WO2024155010A1 - 전극 검사 시스템 및 방법 - Google Patents

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WO2024155010A1
WO2024155010A1 PCT/KR2024/000453 KR2024000453W WO2024155010A1 WO 2024155010 A1 WO2024155010 A1 WO 2024155010A1 KR 2024000453 W KR2024000453 W KR 2024000453W WO 2024155010 A1 WO2024155010 A1 WO 2024155010A1
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electrode
inspection
carrier
mover
unit
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PCT/KR2024/000453
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배준호
이성헌
전재근
김송현
박상준
강현민
김종민
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00—Electrodes
    • H01M4/02—Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/04—Processes of manufacture in general

Definitions

  • This disclosure relates to electrode inspection systems and methods.
  • Electrodes are difficult to use in batteries, etc. if there are foreign substances or burs on their surface. Therefore, in the electrode manufacturing process, a process of automatically inspecting the electrode may be necessary.
  • an electrode inspection system and method that performs different processes depending on the quality inspection results of the electrode may be provided.
  • An electrode inspection system is an electrode inspection system that inspects an electrode, and includes a transfer body extending in the longitudinal direction and a transfer mover movably coupled to the transfer body and loading the electrode, transfer unit; A pickup unit including a pickup body extending in the transverse direction and a pickup mover movably coupled to the pickup body to pick up and load the electrode in the transfer body; a carrier that receives the electrode from the pick-up mover and loads the electrode; And it may include an inspection unit that acquires an image of the electrode loaded on the carrier.
  • An electrode inspection method (S10) is an electrode inspection method (S10) for inspecting an electrode, which includes stopping a transfer mover that grips and transports the electrode (S100); Picking up the electrode from the transfer mover and loading it on a carrier located at a first reference position (S200); An electrode inspection step (S300) of inspecting the electrode; A step in which the control unit determines whether the quality of the electrode is good (S400); If the quality of the electrode is good, the control unit performs a first process (S500); And, if the quality of the electrode is not good, the control unit may include performing a second process (S600).
  • the electrode inspection system and method according to an embodiment of the present disclosure may perform different processes depending on the quality inspection results of the electrode.
  • the electrode inspection system of the present disclosure can be widely applied in green technology fields such as electric vehicles, battery charging stations, solar power generation using batteries, and wind power generation.
  • the electrode inspection system of the present disclosure can be used in eco-friendly electric vehicles, hybrid vehicles, etc. to prevent climate change by suppressing air pollution and greenhouse gas emissions.
  • FIG. 1 is a diagram showing a transfer unit according to an embodiment of the present disclosure.
  • Figure 2 is a diagram showing a pickup unit according to an embodiment of the present disclosure.
  • Figure 3 is a diagram showing a state in which an electrode is mounted on a carrier.
  • Figure 4 is a diagram showing an inspection unit inspecting an electrode according to an embodiment of the present disclosure.
  • Figure 5 is a diagram showing a dump unit according to an embodiment of the present disclosure.
  • Figure 6 is a flow-chart showing an electrode inspection method according to an embodiment of the present disclosure.
  • Figure 7 is a flow chart showing the electrode inspection steps of the present disclosure.
  • Figure 8 is a flow chart showing the first process performance step according to an embodiment of the present disclosure.
  • Figure 9 is a flow chart showing a second process performance step according to an embodiment of the present disclosure.
  • Figure 10 is a flow chart showing a second process step according to an embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 1 is a diagram showing a transfer unit according to an embodiment of the present disclosure.
  • the electrode inspection system 10 may include a transfer unit 100 .
  • the transfer unit 100 can transfer the electrode 20 (see FIG. 3) in one direction.
  • the transfer unit 100 may transfer the electrode 20 (see FIG. 3) in the longitudinal direction.
  • the transfer unit 100 may include a transfer body 110.
  • the transfer body 110 may have a shape extending long in one direction.
  • the transfer body 110 may extend long in the longitudinal direction.
  • the transfer body 110 may include a rail extending long in the longitudinal direction.
  • the longitudinal direction of the electrode inspection system 10 may be one direction formed on a horizontal plane.
  • the transverse direction of the electrode inspection system 10 may be another direction formed on a horizontal plane and may intersect the longitudinal direction.
  • the transfer unit 100 may include a transfer mover 120.
  • the transfer mover 120 may be connected or coupled to the transfer body 110.
  • the transfer mover 120 may be movably coupled to the transfer body 110.
  • the transfer mover 120 may move in the transfer body 110 in the longitudinal direction.
  • the transfer mover 120 can move along the transfer body 110 and can stop.
  • the transfer mover 120 may enter one end of the transfer body 110, move along the transfer body 110, and be discharged to the outside from the other end of the transfer body 110.
  • the transfer mover 120 can accommodate the electrode 20 (see FIG. 3).
  • the transfer mover 120 may include a magazine that accommodates a plurality of electrodes 20 (see FIG. 3).
  • the transfer mover 120 may be provided in plural numbers.
  • the plurality of transfer movers 120 may be arranged along the longitudinal direction.
  • Figure 2 is a diagram showing a pickup unit according to an embodiment of the present disclosure.
  • the electrode inspection system 10 may include a pickup unit 200.
  • the pickup unit 200 may pick up the electrode 20 (see FIG. 3) from the transfer unit 100 (see FIG. 1).
  • the pickup unit 200 may include a pickup body 210.
  • the pickup body 210 may extend in one direction or be formed long.
  • the longitudinal direction of the pickup body 210 may intersect the longitudinal direction of the transfer body 110 (see FIG. 1).
  • the pickup body 210 may extend laterally or be formed long.
  • the pickup body 210 may include a rail that extends in the transverse direction or is long.
  • the pickup body 210 may meet or intersect the transfer unit 100 (see FIG. 1).
  • the pickup body 210 may meet or intersect the transfer body 110 (see FIG. 1).
  • one end of the pickup body 210 may meet the transfer body 110 (see FIG. 1).
  • the pickup unit 200 may include a pickup mover 220.
  • the pickup mover 220 may be connected to or coupled to the pickup body 210.
  • the pickup mover 220 may be movably coupled to the pickup body 210.
  • the pickup mover 220 may move along the pickup body 210.
  • the pickup mover 220 may move in the pickup body 210 in the lateral direction.
  • the pickup mover 220 may hold (carrying) the electrode 20 (see FIG. 3) located on the transfer mover 120 (see FIG. 1). For example, it can be moved while carrying the electrode 20 (see FIG. 3). For example, the electrode 20 (see FIG. 3) can be moved to the first reference position while being carried.
