WO2024088687A1 - Vorrichtung und verfahren zum messen optischer eigenschaften, insbesondere farbmessgerät - Google Patents

Vorrichtung und verfahren zum messen optischer eigenschaften, insbesondere farbmessgerät Download PDF

Info

Publication number
WO2024088687A1
WO2024088687A1 PCT/EP2023/076879 EP2023076879W WO2024088687A1 WO 2024088687 A1 WO2024088687 A1 WO 2024088687A1 EP 2023076879 W EP2023076879 W EP 2023076879W WO 2024088687 A1 WO2024088687 A1 WO 2024088687A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
radiation
calibration
calibration body
examined
housing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/EP2023/076879
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Jozef Hopko
Kilian Sappl
Uwe Sperling
Stefan Kirner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BYK Gardner GmbH
BYK Gardner USA Inc
Original Assignee
BYK Gardner GmbH
BYK Gardner USA Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BYK Gardner GmbH, BYK Gardner USA Inc filed Critical BYK Gardner GmbH
Priority to JP2025523576A priority Critical patent/JP2025536396A/ja
Priority to CN202380073534.4A priority patent/CN120092173A/zh
Publication of WO2024088687A1 publication Critical patent/WO2024088687A1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4785—Standardising light scatter apparatus; Standards therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G01N21/57—Measuring gloss
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/062—LED's

