Beschreibung / Description
Verfahren zur Fertigung einer Schicht mit perowskitischem Material und Vorrichtung mit einer solchen Schicht
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fertigung einer Schicht mit perowskitischem Material, ein Verfahren zur Herstellung einer elektrooptischen und/oder optoelektronischen Vorrichtung sowie eine Vorrichtung, insbesondere eine
elektrooptische und/oder optoelektronische Vorrichtung, mit einer Schicht mit perowskitischem Material.
Seit einigen Jahren gewinnen perowskitische Materialien wie z.B. CH3NH3Pbl3 aufgrund ihrer optoelektronischen Eigenschaf- ten vermehrt an Bedeutung. Insbesondere rücken perowskitische Materialien als hocheffiziente, elektrooptische oder
optoelektronische Halbleitermaterialien in den Blickpunkt, da Perowskite eine effiziente Umwandlung von elektrischer Energie in elektromagnetische Strahlungsenergie sowie von elekt- romagnetischer Strahlungsenergie in elektrische Energie er¬ lauben. Insbesondere führt eine Verwendung von
perowskitischem Material in Solarzellen zu einer Steigerung des Wirkungsgrads auf mehr als das Doppelte des vormals Übli¬ chen .
In hocheffizienten Halbleiterbauteilen werden regelmäßig Schichten von elektrooptischem Halbleitermaterial benötigt. Zur Schichtherstellung von perowskitischem Material sind zahlreiche Verfahren bekannt:
Diese Verfahren umfassen beispielsweise das OSPD-Verfahren (OSPD = engl.: "One-Step Precursor Deposition") , die Doppel- quellen-Koaufdampfung, das SDM-Verfahren (SDM = engl.:
"Sequential Deposition Method") , das VASP-Verfahren (VASP = engl.: " Vapor-Assisted Solution Process") , die Interdiffusi- ons-Methode sowie die Methode einer Sprühbeschichtung aus der Lösung heraus.
Trotz der genannten vielversprechenden Eigenschaften von perowskitischem Material bleibt dessen großflächige Verwendung in optoelektronischen Bauteilen bislang aus. So lassen sich hocheffiziente Bauteile mit perowskitischem Material bislang nur unter Laborbedingungen und unter geeigneten Umgebungsatmosphären fertigen. Insbesondere ist perowskitisches Material unter dem Einfluss von Umgebungsluft gegenwärtig nicht hinreichend langzeitstabil : So zersetzen etwa Wassermo¬ leküle die Kristallgitterstruktur des perowskitischen Materi- als.
Zudem bleibt die Herstellung größerer Flächen oder die Herstellung von Schichten größerer Dicke aufwändig und teuer. Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein verbessertes Verfahren zur Fertigung einer Schicht mit perowskitischem Material zu schaffen, welches einfach und kostengünstig ist und ein Material mit einer verbesserten Langzeitstabilität liefert. Ferner ist es Aufgabe der Erfindung, ein verbessertes Verfah- ren zur Herstellung einer elektrooptischen und/oder
optoelektronischen Vorrichtung sowie eine Vorrichtung, insbesondere eine elektrooptische oder optoelektronische Vorrich¬ tung, mit einer Schicht mit perowskitischem Material zu schaffen, welche sich kostengünstig realisieren lassen und vorzugsweise Langzeitstabilität ermöglichen.
Diese Aufgabe wird mit einem Verfahren zur Fertigung einer elektrooptischen und/oder optoelektronischen Schicht mit perowskitischem Material mit den in Anspruch 1 angegebenen Merkmalen, mit einem Verfahren zur Herstellung einer elektrooptischen und/oder optoelektronischen Vorrichtung mit den in Anspruch 10 angegebenen Merkmalen sowie mit einer Vorrichtung mit den in Anspruch 13 angegebenen Merkmalen gelöst. Bevorzugte Weiterbildungen der Erfindung sind in den zugehörigen Unteransprüchen, der nachfolgenden Beschreibung und der
Zeichnung angegeben.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren zur Fertigung einer elektrooptischen und/oder optoelektronischen Schicht wird die Schicht mit perowskitischem Material der Zusammensetzung ABX3 mittels Kaltgasspritzens zumindest eines das perowskitische Material aufweisenden Ausgangsmaterials gebildet. Dabei ist X mindestens ein Halogen oder eine Mischung mehrerer Halogene. Unter dem Begriff „perowskitisches Material" wird im Rahmen dieser Anmeldung ein Material verstanden, das eine
perowskitische Kristallstruktur der Form ABX3 aufweist. Dabei ist die A-Position durch ein Kation oder eine Mischung verschiedener Kationen besetzt, die B-Position durch ein metallisches oder halbmetallisches Kation oder eine Mischung ver¬ schiedener Kationen besetzt und die X-Position wie oben bereits beschrieben durch ein Halogen oder eine Mischung ver- schiedener Halogene besetzt. Es fallen auch Materialien darunter, deren Stöchiometrie von A:B:X = 1:1:3 leicht, d.h. um jeweils höchstens 0.05 von dem jeweils angegebenen Anteil, abweicht . Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren liegt das Ausgangsmaterial mit dem perowskitischen Material als Pulver vor, das durch das Verfahren, zweckmäßig bei Raumtemperatur, in eine Schicht überführt wird. Dabei bildet das perowskitische Material mit einem Strom kalten Gases ein Aerosol aus. Dabei beträgt die Gastemperatur bevorzugt höchstens 200 Grad Celsius, vorzugs¬ weise höchstens 70 Grad Celsius, idealerweise höchstens 40 Grad Celsius. Mittels des Aerosols wird das Ausgangsmaterial mit dem perowskitischen Material auf ein Substrat geströmt, wobei sich das Material zu einer geschlossenen Schicht zusam- menlagert.
