JP2000077720A - Optical semiconductor device - Google Patents

Optical semiconductor device

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JP2000077720A
JP2000077720A JP10245250A JP24525098A JP2000077720A JP 2000077720 A JP2000077720 A JP 2000077720A JP 10245250 A JP10245250 A JP 10245250A JP 24525098 A JP24525098 A JP 24525098A JP 2000077720 A JP2000077720 A JP 2000077720A
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sealing body
semiconductor chip
light
semiconductor device
groove
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Japanese (ja)
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Hideo Kunii
秀雄 国井
Kiyoshi Takada
清 高田
Akira Ochiai
公 落合
Hiroshi Inoguchi
浩 井野口
Tsutomu Ishikawa
勉 石川
Satoshi Sekiguchi
智 関口
Hiroshi Kobori
浩 小堀
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 発光素子や受光素子の外形をできる限り薄く
し、これを組み込んだモジュールやセットに於いても小
型化を可能とする。 【解決手段】 発光素子、受光素子として半導体チップ
23,24があり、これらを封止する樹脂封止体25
は、光に対して透明となる材料で成る。また光が素子か
ら発光される領域上、光が素子に入射される領域上に
は、溝27が形成され、ここに反射面26を構成する。
その結果光は側面Eを介して、射出・入射が可能とな
る。さらに、反射面の上部には、斜面30が設けられて
いるので、強度が高い。
(57) [Problem] To make the outer shape of a light emitting element or a light receiving element as thin as possible, and to reduce the size of a module or set incorporating the same. SOLUTION: There are semiconductor chips 23 and 24 as a light emitting element and a light receiving element, and a resin sealing body 25 for sealing them.
Is made of a material that is transparent to light. Further, a groove 27 is formed on a region where light is emitted from the element and on a region where light is incident on the element, and the reflection surface 26 is formed here.
As a result, light can be emitted and incident through the side surface E. Furthermore, since the slope 30 is provided above the reflection surface, the strength is high.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光半導体装置およ
びこれを実装した光半導体モジュールに関するもので、
特に光半導体装置の構造を薄くし、この薄い側面から光
を射出(または入射)させるものであり、これらを用い
た機器の小型化・薄型化を実現するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical semiconductor device and an optical semiconductor module mounting the same.
In particular, the structure of the optical semiconductor device is made thinner, and light is emitted (or made incident) from the thinner side surface, thereby realizing miniaturization and thinning of a device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近、サブノートパソコン、携帯情報端
末、電子スチルカメラ等のマルチメディア機器がめざま
しい発展を遂げている。
2. Description of the Related Art Recently, multimedia equipment such as a sub-notebook personal computer, a portable information terminal, and an electronic still camera has been remarkably developed.

【0003】しかも携帯機器は、年間700万台も販売
され、約8割がIrDA(InfraredData Association)規
格の赤外線方式を採用している。つまり外部機器と本体
との赤外線信号を介した送受信が必要で、そこには、赤
外線を発光する発光素子、赤外線を受光する受光素子が
必要となってくる。
[0003] Moreover, 7 million portable devices are sold annually, and about 80% adopt the infrared system of the IrDA (InfraredData Association) standard. That is, transmission / reception between the external device and the main body via an infrared signal is required, and a light emitting element that emits infrared light and a light receiving element that receives infrared light are required.

【0004】またMDやCD等の光学式記録再生装置で
用いられる光学ヘッドは、光学記録媒体へビームを照射
して光学記録媒体からの変調されたビームを検出するこ
とにより、情報の記録や再生を行う。やはりここでも発
光素子、受光素子が必要となってくる。
An optical head used in an optical recording / reproducing apparatus such as an MD or a CD irradiates a beam onto an optical recording medium to detect a modulated beam from the optical recording medium, thereby recording and reproducing information. I do. Also here, a light emitting element and a light receiving element are required.

