FR3123146A1 - Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique - Google Patents

Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique Download PDF

Info

Publication number
FR3123146A1
FR3123146A1 FR2111484A FR2111484A FR3123146A1 FR 3123146 A1 FR3123146 A1 FR 3123146A1 FR 2111484 A FR2111484 A FR 2111484A FR 2111484 A FR2111484 A FR 2111484A FR 3123146 A1 FR3123146 A1 FR 3123146A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
stack
active
leds
substrate
photosensitive diode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR2111484A
Other languages
English (en)
Other versions
FR3123146B1 (fr
Inventor
François Templier
Sébastien Becker
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Original Assignee
Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Commissariat a lEnergie Atomique CEA, Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA filed Critical Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Priority to EP22172229.1A priority Critical patent/EP4092736A1/fr
Priority to US17/741,713 priority patent/US12261161B2/en
Priority to CN202210528810.9A priority patent/CN115377082A/zh
Publication of FR3123146A1 publication Critical patent/FR3123146A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR3123146B1 publication Critical patent/FR3123146B1/fr
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/01Manufacture or treatment
    • H10H20/011Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers
    • H10H20/018Bonding of wafers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F55/00Radiation-sensitive semiconductor devices covered by groups H10F10/00, H10F19/00 or H10F30/00 being structurally associated with electric light sources and electrically or optically coupled thereto
    • H10F55/10Radiation-sensitive semiconductor devices covered by groups H10F10/00, H10F19/00 or H10F30/00 being structurally associated with electric light sources and electrically or optically coupled thereto wherein the radiation-sensitive semiconductor devices control the electric light source, e.g. image converters, image amplifiers or image storage devices
    • H10F55/15Radiation-sensitive semiconductor devices covered by groups H10F10/00, H10F19/00 or H10F30/00 being structurally associated with electric light sources and electrically or optically coupled thereto wherein the radiation-sensitive semiconductor devices control the electric light source, e.g. image converters, image amplifiers or image storage devices wherein the radiation-sensitive devices and the electric light source are all semiconductor devices
    • H10F55/155Radiation-sensitive semiconductor devices covered by groups H10F10/00, H10F19/00 or H10F30/00 being structurally associated with electric light sources and electrically or optically coupled thereto wherein the radiation-sensitive semiconductor devices control the electric light source, e.g. image converters, image amplifiers or image storage devices wherein the radiation-sensitive devices and the electric light source are all semiconductor devices formed in, or on, a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/83Electrodes
    • H10H20/832Electrodes characterised by their material
    • H10H20/833Transparent materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/85Packages
    • H10H20/857Interconnections, e.g. lead-frames, bond wires or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/01Manufacture or treatment
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/01Manufacture or treatment
    • H10H20/032Manufacture or treatment of electrodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/01Manufacture or treatment
    • H10H20/036Manufacture or treatment of packages
    • H10H20/0364Manufacture or treatment of packages of interconnections
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/81Bodies
    • H10H20/822Materials of the light-emitting regions
    • H10H20/824Materials of the light-emitting regions comprising only Group III-V materials, e.g. GaP
    • H10H20/825Materials of the light-emitting regions comprising only Group III-V materials, e.g. GaP containing nitrogen, e.g. GaN
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/85Packages
    • H10H20/851Wavelength conversion means
    • H10H20/8511Wavelength conversion means characterised by their material, e.g. binder
    • H10H20/8512Wavelength conversion materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H29/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one light-emitting semiconductor element covered by group H10H20/00
    • H10H29/10Integrated devices comprising at least one light-emitting semiconductor component covered by group H10H20/00
    • H10H29/14Integrated devices comprising at least one light-emitting semiconductor component covered by group H10H20/00 comprising multiple light-emitting semiconductor components
    • H10H29/142Two-dimensional arrangements, e.g. asymmetric LED layout

