DE3509247C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Testeinrichtung mit auf einem Träger angebrachten Prüfspitzen nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.

Eine gedruckte Schaltungskarte läßt sich mit einem Test­ gerät testen, wobei Schaltungspunkten der zu testenden Karte Testsignale zugeführt werden und die sich ergebenden Zustände an den Schaltungsknoten analysiert werden. Ein als sogenanntes In-Circuit-Testverfahren bezeichnetes Test­ verfahren benutzt Prüfspitzen oder -sonden, mit denen die Schaltungspunkte der zu testenden Schaltungskarte berührt werden, ferner werden Signale an diese Schaltungs­ punkte gegeben, um die Zustände oder Bedingungen eines gegebenen Elementes auf der Schaltungskarte zu beeinflussen (typischerweise sind es die mit den Anschlüssen des betreffenden Elementes verbundenen Schaltungspunkte), die resultierenden Signale werden analysiert, und danach wird ein anderes Element auf der Schaltungskarte getestet, indem Signale einer anderen Gruppe von Schaltungspunkten auf der zu prüfenden Schaltungskarte zugeführt werden, usw. Aus Kostengründen wird typischerweise eine begrenzte Anzahl von Testkanälen mit einer großen Anzahl von Testsonden oder Prüfspitzen über eine Relaismultiplexschaltung verbunden, die so verdrahtet ist, daß jede Prüfspitze über zwei Relais an einen oder zwei Testkanäle angeschlossen werden kann. Die Relais werden so betrieben, daß sie einen Testkanal zu einer Zeit immer nur mit einer Prüfspitze ver­ binden, und die gesamte Anzahl von Testkanälen sowie die Gesamtzahl von Prüfspitzen werden üblicherweise in Gruppen unterteilt. Derartige Testeinrichtungen sind aus den Veröffent­ lungen James J. Faran, Jr., "Methods of Assignment of Nodes to Pins for Multiplexed Testers", 1982, IEEE Test Conference und Michael W. Schraeder, "Multiplexed measuring devices reduce in-circuit-test expenses", EDN, 12.Mai 1982, bekannt.

Bei einer der von J.J. Faran beschriebenen Relaismultiplex­ schaltungen hat jede Gruppe zwei Testkanäle, die über 32 Relais mit allen 16 Prüfspitzen in der Gruppe verbunden werden können. Es können also nur zwei Prüfspitzen der Gruppe gleichzeitig angeschlossen werden, ohne sich zu stören. Bei diesem Multi­ plexer hat jede Gruppe einen einzigen (eigenen) Satz von zwei Testkanälen.

Bei einer aus der EP O 1 03 353 A2 bekannten Relaismultiplex­ schaltung wird eine begrenzte Anzahl von Kanälen mit den Prüf­ spitzen verbunden, wobei jeder Prüfspitzenschaltungspunkt einer Gruppe stets mit demselben Kanal oder denselben Kanälen, wenn es mehrere sind, verbunden sind. Dabei besteht eine große Wahr­ scheinlichkeit für eine gegenseitige Störung oder Beeinflussung der Testkanäle. Die Möglichkeit gegenseitiger Störungen kann auch verringert werden durch Vergrößerung der Anzahl von Relais zur Vergrößerung der "Tiefe", also der Anzahl von Testkanälen, die mit jeder Prüfspitze verbindbar sind. Im Extremfall, wo jeder Kanal mit jeder Prüfspitze verbunden werden kann, würde man sämtliche Kanäle und beliebige Prüfspitzen ohne gegen­ seitige Störung benutzen können. Die Anzahl von Relais wäre jedoch gleich der Anzahl von Kanälen mal der Anzahl von Prüf­ spitzen, so daß man beispielsweise 100 000 Relais brauchte, um 100 Prüfkanäle mit 1000 Prüfspitzen verbinden zu können.

Weiter ist aus der EP 00 30 723 B1 eine Testeinrichtung bekannt, bei der eine Anzahl von Prüfspitzen über eine Anzahl von Multi­ plexschaltungen, die der Anzahl der Prüfspitzen entspricht, mit einer Anzahl von Testkanälen verbunden sind. Auch hier ist also die Anzahl der Relais in allen Multiplexschaltungen gleich der Anzahl von Kanälen mal der Anzahl von Prüfspitzen, so daß ein entsprechend großer Schaltungsaufwand notwendig ist.

