JP2000215622A - 記録又は再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ビタビ復号方法を行う再生装置において迅速
なリトライシーケンスの実現する。 【解決手段】 状態データに基づいて信号品質情報を生
成し、その信号品質情報を基準値と比較する。そしてそ
の比較結果を動作リトライのトリガとする。信号品質情
報は、再生信号のジッター及び／又は再生信号とクロッ
ク信号の位相誤差に基づいて生成される情報（ＣＨＱ）
や、再生信号波形の非対称性を表す情報（アシンメト
リ）とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、再生系において
ビタビ復号方式が採用されている記録又は再生装置に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、データ記録再生の際の伝送方式と
して符号間干渉を積極的に利用したパーシャルレスポン
ス方式が開発されており、このパーシャルレスポンスと
ビタビ復号方式を採用した記録再生装置が実用化に向け
られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、例えば情報
の再生時や、記録時における記録情報の再生（記録動作
に関するベリファイのためなどの再生）時には、その再
生される情報の信頼性を確認することが行われ、信頼性
のないデータが再生された場合などには、リトライ動作
が行われることになる。このようなリトライ動作は、信
号品質が維持できなくなった際に迅速に実行できること
が好ましく、またこのためには、再生データについて迅
速に信号品質が評価できるようにすることが望まれてい
る。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明はこのような事情
に応じて、デジタル型のパーシャルレスポンス方式／ビ
タビ復号を採用する記録又は再生装置において、再生情
報の信頼性が不十分となった際に、即座にそれを検知
し、迅速にリトライ動作が実行できるようにすることを
目的とする。

【０００５】このため記録又は再生装置において、クロ
ック信号に従ってサンプリングされる再生信号値に基づ
いてクロック信号に応じたタイミングで最尤な状態遷移
を表す状態データを生成する状態データ生成手段と、状
態データに基づいて復号データを出力する復号データ出
力手段と、状態データを用いて信号品質情報を生成する
品質情報生成手段と、品質情報生成手段で生成される信
号品質情報を基準値と比較してその比較結果を出力する
比較手段と、比較手段からの出力に基づいて動作リトラ
イを実行させる制御手段とを備えるようにする。信号品
質情報としては、再生信号のジッター及び／又は再生信
号とクロック信号の位相誤差を表す情報や、再生信号波
形の非対称性を表す情報とする。

【０００６】即ち本発明では、ビタビ復号過程で得られ
る状態データに基づいて得られる信号品質情報を所定の
基準値と比較して、その結果品質が十分でない、即ちデ
ータの信頼性が維持されていないと判断された場合に
は、即座にリトライ動作が実行できるようにする。

【０００７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明するが、実施の形態の理解を容易とするために、
下記順序のように、まずビタビ復号方法を行う再生系を
有する記録再生装置の構成、ビタビ復号方法等について
説明し、その後、実施の形態としての記録再生装置の構
成及び動作を説明していく。 １．ビタビ復号方法を行う再生系を有する記録再生装置
の説明 １−１ 装置構成の概要 １−２ 記録媒体のセクターフォーマット １−３ ４値４状態ビタビ復号方法 １−４ ４値４状態ビタビ復号器 １−５ ４値４状態ビタビ復号方法以外のビタビ復号方
法 ２．実施の形態の記録再生装置 ２−１ 概要 ２−２ 装置構成 ２−３ 信号品質情報としてのＣＨＱ／アシンメトリに
関する動作

【０００８】１．ビタビ復号方法を行う再生系を有する
記録再生装置の説明 １−１ 装置構成の概要 以下、ビタビ復号方法を行う再生系を有する、典型的な
記録／再生装置の一例について説明する。図１は、ビタ
ビ復号方法を行う再生系を有する光磁気ディスク装置の
一例の全体構成を示すブロック図である。記録時には、
コントローラ２がホストコンピュータ１の指令に従っ
て、記録すべきユーザデータを受取リ、情報語としての
ユーザデータに基づいてエンコードを行って、符号語と
してのＲＬＬ（１，７）符号を生成する。この符号語が
記録データとしてレーザパワーコントロール部（以下、
ＬＰＣと表記する）４に供給される。コントローラ２
は、このような処理の他に、後述する復号化処理、およ
び記録、再生、消去等の各モードの制御、並びにホスト
コンピュータ１との交信等の動作を行う。

【０００９】ＬＰＣ４は、供給された記録データに対応
して、光ピックアップ７のレーザパワーを制御して光磁
気ディスク６上に磁気極性を有するピット列を形成する
ことにより、記録を行う。この記録の際に、磁気へッド
５が光磁気ディスク６にバイアス磁界を付与する。実際
には、記録データに基づいて後述するように生成される
プリコード出力に従って、後述するようなマークエッジ
記録が行われる。

【００１０】後述するように、記録位置すなわちピット
の形成位置の制御は、磁気へッド５および光ピックアッ
プ７等の位置決めを行う図示しない手段によってなされ
る。このため、記録動作時においても、光ピックアップ
７がアドレス部等を通過する際には、後述するような再
生時の動作と同様な動作が行われる。

【００１１】上述したようにして形成される各ピット
を、記録データに基づいて後述するようにして生成され
るプリコード出力中の各ピットに対応させる方法につい
て、図２を参照して説明する。プリコード出力中の、例
えば’１’に対してピットを形成し、’０’に対してピ
ットを形成しない記録方法をマーク位置記録方法と称す
る。一方、各ピットのエッジによって表現される、プリ
コード出力中の各ピットの境界における極性の反転を、
例えば’１’に対応させる記録方法をマークエッジ記録
方法と称する。再生時には、再生信号中の各ピットの境
界は、後述するようにして生成されるリードクロックＤ
ＣＫに従って認識される。

【００１２】次に、再生系の構成および動作について説
明する。光ピックアップ７は、光磁気ディスク６にレー
ザ光を照射し、それによって生じる反射光を受光して、
再生信号を生成する。再生信号は、和信号Ｒ＋、差信号
Ｒ−および図示しないフォーカスエラー信号ならびにト
ラッキングエラー信号の４種類の信号からなる。和信号
Ｒ＋は、アンプ８によってゲイン調整等がなされた後に
切替えスイッチ１０に供給される。また、差信号Ｒ−
は、アンプ９によってゲイン調整等がなされた後に切替
えスイッチ１０に供給される。さらに、フォーカスエラ
ー信号は、フォーカスエラーを解消する手段（図示せ
ず）に供給される。一方、トラッキングエラー信号は、
図示しないサーボ系等に供給され、それらの動作におい
て用いられる。

【００１３】切替えスイッチ１０には、後述するような
切替え信号Ｓが供給される。切替えスイッチ１０は、こ
の切替え信号Ｓに従って、以下のように、和信号Ｒ＋ま
たは差信号Ｒ−をフィルタ部１１に供給する。すなわ
ち、後述するような光磁気ディスク６のセクタフォーマ
ットにおいて、エンボス加工によって形成される部分か
ら再生される再生信号が切替えスイッチ１０に供給され
る期間には、和信号Ｒ＋をフィルタ部１１に供給する。
また、光磁気的に記録される部分から再生される再生信
号が切替えスイッチ１０に供給される期間には、差信号
Ｒ−をフィルタ部１１に供給する。

【００１４】切替え信号Ｓは、例えば次のようにして生
成される。すなわち、まず、再生信号から、セクタフォ
ーマットに規定される所定のパターンから再生される信
号を検出する。このような所定のパターンとしては、例
えば後述するセクタマークＳＭ等が用いられる。そし
て、かかる検出がなされた時点を基準として、後述する
リードクロックを数える等の方法によって認識される所
定時点において、切替え信号Ｓが生成される。

【００１５】フィルタ部１１は、ノイズカットを行うロ
ーパスフィルタおよび波形等化を行う波形等化器から構
成される。後述するように、この際の波形等化処理にお
いて用いられる波形等化特性は、ビタビ復号器１３が行
うビタビ復号方法に適合するものとされる。フィルタ部
１１の出力が供給されるＡ／Ｄ変換器１２は、後述する
ようにして供給されるリードクロックＤＣＫに従って再
生信号値ｚ［ｋ］をサンプリングする。ビタビ復号器１
３は、再生信号値ｚ［ｋ］に基づいて、ビタビ復号方法
によって復号データを生成する。かかる復号データは、
上述したようにして記録される記録データに対する最尤
復号系列である。従って、復号エラーが無い場合には、
復号データは、記録データと一致する。

【００１６】復号データは、コントローラ２に供給され
る。上述したように、記録データは、ユーザデータから
チャンネル符号化等の符号化によって生成された符号語
である。従って、復号エラーレートが充分低ければ、復
号データは、符号語としての記録データとみなすことが
できる。コントロ―ラ２は、復号データに、上述のチャ
ンネル符号化等の符号化に対応する復号化処理を施すこ
とにより、ユーザデータ等を再生する。

【００１７】また、フィルタ部１１の出力は、ＰＬＬ部
１４にも供給される。ＰＬＬ部１４は、供給された信号
に基づいて、リードクロックＤＣＫを生成する。このＰ
ＬＬ部１４は、従来の構成の場合では、光磁気ディスク
６中に記録される一定周波数の信号を利用して位相エラ
ーを検出する構成とされている。リードクロックＤＣＫ
は、コントローラ２、Ａ／Ｄ変換器１２、ビタビ復号器
１３等に供給される。コントローラ２、Ａ／Ｄ変換器１
２、ビタビ復号器１３の動作は、リードクロックＤＣＫ
に従うタイミングでなされる。さらに、リードクロック
ＤＣＫは、図示しないタイミングジェネレータに供給さ
れる。タイミングジェネレータは、例えば、記録／再生
動作の切替え等の装置の動作タイミングを制御する信号
を生成する。

【００１８】上述したような再生動作において、光磁気
ディスク６から再生される再生信号に基いて、より正し
い再生データを得るために、再生系の各構成要素の動作
を再生信号の品質に応じて適正化することが行われる。
このような操作をキャリブレーションと称する。キャリ
ブレーションは、再生信号の品質等が例えば加工精度等
の記録媒体の特性、および例えば記録用レーザ光のパワ
ーの変動、周囲温度等の記録／再生時の条件等によって
変化する可能性があることに対応するために再生系のパ
ラメータを適正化するためのものである。

【００１９】キャリブレーションの内容は、例えば光ピ
ックアップ７の読取り用レーザ光パワーの調整、アンプ
８、９のゲインの調整、フィルタ部１１の波形等化特性
の調整、およびビタビ復号器１３の動作において用いら
れる振幅基準値の調整等である。このようなキャリブレ
ーションは、電源投入直後または記録媒体の交換時等
に、図１中には図示しない構成によって行われる。

【００２０】１−２ 記録媒体のセクターフォーマット 以上のような構成の記録再生装置に対応するディスク６
のセクタフォーマットを図３に示す。光磁気ディスク６
には、セクタを記録／再生の単位としてユーザデータが
記録される。図３（ａ）に示すように、１セクタは、記
録／再生の順にしたがって、ヘッダ、ＡＬＰＣ，ギャッ
プ、ＶＦＯ３、シンク、データフィールド、バッファの
各エリアに区分されている。なお図中に付した数字はバ
イト数を表す。このような１セクタは、大きく分けてア
ドレス部（すなわちヘッダ）とデータ部が設けられ、そ
の間にＡＬＰＣギャップが位置する。

【００２１】なおセクタフォーマットとしては、ユーザ
データ量が１０２４バイトのフォーマットと、５１２バ
イトのフォーマットとが用意されている。ユーザデータ
量が５１２バイトのフォーマットでは、データフィール
ドのバイト数が６７０バイトとされる。また、ユーザデ
ータ量が１０２４バイトのフォーマットでは、データフ
ィールドのバイト数が１２７８バイトとされる。これら
２つのセクタフォーマットにおいて、６３バイトのプリ
フォーマットされたへッダと、ＡＬＰＣギャップエリア
の１８バイトは、同一とされている。

【００２２】図３（ｂ）は、アドレス部としての６３バ
イトのへッダを拡大して示している。へッダは、セクタ
マークＳＭ（８バイト）、ＶＦＯフィールドのＶＦＯ１
（２６バイト）、アドレスマークＡＭ（１バイト）、Ｉ
ＤフィールドのＩＤ１（５バイト）、ＶＦＯフィールド
のＶＦＯ２（１６バイト）、アドレスマークＡＭ（１バ
イト）、ＩＤフィールドのＩＤ２（５バイト）、および
ポストアンブルＰＡ（１バイト）が順に配列された構成
とされている。

【００２３】セクタマークＳＭは、セクタの開始を識別
するためのマークであり、ＲＬＬ（１，７）符号におい
て生じないエンボス加工によって形成されたパターンを
有する。

【００２４】ひとつのセクタにおけるＶＦＯフィールド
は、上述のＰＬＬ部１４中のＶＦＯ（Variable Frequen
cy Oscillator）を同期させるためのもので、ＶＦＯ
１、ＶＦＯ２およびＶＦＯ３からなる。つまりこれらは
ＰＬＬ引込領域となる。そして、アドレス部にはＶＦＯ
１およびＶＦＯ２がエンボス加工によって形成されてい
る。なお、ＶＦＯ３は図３（ａ）に示したようにデータ
部に設けられ、そのセクタに対して記録動作が行われる
際に光磁気的に書かれる。

【００２５】ＶＦＯ１、ＶＦＯ２、ＶＦＯ３は、それぞ
れチャネルビットの‘０’と‘１’が交互に現れるパタ
ーン（２Ｔパターン）を有する。したがって、１チャネ
ルビットの時間長に対応する時間をＴとすると、ＶＦＯ
フィールドを再生したときに、２Ｔ毎にレベルが反転す
る再生信号が得られる。