Landscapes

  • Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique La présente description concerne un procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique, comportant les étapes suivantes :a) disposer un empilement actif de diode photosensible (103) sur un premier substrat ; b) disposer un empilement actif de LED (113) sur un deuxième substrat ; c) après les étapes a) et b), reporter l'empilement actif de diode photosensible (103) sur l'empilement actif de LED (113), puis retirer le premier substrat ; et d) après l'étape c), reporter l'ensemble comportant l'empilement actif de diode photosensible (103) et l'empilement actif de LED (113) sur un circuit intégré de contrôle (151) préalablement formé dans et sur un troisième substrat semiconducteur, puis retirer le deuxième substrat. Figure pour l'abrégé : Fig. 1K

Description

Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique
La présente description concerne de façon générale le domaine des dispositifs optoélectroniques, et vise plus particulièrement un procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique combinant une fonction d'émission lumineuse et une fonction de capture optique.
Diverses applications sont susceptibles de tirer profit d'un dispositif optoélectronique combinant une fonction d'émission lumineuse et une fonction de capture optique. Un tel dispositif peut par exemple être utilisé pour réaliser un écran d'affichage interactif.
Un objet d'un mode de réalisation est de pallier tout ou partie des inconvénients des solutions connues pour réaliser un dispositif optoélectronique combinant une fonction d'émission lumineuse et une fonction de capture optique.
Un mode de réalisation prévoit un procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique, comportant les étapes suivantes :
a) disposer un empilement actif de diode photosensible sur un premier substrat ;
b) disposer un empilement actif de LED sur un deuxième substrat ;
c) après les étapes a) et b), reporter l'empilement actif de diode photosensible sur l'empilement actif de LED, puis retirer le premier substrat ; et
d) après l'étape c), reporter l'ensemble comportant l'empilement actif de diode photosensible et l'empilement actif de LED sur un circuit intégré de contrôle préalablement formé dans et sur un troisième substrat semiconducteur, puis retirer le deuxième substrat.
Selon un mode de réalisation, le procédé comprend, avant l'étape b), une étape de dépôt d'une couche métallique sur la face de l'empilement actif de LED opposée au deuxième substrat.
Selon un mode de réalisation, à l'étape c), l'empilement actif de diode photosensible est fixé sur l'empilement actif de LED par collage direct.
Selon un mode de réalisation, à l'étape c), lors du report de l'empilement actif de diode photosensible sur l'empilement actif de LED, l'empilement actif de diode photosensible s'étend de façon continue sur toute la surface du premier substrat et l'empilement actif de LED s'étend de façon continue sur toute la surface du deuxième substrat.
Selon un mode de réalisation, l'empilement actif de diode photosensible comprend au moins une couche semiconductrice inorganique, par exemple en un matériau III-V, et l'empilement actif de LED comprend au moins une couche semiconductrice inorganique, par exemple en un matériau III-V.
Selon un mode de réalisation, l'empilement actif de diode photosensible comprend des première, deuxième et troisième couches semiconductrices, la deuxième couche étant disposée entre les première et troisième couches, et la troisième couche étant disposée du côté de l'empilement actif de LED à l'issue de l'étape c).
Selon un mode de réalisation, le procédé comprend une étape de dopage de type P de portions localisées de la première couche, les portions définissant des régions d'anode de diodes photosensibles du dispositif.
Selon un mode de réalisation, l'étape de dopage de type P de portions localisées de la première couche est mise en oeuvre après l'étape c) et avant l'étape d).
Selon un mode de réalisation, le procédé comprend, après l'étape de dopage de type P de portions localisées de la première couche et avant l'étape d), une étape de formation de métallisations de connexion sur et en contact avec les portions localisées de la première couche.
Selon un mode de réalisation, le procédé comprend en outre, après l'étape c) et avant l'étape d), une étape de formation de vias conducteurs traversant l'empilement actif de diode photosensible.
