CN115460902A - 电磁辐射的消除方法及消除装置、电子设备 - Google Patents

电磁辐射的消除方法及消除装置、电子设备 Download PDF

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CN115460902A CN202211208433.7A CN202211208433A CN115460902A CN 115460902 A CN115460902 A CN 115460902A CN 202211208433 A CN202211208433 A CN 202211208433A CN 115460902 A CN115460902 A CN 115460902A
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Abstract

本发明提供一种电磁辐射的消除方法及消除装置、电子设备。其中,电磁辐射的消除方法包括:检测电子设备内待降噪区域中电磁辐射噪声的第一噪声频段,获取与第一噪声频段阻抗匹配的降噪装置;将降噪装置设置于待降噪区域,基于降噪装置中的降噪天线吸收电磁辐射噪声。通过本发明提供的电磁辐射的消除方法,能够针对待降噪区域内的电磁辐射噪声进行针对性地消除,进而有助于提高消除电磁辐射噪声的有效性。

Description

电磁辐射的消除方法及消除装置、电子设备
技术领域
本发明涉及降噪技术领域,具体涉及一种电磁辐射的消除方法及消除装置、电子设备。
背景技术
随着技术发展,电子设备体积越来越小,产品内部的噪声控制要求越来越严格。
由于电子设备在运行过程中,会产生容易导致电子设备发生故障的电磁辐射噪声。因此,如何降低电磁辐射噪声,优化电子设备内部的电磁噪声环境,成为亟需解决的问题。
相关技术中,采用增加主板布局走线层数的方式,引导噪声信号的走向,进而减少主板高速信号引起的电磁辐射,通过增加的滤波电路设计,实现降低电磁辐射噪声的目的。但该种方式适用于板级噪声,作用范围小,且对设计人员要求高。
发明内容
因此,本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中无法有效降低电磁辐射噪声的缺陷,从而提供一种电磁辐射的消除方法及消除装置、电子设备。
根据第一方面,本发明实施方式提供一种电磁辐射的消除方法,所述方法包括:
检测电子设备内待降噪区域中电磁辐射噪声的第一噪声频段;
获取与所述第一噪声频段阻抗匹配的降噪装置;
将所述降噪装置设置于所述待降噪区域,基于所述降噪装置中的降噪天线吸收所述电磁辐射噪声。
在该实施例中,能够针对待降噪区域内的电磁辐射噪声进行针对性地消除,进而有助于提高消除电磁辐射噪声的有效性。
结合第一方面,在第一方面的第一实施例中,所述基于所述降噪装置中的降噪天线吸收所述电磁辐射噪声,包括:
通过所述降噪装置中的降噪天线将所述电磁辐射噪声转换成感应电流;
通过所述降噪装置中的电阻将所述感应电流转换成热能,以完成对所述电磁辐射噪声的吸收;
其中,所述电阻与所述降噪天线中同轴线缆的芯线的第一端连接,所述芯线的第二端连接于所述降噪天线的天线辐射体的馈电点上。
结合第一方面或第一方面的第一实施例,在第一方面的第二实施例中,所述将所述降噪装置设置于所述待降噪区域,包括:
通过所述降噪装置中的螺丝将所述降噪装置固定在所述待降噪区域;
其中,所述螺丝的头部平面区域设置于所述降噪天线中同轴线缆的外壳的下表面,所述螺丝的头部平面区域用于作为所述降噪天线的反射板,所述同轴线缆包括贯穿所述外壳的芯线。
结合第一方面的第二实施例,在第一方面的第三实施例中,所述方法还包括:
根据噪声频段与螺丝头部直径之间的预设对应关系,确定与所述第一噪声频段对应的目标头部直径;
确定具有所述目标头部直径的螺丝。
结合第一方面的第一实施例,在第一方面的第四实施例中,获取与所述第一噪声频段阻抗匹配的降噪装置,包括:
确定所述降噪天线与所述第一噪声频段阻抗匹配的馈电点;
将所述同轴线缆芯线的第二端固定在所述馈电点上,得到与所述第一噪声频段阻抗匹配的降噪天线;
获取包括所述降噪天线的降噪装置。
结合第一方面的第四实施例,在第一方面的第五实施例中,所述确定所述降噪天线与所述第一噪声频段阻抗匹配的馈电点,包括:
基于所述第一噪声频段的波长,通过天线调谐器进行功率检测,确定所述降噪天线的调试长度;
根据所述降噪天线的调试长度,确定所述馈电点。
结合第一方面,在第一方面的第六实施例中,所述方法还包括:
检测所述待降噪区域的第二噪声频段;
若所述第二噪声频段大于指定噪声频段,则基于所述第二噪声频段,重新确定用于吸收所述电磁辐射噪声的降噪天线。
结合第一方面,在第一方面的第七实施例中,所述方法还包括:
检测所述电子设备中各区域的噪声频段,并将噪声频段大于指定噪声频段的区域确定为待降噪区域。
根据第二方面,本发明实施方式还提供一种电磁辐射的消除装置,所述消除装置包括:
降噪天线,包括天线辐射体和同轴线缆,所述同轴线缆包括外壳和贯穿于所述外壳的芯线,所述芯线的第二端连接于所述天线辐射体的馈电点上,所述芯线的第一端与电阻连接,所述降噪天线用于吸收电子设备内待降噪区域中噪声频段为第一噪声频段的电磁辐射噪声;
螺丝,所述螺丝的头部平面区域设置于所述降噪天线中同轴线缆的外壳的下表面,用于作为所述降噪天线的反射板,以及将所述降噪天线固定在电子设备内的待降噪区域;
所述电阻,与所述降噪天线内所述馈线的第一端连接,所述电阻用于将所述电磁辐射噪声通过所述降噪天线生成的感应电流转换成热能。
在该方式中,能够在不挤占压缩电子设备内部空间的前提下,使降噪天线部署的方式更灵活、更便捷,可以根据降噪需求灵活调节设置位置。
结合第二方面,在第二方面的第一实施例中,所述降噪天线为螺旋天线。
根据第三方面,本发明实施方式还提供一种电子设备,包括第二方面及其可选实施方式中任一项的电磁辐射的消除装置。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据一示例性实施例提出的一种电磁辐射的消除装置的结构示意图。
图2是根据一示例性实施例提出的一种螺丝的结构示意图。
图3是根据一示例性实施例提出的一种电磁辐射的消除方法的流程图。
图4是根据一示例性实施例提出的另一种电磁辐射的消除方法的流程图。
图5是根据一示例性实施例提出的又一种电磁辐射的消除方法的流程图。
图6是根据一示例性实施例提出的一种电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
相关技术中,采用增加主板布局走线层数的方式,引导噪声信号的走向,进而减少主板高速信号引起的电磁辐射,通过增加的滤波电路设计,实现降低电磁辐射噪声的目的。但该种方式适用于板级噪声,作用范围小,且对设计人员要求高。
并且采用该种方式降低电磁辐射噪声时,针对关键部件(Key Part,KP)附近的电磁辐射噪声难以起到作用,进而也影响针对电子设备内部的降噪效果。其中,KP可以是中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、固态硬盘(Solid State Disk或Solid StateDrive,SSD)或者适配器等部件,在发明中不进行限定。
为解决上述问题,本发明实施例中提供一种电磁辐射的消除方法,用于电子设备中,其中,该电子设备可以是终端或客户端或服务器,服务器可以是一台服务器,也可以为由多台服务器组成的服务器集群,本申请实施例中的终端可以是智能手机、个人电脑、平板电脑、可穿戴设备以及智能机器人等其他智能硬件设备。
在本实施例中的电子设备中,部署有至少一个电磁辐射的消除装置,用于消除电子设备内部的电磁辐射噪声,以优化电子设备的内部电磁环境,进而降低电子设备对外的电磁辐射能量。
