Niederfrequenz-Pfades die Kenndaten des Tastkopfes.
Es ist die Aufgabe der Erfindung, einen Oszilloskop- Tastkopf zu schaffen, dessen Verstärker einen einfachen Aufbau aufweist und trotzdem minimalen Gleichspannungs- Offset-Fehler besitzt.
Diese Aufgabe wird ausgehend von einem Tastkopf laut Oberbegriff des Hauptanspruches durch dessen kennzeichnende Merkmale gelöst . Vorteilhafte Weiterbildungen bezüglich des verwendeten Verstärkers sowie bezüglich der Kompensation eines noch verbleibenden Offset-Restfehlers ergehen sich aus den Unterancpruchsn.
Gemäß der Erfindung wird im Gegensatz zum Stand der Technik ein Gleichstrom-gekoppelter Transistorverstärker verwendet, der aus bipolaren Transistoren in Emitterfolgerschaltun, aus Feldeffekttransistoren in Sourcefolgerschaltung oder einer Kombination aus beiden aufgebaut ist. Dabei ist die verwendete Verstärkertopologie so gewählt, dass die Summe der aufeinander folgenden Offset-Gleichspannungen der einzelnen Verstärkerelemente sich aufhebt, also der Gesamtverstärker einen Offset-Fehler von praktisch 0 Volt besitzt.
Trotz dieser erfindungsgemäßen Maßnahme wird in der Praxis oftmals ein geringer Offset zwischen Verstärkereingang und Verstärkerausgang bestehen bleiben. Dieser ist jedoch klein genug, um vom Oszilloskop-Eingang toleriert zu werden. Durch geeignete Schaltungsmaßnahmen kann erreicht werden, dass der Offset unabhängig von Temperatur und Alterung der Schaltung ist. Es besteht die Möglichkeit, diesen Offset durch eine Kalibriermessung zu ermitteln und im Oszilloskop entsprechend zu berücksichtigen. Diese Kalibriermessung kann auch automatisch durchgeführt werden, indem am Eingang des Verstärkers eine NuIlungsSchaltung vorgesehen wird, d.h. der Verstärkereingang wird beispielsweise durch einen Schalter automatisch an Masse gelegt.
Eine weitere Möglichkeit besteht darin, den Offset parallel zum Verstärker zu messen und zu kompensieren, wobei entweder eine unmittelbare Kompensation durch Regelung im Verstärker selbst erfolgt oder indem der im Verstärker bzw. erst im Oszilloskop gemessene Offset
anschließenden Auswertung eines Messwertes im Oszilloskop entsprechend berücksichtigt wird.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand schematischer Zeichnungen an Ausführungsbeispielen näher erläutert . In der Zeichnung zeigen: Fig. 1 - 5 mögliche Ausführungsbeispiele eines erfindungsgemäßen Gleichstrom-gekoppelten Verstärkers aufgebaut aus bipolaren Transistoren in Emitterfolgerschaltung, selbst leitenden Feldeffekttransistoren in
Sourcefolgerschaltung bzw. als Mischung aus diesen beiden Schaltungsmöglichkeiten ggf. ergänzt durch Dioden oder Widerstände;
Fig. 6 u. 7 die Möglichkeit der unmittelbaren
Kompensation eines Rest-Offsets im Verstärker selbst und
Fig. 8 eine Möglichkeit für das Messen der Offset- Spannung im Oszilloskop und deren
Berücksichtigung bei der Messspannungs- Auswertung .
Fig. 1 zeigt einen Gleichstrom-gekoppelten Verstärker bestehend aus drei in Emitterschaltung betriebenen bipolaren Transistoren 1, 3 und 4 ergänzt durch einen vierten als Diode geschalteten bipolaren Transistor 2 zum Spannungsversatz. Der Eingangstransistor 1, dem von der Messspitze des Tastkopfes die EingangsSpannung Vin zugeführt wird, ist vom npn-Typ, der folgende Transistor 3 ist vom pnp-Typ und der Ausgangstransistor 4 ist wieder
Figure imgf000006_0001
Transistoren erfolgt über die Stromquellen S. Die Basis- Emitter-Spannung der Transistoren 1 und 4 beträgt im Beispiel +0,8 Volt, die des Transistors 3 und die
Richtspannung der Diode 2 -0,8 Volt, daraus resultiert eine Offset-Gleichspannung von etwa 0 Volt. Bei der selbstleitenden Sourcefolgerschaltung nach Fig. 2 aufgebaut aus JFET- oder HEMT-Feldeffekttransistoren 5, 6 und 7 ist der Source-Strom so gewählt, dass die Gate- Source-Spannung Uga 0 Volt ist. Dies ist z. B. durch den Einsatz von gepaarten Feldeffekttransistoren als
Stromquellen S möglich, deren Gate-Source-Spannung auf 0 Volt gesetzt wird. Auch bei dieser Schaltung nach Fig. 2 wird also zwischen Eingang und Ausgang ein Offset von nahezu 0 Volt erreicht.
