SE502575C2 - Förfarande och system vid kretskort - Google Patents

Description

502 575 produktens livslängd ökas.

Teknikens ståndpunkt De hjälpmedel som idag stàr till konstruktörens förfogande vid mätning av EMC saknar mätnoggrannhet och/eller är dyra. För att mäta EMC vid konstruktion av produkten sveper konstruktören för hand över det elektriskt eller elektroniskt bestyckade kretskortet (moduler) med en mätsond som via en förstärkare är ansluten till en spektruma- nalysator. I spektrumanalysatorns fönster kan sedan konstruktören se störkällans frekvensinnehàll, det vill säga kretskortets emission i den position där mätsonden befinner sig.

Vid detta förfarande mäts dock inte kretskortets immunitet. En annan nackdel är den bristande mätnoggrannheten med avseende pà störkäl- lans position. Eftersom mätsonden sveps över kretskortet för hand är det svàrt att fastställa störkällans exakta position. Störkällan, det vill säga komponenten som stör, lokaliseras visserligen men eftersom den exakta positionen inte är känd är det svårt att upprepa mätningen när en ny jämförande mätning skall göras efter det att störningen har reducerats. Det föreligger således ett behov av att kunna genomföra upprepbara EMC-mätningar för att löpande under konstruktionsprocessen få en bild av kretskortets EMC.

Ett andra sätt att kontrollera ett kretskorts EMC är att vänta tills produkten i vilken kretskortet finns genomgår ett EMC-prov hos SEMKO eller motsvarande nationell myndighet. Om inte produkten klarar av gränsvärdena i detta EMC-prov sá måste produkten konstrueras om.

Nackdelen med detta förfaringssätt är att konstruktören bara får reda på vilka gränsvärden som överskrids, det vill säga bara de frekvenser från störkällan eller störkällorna som ligger över gränsvärdena, och inte var den eller dessa är belägna. Konstruktören måste således själv leta upp den komponenten eller de komponenterna som är orsaken till att gränsvärdena har överskridits.

EP-0 480 720 beskriver ett system och ett förfarande för att analysera en signals bandbredd. En digital spektrumanalysator 502 575 3 används för att digitalisera spektrumet som sedan laddas in i en dator. Datorn sveper sedan över detta spektrum för bestämma en noll dB referens. Dessutom lokaliseras, räknas och karaktäriseras hålen eller bortfallen i spektrumet. Detta system och förfarande analyse- rar således en enda signals spektrum. EP-O 480 720 beskriver däremot inte något sätt att svepa över ett provobjekt för att på så sätt samla in och analysera spektrumet från flera positioner på prov- objektet. Dessutom är detta förfarande och system inriktat pà att analysera en signals bandbredd och inte på att analysera ett flertal enskilda punkters EMC för att få en totalbild av ett provobjektets frekvensinnehàll och störkänslighet, vilket är fallet med den föreliggande uppfinningen.

Sammanfattning av uppfinningen Syftet med uppfinningen är att tillhandahålla ett system för att upprepbart medelst en positioneringsanordning föra ett mätorgan till ett flertal positioner över ett provobjekt, exempelvis ett elekt- riskt eller elektroniskt bestyckat kretskort, varvid systemet mäter provobjektets EMC och/eller temperatur och sedan lagrar mätvärdet i ett minne tillsammans med mätorganets koordinater.

Ett annat syfte med uppfinningen är att tillhandahålla ett för- farande för att med t ex ovan nämnda system upprepbart mäta ett provobjekts EMC och/eller temperatur.

Ovan nämnda syften löses enligt uppfinningen med ett system som innefattar en programmerbar styrenhet med ett minnesorgan, en positioneringsanordning och ett mätorgan och vars särdrag anges i den kännetecknande delen av patentkrav 1. Motsvarande särdrag för förfarandet anges i den kännetecknande delen av patentkrav 7.