【0005】しかしこれら発光素子、受光素子は、小型
化が実現されていない。例えば、図5は、特公平7−2
8085号公報の技術を説明するもので、半導体レーザ
1が半導体基板2に直接配置され、断面形状が台形のプ
リズム3が半導体基板2に固定されている。なお図番4
は、光学記録媒体である。半導体レーザ1と対向してい
るプリズム3の傾斜面5は半透過反射面で、半導体基板
2と対接しているプリズム面6は、光検出器(受光素
子)7以外の部分が、また面6と対向しているプリズム
面8は、共に反射面となっている。
However, these light emitting elements and light receiving elements have not been reduced in size. For example, FIG.
The technique described in Japanese Patent Application Publication No. 8085 is described in which a semiconductor laser 1 is directly disposed on a semiconductor substrate 2 and a prism 3 having a trapezoidal cross section is fixed to the semiconductor substrate 2. Figure number 4
Is an optical recording medium. The inclined surface 5 of the prism 3 facing the semiconductor laser 1 is a semi-transmissive reflecting surface, and the prism surface 6 in contact with the semiconductor substrate 2 has a portion other than the photodetector (light receiving element) 7. The prism surfaces 8 facing each other are reflection surfaces.

【0006】半導体レーザ1から発光され、傾斜面5か
らプリズム3に入射したビーム9は、反射面6と8で反
射されてから、光検出器7で検出される。
A beam 9 emitted from the semiconductor laser 1 and incident on the prism 3 from the inclined surface 5 is reflected by the reflecting surfaces 6 and 8 and detected by the photodetector 7.

【0007】一方、図6は、赤外線データ通信モジュー
ル11で、赤外線LED、LEDドライバ、PINフォ
トダイオード、アンプ等が内蔵されている。例えば基板
に前記LED12が実装され、ここから射出される光
は、レンズ13を介して外部へ放出される。また前記基
板に実装されたフォトダイオード14には、レンズ15
を介してモールド11内に入射される。
FIG. 6 shows an infrared data communication module 11, which includes an infrared LED, an LED driver, a PIN photodiode, an amplifier, and the like. For example, the LED 12 is mounted on a substrate, and light emitted from the LED 12 is emitted to the outside via the lens 13. The photodiode 14 mounted on the substrate has a lens 15
And enters the mold 11.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】前述のモジュールに於
いて、図5では半導体基板の上方に光学機器が実装され
るため、非常に高度な技術が必要となり、価格も高価と
なる問題があった。また図6では、モールド体の上で光
の出し入れが必要となり、対向位置にもう一つの光半導
体装置をセットする必要があるため、これらを組み込ん
だセットは、厚みを有し小型化が実現できない問題があ
った。
In the above-mentioned module, since the optical device is mounted above the semiconductor substrate in FIG. 5, there is a problem that a very advanced technique is required and the price is high. . In FIG. 6, light needs to be put in and out of the mold body, and it is necessary to set another optical semiconductor device at the opposing position. Therefore, a set incorporating these has a thickness and cannot be miniaturized. There was a problem.

【0009】また図4で光の出し入れを水平方向にしよ
うとすれば、図7のように光半導体装置11のリード1
6を90度に折り曲げなければ成らず、リード11の曲
げ方によってはこの光半導体装置11の位置固定、安定
性に問題があった。
In FIG. 4, if light is to be taken in and out in the horizontal direction, the lead 1 of the optical semiconductor device 11 must be connected as shown in FIG.
6 must be bent at 90 degrees, and depending on how the lead 11 is bent, there is a problem in fixing the position and stability of the optical semiconductor device 11.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は前述の課題に鑑
みて成され、受光面もしくは/及び発光面を有する半導
体チップと、前記半導体チップを封止する封止体と、前
記封止体の前記半導体チップに対向する面に設けられた
溝と、前記溝に設けられる前記受光面もしくは発光面の
垂線と所定角度で交差する反射面とを有するので、光の
光路は、前記反射面を介して前記封止体の側面から射出
される事で課題を解決し、前記反射面の、前記受光面へ
の光路上にない部分の一部は、前記反射面の所定角度よ
りも、前記受光面の垂線との成す角が小さい光半導体装
置である。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the aforementioned problems, and has a semiconductor chip having a light receiving surface and / or a light emitting surface, a sealing member for sealing the semiconductor chip, and the sealing member. A groove provided on a surface facing the semiconductor chip, and a reflecting surface intersecting a perpendicular line of the light receiving surface or the light emitting surface provided at the groove at a predetermined angle, so that an optical path of light passes through the reflecting surface. The problem is solved by being ejected from the side surface of the sealing body via the sealing member, and a part of the reflection surface, which is not on the optical path to the light receiving surface, is more than the predetermined angle of the reflection surface. The optical semiconductor device has a small angle with respect to the perpendicular of the surface.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図1を参照しながら説明する。図1(A)は光半導
体装置の平面図、(B)は前記平面図のA−A線に於け
る断面図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. FIG. 1A is a plan view of the optical semiconductor device, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line AA of the plan view.