  • the pickup mover 220 may mount the carried electrode 20 (see FIG. 3) on the carrier 300 (see FIG. 3).
  • the pickup mover 220 may transfer the electrode 20 (see FIG. 3) to the carrier 300 (see FIG. 3) at the first reference position.
  • Figure 3 is a diagram showing a state in which an electrode is mounted on a carrier.
  • the electrode inspection system 10 may include a carrier 300 .
  • the carrier 300 may form an upper face.
  • the electrode 20 may be located on the upper surface of the carrier 300.
  • the electrode 20 may be mounted on the upper surface of the carrier 300.
  • Carrier 300 can move.
  • the carrier 300 may receive the electrode 20 at a first reference position and move to the first inspection position.
  • the electrode 20 mounted on the carrier 300 may be inspected by the inspection unit 400 (see FIG. 4).
  • the inspection unit 400 see FIG. 4
  • one side of electrode 20 may be inspected.
  • the carrier 300 may move from a first inspection position to a second inspection position. After the carrier 300 moves to the second inspection position, the electrode 20 mounted on the carrier 300 may be flipped by a flip unit (not shown).
  • the carrier 300 may move from the second inspection position to the first inspection position.
  • the flipped electrode 20 can be inspected by the inspection unit 400 (see FIG. 4 ) in the first inspection position.
  • the other side of the electrode 20 may be inspected.
  • the carrier 300 may move from the first inspection position to the first reference position. If it is determined that the electrode 20 mounted on the carrier 300 is good, the carrier 300 may move from the first inspection position to the first reference position. At the first reference position, the pickup unit 200 (see FIG. 2) may transfer the electrode 20 mounted on the carrier 300 to the transfer unit 100 (see FIG. 1).
  • the carrier 300 may move from a first inspection position to a first dump position. If it is determined that the electrode 20 mounted on the carrier 300 is not good, the carrier 300 may move from the first inspection position to the first dump position. At the first dump position, the dump unit 500 (see FIG. 5) may move the electrode 20 mounted on the carrier 300 by carrying it.
  • Figure 4 is a diagram showing an inspection unit inspecting an electrode according to an embodiment of the present disclosure.
  • the electrode inspection system 10 may include an inspection unit 400 .
  • the inspection unit 400 may acquire an image of the electrode 20 mounted on the carrier 300.
  • the electrode inspection system 10 may include a first inspection module 410 .
  • the first inspection module 410 may be located on the electrode 20 mounted on the carrier 300 located at the first inspection position.
  • the first inspection module 410 may acquire an image of one side of the electrode 20.
  • the first inspection module 410 may acquire an image of the perimeter of the electrode 20. For example, when a bur is formed to protrude around the electrode 20, the first inspection module 410 may acquire an image of the bur.
  • the electrode inspection system 10 may include a second inspection module 420 .
  • the second inspection module 420 may be located next to the electrode 20 mounted on the carrier 300 located at the first inspection position.
  • the second inspection module 420 may acquire images of foreign substances protruding or located on one side of the electrode 20.
  • the second inspection module 420 may acquire images of foreign substances protruding or located on the upper face of the electrode 20.
  • the inspection unit 400 may include or mean at least one of the first inspection module 410 and the second inspection module 420.
  • the inspection unit 400 can move.
  • the first inspection module 410 may move along the circumference of the electrode 20 .
  • the second inspection module 420 may move along the circumference of the carrier 300 while forming a loop.
  • an image of the electrode 20 loaded on the carrier 300 may be acquired.
  • the carrier 300 may move horizontally or rotate around the first inspection position.
  • Figure 5 is a diagram showing a dump unit according to an embodiment of the present disclosure.
  • the electrode inspection system 10 may include a dump unit 500.
  • the dump unit 500 can pick up and dump the electrodes 20 (see FIG. 4) loaded on the carrier 300 (see FIG. 4).
  • the structure and function of the dump unit 500 may be similar to those of the pickup unit 200 (see FIG. 2).
  • the dump unit 500 may include a dump body 510.
  • the dump body 510 may extend in one direction or be formed long.
  • the dump body 510 may be, for example, longitudinally extending or elongated.
  • the dump body 510 may include a rail.
  • Dump unit 500 may include a dump mover 520.
  • the dump mover 520 may be movably coupled to the dump body 510.
  • the dump mover 520 may move along the dump body 510.
  • the dump mover 520 may pick up the electrode 20 (see FIG. 4) from the carrier 300 (see FIG. 4) at a first dump location.
  • the dump mover 520 can move from the first dump position to the second dump position.
  • the dump mover 520 may dump the electrode 20 (see FIG. 4) being carried at the second dump position.
  • the dump mover 520 which dumps the electrode 20 (see FIG. 4), can move from the second dump position to the first dump position.
  • Figure 6 is a flow-chart showing an electrode inspection method according to an embodiment of the present disclosure.
  • the electrode inspection method ( S10 ) may include stopping the transfer mover 120 ( S100 ). In this step (S100), the transfer mover 120 may move on the transfer body 110 and then stop.
  • the electrode inspection method (S10) may include a step (S200) of mounting the electrode 20 on the carrier 300.
  • the pickup unit 200 may pick up and carry the electrode 20 located on the transfer mover 120.
  • the electrode inspection method (S10) may include a step (S300) of inspecting the electrode 20.
  • the electrode 20 loaded on the carrier 300 may be inspected at the first inspection position.
  • the inspection unit 400 may inspect the electrode 20.
  • the inspection unit 400 may acquire an image of the electrode 20.
  • the pickup mover 220 may hold the electrode 20 at the first reference position and move it to the first inspection position. For example, in either the step S200 of loading the electrode 20 on the carrier 300 or the step S300 of inspecting the electrode, the pickup mover 220 is moved while carrying the electrode 20. 1 It is possible to move from the reference position to the first inspection position.
  • the electrode inspection method (S10) may include a step (S400) of determining whether the quality of the electrode 20 is good.
  • the inspection unit 400 or a control unit may determine whether the quality of the electrode 20 is good by reading the image acquired by the inspection unit 400.
  • the electrode inspection method (S10) may include performing a first process (S500).
  • the electrode inspection system 10 may perform this step (S500) when it is determined that the quality of the electrode 20 is good.
  • the electrode 20 may be transferred to the transfer mover 120.
  • the electrode inspection method (S10) may include performing a second process (S600).
  • the electrode inspection system 10 may perform this step (S60) when it is determined that the quality of the electrode 20 is not good.
