ES2318983B2 - Circuito de evaluacion para un receptor optico. - Google Patents
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Abstract
Circuito de evaluación para un receptor óptico,
que presenta un circuito divisor de la tensión, que está
constituido por una resistencia de medición (Rmess) y por un primer
elemento de conmutación (T1) y en el que está aplicada una tensión
de alimentación (Vdd). El primer elemento de conmutación (T1) es
conectado de forma conductora de electricidad a través de un
receptor de acuerdo con una recepción de radiación
electromagnética, y entre la resistencia de medición (Rmess) y el
primer elemento de conmutación (T1) es tomada una señal de
evaluación (VIN). Para evitar problemas en la evaluación de las
señales de medición generadas por el receptor (VE), en el caso de
una radiación excesiva del receptor a través de luz extraña, está
previsto un circuito de fuentes de corriente adicional (Aadd), que
está conectado en paralelo a la resistencia de medición (Rmess) y
en el caso de una radiación excesiva del receptor provoca un flujo
de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación
(T1), de manera que el primer elemento de conmutación (T1) trabaja
con una relación señal/ruido favorable también en el caso de una
radiación excesiva del receptor.
Description
Circuito de evaluación para un receptor
óptico.
La invención se refiere a un circuito de
evaluación para un receptor óptico de acuerdo con con un circuito
divisor de la tensión, que está constituido por una resistencia de
medición y un primer elemento de conmutación y en el que se aplica
una tensión de alimentación, estado conectado el primer elemento de
conmutación de forma conductora de electricidad de acuerdo con una
recepción de radiación electromagnética a través de un receptor y
siendo tomada una señal de evaluación entre la resistencia de
medición y el primer elemento de conmutación, caracterizado por un
circuito de fuentes de corriente adicional, que está conectado en
paralelo a la resistencia de medición y en el caso de una radiación
excesiva del receptor, provoca un flujo de corriente adicional a
través del primer elemento de conmutación, de manera que el primer
elemento de conmutación trabaja, también en el caso de una
radiación excesiva del receptor, con una relación señal/ruido
favorable. y especialmente a un circuito de evaluación, como se
puede emplear, por ejemplo, en un conmutador pulsador sensible al
contacto o en una parte de recepción de mando a distancia o de
comunicación.
Los conmutadores pulsadores sensibles al
contacto, especialmente los conmutadores pulsadores de infrarrojo,
como se emplean, por ejemplo, en instalaciones de mando de
electrodomésticos, y las partes de recepción de mando a distancia o
de comunicación contienen habitualmente un sensor óptico, que
presenta un receptor, que recibe radiación electromagnética, y un
circuito de evaluación para la evaluación de una señal de medición
generada por el receptor del sensor óptico y para la generación de
una señal de evaluación correspondiente para el procesamiento
posterior. La estructura básica de un circuito de evaluación
convencional de este tipo se representa a modo de ejemplo en la
figura 3.
El circuito de evaluación de la figura 3
contiene un circuito divisor de la tensión, que está constituido
por una resistencia de medición R_{mess} y por un transistor T1,
y en el que se aplica una tensión de alimentación Vdd. La señal de
medición V_{E} del receptor conecta el transistor T1 y la señal
de evaluación V_{IN} es tomada entre la resistencia de medición
R_{mess} y el transistor T1. En el funcionamiento normal, el
transistor T1 sin la activación, por ejemplo, del conmutador
pulsador tiene alta impedancia, de manera que la señal de
evaluación V_{IN} posee un nivel alto de la señal. Cuando se
activa el conmutador pulsador, se conecta el transistor T1 de baja
impedancia a través de la señal de medición V_{E} del receptor, de
manera que en virtud del flujo de corriente a través del circuito
de evaluación cae en una medida correspondiente el nivel de la señal
de evaluación V_{IN}, lo que puede ser evaluado por un
microprocesador conectado como una activación del conmutador
pulsador.