【００２６】アドレスマークＡＭは、後続のＩＤフィー
ルドのためのバイト同期を装置に対して与えるために使
用され、ＲＬＬ（１，７）符号において生じないエンボ
スされたパターンを有する。ＩＤフィールドは、セクタ
のアドレス、すなわち、トラック番号およびセクタ番号
の情報と、これらの情報に対するエラー検出用のＣＲＣ
バイトを有する。５バイトの各ＩＤフィールドＩＤ１、
ＩＤ２はセクタのアドレス情報となるが、これらは同一
のデータとされている。つまりひとつのセクタ内にはア
ドレスが２回記録されるものとなっている。

【００２７】ポストアンブルＰＡは、チャネルビットの
‘０’と‘１’とが交互に現れるパターン（２Ｔパター
ン）を有する。以上のようなアドレス部としてのヘッダ
領域は、エンボス加工によりピットが形成されたプリフ
ォーマット領域である。

【００２８】図３（ｃ）は１８バイトのＡＬＰＣギャッ
プエリアを拡大して示す。１８バイトは、ギャップフィ
ールド（５バイト）、フラグフィールド（５バイト）、
ギャップフィールド（２バイト）、ＡＬＰＣ（６バイ
ト）からなる。

【００２９】最初のギャップフィールド（５バイト）
は、プリフォーマットされたへッダの後の最初のフィー
ルドであり、これによって、ヘッダの読取りを完了した
後の処理に装置が要する時間が確保される。２番目のギ
ャップフィールド（２バイト）は、後のＶＦＯ３の位置
のずれを許容するためのものである。

【００３０】５バイトのフラグフィールドは、セクタの
データが記録されるときに、連続した２Ｔパターンが記
録される。ＡＬＰＣ（Auto Laser Power Control）フィ
ールドは、記録時のレーザパワーをテストするために設
けられている。

【００３１】また、図３（ａ）のようにデータ部はＶＦ
Ｏ３、シンクフィールド、データフィールド、バッファ
フィールドから構成されるが、シンクフィールド（４バ
イト）は、続くデータフィールドのためのバイト同期を
装置が得るために設けられており、所定のシンクパター
ンを有する。

【００３２】データフィールドは、ユーザデータを記録
するために設けられる。６７０バイト場合は、５１２バ
イトのユーザデータと、１４４バイトのエラー検出、訂
正用のパリティ等と、１２バイトのセクタ書込みフラグ
と、２バイト（ＦＦ）とからなる。また、１２７８バイ
トの場合には、１０２４バイトのユーザデータと、２４
２バイトのエラー検出、訂正用のパリティ等と、１２バ
イトのセクタ書込みフラグとからなる。なお図示してい
ないが、データフィールドには所定の位置に同期のため
のリシンクパターンが配されている。バッファフィール
ドは、電気的、あるいは機械的な誤差に対する許容範囲
として使用される。

【００３３】１−３ ４値４状態ビタビ復号方法 以下、ビタビ復号器１３によって行われるビタビ復号方
法について説明する。上述したように、ユーザデータ
は、様々な符号化方法によって記録データとしての符号
語に変換される。符号化方法は、記録媒体の性質および
記録／再生方法等に応じて適切なものが採用される。図
１に示した記録再生装置においては、ブロック符号化に
おいて、”１”と”１”の間の”０”の数を制限するＲ
ＬＬ（RunLength Limited）符号化方法が用いられてい
る。

【００３４】このようなＲＬＬ符号化方法と、上述した
マークエッジ記録方法との組合わせによって記録された
テータから再生される再生信号を復号するために、ビタ
ビ復号方法を用いることができる。

【００３５】このようなＲＬＬ符号化方法は、記録密度
の向上、および再生動作の安定性の確保という２つの観
点から、符号化方法に要求される条件に対応できるもの
である。まず、上述したように、マークエッジ記録方法
は、記録データに基づいて後述するように生成されるプ
リコード出力における”１”を各ピットのエッジによっ
て表現される極性の反転に対応させるものなので、”
１”と”１”の間の”０”の数を多くする程、各ピット
ｌ個当たりに記録されるピット数を多くすることができ
る。したがって、記録密度を大きくすることができる。

【００３６】一方、再生系の動作タイミングを合わせる
ために必要な再生クロックＤＣＫは、上述したように、
再生信号に基づいてＰＬＬ部１４によって生成される。
このため、記録データにおいて”１”と”１”の間の”
０”の数を多くすると、再生動作の際にＰＬＬ部１４の
動作が不安定となるので、再生動作全体が不安定なもの
となる。

【００３７】これら２つの条件を考慮すると、”１”
と”１”の間の”０”の数は、多過ぎたり、少な過ぎた
りしない、適切な範囲内に設定される必要がある。この
ような、記録データ中の”０”の数の設定に関して、Ｒ
ＬＬ符号化方法が有効となる。

【００３８】ところで、図４に示すように、上述したＲ
ＬＬ(１，７)符号化方法とマークエッジ記録方法の組み
合わせにおいては、記録データに基づいて生成されるプ
リコード出力中の”１”と”１”の間に最低１個の”
０”が含まれるので、最小反転幅(ＲＬｍｉｎ)が２とな
る。このような、最小反転幅が２となる符号化方法が用
いられる場合に、符号間干渉およびノイズ等の影響を受
けている再生信号から記録データを復号する方法とし
て、後述するように、４値４状態ビタビ復号方法を適用
することができる。

【００３９】上述したように、再生信号には、フィルタ
部１１によって波形等化処理が施される。ビタビ復号方
法の前段として行われるこのような波形等化処理には、
符号間干渉を積極的に利用するパーシャルレスポンス方
法が用いられる。この際に用いられる波形等化特性は、
一般に（１＋Ｄ）ⁿで表されるパーシャルレスポンス特
性の内から、記録／再生系の線記録密度およびＭＴＦ(M
odulation Transfer Function)を考慮して決められる。
上述したＲＬＬ(１，７)符号化方法とマークエッジ記録
方法の組み合わせによって記録されたデータに対して、
ＰＲ(１，２，１)を用いる波形等化処理は、４値４状態
ビタビ復号方法の前段となる。

【００４０】上述した図４のように、マークエッジ記録
方法においては、光磁気ディスク等に対する実際の記録
に先立って、上述のＲＬＬ符号化等によって符号化され
た記録データに基づくプリコードが行われる。各時点ｋ
における記録データ列をａ[ｋ]、これに基づくプリコー
ド出方をｂ[ｋ]とすると、プリコードは、以下のように
行われる。 ｂ[ｋ]＝ｍｏｄ２｛ａ[ｋ]＋ｂ［ｋ−１］｝・・・（１） このようなプリコード出力ｂ[ｋ]が実際に光磁気ディス
ク６に記録される。

【００４１】このような記録データの再生時にフィルタ
部１１中の波形等化器によってなされる波形等化特性Ｐ
Ｒ(１，２，１)での波形等化処理について説明する。但
し、以下の説明においては、信号の振幅を規格化せず
に、波形等化特性をＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）とする。ま
た、ノイズを考慮しない場合の再生信号の値をｃ[ｋ]と
表記する。さらに、ノイズを含む実際の再生信号（すな
わち、記録媒体から再生された再生信号）をｚ[ｋ]と表
記する。

【００４２】ＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）は、ある時点ｋにお
ける再生信号の値に対して、時点ｋにおける振幅の寄与
が振幅値の２Ａ倍とされ、さらに前後の時点ｋ−１およ
びｋ＋１における振幅の寄与が各々の時点での信号の振
幅のＢ倍とされるものである。したがって、再生信号の
値の最大値は、時点ｋ−ｌ、ｋ、ｋ＋１において何れも
パルスが検出される場合である。このような場合には、
再生信号の値の最大値は、以下のようになる。

【００４３】Ｂ＋２Ａ＋Ｂ＝２Ａ＋２Ｂ また、再生信号の値の最少値は０となる。但し、実際の
取り扱いにおいては、ｃ[ｋ]として、ＤＣ成分のＡ＋Ｂ
を差し引いた以下のようなものが用いられる。 ｃ[ｋ]＝Ｂ×ｂ(ｋ−２)＋２Ａ×ｂ(ｋ−１)＋Ｂ×ｂ[ｋ]−Ａ−Ｂ・・・(２)

【００４４】したがって、ノイズを考慮しない場合の再
生信号ｃ[ｋ]は、Ａ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂの内の何
れかの値をとることになる。一般に、再生信号の性質を
示す方法のひとつとして、例えば５個の時点を単位とし
て、再生信号を多数重ね合わせたものをアイパターンと
称する。この発明を適用することができる記録再生装置
において、ＰＲ(Ｂ，２Ａ，Ｂ)の下で波形等化処理され
た実際の再生信号ｚ[ｋ]についてのアイパターンの一例
を図５に示す。図５から各時点における再生信号ｚ[ｋ]
の値は、ノイズによるばらつきを有するが、ほぼ、Ａ＋
Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂの内の何れかになることが確認
できる。後述するように、Ａ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂ
の値は、識別点として用いられる。

【００４５】上述したような波形等化処理が施された再
生信号を復号するビタビ復号方法の概略は、ステップ
乃至ステップに示すようにされる。 ステップ・・・・符号化方法および記録媒体に対す記
録方法に基づいて、生じ得る全ての状態を特定する。 ステップ・・・ある時点における各状態を起点とし
て、次の時点において生じ得る全ての状態遷移と、各状
態遷移が生じるときの記録データａ[ｋ]および再生信号
の値ｃ[ｋ]を特定する。 なお、ステップおよびの結果として特定された全て
の状態および状態遷移と、各状態遷移が生じるときの
｛記録データの値ａ[ｋ]／再生信号の値ｃ[ｋ]｝を模式
的に示すと後で詳しく説明する図７に示すような状態遷
移図となる。そして、この状態遷移図に基づく復号動作
を行うように、ビタビ複号器１３が構成される。

【００４６】ステップ・・・ステップ、に示す状
態遷移を前提として、記録媒体から各時点ｋにおいて再
生される再生信号ｚ[ｋ]に基づく最尤な状態遷移が選択
される。但し、上述したように、再生信号ｚ[ｋ]は、ビ
タビ復号器１３に供給される前段において波形等化され
たものである。 このような最尤な状態遷移の選択が行われる毎に、選択
された状態遷移に対応して、記録データａ[ｋ]の値を復
号値とすることによって、記録データに対する最尤復号
値系列しての復号データａ’[ｋ]を得ることができる。
但し、各時点ｋにおける復号データ値から、最尤復号値
系列とするための構成は、後述するビタビ復号器１３中
のＰＭＵ２３である。従って、上述したように、復号デ
ータ列ａ’[ｋ]は、復号エラーがない場合には、記録デ
ータ列ａ［ｋ］と一致する。

【００４７】以下、上述のステップ〜について詳細
に説明する。まずステップについて詳しく説明する。
ここで用いられる状態として、ある時点ｋにおける状態
を、時点ｋおよびそれ以前のプリコード出力を用いて次
のように定義する。すなわち、ｎ＝ｂ[ｋ]、ｍ＝ｂ[ｋ
−１]、ｌ＝ｂ[ｋ−２]のときの状態をＳｎｍｌと定義
する。このような定義によって、２³＝８個の状態があ
ると考えられるが、上述したように、実際に生じ得る状
態は、符号化方法等に基づいて制限される。ＲＬＬ
(１，７)符号として符号化された記録データ列ａ[ｋ]に
おいては、”１”と”１”の間に最低１個の”０”が含
まれるので、２個以上の”１”が連続することがない。
記録データ列ａ[ｋ]に課されるこのような条件に基づい
てプリコード出力ｂ[ｋ]について一定の条件が課され、
その結果として生じ得る状態に制限が加えられる。

【００４８】このような制限について具体的に説明す
る。上述したようにＲＬＬ(１，７)符号化によって生成
される記録データ列中に、２個以上の”１”が連続する
もの、すなわち以下のパターンはあり得ない。 ａ[ｋ]＝１，ａ[ｋ−１]＝１，ａ[ｋ−２]＝１ ・・・ (３) ａ[ｋ]＝１，ａ[ｋ−１]＝１，ａ[ｋ−２]＝０ ・・・ (４) ａ[ｋ]＝０，ａ[ｋ−１]＝１，ａ[ｋ−２]＝１ ・・・ (５) 記録データ列に課されるこのような条件に基づいて、上
述の(１)式にしたがってｂ[ｋ]について課される条件に
ついて検討すると、上記Ｓｎｍｌの定義において、Ｓ０
１０およびＳ１０１の２個の状態は生じ得ないことがわ
かる。したがって、生じ得る状態は、２³−２＝６個で
ある。

【００４９】次に、ステップについて詳しく説明す
る。ある時点ｊにおける状態を起点として、次の時点ｊ
＋１において生じ得る状態を求めるためには、時点ｊ＋
１における記録データの値ａ[ｊ＋１]が１となる場合、
または０となる場合に分けて調べる必要がある。

【００５０】ここでは、状態Ｓ０００を例として説明す
る。上述の(１)式にしたがって、Ｓ０００すなわちｎ＝
ｂ[ｊ]＝０，ｍ＝ｂ[ｊ−１]＝０，ｌ＝ｂ[ｊ−２]＝０
とプリコードされる記録データとしては、以下の２個が
考えられる。 ａ[ｊ]＝０、ａ[ｊ−１]＝０、ａ[ｊ−２]＝１・・・(６) ａ[ｊ]＝０、ａ[ｊ−１]＝０、ａ[ｊ−２]＝０・・・(７)

