WO2008044470A1 - Dispositif de lecture optique - Google Patents

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WO2008044470A1
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substrate
mirror
scanning device
optical scanning
vibration
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PCT/JP2007/068699
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Jun Akedo
Harumichi Sato
Jaehyuk Park
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
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    • G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
    • G02B26/0833—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD

Definitions

  • the present invention relates to an optical scanner that performs scanning by scanning a light beam, and particularly to an optical scanning device configured to polarize a light beam by oscillating a minute mirror supported by a torsion beam. It is.
  • FIG. 22 shows an optical scanner having a silicon micromirror disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 11 52278 (Patent Document 1) (hereinafter referred to as “Prior Art 1”). This optical scanner is manufactured using silicon micromachining technology, and the overall size is several millimeters square.
  • the support substrate 1 is formed of a rectangular thick plate, and a concave portion 1a is formed in the central portion thereof, and a mirror 2 formed of a silicon thin plate is supported inside the concave portion la.
  • the mirror 2 has two torsion bars 3a and 3b that are integrally formed so as to protrude in both end directions. The tip ends of the torsion bars 3a and 3b are fixed to the support substrate 1, and pads 4a and 4b are respectively attached. It is connected to the.
  • the mirror 2 can be swung in a direction perpendicular to the plane direction of the mirror by twisting the torsion bars 3a and 3b.
  • At least the peripheral region or the surface of the mirror 2 is implanted or diffused with impurity ions, or aluminum, silver, or an organic thin film having conductivity is deposited, and these regions are electrically conductive. It is configured as an electrode portion 5 having
  • the support substrate 1 is provided with fixed electrodes 7a and 7b on the surfaces on both sides of the concave portion la with an insulator 6 interposed therebetween.
  • These fixed electrodes 7a and 7b are formed of a conductive material made of a semiconductor or an organic material, and the inner edges of the respective fixed electrodes 7a and 7b.
  • the part is disposed close to the electrode parts 5 on both side edges of the mirror 2, and a capacitor is formed between the electrode part 5 and the fixed electrodes 7a and 7b.
  • Patent Document 2 Japanese Patent Laid-Open No. 10-197819
  • this optical scanner includes a plate-like micromirror 1 for reflecting light, a pair of rotary supports 2 that are positioned on a straight line and support both sides of the micromirror 1, and
  • the rotating support 2 is connected, and includes a frame 3 surrounding the periphery of the mirror 1 and a piezoelectric element 4 that applies translational motion to the frame 3, and other than on a straight line connecting the pair of rotating supports 2 It becomes the composition that the center of gravity of Mira 1 is located in the place!
  • the piezoelectric element 4 When a voltage is applied to the piezoelectric element 4, the piezoelectric element 4 expands and contracts, vibrates in the Z-axis direction, and this vibration is transmitted to the frame portion 3.
  • the micromirror 1 causes relative movement with respect to the driven frame 3, and when the vibration component in the Z-axis direction is transmitted to the micromirror 1, the micromirror 1 is moved with respect to the axis formed by the X-axis rotating support body 2. Since it has an asymmetric mass component, a rotational moment is generated in the micromirror 1 around the X-axis rotational support 2. In this way, the translational motion applied to the frame 3 by the piezoelectric element 4 is converted into rotational motion about the X-axis rotation support 2 of the micromirror 1.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 11 52278
  • Patent Document 2 Japanese Patent Laid-Open No. 10-197819
  • Patent Document 3 Japanese Patent Laid-Open No. 10-104543
  • the optical scanner of Prior Art 1 described above is manufactured in several millimeters square using silicon micromachining technology, and an electrode portion 5 is formed at least in the peripheral region or surface of the mirror 2 and the torsion bar 3a 3b are provided with pads 4a and 4b, and further, fixed electrodes 7a and 7b and pads 8a and 8b are required to be arranged on the surfaces on both sides of the support substrate 1 via insulators 6 respectively.
  • the electrode 5 is provided at least in the peripheral region or on the surface of the mirror 2, the nodes 4a and 4b are provided on the torsion bars 3a and 3b, and the insulator 6 is provided on the surfaces on both sides of the support substrate 1. Since the fixed electrodes 7a and 7b and the pads 8a and 8b are formed respectively, the structure becomes complicated, and it takes time to manufacture just as the cause of failure increases, leading to an increase in cost. It was.
  • the optical scanner of the above-described prior art 2 has a structure in which the translational motion applied to the frame portion 3 by the piezoelectric element 4 is converted into a rotational motion around the X-axis rotation support 2 of the micromirror 1. Therefore, it was necessary to shift the center of gravity of the micromirror 1 with respect to the torsion beam. In addition, it was difficult to reduce the thickness of the device because it required thickness not only in the XY direction but also in the Z direction.
  • the above-described optical scanning device of the conventional technique 3 has a drawback that the swing angle of the movable part 2 cannot be increased.
  • FIG. 25 is the same as in the case of the prior art 3, and has a configuration in which a piezoelectric film is formed on two narrow cantilever portions that support two torsion beams protruding from the frame portion.
  • the driving efficiency of the mirror section scanning angle was investigated by simulation calculation.
  • FIG. 26 shows the deflection angle of a mirror having a structure in which a piezoelectric film is formed on two narrow cantilever portions supporting two torsion beams from the frame portion shown in FIG.
  • the drive voltage was IV
  • the electrical characteristics of the piezoelectric material were the typical parameters of PZT-5A
  • the scanner body material was SUS304.
  • the deflection angle of the mirror part was 0.63 degrees.
  • the present invention relates to an aerosol deposition method on a substrate having a torsion beam portion that supports a mirror portion.
  • an object of the present invention is to provide an optical scanning device that can efficiently generate torsional vibrations in a mirror portion with a simple structure.
  • the basic configuration of the optical scanning device of the present invention includes a substrate 10 composed of a substrate body 20 and two cantilever portions 19 and 19 projecting from both sides of the substrate body, a cantilever portion 19, 1 9 Torsion beam parts 12 and 12 provided to support the mirror part 13 from both sides, a drive source 11 comprising a piezoelectric film etc. provided on the substrate body 20, and the mirror part 13 side of the substrate body And a support member 16 for fixing the fixed end 21 on the opposite side.
  • the torsion beam part 12 that supports the mirror part 13 is provided in a direction perpendicular to the axial direction of the cantilever part 19 (X-axis direction).
  • the substrate body 20 immediately below the piezoelectric film is bent along with the piezoelectric film, and the substrate body 20 is vibrated. That is, when a positive voltage is applied to the piezoelectric film side as shown in Fig. 2 (a), the piezoelectric film extends, and conversely, when a negative voltage is applied to the piezoelectric film side as shown in Fig. 2 (b), the piezoelectric film is expanded. The membrane shrinks and generates vibrations on the substrate 10.
  • the vibration generated on the substrate main body 20 is transmitted from the substrate main body 20 to the cantilever portion 19 and is rotated to the mirror portion 13 in a horizontal state supported by the torsion beam portion 12 shown in FIG. Force to give a torsional force and induce torsional vibration.
  • the present invention by forming one piezoelectric film as the vibration source 11 on the substrate body 20, the rigidity of the two cantilever portions 19, 19 is lowered, and the mirror portion 13 is efficiently twisted. Simultaneously inducing vibration, by using only one drive source 11 to drive the mirror unit 13, the above problems of unnecessary vibration mode induction and amplitude reduction due to non-uniformity of the drive source 11 are eliminated. To do.
  • the mirror torsional vibration part composed of the piezoelectric film forming part that becomes the drive source 11 and the torsion beam part 12 that supports the mirror part 13 and the mirror part 13 in this way is connected to the two cantilever parts 19, By separating at 19, the area of the piezoelectric film of the drive source 11 can be set freely regardless of the width of the cantilever beam part 19, and it becomes possible to efficiently input a large driving force to the mirror torsional vibration part. In addition, it is easy to form electrodes for driving the piezoelectric film. It is possible to improve the yield in production.
  • FIG. 4 shows the deflection angle of the mirror unit 13 of the apparatus shown in FIG.
  • the drive voltage was IV
  • the electrical characteristics of the piezoelectric body were PZT-5A, which is a typical parameter
  • the material of the scanner frame body was SUS304.
  • the resonance frequency of the conventional technique 3 shown in FIG. 25 and the resonance frequency of the present invention shown in FIG. 3 is almost the same, but the deflection angle of the mirror portion 13 is 0.63 degrees in the conventional technique 3.
  • the swing was 2.69 degrees (80.7 degrees in terms of 30V), which was about 4.3 times larger.
  • the vibration source characteristics, mounting position, adhesion, and film mounting Due to the variation in state, asymmetric two-dimensional vibration is easily induced in the torsion beam supporting the mirror part on the substrate part with respect to the vertical axis, and the scanning accuracy of the optical beam is reduced due to the torsional vibration of the mirror.
  • the torsional vibration can be efficiently induced in the mirror part, and the light beam scanning jitter can be reduced and the product variation can be greatly appreciated.
  • the arrangement of the drive source 11 with respect to the mirror part 13 is important. If the drive source 11 is arranged at a position away from the connection position of the torsion beam part 12 supporting the mirror part 13 and the cantilever part 19, that is, a part of the board body 20, for example, the center part of the board body 20, a large twist is caused. Use force S to oscillate mirror 13 at an angle.
  • the drive source 11 is provided at a position away from the connection position of the torsion beam part 12 supporting the mirror part 13 and the cantilever part 19, the torsion beam part 12 supporting the mirror part 13 is generated. Amplitude of the substrate vibration in the vicinity of the connection point of the cantilever 19 Arrange so that
  • connection part between the cantilever part 19 and the board body 20 is set to be located in the vicinity of the maximum amplitude of the board vibration excited on the board body 20 by the drive source 11, the mirror part can be formed with a larger twist angle. 13 can be vibrated.
  • the drive source 11 is arranged at the center in the width direction of the substrate body 20 (Y axis in FIG. 1).
  • One method is to make the distance from the drive source 11 to the left and right twisted beam sections 12 and 12 the same.
  • the weight and twist of the mirror portion 13 are mainly used. It is necessary to largely shift the resonance frequency (fm) of the mirror portion 13 determined by the spring constant of the beam 12 and the resonance frequency (fb) including the divided vibration mode of the substrate 10 itself.
  • the drive source 11 of the optical scanning device is driven so as to match the resonance frequency (fm) of the torsional vibration of the mirror unit 13, if a resonance mode is induced in the substrate 10, the vibration error generated by the drive source 11 is generated.
  • the energy is distributed to the torsional vibration of the mirror section 13 and the two-dimensional divided vibration of the substrate 10 from the energy conservation law. Accordingly, the amplitude (twist angle) of the torsional vibration of the mirror portion 13 is reduced by the amount of vibration energy from the drive source 11 consumed by the two-dimensional divided vibration of the substrate 10, and the optical scanning device is driven efficiently. I can't.
  • the thickness and size of a film body such as a piezoelectric film that becomes the drive source 11 that vibrates the mirror unit 13 needs to be an optimum size according to the thickness and size of the substrate body 20.
  • the thickness of the substrate 10 considering the flatness of the mirror in operation and the mirror size required for application to projector devices, etc., assuming a substrate of Si or stainless steel, the thickness is at least 10 inches or more. Required.
  • the optimum thickness of the film body such as a piezoelectric film suitable for driving the optical scanning device is less than 6 times the thickness of the substrate body 20, and the thickness of the film body is appropriate.
  • the lower limit is approximately 1 m.
  • the maximum mirror section scanning angle can be obtained with the minimum driving voltage and power consumption for the film thickness of the same area.
  • the length of the film body is approximately the same as the driving direction of the vibration on the substrate in the film thickness range described above. Yes It can be driven efficiently if it is in a range smaller than half the wavelength of vibration determined by the resonance frequency and the sound speed of the substrate material. Furthermore, considering the power consumption in that range, it is desirable that the area of the drive source 11 is the same as or smaller than the substrate body 20. More preferably, it should be 3/4 or less of the area of the substrate body 20! /.
  • the difference between the two resonance frequencies f1 and f2 is small, and the mirror twists near the resonance frequency when the drive frequency approaches the resonance frequency from the low frequency side and when the drive frequency approaches the resonance frequency from the high frequency side.
