JP2000215219A - Circuit correction device - Google Patents

Circuit correction device

Info

Publication number
JP2000215219A
JP2000215219A JP11013867A JP1386799A JP2000215219A JP 2000215219 A JP2000215219 A JP 2000215219A JP 11013867 A JP11013867 A JP 11013867A JP 1386799 A JP1386799 A JP 1386799A JP 2000215219 A JP2000215219 A JP 2000215219A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
repeater
cell
correction
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11013867A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaru Hattori
大 服部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP11013867A priority Critical patent/JP2000215219A/en
Publication of JP2000215219A publication Critical patent/JP2000215219A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体集積回路装置のレイアウト設計におい
て、遷移遅延時間違反を修正する。 【解決手段】 違反箇所特定手段101で特定された違
反ノード121に対し、リピータセル挿入判定手段10
2でリピータセルを挿入するかしないかを判定する。仮
想配線手段103で、リピータを挿入するノードに関す
るネットの仮想配線を行い、セグメント決定手段でリピ
ータを挿入する場所を決定し、グルーピング手段105
でリピータセル数の最適化を図る。ネットリスト作成手
段106でリピータの挿入されたネットリストを作成す
る。
(57) Abstract: A transition delay time violation is corrected in a layout design of a semiconductor integrated circuit device. SOLUTION: A repeater cell insertion determining means 10 is provided for a violating node 121 specified by a violating point specifying means 101.
In step 2, it is determined whether or not to insert a repeater cell. The virtual wiring means 103 performs virtual wiring of a net related to the node into which the repeater is to be inserted, the segment determining means determines the place where the repeater is to be inserted, and the grouping means 105
To optimize the number of repeater cells. The netlist creating means 106 creates a netlist into which the repeater has been inserted.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路装
置のレイアウト設計に関し、遷移遅延時間違反に伴う回
路修正装置に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a layout design of a semiconductor integrated circuit device, and more particularly to a circuit correction device associated with a transition delay time violation.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体集積回路において品質保証のため
に、信号の遷移遅延時間を保証基準値よりも小さくする
必要がある。
2. Description of the Related Art In a semiconductor integrated circuit, it is necessary to make a signal transition delay time smaller than a guaranteed reference value for quality assurance.

【0003】レイアウト設計後、遷移遅延時間の確認を
行い、保証基準値よりも大きい違反箇所があれば、回路
修正が必要となる。
After the layout design, the transition delay time is checked, and if there is a violation portion larger than the guaranteed reference value, the circuit needs to be modified.

【0004】スタンダードセル設計では、このときの修
正方法として、(1)セルサイズを大きくすることで、駆
動能力を大きくし、遷移遅延時間を小さくする方法があ
る。
In the standard cell design, as a correction method at this time, there is a method of (1) increasing the cell size to increase the driving capability and reduce the transition delay time.

【0005】しかし、セルの出力端子で遷移遅延時間が
小さい場合でも、配線の抵抗、容量に依存し、波形がな
まるため、後続のセルの入力端子において遷移遅延時間
が大きくなり違反となる場合がある。
However, even when the transition delay time is short at the output terminal of the cell, the waveform is rounded depending on the resistance and capacitance of the wiring, so that the transition delay time at the input terminal of the subsequent cell becomes large and it is illegal. There is.

【0006】このような場合は、(2)リピータセルを挿
入し、遷移遅延時間の改善を行うことができる。
In such a case, (2) the repeater cell can be inserted to improve the transition delay time.

【0007】特開平9−212536号公報で開示され
ている波形なまり補正システムでは、配線の抵抗値、容
量値から補正用の素子を決定し、回路修正を行ってい
る。
In the waveform rounding correction system disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-212536, an element for correction is determined from the resistance value and the capacitance value of the wiring, and the circuit is corrected.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ファンアウトが大きい
配線に対し1つのセルの入力端子に対し、1つのリピー
タセルを挿入する場合、過剰にリピータセルが挿入さ
れ、修正前回路と比較し、修正後回路のセル面積が大幅
に大きくなるため、レイアウト修正においてセルの配置
や配線の変動量が大きくなる。
When one repeater cell is inserted into an input terminal of one cell with respect to a wiring having a large fan-out, an excessive number of repeater cells are inserted and compared with the circuit before the correction, and the correction is performed. Since the cell area of the post-circuit is greatly increased, the amount of change in cell arrangement and wiring in layout correction is increased.