【００５１】・・・ａ[ｊ＋１]＝１のとき このとき、(１)式にしたがって、ｂ[ｊ＋１]は、以下の
ように計算される。 したがって、再生信号ｃ[ｊ]の値は、上述の(２)式にし
たがって、次のように計算される。

【００５２】 ｃ[ｊ＋１]＝｛Ｂ×ｂ[ｊ＋１]＋２Ａ×ｂ[ｊ]＋Ｂ×ｂ[ｊ−１]−Ａ−Ｂ ＝{Ｂ×１＋２Ａ×０＋Ｂ×０}−Ａ−Ｂ ＝−Ａ ・・・(９)

【００５３】また、次の時点[ｊ＋１]での状態Ｓｎｍｌ
については、ｎ＝ｂ[ｊ＋１]，ｍ＝ｂ[ｊ]，ｌ＝ｂ[ｊ
−１]である。そして、上述したようにｂ[ｊ＋１]＝
１，ｂ[ｊ]＝０，ｂ[ｊ−１]＝０となるので、次の時
点、ｊ＋１における状態は、Ｓ１００である。したがっ
て、ａ[ｊ＋１]＝１の場合には、Ｓ０００→Ｓ１００と
いう遷移が生じることが特定できる。

【００５４】・・・ ａ[ｊ＋１]＝０のとき このとき、(１)式にしたがって、ｂ[ｊ＋１]は、以下の
ように計算される。 したがって、再生信号ｃ[ｊ＋１]の値は、上述の(２)式
にしたがって、次のように計算される。

【００５５】 ｃ[ｊ＋１]＝{Ｂ×ｂ[ｊ＋１]＋２Ａ×ｂｊ]＋Ｂ×ｂ[ｊ−１]}−Ａ−Ｂ ＝{Ｂ×０＋２Ａ×０＋Ｂ×０}−Ａ−Ｂ ＝−Ａ−Ｂ ・・・(１１)

【００５６】また、次の時点ｊ＋１における状態Ｓｎｍ
ｌについては、ｎ＝ｂ[ｊ＋１]，ｍ＝ｂ[ｊ]，ｌ＝ｂ
[ｊ−１]である。そして、上述したようにｂ[ｊ＋１]＝
０，ｂ[ｊ]＝０，ｂ[ｊ−１]＝０となるので、次の時点
における状態は、Ｓ０００である。したがって、ａ[ｊ
＋１]＝０の場合には、Ｓ０００→Ｓ０００という遷移
が生じることが特定できる。

【００５７】このようにして、時点ｊにおけるＳ０００
以外の各状態についても、それらを起点として次の時点
ｊ＋１において生じ得る状態遷移と、そのような各状態
遷移が生じるときの記録テータ値ａ[ｊ＋１]および再生
信号値ｃ[ｊ＋１]との対応を求めることができる。

【００５８】上述したようにして、各状態について、そ
れらを起点として生じ得る状態遷移と、各状態遷移が生
じるときの記録データの値および再生信号の値との対応
を求め、模式図として示したのが図６である。上述の時
点ｊおよびｊ＋１は、特別の時点ではない。したがっ
て、上述したようにして求まる、生じ得る状態遷移とそ
れらに伴う記録データの値および再生信号の値との対応
は、任意の時点において適用することができる。このた
め、図６においては、任意の時点ｋにおいて生じる状態
遷移に伴う記録データの値をａ[ｋ]と表記し、再生信号
の値をｃ[ｋ]と表記する。

【００５９】図６において、状態遷移は矢印によって表
される。また、各矢印に付した符号が｛記録データ値ａ
[ｋ]／再生信号値ｃ[ｋ]｝を示している。状態Ｓ００
０，Ｓ００１，Ｓ１１１およびＳ１１０を起点とする状
態遷移は、２通りあるのに対して、状態Ｓ０１１および
Ｓ１００を起点として生じ得る遷移は１通りのみであ
る。

【００６０】さらに、図６においてＳ０００とＳ００１
は、何れもａ[ｋ]＝１に対しては、ｃ[ｋ]＝−Ａという
値を取り、Ｓ１００に遷移している。一方、ａ[ｋ]＝０
に対しては、ｃ[ｋ]＝−Ａ−Ｂという値を取りＳ０００
に遷移している。また、Ｓ１１１とＳ１１０も同様に、
同じａ[ｋ＋ｌ]の値について同じｃ[ｋ＋１]の値を取
り、且つ、同じ状態に遷移している。したがって、Ｓ０
００とＳ００１をまとめてＳ０と表現し、Ｓ１１１とＳ
１１０をまとめてＳ２と表現することができる。さら
に、Ｓ０１１をＳ３とし、Ｓ１００をＳ１と表現するこ
とにして、整理したものが図７である。

【００６１】図７が４値４状態ビタビ復号方法に用いら
れる状態遷移図である。図７には、４値４状態ビタビ復
号方法に用いられる状態遷移として、Ｓ０〜Ｓ３の４個
の状態、および再生信号ｃ[ｋ＋１]の値としての−Ａ−
Ｂ，−Ａ，Ａ，Ａ＋Ｂの４個の値が示されている。状態
Ｓ０およびＳ２を起点とする状態遷移は、２通りあるの
に対して、状態Ｓ１およびＳ３を起点とする状態遷移は
１通りのみである。

【００６２】図７に対応して、状態遷移を時間に沿って
表現する形式として、図８に示すようなトレリス線図が
用いられる。図８では、２個の時点間の遷移を示してい
るが、さらに多数の時点間の遷移を示すこともできる。
時間経過に伴い、順次右の時点に遷移していく様子が表
現される。したがって、水平な矢印は、例えばＳ０→Ｓ
０等の同じ状態への遷移を表し、斜めの矢印は、例えば
Ｓ１→Ｓ２等の異なる状態への遷移を表すことになる。

【００６３】上述したビタビ復号方法のステップ、す
なわち図７に示した状態遷移図を前提として、ノイズを
含む実際の再生信号ｚ［ｋ］から最尤な状態遷移を選択
する方法について以下に説明する。

【００６４】最尤な状態遷移を選択するためには、ま
ず、ある時点ｋにおける状態について、その状態に至る
過程において経由してきた複数時点間の状態遷移の尤度
の和を計算し、さらに、計算された尤度の和を比較し
て、最尤の復号系列を選択することが必要である。この
ような尤度の和をパスメトリックと称する。

【００６５】パスメトリックを計算するためには、ま
ず、隣接する時点間の状態遷移の尤度を計算することが
必要となる。このような尤度の計算は、上述の状態遷移
図を参照して、再生信号ｚ［ｋ］の値に基づいて以下の
ようになされる。まず、一般的な説明として、時点ｋ−
１において、状態Ｓａである場合について考える。この
時、ビタビ復号器３１に再生信号ｚ［ｋ］が入力された
場合に、状態Ｓｂへの状態遷移が生じる尤度が次式に従
って計算される。但し、状態Ｓａおよび状態Ｓｂは、図
７の状態遷移図に記載されている４個の状態の何れかと
する。

【００６６】 （ｚ［ｋ］−ｃ（Ｓａ，Ｓｂ））² ・・・（１２） 上式において、ｃ（Ｓａ，Ｓｂ）は、状態Ｓａから状態
Ｓｂへの状態遷移について、図７の状態遷移図に記載さ
れている再生信号の値である。すなわち、上述の図７に
おいて、例えば状態遷移Ｓ０→Ｓ１について、−Ａと算
出されている値である。従って、式（１２）は、ノイズ
を含む実際の再生信号ｚ［ｋ］の値と、ノイズを考慮せ
ずに計算された再生信号ｃ（Ｓａ，Ｓｂ）の値の間のユ
ークリッド距離となる。ある時点におけるパスメトリッ
クは、その時点に至るまでのこのような隣接時点間の状
態遷移の尤度の総和として定義される。

【００６７】ところで、時点ｋにおいて状態Ｓａである
場合を考える。この場合に、時点ｋ−１において状態Ｓ
ａに遷移し得る状態をＳｐとすれば、パスメトリックＬ
（Ｓａ，ｋ）は、時点ｋ−１におけるパスメトリックを
用いて次式のように計算される。

【００６８】 Ｌ（Ｓａ，ｋ） ＝Ｌ（Ｓｐ，ｋ−１）＋（ｚ［ｋ］−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））² ・・・（１３） すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓｐに至った場合の
パスメトリックＬ（Ｓｐ，ｋ−１）と、時点ｋ−１と時
点ｋの間で生じるＳｐ→Ｓａなる状態遷移の尤度（ｚ
［ｋ］−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））²とを加算することによっ
て、パスメトリックＬ（Ｓａ，ｋ）が計算される。この
（ｚ［ｋ］−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））²のような、最新の状
態遷移の尤度は、ブランチメトリックと称される。但
し、ここでのブランチメトリックは、後述するビタビ復
号器１３中のブランチメトリック計算回路（ＢＭＣ）２
０によって計算されるブランチメトリック、すなわち、
規格化メトリックに対応するブランチメトリックとは、
別のものであることに注意が必要である。

【００６９】また、時点ｋにおいて状態Ｓａとなる場合
に、時点ｋ−１における状態（状態Ｓａに遷移し得る状
態）が複数個存在することがある。図７においては、状
態Ｓ０およびＳ２がこのような場合である。すなわち時
点ｋにおいて状態Ｓ０となる場合は、時点ｋ−１として
あり得る状態は、Ｓ０とＳ３の２個である。また、時点
ｋにおいて状態Ｓ２となる場合に、時点ｋ−１において
あり得る状態は、Ｓ１とＳ２の２個である。一般的な説
明として、時点ｋにおいて状態Ｓａであり、且つ、時点
ｋ−１において状態Ｓａに遷移し得る状態がＳｐおよび
Ｓｑの２個である場合に、パスメトリックＬ（Ｓａ，
ｋ）は、次式のように計算される。

【００７０】 Ｌ（Ｓａ，ｋ） ＝ｍｉｎ｛Ｌ（Ｓｐ，ｋ−１）＋（ｚ［ｋ］−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））²， Ｌ（Ｓｑ，ｋ−１）＋（ｚ［ｋ］−ｃ（Ｓｑ，Ｓａ））²｝ ・・・（１４） すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓｐであり、Ｓｐ→
Ｓａなる状態遷移によって状態Ｓａに至った場合と、時
点ｋ−１において状態Ｓｑであり、Ｓｑ→Ｓａなる状態
遷移によって状態Ｓａに至った場合の各々について、尤
度の和を計算する。そして、各々の計算値を比較し、よ
り小さい値を時点ｋにおける状態Ｓａに関するパスメト
リックＬ（Ｓａ，ｋ）とする。

【００７１】このようなパスメトリックの計算を、図７
を用いて上述した４値４状態について具体的に適用する
と、時点ｋにおける各状態Ｓ０，Ｓ１，Ｓ２およびＳ３
についてのパスメトリックＬ（０，ｋ），Ｌ（１，
ｋ），Ｌ（２，ｋ）およびＬ（３，ｋ）は、時点ｋ−１
における各状態Ｓ０〜Ｓ３についてのパスメトリックＬ
（０，ｋ−１）〜Ｌ（３，ｋ−１）を用いて以下のよう
に計算できる。

【００７２】 Ｌ（０，ｋ）＝ｍｉｎ｛Ｌ（０，ｋ−１）＋（ｚ［ｋ］＋Ａ＋Ｂ）²， Ｌ（３，ｋ−１）＋（ｚ［ｋ］＋Ａ）² ｝ ・・・（１５） Ｌ（１，ｋ）＝Ｌ（０，ｋ−１）＋（ｚ［ｋ］＋Ａ）² ・・・（１６） Ｌ（２，ｋ）＝ｍｉｎ｛Ｌ（２，ｋ−１）＋（ｚ［ｋ］−Ａ−Ｂ）²， Ｌ（２，ｋ−１）＋（ｚ［ｋ］−Ａ）² ｝ ・・・（１７） Ｌ（３，ｋ）＝Ｌ（２，ｋ−１）＋（ｚ［ｋ］−Ａ）² ・・・（１８）

【００７３】上述したように、このようにして計算され
るパスメトリックの値を比較して、最尤な状態遷移が選
択されれば良い。ところで、最尤な状態遷移を選択する
ためには、パスメトリックの値そのものを計算しなくて
も、パスメトリックの値の比較ができれば良い。そこ
で、実際の４値４状態ビタビ復号方法においては、パス
メトリックの代わりに以下に定義するような規格化パス
メトリックを用いることにより、各時点ｋにおけるｚ
［ｋ］に基づく計算を容易なものとするようになされ
る。

【００７４】 ｍ（ｉ，ｋ） ＝［Ｌ（ｉ，ｋ）−ｚ［ｋ］²−（Ａ＋Ｂ）²］／２／（Ａ＋Ｂ） ・・・（１９） 式（１９）をＳ０〜Ｓ３の各状態に適用すると、具体的
な規格化パスメトリックは、以下のように２乗計算を含
まないものとなる。このため、後述する、加算、比較、
選択回路（ＡＣＳ）２１における計算を容易なものとす
ることができる。