Vorteilhafterweise wird bei dem erfindungsgemäßen Verfahren das Aerosol aufgrund einer Druckdifferenz durch eine Düse ge¬ trieben und dabei beschleunigt.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn das Aerosol gegen einen geringen Druck von höchstens einhundert, vorzugsweise von höchstens zehn, mbar beschleunigt wird. Diese bevorzugten
Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahren werden in der Literatur auch als Aerosoldepositionsmethode (ADM) oder - gleichbedeutend - als aerosolbasiertes Kaltabscheiden be¬ zeichnet .
Vorteilhafterweise durchläuft das Pulver während der Be¬ schichtung keine oder kaum eine Änderung seiner chemischen Zusammensetzung. Demgegenüber zeichnen sich alle bislang bekannten Verfahren dadurch aus, dass sich das perowskitische Material während der Beschichtung chemisch verändert oder gar erst bei der Beschichtung gebildet wird. Erfindungsgemäß lässt sich das perowskitische Material daher vorteilhaft zu¬ nächst synthetisieren und nachfolgend nahezu ohne Veränderung der chemischen Struktur in eine Schicht überführen.
Vorteilhafterweise lässt sich mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens eine kompakte, d.h. eine dichte und nicht poröse, Schicht mit perowskitischem Material fertigen. Infolgedessen ist es vorteilhaft, die Kontaktfläche zwischen
perowskitischem Material und Umgebungsatmosphäre äußerst ge¬ ring zu halten. Daher ist nur ein geringerer Anteil des perowskitischen Materials Wassermolekülen aus der Umgebungsatmosphäre ausgesetzt, sodass die perowskitische Gitterstruk¬ tur weitestgehend erhalten bleibt. Eine nennenswerte Ver- schlechterung relevanter Materialeigenschaften für den Einsatz als aktives Halbleitermaterial ist folglich wirksam ver¬ mindert. Insbesondere treten bei einer erfindungsgemäß gefer¬ tigten Schicht mit perowskitischem Material eine ansonsten stets zu berücksichtigende Verschlechterung der Ladungsträ- germobilität und demzufolge eine Verringerung der Diffusions¬ längen und daraus resultierend eine Blauverschiebung der Ab¬ sorptionskante, bekannt als der sogenannte „Gelbumschlag", stark verzögert oder gar nicht auf. Folglich lassen sich mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens praxistaugliche hocheffiziente Vorrichtungen mit
perowskitischem Material fertigen. Die Langzeitstabilität von Schichten mit perowskitischem Material erreicht somit markt-
fähige Werte. Folglich ist auch bei Vorrichtungen mit Schichten mit perowskitischem Material die Lebensdauer der Vorrichtungen nicht notwendigerweise durch jene des perowskitischen Materials begrenzt, d.h. die Langzeitstabilität der Schichten und Vorrichtungen ist deutlich verbessert.
Ferner erweist es sich als vorteilhaft, dass mittels des er¬ findungsgemäßen Verfahrens die Kristallgitterstruktur des perowskitischen Materials erhalten bleibt. Gerade im Falle von Filmen erweisen sich bei der herkömmlichen Herstellung von Schichten mit perowskitischem Material übrig bleibende Reste des Ausgangsmaterials als nachteilig. Insbesondere Res¬ te von Blei-Iodid beeinflussen die Langzeitstabilität von Schichten mit perowskitischem Material deutlich. Etwa beim herkömmlichen OSPD-Verfahren fallen solche Reste besonders stark ins Gewicht. Erfindungsgemäß ist ein solcher uner¬ wünschter Einfluss auf die gefertigte Schicht bereits verfah¬ rensbedingt ausgeschlossen. Auch sonstige Veränderungen der Kristallgitterstruktur des perowskitischen Materials treten erfindungsgemäß nicht auf.
Weiterhin lässt sich das erfindungsgemäße Verfahren vorteil¬ haft leicht und kostengünstig durchführen. Die Realisierung insbesondere von großen Schichtdicken von mindestens einem Mikrometer und mehr ist mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens leicht realisierbar.
