JPH10320931A - 情報再生装置および再生方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ビタビ復号における振幅基準値を用いて再生
信号の品質評価を可能とする。 【解決手段】 ビタビ復号器１３０は、Ａ／Ｄ変換器１
２からの再生信号値に基づいて最尤な状態遷移そのもの
を表す状態データを生成し、状態データから復号データ
を発生する。この状態遷移から認識される振幅基準値が
品質指標生成器１０２に供給される。また、再生信号値
がＤＭＵ１０１に保持され、ビタビ復号器１３０からの
振幅基準値の出力と同期して、品質指標生成器１０２に
供給され、振幅基準値と再生信号値の差が演算され、所
定期間で発生する差が積算される。再生信号の品質が良
好な時では、再生信号値と振幅基準値とが一致し、差が
ゼロとなる。従って、積算で発生した値を品質評価の指
標として用いることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ディスク状記録
媒体からデータを再生し、ビタビ復号を行う再生装置に
対して適用可能な情報再生装置および再生方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】光磁気ディスク装置等の情報再生装置に
おいて、ディスクから読出される再生信号の品質（ノイ
ズなどによる信号劣化、記録条件が不適当なために生じ
る波形歪み等）を評価するには、上位のホストコンピュ
ータからディスクのテスト領域に対して実際にデータを
書込み、また、このデータを読出し、書込みデータと読
出しデータとを比較し、エラーレートを測定する方法が
使われていた。また、再生信号をアナログ波形という点
から評価するには、波形評価用の測定装置を別途必要と
した。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、再生
信号の品質を評価するには、大規模なシステム（装置）
を必要とし、また、記録再生装置（ディスクドライブ）
の内部で品質評価できないという問題があった。

【０００４】従って、この発明の目的は、記録再生装置
の内部で再生信号の品質を簡単で、各定量的に評価する
ことができる情報再生装置および再生方法を提供するこ
とにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この発明は、ビタビ復号
方法を用いるディスク再生装置に使用される。ビタビ復
号方法は、ホワイトノイズを含む再生信号を復号する場
合にビットエラーレートを小さくすることができる復号
方法である。ビタビ復号方法の概要は、以下のようなも
のである。記録媒体に対する記録方法に応じて複数個の
状態を予め特定し、記録媒体から再生される再生信号に
基づいて、リードクロックに従うタイミングでなされる
計算処理によって、リードクロックに従う各時点におい
て、最尤な状態遷移を選択する。そして、このような選
択の結果に対応して、'1' または'0' の復号データ値の
系列としての復号データを生成する。再生信号に基づく
計算処理は、ビタビ復号方法の種類によって決まる振幅
基準値を参照して行われる。振幅基準値は、再生信号が
振幅変動等の影響を受けていない理想的なものである場
合には、ビタビ復号方法の種類から理論的に決まるもの
を用いれば良い。

【０００６】従って、ビタビ復号の状態遷移から分かる
振幅基準値と、そのときの実際の再生信号の値とが一致
している場合は、再生信号が理想的であると推定でき、
一方、両者が一致していない場合は、再生信号が理想的
でないと推定できる。

【０００７】すなわち、この発明は、記録媒体から再生
される再生信号をビタビ復号方法によって復号するよう
にした情報再生装置において、状態遷移そのものを表現
する状態データを生成する方法を使用するビタビ復号手
段と、上記状態データから認識された状態遷移に対応す
る振幅基準値と、再生信号をＡ／Ｄ変換することで生成
された再生信号値との差を演算し、上記差に基づいて上
記再生信号の品質の優劣を表す指標を生成する品質指標
生成手段とを備えることを特徴とする情報再生装置であ
る。また、この発明は、このように情報を再生する再生
方法である。

【０００８】上述したように、ビタビ復号の状態遷移か
ら認識される振幅基準値に対する実際の再生信号の値と
の差は、再生信号の品質を表したものとなる。従って、
この差に基づいて再生信号の品質を評価することができ
る。評価の結果を利用して、信号系の調整を行うことが
できる。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下に、この発明の理解を容易と
するために、ビタビ復号方法を行う再生系を有する記録
／再生装置の一例について、装置の全体構成、記録媒体
のセクタフォーマット、４値４状態ビタビ復号方法の概
要、４値４状態ビタビ復号方法を実現するビタビ復号器
の構成および動作、および４値４状態ビタビ復号方法以
外のビタビ復号方法の順に説明する。

【００１０】〔ディスク記録再生装置の概要〕以下、ビ
タビ復号方法を行う再生系を有する記録／再生装置の一
例について説明する。図１は、ビタビ復号方法を行う再
生系を有する光磁気ディスク装置の一例の全体構成を示
すブロック図である。記録時には、コントローラ２がホ
ストコンピュータ１の指令に従って、記録すべきユーザ
データを受取り、情報語としてのユーザデータに基づい
てエンコードを行って、符号語としてのＲＬＬ（１，
７）符号を生成する。この符号語が記録データとしてレ
ーザパワーコントロール部（以下、ＬＰＣと表記する）
４に供給される。コントローラ２は、このような処理の
他に、後述する復号化処理、および記録、再生、消去等
の各モードの制御、並びにホストコンピュータ１との交
信等の動作を行う。

【００１１】ＬＰＣ４は、供給された記録データに対応
して、光ピックアップ７のレーザパワーを制御して光磁
気ディスク６上に磁気極性を有するピット列を形成する
ことにより、記録を行う。この記録の際に、磁気ヘッド
５が光磁気ディスク６にバイアス磁界を付与する。実際
には、記録データに基づいて後述するように生成される
プリコード出力に従って、後述するようなマークエッジ
記録が行われる。

【００１２】後述するように、記録位置すなわちピット
の形成位置の制御は、磁気ヘッド５および光ピックアッ
プ７等の位置決めを行う、図示しない手段によってなさ
れる。このため、記録動作時においても、光ピックアッ
プ７がアドレス部等を通過する際には、後述するような
再生時の動作と同様な動作が行われる。

【００１３】上述したようにして形成される各ピット
を、記録データに基づいて後述するようにして生成され
るプリコード出力中の各ビットに対応させる方法につい
て、図２を参照して説明する。プリコード出力中の、例
えば'1' に対してピットを形成し、'0' に対してピット
を形成しない記録方法をマーク位置記録方法と称する。
一方、各ピットのエッジによって表現される、プリコー
ド出力中の各ビットの境界における極性の反転を、例え
ば'1' に対応させる記録方法をマークエッジ記録方法と
称する。再生時には、再生信号中の各ビットの境界は、
後述するようにして生成されるリードクロックＤＣＫに
従って認識される。

【００１４】次に、再生系の構成および動作について説
明する。光ピックアップ７は、光磁気ディスク６にレー
ザ光を照射し、それによって生じる反射光を受光して、
再生信号を生成する。再生信号は、和信号Ｒ₊ 、差信号
Ｒ_- および図示しないフォーカスエラー信号ならびにト
ラッキングエラー信号の４種類の信号からなる。和信号
Ｒ₊ は、アンプ８によってゲイン調整等がなされた後に
切替えスイッチ１０に供給される。また、差信号Ｒ
_- は、アンプ９によってゲイン調整等がなされた後に切
替えスイッチ１０に供給される。さらに、フォーカスエ
ラー信号は、フォーカスエラーを解消する手段（図示せ
ず）に供給される。一方、トラッキングエラー信号は、
図示しないサーボ系等に供給され、それらの動作におい
て用いられる。

【００１５】切替えスイッチ１０には、後述するような
切替え信号Ｓが供給される。切替えスイッチ１０は、こ
の切替え信号Ｓに従って、以下のように、和信号Ｒ₊ ま
たは差信号Ｒ_- をフィルタ部１１に供給する。すなわ
ち、後述するような光磁気ディスク６のセクタフォーマ
ットにおいて、エンボス加工によって形成される部分か
ら再生される再生信号が切替えスイッチ１０に供給され
る期間には、和信号Ｒ₊をフィルタ部１１に供給する。
また、光磁気的に記録される部分から再生される再生信
号が切替えスイッチ１０に供給される期間には、差信号
Ｒ_- をフィルタ部１１に供給する。

【００１６】切替え信号Ｓは、例えば次のようにして生
成される。すなわち、まず、再生信号から、セクタフォ
ーマットに規定される所定のパターンから再生される信
号を検出する。このような所定のパターンとしては、例
えば後述するセクタマークＳＭ等が用いられる。そし
て、かかる検出がなされた時点を基準として、後述する
リードクロックを数える等の方法によって認識される所
定時点において、切替え信号Ｓが生成される。

【００１７】フィルタ部１１は、ノイズカットを行うロ
ーパスフィルタおよび波形等化を行う波形等化器から構
成される。後述するように、この際の波形等化処理にお
いて用いられる波形等化特性は、ビタビ復号器１３が行
うビタビ復号方法に適合するものとされる。フィルタ部
１１の出力を供給されるＡ／Ｄ変換器１２は、後述する
ようにして供給されるリードクロックＤＣＫに従って再
生信号値ｚ〔ｋ〕をサンプリングする。ビタビ復号器１
３は、再生信号値ｚ〔ｋ〕に基づいて、ビタビ復号方法
によって復号データを生成する。かかる復号データは、
上述したようにして記録される記録データに対する最尤
復号系列である。従って、復号エラーが無い場合には、
復号データは、記録データと一致する。

【００１８】復号データは、コントローラ２に供給され
る。上述したように、記録データは、ユーザデータから
チャンネル符号化等の符号化によって生成された符号語
である。従って、復号エラーレートが充分低ければ、復
号データは、符号語としての記録データとみなすことが
できる。コントローラ２は、復号データに、上述のチャ
ンネル符号化等の符号化に対応する復号化処理を施すこ
とにより、ユーザデータ等を再生する。

【００１９】また、フィルタ部１１の出力は、ＰＬＬ部
１４にも供給される。ＰＬＬ部１４は、供給された信号
に基づいて、リードクロックＤＣＫを生成する。リード
クロックＤＣＫは、コントローラ２、Ａ／Ｄ変換器１
２、ビタビ復号器１３等に供給される。コントローラ
２、Ａ／Ｄ変換器１２、ビタビ復号器１３の動作は、リ
ードクロックＤＣＫに従うタイミングでなされる。さら
に、リードクロックＤＣＫは、図示しないタイミングジ
ェネレータに供給される。タイミングジェネレータは、
例えば、記録／再生動作の切替え等の装置の動作タイミ
ングを制御する信号を生成する。

【００２０】〔記録媒体のフォーマットの概要〕次に、
光磁気ディスク６のトラックフォーマットおよびセクタ
フォーマットの概要について説明する。図３は、トラッ
クフォーマットの一例を示す。ディスクの中心に開口６
ａが設けられ、最内周側に、反射ゾーン６ｂ、コントロ
ールトラックＰＥＰ(Phase Encoded Part)ゾーン６ｃ、
遷移ゾーン６ｄ、インナーコントロールトラックＳＦＰ
(Standard Formatted Part) ６ｅ、インナーマニュファ
クチャゾーン６ｆが設けられる。また、最外周側にアウ
ターマニュファクチャゾーン６ｇ、アウターＳＦＰゾー
ン６ｈ、リードアウトゾーン６ｉが設けられる。これら
の内周側のエリアと外周側のエリアとの間がデータの記
録／再生に使用可能なユーザーゾーン６ｊとされる。

【００２１】ＰＥＰ６ｃは、位相情報が提供する。ＳＦ
Ｐ６ｅおよび６ｈは、媒体情報（感度、反射率等）およ
びシステム情報（トラック数等）を提供する。さらに、
インナーマニュファクチャゾーン６ｆおよびアウターマ
ニュファクチャゾーン６ｇは、テストライトのための領
域である。キャリブレーション時では、これらのゾーン
６ｆ、６ｇを使用して、データのテストライトがなされ
る。

【００２２】光磁気ディスク６のユーザゾーンには、セ
クタを記録／再生の単位としてユーザデータが記録され
る。図４を参照して、光磁気ディスク６において用いら
れるセクタフォーマットの一例について説明する。図４
Ａに示すように、１セクタは、記録／再生の順に従っ
て、ヘッダ、ＡＬＰＣ，ギャップ、ＶＦＯ₃ 、シンク、
データフィールド、バッファの各エリアに区分されてい
る。図４中に付した数字は、バイト数を表す。光磁気デ
ィスク６上には、ブロック符号化等の符号化がなされた
データが記録される。例えば８ビットが１２チャンネル
ビットに変換されて記録される。

【００２３】このセクタフォーマットの一例において
は、ユーザデータ量が１０２４バイトのフォーマット
と、ユーザデータ量が５１２バイトのフォーマットとが
用意されている。ユーザデータ量が１０２４バイトのフ
ォーマットでは、データフィールドのバイト数が６７０
バイトとされる。また、ユーザデータ量が５１２バイト
のフォーマットでは、データフィールドのバイト数が１
２７８バイトとされる。これら２つのセクタフォーマッ
トにおいて、６３バイトのプリフォーマットされたヘッ
ダと、ＡＬＰＣ，ギャップエリアの１８バイトは、同一
とされている。