【００７５】 ｍ（０，ｋ）＝ｍｉｎ｛ｍ（０，ｋ−１）＋ｚ［ｋ］， ｍ（３，ｋ−１）＋α×ｚ［ｋ］−β｝・・（２０） ｍ（１，ｋ）＝ｍ（０，ｋ−１）＋α×ｚ［ｋ］−β ・・（２１） ｍ（２，ｋ）＝ｍｉｎ｛ｍ（２，ｋ−１）−ｚ［ｋ］， ｍ（１，ｋ−１）−α×ｚ［ｋ］−β｝・・（２２） ｍ（３，ｋ）＝ｍ（２，ｋ−１）＋α×ｚ［ｋ］−β ・・（２３） 但し、式（２０）〜（２３）中のαおよびβは、以下の
ようなものである。

【００７６】 α＝Ａ／（Ａ＋Ｂ） ・・・（２４） β＝Ｂ×（Ｂ＋２×Ａ）／２／（Ａ＋Ｂ） ・・・（２５） このような規格化パスメトリックに基づく４値４状態ビ
タビ復号方法における状態遷移の条件について図９に示
す。上述の４個の規格化パスメトリックの内に、２個か
ら１個を選択する式が２つあるので、２×２＝４通りの
条件がある。

【００７７】１−４ ４値４状態ビタビ復号器 上述した４値４状態ビタビ復号方法を実現するビタビ復
号器１３について以下に説明する。図１０にビタビ復号
器１３の全体構成を示す。ビタビ復号器１３は、ブラン
チメトリック計算回路（以下、ＢＭＣと表記する）２
０、加算、比較および選択回路（以下、ＡＣＳと表記す
る）２１、圧縮およびラッチ回路２２およびパスメモリ
ユニット（以下、ＰＭＵと表記する）２３から構成され
る。これらの各構成要素に対して上述のリードクロック
ＤＣＫ（以下の説明においては、単にクロックと表記す
る）が供給されることにより、ビタビ復号器１３全体の
動作タイミングが合わされる。以下、各構成要素につい
て説明する。

【００７８】ＢＭＣ２０は、入力される再生信号ｚ
［ｋ］に基づいて、規格化パスメトリックに対応するブ
ランチメトリックの値ＢＭ０，ＢＭ１，ＢＭ２およびＢ
Ｍ３を計算する。ＢＭ０〜ＢＭ３は、上述の式（２０）
〜（２３）の規格化パスメトリックを計算するために必
要とされる、以下のようなものである。

【００７９】 ＢＭ０＝ｚ [ｋ] ・・・（２６） ＢＭ１＝α×ｚ［ｋ］−β ・・・（２７） ＢＭ２＝−ｚ [ｋ] ・・・（２８） ＢＭ３＝−α×ｚ [ｋ] −β ・・・（２９） この計算に必要なαおよびβは、上述の式（２４）およ
び（２５）に従ってＢＭＣ２０によって計算される基準
値である。かかる計算は、例えば再生信号ｚ［ｋ］に基
づくエンベロープ検出等の方法で検出され、ＢＭＣ２０
に供給される識別点−Ａ−Ｂ，−Ａ，ＡおよびＡ＋Ｂの
値に基づいてなされる。

【００８０】ＢＭ０〜ＢＭ３の値は、ＡＣＳ２１に供給
される。一方、ＡＣＳ２１は、後述するような圧縮およ
びラッチ回路２２から、１クロック前の規格化パスメト
リックの値（但し、後述するように圧縮のなされたも
の）Ｍ０，Ｍ１，Ｍ２およびＭ３が供給される。そし
て、Ｍ０〜Ｍ３と、ＢＭ０〜ＢＭ３とを加算して、後述
するようにして、最新の規格化パスメトリックの値Ｌ
０，Ｌ１，Ｌ２およびＬ３を計算する。Ｍ０〜Ｍ３が圧
縮のなされたものであるため、Ｌ０〜Ｌ３を計算する際
のオーバーフローを避けることができる。

【００８１】さらに、ＡＣＳ２１は、最新の規格化パス
メトリックの値Ｌ０〜Ｌ３に基づいて、後述するよう
に、最尤な状態遷移を選択し、また、選択結果に対応し
て、パスメモリ２３に供給される選択信号ＳＥＬ０およ
びＳＥＬ２を「High」または「Low」とする。

【００８２】また、ＡＣＳ２１は、Ｌ０〜Ｌ３を圧縮お
よびラッチ回路２２に供給する。圧縮およびラッチ回路
２２は、供給されるＬ０〜Ｌ３を圧縮した後にラッチす
る。その後、１クロック前の規格化パスメトリックＭ０
〜Ｍ３としてＡＣＳ２１に供給する。

【００８３】この際の圧縮の方法としては、例えば以下
に示すように、最新の規格化パスメトリックＬ０〜Ｌ３
から、そのうちの１個、例えばＬ０を一律に差し引く等
の方法が用いられる。

【００８４】Ｍ０＝Ｌ０−Ｌ０ ・・・（３０） Ｍ１＝Ｌ１−Ｌ０ ・・・（３１） Ｍ２＝Ｌ２−Ｌ０ ・・・（３２） Ｍ３＝Ｌ３−Ｌ０ ・・・（３３） この結果として、Ｍ０が常に０の値をとることになる
が、以下の説明においては、一般性を損なわないため
に、このままＭ０と表記する。式（３０）〜（３３）に
よって計算されるＭ０〜Ｍ３の値の差は、Ｌ０〜Ｌ３の
値の差と等しいものとなる。上述したように、最尤な状
態遷移の選択においては、規格化パスメトリック間の値
の差のみが問題となる。従って、このような圧縮方法
は、最尤な状態遷移の選択結果に影響せずに規格化パス
メトリックの値を圧縮し、オーバーフローを防止する方
法として有効である。このように、ＡＣＳ２１と圧縮お
よびラッチ回路２２は、規格化パスメトリックの計算に
関するループを構成する。

【００８５】上述のＡＣＳ２１について、図１１を参照
してより詳細に説明する。ＡＣＳ２１は、６個の加算器
５１、５２、５３、５４、５６、５８および２個の比較
器５５、５７から構成される。一方、上述したようにＡ
ＣＳ２１には、１クロック前の圧縮された規格化パスメ
トリックの値Ｍ０〜Ｍ３および規格化パスメトリックに
対応するブランチメトリックの値ＢＭ０〜ＢＭ３が供給
される。

【００８６】加算器５１には、Ｍ０およびＢＭ０が供給
される。加算器５１は、これらを加算して以下のような
Ｌ００を算出する。

【００８７】Ｌ００＝Ｍ０＋ＢＭ０ ・・・（３４） 上述したように、Ｍ０は、時点ｋ−１において状態Ｓ０
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ
０は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ［ｋ］に基
づいて上述の（２６）式に従って計算されるもの、すな
わちｚ［ｋ］の値そのものである。従って、式（３４）
の値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式
（２０）中のｍ（０，ｋ−１）＋ｚ［ｋ］の値を計算し
たものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓ０
であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ０→Ｓ０によって最
終的に状態遷移Ｓ０に至った場合に対応する計算値であ
る。

【００８８】一方、加算器５２には、Ｍ３およびＢＭ１
が供給される。加算器５１は、これらを加算して以下の
ようなＬ３０を算出する。

【００８９】Ｌ３０＝Ｍ３＋ＢＭ１ ・・・（３５） 上述したように、Ｍ３は、時点ｋ−１において状態Ｓ３
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る、圧縮された規格化パスメトリックである。また、Ｂ
Ｍ１は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ［ｋ］に
基づいて上述の（２７）式に従って計算されるもの、す
なわちα×ｚ［ｋ］−βである。従って、式（３５）の
値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２
０）中のｍ（３，ｋ−１）＋α×ｚ［ｋ］−βの値を計
算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態
Ｓ３であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ３→Ｓ０によっ
て最終的に状態遷移Ｓ０に至った場合に対応する計算値
である。

【００９０】上述のＬ００およびＬ３０は、比較器５５
に供給される。比較器５５は、Ｌ００およびＬ３０の値
を比較し、小さい方を最新の規格化パスメトリックＬ０
とすると共に、選択結果に応じて、上述したように選択
信号ＳＥＬ０の極性を切替える。このような構成は、式
（２０）において、最小値が選択されることに対応する
ものである。すなわち、Ｌ００＜Ｌ３０の場合（この時
は、Ｓ０→Ｓ０が選択される）に、Ｌ００をＬ０として
出力し、且つ、ＳＥＬ０を例えば、「Low」とする。ま
た、Ｌ３０＜Ｌ００の場合（この時は、Ｓ３→Ｓ０が選
択される）には、Ｌ３０をＬ０として出力し、且つ、Ｓ
ＥＬ０を例えば「High」とする。ＳＥＬ０は、後述する
ように、状態Ｓ０に対応するＡ型パスメモリ２４に供給
される。

【００９１】このように、加算器５１、５２および比較
器５５は、上述の式（２０）に対応して、Ｓ０→Ｓ０と
Ｓ３→Ｓ０の内から、時点ｋにおける状態遷移として最
尤なものを選択する動作を行う。そして、選択結果に応
じて、最新の規格化パスメトリックＬ０および選択信号
ＳＥＬ０を出力する。

【００９２】また、加算器５６には、Ｍ０およびＢＭ１
が供給される。加算器５１は、これらを加算して以下の
ようなＬ１を算出する。

【００９３】Ｌ１＝Ｍ０＋ＢＭ１ ・・・（３６） 上述したように、Ｍ０は、時点ｋ−１において状態Ｓ０
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ
１は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ［ｋ］に基
づいて上述の（２７）式に従って計算されるもの、すな
わちα×ｚ［ｋ］−βである。従って、式（３６）の値
は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２
１）の右辺ｍ（０，ｋ−１）＋α×ｚ［ｋ］−βの値を
計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状
態Ｓ０であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ０→Ｓ１によ
って最終的に状態遷移Ｓ１に至った場合に対応する計算
値である。式（２１）が値の選択を行わないことに対応
して、加算器５６の出力がそのまま最新の規格化パスメ
トリックＬ１とされる。

【００９４】加算器５３には、Ｍ２およびＢＭ２が供給
される。加算器５３は、これらを加算して以下のような
Ｌ２２を算出する。

【００９５】Ｌ２２＝Ｍ２＋ＢＭ２ ・・・（３７） 上述したように、Ｍ２は、時点ｋ−１において状態Ｓ２
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ
０は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ［ｋ］に基
づいて上述の（２８）式に従って計算されるもの、すな
わち−ｚ［ｋ］である。従って、式（３７）の値は、上
述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２２）中の
ｍ（２，ｋ−１）−ｚ［ｋ］の値を計算したものとな
る。すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓ２であり、時
点ｋにおける状態遷移Ｓ２→Ｓ２によって最終的に状態
遷移Ｓ２に至った場合に対応する計算値である。

【００９６】一方、加算器５４には、Ｍ１およびＢＭ３
が供給される。加算器５３は、これらを加算して以下の
ようなＬ１２を算出する。

【００９７】Ｌ１２＝Ｍ１＋ＢＭ３ ・・・（３８） 上述したように、Ｍ１は、時点ｋ−１において状態Ｓ１
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ
３は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ［ｋ］に基
づいて上述の（２９）式に従って計算されるもの、すな
わち−α×ｚ［ｋ］−βである。従って、式（３８）の
値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２
２）中のｍ（１，ｋ−１）−α×ｚ［ｋ］−βの値を計
算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態
Ｓ１であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ１→Ｓ２によっ
て最終的に状態遷移Ｓ２に至った場合に対応する計算値
である。

【００９８】上述のＬ２２およびＬ１２は、比較器５７
に供給される。比較器５７は、Ｌ２２およびＬ１２の値
を比較し、小さい方を最新の規格化パスメトリックＬ２
とすると共に、選択結果に応じて、上述したように選択
信号ＳＥＬ２の極性を切替える。このような構成は、式
（２２）において、最小値が選択されることに対応する
ものである。すなわち、Ｌ２２＜Ｌ１２の場合（この時
は、Ｓ２→Ｓ２が選択される）に、Ｌ２２をＬ２として
出力し、且つ、ＳＥＬ２を例えば、「Low」とする。ま
た、Ｌ１２＜Ｌ２２の場合（この時は、Ｓ１→Ｓ２が選
択される）には、Ｌ１２をＬ２として出力し、且つ、Ｓ
ＥＬ２を例えば「High」とする。ＳＥＬ２は、後述する
ように、状態Ｓ２に対応するＡ型パスメモリ２６に供給
される。

【００９９】このように、加算器５３、５４および比較
器５７は、上述の式（２２）に対応して、Ｓ１→Ｓ２と
Ｓ２→Ｓ２の内から、時点ｋにおける状態遷移として最
尤なものを選択する。そして、選択結果に応じて、最新
の規格化パスメトリックＬ２および選択信号ＳＥＬ２を
出力する。

【０１００】また、加算器５８には、Ｍ２およびＢＭ３
が供給される。加算器５８は、これらを加算して以下の
ようなＬ３を算出する。

【０１０１】Ｌ３＝Ｍ２＋ＢＭ３ ・・・（３９） 上述したように、Ｍ２は、時点ｋ−１において状態Ｓ２
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ
３は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ［ｋ］に基
づいて上述の（２９）式に従って計算されるもの、すな
わち−α×ｚ［ｋ］−βである。従って、式（３９）の
値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２
３）の右辺ｍ（２，ｋ−１）−α×ｚ［ｋ］−βの値を
計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状
態Ｓ０であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ２→Ｓ３によ
って最終的に状態遷移Ｓ３に至った場合に対応する計算
値である。式（２３）が値の選択を行わないことに対応
して、加算器５８の出力がそのまま最新の規格化パスメ
トリックＬ３とされる。