  • the amplitude of the vibration angle is not the same, and a large hysteresis (history) occurs.
  • This hysteresis is a big problem in practice.
  • the mechanical constant of the optical scanner changes due to fluctuations in the environmental temperature, etc., and the resonance frequency changes accordingly.
  • the force that can be considered when the optical scanning angle fluctuates.
  • the compensation frequency is controlled by changing the drive frequency applied to the Therefore, very complicated control is required, which is not practical.
  • the position of the center of gravity of the mirror portion 13 and the support position of the torsion beam are matched, the above-described hysteresis does not appear and good resonance characteristics can be obtained.
  • the cross section of the torsion beam portion 12 that supports the mirror portion 13 is preferably a circular shape that is a target of an axis, but since it is formed from a plate material in actual processing, it has a finite width, and its cross-section is It is rectangular. For this reason, if the width (W) of the beam becomes too large, the position of the axis of the torsion beam portion 12 at the time of resonance moves within the width (W) of the beam with a slight processing error. This causes a hysteresis phenomenon in the amplitude (light scanning angle) of the twist angle with respect to the drive frequency near the resonance frequency as described above, making drive control difficult.
  • the width of the torsion beam must be less than a certain width.
  • the substrate 10 has a fixed end 21 on the opposite side of the substrate body 20 opposite to the mirror portion 13 side fixed and supported by the support member 16 in a cantilevered state.
  • the width of the fixed end 21 fixed by the support member 16 is suitably in the range of 1/20 to 3/4 of the width of the substrate body 20. More preferably, it is in the range of 1/10 to 1/2 of the width of the substrate body 20.
  • the width of the fixed end 21 on the opposite side of the mirror part 13 side of the board body 20 is the width of the board body 20 Narrower and fixed in a cantilevered state by the support member 16.
  • the drive source 11 can more efficiently generate vibration in the base plate body 20 by the drive source 11, and increase the torsional amplitude of the mirror section 13. Touch with power.
  • the twist angle of the mirror 13 tends to increase as the width of the fixed end 21 decreases.
  • the width of the fixed end portion 21 fixed by the support member 16 is suitably in the range of 1/20 to 3/4 of the width of the substrate body 20.
  • the width is less than 1/20 of the width of the substrate body 20, it is too narrow in practical terms, and the fixing becomes unstable, which is not practical.
  • Figure 7 shows various substrate shapes.
  • FIG. 7A shows a case where the fixed end portion 21 has the same width as the substrate body 20, and in this case, the twist angle of the mirror portion 13 is 35 °.
  • the twist angle of the mirror portion 13 is the same drive voltage. A high product of 40 ° or more could be obtained.
  • this shape is important not only by the overall width of the fixed end 21.
  • the width of the fixed end 21 is reduced by making a rectangular cut in the vicinity of the fixed end 21 of the substrate body 20 shown in FIG. The angle was 46 °.
  • the twist angle is 5 This is 4 °, and the vibration of the substrate body 20 can be generated more efficiently by the drive source 11, and the torsional amplitude of the mirror portion 13 can be increased.
  • the entire width of the fixed end 21 is preferably 1/8 to 1/2 of the width of the substrate body 20.
  • disposing part of the fixed end 21 in the center of the substrate body 20 can vibrate the mirror 13 with a large twist angle.
  • the twist angle of the mirror portion 13 is 43 °.
  • the twist angle of the mirror 13 was 54 °.
  • the fixing stability of the optical scanning device can be further improved by changing the support form by the support member 16 that fixes the fixed end 21 of the substrate body 20. Can be enhanced.
  • FIG. 8 shows examples of three support forms.
  • FIG. 8 (a) is an example in which the entire surface of one side of the substrate body 20 is supported by the support member 16, and in this case, the twist angle of the mirror portion 13 is 45 °.
  • FIG. 8 (b) is an example in which the entire surface of one side of the substrate body 20 and both sides following the substrate body 20 are supported by the support member 16, and in this case, the twist angle of the mirror portion was 43 °.
  • the vibration generated in the board body 20 by the drive source 1 1 is not so large on both sides of the board body 20 on the opposite side of the mirror part 13 side (see FIG. 12). Even if it is fixed by the support member 16, the torsional amplitude of the mirror part 13 is hardly affected.
  • the angle ⁇ of the triangular opening of the support member 16 is in the range of 30 ° to 300 ° in the plane.
  • the substrate body 20 is sandwiched up and down as a means for securing the substrate 10 to the support portion 16, a force that enables stable fixation is obtained.
  • this sandwiched portion is flat, the contact pressure is equal to the fixed end of the substrate body S
  • unnecessary resonance may occur and sufficient fixation may not be possible. Therefore, if the cross-sectional shape of the sandwiched portion is a curved surface as shown in FIG. 8 (c), a slight bending tension acts near the fixed end of the substrate main body 20 so that the substrate main body 20 A uniform pressure is applied to the contact surface between the support portion 16 and the support portion 16 so that more stable fixation is possible.
  • the cross-sectional shape of the sandwiched portion may be a triangular shape that slightly bends the substrate body portion that is only the curved shape described above.
  • the basic structure of the optical scanning device according to the present invention is such that the substrate body 20 shown in FIG. 1 is cantilevered by the support member 16 on the side opposite to the mirror portion 13.
  • the entire optical scanning device vibrates, and the light beam reflected and scanned by the mirror unit 13 is unstablely affected by this vibration, ensuring accurate light travel.
  • a narrow substrate connecting beam 23 is attached to a rigid substrate fixing frame 22 arranged so as to surround the entire optical scanning device that is cantilevered.
  • the optical scanning device is fixed even at a position away from the fixed end 21.
  • the resonance state of the optical scanning device itself changes depending on the fixed position of the substrate connecting beam 23, and the scanning angle and resonance frequency of the mirror unit 13 are affected.
  • FIGS. 10 and 11 are obtained by examining this state.
  • the scanning amplitude of the mirror 13 is about 53 ° compared to the scanning amplitude when it is not fixed. This is a significant decrease of about 17 °. This is because, if a portion with a large vibration amplitude is fixed at the outer edge of the optical scanning device and the vibration is suppressed, the vibration mode of the entire optical scanning device substrate 10 is changed, and as a result, the torsional vibration of the mirror unit 13 is efficiently performed. This is because energy cannot be transmitted.
  • the edge portion of the optical scanning device substrate 10 reference numeral 24 in FIG. If the connection is fixed with the substrate connecting beam 23 as shown in Fig. 10-d at the location near the node 25 where the vibration amplitude in the Z-axis direction is minimized, the scanning amplitude of the mirror 13 Is about 55 °, which is a slightly larger scanning amplitude than when not fixed to the substrate fixing frame 22.
  • the vibration mode of the entire optical scanning device substrate 10 is not changed, so that a resonance state almost equivalent to that when the optical scanning device substrate 10 is not fixed can be maintained, and the optical scanning device substrate 10 is fixed by the substrate connecting beam 23.
  • the influence on the scanning amplitude is minimal.
  • the optical scanning device is fixed by the substrate connecting beam 23 at the outer edge of the optical scanning device at the position of the vibration node or the smallest vibration amplitude at the time of mirror resonance and far from the optical scanning device support member 16. As a result, it is possible to stably support the optical stray device that does not attenuate the scanning amplitude of the mirror unit 13 against disturbance vibration.
  • optical beam scanning jitter and scanning wobble were evaluated by MEMS scanner measurement system [A LT 9A44]
  • the conventional silicon MEMS optical scanner manufactured by Nippon Signal
  • the optical scanning device of the present invention is made of a metal material.
  • High-precision optical beam scanning equivalent to the conventional polygon mirror method which is an order of magnitude smaller than Jp_p: 0.06% or less, for scanning resonance frequencies of 6kHz, 16kHz, and 24kHz is made of.
  • the scanning wobble force Wp -p is about 30 to 40 seconds, and it is necessary to correct it with an f ⁇ lens or the like and lower the value by 1 digit.
  • the scanning wobble is
  • Wp-p 5 seconds or less, an order of magnitude lower value, and a highly stable beam scanning speed can be realized without a correction lens system, making it easy to reduce the size and cost. From the above measurement results, it is apparent that the optical scanning device according to the present invention has a high light beam scanning accuracy that can be used in a laser printer or the like.
  • the present invention has been made based on the above findings, and the gist of the present invention is as follows.
  • the optical scanning device of the present invention is supported on both sides by a torsion beam portion between the substrate body, two cantilever portions protruding from both side portions on one side of the substrate body, and the cantilever portions.
  • the mirror unit includes a drive source that vibrates the substrate body, and a light source that projects light onto the mirror unit.
  • the mirror unit resonates in response to vibration applied to the substrate by the drive source and is projected from the light source to the mirror unit.
  • the fixed end part opposite to the mirror part side of the substrate body is fixed to the support member and driven to a part of the substrate body. It is characterized by providing a source.
  • the optical scanning device of the present invention is characterized in that, in the above (1), the width of the fixed end of the substrate body is in the range of 1/20 to 3/4 of the width of the substrate body.
  • the optical scanning device of the present invention is characterized in that the fixed end of the substrate body is formed leaving at least the central portion in the width direction of the substrate body.
  • the fixed end of the substrate body is sandwiched and fixed from above and below, and the cross-sectional shape of the fixed end is curved or bent. The feature is to make!
  • the optical scanning device of the present invention is configured in the above (1) to (4) by forming the driving source as a film body having a piezoelectric film, a magnetostrictive film or a permanent magnet film force directly on the substrate.
  • the thickness of the film body is less than 6 times the thickness of the substrate.
  • the optical scanning device of the present invention is characterized in that, in any one of the above (1) to (5), the area of the film body is 3/4 or less of the area of the substrate body.
  • the connecting portion between the torsion beam portion supporting the mirror portion and the cantilever portion is a substrate by a driving source. It is provided near the minimum amplitude (node of vibration) of the substrate vibration excited by the main body.
  • connection portion between the cantilever part and the substrate body is excited by the drive source to the substrate body. It is characterized by being set near the maximum amplitude (antinode of vibration).
  • the optical scanning device of the present invention is the optical scanning device according to any one of the above (1) to (8), wherein the resonance frequency of the mirror portion and the resonance frequency of the substrate determined by the weight of the mirror portion and the panel constant of the torsion beam It is characterized by a large shift.
  • the substrate fixing frame is disposed so as to surround the substrate main body and the cantilever portion, and the fixed end of the substrate main body is arranged.
  • the substrate main body and the substrate fixing frame are connected to each other by a substrate connecting beam at a position away from the support member and in the vicinity of the minimum amplitude of substrate vibration.
  • the present invention has the following excellent effects.
  • the two sides of the mirror body are supported by the torsion beam between the two cantilever parts protruding from both sides of the board body, the end of the board body opposite the mirror part side is fixed, and the board book
  • a high-performance optical scanning device having a high-speed scanning speed of 5 kHz or more and a large amplitude optical scanning angle of 20 ° or more can be provided.
  • the mirror part can be torsionally vibrated regardless of whether the mirror part is supported at a position deviating from the center or the center of gravity.
  • the structure can be simplified and the manufacturing cost can be reduced.
  • small vibration A large vibration can be given to the mirror part by the source.
  • the power consumption of the piezoelectric film serving as the vibration source can be greatly reduced. Further, since the degree of freedom increases in the arrangement of the piezoelectric film, the optical scanning device can be reduced in size and thickness.
  • the distance between the vibration node, which is the minimum amplitude of the substrate vibration described above, and the connection portion is ⁇ 1/4 of the wavelength ( ⁇ ) of the plate wave in order to induce torsional vibration in the mirror portion.
  • connection portion between the cantilever portion 19 supporting the torsion beam portion 12 connected to the mirror portion 13 and the substrate portion is the maximum amplitude of the substrate vibration excited on the substrate body by the drive source.
  • the vibration energy generated at a position away from the mirror part can be efficiently Can be transmitted as energy that causes torsional vibration of the mirror
  • FIG. 4 is a view showing the deflection angle of the mirror part of the apparatus shown in FIG.
