ES2318983B2 - EVALUATION CIRCUIT FOR AN OPTICAL RECEIVER. - Google Patents
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Abstract
Circuito de evaluación para un receptor óptico, que presenta un circuito divisor de la tensión, que está constituido por una resistencia de medición (Rmess) y por un primer elemento de conmutación (T1) y en el que está aplicada una tensión de alimentación (Vdd). El primer elemento de conmutación (T1) es conectado de forma conductora de electricidad a través de un receptor de acuerdo con una recepción de radiación electromagnética, y entre la resistencia de medición (Rmess) y el primer elemento de conmutación (T1) es tomada una señal de evaluación (VIN). Para evitar problemas en la evaluación de las señales de medición generadas por el receptor (VE), en el caso de una radiación excesiva del receptor a través de luz extraña, está previsto un circuito de fuentes de corriente adicional (Aadd), que está conectado en paralelo a la resistencia de medición (Rmess) y en el caso de una radiación excesiva del receptor provoca un flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación (T1), de manera que el primer elemento de conmutación (T1) trabaja con una relación señal/ruido favorable también en el caso de una radiación excesiva del receptor.Evaluation circuit for an optical receiver, which presents a voltage divider circuit, which is consisting of a measuring resistor (Rmess) and a first switching element (T1) and in which a voltage is applied power (Vdd). The first switching element (T1) is conductively connected to electricity through a receiver according to a radiation reception electromagnetic, and between the measurement resistance (Rmess) and the first switching element (T1) is taken a signal of evaluation (VIN). To avoid problems in the evaluation of measurement signals generated by the receiver (VE), in the case of excessive radiation from the receiver through strange light, is A circuit of additional current sources (ADF) is planned, which is connected in parallel to the measuring resistor (Rmess) and in the case of excessive radiation of the receiver causes a flow of additional current through the first switching element (T1), so that the first switching element (T1) works with a favorable signal / noise ratio also in the case of a excessive radiation from the receiver.
Description
Circuito de evaluación para un receptor óptico.Evaluation circuit for a receiver optical.
La invención se refiere a un circuito de evaluación para un receptor óptico de acuerdo con con un circuito divisor de la tensión, que está constituido por una resistencia de medición y un primer elemento de conmutación y en el que se aplica una tensión de alimentación, estado conectado el primer elemento de conmutación de forma conductora de electricidad de acuerdo con una recepción de radiación electromagnética a través de un receptor y siendo tomada una señal de evaluación entre la resistencia de medición y el primer elemento de conmutación, caracterizado por un circuito de fuentes de corriente adicional, que está conectado en paralelo a la resistencia de medición y en el caso de una radiación excesiva del receptor, provoca un flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación, de manera que el primer elemento de conmutación trabaja, también en el caso de una radiación excesiva del receptor, con una relación señal/ruido favorable. y especialmente a un circuito de evaluación, como se puede emplear, por ejemplo, en un conmutador pulsador sensible al contacto o en una parte de recepción de mando a distancia o de comunicación.The invention relates to a circuit of evaluation for an optical receiver according to a circuit voltage divider, which is constituted by a resistance of measurement and a first switching element and in which it is applied a supply voltage, connected the first element of conductive switching of electricity according to a reception of electromagnetic radiation through a receiver and an evaluation signal being taken between the resistance of measurement and the first switching element, characterized by a circuit of additional current sources, which is connected in parallel to the measuring resistance and in the case of radiation excessive receiver, causes additional current flow to through the first switching element, so that the first switching element works, also in the case of a excessive radiation from the receiver, with a signal / noise ratio favorable. and especially to an evaluation circuit, as can be used, for example, in a push button switch sensitive to contact or in a remote control reception part or of communication.
Los conmutadores pulsadores sensibles al contacto, especialmente los conmutadores pulsadores de infrarrojo, como se emplean, por ejemplo, en instalaciones de mando de electrodomésticos, y las partes de recepción de mando a distancia o de comunicación contienen habitualmente un sensor óptico, que presenta un receptor, que recibe radiación electromagnética, y un circuito de evaluación para la evaluación de una señal de medición generada por el receptor del sensor óptico y para la generación de una señal de evaluación correspondiente para el procesamiento posterior. La estructura básica de un circuito de evaluación convencional de este tipo se representa a modo de ejemplo en la figura 3.Pushbutton switches sensitive to contact, especially infrared pushbutton switches, as used, for example, in command facilities of appliances, and remote control reception parts or communication usually contain an optical sensor, which it presents a receiver, which receives electromagnetic radiation, and a evaluation circuit for the evaluation of a measurement signal generated by the receiver of the optical sensor and for the generation of a corresponding evaluation signal for processing later. The basic structure of an evaluation circuit Conventional of this type is represented by way of example in the figure 3.
