FR2561480A1 - Procede et circuit de multiplexage a relais pour un appareil de test de circuits - Google Patents
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Abstract
L'INVENTION PORTE SUR UN CIRCUIT MULTIPLEXEUR A RELAIS 10 UTILISABLE DANS UN APPAREIL DE TEST DE CIRCUITS IMPRIMES, POUR CONNECTER DES CANAUX A-L DE L'APPAREIL A DES NOEUDS D'UN CIRCUIT SOUS TEST 13 EN NOMBRE SUPERIEUR AU NOMBRE DE CANAUX. LE CIRCUIT MULTIPLEXEUR COMPORTE DANS CE BUT DES NOEUDS DE CANAUX 14 POUR LA CONNEXION AUX CANAUX, DES NOEUDS DE BROCHE 12 POUR LA CONNEXION A DES BROCHES DE TEST ET DES RELAIS CABLES DE FACON A PERMETTRE DE CONNECTER SELECTIVEMENT CERTAINS AU MOINS DES NOEUDS DE BROCHE 12 A AU MOINS DEUX DES CANAUX. LES ELEMENTS CONSTITUTIFS DU CIRCUIT MULTIPLEXEUR SONT ORGANISES EN GROUPES DE MANIERE A PARVENIR A UNE BONNE UTILISATION DES CANAUX, EN REDUISANT LE RISQUE DE CONFLIT.
Description
PROCEDE ET CIRCUIT DE MULTIPLEXAGE
A RELAIS POUR UNT APPAREIL DE TEST
DE CIRCUITS
La présente invention concerne un circuit multi-
plexeur de relais destiné à permettre la connexion des ca- naux d'un appareil de test à un grand nombre de noeuds
d'une carte de circuit qui est testée.
On peut tester une carte de circuit imprimé en utilisant un appareil de test pour appliquer des signaux de test à des noeuds de la carte sous test et pour analyser les conditions résultantes aux noeuds. Un procédé de test, qu'on appelle test in situ, comprend les opérations qui consistent à utiliser des broches de test pour établir des contacts avec les noeuds de la carte sous test, à appliquer
& ces noeuds des signaux qui affectent les conditions pré-
sentes dans un dispositif donné sur la carte (habi-
tuellement les noeuds connectés à des conducteurs menant
au dispositif particulier), à analyser les signaux résul-
tants, et à tester ensuite un autre dispositif sur la carte en appliquant des signaux à un autre ensemble de noeuds de
la carte sous test, et ainsi de suite. Il y a de façon re-
pr;eiLtative un nombre limité de canaux de test, du fait
de leur coût, qui sont connectés à un grand nombre de bro-
ches de test au moyen d'un multiplexeur à relais qui est câblé de façon à permettre de connecter chaque broche de test A un canal de test parmi deux, par l'intermédiaire de deux relais. On actionne les relais pour connecter un canal de test à une seule broche de test à la fois, et le nombre Dotal de canaux de test et le nombre total de broches de
test sont habituellement divisés en groupes.
Dans un tel multiplexeur & relais de l'art anté-
rieur, chaque groupe comporte deux canaux de test qu'on peut connecter à l'ensemble des seize broches de test dans le groupe, par l'intermédiaire de 32 relais; ainsi, on ne peut connecter en même temps que deux broches de test du groupe, sans conflit. Dans ce multiplexeur, chaque groupe
comprend un ensemble particulier de deux canaux de test.
On peut également réduire la possibilité de con-
flit en augmentant le nombre de relais pour augmenter la "profondeur", c'est-à-dire le nombre de canaux de test qu'on peut connecter à chaque broche de test. Dans le cas extrême, permettant de connecter chaque canal à chaque broche, on pourrait utiliser tous les canaux et n'importe quelles broches sans conflit. Le nombre de relais serait cependant égal au nombre de canaux multiplié par le nombre de broches de test, ce qui exigerait par exemple 100 000 relais pour permettre de connecter cent canaux de test à
mille broches de test.
L'inventeur a découvert qu'il était possible de connecter un nombre limité de canaux de test à un grand nombre de
broches de test, par l'intermédiaire d'un circuit multi-
plexeur à relais, en diminuant la possibilité de conflit et sans augmenter le nombre de relais par broche, en faisant
en sorte que chaque broche puisse être connectée à une com-
binaison particulière de canaux de test dans un groupe.