【０１０２】上述したようにして、ＡＣＳ２１が出力す
るＳＥＬ０およびＳＥＬ２に従って、パスメモリユニッ
ト（以下、ＰＭＵと表記する）２３が動作することによ
って、記録データａ［ｋ］に対する最尤復号系列として
の復号データａ’［ｋ］が生成される。ＰＭＵ２３は、
図７に示した４個の状態間の状態遷移に対応するため
に、２個のＡ型パスメモリおよび２個のＢ型パスメモリ
から構成される。

【０１０３】Ａ型パスメモリは、その状態に至る遷移と
して２つの遷移（すなわち、自分自身からの遷移と、他
の１個の状態からの遷移）を有し、且つ、その状態を起
点とする２つの遷移（すなわち、自分自身に至る遷移と
他の１個の状態に至る遷移）を有する状態に対応するた
めの構成とされる。従って、Ａ型パスメモリは、図７に
示した４個の状態の内、Ｓ０およびＳ２に対応するもの
である。

【０１０４】一方、Ｂ型パスメモリは、その状態に至る
遷移が１つのみであり、且つ、その状態を起点とする遷
移が１つのみである状態に対応するための構成とされ
る。従って、Ｂ型パスメモリは、図７に示した４個の状
態の内、Ｓ１およびＳ３に対応するものである。

【０１０５】これら２個のＡ型パスメモリおよび２個の
Ｂ型パスメモリが図７に示した状態遷移図に従う動作を
行うために、ＰＭＵ２３において、図１０に示すような
復号データの受渡しがなされるように構成される。すな
わち、Ａ型パスメモリ２４がＳ０に対応し、Ａ型パスメ
モリ２６がＳ２に対応する。また、Ｂ型パスメモリ２５
がＳ１に対応し、また、Ｂ型パスメモリ２７がＳ３に対
応する。このように構成すれは、Ｓ０を起点として生じ
得る状態遷移がＳ０→Ｓ０およびＳ０→Ｓ１であり、Ｓ
２を起点として生じ得る状態遷移がＳ２→Ｓ２およびＳ
２→Ｓ３であることに合致する。また、Ｓ１を起点とし
て生じ得る状態遷移がＳ１→Ｓ２のみであり、Ｓ３を起
点として生じ得る状態遷移がＳ３→Ｓ０のみであること
にも合致する。

【０１０６】Ａ型パスメモリ２４について、その詳細な
構成を図１２に示す。Ａ型パスメモリ２４は、パスメモ
リ長に対応する個数のフリップフロップとセレクタを、
交互に接続したものである。図１２には、１４ビットの
デコードデータ長に対応する構成を示した。すなわち、
１４個のセレクタ３１-1〜３１-14および１５個のフリ
ップフロップ３０-0〜３０-14を有するものである。セ
レクタ３１-1〜３１-14は、何れも２個のデータを受取
リ、その内の１個を選択的に後段に供給するものであ
る。また、フリップフロップ３０-0〜３０-14にクロッ
クが供給されることにより、Ａ型パスメモリ２４全体の
動作タイミングが合わされる。

【０１０７】図７を用いて上述したように、状態Ｓ０に
至る遷移は、Ｓ０→Ｓ０すなわち自分自身から継承する
遷移、およびＳ３→Ｓ０である。このような状況に対応
する構成として、各セレクタは、前段のフリップフロッ
プから供給されるデータすなわちＳ０→Ｓ０に対応する
復号データと、状態Ｓ３に対応するＢ型パスメモリ２７
から供給されるデータすなわちＳ３→Ｓ０に対応する復
号データＰＭ３とを受取る。さらに、各セレクタは、Ａ
ＣＳ２１からＳＥＬ０を供給される。そして、ＳＥＬ０
の極牲に応じて、供給される２個の復号データの内の一
方を後段のフリップフロップに供給する。また、このよ
うにして後段のフリップフロップに供給される復号デー
タは、状態Ｓ１に対応するＢ型パスメモリ２５にもＰＭ
０として供給される。

【０１０８】すなわち、例えばセレクタ３１-14は、前
段のフリップフロップ３０-13から供給されるデータ
と、Ｂ型パスメモリ２７から供給される１４ビットから
なるＰＭ３の１４番目のビット位置のデータとを受取
る。そして、これら２個のデータの内から以下のように
して選択したデータを、後段のフリップフロップ３０-1
4に供給する。上述したようにＳＥＬ０は、選択結果に
応じて、「Low」または「High」とされる。ＳＥＬ０が
例えば「Low」の時は、前段のフリップフロップ３０-13
からのデータが選択されるようになされる。また、ＳＥ
Ｌ０が例えば「High」の時は、ＰＭ３の１４番目のビッ
ト位置のデータが選択されるようになされる。選択され
たデータは、後段のフリップフロップ３０-14に供給さ
れ、また、ＰＭ０の１４番目のビット位置のデータとし
て、状態Ｓ１に対応するＢ型パスメモリ２５に供給され
る。

【０１０９】Ａ型パスメモリ２４中の他のセレクタ３１
-1〜３１-13においても、ＳＥＬ０の極性に応じて、同
様な動作が行われる。従って、Ａ型パスメモリ２４全体
としては、ＳＥＬ０が例えば「Low」の時は、Ａ型パス
メモリ２４中で、各々のフリップフロップがその前段に
位置するフリップフロップのデータを継承するシリアル
シフトを行う。また、ＳＥＬ０が例えば「High」の時
は、Ｂ型パスメモリ２７から供給される１４ビットから
なる復号データＰＭ３を継承するパラレルロードを行
う。何れの場合にも、継承される復号データは、Ｂ型パ
スメモリ２５に１４ビットの復号データＰＭ０として供
給される。

【０１１０】また、最初の処理段となるフリップフロッ
プ３０0には、クロックに同期して常に’０’が入力さ
れる。かかる動作は、Ｓ０に至る状態遷移Ｓ０→Ｓ０と
Ｓ２→Ｓ０の何れにおいても、図７に示すように、復号
データが’０’なので、最新の復号データは、常に’
０’となることに対応している。

【０１１１】上述したように、Ｓ２に対応するＡ型パス
メモリ２６についても、構成自体は、Ａ型パスメモリ２
４と全く同様である。但し、ＡＣＳ２１から入力される
選択信号は、ＳＥＬ２である。また、図６に示すように
状態Ｓ２に至る遷移としては、Ｓ２→Ｓ２すなわち自分
自身から継承する遷移と、Ｓ１→Ｓ２とがある。このた
め、状態Ｓ１に対応するＢ型パスメモリ２５からＰＭ１
を供給される。さらに、状態Ｓ２を起点として生じ得る
状態がＳ２すなわち自分自身と、Ｓ３であることに対応
して、状態Ｓ３に対応するＢ型パスメモリ２７にＰＭ２
を供給する。

【０１１２】また、Ｓ２に対応するＡ型パスメモリ２６
においても、最初の処理段となるフリップフロップに
は、クロックに同期して常に’０’が入力される。かか
る動作は、Ｓ２に至る状態遷移Ｓ２→Ｓ２とＳ１→Ｓ０
の何れにおいても、図７に示すように、復号データが’
０’なので、最新の復号データは、常に’０’となるこ
とに対応している。

【０１１３】他方、Ｂ型パスメモリ２５について、その
詳細な構成を図１３に示す。Ｂ型パスメモリ２５は、パ
スメモリ長に対応する個数のフリップフロップを接続し
たものである。図１３には、１４ビットのデコードデー
タ長に対応する構成を示した。すなわち、１５個のフリ
ップフロップ３２-0〜３２-14を有するものである。フ
リップフロップ３２-0〜３２-14にクロックが供給され
ることにより、Ｂ型パスメモリ２５全体の動作タイミン
グが合わされる。

【０１１４】各フリップフロップ３２-1〜３２-14に
は、状態Ｓ０に対応するＡ型パスメモリ２４から、１４
ビットの復号データがＰＭ０として供給される。例え
ば、フリップフロップ３２-1には、ＰＭ０の１ビット目
が供給される。各フリップフロップ３２-1〜３２-14
は、供給された値を１クロックの間保持する。そして、
状態Ｓ２に対応するＡ型パスメモリ２６に、１４ビット
の復号データＰＭＬとして出力する。例えば、フリップ
フロップ３２-1は、ＰＭＬの２ビット目を出力する。

【０１１５】Ｂ型パスメモリ２５中の他のセレクタ３２
-1〜３２-13においても、同様な動作が行われる。従っ
て、Ｂ型パスメモリ２５全体としては、Ａ型パスメモリ
２４から供給される１４ビットからなる復号データＰＭ
０を受取リ、またＡ型パスメモリ２６に１４ビットから
なる復号データＰＭ１を供給する。

【０１１６】また、フリップフロップ３２-0には、クロ
ックに同期して常に’１’が入力される。かかる動作
は、図７に示したように、最新の状態遷移がＳ０→Ｓ１
である場合に復号データが’１’であることに対応して
いる。

【０１１７】また、上述のように、状態Ｓ３に対応する
Ｂ型パスメモリ２７についても、Ｂ型パスメモリ２５と
全く同様な構成とされる。但し、図７に示すように状態
Ｓ３に至る遷移は、Ｓ２→Ｓ３なので、状態Ｓ２に対応
するＡ型パスメモリ２６からＰＭ２を供給される。さら
に、状態Ｓ３を起点として生じ得る状態がＳ０であるこ
とに対応して、状態Ｓ０に対応するＡ型パスメモリ２４
にＰＭ３を供給するようになされる。Ｂ型パスメモリ２
７においても、最初の処理段となるフリップフロップに
は、クロックに同期して常に’１’が入力される。かか
る動作は、図７に示したように、最新の状態遷移がＳ２
→Ｓ３である場合に復号データが’１’であることに対
応している。

【０１１８】上述したようにして、ＰＭＵ２３中の４個
のパスメモリは、各々復号データを生成する。このよう
にして生成される４個の復号データは、常に正確なビタ
ビ復号動作がなされる場合には、互いに一致することに
なる。ところで、実際のビタビ復号動作においては、４
個の復号データに不一致が生じることも起こり得る。こ
のような不一致は、再生信号に含まれるノイズの影響等
により、上述の識別点ＡおよびＢを検出する際に誤差が
生じる等の要因により、ビタビ復号動作が不正確なもの
となることによって生じる。

【０１１９】一般に、このような不一致が生じる確率
は、再生信号の品質に対応してパスメモリの処理段数
（メモリ長）を充分に大きく設定することによって減少
させることができる。すなわち、再生信号のＣ／Ｎ等の
品質が良い場合には、パスメモリの処理段数が比較的小
さくても復号データ間の不一致が生じる確率は小さい。
これに対して、再生信号の品質が良くない場合には、上
述の不一致が生じる確率を小さくするためには、パスメ
モリの処理段数を大きくする必要がある。再生信号の品
質に対してパスメモリの処理段数が比較的小さくて、復
号データ間の不一致が生じる確率を充分に低くすること
ができない場合には、４個の復号データから、例えは多
数決等の方法によって、より的確なものを選択するよう
な、図示しない構成がＰＭＵ２３中の４個のパスメモリ
の後段に設けられる。

【０１２０】１−５ ４値４状態ビタビ復号方法以外の
ビタビ復号方法 上述した４値４状態ビタビ復号方法は、フィルタ部１１
において用いられる波形等化特性がＰＲ（１，２，１）
であり、且つ、記録データとしてＲＬＬ（１，７）符号
が採用される場合に用いられる。例えば、記録線密度
０．４０μｍ，レーザ波長６８５ｎｍ，ＮＡ＝０．５５
の場合には、波形等化特性をＰＲ（１，２，１）とし、
４値４状態ビタビ復号方法を用いることが最適となる。
他方、波形等化特性または記録データを生成するための
符号化方法に応じて、他の種類のビタビ復号方法が用い
られることもある。

【０１２１】例えば、波形等化特性がＰＲ（１，１）で
あり、且つ、記録データとしてＲＬＬ（１，７）符号が
用いられる場合には、３値４状態ビタビ復号方法が用い
られる。また、波形等化特性がＰＲ（１，３，３，１）
であり、且つ、記録データとしてＲＬＬ（１，７）符号
が用いられる場合には、７値６状態ビタビ復号方法が用
いられる。このようなビタビ復号方法の内、何れを用い
るかを選択するための要素の１つとなる波形等化特性
は、再生信号上の符号間干渉に適合する程度が良いもの
が採用される。従って、上述したように、線記録密度お
よびＭＴＦを考慮して最適なものとされる。

【０１２２】また、波形等化特牲の理論値からのずれ、
および再生信号の振幅変動、非対称歪等によって、識別
点の値が理論と異なる場合もある。このような場合を考
慮して、ビタビ復号方法を修正して用いることも行われ
る。例えば４値４状態ビタビ復号方法において、波形等
化特牲を正確にＰＲ（１，２，１）とすることは困難で
ある点を考慮して、後述するように６個の識別点を前提
とした６値４状態ビタビ復号方法が用いられることもあ
る。

【０１２３】２．実施の形態の記録再生装置 ２−１ 概要 以下、上述してきたような記録再生装置として適用でき
る、本発明の実施の形態としての記録再生装置を説明し
ていく。本例の記録再生装置では、ビタビ復号器の動作
によって選択される状態遷移に基づいてリードクロック
毎に、上述した振幅基準値の更新を行うことによって振
幅基準値を再生信号に適応化させている。この際、適応
化された振幅基準値からチャンネルクオリティ（以降、
ＣＨＱという）、及びアシンメトリ値を得ることができ
る。このＣＨＱ値、アシンメトリ値は、再生データの品
質に応じた値となる。そこで本例ではこのＣＨＱ値、ア
シンメトリ値を利用して再生データの信頼性を判断し、
記録再生装置のリトライシーケンスをスムースに行うも
のである。