Unter Zugrundelegung eines Standes der Technik, wie er aus den oben angegebenen Veröffentlichungen von J.J. Faran und M.W. Schraeder bekannt ist, besteht die Aufgabe der Erfindung darin, eine derartige Testeinrichtung mit einer Relaismultiplex­ schaltung so weiterzubilden, daß bei geringer Wahrscheinlichkeit für gegenseitige Störungen und ohne Vergrößerung der Anzahl der Relais eine begrenzte Anzahl von Testkanälen mit einer großen Anzahl von Prüfspitzen verbindbar ist.

Diese Aufgabe wird durch eine Testeinrichtung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unter­ ansprüchen gekennzeichnet.

Der Grundgedanke der Erfindung besteht darin, daß eine begrenzte Anzahl von Testkanälen über eine Relaismultiplexschaltung mit einer großen Anzahl von Prüfspitzen bei geringerer Stör­ möglichkeit verbunden werden kann, ohne daß die Anzahl von Relais pro Prüfspitze vergrößert werden müßte, wenn man jede Prüfspitze mit einer einzigen Kombination von Testkanälen innerhalb der Gruppe verbindbar macht.

Bei bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung sind zwei Kanäle pro Prüfspitze vorgesehen;
sind mindestens einige der Kanäle in mehr als einer Gruppe enthalten;
sind P Prüfspitzen und C Kanäle innerhalb mindestens eines Teils einer Gruppe über Relais in voll kombinierbarer Weise angeschlossen; es wird also jede mögliche Kombination von C Kanälen benutzt, und P = C!/D!(C-D)!, wobei D gleich der "Tiefe" ist;
sind die Prüfspitzen einem bestimmten Element auf einer zu prüfenden Schaltungskarte zugeordnet, so daß jeder Kanal nicht mehr benutzt wird als die "Tiefe" und eine Prüfspitze einem Element zugeordnet ist, das nicht benutzt wird.

Ein weiterer Grundgedanke der Erfindung ist, daß dann, wenn eine Gruppe von Testkanal-Schaltungspunkten, Prüfspitzenschal­ tungspunkten und Relais einer Relaismultiplexschaltung weniger als jede mögliche einzige Kombination von Kanalschaltungs­ punkten enthalten soll, indem man die Anzahl der mit jedem Kanalschaltungspunkt verbindbaren Prüfspitzenschaltungs­ punkte in der Gruppe im wesentlichen gleich macht, die Kanäle besser ausgenutzt werden und die Möglichkeit gegen­ seitiger Störungen geringer werden.

Bei bevorzugten Ausführungsformen kann die Anzahl von Prüf­ spitzenschaltungspunkten, die mit jedem Kanalschaltungs­ punkt verbunden werden können, um nicht mehr als 1 variieren (es ist am meisten zu bevorzugen, wenn die Anzahl der Prüfspitzenschaltungspunkte pro Kanal gleich ist) und die Anzahl der Relais pro Kanal beträgt 2.

Nachfolgend seien Aufbau und Betriebsweise einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung näher erläutert. In den beiliegen­ den Zeichnungen zeigt

Fig. 1 ein Funktionsblockschaltbild einer erfindungsgemäßen Relaismultiplexschaltung, die mit einer zu testenden gedruckten Schaltungskarte sowie Ansteuer- und Detektor­ schaltungen für die Testkanäle verbunden ist;

Fig. 2 ein Funktionsblockschaltbild einer Kanalansteuer- und Detektorschaltung;

Fig. 3 ein Verdrahtungsschema zur Veranschaulichung der Schaltung der Relais zwischen den Kanalschaltungs­ punkten und den Prüfspitzenschaltungspunkten in der Relaismultiplexschaltung;

Fig. 4 eine schematische Darstellung eines Relais in der Relaismultiplexschaltung;

Fig. 5 eine schematische Seitenansicht einer im Test be­ findlichen Schaltungskarte, die durch Prüfspitzen kontaktiert wird, welche mit bestimmten Prüfspitzen­ schaltungsknoten der Relaismultiplexschaltung ver­ bunden sind und

Fig. 6 ein Diagramm zur Veranschaulichung des Verfahrens der Zuordnung von Kanalkombinationen zu Testprüf­ spitzen und unter Test befindlichen Bauelementen.