Selon un mode de réalisation, à l'étape d), les vias conducteurs sont connectés électriquement à des plots métalliques de connexion du circuit intégré.
Selon un mode de réalisation, le procédé comprend en outre, après l'étape d), une étape de gravure localisée de l'empilement actif de LED de façon à former dans l'empilement actif de LED une pluralité de pavés définissant chacun une LED.
Selon un mode de réalisation, le procédé comprend la formation d'éléments de conversion de couleur au-dessus d'au moins certaines des LED.
Selon un mode de réalisation, au moins une des LED est surmontée d'un élément de conversion photoluminescent adapté à convertir la lumière émise par la LED vers une longueur d'onde visible et au moins une autre des LED est surmontée d'un élément de conversion photoluminescent adapté à convertir la lumière émise par la LED en un rayonnement lumineux dans la gamme de longueurs d'ondes de sensibilité de l'empilement actif de diode photosensible, de préférence un rayonnement infrarouge.
Selon un mode de réalisation, au moins une des LED n'est pas surmontée par un élément de conversion photoluminescent.
Selon un mode de réalisation, les éléments de conversion photoluminescents sont réalisés à base de boîtes quantiques ou de matériaux pérovskites.
Selon un mode de réalisation, le procédé comporte, après l'étape d), une étape de fixation d'un substrat de support temporaire du côté de l'empilement actif de LED opposé au circuit intégré, suivie d'une étape de découpe de l'ensemble comportant le circuit intégré, l'empilement actif de diode photosensible et l'empilement actif de LED en une pluralité de puces élémentaires.
Selon un mode de réalisation, le procédé comporte en outre une étape de transfert et de fixation des puces élémentaire sur un substrat de report du dispositif, puis une étape de retrait du substrat de support temporaire.
Un autre mode de réalisation prévoit un dispositif optoélectronique comportant un substrat de report, et une pluralité de puces élémentaires fixées et connectées électriquement au substrat de report, chaque puce élémentaire comportant un empilement comportant, dans l'ordre à partir de la face supérieure du substrat de report, un circuit intégré de contrôle formé dans et sur un substrat semiconducteur, un étage de photodétection comportant au moins une diode photosensible, et un étage d'émission comportant au moins une LED.
Selon un mode de réalisation, dans chaque puce élémentaire, l'étage de photodétection est disposée entre le circuit intégré de contrôle et l'étage d'émission, et la diode photosensible a une couche semiconductrice de cathode disposée du côté de l'étage d'émission et une couche semiconductrice d'anode disposée du côté du circuit intégré de contrôle.
Un autre mode de réalisation prévoit un système comportant un dispositif optoélectronique réalisé par un procédé tel que défini ci-dessus, et une source lumineuse adaptée à émettre un rayonnement lumineux dans la gamme de longueurs d'ondes de sensibilité de l'empilement actif de diode photosensible, de préférence un rayonnement infrarouge.
Selon un mode de réalisation, la source lumineuse est une source déportée.
Selon un mode de réalisation, la source lumineuse est intégrée au dispositif optoélectronique et comprend au moins une LED formée dans l'empilement actif de LED.
Ces caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres, seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers faite à titre non limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles :
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
les figures 1A, 1B, 1C, 1D, 1E, 1F, 1G, 1H, 1I, 1J, et 1K sont des vues en coupe illustrant des étapes successives d'un exemple d'un procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique selon un mode de réalisation ;
;
;
;
;
;
;
;
les figures 2A, 2B, 2C, 2D, 2E, 2F, et 2G sont des vues en coupe illustrant d'autres étapes successives d'un exemple d'un procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique selon un mode de réalisation ;
la représente de façon schématique un exemple d'un système comprenant un dispositif optoélectronique selon un mode de réalisation ;
la est une vue en coupe illustrant de façon schématique et partielle un autre exemple d'un dispositif optoélectronique selon un mode de réalisation ; et
la est une vue en coupe illustrant de façon schématique et partielle une variante de réalisation du dispositif de la .