El circuito de evaluación de la figura 3 contiene un circuito divisor de la tensión, que está constituido por una resistencia de medición R_{mess} y por un transistor T1, y en el que se aplica una tensión de alimentación Vdd. La señal de medición V_{E} del receptor conecta el transistor T1 y la señal de evaluación V_{IN} es tomada entre la resistencia de medición R_{mess} y el transistor T1. En el funcionamiento normal, el transistor T1 sin la activación, por ejemplo, del conmutador pulsador tiene alta impedancia, de manera que la señal de evaluación V_{IN} posee un nivel alto de la señal. Cuando se activa el conmutador pulsador, se conecta el transistor T1 de baja impedancia a través de la señal de medición V_{E} del receptor, de manera que en virtud del flujo de corriente a través del circuito de evaluación cae en una medida correspondiente el nivel de la señal de evaluación V_{IN}, lo que puede ser evaluado por un microprocesador conectado como una activación del conmutador pulsador.The evaluation circuit of Figure 3 it contains a voltage divider circuit, which is constituted by a measuring resistor R_ {mess} and by a transistor T1, and in which a supply voltage Vdd is applied. The signal of Measurement V E of the receiver connects the transistor T1 and the signal of evaluation V_ {IN} is taken between the measurement resistance R_ {mess} and transistor T1. In normal operation, the transistor T1 without activation, for example, of the switch button has high impedance, so that the signal of evaluation V_ {IN} has a high signal level. When activates the push button switch, transistor T1 is switched off impedance through the measuring signal V E of the receiver, of so that under the flow of current through the circuit of evaluation the signal level falls to a corresponding extent of evaluation V_ {IN}, which can be evaluated by a microprocessor connected as a switch activation button.
Un problema generalmente conocido de tales dispositivos es la radiación excesiva del receptor, por ejemplo a través de luz extraña, que puede provocar una relación señal/ruido no deseable, de tal forma que a través del circuito de evaluación no se pueden evaluar ya señales útiles. En el caso de una radiación excesiva del receptor se vuelve el transistor T1 de baja impedancia, de tal forma que el flujo de corriente máximo, determinado a través de Vdd y R_{mess}, es alcanzado a través del circuito de evaluación, de manera que en el caso de una activación del conmutador pulsador no es posible ya una elevación del flujo de corriente y, por lo tanto, una carrera de la señal devaluación V_{IN}.A generally known problem of such devices is the receiver's excessive radiation, for example to through strange light, which can cause a signal-to-noise ratio undesirable, so that through the evaluation circuit useful signals can no longer be evaluated. In the case of a radiation Excessive receiver becomes the low impedance transistor T1, such that the maximum current flow, determined through of Vdd and R_ {mess}, is reached through the circuit of evaluation, so that in the case of an activation of the push button switch is no longer possible since the flow of current and therefore a run of the devaluation signal V_ {IN}.
Una propuesta posible para la solución del problema consiste en reducir la resistencia de medición R_{mess} en el caso de una incidencia de luz extraña y de esta manera elevar el flujo de corriente posible en el circuito de evaluación. Pero con una reducción de este tipo de la sensibilidad a la luz extraña se reduce también al mismo tiempo la señal útil, de manera que no se puede ajustar ya la relación señal/ruido de una manera discrecionalmente favorable.A possible proposal for the solution of problem is to reduce the measurement resistance R_ {mess} in the case of an incidence of strange light and in this way raise the possible current flow in the evaluation circuit. But with such a reduction in sensitivity to foreign light is it also reduces the useful signal at the same time, so that you can already adjust the signal / noise ratio in a way discretionally favorable.
Por lo tanto, un cometido de la presente invención es reducir la sensibilidad a la luz extraña de un circuito de evaluación para un receptor óptico y a la vez mantener una señal útil o bien una relación señal/ruido suficientemente alta.Therefore, a task of the present invention is to reduce the sensitivity to strange light of a evaluation circuit for an optical receiver and at the same time maintain a useful signal or a sufficient signal / noise ratio high.
Este cometido se soluciona a través de un circuito de evaluación para un receptor óptico con las características de la reivindicación 1. Las configuraciones ventajosas y los desarrollos de la invención son objeto de las reivindicaciones dependientes.This task is solved through a evaluation circuit for an optical receiver with the characteristics of claim 1. The configurations advantageous and the developments of the invention are subject to the dependent claims.
El circuito de evaluación para un receptor óptico contiene un circuito divisor de la tensión, que está constituido por una resistencia de medición y por un primer elemento de conmutación y en el que se aplica una tensión de alimentación, siendo conectado el primer elemento de conmutación de forma conductora de electricidad de acuerdo con una recepción de radiación electromagnética a través de un receptor y siendo tomada una señal de evaluación entre la resistencia de medición y el primer elemento de conmutación. El circuito de evaluación se caracteriza, además, por un circuito de fuente de corriente adicional, que está conectado en paralelo a la resistencia de medición y en el caso de una radiación excesiva del receptor, provoca un flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación, de manera que el primer elemento de conmutación trabaja también en el caso de una radiación excesiva del receptor con una relación señal/ruido favorable.The evaluation circuit for a receiver optical contains a voltage divider circuit, which is consisting of a measuring resistor and a first switching element and in which a voltage of power supply, the first switching element of conductive form of electricity in accordance with a reception of electromagnetic radiation through a receiver and being taken an evaluation signal between the measurement resistance and the first switching element The evaluation circuit is characterized, in addition, by an additional current source circuit, which is connected in parallel to the measuring resistor and in the case of excessive radiation from the receiver, causes a current flow additional through the first switching element, so that the first switching element also works in the case of a excessive radiation from the receiver with a signal / noise ratio favorable.