  • the electrode 20 may be transferred to the dump mover 520 and dumped. In this step (S600), the process of notching the electrode 20 can be checked.
  • Figure 7 is a flow chart showing the electrode inspection steps of the present disclosure.
  • the electrode inspection step (S300) may include moving the carrier 300 to the first inspection position (S310).
  • the carrier 310 may move from the first reference position to the first inspection position.
  • the electrode inspection step (S300) may include a step (S320) in which the inspection unit 400 inspects the electrode 20.
  • the inspection unit 400 may inspect the electrode 20 loaded on the carrier 300.
  • the inspection unit 400 may acquire an image of the electrode 20.
  • the electrode inspection step (S300) may include a step (S330) of determining whether the electrode 20 flips.
  • the control unit (not shown) may determine whether the electrode 20 loaded on the carrier 300 is flipped or is in an inverted state.
  • control unit (not shown) may end the electrode inspection step (S300). If the control unit (not shown) determines that the electrode 20 is not turned over, it may perform another step (S340).
  • the electrode inspection step (S300) may include moving the carrier 300 to the second inspection position (S340).
  • the control unit (not shown) may perform this step (S340) when it determines that the electrode 20 is not turned over. In this step (S340), the carrier 300 loaded with the electrode 20 can be moved to the second inspection position.
  • the electrode inspection step (S300) may include flipping the electrode 20 (S350).
  • the flip unit (not shown) picks up the electrode 20 loaded on the carrier 300 and flips it over, then transfers the electrode 20 in the flipped state to the carrier 300. ) can be loaded.
  • moving the carrier 300 to the first inspection position (S310) may be performed.
  • Figure 8 is a flow chart showing the first process performance step according to an embodiment of the present disclosure.
  • the first process performing step (S300) may include moving the carrier 300 to a first reference position (S510).
  • the control unit (not shown) may move the carrier 300 to the first reference position.
  • the first process performing step (S300) may include mounting the electrode 20 on the transfer mover 120 (S520).
  • the pick-up mover 220 picks up and moves the electrode 20 loaded on the carrier 300 located at the first reference position and mounts it on the transfer mover 120 ( mount) can be done.
  • the first process performance step (S300) may include a step (S530) in which the transfer mover 120 moves.
  • the transfer mover 120 may move while carrying the electrode 20.
  • the transfer mover 120 may move toward the other end of the transfer body 110.
  • Figure 9 is a flow chart showing a second process performance step according to an embodiment of the present disclosure.
  • the second process performance step (S600) may include a step (S610) of dumping the electrode 20.
  • the dump unit 500 may pick up and dump the electrode 20 loaded on the carrier 300.
  • the second process performance step (S600) may include a step (S620) of inspecting the electrode notching facility.
  • the step of inspecting the electrode notching facility (S620) may be performed in parallel with the step of dumping the electrode 20 (S610).
  • the electrode notching facility can manufacture the electrode 20 by notching an electrode sheet.
  • Figure 10 is a flow chart showing a second process step according to an embodiment of the present disclosure.
  • the second process step (S610) may include moving the carrier 300 to the first dump position (S611).
  • the control unit (not shown) may move the carrier 300 from the first inspection position to the first dump position.
  • the second process step (S610) may include mounting the electrode 20 on the dump mover 520 (S612).
  • the dump mover 520 may carry the electrode 20.
  • the electrode 20 can be moved from the carrier 300 to the dump mover 520.
  • the second process step (S610) may include moving the dump mover 520 to the second dump position (S613).
  • the dump mover 520 may move from the first dump position to the second dump position in this step (S613).
  • the dump mover 520 can dump the electrode 20 at the second dump position. Thereafter, the dump mover 520 may move from the second dump position to the first dump position.

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Abstract

전극 검사 시스템이 개시된다. 본 개시의 일 실시예에 따른 전극 검사 시스템은, 전극을 이동시키는 과정에서 전극의 품질을 검사하고 전극의 품질에 따라 다른 프로세스를 수행할 수 있다.

Description

전극 검사 시스템 및 방법
본 개시는 전극 검사 시스템 및 방법에 관한 것이다.
전극(electrode)은, 그 표면에 이물질이 있거나 버(bur)가 있을 경우 배터리 등에 사용되기 어렵다. 따라서 전극을 제조하는 공정에 있어서 전극을 자동으로 검사하는 과정이 필요할 수 있다.
본 개시의 일 측면에 따르면, 전극의 품질 검사 결과에 따라 다른 프로세스를 수행하는 전극 검사 시스템 및 방법이 제공될 수 있다.
본 개시의 일 실시예에 따른 전극 검사 시스템은, 전극을 검사하는 전극 검사 시스템으로서, 종 방향으로 연장된 트랜스퍼 바디 및 상기 트랜스퍼 바디에 이동 가능하게 결합되되 상기 전극을 적재하는 트랜스퍼 무버를 구비하는, 트랜스퍼 유닛; 횡 방향으로 연장된 픽업 바디 및 상기 픽업 바디에 이동 가능하게 결합되되 상기 트랜스퍼 바디에서 상기 전극을 픽업(pick-up)하여 적재하는 픽업 무버를 구비하는, 픽업 유닛; 상기 픽업 무버로부터 상기 전극을 전달받아 상기 전극을 적재하는 캐리어; 그리고 상기 캐리어에 적재된 상기 전극에 대한 이미지를 획득하는 검사 유닛을 포함할 수 있다.
본 개시의 일 실시예에 따른 전극 검사 방법(S10)은, 전극을 검사하는 전극 검사 방법(S10)으로서, 상기 전극을 파지하고 이송하는 트랜스퍼 무버가 정지하는 단계(S100); 상기 트랜스퍼 무버로부터 상기 전극을 픽업하여 제1 기준 위치에 위치하는 캐리어에 적재하는 단계(S200); 상기 전극을 검사하는, 전극 검사 단계(S300); 제어부가 상기 전극의 품질이 양호한지 여부를 판단하는 단계(S400); 상기 전극의 품질이 양호한 경우 상기 제어부가 제1 프로세스를 수행하는 단계(S500); 그리고 상기 전극의 품질이 양호하지 않은 경우 상기 제어부가 제2 프로세스를 수행하는 단계(S600)를 포함할 수 있다.
본 개시의 일 실시예에 따른 전극 검사 시스템 및 방법은, 전극의 품질 검사 결과에 따라 다른 프로세스를 수행할 수 있다.