  • FIG. 5 is a diagram showing resonance frequencies of a substrate and a mirror part of the optical scanning device according to the present invention. 6) When the center of gravity of the mirror part is shifted in the direction perpendicular to the axis of the torsion beam part, the drive frequency approaches the resonance frequency from the low frequency side and the case where the drive frequency approaches the resonance frequency from the high frequency side. It is a figure explaining the condition where big hysteresis (history) generate
  • FIG. 7 shows various substrate shapes.
  • FIG. 9 is a plan view of an apparatus in which a substrate fixing frame is disposed so as to surround a substrate body and a cantilever portion according to the present invention.
  • FIG. 10 is a diagram for explaining the mirror swing angle when the position of the substrate connecting beam connecting the substrate and the substrate fixing frame is changed.
  • FIG. 3 is a perspective view showing Example 1 according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 A diagram showing a projection image of the operation beam of Example 1 according to the embodiment of the present invention.
  • 14 A diagram showing the ferroelectric characteristics of a PZT film manufactured by the AD method used for driving Example 1 according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 15 is a diagram showing frequency characteristics when the optical scanning device of Example 1 according to an embodiment of the present invention is used as a scanner.
  • FIG. 16 is a diagram showing the deflection angle of the scanning beam with respect to the drive voltage.
  • FIG. 17 is an operation explanatory diagram when the minimum amplitude portion of the substrate vibration is formed at a position slightly shifted from the axis of the torsion beam portion in Example 1 according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 20 shows the planar shape of each optical scanning device for explaining the result of simulating the operation of the optical scanning device according to the present invention using the finite element method (FEM).
  • FEM finite element method
  • FIG. 22 shows prior art 1, in which the upper side is a plan view and the lower side is a front sectional view.
  • FIG. 23 is a perspective view showing prior art 2.
  • FIG. 24 is a plan view showing prior art 3.
  • FIG. 12 is a perspective view of the optical scanning device according to the first embodiment.
  • the substrate 10 is made into a hollow shape by leaving a torsion beam portion 12 and a mirror portion 13 by etching or pressing a SUS304 square plate having a thickness of 30 or 50 mm.
  • the substrate 10 includes a substrate body 20 and cantilever portions 19 and 19 projecting in parallel from both sides of one side of the substrate body 20.
  • the torsion beam portion 12 that supports the mirror portion 13 is provided in a direction orthogonal to the axial direction of the two cantilever beam portions 19 and 19.
  • the fixed end 21 on the opposite side of the mirror body 13 side of the substrate body 20 is fixed by a support member 16, and the substrate 10 is supported in a cantilever manner by the support member 16.
  • a fixed end 21 is formed at the center with both sides of the substrate body 20 cut into a triangle, and the substrate 10 is Y-shaped.
  • the width of the fixed end portion 21 is preferably in the range of 1/20 to 3/4 of the width of the substrate body 20.
  • a piezoelectric film 11 is directly formed on the central portion of the substrate 10 without using an adhesive by a known mask film forming method based on the AD method invented by the inventors of the present invention.
  • the method for directly forming the piezoelectric film 11 on the substrate 10 made of, for example, lead zirconate titanate (PZT), which is a typical piezoelectric material, by the known AD method will be briefly described.
  • a lead zirconate titanate (PZT) having a particle size of about 0.5 Hm is mixed with a gas to form an aerosol, and a high-speed jet is sprayed from a nozzle onto a predetermined portion of the substrate 10 to form a film. Film formation At that time, the PZT fine particles collide with the substrate 1 to cause a large mechanical impact on the PZT fine particles, so that the fine particles are destroyed and the new surface is generated at the same time to form a dense film.
  • the piezoelectric film 11 formed in this way has ferroelectric characteristics. After the piezoelectric film 11 is formed, heat treatment is performed in the atmosphere at 600 ° C. for 10 minutes, and then the upper electrode 14 is formed on the upper surface of the piezoelectric film 11 by, for example, gold sputtering. In addition, instead of gold sputtering, the upper electrode 14 is formed subsequent to the formation of the piezoelectric film 11 by the AD method, thereby reducing the size and simplifying the structure with the force S.
  • the piezoelectric film 11 is positioned away from the connecting portion between the torsion beam portion 12 and the cantilever beam portion 19 that support the mirror portion 13, that is, a part of the substrate body 20, for example, as shown in FIG. It is formed at the center of the substrate body 20. Further, the piezoelectric film 11 is formed in the vicinity of the minimum amplitude of vibration caused by the mirror portion 13 on the substrate 10 by the piezoelectric film 11, that is, a position slightly deviated from the position of the minimum amplitude. Also, to match the vibration modes of the torsion beam parts 12 and 12 that support the mirror part 13 from both sides, for example, the drive source 11 is placed at the center of the board body 20 in the width direction (Y axis in Fig. 1). One method is to make the distance from the drive source 11 to the left and right torsion beam portions 12 and 12 the same.
  • the thickness of the substrate 10 considering the flatness of the mirror in operation and the mirror size required for application to projector devices, etc., assuming a substrate of Si or stainless steel, at least 10 ⁇ The thickness is as above.
  • the optimum thickness of the film body such as a piezoelectric film suitable for driving the optical scanning device is not more than 6 times the thickness of the substrate body 20, and the lower limit of the thickness of the film body is approximately l rn. In this case, the maximum mirror section scanning angle can be obtained with the minimum driving voltage and power consumption for the film thickness of the same area.
  • the length of the film body approximately drives the optical scanner with respect to the vibration propagation direction on the substrate in the above-described film thickness range. If the range is less than half the wavelength of the vibration determined by the resonance frequency and the sound speed of the substrate material, it can be driven efficiently. Furthermore, considering the power consumption in that range, it is desirable that the area of the piezoelectric film or the like serving as the drive source 11 is smaller than the substrate body 20. More preferably, it should be 3/4 or less of the area of the substrate body 20! /.
  • the center of gravity of the mirror portion 13 is matched with the support position of the torsion beam portion 12. Yes. For this reason, even when the drive frequency approaches the resonance frequency from the low frequency side and when the drive frequency approaches the resonance frequency, the force S is obtained to obtain good resonance characteristics without generating hysteresis.
  • the cross section of the torsion beam portion 12 that supports the mirror portion 13 is rectangular.
  • the width of the torsion beam 12 (W), the length of the torsion beam 12 (T), and the thickness of the substrate 10 (T) are within the range of W / T ⁇ 0.2 or 0.1 ⁇ T / W ⁇ 0.5 As shown, the width (W) of the torsion beam portion 12, the length (T) of the torsion beam portion 12, and the thickness (T) of the substrate 10 are set.
  • a voltage is applied to the formed upper electrode 14 and the substrate 10 as the lower electrode so that a voltage is applied from a power source 15.
  • the piezoelectric film 11 undergoes piezoelectric vibration, and this vibration generates vibration in the substrate 10.
  • This vibration generated in the substrate 10 generates a rotational moment in the mirror section 13 via the torsion beam section 12, and generates a large torsional amplitude in the resonance state.
  • the mirror part 13 when the mirror part 13 is irradiated with the laser beam 17 in a state where a voltage is applied to the substrate 10 and the upper electrode 14 that are electrodes, the mirror part 13 vibrates and vibrates.
  • the reflected laser beam 18 oscillates at a constant deflection angle ⁇ .
  • FIG. 13 shows a projected image of an actual operation beam, and no distortion or blur is observed.
  • Table 1 below shows the electrical characteristics of the capsules produced by the AD method used for driving.
  • Fig. 14 shows the ferroelectric characteristics of the PZT film fabricated by the AD method used for driving.
  • FIG. 15 shows a case where the optical scanning device manufactured as described above is used as an optical scanner.
  • the primary resonance frequency of torsional vibration was very high at 23.63 kHz, confirming that high-speed operation was possible.
  • Theoretical calculation considering only the resonance structure of the mirror part 13 is a little higher, 24.3 kHz.
  • the Q value (representing the half-value width of the resonance peak and indicating the sensitivity to frequency change), which is the figure of merit of the resonant optical scanning device, is also around 110, lower than the Si-MEM S scanner 600 or higher. It can be seen that even if the change in the resonance frequency fluctuates with the change in the environmental temperature, it is suitable for an optical scanner in which the change in the scanning width of the mirror portion is relatively small.
  • FIG. 16 shows the deflection angle of the scanning beam with respect to the drive voltage.
  • the piezoelectric constant is about twice that of the piezoelectric film formed by the AD method.
  • the deflection angle that is, the scanning angle of the scanner is less than half. This is thought to be due to the large influence of vibration absorption by the adhesive, and it was confirmed that the direct formation of the piezoelectric film by the AD method had an excellent effect.
  • FIG. 17 shows that in the apparatus shown in FIG. 12, the minimum amplitude portion Amin of the substrate vibration formed in the vicinity of the mirror portion 13 is formed at a position slightly shifted from the axis XX of the torsion beam portion 12. This is what I did.
  • both side portions 19 and 19 that support both ends of the torsion beam portion 12 have a cantilever shape, the portions that support the torsion beam portion 12 are more easily deformed, and (b) and (c) in the figure As shown in Fig. 4, it is possible to efficiently apply a rotational moment to the mirror section 13 to perform efficient driving. It becomes possible.
  • the mirror portion 13 is moved to the torsion beam portion 12 at the center of gravity as shown in the figure. Even if it is supported, a large rotational moment is applied to the mirror section 13 and the torsional vibration can be efficiently excited.
  • the distance between the vibration node, which is the minimum amplitude of vibration induced in the substrate main body or the cantilever part described above, and the connection part is determined by the cantilever in order to induce torsional vibration in the mirror part.
  • the cantilever part 19 that supports the torsion beam part 12 connected to the mirror part 13 is narrower than the substrate body, a one-dimensional vibration mode is easily induced in the longitudinal direction of the cantilever part.
  • the connection force S between the cantilever part 19 and the substrate body S, the maximum substrate vibration excited by the drive source on the substrate body It is necessary to install it near the amplitude (vibration antinode).
  • the distance between the antinode of vibration induced on the substrate body and the connection portion is large in the mirror portion when the length of the cantilever portion is shorter than the wavelength ( ⁇ ) of the vibration.
  • the vibration wavelength ( ⁇ ) is 1/6 or less to 1/8 or more!
  • the length of the cantilever is adjusted to ⁇ 1/8 or less and induced in the cantilever. The best performance can be obtained by reducing the distance between the vibration node, which is the minimum amplitude of the vibration, and the connecting part to ⁇ 1/6 or less.
  • vibration energy can be efficiently transmitted to the cantilever portion, a large rotational moment can be applied to the mirror portion 13, and torsional vibration can be efficiently excited.
  • Fig. 18 shows a confirmation example in which this was actually confirmed. This is the same as the excitation signal applied to the piezoelectric film 11. For this reason, a laser Doppler displacement meter was used to measure the vibration displacement distribution generated on the surface of the substrate when the torsional vibration of the mirror portion 13 is maximized during resonance.
  • the connecting portion between the cantilever beam portion 19 and the torsion beam portion 12 is located at the minimum amplitude portion of the substrate vibration, that is, near the node, and the vibration displacement is minimum.
  • FIG. 19 shows the calculation results for the resonance frequency and the twist angle of the mirror part in the present invention and the prior art 3.
  • the model used for this calculation is as follows. Board material: SUS304
  • Thickness of piezoelectric film (PZT4) as drive source 10 m
  • Width of torsion beam 50 111
  • the size of the mirror part, the length and width of the torsion beam part, the thickness of the substrate, the material, the area and thickness of the piezoelectric film are the same, Change only the shape of the board body and the length of the support (the width of the fixed end of the board body)!
  • the size of the drive source (PZT) is 2111111 2111111 10 111 (thickness)
  • the thickness of the substrate (SUS304) is 50 m
  • the size of the mirror is lmm X lmm, and only half of it is modeled using symmetry. Yes.
  • Fig. 20 (a) shows a model (Cut model) in which the width of the fixed end is lmm and part of it is cut diagonally from side to side toward the mirror.
  • Fig. 20 (c) shows the length of the board (fixed) in the basic model of Fig. 20 (a).
  • FIG. 21 compares the torsional resonance frequency and scanning angle of the mirror in the three models shown in FIGS. 20 (a), (b), and (c).