En el funcionamiento normal, es decir, sin radiación excesiva del receptor, el circuito de evaluación funciona, en principio, como el circuito de evaluación convencional representado en la figura 3, puesto que el circuito de fuentes de corriente adicional no acondiciona esencialmente ninguna corriente adicional. No obstante, en el caso de una radiación excesiva del receptor, aunque en un circuito de evaluación convencional no es posible ninguna elevación de la corriente, por ejemplo con una pulsación de las teclas, el circuito de fuentes de corriente adicional alimenta una corriente adicional a través del primer elemento de conmutación. Puesto que al mismo tiempo se puede mantener la resistencia de medición en un valor alto de la resistencia, se conmuta el primer elemento de conmutación a través del circuito de fuentes de corriente adicional a una zona de funcionamiento con una relación señal/ruido suficientemente buena, de manera que incluso en el caso de una radiación excesiva del receptor, puede emitirse desde el circuito de evaluación una señal útil evaluable.In normal operation, that is, without excessive radiation from the receiver, the evaluation circuit works, in principle, as the conventional evaluation circuit represented in figure 3, since the circuit of sources of additional current does not essentially condition any current additional. However, in the case of excessive radiation from the receiver, although in a conventional evaluation circuit it is not no elevation of the current possible, for example with a keystroke, current source circuit additional feeds an additional current through the first switching element Since at the same time you can keep the measurement resistance at a high value of the resistance, the first switching element is switched through of the circuit of additional current sources to an area of operation with a sufficiently good signal / noise ratio, so that even in the case of excessive radiation from the receiver, a signal can be emitted from the evaluation circuit useful evaluable.
El primer elemento de conmutación es, por ejemplo, un fotodiodo o un fototransistor, y la resistencia de medición es de una manera más ventajosa una resistencia de medición con un valor de resistencia constante (alto).The first switching element is, by example, a photodiode or a phototransistor, and the resistance of measurement is in a more advantageous way a measurement resistor with a constant resistance value (high).
En una configuración de la invención, el circuito de fuentes de corriente adicional presenta un circuito en serie que está constituido por una primera resistencia y por una segunda resistencia, que está conectada en paralelo a la resistencia de medición; el valor de resistencia de la primera resistencia del circuito de fuentes de corriente adicional es (claramente) más bajo que el valor de resistencia de la resistencia de medición; y el segundo elemento de conmutación se conmuta, en el caso de una radiación excesiva del receptor, a un estado conductor de electricidad. El segundo elemento de conmutación sirve, por decirlo así, como fuente de corriente adicional para el primer elemento de conmutación.In a configuration of the invention, the circuit of additional current sources presents a circuit in series that is constituted by a first resistance and by a second resistor, which is connected in parallel to the measurement resistance; the resistance value of the first circuit resistance of additional current sources is (clearly) lower than the resistance value of the resistance measurement; and the second switching element is switched, in the case of excessive radiation from the receiver, to a conductive state Of electricity. The second switching element serves, by put it like this, as an additional current source for the first switching element
En una forma de realización de la invención, el segundo elemento de conmutación es un transistor, cuya conexión de puerta se encuentra, sobre al menos otra resistencia, de una manera duradera en el potencial de la señal de evaluación. Además, el circuito de fuentes de corriente adicional presenta un condensador de filtrado de la corriente, para mantener el flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación, de una manera independiente de las oscilaciones del potencial de la señal de evaluación, en un valor esencialmente constante. El circuito de fuentes de corriente adicional constituido de esta manera funciona relativamente inerte y es adecuado, por ejemplo, para partes de recepción de mando a distancia o de comunicación.In an embodiment of the invention, the second switching element is a transistor, whose connection of door is, on at least one other resistance, in a way durable in the potential of the evaluation signal. In addition, the Additional current source circuit features a capacitor of current filtering, to maintain current flow additional through the first switching element, of a independent way of the oscillations of the signal potential of evaluation, in an essentially constant value. The circuit of additional current sources constituted in this way works relatively inert and is suitable, for example, for parts of Remote control or communication reception.
