AT204800B - Mikroskop, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren - Google Patents

Description

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  Mikroskop, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren 
Der Gegenstand der Erfindung betrifft ein   Miskroskop,   insbesondere zur Vermessung von Kernspuren, mit dessen Hilfe es möglich ist, auch räumlich verlaufende Kernspuren in einer Emulsion auszumessen. Die Ausmessung solcher Spuren muss dabei in der   Weise. erfolgen,. dass   in festgelegten   Abständen bei   optimaler Beleuchtung die jeweilige Tiefenlage der Spur in der Emulsion festgestellt und daraus der räumliche Verlauf derselben berechnet wird. 



   Einrichtungen solcher Art, mit denen diese Messungen schnell und mit genügender Genauigkeit   durchführbar   sind, sind bisher unbekannt. 



   Gemäss der Erfindung   sist   ein Mikroskop zur   Durchführung   solcher Messungen so beschaffen, dass dessen Objektiv und dessen Kondensor mit bekannten Mitteln gemeinsam von einem Trieb aus zwecks Fokussierung messbar so verstellbar sind, dass für jede Stellung des Objektivs eine optimale   Beleuchtung gewährleistet   ist. 



   Eine vorteilhafte Ausführung eines solchen Mikroskops ergibt sich, wenn zur   Führung sowohl   des Objektivs als auch des Kondensors Blattfedern dienen. 



   Ein   Ausführungsbeispiel   des Gegenstandes der Erfindung ist im Schema in der Zeichnung dargestellt. 



   In der Figur sind das Okular, das Objektiv und der Kondensor mit   1,   2   un. d 3 beziffert. Das   Objektiv 2 und der Kondensor 3 werden von Führungskörpern 4 und 5 getragen. die durch nicht dargestellte Bandfedern in Richtung der optischen Achse des Mikroskopes bewegbar angeordnet sind. Die Bewegung des Objektivs 2 erfolgt von einem Drehknopf 6 aus, der mit einem Ritzel 7 direkt gekuppelt ist. Zwischen diesem Ritzel 7 und einer an dem Führungskörper 4 befestigen Zahnstange 8 befindet sich zur übertragung der Bewegung ein Zahnrad 9. Da das vorliegende Mikroskop auch zur Ausmessung von in Emulsionen befindlichen räumlich verlaufenden Kernspuren verwendet werden soll, ist zu deren Scharfeinstellung laufend eine entsprechende Verstellung des Objektivs erforderlich.

   Die Tiefenlage der jeweils beobachteten Stelle der Kernspur innerhalb der Emulsion ist an einer Skala 10 ablesbar. Zur Erzielung einer optimalen Beleuchtung muss auch gleichzeitig der Kodensor in gleicher Richtung wie das Objektiv bewegt werden. Die Grösse der Bewegung dieser beiden Teile ist jedoch unterschiedlich. Zur gleichzeitigen Bewegung des Kondensors 3 steht mit dem Ritzel 7 ein weiteres Zahnrad 11 im Eingriff, welches jede Bewegung des Ritzels   auf'ein Zahnsegment 12 über-   trägt. Dieses Zahnsegment befindet sich an dem einen Ende eines zweiarmigen Hebelarmes 13, der auf einem Schneidenlager 14 ruht. Das andere Ende des Hebelarmes 13 steht über eine Stange 15 mit einem auf einem   Schneidenla, ger 16   gelagerten einarmigen Hebel 17 in Verbindung.

   Dieser Hebel wirkt mit seinem ballig ausgebildeten Ende 18 auf den Führungskörper 5 und hebt oder senkt diesen im. entsprechenden Verhältnis zur   Objaktivbewegung.   Zur Justierung und zur Anpassung an auswechselbare Objektive ist es von Vorteil, wenn die   Hebellängen   und/oder 
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   verschiebbar'angeordnet Ist.PATENTANSPRÜCHE :   
1. Mikroskop, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren, dadurch gekennzeichnet, dass das Objektiv und der Kondensor mit bekannten Mitteln gemeinsam von einem Trieb aus zwecks   Fokussierung messbar   so verstellbar sind, dass für jede Stellung des Objektivs eine optimale Beleuchtung gewährleistet ist. 

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Claims (1)

1. 2. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Führung sowohl des Objektivs, als auch des Kondensors Blattfedern dienen. **WARNUNG** Ende CLMS Feld Kannt Anfang DESC uberlappen**.