Definitions

  • the present invention relates to a device and a method for measuring optical properties and in particular for determining optical properties of surfaces.
  • the device is described in particular with reference to a color measuring device, but it is pointed out that the invention is also suitable for other devices for measuring or determining optical properties (of surfaces) such as gloss or the like.
  • Color measuring devices often use a calibration standard, referred to below as a calibration body, in order to be able to detect and intercept and/or correct possible aging, such as a decrease in the intensity of light waves. It is known that this correction is achieved using a calibration factor, which ensures that color measurement values (in the laboratory system, in particular the L value) always remain the same for an identical sample, regardless of the quality of the lighting.
  • a dirty or damaged calibration body can simulate an aging of a light source that does not actually exist and in this way impair a measurement such as a color measurement via an incorrectly set calibration factor.
  • the present invention is therefore based on the object of achieving a more accurate calibration of such devices and, in particular, of eliminating and/or taking into account various sources of error that could influence the calibration.
  • a device according to the invention for examining optical properties of surfaces has a housing and a first radiation device arranged within the housing, which is suitable and intended to emit radiation and in particular light and in particular light in the visible wavelength range, for example light in a wavelength range of 300 nm - 700 nm, onto a surface to be examined.
  • the device further comprises a first radiation detector device arranged within the housing, which is suitable and intended to record radiation radiated onto the surface to be examined and reflected and/or scattered by the surface.
  • the housing further comprises an opening through which the first radiation device emits radiation onto the surface to be examined.
  • the device has a first calibration body, which can be arranged instead of the surface to be examined such that radiation which is emitted by the first radiation device onto the first calibration body and reflected and/or scattered by the first calibration body reaches the first radiation detector device.
  • the device has a second calibration body which can be arranged instead of the surface to be examined and instead of the first calibration body in such a way that radiation which was emitted by the first radiation device onto the second calibration body and reflected and/or scattered by the second calibration body reaches the first radiation detector device.
  • the first and/or the second calibration body have at the radiation device
  • the surface facing the device has a white surface.
  • This is particularly preferably a specified white standard which, in addition to the property "white”, preferably also has a gloss level suitable for gloss calibration.
  • the surface of the calibration body can be made of ceramic.
  • Other materials can also be used which are stable and/or color-stable and preferably also resistant to aging.
  • the calibration body is arranged on a holder.
  • the first and/or calibration body is always or permanently arranged inside the housing.
  • the first and/or second calibration body it would also be conceivable for the first and/or second calibration body to be arranged outside the housing, for example on a (particularly pivotable) support arm.
  • the first and/or second calibration body can be moved and in particular pivoted in the beam path between the radiation device and the detector device.
  • the calibration body is arranged in a holder.
  • this holder is designed to be light-absorbing and/or made of a light-absorbing material.
  • the first and/or second calibration body can be arranged such that a surface exposed to the radiation device coincides with the surface to be examined or is parallel to it.
  • the first calibration body can be pivoted inside the housing into a position in which its surface is parallel to the surface of a surface used in operation or to be examined.
  • the second calibration body can be placed on the opening and thus preferably located at the position where the surface to be examined is located during a measuring operation.
  • the device has a closing device and in particular a shutter device, which is suitable and intended to close the device in certain periods of time, in particular in periods in which no measurement takes place, or the device is switched off, the opening must be closed. This prevents dirt from entering the device or the housing when the device is not in use.
  • the radiation detector device is suitable and intended to record spatially resolved images of the surface to be examined.
  • the radiation detector device is suitable and intended to measure a radiation intensity incident on it.
  • the radiation detector device is suitable and intended to carry out a wavelength resolution of the radiation impinging on it.
  • the radiation detector device allows an analysis of the radiation impinging on it with regard to its wavelength and/or outputs wavelength-dependent measurement results.
  • the radiation detector device allows a wavelength-dependent analysis of the radiation incident on it, in particular in a visible wavelength range.
  • the radiation detector device is a spectrometer device.
  • the device particularly preferably has a receiving device or a receiving volume for receiving one of the calibration bodies.
  • the device particularly preferably has a receiving compartment or a receiving volume for both calibration bodies.
  • the two calibration bodies are preferably stored separately from one another.
  • the two calibration bodies are stored in different orientations, in particular in different orientations with respect to an orientation of the above-mentioned opening through which the surface to be examined is illuminated during operation.
  • the second calibration body can be removed from the receiving volume and, for example, placed on the opening of the device in order to carry out a calibration measurement.
  • the housing is light-absorbing on its inner surface, for example black.
  • the device has a processor device which determines a measured value and in particular a calibration value from a value output by the radiation detector device.
  • the processor device can particularly preferably use a calibration value for this purpose.
  • the calibration value is particularly preferably stored or can be stored in a memory device of the device. This calibration value can particularly preferably be changed and in particular changed as a result of a calibration measurement.
  • one of the calibration bodies can be arranged inside the housing and preferably can be moved inside the housing in a beam path between the first radiation device and the first radiation detector device.
  • this one calibration body can be placed against the opening from the inside.
  • the device has a processor device which detects a first value characteristic of a first calibration measurement with the first calibration body and which detects a second value characteristic of a second calibration measurement with the second calibration body and preferably the device has a comparison device which compares the first value and the second value with each other.
  • a fault condition of the device and/or the calibration body can be concluded from the comparison between the first value and the second value.
  • the first and second values are each comparison values.
  • a cause of a fault within the scope of a calibration measurement can be concluded on the basis of this comparison.
  • the device has an output and/or display device which is suitable and intended to output at least one signal which is characteristic of a specific error.
  • the display can indicate that one of the calibration bodies is dirty or that the calibration body is not positioned correctly.
  • the display device is particularly preferably a display, which is particularly preferably integrated into the housing of the device.
  • the display is particularly preferably suitable and intended for an alphanumeric output of information.
  • two calibration bodies are used. This is preferably an external calibration body that is placed on the measuring opening like a sample to be measured and also preferably an internal calibration body that is integrated into a closure cap that closes the measuring opening preferably by motor when no measurement is being taken.
  • At least one calibration body is integrated into a closing device which is intended to close the opening through which the surface to be examined is illuminated during operation.
  • the device is selected from a group of devices which includes color measuring devices, gloss measuring devices, orange peel measuring devices and the like. Particularly preferably, the device is a color measuring device.
  • the device has a second radiation device arranged within the housing, which is suitable and intended to radiate the material to be examined. corresponding surface to emit radiation and especially light.
  • this radiation or the radiation resulting from this radiation and reflected and/or scattered (from the surface to be examined) is also detected by the detector device described above.
  • the second radiation device is arranged such that it radiates radiation onto the surface at a different angle than the above-mentioned first radiation device.
  • a first radiation device to radiate radiation at an angle of, for example, 60° or 45° relative to the surface and for a second radiation device to radiate radiation at an angle of 20° relative to the surface.
  • At least one radiation device radiates radiation onto the surface at an angle to the latter that is between 30° and 60°, preferably between 40° and 50°.
  • at least one radiation device radiates radiation onto the surface at an angle to the latter that is between 10° and 30°, preferably between 15° and 25°.
  • these radiations can also be radiated onto or directed to the detector device by means of the calibration body.
  • the device also has a second detection device or a second radiation detector device which detects the radiation impinging on it.
  • This second detector device can in particular be arranged at a different angle to the surface than the first radiation deflection device described above.
  • the device has a plurality of radiation devices, each of which is suitable and intended to radiate light onto the surface to be examined.
  • This can be, for example, a plurality of light sources, which particularly preferably partially emit white light and particularly preferably at least partially emit light of different colors and/or wavelengths.
  • the radiation devices can have a variety of radiation characteristics such as directional illumination, illumination within a given angular acceptance or diffuse illumination.
  • this plurality of radiation devices is arranged along a circular line.
  • this circular line runs parallel to the surface to be examined.
  • the radiation detector device is arranged such that it is substantially perpendicular to the surface to be examined, and in particular a direction from which it receives radiation from the surface is substantially perpendicular to the surface.
  • the device further comprises a gloss measuring device (and/or reflection measuring device).
  • This gloss measuring device and in particular a radiation device of this gloss measuring device preferably emits light onto the surface at a predetermined angle and a detector device detects light from the corresponding reflection angle.
  • This gloss measuring device can also be used to evaluate the calibration. If the device is operated in the orientation with a measuring opening facing upwards, the optics can become dirty in a very dusty environment despite the measuring opening being closed, for example by a shutter. However, small gloss angles compared to the normal, for example 20°, are much more affected by this than large angles such as 60°.
  • the gloss value of the first calibration object can be related to the gloss value of the second calibration object in terms of the calibration factors. As will be shown in more detail below, different conclusions can be drawn from an appropriate combination of observations.
  • the device has a gloss measuring device, wherein this gloss measuring device has a further radiation device which radiates radiation onto the surface at a predetermined angle of incidence, and the gloss measuring device further has a further radiation detector device which detects radiation radiated onto the surface by the further radiation device at a predetermined angle and reflected from the surface, wherein the angle of incidence and the further angle are preferably opposite each other.
  • the present invention is further directed to a method for examining optical properties and in particular color properties of surfaces, wherein a radiation device arranged within a housing emits radiation and in particular light onto a surface to be examined and a first radiation detector device arranged within the housing receives the radiation radiated onto the surface to be examined and reflected and/or scattered by the surface (and/or this radiation strikes the radiation detector device), wherein the housing has an opening through which the first radiation device emits radiation onto the surface and wherein the device has a first calibration body which, in a calibration operation, is arranged instead of the surface to be examined in such a way that radiation which was emitted by the first radiation device onto the first calibration body and reflected and/or scattered by the first calibration body reaches the first radiation detector device.
  • a second calibration body is arranged such that radiation which was emitted by the first radiation device onto the second calibration body and reflected and/or scattered by the second calibration body reaches the first radiation detector device.
  • a calibration factor is changed on the basis of at least one calibration measurement carried out.
  • this calibration factor is changed if the calibration measurements show that deviations in the measurements are based on a change in the optical properties of the radiation device.
  • the calibration factor is changed in order to take into account and/or compensate for an aging state of at least one radiation device.
  • a first value characteristic of a first calibration measurement with the first calibration body is recorded, as well as a second value characteristic of a second calibration measurement with the second calibration body.
  • the first value and the second value are compared with each other and particularly preferably, taking this comparison into account, an instruction or information about an error is issued to a user.
  • the first and second values are placed in a mathematical relationship to one another. This makes it possible to form a difference between the first value and the second value. However, it would also be possible to form a quotient between the first and second values. Particularly preferably, both a difference between the first and second values and a quotient between the first and second values are formed. This can, for example, determine which of the two values is larger. This can provide information about possible error states in the device and/or the calibration bodies. Furthermore, the relationship can be used to determine whether the two values are approximately the same or differ significantly from one another.
  • a further measured value in particular a gloss measurement value (in particular under a predetermined angle of incidence) is also determined.
  • the gloss measurement is preferably carried out in so-called gloss units as described in detail in the common standards (for example ISO 2813 or ASTM D 253).
  • This measured gloss value is preferably compared with a predetermined value, for example an initial value.
  • This gloss value measurement can be used for both the first calibration body and the second calibration body. It is particularly preferred to take several of the values or evaluations determined above into account in order to conclude that there is a fault in the device or the calibration bodies or the optical devices.
  • the following table shows a corresponding list of different sources of error. It is particularly preferred to make a case distinction according to different sources of error depending on the comparison mentioned above.
  • a calibration value is changed taking into account at least one of the measured values. This can be seen in particular from the table above.
  • the table above shows four cases of errors or conditions.
  • the second line shows possible measurement results for the calibration factor caj for the first calibration body (in particular the calibration body arranged inside the housing during the calibration measurement). This can either be greater than 1 (which indicates an error state) or approximately equal to 1 (which indicates a target state).
  • the third line shows possible measurement results for the calibration factor ca_a for the second calibration body (in particular the calibration body arranged outside the housing during the calibration measurement). This can either be greater than 1 (which indicates an error state) or approximately equal to 1 (which indicates a target state).
  • the fourth line shows a ratio between the measured calibration factors caj and ca_a. If this ratio is approximately 1, i.e. the two calibration factors are approximately the same, this indicates a target state with regard to possible contamination of the two calibration bodies and in particular the second calibration body. If this ratio caj/ ca_a is less than 1, this indicates contamination of the outer calibration body (see third column and penultimate line of the table).
  • gloss measurements gi are determined at an angle of incidence of 20° and with the first calibration body.
  • gloss measurements ga are determined at an angle of incidence of 20° and with the second calibration body.
  • gloss measurements are preferably compared with the respective initial measurement values glossJO and gloss_e0. If both values differ (second column), this is an indication of dirty optics. If only the value for the second calibration body differs, this is an indication that it is either dirty or not correctly positioned on the opening.
  • gloss measurements can also be performed at a second angle, such as 60'.
  • the surface to be examined is exposed to several radiation devices during operation.
  • the surface to be examined is exposed to at least two radiation devices.
  • these two radiation devices radiate radiation at at least two different angles.
  • the irradiation with the first radiation device is offset in time from the irradiation with the second radiation device.
  • the radiation detector device detects the radiation incident on it depending on the wavelength.
  • the radiation detector device is particularly preferably a spectrometer.
  • the radiation detector device particularly preferably outputs a value characteristic of a specific wavelength. This value is particularly preferably output both during the measurement with a surface to be examined and during the calibration.
  • At least one calibration is used to determine and take into account an age-related condition of at least one radiation device.
  • the surface to be examined is illuminated with light of different wavelengths and/or with white light.
  • the surface to be examined is irradiated from at least two different angles of incidence.
  • At least one color measurement value for an identical sample is always substantially constant regardless of the quality of the illumination.
  • Fig. 1 is a representation of a device according to the invention.
  • Fig. 2 is a view into the interior of the device through the measuring openings
  • Fig. 3 is an internal view of a device according to the invention.
  • Fig. 4 shows a further internal view of a device according to the invention
  • Fig. 5 shows a further internal view of a device according to the invention.
  • Fig. 6 shows a further internal view of a device according to the invention.
  • Fig. 1 shows an external view of a device 1 according to the invention for examining optical properties of surfaces.
  • This device 1 has a housing 10.
  • the housing also has a receiving opening 38 or a receiving volume for receiving a second calibration body 16 (external calibration body), which serves in particular for its storage.
  • This external calibration body 16 is arranged here on a pivoting flap 36.
  • the reference number 30 designates a display device with which, for example, measured values or error states can be displayed.
  • the reference number 22 designates an opening through which a surface to be examined (not shown) can be examined with regard to its color and/or other optical properties such as a gloss value. Preferably, light can only reach the interior of the housing 30 through this opening 22.
  • the device has a pressure device 35, which here has a pivotable arm 32 on which a pressure element 34 is arranged for pressing a sample against the opening 22.
  • This pressure device 35 can be retracted or sunk into a recess 36 of the housing.
  • the second calibration body is arranged inside the housing 10.
  • Fig. 2 shows a view of the interior of the housing through the opening 22.
  • this is a vertical view through the measuring opening 22, for example from above.
  • a plurality, more precisely ten first radiation devices or light sources 2a, 2b, 2c are provided here. These are white light LEDs which serve as illumination for the color measurement. Particularly preferably, these light sources 2a, 2b, 2c are arranged in such a way that they enable illumination of the surface, i.e. the surface to be examined, at 45°.
  • the reference symbols 2d, 2e, 2f refer to a large number of other light sources, which in particular apply colored light to the surface. This can be achieved by using colored light LEDs. However, it would also be possible and preferred to provide white light LEDs here, but with narrow-band filters. Another possible lighting option is monochrome LEDs, which are additionally provided with narrow-band filters whose bandwidth is narrower than the natural bandwidth of the monochrome LEDs.
  • these light sources 2d, 2e, 2f emit light in different wavelengths, in particular in a wavelength range of 300 - 660 nm.
  • the reference number 4 designates a radiation detector device and in particular a spectrometer. This is suitable and intended to receive light from irradiation devices 2a - 2f or the light reflected from the surface (not shown).
  • the reference number 12 designates a preferably present second radiation device, which also serves to direct light onto the surface to be examined (not shown). This light is reflected by the surface and can thus reach the second radiation detector device 13.
  • the second radiation device and the second radiation detector device 13 form a gloss measuring device.
  • Fig. 3 shows a view of the device described here from the inside.
  • the first internal calibration body 6 is shown, which is arranged on a holder 62 and can be pivoted with respect to a pivot axis S on the one hand into a position in which it is not in the beam path (shown in Fig. 3) and on the other hand into a position in which it is placed against the opening 22 from the inside (Fig. 4).
  • the reference numeral 41 designates a tubular body through which radiation can be directed onto the radiation detector device (not shown).
  • the reference numeral 45 designates an optical means such as a lens which serves to focus the radiation impinging on the radiation detector device.
  • the reference number 52 designates a housing part which adjoins the opening 22.
  • This housing part is in particular radiation-absorbing and in particular is kept in black.
  • the reference number 32 schematically designates a processor device which serves, among other things, to control the device 1 and also to determine or change calibration factors.
  • the reference number 34 designates a memory device which serves in particular to store calibration factors.
  • Fig. 4 shows a representation of the device according to the invention, wherein the first calibration body 6, i.e. the inner standard, is pivoted into a position in which a calibration can be carried out.
  • the reference numeral 27 designates an optical block in which the individual radiation devices 2a - 2c and also 2d - 2f are arranged.
  • Fig. 5 shows a further illustration of the device according to the invention.
  • the radiation detector device 4 is shown, as well as the channel 41 through which radiation is guided to the radiation detector device 4.
  • the opening 22 is again shown, which is closed here and wherein the first calibration body 6 points downwards, ie in the direction of the radiation detector device 4.
  • Fig. 6 shows the device shown in Fig. 5 in a view from below.
  • a further radiation detector device 13 is shown, which is used in particular for measuring or carrying out gloss measurements.
  • the first radiation detector device 4 is also shown again.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

