CH248849A - Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege. - Google Patents

Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege.

Info

Publication number
CH248849A
CH248849A CH248849DA CH248849A CH 248849 A CH248849 A CH 248849A CH 248849D A CH248849D A CH 248849DA CH 248849 A CH248849 A CH 248849A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
objects
determining
coating material
residual stress
test piece
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Mbh Draeger-Gesellschaft
Original Assignee
Draeger Ges Mbh
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Draeger Ges Mbh filed Critical Draeger Ges Mbh
Publication of CH248849A publication Critical patent/CH248849A/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description


  
 



  Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege.



   Es ist ein Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen bekannt, bei dem die Anderung der Netzebenenabstände des Prüflings unter dem Einfluss der durch die Eigenspannung bedingten Verformungen auf röntgenographischem Wege gemessen werden, wobei durch Anbringen von Einsehnitten der Spannungszustand   des Pruf-    lings geändert wird. Diese röntgenographische Methode hat jedoch den Nachteil, dass sie bei allen Werkstoffen versagt, die kein zur röntgenographischen Untersuchung geeignetes Gefüge besitzen. So ist sie beispielsweise für die   Bestimmung    der Eigenspannung gehärteter oder vergüteter Stähle, kalt verformter Metalle oder für die Bestimmung der Eigenspannung von Werkstoffen eines nicht kristallinen Aufbaues nicht anwendbar.



   Die vorliegende Erfindung bezweckt, diesen   tbelstand    zu vermeiden. Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf   röntgenographischem    Wege, welches dadurch gekennzeichnet ist, dass mindestens ein Teil des zu untersuchenden Prüflings mit einem festhaftenden, Verformungen des Prüflings folgenden kristallinen Überzug versehen wird, dass dann durch Anbringen von Einschnitten in den Prüfling dessen Spannungszustand geändert wird, worauf die dadurch bedingten Verformungen des kristallinen Überzuges röntgenographisch gemessen werden. Die Anbringung von Einschnitten kann beispielsweise in bekannter Weise durch Ausbohren oder durch Anbohren oder durch Zerschneiden des Prüflings erfolgen.



   Es hat sich gezeigt, dass die   Messgenauig-    keit des erfindungsgemässen Verfahrens weitaus grösser ist als diejenige eines mechanischen   Messverfahrens,    bei dem die Verformungen des Prüflings mittels   Feindehnungs-    messern gemessen werden, was insbesondere bei kleinen Messlingen (oder gekrümmten Flächen) oft sehr schwierig ist. Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass die Anbringung irgendwelcher Messmarken am Prüfling entfällt. Demgegenüber ist das Aufbringen eines fest haftenden, der Verformung folgenden, kristallinen Überzuges wesentlich einfacher.



  Dies kann nach bekannten Verfahren beispielsweise auf elektrolytischem Wege, durch   athodenzerstäubung,    durch Spritzen, Tauchen usw, geschehen.



   Nach der Messung der Verformung des   tberzugstoffes    ist nun auf rechnerischem Wege unter Berücksichtigung der Gestaltung des Prüflings an der untersuchten Stelle und der Art der mechanischen Veränderung des Grundkörpers die Bestimmung der Eigenspannung in dem Prüfling nach Grösse und Richtung auf bekannte Weise möglich. Das Verfahren besitzt alle bekannten Vorteile, die der röntgenographischen Spannungsmessung eigen sind, wie beispielsweise die kleine Mess  länge, die Einfachheit der Durchführung, die Möglichkeit der schiefen Einstrahlung zur Messung der Spannung nach Grösse und Richtung usw.



   Eine   röntgenographische    Untersuchung des   iJberzugsltoffes    vor der Verformung ist nicht notwendig, da derselbe praktisch keine Eigenspannungen aufweisen wird.



   Das erfindungsgemässe Verfahren ist nicht auf Messungen an kristallinen Körpern beschränkt, sondern kann mit besonderem Vorteil auch zur Bestimmung der Eigenspannung amorpher   I(örper,    wie beispielsweise Glas, durchgeführt werden.



   Der Verformungszustand des' Überzugstoffes wird vorzugsweise durch Messung der Änderungen der Netzebenenabstände des   Uberzugstoffes    röntgenographisch bestimmt.



  Der Verformungszustand kann auch durch Messung der peripheren Interferenzpunktbreite oder durch Messung der radialen Interferenzlinienbreite des Überzugstoffes erfolgen.