图1是根据一示例性实施例提出的一种电磁辐射的消除装置的结构示意图。如图1所示,电磁辐射的消除装置包括降噪天线10、螺丝20和电阻30。
降噪天线10,包括天线辐射体11和同轴线缆12,同轴线缆包括外壳121和贯穿于外壳的芯线122,芯线122的第二端连接于天线辐射体11的馈电点A上,芯线122的第一端与电阻30连接,降噪天线10用于吸收电子设备内待降噪区域中噪声频段为第一噪声频段的电磁辐射噪声。
在本发明实施例中,降噪天线10可以是无源天线,也可以是高增益天线,还可以是具有高增益特性的无源天线。
在一示例中,由于螺旋天线可以收发空间中旋转的偏振电磁信号,因此,为消除电磁辐射噪声,可以优选螺旋天线作为降噪天线。并且,由于螺旋天线的尺寸较小,因此,将其部署在电子设备内部时,可以充分利用部件之间的空间缝隙,进而有利于节省空间。
在另一示例中,不同降噪天线用于吸收不同噪声频段的电子辐射噪声,进而在消除电磁辐射噪声时,能够进行针对性消除,从而有助于提高降噪效果,实现电磁辐射的有效消除。
在一实施例中,同一降噪天线在吸收不同噪声频段的电磁辐射噪声时,对应不同的馈电点A。其中,馈电点A可以通过天线调谐器(tuner)确定。通过天线调谐器进行功率检测,确定降噪天线10中能够提供覆盖第一噪声频段的天线增益的调试长度,进而将该调试长度对应的点位置作为与第一噪声频段阻抗匹配的馈电点A。
螺丝20,螺丝20的头部平面区域设置于外壳121的下表面,用于作为降噪天线10的反射板,以及将降噪天线10固定在电子设备内的待降噪区域。
在本发明实施例中,螺丝20可以理解为使用于将降噪天线10固定在电子设备内的待降噪区域的固定部件。在安装过程中,将降噪天线10固定在螺丝20上方,以使螺丝20的头部平面区域作为降噪天线10的反射板,为降噪天线10提供地(GDN)信号,进而有助于提高天线信号的接收灵敏度,增强降噪天线10吸收电磁辐射噪声的接收能力。在一例中,可以优选平头螺丝。
在一实施例中,如图2所示,螺丝20包括头部平面区域21和杆部22。螺丝的杆部22用于导入待降噪区域的螺孔内,以将降噪天线10固定在电子设备内的待降噪区域。
电阻30,用于将电磁辐射噪声通过降噪天线10生成的感应电流转换成热能,进而达到吸收电磁辐射噪声的目的。其中,电阻30的取值取决于感应电流的大小。感应电流越大,则电阻值越大。反之,感应电流越小,则电阻值越小。在一例中,电阻30的取值范围可以是以百、千或者更高的数量级的数值。
通过上述实施例,能够在不挤占压缩电子设备内部空间的前提下,使降噪天线部署的方式更灵活、更便捷,可以根据降噪需求灵活调节设置位置。
在一实施场景中,可以将天线调谐器连接在芯线122与电阻30之间,进而可以基于电磁辐射噪声的实际噪声频段,调节馈电点A的位置,从而提高电磁辐射噪声的消除有效性。
基于相同发明构思,本发明提供一种电磁辐射的消除方法。通过本发明提供的电磁辐射的消除方法,能够根据电子设备内待降噪区域中电磁辐射噪声的第一噪声频段,设置与该第一噪声频段阻抗匹配的降噪天线,进而对该第一噪声频段的电磁辐射噪声进行针对性地消除,从而有助于提高消除电磁辐射噪声的有效性。
图3是根据一示例性实施例提出的一种电磁辐射的消除方法的流程图。如图3所示,电磁辐射的消除方法包括如下步骤S301至步骤S303。
在步骤S301中,检测电子设备内待降噪区域中电磁辐射噪声的第一噪声频段。
在本发明实施例中,待降噪区域可以理解为是确定存在电磁辐射噪声的区域。为对待降噪区域中电磁辐射噪声进行针对性消除,则检测该电磁辐射噪声的噪声频段,得到第一噪声频段。
在步骤S302中,获取与第一噪声频段阻抗匹配的降噪装置。
在本发明实施例中,为达到消除该电磁辐射噪声的目的,获取与第一噪声频段阻抗匹配的降噪装置,以利用该降噪装置中的降噪天线将该第一噪声频段的电磁辐射噪声消除。
在一实施例中,降噪天线可以为螺旋天线。
在步骤S303中,将降噪装置设置于待降噪区域,基于降噪装置中的降噪天线吸收电磁辐射噪声。