Olika utföringsformer av uppfinningen kommer att beskrivas närmare nedan i anslutning till de bifogade ritningarna, i vilka FIG. l visar uppkopplingen av en utföringsform i vilken systemet enligt den föreliggande uppfinningen används för att mäta emission, 502 575 FIG. 2 visar uppkopplingen av en utföringsform i vilken systemet enligt den föreliggande uppfinningen används för att mäta immunitet, FIG. 3 visar uppkopplingen av en utföringsform i vilken systemet enligt den föreliggande uppfinningen används för att mäta temperatur, FIG. 4 är ett kopplingsschema som visar en utföringsform av systemet som mäter emission, FIG. 5 är ett kopplingsschema som visar en utföringsform av systemet som mäter immunitet, FIG. 6 är ett kopplingsschema som 'visar en utföringsform av systemet som mäter temperatur, FIG. 7 är ett flödesschema som visar mätproceduren för emissions- mätningen enligt uppfinningen, FIG. 8 är ett flödesschema som visar mätproceduren för immuni- tetsmätningen enligt uppfinningen, FIG. 9 är ett flödesschema som visar mätproceduren för tempera- turmätningen enligt uppfinningen.

Systemet och förfarandet kommer nu att beskrivas med hjälp av tre olika utföringsexempel.

Exempel 1: Emissionsmätninq Systemet som visas i figur l och figur 4 för att mäta emissionsdelen av EMC innefattar en spektrumanalysator 2, en mätsond 4, i före- kommande fall en förstärkare 6 till mätsonden 4, en positioneringsa- nordning, företrädesvis ett koordinatbord 8, vilket innefattar en vagn 10 som håller mätsonden 4 och som glider över ett provobjekt 12 502 575' 5 längs en arm 14 och en drivenhet 16 för att förflytta vagnen 10 och armen 14 över provobjektet 12, en programmerbar styrenhet med ett minnesorgan, företrädesvis en 1dator 18,- ett tangentbord 19, en bildskärm 20, en skrivare 22, ett första och ett andra styrkort 24 respektive 26 och en bussledning 28.

Mätsonden 4 som används för att mäta emissionsdelen av provobjektets 12 EMC är anordnad på vagnen_lO och via förstärkaren 6 ansluten till spektrumanalysatorn 2. Spektrumanalysatorn 2 är i sin tur via en bussledning 28, t ex HPIB, ansluten till datorn 18 som samlar in och bearbetar de mätdata som spektrumanalysatorn 2 har inhämtat via mätsonden 4 för att sedan visualisera bearbetade data pà bildskärmen 20. För att styra koordinatbordet 8 är datorn 18 via det första 24 och andra styrkortet 26 ansluten till koordinatbordets 8 drivenhet 16.

Nedan kommer nu förfarandet för att mäta emissionsdelen av prov- objektets 12 EMC att beskrivas.

Skall ett provobjekt 12, t ex ett elektriskt eller elektroniskt bestyckat kretskort, mätas för första gången måste först systemet konfigureras. När systemet startas väljes då ett konfigurations- formulär i en meny, i vilket definieras vilken hàrdvara programmet skall arbeta med, t ex typ av mätsond 4, koordinatbord 8, styrkort 24, 26, Skrivare osv.

När detta har gjorts är det dags att starta mätprogrammet. Har systemet redan konfigurerats är detta det första steget i för- farandet. Förfarandet innefattar förutom konfigurationen följande steg: 1. Start av mätprogrammet 2. Val av formuläret "Inställningar koordinatbord“. I detta formulär anges t ex start- och slutkoordinater, steglängder i X- och Y-riktningarna, startriktning, hastighet, om Z-koordina- ten skall vara fast eller relativ osv för mätförfarandet. 3. Val av formuläret "Mätinställningar emissionsmätning". I detta 502 575 6 formulär anges t ex start- och stoppfrekvens, centerfrekvens, frekvensspann, känslighet, bandbredd, svepfrekvens, mätenhet osv för mätförfarandet. 4. Start av mätningen genom val av alternativet "Mät" i menyn för emissionsmätning. 5. Visning av mätningen genom att välja alternativet "Visualisera“ i menyn för emissionsmätning. 6. Dokumentering av mätningen genom att välja alternativet "Printa" i menyn för emissionsmätning.