【０１２４】ところで、振幅基準値をビタビ復号器の動
作によって選択される状態遷移に基づいて更新するため
には、かかる状態迄移に対応する復号データ値の系列と
しての復号データではなく、状態遷移そのものを表現す
るデータが必要となる。そこで本例におけるビタビ復号
器においては、復号データ値の代わりに状態そのものを
表現する状態データ値を用いることによって、選択され
る状態遷移そのものを表現する状態データを生成するよ
うになされる。このため、上述の光磁気ディスク装置の
―例におけるパスメモリユニットＰＭＵの代わりに、後
述するようにして状態データ値の系列を生成するステー
タスメモリユニット(以下、ＳＭＵと表記する)が用いら
れる。

【０１２５】例えば４値４状態ビタビ復号方法等の４個
の状熊を有する場合には、かかる４個の状態を２ビット
で表現できるので、このような２ビットのデータを状態
データ値として用いることができる。そこで、図７中の
Ｓ０，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３を、それぞれ２ビットの状態デ
ータ値、００，０１，１１，１０を用いて表現すること
ができる。そこで、以下の説明においては、図７中のＳ
０，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３をそれぞれＳ００，Ｓ０１，Ｓ１
１，Ｓ１０と表記することにする。

【０１２６】また、例えば光磁気ディスクのセクタフォ
ーマットにおいては 上述の２種類の領域としてアドレ
ス部とデータ部が設けられている。アドレス部は、エン
ボス加工等によって形成される、当該セクタのアドレス
に関する情報等を有する領域である。図３を参照して説
明したセクタフォーマットの―例においては、へッダが
アドレス部である。また、データ部は，光磁気的にユー
ザデータ等が記録される領域である。そして、ヘッダに
後続するＡＬＰＣギャップ以降の部分がデータ部とな
る。

【０１２７】アドレス部およびデータ部から再生される
再生信号は、Ｃ／Ｎ等の点で異なる信号品質を有するも
のである。すなわち、―般に、アドレス部から再生され
る再生信号は、Ｃ／Ｎが良く、データ部から再生される
再生信号は、Ｃ／Ｎが良くない。

【０１２８】また、以下の説明においては、波形等化特
性として、上述のＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）の代わりに、Ｐ
Ｒ（α，β，γ）を前提とする。このような前提は、実
際の光磁気ディスク装置等においては、理想通りのパー
シャルレスポンス特性を得ることが難しく、波形等化特
性が非対称なものとなることが多いことを考慮したもの
である。

【０１２９】理想通りのパーシャルレスポンス特性を得
ることが難しい原因としては、波形等化器の動作精度の
限界、記録時のレーザパワーが過大または過小であるこ
とに起因するアシンメトリー(波形の非対称性)および再
生信号からＡ／Ｄ変換器によるサンプリングを行う際に
用いられるリードクロックの位相誤差等がある。

【０１３０】上述した４値４状態ビタビ復号方法の場合
と同様に考えると、記録時にＲＬＬ（１，７）符号化等
のＲＬｍｉｎ＝２となる符号化を行い、且つ、再生時の
パーシャルレスポンス特性がＰＲ（α，β，γ）である
場合には、６値４状態となることがわかる。すなわち、
ＲＬｍｉｎ＝２という条件によって除かれる２個の状態
以外の２³−２＝６個の｛ｂ〔ｊ−１〕，ｂ〔ｊ〕，ｂ
〔ｊ＋１〕｝の組の各々について、識別点の値すなわち
ノイズが無い理想的な場合における波形等化後の再生信
号値ｃ〔ｊ＋１〕が異なる値をとる。

【０１３１】このような６個の識別点の値をｃｐｑｒと
表記する。ここでｐ，ｑ，ｒは、それぞれｂ〔ｊ−
１〕，ｂ〔ｊ〕，ｂ〔ｊ＋１〕を表現している。各識別
点の値と状態遷移の関係を図１４に示す。なおこの図１
４は上述したように、図７中のＳ０，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３
をＳ００，Ｓ０１，Ｓ１１，Ｓ１０と表記したものであ
る。ここで、ＲＬｍｉｎ＝２であるため、ｃ０１０およ
びｃ１０１が無いことに注意が必要である。以下の説明
は、図１４の状態遷移図に従う６値４状態を前提として
行う。

【０１３２】また、図１４中の６個の状態遷移に対応し
て計算されるブランチメトリックを以下のように表記す
る。まず、遷移前の状態と遷移後の状熊を表記するそれ
ぞれ２ビットの状態データ値を書き並べて４個の数字の
列とする。次に、中央寄りの２個の(すなわち２番目と
３番目の)数字を１個の数字とすることによって、３個
の数字の列として、１リードクロックの間に生じ得るブ
ランチメトリックを表記する。例えば状態遷移Ｓ１１→
Ｓ１０に伴うブランチメトリックは、ｂｍ１１０と表記
される。このようにして、図１４中の６種類の状態遷移
に対応するブランチメトリックを、図１５に示すように
表記できる。

【０１３３】さらに、リードクロックに従って動作する
Ａ／Ｄ変換器によってサンプリングされる実際の再生信
号値ｚ〔ｋ〕と各識別点の値のユークリッド距離として
定義されるブランチメトリックは、以下のように計算さ
れる。

【０１３４】 ｂｍ０００＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ０００）² ・・・（４０） ｂｍ００１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ００１）² ・・・（４１） ｂｍ０１１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ０１１）² ・・・（４２） ｂｍ１１１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１１１）² ・・・（４３） ｂｍ１１０＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１１０）² ・・・（４４） ｂｍ１００＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１００）² ・・・（４５） ブランチメトリックをこのように計算する場合には、各
識別点の値がそのまま振幅基準値とされる。なお２乗計
算を避ける等の目的で規格化パスメトリックを用いる場
合には、規格化パスメトリックに対応するブランチメト
リックは、式（４０）〜（４５）に従うものとは異な
る。このような場合には、振幅基準値として各識別点の
値をそのまま用いることはできないが、この発明を適用
することは可能である。

【０１３５】このようなブランチメトリックの値を用い
て、時点ｋにおける状態Ｓｉｊのパスメトリックｍｉｊ
〔ｋ〕が以下のように計算される。これらの式は、４値
４状態ビタビ復号方法における上述の（１５）〜（１
８）に相当するものである。

【０１３６】 ｍ１０〔ｋ〕＝ｍ１１〔ｋ−１〕＋ｂｍ１１０ ・・・（４６） ｍ１１〔ｋ〕＝ｍｉｎ｛ｍ１１〔ｋ−１〕＋ｂｍ１１１， ｍ０１〔ｋ−１〕＋ｂｍ０１１｝ ・・・（４７） ｍ０１〔ｋ〕＝ｍ００〔ｋ−１〕＋ｂｍ００１ ・・・（４８） ｍ００〔ｋ〕＝ｍｉｎ｛ｍ００〔ｋ−１〕＋ｂｍ０００， ｍ１０〔ｋ−１〕＋ｂｍ１００｝ ・・・（４９）

【０１３７】２−２ 装置構成 図１６は、本例の記録再生装置の全体構成を示すブロッ
ク図である。なお、図１等を参照して上述した光磁気デ
ィスク装置の一例と同様の構成要素には、同一の符号を
付した。記録系および図示しないサーボ系等について
は、上述した光磁気ディスク装置の一例と同様である。
また光ピックアップ７からＡ／Ｄ変換器１２までの再生
系の構成および動作は、上述の光磁気ディスク装置の一
例と概略同様である。但しＡ／Ｄ変換器１２の出力はビ
タビ復号器１３０とデータメモリユニット（以下、ＤＭ
Ｕ）１００に供給される。また図１と比較してわかるよ
うに、本例において最も特徴的となる構成部分（符号１
００〜１０６の各ブロック）が加えられているが、これ
らについては後述する。

【０１３８】ビタビ復号器１３０は、Ａ／Ｄ変換器１２
から供給される再生信号値ｚ［ｋ］に基づいて、最尤な
状態遷移を選択し、選択される状態遷移そのものを表現
する状態データを生成する。そして状態データを後述す
る振幅基準値適応化部（以下、ＲＡＡ）１０１に供給す
る。また状態データに基づいて復号データを生成し、コ
ントローラ２に供給する。コントローラ２は、上述した
光磁気ディスク装置の一例と同様に、供給される復号デ
ータに基づく復号化処理を行い、ユーザデータおよびア
ドレスデータ等を再生する。

【０１３９】一方、ＤＭＵ１００は、供給される再生信
号値ｚ［ｋ］を所定時間遅延させてＲＡＡ１０１に供給
する。この遅延は、ビタビ復号器１３０によって生成さ
れる状態データが、再生信号値ｚ［ｋ］に対してｎリー
ドクロックの遅延を有することにタイミングを合わせる
ために行われるものである。なお従って、ビタビ復号器
１３０内のＳＭＵ１３４が生成する状態データ値を、こ
の遅延時間のため、ｓｍ［ｋ＋ｎ］と表記する。

【０１４０】ＲＡＡ１０１は、各時点において供給され
る状態データ値ｓｍ［ｋ＋ｎ］及びＤＭＵ１００でｎク
ロック分遅延させられた再生信号値ｚ［ｋ］に基づい
て、振幅基準値をリードクロック毎に更新する。そして
更新された振幅基準値をビタビ復号器１３０内のＢＭＣ
１３２に供給する。

【０１４１】まずここで、ビタビ復号器１３０について
詳細に説明していく。ビタビ復号器１３０は、ＢＭＣ１
３２，ＡＣＳ１３３、ＳＭＵ１３４およびマージブロッ
ク１３５から構成される。そして、これらの各構成要素
には、ＰＬＬ部１４からリードクロックＤＣＫ（以下、
クロックと表記する）が供給され、動作タイミングが合
わされる。

【０１４２】ＢＭＣ１３２は、再生信号値ｚ［ｋ］に基
づいて、ＲＡＡ１０１から供給される振幅基準値のもと
で、式（４０）〜式（４５）に従ってブランチメトリッ
クｂｍ０００〜ｂｍ１１１を計算し、計算したブランチ
メトリックをＡＣＳ１３３に供給する。

【０１４３】ＡＣＳ１３３は、供給されるブランチメト
リックの値に基づいて、式（４６）〜式（４９）に従っ
てパスメトリックの値を計算し、計算値を比較すること
によって最尤な状態遷移を選択する。そして選択信号Ｓ
ＥＬ００及びＳＥＬ１１をＳＭＵ１３４に供給する。

【０１４４】ＳＭＵ１３４について図１７を参照して説
明する。上述した光磁気ディスク装置の一例中のＰＭＵ
２３が１ビットの復号データ値を単位とする処理を行う
ものであるのに対し、ＳＭＵ１３４は、２ビットの状態
データ値を単位とする処理を行うものである。かかる処
理によって、状態データ値ｓｍ［ｋ＋ｎ］の系列として
の状態データが生成される。

【０１４５】図１７に示すように、ＳＭＵ１３４は、２
個のＡ型ステータスメモリ１５０および１５１、並びに
２個のＢ型ステータスメモリ１５２および１５３を有し
ている。さらにセレクト信号ＳＥＬ００およびＳＥＬ１
１、クロック、並びに他のステータスメモリとの状態デ
ータの受渡し等のための信号線を接続されて構成され
る。Ａ型ステータスメモリ１５０と１５１は、それぞ
れ、状態Ｓ００とＳ１１に対応する。また、Ｂ型ステー
タスメモリ１５２と１５３は、それぞれ状態Ｓ０１とＳ
１０に対応する。これら４個のステータスメモリ相互の
接続は、図１４の状態遷移図に従うものとされる。

【０１４６】図１８を参照して、状態Ｓ００に対応する
Ａ型ステータスメモリ１５０についてより詳細に説明す
る。Ａ型ステータスメモリ１５０は、ｎ個の処理段を有
する。すなわち、ｎ個のセレクタ２０１-0・・・２０１
-(n-1)と、ｎ個のレジスタ２０２-0・・・２０２-(n-1)
とが交互に接続されている。各セレクタ２０１-0〜２０
１-(n-1)には、セレクト信号ＳＥＬ００が供給される。
さらに、各セレクタには、上述したように、Ｓ１０に対
応するＢ型ステータスメモリ１５３から継承する状態デ
ータがｎビットからなるＳＭｉｎとして供給される。ま
た、各レジスタには、上述したように、Ｓ０１に対応す
るＢ型ステータスメモリ１５２に継承される状態データ
がｎ−１個の状態データ値からなるＳＭｏｕｔとして出
力される。また、各レジスタ２０２-0〜２０２-(n-1)に
は、クロックが供給される。

【０１４７】各セレクタの動作について説明する。図１
４に示すように、Ｓ００にて遷移し得る１クロック前の
状態は、Ｓ００およびＳ１０の何れかである。１クロッ
ク前の状態がＳ００である時は、自身を継承する遷移が
なされることになる。このため、１段目のセレクタ２０
１-0には、シリアルシフトによって生成される状態デー
タ中の最新の状態データ値として、’００’が入力され
る。セレクタ２０１-0には、パラレルロ―ドとして、Ｂ
型ステータスメモリ１５３から供給される状態データ中
の最新の状態データ値ＳＭｉｎ［１］が供給される。セ
レクタ２０１-0は、上述の選択信号ＳＥＬ００に従っ
て、これら２個の状態データ値の内の１個を後段のレジ
スタ２０２-0に供給する。