Dans des modes de réalisation préférés, il y a deux canaux par broche; certains au moins des canaux sont incorporés dans plus d'un groupe; les P broches et les C canaux qui appartiennent à au moins une partie d'un groupe sont connectés par des relais d'une manière combinatoire complète, c'est-à-dire qu'on utilise chaque combinaison possible de C canaux, et P = C!/D!(C-D)!, en désignant par D la profondeur; et les broches de test sont affectées à un dispositif particulier sur une carte sous test, de façon
que l'utilisation de chaque canal ne dépasse pas la profon-
deur, et une broche qui est affectée à un dispositif n'est
pas utilisée.
L'inventeur a découvert que lorsqu'un groupe de noeuds de canal de test, de noeuds de broche de test et de relais d'un multiplexeur à relais, doit comporter moins que toutes les combinaisons particulières possibles de noeuds de canal, le fait de rendre pratiquement uniforme dans le groupe le nombre de noeuds de broche pouvant être connectés à chaque noeud de canal permet d'utiliser efficacement les canaux de
façon à réduire la possibilité de conflit.
Dans des modes de réalisation préférés, le nombre de noeuds de broche qui peuvent être connectés à chaque noeud de canal ne varie pas de plus de un (dans la condition la plus avantageuse, le nombre de noeuds de broche par canal
est le même); et le nombre de relais par canal est de deux.
L'invention sera mieux comprise à la lecture de
la description qui va suivre de modes de réalisation, donnés
à titre non limitatif. La suite de la description se réfère
aux dessins annexés sur lesquels: La figure 1 est un schéma synoptique fonctionnel
montrant un circuit multiplexeur à relais conforme à l'in-
vention, connecté à une carte de circuit imprimé en cours
de test et à des circuits d'attaque/détecteurs pour des ca-
naux d'un appareil de test.
La figure 2 est un schéma synoptique fonctionnel
d'un circuit d'attaque/détecteur de canal.
La figure 3 est un schéma montrant le câblage des relais entre des noeuds de canal et des noeuds de broche
dans le circuit multiplexeur à relais.
La figure 4 est un schéma d'un relais du circuit
multiplexeur à relais.
La figure 5 est une représentation schématique en élévation d'une carte sous test qui est en contact avec
des broches de test connectées à des noeuds de broche spé-
cifiés du circuit multiplexeur à relais.
La figure 6 est un diagramme montrant un procédé d'affectation de combinaisons de canaux à des broches de
test et à des dispositifs sous test.
Structure
En considérant la figure 1, on voit un multiple-
xeur à relais 10 qui comporte 126 noeuds de broches de test 12, connectés au circuit imprimé sous test 13 par 126 lignes de broche 15, et douze noeuds de canal de test 14, connectés à douze circuits d'attaque/décodeurs de canal 16, pour des canaux A à L, par l'intermédiaire de lignes de canal 18. Les noeuds de canal 14 sont connectés à des noeuds de broche 12 par l'intermédiaire de relais dans un multiplexeur 10 qui est commandé par un dispositif de commande de relais 20. Les circuits d'attaque/détecteurs de canal 16 et le dispositif de commande de relais 20 sont connectés au dispositif de commande de test 22 par le bus 24. La figure 2 montre un
circuit d'attaque/détecteur de canal 16. Il comprend un cir-
cuit d'attaque 26 et un détecteur 28 connectés en parallèle à un interrupteur 29 qui est connecté à la ligne de canal
18. Il comprend également un interrupteur 30 destiné à con-
necter la ligne 18 à la ligne de signal analogique 31. La ligne de signal analogique 31, le circuit d'attaque 26 et
le détecteur 28 sont tous connectés au bus 24.
En considérant la figure 3, qui montre le câblage du multiplexeur à relais 10, on voit qu'il y a deux groupes 32, 34 de noeuds de broche 12 et de noeuds de canal -14. Le groupe 32 comprend les noeuds de broche de test numérotés de 1 à 66, et le groupe 34 comprend les noeuds de broche de test numérotés de 67 à 126. Dans chaque groupe, chaque noeud
de broche 12 peut être connecté à une combinaison particu-
lière de deux noeuds de canal 14 par l'intermédiaire de deux
relais 36 (relais A se présentant sous une forme unique).