Die in Fig. 1 dargestellte Relaismultiplexschaltung 10 hat 126 Prüfspitzenschaltungspunkte 12, die über 126 Prüf­ spitzenleitungen 15 mit einer zu prüfenden gedruckten Schaltungskarte 13 verbunden sind, und 12 Testkanal- Schaltungspunkte 14, die über Kanalleitungen 18 mit 12 Kanalansteuer- und Detektorschaltungen 16 für die Kanäle A bis L verbunden sind. Die Kanalschaltungspunkte 14 sind mit den Prüfspitzenschaltungspunkten 12 über Relais im Multiplexer 10 verbunden, die durch eine Relaissteuer­ schaltung 20 betätigt werden. Die Kanalansteuer- und Detektorschaltungen 16 und die Relaissteuerschaltung 20 sind über eine Sammelleitung 24 mit einem Teststeuergerät 22 verbunden.

Fig. 2 zeigt eine Kanalansteuer- und Detektorschaltung 16, die eine Ansteuerschaltung 26 und eine Detektorschaltung 28 enthält, welche parallel an einen Schalter 29 angeschlos­ sen sind, der mit der Kanalleitung 18 verbunden ist. Fer­ ner enthält sie einen Schalter 30 zum Verbinden der Lei­ tung 18 mit einer Analogsignalleitung 31. Die Analogsignal­ leitung 31, die Ansteuerschaltung 26 und der Detektor 28 sind alle mit der Sammelleitung 24 verbunden.

Aus Fig. 3, welche die Verdrahtung der Relaismultiplex­ schaltung 10 zeigt, sieht man, daß es zwei Gruppen 32, 34 von Prüfspitzenschaltungspunkten 12 und Kanalschaltungs­ punkten 14 gibt. Die Gruppe 32 enthält die mit 1 bis 66 bezeichneten Prüfspitzenschaltungspunkte, und die Gruppe 24 enthält die mit 67 bis 126 bezeichneten Prüfspitzen­ schaltungspunkte. Innerhalb jeder Gruppe kann jeder Prüf­ spitzenschaltungspunkt 12 mit einer einzigen Kombina­ tion von zwei Kanalschaltungspunkten 14 über zwei Relais 36 (einfache A-Relais) verbunden werden. Wie Fig. 4 zeigt, läßt sich über jedes Relais 36 ein Kanalschaltungspunkt 14 mit einem Prüfspitzenschaltungspunkt 12 über einen Arbeitskontakt 38 verbinden, welcher sich durch TTL-Signale von der Ansteuerschaltung 20 (über nicht veranschaulichte Mittel) betätigen läßt. In der Gruppe 32 oder der Gruppe 34 kann eine Verbindung zwischen irgend einem Prüfspitzen­ schaltungspunkt und irgend einem Kanalschaltungspunkt der Gruppe mit irgend einem anderen Prüfspitzenschaltungspunkt oder Kanalschaltungspunkt der Gruppe über mehrere oder auch ein einziges betätigtes Relais hergestellt werden. Beim typischen Betrieb wäre jedoch jeweils zu einer Zeit jeder Kanalschaltungspunkt mit nicht mehr als einem Prüf­ spitzenschaltungspunkt verbunden, und jeder Prüfspitzen­ schaltungspunkt wäre nicht mit mehr als einem Kanalschaltungs­ punkt verbunden.

In der Gruppe 32 sind die Kombinationen der Kanalschal­ tungspunkte 14 den Prüfspitzenschaltungspunkten 12 voll kombinierbar zugeordnet; Fig. 3 veranschaulicht also jeg­ liche mögliche einzelne Kombination von zwei der zwölf Kanäle A bis L. Damit ist die Gesamtanzahl der Prüfspitzen­ schaltungspunkte (66) gleich C!/D!/(C-D)!, wobei C gleich der Kanalzahl (12) und D gleich der "Tiefe" (2) ist. In der Gruppe 32 kann jeder Kanal mit 11 Prüfspitzenschal­ tungspunkten verbunden werden.