【００２４】図４Ｂは、６３バイトのヘッダを拡大して
示す。ヘッダは、セクタマークＳＭ（８バイト）、ＶＦ
ＯフィールドのＶＦＯ₁ （２６バイト）、アドレスマー
クＡＭ（１バイト）、ＩＤフィールドのＩＤ₁ （５バイ
ト）、ＶＦＯフィールドのＶＦＯ₂ （１６バイト）、ア
ドレスマークＡＭ（１バイト）、ＩＤフィールドのＩＤ
₂ （５バイト）、およびポストアンブルＰＡ（１バイ
ト）が順に配列された構成とされている。

【００２５】図４Ｃは、１８バイトのＡＬＰＣ，ギャッ
プエリアを拡大して示す。１８バイトは、ギャップフィ
ールド（５バイト）、フラグフィールド（５バイト）、
ギャップフィールド（２バイト）、ＡＬＰＣ（６バイ
ト）からなる。

【００２６】次に、これらのフィールドについて説明す
る。セクタマークＳＭは、セクタの開始を識別するため
のマークであり、ＲＬＬ（１，７）符号において生じな
いエンボス加工によって形成されたパターンを有する。
ＶＦＯフィールドは、上述のＰＬＬ部１４中のＶＦＯ(V
ariable Frequency Oscillator) （またはＶＣＯ）を同
期させるためのもので、ＶＦＯ₁ 、ＶＦＯ₂ およびＶＦ
Ｏ₃ からなる。ＶＦＯ₁ およびＶＦＯ₂ は、エンボス加
工によって形成されている。また、ＶＦＯ₃ は、そのセ
クタに対して記録動作が行われる際に光磁気的に書かれ
る。ＶＦＯ₁ 、ＶＦＯ₂ およびＶＦＯ₃ は、それぞれチ
ャンネルビットの'0' と'1' が交互に現れるパターン
（２Ｔパターン）を有する。従って、１チャンネルビッ
トの時間長に対応する時間をＴとすると、ＶＦＯフィー
ルドを再生した時に、２Ｔ毎にレベルが反転する再生信
号が得られる。

【００２７】アドレスマークＡＭは、後続のＩＤフィー
ルドのためのバイト同期を装置に対して与えるために使
用され、ＲＬＬ（１，７）符号において生じないエンボ
スされたパターンを有する。ＩＤフィールドは、セクタ
のアドレス、すなわち、トラック番号およびセクタ番号
の情報と、これらの情報に対するエラー検出用のＣＲＣ
バイトを有する。ＩＤフィールドは、５バイトからな
る。ＩＤ₁ およびＩＤ₂によって、同一のアドレス情報
が二重に記録される。ポストアンブルＰＡは、チャンネ
ルビットの'0' と'1' とが交互に現れるパターン（２Ｔ
パターン）を有する。ＩＤ₁ 、ＩＤ₂ およびポストアン
ブルＰＡも、エンボス加工によって形成されている。こ
のように、ヘッダの領域は、エンボス加工によりピット
が形成されたプリフォーマットされた領域である。

【００２８】図４Ｃは、ＡＬＰＣ，ギャップエリアを拡
大して示す。ギャップには、ピットが形成されない。最
初のギャップフィールド（５バイト）は、プリフォーマ
ットされたヘッダの後の最初のフィールドであり、これ
によって、ヘッダの読取りを完了した後の処理に装置が
要する時間が確保される。２番目のギャップフィールド
（２バイト）は、後のＶＦＯ₃ の位置のずれを許容する
ためのものである。

【００２９】ＡＬＰＣ，ギャップエリアには、５バイト
のフラグフィールドが記録される。フラグフィールド
は、セクタのデータが記録される時に、連続した２Ｔパ
ターンが記録される。ＡＬＰＣ(Auto Laser Power Cont
rol)フィールドは、記録時のレーザパワーをテストする
ために設けられている。シンクフィールド（４バイト）
は、続くデータフィールドのためのバイト同期を装置が
得るために設けられており、所定のビットパターンを有
する。

【００３０】データフィールドは、ユーザデータを記録
するために設けられる。上述した６７０バイトのデータ
フィールドには、５１２バイトのユーザデータと、１４
４バイトのエラー検出、訂正用のパリティ等と、１２バ
イトのセクタ書込みフラグと、２バイト（ＦＦ）とから
なる。また、１２７８バイトのデータフィールドの場合
には、１０２４バイトのユーザデータと、２４２バイト
のエラー検出、訂正用のパリティ等と、１２バイトのセ
クタ書込みフラグとからなる。セクタの最後のバッファ
フィールドは、電気的、あるいは機械的な誤差に対する
許容範囲として使用される。

【００３１】上述したセクタフォーマットの例におい
て、ヘッダエリアは、エンボス加工によりピットが形成
されたエリアである。また、ＡＬＰＣ，ギャップエリア
は、再生時には、使用されないエリアである。さらに、
ＶＦＯ₃ 、シンクフィールドおよびデータフィールド
は、光磁気記録されたデータエリアである。

【００３２】〔４値４状態ビタビ復号方法の概要〕以
下、ビタビ復号器１３によって行われるビタビ復号方法
について説明する。上述したように、ユーザデータは、
様々な符号化方法によって記録データとしての符号語に
変換される。符号化方法は、記録媒体の性質および記録
／再生方法等に応じて適切なものが採用される。光磁気
ディスク装置においては、ブロック符号化において、Ru
n Lengthすなわち'1' と'1' の間の'0' の数を制限する
ＲＬＬ（Run Length Limited）符号化方法が用いられる
ことが多い。従来から幾つかのＲＬＬ符号化方法が用い
られている。一般に、'1' と'1' の間の'0' の数を最小
でｄ個、最大でｋ個とするｍ／ｎブロック符号をＲＬＬ
（ｄ，ｋ；ｍ，ｎ）符号と称する。

【００３３】例えば、２／３ブロック符号において、'
1' と'1' の間の'0' の数を最小で１個、最大で７個と
するブロック符号化方法は、ＲＬＬ（１，７；２，３）
符号である。一般にＲＬＬ（１，７；２，３）符号をＲ
ＬＬ（１，７）符号と称することが多いので、以下の説
明においても単にＲＬＬ（１，７）符号と表記した場合
には、ＲＬＬ（１，７；２，３）符号を指すことにす
る。

【００３４】このようなＲＬＬ符号化方法と、上述した
マークエッジ記録方法との組合わせによって記録された
データから再生される再生信号を復号するために、ビタ
ビ復号方法を用いることができる。

【００３５】このようなＲＬＬ符号化方法は、記録密度
の向上、および再生動作の安定性の確保という２つの観
点から、符号化方法に要求される条件に対応できるもの
である。まず、上述したように、マークエッジ記録方法
は、記録データに基づいて後述するように生成されるプ
リコード出力における'1' を各ピットのエッジによって
表現される極性の反転に対応させるものなので、'1'
と'1' の間の'0' の数を多くする程、各ピット１個当た
りに記録されるビット数を大きくすることができる。従
って、記録密度を大きくすることができる。

【００３６】一方、再生系の動作タイミングを合わせる
ために必要なリードクロックＤＣＫは、上述したよう
に、再生信号に基づいてＰＬＬ部１４によって生成され
る。このため、記録データにおいて'1' と'1' の間の'
0' の数を多くすると、再生動作の際にＰＬＬ部の動作
が不安定となるので、再生動作全体が不安定なものとな
る。

【００３７】これら２つの条件を考慮すると、'1' と'
1' の間の'0' の数は、多過ぎたり、少な過ぎたりしな
い、適切な範囲内に設定される必要がある。このよう
な、記録データ中の'0' の数の設定に関して、ＲＬＬ符
号化方法が有効となる。

【００３８】ところで、図５に示すように、上述したＲ
ＬＬ（１，７）符号化方法とマークエッジ記録方法の組
み合わせにおいては、記録データに基づいて生成される
プリコード出力中の'1' と'1' の間に最低１個の'0' が
含まれるので、最小反転幅が２となる。このような、最
小反転幅が２となる符号化方法が用いられる場合に、符
号間干渉およびノイズ等の影響を受けている再生信号か
ら記録データを復号する方法として、後述するように、
４値４状態ビタビ復号方法を適用することができる。

【００３９】上述したように、再生信号には、フィルタ
部１１によって波形等化処理がなされる。ビタビ復号方
法の前段としてなされるこのような波形等化処理には、
符号間干渉を積極的に利用するパーシャルレスポンス方
法が用いられる。この際に用いられる波形等化特性は、
一般に（１＋Ｄ）ⁿ で表されるパーシャルレスポンス特
性の内から、記録／再生系の線記録密度およびＭＴＦ
（Modulation TransferFunction）を考慮して決められ
る。上述したＲＬＬ（１，７）符号化方法とマークエッ
ジ記録方法の組み合わせによって記録されたデータに対
して、ＰＲ（１，２，１）を用いる波形等化処理は、４
値４状態ビタビ復号方法の前段となる。

【００４０】一方、マークエッジ記録方法においては、
光磁気ディスク媒体等に対する実際の記録に先立って、
上述のＲＬＬ符号化等によって符号化された記録データ
に基づくプリコードが行われる。各時点ｋにおける記録
データ列をａ〔ｋ〕、これに基づくプリコード出力をｂ
〔ｋ〕とすると、プリコードは、以下のように行われ
る。

【００４１】 ｂ〔ｋ〕＝ｍｏｄ２｛ａ〔ｋ〕＋ｂ〔ｋ−１〕｝ （１） このようなプリコード出力ｂ〔ｋ〕が実際に光磁気ディ
スク媒体等に記録される。一方、フィルタ部１１中の波
形等化器によってなされる、波形等化特性ＰＲ（１，
２，１）での波形等化処理について説明する。但し、以
下の説明においては、信号の振幅を規格化せずに、波形
等化特性をＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）とする。また、ノイズ
を考慮しない場合の再生信号の値をｃ〔ｋ〕と表記す
る。さらに、ノイズを含む実際の再生信号（すなわち、
記録媒体から再生された再生信号）をｚ〔ｋ〕と表記す
る。

【００４２】ＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）は、ある時点ｋにお
ける再生信号の値に対して、時点ｋにおける振幅の寄与
が振幅値の２Ａ倍とされ、さらに前後の時点ｋ−１およ
びｋ＋１における振幅の寄与が各々の時点での信号の振
幅のＢ倍とされるものである。従って、再生信号の値の
最大値は、時点ｋ−１、ｋ、ｋ＋１において何れもパル
スが検出される場合である。このような場合には、再生
信号の値の最大値は、以下のようになる。

【００４３】Ｂ＋２Ａ＋Ｂ＝２Ａ＋２Ｂ また、再生信号の値の最小値は０となる。但し、実際の
取り扱いにおいては、ｃ〔ｋ〕として、ＤＣ成分のＡ＋
Ｂを差し引いた以下のようなものが用いられる。

【００４４】 ｃ〔ｋ〕＝Ｂ×ｂ〔ｋ−２〕＋２Ａ×ｂ〔ｋ−１〕＋Ｂ×ｂ〔ｋ〕 −Ａ−Ｂ （２） 従って、ノイズを考慮しない場合の再生信号ｃ〔ｋ〕
は、Ａ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂの内の何れかの値をと
ることになる。一般に、再生信号の性質を示す方法の１
つとして、例えば５個の時点を単位として、再生信号を
多数重ね合わせたものをアイパターンと称する。この発
明を適用することができる光磁気ディスク装置におい
て、ＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）の下で波形等化処理された実
際の再生信号ｚ〔ｋ〕についてのアイパターンの一例を
図６に示す。図６から各時点における再生信号ｚ〔ｋ〕
の値は、ノイズによるばらつきを有するが、ほぼ、Ａ＋
Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂの内の何れかになることが確認
できる。後述するように、Ａ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂ
の値は、識別点として用いられる。

【００４５】上述したような波形等化処理がなされた再
生信号を復号する、ビタビ復号方法の概略は、次のよう
なものである。ステップ符号化方法および記録媒体に
対する記録方法に基づいて、生じ得る全ての状態を特定
する。ステップある時点における各状態を起点とし
て、次の時点において生じ得る全ての状態遷移と、各状
態遷移が生じる時の記録データａ〔ｋ〕および再生信号
の値ｃ〔ｋ〕を特定する。ステップおよびの結果と
して特定された全ての状態および状態遷移と、各状態遷
移が生じる時の〔記録データの値ａ〔ｋ〕／再生信号の
値ｃ〔ｋ〕〕を図の形式で表現したものを状態遷移図と
称する。後述するように、４値４状態ビタビ復号方法に
おける状態遷移図は、図７に示すようなものである。そ
して、この状態遷移図に基づく復号動作を行うように、
ビタビ復号器１３が構成される。

