CH227821A - Verfahren zur Untersuchung des Verformungszustandes eines Prüfkörpers auf röntgenographischem Wege. - Google Patents
Verfahren zur Untersuchung des Verformungszustandes eines Prüfkörpers auf röntgenographischem Wege.Info
- Publication number
- CH227821A CH227821A CH227821DA CH227821A CH 227821 A CH227821 A CH 227821A CH 227821D A CH227821D A CH 227821DA CH 227821 A CH227821 A CH 227821A
- Authority
- CH
- Switzerland
- Prior art keywords
- test body
- deformation state
- coating
- deformation
- coating material
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 21
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 19
- 238000002601 radiography Methods 0.000 title 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 18
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 17
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 5
- 229910018493 Ni—K Inorganic materials 0.000 claims 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910007572 Zn-K Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 239000005060 rubber Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20008—Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1016—X-ray
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/607—Specific applications or type of materials strain
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/61—Specific applications or type of materials thin films, coatings
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Verfahren zur Untersuchung des Yerformungszustandes eines Prüfkörpers auf röntgenographischem Wege.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Untersuchung des Verformungszustandes eines Prüfkörpers auf röntgenographischem Wege.
Bei einer elastischen Verformung irgendeines kristallinen Gefüges, zum Beispiel eines aus Metall bestehenden Werkstückes, erfahren die Kristalle je nach dem Verformungsgrad eine mehr oder minder starke homogene Gitterverformung. Aus der Änderung der Gitterabmessungen kann man auf die Grole der Verformung des kristallinen Gegenstandes schliessen. Es ist bekannt, diese homogenen Gitterverformungen, die ja eine Xnde- rung der Netzebenenabstände bedeuten, auf röntgenographischem Wege zur Verformungsund damit auch zur Spannungsmessung zu verwenden. Die Aufnahmen können als Rück- strahlaufnahmen mit einem ebenen, kegelförmigen oder zylindrischen Film durchgeführt werden.
Die genaue Auswertung des Verfahrens erfordert die Ausmessung der Interferenzen auf mindestens 0,01 mm. Besonders in zwei Fällen bereitet die Ausmessung der Interferenzen grosse Schwierigkeiten bezw. wird sie sogar ganz unmöglich. Bei dem einen Fall handelt es sich um die Verformung von äusserst feinkristallinen Gefügen oder von solchen Gefügen, deren Gitter sehr stark gestört sind, wie zum Beispiel von ge härteten oder hochvergüteten Stählen. Im zweiten Fall handelt es sich um Werkstücke, die ein verhältnismässig grobkristallines Gefüge aufweisen. Derartige grobe Gefüge bestehen aus Kristalliten, deren Eantenlänge etwa 10, u oder mehr beträgt.
Im erstgenannten Fall sind die Interferenzen, die man erhält, sehr verwaschen.
Dies macht eine exakte Bestimmung des Schwärzungsmaximums praktisch unmöglich.
Im zweiten Fall erhält man durch den zu sätzlichen Einfluss der Brechung der Rönt- genstrahlen an den Kornoberflächen der gro- ssen Kristallite Interferenzen, die von der theoretischen Lage erheblich abweichen kön- nen und damit eine präzise Bestimmung der Gitterkonstanten unmöglich machen.
Abgesehen von den genannten Fällen ist eine Verformungsmessung mit den üblieherweise zu diesem Zweck verwendeten grossen Glanzwinkeln dann nicht durchführbar, wenn keine geeignete Röntgenstrahlung zur Ver fügung steht, um von dem untersuchten Werkstoff Interferenzen mit einem Glanzwinkel von nahezu 90 zu erreichen. Dies ist zum Beispiel der Fall bei der Prüfung von Legierungen, die Titan enthalten.
Bei einem andern ebenfalls bekannten Verfahren erfolgt die Bestimmung des Verformungszustandes durch Messung der Breite der Interferenzpunkte in tangentialer Richtung. Die Aufnahmen können als Rück- strahlaufnahmen mit Planfilm, Kegelfilm oder Zylinderfilm durchgeführt werden. Dieses bekannte Verfahren ist naturgemäss nur auf solche Werkstoffe beschränkt, die im Rückstrahlverfahren Interferenzen liefern, die in einzelne Interferenzpunkte aufgelost sind. Es versagt zum Beispiel bei allen ge- härteten und legierten Stahlen.
SchlieBlich ist es auch bekannt, den Verformungszustand durch Messung der Breite der kantig begrenzten Interferenzlinien zu untersuchen. Dieses Verfahren setzt eine scharfe Linienbegrenzung der Interferenzlinien des Prüfkörpers voraus. Es versagt dann, wenn keine scharfe Linienbegrenzung vorhanden ist, zum Beispiel bei allen Elementen mit hoher Ordnungszahl, zum Beispiel Blei.
