ATE364961T1 - Verfahren zum testen einer teilnehmerleitungsschnittstelle, welche eine hybridschaltung enthält, und entsprechende vorrichtung - Google Patents

Verfahren zum testen einer teilnehmerleitungsschnittstelle, welche eine hybridschaltung enthält, und entsprechende vorrichtung

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ATE364961T1
ATE364961T1 AT05290886T AT05290886T ATE364961T1 AT E364961 T1 ATE364961 T1 AT E364961T1 AT 05290886 T AT05290886 T AT 05290886T AT 05290886 T AT05290886 T AT 05290886T AT E364961 T1 ATE364961 T1 AT E364961T1
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hybrid circuit
testing
line interface
corresponding device
interface containing
Prior art date
Application number
AT05290886T
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Eric Lantoine
Christophe Henry
Jean Paul Duval
Original Assignee
Alcatel Lucent
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    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
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    • H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
    • H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
    • H04M3/30—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2870068B1 (fr) * 2004-05-04 2006-09-08 Alcatel Sa Procede de test pour equipement de ligne muni d'un circuit hybride et equipement de ligne pour mise en oeuvre
DE102005046383B4 (de) * 2005-09-28 2007-10-25 Siemens Ag Verfahren und Einrichtung zur Überprüfung der Funktion zur Invertierung der Polarität auf einer mehrere Adern umfassenden Teilnehmeranschlussleitung
JP6352195B2 (ja) * 2015-01-14 2018-07-04 Tdk株式会社 磁気センサ

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4860332A (en) * 1988-07-19 1989-08-22 Hewlett-Packard Company Apparatus for the automatic in-circuit testing of subscriber line interface circuits and method therefor
US5881129A (en) * 1996-05-10 1999-03-09 Chen; Robert Kuo-Wei Self-monitoring line interface circuit
US6219417B1 (en) * 1997-06-06 2001-04-17 Advanced Micro Devices, Inc. Ring trip detection in a communication system
EP1107552A3 (de) * 1999-12-10 2003-07-16 Intersil Corporation Gerät und Verfahren zum Prüfen einer Teilnehmerschleifenschnittstellenschaltungen
DE10062374A1 (de) * 2000-12-14 2002-07-04 Siemens Ag Teilnehmerschaltung und Verfahren zum internen Funktionstest einer Teilnehmerschaltung
FR2870068B1 (fr) * 2004-05-04 2006-09-08 Alcatel Sa Procede de test pour equipement de ligne muni d'un circuit hybride et equipement de ligne pour mise en oeuvre

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