JP2000213921A - 画像認識装置および画像認識方法 - Google Patents
画像認識装置および画像認識方法Info
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Abstract
ることができる画像認識装置および画像認識方法を提供
することを目的とする。 【解決手段】 認識対象物である認識マークの画像をカ
メラ11で取り込み、取得した画像データを画像記憶部
30aに記憶させ、予めパターン記憶部30bに記憶さ
れた認識マークの見え方がそれぞれ異る複数のリファレ
ンスパターンの1つと画像データをパターンマッチング
させてマッチング率を求め、求められたマッチング率の
合否判定を行う。マッチング率が不合格ならば順次他の
リファレンスパターンとのパターンマッチングを行い、
マッチング率が所定値以上のリファレンスパターンとの
照合結果に基づいて認識マークの位置を検出する。これ
により、同一対象物が単に見え方が異なることによる認
識エラーを減少させて認識精度を向上させることができ
る。
Description
を取り込んで画像認識を行う画像認識装置および画像認
識方法に関するものである。
査や位置検出などの目的で認識対象物を画像で取り込み
画像認識を行う方法が多用されている。この画像認識の
手法の1つとして、パターンマッチングングが広く用い
られる。このパターンマッチングングでは、予め認識対
象物の典型画像をリファレンスパターンとして記憶させ
ておき、カメラで取得した認識対象物の画像をこのリフ
ァレンスパターンと対比照合し、マッチング率を求める
ことにより認識対象物であるか否かを判断するものであ
る。そして、このパターンマッチングングは、基板や電
子部品の位置検出に広く応用されており、基板や電子部
品には位置検出用の認識マークが形成される。
ル基板など、撓み易いものに形成された認識マークが認
識対象物であるような場合には、画像認識に際し以下の
ような困難があった。まず、認識対象物の良好な画像を
取得するため、認識対象物周囲を照明することが行われ
るが、認識マークが形成された面が撓んでいる場合に
は、照明光が反射される方向は撓みの状態によって異
り、カメラで撮像して得られた画像上では大きな明暗差
が生じる。このため得られた画像データをリファレンス
パターンとパターンマッチングさせたときには、本来正
しい認識マークであるにも拘らずマッチング率が低くな
り、認識エラーを生ずる場合がある。
も、画像上での認識マーク周辺の背景に差異があるよう
な場合、さらには認識対象物の表面が経時的に変質する
ような場合(例えば金属表面の酸化など)にも、同様の
認識エラーを生じる場合がある。このように、従来の画
像認識装置では、認識マークそのものは同一であって
も、撮像された画像上で見え方が異ることに起因する認
識エラーにより認識精度が低く、その都度照明の調整な
どの対応を必要として装置稼働率を低下させる一要因と
なっていた。
置稼働率を向上させることができる画像認識装置および
画像認識方法を提供することを目的とする。
装置は、認識対象物の画像を取り込むカメラと、このカ
メラで取得した画像データを記憶する画像記憶部と、前
記認識対象物の見え方がそれぞれ異る複数のリファレン
スパターンを記憶するパターン記憶部と、前記記憶され
た画像データを前記複数のリファレンスパターンとパタ
ーンマッチングさせることにより前記認識対象物を認識
する画像処理部と、この画像処理部によって求められた
マッチング率の合否判定を行い、マッチング率が不合格
ならば順次他のリファレンスパターンとのパターンマッ
チングを指令する判定手段とを備えた。
物の画像をカメラで取り込み、取得した画像データを画
像記憶部に記憶させ、予めパターン記憶部に記憶された
前記認識対象物の見え方がそれぞれ異る複数のリファレ
ンスパターンの1つと前記画像データをパターンマッチ
ングさせてマッチング率を求め、求められたマッチング
率の合否判定を行い、マッチング率が不合格ならば順次
他のリファレンスパターンとのパターンマッチングを行
う。
象物について見え方が異る複数のリファレンスパターン
を予め記憶させておき、1つのリファレンスパターンと
のパターンマッチングによって認識エラーを生じたなら
ば、順次他のリファレンスパターンとパターンマッチン
グさせることにより、同一認識対象物が単に見え方が異
なることによる認識エラーを減少させることができる。