Weiterhin vorteilhaft sind auch sehr kleine Schichtdicken von weniger als einem Mikrometer und insbesondere weniger als 300 Nanometern erfindungsgemäß sehr einfach durch entsprechende Wahl der Verfahrensparameter möglich.
Es sind also mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens
Schichtdicken im Submikrometerbereich bis in den hohen Mikro- meterbereich realisierbar, sodass sich so gefertigte Schichten für verschiedenste Anwendungen eignen. Auch beliebig ausgedehnte flächige Erstreckungen von Schichten mit
perowskitischem Material lassen sich erfindungsgemäß leicht fertigen .
Geeigneterweise erfolgt bei dem erfindungsgemäßen Verfahren das Kaltgasspritzen mittels aerosolbasierten Kaltabscheidens. Das erfindungsgemäße Verfahren wird bevorzugt bei einer Tem¬ peratur von höchstens 200 Grad Celsius, vorzugsweise von höchstens 70 Grad Celsius, idealerweise von höchstens 40 Grad Celsius, durchgeführt.
In dieser Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist die Erhaltung der Perowskit-Gitterstruktur des
perowskitischen Materials besonders einfach sichergestellt, da derart die vergleichsweise niedrige Zersetzungstemperatur nicht erreicht wird.
Folglich eröffnet das erfindungsgemäße Verfahren eine gegen¬ über dem Stand der Technik kostengünstige Fertigung auch dicker und/oder großflächiger Schichten.
Da mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens im Vergleich zu herkömmlichen Verfahren wie etwa oben genannt die Material¬ synthese (z.B. aus der Lösung) nicht direkt mit der Schicht¬ bildung zusammenfällt, sondern diese beiden Schritte getrennt voneinander durchgeführt werden können, ermöglicht das erfindungsgemäße Verfahren ein höheres Maß an Prozesskontrolle und Optimierung von Material und Schichtbildung. Zudem ist durch eine hohe Abscheiderate eine Beschichtung großer Flächen in kurzer Zeit und somit besonders wirtschaftlich möglich.
Vorzugsweise wird für das aerosolbasierte Kaltabscheiden eine Anlage wie in US 7,553,376 B2 beschrieben verwendet. Für die¬ se besonders vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sei der Offenbarungsgehalt der genannten Offenlegungsschrift soweit er die Anlage oder die Ausführung des Verfahrens betrifft ausdrücklich einbezogen.
Bevorzugt wird bei dem erfindungsgemäßen Verfahren das Kaltgasspritzen in einer Betriebsatmosphäre mit höchstens 30 Pro¬ zent relativer Luftfeuchtigkeit, vorzugsweise höchstens 20 Prozent relativer Luftfeuchtigkeit und idealerweise höchstens 10 Prozent relativer Luftfeuchtigkeit durchgeführt. Besonders bevorzugt wird bei dem erfindungsgemäßen Verfahren das Kaltgasspritzen in einer Betriebsatmosphäre (manchmal in der Li¬ teratur auch als Kammerdruck bezeichnet) mit einem Druck von höchstens 100 mbar, besonders bevorzugt höchstens 10 mbar, durchgeführt.
Vorteil dieser Weiterbildungen der Erfindung ist, dass die Erzeugung von Fremdphasen, welche als Degradationskeime agie¬ ren können, während des Verfahrens vermieden wird. Die erfin- dungsgemäß vorgesehene Erhaltung der im Ausgangsstoff vorlie¬ genden Perowskit-Gitterstruktur des Ausgangsmaterials ist in dieser Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens besonders leicht möglich. Eine chemische Veränderung des
perowskitischen Materials wird wirksam vermieden.
In einer bevorzugten Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird das Kaltgasspritzen in inerter Atmosphäre durchgeführt . Auch in dieser Weiterbildung wird bei dem Verfahren die Erzeugung von Fremdphasen, welche als Degradationskeime agieren können, wirksam vermieden.
In vorteilhafter Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfah- rens wird die Schicht mit einer, zumindest bereichsweisen, Schichtdicke von mindestens einem, vorzugsweise zumindest drei und zweckmäßig zumindest zehn Mikrometern gebildet. Be¬ sonders bevorzugt wird bei dem erfindungsgemäßen Verfahren die Schicht mit einer, zumindest bereichsweisen, Schichtdicke von zumindest 30, idealerweise zumindest 100 Mikrometern ge¬ bildet .
In einer weiteren vorteilhaften Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird die Schicht mit einer, zumindest be¬ reichsweisen, Schichtdicke von höchstens 1 ym, vorzugsweise höchstens 500 nm und zweckmäßig höchstens 200 nm gebildet.
Mittels dieser vorgenannten Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens erreichen die Schichten perowskitischen Materials solche Dicken, wie sie in optoelektronischen Bauteilen wie Energiewandlern und Strahlungsdetektoren, insbesonde- re Röntgendetektoren, erforderlich sind, sodass das Verfahren zur Fertigung solcher Vorrichtungen geeignet heranziehbar ist .