【0009】そこで、挿入するリピータセルを削減する
ためには、1つのリピータセルで複数のセルの入力端子
を駆動するようにすることが必要になる。例えば、セル
の配置だけを考慮してグルーピングを行う場合、実際の
配線と配置から推定した配線が異なるため、リピータセ
ルの挿入により配線経路が制御され、レイアウト修正に
おいて、配線形状が大きく異なるという課題がある。ま
た、セルの配置だけでなく、配線形状を考慮してリピー
タセルの挿入箇所を決定する場合、配線形状データが必
要となるため、扱うデータ量が膨大になるという課題が
ある。
In order to reduce the number of inserted repeater cells, it is necessary to drive input terminals of a plurality of cells with one repeater cell. For example, when grouping is performed in consideration of only the cell arrangement, the actual wiring and the wiring estimated from the arrangement are different, so the wiring path is controlled by inserting the repeater cells, and the wiring shape is greatly different in the layout correction. There is. In addition, when determining the insertion position of the repeater cell in consideration of not only the cell layout but also the wiring shape, wiring shape data is required, and thus there is a problem that the amount of data to be handled becomes enormous.

【0010】本発明は、配線形状データより少ないデー
タ量で、レイアウト設計変更時の再配線による配線の変
動を抑えつつ、リピータセルの挿入によって遷移遅延時
間違反を無くすことを目的とした回路修正装置である。
An object of the present invention is to provide a circuit correction apparatus which aims to eliminate transition delay time violations by inserting repeater cells while suppressing a change in wiring due to rewiring at the time of layout design change with a data amount smaller than wiring shape data. It is.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の回路修正装置
は、上記目的を達成するために、レイアウトデータの配
線寄生容量、抵抗抽出結果より、遷移遅延時間の違反箇
所を特定する手段と、前記違反に対し、駆動能力変更を
試み、リピータセル挿入の可否を判定する手段と、前記
判定手段で、リピータセルを挿入すると判断されたネッ
トに対し、配線分岐情報に基づき仮想的な配線を行う手
段と、前記仮想配線上でリピータセルを挿入する位置を
決定する手段と、前記リピータセルを減らすために不要
なリピータセルを削除する手段と、仮想配線上で挿入さ
れたリピータセルを回路修正として反映したネットリス
トを作成する手段を有している。
In order to achieve the above object, a circuit repair apparatus according to the present invention includes: means for specifying a transition delay time violation portion from a wiring parasitic capacitance and a resistance extraction result of layout data; Means for attempting to change the driving capability in response to the violation and determining whether or not to insert a repeater cell; and means for performing virtual wiring based on wiring branch information for a net determined to insert a repeater cell by the determination means. Means for determining a position where a repeater cell is inserted on the virtual wiring, means for deleting unnecessary repeater cells to reduce the number of the repeater cells, and reflection of the repeater cell inserted on the virtual wiring as a circuit correction Means for creating a netlist.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下本発明の実施例について、図
面を参照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】図1は本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of one embodiment of the present invention.

