DE3687795T2 - Halbleiterbehandlungsvorrichtung. - Google Patents
Halbleiterbehandlungsvorrichtung.Info
- Publication number
- DE3687795T2 DE3687795T2 DE8686308980T DE3687795T DE3687795T2 DE 3687795 T2 DE3687795 T2 DE 3687795T2 DE 8686308980 T DE8686308980 T DE 8686308980T DE 3687795 T DE3687795 T DE 3687795T DE 3687795 T2 DE3687795 T2 DE 3687795T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- cassette
- container
- gate
- drive rod
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/34—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H10P72/3408—Docking arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/34—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H10P72/3406—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving removal of lid, door or cover
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/137—Associated with semiconductor wafer handling including means for charging or discharging wafer cassette
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/139—Associated with semiconductor wafer handling including wafer charging or discharging means for vacuum chamber
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/14—Wafer cassette transporting
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
- Die Erfindung bezieht sich auf eine Halbleiterbehandlungsvorrichtung, die zum Herstellen sehr hoch integrierter Schaltungen, sogenannter VLSIs (VLSI = very large skale integration = Integration sehr hohen Grades), und sogenannter ICs (IC = integrated circuit = integrierte Schaltung) und dergleichen verwendet wird.
- Bekanntlich ist Staub ein schwerwiegendes Hindernis bei der Herstellung von Halbleiterbauteilen, z. B. ICs, insbesondere bei der Ausbildung von Schaltungselementen auf Halbleiterplatten und bei der Übertragung von Platten zwischen Behandlungseinrichtungen. Die Reinheit der Arbeitsatmosphäre bestimmt unmittelbar die Produktivität.
- Das SMIF-System (SMIF = Standard Mechanical Interface = genormte mechanische Schnittstelle) (Solid State Technology, Juli 1984: "SMIF, A Technology for Wafer Cassette Transfer in VLSI Manufacturing", Seite 111) ist bekannt als herkömmliches Halbleiterbehandlungssystem, das eine derartige Behandlungsbedingung von Halbleiterbauelementen erfüllt.
- Wie die Fig. 1 und 2 zeigen, besteht das SMIF-System aus einer Halbleiterplattenkassette 6 zur Aufnahme einer vorbestimmten Anzahl von Halbleiterplatten 7, einem SMIF-Behälter 8 zum luftdichten Einschließen der Halbleiterplattenkassette 6 und zum Transportieren der Halbleiterplatten 7 in der Kassette 6, ohne sie einer Kontamination von außen auszusetzen, eine Halbleiterbehandlungseinrichtung 1 zum Behandeln der Halbleiterplatten 7 und einem Paar SMIF-Armen 4, die auf beiden Seiten der Behandlungseinrichtung 1 vorgesehen sind, um die Kassette 6 in die Behandlungseinrichtung 1 zu laden und aus dieser zu entladen. Der SMIF-Behälter 8 besteht aus einem kastenartigen Behälter-Körper mit einem offenen Boden und einer Bodenplatte 10 zum Verschließen des Bodens des Behälter-Körpers 9. Die Bodenplatte 10 ist mittels (nicht dargestellter) Verriegelungen, die am Behälter-Körper 9 Vorgesehen sind, lösbar am Behälter-Körper 9 angebracht und so ausgebildet, daß sie die Kassette 6 an einer geeigneten Position tragen kann, wenn die Kassette 6 im Behälter 8 eingeschlossen ist. Die Bodenplatte 10 des SMIF-Behälters 8 ist am Behälter-Körper 9 befestigt, während der Behälter 8 durch einen Arbeiter oder eine Fördereinrichtung transportiert wird. Wie Fig. 1 zeigt, besteht die Plattenbehandlungseinrichtung 1 aus einem Einrichtungs-Körper 2 mit einem ersten Tor für die Kassette 6, einer transparenten Abdeckung 5 zum Abdecken einer oberen Oberfläche des Einrichtungs-Körpers 2 und einer Reinluft-Versorgungseinheit 3, die auf der Abdeckung 5 montiert ist. Diese Reinluft-Versorgungseinheit 3, die ein Hochleistungsfilter und ein Gebläse enthält, versorgt die Plattenbehandlungseinrichtung 1 mit reiner Luft.
- Um die Kassette 6 in die Behandlungseinrichtung 1 zu transferieren, wird die in dem SMIF-Behälter 8 eingeschlossene Kassette 6 auf der Oberseite eines der SMIF-Arme 4 angeordnet. Wenn der Behälter 8 darauf angeordnet ist, wird die Bodenplatte 10 des Behälters 8 vom Behälter-Körper 9 entfernt und dann die Bodenplatte 10 mit der darauf angeordneten Kassette 6 in den SMIF-Arm geladen. Danach wird nur die Kassette 6 in die Behandlungseinrichtung 1 transferiert, in das erste Tor eingesetzt, und dann werden die darin angeordneten Platten 7 herausgezogen, um behandelt zu werden. Nachdem die Platten 7 in der Behandlungseinrichtung behandelt worden sind, werden sie in einer anderen (nicht dargestellten) Kassette angeordnet und in den anderen SMIF-Arm 4 geladen. In diesem Arm 4 wird die Kassette in einen anderen (nicht dargestellten) SMIF-Behälter eingebracht, der auf der Oberseite des anderen SMIF-Arms 4 angeordnet wurde, ohne einer Kontamination von außerhalb ausgesetzt zu werden. Danach wird der Behälter 8, der soeben die Kassette aufgenommen hat, beispielsweise durch einen Arbeiter, in eine andere (nicht dargestellte) Behandlungseinrichtung für den nächsten Fabrikationsprozeß transportiert und dann auf einem SMIF-Arm dieser Einrichtung angeordnet. Danach werden die Platten 7 in der Einrichtung auf die gleiche Weise, wie soeben beschrieben, behandelt.
- Die Halbleiterplatten werden daher keiner Kontamination von außen ausgesetzt, sondern in reiner Luft gehalten, während sie durch Arbeiter transportiert und zwischen dem Behälter 8 und der Einrichtung 1 transferiert werden, ebenso wie bei der Behandlung in der Behandlungseinrichtung. Durch Anwendung dieses SMIF-Systems wird mithin eine hohe Produktivität beibehalten, selbst wenn die Reinheit (nach der US-Bundesnorm Nr. 209b) eines Reinraums, in dem das System installiert wird, etwa im Bereich von Klasse 1000 bis 100 000 liegt. Infolgedessen wird möglicherweise ein Luftstromsystem mit nicht-laminarer Strömung, das seine Umgebung im Bereich von etwa Klasse 1000 bis 100 000 rein hält, in dem Reinraum anstelle eines Luftstromsystems mit laminarer Strömung verwendet, das seine Umgebung auf einer ultrahohen Reinheit im Bereich von Klasse 10 bis 100 hält. Das heißt, die zugehörigen Einrichtungen des Reinraums werden vereinfacht, so daß die Kosten für seine Konstruktion, Einrichtungen und Wartung erheblich reduziert werden können. Ferner braucht das Verhalten der Arbeiter in dem Reinraum, wenn das SMIF-System verwendet wird, nicht so streng geregelt zu werden, wie in einem Reinraum mit ultrahoher Reinheit im Bereich von Klasse 10 bis 100. Die Arbeiter dürfen so arbeiten, wie wenn sie in einem normalen Raum wären, vorausgesetzt, daß sie einfache reine Zimmerkleidung tragen. In einem Reinraum, in dem das SMIF- System angewendet wird, können sie bequemer als in einem Raum arbeiten, in dem es nicht angewendet wird.
- Bei dem oben beschriebenen herkömmlichen Halbleiterbehandlungssystem ist jedoch in einem Reinraum ein Installationsplatz für das System erforderlich, der auch Platz für die beiden SMIF-Arme einschließt, da die SMIF-Arme 4 auf beiden Seiten der Plattenbehandlungseinrichtung 1 angebracht sein müssen. Infolgedessen erschwert das herkömmliche System nicht nur eine effektive Ausnutzung des Platzes am Boden des Reinraums, sondern erhöht auch die Gesamtkosten erheblich.
- Die internationale Patentanmeldung WO 86/00870 offenbart ein weiteres SMIF-System, bei dem eine Abdeckung ein Ladetor verdeckt und eine Toranordnung zur Aufnahme eines Kastens oder Behälters aufweist, der zum Einschließen einer Kassette verwendet wird.
- Es ist ein Ziel der vorliegenden Erfindung, eine Halbleiterbehandlungsvorrichtung ohne die SMIF-Arme anzugeben, die es leicht macht, den Platz am Boden eines Reinraums effektiv auszunutzen.
- Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung ist es, eine Halbleiterbehandlungsvorrichtung anzugeben, deren Gesamtkosten verringert sind.
- Noch ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Halbleiterbehandlungsvorrichtung anzugeben, bei der eine Horizontalausrichtung der Kassette beim Transferieren der Kassette in eine oder aus einer Behandlungseinrichtung so gesteuert wird, daß sie mit einer vorbestimmten Ausrichtung der Kassette in der Behandlungseinrichtung zusammenfällt.
- Im Hinblick auf diese und andere Ziele wird durch vorliegende Erfindung eine Halbleiterbehandlungsvorrichtung geschaffen, die aufweist: eine Halbleiterplattenkassette zur Aufnahme von Halbleiterplatten; einen Transfer-Behälter zum luftdichten Einschließen der Kassette; wobei der Behälter einen kastenartigen Körper mit einem offenen Boden und einer Bodenplatte aufweist, die lösbar mit der darauf angeordneten Kassette verbunden ist; eine Plattenbehandlungseinrichtung, die ein Ladetor zum Aufnehmen und Einbehalten der Kassette während der Behandlung der Platten und eine das Ladetor abdeckende Abdeckung aufweist, wobei die Abdeckung ein Einlaßtor aufweist, das eine Öffnung und eine Toranordnung zum Befestigen und Lösen der Bodenplatte des Behälters am bzw. vom Behälter-Körper, wenn der Behälter auf dem Einlaßtor angeordnet ist, aufweist, wobei die Behandlungseinrichtung ferner Mittel zum Herausziehen der Platte aus der Kassette, wenn die Kassette in dem Ladetor eingesetzt ist, und Transfermittel zum Transferieren der Kassette zwischen dem Ladetor und dem Behälter, ohne die Platten einer externen Kontamination auszusetzen, aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß das Einlaßtor vertikal oberhalb des Ladetors angeordnet ist und die Kassette transferiert wird durch Hubmittel zum Befördern der Bodenplatte des Behälters und der darauf angeordneten Kassette aus dem Einlaßtor in das Ladetor, wenn die Bodenplatte des Behälters vom Behälter-Körper gelöst ist, wobei die Hubmittel zum Öffnen und Schließen der Kassettenöffnung des Einlaßtores eine Türplatte, die die Bodenplatte des Behälters stützt, wenn der Behälter auf dem Einlaßtor angeordnet ist, eine Antriebseinheit zum Antreiben der Türplatte nach oben und unten und Mittel zum Drehen der Türplatte des ersten Transferbehälters um eine dazu senkrecht stehende Achse aufweisen, so daß die horizontale Ausrichtung der Kassette auf der Bodenplatte eingestellt wird.