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態のボン
ディング装置の側面図、図2は同基板およびサブ基板の
平面図、図3、図4、図5は同ボンディング装置の部分
断面図、図6は同ボンディング装置の制御系のブロック
図、図7は同リファレンスパターンの画像図、図8は同
ボンディング装置の動作を示すフロー図、図9は同画像
認識処理のフロー図である。
が組み込まれたボンディング装置の構造を説明する。図
1において基台1には第1のXYθテーブル2が配設さ
れている。第1のXYθテーブル2はXテーブル2A、
Yテーブル2Bおよびθテーブル2Cを段積みして構成
されている。θテーブル2C上には主基板保持テーブル
3が装着されており、主基板保持テーブル3は主基板4
を吸着して保持する。
の端部には、第2のXYθテーブル5が配設されてい
る。第2のXYθテーブル5はXテーブル5A、Yテー
ブル5Bおよびθテーブル5Cを段積みして構成されて
おり、θテーブル5C上にはサブ基板保持テーブル6が
装着されている。サブ基板保持テーブル6はフレキシブ
ル基板8が予め接続されたサブ基板7を吸着して保持す
る。
θテーブル5を駆動することにより、主基板4の縁部に
対してフレキシブル基板8の端部を位置合せすることが
できる。第1のXYθテーブル2および第2のXYθテ
ーブル5の間には、撮像部9が配設されている。基台1
上に配設されたカメラ移動手段としてのカメラXYテー
ブル10上には、カメラ11が装着されている。カメラ
11に備えられた鏡筒14には同軸照明部12およびリ
ング照明部13が備えられている。カメラXYテーブル
10を駆動することにより、カメラ11は水平方向に移
動し、同軸照明部12およびリング照明部13によって
フレキシブル基板8の下面を照明された状態で、フレキ
シブル基板8に設けられた認識マークを撮像する。
配設されている。XYテーブル15はXテーブル15A
およびYテーブル15Bを重ねて構成されており、Xテ
ーブル15Aの下面には移動ブロック16が装着されて
いる。移動ブロック16には圧着ツール18を備えた圧
着ヘッド17が固着されており、移動ブロック16に立
設された棒状のブラケットの下端部には透過照明部19
が装着されている。透過照明部19が主基板4の縁部の
上方に位置した状態で上方より主基板4を照明し、主基
板4の下方よりカメラ11で撮像すると、主基板4の上
面の認識マークを撮像する。また、主基板4の縁部上に
フレキシブル基板8の端部を位置合せした状態で圧着ツ
ール18をフレキシブル基板8の端部に押圧することに
より、フレキシブル基板8は主基板4にボンディングさ
れる。
ル基板8のボンディング部の詳細について説明する。図
2において、主基板4の縁部には、多数の端子電極20
が列状に形成され、端子列20Aを構成している。それ
ぞれの端子列20Aの両側には、それぞれ主基板4の位
置認識用の認識対象物である第1の認識マーク22のA
点およびB点が設けられている。主基板4の上面には、
縁部に沿ってテープ状の異方性導電材21が貼付されて
いる。ここで、異方性導電材21は本来端子列20Aの
範囲のみに貼付されればよいものであるが、貼付時に連
続したテープを複数の端子列20A上に一括して貼付す
る方法が採用されているため、図2において最上部に示
す第1の認識マーク22上には異方性導電材21は貼付
されず、その他の位置の第1の認識マーク22上には異
方性導電材21が貼付されている。
の端子列20Aの配列ピッチに対応して、同様に多数の
端子電極23によって端子列23Aが構成されている。
また端子列23Aの両側のフレキシブル基板8の下面に
は、フレキシブル基板8の位置認識用の認識対象物であ
る第2の認識マーク24が形成されている。
ーク24を認識することにより、主基板4およびフレキ
シブル基板8の位置がそれぞれ認識される。したがっ
て、第1の認識マーク22および第2の認識マーク24
を認識することにより、端子列20Aと端子列23Aの
位置ずれ量を求めることができ、この位置ずれ量に基づ
いて第2のXYθテーブル5を駆動することにより、端
子列23Aを端子列20Aに正確に位置合せすることが
できる。
する。図3において、XYテーブル10に装着されたカ
メラ11は鏡筒14を備えている。鏡筒14の側面には
同軸照明部12が設けられており、同軸照明部12を発
光させることにより、照明光はハーフミラー12aによ