Besonders bevorzugt wird in einer Weiterbildung des erfin- dungsgemäßen Verfahrens die Schicht mit einem Gemisch mit dem perowskitischen Material und mindestens einem weiteren, insbesondere nicht-perowskitischen und vorzugsweise Inseln im perowskitischen Material bildenden, Material gebildet. In einer weiteren Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird die Schicht als mindestens eine Schichtlage einer Aufeinanderfolge von dieser mindestens einen Schichtlage und mindestens einer weiteren Schichtlage gebildet. Zweckmäßig wird die mindestens eine weitere Schichtlage mit mindestens einem weiteren, insbesondere nicht-perowskitischen, Material gebildet .
Vorzugsweise ist bei den beiden vorgenannten Weiterbildungen das zumindest eine weitere Material ein elektronenleitendes und/oder elektronensammelndes Material, insbesondere Ti02, und/oder ein lochleitendes und/oder lochsammelndes Material, insbesondere Spiro-MeOTAD und/oder ein elektrisch isolierendes Material und/oder ein Injektionsmaterial, insbesondere PEDOT:PSS oder F8, und/oder ein Inertmaterial und/oder ein optisch transparentes Material, insbesondere Glas und/oder
Quarz und/oder FTO-Glas (FTO = engl. „Fluorine doped Tin Oxi¬ de [fluordotiertes Zinnoxid]).
Mittels der beiden vorgannten Weiterbildungen der Erfindung mit dem zumindest einen weiteren Material ist vorteilhafterweise die Kontaktzone zwischen den einzelnen Funktionsmaterialien oder Funktionsschichten optimiert, was, je nach weite- rem Material, insbesondere eine bessere Ladungsträgerextrak¬ tion in Sammelschichten ermöglicht und/oder die lichtemittierenden Eigenschaften der Schicht optimiert und/oder bei der Prozessierung von verschiedenen Varianten von perowskitischem Material einen möglichen Ionenaustausch unterbindet.
Als Gaskomponente des aerosolbasierten Kaltabscheidens wird/werden zweckmäßig Sauerstoff und/oder Stickstoff
und/oder ein Inertgas, insbesondere Argon und/oder Helium, und/oder Wasserstoff und/oder Mischungen mit Wasserstoff ge- nutzt.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren zur Herstellung einer elektrooptischen und/oder optoelektronischen Vorrichtung mit mindestens einer elektrooptischen und/oder optoelektronischen Schicht wird die zumindest eine elektrooptische und/oder optoelektronische Schicht mit einem perowskitischen Material mittels eines erfindungsgemäßen Verfahrens zur Fertigung einer Schicht mit perowskitischem Material wie zuvor beschrie¬ ben gebildet.
Bei elektrooptischen und/oder optoelektronischen Vorrichtungen ist die Fertigung einer möglichst dichten elektroopti¬ schen und/oder optoelektronischen, perowskitischen Schicht entscheidend. Mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens wie oben beschrieben lässt sich die elektrooptische und/oder optoelektronische Schicht dicht und mit hoher Schichtdicke fertigen. Die Vorrichtung mit einer solchen Schicht weist folglich eine hohe elektrooptische und/oder optoelektronische Effizienz und zugleich vorteilhaft eine hohe Lebensdauer auf.
Vorzugsweise ist bei dem erfindungsgemäßen Verfahren die Vorrichtung ein Energiewandler oder ein Strahlungsdetektor, ins-
besondere ein Röntgendetektor, und/oder die elektrooptische und/oder optoelektronische Schicht ist eine Sensorschicht.
Gerade für Vorrichtungen in Form von Energiewandlern und Strahlungsdetektoren ist die Fertigung der elektrooptischen und/oder optoelektronischen perowskitischen Schicht mit einer hohen Schichtdicke und einer geringen Porosität entscheidend für ihre Effizienz und Lebensdauer. Diese für die Praxistauglichkeit der Vorrichtung wesentlichen Voraussetzungen lassen sich mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens leicht errei¬ chen .
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird vorzugsweise in Richtung schräg, insbesondere senkrecht, zu einer Wachstums- richtung der mindestens einen Sensorschicht mindestens eine weitere Sensorschicht gefertigt.
Unter Wachstumsrichtung ist hier die Richtung gemeint, in welcher sich die Schicht anlagert, d.h. zweckmäßig die Norma- le zu einer Oberfläche des Substrats, an welcher sich die Schicht anlagert und/oder die Normale zu den flächigen Er- streckungen der Schicht.
Insbesondere im Falle von Strahlungsdetektoren lassen sich in dieser Weiterbildung der Erfindung mehrere Sensorschichten in der Art von Detektorpixeln realisieren, sodass ggf. eine ortsaufgelöste Detektion von elektromagnetischer Strahlung erfolgen kann. Die erfindungsgemäße Vorrichtung mit mindestens einer Schicht mit perowskitischem Material ist mittels eines erfindungsge¬ mäßen Verfahrens wie oben beschrieben gebildet.