【0014】本回路修正装置は、レイアウトデータの配
線寄生容量、抵抗抽出結果111から遷移遅延時間違反
ノード121を特定する違反箇所特定手段101と、遷
移遅延時間違反ノード121に対する違反修正方法とし
て、リピータセルを挿入するか否かを決定するリピータ
セル挿入判定手段102と、ネットリスト112と配線
分岐位置情報113からリピータセル挿入対象ノード1
22に接続するネットの仮想的な配線を行う仮想配線手
段103と、仮想配線123においてリピータセル挿入
対象ノード122の違反修正を行うためのリピータセル
を挿入するセグメントを決定し、リピータセル挿入済仮
想配線124を作成するセグメント決定手段104と、
リピータセル挿入済仮想配線124から同一セグメント
内のリピータセルをまとめ、リピータセル処理済仮想配
線125を作成するグルーピング手段105と、リピー
タセル処理済仮想配線125から修正後のネットリスト
114を作成するネットリスト作成手段106とからな
る。
This circuit correction device includes a violation point specifying means 101 for specifying a transition delay time violation node 121 from a wiring parasitic capacitance and resistance extraction result 111 of layout data, and a repeater violation correction method for the transition delay time violation node 121. A repeater cell insertion target node 1 based on a netlist 112 and wiring branch position information 113 for determining whether or not to insert a cell.
A virtual wiring means 103 for virtually wiring a net connected to the node 22 and a segment for inserting a repeater cell for correcting a violation of the repeater cell insertion target node 122 in the virtual wiring 123 are determined. Segment determining means 104 for creating the wiring 124;
Grouping means 105 for grouping repeater cells in the same segment from the virtual wire 124 with the repeater cell inserted therein to create a virtual interconnect 125 processed with repeater cells, and a net for creating a corrected netlist 114 from the virtual interconnect 125 processed with repeater cells. And a list creation means 106.

【0015】次に処理フローについて説明する。Next, the processing flow will be described.

【0016】違反箇所特定手段101は、配線寄生容
量、抵抗抽出結果111から遅延計算を行い、予め設定
した基準遷移遅延時間よりも遷移遅延時間の大きい遷移
遅延時間違反ノード121を特定する。
The violating point specifying means 101 calculates a delay from the wiring parasitic capacitance and the resistance extraction result 111 and specifies a transition delay time violation node 121 having a transition delay time larger than a preset reference transition delay time.

【0017】リピータセル挿入判定手段102の処理に
ついて図2を用いて説明する。ノード202は遷移遅延
時間違反ノードで、セル212はノード202を有し、
セル211はセル212を駆動するセルで、ノード20
1を有している。
The process of the repeater cell insertion determining means 102 will be described with reference to FIG. Node 202 is a transition delay time violation node, cell 212 has node 202,
The cell 211 is a cell that drives the cell 212,
One.

【0018】リピータセル挿入判定手段102は、違反
ノード202を駆動しているセル211をネットリスト
112から抽出し、セルライブラリ115に基づき、駆
動能力の大きいセル221に変更し、遅延計算を行い、
ノード202において遷移遅延時間違反がなければ処理
を終了し、違反があればノード202をリピータセル挿
入対象ノード122とする。
The repeater cell insertion judging means 102 extracts the cell 211 driving the violating node 202 from the netlist 112, changes the cell 211 to a cell 221 having a large driving ability based on the cell library 115, performs delay calculation,
If there is no violation of the transition delay time at the node 202, the process is terminated. If there is a violation, the node 202 is set as the repeater cell insertion target node 122.

【0019】ここでは、セル211の駆動能力の変更を
試み、リピータ挿入を判定したが、別の方法として、ノ
ード201の遷移遅延時間とノード202の遷移遅延時
間の差が予め設定した基準値よりも大きい場合は、ノー
ド202をリピータセル挿入対象ノード122と判定す
る方法がある。
Here, the drive capability of the cell 211 is changed and the repeater insertion is determined. However, as another method, the difference between the transition delay time of the node 201 and the transition delay time of the node 202 is determined by a predetermined reference value. Is larger, there is a method of determining the node 202 as the repeater cell insertion target node 122.

【0020】仮想配線手段103は、リピータセル挿入
対象ノード122に接続するネットに対して、ネットリ
スト112と配線分岐位置情報113から仮想的な配線
を行い、仮想配線123を作成する。
The virtual wiring means 103 performs virtual wiring for the net connected to the repeater cell insertion target node 122 from the net list 112 and the wiring branch position information 113, and creates a virtual wiring 123.

【0021】次に図3を用いて、仮想配線の方法につい
て説明する。
Next, a virtual wiring method will be described with reference to FIG.

