WO2011072887A1 - Verfahren zur herstellung von indiumchlordialkoxiden - Google Patents

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Alexey Merkulov
Dennis FRÜHLING
Arne Hoppe
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    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy

Definitions

  • the present invention relates to a process for the preparation of Indiumchlordialkoxiden, the indium chlorodialkoxides which can be prepared by the process according to the invention and to their use.
  • Semiconductor can be done here in a continuous process.
  • Semiconducting layers are to be understood here and in the following as layers which
  • Charge carrier mobilities of 1 to 50 cm 2 A s in a component with a channel length of 20 ⁇ at 50 V gate-source voltage and 50 V source-drain voltage have.
  • Important parameters for printed semiconductor layers are their respective charge carrier mobilities as well as the processabilities and processing temperatures of the printable precursors used in their production.
  • the materials should have good charge carrier mobility and be preparable from solution and temperatures well below 500 ° C to suit a variety of applications and substrates. Also desirable for many novel applications is optical transparency of the resulting semiconductive layers.
  • Indium oxide indium (III) oxide, ln 2 O 3
  • Indium (III) oxide, ln 2 O 3 ) is between 3.6 and 3.75 eV (measured for vapor deposited layers, HS Kim, PD Byrne, A. Facchetti, TJ Marks, J. Am. Chem. 2008, 130, 12580-12581) is a promising and therefore popular semiconductor.
  • thin films of a few hundred nanometers in thickness can have a high transparency in the visible spectral range of greater than 90% at 550 nm.
  • charge carrier mobilities of up to 160 cm 2 A s. So far, however, such values can Solution processing has not yet been achieved (H. Nakazawa, Y. Ito, E.
  • Indium oxide is often used primarily together with tin (IV) oxide (SnO 2 ) as semiconducting mixed oxide ITO. Due to the relatively high conductivity of ITO layers with simultaneous transparency in the visible spectral range, it is used, inter alia, in the field of liquid crystal displays (LCDs), in particular as “transparent electrodes.” These mostly doped metal oxide layers are industrially predominantly through Due to the great economic interest in ITO-coated substrates, there are now a number of coating methods based on sol-gel techniques for indium oxide-containing layers.
  • Composition is converted to an indium oxide-containing layer.
  • the particle concept has two significant disadvantages compared to the use of precursors: First, the particle dispersions have a colloidal instability, which makes the application of (with respect to the subsequent layer properties disadvantageous) dispersing additives required, on the other hand form many of the usable particles (eg due to passivation layers) only incomplete layers due to sintering, so that in the layers partially particulate structures occur. At the particle boundary there is a considerable particle-particle resistance, which reduces the mobility of the charge carriers and increases the general sheet resistance.
  • indium alkoxides can be used as precursors for the production of indium oxide-containing layers.
  • indium alkoxides homoleptic, ie only indium and alkoxide radicals containing compounds
  • indium alkoxides can be used as precursors for the production of indium oxide-containing layers.
  • Marks et al. Components in whose preparation a precursor-containing composition comprising the salt lnCl 3 and the base monoethanolamine (MEA) dissolved in methoxyethanol is used. After spin-coating the composition, the corresponding indium oxide layer is formed by thermal treatment at 400 ° C. (Kim HS, PD Byrne, A. Facchetti, TJ Marks, J. Am. Chem. Soc., 2008, 130, 12580-12581 and supplemental informations).
  • compositions have the advantage that they can be converted at lower temperatures to indium oxide-containing coatings. Furthermore, it has hitherto been assumed that halogen-containing precursors potentially have the disadvantage of leading to halogen-containing layers of reduced quality. For this reason, attempts have been made in the past to stratify with indium alkoxides.
  • Chatterjee et al One of the longest known syntheses of indium alkoxides is described by Chatterjee et al. They describe the preparation of indium trisalkoxide ln (OR) 3 from indium (III) chloride (lnCl 3 ) with sodium alkoxide Na-OR, wherein R represents -methyl, -ethyl, iso-propyl, n-, s-, t-butyl and Pentyl residues (S. Chatterjee, SR Bindal, RC Mehrotra, J. Indian Chem. Soc. 1976, 53, 867).
  • Bradley et al. report a similar reaction as Chatterjee et al. and, with approximately identical starting materials (lnCl 3 , isopropyl sodium) and reaction conditions, an indium-oxo cluster having oxygen as the central atom (DC Bradley, H. Chudzynska, DM Frigo, ME Hammond, MB Hursthouse, MA Mazid, Polyhedron 1990, 9 , 719).
  • Indium (III) halide is reacted in an alkaline medium with an alcohol.
  • the base should be a strong base with low nucleophilicity. Examples of named bases are, in addition to exemplary complex cyclic heterocycles tertiary amines.
  • Metal alkoxides (especially tetraalkoxy compounds such as tetramethyl titanate) in which a halide of an at least divalent metal is first reacted with an alcohol, optionally in the presence of an aromatic solvent, to form an intermediate (a haloalkoxy compound of the metal). Subsequently, the intermediate is reacted with an alcohol in the presence of a hydrogen halide acceptor (especially a tertiary amine) to form the metal alkoxide.