Claims (23)

  1. Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique, comportant les étapes suivantes :
    a) disposer un empilement actif de diode photosensible (103) sur un premier substrat (101) ;
    b) disposer un empilement actif de LED (113) sur un deuxième substrat (111) ;
    c) après les étapes a) et b), reporter l'empilement actif de diode photosensible (103) sur l'empilement actif de LED (113), puis retirer le premier substrat (101) ; et
    d) après l'étape c), reporter l'ensemble comportant l'empilement actif de diode photosensible (103) et l'empilement actif de LED (113) sur un circuit intégré de contrôle (151) préalablement formé dans et sur un troisième substrat semiconducteur, puis retirer le deuxième substrat (111).
  2. Procédé selon la revendication 1, comprenant, avant l'étape b), une étape de dépôt d'une couche métallique (115) sur la face de l'empilement actif de LED (113) opposée au deuxième substrat (111).
  3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, dans lequel, à l'étape c), l'empilement actif de diode photosensible (103) est fixé sur l'empilement actif de LED (113) par collage direct.
  4. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel, à l'étape c), lors du report de l'empilement actif de diode photosensible (103) sur l'empilement actif de LED (113), l'empilement actif de diode photosensible (103) s'étend de façon continue sur toute la surface du premier substrat (101) et l'empilement actif de LED (113) s'étend de façon continue sur toute la surface du deuxième substrat (111).
  5. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel l'empilement actif de diode photosensible (103) comprend au moins une couche semiconductrice inorganique, par exemple en un matériau III-V, et dans lequel l'empilement actif de LED (113) comprend au moins une couche semiconductrice inorganique, par exemple en un matériau III-V.
  6. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, dans lequel l'empilement actif de diode photosensible (103) comprend des première (103a), deuxième (103b) et troisième (103c) couches semiconductrices, la deuxième couche (103b) étant disposée entre les première (103a) et troisième (103c) couches, et la troisième couche (103c) étant disposée du côté de l'empilement actif de LED (113) à l'issue de l'étape c).
  7. Procédé selon la revendication 6, comprenant une étape de dopage de type P de portions localisées (125) de la première couche (103a), lesdites portions définissant des régions d'anode de diodes photosensibles (171) du dispositif.
  8. Procédé selon la revendication 7, dans lequel ladite étape de dopage de type P de portions localisées (125) de la première couche (103a) est mise en oeuvre après l'étape c) et avant l'étape d).
  9. Procédé selon la revendication 8, comprenant en outre, après ladite étape de dopage de type P de portions localisées (125) de la première couche (103a) et avant l'étape d), une étape de formation de métallisations de connexion (127) sur et en contact avec lesdites portions localisées (125) de la première couche (103a).
  10. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 9, comprenant en outre, après l'étape c) et avant l'étape d), une étape de formation de vias conducteurs (129) traversant l'empilement actif de diode photosensible (103).
  11. Procédé selon la revendication 10, dans lequel, à l'étape d), les vias conducteurs (129) sont connectés électriquement à des plots métalliques de connexion du circuit intégré (151).
  12. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 11, comprenant en outre, après l'étape d), une étape de gravure localisée de l'empilement actif de LED (113) de façon à former dans l'empilement actif de LED une pluralité de pavés (161) définissant chacun une LED.
  13. Procédé selon la revendication 12, comprenant la formation d'éléments de conversion de couleur (181(a), 181(b)) au-dessus d'au moins certaines des LED (161).