【００４６】さらに、ステップ上述したように、状態
遷移図を前提として、記録媒体から各時点ｋにおいて再
生される再生信号ｚ〔ｋ〕に基づく最尤な状態遷移が選
択される。但し、上述したように、ｚ〔ｋ〕は、ビタビ
復号器１３に供給される前段において波形等化されたも
のである。このような最尤な状態遷移の選択がなされる
毎に、選択された状態遷移に対応して、状態遷移図に記
載された記録データａ〔ｋ〕の値を復号値とすることに
よって、記録データに対する最尤復号値系列としての復
号データａ' 〔ｋ〕を得ることができる。但し、各時点
ｋにおける復号データ値から、最尤復号値系列とするた
めの構成は、後述するビタビ復号器１３中のＰＭＵ２３
である。従って、上述したように、復号データ列ａ'
〔ｋ〕は、復号エラーが無い場合には、記録データ列ａ
〔ｋ〕と一致する。上述のステップ〜ステップにつ
いて、以下に詳細に説明する。

【００４７】上述のステップについて説明する。ま
ず、ここで用いられる状態として、ある時点ｋにおける
状態を、時点ｋおよびそれ以前のプリコード出力を用い
て次のように定義する。すなわち、ｎ＝ｂ〔ｋ〕、ｍ＝
ｂ〔ｋ−１〕、ｌ＝ｂ〔ｋ−２〕の時の状態をＳnml と
定義する。このような定義によって、２³ ＝８個の状態
があると考えられるが、上述したように、実際に生じ得
る状態は、符号化方法等に基づいて制限される。ＲＬＬ
（１，７）符号として符号化された記録データ列ａ
〔ｋ〕においては、'1' と'1' の間に最低１個の'0' が
含まれるので、２個以上の'1' が連続することが無い。
記録データ列ａ〔ｋ〕に課されるこのような条件に基づ
いてプリコード出力ｂ〔ｋ〕について一定の条件が課さ
れ、その結果として生じ得る状態に制限が加えられる。

【００４８】このような制限について具体的に説明す
る。上述したようにＲＬＬ（１，７）符号化によって生
成される記録データ列中に、２個以上の'1' が連続する
もの、すなわち以下のものはあり得ない。

【００４９】 ａ〔ｋ〕＝１，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝１ （３） ａ〔ｋ〕＝１，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝０ （４） ａ〔ｋ〕＝０，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝１ （５） 記録データ列に課されるこのような条件に基づいて、上
述の（１）式に従ってｂ〔ｋ〕について課される条件に
ついて検討すると、Ｓ０１０およびＳ１０１の２個の状
態は生じ得ないことがわかる。従って、生じ得る状態
は、２³ −２＝６個である。

【００５０】次に、ステップについて説明する。ある
時点ｊにおける状態を起点として、次の時点ｊ＋１にお
いて生じ得る状態を求めるためには、時点ｊ＋１におけ
る記録データの値ａ〔ｊ＋１〕が１となる場合、および
０となる場合に分けて調べる必要がある。

【００５１】ここでは、状態Ｓ０００を例として説明す
る。上述の（１）式に従って、Ｓ０００すなわちｎ＝ｂ
〔ｊ〕＝０，ｌ＝ｂ〔ｊ−１〕＝０，ｍ＝ｂ〔ｊ−２〕
＝０とプリコードされる記録データとしては、以下の２
個が考えられる。

【００５２】 ａ〔ｊ〕＝０、ａ〔ｊ−１〕＝０、ａ〔ｊ−２〕＝１ （６） ａ〔ｊ〕＝０、ａ〔ｊ−１〕＝０、ａ〔ｊ−２〕＝０ （７） 〔ａ〔ｊ＋１〕＝１の時〕この時、（１）式に従って、
ｂ〔ｊ＋１〕は、以下のように計算される。

【００５３】 ｂ〔ｊ＋１〕＝ｍｏｄ２｛ａ〔ｊ＋１〕＋ｂ〔ｊ〕｝ ＝ｍｏｄ２｛ １ ＋ ０ ｝ ＝１ （８） 従って、再生信号ｃ〔ｊ〕の値は、上述の（２）式に従
って、次のように計算される。

【００５４】 ｃ〔ｊ＋１〕＝｛Ｂ×ｂ〔ｊ＋１〕＋２Ａ×ｂ〔ｊ〕＋Ｂ×ｂ〔ｊ−１〕｝ −Ａ−Ｂ ＝｛Ｂ×１＋２Ａ×０＋Ｂ×０｝−Ａ−Ｂ ＝−Ａ （９） また、次の時点ｊ＋１での状態Ｓnlm については、ｎ＝
ｂ〔ｊ＋１〕，ｌ＝ｂ〔ｊ〕，ｍ＝ｂ〔ｊ−１〕であ
る。そして、上述したようにｂ〔ｊ＋１〕＝１，ｂ
〔ｊ〕＝０，ｂ〔ｊ−１〕＝０となるので、次の時点ｊ
＋１における状態は、Ｓ１００である。従って、ａ〔ｊ
＋１〕＝１の場合には、Ｓ０００→Ｓ１００という遷移
が生じることが特定できる。

【００５５】〔ａ〔ｊ＋１〕＝０の時〕 この時、（１）式に従って、ｂ〔ｊ＋１〕は、以下のよ
うに計算される。

【００５６】 ｂ〔ｊ＋１〕＝ｍｏｄ２｛ａ〔ｊ＋１〕＋ｂ〔ｊ〕｝ ＝ｍｏｄ２｛ ０ ＋ ０｝ ＝０ （１０） 従って、再生信号ｃ〔ｊ＋１〕の値は、上述の（２）式
に従って、次のように計算される。

【００５７】 ｃ〔ｊ＋１〕＝｛Ｂ×ｂ〔ｊ＋１〕＋２Ａ×ｂ〔ｊ〕＋Ｂ×ｂ〔ｊ−１〕｝ −Ａ−Ｂ ＝｛Ｂ×０＋２Ａ×０＋Ｂ×０｝−Ａ−Ｂ ＝−Ａ−Ｂ （１１） また、次の時点ｊ＋１における状態Ｓnlm については、
ｎ＝ｂ〔ｊ＋１〕，ｌ＝ｂ〔ｊ〕，ｍ＝ｂ〔ｊ−１〕で
ある。そして、上述したようにｂ〔ｊ＋１〕＝０，ｂ
〔ｊ〕＝０，ｂ〔ｊ−１〕＝０となるので、次の時点に
おける状態は、Ｓ０００である。従って、ａ〔ｊ＋１〕
＝０の場合には、Ｓ０００→Ｓ０００という遷移が生じ
ることが特定できる。

【００５８】このようにして、時点ｊにおけるＳ０００
以外の各状態についても、それらを起点として次の時点
ｊ＋１において生じ得る状態遷移と、そのような各状態
遷移が生じる時の記録データ値ａ〔ｊ＋１〕および再生
信号値ｃ〔ｊ＋１〕との対応を求めることができる。

【００５９】上述したようにして、各状態について、そ
れらを起点として生じ得る状態遷移と、各状態遷移が生
じる時の記録データの値および再生信号の値との対応を
求め、図の形式に表したものが図７である。上述の時点
ｊおよびｊ＋１は、特別の時点ではない。従って、上述
したようにして求まる、生じ得る状態遷移とそれらに伴
う記録データの値および再生信号の値との対応は、任意
の時点において適用することができる。このため、図７
においては、任意の時点ｋにおいて生じる状態遷移に伴
う記録データの値をａ〔ｋ〕と表記し、再生信号の値を
ｃ〔ｋ〕と表記する。

【００６０】図７において、状態遷移は、矢印によって
表される。また、各矢印に付した符号が〔記録データ値
ａ〔ｋ〕／再生信号値ｃ〔ｋ〕〕を示している。状態Ｓ
０００，Ｓ００１，Ｓ１１１およびＳ１１０を起点とす
る状態遷移は、２通り有るのに対して、状態Ｓ０１１お
よびＳ１００を起点として生じ得る遷移は１通りのみで
ある。

【００６１】さらに、図７においてＳ０００とＳ００１
は、何れもａ〔ｋ〕＝１に対しては、ｃ〔ｋ〕＝−Ａと
いう値を取り、Ｓ１００に遷移している。一方、ａ
〔ｋ〕＝０に対しては、ｃ〔ｋ〕＝−Ａ−Ｂという値を
取り、Ｓ０００に遷移している。また、Ｓ１１１とＳ１
１０も同様に、同じａ〔ｋ＋１〕の値について同じｃ
〔ｋ＋１〕の値を取り、且つ、同じ状態に遷移してい
る。従って、Ｓ０００とＳ００１をまとめてＳ０と表現
し、Ｓ１１１とＳ１１０をまとめてＳ２と表現すること
ができる。さらに、Ｓ０１１をＳ３とし、Ｓ１００をＳ
１と表現することにして、整理したものが図８である。

【００６２】上述したように、図８が４値４状態ビタビ
復号方法に用いられる状態遷移図である。図８中には、
Ｓ０〜Ｓ３の４個の状態、および再生信号ｃ〔ｋ＋１〕
の値としての−Ａ−Ｂ，−Ａ，Ａ，Ａ＋Ｂの４個の値が
示されている。状態Ｓ０およびＳ２を起点とする状態遷
移は、２通り有るのに対して、状態Ｓ１およびＳ３を起
点とする状態遷移は、１通りのみである。

【００６３】一方、状態遷移を時間に沿って表現する形
式として、図９に示すようなトレリス線図が用いられ
る。図９では、２個の時点間の遷移を示しているが、さ
らに多数の時点間の遷移を示すこともできる。時間経過
に伴い、順次右の時点に遷移していく様子が表現され
る。従って、水平な矢印は、例えばＳ０→Ｓ０等の同じ
状態への遷移を表し、斜めの矢印は、例えばＳ１→Ｓ２
等の異なる状態への遷移を表すことになる。

【００６４】上述したビタビ復号方法のステップ、す
なわち図８に示した状態遷移図を前提として、ノイズを
含む実際の再生信号ｚ〔ｋ〕から最尤な状態遷移を選択
する方法について以下に説明する。

【００６５】最尤な状態遷移を選択するためには、ま
ず、ある時点ｋにおける状態について、その状態に至る
過程において経由してきた複数時点間の状態遷移の尤度
の和を計算し、さらに、計算された尤度の和を比較し
て、最尤の復号系列を選択することが必要である。この
ような尤度の和をパスメトリックと称する。

【００６６】パスメトリックを計算するためには、ま
ず、隣接する時点間の状態遷移の尤度を計算することが
必要となる。このような尤度の計算は、上述の状態遷移
図を参照して、再生信号ｚ〔ｋ〕の値に基づいて以下の
ようになされる。まず、一般的な説明として、時点ｋ−
１において、状態Ｓａである場合について考える。この
時、ビタビ復号器３１に再生信号ｚ〔ｋ〕が入力された
場合に、状態Ｓｂへの状態遷移が生じる尤度が次式に従
って計算される。但し、状態Ｓａおよび状態Ｓｂは、図
８の状態遷移図に記載されている４個の状態の何れかと
する。

【００６７】 （ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓａ，Ｓｂ））² （１２） 上式において、ｃ（Ｓａ，Ｓｂ）は、状態Ｓａから状態
Ｓｂへの状態遷移について、図８の状態遷移図に記載さ
れている再生信号の値である。すなわち、上述の図８に
おいて、例えば状態遷移Ｓ０→Ｓ１について、−Ａと算
出されている値である。従って、式（１２）は、ノイズ
を含む実際の再生信号ｚ〔ｋ〕の値と、ノイズを考慮せ
ずに計算された再生信号ｃ（Ｓａ，Ｓｂ）の値の間のユ
ークリッド距離となる。ある時点におけるパスメトリッ
クは、その時点に至るまでのこのような隣接時点間の状
態遷移の尤度の総和として定義される。

【００６８】ところで、時点ｋにおいて状態Ｓａである
場合を考える。この場合に、時点ｋ−１において状態Ｓ
ａに遷移し得る状態をＳｐとすれば、パスメトリックＬ
（Ｓａ，ｋ）は、時点ｋ−１におけるパスメトリックを
用いて次式のように計算される。

【００６９】 Ｌ（Ｓａ，ｋ） ＝Ｌ（Ｓｐ，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））² （１３） すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓｐに至った場合の
パスメトリックＬ（Ｓｐ，ｋ−１）と、時点ｋ−１と時
点ｋの間で生じるＳｐ→Ｓａなる状態遷移の尤度（ｚ
〔ｋ〕−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））² とを加算することによっ
て、パスメトリックＬ（Ｓａ，ｋ）が計算される。この
（ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））² のような、最新の状
態遷移の尤度は、ブランチメトリックと称される。但
し、ここでのブランチメトリックは、後述するビタビ復
号器１３中のブランチメトリック計算回路（ＢＭＣ）２
０によって計算されるブランチメトリック、すなわち、
規格化メトリックに対応するブランチメトリックとは、
別のものであることに注意が必要である。

