CH336196A - Verfahren zur Beeinflussung des Strahlenganges im Ablesemikroskop eines Vermessungsinstrumentes - Google Patents

Verfahren zur Beeinflussung des Strahlenganges im Ablesemikroskop eines Vermessungsinstrumentes

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CH336196A
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Thurnheer Jakob
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Wild Heerbrugg Ag
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Description


      Verfahren    zur     Beeinflussung    des     Strahlenganges    im     Ablesemikroskop     eines     Vermessungsinstrumentes       Die vorliegende Erfindung betrifft ein     Verfahren     zur Beeinflussung des Strahlenganges     im    Ablese  mikroskop eines Vermessungsinstrumentes mit     Hilfe     mindestens einer Flüssigkeitsschicht und ein     Ablese-          mikroskop    zur Durchführung     dieses    Verfahrens.  



  Bei den Vermessungsinstrumenten, die mit einem  Höhenkreis versehen sind, kann die Neigung der  optischen Achse des     Zielfernrohres    gegenüber dem  Horizont oder gegenüber der     Lotrichtung    abgelesen  werden. Konstruktiv ist das meistens so gelöst, dass  sich der Höhenkreis     mit    dem Fernrohr dreht und der  Index für die     Kreisablesung    am     Fernrohrträger    be  festigt ist. Der Index muss natürlich so angeordnet  sein, dass man     tatsächlich    den gewünschten Winkel  fehlerfrei erhält.

   Das wäre leicht     möglich,    wenn  die mit dem     Fernrohrträger    fest verbundene Steh  achse des Instrumentes stets senkrecht stehen würde.  Diese Bedingung kann aber in der Praxis nicht  streng eingehalten werden, weshalb in den genaueren  Instrumenten dieser Art der Index nicht fest sondern  verstellbar eingebaut und     mit    einer     Libelle    versehen  wird. Man muss     dann    vor jeder     Kreisablesung    die  Libelle einspielen, um so unabhängig von einer etwai  gen     Schiefstellung    der Stehachse den richtigen Winkel  zu erhalten.

   In den modernen, sogenannten  opti  schen  Instrumenten werden für die     Kreisablesungen     Mikroskope benützt, welche die Teilkreise in einer       Messebene    abbilden, wo sie durch besondere Hilfs  teilungen oder     Messvorrichtungen    abgelesen werden  können. Aber auch bei Mikroskopen ist es nötig, den       Einfluss    einer     Schiefstellung    der Stehachse zu kom  pensieren. Dazu wird üblicherweise ein der Ab  lesung dienendes Prisma mit einer Libelle verbun  den, die vor jeder     Kreisablesung        einzuspielen    ist.  



  Die vorliegende Erfindung zeigt nun ein Verfah  ren, das die von einer     Schiefstellung    der Stehachse    herrührenden Fehler automatisch     korrigiert.    Es be  steht     darin,    dass die vom Höhenkreis     herkommenden     Lichtstrahlen beim Durchtritt durch die Flüssigkeits  schicht derart gesteuert werden, dass kleine Neigungs  änderungen des     Instrumentes    die     Ablesung    des an der  Neigungsänderung unbeteiligten Höhenkreises nicht  ändern.  



  Das     Ablesemikroskop    zur Durchführung dieses  Verfahrens ist dadurch gekennzeichnet, dass in dem  mindestens angenähert senkrecht verlaufenden Strah  lengang     mindestens    eine Flüssigkeitsschicht vorge  sehen ist, welche unten durch eine mit der Mikro  skopfassung verbundenen, durchsichtigen Begrenzung  abgeschlossen ist.  



  In den beiliegenden Zeichnungen ist eine bei  spielsweise Ausführungsform des Erfindungsgegen  standes dargestellt, wobei zeigen:       Fig.    1 die mit einem senkrecht stehenden Vermes  sungsinstrument fest verbundene     Ablesevorrichtung,          Fig.    2 einen senkrechten Schnitt durch die Vor  richtung gemäss     Fig.    1, entlang der     Schnittlinie        II-II,          Fig.3        die        Ablesevorrichtung    gemäss     Fig.    1 in  Schrägstellung.  



  Wird     innerhalb    eines optischen Strahlenganges  eine klare Flüssigkeit eingebracht, deren Oberfläche  sich unter dem Einfluss der Schwerkraft stets waag  recht einstellt, wird ein die Flüssigkeit lotrecht durch  setzender Lichtstrahl ungebrochen     hindurchgelassen.          Trifft    er hingegen unter einem Winkel zur     Lotrich-          tung    auf den Flüssigkeitsspiegel, so wird er gemäss  dem optischen Brechungsgesetz beim Austritt aus der  Flüssigkeit abgelenkt.  



  Ist der Winkel, den der durch die Flüssigkeit  aufsteigende Strahl mit der     Lotrichtung    einschliesst,  gleich     a,    und ist der Brechwert der Flüssigkeit gleich  n, so ist der Winkel     ss,    den der Strahl beim Austritt      aus der Flüssigkeit mit der     Lotrichtung        einschliesst,     durch die Gleichung       sin        ss    =<I>n</I> .     sin   <I>a</I>  bestimmt.  