본 개시의 전극 검사 시스템은, 전기 자동차, 배터리 충전소, 그 외 배터리를 이용하는 태양광 발전, 풍력 발전 등 녹색 기술 분야에서 널리 적용될 수 있다.
본 개시의 전극 검사 시스템은, 대기 오염 및 온실 가스 방출을 억제하여 기후 변화를 방지하기 위한 친환경(eco-friendly) 전기 자동차(Electric Vehicle), 하이브리드 자동차(hybrid vehicle) 등에 사용될 수 있다.
도 1은 본 개시의 일 실시예에 따른 트랜스퍼 유닛을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 개시의 일 실시예에 따른 픽업 유닛을 나타낸 도면이다.
도 3은 캐리어에 전극이 마운트된 상태를 나타낸 도면이다.
도 4는 본 개시의 일 실시예에 따른 검사 유닛이 전극을 검사하는 모습을 나타낸 도면이다.
도 5는, 본 개시의 일 실시예에 따른 덤프 유닛을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 개시의 일 실시예에 따른 전극 검사 방법을 나타낸 플로우 차트(flow-chart)이다.
도 7은 본 개시의 전극 검사 단계를 나타낸 플로우 차트이다.
도 8은 본 개시의 일 실시예에 따른 제1 프로세스 수행 단계를 나타낸 플로우 차트이다.
도 9는 본 개시의 일 실시예에 따른 제2 프로세스 수행 단계를 나타낸 플로우 차트이다.
도 10은 본 개시의 일 실시예에 따른 제2 프로세스 단계를 나타낸 플로우 차트이다.
이하에서는, 도 1 내지 도 10을 참조로 본 개시에 대해 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 이는 예시적인 것에 불과하고 본 개시가 예시적으로 설명된 구체적인 실시 형태로 제한되는 것은 아니다.
도 1은 본 개시의 일 실시예에 따른 트랜스퍼 유닛을 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 전극 검사 시스템(10)은 트랜스퍼 유닛(100)을 포함할 수 있다. 트랜스퍼 유닛(100)은 전극(20, 도 3 참조)을 일 방향으로 이송할 수 있다. 예를 들어, 트랜스퍼 유닛(100)은 전극(20, 도 3 참조)을 종 방향으로 이송할 수 있다.
트랜스퍼 유닛(100)은 트랜스퍼 바디(110)를 포함할 수 있다. 트랜스퍼 바디(110)는, 일 방향으로 길게 연장된 형상을 형성할 수 있다. 예를 들어, 트랜스퍼 바디(110)는, 종 방향으로 길게 연장될 수 있다. 예를 들어, 트랜스퍼 바디(110)는, 종 방향으로 길게 연장된 레일(rail)을 포함할 수 있다.
예를 들어, 전극 검사 시스템(10)의 종 방향은, 수평면(horizontal plane) 상에서 형성된 일 방향일 수 있다. 예를 들어, 전극 검사 시스템(10)의 횡 방향은, 수평면 상에서 형성된 타 방향일 수 있으며, 종 방향과 교차할 수 있다.
트랜스퍼 유닛(100)은 트랜스퍼 무버(120)를 포함할 수 있다. 트랜스퍼 무버(120)는, 트랜스퍼 바디(110)에 연결되거나 결합될 수 있다. 예를 들어, 트랜스퍼 무버(120)는, 트랜스퍼 바디(110)에 이동 가능하게 결합될 수 있다.
예를 들어, 트랜스퍼 무버(120)는, 트랜스퍼 바디(110)에서 종 방향으로 이동할 수 있다. 예를 들어, 트랜스퍼 무버(120)는, 트랜스퍼 바디(110)를 따라 이동할 수 있고 멈출 수도 있다.
예를 들어, 트랜스퍼 무버(120)는, 트랜스퍼 바디(110)의 일단에 진입하여 트랜스퍼 바디(110)를 따라 이동하고, 트랜스퍼 바디(110)의 타단에서 외부로 배출될 수 있다.
트랜스퍼 무버(120)는, 전극(20, 도 3 참조)을 수용할 수 있다. 트랜스퍼 무버(120)는, 다수의 전극(20, 도 3 참조)을 수용하는 매거진(magazine)을 포함할 수 있다.
트랜스퍼 무버(120)는 복수로 제공될 수 있다. 예를 들어, 복수의 트랜스퍼 무버(120)는, 종 방향을 따라 배치될 수 있다.
도 2는 본 개시의 일 실시예에 따른 픽업 유닛을 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, 전극 검사 시스템(10)은, 픽업 유닛(200)을 포함할 수 있다. 픽업 유닛(200)은, 트랜스퍼 유닛(100, 도 1 참조)으로부터 전극(20, 도 3 참조)을 픽업(pick-up)할 수 있다.
픽업 유닛(200)은, 픽업 바디(210)를 포함할 수 있다. 픽업 바디(210)는 일 방향으로 연장되거나 길게 형성될 수 있다. 예를 들어, 픽업 바디(210)의 길이 방향은, 트랜스퍼 바디(110, 도 1 참조)의 길이 방향과 교차할 수 있다.
예를 들어, 픽업 바디(210)는, 횡 방향으로 연장되거나 길게 형성될 수 있다. 예를 들어, 픽업 바디(210)는, 횡 방향으로 연장되거나 길게 형성된 레일을 포함할 수 있다.
픽업 바디(210)는, 트랜스퍼 유닛(100, 도 1 참조)과 만나거나 교차할 수 있다. 예를 들어, 픽업 바디(210)는, 트랜스퍼 바디(110, 도 1 참조)와 만나거나 교차할 수 있다. 예를 들어, 픽업 바디(210)의 일단은 트랜스퍼 바디(110, 도 1 참조)와 만날 수 있다.
픽업 유닛(200)은, 픽업 무버(220)를 포함할 수 있다. 픽업 무버(220)는, 픽업 바디(210)에 연결되거나 결합될 수 있다. 예를 들어, 픽업 무버(220)는, 픽업 바디(210)에 이동 가능하게 결합될 수 있다. 예를 들어, 픽업 무버(220)는, 픽업 바디(210)를 따라 이동할 수 있다. 예를 들어, 픽업 무버(220)는, 픽업 바디(210)에서 횡 방향으로 이동할 수 있다.
픽업 무버(220)는, 트랜스퍼 무버(120, 도 1 참조)에 위치하는 전극(20, 도 3 참조)을 파지(carrying)할 수 있다. 예를 들어, 전극(20, 도 3 참조)을 파지(carrying)한 상태에서 이동할 수 있다. 예를 들어, 전극(20, 도 3 참조)을 파지(carrying)한 상태에서 제1 기준 위치로 이동할 수 있다.
