FR3143754B1 - Procédé de réglage d’un système d’analyse d’un échantillon par faisceau laser - Google Patents

Procédé de réglage d’un système d’analyse d’un échantillon par faisceau laser

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Abstract

Titre : Procédé de réglage d’un système d’analyse d’un échantillon par faisceau laser L’invention concerne un procédé de réglage d’un système d’analyse (1) d’un échantillon (2) par faisceau laser (3), comprenant les étapes consistant à : émettre un faisceau laser (3),aligner le faisceau laser (3) sur un axe théorique (T), caractérisé en ce que l’étape consistant à aligner le faisceau laser (3) comprend les sous-étapes consistant à : positionner une mire (9) présentant un repère cible (10) entre un miroir orientable (7) et une zone de réception (5), régler l’orientation du miroir orientable (7) pour faire coïncider le faisceau laser (3) avec le repère cible (10) de la mire (9), par contrôle visuel. Figure pour l’abrégé : Fig. 1
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