CH182121A - Photoelektrischer Belichtungsmesser. - Google Patents

Description

  Photoelektrischer Belichtungsmesser.    Gegenstand der Erfindung     ist    ein photo  elektrischer Belichtungsmesser. Bekanntlich  arbeiten solche Belichtungsmesser nur dann  genau, wenn das stark schräg seitlich ein  fallende Licht auf die     Sperrschichtzelle    nicht  mehr wirksam wird, da ja dieses Licht für  die Aufnahme keinen Wert besitzt.  



  Um dieses falsche Licht auszuschalten,  hat man mechanische Mittel in Form von       Wabenblenden    vorgeschlagen. Dieses Schutz  mittel zeigt den Nachteil, dass das auf die       Sperrschichtzelle    fallende Licht      mit    zuneh  mender Einfallsneigung rasch abnimmt, da  die Seitenwände zunehmend abschattend  wirken. Eine bessere Lösung dieser Aufgabe  ist erfindungsgemäss dadurch erzielt, dass  durch Aneinanderreihung optischer Mittel  eine vor der     Sperrschichtzelle    liegende  Schutzfläche gebildet ist, an der alle über  eine bestimmte Neigung zur Senkrechten  hinausgehenden Lichtbüschel total reflek  tiert werden.

   Die Lichtbüschel geringer Nei  gung erfahren keinerlei Abschwächung    durch Abschattung, sondern nur     geringe     Verluste durch     Reflektion.    Erst von einer  bestimmten Einfallsneigung an fallen die  Lichtstrahlen nicht mehr auf die Sperr  schichtzelle.  



  Die optischen Mittel können verschieden  sein,     beispielsweise    können pyramidenför  mige Körper oder im Querschnitt kegelför  mige, geradlinige oder kreisförmige Prismen  Anwendung finden.  



  In der Zeichnung sind beispielsweise  Ausführungsformen des Erfindungsgegen  standes dargestellt.  



       Fig.    1 zeigt     ein.    Schaltschema des photo  elektrischen Belichtungsmessers, mit einer  vor einer     Sperrschichtzelle    angeordneten       Prismenplatte,    welche alle über eine be  stimmte Neigung hinausgehenden auffallen  den Lichtbüschel total reflektiert;

         Fig.    2 und     ä    zeigen Grundrisse verschie  dener Platten, und       Fig.    4 zeigt in grösserem Massstab einen       Schnitt    durch eine     Prismenplatte.         Nach der     Fig.    1 der Zeichnung bedeutet  1 die     Sperrschichtzelle,    2 das     Messinstru-          ment,    3 den Regulierwiderstand und 4 die       Prismenplatte.     



  Gemäss     Fig.    2 besitzen die einzelnen an  einandergereihten Körper 4 pyramidenför  mige Gestalt, während die Prismen 5 nach       Fig.    3     daehkantartig    im     Querschnitt    (keilför  mig) ausgebildet sind. Die Schutzfläche  kann aber auch durch     konzentrisch    angeord  nete heilförmig profilierte Rippen gebildet:       sein.     



  In     Fig.    4 ist die     Prismenplatte    mit ein  gezeichnetem     Lichtstrahlenverlauf    darge  stellt. Die Lichtstrahlen 6, 7, welche unter  einem Winkel auf die     Grundfläche    des  Prismas fallen, der grösser ist als der     Grenz-          einfallwinkel    von etwa 42', werden total  reflektiert;

   sie gelangen also nicht auf die       Sperrschichtzelle.    Die Lichtstrahlen 8,     -\vel-          ehe        unter        einem    Winkel zur Senkrechten auf  die Grundfläche der     Prismenplatte    einfallen,  der kleiner ist als der Grenzwinkel von etwa  42  ,     können    bis zur     Sperrschiehtzelle    1 ge  langen.

Claims (1)

1. PATENTANSPRÜCH: Photoelektrischer Belichtungsmesser, da durch gekennzeichnet, dass durch Anein anderreihung optischer Mittel eine vor der Sperrschichtzelle liegende Schutzfläche ge bildet ist, an der alle über eine bestimmte Neigung zur Senkrechten hinausgehenden Lichtbüschel total reflektiert werden. UNTERANSPRüCIIE 1. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass als optische Mittel Prismen verwen det sind. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Schutzfläche durch pyramiden förmige Körper gebildet ist. 3.

   Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Patentanspruch und Unteranspruch 1, da durch gekennzeichnet, dass die Prismen dachkantförmig ausgebildet sind.