  • the resonance frequency is From 7100Hz to 7160Hz, the scan angle is almost unchanged.
  • the length of the substrate body (the length from the fixed end to the cantilever base), in particular, the distance between the drive source and the fixed end changes, so that the resonance frequency And the scanning angle changes.
  • the resonance frequency becomes 1mm when the fixed end width is lmm.
  • the resonance frequency increases to 7180 Hz force, etc., and 7250 Hz, and the scanning angle is 22.5. To 20. Slightly decreased.
  • the resonance frequency is decreased from 7270 Hzk to 7150 Hz, and the scanning angle and 18 ° force are both reduced to 15 °.
  • another resonance point appears at a frequency lower than 7000 Hz on the lower frequency side.
  • the resonance frequency and scanning angle of the mirror part of the optical scanning device according to the present invention are determined only by the panel constants of the mirror part and the torsion beam part that supports the mirror part from both sides. It shows that it is determined by the sheath shape and the width of the fixed end.
  • the optical scanning device according to the present invention has a conventionally known mirror section and a torsion beam that supports the mirror section. It is shown that the principle is different from the optical scanning device using the resonance principle constituted by In general, in an optical scanning device using a resonance structure, in order to finely adjust the resonance frequency, or to suppress variations during mass production, the factors causing changes in the resonance frequency and scanning angle due to differences in the length and shape of the substrate are described above. Accurate grasp is very important and effective in designing a practical optical scanning device.
  • the abdomen and nodes of the two-dimensional vibration formed by the drive source on the substrate body on which the drive source is formed due to the difference in the length of the substrate body and the length of the support portion (width of the fixed end), the abdomen and nodes of the two-dimensional vibration formed by the drive source on the substrate body on which the drive source is formed.
  • the formation position of the part changes, and this greatly affects the scanning angle of the mirror part in the resonance state.
  • a large scanning angle can be obtained when the substrate and the connecting part of the cantilever part that supports the torsion beam part that supports the mirror part from both sides are in the vicinity of the abdomen of this vibration.

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Description

明 細 書
光走査装置
技術分野
[0001] 本発明は、光ビームの走査によりスキャンを行う光スキャナに関し、特に捻れ梁(ト ーシヨンバー)に支持された微小なミラーを揺動させて光ビームを偏光させる構成の 光走査装置に関するものである。
背景技術
[0002] 近年におけるレーザ光等の光ビームを走査する光スキャナは、バーコードリーダ、 レーザープリンタ、ヘッドマウントディスプレー等の光学機器、あるいは赤外線カメラ 等入力デバイスの光取り入れ装置として用いられてレ、る。この種の光スキャナとして、 シリコンマイクロマシユング技術を利用した微小ミラーを揺動させる構成のものが提案 されている。例えば、図 22は、特開平 11 52278号公報(特許文献 1)に開示され たシリコンマイクロミラーを有する光スキャナを示している(以下「従来技術 1」という。 ) 。この光スキャナはシリコンマイクロマシユング技術を用いて作製され全体サイズは数 ミリ角に形成される。支持基板 1は矩形の厚板で形成され、その中央部分には凹部 1 aが形成され、この凹部 la内にシリコン薄板で形成されたミラー 2が内装支持されて いる。このミラー 2には一体的に形成された 2本のトーシヨンバー 3a、 3bが両端方向 に突出されており、これらトーシヨンバー 3a、 3bの先端部は前記支持基板 1に固定さ れ、それぞれパッド 4a、 4bに接続されている。これにより、前記ミラー 2は、トーシヨン バー 3a、 3bの捻れにより、ミラーの平面方向と垂直な方向に揺動することが可能とさ れている。そして、前記ミラー 2の少なくとも周辺領域あるいは表面には不純物イオン の打ち込みや拡散が行われ、あるいは、アルミニウムや銀あるいは導電性を有する有 機薄膜などが被着されており、これらの領域が導電性を有する電極部 5として構成さ れている。
[0003] 一方、前記支持基板 1は、前記凹部 l aを挟む両側位置の表面上に、絶縁体 6を介 してそれぞれ固定電極 7a、 7bが配置されている。これらの固定電極 7a、 7bは半導 体あるいは有機材料からなる導電性材料で形成されており、かつそれぞれの内側縁 部は前記ミラー 2の両側縁の電極部 5に近接配置され、これら電極部 5と前記各固定 電極 7a、 7bとの間でコンデンサが形成されている。
一方の固定電極 7aのパッド 8aと、トーシヨンバー 3a、 3bのノ ッド 4a、 4bとの間に所 定の電圧を印加すると、これらパッド 4a、 4bにつながるミラー電極部 5に電圧が印加 され、固定電極 7aとミラー電極部 5の表面にお互いに逆の極性の電荷が蓄積してコ ンデンサが構成され、固定電極 7aとミラー電極部 5との間に静電引力が働き、ミラー 2 は回転が開始される。次に、ミラー 2が元の位置に復帰された後は、今度は反対側の 固定電極 7bとミラー電極部 5との間に電圧を印加することにより、今度は、回転方向 は逆であるがミラー 2が回転される。このような動作を繰り返して行うことにより、ミラー 2 は版と警報光及び時計方向のそれぞれの最大回転位置にまで回転する動作を繰り 返す揺動動作が行われることになる。
[0004] また、シリコンマイクロマシユング技術を利用した微小ミラーを揺動させるための光ス キヤナとして特開平 10— 197819号公報(特許文献 2)に記載のものが知られている (以下「従来技術 2」という。)。
この光スキャナは、図 23に示すように、光を反射するための板状のマイクロミラー 1 と、一直線上に位置してマイクロミラー 1の両側を支持する一対の回転支持体 2と、一 対の回転支持体 2が接続され、ミラー 1の周辺を囲う枠部 3と、枠部 3に並進運動を加 える圧電素子 4とを備え、かつ、一対の回転支持体 2を結ぶ直線上以外の場所にミラ 一 1の重心を位置させた構成となって!/、る。
圧電素子 4に電圧を加えると、圧電素子 4は伸縮を行い、 Z軸方向に振動し、この振 動は枠部 3に伝達される。マイクロミラー 1は、駆動された枠部 3に対して相対運動を 起こし、 Z軸方向の振動成分がマイクロミラー 1に伝えられると、マイクロミラー 1は X軸 回転支持体 2で成す軸線に対して左右非対称の質量成分を持つので、 X軸回転支 持体 2を中心にマイクロミラー 1に回転モーメントが生じる。このようにして、圧電素子 4 によって枠部 3に加えられた並進運動は、マイクロミラー 1の X軸回転支持体 2を中心 とした回転運動に変換される。
[0005] また、図 24に示すように、振動子 1において可動部 2の両側からはり部 3、 3が互い に反対方向にのび、固定部 6の 2つの腕部 4、 4につながっており、固定部 6の腕部 4 、 4にはそれぞれ圧電薄膜 5、 5が設けられ、これらの圧電薄膜 5、 5は高次振動周波 数を含む同じ信号により駆動されるようにした光走査装置が特開平 10— 104543号 公報 (特許文献 3参照。以下「従来技術 3」という。)に記載されている。
特許文献 1:特開平 11 52278号公報
特許文献 2:特開平 10— 197819号公報
特許文献 3:特開平 10— 104543号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0006] 上記した従来技術 1の光スキャナでは、シリコンマイクロマシユング技術を用いて数 ミリ角に作製されるものであり、ミラー 2の少なくとも周辺領域あるいは表面に電極部 5 を形成するとともにトーシヨンバー 3a、 3bにパッド 4a、 4bを設け、さらに、支持基板 1 の両側位置の表面上に絶縁体 6を介してそれぞれ固定電極 7a、 7b及びパッド 8a、 8 bを配置する必要があった。
このように、ミラー 2の少なくとも周辺領域あるいは表面に電極部 5を、また、トーショ ンバー 3a、 3bにノ ッド 4a、 4bを、さらに、支持基板 1の両側位置の表面上に絶縁体 6を介してそれぞれ固定電極 7a、 7b及びパッド 8a、 8bを、形成するため、構造が複 雑になり、故障発生の要因が増加するだけでなぐ製造に時間がかかり、コストアップ につながるという問題があった。
[0007] また、上記した従来技術 2の光スキャナでは、圧電素子 4によって枠部 3に加えられ る並進運動をマイクロミラー 1の X軸回転支持体 2を中心とした回転運動に変換する 構造であるため、マイクロミラー 1の重心位置を捻れ梁に対してずらす必要があった。 また、装置が X— Y軸方向だけでなく Z軸方向にも厚みが必要であり、薄型化が困 難であった。
[0008] また、上記した従来技術 3の光走査装置では、可動部 2の振れ角が大きくとれない という欠点があった。