在一实施例中,可以通过螺丝将降噪天线固定设置于待降噪区域。具体的,将降噪天线固定在螺丝的头部平面区域上,例如:将螺丝的头部平面区域设置于降噪天线中同轴线缆的外壳的下表面,以将螺丝的头部平面区域作为降噪天线的反射板,为该降噪天线提供GDN信号。通过螺丝将降噪天线固定设置在待降噪区域,进而有助于根据降噪需求灵活调整位置。其中,同轴线缆包括贯穿该外壳的芯线。
在另一实施例中,降噪装置包括但不限于降噪天线、螺丝和电阻。基于降噪装置中的降噪天线吸收电磁辐射噪声的具体过程可以包括:通过降噪装置中的降噪天线将电磁辐射噪声转换成感应电流,进而通过降噪装置中与降噪天线中同轴线缆的芯线的第一端连接的电阻,将感应电流转换成热能,以采用能量转换的方式降低电子设备内部系统的对外辐射,从而实现对电磁辐射噪声的有效吸收,优化电子设备的内部电磁环境。其中,芯线的第二端连接于降噪天线的天线辐射体的馈电点上。
通过上述实施例,能够针对待降噪区域内的电磁辐射噪声进行针对性地消除,进而有助于提高消除电磁辐射噪声的有效性。
在一实施例中,降噪天线的反射板尺寸影响降噪天线吸收电磁辐射噪声的能力。为使降噪天线的天线增益能够达到消除第一噪声频段的电磁辐射噪声的需求,根据噪声频段与螺丝头部直径之间的预设对应关系,确定与第一噪声频段对应的目标头部直径,进而采用具有目标头部直径的螺丝作为用于固定降噪天线的螺丝,从而有助于提高电磁辐射噪声的消除有效性。
在一示例中,为便于快速获取螺丝,则可以预先根据噪声频段与螺丝头部直径之间的预设对应关系,针对不同的噪声频段,制造不同头部直径的螺丝,进而当确定待降噪区域内电磁辐射噪声的噪声频段时,便可以采用对应的螺丝将降噪天线固定在对应的待降噪区域内。
在另一实施例中,为消除电磁辐射噪声,预先确定降噪天线与第一噪声频段阻抗匹配的馈电点,进而将同轴线缆芯线的第二端固定在馈电点上,得到与第一噪声频段阻抗匹配的降噪天线,从而将包括该降噪天线的降噪装置进行获取,以消除噪声频段为第一噪声频段的电磁辐射噪声,以提高消除电磁辐射噪声的有效性。在一示例中,馈电点可以基于第一噪声频段的波长,通过天线调谐器进行功率检测,确定降噪天线的调试长度,进而根据降噪天线的调试长度进行确定。不同噪声频段对应的馈电点可以不同。
在又一实施例中,由于降噪天线可以通过螺丝固定在待降噪区域,进而在固定降噪天线时,可以根据实际降噪需求自行调整固定位置,从而使固定过程更灵活,更有助于在电子设备内部署。在一例中,若待降噪区域内不存在螺孔,则可以将降噪天线固定在与待降噪区域最近的螺孔上,或者在该待降噪区域内添加螺孔。
图4是根据一示例性实施例提出的另一种电磁辐射的消除方法的流程图。如图4所示,电磁辐射的消除方法包括如下步骤。
在步骤S401中,检测电子设备内待降噪区域中电磁辐射噪声的第一噪声频段。
在步骤S402中,获取与第一噪声频段阻抗匹配的降噪装置。
在步骤S403中,将降噪装置设置于待降噪区域,基于降噪装置中的降噪天线吸收电磁辐射噪声。
在步骤S404中,检测待降噪区域的第二噪声频段。
在本发明实施例中,为确定采用该降噪装置吸收电磁辐射噪声是否有效,则检测待降噪区域的第二噪声频段,以确定该待降噪区域是否还存在电磁辐射噪声。
在步骤S405中,若第二噪声频段大于指定噪声频段,则基于第二噪声频段,重新确定用于吸收电磁辐射噪声的降噪装置。
在本发明实施例中,若第二噪声频段大于指定噪声频段,则表征待降噪区域存在未消除的电磁辐射噪声。为提高电磁辐射噪声的消除有效性,则基于第二噪声频段,重新确定用于吸收电磁辐射噪声的降噪装置。
在一例中,也可以基于第二噪声频段,重新确定降噪天线的馈电点,进而将同轴线缆芯线的第二端与重新确定的馈电点固定,从而无需增加降噪装置便可以达到快速消除的目的。其中,指定噪声频段可以理解为是默认没有电磁辐射噪声的噪声频段。
在一实施例中,若第二噪声频段小于或者等于指定噪声频段,则表征该待降噪区域内的电磁辐射噪声已被消除,该降噪装置能够将第一噪声频段的磁辐射噪声有效吸收。