- Wenn bei dieser Ausbildung der Transferbehälter mit der darin angeordneten Kassette auf dem zweiten Tor angeordnet wird, wird die Bodenplatte des Behälters von dem Behälter- Körper entfernt und dann die Kassette auf der Bodenplatte durch den Hubmechanismus vom zweiten Tor zum ersten Tor transferiert. Die Kassette und die darin angeordneten Halbleiterplatten werden daher, ohne sie einer Kontamination von außen her auszusetzen, aus dem Behälter in die Behandlungseinrichtung transferiert. Darüber hinaus wird in einem Reinraum mit der obigen Vorrichtung die Bodenfläche effektiver als bei einem Reinraum mit einer herkömmlichen Vorrichtung ausgenutzt, da der Transfermechanismus nicht auf den Seiten, sondern oberhalb der Behandlungseinrichtung angeordnet ist.
- Vorzugsweise hat die Vorrichtung einen zweiten Mechanismus zum Transferieren einer weiteren Kassette in die und aus der Behandlungseinrichtung. Die Behandlungseinrichtung kann zum Laden der Kassette ein drittes Tor, das mit der Abdeckung versehen ist, und einen Mechanismus zum Behandeln der Platten in der ersten Kassette im ersten Tor und zum Transferieren der Platten in die Kassette im dritten Tor, wenn die Kassette mit den Platten und die leere Kassette jeweils in das erste und dritte Tor geladen wird, aufweisen. Der zweite Transfermechanismus kann ein viertes Tor auf der Abdeckung der Behandlungseinrichtung in einer Position unmittelbar über dem dritten Tor aufweisen, um den zweiten Behälter darauf anzuordnen, und einen zweiten Hubmechanismus aufweisen, der hauptsächlich zwischen dem dritten und vierten Tor angeordnet ist, um die Kassette zwischen dem dritten und vierten Tor hin- und herzubefördern. In diesem Falle wird die Kassette mit den darin angeordneten Platten, die durch den Behandlungsmechanismus behandelt wurden, aus dem dritten Tor zum vierten Tor transferiert und in einem weiteren Behälter eingeschlossen.
- Vorzugsweise hat das zweite Tor eine Kassettenöffnung, die in der Abdeckung der Behandlungseinrichtung ausgebildet ist.
- Bei Vorhandensein des drehenden oder rotierenden Mechanismus für die Bodenplatte des Transfer-Behälters braucht nicht dafür gesorgt zu werden, daß die Ausrichtung der Kassette mit der vorbestimmten Ausrichtung zusammenfällt, bevor der Behälter auf dem zweiten Tor angeordnet wird, da die Ausrichtung der Kassette auch dann noch geändert werden kann, wenn der Behälter auf dem zweiten Tor angeordnet ist. Mit anderen Worten, eine Vorrichtung mit dieser Anordnung beschleunigt die Gesamtvorrichtungsautomation ebenso wie die Vorrichtung vom oben beschriebenen Aufbau mit automatischen Förderern zwischen verschiedenen Behandlungseinrichtungen.
- Ferner kann die Behandlungseinrichtung eine Reinluft-Versorgungseinheit zur Einhaltung einer ultrahohen Reinheit im inneren der Verarbeitungseinrichtung aufweisen.
- Fig. 1 stellt eine schematische perspektivische Ansicht einer herkömmlichen Halbleiterbehandlungsvorrichtung dar;
- Fig. 2 stellt einen Querschnitt eines SMIF-Behälters der Halbleiterbehandlungsvorrichtung nach Fig. 1 dar,
- Fig. 3 stellt eine schematische Vorderansicht einer erfindungsgemäßen Halbleiterbehandlungsvorrichtung dar,
- Fig. 4 stellt eine schematische Draufsicht auf die Halbleiterbehandlungsvorrichtung nach Fig. 3 dar,
- Fig. 5 stellt einen vergrößerten Querschnitt eines zweiten Tores, eines ersten Tores und eines Hubmechanismus der Vorrichtung nach Fig. 3 dar,
- Fig. 6 stellt den Schnitt VI-VI von Fig. 5 dar;
- Fig. 7 stellt den Schnitt VII-VII der Fig. 5 dar;
- Fig. 8 stellt einen Querschnitt des zweiten Tores in Fig. 3 dar und zeigt einen darauf angeordneten Transfer-Behälter;
- Fig. 9 stellt einen Querschnitt des zweiten Tores und des ersten Tores von Fig. 5 dar und zeigt eine in das erste Tor geladene Kassette; und
- Fig. 10 stellt eine vergrößerte perspektivische Ansicht der Kassette von Fig. 3 mit darin angeordneten Halbleiterplatten dar.
- In den Fig. 3 bis 10 sind die gleichen Teile, wie sie in den Fig. 1 und 2 dargestellt sind, mit den gleichen Bezugszahlen versehen, so daß ihre Beschreibung weggelassen wird.
- Die Fig. 3 und 4 zeigen eine erfindungsgemäße Halbleiterbehandlungsvorrichtung. Nach den Fig. 3 und 4 hat eine Halbleiterplatten-Behandlungseinrichtung 20 ein nach oben offenes erstes Tor 22 und ein nach oben offenes drittes Tor 24 zum Einladen und Entladen der Halbleiterplattenkassette 6 und eine Abdeckung, die das erste und dritte Tor 22 bzw. 24 abdeckt. Die Abdeckung 26 ist an unmittelbar über dem ersten und dritten Tor 22 und 24 liegenden Stellen mit einem zweiten Tor 28 und einem vierten Tor 30 versehen, auf denen die Transfer-Behälter (SMIF-Behälter) 8 angeordnet werden. Nach den Fig. 3 und 4 ist auf beiden Toren 28 und 30 ein Behälter 8 angeordnet. Der Behälter 8 auf dem zweiten Tor 28 enthält eine Kassette 6 mit Platten 7 darin, und der andere Behälter 8 auf dem vierten Tor 30 schließt eine leere Kassette 6 ein. Die Behandlungseinrichtung 20 enthält eine Behandlungsanordnung, die die Platten 7 aus der Kassette 6 in dem ersten Tor 22 behandelt und die Platten 7 in die Kassette 6 in dem dritten Tor 24 transferiert, wenn die Kassette 6 mit den Platten 7 in das erste Tor 22 und die leere Kassette 6 in das dritte Tor 24 eingesetzt ist. Das erste Tor 22 ist daher ein Ladetor und das dritte Tor 24 ein Entladetor.
- Die Reinluft-Versorgungseinheit 3, die auf der Abdeckung 26 angeordnet ist, besteht aus einem Gebläse und einem Hochleistungsfilter, z. B. einem Luftfilter mit ultraniedriger Eindringung und einem Hochleistungsteilchenfilter. Die Reinluft-Versorgungseinheit 3 versorgt die Behandlungseinrichtung 20 mit reiner Luft, um das Innere der Einrichtung ultrarein zu halten. Die Einheit 3 setzt das Innere der Behandlungseinrichtung 20 auch unter Überdruck, der höher als Atmosphärendruck ist, so daß innerhalb der Einrichtung 20 erzeugter Staub sofort über Ventilationsschlitze 32 in der Seitenwand der Abdeckung 26 und Luftauslaßöffnungen am Boden der Behandlungseinrichtung 20 aus der Behandlungseinrichtung 20 ausgestoßen wird.
- Wie Fig. 5 zeigt, haben das zweite und vierte Tor 28 bzw. 30 jeweils eine Kassettenöffnung 34 in der Abdeckung 26 und eine um die Öffnung 34 herum angeordnete Toranordnung 36. Der Innendurchmesser der Öffnung 34 ist etwas größer als der Durchmesser der Bodenplatte 10 des Behälters 8 und kleiner als der Außendurchmesser des Behälter-Körpers 9. Die Toranordnung 36 hat um den Rand der Öffnung 34 herum angeordnete Führungen 38, die an Schiebern 40 anliegen, die verschiebbar auf den Führungen 38 angeordnet sind, eine Antriebsquelle, z. B. einen (nicht dargestellten) Motor, zur Horizontalverschiebung der Schieber 40 zur Mitte der Öffnung 34 hin und von dieser weg und einen (nicht dargestellten) Fühler, z. B. einen optischen Fühler, zum Feststellen, ob ein Behälter 8 in dem entsprechenden Tor 28 oder 30 vorhanden ist. Der Fühler erzeugt ein Signal zum Einschalten der Antriebsquelle der Toranordnung 36, wenn er den Behälter 8 in dem Tor feststellt.
- Zwischen dem ersten Tor 22 und dem zweiten Tor 28 ist ein erster Hubmechanismus 42 angeordnet. Ein zweiter Hubmechanismus 44 ist zwischen dem dritten Tor 24 und dem vierten Tor 30 angeordnet. Beide Hubmechanismen 42 und 44 haben eine Türplatte 46 zum Öffnen und Schließen der Kassettenöffnung 34. Die Türplatte 46 trägt die Bodenplatte 10 des Behälters 8, wenn der Behälter 8 auf dem entsprechenden zweiten oder vierten Tor 28 bzw. 30 angeordnet ist. Die Platte 46 wird durch eine hohle Antriebsstange 52 getragen. Die Antriebsstange 52 hat einen oberen Endteil 52a mit größerem Durchmesser als dem ihres übrigen Teils, und der obere Endteil 52a ist über ein magnetisch abgedichtetes Axiallager 48 mit der Unterseite der Türplatte 46 verbunden, so daß die Türplatte 46 in einer horizontalen Ebene relativ zur Stange 52 drehbar ist. Der untere Endteil 52b der Stange 52 steht konzentrisch mit einem vertikalen Führungsrohr 50 in Eingriff, das unter dem entsprechenden Tor 22 oder 24 angeordnet ist, so daß die Stange 52 vertikal relativ zu dem Führungsrohr 50 verschiebbar ist. Nach Fig. 6 hat die Antriebsstange 52 Keile 51 auf ihrer Außenseite, die in Nuten 55 eingreifen, die in der Innenseite des Führungsrohres 50 ausgebildet sind, so daß eine Drehung der Stange 52 relativ zum Führungsrohr 50 verhindert wird. Längs der Antriebsstange 52 sind Zähne 53 ausgebildet, so daß ein unterer Teil der Antriebsstange 52 als Zahnstange wirkt. Ein Ritzel 54 steht mit den Zähnen 53 durch einen Schlitz 58 hindurch in Eingriff, der die Wand des Führungsrohres 50 durchsetzt, und ist mit einem Schrittschaltmotor 56 Verbunden, der an einem Gehäuse der Einrichtung 20 befestigt ist. Wenn der Schrittschaltmotor 56 das Ritzel 54 dreht, wird die Antriebsstange 52 vertikal hin- und herbewegt, um die Türplatte 46 nach oben und unten anzutreiben.