り上方に反射され、カメラ11の上方に位置する対象物
を同軸方向(矢印a)から照明する。鏡筒14の上端部
にはリング照明部13が鏡筒14の周囲をリング状に取
り囲んで装着されている。リング照明部13を発光させ
ることにより、カメラ11の上方の対象物を斜下方(矢
印b)から照明する。
せ、同軸照明部12およびリング照明部13を発光した
状態で、カメラ11はフレキシブル基板8の下面の第2
の認識マーク24を撮像する。また撮像部9を撮像位置
Bに位置させ、透過照明部19をこの撮像位置Bの上方
に位置させた状態でカメラ11により主基板4を撮像す
ることにより、主基板4の上面に形成された第1の認識
マーク22(図2)を撮像する。なお、図3においては
フレキシブル基板8が撮像位置Bの主基板4の上方に重
なっているが、第1の認識マーク22の位置にはフレキ
シブル基板8は存在せず、したがって透過照明を阻害し
ない。
御系の構成について説明する。図6においてカメラ11
には画像処理部30が接続されている。画像処理部30
は取得された画像データを、予め記憶された認識マーク
の見え方の異なる複数のリファレンスパターンとパター
ンマッチングさせることにより、第1の認識マーク22
および第2の認識マーク24の認識を行い、位置を検出
する。
およびパターン記憶部30bが設けられており、画像記
憶部30aはカメラ11で所得した画像データを記憶
し、パターン記憶部30bは前記複数のリファレンスパ
ターンを記憶する。
透過照明部19は照明コントローラ31に接続されてい
る。照明コントローラ31は後述の制御部からの指令に
従って各照明部のON−OFFおよび明るさの制御を行
う。制御部32はCPUであり、ボンディング装置全体
の動作制御や位置補正演算などを行うほか、判定手段と
してマッチング率の合否判定処理を行う。すなわち、画
像処理部30によって求められたマッチング率が所定値
以上であるか否かを判定し、所定値に満たなければ不合
格と判定して他のリファレンスパターンとのパターンマ
ッチングを指令する。記憶部33は検出された認識マー
クの位置座標データや位置補正データを記憶する。
ーブル5、XYテーブル15、カメラXYテーブル10
はモータ駆動部34によって駆動される。モニター35
は認識エラー表示などの報知および操作・入力画面を表
示する。操作・入力部36はキーボードであり、一般の
操作コマンドや新たなリファレンスパターンの入力操作
を行う。
ーブル10,カメラ11,画像処理部30,リング照明
部13,同軸照明部12,透過照明部19,照明コント
ローラ31,制御部32,記憶部33が画像認識装置を
構成している。
されており、以下動作について図8のフローに沿って説
明する。まず図1において主基板保持テーブル3上に主
基板4が載置され、主基板4の第1の認識マーク22の
A点、B点をカメラ11により撮像する。このとき、図
4、図5に示すように、透過照明部19を撮像対象の第
1の認識マーク22上に位置させ、またカメラ11を第
1の認識マーク22の下方に位置させ、上方から透過照
明光を照射した状態で第1の認識マーク22のA点、B
点を順次撮像する(ST1)。
方性導電材21が貼付された状態を、図5は異方性導電
材21が貼付されていない状態を示している。図5は、
図2に示す最上部の第1の認識マーク22に対応してお
り、図4はそれ以外の第1の認識マーク22に対応して
いる。このように、同一の認識対象物である第1の認識
マーク22を同一の照明条件で撮像した場合でも、異方
性導電材21の貼付の有無によって、得られる画像は第
1の認識マーク22の背景画像が異なる明度で観察され
る。
基づき第1の認識マーク22のA点、B点の認識処理を
行い(ST2)、この認識結果により主基板4の位置ズ
レを求める(ST3)。そしてこの位置ズレ検出結果に
基づき、第1のXYθテーブル2を駆動して主基板4の
位置を補正する(ST4)。
てフレキシブル基板8の端部を主基板4の縁部に重ね合
せ、サブ基板7を主基板4に対して仮位置決めする。次
いで図3に示すようにカメラXYテーブル10を駆動し
てカメラ11をフレキシブル基板8の第2の認識マーク
24の下方に位置させ、第2の認識マーク24のA点、
B点を撮像する(ST6)。次いで、取得された画像デ
ータを認識処理し(ST7)、第2の認識マーク24の
位置を検出する。そして主基板4に対するフレキシブル
基板8の位置ズレを求め(ST8)、この位置ズレ検出