【０１４８】また、２段目以降の各セレクタ２０１-1〜
２０１-(n-1)は、２個のデータすなわち、パラレルロー
ドとしてＳ１０に対応するＢ型ステータスメモリ１５３
から供給される１個の状態データ値と、シリアルシフト
として前段のレジスタから供給される１個の状態データ
値とを受取る。そして、これら２個の状態データの内か
ら、選択信号ＳＥＬ００に従って、最尤なものと判断さ
れた状態データ値を後段のレジスタに供給する。セレク
タ２０１-0〜２０１-(n-1)が全て同一の選択信号ＳＥＬ
００に従うので、ＡＣＳ１３３が選択する最尤な状態デ
ータ値の系列としての状態データが継承される。

【０１４９】さらに、各レジスタ２０２-0〜２０２-(n-
1)は、上述したように供給される状態データ値をクロッ
クに従って取込むことによって、保持している状態デー
タ値を更新する。また、上述したように、各レジスタの
出力は、１クロック後に遷移し得る状態に対応するステ
ータスメモリに供給される。すなわち、Ｓ００自身に遷
移し得るので、シリアルシフトとして後段のセレクタに
供給される。また、パラレルロードとして、Ｓ０１に対
応するＢ型ステータスメモリ１５２に対して供給され
る。最終段のレジスタ２０２-(n-1)から、状態データ値
ＶＭ００が出力される。状態データ値ＶＭ００がクロッ
クに従って出力されることにより、全体として状態デー
タが生成される。

【０１５０】状態Ｓ１１に対応するＡ型ステータスメモ
リ１５１は、Ａ型ステータスメモリ１５０と同様に構成
される。但し、図１４中の状態遷移Ｓ０１→Ｓ１１に対
応するパラレルロードとして、Ｓ０１に対応するＢ型ス
テータスメモリ１５２から状態データを供給される。ま
た、図１４中の状態遷移Ｓ１１→Ｓ１０に対応するパラ
レルロードとして、Ｓ１０に対応するＢ型ステータスメ
モリ１５３に状態データを供給する。

【０１５１】次に図１９を参照して、状態Ｓ０１に対応
するＢ型ステータスメモリ１５２について説明する。Ｂ
型ステータスメモリは、図１４において自身を継承せ
ず、且つ、１クロック後に遷移し得る状態が１個だけで
ある状態に対応するものである。このため、シリアルシ
フトを行わず、且つ、セレクタが設けられていない。従
って、ｎ個のレジスタ２１２-0，２１２-1，・・・２１
２-(n-1)が設けられ、各レジスタにクロックが供給され
て動作タイミングが合わされる。

【０１５２】各レジスタ２１２-0，２１２-1，・・・２
１２-(n-1)には、Ｓ００に対応するＡ型ステータスメモ
リ１５０から継承する状態データがｎ−１個の状態デー
タ値からなるＳＭｉｎとして供給される。但し、最初の
処理段となるレジスタ２１２0には、クロックに同期し
て常に’００’が入力される。かかる動作は、図１４に
示されるように、Ｓ０１に遷移し得る最新の状態遷移が
常にＳ００であることに対応している。各レジスタ２１
２-0〜２１２-(n-1)は、供給される状態データ値をクロ
ックに従って取込むことによって、保持している状態デ
ータ値を更新する。また、クロックに従ってなされる各
レジスタの出力は、n-1個の状態データ値からなる状態
データＳＭｏｕｔとして、１クロック後に遷移し得る状
態Ｓ１１に対応するＡ型ステータスメモリ１５１に供給
される。最終段のレジスタ２１２-(n-1)から、状態デー
タ値ＶＭ０１が出力される。状態データ値ＶＭ０１がク
ロックに従って出力されることにより、全体として状態
データが生成される。

【０１５３】状態Ｓ１０に対応するＢ型ステータスメモ
リ１５３は、Ｂ型ステータスメモリ１５２と同様に構成
される。但し、図１４中の状態遷移Ｓ１１→Ｓ１０に対
応するパラレルロードとして、Ｓ１１に対応するＡ型ス
テータスメモリ１５１から状態データを供給される。ま
た、図１４中の状態遷移Ｓ１０→Ｓ００に対応するパラ
レルロードとして、Ｓ００に対応するＡ型ステータスメ
モリ１５０に状態データを供給する。また、最初の処理
段となるレジスタには、クロックに同期して、常に’１
１’が入力される。かかる動作は、図１４に示すよう
に、Ｓ１０に遷移し得る１クロック前の状態がＳ１１で
あることに対応するものである。

【０１５４】ところで、ビタビ復号方法においては、各
ステータスメモリが生成する状態データ値ＶＭ００，Ｖ
Ｍ１１，ＶＭ０１およびＶＭ１０は、ステータスメモリ
のメモリ長ｎを充分大きくとれば互いに―致する。この
ような場合には、４個のステータスメモリが生成する状
態データ値の内の何れをｓｍ〔ｋ＋ｎ〕として後段に出
カしても良い。メモリ長ｎは、再生信号のＣ／Ｎおよび
周波数特性等を考慮して決められる。

【０１５５】次に、マージブロック１３５について説明
する。マージブロック１３５は、ＲＯＭ等の手段に図２
０に示す復号マトリクスのテーブルを記憶している。そ
して、かかる復号マトリクスを参照して、状態データに
基づく復号データを生成し、コントロ―ラ２に供給す
る。図１４の状態遷移図から、復号データ値は、連続す
る２個の状態データ値に対応していることがわかる。す
なわち、再生信号値ｚ〔ｋ〕に対応して生成される状態
データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕と、その１クロック前に、再生
信号値ｚ〔ｋ−ｌ〕に対応して生成される状態データ値
ｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕に基づいて、時点ｋ＋ｎにおける復
号データ値を決めることができる。

【０１５６】例えば、ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕が'01'で、ｓｍ
〔ｋ＋ｎ−１〕が'00'である場合には、図１４から、復
号データ値として'1'が対応することがわかる。このよ
うな対応をまとめたものが図２０の復号マトリクスのテ
ープルである。

【０１５７】次にＲＡＡ１０１による振幅基準値の更新
について説明する。上述したように、ＳＭＵ１３４によ
って生成される状態データおよびＤＭＵ１００によって
遅延させられた再生信号値ｚ〔ｋ〕に基づいて、ＲＡＡ
１０１が振幅基準値を更新するための計算をクロック毎
に行う。この計算は次にように行われる。

【０１５８】再生信号値ｚ〔ｋ〕に対応して生成される
状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕と、その１クロック前に生
成された状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕とから、図１
４に従って、これら２個の状態データ値間に生じた状態
遷移およびかかる状態遷移に対応する振幅基準値を特定
することができる。このようにして特定された振幅基準
値について、既存の値と、再生信号値ｚ〔ｋ〕とから、
新たな振幅基準値が計算される。

【０１５９】この振幅基準値の計算は、アドレス部、デ
ータ部の各々について別個に行われる。従って、６値４
状態ビタビ復号方法については、６・２＝１２個の振幅
基準値が適応化されることになる。

【０１６０】振幅基準値の計算について、ｓｍ〔ｋ＋
ｎ〕＝’０１’、およびｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕＝’１１’
である場合を例として具体的に説明する。これは図１４
における状態遷移Ｓ０１→Ｓ１１が生じる場合である。
また、かかる状態遷移に対応する振幅基準値がｃ０１１
であることが図１４に示されている。従って、ＲＡＡ１
０１は、振幅基準値を更新する計算を以下のように行
う。

【０１６１】 Ａｃ０１１（新）＝δ・ｚ〔ｋ〕＋（１−δ）・Ａｃ０１１（旧）・・（５０） Ｄｃ０１１（新）＝δ・ｚ〔ｋ〕＋（１−δ）・Ｄｃ０１１（旧）・・（５１） ここで、Ａｃ０１１（新），Ｄｃ０１１（新）がそれぞ
れアドレス部、データ部の振幅基準値として新たに計算
された値である。また、Ａｃ０１１（旧），Ｄｃ０１１
（旧）がそれぞれアドレス部、データ部の更新前の値で
ある。

【０１６２】一般には、ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕＝ｐｑ、および
ｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕＝ｑｒである場合に、振幅基準値の
新たな値が以下のように計算される。

【０１６３】 Ａｃｐｑｒ（新）＝δ・ｚ〔ｋ〕＋（１−δ）・Ａｃｐｑｒ（旧）・・（５２） Ｄｃｐｑｒ（新）＝δ・ｚ〔ｋ〕＋（１−δ）・Ｄｃｐｑｒ（旧）・・（５３） ここで、Ａｃｐｑｒ（新），Ｄｃｐｑｒ（新）がそれぞ
れアドレス部、データ部の振幅基準値として新たに計算
された値である。また、Ａｃｐｑｒ（旧），Ｄｃｐｑｒ
（旧）がそれそれアドレス部、データ部の更新前の値で
ある。

【０１６４】また、δは修正係数である。δの値を設定
するに際しては、再生信号の振幅およびその変動、アシ
ンメトリー等の歪み、波形等化器の動作における誤差等
の記録系および再生系の比較的継続的な特性、並びに記
録媒体上の欠陥等に起因するイレギュラーな特性を考慮
する必要がある。

【０１６５】すなわち、δの値が大きい程、式（５２）
または（５３）に従ってなされる更新によって、振幅基
準値が再生信号の振幅変動、アシンメトリーおよび波形
等化器の動作における誤差等をより強く反映するものと
なる。反面、振幅基準値が記録媒体上の欠陥等に起因す
るディフェクト等のイレギュラーな信号によっても影響
され易い。一方、δの値を小さくすると、振幅基準値が
ディフェクト等のイレギュラーな信号に影響されにくく
なるが、反面、振幅基準値の再生信号に対する追従が緩
やかなものとなるため、式（５２）または（５３）に従
ってなされる更新による振幅基準値の適応化の効果が減
少する。

【０１６６】上記式（５２）、式（５３）に従ってＲＡ
Ａ１０１で新たな振幅基準値が算出され、ＢＭＣ１３２
に供給される。そしてこれまでの説明から理解されるよ
うに、例えば６値４状態のビタビ復号の場合（ＲＬＬ
（１，７）の場合は４値４状態となる）、適応化される
振幅基準値は、ｃ０００、ｃ００１、ｃ０１１、ｃ１０
０、ｃ１１０、ｃ１１１となる。そしてこのような振幅
基準値が、記録状況やデフォーカスなどの様々な要因に
応じて適応的に変動させられることで、各種要因による
影響を吸収することができる。

【０１６７】２−３ 信号品質情報としてのＣＨＱ／ア
シンメトリに関する動作 本例では、状態データに基づいてＲＡＡ１０１から出力
される振幅基準値から信号品質情報を生成し、その信号
品質情報を基準値と比較する。そしてその比較結果を動
作リトライのトリガとするようにすることを特徴とする
ものである。以下、このための構成及び動作について説
明していく。

【０１６８】図１６に示したように、本例の記録再生装
置には上述してきた構成に加え、さらにＣＨＱ／アシン
メトリ算出部（以下、算出部）１０２、ＣＨＱ比較部１
０３、アシンメトリ比較部１０４、セレクタ１０５、レ
ジスタ１０６が設けられる。

【０１６９】算出部１０２には、ＤＭＵ１００でｎクロ
ック分遅延させられた再生信号値ｚ［ｋ］と、上述のよ
うにＲＡＡ１０１で計算され出力される振幅基準値ｃ０
００、ｃ００１、ｃ０１１、ｃ１００、ｃ１１０、ｃ１
１１が供給される。そして算出部１０２では、これらの
信号から信号品質を示す情報として、ＣＨＱ値及びアシ
ンメトリ値を算出する。

【０１７０】なお本例では、ＰＬＬ１４でのクロックＤ
ＣＫの制御に用いる位相エラー信号ＰＥも、算出部１０
２で算出し、ＰＬＬ１４（例えばＤ／Ａ変換器、ループ
フィルタ、ＶＣＯから成る）に供給するようにしてい
る。このためＳＭＵ１３４からの状態データが供給され
る。算出部１０２ではその状態データに基づいて位相エ
ラーを抽出すべきタイミングを得、そのタイミングで再
生信号値ｚ［ｋ］を取り込んでリードクロックの位相エ
ラー信号ＰＥを算出する。位相エラー信号ＰＥは例えば
次のように算出される。 ＰＥ＝（ｐｈ００１−ｐｈ１００）＋（ｐｈ０１１−ｐｈ１１０）・・（５４） ここで「ｐｈ＊＊＊」は、状態遷移に対応する再生信号
値であり、例えば最尤の結果入力ｚ［ｋ＋ｍ］がｃ１１
０に対応した場合は、ｐｈ１１０＝ｚ［ｋ＋ｍ］とな
る。

【０１７１】算出部１０２では、上記のようにＣＨＱ値
及びアシンメトリ値を算出するが、まずＣＨＱ値とは、
大別してジッタークオリティとフェイズクオリティに相
当する値となるものである。再生信号のジッターは、ｎ
クロック遅延された再生信号値ｚ［ｋ］と、適応化され
た振幅基準値ｃｐｑｒ［ｋ＋ｎ］の差の絶対値で定義さ
れる。ただし振幅基準値ｃｐｑｒ［ｋ＋ｎ］とは、上記
のようにｃ０００、ｃ００１、ｃ０１１、ｃ１００、ｃ
１１０、ｃ１１１の６値がある。ジッタークオリティ
は、このジッターの値のある時間区間内での平均値（又
は総和）とされる。また、フェイズクオリティは、上記
式（５４）で算出される位相エラー信号ＰＥの絶対値の
ある時間区間内での平均値（又は総和）とされる。