  • a hydrogen halide acceptor especially a tertiary amine
  • JP 02-1 13033 A discloses that chlorine-containing alkoxides of indium after dissolution of indium chloride in an alcohol corresponding to the alkoxide to be incorporated by subsequent addition of a certain proportion of an alkali metal or a
  • Alkali metal alkoxide can be produced.
  • a corresponding method also describes JP 02-145459 A.
  • a disadvantage of these methods are the possible impurities of the resulting Indiumchloralkoxide with sodium.
  • an alkyl or alkyloxy radical R is preferably a C 1 - to C 15 -alkyl or alkyloxyalkyl group, ie an alkyl or alkyloxyalkyl group having a total of 1-15 Carbon atoms, to understand. It is preferably an alkyl or Alkyloxyalkylrest R selected from -CH 3 , -CH 2 CH 3! -CH 2 CH 2 OCH 3 , -CH (CH 3 ) 2 or -C (CH 3 ) 3 .
  • X may each independently be F, Cl, Br and / or I. However, preference is given
  • Indium trihalides of only one halide ie the indium trihalides lnF 3 , lnCl 3 , InBr 3 or In 3 . Due to its easy accessibility, the use of the indium trihalides lnF 3 , lnCl 3 , InBr 3 or In 3 . Due to its easy accessibility, the use of the indium trihalides lnF 3 , lnCl 3 , InBr 3 or In 3 . Due to its easy accessibility, the use of the use of the
  • Indium trihalides inCI 3 and lnBr 3 are particularly preferred.
  • the indium trihalide lnX 3 is preferably used in proportions of 0.1 to 50% by weight, particularly preferably 1 to 25% by weight, very particularly preferably 2 to 10% by weight, based on the total mass of the composition (A).
  • composition (A) comprising the indium trihalide can be dissolved, i.
  • the composition may also have two or more alcohols.
  • only one alcohol should be present in the composition (A).
  • Preferred alcohols include R radicals selected from C1 to C15 alkyl or alkyloxyalkyl radicals, i. Alkyl or Alkyloxyalkyl phenomenon with a total of 1-15
  • Alcohols having an alkyl or alkoxyalkyl radical R selected from -CH 3 , -CH 2 CH 3 , -CH 2 CH 2 OCI-l 3 , -CH (CH 3 ) 2 or -C (CH 3 ) 3 are preferably used.
  • the alcohol ROH is preferably used in proportions of 50 to 99.9% by weight, particularly preferably 75 to 99% by weight, very particularly preferably 80 to 96% by weight, based on the total mass of the composition (A).
  • composition (A) may further comprise at least one liquid solvent or dispersion medium inert with respect to the reaction, ie, a solvent / dispersion medium or a Mixture of various solvents / dispersion media, which do not react with lnX 3 under the reaction conditions have.
  • aprotic solvents in particular those selected from the group of aprotic nonpolar solvents, ie alkanes, substituted alkanes, alkenes, alkynes, aromatics with or without aliphatic or aromatic substituents, halogenated hydrocarbons and tetramethylsilane, and the group of aprotic polar solvents, ie the ethers, aromatic ethers, substituted ethers, esters or acid anhydrides, ketones, tertiary amines, nitromethane, DMF
  • Dispersion medium in the composition (A) before, is its proportion of the
  • Composition preferably 1 to 50 wt .-%, particularly preferably 1 to 25 wt .-%, most preferably 1 to 10 wt .-% based on the total mass of the composition.
  • the at least one secondary amine of the generic formula R ' 2 NH is preferably a secondary amine with radicals R' independently selected from the group consisting of C 1 -C 0 -alkyl radicals. Preferably, only a secondary amine is used. More preferably, the secondary amine has the same alkyl radical as R '.
  • the at least one secondary amine is used to achieve particularly good yields in
  • the secondary amine is used in an amount corresponding to 4 to 6 times the molar amount of lnX 3 .
  • the secondary amine can be used not only in solution, but preferably dispersed in a dispersion medium.
  • composition (B) can consist exclusively of the secondary amine.
  • the reaction is carried out at a temperature in the range of 25 ° C - 250 ° C. More preferably, the reaction is used at a temperature in the range of 25 ° C to the temperature corresponding to the boiling point of the alcohol used. Thus, the temperature is more preferably in the range of 25 ° C and 125 ° C.
  • the synthesis can be carried out in principle at standard pressure or at elevated pressure. Preferably, however, the synthesis is carried out at standard pressure (1013 mbar).
  • the synthesis continues to be anhydrous, ie in the presence of a maximum of 200 ppm H 2 0.
  • the reaction should continue in a
  • Inertgasatmospreheat preferably in an Ar, He or N 2 atmosphere, most preferably be carried out in a N 2 atmosphere.
  • reaction mixture continues to be present
  • the purification can be carried out by evaporating the reaction mixture, taking up the residue in the alcohol used, filtration and washing. Subsequently, the product can preferably be dried under high vacuum.
  • the invention furthermore relates to the indium (III) halogen dialkoxides which can be prepared by the process according to the invention. These have the molecular formula lnX (OR) 2 , but can still be coordinated or solvated in the crystal or in the aqueous phase with alcohol ROH or secondary amine R ' 2 NH originating from the synthesis.