【００７０】また、時点ｋにおいて状態Ｓａである場合
に、時点ｋ−１において状態Ｓａに遷移し得る状態が複
数個存在することがある。図８においては、状態Ｓ０お
よびＳ２がこのような場合である。すなわち時点ｋにお
いて状態Ｓ０である場合に、時点ｋ−１において状態Ｓ
０に遷移し得る状態は、Ｓ０とＳ３の２個である。ま
た、時点ｋにおいて状態Ｓ２である場合に、時点ｋ−１
において状態Ｓ２に遷移し得る状態は、Ｓ１とＳ２の２
個である。一般的な説明として、時点ｋにおいて状態Ｓ
ａであり、且つ、時点ｋ−１において状態Ｓａに遷移し
得る状態がＳｐおよびＳｑの２個である場合に、パスメ
トリックＬ（Ｓａ，ｋ）は、次式のように計算される。

【００７１】 Ｌ（Ｓａ，ｋ） ＝ｍｉｎ｛Ｌ（Ｓｐ，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））² ， Ｌ（Ｓｑ，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓｑ，Ｓａ））² ｝(14) すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓｐであり、Ｓｐ→
Ｓａなる状態遷移によって状態Ｓａに至った場合と、時
点ｋ−１において状態Ｓｑであり、Ｓｑ→Ｓａなる状態
遷移によって状態Ｓａに至った場合の各々について、尤
度の和を計算する。そして、各々の計算値を比較し、よ
り小さい値を時点ｋにおける状態Ｓａに関するパスメト
リックＬ（Ｓａ，ｋ）とする。

【００７２】このようなパスメトリックの計算を、図８
を用いて上述した４値４状態について具体的に適用する
と、時点ｋにおける各状態Ｓ０，Ｓ１，Ｓ２およびＳ３
についてのパスメトリックＬ（０，ｋ），Ｌ（１，
ｋ），Ｌ（２，ｋ）およびＬ（３，ｋ）は、時点ｋ−１
における各状態Ｓ０〜Ｓ３についてのパスメトリックＬ
（０，ｋ−１）〜Ｌ（３，ｋ−１）を用いて以下のよう
に計算できる。

【００７３】 Ｌ（０，ｋ）＝ｍｉｎ｛Ｌ（０，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕＋Ａ＋Ｂ）² ， Ｌ（３，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕＋Ａ）² ｝ (15) Ｌ（１，ｋ）＝Ｌ（０，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕＋Ａ）² (16) Ｌ（２，ｋ）＝ｍｉｎ｛Ｌ（２，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−Ａ−Ｂ）² Ｌ（１，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−Ａ）² ｝ (17) Ｌ（３，ｋ）＝Ｌ（２，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−Ａ）² (18) 上述したように、このようにして計算されるパスメトリ
ックの値を比較して、最尤な状態遷移が選択されれば良
い。ところで、最尤な状態遷移を選択するためには、パ
スメトリックの値そのものを計算しなくても、パスメト
リックの値の比較ができれば良い。そこで、実際の４値
４状態ビタビ復号方法においては、パスメトリックの代
わりに以下に定義するような規格化パスメトリックを用
いることにより、各時点ｋにおけるｚ〔ｋ〕に基づく計
算を容易なものとするようになされる。

【００７４】 ｍ（ｉ，ｋ） ＝〔Ｌ（ｉ，ｋ）−ｚ〔ｋ〕² −（Ａ＋Ｂ）² 〕／２／（Ａ＋Ｂ）（１９） 式（１９）をＳ０〜Ｓ３の各状態に適用すると、具体的
な規格化パスメトリックは、以下のように２乗計算を含
まないものとなる。このため、後述する、加算、比較、
選択回路（ＡＣＳ）２１における計算を容易なものとす
ることができる。

【００７５】 ｍ（０，ｋ）＝ｍｉｎ｛ｍ（０，ｋ−１）＋ｚ〔ｋ〕， ｍ（３，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−β｝ （２０） ｍ（１，ｋ）＝ｍ（０，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−β （２１） ｍ（２，ｋ）＝ｍｉｎ｛ｍ（２，ｋ−１）−ｚ〔ｋ〕， ｍ（１，ｋ−１）−α×ｚ〔ｋ〕−β｝ （２２） ｍ（３，ｋ）＝ｍ（２，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−β （２３） 但し、式（２０）〜（２３）中のαおよびβは、以下の
ようなものである。

【００７６】α＝Ａ／（Ａ＋Ｂ） （２４） β＝Ｂ×（Ｂ＋２×Ａ）／２／（Ａ＋Ｂ） （２５） このような規格化パスメトリックに基づく４値４状態ビ
タビ復号方法における状態遷移の条件について図１０に
示す。上述の４個の規格化パスメトリックの内に、２個
から１個を選択する式が２つあるので、２×２＝４通り
の条件がある。

【００７７】〔４値４状態ビタビ復号器の概要〕上述し
た４値４状態ビタビ復号方法を実現するビタビ復号器１
３について以下に説明する。図１１にビタビ復号器１３
の全体構成を示す。ビタビ復号器１３は、ブランチメト
リック計算回路（以下、ＢＭＣと表記する）２０、加
算、比較および選択回路（以下、ＡＣＳと表記する）２
１、圧縮およびラッチ回路２２およびパスメモリユニッ
ト（以下、ＰＭＵと表記する）２３から構成される。こ
れらの各構成要素に対して上述のリードクロックＤＣＫ
（以下の説明においては、単にクロックと表記する）が
供給されることにより、ビタビ復号器１３全体の動作タ
イミングが合わされる。以下、各構成要素について説明
する。

【００７８】ＢＭＣ２０は、入力される再生信号ｚ
〔ｋ〕に基づいて、規格化パスメトリックに対応するブ
ランチメトリックの値ＢＭ０，ＢＭ１，ＢＭ２およびＢ
Ｍ３を計算する。ＢＭ０〜ＢＭ３は、上述の式（２０）
〜（２３）の規格化パスメトリックを計算するために必
要とされる、以下のようなものである。

【００７９】 ＢＭ０＝ｚ（ｋ） （２６） ＢＭ１＝α×ｚ〔ｋ〕−β （２７） ＢＭ２＝−ｚ（ｋ） （２８） ＢＭ３＝−α×ｚ〔ｋ〕−β （２９） この計算に必要なαおよびβは、上述の式（２４）およ
び（２５）に従ってＢＭＣ２０によって計算される基準
値である。かかる計算は、例えば再生信号ｚ〔ｋ〕に基
づくエンベロープ検出等の方法で検出され、ＢＭＣ２０
に供給される識別点−Ａ−Ｂ，−Ａ，ＡおよびＡ＋Ｂの
値に基づいてなされる。

【００８０】ＢＭ０〜ＢＭ３の値は、ＡＣＳ２１に供給
される。一方、ＡＣＳ２１は、後述するような圧縮およ
びラッチ回路２２から、１クロック前の規格化パスメト
リックの値（但し、後述するように圧縮のなされたも
の）Ｍ０，Ｍ１，Ｍ２およびＭ３を供給される。そし
て、Ｍ０〜Ｍ３と、ＢＭ０〜ＢＭ３とを加算して、後述
するようにして、最新の規格化パスメトリックの値Ｌ
０，Ｌ１，Ｌ２およびＬ３を計算する。Ｍ０〜Ｍ３が圧
縮のなされたものであるため、Ｌ０〜Ｌ３を計算する際
のオーバーフローを避けることができる。

【００８１】さらに、ＡＣＳ２１は、最新の規格化パス
メトリックの値Ｌ０〜Ｌ３に基づいて、後述するよう
に、最尤な状態遷移を選択し、また、選択結果に対応し
て、パスメモリ２３に供給される選択信号ＳＥＬ０およ
びＳＥＬ２を'High'または'Low' とする。

【００８２】また、ＡＣＳ２１は、Ｌ０〜Ｌ３を圧縮お
よびラッチ回路２２に供給する。圧縮およびラッチ回路
２２は、供給されるＬ０〜Ｌ３を圧縮した後にラッチす
る。その後、１クロック前の規格化パスメトリックＭ０
〜Ｍ３としてＡＣＳ２１に供給する。

【００８３】この際の圧縮の方法としては、例えば以下
に示すように、最新の規格化パスメトリックＬ０〜Ｌ３
から、そのうちの１個、例えばＬ０を一律に差し引く等
の方法が用いられる。

【００８４】Ｍ０＝Ｌ０−Ｌ０ （３０） Ｍ１＝Ｌ１−Ｌ０ （３１） Ｍ２＝Ｌ２−Ｌ０ （３２） Ｍ３＝Ｌ３−Ｌ０ （３３） この結果として、Ｍ０が常に０の値をとることになる
が、以下の説明においては、一般性を損なわないため
に、このままＭ０と表記する。式（３０）〜（３３）に
よって計算されるＭ０〜Ｍ３の値の差は、Ｌ０〜Ｌ３の
値の差と等しいものとなる。上述したように、最尤な状
態遷移の選択においては、規格化パスメトリック間の値
の差のみが問題となる。従って、このような圧縮方法
は、最尤な状態遷移の選択結果に影響せずに規格化パス
メトリックの値を圧縮し、オーバーフローを防止する方
法として有効である。このように、ＡＣＳ２１と圧縮お
よびラッチ回路２２は、規格化パスメトリックの計算に
関するループを構成する。

【００８５】上述のＡＣＳ２１について、図１２を参照
してより詳細に説明する。ＡＣＳ２１は、６個の加算器
５１、５２、５３、５４、５６、５８および２個の比較
器５５、５７から構成される。一方、上述したようにＡ
ＣＳ２１には、１クロック前の圧縮された規格化パスメ
トリックの値Ｍ０〜Ｍ３および規格化パスメトリックに
対応するブランチメトリックの値ＢＭ０〜ＢＭ３が供給
される。

【００８６】加算器５１には、Ｍ０およびＢＭ０が供給
される。加算器５１は、これらを加算して以下のような
Ｌ００を算出する。

【００８７】Ｌ００＝Ｍ０＋ＢＭ０ （３４） 上述したように、Ｍ０は、時点ｋ−１において状態Ｓ０
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ
０は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基
づいて上述の（２６）式に従って計算されるもの、すな
わちｚ〔ｋ〕の値そのものである。従って、式（３４）
の値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式
（２０）中のｍ（０，ｋ−１）＋ｚ〔ｋ〕の値を計算し
たものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓ０
であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ０→Ｓ０によって最
終的に状態遷移Ｓ０に至った場合に対応する計算値であ
る。

【００８８】一方、加算器５２には、Ｍ３およびＢＭ１
が供給される。加算器５１は、これらを加算して以下の
ようなＬ３０を算出する。

【００８９】Ｌ３０＝Ｍ３＋ＢＭ１ （３５） 上述したように、Ｍ３は、時点ｋ−１において状態Ｓ３
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る、圧縮された規格化パスメトリックである。また、Ｂ
Ｍ１は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に
基づいて上述の（２７）式に従って計算されるもの、す
なわちα×ｚ〔ｋ〕−βである。従って、式（３５）の
値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２
０）中のｍ（３，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−βの値を計
算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態
Ｓ３であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ３→Ｓ０によっ
て最終的に状態遷移Ｓ０に至った場合に対応する計算値
である。

【００９０】上述のＬ００およびＬ３０は、比較器５５
に供給される。比較器５５は、Ｌ００およびＬ３０の値
を比較し、小さい方を最新の規格化パスメトリックＬ０
とすると供に、選択結果に応じて、上述したように選択
信号ＳＥＬ０の極性を切替える。このような構成は、式
（２０）において、最小値が選択されることに対応する
ものである。すなわち、Ｌ００＜Ｌ３０の場合（この時
は、Ｓ０→Ｓ０が選択される）に、Ｌ００をＬ０として
出力し、且つ、ＳＥＬ０を例えば、'Low' とする。ま
た、Ｌ３０＜Ｌ００の場合（この時は、Ｓ３→Ｓ０が選
択される）には、Ｌ３０をＬ０として出力し、且つ、Ｓ
ＥＬ０を例えば'High'とする。ＳＥＬ０は、後述するよ
うに、状態Ｓ０に対応するＡ型パスメモリ２４に供給さ
れる。

【００９１】このように、加算器５１、５２および比較
器５５は、上述の式（２０）に対応して、Ｓ０→Ｓ０と
Ｓ３→Ｓ０の内から、時点ｋにおける状態遷移として最
尤なものを選択する動作を行う。そして、選択結果に応
じて、最新の規格化パスメトリックＬ０および選択信号
ＳＥＬ０を出力する。