【０１７２】ＣＨＱ値とは、このジッタークオリティの
総和とフェイズクオリティの総和の一方、又は両方の和
とされる。従って、 ＣＨＱ＝Σ（｜ｃｐｑｒ［ｋ＋ｎ］−ｚ［ｋ］｜） ・・・（５５） 又は、 ＣＨＱ＝Σ｜（ｐｈ００１−ｐｈ１００）＋（ｐｈ０１１−ｐｈ１１０）｜ ＝Σ（｜ＰＥ｜） ・・・（５６） 又は、 ＣＨＱ＝Σ（｜ｃｐｑｒ［ｋ＋ｎ］−ｚ［ｋ］｜）＋Σ（｜ＰＥ｜） ・・・（５７） となる。このようなＣＨＱ値は、値が小さいほど、再生
データの状態もしくはビタビ復号動作が良好であること
を示すことになる。

【０１７３】アシンメトリ値は、再生信号波形の非対称
性を示すパラメータとなり、このアシンメトリ値ＡＳＹ
は次のように定義される。 ＡＳＹ＝（ｃ１１１＋ｃ０００）−｛（ｃ０１１＋ｃ００１＋ｃ１１０＋ ｃ１００）／２｝ ＝（ｃ１１１＋ｃ０００）−（ｃ０１１＋ｃ００１） ＝（ｃ１１１＋ｃ０００）−（ｃ１１０＋ｃ１００） ・・・（５８） このアシンメトリ値は値が小さいほど、波形対称性が良
好であることを示すことになる。

【０１７４】以上のようにして算出されるＣＨＱ値、ア
シンメトリ値は、それぞれＣＨＱ比較部１０３、アシン
メトリ比較部１０４に供給される。ＣＨＱ比較部１０
３、アシンメトリ比較部１０４には、それぞれレジスタ
１０６に設定されている基準値ＣＨＱ−ＲＥＦ、ＡＳＹ
−ＲＥＦも供給されている。

【０１７５】基準値ＣＨＱ−ＲＥＦは、ＣＨＱ値として
の許容範囲の上限となる値に設定され、ＣＨＱ比較部１
０３では、算出部１０２からのＣＨＱ値が基準値ＣＨＱ
−ＲＥＦを越えた際に、アクティブとなる比較結果を出
力する。また基準値ＡＳＹ−ＲＥＦは、アシンメトリ値
としての許容範囲の上限となる値に設定され、アシンメ
トリ比較部１０４では、算出部１０２からのアシンメト
リ値が基準値ＡＳＹ−ＲＥＦを越えた際に、アクティブ
となる比較結果を出力する。

【０１７６】なおＣＨＱ比較部１０３、アシンメトリ比
較部１０４からの比較結果出力はラッチ型とされる。Ｃ
ＨＱ値又はアシンメトリ値が基準値ＣＨＱ−ＲＥＦ又は
ＡＳＹ−ＲＥＦを越えた時点でアクティブ状態にラッチ
されて出力が固定される。ラッチ出力のクリアは、レジ
スタ１０６からのクリアパルスＣＬＲにより行われる。

【０１７７】ＣＨＱ比較部１０３からの出力及びアシン
メトリ比較部１０４からの出力は、セレクタ１０５によ
り選択的にコントローラ２に供給される。従ってコント
ローラ２は、ＣＨＱ比較部１０３又はアシンメトリ比較
部１０４からのアクティブとなったラッチ出力（以下、
トリガ出力ＴＧ）を再生信号もしくは再生動作（又は記
録動作）の信頼性が低下した際の検出信号として認識で
きることになる。

【０１７８】なおコントローラ２は、レジスタ１０６に
対する基準値ＣＨＱ−ＲＥＦ、ＡＳＹ−ＲＥＦのロー
ド、レジスタ１０６からのクリアパルスＣＬＲの出力制
御、セレクタ１０５の切換制御を行う。

【０１７９】このような構成から理解されるように、コ
ントローラ２は、トリガ出力ＴＧを監視していること
で、記録再生動作や再生信号品質についての信頼性が低
下した際に、即座にその事態を認識できることになる。
従って、例えば図２１のようなリトライシーケンスが可
能となる。即ちコントローラ２は、例えば所定時間毎の
割込処理などにより逐次ステップＦ１０１としてトリガ
出力ＴＧのチェックを行い、トリガ出力ＴＧが非アクテ
ィブな状態であったら、ステップＦ１０２からＦ１０３
で実行中の処理（例えば再生動作制御処理）を継続す
る。一方、ステップＦ１０２でトリガ出力がアクティブ
となっていることが検出されたら、ステップＦ１０４に
進んで、実行中の処理を中断し、リトライ動作に移るよ
うにする。

【０１８０】リトライ動作内容としてはその時点での動
作状況により各種考えられるが、再生時には信頼性の低
下したセクターデータの再読出／復号処理を行う際に、
イコライザ特性の調整、レーザリードパワーの調整など
も行うことが考えられる。同様にデータ記録時のベリフ
ァイ処理過程に上記トリガ出力ＴＧから信頼性低下が検
出された場合は、リトライとして再書込を行う際に、レ
ーザライトパワーの調整を行うことも考えられる。

【０１８１】例えばこのようなリトライシーケンスを行
うことで、コントローラ２はベリファイ動作などのデー
タ信頼性チェック処理等を行わずに即座にリトライを実
行できることになる。なお、ＣＨＱ比較部１０３、アシ
ンメトリ比較部１０４では、クロック単位で供給される
ＣＨＱ値及びアシンメトリ値に対して比較動作を行って
いくものであるが、上記のようにＣＨＱ比較部１０３、
アシンメトリ比較部１０４がラッチ出力型とされている
ことで、コントローラ２はＣＨＱ値又はアシンメトリ値
が許容範囲を越えてしまった事態を見逃すことなく確認
できる。

【０１８２】また基準値ＣＨＱ−ＲＥＦ、ＡＳＹ−ＲＥ
Ｆは、コントローラ２がレジスタ１０６にロードするこ
とで設定されるようにしており、従ってコントローラ２
は基準値ＣＨＱ−ＲＥＦ、ＡＳＹ−ＲＥＦを変更するこ
とも可能となる。このため記録再生装置の記録再生性能
や動作環境、ディスク６の品質などに応じて適宜、基準
値ＣＨＱ−ＲＥＦ、ＡＳＹ−ＲＥＦを適正な値に設定す
ることで、上記トリガ出力ＴＧ自体の信頼性も維持でき
る。

【０１８３】ところで、本例ではＣＨＱ比較器１０３、
アシンメトリ比較器１０４の出力をセレクタ１０５で選
択してトリガ出力ＴＧとするようにしている。このセレ
クタ１０５の切換はコントローラ２が行うものとしてい
るが、この切換（つまりＣＨＱ／アシンメトリの選択）
は、次のように実行する例が考えられる。即ち再生時に
は、再生信号の品質（ジッター）や復号処理の際のクロ
ック位相誤差を的確にチェックできるＣＨＱ側を選択
し、一方記録時には、レーザパワーの大小が予測できる
アシンメトリ側を選択するとよい。

【０１８４】なお本例では、コントローラ２がチェック
する再生品質情報を、セレクタ１０５により、ＣＨＱ比
較情報と、アシンメトリ比較情報のうちで選択できるよ
うにしたが、例えばコントローラ２が常にこの２つを同
時に監視する構成としたり、或いはＣＨＱ比較情報とア
シンメトリ比較情報の一方のみを監視できるようにする
構成とすることも考えられる。

【０１８５】また、本発明は、６値４状態、４値４状
態、３値４状態、７値６状態など、各種のビタビ復号方
法を採用した光磁気デイスク装置にも適用することがで
きる。さらに本発明は、記録媒体に記録されたデータか
ら再生される再生信号から、リードデータを復号するた
めにビタビ復号方法を用いることができる各種の情報再
生装置に適用することができる。すなわち、光磁気デイ
スク（ＭＯ）以外にも、例えばＤＶＤ等の相変化型ディ
スク、ＣＤ−ＲＷ（CD-Rewritable）等の書き換え可能
ディスク、ＣＤ−Ｒ（ＣＤ−ＷＯ）等の追記型ディス
ク、ＣＤ−ＲＯＭ等の読み出し専用ディスク等の光ディ
スク装置に適用することが可能である。

【０１８６】また、この発明は、この実施例に限定され
ることなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の
応用および変形が考えられる。

【０１８７】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、状態デー
タを用いて信号品質情報を生成し、その信号品質情報を
基準値と比較する。そしてその比較結果を動作リトライ
のトリガとするようにしている。これによって、再生さ
れる情報について例えばデータ自体のベリファイ等を行
うことなく信頼性が判断でき、迅速にリトライ動作を実
行できるという効果がある。また信号品質情報は、再生
信号のジッター及び／又は再生信号とクロック信号の位
相誤差を表す情報（上記ＣＨＱ）とすることで、再生時
の信頼性チェックに好適となり、また、信号品質情報は
再生信号波形の非対称性を表す情報とすることで、記録
時におけるデータ信頼性のチェックに好適である。換言
すれば、動作や信頼性チェックの目的に応じて最適なチ
ェックを実現できる。また、信号品質情報と比較する基
準値は変更可能であることで、動作状況や機器の特性に
合わせてフレキシブルに対応できるという利点が得られ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明が適用できる記録再生装置のブロック図
である。

【図２】マーク位置記録方法およびマークエッジ記録方
法の概要の説明図である。

【図３】実施の形態の記録再生装置に装填される光磁気
ディスクのセクタフォーマットの説明図である。

【図４】ＲＬＬ（１，７）符号化方法における最小磁化
反転幅の説明図である。

【図５】ＲＬＬ（１，７）符号とマークエッジ記録方法
によって記録されたデータの再生信号をＰＲ（１，２，
１）で波形等化したときのアイパターンの説明図であ
る。

【図６】４値４状態ビタビ復号方法の状態遷移の過程の
説明図である。

【図７】４値４状態ビタビ復号方法の状態遷移の説明図
である。

【図８】４値４状態ビタビ復号方法の状態遷移のトレリ
ス線図の説明図である。

【図９】規格化パスメトリックに基づく４値４状態ビタ
ビ復号方法における状態遷移の条件の説明図である。

【図１０】４値４状態ビタビ復号を行うビタビ復号器の
ブロック図である。

【図１１】４値４状態ビタビ復号を行うビタビ復号器の
ＡＣＳのブロック図である。

【図１２】４値４状態ビタビ復号を行うビタビ復号器の
Ａ型パスメモリのブロック図である。

【図１３】４値４状態ビタビ復号を行うビタビ復号器の
Ｂ型パスメモリのブロック図である。

【図１４】図７とは異なる表記方法での４値４状態ビタ
ビ復号方法の状態遷移の説明図である。

【図１５】ブランチメトリックの表記方法の説明図であ
る。

【図１６】実施の形態のディスク記録再生装置のブロッ
ク図である。

【図１７】実施の形態のディスク記録再生装置のＳＭＵ
のブロック図である。

【図１８】実施の形態のディスク記録再生装置のＳＭＵ
のＡ型ステータスメモリのブロック図である。

【図１９】実施の形態のディスク記録再生装置のＳＭＵ
のＢ型ステータスメモリのブロック図である。

【図２０】実施の形態のマージブロックにおける状態デ
ータ値の選択動作の説明図である。

【図２１】実施の形態のリトライシーケンスの一例のフ
ローチャートである。

【符号の説明】

１ ホストコンピュータ、２ ドライブコントローラ、
３ ＣＰＵ、４ レーザパワーコントロール部、５ 磁
気ヘッド、６ ディスク、７ 光ピックアップ、８ ア
ンプ、９ スピンドルモータ、１０ 切替えスイッチ、
１１ フィルタ部、１２ Ａ／Ｄ変換器、１３，１３０
ビタビ復号器、１４ ＰＬＬ部、１００ ＤＭＵ、１
０１ ＲＡＡ、１０２ 算出部、１０３ ＣＨＱ比較
部、１０４アシンメトリ比較部、１０５ セレクタ、１
０６ レジスタ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録媒体から再生される再生信号をビタ
   ビ復号方法によって復号するようにした記録又は再生装
   置において、 クロック信号に従ってサンプリングされる再生信号値に
   基づいて、前記クロック信号に応じたタイミングで最尤
   な状態遷移を表す状態データを生成する状態データ生成
   手段と、 前記状態データに基づいて復号データを出力する復号デ
   ータ出力手段と、 前記状態データを用いて、信号品質情報を生成する品質
   情報生成手段と、 前記品質情報生成手段で生成される信号品質情報を基準
   値と比較して、その比較結果を出力する比較手段と、 前記比較手段からの出力に基づいて動作リトライを実行
   させる制御手段と、 を備えたことを特徴とする記録又は再生装置。
2. 【請求項２】 前記信号品質情報は、再生信号のジッタ
   ー及び／又は再生信号とクロック信号の位相誤差を表す
   情報であることを特徴とする請求項１に記載の記録又は
   再生装置。
3. 【請求項３】 前記信号品質情報は、再生信号波形の非
   対称性を表す情報であることを特徴とする請求項１に記
   載の記録又は再生装置。
4. 【請求項４】 前記比較手段において信号品質情報と比
   較する基準値は変更可能であることを特徴とする請求項
   １に記載の記録又は再生装置。