En una forma de realización alternativa de la invención, el segundo elemento de conmutación es un transistor, cuya conexión de puerta se activa a través de al menos otra resistencia y un condensador de acumulación al menos en los tiempos de evaluación del circuito de evaluación para la conmutación del segundo elemento de conmutación. En este caso, por ejemplo, se conecta una conexión del condensador de acumulación con la tensión de alimentación, mientras que la otra conexión del condensador de acumulación está conectada en cada caso antes de los tiempos de evaluación del circuito de evaluación a través de un tercer elemento de conmutación, con preferencia un transistor, que se activa a través de un control del receptor, con el potencial de la señal de evaluación. El circuito de fuentes de corriente adicional constituido de esta manera funciona relativamente rápido y es adecuado, por ejemplo, para conmutadores pulsadores sensibles al contacto, en los que los tiempos de recepción, es decir, los tiempos de evaluación se conocen de antemano.In an alternative embodiment of the invention, the second switching element is a transistor, whose door connection is activated through at least one other resistance and an accumulation capacitor at least in the times evaluation of the evaluation circuit for switching the Second switching element. In this case, for example, connect an accumulation capacitor connection with the voltage power while the other capacitor connection of accumulation is connected in each case before the times of evaluation of the evaluation circuit through a third element switching, preferably a transistor, which is activated at through a receiver control, with the signal potential of evaluation. The circuit of additional current sources constituted in this way it works relatively fast and is suitable, for example, for push-button switches sensitive to contact, in which the reception times, that is, the Evaluation times are known in advance.
Una aplicación posible de la invención es un conmutador pulsador sensible al contacto con un sensor óptico, que presenta una receptor, que emite radiación electromagnética, y un receptor que recibe radiación electromagnética, y con un circuito de evaluación de acuerdo con la invención para la evaluación de una señal de medición, generada por el receptor del sensor óptico y para la generación de una señal de evaluación correspondiente.A possible application of the invention is a push button switch sensitive to contact with an optical sensor, which it presents a receiver, which emits electromagnetic radiation, and a receiver that receives electromagnetic radiation, and with a circuit of evaluation according to the invention for the evaluation of a measurement signal, generated by the optical sensor receiver and for the generation of a corresponding evaluation signal.
Otra aplicación posible de la invención es una parte de recepción de mando a distancia o de comunicación, con un sensor óptico, que presenta un receptor que recibe radiación electromagnética, y con un circuito de evaluación de acuerdo con la invención para la evaluación de una señal de medición generada por el receptor del sensor óptico y para la generación de una señal de evaluación correspondiente.Another possible application of the invention is a remote control or communication reception part, with a optical sensor, which has a receiver that receives radiation electromagnetic, and with an evaluation circuit according to the invention for the evaluation of a measurement signal generated by the receiver of the optical sensor and for the generation of a signal of corresponding evaluation.
Los anteriores así como otros cometidos, características y ventajas de la invención se comprenderán mejor a partir de la descripción siguiente de ejemplos preferidos no limitativos con referencia a los dibujos adjuntos. En éstos:The above as well as other tasks, characteristics and advantages of the invention will be better understood from the following description of preferred examples no Limitations with reference to the attached drawings. In these:
La figura 1 muestra un diagrama de bloques esquemático de un circuito de evaluación para un receptor óptico de acuerdo con un primer ejemplo de realización de la presente invención.Figure 1 shows a block diagram schematic of an evaluation circuit for an optical receiver of according to a first embodiment of the present invention.
La figura 2 muestra un diagrama de bloques esquemático de un circuito de evaluación para un receptor óptico de acuerdo con un segundo ejemplo de realización de la presente invención; yFigure 2 shows a block diagram schematic of an evaluation circuit for an optical receiver of according to a second embodiment of the present invention; Y
La figura 3 muestra un diagrama de bloques esquemático de un circuito de evaluación convencional para un receptor óptico.Figure 3 shows a block diagram schematic of a conventional evaluation circuit for a optical receiver
A continuación se explica en detalle la invención con la ayuda de diferentes ejemplos de realización con referencia a las figuras 1 y 2.The following explains in detail the invention with the help of different embodiments with reference to figures 1 and 2.
