BRPI0907851A2 - meio de gravação de informação e dispositivo de gravação de informação - Google Patents
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Abstract
meio de gravação de informação e dis- positivo de gravação de informação a presente invenção refere-se a um meio de armazenamento de informação que tem n camadas de armazenamento de informação (onde n é um inteiro e n .:::_ 3), nas quais dados podem ser escritos com um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras. cada uma das n ca- madas de armazenamento de informação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe de laser. quando a- quelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície do meio no qual o feixe de laser é incidente, há uma maior diferença de localização radial entre a extremidade periférica externa da zona interna das zonas de escrita de teste da iésima e da (i+1 )-ésima camadas de armazenamento de informação (onde i é um inteiro que satisfaz a 2 _:: i _:: n-1) e a extremidade periférica in- terna da outra zona de escrita de teste externa do que entre a extremidade periférica externa da zona interna das zonas de escrita de teste de j-ésima e 0+1)-ésima camadas de armazenamento de informação (onde j é um inteiro que satisfaz a 1 _:: j _:: i-1) e a extremidade periférica interna da outra zona de escrita de teste externa.
Description
Relatório Descritivo da Patente de Invenção para MEIO DE GRAVAÇÃO DE INFORMAÇÃO E DISPOSITIVO DE GRAVAÇÃO DE INFORMAÇÃO’*,
CAMPO TÉCNICO
A presente invenção refere-se a um meio de armazenamento de informação no qual uma informação ê escrita sendo irradiada cum um feixe de laser. Mais particularmente, a presente invenção refere-se a um meio de armazenamento de informação com três ou mais camadas de armazenamento de informação e urn dispositivo de escrita de informação que é compatível com um meio de armazenamento de informação corno esse.
TÉCNICA ANTECEDENTE
Vários tipos de meios de armazenamento de Informação, nos quais uma informação pode ser escrita sendo irradiada oom luz que foi modulada de modo a representer a informação a escrever (tai corno urn feixe de laser), foram desenvolvidas de forma extensiva corno um meio para o armazenamento de uma quantidade imensa de informação all contida. Os exemplos daqueles meios de armazenamento de informação incluem urn meio de armazenamento de informação de escrita única, nu qual uma Informação pc-de ser esorita apenas uma vez em cada área em particular, e um meio de arrr?azenamento de Informação regravável, no qual uma Informação pode ser reescrita um número ilimitado de vezes. Aqueles dois tipos são geralmente denominados um “disco ótico de gravação única e um “disco ótico rsgravável, respectivamente.
Para aumento da capacidade de armazenamento de um disco ótico a passos largos, ê uma medida efetiva ter múltiplas camadas de armazenamento empilhadas umas sobre as outras em um disco ótico único. Quanta aos DVDs e l3Ds, discos de camada dupla com duas camadas de armazenamento de informação já estão disponíveis.
Um disco ótica como esse tem uma z.ona de escrita de teste para a determinação de condições de escrito apropriadas para a escrita de uma informação (tal corno a potência de gravação da luz, dentre nutras coi sas), em cada uma de suas camadas de armazenamento de informação. Na escrita de uma informação sobre um disco ótico usando um drive de disco ótico, a potência de gravação é otimizada usando-se a zona de escrita de teste quando o drive estiver sendo carregado com ο disco ou irnedíatamente antes de os dados serem realmente escritos ceie. Por exemplo, o Documen5 to de Patente Nü 1 mostra um método para a determinação da potência de gravação para um disco ótico de gravação única.
LISTA DE CITAÇÃO
LUTTWIW DE PATENTE
Documento de Patente T. Publicação de Pedido de Patente
Japonesa Aberta a inspeção Pública N° 20Q2-358648,
SUMÁRIO DA INVENÇÃO
PROBLEMA TÉCNICO
O documento de Patente 1 realrnente mostra técnicas aplicáveis a um disco ótico com duas camadas de armazenamento de informação, mas 5 não mostra nada sobre a estrutura de um disca ótico com três ou mais camadas de armazenamento de informação (por exemplo, o arranje de zonas de escrita de teste e como usá-las, dentre outras coisas).
Portanto, ê um objetivo da presente invenção prover um meio de armazenamento de informação com três ou mais camadas de armazena0 mento de informação em cada uma das quais uma informação pode ser escrita sob condições apropriadas, e também prover um dispositivo de armazenamento de informação que seja compatível com um meio de armazenamento de informação cerno esse.
SOLUÇÃO PARA O PROBLEMA
Um meio de armazenamento de Informação de acordo com a presente invenção tem n camadas de armazenamento de informação (onde n é um inteiro que é igual a ou maior do que três), nas quais dados podem ser escritos com um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras. Cada uma das n camadas de armazenamento de informação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe de laser. Quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície de meie no qual o feixe de laser é incidente, há uma malar dife rença de localização radial entre a extremidade periférica externa da zona interna das zonas de escrita de teste da iésirna e da (M)-ésima camadas de armazenamento de informação (onde í è um inteiro que satisfaz a 2 < i < n-1) 5 e a extremidade periférica interna da outra zona de escrita de teste externa dc que entre a extremidade periférica externa da zona interna das zonas de escrita de teste de j-ésíma e (j+1)-ésima camadas de armazenamento de informação (onde j é um inteiro que satisfaz a 1 < j < i-t) e a extremidade periféâca interna da outra zona de escrita de teste externa..
Um outro meie de armazenamento de informação de acordo com a presente invenção tem pelo menos três camadas de armazenamento de informação. E há um espaça radial mais largo entre as respectivas zonas de escrita de teste de um par de camadas de armazenamento de informação adjacentes que estão localizadas mais próximas da superfície do meio no 15 qual um feixe de laser è incidente do que entre as respectivas zonas de escrita de teste de um outro par de camadas de armazenamento de informação adjacentes que estão localizadas mais distantes daquela superfície.
Ainda um outro meia de armazenamento de informação de acordo com a presente invenção tem n camadas de armazenamento de informant; ção (onde n é um inteiro que. è igual a ou maior do que três), nas quais dadas podem ser escritos com um feixe de laser a as quais são empilhadas umas sobre as outras. Cada uma das n camadas de armazenamento de in formação tem uma zona de escrita de teste pare a determinação da potência de gravação do fesxe de laser, Quando aquelas n camadas de armazena·· 25 mento de informação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície do meio no qual u feixe de laser é incidente, há uma maior diferença de localização radial entre a extremidade periférica interna da zona interna das zonas de escrita de teste da k-ésima e da (k*1)~ésima camadas de armazenamento de informação (onde k ê um inteiro que satis·· 30 faz a 1 < k < n-2) e a extremidade periférica externa da outra zona de escrita de teste externa do que entre a extremidade periférica interna da zona interna das zonas de escrita da teste de k-èsima e (k-r2)-éssma camadas de ar mazenamento de informação e a extremidade periférica externa da outra zona de escrita de teste externa,
Em mna modalidade preferida, π é quatro e k é um.
Ainda um outro meio de armazenamento de informação de acor5 do com a presente invenção tem n camadas de armazenamento de informação (onde π é urn inteiro que é igual a ou maior do que quatro), nas quais dados podem ser escritos cora um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras. Cada uma des n camadas de armazenamento de informação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência 10 de gravação do feixe de laser, Quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície do mero no qual o feixe de laser é incidente, há uma maior diferença de localização radiai entre a extremidade periférica interna da zona interna nas zonas de esonia de teste da k'-ésima e da (k%1)-ésima 15 camaoas de armazenamento de informação (onde kf é um inteiro que satisfaz a 1 < k’ < n-3) e a extremidade periférica externa da outra zona de escrita de teste externa do que entre a extremidade periférica interna da zona interna das zonas de escrita de teste de {k%1)-ésima e (k r3)~ésíma camadas de armazenamento de informação e a extremidade periférica externa da outra 20 zona de escrita de teste externa.
Ainda um outro meio der armazenamento de Informação de acorda com a presente invenção tem n camadas de armazenamento de informação (onde n é um inteiro que é igual a ou maior do que três), nas quais da£ dos podem ser escritos com um feixe de laser e as quais são empilhadas 25 umas sobre as outras. Cada uma das n camadas de armazenamento de informação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe Ce laser. Quando aquelas o camadas de armazenamento de infor mação são cantadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície do meio no qual o feixe de laser é incidente, a zona de 30 escrita de teste da terceira camada de armazenamento de informação mais distante está localizada mais próxima da borda externa do meia do que aquela da camada de armazenamento de informação mais distante, a qual está localizada mais próxima daquela borde externa de que a zuna de escrita de teste da segunda camada de armazenamento de informação mais distante está.
, Em uma modalidade preferida, π é quatro.
Ainda um outro meio de armazenamento de informação de acordo com a presente invenção tem n camadas de armazenamento de informação (onde n é urn inteiro que é igual a ou maior do que quatro), nas quais dados podem ser escritos com um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras. Cada uma das n camadas de armazenamento de in10 formação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe de laser. Quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que está iocolizada mais distante da superfície do meio no qual o feixe de laser é incidente, a zona de escrita de teste da terceira camada de armazenamento de informação mais 15 distante este focalizada mais próxima da borda externa do meio do que aquela da segunda camada de armazenamento de informação mais distante, a qual está localizada mais próxima daquela borda externa do que a zona de escrita de teste da quarta camada de armazenamento de informação mais distante este.
2.0 Ainda um outro meio de armazenamento de informação de acordo com a presente invenção tem n camadas de armazenamento de informação (onde π é um inteiro que é igual a ou maior do que quatro), nas quais * dados podem ser escritos com um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras. Cada uma das n camadas de armazenamento de in25 formação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe de laser. Quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da soperflae do meio no qual o feixe de laser é incidente, a zona de escrita de teste da terceira camada de armazenamento de informação mais 30 distante este localizada mais próxima da borda externa do melo do que aquela da camada de armazenamento de informação mais distante, a qual está localizada mais próxima daquela borda externa do que a zuna de escri ta de teste da quarta camada de armazenamento de informação mais distante está.
Ainda um outro meio de armazenamento de informação de acordo com a presente invenção tern n camadas de armazenamento de informa 5 ção (onde n é um inteiro que ê igual a ou maior do que três), nas quais da £ ....
dos podem ser escritos com um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras. Cada uma das n camadas de armazenamento de informação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe de laser. As zonas de escrita de teste são dispostas 10 em localizações radiais muluarnente diferentes, e cada zona de escrita de teste tem uma pluralidade de subáreas. Quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície do meio no qual o feixe de laser é incidente, uma íèsima camada de armazenamento de mformação (onde i é um número 15 par que satisfaz, a 2 < í < n) é varrida num o feixe de laser em direção à borda interna do meio, mas as subáreas de sua zona de escrita de teste são usadas em direção à borda externa do meio. Por outro lado, uma (i-1 pèsima camada de armazenamento de informação é varrida com o feixe de laser em direção à borda externa do meio, mas as subáreas de sua zona de escrita 20 de teste são usadas em direção à borda interna do meio.
Um dispositivo de leitura de informação de acordo com a presente invenção realiza urros operação de leitura ern um meio de armazenamento de informação de acordo cem qualquer uma das modalidades ureforidas da í „ presente invenção deserdas acima. O meio de armazenamento de informa25 ção tem uma área de controle ern pelo menos uma das n camadas de armazenamento de informação do mesmo. O dispositivo realiza pelo menos uma das etapas de: recuperação de uma informação sobra o meio de armazenamento de informação a partir da área de controle: e leitura de dadas que foram escritos em qualquer uma das n camadas de armazenamento de infor30 maçao com a potência de gravação que foi regulada com a zona de escrita de teste daquela camada.
Um dispositivo de escrito de informação de acordo oom a presente invenção realiza urna operação de escrita em urn meio de armazenamento de informação de acordo com qualquer uma das modalidades preferidas da presente invenção descritas acima. O dispositivo determina a potência de gravação do feixe de laser usando a zuna de escrita de teste de uma 5 das n camadas de armazenamento de informação, e escreve dados naquela camada pala irradiação do meio com o feixe de laser que teve sua potência de gravação determinada.
Um método de leitura de acordo com a presente invenção é projetado para a realização de uma operação de leitura em um meio de arma0 zenamento de informação de acordo com qualquer uma das modalidades preferidas da presente invenção descritas acima. O meio da armazenamento de informação tem uma área de controle em pelo menos uma das n camadas de armazenamento de informação do mesmo. O método inclui pelo menos uma das etapas de; recuperação de uma informação sobre o meio de 5 armazenamento de informação a partir da área de controle; e leitura de dados que foram escritos em qualquer uma das n camadas de armazenamento de informação com uma potência de gravação que foi regulada com a zona de escrita de teste daquela camada.
Um método de escrita de acordo com a presente invenção é pro0 jefado para a escrita de dados em um meio de armazenamento de informação de acordo com qualquer uma das modalidades preferidas da presente invenção descritas acima, O método compreende as etapas de: determinação da potência de gravação do faixe de laser usando a zona de escrita de teste de uma das n camadas de armazenamento de Informação: e escrita de 5 dados naquela camada peta irradiação do meio com n feixe de laser que teve sua potência de gravação determinada
EFEITOS VANTAJOSOS PA INVENÇÃO
Um disco ótico de acordo com a presente invenção tem três ou mais camadas de armazenamento de informação, cada uma das quais tendo 0 urna zona de escrita de teste. F pOr isto que, mesmo se aquelas camadas de armazenamento de informação forem irradiadas corn um feixe de laser em intensídades mutuamente diferentes ou em ambientes térmicos respectiva mente diferentes, uma operação de escrita de teste ainda pode) ser realizada na camada de armazenamento de informação-alvo, na qual uma operação de escrita está para ser realizada, usando-se sua zona de escrita de testa sob o ambiente de operação daquela camada. Consequentemente, a melhor potência de gravação pode ser determinada para cada uma daquelas camadas de armazenamento de informação.
BREVE DFÍSÇRIÇÂO PQS DESENHOS
A figura 1 è uma vista em perspectiva explodida esquemática que ilustra a constituição de um meio de armazenamento de informação como uma primeira modalidade preferida especifica da presente invenção,
A figura 2 è uma representação esquemática que ilustra um arranja de zonas de escrita de leste para o meio de armazenamento de informação mostrado na figura 1,
A figura 3 é uma representação esquemàiica que ilustra o arranjo de zonas de escrita de teste em um meio de armazenamento de informação como um exemplo comparativo.
A fígura 4(a) ilustfa esquematicamente a estrutura de cada uma das camadas de armazenamento de informação do meio de armazenamento de informação mostrado na figura 1, e as figura 4(b) e 4(c) são representação osquemática, cada uma ilustrando uma direção na qual a zona de escrita do testa pode ser usada em cada uma das camadas de armazenamento da informação do meio de armazenamento de informação mostrado na figura 1,
As figuras 5(a) e 5(b) são representações esquemátícas, cada uma ilustrando um arranjo alternativa de zonas de escrita de teste para o meio de armazenamento de informação da primeira modalidade preferida.
A figura 6 é uma representação esquemática que ilustra um outro arranjo alternativo de zunas de escrita de teste para o meio de armazenamento de informação da primeira modalidade preferida.
A figura 7 é uma representação esquemáiica que ilustra como uma área deteriorada em uma camada de amiaz.enamento da informação 1..2. afetará as nutras camadas de armazenamento de informação LG e L1.
A figura 8 ê uma representação esquemática que ilustra um nutro arranjo alternativo de zorras de escrita de teste para o meto de armazenamento de informação da primeira modalidade preferida,
A figura 9 ê uma representação esquemática que ilustra um ar5 ranja de zonas de escrita de teste para um meio de armazenamento de informação como uma segunda modalidade preferida da presente invenção.
A figura 10 é uma representação esquemática que ilustra um arranjo alternativo de zunas de escrita de teste para o meio de armazenamento de informação da segunda modahde.de preferida.
A figura 11 é uma representação esquemática que ilustra um outro arranjo alternativo de zonas de escrita de teste para o meio de armazenamento de informação da segunda modalidade pretenda.
A figura 12 é uma representação esquemática que ilustra um outra arranjo alternativo de zonas de escrita ria teste para o meio de armaz.e15 namento de informação da segunda modalidade preferida,
A figura 13 é um diagrama de blocos de uma modalidade preferida de um dispositivo de escrita de informação de acordo com a presente invenção
A figura 14 é uma representação esquemática que ilustra a es20 trutura de um meio de armazenamento de informação corno uma quarta modalidade preferida da presente invenção,
A figura 15 é uma representação esquemática que ilustra a estrutura de um meio de armazenamento de informação de camada única.
A figura 16 é uma representação esquemática que ilustra a es25 trutura de um meio de armazenamento de informação de camada dupla.
A figura 17 é uma representação esquemática que ilustra a estrutura de um meia de armazenamento de informação de três camadas.
A figura 18 é uma representação esquenrátkra que ilustra a estrutura de um meio de armazenamento de informação de quatro camadas, 30 A figura 19 é uma representação esquemática que ilustra a estrutura física de um meio de armazenamento de irrtormação como uma quarta modalidade preferida da presente invenção.
ία
As figuras 20(a) e 20(b) são representações esquemàtícas, cada uma ilustrando um ponto de feixe de laser e marees de gravação em uma trilha.
A figura 21 é uma representação esquemática que ilustra corno 5 uma série de marcas da gravação em uma trilha é irradiada com um feixe de laser,
A figura 22 é um gráfica que mostra como a OTF rnuda com a marca de gravação mais curta,
A figura 23 ê urn outro gráfica que mostra como a OTF muda 10 com a marca de gravação mais curta.
OESCRISÃO DE MODAUDADES MOPAUPADE 1
A parts deste ponto, uma primeira modalidade preferida de um meio de armazenamento de informação de acordo com a presente invenção 15 será descrita cum referência aos desenhos associados. Um meio de armazenamento de informação de acorda cam s presente invenção pode ser um de gravação único uu um regravável.