  • indium (III) halogen dialkoxides which can be prepared by the process according to the invention are advantageously suitable for the production of indium oxide-containing coatings, in particular by wet-chemical processes.
  • indium oxide-containing coatings are to be understood as meaning both indium oxide layers and layers essentially comprising indium oxide and other metals and / or metal oxides.
  • an indium oxide layer in this case can be produced from the abovementioned indium alkoxides, to understand metal-containing layer having substantially indium atoms or ions, wherein the indium atoms or ions are substantially oxidic.
  • the indium oxide layer may also have halogen, carbene or alkoxide components from incomplete conversion. The same applies to layers in the
  • the indium (III) halogen dialkoxides which can be prepared by the process according to the invention furthermore have the surprising advantage that they are particularly suitable for the preparation
  • indium (III) halogen dialkoxides which can be prepared by the process according to the invention are furthermore advantageously suitable for the production of semiconductive or conductive layers for electronic components, in particular the production of (thin film) transistors, diodes or

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Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von Indium(lll)halogendialkoxiden der generischen Formel lnX(OR)2 mit X = F, Cl, Br, I und R = Alkylrest, Alkyloxyalkylrest, bei dem eine Zusammensetzung (A) umfassend ein Indiumtrihalogenid InX3 mit X = F, Cl, Br und/oder I und mindestens einen Alkohol der generischen Formel ROH mit R = Alkylrest, Alkyloxyalkylrest mit einer Zusammensetzung (B) umfassend mindestens ein sekundäres Amin der generischen Formel R'2NH mit R' = Alkylrest umgesetzt wird, die nach dem Verfahren herstellbaren Indium(lll)halogendialkoxide und ihre Verwendung.

Description

Verfahren zur Herstellung von Indiumchlordialkoxiden
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von Indiumchlordialkoxiden, die mit dem erfindungsgemäßen Verfahren herstellbaren Indiumchlordialkoxide sowie deren Verwendung.
Die Herstellung halbleitender elektronischer Bauteilschichten über Druck- und andere flüssige Abscheidungsprozesse ermöglicht im Vergleich zu vielen anderen Verfahren, wie z.B. Chemical Vapor Deposition (CVD), weitaus niedrigere Produktionskosten, da die Deposition des
Halbleiters hier in einem kontinuierlichen Prozess erfolgen kann. Darüber hinaus eröffnet sich im Falle niedrigerer Prozesstemperaturen die Möglichkeit, auch auf flexiblen Substraten zu arbeiten, und gegebenenfalls (vor allem im Falle sehr dünner Schichten und insbesondere bei oxidischen Halbleitern) eine optische Transparenz der gedruckten Schichten zu erreichen. Unter halbleitenden Schichten sind hier und im folgenden Schichten zu verstehen, die
Ladungsträgerbeweglichkeiten von 1 bis 50 cm2A s bei einem Bauteil mit einer Kanallänge von 20 μηη bei 50 V Gate-Source-Spannung und 50 V Source-Drain-Spannung aufweisen.
Da das Material der über Druckverfahren herzustellenden Bauteilschicht die jeweiligen
Schichteigenschaften maßgeblich bestimmt, hat seine Wahl einen bedeutsamen Einfluss auf jedes diese Bauteilschicht enthaltende Bauteil. Wichtige Parameter für gedruckte Halbleiterschichten sind ihre jeweiligen Ladungsträgerbeweglichkeiten sowie die Verarbeitbarkeiten und Verarbeitungstemperaturen der bei ihrer Herstellung eingesetzten verdruckbaren Vorstufen. Die Materialien sollten eine gute Ladungsträgerbeweglichkeit aufweisen und aus Lösung und bei Temperaturen deutlich unter 500 °C herstellbar sein, um für eine Vielzahl von Anwendungen und Substraten geeignet zu sein. Ebenfalls wünschenswert für viele neuartige Anwendungen ist eine optische Transparenz der erzeugten halbleitenden Schichten.
Indiumoxid (Indium(lll)oxid, ln203) ist aufgrund der großen Bandlücke zwischen 3.6 und 3.75 eV (gemessen für aufgedampfte Schichten, H.S. Kim, P.D. Byrne, A. Facchetti, T.J. Marks; J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12580-12581 ) ein vielversprechender und somit gerne eingesetzter Halbleiter. Dünne Filme von wenigen hundert Nanometern Dicke können darüber hinaus eine hohe Transparenz im sichtbaren Spektralbereich von größer als 90 % bei 550 nm aufweisen. In extrem hoch geordneten Indiumoxid-Einkristallen kann man zudem Ladungsträgerbeweglichkeiten von bis zu 160 cm2A s messen. Bislang können jedoch solche Werte durch Prozessierung aus Lösung noch nicht erreicht werden (H. Nakazawa, Y. Ito, E. Matsumoto, K. Adachi, N. Aoki, Y. Ochiai; J. Appl. P ys. 2006, 100, 093706. und A. Gupta, H. Cao, Parekh, K.K.V. Rao, A.R. Raju, U.V. Waghmare; J. Appl. Phys. 2007, 101, 09N513).