Själva mätproceduren dvs steg 4 ovan kommer nu att beskrivas i detalj. Mätproceduren visas med hjälp av ett flödesschema i figur 7.

När alla inställningar för mätningen har gjorts och mätningen har aktiverats genom att välja "Mät" i menyn för emissionsmätning så ger programmet via det första styrkortet 24 order till koordinatbordet 8 att förflytta mätsonden 4 till startkoordinaten som angavs i formuläret "Inställningar koordinatbord". När armen 14 och vagnen 10, som håller mätsonden -4 har nått startkoordinaten över pro- vobjektet 12 görs all styrelektronik till koordinatbordet 8 spänningslös. Detta görs för att inte styrelektroniken skall påverka mätresultatet. Programmet ger sedan via HPIB-kopplingen 28 order att starta mätningen enligt de förutsättningar som angavs i formuläret "Mätinställningar emissionsmätning". Spektrumanalysatorn 2 inhämtar därefter via förstärkaren 6 mätvärden fràn mätsonden 4 som är anordnad pà vagnen 10. Mätvärdena överförs sedan via HPIB-kopplingen 28 till datorn 18 där de lagras i minnet. Styrelektroniken till koordinatbordet aktiveras därefter igen. Programmet ger nu order till koordinatbordet att förflytta sig till nästa koordinat enligt förutsättningarna som angavs i formuläret "Inställningar koordinat- bord". Mätproceduren fortsätter sedan enligt ovan och avslutas när slutkoordinaten nátts och spektrumanalysatorn 2 inhämtat det sista mätvärdet.

Under själva emissionsmätningen är det nøjligt att övervaka de mätvärden som samlas in antingen direkt i spektrumanalysatorns 2 fönster eller på bildskärmen 20 som är ansluten till datorn 18. På A502 575' 7 bildskärmen 20 är det dà möjligt att antingen i realtid visa det mätvärde för den position där mätsonden 4 för ögonblicket befinner sig eller visa detta ögonblicksvärde tillsammans med de föregående mätvärdena, det vill säga mätningens historik till och med det sist insamlade mätvärdet.

För att få en mera komplett bild av provobjektets 12 emission så väljs "Visualisera" i menyn efter det att mätningen är avslutad. Här visas de av datorn 18 bearbetade mätvärdena i diagramform. Genom att välja olika diagramtyper med upp till fyra dimensioner, t ex ett frekvens/amplitud diagram, ett frekvens/amplitud/position diagram etc, är det lätt för konstruktören att fà en mycket god överblick av ett provobjekts emission. Om någon komponent överskrider gällande gränsvärden för emission så ser konstruktören omedelbart var någonstans på provobjektet störningen är belägen.

Med detta förfarande är det således lätt att tidigt i konstruktions- processen hitta och reducera störkällor. När störningen har reduce- rats är det dessutom mycket enkelt att upprepa mätningen under samma förutsättningar som gällde för den första mätningen vilket inte har varit möjligt med hittills känd teknik.

Resultatet, mätinställningarnacxflïkoordinatbordsinställningarna för varje mätning kan lagras i datorn 18 och utgör ett utmärkt underlag för dokumentationen av konstruktionsprocessens fortskridande med avseende pà emission. Resultatet kan naturligtvis också på känt sätt skrivas ut med en skrivare 22.