A figura 1 é uma vista em perspectiva explodida esquemátíca que ilustra a constituição de um meio de armazenamento de informação co20 mo urna prinreira modalidade preferida especifica da presente invenção
Conforme mencionado acima, um meio de armazenamento de informação a partir de / no qual uma informação poda ser lida e/ou escrita de forma crhca é geralmenfe denominado um “disco ético. Assim, o meio de armazenamento de informação da presente invenção também será referido como um “disco 25 ótico*. Conforme usado aqui, “informação” se refere a uma informação de caractere. uma informação de áudio, uma informação de imagem ou de video, programas e várias outros tipos de informação que podem ser armazenados em um meio de armazenamento de informação. Qualquer um destes pedaços de informação é digitalizado e então escrito em um meio de arma30 zenamento de informação au processado por qualquer um de várias tipos de processadores de informação. Em geral, esse tipo de “informação” a ser processado por um computador è denominado “dado”. É por isso que rinfor♦ maçãn” é sinônimo aqui rio dados”. Nesta descrição, um destes termos, ’’informação” e “dados será seletivamente usado de acordo com o uso gerai ou convencional. Por exemplo, um disco ótico será referido aqui corno um meio da armazenamento de informação, mas a área para armazenamento de informação é uma área de dados, de acordo com o uso geral
Conforme mostrado na figura 1, o disco ótico 101 inclui um substrato 110, as camadas de armazenamento de informação L0, 1.1 e t.2. as camadas espaçadoras 111 e 112, e uma camada de cobertura 113. As camadas de armazenamento de informação L.0, Li e L2 são dispostas entre o 10 substrato 110 de modo que a camada de armazenamento de informação 10 esteja focalizada mais próxima do substrato 110 e a camada de armazenamento de informação 12 esteja localizada mais próxima da camada de cobertura 113. Conforme o feixe de laser 200 que foi modulado de modo a representar a informação para escrita In adia o disco através da camada de 15 cobertura 113, as camadas de armazenamento de informação L0, 11 e 12 são empilhadas nesta ordem, de modo que a camada de armazenamento de informação 1.0 esteja localizada mais distante da superfície da camada de cobertura 113 na qual o feixe de laser 200 ê incidente. As camadas espaçadoras 111 e 112 são dispostas entre as camadas de armazenamento de ín20 formação L0 e LI e entre as camadas de armazenamento de informação LI e L2, respectivamente.
O substrato 110, as camadas de armazenamento de informação L0. L1 e L2, as camadas espaçadoras 111 e 112 e a camada de cobertura 113 são empilhados uns sobre os outros na ordem descrita acima e ligados
2.5 em conjunto, (Ξ um oriflcie de grampo 114 foi cortado através do centro do disco ético 101 com uma estrutura de camada múltipla como essa. O substrato 110, as camadas espaçadoras 111 e 112 a a camada de cobertura 113 pedem ser feitos de uma resina de policarbonato, por exemplo.
Em cada uma das camadas de armazenamento de informação 30 L0. LI e L2 são dispostas trilhas concêntricas ou em espiral nas quais dados são escritos. Também, cada uma destas camadas de armazenamento de informação I..0, L1 e I..2 tem uma área de dados DO, D1 ou D2 e uma área de entrada RO, RI ou R2, a qual é disposta mais próxima da borda interna do disco do que a área de dados DO, D1 ou D2 está.
As áreas DO, Dl e 02 sâo áreas nas quais dados de usuário serão escritos. Se o disco ótico 101 for um disco de gravação única, a informação poderá ser escrita apenas uma vez em cada porção das áreas DO, Dl e D2 e nunca poderá ser reescrita. Se o disco ético 101 for um regravávei, contudo, a informação que foi escrita uma vez na área de dados Q0, 01 cu Dz poderá ser reescrita com qualquer outro pedaço de informação após isso
Cada uma das áreas de entrada R0, R1 e R2 tern pelo menos uma área de contraia apenas de leitura (a qual também é denominada uma area de PIC (dadas de informação e de controle permanentes) e uma zona de escrita de teste (a qual também é denominada uma área de OPC (controle de potência ótima) na qual uma Informação pode ser escrita.
A zona de escrita de teste é usada para a regulagam da potência de gravação do feixe de laser na escuta de uma informação sobra a área de dados. Especrficamente, a zona de escnta de teste é irradiado com um feixe de laser, o qual foi medulado de modo a representer uma informação predeterminada, enquanto se varia sua potência de gravação, desse modo se fazendo marcas de gravação nesta área. Após isse, aquelas marcas de gravação deixadas são irradiadas com um feixe de laser para a leitura da informação ali armazenada e a qualidade da informação iida é classificada, desse modo se determinando a melhor potência de gravação.
A zona de escrita de teste da área de entrada R0 é usada para a regulagem da potência de gravação do feixe de laser para escrita de uma informação na área da dados DQ da mesma camada de armazenamento de informação L0.. Da mesma forma, as zonas de escrita de teste das áreas de entrada R1 e R2 são usadas para a regulagem da potência da gravação do feixe de laser para escrita de informação nas áreas de dados D1 e D2, respectiva mente.
Na área de controle, são armazenadas uma informação de disco e uma informação sobre vários parâmetros de gravação, tal como a potência do feixe de laser irradiando pare escrita de dados de usuário como recomendado polo fabricante do meio de armazenamento (disco ótico). Os melhores parâmetros de gravação para escrita de informação nas camadas de armazenamento de informação LO. LI e L2 mudam de uma camada para a 5 outra. Nesta modalidade preferida, a área de controle de cada uma das àreas de entrada RO, R1 e R2 é suposta corno armazenando não apenas uma informação sobre os parâmetros de gravação para escrita de informação na área de dados de sua própria camada de armazenamento de informação, mas também uma informação sobre os parâmetros de gravação para escrita 10 de informação nas outras camadas de armazenamento de informação. Especifícamente, na área de controle da área de entrada RO, é armazenada uma informação sobre os parâmetros de gravação para escrita de informação nas áreas L)0; D1 e D2 de todas as três camadas de armazenamento de informação 1.0. LI e L2. Da mesma forma, a área de ccotrcle de cada uma 15 das outras áreas de entrada RI e R2 também armazena uma informação sobre os parâmetros de gravação para escrita de informação nas áreas DO, Dl e D2 de todas as três camadas de armazenamento da informação LO, LI e L2.
Assim, uma informação sobre os parâmetros de gravação para 20 todas as três camadas de armazenamento de informação pode ser obtida a partir da área de controle de qualquer uma das três camadas de armazenamento de informação, É per isso que, se comparado com uma situação em que a área de controle de cada camada de armazenamento de informação armazena apenas uma informação sobre os parâmetros de gravação para 25 aquela camada de armazenamento de informação, os dados de usuário podem começar a ser escritos em um tempo mais curto. Também, mesmo se uma camada de armazenamento de informação diferente do alvo tiver começado a ser varrida por erro devido a uma perturbação, por exemplo, uma informação sobre os parâmetros de gravação para a camada de armazena30 mento de informação alva também pode ser obtida pela varredura da área de controle daquela camada de armazenamento de informação errada.
Os parâmetros de gravação nem sempre têm que ser arrnaze·· nados na área de controle conforme descrito acima Altematívamenfe, a área de contrate de cada camada de armazenamento de informação pode armazenar uma informação sobre os parâmetros de gravação para a realização da operação de escrita na área de dados daquela camada. Nesse caso,, a quantidade de informação de parâmetro de gravação a ser armazenada em cada área de controle pode ser reduzida e, portanto, o tamanho da área de contrate também pode ser reduzido. Como resultado, mesmo se houver um número aumentado de camadas de armazenamento de informação e se as zonas da escrita de teste daquelas camadas de armazenamento estiverem dispostas em localizações radiais mutuamente diferentes, conforme serã descrito mais tarde, as áreas de controle ainda serão asseguradas mais facilmente.;
Também, se α disca ótico 101 for de um tipo de gravação única, a área de controle de apenas uma das múltiplas camadas de armazenamento da informação do mesma podará armazenar uma informação sobre os parâmetros de gravação para escrita de informação na área de dados de cada outra camada de armazenamento de informação incluída naquele disco ótico 101. Nesse casa, a área de controle que armazena a informação de parâmetro de gravação sobre todas as camadas da armazenamento de informação pode ser disposta sobre a camada de armazenamento de informação que estiver localizada mais distante da superfície da luz incidente.
Se o disco ótico 101 for um disco de gravação única, uma informação sobre os parâmetros de gravação para escrita de informação nas áreas DO, Dl e D2 das camadas de armazenamento de informação 1.,0, L1 e L2 poderá ser armazenada apenas na área de controle da área de entrada R0 na camada de armazenamento de informação L0. por exemplo.
Mais ainda, nesse caso, a profundidade (ou a espessura) da camada de armazenamento de informação L0, conforme medido a partir da superfície da camada de cobertura 113 na qual o feixe de laser 200 é incidente (isto é, a superfice do disco 101) pode estar de acordo com a profunateada da única camada de armazenamento de informação de um disco ótico de camada única, conforme medido a partir da superfície de disco. Então, o drive de disco ótico para a realização da operação de leitura / escrita nm urn disco ótico com uma única carnada de armazenamento de informação também pode obter a informação de díseu de qualquer uma das camadas de armazenamento de Informação LO, 11 e L2 do disco ótico 101. Quer dizer..
urn drive de disco ótico com uma configuração mais simples pode ser usado nesse caso.
Falando geralmente, quanto mais distante da superfície de disco ótico uma camada de armazenamento de Informação estiver. mais significativamente o sinal lido a partir daquela camada se deteriorará devido a uma 10 inclinação, É por Isso que se um dado disco ótico tiver múltiplas camadas de armazenamento de informação, a profundidade de uma daquelas camadas de armazenamento de informação (isto é, a camada de referência) que estiver focalizada no nível mais profundo a partir da superfície (isto é, mais próximo do substrato) de preferência è aproximadamente igual àquela da ca15 mada de armazenamento de informação única de um disca ótico de camada única. Nesse caso, se a área de cada uma das outras camadas de armazenamento de informação correspondendo á área de informação de disco daquela camada de armazenamento de informação mais próxima do substrato tiver a mesma estrutura de sulco que a área de dados, então, a traasmil.ân20 cia do feixe de laser para aquela camada de armazenamento de informação mais próxima do substrato poderá ser a mesma em qualquer lugar no disco, independentemente da localização radial.. Assim, o drive de disco ótico pode ter sua configuração simplificada, a outras camadas podem ser feitas facilmente, porque não há necessidade de provisão de qualquer meio de detec 25 ção especial para a recuperação da informação de disco a partir de uma carnada de armazenamento de informação que esteja mais próxima do substrato.
A. figura 2 é uma vista em seção transversal esquemática do disco ótico 101 e ilustra o arranjo de zonas de escrita de teste nas áreas de 3ó entrada RO, R1 a R2. Na figura 2, e cm outras desenhos similares, as camadas espaçadoras 111 e 112 não são mostradas. O feixe de laser 200 é su posto como vindo a partir da estrutura mostrada na figura 2, e a borda exte.r na do disco este locairzada no lado direito conforme indicado pela seta mostrada na figura 2.
Conforme mostrado na figura 2: as zonas de escrita de teste TO, TI e T2 estão localizadas nas áreas de entrada RO, R1 e R2 das camadas 5 de armazenamento de informação LO, Lie 12, respectivamente, Estes zonas de escrite da teste TO, T1 e T2 são dispostas em localizações radiais mutuamente diferentes, de modo a nâo se sobreporem a cada outra da forma alguma na direção na qual estas camadas de armazenamento de Informação LO, L1 e L2 são empilhadas umas sobre as outras gsto é. conforme 10 visto na direção na qual o feixe de laser 200 vem).
Mais especifica mente, no disco ótico 101, a extremidade periférica interna TOa da zona de escrita de teste TO da segunda camada de armazenamento de informação mais interna LO está localizada mais próxima da borda externa do disco do que a extremidade periférica interna T1b dst 15 zona de escrita de teste TI da camada de armazenamento de informação mats interna LI. um espaço (ou intervalo) é deixado entre elas, de modo que as zonas de escrita de teste não se sobreponham umas às outras. Este espaço tem uma distância que é definida pela diferença entre as respectivas localizações radieis da extremidade periférica inferna TOa e a da extremida20 de periférica interna T1b. Da mesma forma, a extremidade periférica interna
T2a da zona de escrita de teste T2 da camada de armazenamento de informação mais externa L2 está localizada mais próxima da bordes externa do disco do que a extremidade periférica interna TOb da zona de escrita de teste T0 da segunda camada de armazenamento de informação mais interna 25 LO, e um espaço que é definido pela diferença entre as respectivas localizações radiais da extremidade periférica interna T2a e a extremidade periférica interna TOb é deixado entre elas.
Se as três camadas de armazenamento de informação LÔ, L1 e 1.2 ferem contadas a partir de uma que esteja focalizada mais distante da 30 superfície na qual o feixe de laser 200 è incidente, a zuna de escr ite de teste T2 da terceira camada da armazenamento de informação mais distante I..2 estará localizada mais próxima da borda externa do disco do que a zona de escrita de teste TO da camada de armazenamento de informação mais distante LO está. E a zona de escrita de teste TO da camada de armazenamento de informação 10 esta localizada mais próxima daquela borda externa do que a zona da escrita de teste T1 da segumia camada de armazenamento 5 de informação mais distante 11 está.
Em seguida, será descrito que efeito será obtido por um arranjo somo esse das zonas de escrita de teste TO, TI e T2. Suponha que as zonas de escrita de teste TO, T1 e T2 sejam dispostas na mesma localização radial conforme mostrado na figura 3 nas camadas de armazenamento de 10 informação LO, L1 e 12 diferentemente desta modalidade preferida. Quer dizer, suponha que as. localizações radiais das respectivas extremidades periféricas internas TOa, T1a, T2a das zonas de escrita de teste TO, T1 e T2 estão de acordo com cada outra, como o fazem aquelas de suas extremidades periféricas externas TOb, Ttb, T2b e, portento, as zunas de escrita de 15 teste TO, T1 e T2 se sobrepõem inteiramsnte a cada outra. Nesse caso, se a zona de escrita de teste T1 da camada de armazenamento de informação LI fosse destruída, então, a transmiiâncía do feixe de laser através da zona de escrita de teste T1 diminuiría tão signíflcatívamente que o feixe de laser não podería atingir a zona de escrita de teste TO da camada de armazenamento 25 de informação LO, a qual está localizada mais distante do feixe de laser do que a camada de armazenamento de informação LI. Como resultado, o drive de disco ótico não podería acessar a zona de escrita de teste TO da camada de armazenamento de informação LO enquanto tentasse realizar uma operação de escrita nela.
Também, mesmo se a zona de escrita de teste TI da camada de armazenamento de informação 1.1 não estivesse destruída, mas tivesse sua transmitãnda variada significativamente como resultado de uma operação de escrita de teste que foi realizada com urna potência de irradiação demasiada sobra a zona de escrita de teste T1 na camada de armazenamento de informação 11, então, a intensidade do feixe da laser atingindo a camada de armazenamento de informação LO mudaria, dependendo de se uma operação de escrita é realizada na zona de escrita de teste T1 ou não..
1β
Oa mesma forma, se a zona de escrita de teste T2 estivesse destruída ou se a transmitância da feixe de laser através da zona de escrita de teste T2 tivesse mudado significativamente. então, as outras zonas de escrita de teste TO e T1 poderiam ser afetadas. Por essa razão, de acordo 5 com o arranjo das zanas de escrita de teste mostrada na figura 3, a operação de escrita de teste não podería ser realizada apropriadamente nas zonas de escrita de teste TO e T1 das camadas de armazenamento de informação LO e LI, e a potência de gravação não podería ser determinada apropriadamente para as camadas de armazenamento de informação LO e L1 10 tampouco.
Por outro lado, de acordo com u arranjo das zonas de escrita de teste desta modalidade preferida mostrado na figura 2, as zonas de escrita da teste TO, T1 e T2 são dispostas em localizações radiais mutuamente diferentes. e não se sobrepõem a nada outra de forma alguma na direção na 15 qual as camadas de armazenamento de informação são empilhadas umas sobre as outras, É por isso que, mesma se a zona da escrita de teste T1 da camada de armazenamento de informação 1.1 fosse destruída, o feixe de laser ainda puderia atingir a zona de escrita de teste TG da camada de armazenamento de informação 10 sem (ou pelo menus quase sem) ser afeta20 do pela zona de escrita de teste T1 destruída. Consequentemente, a operação de escrita de teste podería ser realizada exatamente conforme pretendido na zuna de escrita de teste TO da camada de armazenamento de informação LO, e a potência de gravação ainda podería ser determinada apropriadamente para a camada de armazenamento de informação LO. Da mesrna .25 forma, mesmo se a zuna de escrita de teste T2 da camada de armazenamento de informação 12 fosse destruída, as potências de gravação ainda poderíam ser determinadas apropriadamente para as camadas de armazenamento de informação LO e L1.
Também, pela mesma razão, mesma se a transmitância do feixe 30 de Laser passando através de qualquer uma das zunas de escrita de teste Í0, 11 e Ϊ 2 vacasse, o fesxa de laser ainda podería atingir a zona de escrita de teste ΤΟ, ΤΙ. T2 da cada camada de armazenamento de Informação LO,
LI, L2, Consccuentemente. a operação de escnfa de teste podería ser realizada conforme pretendido na zona de escrita da teste ΤΟ, ΤΙ, T2 de cada mimada de armazenamento de informação LO, L1, L2, e a potência de gravação ainda podería ser determinada apropriadamente para toda camada de 5 armazenamento de informação LO, LI, L2.