Indiumoxid wird oft vor allem zusammen mit Zinn(IV)-oxid (Sn02) als halbleitendes Mischoxid ITO eingesetzt. Aufgrund der verhältnismäßig hohen Leitfähigkeit von ITO-Schichten bei gleichzeitiger Transparenz im sichtbaren Spektralbereich findet es unter anderem Anwendung im Bereich von Flüssigkristallbildschirmen (LCD; liquid crystal display), insbesondere als „durchsichtige Elektrode". Diese zumeist dotierten Metalloxid-Schichten werden industriell vor allem durch kostenintensive Aufdampfmethoden im Hochvakuum hergestellt. Aufgrund des großen wirtschaftlichen Interesses an ITO-beschichteten Substraten existieren mittlerweile einige, vor allem auf Sol-Gel-Techniken beruhende Beschichtungsverfahren für Indiumoxid- haltige Schichten.
Prinzipiell gibt es zwei Möglichkeiten für die Herstellung von Indiumoxid-Halbleitern über Druckverfahren: 1 ) Partikel-Konzepte, bei denen (Nano)Partikel in verdruckbarer Dispersion vorliegen und nach dem Druckvorgang durch Sintervorgänge in die gewünschte
Halbleiterschicht konvertiert werden, sowie 2) Precursor-Konzepte, bei denen mindestens ein lösliches oder dispergierbares Vorprodukt nach dem Verdrucken einer entsprechenden
Zusammensetzung zu einer Indiumoxid-haltigen Schicht umgesetzt wird. Das Partikelkonzept hat zwei bedeutende Nachteile gegenüber dem Einsatz von Precursoren: Zum einen weisen die Partikel-Dispersionen eine kolloidale Instabilität auf, die die Anwendung von (in Bezug auf die späteren Schichteigenschaften nachteiligen) Dispergieradditiven erforderlich macht, zum anderen bilden viele der einsetzbaren Partikel (z.B. aufgrund von Passivierungsschichten) nur unvollständig Schichten durch Sinterung aus, so dass in den Schichten teilweise noch partikuläre Strukturen vorkommen. An deren Partikelgrenze kommt es zu einem erheblichen Partikel-Partikel-Widerstand, welcher die Beweglichkeit der Ladungsträger verringert und den allgemeinen Schichtwiderstand erhöht.
Es gibt verschiedene Precursoren für die Herstellung von Indiumoxid-Schichten. So können neben Indiumsalzen Indium-Alkoxide (homoleptische, d.h. nur Indium und Alkoxid-Reste aufweisende Verbindungen) als Precursoren für die Herstellung von Indiumoxid-haltigen Schichten eingesetzt werden. Zum Beispiel beschreiben Marks et al. Bauteile, bei deren Herstellung eine Precursor-haltige Zusammensetzung umfassend das Salz lnCI3 sowie der Base Monoethanolamin (MEA) gelöst in Methoxyethanol eingesetzt wird. Nach Aufschleudern (Spin-coating) der Zusammensetzung wird die entsprechende Indiumoxid-Schicht durch eine thermische Behandlung bei 400 °C erzeugt (H.S. Kim, P.D. Byrne, A. Facchetti, T.J. Marks; J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12580- 12581 and supplemental informations).
Gegenüber Indiumsalz-haltigen Zusammensetzungen bieten Indiumalkoxid-haltige
Zusammensetzungen den Vorteil, dass sie bei geringeren Temperaturen zu Indiumoxid-haltigen Beschichtungen umgewandelt werden können. Weiterhin wurde bislang davon ausgegangen, dass halogenhaltige Precursoren potentiell den Nachteil haben, zu halogenhaltigen Schichten mit verminderter Qualität zu führen. Aus diesem Grund wurden in der Vergangenheit Versuche zur Schichtbildung mit Indiumalkoxiden vorgenommen.
Indium-Alkoxide und ihre Synthese sind bereits seit den siebziger Jahren des vorigen
Jahrhunderts beschrieben.
So fassen zum Beispiel Carmalt et al. in einem Review-Artikel die zu diesem Zeitpunkt bekannten Daten zu Synthese, Struktur und Reaktivitäten von u.a. lndium(lll)alkoxiden und - alkylalkoxiden zusammen (Carmalt et al., Coord. Chem Rev. 250 (2006), 682 - 709).
Eine der am längsten bekannten Synthesen von Indiumalkoxiden beschreiben Chatterjee et al. Sie beschreiben die Herstellung von Indiumtrisalkoxid ln(OR)3 aus lndium(lll)chlorid (lnCI3) mit Natriumalkoxid Na-OR, wobei R für -Methyl, -Ethyl, iso-Propyl, n-, s-, t-Butyl und -Pentyl Reste steht (S. Chatterjee, S. R. Bindal, R.C. Mehrotra; J. Indian Chem. Soc.1976, 53, 867).
Bradley et al. berichten von einer ähnlichen Reaktion wie Chatterjee et al. und erhalten bei annähernd identischen Edukten (lnCI3, Isopropyl-Natrium) und Reaktionsbedingungen einen Indium-Oxo-Cluster mit Sauerstoff als Zentralatom (D.C. Bradley, H. Chudzynska, D.M. Frigo, M.E. Hammond, M.B. Hursthouse, M.A. Mazid; Polyhedron 1990, 9, 719).