Die Zuordnung der einzigartigen Kombinationen von zwei Kanalschaltungspunkten für die Prüfspitzenschaltungspunkte in der Gruppe 34 stimmt überein mit derjenigen in der Grup­ pe 32 mit der Ausnahme, daß es in der Gruppe 34 keine Kom­ binationen gibt, die denjenigen für die Prüfspitzenschal­ tungspunkte 21, 25, 33, 38, 48 und 56 entsprechen (daher können die Kanalkombinationen in der Gruppe 34 nicht voll kombiniert werden). Diese sechs Kombinationen sind nicht verdoppelt worden, weil nur 126 (und nicht 132) Prüf­ spitzenschaltungspunkte in der Relaismultiplexschaltung 10 benutzt werden. Ein X in Fig. 3 deutet an, daß in der Gruppe 34 eine in der Gruppe 32 benutzte Kombination fehlt. Diese Kombinationen wurden herausgenommen, weil jeder Kanal A bis L einmal repräsentiert ist, so daß in der Grup­ pe 34 jedem der zwölf Kanäle A bis L zehn Prüfspitzen­ schaltungspunkte zugeordnet sind anstatt daß beispielsweise einem Kanal neun und einem anderen elf Prüfspitzenschal­ tungspunkte zugeordnet sind. Diese gleichmäßige Verteilung der Prüfspitzen auf die Kanäle reduziert gegenseitige Störungen wie es bei der Notwendigkeit, daß jeder Prüf­ spitzenschaltungspunkt in einer Gruppe mit einer einzigen Kombination von Kanalschaltungspunkten verbindbar sein soll, der Fall wäre, was nachstehend noch erläutert wird.

Aus Fig. 5 sieht man, daß die gerade geprüfte gedruckte Schaltungskarte 13 mehrere elektronische Elemente 40 ent­ hält. Wie in Fig. 5 für ein einziges Element 40 etwas schematisch veranschaulicht ist, werden die Schaltungs­ punkt 42 an den Zuleitungen zum Element 40 von unter Feder­ druck stehenden Prüfspitzen 44 kontaktiert, die mit den angegebenen elf Prüfspitzenschaltungspunkten 12 (diejeni­ gen mit den Nummern 1, 3, 6, 10, 15, 21, 28, 36, 45, 55, 66) verbunden sind. Ferner sieht man aus Fig. 3, daß die ange­ gebenen elf Prüfspitzenschaltungspunkte und ein weiterer Prüfspitzenschaltungspunkt 12, der mit 56 bezeichnet ist, so ausgewählt sind, daß jeder Kanal nicht mehr als zweimal benutzt worden ist; all diese Kanäle können zum Testen des Elementes 40 ohne gegenseitige Beeinflussung benutzt wer­ den.

Es sei nun die Betriebsweise erläutert. Wenn die zu prüfen­ de gedruckte Schaltungskarte 13 mehr als 40 Elemente und 42 Schaltungspunkte hat, die von den zwölf Kanälen A bis L angesteuert werden können, und 126 Prüfspitzen mit der Relaismultiplexschaltung 10 verbunden sind, dann werden zusätzliche Gruppen von zwölf Kanalansteuer- und Detektor­ schaltungen 16, Relaismultiplexschaltungen 10 und Relais­ steuerschaltungen 20 vorgesehen und über eine Sammellei­ tung 24 mit dem Teststeuergerät 22 verbunden.

An einer Halterung sind Prüfspitzen 44 so angebracht, daß sie alle Schaltungspunkte 42 der zu prüfenden Schaltungs­ karte 13 kontaktieren. Bei der Verdrahtung der Prüfspitzen 44 mit den Prüfspitzenschaltungspunkten 12 sind letztere so zugeordnet, daß jeder Kanal nicht mehr als zweimal in den Kanalkombinationen benutzt wird, welche den mit einem einzigen Element 40 verbundenen Prüfspitzenschaltungspunk­ ten zugeordnet sind. Ein dem Bauelement 40 zugeordneter Prüfspitzenschaltungspunkt wird anfänglich nicht verdrah­ tet, sondern bleibt in Reserve.

Für die Zuordnung der Prüfspitzenschaltungspunkte kann das Diagramm der Kombinationen nach Fig. 6 herangezogen werden. Ordnet man beispielsweise Prüfspitzenschaltungs­ punkte den in Fig. 5 verdrahtet gezeichneten Prüfspitzen 44 zu, dann nimmt man die Kanalkombinationsgruppe 46 heraus, um Kombinationen zu erhalten, bei denen jeder Kanal nur zweimal benutzt wird, und man bezieht sich auf Fig. 3 zur Identifizierung der Nummern der entsprechenden Prüf­ spitzenschaltungspunkte mit diesen Kombinationen. Eine nicht benutzte Kombination der Gruppe 46 ist die Kombina­ tion der Kanäle A und L, also die Kombination für den Prüf­ spitzenschaltungspunkt 56. Wenn man nur elf Prüfspitzen in einer Kanalkombinationsgruppe benutzt, dann kann man jeden Kanal freihalten zur Benutzung durch jegliche ver­ bleibende Prüfspitze, um ohne gegenseitige Störungen spä­ tere Änderungsanweisungen erfüllen zu können, welche die Schaltungspunkte 42 betreffen würden und ein Vorsehen einer weiteren Prüfspitze am Element 40 erforderlich machen wür­ den.