Un problema generalmente conocido de tales
dispositivos es la radiación excesiva del receptor, por ejemplo a
través de luz extraña, que puede provocar una relación señal/ruido
no deseable, de tal forma que a través del circuito de evaluación
no se pueden evaluar ya señales útiles. En el caso de una radiación
excesiva del receptor se vuelve el transistor T1 de baja impedancia,
de tal forma que el flujo de corriente máximo, determinado a través
de Vdd y R_{mess}, es alcanzado a través del circuito de
evaluación, de manera que en el caso de una activación del
conmutador pulsador no es posible ya una elevación del flujo de
corriente y, por lo tanto, una carrera de la señal devaluación
V_{IN}.
Una propuesta posible para la solución del
problema consiste en reducir la resistencia de medición R_{mess}
en el caso de una incidencia de luz extraña y de esta manera elevar
el flujo de corriente posible en el circuito de evaluación. Pero con
una reducción de este tipo de la sensibilidad a la luz extraña se
reduce también al mismo tiempo la señal útil, de manera que no se
puede ajustar ya la relación señal/ruido de una manera
discrecionalmente favorable.
Por lo tanto, un cometido de la presente
invención es reducir la sensibilidad a la luz extraña de un
circuito de evaluación para un receptor óptico y a la vez mantener
una señal útil o bien una relación señal/ruido suficientemente
alta.
Este cometido se soluciona a través de un
circuito de evaluación para un receptor óptico con las
características de la reivindicación 1. Las configuraciones
ventajosas y los desarrollos de la invención son objeto de las
reivindicaciones dependientes.
El circuito de evaluación para un receptor
óptico contiene un circuito divisor de la tensión, que está
constituido por una resistencia de medición y por un primer
elemento de conmutación y en el que se aplica una tensión de
alimentación, siendo conectado el primer elemento de conmutación de
forma conductora de electricidad de acuerdo con una recepción de
radiación electromagnética a través de un receptor y siendo tomada
una señal de evaluación entre la resistencia de medición y el primer
elemento de conmutación. El circuito de evaluación se caracteriza,
además, por un circuito de fuente de corriente adicional, que está
conectado en paralelo a la resistencia de medición y en el caso de
una radiación excesiva del receptor, provoca un flujo de corriente
adicional a través del primer elemento de conmutación, de manera que
el primer elemento de conmutación trabaja también en el caso de una
radiación excesiva del receptor con una relación señal/ruido
favorable.
En el funcionamiento normal, es decir, sin
radiación excesiva del receptor, el circuito de evaluación
funciona, en principio, como el circuito de evaluación convencional
representado en la figura 3, puesto que el circuito de fuentes de
corriente adicional no acondiciona esencialmente ninguna corriente
adicional. No obstante, en el caso de una radiación excesiva del
receptor, aunque en un circuito de evaluación convencional no es
posible ninguna elevación de la corriente, por ejemplo con una
pulsación de las teclas, el circuito de fuentes de corriente
adicional alimenta una corriente adicional a través del primer
elemento de conmutación. Puesto que al mismo tiempo se puede
mantener la resistencia de medición en un valor alto de la
resistencia, se conmuta el primer elemento de conmutación a través
del circuito de fuentes de corriente adicional a una zona de
funcionamiento con una relación señal/ruido suficientemente buena,
de manera que incluso en el caso de una radiación excesiva del
receptor, puede emitirse desde el circuito de evaluación una señal
útil evaluable.
El primer elemento de conmutación es, por
ejemplo, un fotodiodo o un fototransistor, y la resistencia de
medición es de una manera más ventajosa una resistencia de medición
con un valor de resistencia constante (alto).