Bevorzugt bildet die erfindungsgemäße Vorrichtung einen Ener- giewandler, insbesondere ausgebildet zur Wandlung elektromag¬ netischer Energie in elektrische Energie oder elektrischer Energie in elektromagnetische Energie.
In einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung bildet die Vorrichtung eine Solarzelle oder eine Leuchtdiode.
In einer weiteren vorteilhaften Weiterbildung der erfindungs- gemäßen Vorrichtung bildet diese einen Röntgendetektor.
Die oben genannten Vorteile des erfindungsgemäßen Verfahrens gelten entsprechend auch für die genannten Vorrichtungen. Nachfolgend wird die Erfindung anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
Es zeigen: Fig. 1 eine Anlage zum Kaltgasspritzen während der Ausführung des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Fertigung einer Schicht mit einem perowskitischen Material schematisch in einer Prinzipskizze, Fig. 2 die mit dem erfindungsgemäßen Verfahren gemäß Fig.
1 gefertigte Schicht mit perowskitischem Material in einer Draufsicht,
Fig. 3 eine weitere mittels des erfindungsgemäßen Verfah- rens gemäß Fig. 1 gefertigte Schicht schematisch im
Längsschnitt,
Fig. 4 eine erfindungsgemäße Solarzelle mit einem weiteren
Ausführungsbeispiel einer mittels des erfindungsge- mäßen Verfahrens gem. Fig. 1 gefertigten Schichtfolge mit einer optoelektronischen Sensorschicht schematisch im Längsschnitt,
Fig. 5 eine erfindungsgemäße Leuchtdiode mit einem weite- ren Ausführungsbeispiel einer mittels des erfin¬ dungsgemäßen Verfahrens gem. Fig. 1 gefertigten Schichtfolge mit einer optoelektronischen Sensorschicht schematisch im Längsschnitt,
Fig. 6 einen erfindungsgemäßen Röntgendetektor mit einer mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens gem. Fig. 1 gefertigten optoelektronischen Sensorschicht schematisch in einer Draufsicht,
Fig. 7 ein weiteres Ausführungsbeispiel eines erfindungs¬ gemäßen Röntgendetektors mit einer mittels des er¬ findungsgemäßen Verfahrens gem. Fig. 1 gefertigten optoelektronischen Sensorschicht schematisch in ei- ner Draufsicht sowie
Fig. 8 den erfindungsgemäßen Röntgendetektor gem. Fig. 7 schematisch in einer Draufsicht.
Die in Fig. 1 dargestellte Anlage 10 ist eine Kaltgasspritz¬ anlage und bildet im dargestellten Ausführungsbeispiel eine an sich bekannte Anlage 10 zur aerosolbasierten Kaltabschei- dung von Pulvern. Die Anlage 10 umfasst eine Vakuumkammer 20, eine Vakuumpumpe 30, eine Aerosolquelle 40 sowie eine Düse 50. Details zum Aufbau der Anlage 10 finden sich beispiels¬ weise in US 7,553,376 B2, die sich auf die vorliegende Anlage 10 ohne weitere Anpassungen übertragen lassen.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird mittels der Anlage 10 wie folgt durchgeführt: Die Vakuumpumpe 30 pumpt die Vakuumkammer 20 auf ein Vakuum, dies meint vorliegend einen Unterdruck von wenigen, hier fünf, Millibar, ab. Die Aerosolquelle 40 befin- det sich außerhalb der Vakuumkammer 20 und vermischt ein Gas, etwa Sauerstoff und/oder Stickstoff, mit Partikeln 60
perowskitischen Materials und stellt auf diese Weise ein Ae¬ rosol 70 zur Verfügung. Das perowskitische Material ist dazu zuvor mittels bekannter chemischer Verfahren bereitgestellt.
Die Aerosolquelle 40 wird z.B. bei Normaldruck, d.h. Atmo¬ sphärendruck, betrieben. Als Folge dieses Druckunterschiedes zwischen Aerosolquelle 40 und Vakuumkammer 20 werden die Par-
tikel 60 von der Aerosolquelle 40 über eine die Aerosolquelle 40 und die Vakuumkammer 20 verbindende Verbindungsleitung 80 in die Vakuumkammer 20 hinein transportiert. Die Verbindungs¬ leitung 80 erstreckt sich in die Vakuumkammer 20 und mündet an ihrem in der Vakuumkammer 20 befindlichen Ende in eine Düse 50, welche den Aerosolstrom und folglich die Partikel 60 weiter beschleunigt. In der Vakuumkammer 20 treffen die Partikel 60 auf ein in x-Richtung bewegtes Substrat 90 und bil¬ den dort einen dichten Film 100.
Die Partikel 60 liegen in der Aerosolquelle 40 bereits vor der Vermischung mit dem der Gaskomponente des Aerosols 40 als pulverförmiges perowskitisches Material vor. Die Partikel 60 formen auf dem Substrat 90 einen ebenfalls perowskitischen Film 100, wobei das perowskitische Material während des ge¬ samten Verfahrens in seiner chemischen Struktur unverändert bleibt .