- Nach Fig. 7 ist ein inneres Zahnrad 62 an der Unterseite der Türplatte 46 befestigt, und ein kleines Zahnrad 64 steht mit dem inneren Zahnrad 62 in Eingriff. Das Zahnrad 64 ist unmittelbar an einem Ausrichtungs-Steuermotor 66 angeschlossen, der an der Innenseite des oberen Endteils 52a der Welle 52 befestigt ist. Das heißt, durch Ein- und Ausschalten des Steuermotors 66 mittels einer geeigneten Steuereinheit wird die Türplatte 46 in einer horizontalen Ebene relativ zur Antriebsstange 52 gedreht, so daß die Ausrichtung bzw. Drehwinkellage der Bodenplatte 10 des Behälters 8, der auf der Türplatte 46 angeordnet ist, d. h. die horizontale Ausrichtung der Kassette 6 auf der Bodenplatte 10 in geeigneter Weise gesteuert wird. Das Führungsrohr 50 steht in Fluidverbindung mit einer (nicht dargestellten) Vakuumpumpe, so daß innerhalb des oberen Endteils 52a der Stange 52 erzeugter Staub durch das Führungsrohr 50 nach außen befördert wird.
- Auf der Oberseite der Türplatte 46 sind mehrere Vorsprünge 68 vorgesehen. Diese Vorsprünge 68 stehen mit der Bodenplatte 10 des Behälters 8 in Eingriff, um zu verhindern, daß die Bodenplatte 10 bei der Drehung der Türplatte 46 in Umfangsrichtung verrutscht.
- Nach Fig. 8 hat der Behälter-Körper 9 des Behälters 8 einen äußeren Flansch 70 an seinem unteren Ende. Am äußeren Flansch 70 sind mehrere Riegel 72 um Bolzen schwenkbar befestigt. Ein oberer Endteil jedes Riegels 72 ragt über den äußeren Flansch 70 nach oben hinaus, und sein unterer Endteil ist wie ein Haken gebogen. Der untere Endteil jedes Riegels 72 ist durch eine (nicht dargestellte) Feder in Richtung zur Mitte der Öffnung 34 vorbelastet, so daß er in der in Fig. 8 dargestellten Lage gehalten wird und an der Unterseite der Bodenplatte 10 des Behälters 8 anliegt. Die Bodenplatte 10 wird durch Abstellen der Riegel 72 von der Unterseite der Bodenplatte 10 vom Behälter-Körper 9 gelöst. Außerdem hat die Bodenplatte 10 des Behälters 8 Vertiefungen 76 auf ihrer Unterseite für den Eingriff der Vorsprünge 68 der Türplatte 46.
- Wenn der Behälter 8 nicht auf dem entsprechenden zweiten oder vierten Tor 28 bzw. 30 angeordnet ist, wie es in Fig. 5 dargestellt ist, steht die Türplatte 46 des entsprechenden Hubmechanismus 42 bzw. 44 in unmittelbarer Berührung mit demjenigen Teil der Abdeckung 26, der die Öffnung 34 umgibt, so daß die Öffnung 34 luftdicht verschlossen ist. Wenn der Behälter 8, in dem die Kassette 6 mit den Platten 7 eingeschlossen ist, auf dem zweiten Tor 28 angeordnet wird, wie es in Fig. 8 dargestellt ist, stellt der Fühler der Toranordnung 36 die Anwesenheit des Behälters 8 fest und setzt die Antriebsquelle der Toranordnung 36 in Betrieb. Dann wird der Schieber 40 zur Mitte der Öffnung 34 (in der durch den Pfeil A dargestellten Richtung) verschoben, so daß er mit dem äußeren Flansch 70 des Behälter-Körpers 9 zur Anlage kommt, um den BehälterKörper 9 an der Abdeckung 26 der Einrichtung 20 zu befestigen. Da ferner der Schieber 40 während seiner Verschiebung die oberen Endteile der Riegel 72 zur Mitte der Öffnung 34 hin drückt, werden die unteren Endteile der Riegel 72 in der durch den Pfeil B dargestellten Richtung verschwenkt, so daß sie mit der Unterseite der Bodenplatte 10 des Behälters 8 außer Eingriff kommen. Wenn daher der Behälter 8 auf dem zweiten Tor 28 angeordnet wird, wird praktisch gleichzeitig die Bodenplatte 10 vom Behälter-Körper 9 gelöst und von der Türplatte 46 abgestützt.
- Wenn der Hubmechanismus 42 betrieben wird, um die Türplatte 46 nach unten zu bewegen, wird die Bodenplatte 10 des Behälters 8 zusammen mit der Türplatte 46 nach unten befördert. Die Kassette 6 auf der Bodenplatte 10 wird daher in das Ladetor 22 transferiert, wie es in Fig. 9 dargestellt ist. Während dieser Abwärtsbewegung wird die Türplatte 46 so gedreht, daß die horizontale Ausrichtung der Kassette mit der vorbestimmten Ausrichtung der Kassette in der Behandlungseinrichtung 20 übereinstimmt.
- Nach Fig. 9 werden die Platten 7 in der Kassette 6, die in dem ersten Tor 22 angeordnet worden ist, nacheinander unten aus der Kassette 6 herausgezogen und zu einer Behandlungsanordnung in der Einrichtung 20 befördert. Immer wenn eine Platte 7 durch einen Saugkopf 78 aus der Kassette 6 entfernt worden ist, wird die Türplatte 46 in vorbestimmten Teilungseinheiten abgesenkt. Die als nächste herauszuholende Platte 7 nimmt daher stets eine Lage ein, in der sie hinreichend nahe bei dem Saugkopf 78 liegt, ohne daß der Saugkopf 78 eine Vertikalbewegung ausführen muß. Im Gegensatz zu herkömmlichen Vorrichtungen wird die Kassette 6 zusammen mit der Bodenplatte 10 des Behälters 8 in das erste Tor 22 geladen. Nach Fig. 10 ist die Kassette 6 daher am Boden mit Beinen 80 versehen, so daß ein Freiraum in der Kassette 6 verbleibt, in den der Saugkopf 78 eintreten kann.
- Dagegen wird mittels des vierten Tores 30 und des Hubmechanismus 44 in das Entladetor 24 eine leere Kassette 6 eingesetzt. Dann werden die in der Einrichtung 20 behandelten Platten 7 im Entladetor 24 in die Kassette 6 transferiert. Hierbei füllen die Platten 7 die Kassette 6 nacheinander von der obersten Stufe der Kassette 6 bis zur untersten Stufe. Diese Reihenfolge des Füllvorgangs ist entgegengesetzt zu der beim Herausziehen der Platten. Die Türplatte 46 wird daher diesmal in vorbestimmten Teilungseinheiten jedesmal nach oben bewegt, wenn eine Platte 7 in der Kassette 6 angeordnet worden ist.
- Die Kassetten 6 werden daher in den Lade- und Entladetoren 22 und 24 durch die Hubmechanismen jeweils zum zweiten und vierten Tor 28 bzw. 30 nach oben befördert und in den jeweiligen Behälter-Körpern 9 eingeschlossen, die am zweiten und vierten Tor 28 und 30 befestigt sind. Wenn die Schieber 40 der Toranordnung 36 entgegengesetzt zur Richtung des Pfeils A verschoben werden, wird der Behälter-Körper 9 jedes Behälters 8 von der Abdeckung 26 getrennt, und die unteren Endteile der Riegel 72 werden durch die Vorspannungskraft der Federn in die in Fig. 8 dargestellte Lage zurückgedreht. Auf diese Weise wird die Bodenplatte 10 jedes Behälters 8 an ihrem Behälter-Körper 9 befestigt. Danach kann jeder Behälter 8 weitertransportiert werden.
- So wird der Behälter 8 auf dem zweiten Tor 28 aus der Einrichtung 20 entfernt und der Behälter 8 auf dem vierten Tor 30 durch einen Arbeiter, eine Fördereinrichtung oder dergleichen zu einer weiteren (nicht dargestellten) Behandlungseinrichtung zur Durchführung des nächsten Prozesses befördert.
- Da die Kassette zwischen dem Behälter und der Behandlungseinrichtung durch das zweite und vierte Tor 28 und 30 befördert wird, die jeweils unmittelbar über dem ersten und dritten Tor 22 und 24 und den Hubmechanismen 42 und 44 angeordnet sind, ist es, wie gesagt, nicht erforderlich, auf beiden Seiten der Behandlungseinrichtung SMIF-Arme vorzusehen. Der Einbaubereich für die SMIF-Arme kann daher durch geringfügige Abwandlung herkömmlicher Halbleiterbehandlungsvorrichtungen effektiv als frei verfügbarer Platz in einem Reinraum ausgenutzt werden, so daß die Kosten der gesamten Behandlungsvorrichtung verringert werden.
- Das Führungsrohr 50 kann mit einer vertikalen Führungsschiene verbunden werden, so daß sie auf- und abbewegt werden kann. Hierbei können auf der Außenseite des Rohres 50 Zähne ausgebildet sein, um das Rohr durch einen Schrittschaltmotor anzutreiben, und das Ritzel 54 kann mit den Zähnen 53 derart in Eingriff stehen, daß es von diesem entfernt werden kann.
- Obwohl eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben worden ist, ist die vorliegende Erfindung nicht auf diese Ausführungsform beschränkt. Beispielsweise kann in einem Hauptluftbereiter erzeugte Reinluft über eine Leitung in die Behandlungseinrichtung 20 geleitet werden, statt durch die Reinluftversorgungseinheit 3 zugeführt zu werden. Außerdem kann der Hubmechanismus aus einem Kugelgewindetrieb oder einem Verlängerbaren Bauteil, das wie ein Storchschnabel (Pantograph) ausgebildet ist, anstelle der Zahnstangen-Antriebsstange 52, des Schrittschaltmotors 56 und dergleichen, gebildet sein.