【００９２】また、加算器５６には、Ｍ０およびＢＭ１
が供給される。加算器５１は、これらを加算して以下の
ようなＬ１を算出する。

【００９３】Ｌ１＝Ｍ０＋ＢＭ１ （３６） 上述したように、Ｍ０は、時点ｋ−１において状態Ｓ０
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ
１は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基
づいて上述の（２７）式に従って計算されるもの、すな
わちα×ｚ〔ｋ〕−βである。従って、式（３６）の値
は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２
１）の右辺ｍ（０，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−βの値を
計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状
態Ｓ０であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ０→Ｓ１によ
って最終的に状態遷移Ｓ１に至った場合に対応する計算
値である。式（２１）が値の選択を行わないことに対応
して、加算器５６の出力がそのまま最新の規格化パスメ
トリックＬ１とされる。

【００９４】加算器５３には、Ｍ２およびＢＭ２が供給
される。加算器５３は、これらを加算して以下のような
Ｌ２２を算出する。

【００９５】Ｌ２２＝Ｍ２＋ＢＭ２ （３７） 上述したように、Ｍ２は、時点ｋ−１において状態Ｓ２
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ
０は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基
づいて上述の（２８）式に従って計算されるもの、すな
わち−ｚ〔ｋ〕である。従って、式（３７）の値は、上
述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２２）中の
ｍ（２，ｋ−１）−ｚ〔ｋ〕の値を計算したものとな
る。すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓ２であり、時
点ｋにおける状態遷移Ｓ２→Ｓ２によって最終的に状態
遷移Ｓ２に至った場合に対応する計算値である。

【００９６】一方、加算器５４には、Ｍ１およびＢＭ３
が供給される。加算器５３は、これらを加算して以下の
ようなＬ１２を算出する。

【００９７】Ｌ１２＝Ｍ１＋ＢＭ３ （３８） 上述したように、Ｍ１は、時点ｋ−１において状態Ｓ１
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ
３は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基
づいて上述の（２９）式に従って計算されるもの、すな
わち−α×ｚ〔ｋ〕−β である。従って、式（３８）
の値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式
（２２）中のｍ（１，ｋ−１）−α×ｚ〔ｋ〕−βの値
を計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において
状態Ｓ１であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ１→Ｓ２に
よって最終的に状態遷移Ｓ２に至った場合に対応する計
算値である。

【００９８】上述のＬ２２およびＬ１２は、比較器５７
に供給される。比較器５７は、Ｌ２２およびＬ１２の値
を比較し、小さい方を最新の規格化パスメトリックＬ２
とすると共に、選択結果に応じて、上述したように選択
信号ＳＥＬ２の極性を切替える。このような構成は、式
（２２）において、最小値が選択されることに対応する
ものである。すなわち、Ｌ２２＜Ｌ１２の場合（この時
は、Ｓ２→Ｓ２が選択される）に、Ｌ２２をＬ２として
出力し、且つ、ＳＥＬ２を例えば、'Low' とする。ま
た、Ｌ１２＜Ｌ２２の場合（この時は、Ｓ１→Ｓ２が選
択される）には、Ｌ１２をＬ２として出力し、且つ、Ｓ
ＥＬ２を例えば'High'とする。ＳＥＬ２は、後述するよ
うに、状態Ｓ２に対応するＡ型パスメモリ２６に供給さ
れる。

【００９９】このように、加算器５３、５４および比較
器５７は、上述の式（２２）に対応して、Ｓ１→Ｓ２と
Ｓ２→Ｓ２の内から、時点ｋにおける状態遷移として最
尤なものを選択する。そして、選択結果に応じて、最新
の規格化パスメトリックＬ２および選択信号ＳＥＬ２を
出力する。

【０１００】また、加算器５８には、Ｍ２およびＢＭ３
が供給される。加算器５８は、これらを加算して以下の
ようなＬ３を算出する。

【０１０１】Ｌ３＝Ｍ２＋ＢＭ３ （３９） 上述したように、Ｍ２は、時点ｋ−１において状態Ｓ２
に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応す
る圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ
３は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基
づいて上述の（２９）式に従って計算されるもの、すな
わち−α×ｚ〔ｋ〕−βである。従って、式（３９）の
値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２
３）の右辺ｍ（２，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−βの値を
計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状
態Ｓ０であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ２→Ｓ３によ
って最終的に状態遷移Ｓ３に至った場合に対応する計算
値である。式（２３）が値の選択を行わないことに対応
して、加算器５８の出力がそのまま最新の規格化パスメ
トリックＬ３とされる。

【０１０２】上述したようにして, ＡＣＳ２１が出力す
るＳＥＬ０およびＳＥＬ２に従って、パスメモリユニッ
ト（以下、ＰＭＵと表記する）２３が動作することによ
って、記録データａ〔ｋ〕に対する最尤復号系列として
の復号データａ’〔ｋ〕が生成される。ＰＭＵ２３は、
図８に示した４個の状態間の状態遷移に対応するため
に、２個のＡ型パスメモリおよび２個のＢ型パスメモリ
から構成される。

【０１０３】Ａ型パスメモリは、その状態に至る遷移と
して２つの遷移（すなわち、自分自身からの遷移と、他
の１個の状態からの遷移）を有し、且つ、その状態を起
点とする２つの遷移（すなわち、自分自身に至る遷移と
他の１個の状態に至る遷移）を有する状態に対応するた
めの構成とされる。従って、Ａ型パスメモリは、図８に
示した４個の状態の内、Ｓ０およびＳ２に対応するもの
である。

【０１０４】一方、Ｂ型パスメモリは、その状態に至る
遷移が１つのみであり、且つ、その状態を起点とする遷
移が１つのみである状態に対応するための構成とされ
る。従って、Ｂ型パスメモリは、図８に示した４個の状
態の内、Ｓ１およびＳ３に対応するものである。

【０１０５】これら２個のＡ型パスメモリおよび２個の
Ｂ型パスメモリが図８に示した状態遷移図に従う動作を
行うために、ＰＭＵ２３において、図１１に示すような
復号データの受渡しがなされるように構成される。すな
わち、Ａ型パスメモリ２４がＳ０に対応し、Ａ型パスメ
モリ２６がＳ２に対応する。また、Ｂ型パスメモリ２５
がＳ１に対応し、また、Ｂ型パスメモリ２７がＳ３に対
応する。このように構成すれば、Ｓ０を起点として生じ
得る状態遷移がＳ０→Ｓ０およびＳ０→Ｓ１であり、Ｓ
２を起点として生じ得る状態遷移がＳ２→Ｓ２およびＳ
２→Ｓ３であることに合致する。また、Ｓ１を起点とし
て生じ得る状態遷移がＳ１→Ｓ２のみであり、Ｓ３を起
点として生じ得る状態遷移がＳ３→Ｓ０のみであること
にも合致する。

【０１０６】Ａ型パスメモリ２４について、その詳細な
構成を図１３に示す。Ａ型パスメモリ２４は、パスメモ
リ長に対応する個数のフリップフロップとセレクタを、
交互に接続したものである。図１３には、１４ビットの
デコードデータ長に対応する構成を示した。すなわち、
１４個のセレクタ３１₁ 〜３１₁₄および１５個のフリッ
プフロップ３０₀ 〜３０₁₄を有するものである。セレク
タ３１₁ 〜３１₁₄は、何れも２個のデータを受取り、そ
の内の１個を選択的に後段に供給するものである。ま
た、フリップフロップ３０₀ 〜３０₁₄にクロックが供給
されることにより、Ａ型パスメモリ２４全体の動作タイ
ミングが合わされる。

【０１０７】図８を用いて上述したように、状態Ｓ０に
至る遷移は、Ｓ０→Ｓ０すなわち自分自身から継承する
遷移、およびＳ３→Ｓ０である。このような状況に対応
する構成として、各セレクタは、前段のフリップフロッ
プから供給されるデータすなわちＳ０→Ｓ０に対応する
復号データと、状態Ｓ３に対応するＢ型パスメモリ２７
から供給されるデータすなわちＳ３→Ｓ０に対応する復
号データＰＭ３とを受取る。さらに、各セレクタは、Ａ
ＣＳ２１からＳＥＬ０を供給される。そして、ＳＥＬ０
の極性に応じて、供給される２個の復号データの内の一
方を後段のフリップフロップに供給する。また、このよ
うにして後段のフリップフロップに供給される復号デー
タは、状態Ｓ１に対応するＢ型パスメモリ２５にもＰＭ
０として供給される。

【０１０８】すなわち、例えばセレクタ３１₁₄は、前段
のフリップフロップ３０₁₃から供給されるデータと、Ｂ
型パスメモリ２７から供給される１４ビットからなるＰ
Ｍ３の１４番目のビット位置のデータとを受取る。そし
て、これら２個のデータの内から以下のようにして選択
したデータを、後段のフリップフロップ３０₁₄に供給す
る。上述したようにＳＥＬ０は、選択結果に応じて、'L
ow' または'High'とされる。ＳＥＬ０が例えば'Low' の
時は、前段のフリップフロップ３０₁₃からのデータが選
択されるようになされる。また、ＳＥＬ０が例えば'Hig
h'の時は、ＰＭ３の１４番目のビット位置のデータが選
択されるようになされる。選択されたデータは、後段の
フリップフロップ３０₁₄に供給され、また、ＰＭ０の１
４番目のビット位置のデータとして、状態Ｓ１に対応す
るＢ型パスメモリ２５に供給される。

【０１０９】Ａ型パスメモリ２４中の他のセレクタ３１
₁ 〜３１₁₃においても、ＳＥＬ０の極性に応じて、同様
な動作が行われる。従って、Ａ型パスメモリ２４全体と
しては、ＳＥＬ０が例えば'Low' の時は、Ａ型パスメモ
リ２４中で、各々のフリップフロップがその前段に位置
するフリップフロップのデータを継承するシリアルシフ
トを行う。また、ＳＥＬ０が例えば'High'の時は、Ｂ型
パスメモリ２７から供給される１４ビットからなる復号
データＰＭ３を継承するパラレルロードを行う。何れの
場合にも、継承される復号データは、Ｂ型パスメモリ２
５に１４ビットの復号データＰＭ０として供給される。

【０１１０】また、最初の処理段となるフリップフロッ
プ３０₀ には、クロックに同期して常に'0' が入力され
る。かかる動作は、Ｓ０に至る状態遷移Ｓ０→Ｓ０とＳ
２→Ｓ０の何れにおいても、図８に示すように、復号デ
ータが'0' なので、最新の復号データは、常に'0' とな
ることに対応している。

【０１１１】上述したように、Ｓ２に対応するＡ型パス
メモリ２６についても、構成自体は、Ａ型パスメモリ２
４と全く同様である。但し、ＡＣＳ２１から入力される
選択信号は、ＳＥＬ２である。また、図８に示すように
状態Ｓ２に至る遷移としては、Ｓ２→Ｓ２すなわち自分
自身から継承する遷移と、Ｓ１→Ｓ２とがある。このた
め、状態Ｓ１に対応するＢ型パスメモリ２５からＰＭ１
を供給される。さらに、状態Ｓ２を起点として生じ得る
状態がＳ２すなわち自分自身と、Ｓ３であることに対応
して、状態Ｓ３に対応するＢ型パスメモリ２７にＰＭ２
を供給する。

【０１１２】また、Ｓ２に対応するＡ型パスメモリ２６
においても、最初の処理段となるフリップフロップに
は、クロックに同期して常に'0' が入力される。かかる
動作は、Ｓ２に至る状態遷移Ｓ２→Ｓ２とＳ１→Ｓ０の
何れにおいても、図８に示すように、復号データが'0'
なので、最新の復号データは、常に'0' となることに対
応している。

【０１１３】他方、Ｂ型パスメモリ２５について、その
詳細な構成を図１４に示す。Ｂ型パスメモリ２５は、パ
スメモリ長に対応する個数のフリップフロップを接続し
たものである。図１４には、１４ビットのデコードデー
タ長に対応する構成を示した。すなわち、１５個のフリ
ップフロップ３２₀ 〜３２₁₄を有するものである。フリ
ップフロップ３２₀ 〜３２₁₄にクロックが供給されるこ
とにより、Ｂ型パスメモリ２５全体の動作タイミングが
合わされる。

【０１１４】各フリップフロップ３２₁ 〜３２₁₄には、
状態Ｓ０に対応するＡ型パスメモリ２４から、１４ビッ
トの復号データがＰＭ０として供給される。例えば、フ
リップフロップ３２₁ には、ＰＭ０の１ビット目が供給
される。各フリップフロップ３２₁ 〜３２₁₄は、供給さ
れた値を１クロックの間保持する。そして、状態Ｓ２に
対応するＡ型パスメモリ２６に、１４ビットの復号デー
タＰＭ１として出力する。例えば、フリップフロップ３
２₁ は、ＰＭ１の２ビット目を出力する。

【０１１５】Ｂ型パスメモリ２５中の他のセレクタ３２
₁ 〜３２₁₃においても、同様な動作が行われる。従っ
て、Ｂ型パスメモリ２５全体としては、Ａ型パスメモリ
２４から供給される１４ビットからなる復号データＰＭ
０を受取り、またＡ型パスメモリ２６に１４ビットから
なる復号データＰＭ１を供給する。