El circuito de evaluación representado en la figura 1 es adecuado en este caso especialmente para el empleo para partes de recepción de mando a distancia o de comunicación. El circuito de evaluación de la figura 2, en cambio, es adecuado con preferencia para aplicaciones, en las que los tiempos de recepción o de evaluación son conocidos con anterioridad, como por ejemplo en conmutadores pulsadores sensibles al contacto, como se emplean ampliamente, por ejemplo, en partes de mando de electrodomésticos electrónicos.The evaluation circuit represented in the Figure 1 is suitable in this case especially for use for remote control or communication reception parts. He evaluation circuit of figure 2, however, is suitable with preference for applications, in which reception times or of evaluation are known before, as for example in contact sensitive pushbutton switches, as used widely, for example, in appliance control parts electronic
El circuito de evaluación del primer ejemplo de realización de la figura 1 presenta, como el circuito de evaluación convencional descrito anteriormente con la ayuda de la figura 3, un circuito divisor de la tensión, que está constituido por una resistencia de medición R_{mess} y por un primer elemento de conmutación T1, por ejemplo un fotodiodo o un fototransistor y en el que está aplicada una tensión de alimentación V_{DD}, por ejemplo de 5 V. La señal de evaluación V_{IN} se toma entre la resistencia de medición R_{mess} y el primer elemento de conmutación T1 y se alimenta a un microprocesador (no se representa) para el procesamiento posterior. El primer elemento de conmutación T1 se conecta de forma conductora en función de una señal de medición V_{E} del receptor (no se representa), de manera que, dado el caso, se provoca un flujo de corriente a través del circuito de evaluación, que tiene como consecuencia una señal de evaluación V_{IN} correspondiente. La resistencia de medición R_{mess} y es de una manera más ventajosa una resistencia con un valor de resistencia alto constante, para conseguir una relación señal/ruido favorable.The evaluation circuit of the first example of embodiment of figure 1 presents, as the evaluation circuit conventional described above with the help of figure 3, a voltage divider circuit, which is constituted by a measuring resistance R_ {mess} and by a first element of switching T1, for example a photodiode or a phototransistor and in which is applied a supply voltage V_ {DD}, by 5 V example. The evaluation signal V_ {IN} is taken between the measuring resistance R_ {mess} and the first element of T1 switching and is fed to a microprocessor (no represents) for further processing. The first element of T1 switching is conductively connected based on a measurement signal V E of the receiver (not shown), of so that, if necessary, a current flow is caused through of the evaluation circuit, which results in a signal corresponding evaluation V_ {IN}. Measuring resistance R_ {mess} and is in a more advantageous way a resistor with a constant high resistance value, to achieve a relationship favorable signal / noise
Adicionalmente, este circuito de evaluación presenta un circuito de fuentes de corriente adicional A_{add}, que está previsto en paralelo a la resistencia de medición R_{mess} y en el caso de una radiación excesiva del receptor debe provocarse un flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación T1, para accionarlo en una zona de trabajo con una relación señal/ruido favorable.Additionally, this evaluation circuit presents a circuit of additional current sources A_ {add}, which is planned in parallel to the measurement resistance R_ {mess} and in the case of excessive radiation from the receiver must causing an additional current flow through the first switching element T1, to be operated in a work area with a favorable signal / noise ratio.
El circuito de puentes de corriente adicional A_{add} contiene un circuito en serie, que está constituido por una primera resistencia R1, cuyo valor de la resistencia es claramente menor que la de la resistencia de medición R_{mess}, y por un segundo elemento de conmutación T2 en forma de un transistor. La conexión de puerta del transistor T2 está conectada a través de una segunda resistencia R2 (relativamente alta) y una capacidad C1 con el potencial de la tensión de alimentación V_{DD} y se conecta a través de la segunda resistencia R2 y una tercera resistencia R3 (relativamente alta) con el potencial de la señal de evaluación V_{IN}. Los valores de las resistencias R2 y R3 están seleccionados en este caso de tal forma que en el caso de una radiación excesiva del receptor, se aplica en la conexión de puerta del segundo elemento de conmutación T2 una tensión negativa tal que el segundo elemento de conmutación T2 se conecta de forma conductora. Entonces puede fluir a través del segundo elemento de conmutación T2 de baja impedancia y la segunda resistencia relativamente baja R2 una corriente adicional a través del primer elemento de conmutación T1.The additional current jumper circuit A_ {add} contains a series circuit, which is constituted by a first resistor R1, whose resistance value is clearly less than that of the measuring resistor R_ {mess}, and by a second switching element T2 in the form of a transistor. The gate connection of transistor T2 is connected through a second resistance R2 (relatively high) and a C1 capacity with the potential of the supply voltage V_ {DD} and connects through the second resistor R2 and a third R3 resistance (relatively high) with the signal potential of evaluation V_ {IN}. The values of resistors R2 and R3 are selected in this case so that in the case of a excessive radiation from the receiver, is applied in the door connection of the second switching element T2 a negative voltage such that the second switching element T2 is connected so conductive Then it can flow through the second element of T2 low impedance switching and second resistance relatively low R2 an additional current through the first switching element T1.
El modo de funcionamiento del circuito de evaluación de la figura 1 es el siguiente:The operating mode of the circuit evaluation of figure 1 is as follows:
En el funcionamiento normal del receptor, es decir, sin radiación excesiva a través de luz extraña y sin una recepción de señales, el primer elemento de conmutación T1 tiene una impedancia muy alta. El nivel de la señal de evaluación V_{IN} es, por lo tanto, muy alto (corresponde casi al valor de la tensión de alimentación Vdd), lo que es evaluado a través del microprocesador como no presencia de una entrada de la señal. Puesto que la señal de evaluación V_{IN} está esencialmente en el nivel de la tensión de alimentación Vdd, no se aplica en la conexión de puerta del segundo transistor T2 a través de las dos resistencias R2 y R3 esencialmente ninguna tensión negativa, de manera que el segundo transistor T2 permanece bloqueado. El circuito de fuentes de corriente adicional A_{add} no alimenta en este caso tampoco ninguna corriente adicional, es decir, que el circuito de evaluación funciona como un circuito de evaluación convencional.In the normal operation of the receiver, it is say without excessive radiation through strange light and without a signal reception, the first switching element T1 has a very high impedance. The level of the evaluation signal V_ {IN} is therefore very high (corresponds almost to the value of the supply voltage Vdd), which is evaluated through the microprocessor as no presence of a signal input. Since the evaluation signal V_ {IN} is essentially in the power supply voltage level Vdd, does not apply to the door connection of the second transistor T2 through the two resistors R2 and R3 essentially no negative voltage, of so that the second transistor T2 remains locked. He circuit of additional current sources A_ {add} does not feed in this case also no additional current, that is, that the evaluation circuit works like an evaluation circuit conventional.