Exempel 2: Immunitetsmätninq Systemet som visas i figur 2 och figur 5 för att mäta immunitets- delen av EMC innefattar i huvudsak likadana delar som systemet i figur 1 och figur 4. De gemensamma delarna i figurerna har samma hänvisningsbeteckningar. Skillnaden mellan de bàda systemen är att systemet för att mäta immunitet inte har någon spektrumanalysator 2 och att mätsonden 4 och dess i förekommande fall tillhörande förstärkare 6 är utbytt mot en gnistanordning 30 som alstrar en störsignal. Gnistanordningen 30 är ansluten till datorn 18 via ett 502 575 8 tredje styrkort 32 och anordnad pà vagnen 10 pá motsvarande sätt som mätsonden 4 i föregående exempel. Koordinatbordet 8 styrs med hjälp av datorn 18 på samma sätt som i exemplet ovan. Även i detta exempel används datorn 18 för att samla in, bearbeta och visualisera mätdata.

Nedan kommer nu förfarandet för att immunitetsdelen av provobjektets 12 EMC att beskrivas. ' Om det är den första mätningen måste precis som i det föregående exemplet systemet först konfigureras för att definiera vilken hårdvara som ingår i systemet.

Förutom konfigurationen innefattar förfarandet följande steg: 1. Start av mätprogrammet 2. Val av formuläret “Inställningar koordinatbord". I detta formulär anges t ex start- och slutkoordinater, steglängder i X- och Y-riktningarna, startriktning, hastighet, om Z-koordina- ten skall vara fast eller relativ osv för mätförfarandet. 3. Val av formuläret “Mätinställningar immunitetsmätning“. I detta formulär anges t ex om gnistanordningen 30 skall alstra en störpuls eller ett störfält och varaktigheten respektive styrkan för dessa. I 4. Start av mätningen genom val av alternativet "Mät" i menyn för immunitetsmätning. 5. Visning av mätningen genom att välja alternativet "visualisera" i menyn för immunitetsmätning. 6. Dokumentering av mätningen genom att välja alternativet "Printa" i menyn för immunitetsmätning.

Själva mätproceduren dvs steg 4 ovan kommer nu att beskrivas i detalj. Mätproceduren visas med hjälp av ett flödesschema i figur 8.

När alla inställningar för mätningen har gjorts och mätningen har aktiverats genom att välja "Mät" i menyn för immunitetsmätning så ger programmet via det första styrkortet 24 order till koordinat- 502 S75' 9 bordet 8 att förflytta gnistanordningen 30 till startkoordinaten som angavs i formuläret "Inställningar koordinatbord". När armen 14 och vagnen 10, som håller gnistanordningen 30 har nått startkoordinaten över provobjektet 12 görs all styrelektronik till koordinatbordet 8 spänningslös. Detta görs av samma skäl som i exemplet ovan, dvs för att styrelektroniken inte skall påverka mätresultatet. Därefter skickas en styrsignal via det tredje styrkortet 32 till gnistanord- ningen 30 sà att denna avger en störsignal i form av ett störfält eller en störpuls. En triggsignal inhämtas sedan från provobjektet 12 till datorn 18, varvid triggsignalen tillsammans med koordinater- na för gnistanordningens 30 position lagras i datorns 18 minne.

Triggsignalen är en signal som användaren själv väljer ut frán ett för funktionen av provobjektet l2 representativt ställe pá pro- vobjektet 12. Triggsignalen kan vara antingen analog eller binär. Är den binär fås ett positivt gensvar som talar om att provobjektet 12 motstàr den av gnistanordningen 30 alstrade störsignalen eller så fås ett negativt gensvar som innebär att provobjektet 12 inte klarar av den alstrade störsignalen. En analog triggsignal ger naturligtvis användaren besked om signalnivàn för det vid provobjektet 12 utvalda stället. När datorn 18 har inhämtat triggsignalen så spänningssätts koordinatbordets 8 styrelektronik igen. Programmet ger nu order till koordinatbordet att förflytta gnistanordningen 30 till nästa koordinat enligt förutsättningarna som angavs i formuläret "Inställ- ningar koordinatbord". Mätproceduren fortsätter sedan enligt ovan och avslutas när gnistanordningen 30 har nått sin slutkoordinat och den sista triggsignalen som gensvar på störsignalen fràn gnistanord- ningen 30 har inhämtats.