結果に基づき、第2のXYθテーブル5を駆動して、サ
ブ基板7を主基板4に位置合せする(ST9)。この
後、XYテーブル15を駆動して圧着ヘッド17を主基
板4の縁部上に移動させ、圧着ツール18を下降させて
フレキシブル基板8を主基板4に対して押圧する。これ
により、フレキシブル基板8は主基板4に異方性導電材
21を介してボンディングされる(ST10)。
識処理(ST7)について説明する。ここでは、予め対
象物である第2の認識マーク24のリファレンスパター
ンを複数種類(ここでは6種類)パターン記憶部30a
に記憶させておき、これらのリファレンスパターンを撮
像により取得された画像データと順次パターンマッチン
グさせるものである。このように複数のリファレンスパ
ターンを用いるのは、フレキシブル基板8は撓み易くし
かもその撓みの傾向には法則性がないため、個々のフレ
キシブル基板8によって撮像された画像が異り、単一の
リファレンスパターンのみを用いると認識エラーが多発
するからである。
類のリファレンスパターンが用いられる。図7(a)は
フレキシブル基板8がほぼ撓みなく水平に保たれた状態
での第2の認識マーク24の画像を示すものである。こ
れに対し図7(b),(c),(d),(e)はフレキ
シブル基板8の撓みの方向に起因して、画像にそれぞれ
左、右、上、下の部分に影が生じた状態を示している。
また、図7(f)はフレキシブル基板8そのものは撓み
がなく、第2の認識マーク24の画像には影が発生しな
いものの、第2の認識マーク24の表面が酸化などで変
質し、光の反射状況が変化して明度が異る画像となった
例を示している。このように通常で想定可能な複数種類
のリファレンスパターンを予め用意して、これらと順次
パターンマッチングさせることにより、認識マーク自体
としては正常であるにも拘らず、カメラ11に対しての
認識マークの見え方が異ることによって認識エラーが発
生するという事態を防止することができる。
ターンに付されるインデックスNo.(i)を1にセッ
トする(ST11)。次に、リファレンスパターンN
o.(i)と、第2の認識マーク24のA点の画像とを
パターンマッチングングで照合する(ST12)。そし
て、マッチング率の合否、すなわち求められたマッチン
グ率が80%以上であるか否かが制御部32によって判
断される(ST13)。ここでマッチング率が80%に
満たないならば不合格と判定され、制御部32の指令に
より他のリファレンスパターンを用いてパターンマッチ
ングングを行う。すなわちインデックスNo.(i)が
6未満であるか否かが判断され(ST14)、6未満、
すなわち他に未使用のリファレンスパターンが存在すれ
ば(i)に1を加算し(ST15)、ST12に戻って
新たなインデックスNo.のリファレンスパターンを用
いてパターンマッチングングを行う。そしてST14に
てインデックスNo.が6であれば後述のST23に進
み、認識エラー処理が行われる。そしてST13にてマ
ッチング率が80%以上であれば、当該リファレンスパ
ターンによって特定された第2の認識マーク24のA点
の位置を記憶させる(ST16)。
ても、上述のA点についての認識処理(ST11〜ST
16)と同様に、ST17〜ST22の認識処理が行わ
れる。そしてST14,ST20にてNOと判断され、
すなわち80%以上のマッチング率を与えるリファレン
スパターンが存在しないと判断されたならば、認識エラ
ー処理が行われる(ST23)。ここでは、認識エラー
である旨がモニター35によって報知され、オペレータ
はこの報知を受けて照明条件の調整や、新たなリファレ
ンスパターンの登録等の処置を行う。
についてのみ複数のリファレンスパターンの説明をして
いるが、第1の認識マーク22に対しても同様に複数の
リファレンスパターンが用いられる。前述のように第1
の認識マーク22は、上面に異方性導電材21が貼付さ
れるか否かによって、透過照明下で撮像された画像の見
え方が異るからである。したがって、この見え方に応じ
た複数のリファレンスパターンを予め準備しておき、こ
れらのリファレンスパターンと順次パターンマッチング
ングさせることにより、認識エラーを減少させることが
できる。
来同一性を保っていながら、照明条件や背景状況など画
像上での見え方が異ることに起因して異る認識結果を与
えるような認識対象物について適用することができる。
え方が異る複数のリファレンスパターンを予め記憶させ