En una configuración de la invención, el
circuito de fuentes de corriente adicional presenta un circuito en
serie que está constituido por una primera resistencia y por una
segunda resistencia, que está conectada en paralelo a la
resistencia de medición; el valor de resistencia de la primera
resistencia del circuito de fuentes de corriente adicional es
(claramente) más bajo que el valor de resistencia de la resistencia
de medición; y el segundo elemento de conmutación se conmuta, en el
caso de una radiación excesiva del receptor, a un estado conductor
de electricidad. El segundo elemento de conmutación sirve, por
decirlo así, como fuente de corriente adicional para el primer
elemento de conmutación.
En una forma de realización de la invención, el
segundo elemento de conmutación es un transistor, cuya conexión de
puerta se encuentra, sobre al menos otra resistencia, de una manera
duradera en el potencial de la señal de evaluación. Además, el
circuito de fuentes de corriente adicional presenta un condensador
de filtrado de la corriente, para mantener el flujo de corriente
adicional a través del primer elemento de conmutación, de una
manera independiente de las oscilaciones del potencial de la señal
de evaluación, en un valor esencialmente constante. El circuito de
fuentes de corriente adicional constituido de esta manera funciona
relativamente inerte y es adecuado, por ejemplo, para partes de
recepción de mando a distancia o de comunicación.
En una forma de realización alternativa de la
invención, el segundo elemento de conmutación es un transistor,
cuya conexión de puerta se activa a través de al menos otra
resistencia y un condensador de acumulación al menos en los tiempos
de evaluación del circuito de evaluación para la conmutación del
segundo elemento de conmutación. En este caso, por ejemplo, se
conecta una conexión del condensador de acumulación con la tensión
de alimentación, mientras que la otra conexión del condensador de
acumulación está conectada en cada caso antes de los tiempos de
evaluación del circuito de evaluación a través de un tercer elemento
de conmutación, con preferencia un transistor, que se activa a
través de un control del receptor, con el potencial de la señal de
evaluación. El circuito de fuentes de corriente adicional
constituido de esta manera funciona relativamente rápido y es
adecuado, por ejemplo, para conmutadores pulsadores sensibles al
contacto, en los que los tiempos de recepción, es decir, los
tiempos de evaluación se conocen de antemano.
Una aplicación posible de la invención es un
conmutador pulsador sensible al contacto con un sensor óptico, que
presenta una receptor, que emite radiación electromagnética, y un
receptor que recibe radiación electromagnética, y con un circuito
de evaluación de acuerdo con la invención para la evaluación de una
señal de medición, generada por el receptor del sensor óptico y
para la generación de una señal de evaluación correspondiente.
Otra aplicación posible de la invención es una
parte de recepción de mando a distancia o de comunicación, con un
sensor óptico, que presenta un receptor que recibe radiación
electromagnética, y con un circuito de evaluación de acuerdo con la
invención para la evaluación de una señal de medición generada por
el receptor del sensor óptico y para la generación de una señal de
evaluación correspondiente.
Los anteriores así como otros cometidos,
características y ventajas de la invención se comprenderán mejor a
partir de la descripción siguiente de ejemplos preferidos no
limitativos con referencia a los dibujos adjuntos. En éstos:
La figura 1 muestra un diagrama de bloques
esquemático de un circuito de evaluación para un receptor óptico de
acuerdo con un primer ejemplo de realización de la presente
invención.
La figura 2 muestra un diagrama de bloques
esquemático de un circuito de evaluación para un receptor óptico de
acuerdo con un segundo ejemplo de realización de la presente
invención; y
La figura 3 muestra un diagrama de bloques
esquemático de un circuito de evaluación convencional para un
receptor óptico.
A continuación se explica en detalle la
invención con la ayuda de diferentes ejemplos de realización con
referencia a las figuras 1 y 2.
El circuito de evaluación representado en la
figura 1 es adecuado en este caso especialmente para el empleo para
partes de recepción de mando a distancia o de comunicación. El
circuito de evaluación de la figura 2, en cambio, es adecuado con
preferencia para aplicaciones, en las que los tiempos de recepción o
de evaluación son conocidos con anterioridad, como por ejemplo en
conmutadores pulsadores sensibles al contacto, como se emplean
ampliamente, por ejemplo, en partes de mando de electrodomésticos
electrónicos.