  Sind die Winkel     ss    und<I>a</I> sehr klein, kann     sin        ,B   <I>=</I>     ,B     und     sin    a = a     gesetzt    werden,     womit          fl=n.a     ist, und     ,B   <I>></I> a, wenn der Brechungsindex<I>n</I> grösser       als    1 ist.  



  Die     Fig.    1, 2 und 3 zeigen den mit dem     Ziel-          fernrohr    verbundenen Höhenkreis 13 eines     Mess-          instrumentes        (Theodolit,    Kippregel usw.) mit der       dazu    gehörenden     Ableseeinrichtung.    Auf dem Höhen  kreis 13 des Instrumentes befindet sich die Kreis  teilung 14. Mit dem     Höhenkreis    fest verbunden ist  das     Zielfernrohr    15     (Fig.    2).

   Vor dem Kreis 13 ist  die     Ableseeinrichtung,    die aus der Fassung 16, den  unter 45  geneigten     Spiegeln    17 und 18, der Mar  kenplatte 21, dem Objektiv 19 und der oberhalb des  Objektivs angeordneten Flüssigkeitsschicht 20 besteht.  Bei 23 ist ein Bildausschnitt der abgebildeten Teilung  14 dargestellt; die Teilung der Markenplatte ist bei  22 erkennbar.  



  Der Kreis 13 ist     mit    dem     Zielfernrohr    15 fest  verbunden, das für diese Betrachtungen stets auf  den gleichen Zielpunkt gerichtet sein soll. Der Kreis  ist deshalb im Raume stets gleich orientiert. Die       Nullrichtung    des Kreises (Verbindungsgerade vom  Kreismittelpunkt zum Nullstrich des Kreises) wurde  lotrecht angenommen.  



  Vor dem Höhenkreis 13     (Fig.    1 und 2) ist die Fas  sung 16 angeordnet. Diese trägt unten den unter  45      zur    Kreisebene geneigten Spiegel 17, der die  Kreisteilung 14 nach oben durch das     zweilinsige     Objektiv 19 und die Flüssigkeit 20 und nach Re  flexion durch den Spiegel 18 auf die Markenplatte 21  spiegelt, wo ein Bildausschnitt 23 der Teilung 14  entsteht.  



  Die Teilung 22 der     Markenplatte    21 hat im Ver  gleich zum Bild 23 der Teilung 14 stark     verkleinerte          Intervalle,    womit kleine     Bruchteile    eines     Intervalles     der Teilung 14 abgelesen werden können.    In     Fig.    3 ist der Kreis 13 gleich orientiert wie in       Fig.    2, aber die Stehachse und somit die     Ablesevor-          richtung    sind gegen die     Lotrichtung    um den Winkel a  geneigt.

   Der vom Teilstrich Null schief nach dem       Objektivmittelpunkt    verlaufende Lichtstrahl wird  deshalb beim Durchtritt durch Objektiv und     Kompen-          sator    nach rechts abgelenkt, und der Brechwert n  der Flüssigkeit ist so zu bemessen, dass das Bild 0'  von 0 auf den Nullstrich der Markenteilung 22 fällt.  Der Winkel     ss    muss dabei nur wenig grösser werden  als<I>a</I> und der     Brechwert   <I>n</I> wenig grösser als 2. Statt  des einen     Kompensators    mit n > 2 wird man vor  teilhafter zwei     Kompensatoren    vom Brechwert  n > 1,5 hintereinander anordnen.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRÜCHE I. Verfahren zur Beeinflussung des Strahlen ganges im Ablesemikroskop eines Vermessungsinstru mentes mit Hilfe mindestens einer Flüssigkeitsschicht, dadurch gekennzeichnet, dass die vom Höhenkreis herkommenden Lichtstrahlen beim Durchtritt durch die Flüssigkeitsschicht derart gesteuert werden, dass kleine Neigungsänderungen des Instrumentes die Ablesung des an der Neigungsänderung unbeteiligten Höhenkreises nicht ändern.
    1I. Ablesemikroskop zur Durchführung des Verfahrens gemäss Patentanspruch I, dadurch gekenn zeichnet, dass in dem mindestens angenähert senk recht verlaufenden Strahlengang mindestens eine Flüssigkeitsschicht vorgesehen ist, welche unten durch eine mit der Mikroskopfassung verbundene, durch sichtige Begrenzung abgeschlossen ist. UNTERANSPRÜCHE 1. Ablesemikroskop nach Patentanspruch II, dadurch gekennzeichnet, dass die Flüssigkeit einen Brechungsindex von 1,5 besitzt.
    2. Ablesemikroskop nach Patentanspruch 1I, da durch gekennzeichnet, dass zwei Flüssigkeitsschichten vorgesehen sind.
CH336196D 1955-12-12 1955-12-12 Verfahren zur Beeinflussung des Strahlenganges im Ablesemikroskop eines Vermessungsinstrumentes CH336196A (de)

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