Claims (6)
1. Halbleiterbehandlungsvorrichtung, die aufweist: eine
Halbleiterplattenkassette (6) zur Aufnahme von
Halbleiterplatten (7); einen Transfer-Behälter (8) zum
luftdichten Einschließen der Kassette (6); wobei der
Behälter (8) einen kastenartigen Körper (9) mit einem offenen
Boden und einer Bodenplatte (10) aufweist, die lösbar
mit der darauf angeordneten Kassette (6) verbunden ist;
eine Plattenbehandlungseinrichtung (20), die ein
Ladetor (22) zum Aufnehmen und Einbehalten der Kassette (6)
während der Behandlung der Platten (7) und eine das
Ladetor (22) abdeckende Abdeckung (26) aufweist, wobei
die Abdeckung (26) ein Einlaßtor (28) aufweist, das
eine Öffnung (34) und eine Toranordnung (36) zum
Befestigen und Lösen der Bodenplatte (10) des Behälters
(8) am bzw. vom Behälter-Körper (9), wenn der Behälter
(8) auf dem Einlaßtor (28) angeordnet ist, aufweist,
wobei die Behandlungseinrichtung (20) ferner Mittel
(78) zum Herausziehen der Platten (7) aus der Kassette
(6), wenn die Kassette (6) in dem Ladetor (22)
eingesetzt ist, und Transfermittel zum Transferieren der
Kassette (6) zwischen dem Ladetor (22) und dem Behälter
(8), ohne die Platten (7) einer externen Kontamination
auszusetzen, aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß das
Einlaßtor (28) vertikal oberhalb des Ladetors (22)
angeordnet ist und die Kassette (6) transferiert wird durch
Hubmittel (42) zum Befördern der Bodenplatte (10) des
Behälters (8) und der darauf angeordneten Kassette (6)
aus dem Einlaßtor (28) in das Ladetor (22), wenn die
Bodenplatte (10) des Behälters (8) vom BehälterKörper
(9) gelöst ist, wobei die Hubmittel (42) zum Öffnen
und Schließen der Kassettenöffnung des Einlaßtores (28)
eine Türplatte (46), die die Bodenplatte (10) des
Behälters (8) abstützt, wenn der Behälter (8) auf dem
Einlaßtor (28) angeordnet ist, eine Antriebseinheit zum
Antreiben der Türplatte (46) nach oben und unten und
Mittel zum Drehen der Türplatte (46) um eine dazu senkrecht
stehende Achse aufweisen, so daß die horizontale
Ausrichtung der Kassette auf der Bodenplatte eingestellt
wird.
2. Halbleiterbehandlungsvorrichtung nach Anspruch 1, die
eine weitere Kassette (6) und einen weiteren Transfer-
Behälter (8) aufweist, wobei die Behandlungseinrichtung
(20) ferner ein Entladetor (24), das durch die Abdeckung
(26) abgedeckt ist, um die weitere Kassette (6)
aufzunehmen und einzubehalten, wobei die Abdeckung ferner
ein Auslaßtor (30) mit einer Öffnung (34) enthält, und
eine Toranordnung (36) zum Anbringen und Lösen der
Behälter-Bodenplatte (10) an und von dem Behälter-Körper
(9) des weiteren Behälters (8) aufweist; wobei die
Behandlungseinrichtung (20) auch ein weiteres Mittel (78)
zum Laden der behandelten Platten (7) in die weitere
Kassette (6) und ein weiteres Transfermittel zum
Transferieren der weiteren Kassette (6) in die und aus der
Behandlungseinrichtung (20) aufweist, und wobei das
weitere Transfermittel ein weiteres Hubmittel (44)
aufweist, und zwar zum Befördern der Bodenplatte (10) des
weiteren Behälters (8), wenn die Bodenplatte (10) des
weiteren Behälters (8) von ihrem Behälter-Körper (9)
gelöst ist, mit der auf ihr angeordneten weiteren
Kassette (6) zwischen dem Auslaßtor (30) und dem Entladetor
(24), die direkt vertikal miteinander ausgerichtet sind.
3. Halbleiterbehandlungsvorrichtung nach Anspruch 2, bei
der das Auslaßtor (30) ferner eine Kassettenöffnung
(34) aufweist, die in der Abdeckung (26) der
Behandlungseinrichtung (20) ausgebildet ist, und wobei das
weitere Hubmittel (44) aufweist:
eine Türplatte (46) zum Öffnen und Schließen der
Kassettenöffnung des Auslaßtores (30), wobei die
Türplatte (46) eine Unterseite aufweist und die
Bodenplatte (10) des weiteren Behälters (8) abstützt, wenn der
weitere Behälter (8) auf dem Auslaßtor (30) angeordnet
ist;
ein vertikales Führungsglied (50), das unter dem
Entladetor (24) angeordnet ist;
eine Antriebsstange (52) mit einem oberen Endteil
und einem hohlen Aufbau, wobei die Antriebsstange (52)
mit dem vertikalen Führungsglied (50) vertikal
verschiebbar und der obere Endteil der Antriebsstange (52)
mit der Unterseite der Türplatte (46) verbunden ist;
und
einen ersten Antriebsmotor (56) zum vertikalen
Verschieben der Antriebsstange (52), wobei das erwähnte
weitere Transfermittel ferner Mittel zum Drehen der
Bodenplatte (10) des weiteren Transferbehälters (8)
um eine dazu senkrechte Achse aufweist, so daß die
horizontale Ausrichtung der Kassette (6) auf der Bodenplatte
(10) des weiteren Moduls eingestellt wird, wobei die
Drehmittel aufweisen:
ein Lagerglied (48) zwischen dem oberen Endteil
der Antriebsstange (52) und der Unterseite der Türplatte
(46), so daß die Türplatte (46) um die Achse der
Antriebsstange (52) drehbar ist;
einen zweiten Antriebsmotor (66), der in der
Antriebsstange (52) zum Drehen der Türplatte angeordnet
ist;
und Mittel zum antriebsmäßigen Verbinden des zweiten
Antriebsmotors mit der Türplatte.
4. Halbleiterbehandlungsvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
bei der die Antriebseinheit aufweist:
ein vertikales Führungsglied (50), das unter dem
Ladetor (22) angeordnet ist;
eine Antriebsstange (52) mit einem oberen Endteil,
die mit dem vertikalen Führungsglied (50) vertikal
verschiebbar verbunden ist, während der obere Endteil der
Antriebsstange mit der Unterseite der Türplatte (46)
verbunden ist, und
einen ersten Antriebsmotor (56) zum Bewegen der
Antriebsstange (52).
5. Halbleiterbehandlungsvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
bei der die Antriebsstange hohl ist und das Drehmittel
aufweist:
ein Lagerglied (48) zwischen dem oberen Endteil der
Antriebsstange und der Unterseite der Türplatte, so
daß die Türplatte (46) um die Achse der Antriebsstange
(52) drehbar ist;
einen zweiten Antriebsmotor (66), der in der
Antriebsstange (52) zum Drehen der Türplatte (46)
angeordnet ist, und
Mittel zum antriebsmäßigen Verbinden des zweiten
Antriebsmotors mit der Türplatte.
6. Halbleiterbehandlungsvorrichtung nach einem der
vorstehenden Ansprüche, bei der die
Plattenbehandlungseinrichtung (20) ferner eine Reinluft-Versorgungseinheit (3)
zur Ultrareinhaltung des Inneren der
Behandlungseinrichtung (20) aufweist.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61066761A JPS62222625A (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 半導体製造装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3687795D1 DE3687795D1 (de) | 1993-03-25 |
| DE3687795T2 true DE3687795T2 (de) | 1993-06-09 |
Family
ID=13325187
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE8686308980T Expired - Fee Related DE3687795T2 (de) | 1986-03-25 | 1986-11-18 | Halbleiterbehandlungsvorrichtung. |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4781511A (de) |
| EP (1) | EP0238751B1 (de) |
| JP (1) | JPS62222625A (de) |
| KR (1) | KR940002914B1 (de) |
| CA (1) | CA1267978A (de) |
| DE (1) | DE3687795T2 (de) |
Families Citing this family (347)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4987673A (en) * | 1987-06-18 | 1991-01-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Apparatus for packaging semiconductor devices |
| JPS6411320A (en) * | 1987-07-06 | 1989-01-13 | Toshiba Corp | Photo-cvd device |
| US5092728A (en) * | 1987-10-15 | 1992-03-03 | Epsilon Technology, Inc. | Substrate loading apparatus for a CVD process |
| US5156521A (en) * | 1987-10-15 | 1992-10-20 | Epsilon Technology, Inc. | Method for loading a substrate into a GVD apparatus |
| DE3814924A1 (de) * | 1988-05-03 | 1989-11-16 | Leybold Ag | Vorrichtung zum ein- und ausschleusen von substraten aus einem vakuumkessel |
| JPH0654788B2 (ja) * | 1988-07-08 | 1994-07-20 | 日本電信電話株式会社 | ウエハ移送装置 |
| DE3901824A1 (de) * | 1989-01-23 | 1990-07-26 | Leybold Ag | Hub- und drehaggregat fuer eine schmelz- und/oder giessanlage |
| US5176493A (en) * | 1989-02-24 | 1993-01-05 | North American Philips Corporation | High speed wafer handling method |
| FR2644567A1 (fr) * | 1989-03-17 | 1990-09-21 | Etudes Const Mecaniques | Dispositif pour l'execution de traitements thermiques enchaines en continu sous vide |
| US5261776A (en) * | 1989-04-27 | 1993-11-16 | Micron Technology, Inc. | Vacuum operated wafer transfer apparatus |
| US5100287A (en) * | 1989-04-27 | 1992-03-31 | Micron Technology, Inc. | Method of transferring wafers using vacuum |
| CH680317A5 (de) * | 1990-03-05 | 1992-07-31 | Tet Techno Investment Trust | |
| US5058491A (en) * | 1990-08-27 | 1991-10-22 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Building and method for manufacture of integrated circuits |
| US5169272A (en) * | 1990-11-01 | 1992-12-08 | Asyst Technologies, Inc. | Method and apparatus for transferring articles between two controlled environments |
| US5145303A (en) * | 1991-02-28 | 1992-09-08 | Mcnc | Method and apparatus for reducing particulate contamination in processing chambers |
| JP2947380B2 (ja) * | 1992-01-22 | 1999-09-13 | 東京応化工業株式会社 | プラズマ処理装置 |
| US5404894A (en) * | 1992-05-20 | 1995-04-11 | Tokyo Electron Kabushiki Kaisha | Conveyor apparatus |
| US5364225A (en) * | 1992-06-19 | 1994-11-15 | Ibm | Method of printed circuit panel manufacture |
| US5451131A (en) * | 1992-06-19 | 1995-09-19 | International Business Machines Corporation | Dockable interface airlock between process enclosure and interprocess transfer container |
| US5339952A (en) * | 1992-06-19 | 1994-08-23 | International Business Machines Corporation | Transfer container for transferring flimsy circuit panels under clean room conditions |
| US5395198A (en) * | 1992-06-19 | 1995-03-07 | International Business Machines Corporation | Vacuum loading chuck and fixture for flexible printed circuit panels |
| US5697749A (en) * | 1992-07-17 | 1997-12-16 | Tokyo Electron Kabushiki Kaisha | Wafer processing apparatus |
| KR100302012B1 (ko) * | 1992-11-06 | 2001-11-30 | 조셉 제이. 스위니 | 미소-환경 콘테이너 연결방법 및 미소-환경 로드 로크 |
| KR100303075B1 (ko) * | 1992-11-06 | 2001-11-30 | 조셉 제이. 스위니 | 집적회로 웨이퍼 이송 방법 및 장치 |
| EP0596537A1 (de) * | 1992-11-06 | 1994-05-11 | Applied Materials, Inc. | Ladungsschleuse mit Mikroumgebung und Methode zur Kupplung von einem Mikroumgebungsbehälter mit einer Prozesskammer |
| JP3250628B2 (ja) * | 1992-12-17 | 2002-01-28 | 東芝セラミックス株式会社 | 縦型半導体熱処理用治具 |
| JP2683208B2 (ja) * | 1993-01-28 | 1997-11-26 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | ロボット機構を用いた搬入および搬出のためのワークピース位置合わせ方法および装置 |
