DE2149761C3 - Thyristor mit isolierter Feldsteuerungselektrode - Google Patents

Thyristor mit isolierter Feldsteuerungselektrode

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DE2149761C3
DE2149761C3 DE19712149761 DE2149761A DE2149761C3 DE 2149761 C3 DE2149761 C3 DE 2149761C3 DE 19712149761 DE19712149761 DE 19712149761 DE 2149761 A DE2149761 A DE 2149761A DE 2149761 C3 DE2149761 C3 DE 2149761C3
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thyristor
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DE19712149761
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Inventor
Akio Ikeda Yamashita (Japan)
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Thyristor gemäß rs dem Oberbegriff des Patentanspruchs.
Aus der DT-OS 15 89 681 ist ein Halbleiterelement entsprechend dem Oberbegriff des Patentanspruchs bekannt da.« als elektronischer Koppelpunkt für die Durchschaltung von Sprechwegen in Fernsprechanlagen dient Bei diesem bekannten Halbleiterelement erfolgt eine Durchschaltung in den Leitzustand nur, solange an der Steuerelektrode ein Signal anliegt
Aus den Vorveröffentlichungen »Applied Physics Letters«, Band 8, Nr. 6 und »Proceedings of the IEEE«, Band 54, Nr. 6 sind Verfahren zur Herstellung von Fangzentren für bestimmte Ladungsträger in Isolierschichten aus SiO2 beschrieben, bei denen die Isolierschichten eher Strahlung mit hoher Energie ausgesetzt werden. Durch diese Bestrahlung ändern sich die Eigenschaften von MOS-Kondensatoren bzw. von MOS-Halbleitern.
Aufgabe der Erfindung ist es, »-inen Thyristor gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs zu schaffen, der eine Speicherung eines an ihn angelegten Steuersignals ermöglicht
Diese Aufgabe wird durch die im Kennzeichnungsteil des Patentanspruchs angegebenen Merkmale gelöst
Bei dem erfindungsgemäßen Thyristor befinden sich in der Isolierschicht Ladungsträger-Fangzentren, die entweder durch Dotierung der Isolierschicht mit niedrige Niveaus bildenden Dotierstoffen wie Au, Cu, Na, Fe und Ni erzeugt werden oder durch Gitterfehler entstehen. Derartige Gitterfehler werden durch Bestrahlung mit radioaktiven Strahlungen oder durch Änderung der Bedingungen beim Dampfniederschlag herbeigeführt Beim Anlegen eines Steuersignals an die Steuerelektrode werden Ladungsträger in den Ladungsträger-Fangzentren eingefangen und dort festgehalten. Wenn das Steuersignal wieder abgetrennt wird, bleiben die entsprechenden Ladungsträger weiter in den Ladungsträger-Fangzentren festgehalten, so daß durch die dadurch sntsichcTidc Lsdung dzz glsichs Potsnilsü wie beim Anlegen des Steuersignals bestehen bleibt Auf diese Weise bleibt der Leitzustand des Thyristors, der beim Anlegen des Steuersignals erzielt wurde, erhalten so daß also das Steuersignal hinsichtlich seiner Auswirkung gespeichert ist
Die Erfindung wird im folgenden an Hand der schematischen Zeichnung an Ausführungsbeispielen näher erläutert
Fig. 1 zeigt einen Querschnitt einer Ausführungsform des Thyristors mit isolierter Feldsteuerungselektrode;
F i g. 2 zeigt eine grafische Darstellung von statischen Kennwerten der Ausführungsform nach F i g. 1;
Fig.3 zeigt einen Querschnitt einer anderen Ausführungsform des Thyristors mit isolierter Feld-
steuerungselektrode.
