ATE403879T1 - Verfahren und produktpalette zum prüfen elektronischer produkte - Google Patents

Verfahren und produktpalette zum prüfen elektronischer produkte

Info

Publication number
ATE403879T1
ATE403879T1 AT00987496T AT00987496T ATE403879T1 AT E403879 T1 ATE403879 T1 AT E403879T1 AT 00987496 T AT00987496 T AT 00987496T AT 00987496 T AT00987496 T AT 00987496T AT E403879 T1 ATE403879 T1 AT E403879T1
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
product
electronic products
product range
testing electronic
palette
Prior art date
Application number
AT00987496T
Other languages
English (en)
Inventor
Jyri Tolonen
Original Assignee
Jot Automation Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jot Automation Oy filed Critical Jot Automation Oy
Application granted granted Critical
Publication of ATE403879T1 publication Critical patent/ATE403879T1/de

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mobile Radio Communication Systems (AREA)
  • Liquid Developers In Electrophotography (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Automatic Assembly (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
AT00987496T 1999-12-07 2000-12-07 Verfahren und produktpalette zum prüfen elektronischer produkte ATE403879T1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI992622A FI112546B (fi) 1999-12-07 1999-12-07 Menetelmä elektroniikkatuotteen testaamiseksi, menetelmä elektroniikkatuotteeseen toimenpiteiden kohdistamiseksi ja tuotepaletti

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ATE403879T1 true ATE403879T1 (de) 2008-08-15

Family

ID=8555708

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT00987496T ATE403879T1 (de) 1999-12-07 2000-12-07 Verfahren und produktpalette zum prüfen elektronischer produkte

Country Status (9)

Country Link
US (1) US7088998B2 (de)
EP (1) EP1257833B1 (de)
AT (1) ATE403879T1 (de)
AU (1) AU2374701A (de)
DE (1) DE60039787D1 (de)
DK (1) DK1257833T3 (de)
ES (1) ES2309009T3 (de)
FI (1) FI112546B (de)
WO (1) WO2001042800A1 (de)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1883213B1 (de) * 2006-07-24 2011-02-09 Harman Becker Automotive Systems GmbH System und Verfahren zum Kalibrieren einer Freisprechanlage
EP2385383A1 (de) * 2010-05-06 2011-11-09 Siemens Aktiengesellschaft Werkstückträger und Verfahren zum Fertigen einer elektronischen Baugruppe
CN102332237A (zh) * 2011-08-05 2012-01-25 三一重机有限公司 一种用于显示屏的检测系统
US9448279B2 (en) 2011-09-02 2016-09-20 Apple Inc. Test systems for electronic devices with wireless communications capabilities
US9518897B2 (en) 2012-05-29 2016-12-13 Avl Test Systems, Inc. Intelligent bag filling for exhaust sampling system
CN106872836A (zh) * 2015-12-11 2017-06-20 研祥智能科技股份有限公司 生产线上的分布式自动化检测系统和方法
US10188207B2 (en) 2016-03-23 2019-01-29 Communications Test Design, Inc. Apparatus and method for simultaneously testing a plurality of mobile devices
DE102019207868A1 (de) * 2019-05-29 2020-12-03 Continental Teves Ag & Co. Ohg Modul und Verfahren zur Initialisierung und Kalibrierung eines Produkts während dessen Herstellung