【０１１６】また、フリップフロップ３２₀ には、クロ
ックに同期して常に'1' が入力される。かかる動作は、
図８に示したように、最新の状態遷移がＳ０→Ｓ１であ
る場合に復号データが'1' であることに対応している。

【０１１７】また、上述のように、状態Ｓ３に対応する
Ｂ型パスメモリ２７についても、Ｂ型パスメモリ２５と
全く同様な構成とされる。但し、図８に示すように状態
Ｓ３に至る遷移は、Ｓ２→Ｓ３なので、状態Ｓ２に対応
するＡ型パスメモリ２６からＰＭ２を供給される。さら
に、状態Ｓ３を起点として生じ得る状態がＳ０であるこ
とに対応して、状態Ｓ０に対応するＡ型パスメモリ２４
にＰＭ３を供給するようになされる。Ｂ型パスメモリ２
７においても、最初の処理段となるフリップフロップに
は、クロックに同期して常に'1' が入力される。かかる
動作は、図８に示したように、最新の状態遷移がＳ２→
Ｓ３である場合に復号データが'1' であることに対応し
ている。

【０１１８】上述したようにして、ＰＭＵ２３中の４個
のパスメモリは、各々復号データを生成する。このよう
にして生成される４個の復号データは、常に正確なビタ
ビ復号動作がなされる場合には、互いに一致することに
なる。ところで、実際のビタビ復号動作においては、４
個の復号データに不一致が生じることも起こり得る。こ
のような不一致は、再生信号に含まれるノイズの影響等
により、上述の識別点ＡおよびＢを検出する際に誤差が
生じる等の要因により、ビタビ復号動作が不正確なもの
となることによって生じる。

【０１１９】一般に、このような不一致が生じる確率
は、再生信号の品質に対応してパスメモリの処理段数を
充分に大きく設定することによって減少させることがで
きる。すなわち、再生信号のＣ／Ｎ等の品質が良い場合
には、パスメモリの処理段数が比較的小さくても復号デ
ータ間の不一致が生じる確率は小さい。これに対して、
再生信号の品質が良くない場合には、上述の不一致が生
じる確率を小さくするためには、パスメモリの処理段数
を大きくする必要がある。再生信号の品質に対してパス
メモリの処理段数が比較的小さくて、復号データ間の不
一致が生じる確率を充分に低くすることができない場合
には、４個の復号データから、例えば多数決等の方法に
よって、より的確なものを選択するような、図示しない
構成がＰＭＵ２３中の４個のパスメモリの後段に設けら
れる。

【０１２０】〔４値４状態ビタビ復号方法以外のビタビ
復号方法〕上述した４値４状態ビタビ復号方法は、フィ
ルタ部１１において用いられる波形等化特性がＰＲ
（１，２，１）であり、且つ、記録データとしてＲＬＬ
（１，７）符号が採用される場合に用いられる。例え
ば、記録線密度０．４０μｍ，レーザ波長６８５ｎｍ，
ＮＡ＝０．５５の場合には、波形等化特性をＰＲ（１，
２，１）とし、４値４状態ビタビ復号方法を用いること
が最適となる。他方、波形等化特性または記録データを
生成するための符号化方法に応じて、他の種類のビタビ
復号方法が用いられることもある。

【０１２１】例えば、波形等化特性がＰＲ（１，１）で
あり、且つ、記録データとしてＲＬＬ（１，７）符号が
用いられる場合には、３値４状態ビタビ復号方法が用い
られる。また、波形等化特性がＰＲ（１，３，３，１）
であり、且つ、記録データとしてＲＬＬ（１，７）符号
が用いられる場合には、７値６状態ビタビ復号方法が用
いられる。このようなビタビ復号方法の内、何れを用い
るかを選択するための要素の１つとなる波形等化特性
は、再生信号上の符号間干渉に適合する程度が良いもの
が採用される。従って、上述したように、線記録密度お
よびＭＴＦを考慮して最適なものとされる。

【０１２２】また、波形等化特性の理論値からのずれ、
および再生信号の振幅変動、非対称歪等によって、識別
点の値が理論と異なる場合もある。このような場合を考
慮して、ビタビ復号方法を修正して用いることも行われ
る。例えば４値４状態ビタビ復号方法において、波形等
化特性を正確にＰＲ（１，２，１）とすることは困難で
ある点を考慮して、後述するように６個の識別点を前提
とした６値４状態ビタビ復号方法が用いられることもあ
る。

【０１２３】この発明は、上述したような光磁気ディス
ク装置の一例に対して適用できる。すなわち、この発明
は、ビタビ復号器の動作によって選択される状態遷移と
対応する振幅基準値と、Ａ／Ｄ変換器１２からの再生信
号値との誤差を演算し、この誤差を所定期間、例えば１
セクタの期間積算し、積算値により再生信号系の品質を
評価する品質指標生成回路を設けるものである。ここ
で、振幅基準値は、理論的に求められた値、またはキャ
リブレーションによって求められた値である。

【０１２４】振幅基準値をビタビ復号器の動作によって
選択される状態遷移に基づいて認識するためには、かか
る状態遷移に対応する復号データ値の系列としての復号
データではなく、状態遷移そのものを表現するデータが
必要となる。そこで、以下に説明するこの発明の実施の
一形態中のビタビ復号器においては、復号データ値の代
わりに状態そのものを表現する状態データ値を用いるこ
とによって、選択される状態遷移そのものを表現する状
態データを生成するようになされる。このため、上述の
光磁気ディスク装置の一例におけるパスメモリユニット
ＰＭＵの代わりに、後述するようにして状態データ値の
系列を生成するステータスメモリユニット（以下、ＳＭ
Ｕと表記する）が用いられる。

【０１２５】例えば４値４状態ビタビ復号方法等の４個
の状態を有する場合には、かかる４個の状態を２ビット
で表現できるので、このような２ビットのデータを状態
データ値として用いることができる。そこで、図８中の
Ｓ０，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３を、それぞれ２ビットの状態デ
ータ値、００，０１，１１，１０を用いて表現すること
ができる。そこで、以下の説明においては、図８中のＳ
０，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３をそれぞれＳ００，Ｓ０１，Ｓ１
１，Ｓ１０と表記することにする。

【０１２６】また、以下の説明においては、波形等化特
性として、上述のＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）の代わりに、Ｐ
Ｒ（α，β，γ）を前提とする。このような前提は、実
際の光磁気ディスク装置等においては、理想通りのパー
シャルレスポンス特性を得ることが難しく、波形等化特
性が非対称なものとなることが多いことを考慮したもの
である。

【０１２７】理想通りのパーシャルレスポンス特性を得
ることが難しい原因としては、波形等化器の動作精度の
限界、記録時のレーザパワーが過大または過小であるこ
とに起因するアシンメトリ（波形の非対称性）および再
生信号からＡ／Ｄ変換器によるサンプリングを行う際に
用いられるリードクロックの位相誤差等がある。

【０１２８】上述した４値４状態ビタビ復号方法の場合
と同様に考えると、記録時にＲＬＬ（１，７）符号化等
のＲＬｍｉｎ＝２となる符号化を行い、且つ、再生時の
パーシャルレスポンス特性がＰＲ（α，β，γ）である
場合には、６値４状態となることがわかる。すなわち、
ＲＬｍｉｎ＝２という条件によって除かれる２個の状態
以外の２³ −２＝６個の｛ｂ〔ｊ−１〕，ｂ〔ｊ〕，ｂ
〔ｊ＋１〕｝の組の各々のついて、識別点の値すなわち
ノイズが無い理想的な場合における波形等化後の再生信
号値ｃ〔ｊ＋１〕が異なる値をとる。

【０１２９】このような６個の識別点の値をｃｐｑｒと
表記する。ここでｐ，ｑ，ｒは、それぞれｂ〔ｊ−
１〕，ｂ〔ｊ〕，ｂ〔ｊ＋１〕を表現している。従っ
て、定義通りのブランチメトリックは、以下のようにな
る。ここで、ＲＬｍｉｎ＝２であるため、ｃ０１０およ
びｃ１０１が無いことに注意が必要である。各識別点の
値と状態遷移の関係を図１５に示す。以下の説明は、図
１５の状態遷移図に従う６値４状態を前提として行う。

【０１３０】また、図１５中の６個の状態遷移に対応し
て計算されるブランチメトリックを以下のように表記す
る。まず、遷移前の状態と遷移後の状態を表記するそれ
ぞれ２ビットの状態データ値を書き並べて４個の数字の
列とする。次に、中央寄りの２個の（すなわち２番目と
３番目の）数字を１個の数字とすることによって、３個
の数字の列として、１リードクロックの間に生じ得るブ
ランチメトリックを表記する。例えば状態遷移Ｓ１１→
Ｓ１０に伴うブランチメトリックは、ｂｍ１１０と表記
される。このようにして、図１５中の６種類の状態遷移
に対応するブランチメトリックを、図１６に示すように
表記できる。

【０１３１】さらに、リードクロックに従って動作する
Ａ／Ｄ変換器によってサンプリングされる実際の再生信
号値ｚ〔ｋ〕と各識別点の値のユークリッド距離として
定義されるブランチメトリックは、以下のように計算さ
れる。

【０１３２】 ｂｍ０００＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ０００）² （４０） ｂｍ００１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ００１）² （４１） ｂｍ０１１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ０１１）² （４２） ｂｍ１１１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１１１）² （４３） ｂｍ１１０＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１１０）² （４４） ｂｍ１００＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１００）² （４５） ブランチメトリックをこのように計算する場合には、各
識別点の値がそのまま振幅基準値とされる。２乗計算を
避ける等の目的で規格化パスメトリックを用いる場合に
は、規格化パスメトリックに対応するブランチメトリッ
クは、式（４０）〜（４５）に従うものとは異なる。こ
のような場合には、振幅基準値として各識別点の値をそ
のまま用いることはできないが、この発明を適用するこ
とは可能である。

【０１３３】このようなブランチメトリックの値を用い
て、時点ｋにおける状態Ｓｉｊのパスメトリックｍｉｊ
〔ｋ〕が以下のように計算される。これらの式は、４値
４状態ビタビ復号方法における上述の（１５）〜（１
８）に相当するものである。

【０１３４】 ｍ１０〔ｋ〕＝ｍ１１〔ｋ−１〕＋ｂｍ１１０ （４６） ｍ１１〔ｋ〕＝ｍｉｎ｛ｍ１１〔ｋ−１〕＋ｂｍ１１１， ｍ０１〔ｋ−１〕＋ｂｍ０１１｝ （４７） ｍ０１〔ｋ〕＝ｍ００〔ｋ−１〕＋ｂｍ００１ （４８） ｍ００〔ｋ〕＝ｍｉｎ｛ｍ００〔ｋ−１〕＋ｂｍ０００， ｍ１０〔ｋ−１〕＋ｂｍ１００｝ （４９） 図１７を参照して、この発明の実施の一形態の全体構成
について説明する。この発明の実施の一形態は、光磁気
ディスク装置に対してこの発明を適用したものである。
図１等を参照して上述した光磁気ディスク装置の一例と
同様の構成要素には、同一の符号を付した。図示しない
サーボ系等については、上述した光磁気ディスク装置の
一例と同様である。なお、ＷＤＡＴＡは、記録データで
あり、ＷＧＡＴＥは、記録動作を行う期間でアクティブ
となる記録制御信号であり、ＲＧＡＴは、再生動作を行
う期間でアクティブとなる再生制御信号である。これら
のデータおよび制御信号がコントローラ２からＬＰＣ４
に供給される。

【０１３５】記録系についても上述した光磁気ディスク
装置の一例と同様である。但し、ＬＰＣ４に対し、装置
制御部（以下、ＣＰＵと表記する）１０３から供給され
るレーザパワーを制御する信号を図示した。ＣＰＵ１０
３は、記録系および再生系中の構成要素の動作パラメー
タ等を制御する機能を有するものである。

【０１３６】再生系について説明する。光ピックアップ
７からＡ／Ｄ変換器１２までの構成および動作は、上述
の光磁気ディスク装置の一例と同様である。但し、Ａ／
Ｄ変換器１２の出力は、ビタビ復号器１３０に供給され
ると共に、データメモリユニット（以下、ＤＭＵと表記
する）１０１にも供給される。また、リードクロックＤ
ＣＫを生成するＰＬＬ１４についても上述した光磁気デ
ィスク装置の一例と同様である。

【０１３７】ビタビ復号器１３０は、Ａ／Ｄ変換器１２
から供給される再生信号値ｚ〔ｋ〕に基づいて、後述す
るようにして最尤な状態遷移を選択し、選択される状態
遷移そのものを表現する状態データを生成する。そし
て、状態データで示される状態遷移に基づいて決定され
る振幅基準値（例えば理論値）が品質指標生成器１０２
に供給される。また、かかる状態データに基づいて、後
述するようにして復号データを生成し、コントローラ２
に供給する。