Em um disco ótico regravável que utiliza uma mudança de fase de uma camada de armazenamento de informação, mesmo se marcas de gravação amorfas e cristalinas tivessem transmitànoias mutuamente diferentes, a transmtfância da camada de armazenamento de informação ainda po10 deria ser mantida não modificada pelo apagamento das marca de gravação após a potência de gravação ter sido determinada. Em um disco ótico de gravação única, no qual uma operação de escrita pode ser realizada apenas uma vez, o filme de gravação de sua camada de armazenamento de informação tem propriedades irreversíveis. È por isso que o arranjo de zonas de 15 escrita de teste de acordo com esta modalidade preferida poda ser usado de forma particuíarmente efetiva em um disco ótico de gravação única, dentre outras coisas
Em seguida, será descrito em quais direções as zonas de escuta de teste TO. T1 e T2 são usadas. Conforma indicado pelas setas na figura 2. 20 as trilhas são dispostas sobre as camadas de armazenamento de informação L.O e 12 para fora (isto ê, a partir de alguma localização radial interna no disco em direção à borda externa do mesmo). Na camada de armazenamento de informação L1, por outra lado, as trilhas são dispostas de modo que o feixe de laser varra a camada de armazenamento de infcrmação LI para 25 dentro (isto é, a partir da alguma localização radial externa no disca em direção à barda interna do mesmo). Por exemplo, se as trilhas forem dispostas em forma de espiral, a direção na qual essas trilhas são dispostas em forma de espiral sobre as camadas de armazenamento de informação LO e L2 será oposta àquela na qual as trilhas são dispostas em espiral sobre a camada de 30 armazenamento de informação L1. È por isto que na leitura ou na escrita de uma informação a partir de / sobre as camadas de armazenamento de informação LO e L1 continuamente, tão logo a última sessão de uma operação de? leitura / escrita sabre a camada de armazenamento de informação LO seja feita na porção mais externa da área de dados DO, a primeira sessão de urna operação de leitura / escrita na camada, de armazenamento de informa ção 11 pode ser começada a partir da porção mais externa da área de dados 5 Dl com o ponto de feixe de laser fixado na mesma localização radial. Da mesma forma, tão logo a última sessão de uma operação de leitura / escrita na camada de armazenamento de informação 11 seja feita na porção mais interna da àrea de dados D1, a primeira sessão de uma operação de leitura / escrita na camada de armazenamento de informação L2 pode ser começada 10 a partir da porção mais interna da àrea de dados D.2 cam o ponto de feixe de laser fixada na mesma localização radial. Assim, uma informação pode ser lida ou escrita sem se fazer o ponta de feixe de laser saltar todo o caminho em direção à localização mais interna ou mais externa no disco ótico 101 toda vez em que as camadas-alvo precisarem scr mudadas para a próxima 15 camada de armazenamento ds informação. Não obstante, se as exigências a serem descritas mais tarde forem satisfeitas, o ponto de feixe de laser nem sempre terá que ir nessas direções nas respectivas camadas.
A propósito, as zonas de escrita de teste T0< TI e T2 sàa preferencialmente usadas em direções opostas àquelas nas quais o ponto de fei20 xe de laser vai sobre as respectivas camadas de armazenamento de informação. A partir deste ponto, será descrsto exatamente em quais direções as zonas da escrita de teste sâo usadas.
Conforme descrito acima., a zuna de escrita de teste disposta em cada uma destas camadas de armazenamento de informação ê provida para 25 a determinação da potência de irradiação de um feixe de laser para escrita de dados na área de dados daquela camada pela realização der uma opera ção de escrita de teste naquela àrea. Por exemplo, dadas de teste podem ser' escritos na zona de escrita de teste um número de vezes com a potência de irradiação aumentada em 1 mW a cada vez, e, então, as dados de teste 30 escritos podem ser lidos para a determinação de qual pctêncra de irradiação deve ser adotada para a obtenção dos melhores índices de sina) de leitura, tal como taxa de erro e instabilidade.
Na escrita da dados de teste, a potência de irradiação pude ser regulada, por uma referência à àrea de controle, próxima de urna potência de irradiação recomendada que é armazenada na área de controle. Contudo, se a potência de irradiação real tusso ligeiramente diferente da regula5 gem de potência devido a uma variação na sensibilidade do dado disco ótico ao feixe de laser ou no desempenho do cabeçote ótico de um drive de disco ótico que realiza a operação de escrita no disco ótico, então, um desvio esperado como esse podería ser levado em consideração.. Por exemplo, os dados de teste podem ser escritos com a potência de irradiação variada em 10 um incrementa de 5% em uma faixa de potência que cubra * 20% em torno da potência recomendada.
Também, ao invés de adotar a potência de irradiação que otimize us indices de sinal de leitura, um valor de referência pode ser regulada cam respeito à taxa de erro ou â instabilidade, e a potência de gravação pa15 ra escrita de dados de usuária pode ser definida como sendo um vaiar de potência que está localizado aproximadamente no centra de urna faixa de potência de irradiação que é igual a ou menor do que o valor de referência. Nesse caso, mesmo se a potência de irradiação real se desviasse significaiivamente da regulagam de potência devido a uma variação na temperatura 20 da fonte de luz que emite o feixe de laser quando dados de usuário estivessem sendo escritos, os dados de usuário ainda podariam ser escritos com quahdade, desde que a potência de irradiação caísse em uma faixa na qual a vanaçãa fosse igual a ou menor da que um valor de referência. Mais ainda, mesmo se o disco ótico estivasse um pouco empenado, os dados de usuário 25 ainda podariam ser escritos de forma acurada, desde que a potência de irradiação caísse em uma faixa na qual a variação na potência de gravação fosse igual a ou menor do que um valor de referência,
Não obstante, de acordo com uma técnica como essa para a determinação da potência de gravação, a potência de irradiação deve ser van30 ada significativamente na zona de escnfa de teste. È por isso que a zona de escrita de teste na qual dados podem ser escritos com alta potência possivelmente podería se deteriorar.
Em um disco ótico regravável, uma operação de escrita de teste pode ser realizada na mesma área um número de vezes, a menos que a zona de escrita de teste se deteriore como resultado da operação de escrita de teste. E por isto que nâo há necessidade de Impor qualquer restrição 5 quanto a como usar a zona de escrita de teste. Quanto ao disco ótico de gravação única no qual dados podem ser escritos apenas urrei vez. contudo, as zonas de escrita de teste não gravadas do mesmo de preferência são usadas sequencialmente a partir de qualquer extremidade, ao invés de aleatoriamente. porque os dados de teste precisam ser escritos com a potência 1 ü de irradiação variada quando a potência de gravação dever ser determinada conforme descrito acima. Também, mesmo em um disco ótico regravável. se o desempenho de escrita variasse conforme a operação de escrita fosse repetidamente aii realizada um número crescente de vezes, as zonas de escrita de teste do mesmo também seriam preferenciaimente usadas de forma 15 sequencial a partir de qualquer extremidade, exatamente como um disco ótico de gravação única.
A figura 4(a) ilustra uma camada arbitrária Ln (onde n è 0. 1 ou
2) das camadas de armazenamento de informação LO, L1 e 12 do disco ótico 101. Conforme descrito acima, a camada de armazenamento de informa 20 ção Ln tem uma area de entrada Rn, na qual há urna zona de escrita de teste Τη. A cada urna das zonas de escrita de teste TO, TI e T2 são dados en dereços e cada uma é constituída por subáreas denominadas agrupamentos·; os quais tem um número predeterminado de endereças consecutivos. As figura 4(b) e 4(c) ilustram esquematicamente as subáreas 11, í2; 13, i4. tb 25 e assim por diante da zona de escrita de teste In. Por exemplo, uma destas subáreas pode ser usada toda vez em que uma operação de escrita de teste for feita, conforme descrito acima. A zona de escrita de teste TO, TI. T2 de cada uma das três camadas de armazenamento de informação LO, LI e L2 consiste no mesmo número de subáreas (ou agrupamentos) que a zona de 30 escrita de teste ΤΟ, ΤΙ, T2 de qualquer outra camada de armazenamento de informação 10. LI, L2. Quer dizer, as zonas de escrita de teste TO, TI e T2 tem o mesmo tamanho
Conforme mostrado na figura 2, o feixe de laser varre a camada de armazenamento de informação 10 para fora (isto é, a partir de alguma localização radial interna em direção â borda externa do disco). É por isso que a zona de escrita de teste TQ da mesma tem as subàreas t1,12,13, t4,15 5 e assim por diante, ás quais endereços são atribuídos na direção de varredura do feixe de laser, conforme indicado pelas setas na figura 4(b). Nesse caso, aquelas subáreas t1, t2, t3, 14, t5 e assim por diante são sequencialmente usadas para dentro. Quer dizer, a subárea mais interna das subàreas não gravadas ti, 12, 13, t4, 15 e assim por diante è usada primeiramente, a 10 segunda mais externa em seguida, e assim por diante. Nu exemplo ilustrado na figura 4(b), as subàreas são usadas na ordem de 15, t4, 13, 12 e ti. Nâe obstante, em cada uma daquelas subàreas, uma operação de escrita de teste ainda é realizada na direção de varredura de feixe de laser indicada pelas setas. Da mesma forme, o feixe de laser também varre a camada de arma15 zenamento de informação i.2 para fora, e, portanto, suas subàreas 11, t2, 13, 14. 15 a assim por diante são usadas para dentro na ordem de t5,14,13, 12 e ti.
Por outro lado, o feixe de laser varre a camada de armazenamento de informação L1 para dentro (isto é, a partir de alguma localização 20 radiai externa em direção á borda interna do disco). É por isso que a zona de escrita de testa TI da mesma tem as subàreas t1, t2, 13, 14,15 e assim por diante ás quais endereços são atribuídos na direção de varredura do feixe de laser, conforme indicado pelas setas na figura 4(c). Nesse caso, aquelas subàreas t1, 12, 13, 14, t5 e assim por diante são sequencialmente usadas 25 para fora. Quer dizer, a -subarea mais interna das subàreas não gravadas 11, 12, t3, 14, 15 e assim por diante é usada primeiramente, a segunda mais interna em seguida, e assim por diante. No exemplo ilustrado na figura 4(n), as subàreas são usadas na urdem de t5,14,13,12 e 11.
Desta maneira, as subàreas de cada zona de escrita de teste 30 são usadas na direção opc-sia á direção de varredura de feixe de laser (isto ê, a direção na qual o ponto de feixe de laser segue). Assim, mesmo se qualquer subárea da zona de escrita de teste fosse destmida nem uma po24 fenda de irradiação intensa demais durante uma operação de escrita de teste para se tornar difícil que o ponto de feixe de laser seguisse a trilha ah contida, a área em que a operação de escrita de teste deve ser realizada ainda podería ser alcançada sem a passagem pela subárea destruída, parque a 5 zona de escrita de teste é usada na direção oposta ao curso de ponta da feixe de laser. Par exemplo, mesmo se a subárea 15 da zona de escrita de teste TO da camada de armazenamento de informação LD tivesse sido destruída com uma potência de irradiação intensa durante a última operação de escrita de teste, as endereços das zonas de escrita de teste não gravadas 10 remanescentes il, 12, t.3 e t4 ainda poderiam ser detectadas sequencíalmente, e a subárea não usada mais externa t4 poderá ser detectada, durante a próxima operação de escrita de teste.
Também, conforme pode ser visto a partir da figura 2, quando as zonas de escrita de teste das respectivas camadas de armazenamento de 15 informação são usadas, qualquer par de zonas de escrita de teste adjacentes é usada a partir de suas extremidades mais distantes em direções mutuamente opostas. Por exemplo, a zona de escrita de teste TG da camada de armazenamento de informação LG começa a ser usada a partir de uma subárea em suma extremidade periférica interna T0bc enquanto a zona de es2.0 crita de teste TI da camada de armazenamento de informação 11 começa a ser usada s partir de uma subárea em sua extremidade periférica interna Tia. ΙΞ por isso que quando a operação de escrita de teste tiver sida realizada, ainda um número relativamente pequeno de vezes, a potência de gravação pode ser determinada com a influência das outras camadas mais redo25 zida.
Conforme descrito acima, um disca ético de acordo com esta modalidade preferida tem três ou mais camadas de armazenamento de informação. cada uma das quais tendo uma zona de escrita de teste. È por isso que. mesmo se aquelas camadas de armazenamento de informação 30 que fossem empilhadas umas sabre as outras fossem irradiadas com um feixe de laser em íntensidades mutuamente diferentes ou em ambientes térmicos respectivamente diferentes, uma operação de escrita de teste ainda poderia ser realizada na camada da armazenamento de ínforrnação-alvo, na qual uma operação de escrita está para ser realizada, usando-se sua zona de escrita de teste sob o ambiente da operação daquela camada. Consequentemente, a melhor potência de gravação pode ser determinada para 5 cada uma daquelas camadas de armazenamento de informação.
Além disso, aquelas camadas de armazenamento de informação são dispostas em localizações radiais mutuamente diferentes,, de modo a não se sobreporem a cada outra na direção da empilhamento. Por essa razão.. a operação de escrita de teste pode ser realizada exatamente como 10 pretendido em cada camada de armazenamento de informação sem ser afetada pelo status de escrita na zona de escrita de teste de qualquer outra camada de armazenamento de informação ou pelo menos com essa influência minimizada. Corno resultado, a potência de gravação pude ser determinada apropriadamente para cada camada de armazenamento de informação,
Ainda mais, em uma situação ern que a zona de escrita de teste de cada camada de armazenamento de informação é usada na direção oposta ao feixe da laser que está varrendo a camada de armazenamento de informação agora, mesmo se qualquer parte da zona de escrita de teste fosse destruída com uma potência de mediação intensa, o restante da zona da 20 escrita de teste ainda podería ser usado apropriadamente. No topo disso, a potência de gravação também pode ser determinada apropriadamente para cada camada de armazenamento de informação, sem ser afetada por qualq uer ou Ua camada.
A partir deste ponto, um arranjo mais pretendo das zonas de es25 crita de teste TO, Ti e 12 será descrito, com referência à figura 2.
De modo geral, quando a camada de armazenamento de informação LO precisa ser irradiada com um feixe de laser, u feixe de laser deve passar através das camadas de armazenamento de informação 11 e L2. E para a irradiação da camada de armazenamento de informação LI corn um 30 feixe de laser,, o feixe de laser também deva passar através da camada de armazenamento de informação L2. É por isso que a camada de armazenamento de? informação I...2 precisa ter a transmitância mais aita com respeito a um feixe de laser, e as transrnitàncias das outras camadas de armazenamento de informação L1 e 10 diminuirá nesta ordem.
Para o projeta efícrentemente de camadas de armazenamento de informação, se um disco ótico com duas camadas de armazenamento de 5 informação já tivesse sido desenvolvido, é preferido que aquelas duas camadas de armazenamento de informação disponíveis fossem usadas como as camadas de armazenamento de informação LD e L1 o que apenas uma camada de armazenamento de informação com uma transmitânáa mais alta fosse desenvolvida de nevo como a camada de armazersamento de informarO ção 1.2
Contudo, a camada de armazenamento de informação 1.2 deve ter uma transmítância alta e, portanto, pode ser projetada de forma muito menos flexível. Como resultado, o desempenho de escrita da camada de armazenamento de informação L.2 se deterioraria mais facilmente devido a 15 uma ligeira variação em uma condição de escrita, tal com a potência de gravação, se comparada com as camadas de armazenamento de informação L0 e LI. A mesma declaração também se aplica às camadas do armazenamento de informação 11 e U). Quer dizer, em geral, quanto mais alia a transmítância de uma dada camada de armazenamento de informação, de 20 forma menos flexível aquela camada poderá ser projetada e mais facilmente seu desempenho de escrita se deteriorará, devido mesmo a uma ligeira variação em uma condição de escrita tal como a potência de gravação.
Por exempla, se a camada de armazenamento de informação 12 for irradiada com um feixe de laser, parte do feixe de laser será transmitida 25 através da camada de armazenamento de informação L2 e, então, refletida de volta a partir' da camada de armazenamento de informação L1 ern direção à camada de armazenamento de informação 12. Nesse caso, se a zorra de escrita de teste TI da camada de armazenamento de informação 11 estivesse destruída ou deteriorada, a refiectância da zona de escrita de teste T1 30 variaria significatívamente. Portanto, a intensidade do feixe de laser variaria devido à luz refletida de volta a partir da zuna de escrita de teste T1 em direção á camada de armazenamento de informação L2 e luz errante É por isso que se as zonas de escrita de teste T1 e T2 fossem dispostas próximas uma da outra, então, a variação na intensidade do feixe de laser refletida de volte a partir da zona de escrita de teste TI em direção à camada de armazenamento de informação 12 seria sobreposta como ruído no feixe de laser refie5 tido a partir da zona de escrita de teste T1. Como resultado, uma operação de escrita de teste não podería ser realizada apropriadamente na zona de escrita da teste 12 e a potência de gravação não podaria ser determinada apropriadamente para a camada de armazenamento de informação 1.2.
Tendo em vista esta consideração, nu disco ótico 101 desta mold dalidade preferida, o espaço radiai entre as zunes de escrita de teste de duas camadas de armazenamento de informação adjacentes que estejam loca lizadas mais próximas da superfície de feixe de laser incidente preferencialmente é mais largo do que o espaço entre duas camadas de armazenamento de informação adjacentes que estivessem localizadas mais distantes da 15 superfície de feixe de laser incidente. Lspedficamente, o espaço radial entre as zunas de escrita de teste Ϊ2 e TI de duas camadas de armazenamento de informação 12 e L1 (isto é, o intervalo entre T2a e T1 b) que estão localizadas mais próximas da superfície na qual o feixe de laser 200 è incident© preferenciaimente é mais largo do que o espaço entre as zunas de escrita de 20 teste TI e TO de duas camadas de armazenamento de informação adjacen tes L1 e 10 (isto é: o intervalo entre TOa e T1b) que estão localizadas mais distantes da superfície de feixe de laser incidente.