Nicht eigens dargestellt ist in einem weiteren Ausführungs- beispiel, welches im Übrigen dem Dargestellten entspricht, eine Strukturkontrolleinrichtung vorgesehen, welche die Kristallgitterstruktur des Films 100 mittels
Röntgendiffraktometrie überwacht. Messungen zeigen, dass die perowskitische Kristallgitterstruktur des pulverförmigen Aus- gangsmaterials bei der Auftragung auf das Substrat 90 regel¬ mäßig vollständig erhalten bleibt. Zweitphasen treten im dem Film 100 nicht auf.
Im dargestellten Ausführungsbeispiel ist das perowskitische Material ein organometallisches Halogen, hier CH3NH3Pbl3, wo¬ bei das Substrat 90 vorliegend ein Glassubstrat ist. Das perowskitische Material kann in weiteren, nicht eigens darge¬ stellten Ausführungsbeispielen ein anderes perowskitisches Material mit optoelektronischen Eigenschaften sein. Ferner können in weiteren, nicht eigens dargestellten Ausführungsbeispielen auch andere Substrate herangezogen werden, beispielsweise Gläser oder bereits mit anderen Schichten verse¬ hene Substrate.
Das im dargestellten Ausführungsbeispiel verwendete
perowskitische Material CH3NH3Pbl3 weist optoelektronische Ei¬ genschaften auf, welche das Material als Energiewandler zur Wandlung elektrischer Energie in elektromagnetische Strahlungsenergie und umgekehrt als besonders geeignet ausweisen: So weist das Absorptionsspektrum dieses perowskitischen Materials eine Absorptionskante im Wellenlängenbereich zwischen 750 Nanometern und 800 Nanometern und eine Absorption über den gesamten sichtbaren Wellenlängenbereich (350 Nanometer bis 800 Nanometer) hinweg auf. Das Emissionsspektrum zeigt bei einer Anregungswellenlänge von 405 Nanometern für dieses perowskitische Material typisch ein Hauptmaximum bei 780 Nanometern in unmittelbarer Nähe zur Absorptionskante. Auch für andere perowskitische Materialien sind die genannten Ab- sorptions- und Emissionscharakteristika typisch.
Mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens der aerosolbasierten Kaitabscheidung resultiert eine kristalline Struktur mit ge- ringer Porosität, also mit hoher Dichte, die nahezu der theo¬ retischen Dichte entspricht.
Insbesondere lassen sich mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens ausgedehnte und insbesondere nahezu beliebig dicke Schichten herstellen. So wird die Schicht 100 auf mehrere 100 Mikrometer gefertigt. Die Schicht kann in weiteren, nicht ei¬ gens dargestellten Ausführungsbeispielen dünner, beispielsweise um einen Faktor 10 dünner, sein. Ferner bietet das erfindungsgemäße Verfahren wie nachfolgend dargestellt die Mög- lichkeit, mehrere Materialien zu kombinieren:
Beispielsweise können in weiteren Ausführungsbeispielen des erfindungsgemäßen Verfahrens verschiedene pulverförmige Aus¬ gangsstoffe vor oder während des Prozesses der aerosolbasier- ten Kaitabscheidung gemischt werden. Beispielsweise werden in einem ersten nicht eigens dargestellten Ausführungsbeispiel verschiedene Varianten von perowskitischen Materialien (z.B. CH3NH3PbI3 und CH3NH3PbBr3) verwendet.
In einem weiteren Ausführungsbeispiel ist, wie in Fig. 3 dar¬ gestellt, mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens auf einem Trägersubstrat 110 ein Gemisch einer oder mehrerer
perowskitischer Schichten 120 mit einem oder mehreren anderen sonstigen Materialien 130 (z.B. 1O2 als Elektronenleiter, Lochleitern oder elektrisch isolierenden Materialien) abgeschieden. Dabei bilden die weiteren nicht-perowskitischen Materialien 130 Inseln innerhalb der perowskitischen Schicht 120, welche vollumfänglich vom perowskitischen Material umgeben sind.
Mittels einer solchen Kombination verschiedener Ausgangsstoffe ist beispielsweise die Kontaktzone zwischen den jeweiligen Funktionsmaterialen oder Funktionsschichten optimiert, z.B. um eine bessere Ladungsträgerextraktion in Sammelschichten zu ermöglichen, um die lichtemittierenden Eigenschaften des Funktionswerkstoffes zu optimieren oder um bei der
Prozessierung von verschiedenen Varianten von perowskitischen Materialien einen möglichen Ionenaustausch zu unterbinden.
In einem Ausführungsbeispiel weist eine (nicht eigens darge¬ stellte) erfindungsgemäße LED diese erfindungsgemäß gefertig¬ te Schicht zur Konversion elektrischer Energie in optische Energie auf. Dabei bildet T1O2 das weitere Material 130 in der Art einer (engl.) „mesoporous perovskite solar cell" aus.
