ATE271228T1 - Verfahren und system zum bewegen eines messgerätes über einem testgegenstand - Google Patents

Verfahren und system zum bewegen eines messgerätes über einem testgegenstand

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ATE271228T1
ATE271228T1 AT95926587T AT95926587T ATE271228T1 AT E271228 T1 ATE271228 T1 AT E271228T1 AT 95926587 T AT95926587 T AT 95926587T AT 95926587 T AT95926587 T AT 95926587T AT E271228 T1 ATE271228 T1 AT E271228T1
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Anders Eriksson
Jan Eriksson
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Anders Eriksson
Jan Eriksson
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    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
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    • GPHYSICS
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020033706A1 (en) * 2000-08-03 2002-03-21 Mehyar Khazei System method, and apparatus for field scanning
FR2871580B1 (fr) * 2004-06-09 2006-10-27 Inrets Localisation d'une source de rayonnement electromagnetique sur un equipement electrique
US7876276B1 (en) 2006-08-02 2011-01-25 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Antenna near-field probe station scanner
US8810460B2 (en) * 2009-11-05 2014-08-19 Atc Logistics & Electronics, Inc. Multidimensional RF test fixture and method for securing a wireless device for RF testing
CN104251966A (zh) * 2013-06-25 2014-12-31 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 自动化测量系统及方法
CN111665403B (zh) * 2020-04-29 2022-12-23 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 层叠型电子元件的失效点定位方法、装置和系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE451913B (sv) * 1982-09-21 1987-11-02 Michael Grimsland Forfarande och anordning for metning av frekvensgang
JPH0775155B2 (ja) * 1985-08-20 1995-08-09 富士通株式会社 ストロボ電子ビーム装置
US4840496A (en) * 1988-02-23 1989-06-20 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Noncontact temperature pattern measuring device
US5066921A (en) * 1990-08-01 1991-11-19 General Dynamics, Electronics Division Radome diagnostic system
US5119017A (en) * 1990-10-12 1992-06-02 Westinghouse Electric Corp. Bandwidth analysis system and method
RU2014624C1 (ru) * 1991-04-30 1994-06-15 Геруни Сурен Парисович Стенд для измерения электромагнитного поля вокруг объекта
US5432523A (en) * 1993-08-20 1995-07-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Elliptical near field test facility
US5483068A (en) * 1994-01-07 1996-01-09 Moulton; Russell D. Use of IR (thermal) imaging for determining cell diagnostics

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Publication number Publication date
SE9402604D0 (sv) 1994-07-29
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AU3091095A (en) 1996-03-04
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NO970363D0 (no) 1997-01-28
NO970363L (no) 1997-03-21
EP0772784A1 (de) 1997-05-14
WO1996004562A1 (en) 1996-02-15
NO319991B1 (no) 2005-10-10
DE69533258D1 (de) 2004-08-19
FI970358A7 (fi) 1997-01-28
SE9402604L (sv) 1995-11-13

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