예를 들어, 픽업 무버(220)는, 파지(carrying)한 전극(20, 도 3 참조)을 캐리어(300, 도 3 참조)에 마운트(mount)할 수 있다. 예를 들어, 픽업 무버(220)는, 전극(20, 도 3 참조)을 제1 기준 위치에서 캐리어(300, 도 3 참조)에 전달할 수 있다.
도 3은 캐리어에 전극이 마운트된 상태를 나타낸 도면이다.
도 3을 참조하면, 전극 검사 시스템(10)은 캐리어(300)를 포함할 수 있다. 캐리어(300)는, 상면(upper face)을 형성할 수 있다. 전극(20)은 캐리어(300)의 상면에 위치할 수 있다. 전극(20)은 캐리어(300)의 상면에 마운트(mount)될 수 있다.
캐리어(300)는 이동할 수 있다. 예를 들어, 캐리어(300)는, 제1 기준 위치에서 전극(20)을 전달받고, 제1 검사 위치로 이동할 수 있다. 제1 검사 위치에서, 캐리어(300)에 마운트(mount)된 전극(20)은, 검사 유닛(400, 도 4 참조)에 의해 검사(inspection)될 수 있다. 예를 들어, 전극(20)의 일 면이 검사될 수 있다.
예를 들어, 캐리어(300)는 제1 검사 위치에서 제2 검사 위치로 이동할 수 있다. 캐리어(300)가 제2 검사 위치로 이동한 이후, 캐리어(300)에 마운트된 전극(20)은, 플립 유닛(flip unit, 미도시)에 의해 뒤집힐 수 있다.
예를 들어, 캐리어(300)는 제2 검사 위치에서 제1 검사 위치로 이동할 수 있다. 뒤집힌 전극(20)은, 제1 검사 위치에서 검사 유닛(400, 도 4 참조)에 의해 검사(inspection)될 수 있다. 예를 들어, 전극(20)의 타 면이 검사될 수 있다.
예를 들어, 캐리어(300)는 제1 검사 위치에서 제1 기준 위치로 이동할 수 있다. 캐리어(300)에 마운트된 전극(20)이 양호한 것으로 판단되는 경우, 캐리어(300)는 제1 검사 위치에서 제1 기준 위치로 이동할 수 있다. 제1 기준 위치에서, 픽업 유닛(200, 도 2 참조)은, 캐리어(300)에 마운트된 전극(20)을 트랜스퍼 유닛(100, 도 1 참조)에 전달할 수 있다.
예를 들어, 캐리어(300)는 제1 검사 위치에서 제1 덤프 위치로 이동할 수 있다. 캐리어(300)에 마운트된 전극(20)이 양호하지 않은 것으로 판단되는 경우, 캐리어(300)는 제1 검사 위치에서 제1 덤프 위치로 이동할 수 있다. 제1 덤프 위치에서, 덤프 유닛(500, 도 5 참조)은, 캐리어(300)에 마운트된 전극(20)을 파지(carrying)하여 이동시킬 수 있다.
도 4는 본 개시의 일 실시예에 따른 검사 유닛이 전극을 검사하는 모습을 나타낸 도면이다.
도 4를 참조하면, 전극 검사 시스템(10)은, 검사 유닛(400)을 포함할 수 있다. 검사 유닛(400)은, 캐리어(300)에 마운트된 전극(20)에 대한 이미지를 획득할 수 있다.
예를 들어, 전극 검사 시스템(10)은, 제1 검사 모듈(410)을 포함할 수 있다. 제1 검사 모듈(410)은, 제1 검사 위치에 위치한 캐리어(300)에 마운트된 전극(20)의 위에 위치할 수 있다.
제1 검사 모듈(410)은, 전극(20)의 일 면에 대한 이미지를 획득할 수 있다. 제1 검사 모듈(410)은, 전극(20)의 둘레(perimeter)에 대한 이미지를 획득할 수 있다. 예를 들어, 제1 검사 모듈(410)은, 전극(20)의 둘레에서 버(bur)가 돌출되어 형성될 경우 버(bur)에 대한 이미지를 획득할 수 있다.
예를 들어, 전극 검사 시스템(10)은, 제2 검사 모듈(420)을 포함할 수 있다. 제2 검사 모듈(420)은, 제1 검사 위치에 위치한 캐리어(300)에 마운트된 전극(20)의 옆에 위치할 수 있다.
제2 검사 모듈(420)은, 전극(20)의 일 면에서 돌출되거나 위치하는 이물질 등에 대한 이미지를 획득할 수 있다. 예를 들어, 제2 검사 모듈(420)은, 전극(20)의 상면(upper face)에서 돌출되거나 위치하는 이물질 등에 대한 이미지를 획득할 수 있다.
검사 유닛(400)은, 제1 검사 모듈(410) 및 제2 검사 모듈(420) 중 적어도 하나를 포함하거나 의미할 수 있다. 검사 유닛(400)은, 이동할 수 있다. 예를 들어, 제1 검사 모듈(410)은, 전극(20)의 둘레를 따라 이동할 수 있다. 예를 들어, 제2 검사 모듈(420)은, 캐리어(300)의 둘레를 따라 루프(loop)를 형성하며 이동할 수 있다.
다른 예를 들어, 검사 유닛(400)의 위치가 고정되고, 캐리어(300)가 이동하면서, 캐리어(300)에 적재된 전극(20)에 대한 이미지가 획득될 수 있다. 예를 들어, 캐리어(300)는, 제1 검사 위치를 중심으로 수평 이동하거나 회전 이동할 수 있다.
도 5는, 본 개시의 일 실시예에 따른 덤프 유닛을 나타낸 도면이다.
도 5를 참조하면, 전극 검사 시스템(10)은 덤프 유닛(500)을 포함할 수 있다. 덤프 유닛(500)은, 캐리어(300, 도 4 참조)에 적재된 전극(20, 도 4 참조)을 픽업(pick-up)하여 덤프(dump)할 수 있다. 전극(20, 도 4 참조)을 픽업하는 점에서, 덤프 유닛(500)의 구조 및 기능은, 픽업 유닛(200, 도 2 참조)의 구조 및 기능과 각각 유사할 수 있다.