Fig. 3 zeigt einen DC-gekoppelten Verstärker bestehend aus einem MOSFET-Transistor 8 vom p-Kanal-Typ, der eine Gate- Source-Spannung von etwa 1,6 Volt besitzt, gefolgt von zwei in Emitterfolgerschaltung angeordneten bipolaren npn- Transistoren 9 und 10, die zusammen eine Basis- Emitterspannung von -1,6 Volt besitzen. Auch hier wird also ein Offset von nahezu 0 Volt erreicht. Die Einstellung der Gate-Source-Spannung passend zu den Basis- Emitterspannungen der npn-Transistoren geschieht über einen weiteren p-Kanal MOSFET 31 als Stromquelle, dessen Gate-Source-Spannung durch zwei npn-Basis-Emitterstrecken 31, 32 festgelegt wird.
Gemäß Fig. 4 ist ein JFET-Feldeffekttransistor 11 mit zwei bipolaren Transistoren 12 und 13 jeweils von unterschiedlichem Leitungstyp zusammengeschaltet, auch h l pr e*τrcι i V"ιt" cci rΗ "i n H OT* Cummo β ϊ n Of f oβh
Figure imgf000007_0001
n a h-1711
0 Volt.
Fig. 5 zeigt schließlich die Kombination von bipolaren Transistoren 14 bis 16 vom gleichen (npn-)
Leitfähigkeitstyp mit drei Dioden 17. Die Aufeinanderfolge der Basis-Emitter-Spannungen mit den RichtSpannungen der Dioden ergibt wieder einen Offset von nahezu 0 Volt. Ein evtl. noch verbleibender Offset-Rest bei diesen verschiedenen DC-gekoppelten Transistorverstärkern kann unmittelbar im Verstärker selbst gemäß Fig. 6 bzw. 7 kompensiert werden. In Fig. 6 wird dazu in einem
Operationsverstärker 20 die Eingangsspannung Vin des Verstärkers 28 mit der AusgangsSpannung Vout verglichen und so ein evtl. bestehender Rest-Offset des Verstärkers 28 gemessen, der dann unmittelbar als Kompensationsspannung über einen Widerstand 21 dem Ausgang des Verstärkers 28 zugeführt wird und so den Rest-Offset kompensiert. Im Ausführungsbeispiel nach Fig. 7 wird aus dem gemessenen Offset des Verstärkers 29 ein Kompensationsstrom erzeugt, mit dem unmittelbar der Strom durch den Widerstand 27 so geregelt wird, dass der Rest-Offset des Verstärkers 29 kompensiert wird.
Vor dem Verstärker kann im Tastkopf noch ein Eingangsteiler angeordnet sein, der zwischen Messspitze und Verstärkereingang Vin geschaltet ist. Die Messung der Offset-Spannung für die Kompensation wird in diesem Fall dann entweder vor oder nach dem Eingangsteiler als Eingangsspannung abgegriffen.