Eine besonders gute Variante dieses Verfahrens, die zu einer besonders niedrigen
Verunreinigung an Chlor im Produkt führt, wird in US 2009-01 12012 A1 beschrieben. Die Bestrebungen, einen möglichst niedrigen Grad an Chlor-Verunreinigungen im Produkt zu erreichen, werden dabei darauf zurückgeführt, dass bislang davon ausgegangen wurde, dass Chlor-Verunreinigungen zu einer Verminderung der Performance oder der Lebensdauer elektronischer Bauteile beitragen (vergleiche zum Beispiel US 6,426,425 B2).
Ebenfalls auf einem Indiumhalogenid, jedoch auf anderen Basen, basiert das in US 5,237,081 A beschriebene Verfahren zur Herstellung reiner Indiumalkoxide, bei denen ein
lndium(lll)halogenid in einem basischen Medium mit einem Alkohol umgesetzt wird. Die Base soll eine starke Base mit niedriger Nucleophilie sein. Beispielhaft genannte Basen sind neben exemplarisch genannten komplexen cyclischen Heterocyclen tertiäre Amine.
US 4,681 ,959 A beschreibt ein allgemeines zweistufiges Verfahren zur Herstellung von
Metallalkoxiden (insbesondere Tetraalkoxyverbindungen wie Tetramethyltitanat), bei dem ein Halogenid eines mindestens zweiwertigen Metalls mit einem Alkohol ggf. in Gegenwart eines aromatischen Lösemittels zunächst zu einem Zwischenprodukt (einer Halogen-Alkoxy- Verbindung des Metalls) umgesetzt wird. Anschließend wird das Zwischenprodukt mit einem Alkohol in Gegenwart eines Wasserstoffhalogenid-Akzeptors (insbesondere einem tertiären Amin) unter Bildung des Metallalkoxids umgesetzt.
Alternative Syntheserouten zu homoleptischen Indiumalkoxid-Komplexen werden von Seigi Suh et al. in J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 9396 - 9404 beschrieben. Die dort beschriebenen Verfahren sind jedoch sehr aufwändig und/oder basieren auf nicht kommerziell erhältlichen (und somit erst nachteilig in einem vorgelagerten Schritt zu synthetisierenden) Edukten.
Überraschenderweise wurde nun festgestellt, dass die bisherige Annahme, dass chlorhaltige Precursoren zwangsläufig zu nachteiligen Schichten führen, nicht immer zutrifft. So resultieren bei einem Precursor-basierten Verfahren, bei dem eine flüssige Precursor-Zusammensetzung auf ein Substrat aufgebracht wird und der Beschichtungsfilm vor einer thermischen
Konvertierung zunächst mit UV-Strahlung behandelt wird, im Falle der Verwendung von Indiumchlordialkoxiden anstelle von Indiumalkoxiden sogar bessere Schichten, da diese bessere elektrische Eigenschaften, insbesondere höhere Feldeffektbeweglichkeiten μΡΕτ aufweisen. Somit sind Verfahren zur Synthese von Indiumchlordialkoxiden von großem
Interesse. Ein allgemeines Verfahren zur Herstellung von Halogen-Alkoxy-Metall-Verbindungen ist in US 4,681 ,959 A beschrieben: Dort wird allgemein ein zweistufiges Verfahren zur Herstellung von Metallalkoxiden (insbesondere von Tetraalkoxyverbindungen wie Tetramethyltitanat) beschrieben, bei dem ein Halogenid eines mindestens zweiwertigen Metalls mit einem Alkohol - ggf. in Gegenwart eines aromatischen Lösemittels - zunächst zu einem Zwischenprodukt (einer Halogen-Alkoxy-Verbindung des Metalls) umgesetzt wird. Bevorzugt wird dabei entstehender Halogenwasserstoff mit einem Inertgas wie z.B. Stickstoff ausgetrieben. Das dort beschriebene Verfahren hat jedoch den Nachteil, dass im Falle, dass Indiumhalogenide als Edukte eingesetzt werden, die Umsetzung mit Alkohol sehr langsam verläuft bzw. nach der Bildung von Addukten des Typs lnCI3(ROH)x endet.
Indiumhalogenalkoxide und ihre Synthese sind in JP 02-1 13033 A und JP 02-145459 A beschrieben. So offenbart JP 02-1 13033 A, dass chlorhaltige Alkoxide von Indium nach Lösung von Indiumchlorid in einem dem einzubauenden Alkoxidrest entsprechenden Alkohol durch nachfolgende Zugabe eines bestimmten Anteils eines Alkalimetalls oder einer
Alkalimetallalkoxids hergestellt werden können. Ein entsprechendes Verfahren beschreibt auch JP 02-145459 A. Nachteilig bei diesen Verfahren sind jedoch die möglichen Verunreinigungen der entstehenden Indiumchloralkoxide mit Natrium.
Es ist somit die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, Verfahren zur Synthese von
Indiumchlordialkoxiden bereitzustellen, die die Nachteile des Standes der Technik,
insbesondere die langsamen Reaktionsgeschwindigkeiten und die entstehenden
Verunreinigungen bei der Synthese vermeiden.