El circuito de evaluación del primer ejemplo de
realización de la figura 1 presenta, como el circuito de evaluación
convencional descrito anteriormente con la ayuda de la figura 3, un
circuito divisor de la tensión, que está constituido por una
resistencia de medición R_{mess} y por un primer elemento de
conmutación T1, por ejemplo un fotodiodo o un fototransistor y en
el que está aplicada una tensión de alimentación V_{DD}, por
ejemplo de 5 V. La señal de evaluación V_{IN} se toma entre la
resistencia de medición R_{mess} y el primer elemento de
conmutación T1 y se alimenta a un microprocesador (no se
representa) para el procesamiento posterior. El primer elemento de
conmutación T1 se conecta de forma conductora en función de una
señal de medición V_{E} del receptor (no se representa), de
manera que, dado el caso, se provoca un flujo de corriente a través
del circuito de evaluación, que tiene como consecuencia una señal
de evaluación V_{IN} correspondiente. La resistencia de medición
R_{mess} y es de una manera más ventajosa una resistencia con un
valor de resistencia alto constante, para conseguir una relación
señal/ruido favorable.
Adicionalmente, este circuito de evaluación
presenta un circuito de fuentes de corriente adicional A_{add},
que está previsto en paralelo a la resistencia de medición
R_{mess} y en el caso de una radiación excesiva del receptor debe
provocarse un flujo de corriente adicional a través del primer
elemento de conmutación T1, para accionarlo en una zona de trabajo
con una relación señal/ruido favorable.
El circuito de puentes de corriente adicional
A_{add} contiene un circuito en serie, que está constituido por
una primera resistencia R1, cuyo valor de la resistencia es
claramente menor que la de la resistencia de medición R_{mess}, y
por un segundo elemento de conmutación T2 en forma de un
transistor. La conexión de puerta del transistor T2 está conectada
a través de una segunda resistencia R2 (relativamente alta) y una
capacidad C1 con el potencial de la tensión de alimentación V_{DD}
y se conecta a través de la segunda resistencia R2 y una tercera
resistencia R3 (relativamente alta) con el potencial de la señal de
evaluación V_{IN}. Los valores de las resistencias R2 y R3 están
seleccionados en este caso de tal forma que en el caso de una
radiación excesiva del receptor, se aplica en la conexión de puerta
del segundo elemento de conmutación T2 una tensión negativa tal que
el segundo elemento de conmutación T2 se conecta de forma
conductora. Entonces puede fluir a través del segundo elemento de
conmutación T2 de baja impedancia y la segunda resistencia
relativamente baja R2 una corriente adicional a través del primer
elemento de conmutación T1.
El modo de funcionamiento del circuito de
evaluación de la figura 1 es el siguiente:
En el funcionamiento normal del receptor, es
decir, sin radiación excesiva a través de luz extraña y sin una
recepción de señales, el primer elemento de conmutación T1 tiene
una impedancia muy alta. El nivel de la señal de evaluación
V_{IN} es, por lo tanto, muy alto (corresponde casi al valor de la
tensión de alimentación Vdd), lo que es evaluado a través del
microprocesador como no presencia de una entrada de la señal.
Puesto que la señal de evaluación V_{IN} está esencialmente en el
nivel de la tensión de alimentación Vdd, no se aplica en la
conexión de puerta del segundo transistor T2 a través de las dos
resistencias R2 y R3 esencialmente ninguna tensión negativa, de
manera que el segundo transistor T2 permanece bloqueado. El
circuito de fuentes de corriente adicional A_{add} no alimenta en
este caso tampoco ninguna corriente adicional, es decir, que el
circuito de evaluación funciona como un circuito de evaluación
convencional.
Si se recibe ahora (siempre todavía sin
radiación excesiva de luz extraña) desde el receptor una señal,
entonces se conecta de forma conductora el primer elemento de
conmutación T1 a través de la señal de medición V_{E}
correspondiente del receptor en el instante de un impulso de la
señal. A través del circuito principal del circuito de evaluación
fluye una corriente, que provoca una caída de la tensión a través
de la resistencia de medición R_{mess}, lo que tiene como
consecuencia de nuevo una caída en el nivel de la señal de
evaluación V_{IN}. Esta carrera en la señal de evaluación
V_{IN} es evaluada como entrada de la señal a través del
microprocesador. La altura de la carrera en la señal de evaluación
V_{IN}, con otras palabras, la relación señal/ruido de la señal
útil, se determina a través de la magnitud de la resistencia de
medición R_{mess}.
El circuito de fuentes de corriente adicional
A_{add} está concebido inerte de tal forma que tampoco durante el
impulso corto de la señal, que es recibido por el receptor,
alimenta ninguna corriente adicional a través del primer elemento de
conmutación T1. El circuito de evaluación de la invención funciona,
por lo tanto, también aquí como un circuito de evaluación
convencional.
En cambio, si se produce una radiación excesiva
del receptor a través de luz extraña, por ejemplo luz solar o
fuentes de luz artificiales, entonces se conmuta el primer elemento
de conmutación T1 a través de la señal de medición V_{E}
correspondiente del receptor de forma continuamente conductora. Y
esto en la medida en que el primer elemento de conmutación T1 tiene
una impedancia tan baja que la corriente a través del primer
elemento de conmutación T1 podría ser teóricamente todavía mayor,
si esto lo permitiera el circuito de evaluación restante,
especialmente la limitación a través de la resistencia de medición
R_{mess}. La señal de evaluación V_{IN} se reduce de esta
manera muy fuertemente, claramente más que en el caso de la
recepción de una señal.
A través de la señal de evaluación V_{IN}
fuertemente reducida, se aplica ahora también en la conexión de
puerta del segundo elemento de conmutación T2 una tensión fuerte
negativa (frente al potencial de la tensión de alimentación), a
través de la cual se conmuta el segundo transistor T2. En virtud de
la segunda resistencia R2 muy baja y del segundo elemento de
conmutación de impedancia muy baja T2 puede fluir a través de estos
dos elementos una corriente adicional a través del primer elemento
de conmutación T1, que es claramente mayor que la que es limitada a
través de la resistencia de medición R_{mess}. El primer elemento
de conmutación T1 es regulado de esta manera a través del circuito
de fuentes de corriente adicional A_{add} de nuevo en una zona de
funcionamiento con una relación señal/ruido
favorable.
favorable.
En el caso de que ahora se reciba un impulso de
señal en esta zona de funcionamiento adaptada del primer elemento
de conmutación T1 desde el receptor, se conmuta el primer elemento
de conmutación T1 a través de la señal de medición V_{E}
correspondiente con una impedancia todavía más baja, de manera que
el flujo de corriente se puede elevar adicionalmente a través del
primer elemento de conmutación T1, lo que es posible en virtud del
circuito de fuentes de corriente adicional A_{add} de la
invención. También en este caso (impulso de la señal con una
radiación excesiva simultánea del receptor) se puede reconocer de
esta manera una caída del nivel en la señal de evaluación V_{IN},
que se puede evaluar a través del microprocesador.
Por lo tanto, de acuerdo con el circuito de
fuentes de corriente adicional A_{add} de la invención,
se garantiza que el primer elemento de conmutación T1 se encuentre
siempre en una zona de funcionamiento con una relación señal/ruido
buena. Además, a tal fin no debe reducirse la resistencia de
medición R_{mess}, es decir, que se puede mantener todavía
constante, de manera que también en el caso de radiación excesiva
se genera una señal útil claramente reconocible como señal de
evaluación V_{IN}.
El condensador C1 en el circuito de fuentes de
corriente adicional A_{add} sirve para el filtrado de
oscilaciones (de alta frecuencia) en el nivel de la señal de
evaluación V_{IN}, que no son generadas a través del impulso de la
señal, con el fin de poner a disposición en cada caso un flujo de
corriente constante a través del primer elemento de conmutación T1.
El condensador C1 se puede designar, por lo tanto, como
"condensador de filtrado de la corriente".
Como se puede deducir a partir de las
explicaciones anteriores, el circuito de fuentes de corriente
adicional A_{add} solamente alimenta una corriente adicional a
través del primer elemento de conmutación T1 cuando el receptor se
encuentra en la zona de una radiación excesiva. En el estado de
funcionamiento normal del receptor no debe fluir ninguna corriente
adicional, para que el primer elemento de conmutación T1 sea
regulado en cualquier caso en una zona de trabajo con una relación
señal/ruido suficientemente buena.
Con referencia a la figura 2 se explica a
continuación un segundo ejemplo de realización de la presente
invención. En este caso, los mismos elementos y componentes están
designados con los mismos signos de referencia que en el primer
ejemplo de realización.
Mientras que el circuito de evaluación del
primer ejemplo de realización presenta un circuito de fuentes de
corriente adicional más bien inerte A_{add}, el circuito de
evaluación de este ejemplo de realización de la figura 2 se
caracteriza por un tiempo de reacción rápido. Como ya se ha
mencionado, es adecuado, por lo tanto, de una manera preferida para
aplicaciones, en las que se conocen de antemano los tiempos de
recepción o bien los tiempos de evaluación, como por ejemplo en los
conmutadores pulsadores sensibles al con tacto, como se emplean
ampliamente, por ejemplo, en partes de mando de electrodomésticos
electrónicos.
El circuito de evaluación del segundo ejemplo de
realización se diferencia del circuito del primer ejemplo de
realización descrito anteriormente en la estructura y en el modo de
funcionamiento del circuito de fuentes de corriente adicional
A_{add}. Como se representa en la figura 2, en este ejemplo de
realización, especialmente la tercera resistencia R3 está
sustituida en el circuito de fuentes de corriente adicional
A_{add} por medio de un tercer elemento de conmutación T3; el
valor de la resistencia de la segunda resistencia R2 está adaptado
de una manera correspondiente. Los elementos y componentes
restantes están inalterados con respecto al primer ejemplo de
realización.
Mientras que el tercer elemento de conmutación
T3 en la figura 2 está configurado como un conmutador, que puede
estar formado, por ejemplo, por un contacto Reed, en la práctica
con frecuencia es ventajoso configurar el tercer elemento de
conmutación T3 como un transistor, que es activado a través de un
control de controlador, que activa también, por ejemplo, el sensor
óptico del conmutador pulsador sensible al contacto.
El tercer elemento de conmutación T3 se cierra
en cada caso poco antes de un impulso de señal esperado en el
receptor, es decir, por ejemplo siempre que el emisor del sensor
óptico emite radiación electromagnética, es decir, en cada caso poco
antes de un tiempo de evaluación del circuito de evaluación. Con el
conmutador T3 cerrado, se aplica en la conexión de puerta del
segundo elemento de conmutación T2 el potencial de la señal de
evaluación V_{IN}. En el estado de funcionamiento normal del
receptor (es decir, sin radiación excesiva), este potencial
corresponde aproximadamente a la tensión de alimentación Vdd, de
manera que el segundo elemento de conmutación T2 permanece
bloqueado y el circuito de evaluación trabaja como en el caso del
ejemplo de realización anterior de una manera similar al circuito
de evaluación convencional.
No obstante, si el receptor produce radiación
excesiva, entonces se aplica en la conexión de puerta del segundo
elemento de conmutación T2 a través del radiador T3 cerrado una
señal claramente negativa (frente al potencial de la tensión de
alimentación) y se carga el condensador de acumulación C2. En el
instante de la evaluación, es decir, cuando se espera una recepción
de un impulso de la señal a través del receptor, se abre de nuevo
el tercer elemento de conmutación T3. El segundo elemento de
conmutación T2 se conecta de forma conductora ahora a través del
condensador de acumulación C2, de manera que puede fluir una
corriente adicional a través del primer elemento de conmutación T1,
de una manera similar al ejemplo de realización mencionado
anteriormente, cuando se recibe una señal de impulso. El circuito
de fuentes de corriente adicional A_{add} del segundo ejemplo de
realización forma una especie de circuito de "Sample &
Hold".
\newpage
También el circuito de evaluación de la figura 2
se garantiza que el primer elemento de conmutación T1 (al menos
durante los tiempos de evaluación esperados) se encuentre siempre
en una zona de trabajo con una relación señal/ruido favorable.
También aquí la resistencia de medición R_{mess} es de una manera
más ventajosa una resistencia con un valor de resistencia (alto)
constante, para poder evaluar también en el caso de radiación
excesiva del receptor una señal útil suficientemente grande.
Claims (11)
1. Circuito de evaluación para un receptor
óptico, con un circuito divisor de la tensión, que está constituido
por una resistencia de medición (R_{mess}) y un primer elemento
de conmutación (T1) y en el que se aplica una tensión de
alimentación (Vdd), estado conectado el primer elemento de
conmutación (T1) de forma conductora de electricidad de acuerdo con
una recepción de radiación electromagnética a través de un receptor
y siendo tomada una señal de evaluación (V_{IN}) entre la
resistencia de medición (R_{mess}) y el primer elemento de
conmutación (T1), caracterizado por un circuito de fuentes
de corriente adicional (A_{add}), que está conectado en paralelo
a la resistencia de medición (R_{mess}) y en el caso de una
radiación excesiva del receptor, provoca un flujo de corriente
adicional a través del primer elemento de conmutación (T1), de
manera que el primer elemento de conmutación (T1) trabaja, también
en el caso de una radiación excesiva del receptor, con una relación
señal/ruido favorable.
2. Circuito de evaluación de acuerdo con la
reivindicación 1, caracterizado porque el primer elemento de
conmutación (T1) es un fotodiodo o un fototransistor.
3. Circuito de evaluación de acuerdo con la
reivindicación 1 ó 2, caracterizado porque la resistencia de
medición (R_{mess}) es una resistencia de medición con un valor
de resistencia constante.
4. Circuito de evaluación de acuerdo con una de
las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque el
circuito de fuentes de corriente adicional (A_{add}) presenta un
circuito en serie, que está constituido por una primera resistencia
(R1) y un segundo elemento de conmutación (T2), que está conectado
en paralelo a la resistencia de medición (R_{mess}); porque el
valor de la resistencia de la primera resistencia (R1) del circuito
de fuentes de corriente adicional (A_{add}) es menor que el valor
de la resistencia de la resistencia de medición (R_{mess}); y
porque el segundo elemento de conmutación (T2) se conecta a un
estado conductor de electricidad en el caso de una radiación
excesiva del receptor.
5. Circuito de evaluación de acuerdo con la
reivindicación 4, caracterizado porque el segundo elemento
de conmutación (T2) es un transistor, cuya conexión de puerta se
encuentra de una manera duradera en el potencial de la señal de
evaluación (V_{IN}) a través de al menos otra resistencia (R2,
R3).
6. Circuito de evaluación de acuerdo con la
reivindicación 5, caracterizado porque el circuito de
fuentes de corriente adicional (A_{add}) presenta un condensador
de filtrado de la corriente (C1), para mantener en un valor
constante el flujo de corriente adicional a través del primer
elemento de conmutación (T1), de una manera independiente de las
oscilaciones del potencial de la señal de evaluación (V_{IN}).