För att efter mätningen åskådliggöra provobjektets 12 immunitet väljs "visualisera" i menyn. Här visas de av datorn 18 bearbetade mätvärdena i diagramform med upp till fyra dimensioner, t ex i form av ett positions/funktíons diagram.

Med hjälp av immunitetsmätningen får konstruktören information om var någonstans pà provobjektet 12 störsignalen har orsakat funk- tionsstörning. 502 575 10 Med detta förfarande är det således lätt att tidigt i konstruktions- processen hitta störkänsliga ställen pá provobjektet 12. När de störkänsliga ställenas immunitet har förbättrats är det dessutom mycket enkelt att upprepa mätningen under samma förutsättningar som gällde för den första mätningen vilket inte har varit möjligt med hittills känd teknik.

Resultatet,lnätinställningarnacxflikoordinatbordsinställningarna för varje mätning kan lagras i datorns 18 och utgör ett utmärkt underlag för dokumentationen av konstruktionsprocessens fortskridande med avseende på immunitet. Resultatet kan naturligtvis också pá känt sätt skrivas ut med en skrivare 22.

Exempel 3: Temperaturmätninq Systemet som visas i figur 3 och figur 6 för att mäta temperatur innefattar i huvudsak likadana delar som systemet i figur 2 och figur 5. De gemensamma delarna i figurerna har samma hänvisningsbe- teckningar. Skillnaden mellan de båda systemen är att systemet för att mäta temperatur istället för en gnistanordning 30 har en mätsond 34 som beröringsfritt mäter temperatur. Det tredje styrkortet 36 i systemet för att mäta temperatur har dessutom en annorlunda uppbyggnad än det tredje styrkortet 32 i systemet för att mäta immunitet. Mätsonden 34 är ansluten till datorn 18 via det tredje styrkortet 36 och anordnad på vagnen 10 på motsvarande sätt som mätsonden 4 i det första exemplet. Koordinatbordet 8 styrs med hjälp av datorn 18 på samma sätt som i de båda exemplen ovan. Även i detta exempel används datorn 18 för att samla in, bearbeta och visualisera mätdata.

Nedan kommer nu förfarandet för mätningen av ett provobjekts 12 temperatur att beskrivas. Även i detta exempel måste systemet konfigureras vid den första mätningen för att definiera vilken hårdvara som ingår i systemet.

Förutom konfigurationen innefattar förfarandet för att mäta temperatur följande steg: 502 575 ll l. Start av mätprogrammet 2. Val av formuläret "Inställningar koordinatbord". I detta formulär anges t ex start- och slutkoordinater, steglängder i X- och Y-riktningarna, startriktning, hastighet, om Z-koordina- ten skall vara fast eller relativ osv för mätförfarandet. 3. Val av formuläret "Mätinställningar temperaturmätning". I detta formulär anges t ex provobjektets 12 ytstruktur och övre och undre temperaturgränser. 4. Start av mätningen genom val av alternativet "Mät" i menyn för temperaturmätning. 5. Visning av mätningen genom att välja alternativet "Visualisera" i menyn för temperaturmätning. 6. Dokumentering av mätningen genom att välja alternativet "Printa" i menyn för temperaturmätning.

Själva mätproceduren dvs steg 4 ovan kommer nu att beskrivas i detalj. Mätproceduren visas med hjälp av ett flödesschema i figur 9.

När alla inställningar för mätningen har gjorts och mätningen har aktiverats genom att välja "Mät" i menyn för temperaturmätning så ger programmet via det första styrkortet 24 order till koordinat- bordet 8 att förflytta mätsonden 34 till startkoordinaten som angavs i formuläret "Inställningar koordinatbord". När armen 14 och vagnen 10, som håller mätsonden 34 har nått startkoordinaten över prov- objektet 12 inhämtas via det tredje styrkortet 36 mätvärdet till datorn 18 och lagras tillsammans med mätsondens 34 position i datorns l8 minne. Programmet ger nu order till koordinatbordet 8 att förflytta mätsonden 34 till nästa koordinat enligt förutsättningarna som angavs i formuläret "Inställningar koordinatbord". Mätproceduren fortsätter sedan enligt ovan och avslutas när mätsonden 34 har nått sin slutkoordinat och datorn 18 inhämtat det sista mätvärdet.

