ES2955582T3

ES2955582T3 - Método para determinar la sensibilidad de un panel de vidrio a la formación de marcas de enfriamiento rápido

Info

Publication number: ES2955582T3
Application number: ES19305471T
Authority: ES
Inventors: Romain Hivet
Original assignee: Saint Gobain Glass France SAS; Compagnie de Saint Gobain SA
Current assignee: Saint Gobain Glass France SAS; Compagnie de Saint Gobain SA
Priority date: 2019-04-11
Filing date: 2019-04-11
Publication date: 2023-12-04
Anticipated expiration: 2039-04-11
Also published as: WO2020207859A1; EP3722265A1; CN113677638B; CN113677638A; PL3722265T3; EP3722265C0; US12202758B2; JP2022528934A; EP3722265B1; HUE062827T2; JP7636340B2; US20220169553A1; EP3953311A1; CA3132139A1

Abstract

La invención se refiere a un método para evaluar la sensibilidad de un acristalamiento para formar marcas de temple en función de su anisotropía, evaluándose dicha sensibilidad calculando un parámetro σv, resultando dichas marcas de temple de diferentes cambios de fase óptica en diferentes áreas del acristalamiento para visión de transmisión o reflexión y sobre un lado u otro del acristalamiento, comprendiendo dicho método - una etapa de cálculo, realizada por ordenador, de al menos un parámetro de transmisión por la cara 1 o por la cara 2, denominado T1 o T2, o al menos un parámetro de reflexión sobre la cara 1 o sobre la cara 2, denominado R1 y R2, efectuándose este cálculo para una zona del acristalamiento sin desfase óptico y para una zona del acristalamiento que provoca un desfase óptico δ; - una etapa de cálculo, realizada por ordenador, de al menos un parámetro ΔE(δ) correspondiente a la diferencia de color entre la zona del acristalamiento que no provoca el desfase óptico y la zona del acristalamiento que provoca el desfase óptico δ, desde al menos al menos uno de los parámetros T1, T2, R1, R2, luego - el cálculo de σv mediante la aplicación de una función G en función del ΔE(δ) calculado y, en su caso, de los δ(s) correspondientes. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)

Description

DESCRIPCIÓN

Método para determinar la sensibilidad de un panel de vidrio a la formación de marcas de enfriamiento rápido

La invención se refiere a un método, implementado por ordenador, para evaluar la sensibilidad de un acristalamiento para formar marcas de endurecimiento en función de su anisotropía. Se refiere al campo de los vidrios reforzados térmicamente, en particular el vidrio denominado vidrio por fortalecimiento térmico, que también se denomina vidrio “ semitemplado” , o el vidrio denominado vidrio templado térmicamente, y más en particular tales vidrios recubiertos con al menos una capa delgada.

Los vidrios a los que se refiere la presente solicitud de patente pueden estar destinados en particular a los muros cortina de edificios, mobiliario urbano y acristalamientos de vehículos de transporte (automóviles, autobuses, trenes, barcos y embarcaciones, aviones, etc.).

Los procesos usados para reforzar el vidrio térmicamente, en particular el templado térmico o el termoendurecimiento, implican un calentamiento por encima de los 600 0C seguido de un enfriamiento rápido con chorros de aire. Para este fin, el vidrio se calienta en un horno, en particular un horno de radiación o de convección, a continuación, se enfría mediante un dispositivo de enfriamiento que comprende generalmente cámaras de enfriamiento rápido que administran al vidrio una pluralidad de chorros de aire que se emiten a través de boquillas. En la mayoría de las instalaciones para producir vidrio reforzado térmicamente, el vidrio se transporta horizontalmente a través de una cama de rodillos. La velocidad de los chorros de aire se ajusta dependiendo del espesor y del nivel de esfuerzo deseado en el vidrio final.

En el contexto de la presente invención, la expresión reforzado térmico es una expresión general que cubre el fortalecimiento térmico y el templado térmico. El vidrio reforzado térmicamente genera un campo de esfuerzo en el espesor del vidrio, que le proporciona una mayor resistencia mecánica a la flexión y que provoca su rotura de una forma específica que puede reducir, en particular en el caso del vidrio templado, el riesgo de lesiones humanas en caso de rotura. Este campo de esfuerzo se debe a la diferencia de velocidad de enfriamiento entre las superficies de las caras principales del vidrio y su núcleo, a medida que el vidrio fragua. Cuanto más grueso es el vidrio, menos necesario es soplar con fuerza para generar el campo de esfuerzo residual, debido a la mayor inercia térmica del núcleo al enfriamiento.

Los chorros de aire usados para el enfriamiento generalmente se aplican simultáneamente en ambas caras principales del vidrio. Pueden soplarse entre los rodillos usados para transportar las láminas de vidrio. El uso de chorros de aire no permite garantizar un enfriamiento uniforme de la totalidad del vidrio. El uso de vidrios recubiertos con capas, en particular capas de baja emisividad, puede complicar además la instalación del horno de calentamiento. Se observa una falta de uniformidad, que puede ser potencialmente grande, en el campo de temperatura del vidrio, en ocasiones se miden gradientes de temperatura de varias decenas de grados C a través de una distancia de únicamente unos pocos centímetros cuando el vidrio sale del horno para a continuación ser enfriado. Dependiendo de su historial térmico y debido a las propiedades fotoelásticas del vidrio, esto puede dar como resultado, bajo luz polarizada, la aparición de iridiscencias, siendo estas iridiscencias bien conocidas por los expertos en la técnica como “ marcas de enfriamiento rápido” o “patrones de esfuerzo” (“ marques de trempe” o “fleur de trempe” en francés) o “ manchas de leopardo” , estas expresiones también se usan para el vidrio de fortalecimiento térmico, que también se denomina como vidrio “semitemplado” . Esta falta de uniformidad en el vidrio se atribuye a una distribución de esfuerzo no uniforme y anisótropa dentro del vidrio. Esta distribución de esfuerzo depende en primer lugar del historial térmico del vidrio, es decir, de la más o menos buena uniformidad del calentamiento y enfriamiento usados para reforzarlo térmicamente.

Ya se han propuesto diversas soluciones para disminuir las marcas de enfriamiento rápido de los vidrios reforzados térmicamente, en particular como se propone en el documento WO2018051029.

Un recubrimiento aplicado a un vidrio puede modificar la apariencia de sus marcas de enfriamiento rápido, ya sea realzándolas u ocultándolas. El documento FR 3067 111 A describe la adquisición por exploración de marcas de templado que se encuentran sobre un acristalamiento para determinar la calidad. Actualmente no existe un medio sencillo para predecir antes de que se produzca la influencia que tendrá un recubrimiento sobre las marcas de enfriado rápido de un vidrio reforzado térmicamente, y un objetivo de la presente invención es remediar esta deficiencia.

Según la invención, las marcas de enfriamiento de un acristalamiento se consideran el resultado de diferencias de color entre diversas regiones del acristalamiento. Como el origen de estas marcas de enfriamiento rápido es una anisotropía de esfuerzo y como las regiones de diferentes esfuerzos inducen diferentes cambios de fase ópticos en los rayos de luz, dando a estos últimos un color diferente, se tuvo la idea de establecer una escala de medida basándose en la diferencia de color calculable entre una región del sustrato desprovista de cambio de fase óptico y una región del mismo sustrato que induce un cambio de fase óptico dado. Esta escala de medición permite que se comparen acristalamientos para cambios de fase ópticos idénticos y ángulos idénticos de incidencia de rayos de luz. Por lo tanto, es posible simular, antes de su producción, acristalamientos que van a reforzarse térmicamente en condiciones idénticas, es decir, acristalamientos que tienen regiones que inducen los mismos cambios de fase ópticos y regiones desprovistas de cambio de fase óptico. También es posible, en virtud de este método, evaluar la influencia de un sistema de recubrimiento en la ocultación o el énfasis de las marcas de enfriamiento rápido, comparando el acristalamiento que comprende el sistema de recubrimiento con el mismo acristalamiento desprovisto del sistema de recubrimiento. En el contexto de la presente invención, un sistema de recubrimiento es un recubrimiento colocado en una sola cara del acristalamiento o es la combinación de dos recubrimientos cada uno colocado en una cara principal diferente del acristalamiento, entendiéndose que un recubrimiento es una capa delgada o una pila de capas delgadas. La presente invención es aplicable a acristalamientos que comprenden un sustrato de acristalamiento, recubierto o no en una o ambas de sus caras principales con una capa delgada o una pila de capas delgadas. Las dos caras principales de un acristalamiento entran en contacto con un entorno exterior del acristalamiento, tal como, por ejemplo, el aire ambiente. Un sustrato de acristalamiento comprende al menos una lámina de vidrio. Un sustrato de acristalamiento puede estar laminado y, por lo tanto, comprender al menos dos láminas de vidrio separadas por una capa intermedia fabricada de un polímero como el PVB. El sustrato de acristalamiento tiene sustancialmente el mismo índice de refracción a través de todo su espesor. El PVB tiene sustancialmente el mismo índice de refracción que el vidrio. En la presente solicitud de patente, la expresión “sustrato de acristalamiento” designa la una o más láminas de vidrio y una o más capas intermedias de polímero opcionales, pero excluye cualquier capa delgada. La invención no es aplicable a acristalamientos cuyo sustrato de acristalamiento contiene una capa delgada insertada entre sus dos caras principales (tal como un acristalamiento laminado que comprende una capa delgada entre una de sus láminas de vidrio y la capa intermedia de polímero).

En el contexto de la presente invención, un cambio de fase óptico observado para una región de un acristalamiento se considera inducido por el sustrato de acristalamiento que contiene y no por la una o más capas delgadas potencialmente dispuestas sobre este sustrato de acristalamiento. Una capa delgada o una pila de capas delgadas simplemente modifica la apariencia de un patrón de marcas de enfriamiento rápido.

La invención es aplicable a acristalamientos transparentes, es decir, acristalamientos que dejan pasar la luz visible. Por lo tanto, cualquier material contenido en el acristalamiento (vidrio, capa intermedia de polímero, capa delgada) deja pasar la luz visible.

Una capa delgada o una pila de capas delgadas generalmente tiene un espesor comprendido en el dominio que varía entre 0,5 y 350 nm.

Una capa delgada puede realizar una o más de las siguientes funciones:

- antirreflectancia,

- control solar,

- baja emisividad,

- anticondensación,

- autolimpieza.

Se puede elegir una capa delgada de la siguiente lista de materiales: plata, óxido de zinc, nitruro de silicio, óxido de silicio, dióxido de titanio, óxido de estaño, ITO.

Las marcas de enfriamiento rápido pueden compararse con una variación de color en diversas regiones de un sustrato que recibe luz polarizada, según se observa por un observador que mira el acristalamiento. La luz procedente del acristalamiento y observada por el observador puede ser luz que ha atravesado el acristalamiento, en cuyo caso se dice que está “en transmisión” , o luz reflejada por el acristalamiento, en cuyo caso se dice que está “en reflexión” . Las marcas de enfriamiento rápido pueden afectar la transmisión de la luz y/o la reflexión de la luz. El parámetro AE denominado diferencia de color, tal como se define, por ejemplo, por la Comisión Internacional de Iluminación (CIE), se considera representativo de las diferencias de color producidas por las marcas de enfriado rápido. Según la fórmula de CIE 1976, se recordará que:

en donde L r ,a r ,b r son las coordenadas en el espacio de color CIE Lab del primer color a comparar y L2*,a2*,b2* son los del segundo. Se puede usar una definición diferente de diferencia de color, en particular una definición más reciente de AE, en el contexto de la presente invención, tal como una de las siguientes definiciones: la versión CIE de 1994, la versión CIEDE2000 o la versión CMC I:c (1984). En todos y cada uno de los casos, AE representa una distancia entre dos puntos correspondientes a dos colores diferentes en un espacio de color dado.

En el contexto de la presente invención, se ha ideado un parámetro Ov para caracterizar la tendencia de un acristalamiento que va a mostrar marcas de enfriamiento rápido. Este parámetro Ov se basa en la determinación de la diferencia de color entre un punto del acristalamiento desprovisto de retardo óptico y un punto del acristalamiento que induce un cambio de fase óptico. De forma ventajosa, el parámetro Ov puede ser independiente o débilmente dependiente del cambio de fase óptico inducido por el sustrato de acristalamiento contenido en el acristalamiento.

La invención se refiere a un método para evaluar la sensibilidad de un acristalamiento para formar marcas de enfriamiento rápido dependiendo de su anisotropía como se describe en la reivindicación 1, siendo las reivindicaciones dependientes realizaciones ventajosas.

Según el modelo de la presente invención, el cambio de fase óptico 5 es independiente de la longitud de onda en el espectro visible.

Preferiblemente, el ángulo de los ejes de birrefringencia con respecto al plano de incidencia es de 45° y la polarización es s- o p-, porque esto corresponde a las condiciones de observación que producen las marcas de enfriamiento rápido más visibles.

La función G calcula Ov de al menos un AE(5) y, donde sea apropiado, cada 5 correspondiente para entregar un valor de Ov que tiene un significado en una escala de medición. Por lo tanto, es posible escribir Ov = G(AE(5), 5). Por lo tanto, esto permite en particular elegir G de manera que Ov = AE(5). A un AE(5) le corresponde un 5 dado. Si se calcula una pluralidad de AE(5), cada AE(5) se calcula para un 5 diferente.

La función G también puede ser igual a una función arbitraria F2 dependiendo únicamente de un O5 determinado para un 5 dado o de una pluralidad de O5 cada uno determinado para un 5 diferente, siendo cada O5 igual al cociente de AE(5) dividido por una función F1(5) dependiente únicamente del correspondiente 5 (O5=AE(5)/F1(5)). Es posible escribir G=F2(O5). En particular, la función F2 puede ser una función polinómica del uno o más O5.

Es ventajoso para el uno o más O5 ser independientes o débilmente dependientes del cambio de fase óptico inducido por el acristalamiento porque el Ov también es y será, por lo tanto, más representativo del efecto del recubrimiento sobre las marcas de enfriamiento rápido para un dominio más amplio de cambios de fase ópticos. En la búsqueda de una función F1 que hiciera el uno o más O5 independientes o débilmente dependientes del cambio de fase óptico, se supuso, empírica e intuitivamente, que F1(5) podría ser de forma ventajosa cercano o igual a sen25. Con F1(5) = sen25, se ha observado que cuanto menor es el cambio de fase óptico 5, O5 es más independiente del cambio de fase óptico 5. Por esta razón, el dominio del cambio de fase óptico relevante en el contexto de la invención es preferiblemente cercano a cero y comienza en cero. En particular, el límite de O5 cuando 5 tiende a 0 es un buen valor de Ov para caracterizar un acristalamiento. En efecto, se ha observado que el cociente AE(5)/sen2(5) es sustancialmente independiente de 5, sobre todo para valores bajos de 5 (especialmente 5 < n/2, en particular 5 < n/15 y sobre todo para 6< n/30), correspondiendo esto a los casos más comunes. Por supuesto, las funciones distintas de la función seno y que devuelvan valores cercanos a los proporcionados por la función seno pueden ser potencialmente adecuadas para usar como la función F1. Por ejemplo, generalmente es adecuado un desarrollo limitado de la función seno. Para dar otro ejemplo, para valores particularmente bajos de 5, tal como 6< n/30, F1=52 también puede ser adecuado. Por ello, se ha considerado satisfactorio elegir una F1 (5) que devuelva un valor comprendido entre (sen25)-1 y (sen25)+1 y preferiblemente entre (sen25)-0,5 y (sen25)+0,5.

El valor de Ov que caracteriza un acristalamiento se puede determinar usando un único O5 para un valor de cambio de fase óptico dado o usando una pluralidad de O5, determinándose cada O5 para un valor diferente de cambio de fase óptico 5. El valor Ov puede determinarse usando una función F2(O5) dependiendo únicamente de uno o más O5. Esta función F2(^o5) es arbitraria y permite que se caracterice un acristalamiento en una escala de medición arbitraria. En esta escala de medida, es posible comparar el Ov1 de un acristalamiento V1 que comprende un sustrato de acristalamiento y un sistema de recubrimiento con el Ov2 de un acristalamiento V2 que comprende el mismo sustrato de acristalamiento, pero desprovisto del sistema de recubrimiento, para poder evaluar si el sistema de recubrimiento enfatizará las marcas de enfriamiento rápido (Ov1>Ov2) u ocultará las marcas de enfriamiento rápido (Ov1<Ov2) con respecto al sustrato de acristalamiento desnudo. Por supuesto, esta comparación se lleva a cabo con los dos acristalamientos V1 y V2 usando la misma escala de medición y, por lo tanto, los mismos valores de 5 y las mismas funciones G, F1 y F2. Se observará que el acristalamiento V2 muy bien puede comprender ya una capa delgada o una pila de capas delgadas en una o ambas de sus dos caras principales, añadiendo el sistema de recubrimiento de V1 una capa delgada o una pila de capas delgadas a aquella o aquellas que ya están presentes en V2. Por lo tanto, es posible simular, antes de la producción de un sistema de recubrimiento, el efecto que tendrá dicho sistema de recubrimiento sobre las marcas de enfriamiento rápido de un acristalamiento, y elegir el sistema de recubrimiento más adecuado.

Si se determina una única O5, a continuación, la función F2(o5), por ejemplo, puede simplemente ser igual a O5 (Ov=O5). La función F2(^o5) puede ser un polinomio de O5. En particular, la función F2(^o5) puede ser un coeficiente de proporcionalidad k (Ov=k.O5). La función F2(o5) también puede ser la adición o resta de un valor constante x.

Si se determina un Ov a partir de una pluralidad de 05, en un dominio dado del cambio de fase óptico 5, esta función F2(^ob) puede ser, por ejemplo, una función polinómica de una pluralidad de 05, tal como, en particular, una media aritmética de la 05 en este dominio del cambio de fase óptico 5.

Sea cual sea la función F2(^o5) elegida, el límite de AE/F1 (5) cuando 5 tiende hacia 0 (cambio de fase óptico cero) es un valor preferido de 05 porque se ha observado que AE/F1(5) es más independiente de 5 cuando 5 tiende a 0. Por tanto, de forma ventajosa, 0v=F2(lím5^üAE/F1 (5)). En particular, Ov puede ser simplemente igual al límite de 05 cuando 5 tiende a 0. En particular 0v=lím5^0AE/sen2(5) es particularmente adecuado.

El dominio del cambio de fase óptico 5 está comprendido entre cero y n. Generalmente, es suficiente que esté comprendido entre cero y n/2, e incluso entre cero y n/15, e incluso entre cero y n/30. De hecho, son los valores de 5 más cercanos a cero los que conducen a la 05 que son los más relevantes porque son los menos sensibles a las variaciones de 5.

La función F2(o5) es preferiblemente monotónica (decrece o aumenta monótonamente) en función de 5. La función F2(o5) es arbitraria y libremente escogida para generar una escala de medición. La función F2(o5) también puede aplicarse por ordenador.

Para determinar Ov, es posible usar (aplicando la función F2(o5)) un único valor de 05 correspondiente a un 5 bajo, en particular inferior a n/2, después de haber observado que este valor de 05 varía poco en función de 5 en el dominio de 5 en cuestión, comenzando dicho dominio en cero.

Para determinar Ov, es posible usar (aplicando la función F2) una pluralidad de valores de 05 correspondientes a una pluralidad de 5 bajos, en particular todos inferiores a n/2, después de haber observado que estos valores de 05 varían poco en función de 5 en el dominio de 5 en cuestión, comenzando dicho dominio en cero.

Si se usa un único 05 o se usa una pluralidad de 05, el dominio de 5 se elige preferiblemente de modo que 05 varía en menos de 0,5 y preferiblemente menos de 0,2 cuando 5 pasa de 0 al valor más alto de este dominio. Si no se puede determinar un 05 para 5 igual a cero (este es el caso si F1 (5) es sen25), es posible usar como valor de 05 en 5 = 0 el límite de AE/F1 (5) cuando 5 tiende hacia 0 (que se indica como lím5^0AE/F1 (5)). De forma ventajosa, el valor más alto del dominio para 5 es inferior a n/15 y preferiblemente inferior a n/30.

El efecto de iridiscencia de las marcas de enfriamiento rápido depende en gran medida del estado de polarización de la luz incidente y del ángulo de incidencia del rayo de luz con respecto al sustrato de acristalamiento. Además, AE es generalmente máximo para un ángulo de incidencia con respecto al sustrato de acristalamiento comprendido entre 50 y 80° y, por lo tanto, el ángulo de incidencia se elige preferiblemente comprendido en este dominio y, en particular, se fija igual a 60°.

Generalmente, un acristalamiento comprende dos caras denominadas cara 1 y cara 2, que hacen contacto con un ambiente exterior. Cada una de estas caras tiene propiedades de transmisión y reflexión de intensidad que son características de la interfaz exterior/interior. Estas propiedades se representan por los siguientes parámetros:

^xT^í(0): coeficiente de transmisión de la cara i (1 o 2) para una polarización x (s- o p-);

extxpi (0): coeficiente de reflexión de la cara exterior i (1 o 2) para una polarización x (s- o p-);

intxpi(0): coeficiente de reflexión de la cara interior i (1 o 2) para una polarización x (s- o p-);

en concreto, 12 parámetros en total para caracterizar las interfaces con el entorno exterior del acristalamiento. Todos estos parámetros dependen de la longitud de onda y, por lo tanto, pueden representarse mediante espectros dependientes de la longitud de onda.

Estos parámetros ^ty p son conocidos o pueden medirse de forma conocida por los expertos en la técnica, en particular, en el caso de una capa delgada o de una pila de capas delgadas. Son determinables (mediante mediciones o cálculos) para cualquier capa delgada o pila de capas delgadas.

Basándose en estos parámetros de interfaz, pueden calcularse los parámetros de transmisión (T1 y T2) y los parámetros de reflexión (R1 y R2) del acristalamiento para sus dos caras 1 y 2. T1 (T2, respectivamente) es el coeficiente de transmisión de un rayo de luz que atraviesa el acristalamiento tras incidir en la cara 1 (cara 2, respectivamente) del mismo. R1 (R2, respectivamente) es el coeficiente de reflexión del acristalamiento para un rayo de luz que incide en la cara 1 (cara 2, respectivamente) del mismo.

Generalmente, el estado de polarización cambia después de cada paso a través del acristalamiento y, en particular, después de cada reflexión desde una interfaz interna. En el caso particular cuando el haz incidente está polarizado con polarización x (polarización s o p), donde los ejes de birrefringencia del sustrato están orientados a 45° con respecto al plano de incidencia y donde el cambio de fase puede expresarse como una fracción de n:5 = n/n (n/2, n/3, n/4, ...) el haz se polariza una vez más de nuevo con la polarización x después de 2n reflexiones. Los coeficientes de reflexión y transmisión interior kTi e intkPi se definen para los k (k = 0, 1,2, 3, etc. hasta 2n) estados de polarización mediante las siguientes ecuaciones:

en donde la polarización y es la polarización ortogonal a x (x = s e y = p o x = p y, a continuación, y = s). El estado de polarización de orden k corresponde a la polarización de un haz inicialmente polarizado x que ha atravesado k veces el sustrato transparente.

El parámetro kTi por tanto representa el coeficiente de transmisión de la cara i (1 o 2) para un rayo inicialmente de polarización x después de haber atravesado k veces el sustrato transparente. El parámetro intkpi representa el coeficiente de reflexión interior de la cara i (1 o 2) para un rayo inicialmente de polarización x después de haber atravesado k veces el sustrato transparente. A medida que el haz vuelve a polarizarse con la polarización x después de 2n reflexiones, se observará que:

Los parámetros T1, T2, R1 y R2 pueden determinarse por medio de las siguientes fórmulas:

en donde

- d es el espesor del acristalamiento,

- a es el coeficiente de absorción de luz del sustrato de acristalamiento,

- 0 es el ángulo de incidencia,

- 5 es el cambio de fase óptico inducido por el sustrato de acristalamiento e igual a n/n en donde “ n” es un número entero positivo,

- k y m son variables de suma/producto, definidas en las expresiones I y n.

Debido al pequeño espesor de una capa delgada o de una pila de capas delgadas, se considera que un acristalamiento que comprende una capa delgada o una pila de capas delgadas tiene el mismo espesor que el mismo acristalamiento sin capas delgadas.

Basándose en al menos uno de estos parámetros T1, T2, R1, R2, que son conocidos en todo el dominio visible, un experto en la técnica podrá calcular la diferencia de color AEs(0, 5=n/n) entre una región isotrópica del sustrato de acristalamiento que no induce cambio de fase óptico y una región que induce un cambio de fase óptico 5=n/n, para visión en transmisión de la cara 1, o para visión en transmisión de cara 2, o para visión en reflexión de la cara 1, o para visión en reflexión de la cara 2. En AEs, el índice S representa T1 o T2 o R1 o R2 para expresar que, de hecho, existe un AE para cada una de estas situaciones: transmisión con incidencia en la cara 1, transmisión con incidencia en la cara 2, reflexión desde la cara 1, reflexión de la cara 2. Las fórmulas anteriores que dan T1, T2, R1 y R2 permiten múltiples reflexiones dentro del acristalamiento y múltiples transmisiones de rayos parcialmente reflejados. El AEs deseado (S=T1 o T2 o R1 o R2) se elige dependiendo de la condición preponderante esperada de observación del acristalamiento.

En el contexto de la invención, se calcula en primer lugar por ordenador al menos uno de estos parámetros T1 o T2 o R1 o R2 aplicado al acristalamiento que se propone estudiar. A continuación, es posible calcular por ordenador un os (uno 05 para cada configuración T1, T2, R1, R2) usando

para un cambio de fase óptico dado 5 = (n/n), siendo n un número entero positivo igual a 1 o 2 o 3 o 4, etc., en la región que induce un cambio de fase óptico. Este cálculo se realiza de forma ventajosa por ordenador.

Si n = 2, el acristalamiento tiene localmente el efecto de una placa de cuarto de onda. En el caso de incidencia de luz polarizada p, la luz cambia de polarización en cada paso a través del acristalamiento de la siguiente manera: polarización p --> polarización circular --> polarización s --> polarización circular --> polarización p --> polarización circular, --> etc.

Los coeficientes de transmisión y reflexión del estado de polarización intermedia (circular) son:

Los parámetros de transmisión y reflexión del sustrato son, a continuación:

Si se usa la función sen2 como la función F1 y dado que el cambio de fase óptico se establece en este punto a 5 = n/2 y sen2(n/2 ) =1, a continuación:

La invención también se refiere a un proceso para fabricar un acristalamiento que comprende llevar a cabo el método según la invención aplicado a dicho acristalamiento, seguido de la producción del acristalamiento. El método según la invención se puede aplicar a dos sustratos de acristalamiento diferentes V1 y V2 para compararlos en la misma escala de medición, lo que conduce a dos parámetros ov indicados como Ov1 y Ov2, respectivamente. Comparando Ov1 y Ov2 permite determinar el acristalamiento que debe tener marcas de enfriamiento rápido menos pronunciadas que el otro. En particular, V1 puede ser idéntico a V2 excepto que, además, comprende un sistema de recubrimiento que comprende una capa delgada o una pila de capas delgadas en una o ambas de sus dos caras principales. Por lo tanto, antes de su producción, es posible determinar si el sistema de recubrimiento puede ocultar o enfatizar las marcas de enfriamiento rápido. La invención también se refiere a un proceso para fabricar el acristalamiento V1, que comprende llevar a cabo el método según la invención aplicado a los acristalamientos V1 y V2, y a continuación producir el sistema de recubrimiento. En particular, la invención también se refiere a un proceso para fabricar un acristalamiento que comprende aplicar un sistema de recubrimiento a un sustrato de acristalamiento, implicando esto usar el método según la invención con vistas a elegir un sistema de recubrimiento, produciendo a continuación el sistema de recubrimiento sobre el sustrato de acristalamiento.

La invención también se refiere a un programa informático que contiene instrucciones de código de programa o segmentos de instrucciones para ejecutar al menos una etapa de cálculo implementada por ordenador del método según la invención. La invención también se refiere a un medio de almacenamiento legible por ordenador en el que se almacena este programa informático.

Ejemplo 1

Se propone determinar la influencia de una pila de capas delgadas que comprende, en particular, una capa de 8 nm de plata sobre las marcas de enfriamiento rápido de una lámina de vidrio de la marca comercial Planiclear (comercializada por Saint-Gobain Glass Francia) de 10 mm de espesor.

Para hacer esto, se determinan los valores de os para diversos valores del cambio de fase óptico s=n/n, variando n entre 2 y 50, para un ángulo de incidencia de 65°, para los cuatro espectros de las configuraciones T1, T2, R1 y R2, y para la lámina de vidrio recubierta (véase la Figura 1) y para la lámina de vidrio sin revestir (véase la Figura 2).

Puede verse en las figuras 1 y 2 que, cuanto menor es el cambio de fase óptico S, os es más independiente del cambio de fase óptico S. Por esta razón, el dominio del cambio de fase óptico relevante en el contexto de la invención es preferiblemente cercano a cero y comienza en cero. En particular, el límite de os cuando S tiende a 0 es un buen valor para caracterizar un acristalamiento.

En el caso de la lámina de vidrio sin revestir (Figura 2), ya que el acristalamiento es simétrico, siendo la cara 1 idéntica a la cara 2, los valores de os en T1 y en T2 son idénticos, y los valores de os en R1 y en R2 también son idénticos. Estos valores son en este punto los coeficientes de Fresnel.

Comparar las figuras 1 y 2 muestra que los valores de os en las configuraciones T1 y T2 apenas se ven influenciados por el recubrimiento. Por el contrario, para un cambio de fase óptico idéntico, los valores de os en las configuraciones R1 y R2 son mucho menores en presencia del recubrimiento. Por lo tanto, el recubrimiento tendrá, para un ángulo de incidencia de 65°, un efecto que, con respecto al sustrato de acristalamiento desnudo, ocultará las marcas de enfriamiento rápido en las configuraciones R1 y R2.

El valor límite de os cuando s tiende a 0 se ha calculado, además, pero para un ángulo de incidencia que varía de 45 a 85°. La Figura 3 muestra los resultados para Planiclear recubierto con el recubrimiento y la Figura 4 muestra los resultados para Planiclear desnudo.

La sensibilidad máxima en la reflexión exterior (R2) para el vidrio recubierto es de 17,5 a 51° mientras que para el vidrio desnudo es de 41 a 62°. En general, el recubrimiento tendrá, por lo tanto, con respecto al sustrato de acristalamiento desnudo, un efecto de ocultación de las marcas de enfriamiento rápido.

Ejemplo 2

El proceso fue el mismo que para el ejemplo 1 excepto que el recubrimiento comprende una pila de capas delgadas que comprenden dos capas de plata de 12 y 22 nm de espesor, respectivamente, depositadas en la cara 1 de una lámina de vidrio Planiclear de 10 mm de espesor. La Figura 5 muestra los resultados. En este punto, de nuevo, cuanto menor es el cambio de fase óptico s, os es más independiente del cambio de fase óptico s. También es posible afirmar que el recubrimiento tendrá, con respecto al sustrato de acristalamiento desnudo, un efecto de ocultación a 65° sobre las marcas de enfriamiento rápido en las configuraciones R1 y R2 (compárese con la Figura 2). El valor de os cuando s tiende a 0 se ha calculado, además, pero para un ángulo de incidencia que varía de 45 a 85°. La Figura 6 muestra los resultados. En este punto también, la sensibilidad máxima es menor con el recubrimiento que con el vidrio desnudo (compárese con la Figura 4) y se puede afirmar que el recubrimiento atenúa la visibilidad de las marcas de enfriamiento rápido.

Claims

REIVINDICACIONES

1. Método, implementado por ordenador, para evaluar la sensibilidad de un acristalamiento para formar marcas de endurecimiento en función de su anisotropía, proporcionando dicho método como valor de salida un valor de parámetro ov que caracteriza la capacidad de dicho acristalamiento para formar marcas de endurecimiento, comprendiendo dicho acristalamiento una cara 1 y una cara 2, ambas en contacto con un entorno externo, siendo dichas marcas de endurecimiento resultado de diferentes cambios de fase ópticos en diferentes regiones del acristalamiento para visión en transmisión o reflexión y a ambos lados del acristalamiento, comprendiendo dicho método las siguientes etapas

- el cálculo de al menos un parámetro de transmisión por la cara 1 o por la cara 2, denominados T1 o T2, o al menos un parámetro de reflexión en la cara 1 o en la cara 2, denominados R1 y R2, llevándose a cabo este cálculo, por una parte, para un área del acristalamiento que no induce un cambio de fase óptico y, por otra parte, para un área del acristalamiento que tiene ejes de birrefringencia orientados con un ángulo dado en relación con el plano de incidencia y que induce un cambio de fase óptico 5 a un rayo de luz en un intervalo de cambio de fase óptico dado, para una polarización dada del rayo de luz y para un ángulo de incidencia dado del rayo de luz;

- el cálculo de al menos un parámetro AE(5) correspondiente a la diferencia de color entre el área del acristalamiento que no induce el cambio de fase óptico y el área del acristalamiento que induce el cambio de fase óptico 5, a partir de al menos uno de los parámetros T1, T2, R1, R2, a continuación, - el cálculo de ov = G(AE(5), 5) aplicando una función G que depende del AE(5) calculado y, cuando sea aplicable, del 5 correspondiente.

2. Un método según la reivindicación anterior, caracterizado por que la función G es igual a una función arbitraria F2 que depende únicamente de un o5 determinado para un 5 dado o varios o5 determinados cada uno para un 5 diferente, siendo cada o5 igual al cociente de AE (5) por una función F1(5) dependiendo únicamente del 5 correspondiente.

3. Método según la reivindicación anterior, caracterizado por que la función F2 es una función polinómica del o5.

4. Método según una de las dos reivindicaciones anteriores, caracterizado por que la función F1 (5) proporciona para cada 5 considerado un valor entre (sen25) - 1 y (sen25) 1.

5. Método según la reivindicación anterior, caracterizado por que la función F1(5) proporciona para cada 5 considerado un valor entre (sen25) - 0,5 y (sen25) 0,5.

6. Método según la reivindicación anterior, caracterizado por que la función F1 (5) es igual a sen25.

7. Método según una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que el cambio o cambios de fase ópticos 5 están incluidos en un intervalo de cambios de fase ópticos de 0 a n/2.

8. Método según la reivindicación anterior, caracterizado por que el cambio o cambios de fase ópticos 5 están incluidos en un intervalo de cambios de fase ópticos de 0 a n /15.

9. Método según la reivindicación anterior, caracterizado por que el cambio o cambios de fase ópticos 5 están incluidos en un intervalo de cambios de fase ópticos de 0 a n/30.

10. Un método según una de las reivindicaciones 2 a 9, caracterizado por que el uno o más o5 usados para el cálculo de ov se seleccionan para un dominio de cambio de fase óptico 5, en donde o5 varía de menos de 0,5 y preferiblemente menos de 0,2 cuando 5 pasa del límite de AE/F1 (5) cuando 5 tiende a 0 al valor más alto de este dominio.

11. Método según una de las reivindicaciones 2 a 10, caracterizado por que ov=F2(lím5^0AE/F1 (5)).

12. Método según la reivindicación anterior, caracterizado por que ov=lím5^0AE/F1 (5).

13. Método según la reivindicación anterior, caracterizado por que ov=lím5^0AE/sen2(5).

14. Método según una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que se aplica a dos sustratos de vidrio diferentes V1 y V2 para compararlos en la misma escala de mediciones, lo que conduce a dos parámetros ov indicados respectivamente como ov1 y ov2.

15. Método según la reivindicación anterior, caracterizado por que V1 es idéntico a V2 excepto por que además comprende un sistema de recubrimiento que comprende una capa delgada o una pila de capas delgadas sobre una o ambas de sus caras principales.

16. Un método de fabricación de un acristalamiento que comprende la realización del método aplicado a dicho acristalamiento según una de las reivindicaciones 1 a 13, seguido de la realización del acristalamiento.

17. Método para fabricar el acristalamiento V1 que comprende la realización del método de la reivindicación 15 y, a continuación, la realización del sistema de recubrimiento.

18. Programa informático que comprende instrucciones que, cuando el programa es ejecutado por ordenador, hacen que el ordenador implemente el método según una de las reivindicaciones de método anteriores.

19. Un medio de grabación legible por ordenador en el que se graba el programa informático de la reivindicación anterior.