Alle Elemente des erfindungsgemäßen Tastkopfes wie
Verstärker, Schaltung zur Offsetmessung, Eingangsteiler und dergleichen können als Hyh-r-i.H auf einem Substrat aufgebaut werden. Der Teiler kann also beispielsweise in Dünn- oder Dickschichttechnik aufgebaut sein, der Verstärker als Bipolar-IC. Es ist auch denkbar, den
Eingangsteiler mit dem Verstärker und der Schaltung zur Offsetmessung auf einem Chip monolithisch integriert aufzubauen. Fig. 8 zeigt eine Möglichkeit für die Messung des Offsets mittels eines vom Oszilloskop aus ferngesteuerten elektronischen Schalters 22, durch den der Eingang des DC- gekoppelten Verstärkers 24 bei über den elektronischen Schalter 23 von der Messspitze getrenntem Eingang des Verstärkers 24 an Masse M schaltbar ist, so dass im Oszilloskop 25 anstelle der Messspannung unmittelbar der Offset des Verstärkers 24 gemessen wird. Dieser Wert kann dann anschließend bei der späteren Auswertung eines Messwertes im Oszilloskop 25 berücksichtigt werden, wobei Schalter 23 wieder geschlossen und Schalter 22 offen ist. Diese Art der Messung des Offsets besitzt den zusätzlichen Vorteil, dass auch evtl. Offsets der Verstärkerschaltungen im Oszilloskop selbst mit berücksichtigt werden können, je nachdem, an welcher Stelle des insgesamt zwischen Tastkopf und Anzeigeeinrichtung des Oszilloskops wirksamen Verstärkerschaltung im Oszilloskop der Offest gemessen wird.
Die Erfindung ist nicht auf die dargestellten
Ausführungsbeispiele beschränkt. Alle beschriebenen und gezeichneten Merkmale sind im Rahmen der Erfindung beliebig miteinander kombinierbar.

Claims

Ansprüche
1. Tastkopf für ein Oszilloskop mit einem als Impedanzwandler wirkenden mehrstufigen Transistor- Verstärker, dessen Ausgang mit dem Oszilloskop verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, dass der Verstärker eine Gleichstrom-gekoppelte, aus bipolaren Transistoren aufgebaute Emitterfolgerschaltung oder eine Gleichstrom-gekoppelte, aus Feldeffekt- Transistoren aufgebaute Sourcefolgerschaltung oder eine aus diesen beiden Schaltungen zusammengesetzte Schaltung ist, deren aufeinander folgende Verstärkerelemente so dimensioniert und aufeinander abgestimmt sind, dass die resultierende Offset-Gleichspannung zwischen Eingang und Ausgang minimal ist.
2. Tastkopf nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Transistoren der Emitterfolger- bzw. Sourcefolger-Schaltungen mit zwischengeschalteten Dioden und/oder Widerständen so gemischt sind, dass die Offset- Gleichspannung minimal ist .
3. Tastkopf nach Anspruch 1 oder 2 , dadurch gekennzeichnet, dass der Verstärker eine aus mehreren bipolaren Transistoren aufgebaute Emitterfolgerschaltung ist, und die aufeinander folgenden Transistoren derart gemischt vom npn- bzw. pnp-Leitungstyp gewählt sind, dass die Summe der aufeinander folgenden Basis-Emitter-Spannungen minimal ist.
4. Tastkopf nach Anspruch 1 oder 2 , dadurch gekennzeichnet, dass der Verstärker eine aus mehreren Feldeffekttransistoren bestehende selbstleitende Sourcefolgerschaltung ist, deren Source-Ströme so gewählt sind, dass die Gate-Source-Spannungen der einzelnen Transistoren und damit auch deren Summe nahezu 0 Volt ist.
5. Tastkopf nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass der Gleichstrom-gekoppelte Verstärker aus einer Mischung von bipolaren Transistoren und Feldeffekttransistoren und ggf. Dioden und/oder Widerständen besteht, die so dimensioniert und aufeinander abgestimmt sind, dass die Summe der aufeinander folgenden Basis-Emitter-Spannungen, Gate-Source-Spannungen und ggf. RichtSpannungen der Dioden und Spannungen der Widerstände nahezu 0 Volt ist.
6. Tastkopf nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass dem Gleichstrom-gekoppelten Verstärker eine mit dem Eingang und Ausgang des Verstärkers verbundene Schaltung (20) zum Messen des Offsets und zum Erzeugen einer diesem entsprechenden Kompensationsgröße zugeordnet ist, mit welcher mittels einer dem Verstärker zugeordneten Kompensacions-SciicilLαriy (20) dieser Gffset unmittelbar im Verstärker kompensiert wird.
7. Tastkopf nach Anspruch 6 , dadurch gekennzeichnet, dass der Offset mittels eines die Ein- und Ausgangsspannung des Verstärkers vergleichenden Operationsverstärkers (20) gemessen wird.