【０１３８】一方、ＤＭＵ１０１は、順次供給される再
生信号値ｚ〔ｋ〕を所定時間保存するためのユニットで
ある。ビタビ復号器１３０からＤＭＵ１０１に対して、
選択された状態に関する状態が報告され、ＤＭＵ１０１
から保存されていた再生信号値ｚ〔ｋ〕がビタビ復号器
１３０からの振幅基準値の出力と同期して品質指標生成
器１０２に供給される。品質指標生成器１０２は、振幅
基準値と再生信号値との差を計算し、これを所定数積算
し、信号品質の優劣を表す指標を生成する。

【０１３９】品質指標生成器１０２が生成した積算値、
すなわち、品質指標データをＣＰＵ１０３が読み込む。
品質指標データに基づいて、ＣＰＵ１０３が最適なレー
ザパワーを算出し、ＣＰＵ１０３からＬＰＣ４に対して
レーザパワー制御信号が供給される。レーザパワー以外
に再生信号の品質に対して影響を与える要素例えばアン
プ８，９のゲイン、フィルタ部１１の特性等を制御して
も良い。

【０１４０】ビタビ復号器１３０について図１８を参照
してより詳細に説明する。ビタビ復号器１３０は、ＢＭ
Ｃ１３２，ＡＣＳ１３３、ＳＭＵ１３４およびマージブ
ロック１３５から構成される。そして、これらの各構成
要素には、ＰＬＬ１４からリードクロックＤＣＫ（以
下、クロックと表記する）が供給され、動作タイミング
が合わされる。

【０１４１】ＢＭＣ１３２は、再生信号値ｚ〔ｋ〕に基
づいて、上述の６個の振幅基準値ｃ０００〜ｃ１１１の
下で式（４０）〜（４５）に従ってブランチメトリック
ｂｍ０００〜ｂｍ１１１の値を計算し、計算したブラン
チメトリックの値をＡＣＳ１３３に供給する。

【０１４２】ＡＣＳ１３３は、供給されるブランチメト
リックの値に基づいて、上述の式（４６）〜（４９）に
従ってパスメトリックの値を計算し、計算値を比較する
ことによって最尤な状態遷移を選択する。そして、選択
信号ＳＥＬ００およびＳＥＬ１１をＳＭＵ１３４に供給
する。

【０１４３】ＳＭＵ１３４について説明する。上述した
光磁気ディスク装置の一例中のＰＭＵ２３が１ビットの
復号データ値を単位とする処理を行うものであるのに対
し、ＳＭＵ１３４は、２ビットの状態データ値を単位と
する処理を行うものである。かかる処理によって、状態
データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕の系列としての状態データが生
成される。

【０１４４】図１９に示すように、ＳＭＵ１３４は、２
個のＡ型ステータスメモリ１５０および１５１、並びに
２個のＢ型ステータスメモリ１５２および１５３を有し
ている。さらにセレクト信号ＳＥＬ００およびＳＥＬ１
１、クロック、並びに他のステータスメモリとの状態デ
ータの受渡し等のための信号線を接続されて構成され
る。Ａ型ステータスメモリ１５０と１５１は、それぞ
れ、状態Ｓ００とＳ１１に対応する。また、Ｂ型ステー
タスメモリ１５２と１５３は、それぞれ状態Ｓ０１とＳ
１０に対応する。これら４個のステータスメモリ相互の
接続は、図１５の状態遷移図に従うものとされる。

【０１４５】さらに、図２０を参照して、状態Ｓ００に
対応するＡ型ステータスメモリ１５０についてより詳細
に説明する。Ａ型ステータスメモリ１５０は、ｎ個の処
理段を有する。すなわち、ｎ個のセレクタ２０１₀ ・・
・２０１_n-1 と、ｎ個のレジスタ２０２₀ ・・・２０２
_n-1 とが交互に接続されている。各セレクタ２０１₀〜
２０１_n-1 には、セレクト信号ＳＥＬ００が供給され
る。さらに、各セレクタには、上述したように、Ｓ１０
に対応するＢ型ステータスメモリ１５３から継承する状
態データがｎビットからなるＳＭｉｎとして供給され
る。また、各レジスタには、上述したように、Ｓ０１に
対応するＢ型ステータスメモリ１５２に継承される状態
データがｎ−１個の状態データ値からなるＳＭｏｕｔと
して出力される。また、各レジスタ２０２₀ 〜２０２
_n-1 には、クロックが供給される。

【０１４６】各セレクタの動作について説明する。図１
５に示すように、Ｓ００に遷移し得る１クロック前の状
態は、Ｓ００およびＳ１０の何れかである。１クロック
前の状態がＳ００である時は、自身を継承する遷移がな
されることになる。このため、１段目のセレクタ２０１
₀ には、シリアルシフトによって生成される状態データ
中の最新の状態データ値として、'00'が入力される。ま
た、セレクタ２０１₀には、パラレルロードとして、Ｂ
型ステータスメモリ１５３から供給される状態データ中
の最新の状態データ値ＳＭｉｎ〔１〕が供給される。セ
レクタ２０１₀は、上述の選択信号ＳＥＬ００に従っ
て、これら２個の状態データ値の内の１個を後段のレジ
スタ２０２₀ に供給する。

【０１４７】また、２段目以降の各セレクタ２０１₁ 〜
２０１_n-1 は、パラレルロードとしてＳ１０に対応する
Ｂ型ステータスメモリ１５３から供給される１個の状態
データ値と、シリアルシフトとして前段のレジスタから
供給される１個の状態データ値とを受取る。そして、こ
れら２個の状態データ値の内から、選択信号ＳＥＬ００
に従って、最尤なものと判断された状態データ値を後段
のレジスタに供給する。セレクタ２０１₀ 〜２０１_n-1
が全て同一の選択信号ＳＥＬ００に従うので、ＡＣＳ１
３３が選択する最尤な状態データ値の系列としての状態
データが継承される。

【０１４８】さらに、各レジスタ２０２₀ 〜２０２_n-1
は、上述したように供給される状態データ値をクロック
に従って取込むことによって、保持している状態データ
値を更新する。また、上述したように、各レジスタの出
力は、１クロック後に遷移し得る状態に対応するステー
タスメモリに供給される。すなわち、Ｓ００自身に遷移
し得るので、シリアルシフトとして後段のセレクタに供
給される。また、パラレルロードとして、Ｓ０１に対応
するＢ型ステータスメモリ１５２に供給される。最終段
のレジスタ２０２_n-1 から、状態データ値ＶＭ００が出
力される。状態データ値ＶＭ００がクロックに従って出
力されることにより、全体として状態データが生成され
る。

【０１４９】状態Ｓ１１に対応するＡ型ステータスメモ
リ１５１は、Ａ型ステータスメモリ１５０と同様に構成
される。但し、図１５中の状態遷移Ｓ０１→Ｓ１１に対
応するパラレルロードとして、Ｓ０１に対応するＢ型ス
テータスメモリ１５２から状態データを供給される。ま
た、図１５中の状態遷移Ｓ１１→Ｓ１０に対応するパラ
レルロードとして、Ｓ１０に対応するＢ型ステータスメ
モリ１５３に状態データを供給する。

【０１５０】一方、図２１を参照して、状態Ｓ０１に対
応するＢ型ステータスメモリ１５２についてより詳細に
説明する。Ｂ型ステータスメモリは、図１５において自
身を継承せず、且つ、１クロック後に遷移し得る状態が
１個だけである状態に対応するものである。このため、
シリアルシフトを行わず、且つ、セレクタが設けられて
いない。従って、ｎ個のレジスタ２１２₀ ，２１２₁ ，
・・・２１２_n-1 が設けられ、各レジスタにクロックが
供給されて動作タイミングが合わされる。

【０１５１】各レジスタ２１２₀ ，２１２₁ ，・・・２
１２_n-1 には、Ｓ００に対応するＡ型ステータスメモリ
１５０から継承する状態データがｎ−１個の状態データ
値からなるＳＭｉｎとして供給される。但し、最初の処
理段となるレジスタ２１２₀には、クロックに同期して
常に'00'が入力される。かかる動作は、図１５に示され
るように、Ｓ０１に遷移し得る最新の状態遷移が常にＳ
００であることに対応している。各レジスタ２１２₀ 〜
２１２_n-1 は、供給される状態データ値をクロックに従
って取込むことによって、保持している状態データ値を
更新する。また、クロックに従ってなされる各レジスタ
の出力は、ｎ−１個の状態データ値からなる状態データ
ＳＭｏｕｔとして，１クロック後に遷移し得る状態Ｓ１
１に対応するＡ型ステータスメモリ１５１に供給され
る。最終段のレジスタ２１２_n-1 から、状態データ値Ｖ
Ｍ０１が出力される。状態データ値ＶＭ０１がクロック
に従って出力されることにより、全体として状態データ
が生成される。

【０１５２】状態Ｓ１０に対応するＢ型ステータスメモ
リ１５３は、Ｂ型ステータスメモリ１５２と同様に構成
される。但し、図１５中の状態遷移Ｓ１１→Ｓ１０に対
応するパラレルロードとして、Ｓ１１に対応するＡ型ス
テータスメモリ１５１から状態データを供給される。ま
た、図１５中の状態遷移Ｓ１０→Ｓ００に対応するパラ
レルロードとして、Ｓ００に対応するＡ型ステータスメ
モリ１５０に状態データを供給する。また、最初の処理
段となるレジスタには、クロックに同期して、常に'11'
が入力される。かかる動作は、図１５に示すように、Ｓ
１０に遷移し得る１クロック前の状態がＳ１１であるこ
とに対応するものである。

【０１５３】ところで、ビタビ復号方法においては、各
ステータスメモリが生成する状態データ値ＶＭ００，Ｖ
Ｍ１１，ＶＭ０１およびＶＭ１０は、ステータスメモリ
のメモリ長ｎを充分大きくとれば互いに一致する。この
ような場合には、４個のステータスメモリが生成する状
態データ値の内の何れをｓｍ〔ｋ＋ｎ〕として後段に出
力しても良い。メモリ長ｎは、再生信号のＣ／Ｎおよび
周波数特性等を考慮して決められる。

【０１５４】次に、マージブロック１３５について説明
する。マージブロック１３５は、ＲＯＭ等の手段に図２
２に示す復号マトリクスのテーブルを記憶している。そ
して、かかる復号マトリクスを参照して、状態データに
基づく復号データを生成し、コントローラ２に供給す
る。図１５の状態遷移図から、復号データ値は、連続す
る２個の状態データ値に対応していることがわかる。す
なわち、再生信号値ｚ〔ｋ〕に対応して生成される状態
データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕と、その１クロック前に、再生
信号値ｚ〔ｋ−１〕に対応して生成される状態データ値
ｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕に基づいて、時点ｋ＋ｎにおける復
号データ値を決めることができる。

【０１５５】例えば、ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕が'01'で、ｓｍ
〔ｋ＋ｎ−１〕が'00'である場合には、図１５から、復
号データ値として'1' が対応することがわかる。このよ
うな対応をまとめたものが図２２の復号マトリクスのテ
ーブルである。

【０１５６】図２３は、マージブロック１３５の一例を
示す。図２３で２５０で示す状態選択回路は、クロック
毎にＡＣＳ１３３から供給される２ビットの信号ＭＳを
参照して、ＶＭ００，ＶＭ１１，ＶＭ０１およびＶＭ１
０の内から最も的確なものを選択し、選択される状態デ
ータ値をＶＭとして出力する。かかる信号ＭＳは、各時
点において、Ｓ００，Ｓ１１，Ｓ０１およびＳ１０の内
のどの状態に至る場合のパスメトリックの値が最小とな
るかを示す２ビットの信号である。信号ＭＳは、例えば
ＡＣＳ１３５等によって生成するようになされる。この
ようにして、最も正しい状態データ値が選択される確率
を高くすることができる。

【０１５７】上述したようにして選択されるＶＭは、レ
ジスタ２５１および復号マトリクス部２５２に供給され
る。レジスタ２５１は、供給されるＶＭを１クロック遅
延させて復号マトリクス部２５２に供給する。以下の説
明においては、レジスタ２５１の出力をＶＭＤと表記す
る。従って、復号マトリクス部２５２には、状態データ
値ＶＭおよびその１クロック前の状態データ値ＶＭＤが
供給される。復号マトリクス部２５２は、図２２に示し
た復号マトリクスのテーブルをＲＯＭ等の手段に記憶し
ており、かかる復号マトリクスのテーブルを参照して、
ＶＭＤおよびＶＭに基づいて復号データ値を出力する。