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3515698A1 (de) * 1985-05-02 1986-11-06 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Steuersystem fuer mobile transporteinheiten auf transportstrassen
FR2619232B1 (fr) * 1987-08-07 1994-04-29 Muller & Cie Ets M Equipement d'acquisition et de traitement de donnees pour centre de controle technique automobile
US5872458A (en) * 1996-07-08 1999-02-16 Motorola, Inc. Method for electrically contacting semiconductor devices in trays and test contactor useful therefor
US6127836A (en) * 1996-07-22 2000-10-03 Micro Instrument Company Electronic test apparatus
WO1998003879A1 (de) * 1996-07-24 1998-01-29 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum testen eines produktes und vorrichtung zum durchführen des verfahrens
DE19652035C2 (de) * 1996-12-13 1999-07-22 Rohde & Schwarz Prüfplatz und Verfahren für elektronische Baueinheiten, insbesondere Mobilfunktelefone
US5935264A (en) * 1997-06-10 1999-08-10 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for determining a set of tests for integrated circuit testing
KR100292028B1 (ko) * 1997-12-05 2001-06-01 윤종용 반도체 장비의 실시간 제어방법
US6476629B1 (en) * 2000-02-23 2002-11-05 Micron Technology, Inc. In-tray burn-in board for testing integrated circuit devices in situ on processing trays

Also Published As

Publication number Publication date
EP1257833A1 (de) 2002-11-20
EP1257833B1 (de) 2008-08-06
ES2309009T3 (es) 2008-12-16
DK1257833T3 (da) 2008-10-27
AU2374701A (en) 2001-06-18
US7088998B2 (en) 2006-08-08
FI19992622L (fi) 2001-06-08
FI112546B (fi) 2003-12-15
DE60039787D1 (de) 2008-09-18
WO2001042800A1 (en) 2001-06-14
US20030109224A1 (en) 2003-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE50105977D1 (de) Schaltungsanordnung und verfahren zum detektieren eines unerwünschten angriffs auf eine integrierte schaltung
ATE483186T1 (de) Verfahren und vorrichtung zum prüfen von halbleitern
TW200723287A (en) Testing apparatus and testing method
ATE324069T1 (de) Verdrahtungsverfahren und gerät für eine ultraschallsonde
DE60014387D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur ermittlung der härte eines produkts wie zum beispiel frucht
AU1121700A (en) Generating a nonlinear model and generating drive signals for simulation testingusing the same
WO2002049221A3 (en) Method and apparatus for a waveform quality measurement_____
ATE403879T1 (de) Verfahren und produktpalette zum prüfen elektronischer produkte
DE69923288D1 (de) Testeinrichtung zum testen eines moduls für einen zum kontaktlosen kommunizieren vorgesehenen datenträger
SE9900077D0 (sv) Verfahren und Vorrichtung zum Uberprüfen von Sensoren
WO2005124966A3 (en) Method and apparatus for detecting impedance
ATA66397A (de) Verfahren zur kontrolle von zu einem kommissionierauftrag gehörenden stückgütern und vorrichtung zur durchführung des verfahrens
DE69625197D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum nachweis und messen von zuständen,welche die farbe beeinflussen
DE59600520D1 (de) Verfahren und einrichtungen zur prüfung von sicherheitsdokumenten
ATE551883T1 (de) Elektronisches gerät und verfahren zum untersuchen einer leiterplatte
DE3884490D1 (de) Einrichtung zum abtasten, analysieren und anzeigen eines elektrischen signals.
CA2076606A1 (en) Method for detecting voice presence on a communication line
WO2001048494A3 (en) Digital signal testing
DE69009744D1 (de) Sonden, ausrüstungen und verfahren zum nachweis und zur differenzierung von mycobakterien.
DE68910406D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Verbinden/Lösen der Verbindung einer integrierten Schaltung.
WO2003087885A3 (en) Apparatus and method for true temperature estimation
DE59006468D1 (de) Vorrichtung zum Testen von elektronischen Bauelementen mit einer Ladestation, einer Teststation und einer Entladestation für die Bauelemente.
DE3877890D1 (de) Vorrichtung und verfahren zum ueberpruefen der verdrahtung der zuendungsendstufe.
ATE364961T1 (de) Verfahren zum testen einer teilnehmerleitungsschnittstelle, welche eine hybridschaltung enthält, und entsprechende vorrichtung
JPS6488223A (en) Contact load measuring apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
UEP Publication of translation of european patent specification

Ref document number: 1257833

Country of ref document: EP