덤프 유닛(500)은 덤프 바디(510)를 포함할 수 있다. 덤프 바디(510)는, 일 방향으로 연장되거나 길게 형성될 수 있다. 덤프 바디(510)는, 예를 들어, 종 방향으로 연장되거나 길게 형성될 수 있다. 덤프 바디(510)는, 레일(rail)을 포함할 수 있다.
덤프 유닛(500)은 덤프 무버(520)를 포함할 수 있다. 덤프 무버(520)는, 덤프 바디(510)에 이동 가능하게 결합될 수 있다. 예를 들어, 덤프 무버(520)는, 덤프 바디(510)를 따라 이동할 수 있다.
예를 들어, 덤프 무버(520)는, 제1 덤프 위치에서 캐리어(300, 도 4 참조)로부터 전극(20, 도 4 참조)을 픽업(pick-up)할 수 있다. 덤프 무버(520)는 제1 덤프 위치에서 제2 덤프 위치로 이동할 수 있다.
예를 들어, 덤프 무버(520)는, 제2 덤프 위치에서 파지(carrying)하고 있는 전극(20, 도 4 참조)을 덤프(dump)할 수 있다. 전극(20, 도 4 참조)을 덤프(dump)한 덤프 무버(520)는, 제2 덤프 위치에서 제1 덤프 위치로 이동할 수 있다.
도 6은 본 개시의 일 실시예에 따른 전극 검사 방법을 나타낸 플로우 차트(flow-chart)이다.
도 1 내지 도 6을 참조하면, 전극 검사 방법(S10)은, 트랜스퍼 무버(120)를 정지하는 단계(S100)를 포함할 수 있다. 이 단계(S100)에서, 트랜스퍼 무버(120)는, 트랜스퍼 바디(110) 상에서 이동하다 정지할 수 있다.
전극 검사 방법(S10)은, 전극(20)을 캐리어(300)에 마운트(mount)하는 단계(S200)를 포함할 수 있다. 이 단계(S200)에서, 픽업 유닛(200)은 트랜스퍼 무버(120)에 위치하는 전극(20)을 픽업하여 파지(carrying)할 수 있다.
전극 검사 방법(S10)은, 전극(20)을 검사하는 단계(S300)를 포함할 수 있다. 제1 검사 위치에서 캐리어(300)에 적재된 전극(20)이 검사될 수 있다. 이 단계(S300)에서, 검사 유닛(400)은 전극(20)을 검사할 수 있다. 예를 들어, 이 단계(S300)에서, 검사 유닛(400)은 전극(20)에 대한 이미지를 획득할 수 있다.
픽업 무버(220)는, 제1 기준 위치에서 전극(20)을 파지하여 제1 검사 위치로 이동할 수 있다. 예를 들어, 전극(20)이 캐리어(300)에 적재되는 단계(S200) 또는 전극 검사 단계(S300) 중 하나에서, 픽업 무버(220)는 전극(20)을 파지(carrying)한 상태에서 제1 기준 위치에서 제1 검사 위치로 이동할 수 있다.
전극 검사 방법(S10)은, 전극(20)의 품질이 양호한지 여부를 판단하는 단계(S400)를 포함할 수 있다. 이 단계(S400)에서, 검사 유닛(400) 또는 제어부(미도시)는, 검사 유닛(400)이 획득한 이미지를 판독하여 전극(20)의 품질이 양호한지 여부를 판단할 수 있다.
전극 검사 방법(S10)은, 제1 프로세스를 수행하는 단계(S500)를 포함할 수 있다. 전극 검사 시스템(10)은, 전극(20)의 품질이 양호한다고 판단되는 경우, 이 단계(S500)를 수행할 수 있다. 이 단계(S500)에서, 전극(20)은 트랜스퍼 무버(120)로 전달될 수 있다.
전극 검사 방법(S10)은, 제2 프로세스를 수행하는 단계(S600)를 포함할 수 있다. 전극 검사 시스템(10)은, 전극(20)의 품질이 양호하지 않다고 판단되는 경우, 이 단계(S60)를 수행할 수 있다.
이 단계(S600)에서, 전극(20)은 덤프 무버(520)에 전달되어 덤프(dump)될 수 있다. 이 단계(S600)에서, 전극(20)을 노칭(notching)하는 공정이 점검될 수 있다.
도 7은 본 개시의 전극 검사 단계를 나타낸 플로우 차트이다.
도 1 내지 도 7을 참조하면, 전극 검사 단계(S300)는, 캐리어(300)를 제1 검사 위치로 이동시키는 단계(S310)를 포함할 수 있다. 이 단계(S310)에서 캐리어(310)는 제1 기준 위치에서 제1 검사 위치로 이동할 수 있다.
전극 검사 단계(S300)는, 검사 유닛(400)이 전극(20)을 검사하는 단계(S320)를 포함할 수 있다. 이 단계(S320)에서, 검사 유닛(400)은 캐리어(300)에 적재된 전극(20)을 검사할 수 있다. 예를 들어, 이 단계(S320)에서, 검사 유닛(400)은, 전극(20)에 대한 이미지를 획득할 수 있다.
전극 검사 단계(S300)는, 전극(20)의 플립(flip) 여부를 판단하는 단계(S330)를 포함할 수 있다. 이 단계(S330)에서, 제어부(미도시)는, 캐리어(300)에 적재된 전극(20)이 플립(flip)되었는지 또는 뒤집힌 상태인지 여부를 판단할 수 있다.
제어부(미도시)는, 전극(20)이 뒤집힌 상태인 것으로 판단하는 경우 전극 검사 단계(S300)를 종료할 수 있다. 제어부(미도시)는 전극(20)이 뒤집히지 않은 것으로 판단하는 경우 다른 단계(S340)를 수행할 수 있다.
전극 검사 단계(S300)는, 캐리어(300)를 제2 검사 위치로 이동시키는 단계(S340)를 포함할 수 있다. 제어부(미도시)는 전극(20)이 뒤집히지 않은 것으로 판단하는 경우 이 단계(S340)를 수행할 수 있다. 이 단계(S340)에서, 전극(20)을 적재한 캐리어(300)는 제2 검사 위치로 이동할 수 있다.
전극 검사 단계(S300)는, 전극(20)을 플립(flip)하는 단계(S350)를 포함할 수 있다. 이 단계(S350)에서, 플립 유닛(flip unit, 미도시)은, 캐리어(300)에 적재된 전극(20)을 픽업(pick-up)하여 뒤집은 이후 뒤집힌 상태의 전극(20)을 캐리어(300)에 적재할 수 있다. 전극(20)을 플립(flip)하는 단계(S350) 이후, 캐리어(300)를 제1 검사 위치로 이동시키는 단계(S310)가 수행될 수 있다.