【0012】まずリードフレームがある。このリードフ
レームは、アイランド21とリード22により構成さ
れ、例えばCuより成り、この上に発光部となる半導体
チップ23、受光部となる半導体チップ24が半田等の
固着手段を介して固定されている。
First, there is a lead frame. This lead frame is composed of islands 21 and leads 22 and is made of, for example, Cu, on which a semiconductor chip 23 serving as a light emitting unit and a semiconductor chip 24 serving as a light receiving unit are fixed via fixing means such as solder. .

【0013】また半導体チップ23は、例えば赤外LE
D、レーザ等の発光素子であり、駆動回路が一体になっ
ていても良い。赤外線LEDの光は、チップの上面から
上に出るため図1のようにアイランド21に水平に配置
される。
The semiconductor chip 23 is, for example, an infrared LE.
D, a light emitting element such as a laser, and a driving circuit may be integrated. Since the light of the infrared LED is emitted upward from the upper surface of the chip, it is arranged horizontally on the island 21 as shown in FIG.

【0014】また半導体チップ24は、受光素子として
のフォトセンサであり、PINダイオード等であり、や
はりこのPINダイオードの駆動回路が一体のものでよ
いし、更にはLEDやレーザの駆動回路が一体で構成さ
れても良い。
The semiconductor chip 24 is a photosensor as a light receiving element, and is a PIN diode or the like. A driving circuit for the PIN diode may be integrated, and a driving circuit for an LED or a laser may be integrated. It may be configured.

【0015】これらの半導体チップ23、24の周囲に
は、ボンディングパッドが形成され、これに対応して、
チップの周囲から外部へ複数のリード22が延在され、
ボンディングパッドとリード22の間を金属細線で接続
している。
A bonding pad is formed around these semiconductor chips 23 and 24.
A plurality of leads 22 extend from the periphery of the chip to the outside,
The bonding pad and the lead 22 are connected by a thin metal wire.

【0016】リードの先端および半導体チップは、例え
ば透明なエポキシ樹脂のような、光に対して透明な封止
体25で封止されている。ここで封止材としては光に対
して透明で有ればよく、材料は特に選ばない。またLE
Dでは、一般的に発光する光は、赤外線であるので、少
なくともこの赤外線を透過する材質であればよい。つま
り所定の光に対して少なくとも透過であれば良い。そし
てこの封止体25には、反射面26を持つ溝27が設け
られている。
The tips of the leads and the semiconductor chip are sealed with a sealing body 25 that is transparent to light, such as a transparent epoxy resin. Here, the sealing material only needs to be transparent to light, and the material is not particularly limited. Also LE
In D, generally, the emitted light is infrared light, so that any material that transmits at least this infrared light may be used. That is, it is sufficient that the light transmits at least the predetermined light. The sealing body 25 has a groove 27 having a reflection surface 26.

【0017】本発明の特徴は、前記反射面26にあり、
この反射面は封止体25に溝27を形成することで構成
され、側面Eから入射した光は、反射面26によって反
射され、半導体チップ24に入射する。これにより矢印
で示すように封止体25の側面Eから光の射出、側面E
への入射が可能となる。
A feature of the present invention resides in the reflection surface 26,
This reflection surface is formed by forming a groove 27 in the sealing body 25, and light incident from the side surface E is reflected by the reflection surface 26 and enters the semiconductor chip 24. As a result, light is emitted from the side surface E of the sealing body 25 and the side
Incident on the light source.

【0018】一般には、発光部や受光部を構成する半導
体チップは、この上に、プリズムやレンズを構成して光
半導体装置となるため、これを使用したモジュールやセ
ットは、セット自身の縦方向の厚みが厚くなり、しかも
この上や周辺に光学機器が配置されるため、薄型・小型
が難しかった。しかし封止体の溝27の一部分である反
射面26により、封止体25の側面Eから光の出し入れ
が可能となるため、プリズムは不要であるし、レンズ2
9が必要で有れば、この側面Eに形成できる。従って装
置自身の厚みを薄くすることができる。
In general, a semiconductor chip constituting a light-emitting section and a light-receiving section constitutes an optical semiconductor device by forming a prism and a lens on the semiconductor chip. However, since the optical device becomes thicker and optical devices are arranged on and around the device, it is difficult to make the device thinner and smaller. However, the reflecting surface 26 which is a part of the groove 27 of the sealing body allows light to enter and exit from the side surface E of the sealing body 25, so that no prism is required and the lens 2
9 can be formed on this side E if needed. Therefore, the thickness of the device itself can be reduced.