Diese Aufgabe wird überraschenderweise gelöst durch das erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung von lndium(lll)halogendialkoxiden der generischen Formel lnX(OR)2 mit X = F, Cl, Br, I und R = Alkylrest, Alkyloxyalkylrest, bei dem eine Zusammensetzung (A) umfassend ein Indiumtrihalogenid lnX3 mit X = F, Cl, Br und/oder I und mindestens einen Alkohol der generischen Formel ROH mit R = Alkylrest, Oxyalkylrest mit einer Zusammensetzung (B) umfassend mindestens ein sekundäres Amin der generischen Formel R'2NH mit R' = Alkylrest umgesetzt wird.
Unter einem Alkyl- bzw. Alkyloxyalkylrest R ist dabei bevorzugt eine C1 - bis C15-Alkyl- oder Alkyloxyalkylgruppe, d.h. eine Alkyl- oder Alkyloxyalkylgruppe mit insgesamt 1 - 15 Kohlenstoffatomen, zu verstehen. Bevorzugt handelt es sich um einen Alkyl- bzw. Alkyloxyalkylrest R ausgewählt aus -CH3, -CH2CH3! -CH2CH2OCH3, -CH(CH3)2 oder -C(CH3)3.
Eingesetzt werden können im Prinzip alle Indiumtrihalogenide lnX3. Bei diesen kann X jeweils unabhängig voneinander F, Cl, Br und/oder I sein. Bevorzugt werden jedoch
Indiumtrihalogenide nur eines Halogenids, d.h. die Indiumtrihalogenide lnF3, lnCI3, lnBr3, oder lnl3, eingesetzt. Aufgrund ihrer leichten Zugänglichkeit ist die Verwendung der
Indiumtrihalogenide lnCI3 und lnBr3 besonders bevorzugt.
Das Indiumtrihalogenid lnX3 wird bevorzugt in Anteilen von 0,1 bis 50 Gew.-%, besonders bevorzugt 1 bis 25 Gew.-%, ganz besonders bevorzugt 2 bis 10 Gew.-% bezogen auf die Gesamtmasse der Zusammensetzung (A) eingesetzt.
Die Zusammensetzung (A) umfassend das Indiumtrihalogenid kann dieses gelöst, d.h.
dissoziiert bzw. auf molekularer Ebene komplexiert mit Lösemittelmolekülen/Alkoholmolekülen, oder in flüssiger Phase dispergiert aufweisen.
Die Zusammensetzung (A) weist weiterhin mindestens einen Alkohol der generischen Formel ROH mit R = Alkyl- bzw. Alkyloxyalkylrest auf. Somit kann die Zusammensetzung auch zwei oder mehr Alkohole aufweisen. Zur bevorzugten Erzeugung von lndium(lll)halogendialkoxiden von einer spezifischen Art von Alkoxiden sollte jedoch nur ein Alkohol in der Zusammensetzung (A) vorliegen.
Bevorzugt einsetzbare Alkohole weisen Reste R ausgewählt aus C1 - bis C15-Alkyl- oder - Alkyloxyalkylresten, d.h. Alkyl- oder Alkyloxyalkylgruppen mit insgesamt 1 - 15
Kohlenstoffatomen, auf. Bevorzugt werden Alkohole mit einem Alkyl- bzw. Alkyloxyalkylrest R ausgewählt aus -CH3, -CH2CH3, -CH2CH2OCI-l3, -CH(CH3)2 oder -C(CH3)3 eingesetzt.
Der Alkohol ROH wird bevorzugt in Anteilen von 50 bis 99,9 Gew.-%, besonders bevorzugt 75 bis 99 Gew.-%, ganz besonders bevorzugt 80 bis 96 Gew.-% bezogen auf die Gesamtmasse der Zusammensetzung (A) eingesetzt.
Die Zusammensetzung (A) kann weiterhin mindestens ein in Bezug auf die Reaktion inertes flüssiges Lösemittel bzw. Dispersionsmedium, d.h. ein Lösemittel/Dispersionsmedium oder ein Gemisch verschiedener Lösemittel/Dispersionsmedien, die unter den Reaktionsbedingungen nicht mit lnX3 reagieren, aufweisen. Vorzugsweise einsetzbar sind aprotische Lösemittel, insbesondere solche ausgewählt aus der Gruppe der aprotischen unpolaren Lösemittel, d.h. der Alkane, substituierten Alkane, Alkene, Alkine, Aromaten ohne oder mit aliphatischen oder aromatischen Substituenten, halogenierten Kohlenwasserstoffe und Tetramethylsilan, und der Gruppe der aprotischen polaren Lösemittel, d.h. der Ether, aromatischen Ether, substituierten Ether, Ester oder Säureanhydride, Ketone, tertiäre Amine, Nitromethan, DMF
(Dimethylformamid), DMSO (Dimethylsulfoxid) oder Propylencarbonat.
Liegt mindestens ein solches in Bezug auf die Reaktion inertes flüssiges Lösemittel bzw.