ておき、認識エラーを生じたならば順次他のリファレン
スパターンとパターンマッチングさせるようにしたの
で、同一対象物が単に見え方が異なることによる認識エ
ラーを減少させて、認識精度を向上させるとともに、画
像認識装置の稼働率を向上させることができる。
面図
平面図
分断面図
分断面図
分断面図
御系のブロック図
の画像図
作を示すフロー図
図
Claims (2)
- 【請求項1】認識対象物の画像を取り込むカメラと、こ
のカメラで取得した画像データを記憶する画像記憶部
と、前記認識対象物の見え方がそれぞれ異る複数のリフ
ァレンスパターンを記憶するパターン記憶部と、前記記
憶された画像データを前記複数のリファレンスパターン
とパターンマッチングさせることにより前記認識対象物
を認識する画像処理部と、この画像処理部によって求め
られたマッチング率の合否判定を行い、マッチング率が
不合格ならば順次他のリファレンスパターンとのパター
ンマッチングを指令する判定手段とを備えたことを特徴
とする画像認識装置。 - 【請求項2】認識対象物の画像をカメラで取り込み、取
得した画像データを画像記憶部に記憶させ、予めパター
ン記憶部に記憶された前記認識対象物の見え方がそれぞ
れ異る複数のリファレンスパターンの1つと前記画像デ
ータをパターンマッチングさせてマッチング率を求め、
求められたマッチング率の合否判定を行い、マッチング
率が不合格ならば順次他のリファレンスパターンとのパ
ターンマッチングを行うことを特徴とする画像認識方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01558799A JP3598862B2 (ja) | 1999-01-25 | 1999-01-25 | 画像認識装置および画像認識方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01558799A JP3598862B2 (ja) | 1999-01-25 | 1999-01-25 | 画像認識装置および画像認識方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000213921A true JP2000213921A (ja) | 2000-08-04 |
| JP3598862B2 JP3598862B2 (ja) | 2004-12-08 |
Family
ID=11892872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01558799A Expired - Fee Related JP3598862B2 (ja) | 1999-01-25 | 1999-01-25 | 画像認識装置および画像認識方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3598862B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008218567A (ja) * | 2007-03-01 | 2008-09-18 | Shibaura Mechatronics Corp | 電子部品の実装装置及び実装方法 |
| JP2010038762A (ja) * | 2008-08-06 | 2010-02-18 | Micronics Japan Co Ltd | 検査装置 |
| JP2020135660A (ja) * | 2019-02-22 | 2020-08-31 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 情報管理装置及び情報管理方法 |
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-
1999
- 1999-01-25 JP JP01558799A patent/JP3598862B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP7308436B2 (ja) | 2019-02-22 | 2023-07-14 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 情報管理装置及び情報管理方法 |
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