Si se recibe ahora (siempre todavía sin radiación excesiva de luz extraña) desde el receptor una señal, entonces se conecta de forma conductora el primer elemento de conmutación T1 a través de la señal de medición V_{E} correspondiente del receptor en el instante de un impulso de la señal. A través del circuito principal del circuito de evaluación fluye una corriente, que provoca una caída de la tensión a través de la resistencia de medición R_{mess}, lo que tiene como consecuencia de nuevo una caída en el nivel de la señal de evaluación V_{IN}. Esta carrera en la señal de evaluación V_{IN} es evaluada como entrada de la señal a través del microprocesador. La altura de la carrera en la señal de evaluación V_{IN}, con otras palabras, la relación señal/ruido de la señal útil, se determina a través de la magnitud de la resistencia de medición R_{mess}.If received now (always still without excessive radiation of foreign light) from the receiver a signal, then the first element of switching T1 through the measurement signal V_ {E} corresponding receiver at the moment of an impulse of the signal. Through the main circuit of the evaluation circuit a current flows, which causes a voltage drop across of the measurement resistance R_ {mess}, which has as consequence again a drop in the signal level of evaluation V_ {IN}. This race in the evaluation signal V_ {IN} is evaluated as input of the signal through the microprocessor. The height of the run in the evaluation signal V_ {IN}, in other words, the signal to noise ratio useful, is determined by the magnitude of the resistance of R_ {mess} measurement.
El circuito de fuentes de corriente adicional A_{add} está concebido inerte de tal forma que tampoco durante el impulso corto de la señal, que es recibido por el receptor, alimenta ninguna corriente adicional a través del primer elemento de conmutación T1. El circuito de evaluación de la invención funciona, por lo tanto, también aquí como un circuito de evaluación convencional.The circuit of additional current sources A_ {add} is conceived inert in such a way that neither during the short pulse of the signal, which is received by the receiver, feeds any additional current through the first element of T1 switching. The evaluation circuit of the invention works, therefore, also here as an evaluation circuit conventional.
En cambio, si se produce una radiación excesiva del receptor a través de luz extraña, por ejemplo luz solar o fuentes de luz artificiales, entonces se conmuta el primer elemento de conmutación T1 a través de la señal de medición V_{E} correspondiente del receptor de forma continuamente conductora. Y esto en la medida en que el primer elemento de conmutación T1 tiene una impedancia tan baja que la corriente a través del primer elemento de conmutación T1 podría ser teóricamente todavía mayor, si esto lo permitiera el circuito de evaluación restante, especialmente la limitación a través de la resistencia de medición R_{mess}. La señal de evaluación V_{IN} se reduce de esta manera muy fuertemente, claramente más que en el caso de la recepción de una señal.On the other hand, if excessive radiation occurs of the receiver through strange light, for example sunlight or artificial light sources, then the first element is switched switching T1 through the measurement signal V_ {E} corresponding receiver continuously conductive. Y this to the extent that the first switching element T1 has an impedance so low that the current through the first switching element T1 could theoretically be even greater, if this were allowed by the remaining evaluation circuit, especially the limitation through the measurement resistance R_ {mess}. The evaluation signal V_ {IN} is reduced from this way very strongly, clearly more than in the case of the Receiving a signal
A través de la señal de evaluación V_{IN}
fuertemente reducida, se aplica ahora también en la conexión de
puerta del segundo elemento de conmutación T2 una tensión fuerte
negativa (frente al potencial de la tensión de alimentación), a
través de la cual se conmuta el segundo transistor T2. En virtud de
la segunda resistencia R2 muy baja y del segundo elemento de
conmutación de impedancia muy baja T2 puede fluir a través de estos
dos elementos una corriente adicional a través del primer elemento
de conmutación T1, que es claramente mayor que la que es limitada a
través de la resistencia de medición R_{mess}. El primer elemento
de conmutación T1 es regulado de esta manera a través del circuito
de fuentes de corriente adicional A_{add} de nuevo en una zona de
funcionamiento con una relación señal/ruido
favorable.Through the strongly reduced evaluation signal V_ {IN}, a strong negative voltage (against the potential of the supply voltage) is also applied to the gate connection of the second switching element T2, through which Switch the second transistor T2. By virtue of the second very low resistance R2 and the second very low impedance switching element T2, an additional current can flow through these two elements through the first switching element T1, which is clearly greater than that which is limited to through the measuring resistor R_ {mess}. The first switching element T1 is regulated in this way through the circuit of additional current sources A_ {add} again in an operating area with a signal-to-noise ratio.
favorable.