Beim Verdrahten weiterer Prüfspitzenschaltungspunkte 12 mit Prüfspitzen 44 für weitere Elemente 40 kann man die Prüfspitzenschaltungspunkte, die den Kanalkombinations­ gruppen 48 bis 54 (Fig. 6) zugeordnet sind, zur Identifi­ zierung der Prüfspitzenschaltungspunkte benutzen, so daß für jedes Element 40 jeder Kanal mehr als zweimal benutzt wird.

Stellt man diese Verdrahtungsverbindungen zwischen Test­ spitze und Testspitzenschaltungspunkt her, dann bestehen weniger gegenseitige Störungsmöglichkeiten (daß also ein Kanal gleichzeitig mit mehr als einer Testspitze verbunden sein müßte), als bei bekannten Relaismultiplexschaltungen mit vergleichbarer Anzahl von Kanälen und Relais, weil die Prüfspitzenschaltungspunkte 12 innerhalb der Gruppe 32 oder 34 mit den einzigartigen oder speziellen Kombinatio­ nen der Kanalschaltungspunkte 14 verbindbar sind. Es besteht eine geringere Möglichkeit, daß beide Kanäle für einen Prüfspitzenschaltungspunkt 12 durch andere Prüf­ spitzenschaltungspunkte benutzt werden müßten als wenn bei­ spielsweise 16 Prüfspitzenschaltungspunkte 12 alle mit denselben Zwei-Kanal-Schaltungspunkten 14 verbindbar wären.

Die verschiedenen Elemente 40 auf der zu prüfenden Schal­ tungskarte 13 werden getestet, indem man Eingangssignale an die Prüfspitzen 44 legt, welche in Kontakt mit denjeni­ gen Schaltungspunkten 42 auf der Schaltungskarte 13 stehen, die elektrisch mit den Zuleitungen des betreffenden Ele­ mentes 40 verbunden sind, während andere Elemente 40 auf der Karte nicht benutzt werden, und bei Zuführung geeigne­ ter Signale fühlt man die resultierenden Zustände an die­ sen Schaltungspunkten ab. Beim Testen einzelner Elemente 40 werden ausgewählte Kanäle A bis L mit ausgewählten Prüfspitzen 44 verbunden durch Aktivierung geeigneter Relais 36 über die Ansteuerschaltung 20, welche über die Sammelleitung 24 die Relaisansteuersignale liefert. Das Teststeuergerät 22 liefert auch Teststeuersignale über die Leitung 24 zur Betätigung der Kanalansteuerschaltungen 26, damit Testeingangssignale geliefert werden, und der Detektoren 28 zum Abfühlen der Testausgangssignale, wenn der Schalter 29 geschlossen und der Schalter 30 offen ist. Bei geschlossenem Schalter 30 werden den Prüfspitzen 44 Analogsignale zugeführt. Die Testausgangssignale werden dem Teststeuergerät 22 zugeführt und mit erwarteten Aus­ gangssignalen verglichen. Nachdem ein Element getestet wor­ den ist, wird ein anderes Element 40 auf der Schaltungs­ karte getestet durch Aktivierung eines anderen Satzes von Prüfspitzen 44 usw.