Vorrichtung zum Untersuchen von optischen Eigenschaften von Oberflächen mit einem Gehäuse, mit einer ersten innerhalb des Gehäuses angeordneten ersten Strahlungseinrichtung, welche dazu geeignet und bestimmt ist, auf eine zu untersuchende Oberfläche Strahlung und insbesondere Licht auszugeben, mit einer ersten innerhalb des Gehäuses angeordneten Strahlungsdetektoreinrichtung, welche dazu geeignet und bestimmt ist, auf die zu untersuchende Oberfläche eingestrahlte und von der Oberfläche reflektierte und/oder gestreute Strahlung aufzunehmen, wobei das Gehäuse eine Öffnung aufweist, durch welche hindurch die erste Strahlungseinrichtung Strahlung auf die Oberfläche ausgibt, wobei die Vorrichtung einen ersten Kalibrierkörper aufweist, der anstelle der zu untersuchenden Oberfläche derart angeordnet werden kann, dass Strahlung, welche von der ersten Strahlungseinrichtung auf den ersten Kalibierköper ausgegeben und von dem ersten Kalibrierkörper reflektiert und/oder gestreut wurde auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung gelangt, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung einen zweiten Kalibrierkörper aufweist, der anstelle der zu untersuchenden Oberfläche und anstelle des ersten Kalibierkörpers derart angeordnet werden kann, dass Strahlung, welche von der ersten Strahlungseinrichtung auf den zweiten Kalibrierkörper ausgegeben und von dem zweiten Kalibierkörper reflektiert und/oder gestreut wurde auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung gelangt.