【0019】前記リードフレーム22はCuより成り、
厚さは、約0.125mmで、半導体チップの厚みは、
例えば250〜300μm程度である。また封止体25
は、例えば透明なエポキシ材料で、全体の厚みは、約1
mm〜1.5mmである。当然チップの厚みが薄くなれ
ば、更に薄くできる事は言うまでもない。
The lead frame 22 is made of Cu,
The thickness is about 0.125mm, and the thickness of the semiconductor chip is
For example, it is about 250 to 300 μm. In addition, the sealing body 25
Is a transparent epoxy material, for example, and the overall thickness is about 1
mm to 1.5 mm. It goes without saying that if the thickness of the chip is reduced, it can be further reduced.

【0020】このような封止体25の形状は、例えばト
ランスファーモールドやインジェクションなど、金型を
用いた樹脂封止を行い、この際に溝27のモールドを形
成した金型を用いて作ることができる。
The shape of the sealing body 25 can be formed by performing resin sealing using a mold such as transfer molding or injection and using a mold in which a groove 27 is formed at this time. it can.

【0021】反射面26の角度は例えば半導体チップの
垂線に対して45゜であれば横から入射した光を半導体
チップに垂直にすることができる。しかし、円Bで示し
た反射面の端部は、光半導体装置の端部であるため、強
度が弱く、ここがかけてしまう恐れがある。
If the angle of the reflecting surface 26 is, for example, 45 ° with respect to a perpendicular line of the semiconductor chip, light incident from the side can be made perpendicular to the semiconductor chip. However, since the end of the reflection surface indicated by the circle B is the end of the optical semiconductor device, the intensity is low, and there is a possibility that the end is applied.

【0022】そこで、図2に示すように、反射面26の
うちで、半導体チップ23の受光面への光路上にない部
分に、反射面26よりも急峻な角度をもつ斜面30を形
成するとよい。これによって、反射面26の端部の封止
体の肉厚を増すことができるので、光半導体装置の強度
が増す。また、光半導体装置の上面に平坦部28を形成
することができるので、光半導体装置をサーキットボー
ドに設置する際などの作業性が向上する。
Therefore, as shown in FIG. 2, a slope 30 having a steeper angle than the reflection surface 26 may be formed in a portion of the reflection surface 26 which is not on the optical path to the light receiving surface of the semiconductor chip 23. . Thereby, the thickness of the sealing body at the end of the reflection surface 26 can be increased, and the strength of the optical semiconductor device is increased. Further, since the flat portion 28 can be formed on the upper surface of the optical semiconductor device, workability when the optical semiconductor device is installed on a circuit board is improved.

【0023】ところで、金型を用いて溝27を形成する
と、樹脂と金型が密着し、光半導体装置を金型から脱離
する時に光半導体装置が破損する恐れがある。これを防
止するために、斜面30は、光半導体装置の垂線に対し
て12゜程度の傾斜を持たせる必要がある。通常の樹脂
の抜きテーパは一般的に5゜程度であるが、透明樹脂の
粘度の都合から、少なくとも10゜以上であることが望
ましい。もちろん角度が大きく、即ち斜面が緩やかにな
れば、より離型性はよくなるが、その分平坦部28が狭
くなり、光半導体装置の強度は落ちる。
If the groove 27 is formed by using a mold, the resin and the mold come into close contact with each other, and the optical semiconductor device may be damaged when the optical semiconductor device is detached from the mold. In order to prevent this, it is necessary that the slope 30 has an inclination of about 12 ° with respect to a perpendicular to the optical semiconductor device. The draft taper for ordinary resin is generally about 5 °, but is preferably at least 10 ° or more from the viewpoint of the viscosity of the transparent resin. Of course, if the angle is large, that is, if the slope is gentle, the releasability will be better, but the flat part 28 will be narrowed accordingly, and the strength of the optical semiconductor device will be reduced.