Especificamente, se as camadas de armazenamento de infor·· maçãu 10, Li e 1.2 foram contadas a partir daquela que está localizada mais 25 distante da superfície na qual o feixe de laser 200 é incidente, a diferença de localização radial (T2a-T1b) entre a extremidade periférica interna Tlb da zona interna TI das zonas de escuta de teste T1 e T2 das segunda e terceira camadas de armazenamento de informação mais distantes I..1 e 12 e a extremidade periférica interna T2.a da outra zona de escrita de teste externa 30 T2 preferencialmente é maior du que a diferença de localização radial (TOaTlb) entre a extremidade periférica interns Tib da zona interna TI das zonas de escrita de teste TO e T1 das camadas de armazenamento de infor maçã© mais distante e segunda mais distante LQ e LI e a extremidade periférica interna TOa da outra zona de escrita de teste TO,
De acordo cem um arranjo corne esse de zunas de escrita de leste, um espaça mais largo è deixado entre um par de camadas de arma5 zenamento de informação que seria afeitado mais significativamente pela luz refletida a partir de uma camada de armazenamento de informação adjacen te, assim se reduzindo a influência da luz refletida a partir de uma camada de armazenamento de informação adjacente. Come resultado, uma operação de escrita de teste pode ser realizada apropriadamente na zona de es10 crita de teste de cada camada de armazenamento de informação e a potên cia de gravação pode ser determinada apropriadamente para a camada de armazenamento de informação, Além disso, um espaço mais estreito è deixado entre um par de camadas de armazenamento de informação que seriam afetadas menos significativamente peia iuz refletida a partir de uma ca15 mada de armazenamento de informação adjacente. Então, o espaço entre as camadas de armazenamento de informação não necessariamente será largo e as áreas de entrada poderão ser usadas reais efetivamente, Acima disso. como não hà necessidade de expansão da área de entrada, uma área de dados suficientemente larga poderá ser assegurada da mesma forma.
Opcionalmente, em urna situação em que o espaço entre as zonas da escrita de teste de cada par de camadas de armazenamento de in formação adjacentes é definido conforme descrito acima, as zonas de escrita de teste TO e T1 das camadas de armazenamento de informação 1..0 e L1 podem ser dispostas nas mesmas localizações que as contrapartes das du25 as camadas de armazenamento de informação de um disco ótico de camada dupla convencionai. Nesse caso, mesmo urn drive de disco ótico convencionai também pode realizar uma operação de teste de escrita nas zonas de escrita de teste TO e T1 do disco ético 101 desta modalidade preferida apenas pela reaüzação de urna mudança relativamente simples na sequência.
Um arranjo coma esse de zonas de escrita de teste pode ser usado efetivamente em um disco ótico de gravação única no qual os dados de usuário podem ser escritos apenas uma vez. Contudo, mesmo se um arranjo corno esse de zonas de escrita de teste fosse adotado para um disco ótico regravável com pelo menos três camadas de armazenamento da informação, nas quais dados podem ser escritos da forma ótica, a potência de gravação também poderá ser determinada apropriadamente para cada camada 5 de armazenamento de informação, sem ser afetada por qualquer camada de armazenamento de informação adjacente.
Especificamente, quanto a um disco ótico regravável, as zonas de escrita de teste TO, T1 e 12 das camadas de armazenamento de informação L0; 11 e L2 podem ser dispostas conforme mostrado nas figuras 5(a) e IQ 5(b).
O arranja das zonas de escrita de teste T0; T1 e T2 no disco ótico 102 mostrado na figura 5(a) é o mesmo que aquele mostrado na figura 2. Quanto a um disco ótico regravável, contudo, as zonas de escrita de teste TO. T1 e T2 podem ser usadas em qualquer direção. Isto é porque em um 15 disco ótico regraváveí a transmitància da zona de escrita de teste TO pode não ser modificada se as marcas de gravação deixadas pela realização de uma operação da escrita de leste forem apagadas. Também, em um disco ótico regraváveí, quaisquer subáreas arbitrárias das zonas de escrita de teste TO, TI e T2 podem ser acessadas randomicamente.
Alternativamente, em urn disco ótico regraváveí, es zonas de escrita de teste TO, T1 e T2 também podam ser dispostas como no disco ótico 102' mostrado na figura 5(b). Nesse caso, a zona de escrita de teste T2 da camada de armazenamento de informação l„2 é disposta mais próxima da borda interna do disco, enquanto a zona de escrita de teste T1 da camada de armazenamento de informação Í..1 é disposta mais próxima da borda externa do mesmo. E a zuna de escrita de teste TO da camada de armazenamento de informação 10 é disposta mais próxima da barda externa do que a zona de escrita de leste T2. da camada de armazenamento de informação 1.2 está, mas mais próxima da borda interna do que a zona de escrita de teste
TI da camada de armazenamento de informação L,1 este.
Especificarneote, se as camadas de armazenamento de informação forem contadas a partir daquela que está localizada mais distante da superfície na qual o feixe de laser 200 é Incidente, a diferença de localização radial (T1a-T2b) entre a extremidade periférica interna T2b da zona interna T2 das zonas de escrita de teste TI a T2 das camadas de armazenamento de informação segunda e terceira mais distantes LI e L2 e a extremidade periférica interna T1a da outra zona de escrita de teste externa TI preferencialmente for maior do que a diferença de localização radial (T1a-T0b) entre a extremidade periférica interna TOb da zona interna T0 das zonas de escrita de testa TO e TI das camadas de armazenamento de informação mais distante e segunda mais distante L0 e L1 e a extremidade periférica interna T1a da zuna de? escrita de teste externa TI da mesma,
Na modalidade preferida descrita acima, as três zonas de escrita de teste Tíl, T1 e T2 são dispostas em localizações radiais diferentes, de modo a não se sobreporem a cada outra. Contudo, se a iuz refletida a partir da camada de armazenamento de informação LI afetar um pouco a camada de armazenamento de informação L2 e se a luz transmitida através da camada de armazenamento de informação L2 afetar um pouco a camada de armazenamento do informação 11, então, o espaço radiai entre as zonas de escrita de teste TO e T2 das camadas de armazenamento de informação L0 e I..2 no disco ótico 103 mostrado na figura 6 poderá se mais estreito do que no arranjo das zonas de escrita de teste mostrado na figura 2.
Espeuificamente, a figura 6 ilustra um arranjo de zonas de escrita de teste em uma situação em que hã um espaço radial mais estreito (Isto è, zero) entre as zonas de escrita de teste TO e T2, Assim, as extremidades periféricas interna e externa T2a e T2b da zona de escrito de teste T2 estão perfeitarnente alinhadas com as extremidades periféricas interna e externa TOa a TOb da zona da escrita de teste TO, e as zonas de escrita de teste T2 e T0 se sobrepõem inteiramente a cada outra. Contudo, a zuna de escrita de teste T2 também pode se sobrepor apenas parcialmente à zona de escrita de teste 10,
Quer dizer, a zuna de escrita de teste da camada de armazenamento de informação que está localizada mais próxima da superfície na qual o feixe de laser 200 é incidente poda ser disposta na vizinhança daquela da camada de armazenamento de informação que está localizada mais distante da superfície de feixe de laser incidente. Especificamente, se as três camadas de armazenamento de informação LO. 11 e L2 forem contadas a partir daquela que está localizada mais distante da superfície na qual o feixe de 5 laser 200 è incidente, a diferença de localização radial entre a extremidade periférica interna T1a da zona interna T1 das zonas de escrita de teste TO e T1 das camadas de armazenamento de informação mais distante e segunda mais distante LO e 11 e a extremidade periférica interna TOb da outra zona de escrita de teste TO será preferencialmente maior do que a diferença de 10 localização radial entra a extremidade periférica interna TOa da zona inferna
TO das zonas de escrita de teste TO e T2 das camadas de armazenamento de informação mais distante e terceira mais distante LO e 12 e a extremidade periférica externa T2b da outra zona de escrita de teste externa T2.
A figura 7 é uma representação esquemática que ilustra come uma área deteriorada da camada de armazenamento de informação L2 afetaria as outras camadas de armazenamento de informação LO e I..1. Suponha que as subáreas incluídas na zona de escuta de teste T2 da camada de armazenamento de informação Lz tivessem sido destruídas devido a uma potência de irradiação intensa para a formação das áreas deterioradas 130 e 20 131. Embora as áreas deterioradas 130 e 131 tenham o mesmo tamanho, a relação da área deteriorada 131 para o panto de feixe de laser 200' deixado na camada de armazenamento de informação L.2 antes de ser focalizado sobre a camada de armazenamento de informação L0 é menar da que aquela da área deteriorada 130 para o ponto do feixe de laser 200 deixado na 25 camada de armazenamento de informação L2 antes de ser focalizada sobre a camada de armazenamento de informação 11. É por isso que, se as subareas Incluídas na zona de escrita de teste T2 tiverem side destruídas, a camada de armazenamento de informação L0 será afetada até um grau menor do que a camada de armazenamento de mformaçáo LI, Por essa razão, o 30 espaço radial entre as zunas de escrita de teste TO e T2 das camadas de armazenamento de informação L0 e L2 pede ser mais estreito como no arranja das zonas de escrita de teste mostrado na figura 6.. Domo resultado, com a influência de uma nutra camada de armazenamento de informação subre a zona de esanta de teste minimizada, uma operação de escrita de teste pode ser realizada apropriadamente em cada zona de escrita de teste e a potência de gravação pode ser determinada apropriadamente para cada 5 camada de armazenamento de informação. Além disso, a área de entrada pode ser reduzida e uma área de dados suficientemente largai pode ser assegurada.
Na modalidade preferida mostrada na figura 2, o espaço radial entre as zonas de escrita de teste TI e T2 de duas camadas de armazena10 mento de informação adjacentes 11 e 1.2 (isto é, o intervalo entre T2a e T1 b) que estão localizadas mais próximas da superfície na qual o feixe de laser 200 é incidente é definido para ser mais largo do que o espaço radiai entre as zonas de escrita de teste TD e TI de duas camadas de armazenamento de informação adjacentes L.O e LI (isto é; o intervala entre TOa e T1b) que 15 estão localizadas mais distantes da superfície de feixe de laser incidente.
Contudo, se houver um espaço mais estreito na direção de espessura entre as carnadas de armazenamento de informação LO e L1 do que entre as camadas de armazenamento de informação LI e L2 (isto é, se a camada espaçadora 111 for menos espessa do que a camada espaçadora 112, com 20 forme mostrado na figura 1), então, a influência seria mais significativa entre as camadas de armazenamento de informação 10 e l„ 1 do que entre as camadas de armazenamento de informação Li e 1.2. Nesse caso, o espaça radial entra as zonas de escrita de teste TI e T2 das carnadas de armazenamento de informação Li e L2 que estão localizadas rnais próximas da su25 pedicle incidente pode ser mais estreito do que o espaço radial entre as zonas de escrita de teste TO a TI das camadas de armazenamento de informação L0 e L1 que estão localizadas mais distantes da superfície incidente como no disco ótico 104 mostrado na figura 8.
Partieuiarmante se o espaça radiai (ou Intervala) entre as zonas de escrita de teste TI e T2 de duas camadas de armazenamento de informação adjacentes LI e L2 que estão localizadas mais próximas da superfície de feixe de laser incidente for reduzido para um limite para se tornar a area de entrada tão pequena quanto possível, então, o espaço radial entre as zonas de escuta de teste FÕ e TI de duas camadas de armazenamento de informação adjacentes LO e LI que estão localizadas reais distantes da superfície de feixe de laser incidente preferencialmente sera masor do que o 5 espaço radial (intervalo) entre as zorras de escrita de teste TI e T2 de duas camadas de armazenamento de informação adjacentes Li e L2 que estão localizadas mais próximas da superfície de feixe de laser incidente como nesta modalidade preferida. Então, a potência de gravação pode ser determinada apropriadamente com a influência da luz refletida a partir da camada 10 de armazenamento de informação 1.1 reduzida.
Na modalidade preferida descrita acima, o disco ótico 101 é suposto como tendo trás camadas de armazenamento de informação. Contudo, a presente invenção também e aplicável a um disco ótico com quatro eu mais camadas de armazenamento de informação. Nesse caso, dentre aque· 15 Ias quatro ou mais camadas de armazenamento de informação LO, LI, L2, etc., a camada de annazenamenta de informação que esta localrzada mais distante da superfície de feixe de laser incidente preferencialmente é a camada LO, a camada de armazenamento de informação adjacente à camada LO é a camada L1, e assim per diante, 20 MODALIDADE 2
A partir deste ponto, uma segunda modalidade preterida de um meio de armazenamento de informação de acordo com a presente invenção será descrita, com referência aos desenhos associados. O meio de armazenamento de informação desta modalidade preferida também ê de um tipo de 25 gravação única ou de um tipo regravável. O disco ótico da segunda modalidade preferida ainda inclui uma camada de armazenamento de informação adicionai L3; isto é, tem quatro camadas de armazenamento de informação no total, diferentemente do disco ótico 101 da primeira modalidade preferida descrita acima. Quer dizer, na estrutura do disco ético 101 mostrada na figu30 ra 1, a camada de armazenamento de informação L3 á adicionada entre a camada de armazenamento de informação 12 e a camada de cobertura 113 e uma outra camada espaçadora e inserida entre as camadas da armazenamenfo de informação 1.3 e L2,
A figura 9 é uma vista em seção transversal esquemática de um disco ético 1Ü5 camo uma segunda modalidade proferida da presente invenção. Nenhuma, camada espaçadora è mostrada como na figura 2. Conforme 5 mostrado na figura 9, uma área de entrada R3 é disposta em urna porção interna da camada de armazenamento de informação L3 que fui adicionada à estrutura do disco ótico 101 < e há uma zona de escrita de teste T3 na área de entrada 173,
Conforme mostrado na figura 9, as zonas de escrita de teste T9, 10 T1, T2„ T3 estão localizadas nas áreas de entrada R0f RI, R2 e R3 das camadas de armazenamento de informação 1.0, Li, 1.2 e L3, respectiva mente. Estas zonas de escrita da teste TO, T1, T2 e T3 são dispostas em localizações radiais mutuamente diferentes, dc modo a não se sobreporem umas âs outras de forma alguma na direção na qual estas camadas de armazena15 mento de informação L0, LI, L2 e 1.3 são empilhadas umas sobre as outras (isto é< conforme visto na direção na qual o feixe de laser 200 vem),
Mais especrficamente, no disco ótico 105, a extremidade periférica interna Tia da zona de escrita de teste TI da segunda camada de armazenamento de informação mais interna 11 está localizada mais próxima 20 da borda externa do disco do que a extremidade periférica externa T3b da zona de escrita de teste T3 da camada dc armazenamento de informação mais Interna L3, e um espaço (ou intervalo) é deixada entre elas, de modo que as zunas de escrita de teste não se sobreponham a cada outra. Este espaçe tem uma distância que é definida pela diferença entre as respectivas 25 localizações radiais da extremidade periférica interna T1a e a extremidade periférica externa T3b.
Da mesma forma a extremidade periférica interna TOa da zona de escrita de teste T0 da terceira camada de armazenamento de informação mais interna 10 está localizada mais próxima da borda externa do disco do 30 que a extremidade periférica externa Tlb da zona de escrita de teste T1 da segunda camada de armazenamento de informação mais interna LI, e um espaçe- que é detmido pela diferença entre as respectivas localizações radi ais da extremidade periférica interna TOa e da extremidade periférica externa Tlb é deixada entre elas..
Também, a extremidade periférica interna T2a da zona de escri,. ia de teste T2 da camada de armazenamento de informação mais externa 12 5 está localizada mais próximo da borda externa do disco do que a extremidade periférica externa TOb da zona de escrita de teste TG da terceira carnada de armazenamento de informação mais interna LO, e um espaça que é definido pela diferença entre as respectivas íocalizaçües radiais da extremidade periférica interna T2a e da extremidade periférica externa TQb é deixado en1Q tre elas.
Se as quatro camadas de armazenamento de informação LO, 1.1,
I..2 e I..3 forem contadas a partir daquela que està localizada reais distante da superfície na qual o feixe de laser 200 é incidente, a zona de escrita de teste T2 da terceira camada de armazenamento de informação mais distante L2 15 estará localizada mais próxima da barda externa do disco do que a zona de escrita de teste TO da camada de armazenamento de informação mais distante LO estará. E a zona de escrita de teste TO da camada de armazenamento de informação LO está localizada mais próxima daquela bonda externa do que a zona de escuta de teste T1 da segunda camada de armazenamento to de informação mais distante LI está.
Também, a zona de escrita de teste T2 da camada de armazenamento de informação 1.2 está localizada mais próxima da borda externa de disco do que a zona da escrita de teste da carnada de armazenamento de informação LI está, E a zona de escrita de teste TI da camada de armaze25 narnento de informação LI está localizada mais próxima da borda, externa da que a zona de escrita de teste T3 da carnada de armazenamento de informação quarta mais distante 13 está..
Mais ainda, a zuna de escrita de teste T2 da terceira camada de armazenamento de informação mais distante L2 está localizada mais próxi30 ma da borda externa do disco do que a zona de escrita de teste TO da ca mada de armazenamento de informação LO está. E a zona de escrita de teste TG da camada de armazenamento de informação I..0 está localizada rnais próxima da borda externa de que a zona de escrita de teste T3 da camada de armazenamento de informação L3 está.