Description

Vorrichtung und Verfahren zum Messen optischer Eigenschaften, insbesondere Farbmessgerät
Beschreibung
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Messen optischer Eigenschaften und insbesondere zum Bestimmen optischer Eigenschaften von Oberflächen. Die Vorrichtung wird insbesondere unter Bezugnahme auf ein Farbmessgerät beschrieben, es wird jedoch darauf hingewiesen, dass die Erfindung auch bei anderen Geräten zum Messen oder Bestimmen optischer Eigenschaften (von Oberflächen) wie etwa eines Glanzes oder dergleichen geeignet ist.
Bei Farbmessgeräten wird häufig ein Kalibrierstandard, im Folgenden als Kalibrierkörper bezeichnet, verwendet, um mögliche Alterungen, beispielsweise eine Abnahme der Intensität von Lichtwellen messtechnisch erkennen und abfangen und/oder korrigieren zu können. Dabei ist es bekannt, dass diese Korrektur mithilfe eines Kalibrationsfaktors realisiert wird, der sicherstellt, dass Farbmesswerte (im Laborsystem insbesondere der L-Wert) bei einer identischen Probe unabhängig von der Qualität der Beleuchtung stets gleichbleiben.
Es hat jedoch gezeigt, dass es bei derartigen Messungen oftmals auch Beeinflussungen von beispielsweise verschmutzten Kalibrierkörpern gibt. So kann beispielsweise ein verschmutzter oder beschädigter Kalibrierkörper eine Alterung einer Lichtquelle vortäuschen, die in der Realität nicht existiert und auf diese Weise eine Messung wie eine Farbmessung über einen fehlerhaft gesetzten Kalibrationsfaktor verschlechtern. Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine akkuratere Kalibrierung derartiger Vorrichtungen zu erreichen und insbesondere auch darin, diverse Fehlerquellen, welche die Kalibrierung beeinflussen könnten zu eliminieren und/oder zu berücksichtigen.
Eine erfindungsgemäße Vorrichtung zum Untersuchen von optischen Eigenschaften von Oberflächen weist ein Gehäuse auf, sowie eine erste innerhalb des Gehäuses angeordnete Strahlungseinrichtung, welche dazu geeignet und bestimmt ist, auf eine zu untersuchende Oberfläche Strahlung und insbesondere Licht und insbesondere Licht im sichtbaren Wellenlängenbereich, etwa Licht in einem Wellenlängenbereich von 300nm - 700nm auszugeben.
Weiterhin weist die Vorrichtung eine erste innerhalb des Gehäuses angeordnete Strahlungsdetektoreinrichtung auf, welche dazu geeignet und bestimmt ist, auf die zu untersuchende Oberfläche eingestrahlte und von der Oberfläche reflektierte und/oder gestreute Strahlung aufzunehmen. Weiterhin weist das Gehäuse eine Öffnung auf, durch welche hindurch die erste Strahlungseinrichtung Strahlung auf die zu untersuchende Oberfläche ausgibt.
Weiterhin weist die Vorrichtung einen ersten Kalibrierkörper auf, der anstelle der zu untersuchenden Oberfläche derart angeordnet werden kann, dass Strahlung, welche von der ersten Strahlungseinrichtung auf den ersten Kalibierköper ausgegeben und von dem ersten Kalibrierkörper reflektiert und/oder gestreut wurde auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung gelangt.
Erfindungsgemäß weist die Vorrichtung einen zweiten Kalibrierkörper auf, der anstelle der zu untersuchenden Oberfläche und anstelle des ersten Kalibierkörpers derart angeordnet werden kann, dass Strahlung, welche von der ersten Strahlungseinrichtung auf den zweiten Kalibrierkörper ausgegeben und von dem zweiten Kalibierkörper reflektiert und/oder gestreut wurde auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung gelangt.
Es wird daher vorgeschlagen, dass zwei Kalibrierkörper bzw. zwei Kalibrierstandards unabhängig voneinander verwendet werden, um insgesamt die Kalibrierung durchzuführen. Auf diese Weise ist es möglich, bestimmte Fehler, die sich gerade aus einem fehlerhaften Kalibrierkörper ergeben, zu eliminieren bzw. dies erkennbar zu machen.
Bevorzugt weisen der erste und/oder der zweite Kalibrierkörper an der der Strahlungseinrich- tung zugewandten Oberfläche eine weiße Oberfläche auf. Besonders bevorzugt handelt es sich hier um einen vorgegebenen Weißstandard, der bevorzugt neben der Eigenschaft „weiß“ auch einen für die Glanzkalibration geeigneten Glanzgrad aufweist.
So kann beispielsweise die Oberfläche des Kalibrierkörpers aus Keramik gebildet sein. Daneben können auch andere Materialien verwendet werden, welche stabil und/oder farbstabil und bevorzugt auch alterungsbeständig sind.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform ist der Kalibrierkörper an einer Halterung angeordnet. Besonders bevorzugt ist der erste und/oder Kalibrierkörper stets bzw. permanent im Inneren des Gehäuses angeordnet. Es wäre jedoch auch denkbar, dass der erste und/oder zweite Kalibrierkörper außerhalb des Gehäuses, beispielsweise an einem (insbesondere schwenkbaren) Trägerarm angeordnet ist.
Bevorzugt kann der erste und/oder zweite Kalibrierkörper in dem Strahlengang zwischen der Strahlungseinrichtung und der Detektoreinrichtung bewegt und insbesondere geschwenkt werden. Besonders bevorzugt ist der Kalibrierkörper in einer Halterung angeordnet. Besonders bevorzugt ist diese Halterung lichtabsorbierend ausgebildet und/oder aus einem lichtabsorbierenden Material hergestellt.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform kann der erste und/oder zweite Kalibrierkörper derart angeordnet werden, dass eine von der Strahlungseinrichtung beaufschlagte Oberfläche mit der zu untersuchenden Oberfläche zusammenfällt oder zu dieser parallel ist. So kann beispielsweise der erste Kalibrierkörper im Inneren des Gehäuses in eine Position geschwenkt werden, in der dessen Oberfläche parallel zu der Oberfläche einer im Betrieb verwendeten bzw. zu untersuchenden Oberfläche ist.
Bevorzugt kann der zweite Kalibrierkörper auf die Öffnung gelegt werden und sich damit bevorzugt an der Stelle befinden, an der sich in einem Messbetrieb die zu untersuchende Oberfläche befindet.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform weist die Vorrichtung eine Schließeinrichtung und insbesondere eine Shutterreinrichtung auf, welche dazu geeignet und bestimmt ist, in bestimmten Zeiträumen insbesondere in Zeiträumen, in denen keine Messung stattfindet, oder das Gerät abgeschaltet wird die Öffnung zu verschließen. Auf diese Weise kann verhindert werden, dass außerhalb des Arbeitsbetriebs Verschmutzungen in die Vorrichtung bzw. in das Gehäuse eintreten.
Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist die Strahlungsdetektoreinrichtung dazu geeignet und bestimmt, ortsaufgelöste Bilder von der zu untersuchenden Oberfläche aufzunehmen.
In einer weiteren Ausgestaltung ist die Strahlungsdetektoreinrichtung dazu geeignet und bestimmt, eine auf sie auftreffende Strahlungsintensität zu messen.
Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist die Strahlungsdetektoreinrichtung dazu geeignet und bestimmt, eine Wellenlängenauflösung der auf sie auftreffenden Strahlung durchzuführen. Mit anderen Worten erlaubt hier die Strahlungsdetektoreinrichtung eine Analyse der auf sie auftreffenden Strahlung hinsichtlich deren Wellenlänge und/oder gibt wellenlängenabhängige Messergebnisse aus.
Besonders bevorzugt erlaubt die Strahlungsdetektoreinrichtung eine wellenlängenabhängige Analyse der auf sie auftreffenden Strahlung insbesondere in einem sichtbaren Wellenlängenbereich.
Besonders bevorzugt handelt es sich bei der Strahlungsdetektoreinrichtung um eine Spektrometereinrichtung.
Besonders bevorzugt weist die Vorrichtung eine Aufnahmeeinrichtung bzw. ein Aufnahmevolumen zur Aufnahme eines der Kalibrierkörper auf. Besonders bevorzugt weist die Vorrichtung ein Aufnahmefach oder ein Aufnahmevolumen für beide Kalibrierkörper auf. Bevorzugt werden die beiden Kalibrierkörper getrennt voneinander aufbewahrt.
Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform werden die beiden Kalibrierkörper in unterschiedlicher Ausrichtung aufbewahrt, insbesondere in unterschiedlicher Ausrichtung hinsichtlich einer Ausrichtung der oben genannten Öffnung, durch welche in einem Arbeitsbetrieb die zu untersuchende Oberfläche beleuchtet wird. Auf diese Weise kann eine platzsparende Anordnung geschaffen werden. Besonders bevorzugt kann der zweite Kalibrierkörper aus dem Aufnahmevolumen entnommen werden und beispielsweise auf die Öffnung der Vorrichtung gelegt werden, um so eine Kalibriermessung durchzuführen.