【0024】上述したように、側面Eにはレンズ29を
形成することができる。レンズ29を封止体と一体で形
成すると、レンズの厚みの分だけ肉厚が増すので、レン
ズ29の厚みが大きいところは強度が高い。従って、レ
ンズ29が形成されないもしくはレンズ29が薄い側面
Eの領域は、特に強度の増強が必要である。また、本実
施形態の光半導体装置は、反射面として封止体の厚さの
半分程度の溝27を形成する。ところが、このような構
造であると外力が加わった際に、溝27の底部を中心に
光半導体装置が割れるおそれがある。そこで、図3に示
したように、溝27のレンズ29が形成されていない、
もしくはレンズ29が薄く、強度の弱い領域に壁体32
を形成する。この構造であれば、さらに光半導体装置の
強度が増し、また、壁体32が支柱となって、光半導体
装置が割れることを防止できる。このとき、壁体32の
位置は、半導体チップ23、24の直上でないことが望
ましい。壁体32の位置には反射面が形成されず、半導
体チップ13に入射する、もしくは半導体チップ24か
ら発射する光量が減少するためである。
As described above, the lens 29 can be formed on the side surface E. When the lens 29 is formed integrally with the sealing body, the thickness is increased by the thickness of the lens, and therefore, where the thickness of the lens 29 is large, the strength is high. Therefore, in the region where the lens 29 is not formed or the side surface E where the lens 29 is thin, the strength needs to be particularly increased. Further, in the optical semiconductor device of the present embodiment, the groove 27 having a thickness of about half the thickness of the sealing body is formed as the reflection surface. However, with such a structure, when an external force is applied, the optical semiconductor device may be broken around the bottom of the groove 27. Therefore, as shown in FIG. 3, the lens 29 of the groove 27 is not formed.
Alternatively, the wall 32 may be located in an area where the lens 29 is thin and weak.
To form With this structure, the strength of the optical semiconductor device is further increased, and the optical semiconductor device can be prevented from being broken by the wall 32 serving as a support. At this time, it is desirable that the position of the wall body 32 is not immediately above the semiconductor chips 23 and 24. This is because no reflecting surface is formed at the position of the wall 32, and the amount of light incident on the semiconductor chip 13 or emitted from the semiconductor chip 24 decreases.

【0025】図4に示すように、さらに斜面30を形成
してもよい。斜面30によって、上面28の肉厚が増
し、レンズ29が形成されていない領域に壁体32が形
成されているので、より高い強度を実現できる。
As shown in FIG. 4, a slope 30 may be further formed. The slope 30 increases the thickness of the upper surface 28 and the wall 32 is formed in a region where the lens 29 is not formed, so that higher strength can be realized.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明によれば、受光面または発光面を
有する半導体チップと、これを封止する封止体と、封止
体の上面に設けられた反射面を有する溝とを有するの
で、光半導体装置を小型化でき、さらに、前記反射面
の、前記受光面への光路上にない部分の一部は、前記反
射面の所定角度よりも、前記受光面の垂線との成す角が
小さいので、光半導体装置の上面の面積を確保でき、光
半導体装置の強度を増すことができる。
According to the present invention, a semiconductor chip having a light receiving surface or a light emitting surface, a sealing member for sealing the semiconductor chip, and a groove having a reflecting surface provided on the upper surface of the sealing member are provided. The optical semiconductor device can be reduced in size, and furthermore, a part of the reflection surface, which is not on the optical path to the light receiving surface, has an angle formed by a perpendicular to the light receiving surface more than a predetermined angle of the reflection surface. Since it is small, the area of the upper surface of the optical semiconductor device can be secured, and the strength of the optical semiconductor device can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図5】従来の光半導体装置と光学機器を組んだ概略図
である。
FIG. 5 is a schematic view of a conventional optical semiconductor device and an optical device assembled.

【図6】従来の光半導体装置の概略図である。FIG. 6 is a schematic view of a conventional optical semiconductor device.

【図7】従来の光半導体装置をサーキットボードに取り
付けた図である。
FIG. 7 is a diagram in which a conventional optical semiconductor device is mounted on a circuit board.