In Fig. 1 ist ein n-leitfähiges Halbleitersubstrat mit der Bezugsziffer 1 bezeichnet. In dem Substrat 1 sind p-Leitfähigkeitsbereiche 2 und 3 gebildet Auf dem p-Bereich 2 ist eine Elektrode 4 angeordnet. In dem p-Bereich3 ist ein n-Bereich 5 gebildet Auf dem n-Bereich 5 ist eine Elektrode 6 angeordnet Zwischen den p-3ereichen2 und 3 ist auf der Oberfläche des Substrats 1 eine Ladungsträger-Fangzentren aufweisende Isolierschicht 7 gebildet, auf der eine Torelektrode 8 vorgesehen ist
Dieses in der vorstehend beschriebenen Weise aufgebaute Element besitzt zwischen den Elektroden 4 und 6 einen pnpn-Aufbau und zeigt dieselbe Strom-Spannungs-Charakteristik wie ein gewöhnlicher Thyristor. Demzufolge ist die Ein-Aus-Steuerung des zwischen den Elektroden 4 und 6 fließenden Stroms mittels eines an die Steuerelektrode 8 angelegten Potentials möglich. Da in der Isolierschicht 7 des Elements Ladungsträger-Fangzentren vOrhanden sind, entsteht durch das Einfangen von elektrischen Ladungen in diesen Ladungsträger-Fangzentren eine Speicherwirkung. Das gleiche Ergebnis wird erhalten, wenn die η-Bereiche durch p-Bereiche und die p-Bereiche durch n-Bereiche ersetzt werden.
Im folgenden «/ird ein Verfahren zur Herstellung der in Fig. 1 gezeigten Ausführangsfonn des erfindungsgemäßen Halbleiters und dessen Betriebsweise erläutert In der Oberfläche eines n-Siliciumsubstrats 1 werden durch Eindiffundierung von Bor als Verunreinigungsstoff p-Bereiche 2 und 3 gebildet, wie dies aus F i g. 1 ersichtlich ist Dann wird ein n-Bereich 5 durch Eindiffundierung von Phosphor in dem p-Bereich S gebildet wie dies ebenfalls aus F i g. 1 ersichtlich ist Durch thermische Oxydation wird über der so behandelten Oberfläche des Substrats 1 ein Siliciumdi-OXJd-(SiOz)-FiIm gebildet Dann werden durch Photoätzt., die nicht notwendigen Ar >chnitte des SiO2-FiImS entfernt, was zu einer Isolisrschicht 7 führt, in die Gold (Au) eindiffundiert wird. Die Elektroden 4, 6 und 8 werden durch Aluminiumdampfniederschlag erzeugt Auf diese Weise wird ein Element mit pnpn-Aufbau hergesteiit in F i g. 2 ist ein Sirom-Spannungsdiagramni dieses Elements mit einer an die Steuerelektrode 8 angelegten Spannung als Parameter dargestellt
Wird eine Spannung an die Steuerelektrode 8 angelegt so werden elektrische Ladungen in die SiOrSchicht 1 eingegeben und dann von den durch die diffundierten Gold-(Au)-Atomen gebildeten Fangzentren eingefangen. Daher bleibt die SiO2-Isolierschicht 7 geladen, selbst nachdem die der Steuerelektrode 8 zugeführte Spannung verschwindet. Demzufolge bectpht weiterhin ein elektrisches Feld, das der zuvor angelegten Steuerspannung — oder strenger d«n eingefangener -adungen — zugemessen werden kann. Dieses Feld beeinflußt die pn-Übergänge zwischen dem p-Bereich 2 und dem n-Substrat 1 und zwischen dem Bereich 3 und dem n-Substrat 1. Wird nämlich eine bestimmte Spannung an die Steuerelektrode 8 angelegt, beginnt das Element bei entsprechender Kippspannung zwischen den Elektroden 4 und 6 zu leiten. Dann wird die Steuerspannung weggenommen. Das Steuerfeld bleibt jedoch bestehen, da die elektrischen Ladungen noch in den Fangzentren der Isolierschicht 7 eingefangen sind und ein elektrisches Feld bilden. Wird eine Spannung an das Element zwischen den Elektroden 4 und 6 angelegt, ohne daß irgendeine Spannung an der Steuerelektrode 8 anliegt, beginnt das Element bei einer
Kippspannung zu leiten,die die gleiche ist, als wenn eine Steuerspannung vorliegt, die gleich der anfänglich an die Steuerelektrode 8 angelegten Steuerspannung ist.