Comme on le voit sur la figure 4, chaque relais 36 permet de connecter un noeud de canal 14 à un noeud de broche 12 au moyen d'un interrupteur ouvert au repos 38 qui est commandé par des signaux TTL provenant du dispositif de commande 20 (par des moyens non représentés). Dans le groupe 52 ou le groupe 34, il est possible d'établir une connexion entre un noeud de broche quelconque ou un noeud de canal quelconque du groupe, et n'importe quel autre noeud de broche ou noeud de canal du groupe, par l'intermédiaire de relais uniques ou multiples fermés; cependant, dans un fonctionnement reDrésentatif, a un instant donné quelconque, chaque noeud de canal n'est pas connecté à plus d'un noeud de broche, et chaque noeud de broche n'est pas connecté à plus d'un noeud
de canal.
Dans le groupe 32, les combinaisons de noeuds de
canal 14 sont affectées aux noeuds de broche 12 d'une ma-
nière combinatoire complète, c'est-à-dire que chaque combi-
naison particulière possible de deux des douze canaux A à L est représentée sur la figure 5. Le nombre total de noeuds de broche (66) est ainsi égal à C!/D!(C-D)!, en désignant
par C le nombre de canaux (12) et par D la profondeur (2).
Dans le groupe 32, chaque canal peut être connecté à onze
noeuds de broche de test.
L'affectation de combinaisons particulières de deux noeuds de canal pour les noeuds de broche de test dans le groupe 34 est identique à celle qui est faite dans le
groupe 32, à l'exception du fait que le groupe 34 ne com-
porte pas de combinaisons correspondant & celles relatives
aux noeuds de broche numérotés 21, 25, 33, 38, 48, 56.
(Les combinaisons de canaux ne sont donc pas complètement combinatoires dans le groupe 34.) Ces six combinaisons n'ont pas été reproduites du fait qu'on n'utilise que 126 (et non 132) noeuds de broche dans le multiplexeur à relais 10. Un X sur le schéma de la figure 3 indique l'absence dans le groupe 34 d'une combinaison qui est utilisée dans
le groupe 32. On a choisi ces combinaisons du fait que cha-
que canal A à L est représenté une fois, ce qui fait qu'il
y a dans le groupe 34 dix noeuds de broche affectés à cha-
cun des douze canaux A à L, au lieu de, par exemple, neuf
broches affectées à un canal et onze à un autre. Cette ré-
partition uniforme des broches par canal a pour action de réduire les conflits, de même que l'exigence consistant en ce que chaque noeud de broche dans un groupe doit pouvoir être connecté à une combinaison particulière de noeuds de
canal, comme on l'envisagera ci-après.
En considérant la figure 5, on voit que le cir-
cuit imprimé sous test 13 comprend un ensemble de disposi-
tifs électroniques 40. Comme il est représenté de façon
quelque peu schématique sur la figure 5 pour un seul dis-
positif 40, des broches de test à ressort 44 viennent en contact avec des noeuds 42 au niveau des conducteurs de connexion du dispositif 40, et ces broches sont connectées aux onze noeuds de broche 12 indiqués (ceux numérotés 1 3, 6, 10, 15, 21, 28, 36, 45, 55, 66). Comme on peut le voir sur la figure 3, les onze noeuds de broche indiqués et un autre noeud de broche 12, c'est-à-dire celui qui
porte le numéro 56, ont été sélectionnés de façon que cha-
que canal n'ait pas été utilisé plus de deux fois; on
peut ainsi utiliser sans conflit tous les canaux pour tes-
ter le dispositif 40.
Fonctionnement 'En fonctionnement, si le circuit imprimé sous test 13 comporte plus de dispositifs 40 et de noeuds 42 que ne permettent d'en attaquer les douze canaux A à L et les 126 broches de test connectées au multiplexeur à relais
, on prévoit des groupes supplémentaires de douze cir-
cuits d'attaque/détecteurs de canal 16, de multiplexeurs à relais 10 et de dispositifs de commande de relais 20, et on les connecte au dispositif de commande de test 20 par
le bus 24.