Bei einer besonders bevorzugten Ausführungsform ist das Gehäuse an seiner Innenoberfläche lichtabsorbierend, beispielsweise schwarz ausgebildet.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform weist die Vorrichtung eine Prozessoreinrichtung auf, welche aus einem von der Strahlungsdetektoreinrichtung ausgegebenen Wert einen Messwert und insbesondere einen Kalibrierwert ermittelt. Besonders bevorzugt kann die Prozessoreinrichtung hierzu einen Kalibrierwert verwenden. Besonders bevorzugt ist der Kalibrierwert in einer Speichereinrichtung der Vorrichtung gespeichert oder speicherbar. Besonders bevorzugt kann dieser Kalibrierwert geändert werden und insbesondere als Ergebnis einer Kalibriermessung geändert werden.
Besonders bevorzugt kann einer der Kalibrierkörper innerhalb des Gehäuses angeordnet werden und bevorzugt innerhalb des Gehäuses in einem Strahlengang zwischen der ersten Strahlungseinrichtung und der ersten Strahlungsdetektoreinrichtung bewegbar sein. Besonders bevorzugt ist dieser eine Kalibrierkörper von innen an die Öffnung anlegbar.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform weist die Vorrichtung eine Prozessoreinrichtung auf, welche einen ersten für eine erste Kalibriermessung mit dem ersten Kalibrierkörper charakteristischen ersten Wert erfasst und welche einen zweiten für eine zweite Kalibriermessung mit dem zweiten Kalibrierkörper charakteristischen zweiten Wert erfasst und bevorzugt weist die Vorrichtung eine Vergleichseinrichtung auf, welche den ersten Wert und den zweiten Wert miteinander vergleicht.
Besonders bevorzugt kann aus dem Vergleich zwischen dem ersten Wert und dem zweiten Wert auf einen Fehlerzustand der Vorrichtung und/oder der Kalibrierkörper geschlossen werden. Besonders bevorzugt handelt es sich bei dem ersten und dem zweiten Wert jeweils um Vergleichswerte. Bei einer bevorzugten Ausführungsform kann auf Basis dieses Vergleichs auf eine Fehlerursache im Rahmen einer Kalibriermessung geschlossen werden. Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform weist die Vorrichtung eine Ausgabe- und/oder Anzeigeeinrichtung aus, welche dazu geeignet und bestimmt ist, wenigstens ein Signal auszugeben, welches für einen bestimmten Fehler charakteristisch ist. So kann beispielsweise auf dem Display angezeigt werden, dass einer der Kalibrierkörper verschmutzt ist oder auch dass der Kalibrierkörper nicht ordnungsgemäß angeordnet ist.
Besonders bevorzugt handelt es sich bei der Anzeigeeinrichtung um ein Display, welches besonders bevorzugt in das Gehäuse der Vorrichtung integriert ist. Besonders bevorzugt ist das Display zu einer alphanumerischen Ausgabe von Informationen geeignet und bestimmt.
Um beispielsweise zweifelsfrei erkennen zu können, dass ein Kalibrationsfaktor zu Recht durch eine Weißstandardkalibration geändert werden darf, wird vorgeschlagen, dass mehrere erfasste Messgrößen miteinander in Beziehung gesetzt werden und daraus eine eindeutige Aussage über den Zustand der Vorrichtung und beispielsweise des Spektralfotometers und/oder des Kalibrationskörpers abgeleitet wird.
Es wird hier vorgeschlagen, dass zwei Kalibrationskörper zum Einsatz kommen. Bevorzugt handelt es sich hierbei um einen externen Kalibrierkörper, der wie eine zu messende Probe auf die Messöffnung gelegt wird und weiterhin bevorzugt einen internen Kalibrationskörper, der in eine Verschlusskappe integriert ist, die bevorzugt motorisiert die Messöffnung verschließt, wenn gerade nicht gemessen wird.
Besonders bevorzugt ist wenigstens ein Kalibrierkörper in eine Verschließeinrichtung integriert, welche zum Verschließen der Öffnung bestimmt ist, durch welche hindurch in einem Arbeitsbetrieb die zu untersuchende Oberfläche beleuchtet wird.
Besonders bevorzugt wird für beide Kalibrierkörper der Kalibrationsfaktor getrennt ermittelt.
Bevorzugt ist die Vorrichtung aus einer Gruppe von Vorrichtungen ausgewählt, welche Farbmessgeräte, Glanzmessgeräte, Orange-Peel-Messgeräte und dergleichen enthält. Besonders bevorzugt handelt es sich bei der Vorrichtung um ein Farbmessgerät.
Besonders bevorzugt weist die Vorrichtung eine zweite innerhalb des Gehäuses angeordnete Strahlungseinrichtung auf, welche dazu geeignet und bestimmt ist, auf die zu untersu- chende Oberfläche Strahlung und insbesondere Licht auszugeben.
Besonders bevorzugt wird auch diese Strahlung bzw. die aus dieser Strahlung resultierende (von der zu untersuchenden Oberfläche) reflektierte und/oder gestreute Strahlung von der oben beschriebenen Detektoreinrichtung erfasst.
Besonders bevorzugt ist die zweite Strahlungseinrichtung derart angeordnet, dass sie Strahlung auf die Oberfläche unter einem anderen Winkel einstrahlt, als die oben erwähnte erste Strahlungseinrichtung. So ist es beispielsweise möglich, dass eine erste Strahlungseinrichtung Strahlung unter einem Winkel von beispielsweise 60° oder 45° gegenüber der Oberfläche einstrahlt und eine zweite Strahlungseinrichtung Strahlung unter einem Winkel von 20° gegenüber der Oberfläche einstrahlt.
Bevorzugt strahlt wenigstens eine Strahlungseinrichtung Strahlung unter einem Winkel gegenüber der Oberfläche auf diese ein, der zwischen 30° und 60°, bevorzugt zwischen 40° und 50° liegt. Bevorzugt strahlt wenigstens eine Strahlungseinrichtung Strahlung unter einem Winkel gegenüber der Oberfläche auf diese ein, der zwischen 10° und 30°, bevorzugt zwischen 15° und 25° liegt.
Bevorzugt können auch diese Strahlungen mittels des Kalibrierkörpers auf die Detektoreinrichtung eingestrahlt bzw. zu dieser geleitet werden.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform weist die Vorrichtung auch eine zweite Erfassungseinrichtung auf, bzw. eine zweite Strahlungsdetektoreinrichtung, welche die auf sie auftreffenden Strahlung detektiert. Dabei kann diese zweite Detektoreinrichtung insbesondere unter einem anderen Winkel gegenüber der Oberfläche angeordnet sein als die oben beschriebene erste Strahlungsumlenkeinrichtung.
Besonders bevorzugt weist die Vorrichtung eine Vielzahl von Strahlungseinrichtungen auf, welche jeweils dazu geeignet und bestimmt sind, Licht auf die zu untersuchende Oberfläche einzustrahlen. Hierbei kann es sich beispielsweise um eine Vielzahl von Lichtquellen handeln, die besonders bevorzugt teilweise Weißlicht ausgeben und besonders bevorzugt wenigstens teilweise Licht unterschiedlicher Farben und/oder Wellenlängen. Die Strahlungseinrichtungen können eine Vielfalt an Abstrahlungscharakteristiken aufweisen wie beispielsweise gerichtete Beleuchtung, Beleuchtung innerhalb einer vorgegebenen Winkelakzeptanz oder diffuse Beleuchtung.
Besonders bevorzugt ist dabei diese Vielzahl von Strahlungseinrichtungen entlang einer Kreislinie angeordnet. Besonders bevorzugt verläuft diese Kreislinie parallel zu der zu untersuchenden Oberfläche.
Besonders bevorzugt ist die Strahlungsdetektoreinrichtung derart angeordnet, dass sie im Wesentlichen senkrecht über der zu untersuchenden Oberfläche ist, und insbesondere eine Richtung, aus der sie von der Oberfläche Strahlung aufnimmt im Wesentlichen senkrecht zu der Oberfläche steht.
Besonders bevorzugt weist die Vorrichtung weiterhin eine Glanzmesseinrichtung (und/oder Reflektionsmesseinrichtung) auf. Diese Glanzmesseinrichtung und insbesondere eine Strahlungseinrichtung dieser Glanzmesseinrichtung gibt bevorzugt Licht auf die Oberfläche unter einem vorbestimmten Winkel auf und eine Detektoreinrichtung erfasst Licht aus dem entsprechenden Reflektionswinkel.
Diese Glanzmesseinrichtung kann weiterhin genutzt werden, um die Kalibrierung zu bewerten. Wird die Vorrichtung in der Orientierung mit einer Messöffnung nach oben betrieben, kann es trotz Verschluss der Messöffnung, beispielsweise durch einen Shutter, in einer sehr Staub belasteten Umgebung zu einer Verschmutzung der Optik kommen. Hiervon sind jedoch kleine Glanzwinkel zur normalen beispielsweise 20° wesentlich stärker betroffen als große Winkel wie z. B. 60°.
Falls lediglich unter einem Glanzwinkel gemessen wird, kann der Glanzwert des ersten Kalibrierkörpers mit dem Glanzwert des zweiten Kalibrierkörpers in Beziehung zu den Kalibrationsfaktoren gesetzt werden. Wie unten genauer gezeigt wird, können aus einer geeigneten Kombination von Beobachtung unterschiedliche Schlüsse gezogen werden.
