CN85107724A - 测光装置 - Google Patents

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Abstract

本发明是关于具有通过其光的透射量根据温度而变化的材料进行受光，并将光量变换为电量的受光部的光检测装置，通过设置被恒流源的传动部所驱动的LED光源，藉着检测这个LED的正向电压并以这检出值来补正受光部的输出，以消除上述LED的由于温度变化而引起波长变化所造成的测定误差。

Description

测光装置
本发明是关于光的计测装置，例如有关使用光的透射量根据温度而变化的材料来测定温度的装置的构造。
图3是原来所用的这种光的温度测定装置的一实施例，该图中的（1）是光源，（2）是光导纤维，（3）是其透光量作为温度的函数而变化的材料，（4）是受光部，（5）是信号处理部，（6）是显示部，（1a）是包围光源（1）的恒温槽。
由光源（1）射出的光是通过光导纤维（2）传导到测定温度的材料（3）。根据该材料（3）作为与温度相对应的光量通过光导纤维（2）在受光部（4）进行受光。受光部（4）把光变换成电量，由信号处理部（5）推定温度，在显示部（5）显示出来。恒温槽（1a）包围光源（1）而构成，起着稳定光源（1）的温度的作用。这是因为一般由光源（1）射出的光的波长，受光源（1）温度的影响，其变动就构成在温度测定上产生误差的主要原因。
因为原来的温度测定装置有如上述的构造，所以就需要稳定光源（1）的波长，因而恒温槽就必不可少了。而这样一来装置的价格就要变高，而且形状要扩大。
本发明的目的在于解决上述的问题，提供无需恒温槽而且小型价廉的装置。
本发明之测光装置是使用LED（发光二极管）作为光源，检测其正向电压，以补正来自受光部的输出。
在本发明里，LED的波长与正向电压之间有一定的关系，因为是检测其正向电压来对输出进行补正的，所以就能消除由于LED的温度变化而产生波长变化所引起的测定误差。
附图的简单说明
图1是表示本发明一实施例的构成图，图2（a）是吸收限波长的温度变化，图2（b）是LED波长和吸收限波长，图2（c）是在图2（b）B时的透光量，图2（d）是在图2（b）C时的透光量，图2（e）是LED的正向电压与波长的关系图，图3是原来的光温度计的构成图。
还有，各图中的同一符号表示相同的或者相当的部分。
以下就本发明的一实施例进行说明。
图1中的（2）是光导纤维，（3）是光的透射量作为温度函数变化的材料，（4）是受光部，（5）是信号处理部，（6）是显示部，（7）是LED，（8）是传动LED（7）的恒流源之传动部，（9）是检测LED（7）波长的波长检测部。
以下就其的动作，连同表示各个特性的图2来进行说明。
由传动部（8）传动的LED（7）的光，通过光导纤维传导到检测温度的材料（3）。材料（3）的构成如图2（a）所示对于波长其透射吸收量产生变化，这种透射吸收量（以下称为吸收限）是按照温度上升而向着长波长区变化。材料（3）的某个温度的吸收限波长A和LED（7）的波长曲线以图2（b）B表示;这时的透射量以图2（c）表示。透射过来的光在受光部把光量变换成电量。在信号处理部（5），事先存储了对于不同温度所透射过来的量再与这个值相比较从而检测温度。
LED（7）的光波长也和材料（3）同样是温度的函数。也就是说LED（7）周围的温度一上升，波长也会朝长波长区变化，图2（b）的B就变化为C，这时的透射量也由图2（c）变为图2（d），其变化量则成为误差。因此为了补正这种误差，就通过波长检测部（9）来对LED（7）的正向电压（LED的阳极、阴极间的电压）进行测定。图2（e）就是表示由于LED（7）周围温度而使波长变化和正向电压的关系。LED（7）周围的温度一上升，波长就移向长波长区，而正向电压就下降。
由于正向电压和LED（7）的波长具有密切的关系，所以通过在信号处理部（5）事先储存与正向电压的误差关系，对温度推定的结果给予补正值，从而能消除LED（7）温度变化而产生的误差，并把正确的值显示在显示部（6）。
还有，虽然上述实施例是就温度测定所作的说明，但是在以光来利用二次电光效应（pochels效应）的电压表，利用法拉弟效应的电流表等，由于温度使光源的波长发生变化时而造成误差的各种测光装置也能发挥同样的效果。
如上所述，由于本发明的方法是通过正向电压来检测由于LED的温度变化而造成波长变化的误差，而对检测值给予补正来构成的，所以本发明之测光装置无需恒温槽，而且价廉，小型并具有高精度的效果。

Claims (2)

1、一测光装置的特征是：具有恒流源的传动部，由该传动部传动的LED，再把从LED射出的光通过以光的透射特性作为被测定量的函数而变化的材料进行受光，然后变换成电量的受光部，检测上述LED的正向电压的电压检测手段，通过对上述受光部的输出由上述电压检测手段的输出来进行补正的办法，以消除在上述LED的温度变化而产生波长变化时出现的测定误差，并对被测定量进行演算的信号处理部。
2、权利要求第1项所述的测光装置的特征是：材料的光的透射量作为温度的函数而变化。
CN85107724.2A 1984-12-04 1985-10-21 测光装置 Expired CN1003394B (zh)

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