8. Tastkopf nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Kompensationsgröße als Kompensationsspannung unmittelbar dem Ausgang des Verstärkers zu einer Kompensation des Offsets zugeführt wird.
9. Tastkopf nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Kompensationsgröße als Kompensationsstrom dem Bias-Strom eines der aufeinander folgenden Verstärkerelemente des Verstärkers zu einer Kompensation des Offsets zugeführt wird.
10. Tastkopf nach einem der vorhergehenden Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass dem Gleichstrom-gekoppelten Verstärker eine mit dem Eingang und Ausgang des Verstärkers verbundene Schaltung zum Messen des Offsets und zum Erzeugen einer diesem entsprechenden Kompensationsgröße zugeordnet ist, die über eine zusätzliche Leitung dem Oszilloskop zur Kompensation des Offsets im Oszilloskop zur Verfügung gestellt wird.
11. Tastkopf nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
Hang der Offset mittels eines die Ein- und
AusgangsSpannung des Verstärkers vergleichenden
Operationsverstärkers gemessen wird.
12. Tastkopf nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass die gemessene Offset-Spannung dem Oszilloskop in digitaler Form zur Verfügung gestellt wird und dort bei der Auswertung der Messspannung im Oszilloskop entsprechend berücksichtigt wird.
13. Tastkopf nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass dem Eingang des Gleichstrom-gekoppelten Verstärkers eine über das Oszilloskop fernsteuerbare oder manuell bedienbare Schaltvorrichtung zugeordnet ist, über welche anstelle der Messspannung der Messspitze Massepotential an den Verstärkereingang anschaltbar ist und so bei an Masse liegendem Verstärkereingang der Gleichspannungs-Offset im Oszilloskop gemessen und bei der Auswertung der Messspannung im Oszilloskop entsprechend berücksichtigt wird.
14. Tastkopf nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass dem Gleichstrom-gekoppelten Verstärker ein Eingangs- Spannungsteiler vorgeschaltet ist.
15. Tastkopf nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Gleichstrom-gekoppelte Verstärker aus einem MOSFET-Transistor (8) vom p-Kanal-Typ gefolgt von zwei in Emitterfolgerschaltung betriebenen bipolaren npn- Transistoren (9, 10) besteht.
16. Tastkopf nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Einstellung der Gate-Source-Spannung des MOSFET- Transistors (8) passend zu den Basis-Emitter-Spannungen der npn-Transistoren (9, 10) über einen p-Kanal-MOSFET- Transistor (31) erfolgt, dessen Gate-Source-Spannung durch zwei npn-Basis-Emitterstrecken (31 ,32) festgelegt ist (Fig. 3) .
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DE (1) DE102006052720A1 (de)
WO (1) WO2008019740A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2913684A1 (de) * 2014-02-24 2015-09-02 Tektronix, Inc. Dynamische Kompensationsschaltung

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7405552B2 (en) * 2006-01-04 2008-07-29 Micron Technology, Inc. Semiconductor temperature sensor with high sensitivity
DE102015203651A1 (de) * 2015-03-02 2016-09-08 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Kompensationsschaltung für Offset-Spannung in einem Messverstärker und/oder für Gleichsignalanteil in einem Messsignal
US10408861B2 (en) * 2015-03-04 2019-09-10 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Circuit for compensating an offset voltage in an amplifier

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4803423A (en) * 1986-06-06 1989-02-07 U.S. Philips Corp. Input circuit for a probe of a logic analyser and probe and logic analyser provided with such a circuit
US5602483A (en) * 1992-08-28 1997-02-11 Hewlett-Packard Company Active trim method and apparatus
US5654669A (en) * 1995-02-03 1997-08-05 Hewlett-Packard Company Programmable instrumentation amplifier
US6870359B1 (en) * 2001-12-14 2005-03-22 Le Croy Corporation Self-calibrating electrical test probe

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3444476A (en) * 1965-03-19 1969-05-13 Rca Corp Direct coupled amplifier with feedback for d.c. error correction