Ist beispielsweise der 20° Glanz eines internen Kalibrierkörpers wesentlich stärker abweichend von einem eingemessenen ursprünglichen Glanzwert, der 60° Glanz aber nahezu unverändert, so deutet dies auf eine Verschmutzung der optischen Elemente hin. Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform weist die Vorrichtung eine Glanzmesseinrichtung auf, wobei diese Glanzmesseinrichtung eine weitere Strahlungseinrichtung aufweist, welche auf die Oberfläche unter einem vorgegebenen Einstrahlwinkel Strahlung einstrahlt und die Glanzmesseinrichtung weiterhin eine weitere Strahlungsdetektoreinrichtung aufweist, welche unter einem vorgegebenen Winkel von der weiteren Strahlungseinrichtung auf die Oberfläche eingestrahlte und von der Oberfläche reflektierte Strahlung erfasst, wobei bevorzugt der Einstrahlwinkel und der weitere Winkel gegengleich sind.
Die vorliegende Erfindung ist weiterhin auf ein Verfahren zum Untersuchen von optischen Eigenschaften und insbesondere von Farbeigenschaften von Oberflächen gerichtet, wobei eine innerhalb eines Gehäuses angeordnete Strahlungseinrichtung auf eine zu untersuchende Oberfläche Strahlung und insbesondere Licht ausgibt und eine erste innerhalb des Gehäuses angeordnete erste Strahlungsdetektoreinrichtung die auf die zu untersuchende Oberfläche eingestrahlte und von der Oberfläche reflektierte und/oder gestreute Strahlung aufnimmt (und/oder diese Strahlung auf die Strahlungsdetektoreinrichtung trifft), wobei das Gehäuse eine Öffnung aufweist, durch welche hindurch die erste Strahlungseinrichtung Strahlung auf die Oberfläche ausgibt und wobei die Vorrichtung einen ersten Kalibrierkörper aufweist, der in einem Kalibrierungsbetrieb anstelle der zu untersuchenden Oberfläche derart angeordnet wird, dass Strahlung, welche von der ersten Strahlungseinrichtung auf den ersten Kalibierköper ausgegeben und von dem ersten Kalibrierkörper reflektiert und/oder gestreut wurde auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung gelangt.
Erfindungsgemäß wird in dem Kalibrierungsbetrieb anstelle der zu untersuchenden Oberfläche und anstelle des ersten Kalibrierkörpers ein zweiter Kalibrierkörper derart angeordnet, dass Strahlung, welche von der ersten Strahlungseinrichtung auf den zweiten Kalibrierkörper ausgegeben und von dem zweiten Kalibierkörper reflektiert und/oder gestreut wurde auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung gelangt.
Es wird daher auch verfahrensseitig vorgeschlagen, dass unterschiedliche Messungen und insbesondere wenigstens zwei Messungen mit unterschiedlichen Kalibrierkörpern durchgeführt werden. Anhand dieser unterschiedlichen Messungen kann auf unterschiedliche Fehlerquellen rückgeschlossen werden. Bevorzugt wird auf Basis wenigstens einer durchgeführten Kalibriermessung ein Kalibrierfaktor geändert. Insbesondere wird dieser Kalibrierfaktor geändert, wenn sich aus den Kalibriermessungen ergibt, dass Abweichungen der Messungen auf einer Änderung von optischen Eigenschaften der Strahlungseinrichtung beruhen. Insbesondere wird der Kalibrierfaktor geändert, um einen Alterungszustand wenigstens einer Strahlungseinrichtung zu berücksichtigen und/oder zu kompensieren.
Besonders bevorzugt wird ein erster für eine erste Kalibriermessung mit dem ersten Kalibrierkörper charakteristischer Wert erfasst sowie ein zweiter für eine zweite Kalibriermessung mit dem zweiten Kalibrierkörper charakteristischer zweiter Wert.
Besonders bevorzugt werden der erste Wert und der zweite Wert miteinander verglichen und besonders bevorzugt wird unter Berücksichtigung dieses Vergleichs eine Anweisung oder eine Information über einen Fehler an einen Benutzer ausgegeben.
Bevorzugt werden der erste und der zweite Wert in eine mathematische Beziehung zueinander gesetzt. So ist es möglich, dass eine Differenz zwischen dem ersten Wert und dem zweiten Wert gebildet wird. Es wäre jedoch auch möglich, dass ein Quotient zwischen dem ersten und dem zweiten Wert gebildet wird. Besonders bevorzugt wird sowohl eine Differenz zwischen dem ersten und dem zweiten Wert als auch ein Quotient zwischen dem ersten den zweiten Wert gebildet. Dabei kann beispielsweise festgestellt werden, welcher der beiden Werte größer ist. Hieraus können sich Rückschlüsse ergeben über eventuelle Fehlerzustände des Geräts und/oder der Kalibrierkörper. Weiterhin kann aus dem Verhältnis darauf geschlossen werden, ob die beiden Werte ungefähr gleich groß sind oder erheblich voneinander abweichen.
Bei einem weiteren bevorzugten Verfahren wird zusätzlich ein weiterer Messwert, insbesondere ein Glanzmesswert (insbesondere unter einem vorgegebenen Einstrahlwinkel) bestimmt. Die Glanzmessung erfolgt bevorzugt in sogenannten Glanzeinheiten wie in den gängigen Normen (beispielsweise der ISO 2813 oder ASTM D 253) im Detail beschrieben. Bevorzugt wird dieser gemessene Glanzwert mit einem vorgegebenen Wert, beispielsweise einem Initialwert verglichen.
Hierbei kann ermittelt werden, ob der gemessene Wert ungefähr gleich dem Initialwert ist oder hiervon abweicht und insbesondere kleiner ist. Dabei kann diese Glanzwertmessung sowohl für den ersten Kalibrierkörper als auch für den zweiten Kalibrierkörper verwendet werden. Besonders bevorzugt werden mehrere der oben bestimmten Werte bzw. Auswertungen berücksichtigt, um so auf einen Fehlerzustand des Geräts oder auch der Kalibrierkörper oder auch der optischen Geräte zu schließen. Die nachfolgende Tabelle zeigt eine entsprechende Auflistung unterschiedlicher Fehlerquellen. Besonders bevorzugt wird in Abhängigkeit von dem oben genannten Vergleich eine Fallunterscheidung nach unterschiedlichen Fehlerquellen durchgeführt.
Besonders bevorzugt wird unter Berücksichtigung wenigstens eines der gemessenen Werte ein Kalibrierwert verändert. Dies kann insbesondere der obigen Tabelle entnommen werden.
Figure imgf000013_0001
In der oben dargestellten Tabelle werden vier Fälle von Fehlern oder Zuständen dargestellt.
Diese sind in der obersten Zeile mit den Ziffern 1 - 4 gekennzeichnet.
In der zweiten Zeile ist sind Möglichkeiten für Messergebnisse für den Kalibrationsfaktor caj für den ersten Kalibrierkörper (insbesondere den bei der Kalibrationsmessung innerhalb des Gehäuses angeordneten Kalibrierkörper) dargestellt. Dieser kann entweder größer 1 (was für einen Fehlerzustand hinweist) oder ungefähr gleich 1 sein (was auf einen Sollzustand hinweist).
In der dritten Zeile sind Möglichkeiten für Messergebnisse für den Kalibrationsfaktor ca_a für den zweiten Kalibrierkörper (insbesondere den bei der Kalibrationsmessung außerhalb des Gehäuses angeordneten Kalibrierkörper) dargestellt. Dieser kann entweder größer 1 (was für einen Fehlerzustand hinweist) oder ungefähr gleich 1 sein (was auf einen Sollzustand hinweist).
In der vierten Zeile wird jeweils ein Verhältnis zwischen den gemessenen Kalibrationsfaktoren caj und ca_a. Wenn dieses Verhältnis bei ungefähr 1 liegt d.h. die beiden Kalibrationsfaktoren ungefähr gleich groß sind, spricht dies für einen Sollzustand hinsichtlich eventueller Verschmutzungen der beiden Kalibrierkörper und insbesondere des zweiten Kalibrierkörpers. Wenn dieses Verhältnis caj/ ca_a kleiner 1 ist, lässt dies auf eine Verschmutzung des äußeren Kalibrierkörpers schließen (siehe dritte Spalte und vorletzte Zeile der Tabelle).
In der fünften Zeile werden Glanzmesswerte gi (und/oder Reflexionsmesswerte) unter einem Einstrahlwinkel von 20° und mit dem ersten Kalibrierkörper bestimmt. In der sechsten Zeile werden Glanzmesswerte ga (und/oder Reflexionsmesswerte) unter einem Einstrahlwinkel von 20° und mit dem zweiten Kalibrierkörper bestimmt.
Diese bestimmten Glanzmesswerte werden bevorzugt mit jeweiligen Initialmesswerten glossJO und gloss_e0 verglichen. Wenn beide Werte abweichen (zweite Spalte) ist dies in Hinweis auf eine verschmutzte Optik. Wenn nur der Wert für den zweiten Kalibrierkörper abweicht, ist dies ein Hinweis darauf dass dieser entweder verschmutzt ist oder nicht korrekt an die Öffnung angelegt ist. Optional können auch Glanzmessungen unter einem zweiten Winkel, wie etwa unter 60' durchgeführt werden.
Bei einem weiteren bevorzugten Verfahren wird in einem Arbeitsbetrieb die zu untersuchende Oberfläche mit mehreren Strahlungseinrichtung beaufschlagt. Bevorzugt wird die zu untersuchende Oberfläche mit wenigstens zwei Strahlungseinrichtungen beaufschlagt. Besonders bevorzugt strahlen diese beiden Strahlungseinrichtungen Strahlungen unter wenigstens zwei unterschiedlichen Winkeln ein. Besonders bevorzugt ist die Einstrahlung mit der ersten Strahlungseinrichtung zeitlich versetzt zu der Einstrahlung mit der zweiten Strahlungseinrichtung.
Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform erfasst die Strahlungsdetektoreinrichtung die auf sie auftreffendende Strahlung wellenlängenabhängig.