Dispersionsmedium in der Zusammensetzung (A) vor, beträgt sein Anteil an der
Zusammensetzung bevorzugt 1 bis 50 Gew.-%, besonders bevorzugt 1 bis 25 Gew.-%, ganz besonders bevorzugt 1 bis 10 Gew.-% bezogen auf die Gesamtmasse der Zusammensetzung.
Erfindungsgemäß wird die Zusammenfassung (A) umfassend lnX3 zur Synthese der
lndium(lll)halogendialkoxide weiterhin mit einer Zusammensetzung (B) umfassend mindestens ein sekundäres Amin der generischen Formel R'2NH mit R' = Alkylrest umgesetzt. Bevorzugt handelt es sich bei dem mindestens einen sekundären Amin der generischen Formel R'2NH um ein sekundäres Amin mit Resten R' unabhängig voneinander ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus CrCi0-Alkylresten. Bevorzugt wird nur ein sekundäres Amin eingesetzt. Weiter bevorzugt weist das sekundäre Amin als Reste R' den gleichen Alkylrest auf. Besonders bevorzugte Reste R' sind lineare CrCi0-Alkylreste. Besonders gute Ergebnisse werden mit Resten R' = Methyl, Ethyl und n-Propyl erreicht. Ganz besonders gute Ergebnisse resultieren, wenn ein sekundäres Amin der generischen Formel R'2NH mit R = Methyl eingesetzt wird, da dies in den bevorzugt eingesetzten Lösemitteln bzw. Dispersionsmedien besonders gut löslich ist und somit zu besonders guten Ausbeuten führt.
Das mindestens eine sekundäre Amin wird zur Erzielung besonders guter Ausbeuten im
Wesentlichen mindestens doppelt stöchiometrisch in Bezug auf das Indiumtrihalogenid lnX3 zugegeben. Besonders bevorzugt wird das sekundäre Amin in einer Menge, die der 4- bis 6- fachen molaren Menge von lnX3 entspricht, eingesetzt.
Zur Erzielung erhöhter Produktausbeuten kann das sekundäre Amin nicht nur in Lösung, sondern bevorzugt dispergiert in einem Dispersionsmedium eingesetzt werden. Die Zusammensetzung (B) kann jedoch für eine besonders einfache Reaktionsführung ausschließlich aus dem sekundären Amin bestehen.
Bevorzugt wird die Reaktion bei einer Temperatur im Bereich von 25 °C - 250 °C durchgeführt. Besonders bevorzugt wird die Reaktion bei einer Temperatur im Bereich von 25 °C bis zu der Temperatur, die dem Siedepunkt des eingesetzten Alkohols entspricht, eingesetzt. Somit liegt die Temperatur besonders bevorzugt im Bereich von 25 °C und 125 °C.
Die Synthese kann prinzipiell bei Normdruck oder bei erhöhtem Druck erfolgen. Bevorzugt wird die Synthese jedoch bei Normdruck (1013 mbar) durchgeführt.
Bevorzugt erfolgt die Synthese weiterhin wasserfrei, d.h. in Anwesenheit von maximal 200 ppm H20. Zur Erzielung besonders guter Ausbeuten sollte die Reaktion weiterhin in einer
Inertgasatmosphäre, bevorzugt in einer Ar, He oder N2-Atmosphäre, ganz besonders bevorzugt in einer N2-Atmosphäre durchgeführt werden.
Zur Erzielung besonders hoher Ausbeuten wird das Reaktionsgemisch weiterhin vor
Aufarbeitung auf eine Temperatur im Bereich von 10 - 20 °C abgekühlt.
Bevorzugt kann die Aufreinigung durch Eindampfen des Reaktionsgemisches, Aufnehmen des Rückstandes in dem eingesetzten Alkohol, Filtration und Waschen erfolgen. Anschließend kann das Produkt bevorzugt im Hochvakuum getrocknet werden.
Gegenstand der Erfindung sind weiterhin die über das erfindungsgemäße Verfahren herstellbaren lndium(lll)halogendialkoxide. Diese weisen die Summenformel lnX(OR)2 auf, können jedoch weiterhin im Kristall oder in der wässrigen Phase mit aus der Synthese stammendem Alkohol ROH bzw. sekundärem Amin R'2NH koordiniert bzw. solvatisiert sein.
Die nach dem erfindungsgemäßen Verfahren herstellbaren lndium(lll)halogendialkoxide eignen sich vorteilhaft zur Herstellung Indiumoxid-haltiger Beschichtungen, insbesondere über nasschemische Verfahren. Unter Indiumoxid-haltigen Beschichtungen sind in diesem Falle sowohl Indiumoxid-Schichten als auch Schichten im Wesentlichen umfassend Indiumoxid und weitere Metalle und/oder Metalloxide zu verstehen. Unter einer Indiumoxid-Schicht im Sinne der vorliegenden Erfindung ist dabei eine aus den erwähnten Indiumalkoxiden herstellbare, metallhaltige Schicht zu verstehen, die im Wesentlichen Indiumatome bzw. -ionen aufweist, wobei die Indiumatome bzw. -ionen im Wesentlichen oxidisch vorliegen. Gegebenenfalls kann die Indiumoxid-Schicht auch noch Halogen-, Carben- bzw. Alkoxid-Anteile aus einer nicht vollständigen Konvertierung aufweisen. Entsprechendes gilt auch für Schichten im
Wesentlichen umfassend Indiumoxid und weitere Metalle und/oder Metalloxide, mit der Maßgabe, dass diese weiterhin die weiteren Metalle und/oder Metalloxide aufweist.
