CH672376A5 - - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 31
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 6
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 4
- 108010076504 Protein Sorting Signals Proteins 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F9/00—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
- G03F9/70—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography
- G03F9/7003—Alignment type or strategy, e.g. leveling, global alignment
- G03F9/7023—Aligning or positioning in direction perpendicular to substrate surface
- G03F9/7026—Focusing
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH279386A CH672376A5 (fr) | 1986-07-12 | 1986-07-12 | |
| DE19863634609 DE3634609A1 (de) | 1986-07-12 | 1986-10-10 | Verfahren und vorrichtung zur fein-fokussierung eines bildes auf eine projektionsflaeche |
| PCT/CH1986/000167 WO1988000720A1 (fr) | 1986-07-12 | 1986-12-01 | Procede et dispositif de focalisation precise d'une image sur une surface de projection |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH279386A CH672376A5 (fr) | 1986-07-12 | 1986-07-12 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CH672376A5 true CH672376A5 (fr) | 1989-11-15 |
Family
ID=4241717
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CH279386A CH672376A5 (fr) | 1986-07-12 | 1986-07-12 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| CH (1) | CH672376A5 (fr) |
| DE (1) | DE3634609A1 (fr) |
| WO (1) | WO1988000720A1 (fr) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4105001C2 (de) * | 1991-02-19 | 1995-03-23 | Hell Ag Linotype | Verfahren und Einrichtung zur Scharfeinstellung eines optischen Abbildungs-Systems |
| DE4105003A1 (de) * | 1991-02-19 | 1992-08-20 | Hell Ag Linotype | Verfahren und einrichtung zur scharfeinstellung eines optischen abbildungs-systems |
| DE4105002C2 (de) * | 1991-02-19 | 1995-03-23 | Hell Ag Linotype | Verfahren und Einrichtung zur Scharfeinstellung eines optischen Abbildungs-Systems |
| EP0608448A1 (fr) * | 1993-01-26 | 1994-08-03 | International Business Machines Corporation | Méthode et dispositif de détermination de position |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2222666B1 (fr) * | 1973-03-19 | 1976-11-05 | Thomson Brandt | |
| JPS5154432A (en) * | 1974-11-07 | 1976-05-13 | Asahi Optical Co Ltd | Shotenkenshutsusochi |
| DE2836428A1 (de) * | 1978-08-19 | 1980-03-06 | Battelle Institut E V | Verfahren und vorrichtung zur automatischen scharfeinstellung von objektiven |
| JPS55111922A (en) * | 1979-02-15 | 1980-08-29 | Asahi Optical Co Ltd | Focus detection indicator of camera |
| DE3070825D1 (en) * | 1979-04-02 | 1985-08-08 | Eaton Optimetrix Inc | A system for positioning a utilization device |
| DE3446727C2 (de) * | 1983-08-10 | 1986-12-04 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Autofokuseinrichtung für Mikroskope |
-
1986
- 1986-07-12 CH CH279386A patent/CH672376A5/de not_active IP Right Cessation
- 1986-10-10 DE DE19863634609 patent/DE3634609A1/de not_active Ceased
- 1986-12-01 WO PCT/CH1986/000167 patent/WO1988000720A1/fr not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3634609A1 (de) | 1988-01-21 |
| WO1988000720A1 (fr) | 1988-01-28 |
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| PFA | Name/firm changed |
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|
| PL | Patent ceased | ||
| PLX | Patent declared invalid from date of grant onwards |