   Als   Metallüberzüge    können reine oder legierte Metalle verwendet werden, wobei zweckmässig die Korngrösse und die Art des   tberzugstoffes    dem jeweils gewählten Unter  suehungsverfahren    angepasst wird. Der Überzugstoff kann auf verschiedene Art und Weise aufgebracht werden, beispielsweise durch Elektrolyse, durch   Kathodenzerstäu-    bung, durch Spritzen, Tauchen oder dergleichen. Als Überzugmetalle kommen neben Chrom, Nickel, Kupfer oder Chrom-Nickel Legierungen vorzugsweise Silber, Gold oder Rhodium in Frage. Im allgemeinen wird zur Durchführung der   röntgenographiseben    Untersuchung eine Strahlungsart verwendet, die mit dem jeweiligen Überzugstoff wenigstens eine intensivere Interferenz mit einem Glanzwinkel von nahezu 900 ergibt.

   Bei dieser Ausführungsform des Verfahrens werden   Interferenzen    erzielt, die sich besonders einfach und exakt ausmessen lassen. Die   I(orn-    grösse des   Überzugstoffes    richtet sich vornehmlich nach der Art des verwendeten röntgenographischen Untersuchungsverfahrens, z. B. erfordert eine Verformungsmessung mit   Hilfe    der Messung der Netzebenenabstandsänderungen im allgemeinen einen feinkörnigeren Überzugstoff als eine solche Messung mit Hilfe des Verfahrens der peripheren Interferenzpunktbreite.   

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH : Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgeno graphischem Wege, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Teil des zu untersuchenden Prüflings mit einem festhaftenden, Verformungen des Prüflings folgenden kristallinen Überzug versehen wird, dass dann durch Anbringen von Einschnitten in den Prüfling dessen Spannungszustand geändert wird, worauf die dadurch bedingten Verformungen des kristallinen Überzuges röntgenographiseh gemessen werden.
    UNTERANSPRÜOHE: 1. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass als Überzugstoff Silber verwendet wird.
    2. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass als Überzugstoff Gold verwendet wird.
    3. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass als Überzugstoff Rhodium verwendet wird.
CH248849D 1942-10-16 1943-11-05 Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege. CH248849A (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE248849X 1942-10-16

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH248849A true CH248849A (de) 1947-05-31

Family

ID=5935657

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH248849D CH248849A (de) 1942-10-16 1943-11-05 Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege.

Country Status (1)

Country Link
CH (1) CH248849A (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1005743B (de) Verfahren zur Messung der Dicke von Auflagen aus Metall oder anderen Werkstoffen mittels einer Betastrahlenquelle
DE3144379C2 (de) Verfahren zur Durchführung von Rißuntersuchungen und Prüfkörper zur Durchführung des Verfahrens
DE2749836B2 (de) Zerstörungsfreie Prüfung der Ermüdung von Bauteilen
CH248849A (de) Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege.
DE102012021484B3 (de) Verwendung eines Kalibrierstandards in einem Röntgenfluoreszenz-Analysegerät
EP0352423B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Texturanalyse
CH403341A (de) Röntgengerät zur Feinstrukturuntersuchung von Materialien nach der Rückstrahlmethode
DE2063913C3 (de) Verfahren zum Bestimmen der Lebensdauer von Konstruktionselementen
EP0061808A2 (de) Vorrichtung zur Prüfung von Körpern mit periodischen Strukturen
CH227821A (de) Verfahren zur Untersuchung des Verformungszustandes eines Prüfkörpers auf röntgenographischem Wege.
DE1094987B (de) Vorrichtung zum Messen der Staerke eines UEberzuges auf einem Grundmaterial
DE801863C (de) Verfahren zur Anfertigung von Lehren, insbesondere von Ringlehren, und durch dieses Verfahren angefertigte Lehren
DE102010043028A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur röntgendiffraktometrischen Analyse bei unterschiedlichen Wellenlängen ohne Wechsel der Röntgenquelle
DE513225C (de) Eichvorrichtung fuer Strahlungsmesser
DE1589843C3 (de) Verfahren zur Ortung eines radioaktiv markierten Organes des menschlichen oder tierischen Körpers
DE815555C (de) Haertepruefer zur Bestimmung der Haertezahl aus der aufgewendeten Belastung
DE308106C (de)
DE887909C (de) Leuchtschirm
DE870763C (de) Vorrichtung zum Messen der Dicke von Draehten und aehnlichen Gegenstaenden, insbesondere von Lackdraehten
AT332660B (de) Verfahren zur bestimmung der versprodungstemperatur ferritisch-perlitischer baustahle
AT215708B (de) Gerät zur Messung innerer Werkstoffspannungen
DE1928572A1 (de) Verfahren zur Messung der Rauhigkeit
DE202007000756U1 (de) Kalibrierstandard
DE1573576C (de) Vorrichtung zur Prüfung von bewegten Werkstucken unterschiedlicher Abmessung mit tels Ultraschall
DE2606421A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum erkennen der walzrichtung bei gewalztem metall