CH248849A - Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege. - Google Patents
Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege.Info
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Description
Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege. Es ist ein Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen bekannt, bei dem die Anderung der Netzebenenabstände des Prüflings unter dem Einfluss der durch die Eigenspannung bedingten Verformungen auf röntgenographischem Wege gemessen werden, wobei durch Anbringen von Einsehnitten der Spannungszustand des Pruf- lings geändert wird. Diese röntgenographische Methode hat jedoch den Nachteil, dass sie bei allen Werkstoffen versagt, die kein zur röntgenographischen Untersuchung geeignetes Gefüge besitzen. So ist sie beispielsweise für die Bestimmung der Eigenspannung gehärteter oder vergüteter Stähle, kalt verformter Metalle oder für die Bestimmung der Eigenspannung von Werkstoffen eines nicht kristallinen Aufbaues nicht anwendbar. Die vorliegende Erfindung bezweckt, diesen tbelstand zu vermeiden. Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege, welches dadurch gekennzeichnet ist, dass mindestens ein Teil des zu untersuchenden Prüflings mit einem festhaftenden, Verformungen des Prüflings folgenden kristallinen Überzug versehen wird, dass dann durch Anbringen von Einschnitten in den Prüfling dessen Spannungszustand geändert wird, worauf die dadurch bedingten Verformungen des kristallinen Überzuges röntgenographisch gemessen werden. Die Anbringung von Einschnitten kann beispielsweise in bekannter Weise durch Ausbohren oder durch Anbohren oder durch Zerschneiden des Prüflings erfolgen. Es hat sich gezeigt, dass die Messgenauig- keit des erfindungsgemässen Verfahrens weitaus grösser ist als diejenige eines mechanischen Messverfahrens, bei dem die Verformungen des Prüflings mittels Feindehnungs- messern gemessen werden, was insbesondere bei kleinen Messlingen (oder gekrümmten Flächen) oft sehr schwierig ist. Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass die Anbringung irgendwelcher Messmarken am Prüfling entfällt. Demgegenüber ist das Aufbringen eines fest haftenden, der Verformung folgenden, kristallinen Überzuges wesentlich einfacher. Dies kann nach bekannten Verfahren beispielsweise auf elektrolytischem Wege, durch athodenzerstäubung, durch Spritzen, Tauchen usw, geschehen. Nach der Messung der Verformung des tberzugstoffes ist nun auf rechnerischem Wege unter Berücksichtigung der Gestaltung des Prüflings an der untersuchten Stelle und der Art der mechanischen Veränderung des Grundkörpers die Bestimmung der Eigenspannung in dem Prüfling nach Grösse und Richtung auf bekannte Weise möglich. Das Verfahren besitzt alle bekannten Vorteile, die der röntgenographischen Spannungsmessung eigen sind, wie beispielsweise die kleine Mess länge, die Einfachheit der Durchführung, die Möglichkeit der schiefen Einstrahlung zur Messung der Spannung nach Grösse und Richtung usw. Eine röntgenographische Untersuchung des iJberzugsltoffes vor der Verformung ist nicht notwendig, da derselbe praktisch keine Eigenspannungen aufweisen wird. Das erfindungsgemässe Verfahren ist nicht auf Messungen an kristallinen Körpern beschränkt, sondern kann mit besonderem Vorteil auch zur Bestimmung der Eigenspannung amorpher I(örper, wie beispielsweise Glas, durchgeführt werden. Der Verformungszustand des' Überzugstoffes wird vorzugsweise durch Messung der Änderungen der Netzebenenabstände des Uberzugstoffes röntgenographisch bestimmt. Der Verformungszustand kann auch durch Messung der peripheren Interferenzpunktbreite oder durch Messung der radialen Interferenzlinienbreite des Überzugstoffes erfolgen. Als Metallüberzüge können reine oder legierte Metalle verwendet werden, wobei zweckmässig die Korngrösse und die Art des tberzugstoffes dem jeweils gewählten Unter suehungsverfahren angepasst wird. Der Überzugstoff kann auf verschiedene Art und Weise aufgebracht werden, beispielsweise durch Elektrolyse, durch Kathodenzerstäu- bung, durch Spritzen, Tauchen oder dergleichen. Als Überzugmetalle kommen neben Chrom, Nickel, Kupfer oder Chrom-Nickel Legierungen vorzugsweise Silber, Gold oder Rhodium in Frage. Im allgemeinen wird zur Durchführung der röntgenographiseben Untersuchung eine Strahlungsart verwendet, die mit dem jeweiligen Überzugstoff wenigstens eine intensivere Interferenz mit einem Glanzwinkel von nahezu 900 ergibt. Bei dieser Ausführungsform des Verfahrens werden Interferenzen erzielt, die sich besonders einfach und exakt ausmessen lassen. Die I(orn- grösse des Überzugstoffes richtet sich vornehmlich nach der Art des verwendeten röntgenographischen Untersuchungsverfahrens, z. B. erfordert eine Verformungsmessung mit Hilfe der Messung der Netzebenenabstandsänderungen im allgemeinen einen feinkörnigeren Überzugstoff als eine solche Messung mit Hilfe des Verfahrens der peripheren Interferenzpunktbreite.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH : Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgeno graphischem Wege, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Teil des zu untersuchenden Prüflings mit einem festhaftenden, Verformungen des Prüflings folgenden kristallinen Überzug versehen wird, dass dann durch Anbringen von Einschnitten in den Prüfling dessen Spannungszustand geändert wird, worauf die dadurch bedingten Verformungen des kristallinen Überzuges röntgenographiseh gemessen werden.UNTERANSPRÜOHE: 1. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass als Überzugstoff Silber verwendet wird.2. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass als Überzugstoff Gold verwendet wird.3. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass als Überzugstoff Rhodium verwendet wird.
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1943
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