【0022】リピータセル挿入対象ノード122に接続
するネットの回路構造をネットリスト112から抽出す
る。また、このネットの分岐情報を配線分岐位置情報か
ら抽出する。配線分岐位置情報には図5のようにネット
とセルの接続ノードとネットの分岐ノードの座標とノー
ドの接続関係が記述されている。
The circuit structure of the net connected to the repeater cell insertion target node 122 is extracted from the net list 112. The branch information of this net is extracted from the wiring branch position information. In the wiring branch position information, as shown in FIG. 5, the coordinates of the connection node between the net and the cell, the coordinates of the branch node of the net, and the connection relationship between the nodes are described.

【0023】各ノード301、302、303、30
4、305、306の座標を基に接続関係のあるノード
間をスタイナーツリーで配線する。
Each node 301, 302, 303, 30
Based on the coordinates of 4, 305, and 306, the nodes having a connection relationship are wired in a Steiner tree.

【0024】セグメント決定手段104の処理について
図3を用いて説明する。
The processing of the segment determining means 104 will be described with reference to FIG.

【0025】図3の配線は仮想配線手段103により作
成された仮想配線123である。ノード301、30
2、303、304、305、306は配線分岐位置
で、ノード303はリピータセル挿入対象ノードであ
る。
The wiring shown in FIG. 3 is a virtual wiring 123 created by the virtual wiring means 103. Nodes 301 and 30
Reference numerals 2, 303, 304, 305, and 306 denote wiring branch positions, and a node 303 is a repeater cell insertion target node.

【0026】仮想配線は各ノードによって分割されるセ
グメント321、322、323、324、325を有
する。
The virtual wiring has segments 321, 322, 323, 324, and 325 divided by each node.

【0027】リピータセル挿入対象ノード303と、ノ
ード303を有するセル312を駆動するセル311が
有するノード301との配線上の距離の中間位置をリピ
ータセル挿入位置と推定し、セグメント322をリピー
タセル挿入セグメントと決定し、仮想配線123上にリ
ピータセルを挿入する。
The intermediate position on the wiring between the node 303 to be inserted with the repeater cell and the node 301 of the cell 311 that drives the cell 312 having the node 303 is estimated as the repeater cell insertion position, and the segment 322 is inserted into the repeater cell. The segment is determined, and a repeater cell is inserted on the virtual wiring 123.

【0028】ノード304、306がリピータセル挿入
ノードであれば同様に駆動セル311が有するノード3
01との中間位置を含むセグメント323にリピータセ
ルを挿入する。
If the nodes 304 and 306 are repeater cell insertion nodes, the node 3
A repeater cell is inserted into a segment 323 including an intermediate position from 01.

【0029】セグメント決定手段104によりリピータ
セル挿入済仮想配線124が得られる。各セグメントは
分岐位置で区切られているため、常にファンアウト1の
配線となる。
The segment determining means 104 obtains the virtual wiring 124 into which the repeater cell has been inserted. Since each segment is divided at the branch position, it is always a fan-out 1 wiring.

【0030】このため、仮想配線が実際の配線と異なっ
ていても、リピータセルの挿入によりファンアウトは変
化しないため、配線形状を大きく変更することなく、実
際の配線上にセルを挿入し、配置することが可能であ
る。
For this reason, even if the virtual wiring is different from the actual wiring, the fan-out does not change due to the insertion of the repeater cell. Therefore, the cells can be inserted and arranged on the actual wiring without greatly changing the wiring shape. It is possible to

【0031】グルーピング手段105はリピータセルの
挿入された仮想配線124において、リピータセルの数
を最適化し、リピータセル処理済仮想配線125を得
る。
The grouping means 105 optimizes the number of the repeater cells in the virtual wiring 124 into which the repeater cell is inserted, and obtains the virtual wiring 125 after the repeater cell processing.

【0032】グルーピング手段105の処理について図
4を用いて説明する。
The processing of the grouping means 105 will be described with reference to FIG.

【0033】図4(a)はセグメント決定手段104の
処理結果で、ノード403、404、406はリピータ
セル挿入対象ノードで、各ノードに対するリピータセル
はそれぞれセル431、433、432である。
FIG. 4A shows the processing result of the segment determining means 104. Nodes 403, 404, and 406 are repeater cell insertion target nodes, and the repeater cells for each node are cells 431, 433, and 432, respectively.