すなわち、フレーム部から出た 2本の捻じれ梁を支持する 2本の幅の細い片持ち梁 部分に圧電膜を形成すると、この部分の剛性が増加し、圧電膜に誘起された振動が 、効率よく捻り梁部に伝達されず、結果、ミラーの捻じれ振動が小さくなる。また、 2つ の片持ち梁部とその上に形成される圧電膜とで構成される振動源部分の振動特性を 正確に一致させないと、ミラーの捻じれ振動の振動振幅が抑制されるのと同時に、捻 じれ振動以外の振動モードが重畳し、正確なレーザービームの走査が実現できなレ、 。さらに、ミラーの駆動力を増加させるため圧電膜部分の面積を大きくするには、上 記片持ち梁部の幅を大きくする必要が有り、このため同片持ち梁部に 2次元的な不 要の振動モードを発生させ、ミラーの捻じれ振動の振動振幅が抑制されるのと同時 に、捻じれ振動以外の振動モードが重畳し、正確なレーザービームの走査が実現で きないなどの問題がある。また、上記片持ち梁の幅が細く制限されるため、この部位 に形成された圧電膜を駆動するための上部電極の形成は、幅が細レ、ため容易でなく 、量産時の歩留まりに大きく影響するなどの問題点がつた。
[0009] 図 25は、従来技術 3の場合と同様のもので、フレーム部から出た 2本の捻じれ梁を 支持する 2本の幅の細い片持ち梁部分に圧電膜を形成する構成となっており、ミラー 部走査角度の駆動効率をシミュレーション計算により調べたものである。 y=0の面を 対称面とし,半分のみモデル化した。
図 26に、図 25に示すフレーム部から出た 2本の捻じれ梁を支持する 2本の幅の細 い片持ち梁部分に圧電膜を形成する構成のミラーの振れ角を示す。駆動電圧は IV とし、圧電体の電気特性は、典型的なパラメータである PZT— 5Aの特性、スキャナ 一フレーム本体の材質は SUS304の特性を用いた。ミラー部の振れ角は、 0. 63度 であった。
[0010] 本発明は、ミラー部を支持する捻れ梁部を有する基板にエアロゾルデポジション法
(以下、「AD法」と略す場合がある。)、スパッタリング法あるいはゾル—ゲル法等の薄 膜形成技術を用いて圧電膜ァクチユエータを形成し、基板の振動を利用してミラー 部に捻れ振動を生じさせることにより、簡単な構造で効率的にミラー部に捻れ振動を 発生することができる光走査装置を提供することを目的とするものである。
課題を解決するための手段
[0011] 上記目的を達成するための本発明のミラー部における捻れ振動の発生原理および 装置の基本的事項について図を参照しながら以下に説明する。
〔ミラー部における捻れ振動の発生原理〕 本発明の光走査装置の基本構成は、図 1に示すとおり、基板本体 20と基板本体の 両側部から突出した 2つの片持ち梁部 19、 19からなる基板 10と、片持ち梁部 19、 1 9間にミラー部 13を両側から支持するように設けられた捻れ梁部 12、 12と、基板本 体 20に設けられた圧電膜等からなる駆動源 11と、基板本体のミラー部 13側と反対 側の固定端部 21を固定する支持部材 16とからなっている。ミラー部 13を支持する捻 れ梁部 12は、片持ち梁部 19の軸方向に対し垂直方向(X軸方向)に設けられている
〇
図 2に示すように、駆動源 11である圧電膜に電圧を印加すると、圧電膜直下の基 板本体 20は圧電膜と一緒に曲げたわみを生じ、基板本体 20に振動を発生する。す なわち、図 2 (a)に示すように圧電膜側にプラスの電圧を印加すると圧電膜は延び、 逆に図 2 (b)に示すように圧電膜側にマイナスの電圧を印加すると圧電膜は縮み、基 板 10に振動を発生する。
この時、基板本体 20上に発生された振動は、基板本体 20から片持ち梁部 19を伝 搬し、図 1に示す捻れ梁部 12で支持された水平状態にあるミラー部 13に回転モーメ ントを与える力を作用させることができ、捻れ振動を誘起する。
〔駆動源の配置〕
従来技術 3において説明したように、駆動源 11をミラー部 13に近い捻れ梁部 12及 び片持ち梁部 19に設けた場合、大きな捻れ角度でミラー部 13を振動させることはで きない。
これに対して、本発明では、振動源 11である圧電膜を基板本体 20に 1つ形成する ことにより、 2つの片持ち梁部 19、 19の剛性を下げ、効率よくミラー部 13の捻じれ振 動を誘起すると同時に、ミラー部 13を駆動する駆動源 11を 1つにすることで、上記、 駆動源 11の不均等などに起因する不要な振動モードの誘起ならびに振幅低下の問 題を解消する。また、このように駆動源 11となる圧電膜形成部分と、ミラー部 13なら びにミラー部 13を支持する捻れ梁部 12から構成されるミラー捻れ振動部を上記 2つ の片持ち梁部 19、 19で分離することにより、駆動源 11の圧電膜の面積を片持ち梁 部 19の幅に関係なく自由に設定でき、ミラー捻れ振動部により効率的に大きな駆動 力を投入することが可能となり、さらに、圧電膜駆動用の電極形成も容易になり、工業 的生産における歩留まりを向上することが可能となる。
図 3は、本発明に係る振動源 11である圧電膜を基板本体 20に 1つ形成する構成の 光走査装置を、 y=0の面を対称面とし,半分のみモデル化した平面図である。光走 查装置の基本構成となるミラー部 13の寸法やねじれ梁 12の寸法、捻れ梁 12のミラ 一部 13への取り付け位置 (ミラー部の重心位置)、基板 10の形状ならびにその支持 方法、さらに圧電体の厚みや膜面積の合計値は、図 19に示した従来技術 3と同じに してある。違いは、駆動源 11である圧電膜の形成位置だけである。
図 4に、図 3に示す装置のミラー部 13の振れ角を示す。駆動電圧は IVとし、圧電体 の電気特性は、典型的なパラメータである PZT— 5Aの特性、スキャナーフレーム本 体の材質は SUS304の特性を用いた。基本的に、図 25に示す従来技術 3と図 3に 示す本発明の共振周波数はほぼ同じだが、ミラー部 13の振れ角は、従来技術 3のも のでは 0. 63度であるのに対し、図 3に示す本発明によるものでは 2. 69度 (30V換算 で 80.7度)と、 4. 3倍程度大きく振れることが確認された。
尚、ミラーの走査振幅を大きくするために、基板に配置される振動源を複数もう於け ることも可能である力 この場合、振動源の特性や取り付け位置、接着、成膜による取 り付け状態のバラツキのため、基板部にミラー部を支持する捻れ梁に垂直方向の対 称軸に対し非対称な 2次元振動が誘起され易くなり、ミラーの捻れ振動による光ビー ムの走査精度は低下する。これに対し本発明では、振動源が一つでも効率よくミラー 部に捻れ振動を誘起し、光ビームの走査ジッターの低減と製品のバラツキを大幅に 才卬えること力 Sできる。
また、一定の駆動電圧下でミラー部 13の捻れ角度の最大振幅を得るためには、ミラ 一部 13に対する駆動源 11の配置が重要である。ミラー部 13を支持する捻れ梁部 12 と片持ち梁部 19の接続位置から離れた位置、すなわち、基板本体 20の一部、例え ば基板本体 20の中央部に駆動源 11を配置すると大きな捻れ角度でミラー部 13を振 動させること力 Sでさる。
さらに、ミラー部 13を支持する捻れ梁部 12と片持ち梁部 19の接続位置から離れた 位置に駆動源 11を設けて振動を発生する場合、ミラー部 13を支持している捻れ梁 部 12と片持ち梁部 19の接続箇所の近傍において基板振動の最小振幅 (振動の節) が得られる様に配置する。
また、片持ち梁部 19と基板本体 20の接続部が、駆動源 11により基板本体 20に励 起される基板振動の最大振幅の近傍に位置するように設定するとより大きな捻れ角 度でミラー部 13を振動させることができる。
なお、ミラー部 13を両側から支持する捻れ梁部 12、 12の振動モードを一致させる には、例えば、駆動源 11を基板本体 20の幅方向の中心(図 1の Y軸)に配置し、駆 動源 11から左右の捻れ梁部 12、 12までの距離を同じくするのも 1つの手法である。
[0014] 〔共振周波数〕
図 1に示す本発明のようなミラー部 13から離れた位置で発生させた振動エネルギ 一を効率よくミラー部 13の捻り振動になるエネルギーとして伝達するには、主にミラー 部 13の重量と捻り梁 12のバネ定数で決定されるミラー部 13の共振周波数 (fm)と基 板 10自体の分割振動モードも含めた共振周波数 (fb)とを大きくずらす必要が有る。 ミラー部 13の捻れ振動の共振周波数 (fm)に合うように光走査装置の駆動源 11を駆 動したとき、基板 10にも共振モードが誘起されると、駆動源 11で発生された振動ェ ネルギ一は、エネルギー保存則からミラー部 13の捻れ振動と基板 10の 2次元分割振 動に分配されることになる。従って、基板 10の 2次元分割振動に駆動源 11からの振 動エネルギーが消費された分だけ、ミラー部 13の捻れ振動の振幅 (捻れ角度)は小 さくなり、効率よく光走査装置を駆動することができない。
また、基板 10に不要な 2次元分割振動が誘起されると、その先端に位置するミラー 部 13にも捻れ梁 12を回転軸とする純粋なねじれ振動以外の振動モードが重畳され る場合もあり、直進走査性にすぐれた高精度の光走査を実現することができない。こ れに対して、本発明では、図 5に示すようにミラー部に誘起される高次まで含む捻れ 共振周波数 a (fm (n) : n = 0, 1 , 2, · · · · )がフレーム部に誘起される高次まで含む 共振周波数 b (fb (n) : n = 0, 1 , 2, · · · · )と重ならないように設計される。
[0015] 〔駆動源となる圧電膜等の膜体の厚み及び面積〕
ミラー部 13を振動させる駆動源 11となる圧電膜等の膜体の厚みと、大きさは、基板 本体 20の厚みと大きさに応じて最適なサイズを取る必要がある。
光走査装置の使用条件を考えると、駆動電圧 (圧電膜印加電圧)一定のもとでは、 膜体の厚さが薄くなればなるほど、大きな変位が得られることになる。実際には、特に AD法により形成された膜で金属基板上に形成した圧電膜の特性、膜厚に関して依 存性があり、薄すぎると圧電特性の低下やリーク電流の増加などの膜特性が低下し、 厚すぎると分極処理が困難になる。また、基板 10の厚みに関しては、動作中のミラー の平坦性やプロジェクターデバイスなどへの応用で要求されるミラーサイズを考慮し、 Si、ステンレス材の基板を想定すると、少なくとも 10 in以上の厚みが要求される。 以上のような点を考慮し、光走査装置の駆動に適した最適な圧電膜等の膜体の厚み は、基板本体 20の厚さの 6倍以下が適しており、膜体の厚さの下限は、おおよそ 1 mで、このとき同一面積の膜厚に対し、最小の駆動電圧、消費電力で最大のミラー部 走査角度を得ることができる。
また、駆動源 11となる圧電膜等の面積については、上記、膜厚範囲に於いて、基 板上での振動の伝搬方向に対して、膜体の長さが、おおよそ光走査装置を駆動する 共振周波数と基板材料の音速で決まる振動の 1/2波長より小さい範囲であれば効 率的に駆動できる。さらにその範囲に於いて、消費電力も考慮すると、駆動源 11の 面積は、基板本体 20と同じかあるいは、より小さいこと力 S望まれる。より好ましくは基 板本体 20の面積の 3/4以下である方がよ!/、。
〔ミラー部の重心位置〕
光走査装置のミラー部 13を支持する捻り梁 12の取り付け位置であるが、捻れ梁部 12の軸に対し垂直方向のミラー部 13の重心位置からずれた場合、図 6に示すように 梁の軸(X軸)を中心とする捻れ共振モードとミラー部 13の重心位置 (Xm)を中心と する捻れ共振モードの 2つの共振 fl、 f 2が存在する。このときに二つの共振周波数 f 1、 f2の差はわずかで、駆動周波数が低周波数側から共振周波数に近づくときと、高 周波側から共振周波数に近づく場合で、共振周波数近傍でのミラーの捻れ振動の 角度の振幅(光走査角度)は同一にならず、大きなヒステリシス(履歴)が発生する。こ のヒステリシスは実用上大きな問題になる。例えば、環境温度の変動などにより光ス キヤナ一の機械定数が変化し、これに応じて共振周波数が変化、光走査角度が変動 する場合が考えられる力 この様な変動は、通常、圧電膜 11に印加する駆動周波数 を変化させ補償制御するが、上述のようなヒステリシスが存在すると、その非線形性の ために非常に複雑な制御が必要となり、実用的でない。これに対して、ミラー部 13の 重心位置と、捻り梁の支持位置を一致させると、上述したようなヒステリシスは現れず 、良好な共振特性を得ることができる。
[0017] 〔捻れ梁部の断面〕