  14. Procédé selon la revendication 13, dans lequel au moins une (161(a)) desdites LED est surmontée d'un élément de conversion photoluminescent (181(a)) adapté à convertir la lumière émise par la LED vers une longueur d'onde visible et au moins une autre (161(b)) desdites LED est surmontée d'un élément de conversion photoluminescent (181(b)) adapté à convertir la lumière émise par la LED en un rayonnement lumineux dans la gamme de longueurs d'ondes de sensibilité de l'empilement actif de diode photosensible, de préférence un rayonnement infrarouge.
  15. Procédé selon la revendication 14, dans lequel au moins une desdites LED (161) n'est pas surmontée par un élément de conversion photoluminescent.
  16. Procédé selon la revendication 14 ou 15, dans lequel lesdits éléments de conversion photoluminescents (181(a), 181(b)) sont réalisés à base de boîtes quantiques ou de matériaux pérovskites.
  17. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 16, comportant, après l'étape d), une étape de fixation d'un substrat de support temporaire (210) du côté de l'empilement actif de LED (113) opposé au circuit intégré (151), suivie d'une étape de découpe de l'ensemble comportant le circuit intégré (151), l'empilement actif de diode photosensible (103) et l'empilement actif de LED (113) en une pluralité de puces élémentaires (232).
  18. Procédé selon la revendication 17, comportant en outre une étape de transfert et de fixation desdites puces élémentaire (232) sur un substrat de report (250) du dispositif, puis une étape de retrait du substrat de support temporaire (210).
  19. Dispositif optoélectronique comportant un substrat de report (250), et une pluralité de puces élémentaires (232) fixées et connectées électriquement au substrat de report (250), chaque puce élémentaire (232) comportant un empilement comportant, dans l'ordre à partir de la face supérieure du substrat de report (250), un circuit intégré de contrôle (151) formé dans et sur un substrat semiconducteur, un étage de photodétection (201) comportant au moins une diode photosensible (171), et un étage d'émission (203) comportant au moins une LED (161).
  20. Dispositif selon la revendication 19, dans lequel, dans chaque puce élémentaire, l'étage de photodétection (201) est disposée entre le circuit intégré de contrôle (151) et l'étage d'émission (203), et dans lequel ladite au moins une diode photosensible (171) a une couche semiconductrice de cathode (103c) disposée du côté de l'étage d'émission (203) et une couche semiconductrice d'anode (103a) disposée du côté du circuit intégré de contrôle (151).
  21. Système comportant un dispositif optoélectronique (300) réalisé par un procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 18, et une source lumineuse adaptée à émettre un rayonnement lumineux dans la gamme de longueurs d'ondes de sensibilité de l'empilement actif de diode photosensible (103), de préférence un rayonnement infrarouge.
  22. Système selon la revendication 21, dans lequel la source lumineuse est une source déportée (310).
  23. Système selon la revendication 21, dans lequel la source lumineuse est intégrée au dispositif optoélectronique (300) et comprend au moins une LED (161(b)) formée dans l'empilement actif de LED (113).
FR2111484A 2021-05-18 2021-10-28 Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique Active FR3123146B1 (fr)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP22172229.1A EP4092736A1 (fr) 2021-05-18 2022-05-09 Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique, dispositif correspondant et système le comprenant
US17/741,713 US12261161B2 (en) 2021-05-18 2022-05-11 Optoelectronic device manufacturing method
CN202210528810.9A CN115377082A (zh) 2021-05-18 2022-05-16 光电器件制造方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR2105156 2021-05-18
FR2105156A FR3123153B1 (fr) 2021-05-18 2021-05-18 Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR3123146A1 true FR3123146A1 (fr) 2022-11-25
FR3123146B1 FR3123146B1 (fr) 2025-07-25