【0034】グルーピング手段105は、同一セグメン
ト内にあるリピータセルを1つにまとめる。セル43
2、433は同一セグメント423に存在するため、セ
ル433は削除され、図4(b)の仮想配線が得られ
る。
The grouping means 105 combines repeater cells in the same segment into one. Cell 43
Since the cells 2 and 433 exist in the same segment 423, the cell 433 is deleted, and the virtual wiring shown in FIG. 4B is obtained.

【0035】この処理により、重複して挿入されている
不要なリピータセルが削除されるため、リピータセルの
数が最小限にできる。
By this processing, unnecessary repeater cells inserted redundantly are deleted, so that the number of repeater cells can be minimized.

【0036】ネットリスト作成手段106は、グルーピ
ング手段105の処理結果のリピータセル処理済仮想配
線125からネットリスト114を作成する。
The netlist creating means 106 creates a netlist 114 from the virtual wiring 125 subjected to the repeater cell processing as a result of the processing by the grouping means 105.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、配線の分
岐位置のみを考慮してリピータセルを挿入しているた
め、扱うデータ量が少なく、最小限のリピータセル数
で、配線経路を変更せずにレイアウト設計変更が可能な
ネットリストを作成できるという有利な効果が得られ
る。
As described above, according to the present invention, since the repeater cell is inserted in consideration of only the branch position of the wiring, the amount of data to be handled is small and the wiring path can be reduced with the minimum number of repeater cells. An advantageous effect is obtained that a netlist whose layout design can be changed without changing it can be created.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】回路修正装置の構成図FIG. 1 is a configuration diagram of a circuit correction device.

【図2】リピータセル挿入の判定の例を示す図FIG. 2 is a diagram illustrating an example of determination of repeater cell insertion;

【図3】仮想配線の例を示す図FIG. 3 is a diagram showing an example of virtual wiring;

【図4】リピータセルの挿入された仮想配線の例を示す
FIG. 4 is a diagram showing an example of a virtual wiring in which a repeater cell is inserted.

【図5】配線分岐位置情報の例を示す図FIG. 5 is a diagram showing an example of wiring branch position information;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 違反箇所特定手段 102 リピータセル挿入判定手段 103 仮想配線手段 104 セグメント決定手段 105 グルーピング手段 106 ネットリスト作成手段 111 配線寄生容量、抵抗抽出結果 112 ネットリスト 113 配線分岐位置情報 114 修正済ネットリスト 115 セルライブラリ 121 遷移遅延時間違反ノード 122 リピータセル挿入対象ノード 123 仮想配線 124 リピータセル挿入済仮想配線 125 リピータセル処理済仮想配線 101 Violation point identification means 102 Repeater cell insertion determination means 103 Virtual wiring means 104 Segment determination means 105 Grouping means 106 Netlist creation means 111 Wiring parasitic capacitance, resistance extraction result 112 Netlist 113 Wiring branch position information 114 Modified netlist 115 cell Library 121 Transition delay time violation node 122 Repeater cell insertion target node 123 Virtual wiring 124 Repeater cell inserted virtual wiring 125 Repeater cell processed virtual wiring