도 8은 본 개시의 일 실시예에 따른 제1 프로세스 수행 단계를 나타낸 플로우 차트이다.
도 1 내지 도 8을 참조하면, 제1 프로세스 수행 단계(S300)는, 캐리어(300)를 제1 기준 위치로 이동시키는 단계(S510)를 포함할 수 있다. 이 단계(S510)에서, 제어부(미도시)는 캐리어(300)를 제1 기준 위치로 이동시킬 수 있다.
제1 프로세스 수행 단계(S300)는, 전극(20)을 트랜스퍼 무버(120)에 마운트(mount)하는 단계(S520)를 포함할 수 있다. 이 단계(S520)에서, 픽업 무버(220)는, 제1 기준 위치에 위치하는 캐리어(300)에 적재된 전극(20)을 픽업(pick-up)하고 이동하여 트랜스퍼 무버(120)에 마운트(mount)할 수 있다.
제1 프로세스 수행 단계(S300)는, 트랜스퍼 무버(120)가 이동하는 단계(S530)를 포함할 수 있다. 이 단계(S330)에서, 트랜스퍼 무버(120)는 전극(20)을 파지(carrying)한 상태에서 이동할 수 있다. 예를 들어, 이 단계(S330)에서, 트랜스퍼 무버(120)는 트랜스퍼 바디(110)의 타단을 향해 이동할 수 있다.
도 9는 본 개시의 일 실시예에 따른 제2 프로세스 수행 단계를 나타낸 플로우 차트이다.
도 1 내지 도 9를 참조하면, 제2 프로세스 수행 단계(S600)는, 전극(20)을 덤프(dump)하는 단계(S610)를 포함할 수 있다. 이 단계(S610)에서, 덤프 유닛(500)은, 캐리어(300)에 적재된 전극(20)을 픽업(pick-up)하여 덤프(dump)할 수 있다.
제2 프로세스 수행 단계(S600)는, 전극 노칭 시설을 점검하는 단계(S620)를 포함할 수 있다. 전극 노칭 시설을 점검하는 단계(S620)는, 전극(20)을 덤프하는 단계(S610)와 병렬로 수행될 수 있다. 전극 노칭 시설은, 전극 시트(electrode sheet)를 노칭(notching)하여 전극(20)을 제조할 수 있다.
예를 들어, 전극(20)을 덤프하는 단계(S610)와 전극 노칭 시설을 점검하는 단계(S620)는, 병렬적으로 수행될 수 있다. 다른 예를 들어, 전극 노칭 시설을 점검하는 단계(S620)가 수행 완료된 이후, 전극(20)을 덤프하는 단계(S620)가 수행될 수 있다.
도 10은 본 개시의 일 실시예에 따른 제2 프로세스 단계를 나타낸 플로우 차트이다.
도 1 내지 도 10을 참조하면, 제2 프로세스 단계(S610)는, 캐리어(300)를 제1 덤프 위치로 이동시키는 단계(S611)를 포함할 수 있다. 이 단계(S611)에서, 제어부(미도시)는, 캐리어(300)를 제1 검사 위치에서 제1 덤프 위치로 이동시킬 수 있다.
제2 프로세스 단계(S610)는, 전극(20)을 덤프 무버(520)에 마운트하는 단계(S612)를 포함할 수 있다. 이 단계(S612)에서, 덤프 무버(520)는, 전극(20)을 파지(carrying)할 수 있다. 이 단계(S612)에서, 전극(20)은 캐리어(300)에서 덤프 무버(520)로 이동할 수 있다.
제2 프로세스 단계(S610)는, 덤프 무버(520)를 제2 덤프 위치로 이동시키는 단계(S613)를 포함할 수 있다. 덤프 무버(520)는, 이 단계(S613)에서, 제1 덤프 위치에서 제2 덤프 위치로 이동할 수 있다. 이 단계(S613)에서, 덤프 무버(520)는, 제2 덤프 위치에서 전극(20)을 덤프(dump)할 수 있다. 이후, 덤프 무버(520)는, 제2 덤프 위치에서 제1 덤프 위치로 이동할 수 있다.
위에서 설명된 내용은 단지 본 개시의 원리를 적용한 예시일 뿐이며, 본 개시의 범위를 벗어나지 않는 범위에서 다른 구성이 더 포함될 수 있다.

Claims (20)

  1. 전극을 검사하는 전극 검사 시스템으로서,
    종 방향으로 연장된 트랜스퍼 바디 및 상기 트랜스퍼 바디에 이동 가능하게 결합되되 상기 전극을 적재하는 트랜스퍼 무버를 구비하는, 트랜스퍼 유닛;
    횡 방향으로 연장된 픽업 바디 및 상기 픽업 바디에 이동 가능하게 결합되되 상기 트랜스퍼 바디에서 상기 전극을 픽업(pick-up)하여 적재하는 픽업 무버를 구비하는, 픽업 유닛;
    상기 픽업 무버로부터 상기 전극을 전달받아 상기 전극을 적재하는 캐리어; 그리고
    상기 캐리어에 적재된 상기 전극에 대한 이미지를 획득하는 검사 유닛을 포함하는,
    전극 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 캐리어는,
    제1 기준 위치에서 상기 픽업 무버로부터 상기 전극을 전달받고 제1 검사 위치로 이동하는,
    전극 검사 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 검사 유닛은,
    상기 제1 검사 위치에 위치하는 상기 캐리어에 적재된 상기 전극에 대한 상기 이미지를 획득하는,
    전극 검사 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 전극은,
    서로 맞은편을 향하는 일면 및 타면을 형성하고,
    상기 전극의 상기 타면은,
    상기 캐리어의 상면(upper face)을 마주하며 접하는,
    전극 검사 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 검사 유닛은,
    상기 캐리어의 위에 위치하는 제1 검사 모듈; 그리고
    상기 캐리어의 측면을 마주하는 제2 검사 모듈을 포함하는,
    전극 검사 시스템.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 캐리어로부터 상기 전극을 픽업(pick-up)하여 상기 전극을 뒤집은 상태에서 상기 전극을 상기 캐리어에 적재하는 플립 유닛(flip unit)을 더 포함하는,
    전극 검사 시스템.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 캐리어는,
    제1 기준 위치에서 상기 픽업 무버로부터 상기 전극을 전달받고 제1 검사 위치로 이동하고,
    상기 검사 유닛은,
    상기 제1 검사 위치에 위치한 상기 캐리어에 적재된 상기 전극에 대한 상기 이미지를 획득하는,
    전극 검사 시스템.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 캐리어는,
    상기 전극이 뒤집히지 않은 상태에서 상기 제1 검사 위치에서 제2 검사 위치로 이동하고,
    상기 플립 유닛은,
    상기 제2 검사 위치에 위치한 상기 캐리어에 적재된 상기 전극을 뒤집어서 상기 캐리어에 적재하는,
    전극 검사 시스템.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 캐리어는,
    상기 전극이 뒤집힌 상태에서 상기 캐리어에 적재된 이후, 상기 제2 검사 위치에서 상기 제1 검사 위치로 이동하는,
    전극 검사 시스템.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 종 방향으로 연장된 덤프 바디 및 상기 덤프 바디에 이동 가능하게 결합되되 상기 캐리어에 적재된 상기 전극을 픽업(pick-up)하는 덤프 무버를 구비하는, 덤프 유닛을 더 포함하는,
    전극 검사 시스템.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 캐리어, 상기 덤프 유닛, 그리고 상기 픽업 유닛을 제어하는 제어부를 더 포함하고,
    상기 캐리어는,
    제1 기준 위치에서 상기 픽업 무버로부터 상기 전극을 전달받고 제1 검사 위치로 이동하며,
    상기 제어부는,
    상기 이미지를 분석하여 상기 전극이 양호한 것으로 판단되면, 상기 캐리어를 상기 제1 검사 위치에서 상기 제1 기준 위치로 이동시키는,
    전극 검사 시스템.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 이미지를 분석하여 상기 전극이 양호하지 않은 것으로 판단되면, 상기 캐리어를 상기 제1 검사 위치에서 제1 덤프 위치로 이동시키는,
    전극 검사 시스템.