In weiteren Ausführungsbeispielen ist ein solches Lagengemisch durch eine Aufeinanderfolge von Schichten unterschied- licher Materialien realisiert:
So können beispielsweise aufeinanderfolgend verschiede Werk¬ stoffe abgeschieden werden: Dabei werden beispielsweise perowskitische Materialien verschiedener Zusammensetzungen abgeschieden und/oder perowskitische Materialien aufeinanderfolgend mit einem anderen Werkstoff abgeschieden, z.B. Lochleiter, Elektronenleiter, Injektionsschichten, Inertmaterial,
optisch transparentes Material, Strukturmaterial etc. oder Mischungen an Ausgangsmaterialien, wie zuvor beschrieben.
Figur 4 zeigt eine schematische Skizze einer solchen Aufei- nanderfolge von Schichten am Beispiel einer Solarzelle 135:
Die Solarzelle 135 bildet ein Ausführungsbeispiel einer er¬ findungsgemäßen Vorrichtung mit einer Schicht mit
perowskitischem Material in der Art eines Energiewandlers und umfasst ein Trägersubstrat 140 (vorliegend beispielsweise
Glas), sowie jeweils nachfolgend aufeinander schichtweise ab¬ geschieden eine transparente Elektrode 150, die im gezeigten Ausführungsbeispiel mit FTO-Glas gebildet ist (FTO = engl. „Fluorine doped Tin Oxide" (fluordotiertes Zinnoxid) ) , eine Elektronensammelschicht 160 (vorliegend beispielsweise Ti02) , eine elektrooptische und optoelektronische, perowskitische Schicht 170 (beispielsweise CH3NH3Pbl3) , einer Lochsammei¬ schicht 180 (beispielsweise Spiro-MeOTAD) , und einer Elektro¬ de 190 (beispielsweise Gold), wobei mindestens die elektroop- tische und optoelektronische, mit perowskitischem Material gebildete, Schicht und in weiteren Ausführungsbeispielen eine oder mehrere der übrigen Schichten mittels aerosolbasierter Kaitabscheidung hergestellt ist. Die elektrooptische und optoelektronische perowskitische Schicht 170 kann zudem in einem weiteren, nicht eigens dargestellten Ausführungsbei¬ spiel neben perowskitischem Material auch zusätzlich andere Werkstoffe enthalten, wie oben anhand von Fig. 3 erläutert.
Die Funktionsweise der Solarzelle 135 mit der in Fig. 4 dar- gestellten Aufeinanderfolge von Schichten ist wie folgt: Es fällt elektromagnetische Strahlung von unten vertikal in die Solarzelle 135 ein. Die Strahlung gelangt durch die transpa¬ rente Elektrode 150 in die elektrooptische und
optoelektronische, mit perowskitischem Material gebildete, Schicht 170 hinein. Dort wird die Strahlung absorbiert. Dies zieht die Generation von Ladungsträger nach sich. Die Ladungsträger werden durch die Elektronen- und die Lochsammei-
schichten 160 und 180 extrahiert und fließen über die Elekt¬ roden 150 und 190 ab.
Figur 5 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel eines erfin- dungsgemäßen Energiewandlers, hier einer Leuchtdiode 200 mit einer Aufeinanderfolge mehrerer Schichten. Diese Aufeinanderfolge umfasst (von unten nach oben in Fig. 5) ein Trägersubstrat 140 (z.B. Glas), eine transparente Elektrode 150 (z.B. FTO) , eine transparente Injektionsschicht für Löcher 210 (z.B. PEDOT:PSS), eine elektrooptische und optoelektronische, mit perowskitischem Material gebildete, Schicht 220 (z.B. CH3NH3Pbl3) , eine Injektionsschicht für Ladungsträger 230 (z.B. F8), und eine Metallelektrode 240 (z.B. Mo03/Ag) , wobei mindestens die elektrooptische und optoelektronische, mit perowskitischem Material gebildete, Schicht 220 mittels aero¬ solbasierter Kaitabscheidung hergestellt ist und neben dem perowskitischen Material auch andere Werkstoffe 250 enthält wie oben anhand von Fig. 3 erläutert. Die Funktionsweise der Leuchtdiode 200 ist dabei wie folgt: Das Anlegen einer äußeren Spannung an die Elektroden 150 und 240 verursacht eine Injektion von Löchern bzw. Elektronen von den jeweiligen Injektionsschichten 210 und 230 in die
elektrooptische und optoelektronische, mit perowskitischem Material gebildete, Schicht 220 hinein, wo durch deren Rekom¬ bination entstandenes Licht über die transparenten Schichten Trägersubstrat 140, Elektrode 150, und Injektionsschicht 210 die Leuchtdiode 200 verlassen kann. Durch Herstellung von Schichten aus Mischungen von einem oder mehreren
perowskitischen Materialien und einem oder mehreren geeigneten anderen Werkstoffen mit der aerosolbasierten Kaltabschei- dung werden die Eigenschaften der elektrooptischen und optoelektronischen, mit perowskitischem Material gebildeten, Schicht 220 derart beeinflusst, dass z.B. eine Erhöhung der Ladungsträgerrekombinationsrate und somit eine Modifikati¬ on/Optimierung der Leuchteffizienz der Leuchtdiode 200 erreicht wird.