【０１５８】一方、不一致検出回路２５３は、例えば排
他的論理和回路を用いて構成することができる。不一致
検出回路２５３には、ＶＭ００，ＶＭ１１，ＶＭ０１お
よびＶＭ１０が供給され、これら４個の状態データ値の
間の不一致が検出される。検出結果が不一致検出信号Ｎ
Ｍとして出力される。不一致検出信号ＮＭは、４個の状
態データ値が全て一致する場合以外は、イネーブルまた
はアクティブとされる。かかる不一致検出信号は、復号
データおよび再生信号の品質の評価に用いることができ
る。すなわち、不一致検出信号に基づいて、復号データ
からユーザデータ等を復号化する復号化手段、または再
生系の動作条件等を制御するようにすることができる。
不一致検出回路２５３は、４個の状態データ値を供給さ
れることが可能な位置であれば、何処に設けても良く、
必ずしもマージブロック１３５内に設けなくても良い。

【０１５９】以上のようなマージブロック１３５の構成
は、再生信号の信号品質があまり良好でないこと等に起
因して状態データ値間に不一致が生じる場合に備えるた
めのものである。従って、再生信号の信号品質が良好な
ため、状態データ値間の不一致が生じる確率が充分小さ
く、状態データ値間の不一致に対処する必要が無い場合
には、マージブロック１３５は、レジスタ２５１および
復号マトリクス部２５２を有するものであれば良い。

【０１６０】上述したビタビ復号器１３０は、最尤な状
態遷移そのものを表現する状態データを生成する。クロ
ックに従ったタイミング〔ｋ＋ｎ−１〕の状態データを
とし、タイミング〔ｋ＋ｎ〕の状態データをとすると、
これらの状態データの変化と対応して、再生信号値ｃｘ
ｘｘ（ｘ：０または１）は、図２４に示すものとなる。
例えばｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕＝０１、およびｓｍ〔ｋ＋
ｎ〕＝１１である場合には、図１５から状態遷移Ｓ０１
→Ｓ１１が生じることがわかる。また、かかる状態遷移
に対応する再生信号値がｃ０１１であることも図１５か
らわかる。この再生信号値は、誤差がなければ、ビタビ
復号器１３０で使用される理論的な振幅基準値に一致す
る。従って、上述した説明では、ｃｘｘｘを振幅基準値
として説明した。

【０１６１】図１７中の品質指標生成器１０２に対し
て、ＤＭＵ１０１から再生信号値（ｃｘｘｘ）が順次供
給される。一方、ビタビ復号器１３０から品質指標生成
器１０２に対して、状態遷移から認識された理論的な振
幅基準値ａｃｘｘｘが供給される。再生信号値と振幅基
準値とが同期して供給されるように、ビタビ復号器１３
０からＤＭＵ１０１に対して状態遷移が報告される。品
質指標生成器１０２では、これらの二つの値の差分（す
なわち、誤差）を計算し、差分を積算する。

【０１６２】図２５は、品質指標生成器１０２の動作を
具体的に説明するための図である。図２５では、再生Ｒ
Ｆ信号の一例が示されている。また、時間t-3,t-2,t-1,
t,t+1,・・・は、リードクロックＤＣＫにより規定され
るサンプル時刻である。さらに、ビタビ復号器１３０に
おいて使用され、品質指標生成器１０２に対して供給さ
れる理論的振幅基準値ａｃｘｘｘが図２５中で、破線で
示されている。図２５の例では、状態が〔Ｓ００→Ｓ０
０→Ｓ０１→Ｓ１１→Ｓ１１→Ｓ１０→Ｓ００→Ｓ０
０〕と変化する。

【０１６３】品質指標生成器１０２は、入力された二つ
のデータから下記の差分e[t-3],e[t-2],e[t-1], ｅ[t],
・・・を生成する。

【０１６４】e[t-3]＝ ac000−c000、e[t-2]＝ ac001−
c001、e[t-1]＝ ac011−c011・・・・・・・、e[t+3]＝
ac000−ｃ０００ 図２５において、これらの差分を太線で示し、時間経過
の順に〜の参照符号によって示す。

【０１６５】品質指標生成器１０２は、これらの差分の
所定個数を積算する。所定個数は、所定期間に含まれる
サンプル数を意味する。例えば１セクタ毎に積算がなさ
れる。この場合、１セクタのエンボス加工された領域以
外の光磁気記録される領域においてのみ、信号品質の評
価を行うこともできる。積算結果が再生信号の信号品質
の優劣を表す指標として、品質指標生成器１０２からＣ
ＰＵ１０３に対して与えられる。積算する方式として
は、二つの方式が可能である。

【０１６６】その一つは、差分の二乗を積算する方式で
ある。すなわち、品質指標をＣＱと表記すると、 ＣＱ＝ｅ［ｔ−３］^２ ＋e[t-2]² ＋e[t-1]² ＋e[t]²
＋e[t+1]² ＋e[t+2]² ＋e[t+3]² により積算される。差分データの個数が多くなると、積
算値も累積的に大きくなるので、必要に応じて、積算値
が平均化される。

【０１６７】他の方法は、差分の絶対値を積算する方式
である。すなわち、品質指標をＣＱと表記すると、 ＣＱ＝｜e[t-3]｜＋｜e[t-2]｜＋｜e[t-1]｜＋｜e[t]｜
＋｜e[t+1]｜＋｜e[t+2]｜＋｜e[t+3]｜ により積算される。絶対値の和を用いる場合では、二乗
計算の回路を省略できる利点がある。この方法でも、必
要に応じて、積算値を平均化しても良い。さらに、二乗
和、絶対値和以外の積算方式、例えば極性を反映した指
標ＣＱを生成するようにしても良い。

【０１６８】ＣＰＵ１０３が生成された品質指標ＣＱを
取り込み、ＬＰＣ４に対する制御信号を発生する。指標
ＣＱが大きいことは、再生信号の品質が悪いことを意味
するので、レーザパワーを変更して指標ＣＱが改善され
るようになされる。また、上述したように、レーザパワ
ーの制御以外に、指標に基づいてアンプのゲイン、フィ
ルタ部の周波数特性等を制御するようにしても良い。な
お、上述した説明では、シュミレーション等で求めた理
論的な振幅基準値とビタビ復号から決定された実際の再
生信号値との差を求めるようにしたが、理論的な振幅基
準値の代わりに、キャリブレーションによって決定され
た振幅基準値を用いても良い。

【０１６９】通常、キャリブレーションは、再生信号の
品質等が例えば加工精度等の記録媒体の特性、および例
えば記録用レーザ光のパワーの変動、周囲温度等の記録
／再生時の条件等によって変化する可能性があることに
対応するために再生系のパラメータを適正化するための
ものである。キャリブレーションは、コントローラ２に
おいて、電源投入直後または記録媒体の交換時等になさ
れる。

【０１７０】一例として、光磁気ディスク６上に規定さ
れているテスト領域（例えば上述したインナーマニュフ
ァクチャゾーン６ｆ）に対して所定のレーザパワーでも
って、所定のデータを記録する。テスト領域に記録され
たデータを再生し、初期値の再生系のパラメータ例えば
レーザパワーによってビタビ復号を行う。そして、上述
したように、信号品質の指標を生成する。この指標を改
善するように、レーザパワーを変える。そして、指標が
最良となるまで、同様の処理を繰り返す。

【０１７１】上述したこの発明の実施の一形態は、６値
４状態ビタビ復号方法を行う光磁気ディスク装置にこの
発明を適用したものである。これに対し、上述したよう
な４値４状態ビタビ復号方法、３値４状態ビタビ復号方
法、および７値６状態ビタビ復号方法等の他の種類のビ
タビ復号方法を行う光磁気ディスク装置にも、この発明
を適用することができる。

【０１７２】また、この発明は、記録媒体に記録された
データから再生される再生信号から、リードデータを復
号するためにビタビ復号方法を用いることができる情報
再生装置に適用することができる。すなわち、光磁気デ
ィスク（ＭＯ）以外にも、例えば相変化型ディスクＰ
Ｄ、ＣＤ−Ｅ（CD-Erasable ）等の書き換え可能ディス
ク、ＣＤ−Ｒ等の追記型ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ等の読
み出し専用ディスク等の光ディスク装置に適用すること
が可能である。

【０１７３】また、この発明は、この実施例に限定され
ることなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の
応用および変形が考えられる。

【０１７４】

【発明の効果】上述したように、この発明は、ビタビ復
号方法で用いる振幅基準値と、再生信号値とから信号品
質を評価するので、簡易で、しかも定量的な評価を行う
ことができる。また、この発明は、ディスク再生装置に
対して外部からテスト用のデータを供給する必要がな
く、再生装置（ドライブ）の内部で品質評価を行うこと
ができる利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明を適用することができる光磁気ディス
ク装置き一例の全体構成を示すブロック図である。

【図２】マーク位置記録方法およびマークエッジ記録方
法について説明するための略線図である。

【図３】光磁気ディスクのトラックフォーマットの一例
について説明するための略線図である。

【図４】光磁気ディスクのセクタフォーマットの一例に
ついて説明するための略線図である。

【図５】ＲＬＬ（１，７）符号化方法において、最小磁
化反転幅が２であることを示す略線図である。

【図６】ＲＬＬ（１，７）符号とマークエッジ記録方法
の組合わせによって記録されたデータから再生される再
生信号を、パーシャルレスポンス特性ＰＲ（１，２，
１）の下で波形等化した時のアイ・パターンについて説
明するための略線図である。

【図７】４値４状態ビタビ復号方法の状態遷移図を作成
する過程について説明するための略線図である。

【図８】４値４状態ビタビ復号方法の状態遷移図の一例
を示す略線図である。

【図９】４値４状態ビタビ復号方法におけるトレリス線
図の一例を示す略線図である。

【図１０】４値４状態ビタビ復号方法において、規格化
メトリックに基づく状態遷移の条件を示す略線図であ
る。

【図１１】４値４状態ビタビ復号を行うビタビ復号器の
全体構成を示すブロック図である。

【図１２】ビタビ復号器の一部分の構成を詳細に示すブ
ロック図である。

【図１３】ビタビ復号器の他の一部分の構成を詳細に示
すブロック図である。

【図１４】ビタビ復号器のさらに他の一部分の構成を詳
細に示すブロック図である。

【図１５】図９とは異なる表記方法による、４値４状態
ビタビ復号方法の状態遷移図の一例を示す略線図であ
る。

【図１６】ブランチメトリックの表記方法について説明
するための略線図である。

【図１７】この発明の実施の一形態の全体構成を示すブ
ロック図である。

【図１８】この発明の実施の一形態におけるビタビ復号
器の一例のブロック図である。

【図１９】この発明の実施の一形態に用いられるＳＭＵ
（ステータスメモリユニット）の構成の一例を示すブロ
ック図である。

【図２０】ＳＭＵの一部の構成について説明するための
ブロック図である。

【図２１】ＳＭＵの他の一部の構成について説明するた
めのブロック図である。

【図２２】マージブロックにおいて、復号データが生成
される際に参照されるテーブルの一例を示す略線図であ
る。

【図２３】この発明の実施の一形態に用いられるマージ
ブロックの構成の一例を示すブロック図である。

【図２４】ビタビ復号器の状態データと再生信号値の関
係を説明するための略線図である。

【図２５】この発明の実施の一形態における品質指標の
生成処理の説明に用いる略線図である。

【符号の説明】

２・・・コントローラ、１２・・・Ａ／Ｄ変換器、１３
０・・・ビタビ復号器、１３２・・・ブランチメトリッ
ク計算回路（ＢＭＣ）、１３３・・・加算、比較、選択
回路（ＡＣＳ）、１３４・・・ステ−タスメモリユニッ
ト（ＳＭＵ）、１３５・・・マージブロック、１０１・
・・データメモリユニット（ＤＭＵ）、１０２・・・品
質指標生成器、１０３・・・装置制御部（ＣＰＵ）

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録媒体から再生される再生信号をビタ
   ビ復号方法によって復号するようにした情報再生装置に
   おいて、 状態遷移そのものを表現する状態データを生成する方法
   を使用するビタビ復号手段と、 上記状態データから認識された状態遷移に対応する振幅
   基準値と、再生信号をＡ／Ｄ変換することで生成された
   再生信号値との差を演算し、上記差に基づいて上記再生
   信号の品質の優劣を表す指標を生成する品質指標生成手
   段とを備えることを特徴とする情報再生装置。
2. 【請求項２】 請求項１において、 上記指標は、 上記差の二乗を所定数積算した値であることを特徴とす
   る情報再生装置。
3. 【請求項３】 請求項１において、 上記指標は、 上記差の絶対値を所定数積算した値であることを特徴と
   する情報再生装置。
4. 【請求項４】 請求項２または３において、 上記所定数は、１セクタ内のサンプル数であることを特
   徴とする情報再生装置。
5. 【請求項５】 記録媒体から再生される再生信号をビタ
   ビ復号方法によって復号するようにした情報再生方法に
   おいて、 状態遷移そのものを表現する状態データを生成するビタ
   ビ復号のステップと、 上記状態データから認識された状態遷移に対応する振幅
   基準値と、再生信号をＡ／Ｄ変換することで生成された
   再生信号値との差を演算し、上記差に基づいて上記再生
   信号の品質の優劣を表す指標を生成するステップとを備
   えることを特徴とする情報再生方法。