Family

ID=77519197

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR2105156A Active FR3123153B1 (fr) 2021-05-18 2021-05-18 Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique
FR2111484A Active FR3123146B1 (fr) 2021-05-18 2021-10-28 Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR2105156A Active FR3123153B1 (fr) 2021-05-18 2021-05-18 Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique

Country Status (1)

Country Link
FR (2) FR3123153B1 (fr)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3159853B1 (fr) 2024-03-04 2026-01-16 Commissariat Energie Atomique Dispositif optoelectronique comportant une diode electroluminescente superposee a un photodetecteur

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20170155020A1 (en) * 2015-11-30 2017-06-01 Lextar Electronics Corporation Wavelength-converting material and application thereof
EP3667728A1 (fr) * 2018-12-13 2020-06-17 Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives Procédé de réalisation d'un dispositif à diodes photo-émettrices et/ou photo-réceptrices et à grille de collimation auto-alignée
US20210134654A1 (en) * 2010-10-13 2021-05-06 Monolithic 3D Inc. Multilevel semiconductor device and structure with waveguides

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20210134654A1 (en) * 2010-10-13 2021-05-06 Monolithic 3D Inc. Multilevel semiconductor device and structure with waveguides
US20170155020A1 (en) * 2015-11-30 2017-06-01 Lextar Electronics Corporation Wavelength-converting material and application thereof
EP3667728A1 (fr) * 2018-12-13 2020-06-17 Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives Procédé de réalisation d'un dispositif à diodes photo-émettrices et/ou photo-réceptrices et à grille de collimation auto-alignée

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ERIC Z X LIU ET AL: "Recent progress of heterogeneous integration for semiconductor materials and microsystems", SOLID-STATE AND INTEGRATED CIRCUIT TECHNOLOGY, 2006. ICSICT '06. 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON, IEEE, PI, 1 October 2006 (2006-10-01), pages 520 - 523, XP031045635, ISBN: 978-1-4244-0160-4 *
LIU XIAOYAN ET AL: "High-Bandwidth InGaN Self-Powered Detector Arrays toward MIMO Visible Light Communication Based on Micro-LED Arrays", ACS PHOTONICS, 18 December 2019 (2019-12-18), pages 3186 - 3195, XP055870321, Retrieved from the Internet <URL:https://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/acsphotonics.9b00799> [retrieved on 20211207], DOI: 10.1021/acsphotonics.9b00799 *

Also Published As

Publication number Publication date
FR3123153A1 (fr) 2022-11-25
FR3123146B1 (fr) 2025-07-25
FR3123153B1 (fr) 2023-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100707955B1 (ko) 발광 다이오드 및 이의 제조 방법
KR100843787B1 (ko) 발광 소자
US6657236B1 (en) Enhanced light extraction in LEDs through the use of internal and external optical elements
US9196653B2 (en) Pixelated LED
TWI762930B (zh) 光電元件
US20080169479A1 (en) Light-emitting diode
US20100308301A1 (en) Semiconductor light-emitting device
US8624262B2 (en) Light emitting diode
CN1402880A (zh) 加强光放出的微发光二极管数组
US9947827B2 (en) Front-side emitting mid-infrared light emitting diode
US20220238596A1 (en) Micro light emitting diode display device
JP4311173B2 (ja) 半導体発光素子
WO2014141028A1 (fr) Procédé et appareil de création d&#39;un contact réfléchissant poreux
EP4092739B1 (fr) Procédé de fabrication d&#39;un dispositif optoélectronique, dispositif correspondant et système le comprenant
EP4092736A1 (fr) Procédé de fabrication d&#39;un dispositif optoélectronique, dispositif correspondant et système le comprenant
EP4082037A1 (fr) Dispositif pour traitement par laser et procédé de traitement au laser
FR3123146A1 (fr) Procédé de fabrication d&#39;un dispositif optoélectronique
FR3123145A1 (fr) Procédé de fabrication d&#39;un dispositif optoélectronique
FR3126256A1 (fr) Procédé de fabrication d&#39;un dispositif optoélectronique
KR100780175B1 (ko) 발광 다이오드의 제조방법
KR102657311B1 (ko) 반도체 소자
JP2005347700A (ja) 発光素子およびその製造方法
FR3126546A1 (fr) Procédé de fabrication d’un dispositif optoélectronique
JP2018078192A (ja) 半導体装置
KR102571788B1 (ko) 반도체 소자, 발광 소자 및 이를 구비한 조명 장치

Legal Events

Date Code Title Description
PLSC Publication of the preliminary search report

Effective date: 20221125

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 2

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 3

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 4

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 5