Besonders bevorzugt handelt es sich bei der Strahlungsdetektoreinrichtung um ein Spektrometer. Besonders bevorzugt gibt die Strahlungsdetektoreinrichtung einen für eine bestimmte Wellenlänge charakteristischen Wert aus. Besonders bevorzugt wird dieser Wert sowohl während der Messung mit einer zu untersuchenden Oberfläche als auch während der Kalibrierung ausgegeben.
Bei einem weiteren bevorzugten Verfahren wird wenigstens eine Kalibrierung (es wird hier darauf hingewiesen, dass die Begriffe Kalibrierung und Kalibration synonym verwendet werden) verwendet, um einen alterungsbedingten Zustand wenigstens einer Strahlungseinrichtung zu ermitteln und zu berücksichtigen.
Bei einem weiteren bevorzugten Verfahren wird die zu untersuchende Oberfläche mit Licht unterschiedlicher Wellenlängen und/oder mit Weißlicht beleuchtet.
Bei einem weiteren bevorzugten Verfahren wird die zu untersuchende Oberfläche aus wenigstens zwei unterschiedlichen Einstrahlwinkeln bestrahlt.
Bei einem weiteren bevorzugten Verfahren, ist wenigstens ein Farbmesswert bei einer identischen Probe unabhängig von der Qualität der Beleuchtung stets im Wesentlichen konstant. Weitere Vorteile und Ausführungsformen ergeben sich aus den beigefügten Zeichnungen.
Darin zeigen:
Fig. 1 eine Darstellung einer erfindungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 2 eine Ansicht in das Innere der Vorrichtung durch die Messöffnungen durch;
Fig. 3 eine Innendarstellung einer erfindungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 4 eine weitere Innendarstellung einer erfindungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 5 eine weitere Innendarstellung einer erfindungsgemäßen Vorrichtung; und
Fig. 6 eine weitere Innendarstellung einer erfindungsgemäßen Vorrichtung.
Fig. 1 zeigt eine Außenansicht einer erfindungsgemäßen Vorrichtung 1 zum Untersuchen von optischen Eigenschaften von Oberflächen. Diese Vorrichtung 1 weist ein Gehäuse 10 auf. Weiterhin weist das Gehäuse eine Aufnahmeöffnung 38 bzw. ein Aufnahmevolumen zur Aufnahme eines zweiten Kalibrierkörpers 16 (externer Kalibrierkörper) auf, welches insbesondere dessen Lagerung dient.
Dieser externe Kalibrierkörper 16 ist hier an einer schwenkbaren Klappe 36 angeordnet. Das Bezugszeichen 30 kennzeichnet eine Anzeigeeinrichtung, mit der beispielsweise Messwerte oder auch Fehlerzustände angezeigt werden können. Das Bezugszeichen 22 kennzeichnet eine Öffnung, über welche eine zu untersuchende Oberfläche (nicht gezeigt) hinsichtlich ihrer Farbe und/oder hinsichtlich anderer optischer Eigenschaften wie etwa eines Glanzwertes untersucht werden kann. Bevorzugt kann nur über diese Öffnung 22 Licht in das Innere des Gehäuses 30 gelangen.
Bei der in Fig. 1 gezeigten Ausgestaltung weist die Vorrichtung eine Andruckvorrichtung 35 auf, welche hier einen schwenkbaren Arm 32 aufweist, an dem ein Andruckelement 34 zum Andrücken einer Probe an die Öffnung 22 angeordnet ist. Diese Andruckvorrichtung 35 kann in eine Ausnehmung 36 des Gehäuses eingefahren bzw. versenkt werden. Bei einer Ausgestaltung wäre es möglich, einen ersten Kalibrierkörper an der Verschließeinrichtung 35 anzuordnen. Bevorzugt ist jedoch der zweite Kalibrierkörper im Inneren des Gehäuses 10 angeordnet.
Fig. 2 zeigt eine Ansicht in das Innere des Gehäuses durch die Öffnung 22 hindurch. Insbesondere handelt es sich hier um eine lotrechte Sicht durch die Messöffnung 22 beispielsweise von oben. Man erkennt hier den Optikblock eines Farbmessgerätes, welches bevorzugt auch eine quantitative Fluoreszenzmesseinrichtung und/oder eine Glanzmesseinrichtung aufweist.
Dabei ist hier eine Vielzahl, genauer zehn ersten Strahlungseinrichtungen bzw. Lichtquellen 2a, 2b, 2c vorgesehen. Hierbei handelt es sich jeweils um Weißlicht-LEDs, welche zu einer Beleuchtung für die Farbmessung dienen. Besonders bevorzugt sind diese Lichtquellen 2a, 2b, 2c derart angeordnet, dass sie eine Beleuchtung der Oberfläche, d. h. der zu untersuchenden Oberfläche unter 45° ermöglichen.
Die Bezugszeichen 2d, 2e, 2f beziehen sich auf eine Vielzahl von weiteren Lichtquellen, welche insbesondere farbiges Licht auf die Oberfläche aufbringen. Dabei kann dies dadurch erreicht werden, dass es sich hier um Farblicht-LEDs handelt. Es wäre jedoch auch möglich und bevorzugt, dass auch an dieser Stelle Weißlicht-LEDs, die jedoch schmalbandig befiltert sind vorgesehen sind. Als weitere Möglichkeit der Beleuchtung kommen monochrome LEDs in Betracht, die zusätzlich mit schmalbandigen Filtern versehen sind, deren Bandbreite schmaler ist als die natürliche Bandbreite der monochromen LEDs.
Besonders bevorzugt geben diese Lichtquellen 2d, 2e, 2f Licht in unterschiedlichen Wellenlängen aus, insbesondere in einem Wellenlängenbereich von 300 - 660 nm.
Das Bezugszeichen 4 kennzeichnet eine Strahlungsdetektoreinrichtung und insbesondere ein Spektrometer. Dieses ist dazu geeignet und bestimmt Licht von Einstrahlungseinrichtungen 2a - 2f aufzunehmen bzw. das von der (nicht gezeigten) Oberfläche reflektierte Licht.
Das Bezugszeichen 12 kennzeichnet eine bevorzugt vorhandene zweite Strahlungseinrichtung, welche ebenfalls dazu dient, Licht auf die zu untersuchende Oberfläche (nicht gezeigt) einzustrahlen. Dieses Licht wird von der Oberfläche reflektiert und kann so zu der zweiten Strahlungsdetektoreinrichtung 13 gelangen. Bevorzugt bilden die zweite Strahlungseinrichtung und die zweite Strahlungsdetektoreinrichtung 13 eine Glanzmesseinrichtung aus.
Fig. 3 zeigt eine Ansicht der hier beschriebenen Vorrichtung von innen. Dabei ist der erste interne Kalibrierkörper 6 gezeigt, der an einer Halterung 62 angeordnet ist und bezüglich einer Schwenkachse S einerseits in eine Stellung geschwenkt werden kann, in der er sich nicht im Strahlengang befindet (in Fig. 3 gezeigt) und andererseits in eine Stellung, in der er an der Öffnung 22 von innen angelegt ist (Fig. 4).
Das Bezugszeichen 41 kennzeichnet einen rohrförmigen Körper, durch welchen hindurch Strahlung auf die (nicht gezeigte) Strahlungsdetektoreinrichtung gelenkt werden kann. Das Bezugszeichen 45 kennzeichnet ein optisches Mittel wie etwa eine Linse, welche zum Fokussieren der auf die Strahlungsdetektoreinrichtung treffenden Strahlung dient.
Das Bezugszeichen 52 kennzeichnet einen Gehäuseteil, der sich an die Öffnung 22 anschließt. Dieser Gehäuseteil ist insbesondere strahlungsabsorbierend und insbesondere in schwarz gehalten.
Das Bezugszeichen 32 kennzeichnet schematisch eine Prozessoreinrichtung, welche unter anderem dazu dient, die Vorrichtung 1 zu steuern und auch dazu Kalibrierfaktoren zu ermitteln oder zu verändern. Das Bezugszeichen 34 kennzeichnet eine Speichereinrichtung, die insbesondere zum Speichern von Kalibrierfaktoren dient.
Fig. 4 zeigt eine Darstellung der erfindungsgemäßen Vorrichtung, wobei hier der erste Kalibrierkörper 6, d. h. der innere Standard in eine Position geschwenkt ist, in der eine Kalibrierung durchgeführt werden kann.
Das Bezugszeichen 27 kennzeichnet ein Optikblock, in dem die einzelnen Strahlungseinrichtungen 2a -2c und auch 2d - 2f angeordnet sind.
Fig. 5 zeigt eine weitere Darstellung der erfindungsgemäßen Vorrichtung. Hier ist die Strahlungsdetektoreinrichtung 4 dargestellt, sowie auch der Kanal 41 , über den Strahlung zu der Strahlungsdetektoreinrichtung 4 geführt wird. Weiterhin ist wieder die Öffnung 22 gezeigt, welche hier verschlossen ist und wobei der erste Kalibrierkörper 6 nach unten, d. h. in Richtung der Strahlungsdetektoreinrichtung 4 weist.
Fig. 6 zeigt die in Fig. 5 gezeigte Vorrichtung in einer Ansicht von unten. Dabei ist hier eine weitere Strahlungsdetektoreinrichtung 13 dargestellt, die insbesondere zur Messung bzw. zur Durchführung von Glanzmessungen dient. Auch ist wieder die erste Strahlungsdetektoreinrichtung 4 dargestellt.
Die Anmelderin behält sich vor, sämtliche in den Anmeldungsunterlagen offenbarten Merkmale als erfindungswesentlich zu beanspruchen, sofern sie einzeln oder in Kombination gegenüber dem Stand der Technik neu sind. Es wird weiterhin darauf hingewiesen, dass in den einzelnen Figuren auch Merkmale beschrieben wurden, welche für sich genommen vorteilhaft sein können. Der Fachmann erkennt unmittelbar, dass ein bestimmtes in einer Fig. beschriebenes Merkmal auch ohne die Übernahme weiterer Merkmale aus dieser Fig. vorteilhaft sein kann. Ferner erkennt der Fachmann, dass sich auch Vorteile durch eine Kombination mehrerer in einzelnen oder in unterschiedlichen Figuren gezeigter Merkmale ergeben können.