ミラー部 13を支持する捻れ梁部 12の断面は、理想的には軸対象な円形であること が好ましいが、実際の加工では板材から形成されるので、有限の幅を持ち、その断 面は矩形状である。このため、梁の幅 (W)が大きくなりすぎると、僅かな加工誤差な どに於いて、梁の幅 (W)内で共振時の捻れ梁部 12の軸の位置が移動するなどの現 象を起こし、先述したような共振周波数近傍での駆動周波数に対し、捻れ角度の振 幅(光走査角度)にヒステリシス現象を生じ駆動制御を困難にする。この様な問題を 解決するためには、捻れ梁部の幅についてもある幅以下にする必要がある。実験的 には、捻れ梁部の長さ (T )、基板厚み (T )に対し、 W/T≤0. 4または 0· 05≤T /W≤2の範囲にあることが必要で、 W/T≤0. 2または 0. 1≤T /W≤0. 5の範 囲にあることが好ましい。
[0018] 〔圧電膜の形成方法〕
圧電膜の形成方法につ!/、ては、エアロゾルデポジション法を用いて形成すれば、 低温高速プロセスのため、容易に短時間で数ミクロン以上の厚膜を金属基板上など に直接形成できる力 これに限ったものでなぐ例えば、 Si基板など耐熱温度のある 材料を利用すれば、スパッター法や CVD法、ゾルーゲル法などの従来の薄膜技術 を用いて、ェピタキシャル成長した高性能の圧電薄膜を形成することも可能で、より 微小の光走査装置を構成する場合などに有用である。
[0019] 〔基板の支持〕
基板 10は基板本体 20のミラー部 13側と反対側の固定端部 21を支持部材 16で片 持ち状態で固定 ·支持した方カ ラ一部 13の捻れ振幅を大きくすることができる。 そ の際、支持部材 16で固定する固定端部 21の幅は基板本体 20の幅の 1/20〜3/ 4の範囲が適している。より好ましくは基板本体 20の幅の 1/10〜1/2の範囲であ る方がよい。
基板本体 20のミラー部 13側と反対側にある固定端部 21の幅が基板本体 20の幅よ り狭くして支持部材 16により片持ち状態で固定 ·支持した方が駆動源 11によって基 板本体 20に振動をより効率的に発生させることができ、ミラー部 13の捻れ振幅を大 さくすること力でさる。
ミラー部 13の捻れ角度は, 固定端部 21の幅が狭いほど大きくなる傾向が確認され ている。その際、支持部材 16で固定する固定端部 21の幅は基板本体 20の幅の 1/ 20〜3/4の範囲が適している。基板本体 20の幅の 1/20以下になると、実用的な 面で狭くしすぎであり、固定が不安定になり実用的でない。
図 7は、種々の基板形状を示したものである。
例えば、図 7 (a)は固定端部 21が基板本体 20の幅と同じ場合であり、この場合、ミ ラー部 13の捻れ角度は 35° である。一方、図の(b) (c) (d)に示すような固定端部 2 1の全体の幅が基板本体 20の幅より狭い場合は、同じ駆動電圧で、ミラー部 13の捻 れ角度が 40° 以上の高いものを得ることができた。
また、固定端部 21の全体の幅だけではなぐこの形状も重要であることも分かった。 例えば、図 7 (b)に示す基板本体 20の固定端部 21近傍に左右から矩形の切り込 みを入れて固定端部 21の幅を小さくした場合(「ェ型形状」という。)、捻れ角度は 46 ° であった。図 7 (c)に示す基板本体 20の固定端部 21近傍に左右から三角形の切 り込みを入れて固定端部 21の幅を小さくした場合(「Y型形状」という)、捻れ角度は 5 4° であり、駆動源 11によって基板本体 20の振動をより効率的に発生させ、ミラー部 13の捻れ振幅を大きくできることができる。その際、固定端部 21の全体の幅を基板 本体 20の幅の 1/8〜1/2とするのがよい。
また、固定端部 21の一部を基板本体 20の中央部に配置することが、大きな捻れ角 度でミラー部 13を振動させることができる。例えば、図 7 (e)に示す固定端部 21の一 部の位置が基板本体 20の中央に位置しない場合、ミラー部 13の捻れ角度が 43° であった。しかし、図 7 (d)に示す固定端部 21の一部が基板本体 20の中央の位置に もある場合(「眼鏡フレーム形状」という。)、ミラー部 13の捻れ角度は 54° であった。 一方、固定端部 21が基板本体 20の幅と同一である場合でも、基板本体 20の固定 端部 21を固定する支持部材 16による支持形態を変えることで、光走査装置の固定 安定性をより高めるためことができる。 図 8は、 3つの支持形態の例を示したものである。
図 8 (a)は、基板本体 20の一側全面を支持部材 16により支持した例であり、この場 合、ミラー部 13の捻れ角度が 45° であった。
図 8 (b)は、基板本体 20の一側全面及びそれに続く両側も支持部材 16により支持 した例であり、この場合、ミラー部の捻れ角度が 43° であった。駆動源 1 1によって基 板本体 20に発生される振動は、基板本体 20のミラー部 13側と反対側においてその 両側部分ではあまり大きくないので(図 12参照)、固定端部 21の両側部分を支持部 材 16で固定してもミラー部 13の捻れ振幅にはほとんど影響がない。図 8 (b)の場合、 基板 10を固定する長さが長くなるので、実用的に光走査装置の固定安定性をより高 めるためことができる。その際、平面内で、支持部材 16の開口する三角形の角度 Θ を 30° 〜300° の範囲にするのがよい。
また、基板 10を支持部 16に固定する手段として基板本体 20を上下で挟み込むと 安定した固定が可能となる力 この挟み込み部が平面の場合は、基板本体の固定端 部に均等な接触圧力 Sかからず、不要な共鳴が発生し十分な固定ができない場合が ある。そこで、挟み込み部の断面形状を図 8 (c)に示すように曲面状にしておくと、基 板本体部 20の固定端部近傍にわずかに曲げ張力が作用することで、基板本体部 2 0と支持部 16との接触面に均一の圧力が加わり押さえられることで、より安定した固 定が可能となる。実験では、挟み込み部が平面の場合は、ミラー部 13の捻れ角度が 30° であったものが、図 8 (c)の曲面形状をとつた場合、共振周波数は安定化し、ミ ラー部 13の捻れ角度も 54° まで増加させることができた。
なお、挟み込み部の断面形状は、上記の曲線形状だけでなぐ基板本体部をわず かに折り曲げるような三角形状でもよレ、。
本発明による光走査装置は、基本構造として、図 1に示す基板本体 20がミラー部 1 3と反対側で、支持部材 16に片持ち支持された構造になっており、このため光走査 装置の全体に上下の外乱振動が加わると、光走査装置全体が振動し、ミラー部 13で 反射、走査される光ビームは、この振動の影響を受け不安定に振動し、正確な光走 查が保証できない問題点があった。従って、携帯機器などでの実用的な応用を想定 すると、この光走査装置全体が片持ち構造で不安定なことを改善する必要が有る。 そこで、本発明では、図 9に示すように、片持ち支持されている光走査装置全体を 囲むように配置された剛性の高い基板固定フレーム 22に、幅の細い基板接続用梁 2 3で、光走査装置を固定端部 21から離れた位置でも固定する。
このとき、基板接続用梁 23の固定位置によって光走査装置自体の共振状態が変 化し、ミラー部 13の走査角度や共振周波数が影響を受ける。
[0022] 図 10、図 11は、この様子を調べたもので、図 10 aに示すように、ミラー部 13が捻 り共振して!/、る時に振動の腹に近!/、振動振幅が大き!/、片持ち梁部 12の付け根で、 基板接続用梁 23により光走査装置を固定すると、ミラー部 13の走査振幅は、固定さ れていない場合の約 53° の走査振幅に対し、約 17° と大幅に低下する。これは、光 走査装置の外縁部で振動振幅の大きな箇所を固定し、その振動を抑制すると、光走 查装置基板 10全体の振動モードを変化させ、結果、ミラー部 13の捻れ振動に効率 よくエネルギーを伝えられなくなるためである。
これに対して、図 11で示す基板接続用梁 23で接続されていない状況で、ミラー部 13が捻り共振して!/、る時に、光走査装置基板 10の縁部分(図 11の符号 24で示され た箇所)の Z軸方向の振動振幅が最小となる節 25近傍の箇所で、図 10— dに示すよ うに基板接続用梁 23で接続固定した場合は、ミラー部 13の走査振幅は、約 55° と 基板固定フレーム 22に固定しない場合よりもむしろ若干大きな走査振幅となる。この 場合は、光走査装置基板 10全体の振動モードを変化させないので、固定していな い場合とほぼ等価な共振状態を維持でき、基板接続用梁 23による光走査装置基板 10固定のミラー部 13の走査振幅への影響は、最小となる。
従って、光走査装置の外縁部で、ミラー共振時に振動の節あるいは、振動振幅が 最も小さく、かつなるベく光走査装置支持部材 16から遠い箇所で、基板接続用梁 23 により光走査装置を固定すると、ミラー部 13の走査振幅を減衰させることなぐ光走 查装置を外乱振動に対し安定に支持することができる。
[0023] 以上の本発明による光走査装置の光ビームの走査ジッタと走査ゥォブル (ビーム走 查速度の安定性)を、エーエルティー株式会社製: MEMSスキャナ計測システム [A LT 9A44]で評価したところ、従来のシリコン製 MEMS光スキャナー(日本信号製 )が走査ジッタが、 Jp_p : 0.2〜0.3%であるのに対し、本発明の光走査装置は、金属材 料で構成されているにもかかわらず、走査共振周波数 6kHz、 16kHz, 24kHzに対 し、 Jp_p : 0.06%以下と一桁小さぐ従来ポリゴンミラー方式に相当する高精度な光ビ ーム走査を実現できている。また、従来ポリゴンミラー方式では、走査ゥォブル力 Wp -p : 30〜40秒程度有り、 f Θレンズなどで補正をかけ、値を 1桁下げる必要が有る 1S 本発明による光走査装置では、走査ゥォブルが、 Wp-p : 5秒以下と、一桁低い 値となっており、補正レンズ系なしで高安定なビーム走査速度を実現できており、小 型、低コスト化を容易に可能とする。以上の測定結果から、本発明による光走査装置 は、レーザプリンターなどに使用できる高い光ビーム走査精度が得られていることが 明らかである。
本発明は、上記の知見に基づいて成されたもので、その要旨とするところは次のと おりである。
(1)本発明の光走査装置は、基板本体と、基板本体の一側の両側部から突出する 2 つの片持ち梁部と、これら片持ち梁部間に捻れ梁部により両側を支持されるミラー部 と、基板本体を振動させる駆動源と、ミラー部に光を投射する光源とを備え、ミラー部 は駆動源によって基板に加えられる振動に応じて共振振動し光源からミラー部に投 射される光の反射光の方向がミラー部の振動に応じて変化する光走査装置において 、基板本体のミラー部側と反対側の固定端部を支持部材に固定するとともに、基板 本体の一部に駆動源を設けることを特徴としている。
(2)また、本発明の光走査装置は、上記(1)において、基板本体の固定端部の幅を 基板本体の幅の 1/20〜3/4の範囲とすることを特徴としている。
(3)また、本発明の光走査装置は、上記(1)又は(2)において、基板本体の固定端 部を少なくとも基板本体の幅方向の中央部を残して形成することを特徴としている。
(4)また、本発明の光走査装置は、上記(1)乃至(3)において、基板本体の固定端 部を上下から挟み込んで固定するとともに、固定端部の断面形状を曲面状あるいは 折り曲げ状にすることを特徴として!/、る。
(5)また、本発明の光走査装置は、上記(1)乃至 (4)において、駆動源を、圧電膜、 磁歪膜または永久磁石膜力 なる膜体を直接基板上に形成することにより構成し、 膜体の厚さを基板の厚さの 6倍以下とすることを特徴としている。 (6)また、本発明の光走査装置は、上記(1)乃至(5)のいずれかにおいて、膜体の 面積を基板本体の面積の 3/4以下とすることを特徴としている。
(7)また、本発明の光走査装置は、上記(1)乃至(6)のいずれかにおいて、ミラー部 を支持している捻れ梁部と片持ち梁部の接続部は、駆動源により基板本体に励起さ れる基板振動の最小振幅 (振動の節)の近傍に設けられることを特徴として!/、る。
(8)また、本発明の光走査装置は、上記(1)乃至(7)のいずれかにおいて、片持ち 梁部と基板本体の接続部が、駆動源により基板本体に励起される基板振動の最大 振幅 (振動の腹)の近傍に位置するように設定されることを特徴としている。
(9)また、本発明の光走査装置は、上記(1)乃至(8)のいずれかにおいて、ミラー部 の重量と捻り梁のパネ定数で決定されるミラー部の共振周波数と基板の共振周波数 とを大きくずらすことを特徴としてレ、る。
(10)また、本発明の光走査装置は、上記(1)乃至(9)のいずれかにおいて、基板本 体及び片持ち梁部を囲むように基板固定フレームを配置して基板本体の固定端部 側で固定するとともに、基板本体と基板固定フレームとを支持部材から離れた位置で 、かつ、基板振動の最小振幅の近傍において基板接続用梁で接続することを特徴と している。 上記の特徴を有する本発明は、ミラー部を支持する基板に駆動源によって誘起さ れた振動を発生させ、この振動によりミラー部に回転モーメントを生じさせ、共振現象 を利用してミラー部に大きな捻れ振幅を発生させるものである。