Bei Werkstücken, die keine kristalline Struktur besitzen, wie etwa Holz, Glas, Gummi usw., schaltet eine röntgenogra- phische Verformungsmessung nach den bisher bekannten Methoden von vornherein aus.
Die Erfindung zeigt einen A\reg. wie mall der aufgezeigten Sehwierigkeiten Herr werden kann, und besteht darin, dass mindestens ein Teil des Prüfkörpers mit einem festhaftenden, der Verformung des Prtifkörpers fol genden, kristallinen Überzug versehen wird und dass der Verformungszustand des Prüfkörpers durch rontgenographische. Messung des Verformungszustandes des Uberzugstoffes untersucht wird.
Zweckmässig wird dafür Sorge getragen dass der tberzug in einer zusammenhängen- den Form auf den Prüfkörper aufgebracht wird. Man wird selbstverständlich den tuber- zugstoff so auswählen, dass sein thermischer Ausdehnungskoeffizient möglichst nicht wesentlich von demjenigen des Grundstoffes abweicht. In den meisten Fällen wird man einen Metallüberzug, und zwar aus reinem oder legiertem Metall benutzen, der in verschiedener Art und Weise auf den zu untersuchenden Prüfkörper aufgebracht werden kann, zum Beispiel auf elektrolytischem Wege, durch Isathodenzerstäubung durch Spritzen, Tauchen usw.
Die KorngrössedesÜberzugstoffesrichtet sich nach der Art des röntgenographischen Untersuchungsverfahrens, das benutzt wird.
So erfordert zum Beispiel eine Untersuchung durch Messung der Änderungen des Netzebenenabstandes im allgemeinen einen Überzugsstoff, der besonders feinkörnig ist.
Vorteilhaft wird die rontgenographische Verformungsmessung mit einer Strahlungs- art durchgefiihrt, die mit dem jeweiligen Uberzugstoff hauptsächlich Interferenzen eines GHanzwinkeIs vonnahezu90"ergibt.
Bei dieser Ausführungsform des Verfahrens werden Interferenzen erzielt, die sich besonders einfach und exakt ausmessen lassen.
Beispiele von Uberzugsstoffen und von Iiöntgenstrahlungen, mit denen sich hauptschlich Interferenzen eines Glanzwinkels von nahezu 90 erzielen lassen, sind etwa folgende :
Bei dem Verfahren nach der Erfindung werden nicht mehr die verformten Gitter des Werkstoffes selbst zur Messung herangezogen, sondern es werden die Verformungen der auf den Werkstoffen niedergeschlagenen festhaftenden Überzüge gemessen.
Dadurch können Werkstoffe, deren Gitter bisher eine exakte Ausmessung sehr erschwerte bezw. unmöglich machte oder die überhaupt keine Gitter besitzen, nunmehr rÏntgenogra- phisch untersucht werden. l3ieraus ergibt sich der weitere Vorteil, dass die verschiedensten Werkstoffe bei Verwendung des gleichen 'Uberzuges und der gleichen Strahlenart stets unter gleichen Aufnahmebedingungen und dadurch mit der gleichen Messgenauigkeit untersucht werden können.