7. Circuito de evaluación de acuerdo con la
reivindicación 4, caracterizado porque el segundo elemento
de conmutación (T2) es un transistor, cuya conexión de puerta se
activa a través de al menos otra resistencia (R2) y que activa un
condensador de acumulación (C2) al menos en los instantes de
evaluación del circuito de evaluación para la conmutación del
segundo elemento de conmutación (T2).
8. Circuito de evaluación de acuerdo con la
reivindicación 7, caracterizado porque una conexión del
condensador de acumulación (C2) está conectada con la tensión de
alimentación (Vdd), mientras que la otra conexión del condensador de
acumulación (C2) está conectada en cada caso, antes de los tiempos
de evaluación del circuito de evaluación, a través de un tercer
elemento de conmutación (T3) con el potencial de la señal de
evaluación (V_{IN}).
9. Circuito de evaluación de acuerdo con la
reivindicación 8, caracterizado porque el tercer elemento de
conmutación (T3) es un transistor, que es activado a través de un
control del receptor.
10. Conmutador pulsador sensible al contacto,
con un sensor óptico, que presenta un receptor que emite radiación
electromagnética y un receptor que recibe radiación
electromagnética; y con un circuito de evaluación de acuerdo con una
de las reivindicaciones 1 a 9 para la evaluación de una señal de
medición (V_{E}) generada por el receptor del sensor óptico y
para la generación de una señal de evaluación (V_{IN})
correspondiente.
11. Parte de recepción de mando a distancia o de
comunicación, con un sensor óptico, que presenta un receptor que
recibe radiación electromagnética; y con un circuito de evaluación
de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 9 para la evaluación
de una señal de medición (V_{E}) generada por el receptor del
sensor óptico y para la generación de una señal de evaluación
(V_{IN}) correspondiente.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102005036937 | 2005-08-05 | ||
| DE102005036937.5A DE102005036937B4 (de) | 2005-08-05 | 2005-08-05 | Auswerteschaltung für einen optischen Empfänger |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ES2318983A1 ES2318983A1 (es) | 2009-05-01 |
| ES2318983B2 true ES2318983B2 (es) | 2010-02-12 |
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Family Applications (1)
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| ES200602131A Expired - Fee Related ES2318983B2 (es) | 2005-08-05 | 2006-08-04 | Circuito de evaluacion para un receptor optico. |
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| ES (1) | ES2318983B2 (es) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3803034A1 (de) * | 1988-02-02 | 1989-08-10 | Sick Optik Elektronik Erwin | Photoempfaenger |
| EP0962905A2 (en) * | 1998-05-15 | 1999-12-08 | Universal Electronics, Inc. | IR receiver using IR transmitting diode |
| JP2001211061A (ja) * | 2000-01-26 | 2001-08-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光電気変換回路 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1252727A (es) * | 1970-04-21 | 1971-11-10 | ||
| DE4007971A1 (de) * | 1990-03-13 | 1991-09-19 | Gaggenau Werke | Vorrichtung zum schalten elektrischer einrichtungen |
| DE4023435A1 (de) * | 1990-07-24 | 1992-01-30 | Ic Haus Gmbh | Schaltungsanordnung zum verstaerken kleiner sensorstroeme |
| SG108829A1 (en) * | 2001-12-14 | 2005-02-28 | Agilent Technologies Inc | Photo-receiver arrangement |
-
2005
- 2005-08-05 DE DE102005036937.5A patent/DE102005036937B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-08-04 ES ES200602131A patent/ES2318983B2/es not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3803034A1 (de) * | 1988-02-02 | 1989-08-10 | Sick Optik Elektronik Erwin | Photoempfaenger |
| EP0962905A2 (en) * | 1998-05-15 | 1999-12-08 | Universal Electronics, Inc. | IR receiver using IR transmitting diode |
| JP2001211061A (ja) * | 2000-01-26 | 2001-08-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光電気変換回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE102005036937A1 (de) | 2007-02-15 |
| DE102005036937B4 (de) | 2014-02-13 |
| ES2318983A1 (es) | 2009-05-01 |
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