AT145588B - Photoelektrischer Belichtungsmesser. - Google Patents

Description

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  Photoelektriseher Belichtungsmesser. 



   Die vorliegende Erfindung betrifft einen photoelektrischen Belichtungsmesser. Bekanntlich arbeiten solche Belichtungsmesser nur dann genau, wenn das stark schräg seitlich einfallende Licht auf die   Sperrschichtzelle   nicht mehr wirksam wird, da ja dieses Licht auch für die Aufnahme keinen Einfluss ausübt. 



   Um dieses falsche Licht auszuschalten, hat man mechanische Mittel in Form von Wabenblenden vorgeschlagen. Diese Massnahme hat allerdings den Nachteil, dass das auf die   Sperrschichtzelle   fallende Licht mit zunehmender Neigung rasch abnimmt, da die Seitenwände zunehmend abschattend wirken. 



    Erfindungsgemäss-sollen   deshalb optische Mittel verwendet werden, welche das Licht von allzu starker Neigung durch Totalreflexion ablenken. Bei dieser Methode erleiden die Lichtbündel geringer Neigung keinerlei Abschwächung durch Abschattung, sondern nur geringe Verluste durch Reflexion. Erst von einer bestimmten Neigung, die bestimmt ist durch den Winkel der Totalreflexion, fällt plötzlich kein Licht mehr auf die Sperrschichtzelle. 



   Die Ausführung der Prismen kann verschieden vorgenommen werden, beispielsweise können pyramidenförmig oder kegelförmig verlaufende Prismen od. dgl. Anwendung finden. 



   In der Zeichnung ist die Erfindung in den Fig. 1 bis 3 dargestellt. 



   Fig. 1 zeigt ein Schaltschema des photoelektrischen Belichtungsmessers mit einer vor der Sperrschichtzelle angeordneten Prismenplatte, welche alle über eine bestimmte Neigung hinausgehenden auffallenden   Lichtbüschel   total reflektiert. 



   In Fig. 1 bedeutet 1 die   Sperrschichtzelle,   2 das Messinstrument, 3 den Regulierwiderstand und 4 die Prismenplatte. 



   Fig. 2 zeigt den Grundriss der Prismenplatte 4 der Fig. 1. Die einzelnen Prismen besitzen pyramidenförmige Gestalt. 



   Fig. 3 zeigt eine Prismenplatte, bei der die einzelnen Prismen 5 dachartig ausgebildet sind. 



   Fig. 4 zeigt in vergrössertem Massstab einen Schnitt durch eine Prismenplatte mit eingezeichnetem Lichtstrahlenverlauf. Die Lichtstrahlen 6,7, welche unter einem Winkel auf die Grundfläche des Prismas fallen, der grösser ist als der Grenzwinkel von etwa 42 , werden total reflektiert, sie gelangen also nicht auf die Photozellen. Die Lichtstrahlen   8,   welche unter einem Winkel auf die Grundfläche des Prismas fallen, der kleiner ist als der Grenzwinkel von etwa   42 ,   können bis zur   Sperrschichtzelle 1   gelangen. 



   PATENT-ANSPRÜCHE :
1. Photoelektrischer Belichtungsmesser, dadurch gekennzeichnet, dass durch eine Aneinanderreihung von Prismen eine der Sperrschichtzelle gegenüberliegende Fläche gebildet wird, an der alle über eine bestimmte Neigung hinausgehenden   Lichtbüschel   total reflektiert werden. 

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Claims (1)

1. 2. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die einzelnen Prismen pyramidenförmig ausgebildet sind.

   3. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass die Prismen dachförmig ausgebildet sind. **WARNUNG** Ende CLMS Feld Kannt Anfang DESC uberlappen**.