Como na primeira modalidade preferida descrita acima, de acordo cem o arranjo das zonas de escrita de teste desta modalidade preferida mostrada na figura 9, as zonas de escrita de teste TO, T1, T2 e T3 são dispostas em localizações radiais mutuamente diferentes, e não se sobrepõem a cada outra de forma alguma na direção na qual as camadas de armazenamento de informação são empilhadas umas sobre as outras. È por isso que mesmo se a zuna de escrita de teste TI da camada de armazenamento de informação LI fosse destruída, o feixe de laser ainda poderia alcançar a zona de escrita de teste TO da camada de armazenamento de informação 10 sem (ou paio menus quase sem) ser afetada pela zuna de escrita da teste TI destruída. Consequentemente, uma operação de escrita de teste poderia ser realizada exatamente conforme pretendido na zona de escrita de teste TO da camada de armazenamento de snformaçâa L0 e a potência de gravação ainda poderia ser determinada apropriadamente para a camada de armazenamento de informação 10. Da mesma forma, mesmo se a zona de escrita de teste T2 ou T3 da camada de armazenamento de informação 1.2 ou 13 fosse destruída, as potencies de gravação ainda poderíam ser determinadas apropriadamente para as camadas de armazenamento de informação 10,11 e L2.
Também, pela mesma razão, mesmo se a transmítância do feixe de laser passando através de qualquer uma das zonas de escrita de teste TO, T1, T2 e T3 variasse, o feixe de laser ainda poderia atingir a zona de escrita de teste TO, TI, T2, T3 de cada camada de armazenamento de informação L0, LI, L2. L3. Consequentemente, uma operação de escrita de teste poderia ser realizada exatamente conforme pretendido na zona de escrita de teste TO, TI, T2, T3 de cada camada de armazenamento de informação L0,1.1,. L2, 1.3, e a potência de transmissão ainda poderia ser determinada apropriadamente para ioda camada de armazenamento de informação Lt), I.. 1,1.2, 1.3.
Em seguida, será descrito em quais direções as zonas de escrita de teste 10. 11, Γ2 e T3 são usadas, Conforme indicado pelas setas na figu ra 9, as trilhas são dispostas nas camadas de armazenamento de informação LO e 12, de modo que o feixe de laser varra as camadas de armazenamento de informação LO e L2 para fora (rsto è, a partir de alguma localização radial interna no disco em direção à borda externa do mesmo). Nas camadas de armazenamento de Informação LI e 13, por outro lado, as trilhas são dispostas de modo que o feixe de laser varra as camadas de armazenamento de informação L1 e L3 para dentro (isto è, a partir de alguma localização radial externa no disco em direção á borda interna do mesmo). Assim, corno na primeira modalidade descrita anima, uma informação pode ser lida ou escrita sem se fazer o ponto de feixe de laser' saltar todo o caminho em direção à localização mais interna ou mais externa no disco ótico 105 toda vez em que as camadas-aivo precisarem ser mudadas para a próxima camada de armazenamento de informação.
Enquanto isso, como na primeira modalidade preferida descrita acima, as zonas de escrita de teste TO, T1, T2 e T3 preferencialmente são usadas em direções opostas àquelas nas quais o ponto cie feixe de laser passa sobre as respectivas camadas de armazenamento da informação. Assim, conforme já descrito para a primeira modalidade preferida, mesmo se qualquer suhárea da zona de escrita de teste fosse destruída com uma potência de irradiação intensa demais durante uma operação de escrita de teste para se tornar difícil que o ponto de feixe de laser siga a trilha ali contida, a área em que a operação de escrita de leste deve ser realizada ainda podería ser alcançada sem a passagem pela subárea destruída, porque a zuna de escala de teste è usada na direção oposta ao curso de ponto de feixe de laser. Também, quando a operação de escrita de teste foi realizada ainda um número relativamente pequeno de vezes, a potência de gravação pode ser determinada apropriadamente com a influência rias outras car-radas mais reduzidas.
Na modalidade preferida desorifa acima, o disco ótico 105 é suposto tendo quatro camadas de armazenamento de informação. Contudo, a presente invenção também pode ser usada efetivamente em um disco ótico com mais de quatro camadas de armazenamento de informação. Nesse casei se houver n camadas de armazenamento de informação (onde n è urn inteiro que é igual a ou maior do que três), e se aquelas n camadas de armazenamento de informação forem contadas a partir de uma que esteja Io5 calizaua mais drstante da superfície de feixe de laser incidente, uma i-ésirna camada de armazenamento de informação (onde i è um inteiro que satisfaz a 2 < i < n-1) é varrida com o feixe de laser em direção à borda interna do disco, mas as subãreas de sua zorra de escrita de teste são usadas em direção à borda externa do disco. Por outro lado, uma (i-l)-èsima camada de 10 armazenamento de informação é varrida com o feixe de laser em direção à borda externa do disco, mas as subáreas de sua zona de escrita de festa são usadas em direção à borda interna do disco.
Conforme desento acima, um disco ótico de acordo com esta modalidade preferida tem três ou mais camadas de armazenamento de in15 formação, cada uma das quais tendo uma zona de escrita de teste. É por isto que, mesmo se aquelas camadas de armazenamento de informação que são empilhadas umas sobre as outras forem irradiadas corn um feixe de laser em intensidades mutuamente diferentes ou em ambientes térmicos respectivamente diferentes, uma operação de escrita de teste ainda pode ser 20 realizada na camada da armazenamento de informação alvo, na qual uma operação de escuta está para ser realizada, usando-se sua zona de escrita de teste sob o ambiente de operação daquela camada. Consequentemente, a melhor potência de gravação pode ser determinada para cada uma daquelas camadas de armazenamento de Informação.
Além disso, aquelas camadas de armazenamento de informação são dispostas em localizações radiais mutuamente diferentes, de modo a não se sobreporem a cada outra na direção de empilhamento. Por essa razão, a operação de escrita de teste pede ser realizada exatamente conforme pretendido em cada camada de armazenamento de informação sem ser afe30 tada peto status de escuta na zona de escrita de teste de qualquer outra camada dé armazenamento de informação ou pele menos com essa influência minimizada. Coma resultado, a. potência de gravação pode ser determinada < apropriadamente para nada camada de armazenamento de informação.
Mais ainda, em uma situação em que a zona de escrita de teste de cada camada de armazenamento de informação é usada na direção oposta ao feixe de laser que està varrendo a camada de armazenamento de 5 informação agora, mesmo se qualquer parte da zona de escrita de teste fosse destruída com uma potência de irradiação intensa, ο restante da zona de escrita de teste ainda podería ser usado apropriadamente. Acima disso, a potência de gravação também pode ser determinada sem ser afetada por qualquer outra camada.
W Como na primeira modalidade preferida descrita acima, há um arranjo mais preterido das zorras de escrita de teste TO, T1. T2 e T3. A pari.ir daste ponto, um arranjo somo esse será descrito com referência à figura 9.
De modo geral, quando a camada de armazenamento de informação L.0 precisa ser irradiada com um feixe de laser, o feixe da laser deve 15 passar através das camadas de armazenamento de informação LI, 12 e 13.
I-: para a irradiação da camada de armazenamento de informação I..2 com um teixo de laser, o feixe de laser também deve passar através da camada de armazenamento de informação L3. É por isso que a camada de armazenamento de informação L3 precisa ter a transmitâncra mais alta com respeito Z‘0 a um feixe de laser, e as iransmitâncsãs das outras camadas de armazenamento de informação 12,1..1 e LO diminuira nesta ordem.
Para o projeto de camadas de armazenamento de informação de forma eficiente, se o disco ótico com três camadas de armazenamento de informação já tiver sido desenvolvido, ê preferido que aquelas três camadas 25 de armazenamento de informação disponíveis sejam usadas como as camadas de armazenamento de informação L.0, 11 e 1,2 e que apenas uma camada de armazenamento de informação com alto transmitância seja desenvolvida novamente como a camada de armazenamento de informação L3.
Contudo, a camada de armazenamento de informação 1.3 deve ler alta transmitância e, portanto, pode ser projetada de forma muito menos flexível. Gomo resultado, o desempenho de escrita da camada de armazenamento de informação Í..3 se deterioraria mais facilmente devido a unra variação ligeira em uma condição de escrita, tal como a potência de gravação se comparada com as camadas de armazenamento de informação LC\ LI e L2. A mesma declaração também se aplica entre as camadas da armaze5 namento de informação 12 e L1 e entra as camadas de armazenamento de informação L1 e LO. Quer dizer, em geral, quanto mais alta a transmifância de uma dada camada de armazenamento de informação, de forma menos flexível aquela camada poderá ser projetada e mais facilmente seu desempenho se deteriorará devida mesmo a uma ligeira variação em uma condição 10 de escrita, tal como a potência de gravação.
Por exemplo, se a camada de armazenamento de informação 13 for irradiado com um feixe de laser, parte do feixe de laser serà transmitida através da camada de armazenamento de informação L3 e, então, refletida de volta a partir da camada de armazenamento da informação 1..2 em direção 15 à camada de armazenamento de informação L3, Nesse caso, se a zona de escrita de teste T2 da camada de armazenamento de informação 12 estivesse destruída ou deteriorada, a refleciâncta da zona de escrita de teste T2 variaria significalivamente. Portanto, a intensidade do feixe de laser variaria devido á luz refletida de volta a partir da zona de escrita de teste T2 em dire20 çào à camada de armazenamento de informação 1.3 e luz errante. É por isso que se as zonas de escrita de teste T2 e T3 fossem dispostas próximas de cada outra, então, a variação na intensidade do feixe de laser refletido de volta a partir da zuna de escrita de teste T2 em direção à camada de armazenamento de informação L3 seria sobreposta como ruído no feixe de laser 25 refletido a partir da zona de escrita de teste Γ2, Como resultado, uma operação de escrita de teste poderia não ser realizada apropriadamente na zona de escrita de teste T3 e a potência de gravação não podería ser determinada apropriadamente para a camada de armazenamento de informação L3,
Tendo em vista esta consideração, no disco ótico 105 desta mo30 dalidade preferida, o espaço radial entre as zonas de escrita de teste de duas camadas de armazenamento de informação adjacentes que estejam localizadas mais próximas da superfície de feixe de laser incidente é preference almente mais largo do que o espaço entre aqueles de duas camadas da armazenamento de informação que estejam localizadas mais distantes da superfície de feixe de laser incidente. Especificamente, c espaço radial entre as zonas de escrita da teste T2 e T1 de duas camadas de .armazenamento de informação adjacentes L.2 e L1 (isto é, o espaço entre T2a e Tlb) que estão localizadas mais próximas da superfície na qual o feixe de laser 200 é incidente preferencialmente è mais largo do que o espaçe entre as zonas de escrita de teste TI e. T0 de duas camadas de armazenamento de informação adjacentes LI e 10 (isto é, o espaça entre TOa e Tlb) que estão localizadas mais distantes da superfície de feixe de laser incidente.
Também, o espaça radial entre as zonas de escrita de leste T3 e T2 de duas camadas de armazenamento de informação adjacentes I..3 e I..2 (isto ét o espaço entre T2a e T3b) que estão localizadas mais próximas da superfície na qual o feixe da laser 200 è incidente è preferenclalmente mais largo do que o espaço entre as zonas de escrito de teste T1 e T0 de duas camadas de armazenamento de informação adjacentes 11 e Í..0 (isto é, o espaça entre TOa e Tlb) que estão localizadas mais distantes da superfície da feixe de laser incidente ou o espaço entre as zunas de escrita de teste T2 e T1 de duas canradas de armazenamento de informação adjacentes t.2 e L1 (isto è, o espaço entre T2a e Tlb).
Específicamente, se aquelas camadas de armazenamento de informação 10, LI, L2 e L3 forem contadas a partir de uma que esteja localizada mais distante da superfície do disco na qual o feixe de laser 200 é incidente, a diferença de localização radial entre a extremidade periférica externa da zona interna das zonas de escrita de teste da i-ésima e da (r*1)-ésima camadas de armazenamento de informação (onde i è um inteiro que satisfaz a 2 í. I 5. 3) e a extremidade periférica interna da outra zona de escrita de teste externa preferenclalmente será mais larga do que a diferença de localização radial entre a. extremidade periférica externa da zona interna das zonas de escrita de teste da j-ésima a da Q+l j-ésima camadas de armazenamento de informação (ande j é um inteira que satisfaz a 1 < j < i-1) e a extremidade periférica interna da outra zona de escrito de teste externa.
Na modalidade preferida descrita acima, o disco ótico 1Q5 é suposto como tendo quatro camadas de armazenamento de informação. Contudo. a presente invenção também pede ser usada efetivamente em um disco ótico com mais de quatro camadas de armazenamento de informação. Nesse caso, as relações descritas acima são satisfeitas se n for o número de camadas de armazenamento de ínfonoaçao incluídas nu disco ótico e for um inteiro que seja igual a ou maior do que 3 e se i for um inteiro que satisfaça a 2 <i < η -1.
De acordo com um arranjo como esse de zonas de escrita de teste, um espaço mais largo é deixada entre um par de camadas de armazenamento da informação que seria afetado rnaís signíficativamente pela luz refletida a partir da uma camada de armazenamento de informação adjacen te, desse modo se reduzindo a influência da luz refletida a partir de uma ca mada de armazenamento de informação adjacente. Como resultado, uma operação de escrita de teste pude ser realizada apropriadamente na zuna de escrita de teste da cada camada de armazenamento de informação e a potência de gravação pode ser determinada apropriadamente para a camada de armazenamento de informação. Além disso, um espaço mais estreito é deixado entre um par de camadas de armazenamento de informação que seria afetado de forme menos significativa pela luz refletida a partir de uma camada de armazenamento de informação adjacente.. Então, o espaço entre as camadas de armazenamento de informação não será desnecessariamente largo e as áreas de entrada poderão ser usados mais efetívameníe. Acima disso, como não há uma necessidade de expansão da área de entrada, uma área de dados suficíentemente larga pode ser assegurada da mesma forma.
Opcionalmenie. em uma situação em que o espaço entre as zunas de escrita de teste de cada par de camadas de armazenamento de informação adjacentes é definido conforme descrito acima, as zonas de escrita de teste TO e 11 das camadas de armazenamento de informação LO e 1.1 podem ser dispostas nas mesmas localizações que as corrtrapartes das duas camadas de armazenamento de informação de um disco ótico de camada dupla convencional. Nesse caso, mesmo um drive de disco ótico convencío nal também pode realizar uma operação de escrita de testa nas zonas de escrita de teste TO e T1 do disco ético 101 desta modalidade preferida apenas pala realização de uma mudança relativamente simples na sequência
Na modalidade preferida descrita acima,, as quatro zonas de as5 críta da teste l 0. 11, 12 e T3 são dispostas em localizações radiais mutuamente diferentes de modo a não se sobreporem umas às outras. Contudo, conforme já descrito com referência á figura 7. se a luz refletida a partir da camada de armazenamento de informação 1..2 afetar um pouco a camada de armazenamento de informação L3f se a luz transmitida através da camada de armazenamento de informação I..3 afetar um pouco a camada de armazenamento de informação L2 ou a LI, e se a luz transmitida através da camada de armazenamento de informação L2 afetar um pouco a camada de armazenamento de informação LO, então, o espaço radiai entre as zonas de escnta de teste TO a T2 das camadas de armazenamento de informação LO e L2 e o espaço radial entre as zonas de escnta de teste ΙΊ e T3 das camadas de armazenamento de informação 11 e L3 no disco ótiou 105 mostrada na figura 10 poderá ser mais curto do que no arranjo das zonas de escrita de teste mostradas na figura 9.
Específicamente, a figura 10 ilustra um arranjo das zunas de es·· crite de teste em uma situação em que há um espaça radial zero entre as zonas de escrita de teste TO e T2 e entre as zonas de escrita de teste TI e T3. Assim, as extremidades periféricas interna e externa T2'a e T2b da zurra de escrita de teste T2 são perfeitamente alinhadas com as extremidades periféricas interna e externa TOa e TOb da zona de escnta de teste TO, e as zunas de escnta de teste T2 e T0 inteiramente se sobrepõem a cada outra. Além disso, as extremidades periféricas interna e externa T3a e T3b da zuna de escrita de teste T3 estão perfeitamente alinhadas com as extremidades periféricas interna e externa T1a e T1b da zona de escnta de teste T1; e as zonas de escrita de teste T3 e T1 se subrepüern inteiramente a cada outra.
Contudo, a zona de escrita de teste T2 também pode se sobrepor á zorra de escnta de teste T0 apenas parcíalmente, e a zona de escrita de teste T3 também pode se sobrepor à zona de escrita de teste TI apenas parcialmente.
Quer dizer, rs zona de escrita de teste da camada de armazenamento de informação que está focalizada mais próxima da superfície na qual q feixe de laser 200 é incidente pede ser disposta nas vizinhanças daquela 5 da camada de armazenamento de informação que está localizada mais distante da superfície de feixe de laser incidente. Especificamente, se as quatro camadas de armazenamento da informação 1.0, 1..1 < L2 a L3 forem contadas a partir de uma que esteja localizada mais distante da superfície na qual o feixe de laser 200 é incidente, a diferença de localização radial entre a ex10 tremidade periférica interna da zona interna das zonas de escrita de teste da k-èslma e da (k-H)-ésima camadas da armazenamento de informação (onde k é um inteiro que satisfaz a 1 < k < 2), e a extremidade periférica externa da outra zona de escrita de teste externa poderá ser maior do que a diferença do localização radial entre a extremidade periférica interna da zona interna 15 das zonas de escrita de teste da k-èsíma e da (k+2)-ésima camadas de armazenamento de informação e a extremidade periférica externa da outra zuna de escrita de leste externa.
I ambém, a diferença de localização radial entre a extremidade periférica interna Tia da zona interna T1 das zonas de escrita de teste T1 e 20 T.2 das camadas de armazenamento de informação Í..1 e 1.2. e a extremidade periférica externa T2b da outra zona de escrita de teste externa T2 pode ser maior do que a diferença de localização radial entre a extremidade periférica interna T3a da zona interna T3 das zonas de escrita de teste T1 e T3 das camadas de armazenamento de informação 11 e 1.3 e a extremidade perifé25 rica externa T1b da outra zona de escrita da teste externa T1.
Na modalidade preferida descrita acima, o disco ótico 105 é suposto como tendo quatro camadas de armazenamento da informação. Contudo, a presente invenção também pode ser usada etetívamente em um disco ótico com mais de quatro camadas de armazenamento de informação.