En el caso de que ahora se reciba un impulso de señal en esta zona de funcionamiento adaptada del primer elemento de conmutación T1 desde el receptor, se conmuta el primer elemento de conmutación T1 a través de la señal de medición V_{E} correspondiente con una impedancia todavía más baja, de manera que el flujo de corriente se puede elevar adicionalmente a través del primer elemento de conmutación T1, lo que es posible en virtud del circuito de fuentes de corriente adicional A_{add} de la invención. También en este caso (impulso de la señal con una radiación excesiva simultánea del receptor) se puede reconocer de esta manera una caída del nivel en la señal de evaluación V_{IN}, que se puede evaluar a través del microprocesador.In the event that an impulse is now received from signal in this operating zone adapted from the first element T1 switching from the receiver, the first element is switched switching T1 through the measurement signal V_ {E} corresponding with an even lower impedance, so that the current flow can be further increased through the first switching element T1, which is possible under the circuit of additional current sources A_ {add} of the invention. Also in this case (signal impulse with a simultaneous excessive radiation of the receiver) can be recognized from this way a drop in the level in the evaluation signal V_ {IN}, which can be evaluated through the microprocessor.
Por lo tanto, de acuerdo con el circuito de fuentes de corriente adicional A_{add} de la invención, se garantiza que el primer elemento de conmutación T1 se encuentre siempre en una zona de funcionamiento con una relación señal/ruido buena. Además, a tal fin no debe reducirse la resistencia de medición R_{mess}, es decir, que se puede mantener todavía constante, de manera que también en el caso de radiación excesiva se genera una señal útil claramente reconocible como señal de evaluación V_{IN}.Therefore, according to the circuit of A_ {add} additional current sources of the invention, it is guaranteed that the first switching element T1 is found always in an operating area with a signal / noise ratio good In addition, the resistance of R_ {mess} measurement, that is, it can still be maintained constant, so that also in the case of excessive radiation a clearly recognizable useful signal is generated as a signal of evaluation V_ {IN}.
El condensador C1 en el circuito de fuentes de corriente adicional A_{add} sirve para el filtrado de oscilaciones (de alta frecuencia) en el nivel de la señal de evaluación V_{IN}, que no son generadas a través del impulso de la señal, con el fin de poner a disposición en cada caso un flujo de corriente constante a través del primer elemento de conmutación T1. El condensador C1 se puede designar, por lo tanto, como "condensador de filtrado de la corriente".The capacitor C1 in the circuit of sources of additional current A_ {add} is used for filtering oscillations (high frequency) in the signal level of V_ {IN} evaluation, which are not generated through the momentum of the signal, in order to make available in each case a flow of constant current through the first switching element T1. The capacitor C1 can therefore be designated as "current filtering capacitor".
Como se puede deducir a partir de las explicaciones anteriores, el circuito de fuentes de corriente adicional A_{add} solamente alimenta una corriente adicional a través del primer elemento de conmutación T1 cuando el receptor se encuentra en la zona de una radiación excesiva. En el estado de funcionamiento normal del receptor no debe fluir ninguna corriente adicional, para que el primer elemento de conmutación T1 sea regulado en cualquier caso en una zona de trabajo con una relación señal/ruido suficientemente buena.As can be deduced from the previous explanations, the circuit of current sources additional A_ {add} only feeds an additional current to through the first switching element T1 when the receiver is found in the area of excessive radiation. In the state of normal operation of the receiver should not flow any current additional, so that the first switching element T1 is regulated in any case in a work area with a relationship signal / noise good enough.
Con referencia a la figura 2 se explica a continuación un segundo ejemplo de realización de la presente invención. En este caso, los mismos elementos y componentes están designados con los mismos signos de referencia que en el primer ejemplo de realización.With reference to figure 2, it is explained then a second embodiment of the present invention. In this case, the same elements and components are designated with the same reference signs as in the first embodiment example.
Mientras que el circuito de evaluación del primer ejemplo de realización presenta un circuito de fuentes de corriente adicional más bien inerte A_{add}, el circuito de evaluación de este ejemplo de realización de la figura 2 se caracteriza por un tiempo de reacción rápido. Como ya se ha mencionado, es adecuado, por lo tanto, de una manera preferida para aplicaciones, en las que se conocen de antemano los tiempos de recepción o bien los tiempos de evaluación, como por ejemplo en los conmutadores pulsadores sensibles al con tacto, como se emplean ampliamente, por ejemplo, en partes de mando de electrodomésticos electrónicos.While the evaluation circuit of the first embodiment presents a circuit of sources of additional current rather inert A_ {add}, the circuit of evaluation of this exemplary embodiment of figure 2 is characterized by a rapid reaction time. As already mentioned, it is suitable, therefore, in a preferred manner for applications, in which the times of reception or evaluation times, such as in touch sensitive pushbutton switches, as used widely, for example, in appliance control parts electronic
El circuito de evaluación del segundo ejemplo de realización se diferencia del circuito del primer ejemplo de realización descrito anteriormente en la estructura y en el modo de funcionamiento del circuito de fuentes de corriente adicional A_{add}. Como se representa en la figura 2, en este ejemplo de realización, especialmente la tercera resistencia R3 está sustituida en el circuito de fuentes de corriente adicional A_{add} por medio de un tercer elemento de conmutación T3; el valor de la resistencia de la segunda resistencia R2 está adaptado de una manera correspondiente. Los elementos y componentes restantes están inalterados con respecto al primer ejemplo de realización.The evaluation circuit of the second example of realization differs from the circuit of the first example of embodiment described above in the structure and in the mode of circuit operation of additional current sources A_ {add}. As depicted in Figure 2, in this example of embodiment, especially the third resistor R3 is replaced in the circuit of additional current sources A_ {add} by means of a third switching element T3; he resistance value of the second resistor R2 is adapted in a corresponding way. The elements and components remaining are unchanged with respect to the first example of realization.