| US5642978A (en) * | 1993-03-29 | 1997-07-01 | Jenoptik Gmbh | Device for handling disk-shaped objects in a handling plane of a local clean room |
| DE4310149C2 (de) * | 1993-03-29 | 1996-05-02 | Jenoptik Jena Gmbh | Einrichtung zur Handhabung von scheibenförmigen Objekten in einer Handhabungsebene eines lokalen Reinraumes |
| US5350336A (en) * | 1993-04-23 | 1994-09-27 | Industrial Technology Research Institute | Building and method for manufacture of integrated semiconductor circuit devices |
| US5538390A (en) * | 1993-10-29 | 1996-07-23 | Applied Materials, Inc. | Enclosure for load lock interface |
| JP3331746B2 (ja) * | 1994-05-17 | 2002-10-07 | 神鋼電機株式会社 | 搬送システム |
| US5713711A (en) * | 1995-01-17 | 1998-02-03 | Bye/Oasis | Multiple interface door for wafer storage and handling container |
| US5700725A (en) * | 1995-06-26 | 1997-12-23 | Lucent Technologies Inc. | Apparatus and method for making integrated circuits |
| WO1997003222A1 (en) * | 1995-07-10 | 1997-01-30 | Asyst Technologies, Inc. | Cassette support and rotation assembly |
| DE19549045C1 (de) * | 1995-12-28 | 1997-06-05 | Jenoptik Jena Gmbh | Einrichtung zur Handhabung von scheibenförmigen Objekten |
| US5674039A (en) * | 1996-07-12 | 1997-10-07 | Fusion Systems Corporation | System for transferring articles between controlled environments |
| KR100245647B1 (ko) * | 1996-09-05 | 2000-02-15 | 윤종용 | 반도체 제조설비용 웨이퍼 스토퍼 |
| US5769184A (en) * | 1996-09-27 | 1998-06-23 | Brooks Automation, Inc. | Coaxial drive elevator |
| US5951776A (en) * | 1996-10-25 | 1999-09-14 | Applied Materials, Inc. | Self aligning lift mechanism |
| JPH10139159A (ja) * | 1996-11-13 | 1998-05-26 | Tokyo Electron Ltd | カセットチャンバ及びカセット搬入搬出機構 |
| US5957648A (en) * | 1996-12-11 | 1999-09-28 | Applied Materials, Inc. | Factory automation apparatus and method for handling, moving and storing semiconductor wafer carriers |
| US5964561A (en) * | 1996-12-11 | 1999-10-12 | Applied Materials, Inc. | Compact apparatus and method for storing and loading semiconductor wafer carriers |
| US6540466B2 (en) * | 1996-12-11 | 2003-04-01 | Applied Materials, Inc. | Compact apparatus and method for storing and loading semiconductor wafer carriers |
| NL1005410C2 (nl) * | 1997-02-28 | 1998-08-31 | Advanced Semiconductor Mat | Stelsel voor het laden, behandelen en ontladen van op een drager aangebrachte substraten. |
| US6157866A (en) * | 1997-06-19 | 2000-12-05 | Advanced Micro Devices, Inc. | Automated material handling system for a manufacturing facility divided into separate fabrication areas |
| US6704998B1 (en) * | 1997-12-24 | 2004-03-16 | Asyst Technologies, Inc. | Port door removal and wafer handling robotic system |
| US6398032B2 (en) * | 1998-05-05 | 2002-06-04 | Asyst Technologies, Inc. | SMIF pod including independently supported wafer cassette |
| CH693309A5 (de) * | 1998-06-03 | 2003-05-30 | Tec Sem Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Handhaben eines Behälters. |
| NL1010317C2 (nl) | 1998-10-14 | 2000-05-01 | Asm Int | Sorteer/opslaginrichting voor wafers en werkwijze voor het hanteren daarvan. |
| US6168427B1 (en) * | 1999-10-05 | 2001-01-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd | Apparatus for guiding the removal of a processing tube from a semiconductor furnace |
| US6692209B1 (en) * | 1999-11-19 | 2004-02-17 | Litton Systems, Inc. | Method and system for manufacturing a photocathode |
| TW512478B (en) * | 2000-09-14 | 2002-12-01 | Olympus Optical Co | Alignment apparatus |
| US6835039B2 (en) | 2002-03-15 | 2004-12-28 | Asm International N.V. | Method and apparatus for batch processing of wafers in a furnace |
| JP2003332402A (ja) * | 2002-05-10 | 2003-11-21 | Kondo Kogyo Kk | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 |
| US6843541B1 (en) * | 2002-06-06 | 2005-01-18 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Glove box for water pit applications |
| US7256375B2 (en) | 2002-08-30 | 2007-08-14 | Asm International N.V. | Susceptor plate for high temperature heat treatment |
| JP3759492B2 (ja) | 2002-12-03 | 2006-03-22 | 近藤工業株式会社 | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 |
| US7033126B2 (en) | 2003-04-02 | 2006-04-25 | Asm International N.V. | Method and apparatus for loading a batch of wafers into a wafer boat |
| US7181132B2 (en) | 2003-08-20 | 2007-02-20 | Asm International N.V. | Method and system for loading substrate supports into a substrate holder |
| US20130023129A1 (en) | 2011-07-20 | 2013-01-24 | Asm America, Inc. | Pressure transmitter for a semiconductor processing environment |
| US10714315B2 (en) | 2012-10-12 | 2020-07-14 | Asm Ip Holdings B.V. | Semiconductor reaction chamber showerhead |
| US20160376700A1 (en) | 2013-02-01 | 2016-12-29 | Asm Ip Holding B.V. | System for treatment of deposition reactor |
| WO2015023591A1 (en) * | 2013-08-12 | 2015-02-19 | Applied Materials, Inc | Substrate processing systems, apparatus, and methods with factory interface environmental controls |
| US11015245B2 (en) | 2014-03-19 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof |
| US10858737B2 (en) | 2014-07-28 | 2020-12-08 | Asm Ip Holding B.V. | Showerhead assembly and components thereof |
| US10941490B2 (en) | 2014-10-07 | 2021-03-09 | Asm Ip Holding B.V. | Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same |
| KR20210080633A (ko) | 2014-11-25 | 2021-06-30 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 기판 캐리어 및 퍼지 챔버 환경 제어들을 이용하는 기판 프로세싱 시스템들, 장치, 및 방법들 |
| US10276355B2 (en) | 2015-03-12 | 2019-04-30 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same |
| US10458018B2 (en) | 2015-06-26 | 2019-10-29 | Asm Ip Holding B.V. | Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same |
| US10211308B2 (en) | 2015-10-21 | 2019-02-19 | Asm Ip Holding B.V. | NbMC layers |
| US10069030B2 (en) * | 2015-12-14 | 2018-09-04 | Solarcity Corporation | Load lock solar cell transfer system |
| US11139308B2 (en) | 2015-12-29 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices |
| US10529554B2 (en) | 2016-02-19 | 2020-01-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches |
| US10343920B2 (en) | 2016-03-18 | 2019-07-09 | Asm Ip Holding B.V. | Aligned carbon nanotubes |
| US10367080B2 (en) | 2016-05-02 | 2019-07-30 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a germanium oxynitride film |
| US11453943B2 (en) | 2016-05-25 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor |
| US9859151B1 (en) | 2016-07-08 | 2018-01-02 | Asm Ip Holding B.V. | Selective film deposition method to form air gaps |
| US10612137B2 (en) | 2016-07-08 | 2020-04-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Organic reactants for atomic layer deposition |
| KR102532607B1 (ko) | 2016-07-28 | 2023-05-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 가공 장치 및 그 동작 방법 |
| US9887082B1 (en) | 2016-07-28 | 2018-02-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
| US9812320B1 (en) | 2016-07-28 | 2017-11-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
| US11532757B2 (en) | 2016-10-27 | 2022-12-20 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of charge trapping layers |
| US10714350B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-07-14 | ASM IP Holdings, B.V. | Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures |
| KR102546317B1 (ko) | 2016-11-15 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
| KR102762543B1 (ko) | 2016-12-14 | 2025-02-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| US11447861B2 (en) | 2016-12-15 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure |
| US11581186B2 (en) | 2016-12-15 | 2023-02-14 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus |
| KR102700194B1 (ko) | 2016-12-19 | 2024-08-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| US10269558B2 (en) | 2016-12-22 | 2019-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a structure on a substrate |
| US11390950B2 (en) | 2017-01-10 | 2022-07-19 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process |
| US10468261B2 (en) | 2017-02-15 | 2019-11-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
| US10529563B2 (en) | 2017-03-29 | 2020-01-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
| US10770286B2 (en) | 2017-05-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures |
| US12040200B2 (en) | 2017-06-20 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and methods for calibrating a semiconductor processing apparatus |
| US11306395B2 (en) | 2017-06-28 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus |
| KR20190009245A (ko) | 2017-07-18 | 2019-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물 |
| US11374112B2 (en) | 2017-07-19 | 2022-06-28 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
| US10541333B2 (en) | 2017-07-19 | 2020-01-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
| US11018002B2 (en) | 2017-07-19 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
| US10590535B2 (en) | 2017-07-26 | 2020-03-17 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same |
| TWI815813B (zh) | 2017-08-04 | 2023-09-21 | 荷蘭商Asm智慧財產控股公司 | 用於分配反應腔內氣體的噴頭總成 |
| US10770336B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate lift mechanism and reactor including same |
| US10692741B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-06-23 | Asm Ip Holdings B.V. | Radiation shield |
| US11139191B2 (en) | 2017-08-09 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
| US11769682B2 (en) | 2017-08-09 | 2023-09-26 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
| US11830730B2 (en) | 2017-08-29 | 2023-11-28 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
| US11295980B2 (en) | 2017-08-30 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
| US11056344B2 (en) | 2017-08-30 | 2021-07-06 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method |
| KR102491945B1 (ko) | 2017-08-30 | 2023-01-26 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| US10658205B2 (en) | 2017-09-28 | 2020-05-19 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber |
| US10403504B2 (en) | 2017-10-05 | 2019-09-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a metallic film on a substrate |
| US10923344B2 (en) | 2017-10-30 | 2021-02-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures |
| US11022879B2 (en) | 2017-11-24 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer |
| KR102633318B1 (ko) | 2017-11-27 | 2024-02-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 청정 소형 구역을 포함한 장치 |