Nesse caso, a primeira relação descrita acima é satisfeita se n for o numero de camadas de armazenamento de informação incitadas nu disco ótico e for· um inteiro que seja igual a ou maior do que três e se k for um inteiro que satisfaça a 1 < k < π-2.
Por outro lado, de acorda com a última relação, a diferença de ' localização radial entre a extremidade periférica interna da zona interna das zonas de escrita de leste de k’-ésíma e (k’*1)-ésima camadas de armaze5 namento de informação (onde k’ é um inteiro que satisfaz a 1 < k! < n-3) e a extremidade periférica externa da outra zona de escrita de teste externa preferenclaímente for maior do que a diferença de localização radial entre a extremidade periférica interna da zona interna das zonas de escrita de teste de (k’*1 í-ésirna e (k'+3)-ésima camadas de armazenamento de informação e a 10 extremidade periférica externa da outra zona de escrita de teste externa,
Como resultado, cea? a influência de uma outra camada da armazenamento de informação sobre a zona de escrita de teste minimizada, uma operação de escala de teste pode ser realizada apropriadamente em cada zona de escrita cu testa, e a potência de gravação pode ser detemii15 nada apropriadamente para cada oarnada de armazenamento de informação. Além disso, a área de entrada pode ser reduzida e uma área de dados suficientemente larga pode ser assegurada.
Opcianalmente, se a luz transmitida através da oarnada de armazenamento de informação 13 afetar um pouco a camada de armazena20 mento de informação LI < então, o espaço radial entre as zonais de escrita de teste T1 e T3 das camadas de armazenamento de informação L1 e L3 poderá ser reduzida como no disco ótico 107 mostrado na figura 11, Embora um exemplo no qual não há um espaça radiai entre as zonas de escrita de teste T1 e T3 seja ilustrado na figura 11, a zona de escrita de teste T3 também 25 pode ser disposta de mudo a se sobrepor parcialmente à zona de escrita de teste TI, Então, a área de entrada também pode ser reduzida e uma área de dados sufícientemenfe larga também pode ser assegurada.
Também, se a luz transmitida através da camada de armazenamento de informação L3 afetar um pouco a camada de armazenamento de 3d informação t.O ou 1..2 e se a luz refletida a partir da camada de armazenamento de informação 12 afetar um pouco a camada de armazenamento de informação I..3, então, o espaço radial entre as zonas de escrita de teste TO
.. e T3 das camadas de armazenamento de informação LO e 13 e o espaço radial entre as zonas de escrita de teste T3 e T2 poderá ser reduzido como no disco ótico IOS mostrada na Ogura 12. Embora um exemplo nu qual não há um espaço radial entre as zunas da escrita de teste TO e T3 seja ilustrado na figura 12, a zona de escrita de teste T3 também pode ser disposta de modo a se sobrepor parcialmente à zona de escrita de teste TO. Então, a área de entrada também pude ser reduzida e uma área de dados suficientemente larga também pude ser assegurada.
Nas primeira e na segunda modalidade preferida, u disco ótico 10 da presente invenção foi descrita corno fonda três ou quatro camadas de armazenamento de informação. Contudo, a presente invenção não é limitada de forma alguma àquelas modalidades preferidas especificas. Alternativamente, urn disco ótico de acordo com a presente invenção também pode ter cinca ou mais camadas de armazenamento de informação.
MODALIDADE,3
A partir deste ponto, as modalidades preferidas de um dispositivo de escrita de informação, um dispositivo de leitura da informação, um método de escrita e um método de leitura de acorda cem a presente invenção serão descritas com referência aos desenhos associadas. A figura 13 è um 20 diagrama de blocos que ilustra um dispositivo de escrita de informação 300 coma uma terceira modalidade preferida da presente invenção. O dispositivo de escrita de informação 300 pode ler e escrever dados a inclui um motor de fuso 302, um cabeçote ótico 303. uma seção de controle de feixe de luz 304, uma seção de servo 300, uma seção de binahzaçãa de sinal de leitura 306, 25 um seção de processamento der sinal digital 307, uma seção de compensação de escrita 308 e uma CPU 309.
O disco ótico 301 poda ser o que já foi descr ito coma a primeira ou a segunda modalidade preferida da presente Invenção. Nesta modalidade preferida, o disco ótico 101 da primeira modalidade preferida é usada coma 30 a disco ótica 301, O matar de fuso 302 rada a disca ótico 301 a uma velocidade predeterminada. O cabeçote ótico 303 irradia o disco ótica 301 cam urn feixe de luz e também converte a feixe de luz que fui refletido a partir do dis47 co ótico 301 em um sinal elétrico e o extrai como um sinal de leitura, A seção de controle de feixe de luz 304 controla a potência da irradiação do feixe de ' luz que foi suprido a partir do cabeçote ótico 303 de acordo com a instrução dada pela CPU 309.
A seção de servo 305 controla as posições do cabeçote ótico
303 e do feixe de luz emitido a partir do cabeçote ótico 303, realiza os controles de foco e de acompanhamento de trilha no feixe de luz, e controla a rotação do motor de fuse 302. A seção de binarização de sinal de feitura 306 sujeita o sinal de leitura gerado pelo cabeçote ótico 303 (cuja informação de 10 dados é um sinal de soma e a informação sobre a área de informação de disca e o endereço è um sinal de diferença) a urna amplificação e uma binanzação. Também, a seçãc- de bioarização de sinal de leitura 306 pega um sinal de relógio gerado por uma PLL interna (não mostrada) de forma slncrona com o sinal binarizado,
A seção de processamento de sinal digital 367 sujeria o sinal binarizado a tipos predeterminados de processamento de demuduiação e de correção de erro, Na escrita de dados, a seção de processamento de sinal digital 307 sujeita os dados a serem escritos, além disso, a um código de correção de erro e um tipo predeterminado de modulação, desse modo ge20 rando dados modulados. Em seguida, a seção de compensação de escrita
308 converte os dados modulados em dados modulados de forma ótica consistindo em trens de pulso, e ajusta de forma fina a largura de pulso e outros parâmetros dos dados modulados de forma ótica som base no sinal de leitura obtido a partir da área de informação de dados e dos dados que são ar25 mazenados da antemão na CPU 309, desse modo convertendo os dados modulados de forma ótica em um sinal de pulso da escrita que contribuirá para a formação das fossas efetivamente,
A CPU 309 contraia o dispositivo de escrita de informação 300 inteiro, A unidade principal 310 usa um computador (não mostrado), um aplí30 cativo (não mostrado) e um sistema operacional (não rnostr.edu) para u envio de uma requisição de leitura / escrita para o drive de disco ótico 300.
Quando o dispositivo de escrita de informação 300 é carregado com o disco ótico 301. a seção de controle de feixe de luz 304 e a seção de servo 305 instruem o cabeçote ótico 303 para varrer a área de controle na área de entrada RO na camada de armazenamento de informação L0 cçm uma potência de irradiação predeterminada, desse modo se recuperando uma informação de parâmetro de gravação, tal como uma informação sabre a potência de irradiação a adotar, quando uma operação de escrita for realizada nas camadas de armazenamento de informação LG, LI e L2,
Quando do .recebimento de uma requisição de escrita a partir da unidade principal 310, a seção de controle de feixe de luz 304 e a seção de servo 305 fazem o cabeçote ótico 303 varrer a zona de escrita de teste T0 na área de entrada R0 da camada de armazenamento de informação 10 corn uma potência de irradiação predeterminada. Enquanto isso, a CPU 309 especifica a potênaa de irradiação para a realização da operação de escrita de teste para a seção da controle de feixe de luz 304 e obtém dados de teste escritos pelo cabeçote ótico 303 com múltiplas potências de irradiação diferentes e, então, lê, desse mude determinando, com base na taxa de erro e na instabilidade do sinal de leitura gerado, a potência de gravação a usar quando uma operação de escrita for realizada na área de dados D0 da camada de armazenamento de informação L0.
A mesma série de operações também ê realizada nas camadas de armazenamento de informação L1 e 12 também. Especificamente, a seção de controle de feixe de luz 304 e a seção de servo 305 fazem a cabeco’ ·' J·' te ótico 303 varrer a zona de escrita de teste T1 na área de entrada RI da camada de armazenamento de informação LI com a potência de irradiação predeterminada. Enquanto isso, a CRU 309 especifica a potência de irradiação para a realização da operação de escrita de teste para a seção de contrate de feixe de luz 304 e obtém os dados de teste escritos pelo cabeçote ético 303 cor: múltiplas potências de irradiação diferentes e, então, lê, desse modo determinando, com base na taxa de erro e na instabilidade do sinal de leitura gerado, a potência de gravação a usar quando urna operação de escrita for realizada na área de dados D1 da camada de armazenamento de informação L1.
Subsequentemente, a seção de controle de feixe de luz 304 e a cação da servo 305 fazem o cabeçote ótico 303 varrer a zuna de escrita de teste T2 na ârea de entrada R2 da camada de armazenamento de informação 1.2 com a potência de irradiação predeterminada. Enquanto isso, a CPU 309 especifica a potência de irradiação para a realização da operação de escrita de teste para a seção de controle de feixe de luz 304 e obtém os dados de teste escritos pelo cabeçote ótico 303 corn múltiplas potências de irradiação diferentes e, então, lê, desse modo determinando, com base na taxa de erro e na instabilidade do sinal de leitura gerado, a potência de gravação a usar quando uma operação de escrita for realizada na área de dados D2 da camada de armazenamento de informação 12. Desta maneira, as potências de gravação para escrita de informação nas respectivas áreas D0, D1 e D2 de todas as três camadas de armazenamento de informação L0,11 e 12 são determinadas.
Ern seguida, pela irradiação do disco com um feixe de laser corn a potência de gravação assim determinada, o usuário obtém dados escritos na àrea da dados DO, D1 ou D2 de cada camada de armazenamento de informação 10. L1 ou L.2. Neste caso, a potência de irradiação que foi determinada para cada camada de armazenamento da informação através do procedimento descrito acima é usada.
Quando os dados de usuário que foram escritos na área de dados DO, Dl ou D2 de cada camada de armazenamento de informação L0, L1 ou L2 precisam ser lidos, uma informação de disco e outros pedaços de informação são recuperados a partir da área de controle e os dados de usuário são lidos a partir da área de dados DD, Dl ou D2 usando-se a informação de disco assim obtida.
Na modalidade preferida descrita acima, as zonas de escrita da teste T0, TI e T2 são supostas como sendo dispostas apenas na periferia interna do disco. Opcionalmente, zonas de escrita de teste adicionais também podem ser dispostas na periferia externa do disco. Também, quando uma requisição de escrita é recebida, a potência de gravação para a realização de uma operação de escrita na área de dados DO, D1 ou D2 de toda camada da armazenamento de informação 10, L1 ou L2 é determinada na modalidade preferida descrita ac-ima. Contudo, se a CPU 309 tiver decidido que deve ser suficiente realizar uma operação de escrita apenas na camada de armazenamento de informação L0 para se obter todo pedaço de informação escrito, então, apenas a potência de irradiação para a realização da uma operação de escrita na area de entrada D0 precisará ser determinada, Então, os dados de usuário podem começar a ser escritos em um tempo mais curto.
«Mais ainda, na modalidade preferida descrita acima, quando a requisição de escrita é recebida, a potência de gravação para a realização de uma operação da escrita na área de dados de toda camada de armazenamento de informação ê determinada. Contudo, a GPU 309 pode determinar a potência de gravação apenas para a camada de armazenamento de informação na qual a operação de escrita é realizada mais cede, e pode determinar as potências de gravação para as outras camadas de armazenamento de informação mais tarde. Então, os dados de usuário podem começar' a ser escritos mais rapidamente.
Par exemplo, se a operação de escrita de teste dever ser realizada nas periferias interna e externa de cada uma das três camadas de armazenamento de informação de um disco de três camadas, então, a mesma sequência de teste de escrita deverá ser realizada seis vezes no total, assim forçando o usuário a esperar um tempo longo, antes de seus dados estarem prontos para serem escritos.
Para se evitar uma situação como essa, múltiplas combinações de camadas de armazenamento de informação nas quais a operação de escrita de teste preoísa ser realizada e do número dessas camadas podem ser preparadas de antemão. Então, a CPU 309 poda determinar se a operação de escrita deve nu não ser realizada um mais de duas camadas de armazenamento. E se a resposta for NÂO, a operação de escrita de teste poderá ser realizada apenas nas camadas de armazenamento de informação L0 e
11. Então, os dados de usuário também podam começar a ser escritos mais rapidamente.
MPDAüpADE.4
Os exemplos de meios de armazenamento nos quais a presente invenção é aplicável incluem um disco B'u-ray (BD) e diversos outros discos óticos em conformidade com diferentes padrões. Na descrição a seguir, uma 5 aplicação de um disco ótico de acordo com a primeira ou com a segunda modalidade preferida da presente invenção a um BD será descrita como uma quarta modalidade preferida da presente invenção.
Parâmetros Principais
Os BDs são classificados de acordo com a propriedade de seu 10 filme de gravação em vános tipos. Os exemplos desses vários BDs incluem um 8D-ROM (apenas de leitura), um BD-R (de gravação única), e um BDRE (regravável).. E a presente invenção é aplicável a qualquer tipo de BD ou um disco ótico em conformidade com qualquer outro padrão, não importando se o meio de armazenamento ê um ROM (apenas de leitura), um R (de gra15 vaçâo única), ou um RE (regravável). As principais constantes óticas e os formatos físicos para discus Blu -ray são mostrados em “Blu -ray Disc Reader (publicado pela Ohmsha, Ltd,) e no Papel Branco no website da Blu-ray Disc Association (http.7/www. blu-raydi&c.com). por exemplo,
Especificameate, quanto a um BD, um feixe de laser com um 2D comprimento de onda de aproximadamente 405 nm (o qual pode cair na faixa de 400 nm a 410 nm, supondo que a tolerância de erros de t 5 nm com respeito ac valor-padrâo de 405 nm) e uma lente objetiva com uma NA (abertura numérica) de aproximadamente 0.85 (a qual pude cair na faixa de 0,34 a 0,86, supondo que a tolerância de erros seja de * 0,01 com respeito 25 ac valor-padrão de 0.85) sâo usados. Urn BD tem um passo de trilha de em tomo de 0,32 pm (o que pode cair na faixa de 0,310 a 0,330 pm, supondcque a loleranoa de erros seja de * 0.010 pm com respeito au valor-padrao de 0,320 pm) e tem uma ou duas camadas de armazenamento de informação. Um BD tem uma estrutura de camada única de lado único au de cama30 da dupla de lado único no lado de feixe de laser incidente, e seu plano de armazenamento ou sua camada de armazenamento a uma profundidade de 75 pm a 100 pm conforme medido a partir do revestimento de proteção do
BD.
Um sinal de escrita è suposto como sendo modulado por uma técnica de modulação do 17PP. As marcas de gravação são supostas como tendo o comprimento de marca mais curto de 0.149 pm ou 0,138 pm (o qual 5 é o comprimento de uma marca 2T, onde T é um ciclo de um pulso de relógio de referência e um período de referência de modulação em uma situação em que uma marca é gravada de acordo com uma regra de modulação predeterminada), isto é, um cumprimento de bit de canal T de 74,50 nm ou 69.09 nm. O BD tem uma capacidade de armazenamento de 25 GB ou 27 10 GB (mais exatamente, 25,025 GB ou 27,020 GB), caso seja um disco de lado único de camada dupla, mas tem uma capacidade de armazenamento de 50 GB ou 54 GB (mais exatamente, 50,050 GB ou 54,040 GB), caso seja um disco de lado único da camada dupla.
A frequência de relógio de canal è suposta cerno sendo de 66
MHz (correspondente a urna taxa de brt de canal de 66,000 Mbit/s) a uma taxa de transferência de BD padrão (8D IX), 264 MHz (correspondente a uma taxa de bit de canal de 264.000 Mbit/s) a uma taxa de transferência de 4x: de BD, 396 MHz (correspondente a uma taxa de bit de canas' de 306.000 Mbit/s) a uma taxa de transferência do 6x de BD, e 528 MHz (correspondeu20 te a uma taxa de bit de canal de 528,000 Mbsf/s) a uma taxa de transferência de 8x de: BD,
E a velocidade linear padrão (a qual também serâ referida aqui corno a velocidade linear de referência” ou “IX1') é suposta coma sendo de 4,917 m/s ou 4,554 m/s. As velocidades lineares de 2x, 4x, 6x e 8x são de 25 9,834 m/s, 19,868 m/s, 29,502 m/s e 39,336 m/s, respectivamente. Uma velocidade linear mais alta do que a velocidade linear padrão normalmente é um numero inteiro positivo de vezes tão alta quando a velocidade linear padrão. Mas p fator não tem que ser um inteiro, mas também pode ser um número real positivo. Opcíonaimente, uma velocidade linear que seja mais bai30 xa do que a velocidade linear padrão (tal cume uma velocidade linear de 0,5x) também pode ser definida.