US3721914A (en) * 1970-03-27 1973-03-20 Sansui Electric Co Differential amplifier having balanced current flow
US3701909A (en) * 1970-08-17 1972-10-31 Computer Test Corp Peak and hold system
US3719833A (en) * 1970-10-12 1973-03-06 Motorola Inc Technique for compensating for input bias currents of transistors
US3731215A (en) * 1971-08-06 1973-05-01 Gen Electric Amplifier of controllable gain
US3906344A (en) * 1972-02-22 1975-09-16 Tektronix Inc Oscilloscope having selectable input impedances
US3832645A (en) * 1973-05-11 1974-08-27 Itt Wide band gain control circuit
US4024462A (en) * 1975-05-27 1977-05-17 International Business Machines Corporation Darlington configuration high frequency differential amplifier with zero offset current
US4019127A (en) * 1975-12-12 1977-04-19 Sun Electric Corporation Analog oscilloscope
US4498058A (en) * 1982-05-17 1985-02-05 Sperry Corporation Low input capacitance amplifier
JPS5980010A (ja) * 1982-10-27 1984-05-09 テクトロニツクス・インコ−ポレイテツド プログラマブルアツテネ−タ
US4460873A (en) * 1982-11-19 1984-07-17 Control Data Corporation Active differential output direct current offset voltage compensation circuit for a differential amplifier
US4646002A (en) * 1984-05-10 1987-02-24 Regents Of The University Of Minnesota Circuit for high impedance broad band probe
US4684886A (en) * 1985-05-17 1987-08-04 Doyle James H Automatic equalizer
US5111065A (en) * 1990-03-23 1992-05-05 Massachusetts Institute Of Technology Diode driver circuit utilizing discrete-value DC current source
US5225776A (en) * 1991-10-07 1993-07-06 Tektronix, Inc. Method and apparatus for probing and sampling an electrical signal
US5270660A (en) * 1992-05-05 1993-12-14 Xerox Corporation Electrostatic voltmeter employing high voltage integrated circuit devices
US5384532A (en) * 1992-07-01 1995-01-24 Hewlett-Packard Company Bipolar test probe
JP3154459B2 (ja) * 1993-09-16 2001-04-09 株式会社日立国際電気 測定器用入力回路
US5488301A (en) * 1994-12-19 1996-01-30 Xerox Corporation Electrostatic voltmeter employing a differential cascode
DE19626353A1 (de) * 1996-06-18 1998-01-02 Biotronik Mess & Therapieg Signaldetektor
US5929617A (en) * 1998-03-03 1999-07-27 Analog Devices, Inc. LDO regulator dropout drive reduction circuit and method
US6016050A (en) * 1998-07-07 2000-01-18 Analog Devices, Inc. Start-up and bias circuit
US6838936B2 (en) * 1999-09-28 2005-01-04 Siemens Aktiengesellschaft Low-noise amplifier device having negative feedback via a controlled current source, and method of using the amplifier device
DE10133363A1 (de) * 2001-07-10 2003-01-30 Infineon Technologies Ag Messzelle und Messfeld mit solchen Messzellen sowie Verwendung einer Messzelle und Verwendung eines Messfeldes
US7802141B2 (en) * 2004-03-05 2010-09-21 Denso Corporation Semiconductor device having one-chip microcomputer and over-voltage application testing method
JP4896419B2 (ja) * 2005-03-23 2012-03-14 株式会社デンソー コンパレータ
DE102006052745A1 (de) * 2006-08-14 2008-02-21 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Oszilloskop-Tastkopf
FR2916867B1 (fr) * 2007-06-01 2010-02-26 Schneider Electric Ind Sas Systeme de commande et de protection d'une sortie d'un equipement d'automatisme.

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4803423A (en) * 1986-06-06 1989-02-07 U.S. Philips Corp. Input circuit for a probe of a logic analyser and probe and logic analyser provided with such a circuit
US5602483A (en) * 1992-08-28 1997-02-11 Hewlett-Packard Company Active trim method and apparatus
US5654669A (en) * 1995-02-03 1997-08-05 Hewlett-Packard Company Programmable instrumentation amplifier
US6870359B1 (en) * 2001-12-14 2005-03-22 Le Croy Corporation Self-calibrating electrical test probe

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2913684A1 (de) * 2014-02-24 2015-09-02 Tektronix, Inc. Dynamische Kompensationsschaltung
US9557399B2 (en) 2014-02-24 2017-01-31 Tektronix, Inc. Dynamic compensation circuit

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