WO2009069660A1 - Procédé de mesure sans contact de la résistivité superficielle d'un supraconducteur, appareil de mesure pour le procédé, et supraconducteur - Google Patents

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Abstract

Dans un élément piézoélectrique plat (13), muni de paires d'électrodes d'entrée et de sortie (11 et 12) sur les deux côtés, un interstice est formé pour disposer un supraconducteur (14). Pendant qu'une onde superficielle élastique générée par une tension d'entrée appliquée à la paire d'électrodes d'entrée (11) se déplace vers la paire d'électrodes de sortie (12), un champ électrique alternatif accompagnant l'onde superficielle élastique est appliqué au supraconducteur (14), et la résistivité superficielle du supraconducteur est déterminée d'après la valeur du rapport entre une valeur de tension de sortie détectée par la paire d'électrodes de sortie (12) et une valeur de composant de tension d'entrée correspondant à la fréquence de l'onde superficielle élastique dans la tension d'entrée. En particulier, une tension d'impulsion est utilisée comme tension d'entrée, et la valeur de la tension de sortie et la valeur du composant de tension d'entrée sont déterminées par la transformation de Fourier rapide de la tension de sortie mesurée par la paire d'électrodes de sortie (12) et de la tension d'entrée. La fréquence de l'onde superficielle élastique est ajustée dans l'intervalle dans lequel le champ électrique alternatif est réfléchi sur la surface du supraconducteur (14), afin que le champ électrique n'entre pas à l'intérieur. Ainsi, la mesure sans contact de la résistivité superficielle du supraconducteur peut être réalisée extrêmement précisément et facilement à faible coût.
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