Deve ser notado que estes parâmetros são aqueles de BDs de camada única ou de camada dupla já no mercado, os quais têm orna capacidade de amtazenamentu de aproximadamente 25 GR ou de aproximadamente 27 GB por camada, Para se aumentarem mais as capacidades de armazenamento de BDs, BDs de alta densidade com uma capacidade de 5 armazenamento de aproximadamente 32 GB ou de aproximadamente 33,4
GB por camada e BDs de três ou quatro camadas já foram pesquisados e desenvolvidos, Aqui adiante, aplicações de exemplo da presente invenção a esses BDs serão descritas <
Estrutura cpm múltiplas camadas de armazenamento de infer·· 10 mauãp
Por exemplo, suponha que o disco ótico sela um cisco de lado único a partir do qual / no qual uma informação ê lida e/cu escrita por ter urn feixe de laser incidente sobre o lado de revestimento de proteção (camada de cobertura), se duas ou mais camadas de armazenamento de informação 15 precisarem ser providas, então, aquelas múltiplas camadas de armazenamento de informação deverão ser dispostas entre o substrato e o revestimento de proteção. Uma estrutura de exemple para um disco de camada múltipla como esse é mostrada na figura 14. O disco ótico mostrado na figura 14 tem (n-r-1) camadas de armazenamento de informação 502 (onde n è 20 um inteiro que é maior do que zero). Especificamente, neste disco ótico, uma camada de cobertura 501 (n*1) camadas de armazenamento de informação (camadas Ln a LO) 502, e um substrato 500 são empilhados nesta ordem na superfície do que urn feixe de laser 200 é incidente. Também, entre cada par de camada adjacentes das (πΉ) camadas de armazenamento de informa25 ção 502 é inserida com um membro de armazenamento em buffer ótico uma camada espaçadom 503, Quer dizer, a camada de referencia L0 pode ser disposta no nível mais profundo que está localizado a uma profundidade a partir da superfície da luz incidente (isto é, a uma distância maior da fonte de luz). Múltiplas camadas de armazenamento de Informação LI, 12, ... e Ln 30 podem ser empilhadas umas sobre as outras a partir de acima da camada de referência L0 em direção à superfície de luz incidente.
Neste caso, a profundidade da camada de referência 10 confer ms medido a partir da superfície da luz incidente do disco de camada múltipla pode ser igual á profundidade (por exemplo, aproximadamente 0,1 mm) da única camada de armazenamento de informação de um disco de camada única, conforme medido a partir da superfície de luz incidente. Se a profundidade da camada mais profunda (isto è. a camada mais distante) for constante independentemente do número de camadas de armazenamento empilhadas (isto é, se a camada mais profunda de um disco de camada múltipla estiver localizada substancialmente á mesma distância que a única camada de armazenamento de informação de um disco de camada única), uma compatibilidade poderá ser assegurada no acesso à camada de referência, não importando se o dado disco é um de camada única ou de camada múltipla.. Além disso, mesmo se o número de camadas de armazenamento empilhadas aumentar, a influência de inclinação dificilmente aumentará. Isto é parque, embora a camada mais profunda seja a mais afetada por uma inclinação, a profundidade da camada reais profunda de um disco de camada múltipla é aproximadamente a mesma que aquela da camada de armazenamento de informação única de um disco de camada única, e não aumenta neste caso, mesmo se o número de camadas da armazenamento empilhadas for aumentada.
Quanto á direção de movimento de ponto de teixo (a qual também será referida aqui como direção de acompanhamento de trilha ou uma direção em esplraf'), o disco ótico pode ser de um tipo de percurso em paralelo ou de um tipo de percurso aposto. Em um disco da tipo de percurso paralelo, o ponto segue na mesma direção em toda camada, isto é, a partir de alguma localização radial interna em direção à borda externa do disco ou a partir de alguma nutra localização radial em direção à borda interna do disco em toda camada de armazenamento de informação.
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Por outro lado, em um disco do tipo de percurso oposto, as direções de movimento de ponto sãu mudadas para o oposto toda vez em que as camadas a varrer forem mudadas de uma camada de armazenamento de informação para uma adjacente. Par exempla, se o ponto na camada de referência LO for de alguma localização radiai inferna em direção à borda externa (cuja direção serà referida simplesmente aqui como para fora'), então, o ponto na camada de armazenamento de informação LI também irà de ai* gama localização radial externa em direção à borda interna (cuja direção será referida simplesmente aqui corno i!para dentro’), o ponto na camada de 5 armazenamento de informação L2 irá para fora e assim por diante.. Quer di zer, o ponto na camada de armazenamento de informação Lm (onde m é zero ou um número par) irá para fora, mas o ponto na camada de armaze namento de informação Lm+1 irá para dentro. Inversamente, o ponto na ca mada de armazenamento de informação Lm (onde m è zero ou urn número 10 par) irá para dentro, mas o ponto na camada da armazenamento de informa ção Lm+1 irá para fora.
Quanto à espessura do revestimento de proteção (camada de proteção), para a mínimização da influência de distorção de ponto devido a uma diminuição no comprimento focai com um aumento na abertura numêri15 ca NA ou à inclinação, o revestimento de proteção pode ter sua espessura reduzida. Uma abertura numérica NA é definida como sendo de 0,4b para um CD, 0.65 para um. DVD, mas de aproximadamente 0,85 para um BD. Por exemplo, se o meio de armazenamento de informação tiver uma espessura geral de aproximãdãmerrte 1,2 mm, o revestimento de proteção poderá ter 20 uma espessura de 10 um a 200 pm. Mais especificamente, um disco de camada única poda incluir um revestimento de proteção transparente com uma espessura de aproximadamente 0,1 mm e um substrato com uma espessura de aproximadamente 1,1 mm. Por outro lado, um disco de camada dupia pode incluir um revestimento de proteção com uma espessura de aproxima25 damente 0,075 mm. uma camada espaçadora com urna espessura de; aproximadamente 0,025 mm e um substrato com uma espessura de aproximadamente 1,1 mm.
Cpnfiquraçües para disccs de çamada única ou de quatro camadas
As figuras 15, 10, 17 e 18 ilustram configurações de exemplo para discos de camada única,, de camada dupla, de três camadas e de quatro camadas, respectivamente. Conforme descrito acima, se a distância a partir da superfície de luz incidente até a camada de referência LQ for suposta como sendo constante, cada um destes discos poderá ter uma espessura de aproximadamente 1,2 mm (mas que é mais preferencialmente de 1,40 mm ou menos, se houver um rótulo impresso) e o substrato 500 poderá ter uma 5 espessura de aproximadamente 1.1 mm. É por isto que a distância a partir da superfície de luz incidente até a camada de referência 10 serà de aproximadamente 0,1 mm. No disco de camada única mostrado na figure 15. isto é, se a ~ 0 na figura 14), a camada de cobertura 5011 tem uma espessura de aproximadamente 0,1 mm. No disco de camada dupla mostrado na figura 10 18 (isto è, se n -· 1 na figura 14); a camada de cobertura 5012 tem uma es pessura de aproximadamente 0,075 mm. E a camada espaçadora 5302 tem uma espessura de aproximadamente 0,25 mm, E, no disco de três camadas mostrado na figura 17' (isto é, se n ~ 2 na figura 14) e no disco de quatro camadas mostrada na figura 17 (isto é, se n ~ 3 na figura 14), a camada de 15 cobertura 5014 e/ou a camada espaçadora 5304 podem ser ainda mais finas.
Também, em um gravador f tocador que usa um cabeçote ótico incluindo uma lente objetiva com uma NA alta, aberrações, tal como uma aberração esférica a ser produzida devida à espessura dai superfície de luz 20 incidente do disco até a camada de armazenamento de informação, afetarão seriamente a qualidade de um feixe de laser a ser convergido sobre a camada de armazenamento de informação. For essa razão, um aparelho como esse é provida com um meio para a correção dessas aberrações a serem produzidas devido à espessura.
Para a eliminação dos componentes de aberração, tal como uma aberração a ser produzida devido à espessura da superfície do revestimento de proteção de um meio de armazenamento de informação ótica até a camada de armazenamento de mfarmação a partir da qual / na qual uma Informação é lida ou escrita, o meio de correção de aberração gera uma aber30 ração que cancelará a componente de aberração que tenha sido produzida por melo de cada camada de armazenamento de informação. Um meio de carraças de aberração corne esse é ongínalmente projetado de forma ótica de modo a reduzir a aberração com respeito á camada de armazenamento de informação de urna estrutura de camada única e também leva em conta a aberração a ser produzida quando uma operação de leitura / escrita ê realizada em um meio de armazenamento de informação com uma estrutura de 5 camada dupla. O ponto da aberração mínimo projetado ê definido para estar localizado a uma profundidade de aproximadamente 80 a 90 pm, conforme medido a partir da superfície do revestimento da proteção. É por isso que se uma radiação de leitura Z escrita precisar ser focalizada em uma camada de armazenamento de informação, cuja profundidade não é igual ao ponto de 10 aberração mínimo, então, um valor de correção de aberração apropriado deverá ser regulado para aquela camada de armazenamento de informação pedo controle do meio de correção de aberração,
Estrutura física de BDs
A figura T9 ilustra a estrutura física de um disco ótico 510 de a15 cardo com esta modalidade preferida. No disco ótico tipo de disco 510. uma grande quantidade de trilhas 512. ê disposta de forma concêntrica ou em aspirai. E cada uma daquelas trilhas 512 é subdividida em uma grande quantidade de setores. Conforme será descrito mais tarde, os dados são supostos como sendo escritos em cada uma daquelas trilhas 512 com base em um 20 bloco 513 de tamanho predeterminado.
O disco ótico 510 desta modalidade pretenda tem uma capacidade de armazenamento maior por camada de armazenamento de informação do que um disco ótico convencionai (tal como BD de 25 GB). A capacidade de armazenamento é aumentada pelo aumento da densidade linear de 25 armazenamento, por exemplo, pelo encurtamento do comprimento de marca de marcas de gravação a serem deixadas no disco ôtlco, por exemplo. Conforme usado aqui, “para aumentar a densidade linear de armazenamento” significa encurtar o comprimento do bit de canal o qual ê um comprimento correspondente a um cicie do tempo T de urn sinal de relógio de referência 3ü (isto õ, urn cicio de tempo de referência T de modulação em unia situação em que as marcas são gravadas por uma regra de modulação predeterminada), O disco ótico 51(1 pode ter múltiplas camadas de armazenamento de informação. Na descrição a seguir, conlude, apenas uma camada de armazenamento de informação dc mesmo será descnts, em nome da conveniência. Em uma situação em que há múltiplas camadas de armazenamento de informação no mesmo disco ótico, mesmo se as trilhas tiverem a mesma 5 largura entre as respectivas camadas de armazenamento de informação, as densidades lineares de armazenamento também poderiam ser diferentes de uma camada para a outra, pela variação uniformemente dos comprimentos de marca em uma base de camada por camada.
Cada trilha 512 é dividida em uma grande quantidade de blocos
513 a rada 64 kb (quilobytes), o que è a unidade de armazenamento de dados. E àqueles blocos são dados endereços de bloco sequenciais. Cada um destes blocos 513 é subdividido em três sub-blocos, cada um tendo um comprimento predeterminada. Aos três sub-blocos são atribuídos os números de sub-blooo de 0. 1 e 2 nesta ordem.
Densidade de Anuazenarnenío
A partir deste ponto, a densidade de armazenamento será descrita com referência às figuras 20(a), 20(b), 21 e 22.
A figura 20(a) ilustra urn exemplo de urn BD de 25 GB, para o qual é suposto que o feixe de laser 200 tenha um comprimento de onda de 20 405 nm e a lente objetiva 220 è suposta como tendo uma abertura numérica (NA) de 0,85.
Gomo em um DVD, os dados também são escritos na trilha 512 de um BD como uma série de marcas 520. 521 que são produzidas como resultado de uma vocação física. A mais curta desta série de marcas será 25 referida aqui como a “marca mais curta. Na figura 20(a), a marca 521 ê a marca mais curta.
Em um BD com uma capacidade de armazenamento de 25 GB. a marca mais curta 521 tem um comprimento físico de 0.149 um, o qua! é de aproximadamente 1/2,7 da marca mais curta de um DVD. E mesmo se a resolução de um feixe de laser for aumentada pela mudança dos parâmetros de um sistema ótico, tal como o comprimento de onda (405 nm) e a NA (0,85), este valor ainda estará bastante próxima do limite de resolução ótica, abaixo du qual as marcas de gravação nâa são mais reconhecíveis para u feixe de luz.
A figura 21 ilustra um estada que um ponto de feixe de luz foi formado na série da marcas de gravação na trilha 512. Em um 3D, e ponta 5 de feixe de luz 210 tem um diâmetro de em forno de 9,39 pm, o qual pode variar com os parâmetros do sistema ótico. Se a densidade linear de armazenamento for aumentada sem a mudança das estruturas du sistema ótico, então, as marcas de gravação se retrairão para o mesmo tamanho de ponto do ponto de feixe de luz 210 e a resolução de leitura diminuirá.
Por outro lado, a figura 20(b) ilustra um exemplo de um disco ótico com uma densidade de armazenamento ainda mais alta do que um BQ de 25 GB. .Mas, mesmo para urn disco como esse, u feixe de laser 200 também á suposto como tendo um comprimento de cnda de 405 nrn e a lente objetiva 220 também é suposta come tendo uma abertura numérica (NA) de 15 0,85. Dentre a série de marcas 524, 52.5 de um disco como esse, a marca mais curta 525 tern um comprimento físico de 0.1115 pm. Se comparada com a figura 20(a), o tamanho de ponte permanece aproximadamente de 0,39 pm, mas as marcas de gravação e o intervale entre as marcas se retraíram. Comu resultado, a resolução de leitura também diminuirá.
Quanto mais curta uma marca de gravação, menor a amplitude de um sinal de leitura a ser gerado quando a marca de gravação for varrida com um feixe de luz.. E. s amplitude vai para zero quando o cumprimento de marca fica igual ao limite de resolução ética. Q número inverso de um periodo destas mamas de gravação é denominado uma frequência espacial e uma relação entre a frequência espacial e a amplitude de sinal é denominada uma função de transferência ótica (0TF). Conforme a frequência espacial sobe, a amplitude de sinal diminui quase que de forma linear. E o limite legível nu qual a matéria-prima do sinal vai para zero é denominada um norte de OTF.
A figura 22 è um gráfico que mostra como a OTF de um BD com uma capacidade de armazenamento de 25 GB muda com u comprimento de marca de gravação mais curto. A frequência espacial da marca mais curta em um BQ é de aproximadamente 80% e ê bastante próxima da frequência de cede da OTF. Também pode ser visto que um sinal de leitura que repre' santa a mama mais curta tem uma amplitude que é tão pequena quanto aproxlmadamente 10% da amplitude máxima detectável. A capacidade de 5 armazenamento na qual a frequência espadai da marea mais curta em um
8D é muito próxima da frequência de corte de OTF (isto é, a capacidade de armazenamento na qual o sinal de leitura não tem quase nenhuma amplitude) corresponde a aproximadamente 31 GB em um BO. Quando a frequência do sinal de leitura que representa a marca mais curta se torna próximo 10 da ou excede â frequência de corte de OTF. o limite de resolução ótica poderá ter sido alcançado ou mesma ultrapassado para o feixe de laser. Como resultado, o sinal de leitura vem a ter uma amplitude diminuída e a SNR cai agudamente,
É pur isso que o disco ôíicc de densidade de armazenamento aí15 ta mostrado na figura 20(b) feria sua densidade linear de armazenamento definida pela frequência do sinal de leitura representando a marca mais curta, u que pode se nas vizinhanças da frequência de corte de O FF (isto é, mais baixo do que. mas não signifinativamente mais baixo do que a frequência de corte de GTF) ou mais sita do que frequência de corte de OTF,
A figura 23 é um gráfico que mostra corno a amplitude de sinal muda corn a frequência espacial em uma situação em que a frequência espacial da marca mais curta (2T) ê mais alta do gue a frequência de corte de OTF e onde o sinal de leitura de 2T tem amplitude zero. Na figura 2.3, a frequência espacial da marea mais curta 2T é 1,12 vezes tão alta quanto a fre25 quència de corte de OTF.
Egi4çãp. enbe campnmentu.de pnda, NA e eomprimenio demarca
Um disco ótica com densidade de armazenamento alta precisa satisfazer à relação a seguir entre o comprimento de onda, a abertura nume30 rica e os comprimentos de marca / espaço.
Supunha que o número de marca mais curto seja TM nm e que u comprimento de espaço mais curto seja TS nm, a suma P do cumprimenta de marca mais curto e do comprimento de espaço mais curto será TM *· TS nm. No caso de modulação 17. P ~ 21 * 2T ~ 4T. Usando-se os tms parâ metros do comprimento de onda λ do feixe de laser (o qual é de 405 nm * 5 nm.. isto é, na faixa de 400 nm a 410 nm), a abertura numérica NA (a qual é 5 de 0,85 * 0,01, isto ê} na faixa de 0.84 a 0,86} e a soma P do cumprimento de marca mais curto e do comprimento da espaço mais curte (onde P ™ 2T * 2T ™ 4T nu caso de uma modulação 17, em que o comprimento mais curto é 2T). se o comprimento unitário T diminuir até o ponto em que a desigualdade P < λ / 2NA é satisfeita, então, a frequência espacial da marca mais curta excederá à frequência de curte de OTF,
Se NA ™ 0,85 e λ ™ 405, então, o cumprimento unitário da frequência de corte de OTF será calculado por:
T 405/ (2 X. 0.85)/4 ~ 58,558 nm.
Inversamente, se P > À > / 2NA for satisfeita, então, a frequência espacial da marca mais curta se tornará mais baixa do que a frequência de corte de O TF.
Conforme pode ser visto facilmente, apenas pelo aumento da densidade linear de armazenamento, a SNR. podería diminuir devido ao ilrni20 te de resolução ótica. Ê por Isso que se o número de camadas de armazenamento de informação per disco fosse aumentado excessívamente. então, a diminuição na SNR podería ser em um grau inadmissível, considerando-se a margem do sistema. Partícularmente. em temo de um ponto em que a frequência da marea de gravação mais curta excede à frequência de curte de 25 OTF',. a SNR começará a diminuir agudamente.
Na descrição precedente, a densidade linear de armazenamento foi descrita pela comparação da frequência do sinal de leitura representando a marca mais curta com a frequência de corte de OTF. Contudo, se a densidade de armazenamento de BDs for adicionalmente aumentada, então, a 30 densidade de armazenamento (e a densidade de armazenamento linear e a capacidade de armazenamento) poderá ser definida com base no mesmo princípio que aquele que foi recém descrito com referência á relação entre a frequência do sinal de leitura representando a segunda marca mais curta (ou a terceira marca mais curta ou mesmo uma marca ainda mais curta) e a frequência de corte de QTF.