  13. 전극을 검사하는 전극 검사 방법(S10)으로서,
    상기 전극을 파지하고 이송하는 트랜스퍼 무버가 정지하는 단계(S100);
    상기 트랜스퍼 무버로부터 상기 전극을 픽업하여 제1 기준 위치에 위치하는 캐리어에 적재하는 단계(S200);
    상기 전극을 검사하는, 전극 검사 단계(S300);
    제어부가 상기 전극의 품질이 양호한지 여부를 판단하는 단계(S400);
    상기 전극의 품질이 양호한 경우 상기 제어부가 제1 프로세스를 수행하는 단계(S500); 그리고
    상기 전극의 품질이 양호하지 않은 경우 상기 제어부가 제2 프로세스를 수행하는 단계(S600)를 포함하는,
    전극 검사 방법(S10).
  14. 제13항에 있어서,
    전극 검사 단계(S300)는,
    상기 캐리어가 제1 검사 위치로 이동하는 단계(S310);
    검사 유닛이 상기 전극을 검사하는 단계(S320); 그리고
    상기 제어부가 상기 전극의 플립 여부를 판단하는 단계(S330)를 포함하고,
    상기 제어부는,
    상기 전극이 플립(flip)된 것으로 판단되면, 전극 검사 단계(S300)를 종료하는,
    전극 검사 방법(S10).
  15. 제14항에 있어서,
    상기 전극 검사 단계(S300)는,
    상기 전극이 플립(flip)되지 않은 것으로 판단되는 경우, 상기 제어부가 상기 캐리어를 제2 검사 위치로 이동시키는 단계(S340); 그리고,
    플립 유닛이 상기 제2 검사 위치에 위치하는 상기 캐리어에 적재된 상기 전극을 뒤집는, 플립 단계(S350)를 포함하는,
    전극 검사 방법(S10).
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 플립 단계(S350) 이후, 상기 캐리어를 상기 제1 검사 위치로 이동시키는 단계(S310)를 수행하는,
    전극 검사 방법(S10).
  17. 제13항에 있어서,
    상기 제1 프로세스 수행 단계(S500)는,
    상기 캐리어를 상기 제1 기준 위치로 이동시키는 단계(S510);
    상기 전극을 상기 트랜스퍼 무버에 마운트하는 단계(S520); 그리고
    상기 트랜스퍼 무버가 이동하는 단계(S530)를 포함하는,
    전극 검사 방법(S10).
  18. 제13항에 있어서,
    상기 제2 프로세스 수행 단계(S600)는,
    상기 전극을 덤프(dump)하는 단계(S610); 그리고
    상기 전극을 노칭(notching)하는 전극 노칭 시설을 점검하는 단계(S620)를 포함하는,
    전극 검사 방법(S10).
  19. 제18항에 있어서,
    상기 전극을 덤프하는 단계(S610) 및 상기 전극 노칭 시설을 점검하는 단계(S620)는,
    병렬적으로 수행되는,
    전극 검사 방법(S10).
  20. 제18항에 있어서,
    상기 전극을 덤프하는 단계(S610)는,
    상기 캐리어를 제1 덤프 위치로 이동시키는 단계(S611);
    상기 캐리어에 적재된 상기 전극을 덤프 무버에 마운트하는 단계(S612); 그리고
    상기 덤프 무버를 제2 덤프 위치로 이동시키는 단계(S613)를 포함하는,
    전극 검사 방법(S10).
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100079883A (ko) * 2008-12-31 2010-07-08 (주)제이티 비전검사장치
KR101958881B1 (ko) * 2018-12-06 2019-03-15 (주)하나기술 이차전지 전극 노칭시스템
KR102217201B1 (ko) * 2018-03-29 2021-02-18 주식회사 엘지화학 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법
KR20220109195A (ko) * 2021-01-28 2022-08-04 (주)이티에스 디스플레이패널 검사시스템
KR20220117466A (ko) * 2021-02-17 2022-08-24 주식회사 엘지에너지솔루션 전극 탭의 불량 검출 시스템 및 이를 이용한 전극 탭의 불량 검출 방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100079883A (ko) * 2008-12-31 2010-07-08 (주)제이티 비전검사장치
KR102217201B1 (ko) * 2018-03-29 2021-02-18 주식회사 엘지화학 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법
KR101958881B1 (ko) * 2018-12-06 2019-03-15 (주)하나기술 이차전지 전극 노칭시스템
KR20220109195A (ko) * 2021-01-28 2022-08-04 (주)이티에스 디스플레이패널 검사시스템
KR20220117466A (ko) * 2021-02-17 2022-08-24 주식회사 엘지에너지솔루션 전극 탭의 불량 검출 시스템 및 이를 이용한 전극 탭의 불량 검출 방법

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