発明の効果
本発明は、以下のような優れた効果を奏する。
(1)基板本体の両側部から突出した 2つの片持ち梁部間に捻れ梁部によりミラー部 の両側を支持し、基板本体のミラー部側と反対側の端部を固定するとともに、基板本 体の一部に駆動源を設けることにより、 5kHz以上の高速走査速度及び 20° 以上の 大振幅光学走査角を有する高性能な光走査装置を提供できる。また、ミラー部を、重 心及び重心から外れた位置のどちらで支持してもミラー部の捻れ振動を可能とする。 さらにまた、構造の単純化、製造コストの低減を図ることができる。また、小型の振動 源でミラー部に大きな振動を与えることができる。さらにまた、振動源となる圧電膜の 消費電力を大幅に低減できる。また、圧電膜の配置に自由度が増すため、光走査装 置の小型、薄型化を図ることができる。
(2)基板本体のミラー部側と反対側の固定端部を基板本体の幅の 1/20〜3/4の 範囲で固定すること、固定端部の断面形状を曲面状あるいは折り曲げ状にすること、 膜体の厚さを基板の厚さの 6倍以下とすること、または、膜体の面積を基板本体の面 積の 3/4以下とすることにより、高速走査速度及び大振幅光学走査角においてより 優れた光走査装置を得ることができる。
(3)ミラー部を支持している捻れ梁部と片持ち梁部の接続部を、膜体により基板本体 に励起される基板振動の最小振幅 (振動の節)の近傍に設けることにより、ミラー部に 大きな回転モーメントを与え、捻れ振動を効率的に励振することができる。
このとき上記記載の基板振動の最小振幅である振動の節と上記接続部との近傍距 離は、ミラー部に捻じれ振動を誘起するには、板波の波長(λ )の ± 1/4以下にする ことが必要であり、また、ミラー部を支持する捻れ梁部の軸が上下に振動することによ る光学系の光路の変動を実用的なレベルで最小に抑え、大きなミラー部の捻れ振動 を得るためには、好ましくは ± 1/6以下におさえることが望ましい。さらに好ましくは ± 1/8以下におさえることが望ましい。
(4)さらに、ミラー部 13に接続されている捻れ梁部 12を支持している片持ち梁部 19 と基板部との接続部は、駆動源により基板本体に励起される基板振動の最大振幅( 振動の腹)の近傍に設けることで、片持ち梁部に効率的に振動エネルギーを伝えら れ、ミラー部に大きな回転モーメントを与え、捻れ振動を効率的に励振することができ
(5)ミラー部の重量と捻り梁のパネ定数で決定されるミラー部の共振周波数と基板の 共振周波数とを大きくずらすことにより、ミラー部から離れた位置で発生させた振動ェ ネルギーを効率よくミラー部の捻り振動になるエネルギーとして伝達することができる
〇
(6)基板本体及び片持ち梁部を囲むように基板固定フレームを配置して基板本体の 固定端部側で固定するとともに、基板本体と基板固定フレームとを支持部材力 離 れた位置で、かつ、基板振動の最小振幅の近傍において基板接続用梁で接続する ことにより、ミラー部の走査振幅を減衰させることなぐ光走査装置を外乱振動に対し 安定に支持することができる。
図面の簡単な説明
園 1]本発明の基本的事項を説明する概念図である。
園 2]本発明の振動発生原理を説明するための概念図である。
園 3]本発明に係る圧電膜を基板本体に 1つ形成する構成の光走査装置を、 y=0の 面を対称面とし,半分のみモデル化した平面図である。
園 4]図 3に示す装置のミラー部の振れ角を示す図である。
[図 5]本発明に係る光走査装置の基板及びミラー部の共振周波数を示す図である。 園 6]捻れ梁部の軸に対し垂直方向にミラー部の重心位置がずれた場合に、駆動周 波数が低周波数側から共振周波数に近づくときと、高周波側から共振周波数に近づ く場合で、大きなヒステリシス (履歴)が発生する状況を説明した図である。
[図 7]種々の基板形状を示したものである。
園 8]基板支持形態の 3つの例を示したものである。
園 9]本発明に係る基板本体及び片持ち梁部を囲むように基板固定フレームを配置 した装置の平面図である。
[図 10]基板と基板固定フレームとを接続する基板接続用梁の位置を変化させた場合 のミラー振角を説明する図である。
園 11]基板と基板固定フレームとが基板接続用梁で接続されていない状況で、ミラー 部が捻り共振している時の基板の縁部分の振動振幅の状態を説明する説明図であ 園 12]本発明の実施の形態に係る実施例 1を示す斜視図である。
園 13]本発明の実施の形態に係る実施例 1の操作ビームの投影像を示す図である。 園 14]本発明の実施の形態に係る実施例 1の駆動に用いた AD法により作製された PZT膜の強誘電特性を示す図である。
園 15]本発明の実施の形態に係る実施例 1の光走査装置をスキャナ一として用いる 場合の周波数特性を示す図である。 園 16]駆動電圧に対する走査ビームの振れ角を示す図である。
園 17]本発明の実施の形態に係る実施例 1において、基板振動の最小振幅箇所を 捻れ梁部の軸より僅かにずれた位置に形成した場合の動作説明図である。
園 18]図 11記載の光走査装置表面に誘起される振動を示すものであり、(a)は平面 図、(b)は斜視図である。
園 19]本件発明及び従来技術 3における共振周波数とミラー部の捻れ角度について の計算結果を示したものである。
[図 20]本発明による光走査装置の動作を有限要素法 (FEM)を用いて、シミュレーシ ヨンした結果を説明するための各々の光走査装置の平面形状を示したものである。 園 21]図 14に示した 3種類のモデルにおけるミラー部の捻じれ共振周波数と走査角 度を比較したものである。
[図 22]従来技術 1を示すもので、上側が平面図、下側が正面断面図である。
[図 23]従来技術 2を示す斜視図である。
[図 24]従来技術 3を示す平面図である。
[図 25]従来技術 3の場合と同様のものであって、 y=0の面を対称面とし、半分のみモ デル化した図である。
園 26]図 25に示す構成の装置のミラー部の振れ角を示したものである。
符号の説明
10 基板
11 圧電膜
12 捻れ梁部
13 ミラー部
14 上部電極
15 電源
16 支持部材
17 レーザビーム
18 レーザ光
19 片持ち梁部 21 固定端部
22 基板固定フレーム
23 基板接続用梁
24 基板の縁部分
25 基板振動の振幅最小位置
発明を実施するための最良の形態
[0028] 本発明に係る光走査装置を実施するための最良の形態を実施例に基づいて図面 を参照して以下に説明する。
実施例 1
[0029] 図 12は、実施例 1に係る光走査装置の斜視図である。
基板 10は、厚さ 30あるいは 50〃 mの SUS304の方形をした板材をエッチングある いはプレス加工により、捻れ梁部 12及びミラー部 13を残して中抜きされた形状に作 製されている。基板 10は、基板本体 20及び基板本体 20の一側の両側から平行に 張り出した片持ち梁部 19、 19からなる。ミラー部 13を支持する捻れ梁部 12は、 2本 の片持ち梁部 19、 19の軸方向に対し直交する方向に設けられている。
また、基板本体 20のミラー部 13側と反対側の固定端部 21は支持部材 16により固 定されており、基板 10が支持部材 16により片持ち状に支持される構造となっている。 本例では、基板本体 20の両側が三角形に切り取られた状態で中央部に固定端部 2 1が形成されており、基板 10が Y字形状になっている。また、固定端部 21の幅は基 板本体 20の幅の 1/20〜3/4の範囲とするのがよい。
[0030] 基板 10上の中央部には、本発明の発明者により発明された公知の AD法によるマ スク成膜法で圧電膜 11が接着剤を介さずに直接形成されている。
圧電膜 11は、例えば代表的な圧電材料であるチタン酸ジルコン酸鉛 (PZT)からな 基板 10上に公知の AD法により圧電膜 11を直接形成する手法を簡単に説明する。 粒径 0. 5 H m前後のチタン酸ジルコン酸鉛(PZT)をガスと混合してエアロゾル化し 、ノズルから高速のジェットにして基板 10上の所定の個所に吹き付け成膜する。成膜 の際、 PZT微粒子の基板 1への衝突によって PZT微粒子に大きな機械的衝撃が生 じ、 ΡΖΤ微粒子の破壊と新生表面の発生が同時に行われ、緻密な膜が形成される。 このようにして形成される圧電膜 11は、強誘電特性を有している。圧電膜 11の成膜 後、大気中において 600°Cで 10分間熱処理した後、圧電膜 11の上面に上部電極 1 4を、例えば、金スパッターで形成する。なお、金スパッターに代えて、 AD法により圧 電膜 11の成膜に続いて上部電極 14を形成することにより、より小型化、構造の簡素 ィ匕を図ること力 Sでさる。
[0031] 圧電膜 11は、ミラー部 13を支持する捻れ梁部 12と片持ち梁部 19との接続部から 離れた位置、すなわち、基板本体 20の一部、例えば、図 12に示すように基板本体 2 0の中央部に形成される。さらに、ミラー部 13が圧電膜 11により基板 10上に起こされ る振動の最小振幅の近傍、すなわち最小振幅の位置から僅かにずれた位置に圧電 膜 11が形成されるものである。また、ミラー部 13を両側から支持する捻れ梁部 12、 1 2の振動モードを一致させるには、例えば、駆動源 11を基板本体 20の幅方向の中 心(図 1の Y軸)に配置し、駆動源 11から左右の捻れ梁部 12、 12までの距離を同じく するのも 1つの手法である。
[0032] 基板 10の厚みに関しては、動作中のミラーの平坦性やプロジェクターデバイスなど への応用で要求されるミラーサイズを考慮し、 Si、ステンレス材の基板を想定して、少 なくとも 10 πι以上の厚みにする。光走査装置の駆動に適した最適な圧電膜等の膜 体の厚みは、基板本体 20の厚さの 6倍以下が適しており、膜体の厚さの下限は、お およそ l rnで、このとき同一面積の膜厚に対し、最小の駆動電圧、消費電力で最大 のミラー部走査角度を得ることができる。
また、駆動源 11となる圧電膜等の面積については、上記、膜厚範囲に於いて、基 板上での振動の伝搬方向に対して、膜体の長さが、おおよそ光スキャナーを駆動す る共振周波数と基板材料の音速で決まる振動の 1/2波長より小さい範囲であれば 効率的に駆動できる。さらにその範囲に於いて、消費電力も考慮すると、駆動源 11と なる圧電膜等の面積は、基板本体 20より小さいことが望まれる。より好ましくは基板本 体 20の面積の 3/4以下である方がよ!/、。
[0033] ミラー部 13の重心位置は、図 7に示すように、捻り梁部 12の支持位置を一致させて いる。このため、駆動周波数が低周波数側から共振周波数に近づくときと、高周波側 力、ら共振周波数に近づく場合でも、ヒステリシスが発生することなく良好な共振特性を 得ること力 Sでさる。
また、ミラー部 13を支持する捻れ梁部 12の断面は、矩形状である。
捻れ梁部 12の幅 (W)、捻れ梁部 12の長さ (T )、基板 10の厚み (T )とした場合、 W/T≤0.2または 0. 1≤T/W≤0.5の範囲にあるように捻れ梁部 12の幅(W) 、捻れ梁部 12の長さ(T )、基板 10の厚み (T)が設定されている。
[0034] 形成された上部電極 14と下部電極としての基板 10に、電源 15から電圧を印加で さるように酉己泉する。
基板 10及び上部電極 14に電圧を印加すると、圧電膜 11は圧電振動し、この振動 が基板 10に振動を発生させる。この基板 10に発生する振動は、捻れ梁部 12を介し てミラー部 13に回転モーメントを生じさせ、共振状態で大きな捻れ振幅を発生させる
〇
[0035] 図 12に示すように、電極である基板 10及び上部電極 14に電圧を印加した状態で ミラー部 13にレーザビーム 17を照射すると、ミラー部 13が捻れ振動するため、ミラー 部 13で反射したレーザ光 18は一定の振れ角 αで振動する。
[0036] 図 13は、実際の操作ビームの投影像を示すもので、歪みやブレは見られない。
次の表 1に、駆動に用いた AD法により作製された ΡΖΤ膜の電気特性を示す。
表 1 : ΡΖΤ膜の電気特性
Ρ e r m i t t i v i t y ( a t 1 kH z) 900~1000 d i e 1 e c t r i c 1 o s S 6 S — t a n δ (a t 1 k H z) 0. 03〜
0. 05
P i e z o e 1 e c t r i c c o n s t a n t , d 31 -90 pm/V