通过上述实施例,降噪装置设置完成后,可以通过对待降噪区域的噪声频段的检测,确定降噪装置的安装有效性,进而当设置的降噪装置无法消除待降噪区域的电磁辐射噪声时,可以重新确定待部署的降噪装置,从而有助于提高消除电磁辐射噪声的有效性。
图5是根据一示例性实施例提出的又一种电磁辐射的消除方法的流程图。如图5所示,电磁辐射的消除方法包括如下步骤。
在步骤S501中,检测电子设备中各区域的噪声频段,并将噪声频段大于指定噪声频段的区域确定为待降噪区域。
在本发明实施例中,待降噪区域的数量可以大于或者等于1,可以根据各区域的噪声频段是否大于指定噪声频段进行确定。
在步骤S502中,检测电子设备内待降噪区域中电磁辐射噪声的第一噪声频段。
在步骤S503中,获取与第一噪声频段阻抗匹配的降噪装置。
在步骤S504中,将降噪装置设置于待降噪区域,基于降噪装置中的降噪天线吸收电磁辐射噪声。
通过上述实施例,根据电子设备内实际需要进行降噪处理的待降噪区域部署降噪装置,能够满足各区域的降噪需求,进而能够极大优化电子设备内部的电磁噪声环境,从而能够有效降低电磁辐射噪声的对外辐射。
基于相同发明构思,本发明还提供一种电子设备。在该电子设备中可以包括本发明提供的电磁辐射的消除装置。其中,电磁辐射的消除装置的数量可以不限,可以根据实际降噪需求进行设置。
图6是根据一示例性实施例提出的一种电子设备的硬件结构示意图。如图6所示,该设备包括一个或多个处理器610以及存储器620,存储器620包括持久内存、易失内存和硬盘,图6中以一个处理器610为例。该设备还可以包括:输入装置630和输出装置640。
处理器610、存储器620、输入装置630和输出装置640可以通过总线或者其他方式连接,图6中以通过总线连接为例。
处理器610可以为中央处理器(Central Processing Unit,CPU)。处理器610还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片,或者上述各类芯片的组合。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
存储器620作为一种非暂态计算机可读存储介质,包括持久内存、易失内存和硬盘,可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块,如本申请实施例中的业务管理方法对应的程序指令/模块。处理器610通过运行存储在存储器620中的非暂态软件程序、指令以及模块,从而执行服务器的各种功能应用以及数据处理。
存储器620可以包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序;存储数据区可存储根据、需要使用的数据等。此外,存储器620可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非暂态存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中,存储器620可选包括相对于处理器610远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至数据处理装置。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
输入装置630可接收输入的数字或字符信息,以及产生与用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置640可包括显示屏等显示设备。
上述产品可部署本发明实施例所提供的至少一个电磁辐射的消除装置,用于消除电子设备在使用过程中产生的电磁辐射噪声,以优化电子设备的内部电磁环境。未在本实施例中详尽描述的技术细节,具体可参见如图1-图5所示的实施例中的相关描述。