Innerhalb des Bereichs der beiliegenden Ansprüche liegen auch andere Ausführungsformen der Erfindung. Wenn beispiels­ weise weniger als 60 Prüfspitzen in der Gruppe 34 benutzt werden, dann werden zusätzliche Kanalkombinationen heraus­ genommen, so daß die Anzahl der Prüfspitzen pro Kanal für alle Kanäle dieselbe ist. Wenn beispielsweise zwischen sieben und zwölf der 66 insgesamt möglichen Kombinationen nicht benutzt würden (wenn man also zwischen 54 und 59 Prüfspitzen haben möchte), dann würde jeder Kanal nicht mehr als zweimal in den Kombinationen repräsentiert, wel­ cher aus dem in Gruppe 32 dargestellten voll kombinier­ baren Satz entfernt sind. (In diesem Falle gäbe es für jeden Kanal zehn oder elf Prüfspitzen pro Kanal). Würde man zwischen dreizehn und achtzehn der insgesamt 66 nicht benutzen, dann würde jeder Kanal nicht mehr als dreimal in den Kombinationen repräsentiert, welche aus dem voll kombinierbaren Satz herausgenommen sind (in diesem Falle gäbe es pro Kanal neun oder zehn Prüfspitzen), usw. Diese im wesentlichen gleichförmige Anzahl von Prüfspitzen für jeden Kanal führt zu einer effizienten Ausnutzung der Kanäle und Relais unter Vermeidung gegenseitiger Beein­ flussungen; wenn man beispielsweise Prüfspitzenschaltungs­ punkte mit den Nummern 1 bis 60 benutzt, würde der Kanal L nur mit fünf Prüfspitzen zu verbinden sein, während die anderen Kanäle mit elf oder zehn Prüfspitzen verbun­ den werden könnten, so daß der Kanal L nicht effizient ausgenutzt wird. Während in einigen Fällen die Prüfspitzen pro Kanal für jeden Kanal um mehr als eine variieren und dies noch akzeptierbar wäre, sollten vorzugsweise die Prüf­ spitzen pro Kanal für jeden Kanal einer Gruppe um nicht mehr als 1 unterschiedlich sein, und bevorzugterweise soll­ te für alle Kanäle die gleiche Anzahl benutzt werden.

Das Diagramm nach Fig. 6 läßt sich heranziehen zur Identi­ fizierung von Kanalkombinationen, welche aus dem voll kombinierbaren Satz zu entfernen sind. In Fig. 6 sind die 66 speziellen Kanalkombinationen für zwölf Kanäle A bis L und "Tiefe" von 2 unterteilt in fünf Gruppen 46 bis 54 von zwölf Kanalkombinationen und eine Gruppe 56 von sechs Kanalkombinationen. In der Gruppe 56 wird jeder Kanal nur einmal repräsentiert, und in jeder der Gruppen 46 bis 54 wird jeder Kanal zweimal repräsentiert. Wenn man somit zwischen 60 und 65 Prüfspitzen benutzen will, könnte man die Kanalkombinationen der Gruppe 56 zur Entfernung aus­ wählen (die sechs in der Gruppe 34 nicht benutzten Kombi­ nationen sind unterschiedlich, jedoch äquivalent denjeni­ gen in der Gruppe 56). Wollte man zwischen 54 und 59 Prüfspitzen benutzen, dann könnte man die Kombinationen jeder der Gruppen 46 bis 54 zur Herausnahme auswählen. Wollte man zwischen 48 und 53 Prüfspitzen benutzen, dann könnte man die Kombinationen der Gruppe 56 und irgend eine der Gruppen 46 bis 54 zur Herausnahme auswählen usw.

Auch wenn man eine zweite Gruppe benutzt, um zusätzliche Prüfspitzen an Kanäle anzuschließen, die bereits in einer ersten Gruppe mit einem voll kombinierbaren Satz von Kanalkombinationen enthalten sind, könnte man den neuen Prüfspitzen Kanäle zuordnen, so daß die Anzahl von Prüf­ spitzen pro Kanal in der zweiten Gruppe im wesentlichen gleichförmig ist. Auf diese Weise wären die Werte der Gesamtprüfspitzen pro Kanal im wesentlichen gleichförmig und man erhielte eine effiziente Kanalausnutzung und die Möglichkeit gegenseitiger Beeinflussungen würden ver­ ringert.

Die hier beschriebenen Grundsätze können auch auf "Tiefen" angewendet werden, die größer als 2 sind, und auf andere Anzahlen von Kanälen in einer Gruppe.

