ATE241228T1 - System und verfahren zur analyse von störsignalen bei gleichzeitigem schalten - Google Patents

System und verfahren zur analyse von störsignalen bei gleichzeitigem schalten

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ATE241228T1
ATE241228T1 AT00959629T AT00959629T ATE241228T1 AT E241228 T1 ATE241228 T1 AT E241228T1 AT 00959629 T AT00959629 T AT 00959629T AT 00959629 T AT00959629 T AT 00959629T AT E241228 T1 ATE241228 T1 AT E241228T1
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voltage
simultaneous switching
transmission line
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Larry Smith
Raymond E Anderson
Tanmoy Roy
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Sun Microsystems Inc
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    • G06F30/36—Circuit design at the analogue level
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Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6941258B2 (en) * 2000-03-17 2005-09-06 Interuniversitair Microelektronica Centrum Method, apparatus and computer program product for determination of noise in mixed signal systems
JP3569681B2 (ja) * 2001-02-02 2004-09-22 株式会社半導体理工学研究センター 半導体集積回路における電源電流波形の解析方法及び解析装置
US7013254B2 (en) * 2001-03-28 2006-03-14 Sun Microsystems, Inc. Low-complexity, high accuracy model of a CPU power distribution system
JP2002304434A (ja) * 2001-04-06 2002-10-18 Nec Corp Ｅｍｉシミュレーション用半導体集積回路電源モデルの作成方法、装置及びプログラム
JP4451575B2 (ja) * 2001-05-22 2010-04-14 パナソニック株式会社 配線基板の設計支援装置、設計支援方法、プログラム記録媒体、及びプログラム
US6823499B1 (en) * 2001-09-18 2004-11-23 Lsi Logic Corporation Method for designing application specific integrated circuit structure
US7454733B2 (en) * 2002-03-06 2008-11-18 International Business Machines Corporation Interconnect-aware methodology for integrated circuit design
US6870436B2 (en) * 2002-03-11 2005-03-22 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and apparatus to attenuate power plane noise on a printed circuit board using high ESR capacitors
US6789241B2 (en) * 2002-10-31 2004-09-07 Sun Microsystems, Inc. Methodology for determining the placement of decoupling capacitors in a power distribution system
DE10353796A1 (de) 2003-11-13 2005-06-23 Deutsche Telekom Ag Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Diensten in Netzen für mobile Endgeräte
US7082585B2 (en) * 2003-11-21 2006-07-25 Lsi Logic Corporation Analysis of integrated circuits for high frequency performance
JP4065229B2 (ja) * 2003-11-26 2008-03-19 松下電器産業株式会社 半導体集積回路の電源ノイズ解析方法
US7240310B2 (en) * 2004-12-07 2007-07-03 International Business Machines Corporation Method, system and program product for evaluating a circuit
JP4450751B2 (ja) * 2005-03-17 2010-04-14 富士通株式会社 メッシュモデル作成方法、シミュレーション装置及びプログラム
JP4664222B2 (ja) * 2006-03-24 2011-04-06 富士通セミコンダクター株式会社 許容値算出方法及び検証方法
CN100574560C (zh) * 2006-06-30 2009-12-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 印刷电路板
JP4940013B2 (ja) * 2006-07-31 2012-05-30 富士通株式会社 半導体装置に対する同時動作信号ノイズ見積り方法、およびプログラム
CN101137271B (zh) * 2006-09-01 2011-06-08 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 印刷电路板
CN100574553C (zh) * 2006-10-25 2009-12-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 印刷电路板
CN101188902B (zh) * 2006-11-17 2011-08-24 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 印刷电路板
US7788620B1 (en) 2007-01-22 2010-08-31 Lattice Semiconductor Corporation Input/output placement systems and methods to reduce simultaneous switching output noise
US20080251275A1 (en) * 2007-04-12 2008-10-16 Ralph Morrison Decoupling Transmission Line
US7870515B2 (en) * 2008-01-11 2011-01-11 International Business Machines Corporation System and method for improved hierarchical analysis of electronic circuits
US8694946B1 (en) 2008-02-20 2014-04-08 Altera Corporation Simultaneous switching noise optimization
US7983880B1 (en) * 2008-02-20 2011-07-19 Altera Corporation Simultaneous switching noise analysis using superposition techniques
US8151233B1 (en) * 2009-04-07 2012-04-03 Altera Corporation Circuit design with incremental simultaneous switching noise analysis
US9569577B2 (en) 2014-10-15 2017-02-14 Freescale Semiconductor, Inc. Identifying noise couplings in integrated circuit
US10318682B1 (en) * 2017-06-30 2019-06-11 Cadence Design Systems, Inc. Systems and methods for analyzing node impedance state
US11275879B2 (en) * 2017-07-13 2022-03-15 Diatog Semiconductor (UK) Limited Method for detecting hazardous high impedance nets

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5477460A (en) 1994-12-21 1995-12-19 International Business Machines Corporation Early high level net based analysis of simultaneous switching
US5703798A (en) * 1995-04-25 1997-12-30 Mentor Graphics Corporation Switch level simulation employing dynamic short-circuit ratio
JP3612381B2 (ja) * 1996-05-16 2005-01-19 株式会社リコー 論理シミュレーション装置
JPH10124563A (ja) * 1996-08-27 1998-05-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 論理回路の遅延計算方法、その遅延計算装置及び遅延ライブラリの遅延データ計算方法

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Publication number Publication date
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AU7091600A (en) 2001-03-26
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EP1214785B1 (de) 2003-05-21
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DE60002897D1 (de) 2003-06-26

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