| CN111316417B (zh) | 2017-11-27 | 2023-12-22 | 阿斯莫Ip控股公司 | 与批式炉偕同使用的用于储存晶圆匣的储存装置 |
| US10872771B2 (en) | 2018-01-16 | 2020-12-22 | Asm Ip Holding B. V. | Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures |
| KR102695659B1 (ko) | 2018-01-19 | 2024-08-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 플라즈마 보조 증착에 의해 갭 충진 층을 증착하는 방법 |
| TWI799494B (zh) | 2018-01-19 | 2023-04-21 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 沈積方法 |
| US11081345B2 (en) | 2018-02-06 | 2021-08-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method of post-deposition treatment for silicon oxide film |
| US11685991B2 (en) | 2018-02-14 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process |
| US10896820B2 (en) | 2018-02-14 | 2021-01-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process |
| US10731249B2 (en) | 2018-02-15 | 2020-08-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus |
| KR102636427B1 (ko) | 2018-02-20 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 장치 |
| US10975470B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-04-13 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment |
| US11473195B2 (en) | 2018-03-01 | 2022-10-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate |
| US11629406B2 (en) | 2018-03-09 | 2023-04-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate |
| US11114283B2 (en) | 2018-03-16 | 2021-09-07 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same |
| KR102646467B1 (ko) | 2018-03-27 | 2024-03-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조 |
| US11230766B2 (en) | 2018-03-29 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
| US11088002B2 (en) | 2018-03-29 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate rack and a substrate processing system and method |
| KR102600229B1 (ko) | 2018-04-09 | 2023-11-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 장치, 이를 포함하는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
| US12025484B2 (en) | 2018-05-08 | 2024-07-02 | Asm Ip Holding B.V. | Thin film forming method |
| KR102709511B1 (ko) | 2018-05-08 | 2024-09-24 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 산화물 막을 주기적 증착 공정에 의해 증착하기 위한 방법 및 관련 소자 구조 |
| US12272527B2 (en) | 2018-05-09 | 2025-04-08 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for use with hydrogen radicals and method of using same |
| KR102596988B1 (ko) | 2018-05-28 | 2023-10-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치 |
| US11718913B2 (en) | 2018-06-04 | 2023-08-08 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution system and reactor system including same |
| TWI840362B (zh) | 2018-06-04 | 2024-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 水氣降低的晶圓處置腔室 |
| US11286562B2 (en) | 2018-06-08 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase chemical reactor and method of using same |
| KR102568797B1 (ko) | 2018-06-21 | 2023-08-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 시스템 |
| US10797133B2 (en) | 2018-06-21 | 2020-10-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures |
| CN120591748A (zh) | 2018-06-27 | 2025-09-05 | Asm Ip私人控股有限公司 | 用于形成含金属的材料的循环沉积方法及膜和结构 |
| US11492703B2 (en) | 2018-06-27 | 2022-11-08 | Asm Ip Holding B.V. | Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material |
| US10612136B2 (en) | 2018-06-29 | 2020-04-07 | ASM IP Holding, B.V. | Temperature-controlled flange and reactor system including same |
| US10755922B2 (en) | 2018-07-03 | 2020-08-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
| US10388513B1 (en) | 2018-07-03 | 2019-08-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
| US11053591B2 (en) | 2018-08-06 | 2021-07-06 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-port gas injection system and reactor system including same |
| US11430674B2 (en) | 2018-08-22 | 2022-08-30 | Asm Ip Holding B.V. | Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods |
| US11024523B2 (en) | 2018-09-11 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
| KR102707956B1 (ko) | 2018-09-11 | 2024-09-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 |
| US11049751B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-06-29 | Asm Ip Holding B.V. | Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith |
| CN110970344B (zh) | 2018-10-01 | 2024-10-25 | Asmip控股有限公司 | 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法 |
| US11232963B2 (en) | 2018-10-03 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
| KR102592699B1 (ko) | 2018-10-08 | 2023-10-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치 |
| KR102546322B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
| KR102605121B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
| USD948463S1 (en) | 2018-10-24 | 2022-04-12 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus |
| US12378665B2 (en) | 2018-10-26 | 2025-08-05 | Asm Ip Holding B.V. | High temperature coatings for a preclean and etch apparatus and related methods |
| US11087997B2 (en) | 2018-10-31 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
| KR102748291B1 (ko) | 2018-11-02 | 2024-12-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
| US11572620B2 (en) | 2018-11-06 | 2023-02-07 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate |
| US11031242B2 (en) | 2018-11-07 | 2021-06-08 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a boron doped silicon germanium film |
| US10847366B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-11-24 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process |
| US10818758B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-10-27 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures |
| US12040199B2 (en) | 2018-11-28 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
| US11217444B2 (en) | 2018-11-30 | 2022-01-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film |
| KR102636428B1 (ko) | 2018-12-04 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치를 세정하는 방법 |
| US11158513B2 (en) | 2018-12-13 | 2021-10-26 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
| JP7504584B2 (ja) | 2018-12-14 | 2024-06-24 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 窒化ガリウムの選択的堆積を用いてデバイス構造体を形成する方法及びそのためのシステム |
| TWI866480B (zh) | 2019-01-17 | 2024-12-11 | 荷蘭商Asm Ip 私人控股有限公司 | 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法 |
| KR102727227B1 (ko) | 2019-01-22 | 2024-11-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| CN111524788B (zh) | 2019-02-01 | 2023-11-24 | Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法 |
| EP3918106A4 (de) * | 2019-02-19 | 2022-11-02 | Veeco Instruments Inc. | Automatisierte dünnschichtabscheidungssysteme mit massenfertigung und verfahren zur verwendung davon |
| JP7509548B2 (ja) | 2019-02-20 | 2024-07-02 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 基材表面内に形成された凹部を充填するための周期的堆積方法および装置 |
| TWI873122B (zh) | 2019-02-20 | 2025-02-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 填充一基板之一表面內所形成的一凹槽的方法、根據其所形成之半導體結構、及半導體處理設備 |
| US11482533B2 (en) | 2019-02-20 | 2022-10-25 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus and methods for plug fill deposition in 3-D NAND applications |
| KR102626263B1 (ko) | 2019-02-20 | 2024-01-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치 |
| TWI842826B (zh) | 2019-02-22 | 2024-05-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基材處理設備及處理基材之方法 |
| KR102858005B1 (ko) | 2019-03-08 | 2025-09-09 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체 |
| US11742198B2 (en) | 2019-03-08 | 2023-08-29 | Asm Ip Holding B.V. | Structure including SiOCN layer and method of forming same |
| KR102782593B1 (ko) | 2019-03-08 | 2025-03-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법 |
| KR20200116033A (ko) | 2019-03-28 | 2020-10-08 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 도어 개방기 및 이를 구비한 기판 처리 장치 |
| KR102809999B1 (ko) | 2019-04-01 | 2025-05-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자를 제조하는 방법 |
| US11447864B2 (en) | 2019-04-19 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
| KR20200125453A (ko) | 2019-04-24 | 2020-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
| KR102929471B1 (ko) | 2019-05-07 | 2026-02-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기 |
| KR102869364B1 (ko) | 2019-05-07 | 2025-10-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법 |
| KR102929472B1 (ko) | 2019-05-10 | 2026-02-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조 |
| JP7612342B2 (ja) | 2019-05-16 | 2025-01-14 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
| JP7598201B2 (ja) | 2019-05-16 | 2024-12-11 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
| USD947913S1 (en) | 2019-05-17 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
| USD975665S1 (en) | 2019-05-17 | 2023-01-17 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
| USD935572S1 (en) | 2019-05-24 | 2021-11-09 | Asm Ip Holding B.V. | Gas channel plate |
| USD922229S1 (en) | 2019-06-05 | 2021-06-15 | Asm Ip Holding B.V. | Device for controlling a temperature of a gas supply unit |
| KR20200141002A (ko) | 2019-06-06 | 2020-12-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법 |
| KR102918757B1 (ko) | 2019-06-10 | 2026-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 석영 에피택셜 챔버를 세정하는 방법 |
| KR20200143254A (ko) | 2019-06-11 | 2020-12-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조 |
| USD944946S1 (en) | 2019-06-14 | 2022-03-01 | Asm Ip Holding B.V. | Shower plate |
| USD931978S1 (en) | 2019-06-27 | 2021-09-28 | Asm Ip Holding B.V. | Showerhead vacuum transport |
| KR102911421B1 (ko) | 2019-07-03 | 2026-01-12 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법 |
| JP7499079B2 (ja) | 2019-07-09 | 2024-06-13 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法 |
| CN112216646B (zh) | 2019-07-10 | 2026-02-10 | Asmip私人控股有限公司 | 基板支撑组件及包括其的基板处理装置 |
| KR102895115B1 (ko) | 2019-07-16 | 2025-12-03 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| KR102860110B1 (ko) | 2019-07-17 | 2025-09-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법 |
| TWI826704B (zh) | 2019-07-17 | 2023-12-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 自由基輔助引燃電漿系統和方法 |
| US11643724B2 (en) | 2019-07-18 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming structures using a neutral beam |
| KR102903090B1 (ko) | 2019-07-19 | 2025-12-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 토폴로지-제어된 비정질 탄소 중합체 막을 형성하는 방법 |