フロントページの続き (72)発明者 落合 公 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 井野口 浩 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 石川 勉 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 関口 智 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 小堀 浩 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 Fターム(参考) 5F041 AA47 DA13 DA17 DA44 DA57 EE11 FF14 Continuation of the front page (72) Ko Ochiai 2-5-2-5 Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka Sanyo Electric Co., Ltd. (72) Inventor Hiroshi Inoguchi 2-5-2-5 Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka Inside Sanyo Electric Co., Ltd. (72) Inventor Tsutomu Ishikawa 2-5-2-5 Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka Prefecture Inside Sanyo Electric Co., Ltd. (72) Inventor Satoshi 2-5-2 Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka Prefecture No. 5 Sanyo Electric Co., Ltd. (72) Inventor Hiroshi Kobori 2-5-5 Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka F-term in Sanyo Electric Co., Ltd. 5F041 AA47 DA13 DA17 DA44 DA57 EE11 FF14

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 受光面を有する半導体チップと、前記半
導体チップを封止する封止体と、前記封止体の前記半導
体チップに対向する面に設けられた溝と、前記溝に設け
られる前記受光面の垂線と所定角度で交差する反射面と
を有し、前記反射面の、前記受光面への光路上にない部
分の一部は、前記反射面の所定角度よりも、前記受光面
の垂線との成す角が小さいことを特徴とする光半導体装
置。
1. A semiconductor chip having a light receiving surface, a sealing body for sealing the semiconductor chip, a groove provided on a surface of the sealing body facing the semiconductor chip, and a groove provided on the groove. It has a reflective surface that intersects a perpendicular to the light receiving surface at a predetermined angle, and a part of the reflective surface that is not on the optical path to the light receiving surface is more than the predetermined angle of the reflective surface, An optical semiconductor device characterized by having a small angle with a vertical line.
【請求項2】 発光面を有する半導体チップと、前記半
導体チップを封止する封止体と、前記封止体の前記半導
体チップに対向する面に設けられた溝と、前記溝に設け
られる前記発光面の垂線と所定角度で交差する反射面と
を有し、前記反射面の、前記発光面への光路上にない部
分の一部は、前記反射面の所定角度よりも、前記発光面
の垂線との成す角が小さいことを特徴とする光半導体装
置。
2. A semiconductor chip having a light emitting surface, a sealing body for sealing the semiconductor chip, a groove provided on a surface of the sealing body facing the semiconductor chip, and a groove provided on the groove. It has a reflecting surface that intersects a perpendicular line of the light emitting surface at a predetermined angle, and a part of the reflecting surface that is not on the optical path to the light emitting surface is more than a predetermined angle of the reflecting surface. An optical semiconductor device characterized by having a small angle with a vertical line.
【請求項3】 受光面を有する半導体チップと、前記半
導体チップを封止する封止体と、前記封止体の側面に、
前記封止体に一体で設けられたレンズと、前記封止体の
前記半導体チップに対向する面に設けられた溝と、前記
溝に設けられる前記受光面の垂線と所定角度で交差する
反射面とを有し、前記封止体の前記レンズが形成された
側面の、前記レンズが形成されていない領域に対向する
前記溝には、壁体が形成されていることを特徴とする光
半導体装置。
3. A semiconductor chip having a light receiving surface, a sealing body for sealing the semiconductor chip, and a side face of the sealing body.
A lens provided integrally with the sealing body, a groove provided on a surface of the sealing body facing the semiconductor chip, and a reflecting surface intersecting a perpendicular to the light receiving surface provided at the groove at a predetermined angle. An optical semiconductor device, characterized in that a wall is formed in the groove facing a region where the lens is not formed on a side surface of the sealing body on which the lens is formed. .
【請求項4】 発光面を有する半導体チップと、前記半
導体チップを封止する封止体と、前記封止体の側面に、
前記封止体に一体で設けられたレンズと、前記封止体の
前記半導体チップに対向する面に設けられた溝と、前記
溝に設けられる前記発光面の垂線と所定角度で交差する
反射面とを有し、前記封止体の前記レンズが形成された
側面の、前記レンズが形成されていない領域に対向する
前記溝には、壁体が形成されていることを特徴とする光
半導体装置。
4. A semiconductor chip having a light emitting surface, a sealing body for sealing the semiconductor chip, and a side face of the sealing body,
A lens provided integrally with the sealing body, a groove provided on a surface of the sealing body facing the semiconductor chip, and a reflecting surface intersecting a perpendicular to the light emitting surface provided at the groove at a predetermined angle. An optical semiconductor device, characterized in that a wall is formed in the groove facing a region where the lens is not formed on a side surface of the sealing body on which the lens is formed. .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE10131698A1 (en) * 2001-06-29 2003-01-30 Osram Opto Semiconductors Gmbh Surface-mountable radiation-emitting component and method for its production
JP2013165258A (en) * 2012-01-10 2013-08-22 Rohm Co Ltd Led module

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