显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例,而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (11)

1.一种电磁辐射的消除方法,其特征在于,所述方法包括:
检测电子设备内待降噪区域中电磁辐射噪声的第一噪声频段;
获取与所述第一噪声频段阻抗匹配的降噪装置;
将所述降噪装置设置于所述待降噪区域,基于所述降噪装置中的降噪天线吸收所述电磁辐射噪声。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述降噪装置中的降噪天线吸收所述电磁辐射噪声,包括:
通过所述降噪装置中的降噪天线将所述电磁辐射噪声转换成感应电流;
通过所述降噪装置中的电阻将所述感应电流转换成热能,以完成对所述电磁辐射噪声的吸收;
其中,所述电阻与所述降噪天线中同轴线缆的芯线的第一端连接,所述芯线的第二端连接于所述降噪天线的天线辐射体的馈电点上。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述将所述降噪装置设置于所述待降噪区域,包括:
通过所述降噪装置中的螺丝将所述降噪装置固定在所述待降噪区域;
其中,所述螺丝的头部平面区域设置于所述降噪天线中同轴线缆的外壳的下表面,所述螺丝的头部平面区域用于作为所述降噪天线的反射板,所述同轴线缆包括贯穿所述外壳的芯线。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据噪声频段与螺丝头部直径之间的预设对应关系,确定与所述第一噪声频段对应的目标头部直径;
确定具有所述目标头部直径的螺丝。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取与所述第一噪声频段阻抗匹配的降噪装置,包括:
确定所述降噪天线与所述第一噪声频段阻抗匹配的馈电点;
将所述同轴线缆芯线的第二端固定在所述馈电点上,得到与所述第一噪声频段阻抗匹配的降噪天线;
获取包括所述降噪天线的降噪装置。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述确定所述降噪天线与所述第一噪声频段阻抗匹配的馈电点,包括:
基于所述第一噪声频段的波长,通过天线调谐器进行功率检测,确定所述降噪天线的调试长度;
根据所述降噪天线的调试长度,确定所述馈电点。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
检测所述待降噪区域的第二噪声频段;
若所述第二噪声频段大于指定噪声频段,则基于所述第二噪声频段,重新确定用于吸收所述电磁辐射噪声的降噪装置。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
检测所述电子设备中各区域的噪声频段,并将噪声频段大于指定噪声频段的区域确定为待降噪区域。
9.一种电磁辐射的消除装置,其特征在于,所述消除装置包括:
降噪天线,包括天线辐射体和同轴线缆,所述同轴线缆包括外壳和贯穿于所述外壳的芯线,所述芯线的第二端连接于所述天线辐射体的馈电点上,所述芯线的第一端与电阻连接,所述降噪天线用于吸收电子设备内待降噪区域中噪声频段为第一噪声频段的电磁辐射噪声;
螺丝,所述螺丝的头部平面区域设置于所述降噪天线中同轴线缆的外壳的下表面,用于作为所述降噪天线的反射板,以及将所述降噪天线固定在电子设备内的待降噪区域;
所述电阻,用于将所述电磁辐射噪声通过所述降噪天线生成的感应电流转换成热能。
10.根据权利要求9所述的消除装置,其特征在于,所述降噪天线为螺旋天线。
11.一种电子设备,其特征在于,包括权利要求9-10中任一项所述的电磁辐射的消除装置。
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