Appareil de projection destiné au contrôle de pièces dont l'image est projetée sur l'écran.
L'objet de la présente invention est un appareil de projection destiné au contrôle de pièces dont l'image est projetée sur l'écran.
Pour un contrôle de ce genre, on peut mesurer les dimensions de l'image avec une règle de précision graduée et déduire de ces mesures, en tenant compte du grossissement de la projection, les dimensions réelles de la pièce. Ce procédé est un peu compliqué.
On emploie aussi souvent le procédé qui consiste à placer sur l'écran de projection un moyen de repérage, par exemple un dessin exact, convenablement agrandi, de l'objet et de vérifier la conformité de l'image avec le moyen de repérage. Les écarts de conformité sont alors mesurés en déplaçant l'objet par rapport à l'axe de la projection, avec un dispositif micrométrique, jusqu'à ce que son image vienne en coïncidence avec le moyen de repérage. Ce dernier procédé est celui qui est le plus fréquemment employé, mais il offre l'inconvénient que le dispositif micrométrique, agissant sur la position de l'objet par rapport à l'axe du systéme optique, doit fonctionner avec un degré de précision correspondant au fort grossissement normalement obtenu par la projection.
Ce degré de précision est de l'ordre du millième de millimètre, car on peut, avec une optique de qualité grossissant 100 fois, apprécier à 0,1 mm près la position d'un point de l'image sur l'écran. I1 est très- malaisé et coûteux de cons- truire un dispositif micrométrique exact à 0;001 mm sur un appareil de projection.
La présente invention élimine cet inconvénient par la présence d'au moins un dispositif micrométrique agissant sur la position d'un moyen de repérage, sur lequel l'image de la pièce contrôlée est projetée et servant à mesurer les écarts de dimension entre l'image de la pièce et le moyen de repérage.
L'on fait ainsi bénéficier la précision des mesures de la valeur du grossissement em ployé. En ex effet, si l'erreur du dispositif mi- crométrique agissant sur la position du moyen de repérage, et non plus sur la position de l'objet, est de 0,1 mm par exemple, lorsque l'on utilise un grossissement de 100 fois, une erreur de 0,1 mm dans l'appréciation de la dimension de l'image ne correspond qu'là une erreur de 0,001 mm dans l'appréciation de la dimension de la pièce contrôlée. On réalise donc ainsi un progrès technique notable par rapport aux dispositifs connus.
Le dessin annexé représente, à titre d'exemple, une forme d'exécution de l'objet de l'invention.
La fig. 1 en est une élévation en coupe.
Les fig. 2 et 3 en sont des vues de détail.
Dans l'exemple représenté schématiquement, 1 est l'écran translucide sur lequel le dispositif de repérage 2, constitué par une plaque transparente portant des repères appropriés, est fixé par un moyen quelconque
L'écran 1 est maintenu dans un cadre 3 mobilé dans une direction sur un coulisseau 4, sous l'action du dispositif micrométrique représenté schématiquement par une vis 5 munie d'une tête graduée 6 et maintenue par un palier 7 sur le coulisseau 4. Le filetage de la vis 5 est en prise avec le cadre 3.
Le coulisseau 4 est mobile dans une direction perpendiculaire à celle du déplacement du cadre 3 et se déplace sur le bâti 11 sous l'effet d'un deuxième dispositif micrométrique visible en fig. 2. Ce dispositif peut être constitué, comme le premier, par une vis micrométrique 8 s'engageant par son filetage dans le coulisseau 4, portée par un palier 9 solidaire du bâti et munie d'une tête graduée 10.
Les dispositifs micrométriques peuvent aussi être constitués, par exemple, par une réglette graduée avec vernier ou microscope de lecture, ou par un comparateur avec aiguille mobile sur un cadran.
Le guidage du cadre mobile 3 et celui du coulisseau 4 peuvent être obtenus par des moyens connus, tels que, par exemple, queue d'aronde, billes ou rouIeaux.
Le bâti 11 porte, comme d'habitude, un objectif 12, un montant vertical 13 contre lequel une table porte-objet 14 est mobile en hauteur ainsi qu'une source de lumière 15 équipée d'au moins un condensateur 16.
L'objet 17 est supporté par la table porteobjet 14 par l'intermédiaire d'un coulisseau 18 servant à amener l'objet approximativement en place par rapport à l'axe de projection.
Le moyen de repérage peut aussi être constitué soit par un dessin agrandi de la pièce, comme d'habitude, soit par un quadrillage 20 tracé avec précision sur l'écran et formant des carrés d'un centimètre de côté, par exemple. I1 suffira, dans ce cas, que les dispositifs micrométriques aient également une course de 1 cm, afin que, par l'usage combiné du quadrillage et des dispositifs micrométriques, on soit à même d'effectuer la mesure précise d'une dimension quelconque de la pièce dans les limites permises par celle de l'éeran.
REVENDICBTION:
Appareil de projeetion destiné au contrôle de pièces dont l'image est projetée sur l'écran, caractérisé par la présence d'au moins un dispositif micrométrique agissant sur la position d'un moyen de repérage, sur lequel l'image de la pièce contrôlée est projetée et servant à mesurer les écarts de dimension entre l'image de la pièce et le moyen de repérage.