Die mit dem erfindungsgemäßen Verfahren herstellbaren lndium(lll)halogendialkoxide haben weiterhin den überraschenden Vorteil, dass diese besonders gut für die Herstellung
halbleitender Indiumoxid-haltiger Beschichtungen eingesetzt werden können. Die über das erfindungsgemäße Verfahren herstellbaren lndium(lll)halogendialkoxide eignen sich insofern weiterhin vorteilhaft für die Herstellung halbleitender oder leitender Schichten für elektronische Bauteile, insbesondere die Herstellung von (Dünnschicht)Transistoren, Dioden oder
Solarzellen.
Das nachfolgende Beispiel soll den Gegenstand der vorliegenden Erfindung weiter erläutern, ohne selbst beschränkend zu wirken.
Beispiel
In einem von Restfeuchte befreiten 500 ml-Glasrundkolben werden 5,0 g lndium(lll)chlorid (lnCI3, 22,5 mmol) unter Schutzgasatmosphäre durch Rühren in 250 ml getrocknetem Methanol gelöst, wobei ein Rückstand an lnCI3 von < 10 Gew.-% (bzgl. der Einwaage) zurückbleibt. Die Dosierung der Base Dimethylamin (5,0 g entsprechend 1 1 1 mmol) wird über einen Massflow- Controller sichergestellt und in der stöchiometrischen Menge bzgl. lnCI3 bei Raumtemperatur über einen Zeitraum von fünf Stunden zugegeben, wobei eine leicht exotherme Reaktion am Anfang beobachtet wurde. Anschließend wird die Lösung vollständig verdampft, der
zurückbleibende Feststoff mit 250 ml getrocknetem Methanol aufgenommen, unter Schutzgas N2 filtriert, mehrfach (> 10 Vorgänge) mit getrocknetem Methanol gewaschen und unter Vakuum (< 10 mbar) für 12 h bei Raumtemperatur getrocknet. Die Produktausbeute betrug > 80 mol-% an lndium(lll)chlordimethoxid (Indiumgehalt ermittelt via ICP-OES, Chlorgehalt ermittelt argentometrisch, Gehalt an Kohlenstoff und Wasserstoff ermittelt via Verbrennungsanalyse). Abbildung 1 zeigt ein IR-Spektrum des Produktes und des eingesetzten Eduktes lnCI3.

Claims

Patentansprüche:
1 . Verfahren zur Herstellung von lndium(lll)halogendialkoxiden der generischen Formel
lnX(OR)2
mit X = F, Cl, Br, I und R = Alkylrest, Alkyloxyalkylrest,
bei dem eine Zusammensetzung (A) umfassend
ein Indiumtrihalogenid lnX3 mit X = F, Cl, Br und/oder I und
mindestens einen Alkohol der generischen Formel ROH mit R = Alkylrest,
Alkyloxyalkylrest
mit einer Zusammensetzung (B) umfassend mindestens ein sekundäres Amin der generischen Formel R'2NH mit R' = Alkylrest umgesetzt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1 ,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Indiumtrihalogenid ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus lnF3, lnCI3, lnBr3 und I n l3 ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Indiumtrihalogenid lnX3 in Anteilen von 0,1 bis 50 Gew.-% bezogen auf die Gesamtmasse der Zusammensetzung (A) eingesetzt wird.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass der Alkohol ROH einen Rest R ausgewählt aus C1 - bis C15-Alkyl- oder - Alkyloxyalkylresten aufweist.
5. Verfahren einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass der Alkohol ROH in Anteilen von 50 - 99,9 Gew.-% bezogen auf die Gesamtmasse der Zusammensetzung (A) eingesetzt wird.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass die Zusammensetzung (A) weiterhin mindestens ein in Bezug auf die Reaktion inertes flüssiges Lösemittel bzw. Dispersionsmedium aufweist.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass das sekundäre Amin der generischen Formel R'2NH ein sekundäres Amin mit Resten R' ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus CrCi0-Alkylresten ist.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass das sekundäre Amin der generischen Formel R'2NH mindestens doppelt stöchiometrisch in Bezug auf das Indiumtrihalogenid eingesetzt wird.
9. lndium(lll)halogendialkoxid der generischen Formel lnX(OR)2, herstellbar nach
einem Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8.
10. Verwendung mindestens eines lndium(lll)halogendialkoxids der generischen Formel lnX(OR)2 nach Anspruch 9 zur Herstellung Indiumoxid-haltiger Beschichtungen.
1 1 . Verwendung mindestens eines lndium(lll)halogendialkoxids der generischen Formel lnX(OR)2 nach Anspruch 9 für die Herstellung halbleitender oder leitender Schichten für elektronische Bauteile, insbesondere zur Herstellung von
(Dünnschicht)Transistoren, Dioden oder Solarzellen.
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