Claims (13)

1. Testeinrichtung mit auf einem Träger angebrachten Prüf­ spitzen, die räumlich so angeordnet sind, daß sie Schaltungs­ punkte einer zu prüfenden gedruckten Schaltung (13) kontaktieren, mit Testkanälen und einer Relaismultiplexschaltung (10) zur wahl­ weisen Verbindung der Kanäle mit ausgewählten Prüfspitzen (44), deren Anzahl größer ist als die der Kanäle, wobei die Relais­ multiplexschaltung (10) Kanalschaltungspunkte (14) zur Verbindung mit den Kanälen und Prüfspitzenschaltungspunkte (12) zur Ver­ bindung mit den Prüfspitzen (44), sowie Relais enthält, welche so verdrahtet sind, daß wahlweise mindestens einige der Prüf­ spitzenschaltungspunkte (12) mit mindestens zwei Kanälen ver­ bindbar sind, mindestens einige der Prüfspitzenschaltungspunkte (12), der Kanalschaltungspunkte (14) und der Relais in einer Gruppe so organisiert sind, daß eine Verbindung zwischen irgendeinem Prüfspitzenschaltungspunkt (12) oder irgendeinem Kanalschaltungs­ punkt (14) der Gruppe mit irgendeinem anderen Prüfspitzen­ schaltungspunkt (12) oder Kanalschaltungspunkt (14) der Gruppe über mehrere betätigte oder ein einziges betätigtes Relais möglich ist, und wobei die Anzahl der Prüfspitzenschaltungs­ punkte in der Gruppe größer ist als die Anzahl der Kanal­ schaltungspunkte der Gruppe, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Prüfspitzenschaltungspunkt (12) der Gruppe mit einer einzigen speziellen Kombination von Kanalschaltungspunkten (14) in der Gruppe verbindbar ist.

2. Testeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die speziellen Kombinationen der Kanalschaltungspunkte (14) in der Gruppe voll kombinierbar sind.

3. Testeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die speziellen Kombinationen der Kanalschaltungspunkte (14) in der Gruppe weniger als den voll kombinierbaren Satz von Kombinationen enthalten.

4. Testeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens einige der Kanäle mit mehr als einer Gruppe verbindbar sind.

5. Testeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfspitzenschaltungspunkte (12) mit den Prüfspitzen (44) für Schaltungspunkte für ein bestimmtes elektronisches Bauelement auf der gedruckten Schaltungskarte verbunden sind und Kanalkombinationen zugeordnet haben, derart, daß jeder Kanal in der Gruppe in den zugehörigen Kombinationen nicht öfter repräsentiert ist als die Anzahl der Relais pro Prüfspitze (44), und daß Kanäle in den zugehörigen Kombinationen in geringerer als der Anzahl von Relais pro Prüfspitze repräsen­ tiert sind, um Konstruktionsänderungen der zu prüfenden Schal­ tung ohne gegenseitige Beeinflussungen zu ermöglichen.

6. Testeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die speziellen Kombinationen der Kanalschaltungspunkte (14) in der Gruppe weniger als den voll kombinierbaren Satz von Kombinationen enthält, und daß die Anzahl der mit jedem Kanal der Gruppe verbindbaren Prüfspitzen (44) im wesentlichen gleich ist, um die Kanale effizienter auszunutzen und die Möglichkeit gegenseitiger Beeinflussungen zu verringern.

7. Testeinrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der an jeden Kanalschaltungspunkt (14) anschließ­ baren Prüfspitzenschaltungspunkte (12) innerhalb einer Gruppe um nicht mehr als 1 variiert.

8. Testeinrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der mit jedem Kanalschaltungspunkt (14) verbindbaren Prüfspitzenschaltungspunkte (12) gleich ist.

9. Testeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens einige der Prüfspitzen­ schaltungspunkte (12), Kanalschaltungspunkte (14) und Relais in einer zweiten Gruppe organisiert sind, daß die Anzahl der mit jedem Kanal in der zweiten Gruppe verbindbaren Prüf­ spitzen (44) im wesentlichen gleich ist, um die Kanäle im Sinne einer Reduzierung der Möglichkeit gegenseitiger Beeinflussungen effizienter auszunutzen.

10. Testeinrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die speziellen Kombinationen der Kanalschaltungspunkte (14) in der ersten Gruppe voll kombinierbar sind.

11. Testeinrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der Prüfspitzenschaltungspunkte (12) der zweiten Gruppe, die mit jedem Kanalschaltungspunkt der zweiten Gruppe verbindbar sind, in der zweiten Gruppe um nicht mehr als 1 variiert.

12. Testeinrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der mit jedem Kanalschaltungspunkt (14) der zweiten Gruppe verbindbaren Prüfspitzenschaltungspunkte (12) der zweiten Gruppe die gleiche ist.

13. Testeinrichtung nach Anspruch 1 oder 6 oder 12 , dadurch gekennzeichnet, daß pro Prüfspitze (44) zwei Kanalschaltungs­ punkte (14) vorgesehen sind.