In Fig.3 ist eine andere Ausführungsform des erfindungsgemäßen Halbleiterelements gezeigt. In dieser Ausführungsform ist das verwendete Substrat Galliumarsenid (GaAs). Die in F i g. 3 gezeigten p- und n-Bereich^ sind durch Kristallwachstum gebildet.
In Fig.3 IFt ein η-leitendes GaAs-Substrat mit der Bezugsziffer 9 bezeichnet Auf beiden Seiten des Substrats 9 sind p-Bereiche 10 ^nd St gebildet. Ein n-Bereich 12 ist auf den p-Bercich 1! aufgebracht worden. Ap. dem p-Bereich 10 ist e. - Elektrode 13 befestigt. Durch eine geeignete T^chrv'-- «md Nuten 16a und 166 gebildet. Isolierschicht. **i und 156 sind derart gebildet, daß sie Ci? '''.^n I6a und 166 auskleiden und das n-Subsu^ }, den p-Bereich Il und den n-Bereich 12 überdecken, die in den Nuten 16a und 166 freiliegen, wie die., ·η Fig.3 gezeigt ist. Die Isolierschichten 15a und 156 sind durch Dampfniederschlag von SiO2 gebildet, dem Gold (A>·) hinzugefügt wurde. Auf den Isr'ier ;hichten 15s !jzw. 156 sind hauptsächlich auf den Oberflächen in und in der Nähe der Nuten 16a und 166 Elektroden 17a bzw. 176 zur Bildung von Feldeffekt-Steuerelektroden gebildet Eine Elektrode 14 ist zwir '.^n den Nuten 16a und 166 auf der Oberfläche des η-Bereichs 12 angeordnet Somit wird ein pnpn-Element mit einer Thyristor-Kennlinie gebildet. Bei Steuerung mit einer an die Feldeffekt-Steuerelektroden 17a und 176 angelegten Spannung folgt die Strom-Sparnungskennlinie des Elements einer Gruppe von Kurven, die gleich den in Fig.2 gezeigten sind. In der Ausführungsform nach F i g. 3 sind in den S1O2-Isolierschichten 15a und 156 Fangzentren gebildet, so ds3 dieses pnpn-Element ebenfalls eine Speicherwirkung in gleicher Weise wie das pnpn-Element nach F i g. 1 hat Das Element beginnt nämlich nach Wegnahme der Steuerspannung bei einer vergleichsweise niedrigen Kippspannung zwischen den Elektroden 17a und 176 zu leiten. Der einzige Unterschied zwischen dem Element nach F i g. 1 und dem nach F i g. 3 besteht darin, daß das Element nach F i g. 3 GaAs als Substrat verwendet, so daß eine Elektrolumineszenz an den pn-Übergangszonen vorliegt, wenn das Element leitet
In den zuvor beschriebenen Ausführungsformen werden Si und GaAs als Substrat verwendet. Statt dessen können jedoch auch "· ^ilbleiter wie GaP, Ge, GaPAs, InAs und CdS erfolgreich verwendet werden.
Der Thyristor mit isolierter Feldsteuerungselektrode kann als logisches Element oder Schaltelement verwendet werden und findet im Bereich elektronischer Rechnerschalttechniken breite Anwendung.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

  1. Patentanspruch:
    Thyristor mit mindestens vier Halbleiterbereichen mit abwechselnder p- und η-Leitfähigkeit und mit einer Isolierschicht, die sich über zumindest drei der Halbleiterbereiche erstreckt und auf der eine Steuerelektrode angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Isolierschicht (7, 15a, 156) Ladungsträger-Fangzentren enthält.
DE19712149761 1970-10-09 1971-10-05 Thyristor mit isolierter Feldsteuerungselektrode Expired DE2149761C3 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8912970 1970-10-09
JP45089129A JPS509156B1 (de) 1970-10-09 1970-10-09

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2149761A1 DE2149761A1 (de) 1972-04-13
DE2149761B2 DE2149761B2 (de) 1976-08-05
DE2149761C3 true DE2149761C3 (de) 1977-03-24

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