Weitere Ausführungsbeispiele einer Vorrichtung mit einer Schicht mit perowskitischem Material sind in den Fig. 6 bis 8 dargestellt. Die dargestellte Vorrichtung bildet einen Rönt- gendetektor 260, welcher zur Detektion elektromagnetischer Strahlung im Röntgen- bis UV-Bereich ausgebildet ist.
Dazu weist auch der Röntgendetektor 260 eine Abfolge von Schichten auf: Ähnlich wie in den vorangegangenen Ausführungsbeispielen umgeben eine erste Elektrode 270 und eine zweite Elektrode 280 eine elektrooptische und optoelektronische, mit
perowskitischem Material gebildete, Schicht 290. Erfindungs¬ gemäß wird diese Anordnung derart gefertigt, dass die
elektrooptische und optoelektronische, mit perowskitischem
Material gebildete Schicht 290 mittels aerosolbasierter Kalt- abscheidung perowskitischen Materials auf die erste Elektrode 270 abgeschieden wird. Anschließend wird auf diese Schicht 290 die weitere Elektrode 280 aufgebracht.
Die Funktionsweise dieses Röntgendetektors ist wie folgt: Es fällt elektromagnetische Strahlung im Röntgen- bis UV- Bereich, in der Darstellung gem. Fig. 6 in horizontaler Ausbreitungsrichtung, auf den Röntgendetektor 260 ein. Die
Strahlung wird von der elektrooptischen und
optoelektronischen, mit perowskitischem Material gebildeten Schicht 290 absorbiert und es werden innerhalb dieser Schicht 290 Ladungsträger generiert. Im Fall von Schichtdicken welche die intrinsische Ladungsträgerdiffusionslänge deutlich über- schreiten und bei denen daher eine effiziente Ladungsträgerextraktion an den Elektroden 270, 280 nicht erfolgt, liegt beispielsweise an der Elektroden 270, 280 eine geeignete ex¬ terne Spannung an, sodass eine effiziente Ladungsseparation sichergestellt ist. Vorteilhaft für eine effiziente Ladungs- Separation ist eine hohe Kompaktheit, d.h. eine geringe Poro¬ sität, der elektrooptischen und optoelektronischen, mit perowskitischen Material gebildeten Schicht 290, die durch die aerosolbasierte Kaitabscheidung ermöglicht wird. Durch
Messen des von der einfallenden elektromagnetischen Strahlung abhängigen Fotostroms, welcher über die Elektroden 270 und 280 abfließt, ist schließlich die Detektion elektromagneti¬ scher Strahlung mit Hilfe des Röntgendetektors 260 möglich.
Die Elektroden 270, 280 können aber auch lateral auf ein Substratmaterial aufgebracht werden und in einem anschließenden Schritt mit der elektrooptischen und optoelektronischen
Schicht, aus perowskitischem Material abgedeckt werden. Eine derartige mögliche Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Röntgendetektors 300 ist in Figur 7 dargestellt. Hier wird auf eine sich auf einem Trägersubstrat 310 befindliche Elekt¬ rodenstruktur (hier beispielhaft eine Fingerelektrodenstruktur mit den Elektroden 320 und 330) das perowskitische Mate- rial 340 mithilfe der aerosolbasierten Kaltabscheidung abgeschieden. Mittels der aerosolbasierten Kaltabscheidung wird eine, abhängig von der Wellenlänge/Photonenenergie der zu de- tektierenden Strahlung, geeignete Schichtdicke realisiert. Mit Hilfe der aerosolbasierten Kaltabscheidung können großflächige Beschichtungen realisiert werden. Dies ermöglicht es Anordnungen herzustellen, welche eine ortsaufgelöste Detekti¬ on von Strahlung ermöglichen. Für eine derartige Detektion des Fotostroms sind in dem Ausführungsbeispiel gem. Fig. 7 mehrere Röntgendetektoren 300 nebeneinander, d.h. in den flächigen Erstreckungen der elektrooptischen und
optoelektronischen Schicht x, y versetzt, angeordnet, sodass sie eine zweidimensionale Struktur bilden (Figur 8) . Dies er¬ folgt z.B. durch Maskierung während der Schichtbildung, so- dass die Anordnung gewissermaßen zeitlich parallel gefertigt ist. Weiterhin könnten in weiteren Ausführungsbeispielen auch Röntgendetektoren 300 hintereinander oder nebeneinander zu einer dreidimensionalen Struktur verschaltet bzw. angeordnet werden. Damit wird durch räumlichen Versatz der Röntgendetek- toren 300 zueinander eine Verbesserung der Auflösung erreicht .