| TWI839544B (zh) | 2019-07-19 | 2024-04-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成形貌受控的非晶碳聚合物膜之方法 |
| CN112309843B (zh) | 2019-07-29 | 2026-01-23 | Asmip私人控股有限公司 | 实现高掺杂剂掺入的选择性沉积方法 |
| CN112309900B (zh) | 2019-07-30 | 2025-11-04 | Asmip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
| CN112309899B (zh) | 2019-07-30 | 2025-11-14 | Asmip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
| US12169361B2 (en) | 2019-07-30 | 2024-12-17 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
| US11227782B2 (en) | 2019-07-31 | 2022-01-18 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
| US11587814B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
| US11587815B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
| CN112323048B (zh) | 2019-08-05 | 2024-02-09 | Asm Ip私人控股有限公司 | 用于化学源容器的液位传感器 |
| KR20210018761A (ko) | 2019-08-09 | 2021-02-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 냉각 장치를 포함한 히터 어셈블리 및 이를 사용하는 방법 |
| USD965524S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-10-04 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor support |
| USD965044S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
| JP7810514B2 (ja) | 2019-08-21 | 2026-02-03 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置 |
| USD940837S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-01-11 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode |
| USD949319S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Exhaust duct |
| KR20210024423A (ko) | 2019-08-22 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법 |
| USD930782S1 (en) | 2019-08-22 | 2021-09-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor |
| USD979506S1 (en) | 2019-08-22 | 2023-02-28 | Asm Ip Holding B.V. | Insulator |
| KR102928101B1 (ko) | 2019-08-23 | 2026-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법 |
| US11286558B2 (en) | 2019-08-23 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film |
| KR102868968B1 (ko) | 2019-09-03 | 2025-10-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 칼코지나이드 막 및 상기 막을 포함한 구조체를 증착하기 위한 방법 및 장치 |
| KR102806450B1 (ko) | 2019-09-04 | 2025-05-12 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법 |
| KR102733104B1 (ko) | 2019-09-05 | 2024-11-22 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| US12469693B2 (en) | 2019-09-17 | 2025-11-11 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a carbon-containing layer and structure including the layer |
| US11562901B2 (en) | 2019-09-25 | 2023-01-24 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing method |
| CN112593212B (zh) | 2019-10-02 | 2023-12-22 | Asm Ip私人控股有限公司 | 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法 |
| TWI846953B (zh) | 2019-10-08 | 2024-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理裝置 |
| TW202128273A (zh) | 2019-10-08 | 2021-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氣體注入系統、及將材料沉積於反應室內之基板表面上的方法 |
| KR102948143B1 (ko) | 2019-10-08 | 2026-04-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
| TWI846966B (zh) | 2019-10-10 | 2024-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成光阻底層之方法及包括光阻底層之結構 |
| US12009241B2 (en) | 2019-10-14 | 2024-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette |
| TWI834919B (zh) | 2019-10-16 | 2024-03-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法 |
| US11637014B2 (en) | 2019-10-17 | 2023-04-25 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selective deposition of doped semiconductor material |
| KR102845724B1 (ko) | 2019-10-21 | 2025-08-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법 |
| KR20210050453A (ko) | 2019-10-25 | 2021-05-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조 |
| US11646205B2 (en) | 2019-10-29 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same |
| KR102890638B1 (ko) | 2019-11-05 | 2025-11-25 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
| US11501968B2 (en) | 2019-11-15 | 2022-11-15 | Asm Ip Holding B.V. | Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps |
| KR102861314B1 (ko) | 2019-11-20 | 2025-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템 |
| US11450529B2 (en) | 2019-11-26 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively forming a target film on a substrate comprising a first dielectric surface and a second metallic surface |
| CN112951697B (zh) | 2019-11-26 | 2025-07-29 | Asmip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
| CN112885692B (zh) | 2019-11-29 | 2025-08-15 | Asmip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
| CN120432376A (zh) | 2019-11-29 | 2025-08-05 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
| JP7527928B2 (ja) | 2019-12-02 | 2024-08-05 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 基板処理装置、基板処理方法 |
| KR20210070898A (ko) | 2019-12-04 | 2021-06-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| US11885013B2 (en) | 2019-12-17 | 2024-01-30 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming vanadium nitride layer and structure including the vanadium nitride layer |
| US11527403B2 (en) | 2019-12-19 | 2022-12-13 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures |
| TWI887322B (zh) | 2020-01-06 | 2025-06-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 反應器系統、抬升銷、及處理方法 |
| KR20210089077A (ko) | 2020-01-06 | 2021-07-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 가스 공급 어셈블리, 이의 구성 요소, 및 이를 포함하는 반응기 시스템 |
| US11993847B2 (en) | 2020-01-08 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Injector |
| KR102882467B1 (ko) | 2020-01-16 | 2025-11-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 고 종횡비 피처를 형성하는 방법 |
| KR102675856B1 (ko) | 2020-01-20 | 2024-06-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법 |
| TWI889744B (zh) | 2020-01-29 | 2025-07-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 污染物捕集系統、及擋板堆疊 |
| TW202513845A (zh) | 2020-02-03 | 2025-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 半導體裝置結構及其形成方法 |
| TWI908758B (zh) | 2020-02-04 | 2025-12-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 驗證一物品之方法、用於驗證一物品之設備、及用於驗證一反應室之系統 |
| US11776846B2 (en) | 2020-02-07 | 2023-10-03 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices |
| KR102916725B1 (ko) | 2020-02-13 | 2026-01-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 수광 장치를 포함하는 기판 처리 장치 및 수광 장치의 교정 방법 |
| KR20210103953A (ko) | 2020-02-13 | 2021-08-24 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 가스 분배 어셈블리 및 이를 사용하는 방법 |
| US11781243B2 (en) | 2020-02-17 | 2023-10-10 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing low temperature phosphorous-doped silicon |
| TWI895326B (zh) | 2020-02-28 | 2025-09-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 專用於零件清潔的系統 |
| KR102943116B1 (ko) | 2020-03-04 | 2026-03-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반응기 시스템용 정렬 고정구 |
| US11876356B2 (en) | 2020-03-11 | 2024-01-16 | Asm Ip Holding B.V. | Lockout tagout assembly and system and method of using same |
| KR20210116240A (ko) | 2020-03-11 | 2021-09-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치 |
| CN113394086A (zh) | 2020-03-12 | 2021-09-14 | Asm Ip私人控股有限公司 | 用于制造具有目标拓扑轮廓的层结构的方法 |
| US12173404B2 (en) | 2020-03-17 | 2024-12-24 | Asm Ip Holding B.V. | Method of depositing epitaxial material, structure formed using the method, and system for performing the method |
| KR102755229B1 (ko) | 2020-04-02 | 2025-01-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 |
| TWI887376B (zh) | 2020-04-03 | 2025-06-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 半導體裝置的製造方法 |
| TWI888525B (zh) | 2020-04-08 | 2025-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法 |
| US11821078B2 (en) | 2020-04-15 | 2023-11-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film |
| KR20210128343A (ko) | 2020-04-15 | 2021-10-26 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 크롬 나이트라이드 층을 형성하는 방법 및 크롬 나이트라이드 층을 포함하는 구조 |
| US11996289B2 (en) | 2020-04-16 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods |
| TW202143328A (zh) | 2020-04-21 | 2021-11-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於調整膜應力之方法 |
| KR20210132600A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템 |
| CN113555279A (zh) | 2020-04-24 | 2021-10-26 | Asm Ip私人控股有限公司 | 形成含氮化钒的层的方法及包含其的结构 |
| KR102934380B1 (ko) | 2020-04-24 | 2026-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐 보라이드 및 바나듐 포스파이드 층을 포함한 구조체를 형성하는 방법 |
| KR102866804B1 (ko) | 2020-04-24 | 2025-09-30 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 냉각 가스 공급부를 포함한 수직형 배치 퍼니스 어셈블리 |
| KR20210132612A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐 화합물들을 안정화하기 위한 방법들 및 장치 |
| KR102783898B1 (ko) | 2020-04-29 | 2025-03-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 고체 소스 전구체 용기 |
| KR20210134869A (ko) | 2020-05-01 | 2021-11-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환 |
| JP7726664B2 (ja) | 2020-05-04 | 2025-08-20 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 基板を処理するための基板処理システム |
| JP7736446B2 (ja) | 2020-05-07 | 2025-09-09 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 同調回路を備える反応器システム |
| KR20210137395A (ko) | 2020-05-07 | 2021-11-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 불소계 라디칼을 이용하여 반응 챔버의 인시츄 식각을 수행하기 위한 장치 및 방법 |
| KR102788543B1 (ko) | 2020-05-13 | 2025-03-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구 |
| KR102936676B1 (ko) | 2020-05-15 | 2026-03-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 다중 전구체를 사용하여 실리콘 게르마늄 균일도를 제어하기 위한 방법 |
| TWI911214B (zh) | 2020-05-19 | 2026-01-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基材處理設備 |
| KR20210145079A (ko) | 2020-05-21 | 2021-12-01 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판을 처리하기 위한 플랜지 및 장치 |
| KR102795476B1 (ko) | 2020-05-21 | 2025-04-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법 |
| KR102702526B1 (ko) | 2020-05-22 | 2024-09-03 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 과산화수소를 사용하여 박막을 증착하기 위한 장치 |
| KR20210146802A (ko) | 2020-05-26 | 2021-12-06 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 붕소 및 갈륨을 함유한 실리콘 게르마늄 층을 증착하는 방법 |
| TWI876048B (zh) | 2020-05-29 | 2025-03-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
| TW202212620A (zh) | 2020-06-02 | 2022-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 處理基板之設備、形成膜之方法、及控制用於處理基板之設備之方法 |
| KR20210156219A (ko) | 2020-06-16 | 2021-12-24 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 붕소를 함유한 실리콘 게르마늄 층을 증착하는 방법 |