Figure imgf000022_0001
y o u n g s m o d u 1 u s 8 OGP a また、図 14には、駆動に用いた AD法により作製された PZT膜の強誘電特性を示 す。
図 15は、上記のようにして製作した光走査装置を光スキャナ一として用いる場合の 周波数特性を示す一例で、捻れ振動 1次の共振周波数が 23. 63kHzと非常に高く 、高速動作が可能なことが確認できた。ミラー部 13の共振構造のみを考慮した理論 計算では、少し高く 24. 3kHzになる。また、共振形光走査装置の性能指数である Q 値 (共振ピークの半値幅を表し、周波数変化に対する敏感性を示す値)も Si— MEM Sスキャナーの 600以上に比べ、 110程度と低ぐ周囲環境温度の変化に対して共 振周波数の変化が変動しても、ミラー部の走査幅の変化が比較的小さぐ光スキャナ 一に適していることが分かる。
[0038] 図 16は、駆動電圧に対する走査ビームの振れ角を示している。
厚さが 30 μ m及び 50 μ mの SUS基板上に膜厚 10の μ mの圧電膜を AD法により 直接形成した場合と、駆動源に積層ァクチユエータの接着を用いた場合とを比較し た。
AD法で形成した膜厚 10の [I mの圧電膜を用いた場合、 40Vの駆動電圧で約 20° の振れ角が得られた。これは、従来の Si— MEMSスキャナーの共振周波数を一桁 上回る性能である。
基板の厚みの違いは、ミラー部を支持する捻れ梁部のパネ定数を変化させ、共振 周波数は大きく変化するが、ミラー部の振れ角の方は、あまり影響を受けないことが 分かる。
また、 AD法で形成した圧電膜の代わりに、接着剤で接着した積層圧電ァクチユエ ータを振動源に用いた場合は、 AD法で形成した圧電膜の約 2倍の圧電定数にもか かわらず、振れ角、すなわちスキャナーの走査角度は半分以下になる。これは、接着 剤による振動の吸収の影響が大きいためと考えられ、 AD方による圧電膜の直接形 成が優れた効果を奏することが確認できた。
[0039] 図 17は、図 12に示す装置において、ミラー部 13近傍に形成される基板振動の最 小振幅箇所 Aminを、捻れ梁部 12の軸 X— Xより僅かにずれた位置に形成するよう にしたものである。
捻れ梁部 12の両端をそれぞれ支持する両側部 19、 19が片持ち梁の形状であるた め、捻れ梁部 12を支持する部分がより変形し易くなり、図の (b)及び (c)に示すように 効率的にミラー部 13に回転モーメントを与えることができ、効率的な駆動を行うことが 可能となる。
また、基板振動の最小振幅箇所 Aminを、捻れ梁部 12の軸 X— Xより僅かにずれた 位置に形成しているため、図のようにミラー部 13がその重心位置で捻れ梁部 12に支 持されたものでもミラー部 13に大きな回転モーメントを与え捻れ振動を効率的に励振 することが可能となる。このとき上記記載の基板本体あるいは片持ち梁部に誘起され ている振動の最小振幅である振動の節と上記接続部との近傍距離は、ミラー部に捻 れ振動を誘起するために片持ち梁部に誘起されて!、る振動の波長( λ )の土 1/4以 下にすることが必要であり、また、振動の節と上記接続部とがずれているために、ミラ 一部支持する捻れ梁の軸が上下に振動することによる光学系の光路の変動を実用 的なレベルで最小に抑え大きなミラー部の捻れ振動を得るためには、好ましくは ± 1 /6以下におさえることが望まし!/、。
さらに、ミラー部 13に接続されている捻れ梁部 12を支持している片持ち梁部 19が 基板本体より幅が細く片持ち梁部長手方向に 1次元的な振動モードが誘起されやす いため、基板本体に発生した 2次元的な振動を効率よく片持ち梁部に伝えるには、 片持ち梁部 19と基板本体との接続部力 S、駆動源により基板本体に励起される基板 振動の最大振幅 (振動の腹)の近傍に設けることが必要である。
このとき、上記基板本体上に誘起されている振動の腹と上記接続部との近傍距離 は、片持ち梁部の長さが、上記振動の波長(λ )より短いときは、ミラー部に大きな捻 じれ振動を誘起することと、ミラー部を支持する捻れ梁の軸が上下に振動することに よる光学系の光路の変動を実用的なレベルで最小に抑えるために、基板本体に誘 起される振動の波長( λ )の土 1/6以下から土 1/8以上にすることが好まし!/、。 また、片持ち梁部の長さが、上記振動の波長(λ )より長いときは、 ± 1/8以下にお さえ、上記片持ち梁部の長さを調整し、片持ち梁部に誘起されている振動の最小振 幅である振動の節と上記接続部との近傍距離を ± 1/6以下にすれば、最も優れた 性能が得られる。
これにより片持ち梁部に効率的に振動エネルギーを伝えられ、ミラー部 13に大きな 回転モーメントを与え、捻れ振動を効率的に励振することができる。
図 18は、これを実際に確認した確認例であり、圧電膜 11に印加する励起信号に同 期してレーザードップラー変位計で、ミラー部 13の捻れ振動が共振時に最大となると き基板表面に発生する振動変位分布を測定したものである。片持ち梁部 19と捻れ梁 部 12の接続部は、基板振動の最小振幅箇所、すなわち節近傍になっており振動変 位は最小となっている。
[0041] 図 19は、本件発明及び従来技術 3における共振周波数とミラー部の捻れ角度につ いての計算結果を示したものである。この計算に用いたモデルは次のとおりである。 基板の材質: SUS304
基板の厚さ: 50 m
駆動源の圧電膜(PZT4)の厚さ: 10 m
ミラーき |5のサイズ: lmm X 1mm
捻れ梁部の幅: 50 111
捻れ梁部の長さ: 2mm
圧電膜の面積: 4mm2
図 19から、従来技術 3のミラー部の捻れ角度は、本件発明のそれの 0. 6程度しか ないことがわかる。
[0042] 次に、本発明による光走査装置の動作を、有限要素法 (FEM)を用いて、シミュレ ーシヨンした結果を説明する。
図 20 (a) (b) (c)は、各々の光走査装置の平面形状である。これらの図に示すよう に、前記 3つの形状の光走査装置において、ミラー部の大きさ、捻れ梁部の長さと幅 、基板の厚み、材質、圧電膜の面積と厚みは同一にしてあり、基板本体の形状と支 持部の長さ(基板本体の固定端部の幅)のみを変えて!/、る。駆動源 (PZT)のサイズ は2111111 2111111 10 111 (厚さ)、基板(SUS304)の厚さは、 50 m、 ミラーきの サイズは lmm X lmmであり,対称性を用いて半分のみモデル化している。
図 20 (a)に示す基本モデル(No cutモデル)では、シミュレーション上で、基板本 体の固定端部の幅を lmm、 2mm、 6mm (固定端部全体を固定)と変化させた。 また、図 20 (b)に示すのは固定端部の幅を lmmとし、固定端部からミラー部側に 向けて左右に、その一部を斜めにカットしたモデル(Cutモデル)である。
さらに、図 20 (c)に示すのは、図 20 (a)の基本モデルにおいて基板本体の長さ(固 定端部から片持ち梁部基部までの長さ)を 2mm短くしたモデル(Shortモデル)であ このような構造の違いを与え、ミラー部の共振周波数と走査角度をシミュレーション した。
図 21は、図 20 (a) (b) (c)に示した 3種類のモデルにおけるミラー部の捻じれ共振 周波数と走査角度を比較したものである。
図 21に示すように、すべてのモデルにおいて、共振時におけるミラー部の走査角 度は、固定部の長さが短くなるほど、大きくなる傾向が確認された。このことは、高効 率で実用的な光走査装置を構成する上で、非常に重要である。また、共振周波数も 大きく変化することが確認された。
図 20 (a)の基本モデルの固定端部幅が lmmの光走査装置と、図 20 (b)の Cutモ デルの固定端部の幅 lmmの光走査装置とを比較すると、共振周波数は、 7100Hz から 7160Hzに増加し、走査角度はほとんど変わらない。
ところ力 本発明による光走査装置の構成では、基板本体の長さ(固定端部から片 持ち梁部基部までの長さ)、特に駆動源と固定端部間の距離が変わることによって、 共振周波数と走査角度が変化する。具体的に、図 20 (a)の基本モデルと図 20 (c)の Shortモデルで比較すると、基板本体の長さが 6mmから 4mmまで短くなると、固定 端部幅が lmmの場合、共振周波数は 7100Hzから 7180Hzに増加し、また、固定端 部幅が 2mmの場合も、共振周波数は 7180Hz力、ら 7250Hzに増カロし、さらに、走査 角度は、 22. 5。 から 20。 にわずかに減少する。
さらに、固定端部幅が、基板幅全体の 6mmの場合は、逆に共振周波数は、 7270 Hzkから 7150Hzに減少し、走査角度も 18° 力も 15° まで減少する。また、基板本 体長さ 4mmの Shortモデルでは、このとき、さらに低周波数側に 7000Hzより小さな 周波数にもうひとつの共振点が現れる。
以上のことは、本発明による光走査装置のミラー部の共振周波数と走査角度が、上 記ミラー部とこれを両側から支える捻じれ梁部のパネ定数だけで決まるものでなぐ基 板部の大きさや形状、さらには固定端部の幅などによって決まることを示している。こ れは、本発明による光走査装置が、従来知られるミラー部とこれを支持する捻じれ梁 で構成された共振原理を用いた光走査装置と原理上も異なることを示している。 一般に共振構造を用いた光走査装置では、共振周波数を微妙に調整、あるは、量 産時のばらつきを抑えるため、上記、基板本体長さや形状の違いによる共振周波数 や走査角度の変化の要因を正確に把握することは、実用的な光走査装置の設計に は非常に重要でかつ有効である。
また、この様な基板本体長さや支持部の長さ(固定端部の幅)の違いにより、駆動 源が形成されている基板本体に駆動源により形成される 2次元的な振動の腹部や節 部の形成位置は変化し、これが、共振状態のときにミラー部の走査角度に大きく影響 する。上記ミラー部を両側から支持する捻じれ梁部を支持する片持ち梁部の基板と 接続部が、この振動の腹部近傍になると、大きな走査角度が得られる。

Claims

請求の範囲
[1] 基板本体と、基板本体の一側の両側部から突出する 2つの片持ち梁部と、これら片 持ち梁部間に捻れ梁部により両側を支持されるミラー部と、基板本体を振動させる駆 動源と、ミラー部に光を投射する光源とを備え、ミラー部は駆動源によって基板に加 えられる振動に応じて共振振動し光源からミラー部に投射される光の反射光の方向 力 ラー部の振動に応じて変化する光走査装置において、基板本体のミラー部側と 反対側の固定端部を支持部材に固定するとともに、基板本体の一部に駆動源を設 けることを特徴とする光走査装置。
[2] 基板本体の固定端部の幅を基板本体の幅の 1/20〜3/4の範囲とすることを特 徴とする請求項 1記載の光走査装置。
[3] 基板本体の固定端部を少なくとも基板本体の幅方向の中央部を残して形成するこ とを特徴とする請求項 1又は請求項 2記載の光走査装置。
[4] 基板本体の固定端部を上下から挟み込んで固定するとともに、固定端部の断面形 状を曲面状あるいは折り曲げ状にすることを特徴とする請求項 1乃至請求項 3の!/ヽず れか 1項に記載の光走査装置。
[5] 駆動源を、圧電膜、磁歪膜または永久磁石膜力 なる膜体を直接基板上に形成す ることにより構成し、膜体の厚さを基板の厚さの 6倍以下とすることを特徴とする請求 項 1乃至請求項 4のいずれか 1項に記載の光走査装置。
[6] 膜体の面積を基板本体の面積の 3/4以下とすることを特徴とする請求項 1乃至請 求項 5のいずれか 1項に記載の光走査装置。
[7] 捻れ梁部と片持ち梁部の接続部は、駆動源により基板本体に励起される基板振 動の最小振幅の近傍に設けられることを特徴とする請求項 1乃至請求項 6のいずれ 力、 1項に記載の光走査装置。
[8] 片持ち梁部と基板本体の接続部が、駆動源により基板本体に励起される基板振 動の最大振幅の近傍に位置するように設定されることを特徴とする請求項 1乃至請求 項 7のいずれか 1項に記載の光走査装置。
[9] ミラー部の重量と捻り梁のパネ定数で決定されるミラー部の共振周波数と基板の共 振周波数とを大きくずらすことを特徴とする請求項 1乃至請求項 8のいずれか 1項に 記載の光走査装置。
基板本体及び片持ち梁部を囲むように基板固定フレームを配置して基板本体の固 定端部側で固定するとともに、基板本体と基板固定フレームとを支持部材から離れた 位置で、かつ、基板振動の最小振幅の近傍において基板接続用梁で接続することを 特徴とする請求項 1乃至請求項 9のいずれか 1項に記載の光走査装置。
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