Mientras que el tercer elemento de conmutación T3 en la figura 2 está configurado como un conmutador, que puede estar formado, por ejemplo, por un contacto Reed, en la práctica con frecuencia es ventajoso configurar el tercer elemento de conmutación T3 como un transistor, que es activado a través de un control de controlador, que activa también, por ejemplo, el sensor óptico del conmutador pulsador sensible al contacto.While the third switching element T3 in Figure 2 is configured as a switch, which can be formed, for example, by a Reed contact, in practice it is often advantageous to configure the third element of T3 switching as a transistor, which is activated through a controller control, which also activates, for example, the sensor optical contact sensitive push button switch.
El tercer elemento de conmutación T3 se cierra en cada caso poco antes de un impulso de señal esperado en el receptor, es decir, por ejemplo siempre que el emisor del sensor óptico emite radiación electromagnética, es decir, en cada caso poco antes de un tiempo de evaluación del circuito de evaluación. Con el conmutador T3 cerrado, se aplica en la conexión de puerta del segundo elemento de conmutación T2 el potencial de la señal de evaluación V_{IN}. En el estado de funcionamiento normal del receptor (es decir, sin radiación excesiva), este potencial corresponde aproximadamente a la tensión de alimentación Vdd, de manera que el segundo elemento de conmutación T2 permanece bloqueado y el circuito de evaluación trabaja como en el caso del ejemplo de realización anterior de una manera similar al circuito de evaluación convencional.The third switching element T3 closes in each case shortly before an expected signal pulse in the receiver, that is, for example, provided that the sensor emitter Optical emits electromagnetic radiation, that is, in each case little before an evaluation time of the evaluation circuit. With the T3 switch closed, applies to the door connection of the second switching element T2 the signal potential of evaluation V_ {IN}. In the normal operating state of the receiver (i.e., without excessive radiation), this potential corresponds approximately to the supply voltage Vdd, of so that the second switching element T2 remains blocked and the evaluation circuit works as in the case of previous embodiment example in a similar way to the circuit of conventional evaluation.
No obstante, si el receptor produce radiación excesiva, entonces se aplica en la conexión de puerta del segundo elemento de conmutación T2 a través del radiador T3 cerrado una señal claramente negativa (frente al potencial de la tensión de alimentación) y se carga el condensador de acumulación C2. En el instante de la evaluación, es decir, cuando se espera una recepción de un impulso de la señal a través del receptor, se abre de nuevo el tercer elemento de conmutación T3. El segundo elemento de conmutación T2 se conecta de forma conductora ahora a través del condensador de acumulación C2, de manera que puede fluir una corriente adicional a través del primer elemento de conmutación T1, de una manera similar al ejemplo de realización mencionado anteriormente, cuando se recibe una señal de impulso. El circuito de fuentes de corriente adicional A_{add} del segundo ejemplo de realización forma una especie de circuito de "Sample & Hold".However, if the receiver produces radiation excessive, then applied on the second door connection switching element T2 through the radiator T3 closed a clearly negative signal (versus the voltage potential of power) and the accumulation capacitor C2 is charged. At instant of the evaluation, that is, when a reception is expected of a pulse of the signal through the receiver, it opens again the third switching element T3. The second element of T2 switching is conductively connected now through the accumulation capacitor C2, so that a flow can flow additional current through the first switching element T1, in a manner similar to the mentioned embodiment example previously, when an impulse signal is received. The circuit of additional current sources A_ {add} from the second example of realization forms a kind of circuit of "Sample & Hold. "
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También el circuito de evaluación de la figura 2 se garantiza que el primer elemento de conmutación T1 (al menos durante los tiempos de evaluación esperados) se encuentre siempre en una zona de trabajo con una relación señal/ruido favorable. También aquí la resistencia de medición R_{mess} es de una manera más ventajosa una resistencia con un valor de resistencia (alto) constante, para poder evaluar también en el caso de radiación excesiva del receptor una señal útil suficientemente grande.Also the evaluation circuit of figure 2 it is guaranteed that the first switching element T1 (at least during the expected evaluation times) is always found in a work area with a favorable signal / noise ratio. Also here the measuring resistance R_ {mess} is one way more advantageous a resistance with a resistance value (high) constant, to be able to evaluate also in the case of radiation excessive receiver of the receiver a sufficiently large useful signal.
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