| TWI908816B (zh) | 2020-06-24 | 2025-12-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成含矽層之方法 |
| TWI873359B (zh) | 2020-06-30 | 2025-02-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
| US12431354B2 (en) | 2020-07-01 | 2025-09-30 | Asm Ip Holding B.V. | Silicon nitride and silicon oxide deposition methods using fluorine inhibitor |
| TW202202649A (zh) | 2020-07-08 | 2022-01-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
| TWI864307B (zh) | 2020-07-17 | 2024-12-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於光微影之結構、方法與系統 |
| TWI878570B (zh) | 2020-07-20 | 2025-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於沉積鉬層之方法及系統 |
| KR20220011092A (ko) | 2020-07-20 | 2022-01-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 전이 금속층을 포함하는 구조체를 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
| US12322591B2 (en) | 2020-07-27 | 2025-06-03 | Asm Ip Holding B.V. | Thin film deposition process |
| KR20220020210A (ko) | 2020-08-11 | 2022-02-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 티타늄 알루미늄 카바이드 막 구조체 및 관련 반도체 구조체를 증착하는 방법 |
| KR102915124B1 (ko) | 2020-08-14 | 2026-01-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 |
| US12040177B2 (en) | 2020-08-18 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a laminate film by cyclical plasma-enhanced deposition processes |
| TWI911263B (zh) | 2020-08-25 | 2026-01-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 清潔基板的方法、選擇性沉積的方法、及反應器系統 |
| TW202534193A (zh) | 2020-08-26 | 2025-09-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成金屬氧化矽層及金屬氮氧化矽層的方法 |
| TWI911265B (zh) | 2020-08-27 | 2026-01-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成圖案化結構的方法、操控機械特性的方法、及裝置結構 |
| TWI904232B (zh) | 2020-09-10 | 2025-11-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 沉積間隙填充流體之方法及相關系統和裝置 |
| USD990534S1 (en) | 2020-09-11 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Weighted lift pin |
| KR20220036866A (ko) | 2020-09-16 | 2022-03-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 산화물 증착 방법 |
| USD1012873S1 (en) | 2020-09-24 | 2024-01-30 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for semiconductor processing apparatus |
| TWI889903B (zh) | 2020-09-25 | 2025-07-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
| US12009224B2 (en) | 2020-09-29 | 2024-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus and method for etching metal nitrides |
| KR20220045900A (ko) | 2020-10-06 | 2022-04-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 함유 재료를 증착하기 위한 증착 방법 및 장치 |
| TW202229612A (zh) | 2020-10-06 | 2022-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 在部件的側壁上形成氮化矽的方法及系統 |
| CN114293174A (zh) | 2020-10-07 | 2022-04-08 | Asm Ip私人控股有限公司 | 气体供应单元和包括气体供应单元的衬底处理设备 |
| KR102855834B1 (ko) | 2020-10-14 | 2025-09-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 단차형 구조 상에 재료를 증착하는 방법 |
| KR102873665B1 (ko) | 2020-10-15 | 2025-10-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자의 제조 방법, 및 ether-cat을 사용하는 기판 처리 장치 |
| KR20220053482A (ko) | 2020-10-22 | 2022-04-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐 금속을 증착하는 방법, 구조체, 소자 및 증착 어셈블리 |
| TW202223136A (zh) | 2020-10-28 | 2022-06-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統 |
| TW202229620A (zh) | 2020-11-12 | 2022-08-01 | 特文特大學 | 沉積系統、用於控制反應條件之方法、沉積方法 |
| TW202229795A (zh) | 2020-11-23 | 2022-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 具注入器之基板處理設備 |
| TW202235649A (zh) | 2020-11-24 | 2022-09-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 填充間隙之方法與相關之系統及裝置 |
| KR20220076343A (ko) | 2020-11-30 | 2022-06-08 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치의 반응 챔버 내에 배열되도록 구성된 인젝터 |
| KR20220077875A (ko) | 2020-12-02 | 2022-06-09 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 샤워헤드 어셈블리용 세정 고정구 |
| US12255053B2 (en) | 2020-12-10 | 2025-03-18 | Asm Ip Holding B.V. | Methods and systems for depositing a layer |
| US12159788B2 (en) | 2020-12-14 | 2024-12-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming structures for threshold voltage control |
| CN114639631A (zh) | 2020-12-16 | 2022-06-17 | Asm Ip私人控股有限公司 | 跳动和摆动测量固定装置 |
| TW202232639A (zh) | 2020-12-18 | 2022-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 具有可旋轉台的晶圓處理設備 |
| KR20220090438A (ko) | 2020-12-22 | 2022-06-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 전이금속 증착 방법 |
| KR20220090435A (ko) | 2020-12-22 | 2022-06-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 전구체 캡슐, 용기 및 방법 |
| TW202226899A (zh) | 2020-12-22 | 2022-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 具匹配器的電漿處理裝置 |
| USD980813S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate for substrate processing apparatus |
| USD1023959S1 (en) | 2021-05-11 | 2024-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for substrate processing apparatus |
| USD981973S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-28 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor wall for substrate processing apparatus |
| USD980814S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor for substrate processing apparatus |
| KR102902629B1 (ko) * | 2021-07-02 | 2025-12-22 | 삼성전자주식회사 | 초임계 유체를 이용한 반도체 공정 방법 및 설비 |
| USD990441S1 (en) | 2021-09-07 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate |
| USD1099184S1 (en) | 2021-11-29 | 2025-10-21 | Asm Ip Holding B.V. | Weighted lift pin |
| USD1060598S1 (en) | 2021-12-03 | 2025-02-04 | Asm Ip Holding B.V. | Split showerhead cover |
| CN115360119B (zh) * | 2022-07-27 | 2023-11-03 | 徐州市沂芯微电子有限公司 | 一种半导体芯片的自动化包封设备 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3972424A (en) * | 1973-03-12 | 1976-08-03 | The Computervision Corporation | Automatic wafer loading and pre-alignment system |
| US4405435A (en) * | 1980-08-27 | 1983-09-20 | Hitachi, Ltd. | Apparatus for performing continuous treatment in vacuum |
| US4355937A (en) * | 1980-12-24 | 1982-10-26 | International Business Machines Corporation | Low shock transmissive antechamber seal mechanisms for vacuum chamber type semi-conductor wafer electron beam writing apparatus |
| JPS57149748A (en) * | 1981-03-12 | 1982-09-16 | Anelva Corp | Treating device for substrate |
| US4412771A (en) * | 1981-07-30 | 1983-11-01 | The Perkin-Elmer Corporation | Sample transport system |
| US4530635A (en) * | 1983-06-15 | 1985-07-23 | The Perkin-Elmer Corporation | Wafer transferring chuck assembly |
| JPH067566B2 (ja) * | 1983-09-28 | 1994-01-26 | ヒューレット・パッカード・カンパニー | 集積回路処理装置 |
| US4532970A (en) * | 1983-09-28 | 1985-08-06 | Hewlett-Packard Company | Particle-free dockable interface for integrated circuit processing |
| US4674939A (en) * | 1984-07-30 | 1987-06-23 | Asyst Technologies | Sealed standard interface apparatus |
| US4636128A (en) * | 1984-08-30 | 1987-01-13 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor slice cassette transport unit |
| US4674936A (en) * | 1985-08-26 | 1987-06-23 | Asyst Technologies | Short arm manipulator for standard mechanical interface apparatus |
| US4676709A (en) * | 1985-08-26 | 1987-06-30 | Asyst Technologies | Long arm manipulator for standard mechanical interface apparatus |
| US4657475A (en) * | 1985-09-23 | 1987-04-14 | Sumitomo Rubber Industries, Ltd. | Method for positioning seamed balls |
-
1986
- 1986-03-25 JP JP61066761A patent/JPS62222625A/ja active Pending
- 1986-11-18 DE DE8686308980T patent/DE3687795T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-11-18 EP EP86308980A patent/EP0238751B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-11-18 US US06/932,182 patent/US4781511A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-11-20 CA CA000523490A patent/CA1267978A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-11-27 KR KR1019860010066A patent/KR940002914B1/ko not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0238751B1 (de) | 1993-02-17 |
| JPS62222625A (ja) | 1987-09-30 |
| DE3687795D1 (de) | 1993-03-25 |
| EP0238751A3 (en) | 1989-07-19 |
| CA1267978A (en) | 1990-04-17 |
| US4781511A (en) | 1988-11-01 |
| KR940002914B1 (ko) | 1994-04-07 |
| EP0238751A2 (de) | 1987-09-30 |
| KR870009445A (ko) | 1987-10-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3687795T2 (de) | Halbleiterbehandlungsvorrichtung. | |
| DE3686614T2 (de) | Vorrichtung und verfahren zum automatisierten manipulieren einer kassette. | |
| DE19726305C2 (de) | System zum Transportieren von Objekten zwischen Umgebungen mit kontrollierten Bedingungen | |
| DE69208937T2 (de) | Halbleiter-Herstellungseinrichtung | |
| DE60025708T2 (de) | Mehrstufiger einzelantrieb für foup-türöffnungssystem | |
| DE10222851B4 (de) | Schneidmaschine | |
| DE69428618T2 (de) | Thermischer Reaktor für Operationen zur Bearbeitung von Halbleiter-Wafer | |
| DE69935039T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zum transport von halbleiterplättchen | |
| EP0805480A3 (de) | SMIF-System zum Einschleusen von Substraten in Schleusenreinsträume | |
| DE4326309C1 (de) | Vorrichtung zum Transport von Wafermagazinen | |
| EP0542793A1 (de) | Anordnung zum lagern, transportieren und einschleusen von substraten. | |
| DE19781822B4 (de) | Reinigungsstation zur Verwendung bei einem System zum Reinigen, Spülen und Trocknen von Halbleiterscheiben | |
| DE102019207133B4 (de) | Beförderungssystem | |
| EP0158900A2 (de) | Anlage zum automatischen Beschicken einer Ofenanordnung mit Halbleiterscheiben | |
| DE102020208907B4 (de) | Transportsystem | |
| DE19611713A1 (de) | Vorrichtung zum Bearbeiten von flachen Werkstücken, wie z. B. Karten oder Buchdokumenten | |
| DE19716690B4 (de) | Wärmebehandlungsvorrichtung für Halbleiterkristallscheiben | |
| DE112005003767B4 (de) | Ablage-Halteeinrichtung | |
| DE19932735A1 (de) | Mikroelektronik-Fabrikationssystem sowie Verfahren und Vorrichtung zu dessen Reinigung | |
| DE4210960A1 (de) | Einrichtung und Verfahren zur Handhabung von Gegenständen | |
| DE112016001704T5 (de) | Werkstück-Anbringungs-/Entfernungsvorrichtung | |
| DE4332657C2 (de) | Vorrichtung zum Handhaben von Substraten in Reinsträumen und mit einer derartigen Vorrichtung versehene Schleuseneinrichtung | |
| DE3317574A1 (de) | Werkstueck-sammel- und transportvorrichtung | |
| DE3686943T2 (de) | Manipulator fuer mechanische standardkoppelsysteme. | |
| DE3686314T2 (de) | Vorrichtung zur bestimmung der haftkraefte eines klebstoffes zwischen einem halbleiter und seinem substrat. |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |