FR3090123A1 - Procédé de reconstruction d’une surface tridimensionnelle par un capteur matriciel ultrasonore - Google Patents

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Abstract

L’invention concerne un procédé de reconstruction d’une surface tridimensionnelle d’une pièce à l’aide d’un capteur matriciel ultrasonore. Selon l’invention, le procédé (10) comprend : un balayage (11) de la surface tridimensionnelle avec un capteur matriciel en différents points de mesure situés à l’intersection de lignes de balayage et de lignes d’incrément , en chaque point de mesure, une acquisition (12) d’une image temporelle de ligne représentative d’une amplitude d’onde réfléchie reçue par chaque élément d’une ligne sélectionnée du capteur matriciel et une acquisition (14) d’une image temporelle de colonne représentative d’une amplitude d’onde réfléchie reçue par chaque élément d’une colonne sélectionnée du capteur matriciel, une construction (17) d’une image bidimensionnelle de ligne pour chaque ligne de balayage à partir des images temporelles de ligne une construction (18) d’une image bidimensionnelle de colonne pour chaque ligne d’incrément à partir des images temporelles de colonne une construction (19) d’une image tridimensionnelle à partir des images bidimensionnelles de ligne et des images bidimensionnelles de colonne . Figure pour l’abrégé : figure 2

Description

Description
Titre de l’invention : PROCÉDÉ DE RECONSTRUCTION D’UNE SURFACE TRIDIMENSIONNELLE PAR UN CAPTEUR MATRICIEL ULTRASONORE
Domaine technique
[0001] L’invention se situe dans le domaine du contrôle non destructif par ultrasons. Elle concerne un procédé de reconstruction d’une surface tridimensionnelle d’une pièce à l’aide d’un capteur matriciel ultrasonore.
[0002] L’invention s’applique notamment à la reconstruction de la surface d’une pièce industrielle en vue de réaliser un contrôle non destructif par ultrasons. Le contrôle non destructif a pour finalité la détection de défauts dans la pièce industrielle, par exemple un élément d’une turbomachine d’aéronef tel qu’une aube.
Technique antérieure
[0003] Dans le domaine du contrôle non destructif par ultrasons, l’état de surface de la pièce à contrôler influence fortement la qualité de l’examen. L’utilisation d’un capteur matriciel permet de réduire l’impact de ce paramètre. Un tel capteur est en effet capable d’appliquer des lois de retard à l’émission et à la réception des signaux ultrasonores afin d’orienter l’axe de propagation des faisceaux ultrasonores perpendiculairement à la surface de la pièce au niveau du point d’impact. L’amplitude des signaux ultrasonores réfléchis reçus par le capteur matriciel est alors maximale. Néanmoins, l’adaptation du faisceau ultrasonore requière une connaissance précise de la géométrie de la pièce. Ainsi, préalablement à la mise en œuvre d’un contrôle non destructif à proprement parler, une détermination de la géométrie de la surface de la pièce à contrôler est nécessaire.
[0004] Différentes solutions utilisables à l’échelle industrielle ont été proposées. La plupart de ces solutions sont basées sur des capteurs multiéléments linéaires et ne permettent d’étudier que des variations bidimensionnelles de la surface. Autrement dit, les variations de hauteur de la surface ne sont déterminées que selon un seul axe. A titre illustratif, la thèse de doctorat de Léonard Le Jeune : « Imagerie ultrasonore par émission d’ondes planes pour le contrôle de structures complexes en immersion », Paris 7, décrit un procédé de contrôle ultrasonore adaptatif avec un capteur multiélément linaire en immersion. La surface bidimensionnelle d’une pièce est extraite en temps réel à partir d’une technique d’acquisition de matrice complète, connue sous la dénomination anglo-saxonne de « Lull Matrix Capture » (EMC), puis une image ultrasonore du volume de la pièce est reconstruite par une technique de focalisation en tous points, connue sous la dénomination anglo-saxonne de « Total hocusing Method » (TFM). Dans ce procédé, l’image ultrasonore ne représente que le volume situé sous la surface du capteur. L’article F. Lasserre et al : « Industrialization of a Large Advanced Ultrasonic Flexible Probe for Non-destructive Testing of Austenitic Steel Pieces with Irregular Surface”, Journal of Civil Engineering and Architecture, November 2017, p. 933-942, décrit un procédé de contrôle ultrasonore adaptatif avec un traducteur multiélément linéaire au contact de la pièce. La surface bidimensionnelle est extraite à partir d’un système de mesure optique puis les lois de retard sont adaptées en temps réel pour générer un faisceau ultrasonore focalisé sous incidence oblique.
[0005] Des solutions ont également été proposées afin de reconstruire des surfaces tridimensionnelles. Par exemple, la demande WO 2015/075121 Al décrit un procédé de reconstruction d’une surface tridimensionnelle à partir d’un capteur matriciel en position statique ou à partir d’un capteur mono-élément se déplaçant selon deux axes d’un plan. Dans le premier cas, le capteur matriciel ne peut imager qu’une surface relativement réduite, correspondant sensiblement à la surface du capteur matriciel. Dans le deuxième cas, le capteur doit être déplacé en de nombreuses positions, rendant la durée d’acquisition relativement longue pour des surfaces étendues. En outre, le déplacement du capteur doit être effectué avec un système de positionnement présentant une grande précision. A défaut, la précision de la reconstruction est dégradée. En pratique, dans les deux cas, la reconstruction d’une surface tridimensionnelle aux dimensions étendues est complexe à réaliser. Une autre solution consisterait à utiliser un capteur matriciel et à le déplacer en différentes positions de mesure selon deux axes de déplacement. Une acquisition EMC pourrait être réalisée en chaque position, puis une reconstruction par la technique TEM pourrait être réalisée à partir de l’ensemble des acquisitions EMC. Cependant, une acquisition EMC implique, pour chaque position de mesure, l’émission individuelle d’un signal ultrasonore par chacun des éléments du capteur matriciel, et la réception d’un écho de ce signal ultrasonore par l’ensemble des éléments du capteur matriciel. Ainsi, pour un capteur à N éléments, chaque position de mesure engendre un ensemble de
N2 signaux élémentaires. Le volume de données à traiter est rapidement considérable pour un capteur matriciel et des surfaces étendues, rendant le procédé incompatible pour une application industrielle.
[0006] Un but de l’invention est donc de proposer une technique pour reconstruire à l’aide d’un capteur matriciel ultrasonore une surface tridimensionnelle relativement étendue. Exposé de l’invention
[0007] A cet effet, l’invention repose sur un balayage de la surface tridimensionnelle avec un capteur matriciel et une collecte de données « en croix » en chaque point de mesure.
En pratique, pour chaque point de mesure, le procédé de reconstruction selon l’invention comprend l’émission d’une première onde incidente par un ou plusieurs éléments d’une ligne du capteur matriciel, la réflexion de cette première onde incidente, appelée « première onde réfléchie », étant reçue et convertie en signaux temporels par l’ensemble des éléments de cette ligne. Une deuxième onde incidente est par ailleurs émise par un ou plusieurs éléments d’une colonne du capteur matriciel, et la réflexion de cette deuxième onde incidente, appelée « deuxième onde réfléchie », est reçue et convertie en signaux temporels par l’ensemble des éléments de cette colonne. Le procédé de reconstruction comprend ensuite la génération d’images bidimensionnelles de ligne dans des premiers plans parallèles aux lignes d’éléments du capteur matriciel et la génération d’images bidimensionnelles de colonne dans des deuxièmes plans parallèles aux colonnes d’éléments du capteur matriciel. Chaque image bidimensionnelle de ligne est générée à partir des signaux temporels correspondant au premier plan considéré. De même, chaque image bidimensionnelle de colonne est générée à partir des signaux temporels correspondant au deuxième plan considéré. Enfin, une image tridimensionnelle est construite en fusionnant les images bidimensionnelles de ligne et les images bidimensionnelles de colonne.
[0008] Plus précisément, l’invention a pour objet un procédé de reconstruction d’une surface tridimensionnelle d’une pièce à l’aide d’un capteur matriciel comprenant une pluralité d’éléments
E ( m, n ) agencés selon des lignes et des colonnes, chaque élément étant agencé pour pouvoir émettre une onde incidente en direction de la pièce et générer un signal représentatif d’une onde réfléchie reçue par ledit élément. Le procédé comporte les étapes suivantes :
[0009] effectuer un balayage de la surface tridimensionnelle avec le capteur matriciel, le capteur matriciel étant déplacé en une pluralité de points de mesure
O ( i, j ) , chaque point de mesure étant défini par l’intersection d’une ligne de balayage
L.
, parmi un ensemble de lignes de balayage parallèles aux lignes d’éléments du capteur matriciel, et d’une ligne d’incrément LJ , parmi un ensemble de lignes d’incrément parallèles aux colonnes d’éléments du capteur matriciel,
[0010] en chaque point de mesure
O (i, j ) , réaliser successivement
[0011] une acquisition d’une image temporelle de ligne
SLi fms, t) comprenant l’émission d’une onde incidente par un ou plusieurs éléments d’une ligne sélectionnée du capteur matriciel et la génération, pour chacun des éléments
F(mç, nr) de la ligne sélectionnée, d’un signal temporel représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément, l’image temporelle de ligne SL,t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels des éléments de la ligne sélectionnée m v , et
[0012] une acquisition d’une image temporelle de colonne
SCjj(ns, t) comprenant l’émission d’une onde incidente par un ou plusieurs éléments d’une colonne sélectionnée ns du capteur matriciel et la génération, pour chacun des éléments
E(mt,n J de la colonne sélectionnée, d’un signal temporel représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément, l’image temporelle de colonne
SC1 }(ns, t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels des éléments de la colonne sélectionnée ns ·>
[0013] pour chaque ligne de balayage
Lt , construire, à partir de l’ensemble des images temporelles de ligne j(ms, t) correspondant à ladite ligne de balayage
Li , une image bidimensionnelle de ligne
Xi dans un plan
P dm J passant par les éléments de la ligne sélectionnée m s , chaque image bidimensionnelle de ligne
À;
étant définie par une amplitude d’onde réfléchie en différents points du plan
PiM ·>
[0014] pour chaque ligne d’incrément
Figure FR3090123A1_D0001
, construire, à partir de l’ensemble des images temporelles de colonne sq 7(h,, t) correspondant à ladite ligne d’incrément
Figure FR3090123A1_D0002
, une image bidimensionnelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0003
dans un plan passant par les éléments de la colonne sélectionnée ns , chaque image bidimensionnelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0004
étant définie par une amplitude d’onde réfléchie en différents points du plan ·>
[0015] à partir des images bidimensionnelles de ligne et des images bidimensionnelles de colonne
Figure FR3090123A1_D0005
, construire une image tridimensionnelle de la pièce, l’image tridimensionnelle étant définie par une amplitude d’onde réfléchie en différents points d’un volume contenant les images bidimensionnelles de ligne
Xi et les images bidimensionnelles de colonne Yl
[0016] Les éléments du capteur matriciel sont par exemple agencés dans un plan, les lignes et les colonnes d’éléments étant alignées sur des lignes droites. Le capteur matriciel comprend par exemple un ensemble d’éléments agencés selon seize lignes et seize colonnes. Néanmoins, de manière générale, le capteur comprend un ensemble d’éléments
E ( m, n ) agencés selon
M lignes et
N colonnes, avec
M et
N deux entiers supérieurs ou égaux à trois.
[0017] Il est à noter que, en chaque point de mesure
O (i, j ) , la même ligne et la même colonne d’éléments peuvent être sélectionnées pour l’acquisition des images temporelles de lignes
SLl t) et des images temporelles de colonne
SC^ }(ns, t) . Ainsi, seuls les éléments de cette ligne et de cette colonne sont utiles pour le procédé de reconstruction de surface tridimensionnelle selon l’invention. A la place d’un capteur matriciel, un capteur comprenant une seule ligne et une seule colonne d’éléments, par exemple en croix ou en T, pourrait donc être utilisé. Néanmoins, un capteur matriciel présente l’avantage de pouvoir être utilisé à la fois pour la reconstruction de la surface tridimensionnelle de la pièce et pour une étape ultérieure de contrôle non destructif par ultrasons de la pièce.
[0018] Le procédé selon l’invention est adapté à la reconstruction de surfaces planes et de surfaces courbes, y compris lorsqu’elles présentent des déformations tridimensionnelles locales. Les lignes de balayage et d’incrément sont de préférence adaptées en conséquence. En particulier, les lignes de balayage peuvent être des lignes droites
[0019]
[0020] ou des lignes courbes. De même, les lignes d’incrément peuvent être des lignes droites ou des lignes courbes. Chaque ligne de balayage et/ou chaque ligne d’incrément forme par exemple une ellipse, un cercle, une portion d’ellipse ou une portion de cercle. A titre d’exemple, pour une surface cylindrique de révolution, les lignes de balayage peuvent être des lignes droites parallèles à l’axe de révolution de la surface cylindrique et les lignes d’incrément peuvent être des cercles centrés sur l’axe de révolution. Pour une surface torique, les lignes de balayage peuvent être des cercles centrés sur l’axe de révolution du grand rayon de courbure et les lignes d’incrément peuvent être des cercles centrés sur l’axe de révolution du petit rayon de courbure. Lorsque les lignes de balayage et/ou les lignes d’incrément sont courbes, leur parallélisme avec les éléments du capteur est considéré localement au niveau du capteur.
Le balayage est de préférence réalisé de manière à ce que le capteur matriciel soit positionné une seule fois sur chaque point de mesure. Le capteur matriciel peut ainsi être déplacé le long de chaque ligne de balayage et stoppé à chaque point d’intersection avec une ligne d’incrément. La position du capteur matriciel peut être définie par la position de l’un de ses éléments, par exemple l’élément à l’intersection de la ligne et de la colonne sélectionnées.
Selon une forme particulière de réalisation, le balayage de la surface tridimensionnelle est effectué avec un pas de balayage
Pi inférieur à une longueur d’une colonne d’éléments du capteur matriciel et/ou avec un pas d’incrément
Figure FR3090123A1_D0006
[0021] inférieur à une longueur d’une ligne d’éléments du capteur matriciel. Le pas de balayage
Pi est défini comme une distance séparant deux lignes de balayages adjacentes et le pas d’incrément
Pi est défini comme une distance séparant deux lignes d’incrément adjacentes. L’utilisation d’un pas inférieur à la longueur des éléments permet d’obtenir un recouvrement des zones imagées entre deux points de mesure adjacents, et donc d’améliorer la qualité de la reconstruction.
Selon une première variante de réalisation, chaque acquisition d’une image temporelle de ligne j(ms, t) comprend l’émission d’une onde incidente successivement par chacun des éléments £(m5, ητ) de la ligne sélectionnée m5 et la génération, pour chaque couple d’éléments {E(ms, nt);E(ms, nr)} de la ligne sélectionnée m s , l’élément £(m5, nt) désignant l’élément situé à la ligne m s et à la colonne nt ayant émis l’onde incidente et l’élément
E(m5, nr) désignant l’élément situé à la ligne ms et à la colonne nr ayant reçu l’onde réfléchie, d’un signal temporel
SLt j(ms, nt,nr,T) représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément
E(mSf nr) , l’image temporelle de ligne
SLt .(mst t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels
SL{ .(ms, nt,nr,t) de la ligne sélectionnée
[0022] Selon une deuxième variante de réalisation, compatible avec la première variante, chaque acquisition d’une image temporelle de colonne }(ns, t) comprend l’émission d’une onde incidente successivement par chacun des éléments
E(mt, ns) de la colonne sélectionnée ns et la génération, pour chaque couple d’éléments {E(mt, ns);E(mr, ns)} de la colonne sélectionnée ns , l’élément
E(mt,n J désignant l’élément situé à la ligne m i et à la colonne ns ayant émis l’onde incidente et l’élément
E(mr, ns) désignant l’élément situé à la ligne m r et à la colonne ns ayant reçu l’onde réfléchie, d’un signal temporel
SCi mr,ns,t) représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément
E(mr, ns) , l’image temporelle de colonne
t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels
SCt .{mt, mr,ns,t) de la colonne sélectionnée
[0023] Les acquisitions des première et deuxième variantes de réalisation pourraient être qualifiées d’acquisitions de matrice complète (FMC) en considérant que le capteur est constitué uniquement de la ligne et de la colonne sélectionnées.
[0024] Selon ces première et deuxième variantes de réalisation, la construction de chaque image bidimensionnelle de ligne dans le plan
Pf(mJ peut comprendre une mise en œuvre d’un procédé de focalisation en tous points (TFM) et la construction de chaque image bidimensionnelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0007
dans le plan
PjW peut comprendre une mise en œuvre d’un procédé de focalisation en tous points (TFM). Pour une mise en œuvre d’un procédé de focalisation en tous points dans un plan, il est notamment possible de se reporter au document Caroline Holmes et al : « Post-processing of the full-matrix of ultrasonic transmit-receive array data for nondestructive evaluation », NDT&E International 38, 2005, 701-711.
[0025] Selon une troisième variante de réalisation, chaque acquisition d’une image temporelle de ligne
SL. j(ms, t) comprend l’émission successive d’une pluralité d’ondes incidentes par plusieurs éléments de la ligne sélectionnée m, , chaque onde incidente étant émise avec un angle d’incidence prédéterminé θκ , et la génération d’un signal temporel
SL y ( ΊΎΙ s, 7Î r, Θ , t ) pour chaque élément
E(ms, nr) de la ligne sélectionnée m s et pour chaque onde incidente avec l’angle d’incidence prédéterminé , l’élément
E(ms, nr ) désignant l’élément situé à la ligne et à la colonne ayant reçu l’onde réfléchie, l’image temporelle de ligne
SLt j(ms, t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels
SLf Ams, nr, 0k, t) 1 5 J de la ligne sélectionnée m s
[0026] Selon une quatrième variante de réalisation, chaque acquisition d’une image temporelle de colonne
SC^in,, t) comprend l’émission successive d’une pluralité d’ondes incidentes par plusieurs éléments de la colonne sélectionnée ns , chaque onde incidente étant émise avec un angle d’incidence prédéterminé , et la génération d’un signal temporel
SCA .(mr, ns, 3k, t) pour chaque élément
E(mr, nj de la ligne sélectionnée et pour chaque onde incidente avec l’angle d’incidence prédéterminé , l’élément
E(mr, ns) désignant l’élément situé à la ligne m r et à la colonne ns ayant reçu l’onde réfléchie, l’image temporelle de colonne
SCÉ μη,, t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels
SCA j(mr, ns, t) de la colonne sélectionnée ns
[0027] Les troisièmes et quatrième variantes de réalisation permettent de générer des ondes incidentes avec différents angles d’incidence et focalisées en différents points en réception.
[0028] Selon ces troisième et quatrième variantes de réalisation, la construction de chaque image bidimensionnelle de ligne Xi et la construction de chaque image bidimensionnelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0008
peuvent comprendre une mise en œuvre d’un procédé d’imagerie en onde plane (PWI). Pour une mise en œuvre d’un procédé d’imagerie en onde plane dans un plan, il est notamment possible de se reporter au document L. Le Jeune et al : « Plane Wave Imaging for Ultrasonic Inspection of Irregular Structures with High Prarne Rates », AIP Conference Proceedings 1706, 2016.
[0029] La construction de chaque image bidimensionnelle de ligne
À;
peut comprendre une détection de contours, de manière à déterminer un profil de la pièce dans le plan de ladite image bidimensionnelle de ligne
À;
, et/ou la construction de chaque image bidimensionnelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0009
peut comprendre une détection de contours, de manière à déterminer un profil de la pièce dans le plan
Pj(ns) de ladite image bidimensionnelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0010
. Selon un mode de réalisation particulier, la détection de contours est réalisée par un seuillage, l’amplitude d’onde réfléchie en chaque point d’un plan
Pdms) ou
Pj(ns) étant mise à zéro si elle est inférieure à un seuil prédéterminé, et inchangée sinon. Le seuil prédéterminé est par exemple déterminé comme étant égal à la moitié de la plus grande amplitude d’onde réfléchie dans le plan
Pi(ms) ou
Pj(ns) considéré.
[0030]
Le procédé de reconstruction selon l’invention peut comporter, en chaque point de mesure
O(i, j ) , une acquisition d’une pluralité d’images temporelles de lignes
SL} j(msk, t) pour différentes lignes sélectionnées msk et/ou une acquisition d’une pluralité d’images temporelles de colonnes
SCi J(nsk, t) pour différentes colonnes sélectionnées nsk . Ainsi une image bidimensionnelle de ligne Xi, k peut être construite pour chaque ligne de balayage et pour chaque ligne sélectionnée mSk dans un plan
PiM passant par les éléments de la ligne sélectionnée msk . De même, une image bidimensionnelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0011
peut être construite pour chaque ligne d’incrément
Figure FR3090123A1_D0012
[0031] et pour chaque colonne sélectionnée nsk dans un plan
Pj(nSk) passant par les éléments de la colonne sélectionnée ns k . L’acquisition de plusieurs images temporelles de ligne et/ou de colonne pour chaque point de mesure permet d’améliorer la précision de la reconstruction et/ou d’augmenter le pas de balayage et le pas d’incrément.
Ainsi, plus précisément, le procédé de reconstruction peut comporter les étapes suivantes :
[0032] en chaque point de mesure
O(i, j ) , réaliser successivement une acquisition d’une pluralité d’images temporelles de ligne
SL} j(msk, t) pour différentes lignes sélectionnées mSk , chaque acquisition d’une image temporelle de ligne
SL{ j(msk, t) comprenant l’émission d’une onde incidente par un ou plusieurs éléments
E(msk, nt) de la ligne sélectionnée mSk du capteur matriciel et la génération, pour chacun des éléments
E(msk, nr) de la ligne sélectionnée , d’un signal temporel représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément, chaque image temporelle de ligne
t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels des éléments de ladite ligne sélectionnée
m.sk ·>
[0033] pour chaque ligne de balayage
Li et pour chacune des lignes sélectionnées msk , construire, à partir de l’ensemble des images temporelles de ligne
SLt^msk, t) correspondant à ladite ligne de balayage et à ladite ligne sélectionnée mSk , une image bidimensionnelle de ligne dans un plan
Pi(msk) passant par les éléments de la ligne sélectionnée msk , chaque image bidimensionnelle de ligne étant définie par une amplitude d’onde réfléchie en différents points du plan
PAmSk)
[0034] Le procédé de reconstruction peut aussi comporter les étapes suivantes :
[0035] en chaque point de mesure
O(i, j ) , réaliser successivement une acquisition d’une pluralité d’images temporelles de colonne j(nsk, t) pour différentes colonnes sélectionnées k
, chaque acquisition d’une image temporelle de colonne sct j(nsk, t) comprenant l’émission d’une onde incidente par un ou plusieurs éléments de la colonne sélectionnée nsk du capteur matriciel et la génération, pour chacun des éléments
E(mr, nsk) de la colonne sélectionnée , d’un signal temporel représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément, chaque image temporelle de colonne j(nsk, t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels des éléments de ladite colonne sélectionnée nsk ·>
[0036] pour chaque ligne d’incrément LJ et pour chacune des colonnes sélectionnées nsk , construire, à partir de l’ensemble des images temporelles de colonne j(nsk, t) correspondant à ladite ligne d’incrément LJ et à ladite colonne sélectionnée risk , une image bidimensionnelle de colonne dans un plan
Pj(nsk) passant par les éléments de la colonne sélectionnée nsk , chaque image bidimensionnelle de colonne * J, k étant définie par une amplitude d’onde réfléchie en différents points du plan
Pj(nsk)
Brève description des dessins
[0037] D’autres caractéristiques, détails et avantages de l’invention ressortiront à la lecture de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d’exemple et faisant référence aux dessins annexés sur lesquels :
[0038] [fig.lA] représente un exemple de capteur matriciel dont une ligne est sélectionnée pour la mise en œuvre du procédé de reconstruction d’une surface tridimensionnelle d’une pièce selon l’invention ;
[0039] [fig.lB] représente le capteur matriciel de la figure IA dont une colonne est sélectionnée pour la mise en œuvre du procédé de reconstruction selon l’invention ;
[0040] [fig.2] représente un exemple d’étapes du procédé de reconstruction selon l’invention ;
[0041] [fig.3A] représente un exemple de balayage d’une surface plane ;
[0042] [fig.3B] représente un exemple de balayage d’une surface formant une portion de tore ;
[0043] [fig.4] illustre schématiquement la formation d’images bidimensionnelles de lignes et d’images bidimensionnelles de colonne ;
[0044] [fig.5A] représente un exemple d’image bidimensionnelle de ligne obtenue pour la surface de la figure 3B au niveau d’une ligne de balayage ne passant pas par une déformation locale ;
[0045] [fig.5B] représente un exemple d’image bidimensionnelle de ligne obtenue pour la surface de la figure 3B au niveau d’une ligne de balayage passant par une déformation locale ;
[0046] [fig.6A] représente un exemple d’image bidimensionnelle de colonne obtenue pour la surface de la figure 3B au niveau d’une ligne d’incrément ne passant pas par une déformation locale ;
[0047] [fig.6B] représente un exemple d’image bidimensionnelle de colonne obtenue pour la surface de la figure 3B au niveau d’une ligne d’incrément passant par une déformation locale ; [0048] [fig.7] représente un exemple d’image tridimensionnelle obtenue pour la surface de la figure 3B à partir d’images bidimensionnelles de lignes et d’images bidimensionnelles de colonne ;
[0049] [fig.8] représente un exemple d’image tridimensionnelle extrapolée obtenue à partie de l’image tridimensionnelle de la figure 7.
[0050] EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS
[0051] Les figures IA et IB représentent un exemple de capteur matriciel ultrasonore 1 apte à être utilisé dans le procédé de reconstruction d’une surface tridimensionnelle d’une pièce selon l’invention. Le capteur matriciel 1 comprend un ensemble de seize lignes par seize colonnes d’éléments E ( m, n ) , avec m et n deux entiers tels que < m < 16 et < n < 16 . De manière générale, l’invention peut s’appuyer sur tout capteur matriciel ui18 trasonore comprenant un ensemble de
M lignes par
N colonnes d’éléments, avec
M et
N deux entiers supérieurs ou égaux à trois. Chaque élément
E ( m, n ) du capteur matriciel 1 est agencé pour pouvoir émettre un signal incident, sous forme d’une onde incidente, en direction d’une surface d’une pièce à reconstruire, et pour pouvoir recevoir une onde réfléchie et la convertir en un signal représentatif d’une amplitude de cette onde réfléchie au cours du temps. Lorsque les éléments sont considérés lors de l’émission d’une onde incidente, ils sont notés
E ( m t, n t ) , et lorsqu’ils sont considérés lors de la réception d’une onde réfléchie, ils sont notés
E(mn nr) . Pour le procédé de reconstruction selon l’invention, l’une des lignes et l’une des colonnes sont sélectionnés. Pour la suite de la description, on note la ligne sélectionnée m s et la colonne sélectionnée . Eventuellement, plusieurs lignes ™sk et plusieurs colonnes nsk peuvent être sélectionnées successivement. La figure IA représente la sélection de la neuvième ligne (m, -9) et la figure IB représente la sélection de la huitième colonne (ηΛ. =8)
[0052] La figure 2 représente un exemple de procédé de reconstruction d’une surface tridimensionnelle d’une pièce selon l’invention. Le procédé 10 comprend une itération des étapes suivantes pour différents points de mesure
O(i, j) : une étape 11 de déplacement du capteur matriciel 1 au point de mesure
O (i, j ) considéré, une étape 12 d’acquisition d’une image temporelle de ligne
Figure FR3090123A1_D0013
, une étape 13 de construction d’une image bidimensionnelle locale de ligne
Figure FR3090123A1_D0014
, une étape 14 d’acquisition d’une image temporelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0015
, une étape 15 de construction d’une image bidimensionnelle locale de colonne
Figure FR3090123A1_D0016
et une étape 16 de vérification de la complétude du balayage. Après itération de ces étapes 11 à 15 en chacun des points de mesure
O(i,j) , c’est-à-dire après balayage de l’ensemble de la surface tridimensionnelle à reconstruire, le procédé comprend une étape 17 de construction d’images bidimensionnelles de lignes
Xr , une étape 18 de constructions d’images bidimensionnelles de colonne
Figure FR3090123A1_D0017
et une étape 19 de construction d’une image tridimensionnelle.
[0053] Les étapes 11 et 16 génèrent un balayage de la surface tridimensionnelle avec le capteur matriciel 1. Ce balayage comprend le déplacement du capteur matriciel 1 en chaque point de mesure O(i, J ) où i
désigne une ligne de balayage
Lt parmi un ensemble de lignes de balayages parallèles entre elles, et
J désigne une ligne d’incrément
Figure FR3090123A1_D0018
parmi un ensemble de lignes d’incrément parallèles entre elles. Chaque point de mesure
O(i, j) est ainsi défini comme l’intersection d’une ligne de balayage
Lt et d’une ligne d’incrément
Figure FR3090123A1_D0019
. Les lignes de balayage
Lt et les lignes d’incrément
Figure FR3090123A1_D0020
sont de préférence adaptées à la surface tridimensionnelle à reconstruire.
[0054] La figure 3A représente un premier exemple de balayage d’une surface tridimensionnelle par le capteur matriciel 1 dans le cas d’une surface tridimensionnelle 2 sensiblement plane et la figure 3B représente un deuxième exemple de balayage dans le cas d’une surface tridimensionnelle 3 formant une portion d’un tore. La surface tridimensionnelle 3 comporte une zone déformée localement 4 par un renfoncement. Dans chaque cas, le déplacement effectué par le capteur matriciel 1 pour passer par les différents points de mesure O(i, j ) suit successivement les différentes lignes de balayage
L, , les étapes 12 et 14 d’acquisition étant effectuées après chaque déplacement du capteur matriciel d’un pas d’incrément
Figure FR3090123A1_D0021
. À l’extrémité de chaque ligne de balayage
L.
, le capteur matriciel est déplacé vers une ligne de balayage suivante
L ί + 1 , les lignes de balayage
Li adjacentes étant séparées d’un pas de balayage , représenté sur la figure 4. Sur la figure 3A, les lignes de balayages
Lt sont des lignes droites parallèles entre elles et aux lignes d’éléments
E ( m, n ) du capteur matriciel 1, et les lignes d’incrément
Figure FR3090123A1_D0022
sont des lignes droites parallèles entre elles et aux colonnes d’éléments
E ( m, n ) du capteur matriciel 1. Sur la figure 3B, les lignes de balayage
Li forment des portions de cercle centrées sur l’axe de révolution du grand rayon de courbure du tore et les lignes d’incrément LJ forment des portions de cercle centrées sur l’axe de révolution du petit rayon de courbure du tore. Eu égard aux dimensions respectives du capteur matriciel 1 et du tore, les lignes de balayage peuvent être considérées comme étant parallèles aux lignes d’éléments du capteur matriciel 1 et les lignes d’incrément LJ peuvent être considérées comme étant parallèles aux colonnes d’éléments . Il peut être noté que le capteur matriciel 1 ne suit pas physiquement les lignes d’incrément LJ au cours du balayage. Néanmoins, le capteur matriciel 1 étant déplacé avec un pas d’incrément régulier le long des lignes de balayage , il passe par chacun des points de mesure suivant les lignes d’incrément LJ . Le pas d’incrément
[0055] , représenté sur la figure 4, définit ainsi une distance entre deux lignes d’incrément adjacentes.
L’étape 12 d’acquisition d’une image temporelle de ligne
SL,. ..
pour le point de mesure considéré comprend l’émission d’une onde incidente successivement par chacun des éléments £(m5I nt) d’une ligne sélectionnée du capteur matriciel 1, et la génération d’un signal temporel
SL. 7(m,, nt, nr, t ) pour chaque couple d’éléments {E(ms, nt);E(ms, nr)} de la ligne sélectionnée m s , l’élément
E(ms, nt) désignant l’élément situé à la ligne ms et à la colonne nT ayant émis l’onde incidente et l’élément £(m0., nr) désignant l’élément situé à la ligne m, et à la colonne nr ayant reçu l’onde réfléchie. Le signal
SLt nT,nr,t) représente une amplitude au cours du temps t
de l’onde réfléchie reçue par l’élément £(m„ nr) et issue d’une réflexion de l’onde incidente émise par l’élément
E(ms, nt) . L’image temporelle de ligne pour le point de mesure
O(i, j ) , notée
SLjj(ms, t) et abrégée sp.i , est formée par l’ensemble des signaux temporels
SLij(ms, nt,nr,t) générés pour les différents couples d’éléments {E(ms, nt);E(ms, nr)} de la ligne sélectionnée m s
[0056] L’étape 13 de construction d’une image bidimensionnelle locale de ligne
Figure FR3090123A1_D0023
pour le point
O (i, j ) considéré comprend la détermination, à partir de l’image temporelle de ligne
SLt j(ms, t) correspondante, d’une amplitude d’onde réfléchie en différents points d’un plan
Pi(ms) passant par les éléments
E(ms, n ) de la ligne sélectionnée . Le plan rns) est perpendiculaire aux colonnes du capteur matriciel 1. Selon une forme particulière de réalisation, l’image bidimensionnelle locale de ligne
Figure FR3090123A1_D0024
est construite par un procédé de focalisation en tous points, également appelé procédé TLM d’après l’expression anglo-saxonne « Total Locusing Method ».
[0057] L’étape 14 d’acquisition d’une image temporelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0025
pour le point de mesure
G» (i, j ) considéré comprend l’émission d’une onde incidente successivement par chacun des éléments
E(mt, ns) d’une colonne sélectionnée du capteur matriciel 1, et la génération d’un signal temporel
SCiJ(mr, mr, ns, t) pour chaque couple d’éléments {E(mt, ns);E(mr, ns)} de la colonne sélectionnée ns , l’élément E(mt, ns) désignant l’élément situé à la ligne m t et à la colonne ns ayant émis l’onde incidente et l’élément E(mr,ns) désignant l’élément situé à la ligne m r et à la colonne ns ayant reçu l’onde réfléchie. Le signal
SC. }(mt, mr, ns, t) représente une amplitude au cours du temps t de l’onde réfléchie reçue par l’élément E(mr, ns) et issue d’une réflexion de l’onde incidente émise par l’élément E(mt, ns) . L’image temporelle de colonne pour le point de mesure , notée j(ns, t) et abrégée sci.J , est formée par l’ensemble des signaux temporels SCt j(mr, mr, ns, t) générés pour les différents couples d’éléments {E(mt, ns);E(mr, ns)} de la colonne sélectionnée
[0058] L’étape 15 de construction d’une image bidimensionnelle locale de colonne
Figure FR3090123A1_D0026
pour le point
O(i, j ) considéré comprend la détermination, à partir de l’image temporelle de colonne
SCi .(ns, t) correspondante, d’une amplitude d’onde réfléchie en différents points d’un plan
Pj(ns) passant par les éléments
E(m, ns) de la colonne sélectionnée ns . Le plan
Pj( ris) est perpendiculaire aux lignes du capteur matriciel 1. Selon une forme particulière de réalisation, l’image bidimensionnelle locale de colonne
Figure FR3090123A1_D0027
est construite par un procédé de focalisation en tous points (TFM).
[0059] L’étape 12 d’acquisition d’une image temporelle de ligne SLi,j et l’étape 14 d’acquisition d’une image temporelle de colonne pour un point de mesure
O(i, j ) donné sont réalisées successivement afin d’éviter les interférences entre les ondes émises par les éléments de la ligne sélectionnée et celles émises par les éléments de la colonne sélectionnée. L’ordre de ces étapes peut bien entendu être inversé.
[0060] Par ailleurs, il a été considéré dans chaque étape d’acquisition d’une image temporelle de ligne ou de colonne, qu’une onde incidente est émise successivement par chacun des éléments de la ligne ou de la colonne sélectionnée. Néanmoins, chaque étape 12 d’acquisition d’une image temporelle de ligne SL,>
peut comprendre l’émission successive d’une pluralité d’ondes incidentes par plusieurs éléments de la ligne sélectionnée m s , chaque onde incidente étant émise avec un angle d’incidence prédéterminé ek , et la génération d’un signal temporel
SLi .(ms, nr, ek, t) pour chaque élément £(mç, nr) de la ligne sélectionnée et pour chaque onde incidente. Les ondes incidentes peuvent notamment être émises avec des angles d’incidence différents les uns des autres.
L’image temporelle de ligne pour le point de mesure ou. J) , également notée
SL. j(ms, t) et abrégée
SL. .
i, J , est alors formée par l’ensemble des signaux temporels
S L j ( tns, n ri Θ t ) générés pour les différents couples d’éléments
E(ms, nr) de la ligne sélectionnée et d’onde incidente. L’étape 13 de construction d’une image bidimensionnelle locale de ligne
Figure FR3090123A1_D0028
pour le point ou, j) est construite à partir de l’image temporelle de ligne
SLt j(ms, t) correspondante. De manière analogue, chaque étape 14 d’acquisition d’une image temporelle de colonne SCi.J peut comprendre l’émission successive d’une pluralité d’ondes incidentes par plusieurs éléments de la colonne sélectionnée ns , chaque onde incidente étant émise avec un angle d’incidence prédéterminé ek , et la génération d’un signal temporel
SCAns, ek, t) pour chaque élément
E ( m r, ns) de la colonne sélectionnée et pour chaque onde incidente. Les ondes incidentes peuvent notamment être émises avec des angles d’incidence différents les uns des autres. L’image temporelle de colonne pour le point de mesure
O ( i, j ) , également notée
SCÉ μη,, t) et abrégée
Figure FR3090123A1_D0029
, est alors formée par l’ensemble des signaux temporels
SCitj(mr, ns,ek,t) générés pour les différents couples d’éléments
E(mr, ns) de la colonne sélectionnée et d’onde incidente. L’étape 15 de construction d’une image bidimensionnelle locale de colonne
Figure FR3090123A1_D0030
pour le point
O(i, j ) considéré est construite à partir de l’image temporelle de colonne
SCl t) correspondante.
[0061] L’étape 16 de vérification de la complétude du balayage consiste à vérifier que le capteur matriciel a été déplacé en chaque point de mesure
O(i, j ) et qu’une image bidimensionnelle locale de ligne
Figure FR3090123A1_D0031
et une image bidimensionnelle locale de colonne
Figure FR3090123A1_D0032
ont été construites en chacun de ces points.
[0062] L’étape 17 de construction d’images bidimensionnelles de lignes comprend, pour chaque ligne de balayage
Lt , une concaténation de l’ensemble des images bidimensionnelles locales
Figure FR3090123A1_D0033
[0063] de la ligne de balayage
Lt considérée. Chaque image bidimensionnelle de ligne
Xi représente alors une amplitude d’onde réfléchie en différents points du plan
P;(mJ passant par les éléments
E( ms, n ) de la ligne sélectionnée . La concaténation est par exemple effectuée par une sommation de l’amplitude d’onde réfléchie aux différents points du plan
De manière analogue, l’étape 18 de constructions d’images bidimensionnelles de colonne
Figure FR3090123A1_D0034
comprend, pour chaque ligne d’incrément
Figure FR3090123A1_D0035
une concaténation de l’ensemble des images bidimensionnelles locales
Figure FR3090123A1_D0036
de la ligne d’incrément
Figure FR3090123A1_D0037
considérée. Chaque image bidimensionnelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0038
représente alors une amplitude d’onde réfléchie en différents points du plan
Pj(n J passant par les éléments £(m, ns ) de la colonne sélectionnée . La concaténation est par exemple effectuée par une sommation de l’amplitude d’onde réfléchie aux différents points du plan
Pj(ns)
[0064] La figure 4 illustre schématiquement la formation des images bidimensionnelles de ligne Xi et de colonne
Figure FR3090123A1_D0039
après balayage du capteur matriciel 1 suivant les différentes lignes de balayage et d’incrément
Figure FR3090123A1_D0040
. Les images bidimensionnelles de ligne
Xi représentent l’amplitude de la réflexion des ondes incidentes dans les plans , lesquels constituent des plans sensiblement perpendiculaires localement à la surface de la pièce. Les images bidimensionnelles de colonne
Figure FR3090123A1_D0041
représentent l’amplitude de la réflexion des ondes incidentes dans les plans
PjW , lesquels constituent des plans sensiblement perpendiculaires localement à la surface de la pièce et aux plans
P; ( ms )
[0065] Les figures 5A et 5B représentent deux exemples d’images bidimensionnelles de ligne
X, obtenues pour la surface tridimensionnelle 3 représentée sur la figure 3B et formant une portion d’un tore. Ces images sont obtenues par les étapes 11 à 18 du procédé décrit ci-dessus avec l’utilisation d’un procédé de focalisation en tous points. La figure 5A représente une image bidimensionnelle de ligne
Xi pour une ligne de balayage
Lt ne passant pas par la zone déformée localement 4 et la figure 5B représente une image bidimensionnelle de ligne
Xi pour une ligne de balayage
L, passant par la zone déformée localement 4.
[0066] Les figures 6A et 6B représentent deux exemples d’images bidimensionnelles de colonne
Figure FR3090123A1_D0042
obtenues pour la surface tridimensionnelle 3. Ces images sont obtenues par les étapes 11 à 18 du procédé décrit ci-dessus avec l’utilisation d’un procédé de focalisation en tous points. La figure 6A représente une image bidimensionnelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0043
pour une ligne d’incrément
Figure FR3090123A1_D0044
ne passant pas par la zone déformée localement 4 et la figure 6B représente une image bidimensionnelle de colonne
Figure FR3090123A1_D0045
pour une ligne d’incrément
Figure FR3090123A1_D0046
passant par la zone déformée localement 4.
[0067] L’étape 19 de construction d’une image tridimensionnelle comprend la détermination, à partir de l’ensemble des images bidimensionnelles de ligne et de l’ensemble des images bidimensionnelles de colonne
Figure FR3090123A1_D0047
, d’une amplitude d’onde réfléchie en différents points d’un volume englobant les différents plans et
Pj(ns) de ces images bidimensionnelles. En l’occurrence, le volume est délimité par les premier et dernier plans
Pi(ms) et par les premier et dernier plans
Pj(ns) . L’image tridimensionnelle est formée par ces amplitudes d’onde réfléchie aux différents points du volume. En pratique, la construction de l’image tridimensionnelle consiste par exemple à fusionner les images bidimensionnelles de ligne et de colonne
[0068] La figure 7 représente un exemple d’image tridimensionnelle obtenue pour la surface tridimensionnelle 3 représentée sur la figure 3B. Il peut être observé sur cette figure que les images bidimensionnelles de lignes
Xi et les images bidimensionnelles de colonne
Figure FR3090123A1_D0048
apportent des données complémentaires pour la construction de l’image tridimensionnelle, plus spécifiquement au niveau de la zone déformée localement 4, pour laquelle une absence d’onde réfléchie peut être observée pour l’ensemble des éléments d’une ligne du capteur matriciel du fait d’une inclinaison de la surface tridimensionnelle 3 située sous le capteur matriciel 1 dans un plan non perpendiculaire au plan passant par cette ligne.
[0069] Le procédé de reconstruction selon l’invention peut également comporter, suite à l’étape 19 de construction de l’image tridimensionnelle, une étape d’extrapolation de cette image tridimensionnelle, dans laquelle des amplitudes d’onde réfléchie sont déterminées pour différents points complémentaires du volume situés entre les points du volume pour lesquels une amplitude d’onde a été déterminée. La figure 8 représente un exemple d’image tridimensionnelle extrapolée obtenue à partir de l’image tridimensionnelle de la figure 7.

Claims (1)

  1. Revendications [Revendication 1] Procédé de reconstruction d’une surface tridimensionnelle d’une pièce à l’aide d’un capteur matriciel (1) comprenant une pluralité d’éléments E ( m, n ) agencés selon des lignes et des colonnes, chaque élément étant agencé pour pouvoir émettre une onde incidente en direction de la pièce et générer un signal représentatif d’une onde réfléchie reçue par ledit élément, le procédé (10) comportant : effectuer un balayage (11) de la surface tridimensionnelle (2, 3) avec le capteur matriciel, le capteur matriciel (1) étant déplacé en une pluralité de points de mesure O ( i, j ) , chaque point de mesure étant défini par l’intersection d’une ligne de balayage Li , parmi un ensemble de lignes de balayage parallèles aux lignes d’éléments du capteur matriciel, et d’une ligne d’incrément LJ , parmi un ensemble de lignes d’incrément parallèles aux colonnes d’éléments du capteur matriciel, en chaque point de mesure O (i, J ) , réaliser successivement une acquisition (12) d’une image temporelle de ligne SLtj (ms, t) comprenant l’émission d’une onde incidente par un ou plusieurs éléments d’une ligne sélectionnée m s du capteur matriciel et la génération, pour chacun des éléments E(ms, nr) de la ligne sélectionnée, d’un signal temporel représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément, l’image temporelle de ligne SLt jim,, t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels des éléments de la ligne sélectionnée
    ΠΊ s , et une acquisition (14) d’une image temporelle de colonne
    SC2 j(ns, t) comprenant l’émission d’une onde incidente par un ou plusieurs éléments d’une colonne sélectionnée ns du capteur matriciel et la génération, pour chacun des éléments
    E(mt,ns) de la colonne sélectionnée, d’un signal temporel représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément, l’image temporelle de colonne
    SC. t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels des éléments de la colonne sélectionnée ns ·>
    pour chaque ligne de balayage
    Li , construire (17), à partir de l’ensemble des images temporelles de ligne
    SLtj(ms, t) correspondant à ladite ligne de balayage
    L.
    , une image bidimensionnelle de ligne
    Sz dans un plan
    Pi(rns) passant par les éléments de la ligne sélectionnée m s , chaque image bidimensionnelle de ligne étant définie par une amplitude d’onde réfléchie en différents points du plan
    PJm J pour chaque ligne d’incrément
    LJ , construire (18), à partir de l’ensemble des images temporelles de colonne SChj(ns, t) correspondant à ladite ligne d’incrément LJ , une image bidimensionnelle de colonne dans un plan Pf(ns) passant par les éléments de la colonne sélectionnée ns , chaque image bidimensionnelle de colonne Y. J étant définie par une amplitude d’onde réfléchie en différents points du plan P J («J , et à partir des images bidimensionnelles de ligne Xi et des images bidimensionnelles de colonne * i , construire (19) une image tridimensionnelle de la pièce, l’image tridimensionnelle étant définie par une amplitude d’onde réfléchie en différents points d’un volume contenant les images bidimensionnelles de ligne Xi et les images bidimensionnelles de colonne [Revendication 2] Procédé de reconstruction selon la revendication 1, dans lequel les lignes de balayage Li sont des lignes droites ou des lignes courbes, et/ou les lignes d’incrément
    sont des lignes droites ou des lignes courbes. [Revendication 3] Procédé de reconstruction selon l’une des revendications 1 et 2, dans lequel le balayage de la surface tridimensionnelle (2, 3) est effectué avec un pas de balayage inférieur à une longueur d’une ligne d’éléments du capteur matriciel (1) et/ou avec un pas d’incrément Pt(ns) inférieur à une longueur d’une colonne d’éléments du capteur matriciel (D- [Revendication 4] Procédé de reconstruction selon l’une des revendications 1 à 3, dans lequel chaque acquisition (12) d’une image temporelle de ligne 5L. .(mS) t) comprend l’émission d’une onde incidente successivement par chacun des éléments £(m,Sî nt) de la ligne sélectionnée m 5 et la génération, pour chaque couple d’éléments {E(ms, rii);E(ms, nr)} de la ligne sélectionnée ms , l’élément £(ms, nt) désignant l’élément situé à la ligne m ά. et à la colonne η r ayant émis l’onde incidente et l’élément E(ms, nr) désignant l’élément situé à la ligne ms et à la colonne Π r ayant reçu l’onde réfléchie, d’un signal temporel
    SLtt nt,nr,t) représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément E(ms, nr) , l’image temporelle de ligne SL1 -(ms, t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels SLIt nt,nr,t) de la ligne sélectionnée 771 ç [Revendication 5] Procédé de reconstruction selon l’une des revendications 1 à 4, dans lequel chaque acquisition (14) d’une image temporelle de colonne SCij(ns, t) comprend l’émission d’une onde incidente successivement par chacun des éléments E(mf, ns) de la colonne sélectionnée ns et la génération, pour chaque couple d’éléments {E(mt, ns);E(mr, ns)} de la colonne sélectionnée ns , l’élément E (mr, ns) désignant l’élément situé à la ligne m i et à la colonne ns ayant émis l’onde incidente et l’élément E(mr, ns) désignant l’élément situé à la ligne 771 r et à la colonne ns ayant reçu l’onde réfléchie, d’un signal temporel
    sci jim mrt ns,t) représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément E(mr, ns) , l’image temporelle de colonne SC,Jn,, t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels sc. Amt, mrt ns, t) L 1 J de la colonne sélectionnée [Revendication 6] Procédé de reconstruction selon les revendications 4 et 5, dans lequel la construction (17) de chaque image bidimensionnelle de ligne Χτ comprend une mise en œuvre d’un procédé de focalisation en tous points et la construction (18) de chaque image bidimensionnelle de colonne Y, comprend une mise en œuvre d’un procédé de focalisation en tous points. [Revendication 7] Procédé de reconstruction selon l’une des revendications 1 à 3, dans lequel chaque acquisition (12) d’une image temporelle de ligne SLi j(ms, t) comprend l’émission successive d’une pluralité d’ondes incidentes par plusieurs éléments de la ligne sélectionnée m ç , chaque onde incidente étant émise avec un angle d’incidence prédéterminé , et la génération d’un signal temporel SL^ j(ms, nr, 0k, t) pour chaque élément E(ms, nr) de la ligne sélectionnée m 5 et pour chaque onde incidente avec l’angle d’incidence prédéterminé
    , l’élément E(ms, nr) désignant l’élément situé à la ligne m 5 et à la colonne nr ayant reçu l’onde réfléchie, l’image temporelle de ligne SLi j(ms, t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels SLKj(ms, nr, ek, t) de la ligne sélectionnée m , [Revendication 8] Procédé de reconstruction selon l’une des revendications 1 à 3 et 7, dans lequel chaque acquisition (14) d’une image temporelle de colonne SC- t) comprend l’émission successive d’une pluralité d’ondes incidentes par plusieurs éléments de la colonne sélectionnée ns , chaque onde incidente étant émise avec un angle d’incidence prédéterminé , et la génération d’un signal temporel SCt .(mr, ns, ek, t) pour chaque élément E(mr, ns) de la ligne sélectionnée et pour chaque onde incidente avec l’angle d’incidence prédéterminé Qk , l’élément E(mr, ns) désignant l’élément situé à la ligne m r et à la colonne n x
    ayant reçu l’onde réfléchie, l’image temporelle de colonne SC} j(ns, t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels sctj(mr, ns, 9k,t) de la colonne sélectionnée ns [Revendication 9] Procédé de reconstruction selon les revendications 7 et 8, dans lequel la construction (17) de chaque image bidimensionnelle de ligne Xi comprend une mise en œuvre d’un procédé d’imagerie en onde plane et la construction (18) de chaque image bidimensionnelle de colonne Y j comprend une mise en œuvre d’un procédé d’imagerie en onde plane. [Revendication 10] Procédé de reconstruction selon l’une des revendications 1 à 9, dans lequel la construction (17) de chaque image bidimensionnelle de ligne X. comprend une détection de contours, de manière à déterminer un profil de la pièce dans le plan de ladite image bidimensionnelle de ligne Xi , et/ou la construction de chaque image bidimensionnelle de colonne Yj comprend une détection de contours, de manière à déterminer un profil de la pièce dans le plan PjSns) de ladite image bidimensionnelle de colonne L [Revendication 11] Procédé de reconstruction selon l’une des revendications 1 à 10 comportant : en chaque point de mesure O ( i, j ) , réaliser successivement une acquisition d’une pluralité d’images temporelles de ligne
    SLj j(msk, t) pour différentes lignes sélectionnées msk , chaque acquisition d’une image temporelle de ligne
    SLirJ(msk, ΐ) comprenant l’émission d’une onde incidente par un ou plusieurs éléments
    E(msk, nt) de la ligne sélectionnée du capteur matriciel et la génération, pour chacun des éléments de la ligne sélectionnée
    m.sk , d’un signal temporel représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément, chaque image temporelle de ligne
    t) étant formée par l’ensemble des signaux temporels des éléments de ladite ligne sélectionnée ™sk ·>
    pour chaque ligne de balayage
    Li et pour chacune des lignes sélectionnées msk , construire, à partir de l’ensemble des images temporelles de ligne
    SI^ ^msk, t) correspondant à ladite ligne de balayage et à ladite ligne sélectionnée
    ™.sk , une image bidimensionnelle de ligne xt, k dans un plan
    PiM
    passant par les éléments de la ligne sélectionnée ™sk , chaque image bidimensionnelle de ligne X i, k étant définie par une amplitude d’onde réfléchie en différents points du plan Pdms.k) [Revendication 12] Procédé de reconstruction selon l’une des revendications 1 à 11 comportant : en chaque point de mesure O(i, j) , réaliser successivement une acquisition d’une pluralité d’images temporelles de colonne SCt j(nsk, t) pour différentes colonnes sélectionnées nsk , chaque acquisition d’une image temporelle de colonne SC Ansk, t) 1 ’ J comprenant l’émission d’une onde incidente par un ou plusieurs éléments de la colonne sélectionnée n.sk du capteur matriciel et la génération, pour chacun des éléments £(mr, nsk) de la colonne sélectionnée n sk , d’un signal temporel représentatif d’une amplitude au cours du temps d’une onde réfléchie reçue par ledit élément, chaque image temporelle de colonne S’Ci (nsk, t) 1 1 J étant formée par l’ensemble des signaux temporels des éléments de ladite colonne sélectionnée ns k ·> pour chaque ligne d’incrément L;
    et pour chacune des colonnes sélectionnées nsk , construire, à partir de l’ensemble des images temporelles de colonne
    S*©. 7(n,fe, t) correspondant à ladite ligne d’incrément
    Figure FR3090123A1_C0001
    et à ladite colonne sélectionnée nsk , une image bidimensionnelle de colonne
    Figure FR3090123A1_C0002
    dans un plan passant par les éléments de la colonne sélectionnée nsk , chaque image bidimensionnelle de colonne
    Figure FR3090123A1_C0003
    étant définie par une amplitude d’onde réfléchie en différents points du plan une construction (19) d’une image tridimensionnelle à partir des images bidimensionnelles de ligne
    Xi et des images bidimensionnelles de colonne
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