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 遷移遅延時間違反箇所特定手段と、修正
用素子挿入判定手段と、仮想配線手段と、修正用素子挿
入場所決定手段と、修正用素子最適化手段と、結果出力
手段とを備え、回路の遷移遅延時間違反を修正する装置
であって、前記遷移遅延時間違反箇所特定手段は、信号
の遷移遅延時間が所定の基準値以上の値である違反箇所
を特定し、前記修正用素子挿入判定手段は、前記違反箇
所に対する回路修正方法を決定し、前記仮想配線手段
は、前記修正用素子挿入判定手段で修正用素子を挿入す
ると判定された場合に、配線分岐位置情報に基づき仮想
配線を作成し、前記修正用素子挿入場所決定手段は、前
記仮想配線において修正用素子の挿入場所を決定し、前
記修正用素子最適化手段は、前記仮想配線における前記
挿入済修正用素子を削減し、前記結果出力手段は、前記
修正用素子の挿入された回路を出力するように構成され
た回路修正装置。
1. A device comprising: a transition delay time violation point specifying unit; a correction element insertion determining unit; a virtual wiring unit; a correction element insertion position determining unit; a correction element optimizing unit; and a result output unit. An apparatus for correcting a transition delay time violation of a circuit, wherein the transition delay time violation location specifying means specifies a violation location where a transition delay time of a signal is equal to or greater than a predetermined reference value, and The insertion determining means determines a circuit correction method for the violating portion, and the virtual wiring means determines a virtual wiring based on the wiring branch position information when the correcting element insertion determining means determines that the correcting element is to be inserted. The correction element insertion place determining means determines the insertion place of the correction element in the virtual wiring, and the correction element optimization means deletes the inserted correction element in the virtual wiring. A circuit correction device configured to output the circuit in which the correction element is inserted, wherein the result output unit outputs the circuit in which the correction element is inserted.
【請求項2】 前記修正用素子の挿入場所を配線の分岐
間を単位とし、前記修正用素子が前記配線の分岐間で重
複している場合に前記修正用素子最適化手段で削減する
ことを特徴とする請求項1記載の回路修正装置。
2. The method according to claim 1, wherein the repair element is inserted at a location between branches of the wiring, and when the repair element overlaps between branches of the wiring, reduction is performed by the repair element optimizing means. The circuit correction device according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記修正用素子がリピータセルであるこ
とを特徴とする請求項1または2記載の回路修正装置。
3. The circuit repair apparatus according to claim 1, wherein said repair element is a repeater cell.
JP11013867A 1999-01-22 1999-01-22 Circuit correction device Pending JP2000215219A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11013867A JP2000215219A (en) 1999-01-22 1999-01-22 Circuit correction device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11013867A JP2000215219A (en) 1999-01-22 1999-01-22 Circuit correction device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000215219A true JP2000215219A (en) 2000-08-04

Family

ID=11845204

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11013867A Pending JP2000215219A (en) 1999-01-22 1999-01-22 Circuit correction device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000215219A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6543041B1 (en) Method and apparatus for reducing signal integrity and reliability problems in ICS through netlist changes during placement
US8214785B2 (en) Method and device for estimating simultaneous switching noise in semiconductor device, and storage medium
US5838581A (en) Layout system for logic circuit
JPH07321211A (en) Wiring method for semiconductor integrated circuit
US6442740B1 (en) Clock signal analysis device and clock signal analysis method
US7178122B2 (en) Semiconductor integrated circuit, method of designing semiconductor integrated circuit, and device for designing the same
US20040216069A1 (en) Method of designing low-power semiconductor integrated circuit
JP3654190B2 (en) Wiring design method and wiring design apparatus
JP2005123537A (en) Semiconductor device and manufacturing method
JP2000215219A (en) Circuit correction device
JPH1197540A (en) Clock supply device for semiconductor circuit and design method thereof
JP3008849B2 (en) Method and apparatus for designing semiconductor integrated circuit
CN121303020B (en) Circuit timing sequence repairing method and system for advanced simulation
JP2692608B2 (en) Integrated circuit placement apparatus and method
US6839886B2 (en) Method and apparatus for facilitating circuit design
JPH09330339A (en) Automatic description division device
JP2639313B2 (en) Integrated circuit placement apparatus and method
JP2715931B2 (en) Semiconductor integrated circuit design support method
JP2002313916A (en) Semiconductor integrated circuit layout design apparatus and layout design method
JP2734268B2 (en) Clock wiring design equipment
CN116861837A (en) Chip design method, device, electronic equipment and computer readable storage medium
JP3139400B2 (en) Layout method of semiconductor integrated circuit
JP2822741B2 (en) Clock wiring design method
CN121328457A (en) A layout optimization method, apparatus, storage medium, and product
JPH0926986A (en) Test pattern generation method and delay verification method