Densidade de armazenamento e número de camadas
Um BD cujas especificações inciuem um comprimento de onda de 460 nm e uma abertura numérica de 0,85, pode ter uma ou mais das capacidades de armazenamento a seguir por camada, Especlficamente, se a frequência espacial das marcas mais curtas estiver na vizinhança da frequência de corte de OTF, a capacidade de armazenamento podería ser aproximadamente igual a ou mais alta do que de 29 GB (tal comc. 29 GB * 0,5 GB ou 29 GB 11 GB), aproximadamente igual a ou mais alta do que 30 GB (tal como, 30 GB £ 0,5 GB ou 30 GB t1 GB), aproximadamente igual a ou mais alta do que 31 GB (tal como, 31 GB t 0,5 GB ou 31 GB * 1 GB), aproximadamente igual a ou mais alta do que 3'2 GB (tal como, 32 GB * 0,5 GB cu 32 GB ± 1 GB).
Por outro lado, se a frequência espacial das marcas mais curtas for igual a eu mais alta do que a frequência de norte de OTF. a capacidade de armazenamento por camada podería ser aproximadamente iguai a ou mais alta da que 32 GB (tal como, 32 GB ± 0,5 GB ou 32 GB * 1 GB), aproximadamente igual a ou mais alta do que 33 GB (tal como, 33 GB * 0,5 GB ou 33 GB * 1 GB), aproximadamente Igual a ou mais alta do que 33,3 GB (tal como, 33.3 GB * 0.5 GB ou 33,3 GB * 1 GB), aproximadamente Igual a ou mais alta do que 33,4 GB (tal como. 33,4 GB χ 0,5 GB ou 33,4 GB * 1 GB), aproximadamente igual a ou mais alta do que 34 GB (tal como, 34 GB ± 0,5 GB ou 34 GB * 1 GB), aproximadamente igual a ou reais alta do que 35 GB (tal como. 35 GB 10.5 GB ou 35 GB χ 1 GB).
Neste caso, se a densidade de armazenamento por camada for de 33,3 GB, uma capacidade de armazenamento geral de aproximadamente 100 GB (mais exatamente. 99,9 GB) serà realizada pelas três camadas de armazenamento combinadas. Por outro lade, se a densidade de armazenamento por camada for de 33,4 GB. uma capacidade de armazenamento geral que é de mais de 100 GB (mais exatamente 100,2. GB) será realizada pelas três camadas de armazena mento combinadas. Uma capacidade de armazenamento como essa é quase igual à capacidade em uma situação - ern que quatro camadas de armazenamento, cada uma tendo uma densidade de armazenamento de 25 GB, são providas para um único BD. Per e~ 5 xemplo, se a densidade de armazenamento por camada for de 33 GB. a capacidade de armazenamento geral será de 33 x 3 ~ 95 GB., o que è exatamente 1 GB (ou menos) menor do que 100 GB. Por outro lado, se a densidade de armazenamento por camada for de 34 GB, a camada de armazenamento de geral será de 34 x 3 ~ 102 GB, o que é de 2 GB (ou menus) 10 maior do que 100 GB. Mais ainda, se a densidade de armazenamento por camada for de 33, 3 GB, a camada da annazenamento de geral será de 33,3 x 3 - 99,9 GB, o que ê de 0.1 GB (ou menos) maior do que 100 GB. Mais ainda, se a densidade de armazenamento por camada for de 33,4 GB, a camada de armazenamento de geral será de 33,4 x 3-- 100,2 GB., a que é 15 de 0,2 GB (ou menos) maior do que 100 GB.
Deve ser notado que se a densidade de armazenamento fosse aumentada significativamente, então, seria difícil realizar uma operação de leitura de forma acurada parque as marcas mais curtas devem ser iidas sub condições bastante severas. É por isto que uma densidade de armazena20 mento realistíca que realizasse uma camada de armazenamento geral de
100 GB uu mais sem aumenta da densidade de armazenamento demais seria de aproximadamente 33,4 GB per carnada.
Neste caso, o disco ótico pode ter uma estrutura em quatro camadas cam uma densidade de armazenamento de 25 GB por camada ou 25 uma estrutura ern três camadas com uma densidade de armazenamento de a 34 GB por camada. Se o número de camadas de armazenamento de informação empilhadas em um disco for aumentado, contudo, o sinal lido obtido a partir de nada uma daquelas camadas terá uma amplitude diminuída (ou uma SNR diminuída) e uma camada errante também será produzida 30 a partir daquelas camadas (isto é, o sinal de leitura obtido a partir de cada camada de armazenamento de informação sem afetado por um sinal obtido a partir de uma camada adjacente). Por essa razão, se urn disco de três camadas corn ama densidade de armazenamento de 33 a 34 GB per camada for adotado ao invés de urn disco de quatro camadas com uma densidade de armazenamento de 25 GB por camada, então, urna camada da armazenamento gerei de aproximadamente 100 GB será realizada pelo numero menor 5 de camadas (isto é, três, ao invés de quatro), corn a influencia dessa luz errante minimizada,. É por isso que um fabricante de disco que gostaria de realizar uma camada de armazenamento gerai de aproximadamente 100 GB, enquanto minimiza o número de camadas de armazenamento de informação empilhadas preferiría um disco de três camadas com uma densidade de ar10 mazenamento de 33 a 34 GB por- camada. Por outro lado, um fabricante de disca que gostaria de realizar urna camada de armazenamento geral de aproximadamente 100 GB usando a formato convencional coma estiver (isto é, uma densidade de armazenamento de 25 GB por carnada) poderia escolher um disco de quatro camadas com uma densidade de armazenamento 15 de 25 GB por camada. Desta maneira, os fabricantes com necessidades diferentes podenam obter suas metas usando estruturas mutuamente diferen tes e, portanto, leríam assegurada um grau aumentado de flexibilidade no projete da rxsoo.
Altemativamente, se a densidade de armazenamento por cama20 da for na faixa de 30 a 32 GB, a camada de armazenamento geral de um disco de três camadas será menor de 100 GB (isto é, de; aproximadamente 90 a 96 GB), mas aquela de um disco de quatro camadas será de 120 GB ou mais, Dentre outras coisas, se a densidade de armazenamento par camada for de aproximadamente 32 GB, um disco em quatro camadas terá
2.5 uma capacidade de armazenamento geral de aproximadamente 128 GB, o que è a sétima potência de dois que seda processada facilmente e convene entemente por um computador. Acima disso, se comparada com a capacidade de armazenamento geral da aproximadamente 100 GB realizada por um disco de três camadas, mesmo marcas mais curtas também poderiam 30 ser lidas sob condições menos severas, ê por isso que quando a densidade de armazenamento precisa ser aumentada, várias densidades de armazenamento diferentes por camada (tai coma aproximadamente 32 GB e aproximadamente 33,4 GB) são preferencialmente oferecidas como múltiplas opções da modo que um fabricante de disco possa projetar um disco da forma mais flexível pela adoção de uma daquelas múltiplas densidades de armazenamento e qualquer número 5 de camadas de armazenamento em uma combinação arbitrária. Por exemplo, a um fabricante que gostaria de aumentar a capacidade de armazenamento geral enquanto minimizaria a influência de camadas múltiplas empilhadas é oferecida uma opção de fazer um disco de três camadas com uma capacidade de armazenamento geral de aproximadamente 100 GB pelo em10 pilnamenfo de três camadas de armazenamento corn urna densidade de armazenamento de 33 a 34 GB por camada. Por outro lado, a um fabricante que gostaria de aumentar a capacidade de armazenamento geral enquanto minimizaria o impacto sobre o desempenhe de leitura è oferecida urna opção de fazer um disco de quatro camadas com uma capacidade de armazena15 mento geral de aproximadamente 120 GB pelo empilhamento de quatro camadas de armazenamento com uma densidade de armazenamento de 30 a 32 GB por camada.
Não importando quais destas duas estruturas é adotada para um
BD, a melhor potência de gravação pode ser determinada para cada camada 20 de armazenamento de informação pelo uso da estrutura de disco ótico da primeira ou da segunda modalidade preferida da presente invenção descrita acima. É por isto que mesmo se as marcas de gravação forem formadas de forma acurada para se lidar com uma densidade linear de armazenamento aumentada, uma operação de escrita também poderá ser realizada apropri25 adamente com a melhor potência de gravação.
APLICABILIDADE INDUSTRIAL
A presente invenção pode ser usada efetivamente em vários tipos de meios de armazenamento de informação e dispositivos de escrita de informação, e pude ser usada de forma partioularmente efetiva em um meie 30 de armazenamento de informação de gravação única ou regravável com três ou mais camadas de armazenamento da informação e um dispositivo de escrita de informação com um meio de armazenamento como esse.
LISTAGEM DE REFERÊNCIA
DO, Dl, D2, D3 area de dados
L0< LI, 12; L3 camada de armazenamento de Informação
RO, RI, R2, R3 área de entrada
TO, T1, T2( T3 zona de escrita de teste
110 substrato
111,112 camadas espaçadoras
113 camada de cobertura
Claims (13)
- REIVINDICAÇÕES1. Meso de armazenamento de informação com n camadas de ι armazenamento de informação (onde n é mn inteiro que ê igual a ou maior do que três), nas quais dados podem ser escritos com um feixe de laser e as . 5 quais são empilhadas urnas sobre as outras, em que cada uma das n camadas de armazenamento de informação tem urna zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe de laser, e em que quando aquelas n camadas de am^azenamento de in10 formação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície do meio no qual o feixe de laser é incidente, há urna maior diferença de localização radial entre a extremidade periférica externa da zona interna das zonas de escrita de teste da iésíma e da (í*1)-ésima camadas de armazenamento de informação (onde i é urn TS inteiro que satisfaz a 2 < i < n--1) e a extremidade periférica interna da outra zona de escrita de teste externa do que entre a extremidade periférica externa da zorra interna das zonas da escrita de teste de j-ésima e (e-l)-êsima camadas de armazenamento de informação (onde j é urn inteiro que satisfaz a Ί é' j é r-1) o a extremidade periférica Interna da outra zona de escrita de 20 teste externa,
- 2, Meio de armazenamento de informação que compreende pelo menos três camadas de armazenamento de informação, em que hà um espaço radial mais largo entre as respectivas zonas de escrita de teste de urn par de camadas de armazenamento de Infor25 maçâo adjacentes que estão localizadas mais próximas da superfície do meio no qual urn feixe de laser é incidente do que entre as respectivas zorras de escrita de teste de um outro par de camadas de armazenamento de informação adjacentes que estão localizadas mais distantes daquela superfície.
- 3Q 3. Meio de armazenamento de informação com n camadas de armazenamento de informação (onde n é urn inteiro que é igual a ou maior do que três), nas quais dados podem ser escritos com um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras, em que cada uma das n camadas de armazenamento de informação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe de laser, e5 em que quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície do maio no qual o feixe de laser é Incidente, há uma maior diferença de localização radial entre a extremidade periférica interna da zona interna das zonas de escrita de teste da ΚΙ O ésima o da (k^lj-êsima camadas de armazenamento de informação (onde k é um inteiro que satisfaz a 1 < k < n-2) e a extremidade periférica externa da outra zona de escrita de teste externa do que entre a extremidade periférica inferna da zona interna das zunas de escrita de teste de k~ésima e (k+2)ésima camadas do armazenamento da informação e a extremidade perifèríT5 sa externa da outra zona de escrita de teste externa.
- 4. Meio da armazenamento da informação, de acordo com a reivindicação 3, em qua n é quatro e k é um.
- 5. Meio de armazenamento de informação num n camadas de armazenamento de informação (onde n ê um inteiro que é igual a ou maior20 do que quatro), nas quais dados podem ser escritos com um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sabre as outras..em que cada uma das n camadas de armazenamento de informação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe de laser, e25 em que quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que estã localizada mais distante da superfície do meio no qual o feixe de laser é incidente, há urna maior diferença de localização radial entre a extremidade periférica interna da zuna interna das zonas de escrita de teste da kf30 èsíma s da (k!+1)-êsima camadas de armazenamento de informação (onde k! é um inteiro que satisfaz a 1 < k.: < n-3) e a extremidade periférica externa da outra zuna de escrita de teste externa do que entre a extremidade perifè rica interna ria zuna interna das zonas da escrita de teste de (k'+1)-èsíma e (k*3)-èsíma camadas da armazenamento de informação e a extremidade periférica externa da outra zona de escrita de teste externa.
- 6. Meio de armazenamento de informação com π camadas de5 armazenamento de informação (onde n é um intmro que è igual a ou maior do que três), nas quais dados podem ser escritos com um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras.em que cada uma das n camadas da armazenamento de informação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência 10 de g ravação de feixe de laser, e em que quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a parte de uma que estã localizada mais distante da superfície do meio no qual o feixe de laser ò incidente.a zona de escuta de teste da terceira camada de armazenamenT5 to de informação mais distante estã localizada mais próxima da borda externa do meio do que aquela da camada de armazenamento de informação mais distante está, e a zona de escrita de toste da camada de armazenamento de informação mais distante está localizada mais próxima daquela borda externa 20 do que aquela da segunda camada do armazenamento de informação mais distante está:,
- 7. Meio de armazenamento de informação, de acordo com a reivindicação 5, em que n é quatro.
- 8. Meio de armazenamento de informação com n camadas de25 armazenamento de informação (onde n é um inteiro que é igual a ou maior do que quatro), nas quais dados podem ser escritos corn um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras, em que cada uma das n carnadas de armazenamento de informação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência 30 de gravação do feixe de laser, e em que quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície do meio nu qual o feixe de laser è incidente, a zuna de escrita de teste da terceira camada de armazenamento de informação mais distante está localizada mais próxima da borda externa do meio do que aquela da segunda camada de armazenamento de informs mação mais distante estâ; e a zuna de escrita de teste da segunda camada de armazenamento de informação mais distante està localizada mais próxima daquela borda externa do que aquela da quarta camada de armazenamento de informação mais distante está.
- 10 9. Meie de armazenamento de informação com n camadas de armazenamento de informação (onde π è um inteiro que é igual a ou maior do que quatro), nas quais dados podem ser escritos com um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras, em que cada uma das n camadas de armazenamento de inforT5 mação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe de laser, e em que quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície do meio no qual o feixe de laser é incidente,20 a zona de escrita de teste da terceira camada de armazenamento de informação mais distante está localizada mais próxima da borda externa do meio do que aquela da camada de armazenamento de informação mais distante está, e a zona de escrita de teste da camada de armazenamento de in25 formação mais distante está localizada mais próxima daquela borda externa do que aquela da quarta camada de armazenamento de informação mais distante está,10. Meio de armazenamento de informação com n camadas de armazenamento de informação (onde n é um inteiro que é igual a ou maior 39 do que três), nas quais dados podem ser escritos corn um feixe de laser e as quais são empilhadas umas sobre as outras, em que oada uma das n camadas de armazenamento de infor mação tem uma zona de escrita de teste para a determinação da potência de gravação do feixe de laser, as zonas de escrita de teste sendo dispostas em localizações radiais mutaamente diferentes, e em que cada zona de escrita de teste tem uma pluralidade de 5 subareas, e em que quando aquelas n camadas de armazenamento de informação são contadas a partir de uma que está localizada mais distante da superfície do rneío no qual o feixe de laser è incidente, uma iésima camada de armazenamento de informação (onde i é 10 um numero par que satisfaz a 2 < I < n) é varrida com a feixe de laser· em direção à borda interna do meio, mas ais subáreas de sua zona de escrita de teste são usadas em direção à borda externa do meio, e uma (i-l)-ésima camada de armazenamento de informação è varrida com o feixe de laser em direção á borda externa do meta, mas as 15 subareas de sua zorra de escrita de teste são usadas em direção à borda mterna do meio,
- 11. Dispositivo de leitura de informação para a realização de uma operação de leitura em um meio de armazenamento de informação co mo definido em qualquer urna das reivindicações 1 a 10,20 em que o meio de armazenamento de informação tem uma área de controle em pelo menos uma das n camadas de armazenamento de informação do mesmo, e em que o dispositivo realiza pelo morros uma das etapas de;recuperação de uma informação sobre o meio de arrnazenamen25 to de informação a partir da área de controle: e leitura de dadas que foram escritos em qualquer uma das n camadas de armazenamento de informação com uma potência de gravação que foi regulada com a zona de escrita de teste daquela camada.
- 12. Dispositivo de escrita de informação para a realização de30 urna operação de escrita em um meio de armazenamento de informação como definida em qualquer uma das reivindicações 1 a 10, em que o dispositivo determina a potência de gravação do feixe de laser usando a zona de escnta de teste de uma das n camadas de armazenamento de informação, e em que o dispositivo escreve dados naquela camada pela Irradiação da meio com o feixe de laser que teve sua potência de gravação de5 terminada.r
- 13. Método de leitura para a realização de uma operação de leitura em um maio de armazenamento de informação corno definida em qualquer uma das reivindicações 1 a 10, ern que o meio de armazenamento de informação tem uma area 10 de controle em pelo menos uma des n camadas de armazenamento de informação do mesmo, e em que o método inclui pelo menos uma das etapas de: recuperação de uma informação sobre o meio de armazenamento de informação a partir da ãrea de controle; eT5 leitura de dados que foram escritos em qualquer uma das n camadas de armazenamento de informação com uma potência de gravação que foi regulada com a zona de escrita de teste daquela camada.
- 14. Método de escrita para a escrita de dados em um meio de armazenamento de informação como definido em qualquer uma das reivindi-20 cações 1 a 10.em que o método compreende as etapas de;determinação da potência de gravação do feixe de laser usando a zona de escrita de teste de uma das n camadas de armazenamento de informação; e25 escrita de dados naquela camada pela irradiação do meio com o feixe de laser que teve sua potência de gravação determinada.
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