ES2949018T3 - Aparato de inspección de alineación para conjunto de electrodos y método de inspección de alineación para conjunto de electrodos que usa el mismo - Google Patents

Aparato de inspección de alineación para conjunto de electrodos y método de inspección de alineación para conjunto de electrodos que usa el mismo Download PDF

Info

Publication number
ES2949018T3
ES2949018T3 ES19777062T ES19777062T ES2949018T3 ES 2949018 T3 ES2949018 T3 ES 2949018T3 ES 19777062 T ES19777062 T ES 19777062T ES 19777062 T ES19777062 T ES 19777062T ES 2949018 T3 ES2949018 T3 ES 2949018T3
Authority
ES
Spain
Prior art keywords
electrode
electrode assembly
alignment inspection
assembly
alignment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
ES19777062T
Other languages
English (en)
Inventor
Tai Jin Jung
Cha Hun Ku
Su Taek Jung
Jung Kwan Pyo
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LG Energy Solution Ltd
Original Assignee
LG Energy Solution Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LG Energy Solution Ltd filed Critical LG Energy Solution Ltd
Application granted granted Critical
Publication of ES2949018T3 publication Critical patent/ES2949018T3/es
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G01B11/27—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
    • G01B11/272—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes using photoelectric detection means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/04—Construction or manufacture in general
    • H01M10/0404—Machines for assembling batteries
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/04—Construction or manufacture in general
    • H01M10/0413—Large-sized flat cells or batteries for motive or stationary systems with plate-like electrodes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/04—Construction or manufacture in general
    • H01M10/0436—Small-sized flat cells or batteries for portable equipment
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50—Constructional details
    • H04N23/54—Mounting of pick-up tubes, electronic image sensors, deviation or focusing coils
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/56—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof provided with illuminating means
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10—Energy storage using batteries
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)
  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

La presente invención se refiere a un dispositivo de inspección de alineación de conjuntos de electrodos para inspeccionar la calidad de alineación de un electrodo interno apilado en forma de sándwich en una monocelda por medio de una película de separación, y a un método de inspección de alineación de conjuntos de electrodos que utiliza el mismo. Además, el dispositivo de inspección de alineación del conjunto de electrodos que incluye un cuerpo apilado en el que se apilan en orden una película de separación, un electrodo interno, una película de separación y un electrodo superior, de la presente invención, comprende: una unidad de cámara colocada en el lado superior de una parte central del conjunto de electrodos para fotografiar e inspeccionar el conjunto de electrodos; y una unidad de iluminación lateral para emitir luz de forma inclinada en ambas partes extremas del electrodo superior, que son simétricas entre sí alrededor de la parte central del conjunto de electrodos. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)

Description

DESCRIPCIÓN
Aparato de inspección de alineación para conjunto de electrodos y método de inspección de alineación para conjunto de electrodos que usa el mismo
Referencia a una solicitud relacionada
Esta solicitud reivindica la prioridad de la solicitud de patente coreana n.° 10-2018-0036851, presentada el 29 de marzo de 2018, en la Oficina coreana de propiedad intelectual.
Sector de la técnica
La presente invención se refiere a un aparato de inspección de alineación para un conjunto de electrodos y a un método de inspección de alineación y, más particularmente, a un aparato de inspección de alineación para un conjunto de electrodos, que inspecciona la calidad de alineación de un electrodo interno estratificado en forma de sándwich entre separadores en una monocelda, y a un método de inspección de alineación para un conjunto de electrodos que usa el mismo.
Estado de la técnica
Las baterías (celdas), que generan energía eléctrica mediante una reacción física o química para suministrar al exterior la energía eléctrica generada, se usan cuando no se obtiene la alimentación de corriente alterna a suministrar a un edificio o se requiere alimentación de corriente continua según los entornos vitales rodeados por diversos dispositivos eléctricos y electrónicos.
Entre tales baterías, se usan generalmente baterías primarias y baterías secundarias, que son baterías químicas que usan una reacción química. Las baterías primarias son baterías consumibles que se denominan colectivamente baterías secas. Además, las baterías secundarias son baterías recargables que se fabrican usando un material en un proceso redox, entre una corriente y una sustancia, que es repetible varias veces. Cuando la corriente realiza la reacción de reducción en el material, se carga energía, y cuando realiza la reacción de oxidación en el material, se descarga energía. Tal carga-descarga se realiza repetidamente para generar electricidad.
Una batería de iones de litio de las baterías secundarias se fabrica mediante los siguientes procesos. Un material activo se aplica a cada una de una lámina conductora de electrodo positivo y una lámina conductora de electrodo negativo en un grosor predeterminado, un separador se dispone entre la lámina conductora de electrodo positivo y la lámina conductora de electrodo negativo y, entonces, un conjunto de electrodos, en el que la lámina conductora de electrodo positivo, el separador y la lámina conductora de electrodo negativo están enrollados varias veces con una forma cilíndrica o de rollo de gel, se aloja dentro de un bote cilíndrico o prismático, una bolsa y similar para sellar el producto resultante, fabricando por ello la batería de iones de litio.
Un conjunto de electrodos según la técnica relacionada se describe en la publicación de patente coreana n.° 10­ 2017-0057778.
Existe un método, en el que se producen monoceldas para que estén estratificadas a fin de fabricar una celda acabada, como un método para fabricar un conjunto de electrodos según la técnica relacionada.
En la monocelda, los dos electrodos más exteriores tienen polaridades diferentes entre sí. Cuando la pluralidad de electrodos se estratifican con un separador entre los mismos, existe un problema, porque es difícil inspeccionar la calidad de alineación del electrodo interno dispuesto en una capa intermedia porque el separador está estratificado sobre cada una de las superficies superior e inferior del electrodo interno.
La técnica anterior adicional se describe en los documentos JP 2010257861 A y JP 2015 176699 A.
Objeto de la invención
Problema técnico
Por lo tanto, la presente invención se ha realizado para resolver el problema anteriormente mencionado, y un objeto de la presente invención es proporcionar un aparato de inspección de alineación para un conjunto de electrodos, que inspecciona la calidad de alineación de una monocelda, y un método de inspección de alineación para un conjunto de electrodos que usa el mismo.
Solución técnica
Un aparato de inspección de alineación para un conjunto de electrodos que incluye un estratificado, en el que un separador, un electrodo interno, un separador y un electrodo superior están estratificados secuencialmente, según una realización de la presente invención, incluye una unidad de cámara configurada para estar dispuesta encima de una parte central del conjunto de electrodos para fotografiar e inspeccionar el conjunto de electrodos, dos unidades de iluminación laterales instaladas para estar separadas una distancia predeterminada del conjunto de electrodos y configuradas para irradiar oblicuamente luz sobre cada uno de ambos extremos del electrodo superior, que son simétricos entre sí con respecto a la parte central del conjunto de electrodos, e incluye además una unidad de control configurada para medir un estado de alineación del conjunto de electrodos mediante la información fotografiada del conjunto de electrodos observada mediante la unidad de cámara, en el que la unidad de control está configurada para medir una distancia entre un extremo de una patilla dispuesta en el electrodo interno y un extremo del electrodo superior del conjunto de electrodos.
Según una realización de la presente invención, un método de inspección de alineación para un conjunto de electrodos mediante el aparato de inspección de alineación de la reivindicación 1, comprendiendo el conjunto de electrodos un estratificado, en el que un separador, un electrodo interno, un separador y un electrodo superior están estratificados secuencialmente, incluye una etapa de irradiación de luz superior para irradiar oblicuamente luz sobre cada uno de ambos extremos del conjunto de electrodos, que son simétricos entre sí con respecto a una parte central del conjunto de electrodos, usando las unidades de iluminación laterales, y una etapa de fotografiado para fotografiar el conjunto de electrodos mediante la unidad de cámara dispuesta encima de la parte central del conjunto de electrodos, e incluye además una etapa de medición para transmitir a la unidad de control la información observada mediante la unidad de cámara y medir una distancia entre un extremo de una patilla de electrodo interno y un extremo de un electrodo superior mediante la unidad de control.
Efectos ventajosos
Según la presente invención, se puede conseguir la inspección de alineación del electrodo interno de la monocelda usando la distancia entre la patilla del electrodo interno y el electrodo superior.
Según la presente invención, la iluminación se proyecta sobre cada uno de ambos extremos de la superficie de la monocelda para medir la distancia entre los extremos del electrodo interno y del electrodo superior, realizando por ello la inspección de alineación del electrodo interno.
Descripción de las figuras
La figura 1 es una vista lateral que ilustra un aparato de inspección para un conjunto de electrodos, según una realización de la presente invención.
La figura 2 es una vista en planta de solamente el conjunto de electrodos de la figura 1.
La figura 3 es una vista lateral de un aparato de inspección para un conjunto de electrodos, no cubierto por las reivindicaciones de la presente patente.
La figura 4 es una vista en planta de solamente el conjunto de electrodos de la figura 3.
La figura 5 es un diagrama de flujo que ilustra secuencialmente un método de inspección para un conjunto de electrodos, según una realización de la presente invención.
La figura 6 es un diagrama de flujo que ilustra secuencialmente un método de inspección para un conjunto de electrodos, no cubierto por las reivindicaciones de la presente patente.
Descripción detallada de la invención
En lo sucesivo, se describirá con detalle un aparato de inspección de alineación para un conjunto de electrodos, según una realización preferida de la presente invención, con referencia a las figuras que se acompañan.
Los términos o las palabras que se usan en la memoria descriptiva y las reivindicaciones no se deben interpretar como limitados a un significado léxico, y se deben entender como ideas apropiadas por el inventor, basándose en que es capaz de definir términos para describir su invención del mejor modo para que otros la consideren. Por lo tanto, las realizaciones y las figuras descritas en este documento son simplemente a modo de ejemplo y no exhaustivas, y se entenderá que se pueden realizar diversos equivalentes para ocupar el lugar de las realizaciones. En las figuras, la dimensión de cada uno de los componentes o de una parte específica que constituye el componente está exagerada, omitida o ilustrada esquemáticamente por conveniencia en la descripción y claridad. Así, la dimensión de cada elemento no refleja completamente un tamaño real. Además, las descripciones detalladas que se relacionan con las funciones o configuraciones bien conocidas se excluyen para no hacer confusas innecesariamente las materias sustantivas de la presente invención.
La figura 1 es una vista lateral que ilustra un aparato de inspección para un conjunto de electrodos, según una realización de la presente invención, y la figura 2 es una vista en planta de solamente el conjunto de electrodos de la figura 1.
Como se ilustra en las figuras 1 y 2, un aparato de inspección para un conjunto de electrodos, según una realización de la presente invención, se refiere a un aparato de inspección de alineación para un conjunto de electrodos 10 que incluye un estratificado, en el que un separador 11, un electrodo interno 13, un separador 11 y un electrodo superior 15 están estratificados secuencialmente. El aparato de inspección para el conjunto de electrodos, según una realización de la presente invención, incluye una unidad de cámara dispuesta encima de una parte central del conjunto de electrodos 10 para fotografiar e inspeccionar el conjunto de electrodos 10 y unas unidades de iluminación laterales 30 que irradian oblicuamente luz sobre ambos extremos del electrodo superior 15, que son simétricos entre sí con respecto a una parte central del conjunto de electrodos 10.
El conjunto de electrodos 10 puede ser una monocelda. El electrodo interno 13 puede ser un electrodo positivo y el electrodo superior 15 puede ser un electrodo negativo con una polaridad opuesta al electrodo interno 13. Cuando el electrodo interno 13 es el electrodo positivo, el electrodo superior 15 es el electrodo negativo con una polaridad opuesta al electrodo interno.
El electrodo interno 13 está dispuesto entre los separadores 11 en forma de sándwich, en el que los separadores están estratificados en las superficies superior e inferior del electrodo interno 13. Además, ya que cada uno los separadores 11 tiene un tamaño mayor que el del electrodo interno 13, dicho electrodo interno 13 está completamente cubierto por los separadores dispuestos en las superficies superior e inferior del electrodo interno 13, cuando se observa en la vista en planta de la figura 2.
El electrodo superior 15 puede tener un tamaño menor que el del electrodo interno 13.
Una patilla de electrodo, que se extiende desde cada uno de los extremos opuestos del electrodo interno 13 y del electrodo superior 15, puede estar formada sobre cada uno de los extremos.
La unidad de cámara 20 está instalada encima de una parte central del conjunto de electrodos 10 a fin de estar separada una distancia predeterminada del conjunto de electrodos 10 para fotografiar el conjunto de electrodos 10 desde un lado superior de la parte central del conjunto de electrodos 10.
Las dos unidades de iluminación laterales 30 están instaladas encima de cada uno de ambos extremos del conjunto de electrodos 10 a fin de estar separadas hacia arriba de dicho conjunto de electrodos 10. La distancia de separación entre las unidades de iluminación laterales 30 y el conjunto de electrodos 10 es menor que entre la unidad de cámara 20 y el conjunto de electrodos 10. La razón por la que la unidad de cámara 20 está instalada para tener una distancia desde el conjunto de electrodos 10 mayor que las unidades de iluminación laterales 30 es para fotografiar toda la forma del conjunto de electrodos 10.
Las dos unidades de iluminación laterales 30 están previstas en los extremos del conjunto de electrodos, sobre el que no está formada la patilla de electrodo, de los extremos del conjunto de electrodos 10, de modo que el par de unidades de iluminación laterales 30 son simétricas entre sí con respecto a la parte central del conjunto de electrodos 10. Así, las unidades de iluminación laterales 30 irradian oblicuamente luz hacia ambos extremos del electrodo superior 15, con un ángulo predeterminado.
Las unidades de iluminación laterales 30 pueden estar separadas una distancia predeterminada del conjunto de electrodos 10 para ser simétricas entre sí con respecto a la parte central del conjunto de electrodos 10, irradiando por ello oblicuamente luz sobre ambos extremos del electrodo superior 15. Así, la luz se puede irradiar sobre un área A del conjunto de electrodos 10, sobre la que se solapan entre sí las luces irradiadas desde el par de unidades de iluminación laterales 30. Como consecuencia, la parte sombreada por la irradiación se puede eliminar del conjunto de electrodos 10 fotografiado por la cámara que está dispuesta encima de la parte central para fotografiar el conjunto de electrodos a fin de maximizar el brillo de la iluminación que irradia el conjunto de electrodos 10.
La unidad de cámara 20 puede fotografiar el conjunto de electrodos 10 para transmitir a una unidad de control 50 la información de imágenes fotografiadas.
Por ejemplo, la unidad de control 50 puede ser una unidad central de procesamiento (CPU). La unidad de control 50 puede medir una longitud d1 entre un extremo de una patilla 13a del electrodo interno 13 y un extremo del electrodo superior 15 del conjunto de electrodos 10 a partir de la información de imágenes transmitida desde la unidad de cámara 20. Se puede inspeccionar un estado de alineación entre el electrodo superior 15 y el electrodo interno 13 mediante el valor medido.
Ya que la patilla 13a del electrodo interno es un componente que está fijado al electrodo interno 13, cuando el electrodo interno se mueve, la patilla 13a del electrodo interno puede moverse también. Así, se puede alcanzar una posición del electrodo interno 13 mediante una posición de la patilla 13a del electrodo interno.
La figura 3 es una vista lateral que ilustra un aparato de inspección para un conjunto de electrodos, no cubierto por las reivindicaciones de la presente patente, y la figura 4 es una vista en planta de solamente el conjunto de electrodos de la figura 3.
Haciendo referencia a las figuras 3 y 4, un aparato de inspección para un conjunto de electrodos, no cubierto por las reivindicaciones de la presente invención, incluye una unidad de iluminación baja 40 que está instalada debajo del conjunto de electrodos 10 para irradiar luz a una superficie inferior del conjunto de electrodos 10.
La unidad de iluminación baja 40 irradia luz a un separador 11 que forma la superficie inferior del conjunto de electrodos 10 para proyectar el electrodo interno 13, estratificado en forma de sándwich entre los dos separadores 11, al separador 11. Se puede ver una línea limítrofe del electrodo interno, que está oculta mediante el separador, en una superficie superior de dicho separador debido a la unidad de iluminación inferior 40.
En este caso, la unidad de cámara 20 fotografía el conjunto de electrodos 10 desde un lado superior de una parte central del conjunto de electrodos 10 para transmitir a la unidad de control 50 la información de imágenes fotografiadas, y dicha unidad de control 50 mide una distancia d2 entre un extremo del electrodo interno 13 y un extremo del electrodo superior 15 en base a la información transmitida de las imágenes. La distancia d2 es una distancia que se mide en una dirección en anchura. Además, una distancia d3 se mide en una dirección en longitud. Un estado de alineación entre el electrodo superior 15 y el electrodo interno 13 se inspecciona mediante el valor medido. Cuando las distancias se miden de la manera anteriormente descrita, dichas distancias se pueden medir con más precisión cuando se comparan con la medición mediante la patilla 13a del electrodo interno, según una realización.
En lo sucesivo, se describirá con detalle un método de inspección para un conjunto de electrodos, con referencia a las figuras que se acompañan.
La figura 5 es un diagrama de flujo que ilustra secuencialmente un método de inspección para un conjunto de electrodos, según una realización de la presente invención.
Como se ilustra en la figura 5, un método de inspección para un conjunto de electrodos, según una realización de la presente invención, incluye una etapa de irradiación de luz superior (S1) y una etapa de fotografiado (S2).
La etapa de irradiación de luz superior (S1) es una etapa para irradiar luz usando las unidades de iluminación laterales 30 instaladas para estar separadas hacia arriba del conjunto de electrodos 10. Particularmente, la etapa de irradiación de luz superior (S1) es una etapa para instalar cada una de las unidades de iluminación laterales 30 en otro extremo, que son simétricas entre sí con respecto a una parte central del conjunto de electrodos 10, para irradiar oblicuamente luz a ambos extremos del electrodo superior 15.
La etapa de fotografiado (S2) es una etapa para fotografiar el conjunto de electrodos 10 mediante una unidad de cámara 20 dispuesta encima de la parte central del conjunto de electrodos 10, cuando se irradia luz de las unidades de iluminación laterales 30 sobre el conjunto de electrodos 10 en la etapa de irradiación de luz superior (S1).
El método de inspección puede incluir además una etapa de medición para transmitir a una unidad de control 50 la información de una imagen fotografiada por la unidad de cámara 20 en la etapa de fotografiado (S2) y permitir que la unidad de control 50 mida una distancia d1 entre un extremo de una patilla 13a de un electrodo interno y un extremo de un electrodo superior 15 a partir de la información de imágenes transmitida desde la unidad de cámara 20.
La figura 6 es un diagrama de flujo que ilustra secuencialmente un método de inspección para un conjunto de electrodos, según otra realización de la presente invención.
Como se ilustra en la figura 6, un método de inspección para un conjunto de electrodos, no cubierto por las reivindicaciones de la presente patente, incluye una etapa de irradiación de luz superior (S1), una etapa de irradiación de luz inferior (S1-1) y una etapa de fotografiado (S2).
La etapa de irradiación de luz superior (S1) es una etapa para irradiar luz usando las unidades de iluminación laterales 30 instaladas para estar separadas hacia arriba del conjunto de electrodos 10. Particularmente, la etapa de irradiación de luz superior (S1) es una etapa para instalar cada una de las unidades de iluminación laterales 30 en otro extremo, que son simétricas entre sí con respecto a una parte central del conjunto de electrodos 10, para irradiar oblicuamente luz a ambos extremos del electrodo superior 15.
La etapa de irradiación de luz inferior (S1-1) es una etapa para irradiar luz sobre una superficie inferior del conjunto de electrodos 10 usando la unidad de iluminación inferior 40 instalada debajo de la parte central del conjunto de electrodos 10.
La etapa de fotografiado (S2) es una etapa para fotografiar el conjunto de electrodos 10 usando una unidad de cámara 20 dispuesta encima de la parte central del conjunto de electrodos 10, cuando se irradia luz de las unidades de iluminación laterales 30 sobre el conjunto de electrodos 10 en la etapa de irradiación de luz superior (S1), y se irradia luz de la unidad de iluminación inferior 40 sobre una superficie inferior del conjunto de electrodos 10 en la etapa de irradiación de luz inferior (S1-1) de modo que se proyecta un electrodo interno 13 a un separador 11.
El método de inspección puede incluir además una etapa de medición para transmitir a una unidad de control 50 la información de una imagen fotografiada por la unidad de cámara 20 en la etapa de fotografiado (S2) y permitir que la unidad de control 50 mida una distancia d2 entre un extremo del electrodo interno 13, que se proyecta al separador 11, y un extremo del electrodo superior 15 a partir de la información de imágenes transmitida desde la unidad de cámara 20.
Como se ha descrito anteriormente, según una realización de la presente invención, se puede conseguir la inspección de alineación del electrodo interno de la monocelda usando la distancia entre la patilla de electrodo interno y el electrodo superior.

Claims (2)

REIVINDICACIONES
1. Un aparato de inspección de alineación para un conjunto de electrodos (10) que comprende un estratificado, en el que un separador (11), un electrodo interno (13), un separador (11) y un electrodo superior (15) están estratificados secuencialmente, comprendiendo el aparato de inspección de alineación:
una unidad de cámara (20) configurada para estar dispuesta encima de una parte central del conjunto de electrodos (10) para fotografiar e inspeccionar el conjunto de electrodos (10);
dos unidades de iluminación laterales (30) instaladas para estar separadas una distancia predeterminada del conjunto de electrodos (10) y configuradas para irradiar oblicuamente luz sobre cada uno de ambos extremos del electrodo superior (15), que son simétricos entre sí con respecto a la parte central del conjunto de electrodos (10); y una unidad de control (50) configurada para medir un estado de alineación del conjunto de electrodos (10) mediante la información fotografiada del conjunto de electrodos (10) observada mediante la unidad de cámara (20), en el que la unidad de control (50) está configurada para medir una distancia entre un extremo de una patilla (13a) dispuesta en el electrodo interno y un extremo del electrodo superior (15) del conjunto de electrodos (10).
2. Un método de inspección de alineación para un conjunto de electrodos (10) mediante el aparato de inspección de alineación de la reivindicación 1, comprendiendo el conjunto de electrodos (10) un estratificado, en el que un separador (11), un electrodo interno (13), un separador (11) y un electrodo superior (15) están estratificados secuencialmente, comprendiendo el método de inspección de alineación:
una etapa de irradiación de luz superior (S1) para irradiar oblicuamente luz sobre cada uno de ambos extremos del conjunto de electrodos (10), que son simétricos entre sí con respecto a una parte central del conjunto de electrodos (10), usando las unidades de iluminación laterales (30);
una etapa de fotografiado (S2) para fotografiar el conjunto de electrodos (10) mediante la unidad de cámara (20) dispuesta encima de la parte central del conjunto de electrodos (10); y
una etapa de medición para transmitir a la unidad de control (50) la información observada mediante la unidad de cámara (20) y medir una distancia entre un extremo de una patilla (13a) de un electrodo interno y un extremo del electrodo superior (15) mediante la unidad de control (50).
ES19777062T 2018-03-29 2019-03-22 Aparato de inspección de alineación para conjunto de electrodos y método de inspección de alineación para conjunto de electrodos que usa el mismo Active ES2949018T3 (es)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180036851A KR102217201B1 (ko) 2018-03-29 2018-03-29 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법
PCT/KR2019/003406 WO2019190129A1 (ko) 2018-03-29 2019-03-22 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ES2949018T3 true ES2949018T3 (es) 2023-09-25

Family

ID=68060629

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
ES19777062T Active ES2949018T3 (es) 2018-03-29 2019-03-22 Aparato de inspección de alineación para conjunto de electrodos y método de inspección de alineación para conjunto de electrodos que usa el mismo

Country Status (8)

Country Link
US (2) US11307026B2 (es)
EP (1) EP3627143B1 (es)
KR (1) KR102217201B1 (es)
CN (1) CN110832308B (es)
ES (1) ES2949018T3 (es)
HU (1) HUE062100T2 (es)
PL (1) PL3627143T3 (es)
WO (1) WO2019190129A1 (es)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102629119B1 (ko) * 2018-05-02 2024-01-26 에스케이온 주식회사 전극판 정렬 상태 검사 시스템 및 방법
KR102776004B1 (ko) * 2019-12-10 2025-03-07 주식회사 엘지에너지솔루션 분리막 미스매치 평가 방법 및 이를 포함하는 전지 제조방법
DE102020104668A1 (de) * 2020-02-21 2021-08-26 Volkswagen Aktiengesellschaft Inspektionssystem für Batterieelektroden
KR102343421B1 (ko) 2020-04-25 2021-12-27 주식회사 클레버 파우치형 이차 전지용 정렬 장치
KR102757279B1 (ko) * 2020-05-11 2025-01-22 아사히 가세이 배터리 세퍼레이터 가부시키가이샤 축전 디바이스용 세퍼레이터의 제조 방법
CN112018453B (zh) * 2020-09-08 2022-02-01 深圳吉阳智能科技有限公司 复合叠片电芯制作控制方法、复合叠片电芯和锂电池
CN112249795B (zh) * 2020-10-19 2021-10-29 广东利元亨智能装备股份有限公司 贴胶工序实时校正方法、装置、电子设备及可读存储介质
KR102569188B1 (ko) * 2020-12-29 2023-08-21 안보혁 이차전지 검사 장치 및 검사 방법
KR20220114978A (ko) 2021-02-09 2022-08-17 주식회사 클레버 파우치형 이차전지용 흡착 보조장치
KR102478650B1 (ko) 2021-02-09 2022-12-19 주식회사 클레버 파우치형 이차전지용 정렬 장치
KR102413822B1 (ko) 2021-03-02 2022-06-29 주식회사 클레버 파우치형 이차전지용 폴딩면 핫 프레스 장치
KR102375302B1 (ko) 2021-03-09 2022-03-17 주식회사 클레버 파우치형 이차전지용 폴딩면 핫 프레스 시스템
WO2023133690A1 (zh) * 2022-01-11 2023-07-20 宁德时代新能源科技股份有限公司 极片卷绕间隙的检测方法、其检测装置及其检测系统
EP4481869A4 (en) * 2022-02-16 2025-04-30 LG Energy Solution, Ltd. UNIT CELL INSPECTION DEVICE
JP7744508B2 (ja) * 2022-04-06 2025-09-25 香港時代新能源科技有限公司 電池の複合面のサイズ検知方法、装置およびシステム
EP4407725A4 (en) * 2022-04-12 2025-01-22 Contemporary Amperex Technology (Hong Kong) Limited METHOD AND DEVICE FOR MATERIAL STRIP FEED INSPECTION FOR A STACKING MACHINE AND STACKING MACHINE, DEVICE AND MEDIUM
KR20240041226A (ko) * 2022-09-22 2024-03-29 주식회사 엘지화학 분리막 열 수축률 평가 장치 및 평가 방법
WO2024155010A1 (ko) * 2023-01-20 2024-07-25 에스케이온 주식회사 전극 검사 시스템 및 방법
CN116359221B (zh) * 2023-01-31 2026-03-17 广东利元亨智能装备股份有限公司 一种锂电池检测方法、系统、计算机设备及可读存储介质
WO2026005562A1 (ko) 2024-06-27 2026-01-02 주식회사 엘지에너지솔루션 단위셀 검사 장치 및 이를 이용한 단위셀 검사 방법
KR20260001441A (ko) 2024-06-27 2026-01-05 주식회사 엘지에너지솔루션 단위셀 검사 장치 및 이를 이용한 단위셀 검사 방법

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100315117B1 (ko) * 1999-09-30 2001-11-24 김순택 글래스 얼라인먼트 검사 시스템
KR100841662B1 (ko) * 2006-06-23 2008-06-26 주식회사 고영테크놀러지 모아레와 스테레오를 이용한 3차원형상 측정시스템 및 방법
KR101190122B1 (ko) * 2008-10-13 2012-10-11 주식회사 고영테크놀러지 다중파장을 이용한 3차원형상 측정장치 및 측정방법
KR101015808B1 (ko) * 2009-03-27 2011-02-22 한국영상기술(주) 본딩 전극 선폭 측정 장치 및 방법
JP5438368B2 (ja) * 2009-04-28 2014-03-12 Ｃｋｄ株式会社 積層電池の製造過程に用いられる検査装置
KR101334121B1 (ko) 2009-10-26 2013-11-29 에스케이이노베이션 주식회사 전지의 전극 검사장치 및 방법
JP6022177B2 (ja) * 2011-04-07 2016-11-09 日産自動車株式会社 電極位置検出装置および電極位置検出方法
JP2013161580A (ja) 2012-02-02 2013-08-19 Toyota Motor Corp 電極基材の検査方法
JP5988474B2 (ja) * 2012-03-01 2016-09-07 東レエンジニアリング株式会社 積層シート材料の端面を検査する装置
JP5696076B2 (ja) * 2012-03-21 2015-04-08 株式会社東芝 半導体装置の検査装置及び半導体装置の検査方法
KR101609425B1 (ko) * 2013-09-26 2016-04-05 주식회사 엘지화학 매거진을 이용한 전극조립체의 제조방법
JP6237362B2 (ja) * 2014-03-14 2017-11-29 株式会社豊田自動織機 シート状物の積層装置
CN107112578B (zh) 2015-01-13 2019-07-05 艾利电力能源有限公司 电极层叠体中的电极板的位置偏移检测方法以及其装置
KR102079233B1 (ko) 2015-11-17 2020-02-19 주식회사 엘지화학 전극 조립체
KR101730469B1 (ko) * 2015-12-21 2017-04-27 주식회사 디에이테크놀로지 이차전지의 고속 셀 스택 제조장치
CN105929460A (zh) * 2016-05-07 2016-09-07 合肥国轩高科动力能源有限公司 一种电极组件对齐检测装置及其检测方法
US10346969B1 (en) * 2018-01-02 2019-07-09 Amazon Technologies, Inc. Detecting surface flaws using computer vision

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019190129A1 (ko) 2019-10-03
PL3627143T3 (pl) 2023-10-02
US20200370882A1 (en) 2020-11-26
EP3627143A1 (en) 2020-03-25
KR102217201B1 (ko) 2021-02-18
US20220214164A1 (en) 2022-07-07
US11307026B2 (en) 2022-04-19
HUE062100T2 (hu) 2023-09-28
EP3627143B1 (en) 2023-06-14
EP3627143A4 (en) 2020-10-21
KR20190114322A (ko) 2019-10-10
CN110832308B (zh) 2023-04-11
CN110832308A (zh) 2020-02-21
US11781859B2 (en) 2023-10-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2949018T3 (es) Aparato de inspección de alineación para conjunto de electrodos y método de inspección de alineación para conjunto de electrodos que usa el mismo
KR20150061825A (ko) 단위셀 검사 장치
CA2926327C (en) Testing device and testing method for sheet-shaped cell
US12176579B2 (en) Electrode assembly and inspection method therefor
ES3056222T3 (en) Electrode assembly comprising anode and anode sheet having improved electrode stacking properties and manufacturing method therefor
ES3036886T3 (en) Apparatus for battery cell pressure measurement
EP4411972A4 (en) NEGATIVE ELECTRODE SHEET AND PREPARATION METHOD THEREOF, SECONDARY BATTERY COMPRISING A NEGATIVE ELECTRODE SHEET, AND ELECTRICAL APPARATUS
US20240154194A1 (en) Method for testing at least one battery cell stack with regard to the position of battery cell layers
ES3056551T3 (en) Image collection apparatus and electrode sheet defect detection system
WO2021040277A1 (ko) 단위셀의 두께측정장치 및 두께측정방법
EP4266426C0 (en) NEW POSITIVE ELECTRODE PLATE, SECONDARY BATTERY, BATTERY MODULE, BATTERY BLOCK AND ELECTRICAL DEVICE
ES3050211T3 (en) System for detecting defect of electrode tab and method for detecting defect of electrode tab by using same
JP2002198097A (ja) 電池の検査方法
EP4358192A4 (en) NEGATIVE ELECTRODE SHEET AND PREPARATION METHOD THEREOF, SECONDARY BATTERY, BATTERY MODULE, BATTERY PACK, AND ELECTRICAL DEVICE
WO2012036197A1 (ja) 太陽電池の評価方法および評価装置
TW201605099A (zh) 薄片狀電池試驗裝置及薄片狀電池試驗方法
ES2548552T3 (es) Procedimiento y dispositivo para el cableado industrial y la comprobación final de módulos concentradores fotovoltaicos
US8985851B2 (en) X-ray detector
US20250130177A1 (en) Electrode assembly alignment inspection apparatus and method
KR20170093377A (ko) 비전 검사부를 포함하고 있는 전극 탭 용접 장치
KR102875276B1 (ko) 파우치셀의 오염 검사 장치 및 검사 방법
EP4601050A4 (en) POSITIVE ELECTRODE SHEET AND ITS PREPARATION PROCESS, BATTERY ELEMENT, BATTERY AND ELECTRICAL DEVICE
EP4589713A4 (en) SECONDARY BATTERY ELECTROLYTE, SECONDARY BATTERY, BATTERY MODULE, BATTERY BLOCK AND ELECTRICAL APPLIANCE
EP4266453A4 (en) Isolation film, secondary battery, battery module, battery pack and electrical apparatus
KR101447919B1 (ko) 테스트 셀이 구비된 태양전지모듈, 이를 이용한 태양전지모듈 테스트 장치 및 테스트 방법