Claims

Patentansprüche
1. Vorrichtung (1) zum Untersuchen von optischen Eigenschaften von Oberflächen mit einem Gehäuse (10), mit einer ersten innerhalb des Gehäuses (10) angeordneten ersten Strahlungseinrichtung (2a, 2b, 2c), welche dazu geeignet und bestimmt ist, auf eine zu untersuchende Oberfläche Strahlung und insbesondere Licht auszugeben, mit einer ersten innerhalb des Gehäuses (10) angeordneten Strahlungsdetektoreinrichtung (4), welche dazu geeignet und bestimmt ist, auf die zu untersuchende Oberfläche eingestrahlte und von der Oberfläche reflektierte und/oder gestreute Strahlung aufzunehmen, wobei das Gehäuse (10) eine Öffnung (22) aufweist, durch welche hindurch die erste Strahlungseinrichtung (2a) Strahlung auf die Oberfläche ausgibt, wobei die Vorrichtung einen ersten Kalibrierkörper (6) aufweist, der anstelle der zu untersuchenden Oberfläche derart angeordnet werden kann, dass Strahlung, welche von der ersten Strahlungseinrichtung (2a) auf den ersten Kalibierköper (6) ausgegeben und von dem ersten Kalibrierkörper reflektiert und/oder gestreut wurde auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung (4) gelangt, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung einen zweiten Kalibrierkörper (16) aufweist, der anstelle der zu untersuchenden Oberfläche und anstelle des ersten Kalibierkörpers (6) derart angeordnet werden kann, dass Strahlung, welche von der ersten Strahlungseinrichtung (2a) auf den zweiten Kalibrierkörper (16) ausgegeben und von dem zweiten Kalibierkörper reflektiert und/oder gestreut wurde auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung (4) gelangt.
2. Vorrichtung (1) nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass einer der Kalibierkörper (6) innerhalb des Gehäuses (10) angeordnet werden kann und bevorzugt innerhalb des Gehäuses in einen Strahlengang zwischen der ersten Strahlungseinrichtung (2a) und der ersten Strahlungsdetektoreinrichtung (4) beweg- bar ist. Vorrichtung (1) nach wenigstens einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (1) eine Prozessoreinrichtung aufweist, welche einen ersten für eine erste Kalibriermessung mit dem ersten Kalibrierkörper (6) charakteristischen ersten Wert erfasst und welche einen zweiten für eine zweite Kalibriermessung mit dem zweiten Kalibrierkörper (16) charakteristischen zweiten Wert erfasst und bevorzugt eine Vergleichseinrichtung vorgesehen ist, welche den ersten Wert und den zweiten Wert vergleicht. Vorrichtung (1) nach wenigstens einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (1) aus einer Gruppe von Vorrichtungen (1) ausgewählt ist, welche Farbmessgeräte, Glanzmessgeräte, Orange- Peel-Messgeräte und dergleichen enthält. Vorrichtung (1) nach wenigstens einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (1) eine zweite innerhalb des Gehäuses angeordnete Strahlungseinrichtung (12) aufweist, welche dazu geeignet und bestimmt ist, auf die zu untersuchende Oberfläche Strahlung und insbesondere Licht auszugeben. Vorrichtung (1) nach wenigstens einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung eine Glanzmesseinrichtung (12, 13) aufweist, wobei diese Glanzmesseinrichtung eine weitere Strahlungseinrichtung aufweist, welche auf die Oberfläche unter einem vorgegebenen Einstrahlwinkel Strahlung einstrahlt und die Glanzmesseinrichtung weiterhin eine weitere Strahlungsdetektoreinrichtung aufweist, welche unter einem vorgegebenen Winkel von der weiteren Strahlungseinrichtung auf die Oberfläche eingestrahlte und von der Oberfläche reflektierte Strahlung erfasst, wobei bevorzugt der Einstrahlwinkel und der weitere Winkel gegengleich sind. Verfahren zum Untersuchen von optischen Eigenschaften von Oberflächen wobei eine innerhalb eines Gehäuses angeordnete Strahlungseinrichtung (2a) auf eine zu untersuchende Oberfläche Strahlung und insbesondere Licht ausgibt wird und eine ersten innerhalb des Gehäuses (10) angeordnete erste Strahlungsdetektoreinrichtung (4), die auf die zu untersuchende Oberfläche eingestrahlte und von der Oberfläche reflektierte und/oder gestreute Strahlung aufnimmt, wobei das Gehäuse (20) eine Öffnung aufweist, durch welche hindurch die erste Strahlungseinrichtung (2a) Strahlung auf die Oberfläche ausgibt, und wobei die Vorrichtung einen ersten Kalibrierkörper (6) aufweist, der in einem Kalibrierungsbetrieb anstelle der zu untersuchenden Oberfläche derart angeordnet wird, dass Strahlung, welche von der ersten Strahlungseinrichtung (2a) auf den ersten Kalibierköper (6) ausgegeben und von dem ersten Kalibrierkörper reflektiert und/oder gestreut wurde auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung (4) gelangt, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Kalibrierungsbetrieb anstelle der zu untersuchenden Oberfläche und anstelle des ersten Kalibierkörpers (6) ein zweier Kalibrierkörper (16) derart angeordnet wird, dass Strahlung, welche von der ersten Strahlungseinrichtung (2a) auf den zweiten Kalibrierkörper (16) ausgegeben und von dem zweiten Kalibierkörper reflektiert und/oder gestreut wurde auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung (4) gelangt. Verfahren nach dem vorangegangenen Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass ein erster für eine erste Kalibriermessung mit dem ersten Kalibrierkörper (6) charakteristischer erster Wert (caj) erfasst wird ein zweiter für eine zweite Kalibriermessung mit dem zweiten Kalibrierkörper (16) charakteristischer zweiter Wert (ca_a) erfasst wird. Verfahren nach dem vorangegangenen Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Wert (caj) und der zweite Wert (ca_a) mit einander verglichen werden und bevorzugt unter Berücksichtigung dieses Vergleichs eine Anweisung oder eine Information über einen Fehler an einen Benutzer ausgegeben wird. 10. Verfahren nach wenigstens einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass unter Berücksichtigung wenigstens eines der Werte ein Kalibrierwert geändert wird.
11. Verfahren nach wenigstens einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in einem Arbeitsbetrieb die zu untersuchende Oberfläche mit mehreren Strahlungseinrichtungen beaufschlagt wird.
12. Verfahren nach wenigstens einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsdetektoreinrichtung (4) die auf sie auftreffende Strahlung wellenlängenabhängig erfasst.
13. Verfahren nach wenigstens einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens eine Kalibrierung verwendet wird, um einen alterungsbedingten Zustand wenigstens einer Strahlungseinrichtung zu ermitteln und/oder zu berücksichtigen.
14. Verfahren nach wenigstens einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die zu untersuchende Oberfläche mit Licht unterschiedlicher Wellenlänge und/oder mit Weißlicht bestrahlt wird.
PCT/EP2023/076879 2022-10-24 2023-09-28 Vorrichtung und verfahren zum messen optischer eigenschaften, insbesondere farbmessgerät Ceased WO2024088687A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2025523576A JP2025536396A (ja) 2022-10-24 2023-09-28 光学特性を測定するための装置および方法、特に色測定装置
CN202380073534.4A CN120092173A (zh) 2022-10-24 2023-09-28 用于测量光学特性的设备和方法，特别是颜色测量装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102022128033.0A DE102022128033A1 (de) 2022-10-24 2022-10-24 Vorrichtung und Verfahren zum Messen optischer Eigenschaften, insbesondere Farbmessgerät
DE102022128033.0 2022-10-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2024088687A1 true WO2024088687A1 (de) 2024-05-02

Family

ID=88237535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/EP2023/076879 Ceased WO2024088687A1 (de) 2022-10-24 2023-09-28 Vorrichtung und verfahren zum messen optischer eigenschaften, insbesondere farbmessgerät

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP2025536396A (de)
CN (1) CN120092173A (de)
DE (1) DE102022128033A1 (de)
WO (1) WO2024088687A1 (de)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2165642A (en) * 1984-08-14 1986-04-16 Unvala Ltd Colour measuring apparatus
US20120099873A1 (en) * 2010-10-22 2012-04-26 Fuji Xerox Co., Ltd. Sensing device, image forming device
US20140192358A1 (en) * 2011-08-31 2014-07-10 Markus Barbieri Color measurement apparatus
DE102017211067A1 (de) * 2017-06-29 2019-01-03 Byk-Gardner Gmbh Aufnahmevorrichtung für ein Oberflächenmessgerät
KR20220001548U (ko) * 2020-12-23 2022-06-30 주식회사 엘켐스 색 측정 장치

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010032600A1 (de) 2010-07-28 2012-02-02 Byk-Gardner Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften mit Mehrfachmessung
DE102019101088A1 (de) 2019-01-16 2020-07-16 Endress+Hauser Conducta Inc. Kalibriereinheit für optischen Detektor

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2165642A (en) * 1984-08-14 1986-04-16 Unvala Ltd Colour measuring apparatus
US20120099873A1 (en) * 2010-10-22 2012-04-26 Fuji Xerox Co., Ltd. Sensing device, image forming device
US20140192358A1 (en) * 2011-08-31 2014-07-10 Markus Barbieri Color measurement apparatus
DE102017211067A1 (de) * 2017-06-29 2019-01-03 Byk-Gardner Gmbh Aufnahmevorrichtung für ein Oberflächenmessgerät
KR20220001548U (ko) * 2020-12-23 2022-06-30 주식회사 엘켐스 색 측정 장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN120092173A (zh) 2025-06-03
DE102022128033A1 (de) 2024-04-25
JP2025536396A (ja) 2025-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69314377T2 (de) Tragbares Spektrophotometer
DE19949029C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung einer Kulturflüssigkeit
DE102007053574B4 (de) Farbmessgerät
DE102010032600A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften mit Mehrfachmessung
EP3564654B1 (de) Vorrichtung und verfahren zur untersuchung von beschichtungen mit effektpigmenten
DE102011053140B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Messen optischer Eigenschaften von transparenten Materialien
EP0209860A2 (de) Remissionsmessgerät zur berührungslosen Messung
DE102011050969A1 (de) Vorrichtung zur referenzierten Messung von reflektiertem Licht und Verfahren zum Kalibrieren einer solchen Vorrichtung
DE102009033110A1 (de) Vorrichtung zum Untersuchen strukturierter Oberflächen
DE102014103640A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Untersuchen von Oberflächeneigenschaften
EP1172642A2 (de) Spektralellipsometer mit einer refraktiven Beleuchtungsoptik
WO2016015921A1 (de) Messanordnung zur reflexionsmessung
EP3078950A1 (de) Farbmessverfahren und farbmessgerät
WO2024088687A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum messen optischer eigenschaften, insbesondere farbmessgerät
EP2163883B1 (de) Partikelgrössenmessgerät
DE102004058408A1 (de) Vorrichtung zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften
WO2025000001A1 (de) Verfahren zum bestimmen von hämolyse, ikterus und/oder lipämie in einer blutprobe
DE102006032404B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften
DE102015107942A1 (de) Spektrometer und Gasanalysator
WO2025125359A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum bestimmen von oberflächeneigenschaften
AT514987B1 (de) Messkopf
DE102010007365A1 (de) Vorrichtung zum Erfassen und Detektieren von Objekten
AT521624B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen von Eigenschaften eines zu untersuchenden Fluids
WO2023030861A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum inspizieren von oberflächen mit wellenlängen-analyse
DE102018115200B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum optischen Messen einer in einem Probenröhrchen mit konischem Boden angeordneten Probe

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 23782877

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 202380073534.4

Country of ref document: CN

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2025523576

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2025523576

Country of ref document: JP

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 202380073534.4

Country of ref document: CN

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 23782877

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1