Les broches de test 44 sont montées sur un sup-
port en étant placées de façon à venir en contact avec tous les noeuds 42 du circuit imprimé sous test 13. Lorsqu'on établit le câblage reliant les broches de test 44 aux
noeuds de broche 12, on affecte les noeuds de broche de fa-
çon que chaque canal ne soit pas utilisé plus de deux fois dans les combinaisons de canaux qui sont associées aux noeuds de broche connectés à un seul dispositif 40. Un noeud de broche qui est affecté à un dispositif 40 n'est
pas câblé initialement, mais est réservé.
On peut utiliserle diagramme de combinaisons de
la figure 6 pour affecter les noeuds de broche. Par exem-
ple, lorsqu'on affecte des noeuds de broche aux broches de test 44 dont le câblage est représenté sur la figure 5, on choisit un groupe de combinaisons de canaux46 pour obtenir
des combinaisons telles que chaque canal soit utilisé seu-
lement deux fois, et on se réfère à la figure 3 pour iden-
tifier les numéros des noeuds de broche correspondants ayant ces combinaisons. Une combinaison du groupe 46 qui n'est pas utilisée est la combinaison des canaux A et-L,
c'est-à-dire la combinaison pour le noeud de broche por-
tant le numéro 56. En utilisant seulement onze broches dans un groupe de combinaisons de canaux,on peut libérer
n'importe que] canal pour l'utilisation par n'importe quel-
le broche restante, afin d'admettre, sans conflit, des de-
mandes de changement ultérieures, pour des raisons de con-
ception, qui pourraient affecter des noeuds 42 et exiger
d'affecter une autre broche de test à un dispositif 40.
Dans l'établissement du câblage reliant des noeuds de broche 12 supplémentaires à des broches de test
44, pour des dispositifs 40 supplémentaires, on peut uti-
liser les noeuds de broche de test associés aux groupes de combinaisons de canaux 48 à 54 (figure 6), pour identifier des noeuds de broche, de façon que pour chaque dispositif
, chaque canal ne soit pas utilisé plus de deux fois.
Lorsqu'on établit ces connexions de câblage en-
tre les broches de test et les noeuds de broche, la possi-
bilité de conflit (c'est-à-dire la possibilité qu'un canal doive être connecté simultanément à plus d'une broche de test), est plus faible qu'avec des multiplexeurs à relais antérieurs ayant des nombres comparables de canaux et de relais, du fait que les noeuds de broche 12 dans le groupe
32 ou 34 peuvent être connectés à des combinaisons parti-
culières de noeuds de canal 14. Il y a une plus faible probabilité que les deux canaux pour un noeud de broche 12 doivent être utilisés par d'autres noeuds de broche que ce ne serait le cas si, par exemple, seize noeuds de broche 12'pouvaient tous être connectés aux deux mêmes noeuds de
canal 14.
On teste les divers dispositifs 40 qui se trou-
vent sur le circuit imprimé sous test 13 en appliquant des signaux d'entrée à des broches de test 44 en contact avec
les noeuds 42 du circuit imprimé 13 qui sont électrique-
ment communs à des conducteurs de connexion d'un disposi-
tif 40 donné sur le circuit imprimé, tandis qu'on invalide
d'autres dispositifs 40 sur le circuit imprimé en leur ap-
pliquant les signaux appropriés, et en détectant les con-
ditions résultantes sur les noeuds communs aux conducteurs de connexion du dispositif 40 qui est testé. Lorsqu'on
teste des dispositifs 40 individuels, on connecte des ca-
naux A-L sélectionnés à des broches de test 44 sélection-
nées en activant les relais 36 appropriés au moyen du dis-
positif de commande de relais 20, fonctionnant sous la dé-
pendance de signaux de commande de relais que le disposi-
tif de commande 22 applique par le bus 24. Le dispositif de commande de test 22 applique également des signaux de
commande de test par le bus 24 de façon à faire fonction-
ner les circuits d'attaque de canal 26 pour produire des
signaux d'entrée de test, et les détecteurs 28 pour dé-
tecter les signaux de sortie de test, pendant que l'inter-
rupteur 29 est fermé et l'interrupteur 30 est ouvert.
Lorsque l'interrupteur 30 est fermé, des signaux analogi-
ques sont appliqués aux broches de test 44. Les signaux de sortie de test sont appliqués au dispositif de commande de test 22 et sont comparés avec des signaux de sortie de test attendus. Après avoir testé un dispositif 40, on teste un autre dispositif 40 sur le circuit imprimé en activant
un autre jeu de broches de test 4a, Et ainsi de suite.
Autres modes de réalisation
D'autres modes de réalisation de l'invention en-
trent dans le cadie des revendications qui suivent. A titre
d'exemple, si on doit utiliser moins de soixante broches dans le groupe 34, on choisit des combinaisons de canauxc supplémentaires de façon que le nombre de broches par canal soit le même pour chaque canal. A titre d'exemple, si on
n'utilisait pas entre sept et douze des soixante-six combi-
naisons totales possibles (c'est-a-dire si on désirait avoir
entre 54 et 59 broches), chaque canal ne serait pas repre-
senté plus de deux fois dans les combinaisons supprimées dans l'ensemble combinatoire complet représenté dans le groupe 32. (Dans ce cas, le nombre de broches par canal, pour chaque canal, serait de dix ou onze.) Si on n'utilisait pas entre treize et dix-huit combinaisons sur le total de 66, chaque canal ne serait pas représenté plus de trois fois dans les combinaisons supprimées de l'ensemble combinatoire complet (dans ce cas, le nombre de broches par canal serait
de neuf ou de dix), et ainsi de suite. Cette uniformité ap-
proximative du nombre des broches affectées à chaque canal conduit à une bonne utilisation des canaux et des relais pour éviter un conflit; à titre d'exemple, si on utilisait simplement les noeuds de broche numérotés de 1 à 60, le canal L ne pourrait être connecté qu'à cinq broches, tandis que les
autres canaux pourraient être connectés à onze ou dix bro-
ches, conduisant ainsi à une mauvaise utilisation du canal
L. Bien que dans certains cas le nombre de broches par ca-
nal pour chaque canal puisse varier de plus d'lun en étant néanmoins acceptable, il est préférable que le nombre de broches par canal pour chaque canal d'un groupe ne varie pas de plus d'un, et la condition préférable est celle
dans laquelle le nombre est le même pour tous les canaux.
On peut utiliser le diagramme de la figure 6 pour identifier des combinaisons de canaux à supprimer dans l'en-
semble combinatoire complet. Sur la figure 6, les soixante-
six combinaisons de canaux particulières pour douze canaux A-L et une profondeur de deux, sont divisées en cinq groupes 46 à 54 de douze combinaisons de canaux, et en un groupe 56 de six combinaisons de canaux. Dans le groupe 56, chaque canal est représenté une fois, et dans chacun des groupes 46
à 54 chaque canal est représenté deux fois. Ainsi, si on de-
vait utiliser entre 60 et 65 broches, on pourrait sélection-
ner pour suppression les combinaisons de canaux du groupe 56. (Les six combinaisons inutilisées dans le groupe 34 sont
différentes de celles du groupe 56 mais leur sont équivalen-
tes.) Si on devait utiliser entre 54 et 59 broches, on pourrait sélectionner pour suppression les combinaisons
de l'un quelconque des groupes 46 à 54. Si on devait utili-
ser entre 48 et 53 broches, on pourrait sélectionner pour suppression les combinaisons du groupe 56 et de l'un
quelconque des groupes 46 à 54, et ainsi-de-suite.
De plus, lorsqu'on utilise un second groupe pour ajouter des broches pour la connexion à des canaux existant déjà dans un premier groupe ayant un ensemble combinatoire complet de combinaisons de canaux, on pourrait affecter des
canaux aux nouvelles broches de façon que le nombre de -bro-
ches par canal dans le second groupe soit pratiquement uni-
forme. De cette manière, les valeurs globales des nombres de broches par canal seraient pratiquement uniformes, ce
qui assurerait une bonne utilisation des canaux et favorise-
rait la diminution des risques de conflit.
On peut également appliquer les principes décrits
ici à des profondeurs supérieures à deux et à d'autres nom-
bres de canaux dans un groupe.
I1 Il va de soi que de nombreuses autres modifications peuvent être apportées au procéd6 et au dispositif décrits et
représentés, sans sortir du cadre de l'invention.
Claims (16)
1. Circuit multiplexeur à relais (10) destiné à connecter sélectivement des canaux (A-L) d'un appareil de test à des broches de test sélectionnées (44) connectées électriquement à des noeuds (42) d'un circuit sous test (40), ces broches (40) étant en nombre supérieur au nombre des canaux, caractérisé en ce qu'il comprend: des noeuds de canal (14) prévus pour la connexion aux canaux (A-L);
des noeuds de broche (12) prévus pour la connexion aux bro-
ches (44); et des relais (36) câblés de façon à permettre de connecter sélectivement certains au moins des noeuds de broche (12) à deux au moins des canaux (A-L); et certains au moins des noeuds de broche (12), des noeuds de canal (14) et des relais (36) étant organisés en un groupe (32, 34), de façon qu'il soit possible d'établir une connexion entre, d'une part, un noeud de broche quelconpza 112) ou un ioeJ de canal quelconque (14) du groupe et d'autreYpart, n'importe quel autre
noeud de broche (12) ou noeud de canal (14) du groupe, par l'in-
termédiaire d'un ou de plusieurs relais (36) fermés, et chaque noeud de broche (12) dans le groupe pouvant être connecté à une combinaison particulière de noeuds de canal (14) dans le groupe, le nombre P de noeuds de broche dans le groupe étant supérieur au nombre C de canaux dans le groupe.
2. Circuit selon la revendication 1, caractérisé en ce que les combinaisons particulières de noeuds de canal
(14) dans le groupe sont complètement combinatoires.
3. Circuit selon la revendication 1, caractérisé en ce que les combinaisons particulières de noeuds de canal (14) dans le groupe comprennent un nombre de combinaisons
inférieur à l'ensemble combinatoire complet de combinaisons.
4. Circuit selon l'une quelconque des revendica-
tions I à 3., caractérisé en ce qu'il y a deux canaux par
broche (44).
5. Circuit selon l'une quelconque des revendica-
tions I à 4, caractérisé en ce que certains au moins des canaux (A-L) peuvent être connectés à plus d'un groupe
(32, 34).
6. Appareil de test caractérisé en ce qu'il com-
prend le circuit de la revendication 1 et des broches de test (44) montées sur un support e6t disposées dans l'espace
de façon à venir en contact avec des noeuds (42) d'une car-
te de circuit imprimé (13) sous test, ces broches de test (44) étant connectées électriquement aux noeuds de broche (12), les noeuds de broche connectés à des broches de test ('4) correspondant à des noeuds (42) pour un dispositif électrique (40) donné sur la carte de circuit imprimé (03) étant associées à des combinaisons de canaux (A-L) de telle
manière que chaque canal dans le groupe (32, 34) soit re-
présenté dans des combinaisons associées ux nombre de fois ne dépassant pas le nombre de relais (36) par broche (44), et certains canaux étant représentés dans les combinaisons associées un nombre de fois inférieur au nombre de relais (36) par broche (44), afin d'admettre sans conflit des
changements de conception du circuit sous test.
7. Procédé de test de cartes de circuit imprimé (13) en utilisant le circuit multiplexeur à relais (10) de la revendication 1, caractérisé en ce que: on établit des broches de test (44) montées sur un support et disposées dans l'espace de façon à venir en contact avec des noeuds (42) d'une carte de circuit imprimé (13) sous test; et on établit un câblage reliant les broches de test (44) aux noeuds de broche (12), les noeuds de broche connectés à
des broches de test pour des noeuds (42) relatifs à un dis-
positif électronique (40) donné sur la carte de circuit im-
primé (13) étant associés à des combinaisons de canaux (A-L) d'une manière telle que chaque canal dans le groupe (32, 34) soit représenté dans les combinaisons associées un nombre de fois ne dépassant pas le nombre de relais (36) par broche (44), et certains canaux étant représentés dans les combinaisons associées un nombre de fois inférieur au nombre de relais par broche, pour admettre sans conflit
des changements de conception du circuit sous test.
8. Circuit selon la revendication 1, caractérisé en ce que les combinaisons particulières de noeuds de canal (14) dans le groupe (32, 34) ne comprennent pas l'ensemble
combinatoire complet de combinaisons, et le nombre de bro-
ches (44) pouvant être connectées à chaque canal (A-L) dans
le groupe est pratiquement uniforme pour utiliser effica-
cement les canaux, afin de réduire la possibilité de con-
flit.
9. Circuit selon la revendication 8, caractérisé en ce que le nombre de noeuds de broche (12) pouvant être connectés à chaque noeud de canal (14) ne varie pas de plus
d'un dans le groupe (32, 34).
10. Circuit selon la revendication 9, caractérisé en ce que le nombre de noeuds de broche (12) pouvant être
connectés à chaque noeud de canal (14) est le même.
11. Circuit selon la revendication 8, caractérisé
en ce qu'il y a deux canaux par broche (44).
12. Circuit multiplexeur à relais destiné à con-
necter sélectivement des canaux (A-L) d'un appareil de test
à des broches de test (44) sélectionnées, connectées élec-
triquement à des noeuds (42) d'un circuit sous test (40), ces broches (44) étant en nombre supérieur au nombre des canaux (A-L), caractérisé en ce qu'il comprend: des noeuds de canal (14) prévus pour la connexion aux canaux (A-L); des noeuds de broche (12) prévus pour la connexion aux
broches (44); et des relais (36) câblés de façon à permet-
tre de connecter sélectivement certains au moins des noeuds de broche (12) à au moins deux des canaux (A-L); certains aumoins des noeuds de broche (12), des noeuds de canal
(14) et des relais (36) étant organisés en un premier grou-
pe (32), de façon qu'il soit possible d'établir une conne-
xion entre un noeud de broche quelconque (12) ou un noeud
de canal quelconque (14) du premier groupe (32), et n'impor-
te quel autre noeud de broche ou noeud de canal du premier groupe (32), par l'intermédiaire d'un ou de plusieurs relais
(36) fermés, et chaque noeud de broche (12) du premier grou-
pe (32) pouvant être connecté à une combinaison particulière de noeuds de canal (14) dans le premier groupe, le nombre P
de noeuds de broche dans le premier groupe (32) étant supé-
rieur au nombre C de noeuds de canal dans le premier groupe; et certains au moins des noeuds de broche (12), des noeuds
de canal (14) et des relais (36) étant organisés en un se-
cond groupe (34), le nombre de broches (44) pouvant être connectées à chaque canal dans le second groupe (34) étant pratiquement uniforme pour utiliser efficacement les canaux,
afin de réduire la possibilité de conflit.
13. Circuit selon la revendication 12, caractérisé en ce que les combinaisons particulières de noeuds de canal
(14) dans le premier groupe (32) sont complètement combi-
natoires. 14. Circuit selon la revendication 13, caractérisé
en ce que le nombre de noeuds de broche (12) du second grou-
pe (34) qui peuvent être connectés à chaque noeud de canal (14) dans le second groupe ne varie pas de plus d'un dans le second groupe (34)
15. Circuit selon la revendication 14, caractérisé
en ce que le nombre de noeuds de broche (12) du second grou-
pe (34) qui peuvent être connectés à chaque noeud de canal
(14) dans le second groupe est le même.
16. Circuit selon la revendication 12, caractérisé
en ce qu'il y a deux canaux par broche (44).
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Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2218721A1 (fr) * | 1973-02-19 | 1974-09-13 | Sits Soc It Telecom Siemens |
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|---|---|---|---|---|
| US4348759A (en) * | 1979-12-17 | 1982-09-07 | International Business Machines Corporation | Automatic testing of complex semiconductor components with test equipment having less channels than those required by the component under test |
| EP0103353A3 (fr) * | 1982-09-13 | 1986-03-05 | Genrad, Inc. | Méthode et appareil pour le test automatique en multiplex de circuits électroniques et circuits similaires |
-
1985
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- 1985-03-14 FR FR8503754A patent/FR2561480B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1985-03-14 DE DE19853509247 patent/DE3509247A1/de active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2218721A1 (fr) * | 1973-02-19 | 1974-09-13 | Sits Soc It Telecom Siemens |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 1982 INTERNATIONAL TEST CONFERENCE, Los Angeles, 15-18 novembre 1982, paper 22.1, pages 641-647, IEEE, New York, US; J.J. FARAN Jr.: "Methods of assignment of nodes to pins for multiplexed testers" * |
| ELECTRICAL DESIGN NEWS, vol. 27, no. 10, mai 1982, pages 187-190; M.W. SCHRAEDER: "Multiplexed measuring devices reduce in-circuit-test expenses" * |
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