Claims (1)
- PATENTAN SPRUCH : Verfahren zur Untersuchung des Verformungszustandes eines Prüfkörpers auf ront genographischem Wege, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Teil des Prüf- körpers mit einem festhaftenden, der Verformung des Prüfkörpers folgenden, kristallinen Überzug versehen wird und daB der Verformungszustand des Prüfkörpers durch röntgenographische Messung des Verfor mungszustandes des Uberzugstoffes untersucht wird.UNTERANSPRtCHE : 1. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Verformungszustand des Prüfkörpers durch Messung der Änderung der Netzebenenabstände des tuber- zugstoffes untersucht wird.2. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Verformungszustand des Prüfkörpers durch Messung der peripheren Breite der vom Uberzugstoff bewirkten Röntgenstrahlen-Interferenzpunkte untersucht wird.3. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Verformungszustand des Prüfkörpers durch Messung der Breite der vom Uberzugstoff bewirkten Rönt- genstrahlen-Interferenzlinien untersucht wird.4. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass auf den Prüfkörper ein Überzug aus reinem Metall aufgebracht wird.5. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass auf den Prüfkörper ein Überzug aus legiertem Metall aufgebracht wird.6. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Aufbringen desUberzugstoffeselektrolytisch erfolgt.7. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Aufbringen des Überzuges durchEathodenzerstäubung erfolgt.8. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass zur Durchführung der röntgenographischen Untersuchung eine Röntgenstrahlung verwendet wird, die mit dem jeweiligen Uberzugstoff hauptsächlich Interferenzen eines Glanzwinkels von nahezu 90 ergibt.Uberzugstoff Strahlung Glanzwinkel Gold Zn- : Ka, 84 25'51" Gold Ni-K a t 84 42'45" Silber Ni-K at 83 38'14" Silber Zn-K 83 24'6" Kupfer Co-ga 1 81 42' Wickel Fe-Kp 85 29'36"3 Molybdän Ni-K a t 80 12'46"
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DED0086477 | 1941-12-01 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CH227821A true CH227821A (de) | 1943-09-16 |
Family
ID=6832545
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CH227821D CH227821A (de) | 1941-12-01 | 1942-07-13 | Verfahren zur Untersuchung des Verformungszustandes eines Prüfkörpers auf röntgenographischem Wege. |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| BE (1) | BE446516A (de) |
| CH (1) | CH227821A (de) |
| FR (1) | FR884702A (de) |
-
1942
- 1942-07-13 CH CH227821D patent/CH227821A/de unknown
- 1942-07-20 BE BE446516D patent/BE446516A/fr unknown
- 1942-08-03 FR FR884702D patent/FR884702A/fr not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR884702A (fr) | 1943-08-25 |
| BE446516A (fr) | 1942-08-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0153786A2 (de) | Röntgengerät | |
| DE102011006588A1 (de) | Teilchenstrahlgerät mit Detektoranordnung | |
| DE2636145C3 (de) | Verfahren zum Bestimmen des Legierungsgrades von feuerverzinkten Stahlblechen | |
| CH227821A (de) | Verfahren zur Untersuchung des Verformungszustandes eines Prüfkörpers auf röntgenographischem Wege. | |
| DE2657439A1 (de) | Verfahren zum analysieren einer materialprobe aus einem isoliermaterial durch photoelektronische spektrometrie und probenhalter zur durchfuehrung des verfahrens | |
| DE102019115794B4 (de) | Röntgenfluoreszenz-Kalibrierprobe und Verfahren zum Kalibrieren eines Röntgenfluoreszenz-Messgeräts | |
| EP0061808A2 (de) | Vorrichtung zur Prüfung von Körpern mit periodischen Strukturen | |
| DE102016101988A1 (de) | Röntgenanalysator, Vorrichtung und Verfahren zur Röntgenabsorptionsspektroskopie | |
| DE1623050B2 (de) | Verfahren zur fluessigkeitsszintillationsspktrometrie und anordnung zu seiner durchfuehrung | |
| DE2003753A1 (de) | Blendenanordnung zur Begrenzung eines Roentgenstrahlenbuendels | |
| AT358846B (de) | Vorrichtung zur roentgenometrischen untersuchung von proben aus kolloiden strukturen | |
| DE887909C (de) | Leuchtschirm | |
| Brumme et al. | Influence of polarization of exciting X-radiation on sensitivity of energy dispersive X-ray fluorescence trace analysis at rocks and soils | |
| DE643828C (de) | Ionisationskammer zur Bestimmung von Dickenunterschieden an Werkstuecken mit Roentgenstrahlen | |
| Jenkins | A diffraction-beam-monochromator | |
| DE2549404C3 (de) | Verfahren zur Bestimmung vollständiger Flächenpolfiguren von Blechtexturen | |
| DE1589843C3 (de) | Verfahren zur Ortung eines radioaktiv markierten Organes des menschlichen oder tierischen Körpers | |
| Jörg Köstler et al. | Aussagefähigkeit von Messungen der Mangansulfidausbildung mit der quantitativen Bildanalyse | |
| DE19719473C2 (de) | Verfahren zur röntgendiffraktometrischen, zerstörungsfreien Bestimmung von dehnungsfreien Gitterparametern und/oder mechanischen Spannungszuständen | |
| CH248849A (de) | Verfahren zur Bestimmung der Eigenspannung von Gegenständen auf röntgenographischem Wege. | |
| DE2711793C3 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Metallkonzentration und des mittleren Oxidationsgrads eines Metalls mit Hilfe der Sekundärionenmassenspektroskopie (SIMS) | |
| DD270450A3 (de) | Verfahren zur röntgenographischen Bestimmung von Scherspannungen | |
| DE308106C (de) | ||
| DE966789C (de) | Verfahren zum Messen der Staerke duenner Schichten mittels Roentgenstrahlen | |
| Mueck et al. | Comparison of airborne detection methods of fragments of reactor supplied satellites |