För att efter mätningen åskådliggöra provobjektets temperaturer väljs "Visualisera" i menyn. Här visas de i datorn 18 bearbetade mätvärdena i diagramform med upp till fyra dimensioner, t ex i form ett av temperatur/positions diagram. 502 575 12 Med hjälp av temperaturmätningen får konstruktören en god bild över hur temperaturerna varierar över provobjektet 12. Med denna in- formation är det sedan lätt att optimera kylningen för provobjektet 12 och därmed öka livslängden för den produkt där provobjektet 12 ingår.

Precis som i de både föregående exemplen kan resultatet och de olika inställningarna lagras i datorns 18 minne för att vid ett senare tillfälle upprepa samma mätning. Även i detta exempel kan naturligt- vis resultat på känt sätt skrivas ut med en skrivare 22.

De tre olika utföringsexemplen av systemet och utförandet enligt den föreliggande uppfinningen som beskrivits ovan avser inte att begränsa uppfinningens omfång utan skall snarare ses som ett sätt att åskådliggöra uppfinningen.

Det är också tänkbart att systemet enligt den föreliggande upp- finningen utformas så att alla de tre mätningsförfarandena nämnda ovan utförs i huvudsak samtidigt. Detta kräver endast fackmanna- mässiga ändringar av förfarandena beskrivna ovan och beskrivs därför inte närmare.

Det är också möjligt att positioneringsanordningen 8 som håller mätorganet sveper över provobjektet 12 kontinuerligt i stället för stegvis. Detta är särskilt användbart för en grov och snabb upp- skattning av provobjektets 12 EMC.

När mätorganet sveper kontinuerligt över provobjektet 12 enligt ovan stängs inte positioneringsanordningens 8 styrelektronik av. Detta ställer naturligtvis krav på att denna styrelektronik inte stör själva mätningen. Vidare är det viktigt att mättiden för mätorganet 4, 30, 34 är så kort att inte mätorganets 4, 30, 34 förflyttning påverkar mätresultatet.

Claims (10)

502 575' 13 Patentkrav 1. System för att upprepbart medelst en positioneringsanordning (8) föra ett mätorgan (4, 30, 34) till ett flertal mätpositioner över ett provobjekt (12), exempelvis ett elektriskt eller elektro- niskt bestyckat kretskort, innefattande en styrenhet med minnesorgan (18) k ä n n e t e c k n a t av att styrenheten med minnesorganet (18) är kopplad till positioneringsanordningen (8) för att styra denna fràn en mätposition till en annan över provobjektet (12), att mätorganet (4, 30, 34) är utformat för att mäta provobjektets (12) EMC och/eller temperatur vid de nämnda mätpositionerna och att mätorganet (4, 30, 34) är kopplad till styrenheten med minnesorganet (18) för att i minnesorganet (18) lagra de från mätorganet (4, 30, 34) erhållna mätvärdena tillsammans med mätorganets koordinater vid provobjektet (8). 2. System enligt patentkrav 1, k ä n n e t e c k n a t av att styrenheten med minnesorgan är en dator (18). 3. System enligt patentkrav 2, k ä n n e t e c k n a t av att mätorganet innefattar en mätsond (4), för att mäta provobjektets (12) emission, vilken mätsond (4) i förekommande fall via en förstärkare (6) är ansluten till en spektrumanalysator (2), varvid spektrumanalysatorn (2) är ansluten till datorn (18). 4. System enligt patentkrav 2, k ä n n e t e c k n a t av att mätorganet innefattar en gnistanordning (30) för att mäta provobjek- tets (12) immunitet, vilken gnistanordning (30) är ansluten till datorn (18) samt att datorn (18) är ansluten till provobjektet (12) för att från detta erhålla mätvärden som gensvar på en från gnistanordningen (30) alstrad störsignal. 5. System enligt patentkrav 2, k ä n n e t e c k n a t av att mätorganet innefattar en mätsond (34) för att mäta provobjektets (12) temperatur, varvid mätsonden (34) är ansluten till datorn (18). 502 575 14 6. System enligt patentkrav 2 eller 3 k ä n n e t e c k n a t av att positioneringsanordningen (8) görs spänningslös innan EMC mäts med mätorganet (4, 30). 7. Förfarande för att mäta EMC och/eller temperatur vid ett provobjekt (12), exempelvis ett elektriskt eller elektroniskt bestyckat kretskort, k ä n n e t e c k n a t av att ett mätorgan (4, 30, 34) medelst en positioneringsanordning (8) förs över pro- vobjektet (12) frán en mätposition till en annan, varvid antalet mätpositioner och mätpositionernas läge ställs in på förhand och lagras i en dator (18) för en senare upprepning av mätningen och av att varje mätposition tillordnas ett mätvärde, vilket lagras i datorns (18) minne tillsammans med mätorganets (4, 30, 34) koordina- ter. 8. Förfarande enligt patentkrav 7 för att mäta emission vid provobjektet (12), k ä n n e t e c k n a t av följande steg:

1. att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order att förflytta mätsonden (4) till den pà förhand fast- ställda startpositionen

2. att positioneringsanordningens (8) styrelektronik. görs spänningslös

3. att datorn (18) ger order att utföra mätningen enligt de pà förhand fastställda förutsättningarna

4. att spektrumanalysatorn (2) inhämtar mätvärden fràn mätsonden (4) som är anordnad pà positioneringsanordningen (8) och som befinner sig ovanför provobjektet (12)

5. att mätvärdena överförs till datorn (18)

6. att mätvärdena samt mätsondens (4) koordinater lagras i datorns (18) minne

7. att positioneringsanordningens (8) styrelektronik spän- ningssätts 502 575' 15

8. att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order att förflytta mätsonden (4) till den nästa pà förhand fastställda positionen, varvid stegen 2 till 7 upprepas ända tills mätsonden (4) har nått sin på förhand fast- ställda slutposition och stegen 2 till 7 har utförts en sista gång.

9. Förfarande enligt patentkrav 7 för att mäta immunitet vid provobjektet (12), k ä n n e t e c k n a t l. av följande steg: att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order att förflytta gnistanordningen (30) till den pà förhand fastställda startpositionen att positioneringsanordningens (8) styrelektronik' görs spänningslös att datorn skickar en styrsignal till gnistanord- (18) ningen (30) så att denna alstrar en störsignal (12) att en triggsignal från provobjektet inhämtas av datorn (18) att triggsignalen samt gnistanordningens (30) koordinater lagras i datorns (18) minne att positioneringsanordningens (8) styrelektronik spän- ningssätts att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order (30) varvid stegen 2 till 6 att förflytta gnistanordningen till den nästa pà förhand fastställda positionen, upprepas ända tills gnistanordningen (30) har nått sin pà förhand fastställda slutposition och stegen 2 till 6 har utförts en sista gång.

10. Förfarande enligt patentkrav 7 för att mäta temperatur vid provobjektet (12), k ä n n e t e c k n a t l. av följande steg: att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order att förflytta mätsonden (34) till den pà förhand fast- ställda startpositionen A att datorn (18) ger order att utföra mätningen enligt de på förhand fastställda förutsättningarna 502 575 16 att mätvärdet fràn mätsonden (34) överförs till datorn (18) att mätvärdena samt mätsondens (34) koordinater lagras i datorns (18) minne att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order att förflytta mätsonden (34) till den nästa pà förhand fastställda positionen, varvid stegen 2 till 4 upprepas ända tills mätsohden (34) har nått sin pà förhand fast- ställda slutposition och stegen 2 till 4 har utförts en sista gàng.